JP2012150349A - 投影装置、投影方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】カラーフィルタが損傷してもその影響を回避して正常な投影動作を続行する。
【解決手段】青色光を発するＬＤ18と、周面の同一周位置に蛍光体層20を形成し、ＬＤ18からの光の照射により蛍光体層20ｇから発生する光を出射する蛍光ホイール20と、蛍光ホイール20の基準回転位置を検出するマーカセンサ22と、マーカセンサ22での検出結果と関連付けて上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定する照度センサ28と、照度センサ28での測定結果に基づいて蛍光体層20ｇに対するＬＤ18の発光タイミングを選定するＣＰＵ29と、画像信号を入力する入力部11と、選定した発光タイミングでＬＤ18を発光させ、蛍光体層20ｇから出射される緑色光を用いて入力部11で入力した画像信号に応じた光像を形成するマイクロミラー素子14，投影処理部13と、マイクロミラー素子14で形成した光像を投影対象に向けて投影する投影レンズユニット17とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、例えばＤＬＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｌｉｇｈｔ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）（登録商標）方式のプロジェクタ装置等に好適な投影装置、投影方法及びプログラムに関する。

従来より、光源からの白色光を、周面に複数色のカラーフィルタを配置したカラーホイールを透過させることで時分割の着色光として出射させ、当該光を用いて各色用の画像を投影することで、フィールドシーケンシャルにカラー画像を投影させるプロジェクタが各種企画、製品化されている。

この種のプロジェクタの光源素子として、従来多く使用されていた高圧水銀灯などの放電灯に代えて、消費電力量やサイズ、発熱量などの点で優れた、ＬＥＤ（発光ダイオード）やＬＤ（レーザダイオード）などの半導体発光素子を用いることが考えられている。

これら半導体発光素子をプロジェクタ用の光源として使用する場合、光量の大きなスポット状のビーム光がカラーホイールに照射されることとなり、カラーホイールを構成するカラーフィルタに熱的な劣化や損傷を生じることが懸念されている。

そのため、例えばカラーホイールの回転軸位置を径方向に往復移動させることで、カラーホイールに照射される光の入射位置を変更し、同一周位置にのみ光が集中して照射されることを回避するようにした技術が考えられている。（例えば、特許文献１）

特開２００５−１５６６０７号公報

しかしながら上記特許文献に記載された技術は、カラーホイール及びその駆動モータを一体にして所定周期で移動させるための機構が必要であり、装置全体が大型で複雑なものとなる。また、カラーフィルタに損傷を生じた場合にはその時点以降、正常な状態での投影動作を続行することができない。

本発明は上記のような実情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、カラーフィルタの一部が損傷してもその影響を回避して正常な状態での投影動作を続行することが可能な投影装置、投影方法及びプログラムを提供することにある。

請求項１記載の発明は、半導体発光素子と、周面の同一周位置に蛍光体層を形成し、上記半導体発光素子からの光が上記蛍光体層に照射されて、該蛍光体層から発生する光を出射する回転体と、上記回転体の基準回転位置を検出する検出手段と、上記検出手段での検出結果と関連付けて上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定する測定手段と、上記測定手段での測定結果に基づいて上記回転体の蛍光体層に対する上記半導体発光素子の光の照射タイミングを選定する選定手段と、画像信号を入力する入力手段と、上記選定手段で選定した照射タイミングで上記半導体発光素子を発光させ、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記入力手段で入力した画像信号に応じた光像を形成する光像形成手段と、上記光像形成手段で形成した光像を投影対象に向けて投影する投影手段とを具備したことを特徴とする。

請求項２記載の発明は、上記請求項１記載の発明において、上記光像形成手段は、上記回転体の蛍光体層から出射される光を反射する反射光の方向を振り分けて光像を形成し、上記測定手段は、上記光像形成手段で上記投影手段の方向に反射されなかった反射光を用いて上記光の強度を測定することを特徴とする。

