JP2012155398A - Icカード - Google Patents
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Abstract
【課題】ICカード内のICチップにかかる外力の影響を軽減し、信頼性の高いICカードを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、カード基体開口部の内壁と封止樹脂との間に空隙を有することから、外力が加わった場合、封止樹脂が空隙を上下に移動することで、封止樹脂の中央にあるICチップには応力がほとんどかからず、ICモジュール周囲のカード基材に力が集中することが出来る。また、封止樹脂はICチップを覆うように配置することから、モジュール基板に取り付けられている端子とICチップ間の電気的接続が切断されることを抑制することが出来る。
【選択図】図2
【解決手段】本発明は、カード基体開口部の内壁と封止樹脂との間に空隙を有することから、外力が加わった場合、封止樹脂が空隙を上下に移動することで、封止樹脂の中央にあるICチップには応力がほとんどかからず、ICモジュール周囲のカード基材に力が集中することが出来る。また、封止樹脂はICチップを覆うように配置することから、モジュール基板に取り付けられている端子とICチップ間の電気的接続が切断されることを抑制することが出来る。
【選択図】図2
Description
本発明は、ICチップを内包したICカードに関する。
中央処理装置や半導体メモリー等のICチップを内蔵するICカードは、従来の磁気カードに比べて、高度な暗号化による高いセキュリティを有し、記憶できるデータ容量も大きいため、磁気カードに代わって普及し、広く利用されている。
接触型ICカードは合成樹脂などを基材とするカード本体にICチップが内蔵され、カード表面に露出した電気伝導素子である接触端子が設けられている。読み書き装置のカードスロットにICカードを挿入し、ICカードの表面端子と読み書き装置の端子を接触することでデータの送受信を行なう。接触式ICカードは、大量データ交換や決済業務等交信の安全性が求められる用途である、キャッシュカードやクレジットカード等で利用されている。
図1に、一例として、従来の接触型のICカード10の断面構造を示す。図1では、モジュール基板2を挟んでICチップ3と接触端子1を配置し、該ICチップ3と接触端子1とがモジュール基板開口部2aを介してボンディングワイヤ4で接続されたICモジュール部を、カード基体7に設けたカード基体開口部6にはめ込み、カード基体開口部6の内部は封止樹脂5にて充填されている。図1に示すように、従来のICカードでは、カード基体開口部6を、ICモジュール部とほぼ同じ大きさとしている。このため、ICカードの接触端子部やその逆面に、大きな外力が働いた場合、その力は、ほとんど緩和されることなく、そのままICモジュール部に掛かり、結果としてICチップが破壊される問題があった。
外力によりICチップが破壊されることを回避する方法として、ICチップと封止樹脂の間に空隙を設けることにより、外力による封止樹脂の変形がICチップに影響しないICモジュール構造が提案されている(特許文献1参照)。
しかしながら、特許文献1に示された構造では、ICチップとモジュール基板の接合強度を補っていた封止樹脂がICチップ周囲に存在しないため、ICチップとモジュール基板間の剥離が発生し、モジュール基板に取り付けられている端子とICチップ間の電気的接続が切断される恐れがある。
しかしながら、特許文献1に示された構造では、ICチップとモジュール基板の接合強度を補っていた封止樹脂がICチップ周囲に存在しないため、ICチップとモジュール基板間の剥離が発生し、モジュール基板に取り付けられている端子とICチップ間の電気的接続が切断される恐れがある。
本発明は、上述の問題を解決するためになされたものであり、ICカード内のICチップにかかる外力の影響を軽減し、信頼性の高いICカードを提供することを目的とする。
本発明の一実施形態は、モジュール基板と、前記モジュール基板上に形成されたICチップと、前記ICチップを覆う封止樹脂と、前記モジュール基板と接するカード基体と、前記カード基体に形成され、前記ICチップおよび前記封止樹脂とを収容するカード基体開口部と、を備え、前記カード基体開口部の内壁と、前記封止樹脂と、の間に空隙を有することを特徴とするICカードである。
また、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1は、100μm以上2000μm以下の範囲にあってもよい。
また、前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W2は、100μm以上500μm以下の範囲にあってもよい。
また、前記封止樹脂の角部は丸みを帯びた形状であってもよい。
本発明は、カード基体開口部の内壁と封止樹脂との間に空隙を有することから、外力が加わった場合、封止樹脂が空隙を上下に移動することで、封止樹脂の中央にあるICチップには応力がほとんどかからず、ICモジュール周囲のカード基材に力が集中することが出来る。また、封止樹脂はICチップを覆うように配置することから、モジュール基板に取り付けられている端子とICチップ間の電気的接続が切断されることを抑制することが出来る。
本発明のICカードは、モジュール基板と、前記モジュール基板上に形成されたICチップと、前記ICチップを覆う封止樹脂と、前記モジュール基板と接するカード基体と、前記カード基体に形成され、前記ICチップおよび前記封止樹脂を収容するカード基体開口部と、を備え、前記カード基体開口部の内壁と、前記封止樹脂と、の間に空隙を有する。
