JP2012169153A - プラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012169153A
JP2012169153A JP2011029401A JP2011029401A JP2012169153A JP 2012169153 A JP2012169153 A JP 2012169153A JP 2011029401 A JP2011029401 A JP 2011029401A JP 2011029401 A JP2011029401 A JP 2011029401A JP 2012169153 A JP2012169153 A JP 2012169153A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency power
processing apparatus
plasma processing
plasma
power source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2011029401A
Other languages
English (en)
Inventor
Akinori Ebe
明憲 江部
Yuichi Setsuhara
裕一 節原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP2011029401A priority Critical patent/JP2012169153A/ja
Publication of JP2012169153A publication Critical patent/JP2012169153A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Plasma Technology (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

【課題】1パスカル以下の低ガス圧でも放電開始や放電維持が容易で、基材表面へのプラズマダメージを最小限にするプラズマ処理装置を提供する。また、大面積プラズマ生成装置及びプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理容器内に低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体を装着したプラズマ処理装置において、前記低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体に高周波電力を給電する高周波電源として、放電プラズマを持続するための第1の高周波電源と、該第1の高周波電源の周波数より大きな周波数の高周波電力を給電する第2の高周波電源で構成する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、低インダクタンス誘導結合型アンテナを用いたプラズマ処理装置に関する。
半導体デバイス、液晶ディスプレイや太陽電池の製造工程でプラズマCVD装置やドライエッチング装置、アッシング装置などのプラズマ処理装置が使用される。これらの装置においては、高精細な加工、生産性の向上などの目的を達成するために、広い面積に亘って高密度で均一性の優れた放電プラズマを生成する技術が求められている。
近年、ディスプレイ用ガラス基板等の著しい大型化によって電極板サイズも非常に大きくなり、印加する高周波電力の波長効果が無視できなくなってきた。その結果、電極板の面内での不均一性が現れるようになった。平行平板電極間に高周波電圧を給電して放電プラズマを発生させる容量結合型プラズマ(CCP:Capacitive Coupled Plasma)方式の難点を克服する方法として、複数の小型アンテナに高周波電流を流して発生する電磁界を用いて放電プラズマを発生させる誘導結合型プラズマ(ICP:Inductively Coupled Plasma)方式が開発されている(特許文献1及び2を参照)。一般的に、ICP はCCP に較べて低ガス圧力下でも高密度で、電子温度が低く、イオンエネルギーの小さいプラズマが得られる技術として知られている。
しかし、プラズマダメージの影響を考慮して、例えば、アンテナ長を短くしてアンテナ導体のインダクタンスを小さくした低インダクタンス誘導結合型アンテナ(以下、LICPアンテナとも略す)を用いて、1パスカル以下の低ガス圧でプラズマ処理する場合、放電開始や放電維持が困難になる。そのため、プラズマ点灯時にはプロセスガス圧力をプラズマ処理ガス圧よりも高く設定し、点灯後にプラズマ処理ガス圧に下げる、或いは所定の高周波電力よりも大きな電力でプラズマを点灯し、点灯後に所定のガス圧、或いは高周波電力に調整するなどの方法がとられている。その結果、プロセス開始時のプラズマ状態の不安定性や大きな高周波電力の投入によるアンテナ電圧の増大に伴って基板表面へのプラズマダメージが増大する。プラズマダメージの増大は基材表面や基材と成長膜の界面構造に悪影響を及ぼす、例えば、結晶核形成に悪影響を及ぼすなどの課題があった。
特願2005−312681号公報 特願2008−133881号公報