請求項３記載の発明は、上記請求項１又は２記載の発明において、上記入力手段で入力した画像信号に応じた光像が、上記投影手段により上記投影対象に向けて投影されている状態で、上記測定手段は上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定することを特徴とする。

請求項４記載の発明は、上記請求項１または２記載の発明において、上記入力手段から上記画像信号が入力されていない上記投影装置の待機期間に、上記測定手段は上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定することを特徴とする。

請求項５記載の発明は、上記請求項１乃至４いずれか記載の発明において、上記回転体は、全周に亘って同一色成分の蛍光体が塗布されていることを特徴とする。

請求項６記載の発明は、上記請求項１乃至５いずれか記載の発明において、上記半導体発光素子から青色光が上記蛍光体層に照射されることを特徴とする。

請求項７記載の発明は、上記請求項１乃至６いずれか記載の発明において、上記蛍光体層から発生する光は緑色光であることを特徴とする。

請求項８記載の発明は、請求項８記載の発明は、半導体発光素子、周面の同一周位置に蛍光体層を形成し、上記半導体発光素子からの光が上記蛍光体層に照射されて、該蛍光体層から発生する光を出射する回転体、画像信号を入力する入力部、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記入力部で入力した画像信号に応じた光像を形成する光像形成部、及び上記光像形成部で形成した光像を投影対象に向けて投影する投影部とを備えた装置での投影方法であって、上記回転体の基準回転位置を検出する検出工程と、上記検出工程での検出結果と関連付けて上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定する測定工程と、上記測定工程での測定結果に基づいて上記回転体の蛍光体層に対する上記半導体発光素子の光の照射タイミングを選定する選定工程と、上記選定工程で選定した照射タイミングで上記半導体発光素子を発光させ、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記光像形成部で画像信号に応じた光像を形成させる発光制御工程とを有したことを特徴とする。

請求項９記載の発明は、半導体発光素子、周面の同一周位置に蛍光体層を形成し、上記半導体発光素子からの光が上記蛍光体層に照射されて、該蛍光体層から発生する光を出射する回転体、画像信号を入力する入力部、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記入力部で入力した画像信号に応じた光像を形成する光像形成部、及び上記光像形成部で形成した光像を投影対象に向けて投影する投影部とを備えた装置が内蔵するコンピュータが実行するプログラムであって、上記コンピュータを、上記回転体の基準回転位置を検出する検出手段、上記検出手段での検出結果と関連付けて上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定する測定手段、上記測定手段での測定結果に基づいて上記回転体の蛍光体層に対する上記半導体発光素子の光の照射タイミングを選定する選定手段、及び上記選定手段で選定した照射タイミングで上記半導体発光素子を発光させ、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記光像形成部で画像信号に応じた光像を形成させる発光制御手段として機能をさせることを特徴とする。

本発明によれば、カラーフィルタの一部が損傷してもその影響を回避して正常な状態での投影動作を続行することが可能となる。

本発明の一実施形態に係るデータプロジェクタ装置の電子回路と光学系統の構成を示す図。 同実施形態に係る図１の蛍光ホイールの構成を示す平面図。 同実施形態に係る電源オン時から電源オフ時に至るまでの主としてインデックスディレイチェック動作の処理内容を示すフローチャート。 同実施形態に係る蛍光ホイールの回転と各発光素子の動作を示すタイミングチャート。 同実施形態に係る蛍光ホイールの回転と各発光素子の動作を示すタイミングチャート。

以下本発明をＤＬＰ（登録商標）方式のデータプロジェクタ装置に適用した場合の一実施形態について図面を参照して説明する。

図１は、本実施形態に係るデータプロジェクタ装置１０の概略機能構成を示す図である。
入力部１１は、例えばピンジャック（ＲＣＡ）タイプのビデオ入力端子、Ｄ−ｓｕｂ１５タイプのＲＧＢ入力端子などにより構成される。入力部１１に入力された各種規格のアナログ画像信号は、入力部１１でデジタル化された後に、システムバスＳＢを介して画像変換部１２に送られる。

