JP2012184975A - 質量分析方法及び質量分析装置 - Google Patents
質量分析方法及び質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012184975A JP2012184975A JP2011047101A JP2011047101A JP2012184975A JP 2012184975 A JP2012184975 A JP 2012184975A JP 2011047101 A JP2011047101 A JP 2011047101A JP 2011047101 A JP2011047101 A JP 2011047101A JP 2012184975 A JP2012184975 A JP 2012184975A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ions
- sample
- ion
- mass
- ion trap
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【解決手段】 標準物質のイオンと測定対象物質のイオンを、イオントラップに同時にトラップし、質量選択的に排出した標準物質のイオンの信号強度と、測定対象物質のフラグメントイオンの信号強度から、測定対象物質の濃度を定量する。
【選択図】 図1
Description
Claims (15)
- 試料と既知濃度の標準物質をイオン源においてイオン化する工程と、
試料イオンと標準物質イオンをイオントラップに導入する工程と、
前記試料イオンと前記標準物質イオンを前記イオントラップに同時に蓄積する工程と、
前記イオントラップから前記標準物質イオンを質量選択的に排出して検出する工程と、
前記イオントラップにおいて前記試料の前駆体イオンを単離する工程と、
前記試料の前駆体イオンを解離してフラグメントイオンを生成する工程と、
前記フラグメントイオンを前記イオントラップから質量選択的に排出して検出する工程と、
検出された前記標準物質イオンの強度と、解離された前記試料のフラグメントイオンの強度とに基づいて、前記試料の濃度を計算することを特徴とする質量分析方法。 - 前記試料イオンを前記イオントラップに蓄積した状態で前記標準物質イオンを質量選択的に排出して検出し、その後に前記試料イオンの前記前駆体イオンを解離することを特徴とする請求項1記載の質量分析方法。
- 前記試料と前記標準物質を気化する工程を有し、気化された前記試料と前記標準物質が前記イオン源に間欠的に導入されることを特徴とする請求項1記載の質量分析方法。
- 前記イオントラップに間欠的に気体が導入されることを特徴とする請求項1記載の質量分析方法。
- 前記イオントラップに印加する高周波電圧の振幅又は補助交流電圧の周波数を、前記標準物質イオンの共鳴する条件でスキャンすることにより、前記イオントラップから前記標準物質イオンを質量選択的に排出することを特徴とする請求項1記載の質量分析方法。
- 前記標準物質イオンの共鳴条件でスキャンする間に、前記試料の前記前駆体イオンに共鳴する条件を含まない期間を有することを特徴とする請求項5記載の質量分析方法
- 前記イオントラップに蓄積された前記試料と前記標準物の前駆体イオンをそれぞれ単離して解離する工程を有し、
前記標準物質イオンを前記イオントラップから質量選択的に排出して検出する工程は、前記標準物質のフラグメントイオンを検出するものであり、
解離された前記標準物質のフラグメントイオンの強度と、解離された前記試料のフラグメントイオンの強度に基づいて、前記試料の濃度を定量することを特徴とする請求項1記載の質量分析方法。 - 既知濃度の前記試料と前記試料を用いて取得した、前記標準物質イオンと前記試料のフラグメントイオンとの信号強度比、及び、それぞれの濃度を用いて定められた定数を用いて、前記試料の濃度を定量することを特徴とする請求項1記載の質量分析方法。
- 試料と既知濃度の標準物質とをイオン化するイオン源と、
前記イオン源で生成した試料イオンと標準物質イオンとを同時に蓄積し、質量選択的に排出するイオントラップと、
前記イオントラップから排出されたイオンを検出する検出器と、
前記イオン源又は前記イオントラップへのイオンの導入をする開閉機構と、
前記イオントラップと前記開閉機構を制御し、前記標準物質のイオンの信号強度と、前記イオントラップにおいて前記試料のフラグメントイオンの信号強度とに基づいて、試料の濃度を計算する制御部とを有することを特徴とする質量分析装置。 - 前記制御部は、前記イオントラップに対し、前記イオン源で生成した試料イオンと標準物質イオンを同時に蓄積した状態で前記標準物質イオンを前記イオントラップから排出するように制御し、その後に前記試料イオンの前駆体イオンを単離して解離させるように制御することを特徴とする質量分析装置。
- 前記試料と前記標準物質を気化する気化部を有し、前記開閉機構は、前記気化部と前記イオン源との間に設けられていることを特徴とする請求項9記載の質量分析装置。
- 前記イオン源は、前記開閉機構から導入される気体を前記イオントラップへ流す誘電体で構成された流路と、前記流路に設けられ、交流電圧が印加される電極とを備えることを特徴とする請求項9記載の質量分析装置。
- 前記開閉機構は、前記イオン源と前記イオントラップとの間に設けられていることを特徴とする請求項9記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、既知濃度の前記標準物質と前記試料を用いて取得した、前記標準物質イオンと解離された前記試料のイオンとの信号強度比、及び、それぞれの濃度を用いて定められた定数を保存しており、前記定数を用いて前記試料の濃度を定量することを特徴とする請求項9記載の質量分析装置。
- 前記開閉機構は、間欠的な開閉を行うことを特徴とする請求項9記載の質量分析装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011047101A JP5675442B2 (ja) | 2011-03-04 | 2011-03-04 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
US13/365,355 US9076638B2 (en) | 2011-03-04 | 2012-02-03 | Mass spectrometer method and mass spectrometer |
CN201210024742.9A CN102655074B (zh) | 2011-03-04 | 2012-02-06 | 质量分析方法以及质量分析装置 |
EP12154076.9A EP2498272B1 (en) | 2011-03-04 | 2012-02-06 | Mass spectrometric method and mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011047101A JP5675442B2 (ja) | 2011-03-04 | 2011-03-04 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012184975A true JP2012184975A (ja) | 2012-09-27 |
JP5675442B2 JP5675442B2 (ja) | 2015-02-25 |
Family
ID=45554583
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011047101A Active JP5675442B2 (ja) | 2011-03-04 | 2011-03-04 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9076638B2 (ja) |
EP (1) | EP2498272B1 (ja) |
JP (1) | JP5675442B2 (ja) |