本発明が解決しようとする課題は、1パスカル以下の低ガス圧でも放電開始が容易で安定な放電が持続され、放電開始時における基板表面への悪影響を抑制できるプラズマ処理装置を提供することである。また、大面積プラズマ生成装置及びプラズマ処理装置を安価に提供することである。
本願発明者らは、プラズマ処理装置の真空容器の上部を閉塞する天板又は側壁面に設けた開口部にフィードスルーを介してLICPアンテナ導体を前記真空容器内に導入し、前記LICPアンテナ導体の一方の端部を整合器を介して高周波電源に接続し、他方の端部を接地して前記LICPアンテナ導体に高周波電流を流して放電プラズマを発生させる誘導結合型プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置を開発してきた(特許文献1、2を参照)。本発明は、大面積にわたって高密度、且つプラズマダメージの少ないプラズマ発生装置を開発する過程で成されたもので、下記の発明を提供する。
請求項1に係る発明は、放電プラズマを形成する真空容器と、前記真空容器の上部を閉塞する天板又は側壁に設けられた開口部に装着されたLICPアンテナ導体と、前記真空容器内のガスを排気する排気手段と、前記真空容器内へプロセスガスを導入するガス導入手段と、前記アンテナ導体に高周波電力を給電する高周波電源とを備えたプラズマ処理装置において、前記高周波電源が放電プラズマを持続するための第1の高周波電源と、当該第1の高周波電源の周波数より大きな周波数の高周波電力を発振する第2の高周波電源とから構成されていることを特徴とするプラズマ処理装置である。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載の前記第2の高周波電源の出力周波数が、前記第1の高周波電源の出力周波数の2倍乃至6倍であることを特徴とするプラズマ処理装置である。
請求項3に係る発明は、請求項1及び2に記載の前記LICPアンテナ導体の給電端子がローパスフィルタを介して前記第1の高周波電源に接続され、且つハイパスフィルタを介して前記第2の高周波電源に接続されていることを特徴とするプラズマ処理装置である。
請求項4に係る発明は、前記第2の高周波電源が持続時間20μs乃至200μsの高周波電力を間欠的に出力する高周波電源であって、その繰り返し周波数が500Hz乃至10kHzであることを特徴とするプラズマ処理装置である。
請求項5に係る発明は、放電プラズマを形成する真空容器と、前記真空容器の上部を閉塞する天板又は側壁面に設けられた複数個の開口部に装着されたLICPアンテナ導体と、前記真空容器内のガスを排気する排気手段と、前記真空容器内へプロセスガスを導入するガス導入手段と、前記アンテナ導体に高周波電力を給電する高周波電源とを備えたプラズマ処理装置において、前記複数個のLICPアンテナ導体の給電端子は前記第1の高周波電源に接続され、少なくともいずれか1個のLICPアンテナ導体の給電端子は前記第2の高周波電源に接続されていることを特徴とするプラズマ処理装置である。
請求項6に係る発明は、請求項5記載のプラズマ処理装置において、前記複数個の各LICPアンテナ導体の給電端子はローパスフィルタを介して前記第1の高周波電源に接続され、少なくともいずれか1個のLICPアンテナ導体の給電端子はハイパスフィルタを介して前記第2の高周波電源に接続されていることを特徴とするプラズマ処理装置である。
前記第2の高周波電力を重畳することによって1パスカル以下の低ガス圧でも放電開始や放電維持を容易にし、放電開始時における基材表面への悪影響を抑制できるプラズマ処理装置を提供することができる。また、大面積プラズマ生成装置及びプラズマ処理装置を安価に提供することができる。
本発明に係るプラズマ処理装置の概略断面図である。 本発明に係る複数のLICPアンテナを具備するプラズマ処理装置の概略断面図である。 プラズマ点灯領域のガス圧と高周波電力の周波数依存性を示す図である。 本発明に係るプラズマ処理装置のプラズマ点灯領域の周波数依存性を示す図である。 放電開始ガス圧力と点灯時のプラズマ密度との関係を示す図である。 複数のLICPアンテナによる放電プラズマのプラズマ密度分布を示す図である。
本発明に係るプラズマ処理装置の一実施形態を図1に示す。この発明に係るプラズマ処理装置は、放電プラズマを形成する真空容器11と、前記真空容器の天板12或いは側壁11に設けられた1個以上の各開口部にフィードスルー15を介して前記真空容器11内に導入されたLICPアンテナ導体14と、前記真空容器内のガスを排気する排気手段(図示せず)と、前記真空容器内へプロセスガスを導入するガス導入手段19と、前記アンテナ導体に高周波電力を給電する高周波電源とを備えたプラズマ処理装置であって、前記LICPアンテナ導体14に高周波電力を給電する第1の高周波電源16aと、前記第1の高周波電源の出力周波数の2倍乃至6倍の周波数の高周波電力を給電する第2の高周波電源16bを備える。