画像変換部１２は、スケーラとも称され、入力される画像データを投影に適した所定のフォーマットの画像データに統一して投影処理部１３へ送る。

この際、ＯＳＤ（Ｏｎ Ｓｃｒｅｅｎ Ｄｉｓｐｌａｙ）用の各種動作状態を示すシンボル等のデータも必要に応じて画像変換部１２により画像データに重畳加工され、加工後の画像データを投影処理部１３へ送る。

投影処理部１３は、送られてきた画像データに応じて、所定のフォーマットに従ったフレームレート、例えば６０［フレーム／秒］と色成分の分割数、及び表示階調数を乗算した、より高速な時分割駆動により、空間的光変調素子であるマイクロミラー素子１４を表示するべく駆動する。

このマイクロミラー素子１４は、アレイ状に配列された複数、例えばＷＸＧＡ（Ｗｉｄｅ ｅＸｔｅｎｄｅｄ Ｇｒａｐｈｉｃ Ａｒｒａｙ）（横１２８０画素×縦８００画素）分の微小ミラーの各傾斜角度を個々に高速でオン／オフ動作して画像を表示することで、その反射光により光像を形成する。

一方で、光源部１５から時分割でＲ，Ｇ，Ｂの原色光が循環的に出射される。この光源部１５からの原色光が、ミラー１６で全反射して上記マイクロミラー素子１４に照射される。

そして、マイクロミラー素子１４での反射光で光像が形成され、形成された光像が投影レンズユニット１７を介して、投影対象となる図示しないスクリーンに投影表示される。

光源部１５は、青色のレーザ光を発するＬＤ１８を有する。
ＬＤ１８が発する青色のレーザ光は、ダイクロイックミラー１９を透過した後に蛍光ホイール２０の周面に照射される。この蛍光ホイール２０は、ホイールモータ２１により回転されるもので、上記青色のレーザ光が照射される周面全周に渡って蛍光体層２０ｇを形成している。

図２は、蛍光ホイール２０の平面構成を示す図である。図示する如く蛍光ホイール２０の上記レーザ光が照射される円周上に蛍光体を塗布することで蛍光体層２０ｇが形成される。蛍光ホイール２０の蛍光体層２０ｇが形成されている面の裏面には図示しない反射板が蛍光体層２０ｇと重なるように設けられている。また、蛍光ホイール２０の周面の一端部には、このデータプロジェクタ装置１０の回転同期をとるための基準回転位置を示すホイールマーカ２０ｍが設けられる。

本実施形態では、カラー画像１フレームの周期に同期して、蛍光ホイール２０が図中に矢印ＲＴで示す方向に正確に１周、３６０°回転するものとし、上記１フレームの開始タイミングで上記ホイールマーカ２０ｍが、これに対向して近設配置されたマーカセンサ２２を通過するものとする。

上記投影処理部１３は、マーカセンサ２２の検出出力ＣＷＩＮＤＥＸを受けるもので、蛍光ホイール２０のホイールマーカ２０ｍがマーカセンサ２２部分を通過したタイミングをカラー画像１フレームのスタートタイミングとし、後述するＣＰＵ２９から与えられるインデックスディレイ（ＩＤ）だけ遅延させた後にＬＤ１８を駆動して青色光を出射させる。

インデックスディレイは、蛍光ホイール２０のホイールマーカ２０ｍからどれだけ蛍光ホイール２０を回転させて、ＬＤ１８から青色レーザ光を蛍光ホイール２０に照射させるかを決定する、ホイールマーカ２０ｍの先端を基準回転位置とした所定の回転角のことである。

蛍光ホイール２０の蛍光体層２０ｇに青色のレーザ光が照射されることで、緑色光が反射光として励起する。この緑色光は、上記ダイクロイックミラー１９で反射され、ダイクロイックミラー２３を透過して上記ミラー１６に至る。

さらに光源部１５は、赤色光を発するＬＥＤ２４、及び青色光を発するＬＥＤ２５を有する。
ＬＥＤ２４が発する赤色光は、ダイクロイックミラー２６で反射され、さらに上記ダイクロイックミラー２３でも反射された後に、上記ミラー１６に至る。