本発明のICカードは、カード基体開口部の内壁と封止樹脂との間に空隙を有することから、外力が加わった場合、封止樹脂が空隙を上下に移動することで、封止樹脂の中央にあるICチップには応力がほとんどかからず、ICモジュール周囲のカード基材に力が集中することが出来る。また、封止樹脂はICチップを覆うように配置することから、モジュール基板に取り付けられている端子とICチップ間の電気的接続が切断されることを抑制することが出来る。
また、本発明のICカードは、ICチップ内の情報の送受信および書き換えなどに用いる端子を備えていてもよい。端子は、1)電気伝導素子である接触端子、2)アンテナコイルなどの非接触端子、などが挙げられる。
本発明のICカードに用いる封止樹脂は、ICカードの用途に応じて適宜材料を選択してよい。例えば、非伝導性の樹脂などを用いてもよく、具体的には、エポキシ系樹脂、BTレジン系樹脂、シリコン系樹脂、フェノール系樹脂、酢酸ビニル樹脂エマルジョン系樹脂などを用いてもよい。
また、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1は、100μm以上2000μm以下程度の範囲にあることが好ましい。ISOやJISなどで規格化された標準的サイズのカードにおいて、距離W1が100μm以下であると、封入樹脂が好適に外力に応じて変形できない。また、距離W1が2000μm以上であると、カード基体とモジュール基板の接着強度が不十分となり、外部からの荷重によって、カード基体とモジュール基板間が剥離する恐れがある。
また、前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W2は、100μm以上500μm以下程度の範囲にあることが好ましい。ISOやJISなどで規格化された標準的サイズのカードにおいて、距離W2が100μm以下であると、封入樹脂が好適に外力に応じて変形できない。また、距離W2が500μm以上であると、封止樹脂の厚さを非常に薄くする必要があり、ICチップを封止する強度自体が弱くなるため、カード全体の強度が低下しカード自体が破損する恐れがある。
本発明のICカードにおいて、空隙は封止樹脂が外力に応じて変形できる程度の容積があればよい。
よって、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1が100μm以上のとき、前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁とは接触していてもよいし、離れていてもよい。
また、前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W2が100μm以上のとき、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁とは接触していてもよいし、離れていてもよい。
よって、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1が100μm以上のとき、前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁とは接触していてもよいし、離れていてもよい。
また、前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W2が100μm以上のとき、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁とは接触していてもよいし、離れていてもよい。
また、本発明のICカードにおいて、前記カード基体開口部の内壁と前記封止樹脂との間の空隙には不活性ガスを充填してもよい。
また、本発明のICカードにおいて、前記封止樹脂の角部は丸みを帯びた形状であってもよい。外力がICカードに均等にかからなかった場合、封止樹脂の角部を丸みを帯びた形状とすることでICカード面に対して封止樹脂が傾いて移動することが出来、封止樹脂の移動領域を拡大することが可能である。これにより、信頼性をより向上させることが可能である。
以下、具体的に図を用いながら、本発明のICカードについて説明を行う。
<第一の実施形態>
以下、図2を参照して本発明にかかるICカードの一実施の形態について、詳細に説明する。
モジュール基板2にモジュール基板開口部2aを形成後、電気伝導性を有する金属層をモジュール基板2の片側にラミネートにて貼り付け、エッチングによって、接触端子1を形成した。次に、モジュール基板2のもう一方の面にICチップ3を接着剤(図に説明なし)を介して取り付け、モジュール基板開口部2aを利用して、ICチップ3と接触端子1をボンディングワイヤ4にて電気的に接続した。次に、トランスファーモールド工程を使用して封止樹脂5にてICチップ3周辺を封止し、ICモジュール部を作成した。次に、カード基体に凹状の開口部を形成し、この開口部にICモジュールを埋め込み、本発明のICカードとした。なお、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1は、100μmとした。
以下、図2を参照して本発明にかかるICカードの一実施の形態について、詳細に説明する。
モジュール基板2にモジュール基板開口部2aを形成後、電気伝導性を有する金属層をモジュール基板2の片側にラミネートにて貼り付け、エッチングによって、接触端子1を形成した。次に、モジュール基板2のもう一方の面にICチップ3を接着剤(図に説明なし)を介して取り付け、モジュール基板開口部2aを利用して、ICチップ3と接触端子1をボンディングワイヤ4にて電気的に接続した。次に、トランスファーモールド工程を使用して封止樹脂5にてICチップ3周辺を封止し、ICモジュール部を作成した。次に、カード基体に凹状の開口部を形成し、この開口部にICモジュールを埋め込み、本発明のICカードとした。なお、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1は、100μmとした。