前記LICPアンテナ導体14には、前記第1の高周波電源16aから整合器17aとローパスフィルタ18aとを介して高周波電力を給電し、前記第2の高周波電源16bから整合器17bとハイパスフィルタ18bを介して周波数の大きい高周波電力を給電することによって両高周波電力の干渉を抑制することができる。前記第2の高周波電源16bの高周波電力は連続発振、又は周期的に所定時間発振する高周波電力(以下、高周波バーストとも記す)を用いることができる。
本発明の他の実施形態では、前記天板に複数個のLICPアンテナ導体を2次元的に配置して装着し、各LICPアンテナ導体に高周波電力を給電する大面積プラズマ生成装置、或いはプラズマ処理装置に適用することができる。複数個のLICPアンテナ導体に高周波電力を給電して放電プラズマを発生させる場合、例えば図2に示すように3個のLICPアンテナ導体を配列した場合、少なくとも1個のLICPアンテナ導体14bには前記第2の高周波電源16bから整合器17bを介して高周波電力を給電し、他のLICPアンテナ導体14a、14cには前記第1の高周波電源16aから整合器17aを介して高周波電力を給電することができる。この実施形態では前記フィルタを使用する必要はない。
電極間隔1.8cmの平行平板電極に波高値300Vの高周波電圧を印加した場合に励起されるプラズマの放電開始ガス圧と周波数との関係を図3に示す。図3の曲線の右上領域で放電が励起されることを示している。同図から分かるように、高周波電力の周波数が大きいほど低ガス圧領域でも放電が励起され、安定な放電が持続されることが分かる。
基板表面をプラズマ処理するための前記第1の高周波電源16aに周波数13.56MHzの高周波電力を採用する場合、低電力で放電プラズマを励起し、安定化するための前記第2の高周波電源16bの周波数として、前記第1の高周波電源の2倍乃至6倍の高調波電力を用いることができる。また、前記高調波電力の印加はプラズマ処理室内に容易に主放電を励起するためのもので、連続発振の高周波である必要はなく、周期的に発振する高周波バーストであってもよい。前記第2の高周波電源として持続時間が20μs乃至200μs、その繰り返し周波数が500Hz乃至10kHzの高周波を出力する高周波電源とすることができる。
本発明に係る第1実施例に用いたプラズマ処理装置の概略断面図を図1に示す。本実施例で用いたLICPアンテナ導体14は外径6.4mmの銅パイプをコの字形に加工したもので、天板12に平行な部分の長さは10cmとした。フィードスルー板15にはピーク材(PEEK:ポリエーテルエーテルケトン)を用い、前記LICPアンテナ導体はシール部材を用いて貫通係止し、一体化してLICPアンテナユニット13を構成した。該LICPアンテナユニット13を天板に設けた開口部に真空シール部材を介挿して装着した。LICPアンテナ導体の前記真空容器内に突出した部分は石英パイプを被せてアンテナ導体とプラズマとの接触を防止した。また、前記LICPアンテナ導体パイプには冷却水を循環させて冷却した。
本実施例では、真空容器内を1×10−3Pa以下まで排気した後、真空容器内にアルゴンガスを導入し、ガス圧0.03Pa乃至7Paの範囲でプラズマ点灯検証を行った。LICPアンテナ導体に周波数13.56MHz、出力100〜1200Wの高周波電力と周波数27.12MHz、出力100〜250Wの高周波電力を給電して真空容器内にプラズマを発生させた。
測定結果を図4に示す。LICPアンテナ導体に13.56MHzの高周波電力のみ給電した場合、曲線1に示す結果が得られた。アルゴンガス圧0.2Pa以上の領域では高周波電力400Wで点灯したが、0.2Pa未満の領域では高周波電力を1000Wまで上げてもプラズマは励起されなかった。一方、27.12MHz、100Wの高周波電力を重畳して給電した場合は曲線2で示すように、ガス圧0.05Paでもプラズマを安定に励起することができた。
前記LICPアンテナ導体に27.12MHz、1000Wの高周波電力を給電し、前記真空容器内のアルゴンガス圧を上昇させたときの放電開始ガス圧力と点灯時のプラズマ密度との関係を図5に示す。前記高周波電力では放電開始ガス圧力の最小値は0.003Paであった。周波数13.56MHzの高周波電力のみの場合に比較して約2桁低いガス圧領域まで放電点灯領域を広げることが可能になる。周波数13.56MHzの汎用高周波電力に該高周波電力より大きな周波数の高周波電力を重畳給電することによって、ガス圧0.01Pa乃至0.1Pa領域においても確実に点灯でき、安定な放電を維持することができる。
本発明の他の実施形態に用いたプラズマ処理装置の概略断面図を図2に示す。この実施形態では、実施例1で用いたLICPアンテナユニット13を天板12に設けた3個の開口部に真空シール部材を介挿して装着した。各LICPアンテナユニットの間隔は30cmとした。LICPアンテナ導体14aと14cの給電端子には第1の高周波電源16aから整合器17aを介して13.56MHz、500Wの高周波電力を給電し、LICPアンテナ導体14bの給電端子には第2の高周波電源16bから整合器17bを介して27.12MHz、100W乃至250Wの高周波電力を給電した。本実施例では、各LICPアンテナ導体には周波数の異なる高周波電力を重畳して給電しないので、前記ローパスフィルタ及びハイパスフィルタは使用しなかった。