ＬＥＤ２５が発する青色光は、ミラー２７で反射され、上記ダイクロイックミラー２６を透過した後に、上記ダイクロイックミラー２３で反射され、上記ミラー１６に至る。

以上の如く、ダイクロイックミラー１９は、青色光を透過する一方で、緑色光を反射する。ダイクロイックミラー２３は、緑色光を透過する一方で、赤色光及び青色光を反射する。ダイクロイックミラー２６は、赤色光を反射する一方で、青色光を透過する。
上記マイクロミラー素子１４による反射光の振り分け動作で、上記投影レンズユニット１７方向に反射されなかった光、所謂「オフ光」が照度センサ２８に入射される。この照度センサ２８は、入射された光の照度を測定し、測定結果を示す信号を上記投影処理部１３に出力する。

投影処理部１３は、上記マイクロミラー素子１４での画像の表示による光像の形成、上記ＬＤ１８、ＬＥＤ２４，２５の各発光、上記ホイールモータ２１による蛍光ホイール２０の回転、上記マーカセンサ２２による蛍光ホイール２０の回転タイミングの検出、及び上記照度センサ２８による照度の測定を、後述するＣＰＵ２９の制御の下に実行する。

上記各回路の動作すべてをＣＰＵ２９が制御する。このＣＰＵ２９は、メインメモリ３０及びプログラムメモリ３１と直接接続される。メインメモリ３０は、例えばＳＲＡＭで構成され、ＣＰＵ２９のワークメモリとして機能する。プログラムメモリ３１は、電気的に書換可能な不揮発性メモリで構成され、ＣＰＵ２９が実行する動作プログラムや各種定型データ等を記憶する。ＣＰＵ２９は、上記メインメモリ３０及びプログラムメモリ３１を用いて、このデータプロジェクタ装置１０内の制御動作を実行する。

上記ＣＰＵ２９は、操作部３２からのキー操作信号に応じて各種投影動作を実行する。
この操作部３２は、データプロジェクタ装置１０の本体に設けられるキー操作部と、このデータプロジェクタ装置１０専用の図示しないリモートコントローラからの赤外光を受光するレーザ受光部とを含み、ユーザが本体のキー操作部またはリモートコントローラで操作したキーに基づくキー操作信号をＣＰＵ２９へ直接出力する。

上記ＣＰＵ２９はさらに、上記システムバスＳＢを介して音声処理部３３とも接続される。音声処理部３３は、ＰＣＭ音源等の音源回路を備え、投影動作時に与えられる音声データをアナログ化し、スピーカ部３４を駆動して拡声放音させ、あるいは必要によりビープ音等を発生させる。

次に上記実施形態の動作について説明する。
なお、上述した如く以下に示す動作は全て、ＣＰＵ２９がプログラムメモリ３１から読出した動作プログラムや固定データ等をメインメモリ３０に展開して記憶させた上で実行する。

また説明を簡易化するため、蛍光ホイール２０の回転周期と同期してカラー画像１フレームを投影する際、例えば、当該フレームをＲ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）の３フィールドで構成し、且つ各色フィールドでは共に蛍光ホイール２０の回転時の中心角で１２０°に相当する時間を用いて当該色の画像を投影するものとする。

図３は、データプロジェクタ装置１０の電源をオンした当所から、電源がオフされるまで間の、主としてインデックスディレイチェック動作の処理内容を示すフローチャートである。なお、本実施形態では、ユーザが望む画像をデータプロジェクタ装置１０でスクリーンに投影しながら上記インデックスディレイチェック動作が行なわれる。

電源をオンした当所にはまず、インデックスディレイに初期値として「０°」を設定した上で（ステップＳ１０１）、設定したインデックスディレイに応じたフレーム構成の画像を投影する（ステップＳ１０２）。