上記第一の実施形態では、距離W1を設けることにより、ICモジュール部に外力がかかった場合、ICチップを含む封止樹脂部が、ICカード面の垂直方向に移動することで、封止樹脂の中央にあるICチップには応力がほとんどかからず、ICモジュール周囲のカード基材が外力の多くを受け止める構造となるため、ICチップが破壊しにくい構造となっている。これにより、信頼性を向上させることが可能である。
<第二の実施形態>
以下、図3を参照して、本発明にかかるICカードの一実施の形態について、詳細に説明する。
第一の実施形態と同様に本発明のICカードを作成した。ただし、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1を100μmとし、前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W2を100μmとした。
以下、図3を参照して、本発明にかかるICカードの一実施の形態について、詳細に説明する。
第一の実施形態と同様に本発明のICカードを作成した。ただし、前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1を100μmとし、前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W2を100μmとした。
上記第二の実施形態では、距離W1および距離W2を両方とも設けることにより、ICチップを含む封止樹脂部が、ICカード面の垂直方向に移動する領域が増加させることが出来る。
<第三の実施形態>
以下、図4を参照して、本発明にかかるICカードの一実施の形態について、詳細に説明する。
第一の実施形態と同様に本発明のICカードを作成した。ただし、封止樹脂5の角部は丸みを帯びた形状とした。
以下、図4を参照して、本発明にかかるICカードの一実施の形態について、詳細に説明する。
第一の実施形態と同様に本発明のICカードを作成した。ただし、封止樹脂5の角部は丸みを帯びた形状とした。
上記第三の実施形態では、外力がICカードに均等にかからなかった場合、封止樹脂の角部を丸みを帯びた形状とすることでICカード面に対して封止樹脂が傾いて移動することが出来、封止樹脂の移動領域を拡大することが可能である。
なお、上記第一〜第三の実施形態においては、ICカード内のICモジュールはワイヤーボンディング方式による接続機構のICチップを示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、フリップチップのバンプボンディング方式によるICモジュールにおいても使用可能である。
1……接触端子、
2……モジュール基板
2a……モジュール基板開口部
3……ICチップ
4……ボンディングワイヤ
5……封止樹脂
6……カード基体開口部
7……カード基体
10……ICカード
2……モジュール基板
2a……モジュール基板開口部
3……ICチップ
4……ボンディングワイヤ
5……封止樹脂
6……カード基体開口部
7……カード基体
10……ICカード
Claims (4)
- モジュール基板と、
前記モジュール基板上に形成されたICチップと、
前記ICチップを覆う封止樹脂と、
前記モジュール基板と接するカード基体と、
前記カード基体に形成され、前記ICチップおよび前記封止樹脂を収容するカード基体開口部と、を備え、
前記カード基体開口部の内壁と、前記封止樹脂と、の間に空隙を有すること
を特徴とするICカード。 - 前記カード基体表面に対し水平方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W1は、100μm以上2000μm以下の範囲にあること
を特徴とする請求項1に記載のICカード。 - 前記カード基体表面に対し垂直方向における前記封止樹脂と前記カード基体開口部の内壁との距離W2は、100μm以上500μm以下の範囲にあること
を特徴とする請求項1および2のいずれかに記載のICカード。 - 前記封止樹脂の角部は丸みを帯びた形状であること
を特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のICカード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011011948A JP2012155398A (ja) | 2011-01-24 | 2011-01-24 | Icカード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011011948A JP2012155398A (ja) | 2011-01-24 | 2011-01-24 | Icカード |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012155398A true JP2012155398A (ja) | 2012-08-16 |
Family
ID=46837098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011011948A Pending JP2012155398A (ja) | 2011-01-24 | 2011-01-24 | Icカード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2012155398A (ja) |
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2011
- 2011-01-24 JP JP2011011948A patent/JP2012155398A/ja active Pending
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