真空容器内を予め1×10−3Pa以下まで排気した後、真空容器内にアルゴンガスを導入し、ガス圧力を0.5Paに調整して前記高周波電力を給電して放電プラズマを励起した。前記LICPアンテナ導体の直下15cmの位置に基板支持台21を設置して、その表面におけるプラズマ密度を測定した。
測定結果を図6に示す。曲線1はLICPアンテナ14aと14cに周波数13.56MHz、500Wの高周波電力を給電し、LICPアンテナ14bに周波数27.12MHz、100Wの高周波電力を給電した場合のプラズマ密度分布を示す。曲線2はLICPアンテナ14bに160Wの高周波電力を給電した場合のプラズマ密度分布を示す。同図から明らかなように、低電力の高周波電力でプラズマが点灯すると同時に、LICPアンテナ14bに給電する高周波電力によってプラズマ密度の分布が変化する。LICPアンテナ14bに給電する高周波電力を制御することによって放電プラズマの密度分布を均一化することが可能である。
「実施形態の効果」
前記実施例では、第2の高周波電源の発振周波数として第1の高周波電源の発振周波数の2倍の第2高調波を用いたが、更に高い周波数の高周波電力を用いればより効果的である。また、点灯時の高周波電力を低減できることから基材表面や基材と成長膜の界面構造に悪影響を及ぼすプラズマダメージを最小限にするプラズマ処理装置を提供することができる。
「他の実施形態」
図2の実施形態では、天板12に3個のLICPアンテナユニット13を設けたが、前記天板に複数の前記LICPアンテナユニットを二次元的に装着した大面積プラズマ生成装置、或いはプラズマ処理装置に本発明を適用すれば、前記複数個のLICPアンテナユニットの少なくとも1個に周波数の高い高周波電力を重畳、又は単独に給電して駆動することによって、1パスカル以下の低ガス圧でも放電開始が容易で、安定な放電プラズマを発生する大面積プラズマ生成装置及びプラズマ処理装置を提供することができる。
11:真空容器、12:天板、13:LICPアンテナユニット、14:LICPアンテナ導体、15:フィードスルー板、16a:第1の高周波電源、16b:第2の高周波電源、17a、17b:整合器、18a:ローパスフィルタ、18b:ハイパスフィルタ、19:ガス導入手段、20:排気口、21:基板支持台、

Claims (6)

  1. 放電プラズマを形成する真空容器と、前記真空容器の上部を閉塞する天板又は側壁面に設けられた開口部に装着された低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体と、前記真空容器内のガスを排気する排気手段と、前記真空容器内へプロセスガスを導入するガス導入手段と、前記アンテナ導体に高周波電力を給電する高周波電源とを備えたプラズマ処理装置において、前記高周波電源が、放電プラズマを持続するための第1の高周波電源と、該第1の高周波電源の周波数より大きな周波数の高周波電力を発振する第2の高周波電源とから構成されていることを特徴とするプラズマ処理装置。
  2. 前記第2の高周波電源の出力周波数が前記第1の高周波電源の出力周波数の2倍乃至6倍であることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置。
  3. 前記低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体の給電端子は、ローパスフィルタを介して前記第1の高周波電源に接続され、且つハイパスフィルタを介して前記第2の高周波電源に接続されていることを特徴とする請求項1および2に記載のプラズマ処理装置。
  4. 前記第2の高周波電源は、持続時間が20μs乃至200μsの高周波電力を間欠的に出力する高周波電源であって、その繰り返し周波数が500Hz乃至10kHzであることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
  5. 放電プラズマを形成する真空容器と、前記真空容器の上部を閉塞する天板又は側壁に設けられた複数個の開口部に装着(フィードスルーを介して前記真空容器内に導入)された低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体と、前記真空容器内のガスを排気する排気手段と、前記真空容器内へプロセスガスを導入するガス導入手段と、前記複数のアンテナ導体に高周波電力を給電する高周波電源とを備えたプラズマ処理装置において、前記複数個の低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体の給電端子は前記第1の高周波電源に接続され、少なくともいずれか1個の低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体の給電端子は前記第2の高周波電源に接続されていることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
  6. 請求項5記載のプラズマ処理装置において、前記複数個の各低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体の給電端子はローパスフィルタを介して前記第1の高周波電源に接続され、少なくともいずれか1個の低インダクタンス誘導結合型アンテナ導体の給電端子はハイパスフィルタを介して前記第2の高周波電源に接続されていることを特徴とするプラズマ処理装置。