この場合、インデックスディレイが「０°」である場合には、カラー画像１フレームを蛍光ホイール２０のホイールマーカ２０ｍの先端が位置する基準回転位置からの回転角（０°〜３６０°）で表すと、各フィールドの投影タイミングは、例えばＧフィールドが「０°」〜「１２０°」、Ｒフィールドが「１２０°」〜「２４０°」、Ｂフィールドが「２４０°」〜「３６０°」となる。

投影処理部１３では、ＣＰＵ２９の制御の下に、この投影タイミングに対応してマイクロミラー素子１４で対応する色用の画像を表示させると共に、ＬＤ１８、ＬＥＤ２４、及びＬＥＤ２５の発光タイミングを制御する。

このとき合わせて投影処理部１３は、インデックスディレイのタイミングに応じた照度を照度センサ２８で測定し、その値をインデックスディレイ「０°」と関連付けて記憶する（ステップＳ１０３）。なお本実施形態では、インデックスディレイのタイミングに応じたカラー画像１フレームのうち、蛍光ホイール２０から照射される光の照度のみを照度センサ２８で測定し、インデックスディレイと関連付けて記憶している。すなわち、本実施形態ではＧ光のみを照度センサ２８で測定している。

この照度センサ２８での測定に際して、照度センサ２８が投影する画像フレームの特定の部位、例えば右下コーナー部のブロックエリアの照度を測定するように配置されているのであれば、上記測定タイミングに合わせてマイクロミラー素子１４で表示する画像中の当該ブロックエリアのみを全て投影光が照度センサ２８側に反射されるオフ表示としても良い。

この場合、本来投影される画像に対して、当該ブロックエリアのみ、投影階調が低下する（暗くなる）ものの、その程度は角度比で表現してもＧ（緑色）成分の最大で「１／１２０」であり、投影画像を見ているユーザ等が視認できるほどに投影内容の画質が劣化することはないものと考えられる。

その後、その時点で設定しているインデックスディレイが最大値「３６０°」であるか否かを判断し（ステップＳ１０４）、そうではないと判断すると、インデックスディレイを「＋１°」更新設定した上で（ステップＳ１０５）、再び上記ステップＳ１０３の処理に戻る。

こうしてステップＳ１０３〜Ｓ１０５の処理を繰返し実行することで、インデックスディレイを１°ずつ更新設定しながら、そのインデックスディレイに対応した照度を測定し続ける。

図４は、インデックスディレイが例えば「４５°」である場合のマーカセンサ２２の出力ＣＷＩＮＤＥＸと、ＬＤ１８の発光タイミング（Ｇ−ＯＮ）、ＬＥＤ２４の発光タイミング’（Ｒ−ＯＮ）、及びＬＥＤ２５の発光タイミング（Ｂ−ＯＮ）、及び照度センサ２８の測定出力を例示する。

このインデックスディレイが例えば「４５°」である場合には、図示するように、カラー画像１フレームを蛍光ホイール２０のホイールマーカ２０ｍの先端が位置する基準回転位置からの回転角（０°〜３６０°）で表すと、各フィールドの投影タイミングは、例えば「０°」〜「４５°」までが第１のＢフィールド（Ｂ１）、「４５°」〜「１６５°」までがＧフィールド、「１６５°」〜「２８５°」までがＲフィールド、「２８５°」〜「３６０°」までが第２のＢフィールド（Ｂ２）となる。

特に図４（３）では破線で示しているが、以後インデックスディレイを「４５°」以降、「１６５°」まで更新設定する過程で、照度センサ２８により測定する照度が著しく低下する範囲ＢＰが存在するものとする。この範囲ＢＰでは、蛍光ホイール２０の蛍光体層２０ｇに剥離、欠落などなんらかの理由で破損が生じているものと考えられる。

次に図５は、インデックスディレイが例えば「１６０°」である場合のマーカセンサ２２の出力ＣＷＩＮＤＥＸと、ＬＤ１８の発光タイミング（Ｇ−ＯＮ）、ＬＥＤ２４の発光タイミング’（Ｒ−ＯＮ）、及びＬＥＤ２５の発光タイミング（Ｂ−ＯＮ）、及び照度センサ２８の測定出力を例示する。

