JP2012142143A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012142143A5
JP2012142143A5 JP2010292980A JP2010292980A JP2012142143A5 JP 2012142143 A5 JP2012142143 A5 JP 2012142143A5 JP 2010292980 A JP2010292980 A JP 2010292980A JP 2010292980 A JP2010292980 A JP 2010292980A JP 2012142143 A5 JP2012142143 A5 JP 2012142143A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
histogram
charged particle
particle beam
gradation
screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010292980A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP5400756B2 (ja
JP2012142143A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010292980A priority Critical patent/JP5400756B2/ja
Priority claimed from JP2010292980A external-priority patent/JP5400756B2/ja
Publication of JP2012142143A publication Critical patent/JP2012142143A/ja
Publication of JP2012142143A5 publication Critical patent/JP2012142143A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5400756B2 publication Critical patent/JP5400756B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

JP2010292980A 2010-12-28 2010-12-28 荷電粒子線装置及び観察画像生成方法 Expired - Fee Related JP5400756B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010292980A JP5400756B2 (ja) 2010-12-28 2010-12-28 荷電粒子線装置及び観察画像生成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010292980A JP5400756B2 (ja) 2010-12-28 2010-12-28 荷電粒子線装置及び観察画像生成方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012142143A JP2012142143A (ja) 2012-07-26
JP2012142143A5 true JP2012142143A5 (enrdf_load_stackoverflow) 2013-03-14
JP5400756B2 JP5400756B2 (ja) 2014-01-29

Family

ID=46678228

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010292980A Expired - Fee Related JP5400756B2 (ja) 2010-12-28 2010-12-28 荷電粒子線装置及び観察画像生成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5400756B2 (enrdf_load_stackoverflow)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015201304A (ja) * 2014-04-07 2015-11-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ 画像処理システム及び画像処理方法並びに画像処理システムを用いたｓｅｍ装置
JP6518504B2 (ja) * 2015-05-08 2019-05-22 日本電子株式会社 画像処理装置、電子顕微鏡、および画像処理方法
JP6826455B2 (ja) * 2017-02-14 2021-02-03 株式会社日立製作所 画像形成装置
JP7075271B2 (ja) * 2018-04-20 2022-05-25 キヤノン株式会社 画像処理装置、情報表示装置、制御方法、及びプログラム
WO2022249343A1 (ja) * 2021-05-26 2022-12-01 株式会社日立ハイテク 粒子解析装置および粒子解析方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63298578A (ja) * 1987-05-29 1988-12-06 Shimadzu Corp 表面分析用画像表示装置
JP3006522B2 (ja) * 1996-11-28 2000-02-07 日本電気株式会社 減色処理装置
JPH11296680A (ja) * 1998-04-14 1999-10-29 Hitachi Ltd コントラスト改善機能を有する画像処理装置及び荷電粒子線装置
JP2002319366A (ja) * 2001-04-20 2002-10-31 Hitachi Ltd 電子顕微鏡等の自動画像調整機能
JP2004226328A (ja) * 2003-01-24 2004-08-12 Hitachi Ltd 外観検査システムおよびそれらを用いた品質評価システムおよび品質評価情報提供システム
JP4129598B2 (ja) * 2005-09-28 2008-08-06 コニカミノルタホールディングス株式会社 画像処理装置及び画像処理方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5652227B2 (ja) 画像処理装置および方法、並びにプログラム
US10230908B2 (en) Thermal imaging device and thermal image photographing method
JP6303332B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム
JP2018022216A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2011233148A (ja) 画像強調方法と装置、物体検出方法と装置
US10861128B2 (en) Method of cropping an image, an apparatus for cropping an image, a program and a storage medium
JP2012142143A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2008219888A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2019114821A (ja) 監視システム、装置、方法およびプログラム
CN105809114B (zh) 人脸检测方法及装置
US8483487B2 (en) Image processing device and method for capturing object outline
JPWO2019155628A1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム
US10268881B2 (en) Pattern classifying apparatus, information processing apparatus, pattern classifying method, and non-transitory computer readable storage medium
JP5400756B2 (ja) 荷電粒子線装置及び観察画像生成方法
US20180012103A1 (en) Image retrieval apparatus
JP2011028743A5 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
US11875547B2 (en) Image processing apparatus, image processing method, and storage medium
US20210335323A1 (en) Display controller and display control method using brightness distribution of input image
JP2007013551A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2017162179A5 (enrdf_load_stackoverflow)
CN105740399A (zh) 时序数据曲线处理方法和装置
JP2013148989A (ja) スキャンウィンドウサイズ決定装置および検出枠サイズヒストグラム情報取得装置、スキャンウィンドウサイズ決定方法
JP2016128893A (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
JP6131732B2 (ja) 人物属性提示装置及び人物属性提示方法
CN113643227A (zh) 一种基于深度学习技术的护肤效果检测方法及检测装置