JP2011029401A 2011-02-15 2011-02-15 プラズマ処理装置 Withdrawn JP2012169153A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011029401A JP2012169153A (ja) 2011-02-15 2011-02-15 プラズマ処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011029401A JP2012169153A (ja) 2011-02-15 2011-02-15 プラズマ処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012169153A true JP2012169153A (ja) 2012-09-06

Family

ID=46973128

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011029401A Withdrawn JP2012169153A (ja) 2011-02-15 2011-02-15 プラズマ処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2012169153A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016134352A (ja) * 2015-01-22 2016-07-25 株式会社Screenホールディングス プラズマ処理装置
CN110777358A (zh) * 2018-07-30 2020-02-11 东京毅力科创株式会社 成膜方法和成膜装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016134352A (ja) * 2015-01-22 2016-07-25 株式会社Screenホールディングス プラズマ処理装置
CN110777358A (zh) * 2018-07-30 2020-02-11 东京毅力科创株式会社 成膜方法和成膜装置
CN110777358B (zh) * 2018-07-30 2021-08-24 东京毅力科创株式会社 成膜方法和成膜装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6539113B2 (ja) プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
TWI481316B (zh) 使用重力誘發氣體擴散分離控制式(gigdsc)電漿處理次系統的基板處理方法
JP4699127B2 (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JP2009004750A (ja) プラズマ工程装置及びその方法
US7927455B2 (en) Plasma processing apparatus
JP2011082180A (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
TWI539868B (zh) Plasma processing device
TWI429782B (zh) 電漿成膜方法以及電漿cvd裝置
KR20100022146A (ko) 플라즈마 공정장치 및 그 방법
JP2004039719A (ja) プラズマ装置、プラズマ制御方法及びプラズマ処理基体
KR20120011612A (ko) 플라즈마 처리 장치 및 이를 이용한 챔버 세정 방법
JP4145925B2 (ja) プラズマエッチング方法
KR100786537B1 (ko) 반도체 기판 공정 챔버에 사용되는 다중 플라즈마 발생소스
JP2018101463A (ja) 誘導結合型アンテナユニット及びプラズマ処理装置
JP2012169153A (ja) プラズマ処理装置
US20100263797A1 (en) Plasma processing apparatus
JP4875527B2 (ja) プラズマ発生装置およびこれを用いた薄膜形成装置
KR20070116505A (ko) 반도체 기판 처리장치
KR101568722B1 (ko) 플라즈마 반응기 및 이의 제어방법
JP2011029069A (ja) プラズマ処理装置および半導体膜の製造方法
KR20100053255A (ko) 이단 진공 챔버를 가지는 유도결합 플라즈마 장치
JP2005159049A (ja) プラズマ成膜方法
JP2013131475A (ja) プラズマ処理装置及び半導体装置
JP2008251838A (ja) プラズマ処理装置
JP5095087B2 (ja) 成膜装置及び成膜方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20140513