このインデックスディレイが例えば「１６０°」である場合には、図示するように、カラー画像１フレームを蛍光ホイール２０のホイールマーカ２０ｍの先端が位置する基準回転位置（０°）からの回転角（０°〜３６０°）で表すと、各フィールドの投影タイミングは、例えば「０°」〜「４０°」までが第１のＲフィールド（Ｒ１）、「４０°」〜「１６０°」までがＢフィールド、「１６０°」〜「２８０°」までがＧフィールド、「２８０°」〜「３６０°」までが第２のＲフィールド（Ｒ２）となる。

特に図５（３）では破線で示しているが、以後インデックスディレイを「１６０°」以降、「２８０°」まで更新設定する過程で、照度センサ２８により測定する照度はそれほど大きくは変動しないものとする。したがって、蛍光体層２０ｇに多少の塗布むら等は存在する可能性があるものの、剥離、欠落などの理由による破損は生じていないものと考えられる。

上記ステップＳ１０３〜Ｓ１０５の処理を都合３６１回繰返し実行した後、上記ステップＳ１０４でインデックスディレイが最大値「３６０°」であると判断すると、以上で蛍光ホイール２０の蛍光体層２０ｇ全周に渡っての測定を終了したものとして、それまでの測定結果を基に、蛍光体が劣化の影響を受けておらず、且つ明るさにムラがないＬＤ１８の発光期間を選定して、その開始タイミングとなるインデックスディレイを読出す（ステップＳ１０６）。

ここでは、上記図４（３）で示した、照度が著しく低下する範囲ＢＰを避けると共に、全体に照度の値が高く、且つ照度のムラが小さい（＝その範囲の平均値に対する偏差が小さい）範囲を、蛍光ホイール２０の回転角で表すと１２０°分選定する。

この場合、上記１２０°分の範囲は連続している必要はなく、２つの範囲に分割するものとしても良い。

こうして範囲を設定することで、そのインデックスディレイを読出し、これに合わせて残るＲフィールド、Ｂフィールドもそれぞれ１２０°分の範囲を設定する（ステップＳ１０７）。

これにより、電源オン時の初期設定を終了するものとし、上記ステップＳ１０７で設定したＲ，Ｇ，Ｂ各フィールドの範囲に基づいて通常の投影動作に移行する（ステップＳ１０８）。

これと共に投影時間の積算カウントを実行する（ステップＳ１０９）。この投影時間の積算カウントに関しては、積算投影時間を上述した如く不揮発性のメモリで構成したプログラムメモリ３１に随時更新しながら記憶するものとして、このデータプロジェクタ装置１０の電源をオフしても記憶内容が失われることがないようにする。

その後、操作部３２での操作によりこのデータプロジェクタ装置１０の電源をオフする指示がなされたか否かを判断する（ステップＳ１１０）。
当該指示がなされていないと判断した場合には、さらに上記直前のステップＳ１０９で更新記憶させたプログラムメモリ３１の投影時間の積算カウント値が、インデックスディレイのチェックを行なう所定のタイミング、例えば１０時間毎であれば、「時間」の一の位以下の位の値が全て「０」となったか否かを判断する（ステップＳ１１１）。

ここで投影時間の積算カウント値が所定のタイミングとはなっていないと判断した場合には、上記ステップＳ１０８からの処理に戻り、通常の投影処理を続行する。

また、上記ステップＳ１１１で投影時間の積算カウント値が所定のタイミングとなったと判断した場合には、電源をオンした当所と同様に上記ステップＳ１０１に進み、インデックスディレイのチェックを行なう。
さらに、上記ステップＳ１１０で電源をオフする指示がなされたと判断した場合、指示に応じて電源をオフし、以上でこの図３の処理を終了する。

以上詳述した如く本実施形態によれば、蛍光ホイール２０に形成した蛍光体層２０ｇの一部が損傷していたとしてもその影響を回避して正常な状態での投影動作を続行することが可能となる。

また上記実施形態では、照度センサ２８を上記オフ光の照射位置に配置することにより、マイクロミラー素子１４で形成されて投影レンズ部１７により投影に使用される光像に影響することなく、マイクロミラー素子１４に照射される光源の照度を検出できる。

なお上記実施形態では、３原色Ｒ，Ｇ，Ｂを発生する光源として、各原色を発生させるための独立した半導体発光素子を用いた光源部１５を用いる場合について説明したが、本発明はそのような構成に限定しない。

例えば、３原色独立した素子ではなく、例えば上述した蛍光ホイールに代えて、周面を円周方向に２分割して一方に蛍光体を塗布し、他方を磨り硝子状の透過光像として、１つのＢ（青色）光用のＬＤから時分割でＧ（緑色）光及びＢ（青色）光を得るようなカラーホイールを用いるものとすれば、２色光源でも本発明を実現できる。

この場合、例えばＧフィールドの期間がカラーホイールの回転角で表すと１２０°分、蛍光体を塗布した領域が同じくカラーホイールの回転角で表すと１８０°分あるとすれば、上記実施形態の場合に比べて選定する範囲の自由度は減るものの、依然として６０°分までは蛍光体層に損傷等を生じたとしても正常な状態での投影動作を維持できることとなる。

また、上記実施形態では、Ｇフィールドの期間がカラーホイールの回転角で表すと１２０°分であるが、それに限らず、蛍光ホイール２０の回転周期と同期してカラー画像１フレームを投影する際、ちょうど蛍光ホイールの回転１周期で、Ｒ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）の３フィールドが構成されていれば、Ｒ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）の各フィールド期間は自由に設定してもよい。

また上記実施形態では、ユーザが望む画像をデータプロジェクタ装置でスクリーンに投影しながらインデックスディレイチェック動作が行なわれているが、データプロジェクタに画像信号が送られていない待機期間時等に、例えばインデックスディレイチェック動作により検査される蛍光ホイールから照射される光、又はＲ光、Ｇ光、Ｂ光を同時に照射させることで表示させる白色光等をスクリーンに投射し、上記待機期間中にインデックスディレイチェック動作が行なわれてもよい。

その際には、例えばステップＳ１１１において、インデックスディレイのチェックを行なう所定のタイミングになったと判定したら、直後のデータプロジェクタ装置の待機時に上記インデックスディレイチェック動作が行なわれるようにすればよい。

上記のようにインデックスディレイチェック動作が行なわれることで、投影内容の画質が劣化することを確実に防止できる。

また、インデックスディレイチェック動作のステップＳ１０３において投影処理部１３は、インデックスディレイのタイミングに応じた、カラー画像１フレームで照射される全ての光（Ｒ光、Ｇ光、Ｂ光）の照度を照度センサ２８で測定して上記インデックスディレイと関連付けて記憶しても良い。

その際にも、照度センサ２８により測定する照度が著しく低下する範囲ＢＰが検知された場合には、蛍光ホイール２０の蛍光体層２０ｇに剥離、欠落などなんらかの理由で破損が生じているものと考えられる。

その他、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、上述した実施形態で実行される機能は可能な限り適宜組み合わせて実施しても良い。上述した実施形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件による適宜の組み合せにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、効果が得られるのであれば、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。

１０…データプロジェクタ装置、１１…入力部、１２…画像変換部（スケーラ）、１３…投影処理部、１４…マイクロミラー素子、１５…光源部、１６…ミラー、１７…投影レンズユニット、１８…（青色）ＬＤ、１９…ダイクロイックミラー、２０…蛍光ホイール、２０ｇ…蛍光体層、２０ｍ…ホイールマーカ、２１…ホイールモータ（Ｍ）、２２…マーカセンサ、２３…ダイクロイックミラー、２４…（赤色）ＬＥＤ、２５…（青色）ＬＥＤ、２６…ダイクロイックミラー、２７…ミラー、２８…照度センサ、２９…ＣＰＵ、３０…メインメモリ、３１…プログラムメモリ、３２…操作部、３３…音声処理部、３４…スピーカ部、ＳＢ…システムバス。

Claims (9)

1. 半導体発光素子と、
   周面の同一周位置に蛍光体層を形成し、上記半導体発光素子からの光が上記蛍光体層に照射されて、該蛍光体層から発生する光を出射する回転体と、
   上記回転体の基準回転位置を検出する検出手段と、
   上記検出手段での検出結果と関連付けて上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定する測定手段と、
   上記測定手段での測定結果に基づいて上記回転体の蛍光体層に対する上記半導体発光素子の光の照射タイミングを選定する選定手段と、
   画像信号を入力する入力手段と、
   上記選定手段で選定した照射タイミングで上記半導体発光素子を発光させ、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記入力手段で入力した画像信号に応じた光像を形成する光像形成手段と、
   上記光像形成手段で形成した光像を投影対象に向けて投影する投影手段と
   を具備したことを特徴とする投影装置。
2. 上記光像形成手段は、上記回転体の蛍光体層から出射される光を反射する反射光の方向を振り分けて光像を形成し、
   上記測定手段は、上記光像形成手段で上記投影手段の方向に反射されなかった反射光を用いて上記光の強度を測定する
   ことを特徴とする請求項１記載の投影装置。
3. 上記入力手段で入力した画像信号に応じた光像が、上記投影手段により上記投影対象に向けて投影されている状態で、上記測定手段は上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定することを特徴とする請求項１または２記載の投影装置。
4. 上記入力手段から上記画像信号が入力されていない上記投影装置の待機期間に、上記測定手段は上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定することを特徴とする請求項１または２記載の投影装置。
5. 上記回転体は、全周に亘って同一色成分の蛍光体が塗布されていることを特徴とする請求項１乃至４いずれか記載の投影装置。
6. 上記半導体発光素子から青色光が上記蛍光体層に照射されることを特徴とする請求項１乃至５いずれか記載の投影装置。
7. 上記蛍光体層から発生する光は緑色光であることを特徴とする請求項１乃至６いずれか記載の投影装置。
8. 半導体発光素子、周面の同一周位置に蛍光体層を形成し、上記半導体発光素子からの光が上記蛍光体層に照射されて、該蛍光体層から発生する光を出射する回転体、画像信号を入力する入力部、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記入力部で入力した画像信号に応じた光像を形成する光像形成部、及び上記光像形成部で形成した光像を投影対象に向けて投影する投影部とを備えた装置での投影方法であって、
   上記回転体の基準回転位置を検出する検出工程と、
   上記検出工程での検出結果と関連付けて上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定する測定工程と、
   上記測定工程での測定結果に基づいて上記回転体の蛍光体層に対する上記半導体発光素子の光の照射タイミングを選定する選定工程と、
   上記選定工程で選定した照射タイミングで上記半導体発光素子を発光させ、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記光像形成部で画像信号に応じた光像を形成させる発光制御工程と
   を有したことを特徴とする投影方法。
9. 半導体発光素子、周面の同一周位置に蛍光体層を形成し、上記半導体発光素子からの光が上記蛍光体層に照射されて、該蛍光体層から発生する光を出射する回転体、画像信号を入力する入力部、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記入力部で入力した画像信号に応じた光像を形成する光像形成部、及び上記光像形成部で形成した光像を投影対象に向けて投影する投影部とを備えた装置が内蔵するコンピュータが実行するプログラムであって、
   上記コンピュータを、
   上記回転体の基準回転位置を検出する検出手段、
   上記検出手段での検出結果と関連付けて上記回転体の蛍光体層から出射する光の強度を測定する測定手段、
   上記測定手段での測定結果に基づいて上記回転体の蛍光体層に対する上記半導体発光素子の光の照射タイミングを選定する選定手段、及び
   上記選定手段で選定した照射タイミングで上記半導体発光素子を発光させ、上記回転体の蛍光体層から出射される光を用いて上記光像形成部で画像信号に応じた光像を形成させる発光制御手段
   として機能をさせることを特徴とするプログラム。

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