CN (1) | CN102655074B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016533012A (ja) * | 2013-08-13 | 2016-10-20 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーションPurdue Research Foundation | 小型質量分析器を用いたサンプル定量化 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011053684B4 (de) | 2010-09-17 | 2019-03-28 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Verfahren zur Durchführung von strahlformstossaktivierter Dissoziation im bereits bestehenden Ioneninjektionspfad eines Massenspektrometers |
JP5497615B2 (ja) * | 2010-11-08 | 2014-05-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
US9734997B2 (en) * | 2013-12-17 | 2017-08-15 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer and mass spectrometry method |
EP3166129A4 (en) * | 2014-07-03 | 2018-06-13 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
JP6455603B2 (ja) * | 2015-10-07 | 2019-01-23 | 株式会社島津製作所 | タンデム型質量分析装置 |
US9911588B1 (en) * | 2017-03-10 | 2018-03-06 | Thermo Finnigan Llc | Methods and systems for quantitative mass analysis |
EP3373324A1 (en) * | 2017-03-10 | 2018-09-12 | Thermo Finnigan LLC | Methods and systems for quantitative mass analysis |
US9911587B1 (en) * | 2017-03-10 | 2018-03-06 | Thermo Finnigan Llc | Methods and systems for quantitative mass analysis |
US10347477B2 (en) * | 2017-03-24 | 2019-07-09 | Thermo Finnigan Llc | Methods and systems for quantitative mass analysis |
CN111239062B (zh) * | 2020-02-04 | 2021-01-01 | 中国计量科学研究院 | 气体定量检测设备及方法 |
CN112103171B (zh) * | 2020-09-18 | 2023-10-13 | 中国科学院空天信息创新研究院 | 被动进样装置及应用 |
CN116577452B (zh) * | 2023-06-29 | 2023-09-22 | 清谱科技(苏州)有限公司 | 提升离子阱串联质谱定量精密度的方法、系统、介质和设备 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005327579A (ja) * | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ/飛行時間質量分析計およびイオンの精密質量測定方法 |
WO2009023361A2 (en) * | 2007-06-01 | 2009-02-19 | Purdue Research Foundation | Discontinuous atmospheric pressure interface |
JP2009037819A (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-19 | Hitachi Ltd | 質量分析計及び質量分析方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5714755A (en) * | 1996-03-01 | 1998-02-03 | Varian Associates, Inc. | Mass scanning method using an ion trap mass spectrometer |
US5696376A (en) * | 1996-05-20 | 1997-12-09 | The Johns Hopkins University | Method and apparatus for isolating ions in an ion trap with increased resolving power |
US6177668B1 (en) | 1996-06-06 | 2001-01-23 | Mds Inc. | Axial ejection in a multipole mass spectrometer |
JP4105348B2 (ja) | 1999-11-19 | 2008-06-25 | 株式会社日立製作所 | 試料分析用モニタ装置及びそれを用いた燃焼制御システム |
AU2003220188A1 (en) * | 2002-03-11 | 2003-09-29 | President And Fellows Of Harvard College | Detection and quantification of modified proteins |
JP2005522713A (ja) * | 2002-04-15 | 2005-07-28 | サーモ フィニガン エルエルシー | 生物学的分子の定量 |
US7014880B2 (en) * | 2003-05-19 | 2006-03-21 | The Research Foundation Of State University Of New York | Process of vacuum evaporation of an electrically conductive material for nanoelectrospray emitter coatings |
JP4284167B2 (ja) * | 2003-12-24 | 2009-06-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ/飛行時間型質量分析計による精密質量測定方法 |
GB0514964D0 (en) * | 2005-07-21 | 2005-08-24 | Ms Horizons Ltd | Mass spectrometer devices & methods of performing mass spectrometry |
US7569813B2 (en) * | 2007-08-21 | 2009-08-04 | Mds Analytical Technologies, A Business Unit Of Mds Inc. | Method for enhancing mass assignment accuracy |
US7834313B2 (en) | 2008-08-08 | 2010-11-16 | Quest Diagnostics Investments Incorporated | Mass spectrometry assay for plasma-renin |
US8039794B2 (en) | 2008-12-16 | 2011-10-18 | Quest Diagnostics Investments Incorporated | Mass spectrometry assay for thiopurine-S-methyl transferase activity and products generated thereby |
-
2011
- 2011-03-04 JP JP2011047101A patent/JP5675442B2/ja active Active
-
2012
- 2012-02-03 US US13/365,355 patent/US9076638B2/en active Active
- 2012-02-06 CN CN201210024742.9A patent/CN102655074B/zh active Active
- 2012-02-06 EP EP12154076.9A patent/EP2498272B1/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005327579A (ja) * | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ/飛行時間質量分析計およびイオンの精密質量測定方法 |
WO2009023361A2 (en) * | 2007-06-01 | 2009-02-19 | Purdue Research Foundation | Discontinuous atmospheric pressure interface |
JP2009037819A (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-19 | Hitachi Ltd | 質量分析計及び質量分析方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
JPN6013046699; 山下 博教: '「スペクトルデータ,クロマトグラムデータの取り扱い」' ぶんせき 2008年第12号, 20081205, p. 634-640, 社団法人日本分析化学会 * |
JPN6014049429; 橋本 雄一郎, 杉山 益之, 長谷川 英樹: '「軸方向励起リニアイオントラップを用いた2次元質量分析計の開発」' Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan Vol. 55, No. 6, 20071201, p. 369-374, 日本質量分析学会 * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016533012A (ja) * | 2013-08-13 | 2016-10-20 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーションPurdue Research Foundation | 小型質量分析器を用いたサンプル定量化 |
JP2018060812A (ja) * | 2013-08-13 | 2018-04-12 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーションPurdue Research Foundation | 小型質量分析器を用いたサンプル定量化 |
JP2019135495A (ja) * | 2013-08-13 | 2019-08-15 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーションPurdue Research Foundation | 小型質量分析器を用いたサンプル定量化 |
JP2019140112A (ja) * | 2013-08-13 | 2019-08-22 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーションPurdue Research Foundation | 小型質量分析器を用いたサンプル定量化 |
US10930481B2 (en) | 2013-08-13 | 2021-02-23 | Purdue Research Foundation | Sample quantitation with a miniature mass spectrometer |
JP6991176B2 (ja) | 2013-08-13 | 2022-01-12 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーション | 小型質量分析器を用いたサンプル定量化 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9076638B2 (en) | 2015-07-07 |
EP2498272B1 (en) | 2017-12-06 |
CN102655074A (zh) | 2012-09-05 |
US20120223223A1 (en) | 2012-09-06 |
CN102655074B (zh) | 2015-09-30 |
JP5675442B2 (ja) | 2015-02-25 |
EP2498272A1 (en) | 2012-09-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5675442B2 (ja) | 質量分析方法及び質量分析装置 | |
JP6663407B2 (ja) | ガス混合物の質量分析試験のための方法および質量分析計 | |
JP5324457B2 (ja) | 静電型イオントラップ | |
JP5497615B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5764433B2 (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
JP5771456B2 (ja) | 質量分析方法 | |
JP5784825B2 (ja) | 試料を分析するためのシステムおよび方法 | |
CN107462622A (zh) | 用于静态气体质谱分析的设备和方法 | |
JP5600430B2 (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
US9916970B2 (en) | Ion source | |
JP2001307675A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2009264949A (ja) | イオン付着質量分析装置及びそのイオン付着質量分析方法 | |
CN116438452A (zh) | 高质量粒子的表征 | |
JP5759036B2 (ja) | 質量分析装置 | |
CN116666187A (zh) | 对带正电离子和带负电离子进行质量分析的方法和设备 | |
Doig et al. | 10 Fundamental Aspects |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130828 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130828 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140311 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140408 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140604 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141125 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141224 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5675442 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |