JP2012126929A - プラズマ成膜装置及びプラズマ成膜方法 - Google Patents

プラズマ成膜装置及びプラズマ成膜方法 Download PDF

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Abstract

【課題】プラズマの均一性を維持するとともに、成膜速度を向上させることができるプラズマ成膜装置を提供する。
【解決手段】内部に原料ガスを供給する原料ガス供給口112と、前記原料ガスを排気する排気口114と、を備える成膜容器110と、前記成膜容器内に設けられ、基板Sを支持する基板支持部120と、前記成膜容器内に設けられ、前記原料ガスに曝され、複数の第1開口部135を備える第1電極130と、前記成膜容器内に設けられ、誘電体で覆われ、複数の第2開口部145を備える第2電極140と、プラズマを発生させるため、第1電極と第2電極とに高周波電力を印加する高周波電源150と、を備え、第2電極は第1電極に対して、前記原料ガス供給口から供給される原料ガスの下流側に設けられる。
【選択図】図1

Description

本発明は、プラズマを用いて基板に薄膜を形成するプラズマ成膜装置及びプラズマ成膜方法に関する。
従来、プラズマを用いて基板上に薄膜を形成するプラズマ成膜装置として、例えば、平行平板型プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)装置が知られている(特許文献1)。上記プラズマCVD装置では、真空容器内の圧力を100Pa程度とし、放電電極に高周波電力を印加してプラズマを発生させることにより、基板に薄膜を形成する。
特開2009−239160号公報
従来の平行平板型プラズマCVD装置では、均一なプラズマを発生させるために、真空容器内の圧力を、例えば、100Pa程度としてプラズマを発生させている。しかしながら、真空容器内の圧力が低い場合、プラズマの密度が低下し、成膜速度も低下する。一方、成膜速度を高めるために真空容器内の圧力を高めると、発生するプラズマの均一性が低下する。
本発明は、従来と比較してプラズマの均一性を維持するとともに、成膜速度を向上させることができるプラズマ成膜装置及びプラズマ成膜方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明のプラズマ成膜装置は、内部に原料ガスを供給する原料ガス供給口と、前記原料ガスを排気する排気口と、を備える成膜容器と、前記成膜容器内に設けられ、基板を支持する基板支持部と、前記成膜容器内に設けられ、前記原料ガスに曝され、複数の第1開口部を備える第1電極と、前記成膜容器内に設けられ、誘電体で覆われ、複数の第2開口部を備える第2電極と、プラズマを発生させるため、第1電極と第2電極とに高周波電力を印加する高周波電源と、を備え、第2電極は第1電極に対して、前記原料ガス供給口から供給される原料ガスの下流側に設けられることを特徴とする。
また、第1電極と第2電極との距離は、1mm以上5mm以下であることが好ましい。
また、前記成膜容器の内部の圧力は、100Pa以上1013hPa以下であることが好ましい。
また、第1電極と第2電極とは、互いに平行に配置されることが好ましい。
また、前記基板から見て、前記基板と平行な面内における第1開口部と第2開口部との位置が同じであることが好ましい。
また、前記基板から見て、前記基板と平行な面内における第1開口部と第2開口部との位置が異なることが好ましい。
上記課題を解決するため、本発明のプラズマ成膜方法は、成膜容器の内部に配置された基板に成膜するプラズマ成膜方法であって、前記成膜容器に設けられた原料ガス供給口から原料ガスを供給する工程と、前記原料ガスに曝され、複数の第1開口部を備える第1電極と、誘電体で覆われ、複数の第2開口部を備える第2電極とに高周波電力を印加し、プラズマを発生させる工程と、前記プラズマを用いて、前記基板に成膜する工程と、前記原料ガスを排気する工程と、を有し、第2電極は第1電極に対して、前記原料ガス供給口から供給される原料ガスの下流側に設けられることを特徴とする。
また、前記プラズマを発生させる工程において、前記成膜容器内の圧力は、100Pa以上1013hPa以下であることが好ましい。
本発明のプラズマ成膜装置及びプラズマ成膜方法によれば、従来と比較してプラズマの均一性を維持するとともに、成膜速度を向上させることができる。
実施形態のプラズマ成膜装置の一例を示す概略図である。 第1電極の一例を示す平面図である。 第1電極と第2電極との位置関係の一例を示す断面図である。 プラズマアクチュエータの原理を説明する図である。 第1電極と第2電極との位置関係の他の例を示す断面図である。
以下、本発明のプラズマ成膜装置及びプラズマ成膜方法を適用し、基板上にSiO薄膜を成膜するプラズマCVD装置及びプラズマCVD法について、実施形態に基づいて説明する。
まず、図1を参照して、本実施形態のプラズマ成膜装置の概略構成について説明する。図1は、本実施形態のプラズマ成膜装置の一例を示す概略図である。図1に示されるように、本実施形態のプラズマ成膜装置100は、成膜容器110と、基板支持部120と、第1電極130と、第2電極140と、高周波電源150と、を備える。第1電極130と第2電極140とは、互いに平行に配置され、基板支持部120に対向するように配置される。
成膜容器110は、原料ガス供給口112と、排気口114と、を備える。成膜容器110の外部には原料ガスが貯蔵されている原料ガス貯蔵部(不図示)が配置されている。原料ガス供給口112は、第1電極130の上方に設けられ、原料ガス貯蔵部と接続されている。原料ガス貯蔵部に貯蔵されている原料ガスは、原料ガス供給口112を通って、成膜容器110の内部に供給される。本実施形態において、原料ガスは、SiHとNOである。
また、成膜容器110の外部には、成膜容器110の内部の原料ガスを排気する排気装置(不図示)が配置されている。排気口114は、第2電極140の下方に設けられ、排気装置と接続されている。成膜容器110の内部の原料ガスは、原料ガス供給口112から第1電極130、第2電極140、排気口114を通って、成膜容器110の外部へ排気される。
成膜容器110の内部の圧力は、例えば、100Pa以上1013hPa以下である。基板支持部120は、薄膜が成膜される基板Sを支持する。基板Sの大きさは、例えば、370mm×470mmである。
本実施形態では、成膜容器110は真空ポンプと接続されておらず、成膜容器110内の圧力は大気圧に近い状態に維持されている。なお、本実施形態では大気圧においてプラズマCVD法を行う例を説明するが、成膜容器110は減圧されてもよい。
次に、図2を参照して、第1電極130について説明する。図2は、本実施形態の第1電極130の一例を示す平面図である。図2に示されるように、本実施形態の第1電極130には、複数の第1開口部135が形成されている。
第1電極130は、例えば、ステンレスで構成される。また、第1電極130は、原料ガスに直接曝される。
次に、第2電極140について説明する。本実施形態の第2電極140の平面図は、図2を参照して説明した第1電極130の平面図と同一である。第2電極140には、複数の第2開口部145が形成されている。第2電極140は、例えば、ステンレス、銅で構成される。また、後述する図3に示されるように、第2電極140は、誘電体142で覆われている。そのため、第2電極140は、原料ガスに直接曝されない。誘電体142は、例えば、合成石英、アルミナで構成される。また、誘電体142の厚さは、例えば、0.5mm以上1mm以下である。これにより、後述する誘電体バリア放電を効率的に行うことができる。
なお、図2に示される例では、第1開口部135の形状は円形であるが、第1開口部135の形状は特に限定されるものではない。第1開口部135の形状は、例えば、四角形とすることもできる。
ここで、図3を参照して、第1電極130と第2電極140の位置関係について説明する。図3は、本実施形態の第1電極130と第2電極140との位置関係の一例を示す断面図である。図3に示されるように、本実施形態では、第1電極130と第2電極140とは、互いに平行に配置される。また、基板Sは、第1電極130、第2電極140と平行に、基板支持部120に支持される。第1電極130と第2電極140との距離は、1mm以上5mm以下であることが好ましい。これにより、後述する誘電体バリア放電を効率的に行うことができる。
図3に示される例では、基板Sと平行な面内において、第1電極130の第1開口部135と第2電極140の第2開口部145との位置が基板Sから見て同じになるように位置合わせされている。
図1に戻り、第1電極130は第2電極140を基準として原料ガス供給口112の側に配置される。すなわち、第1電極130と直交する方向において、原料ガス供給口112から第1電極130までの距離が、原料ガス供給口112から第2電極140までの距離よりも短い。また、図1に示されるように、第2電極140は第1電極130を基準として基板Sの側に配置される。すなわち、第2電極140と直交する方向において、基板Sから第2電極140までの距離は、基板Sから第1電極130までの距離よりも短い。これは、第2電極140が第1電極130に対して、原料ガス供給口112から供給される原料ガスの下流側に設けられることを意味する。原料ガス供給口112、第1電極130、第2電極140、基板Sが上記のように配置されることの作用については、後述する。
高周波電源150は、第1電極130と第2電極140とに高周波電力を印加する。高周波電源150は、例えば、1kHz〜数十kHzの高周波を印加する。また、高周波電源150は、圧力や第1電極130と第2電極140との距離により、例えば、数十V〜数十kVの交流電圧を印加する。本実施形態では、第2電極140が誘電体142で覆われているため、第1電極130と第2電極140との間に交流電圧を印加することにより誘電体バリア放電が生じる。誘電体バリア放電が生じると誘電体142に電荷がチャージされ、第1電極130と第2電極140との間の電位差が小さくなる。そのため、第1電極130と第2電極140との間で発生する放電は、アーク放電まで発展せずに止まる。このとき、第1電極130と第2電極140との間で生じるプラズマにより、成膜容器110に供給された原料ガスはイオン化する。
誘電体バリア放電を発生させる場合、成膜容器110の内部の圧力を従来のように減圧状態としなくてもプラズマを発生させることができる。そのため、成膜容器110の内部の圧力を、例えば、100Pa以上1013hPa以下など、大気圧に近い状態においても、プラズマを発生させることができる。
また、本実施形態では、高周波電源150が第1電極130と第2電極140とに高周波電力を印加することにより、第1電極130と第2電極140とがプラズマアクチュエータとして動作する。ここで、図4を参照して、プラズマアクチュエータの原理を説明する。
図4に示されるように、プラズマアクチュエータでは、一対の電極に交流電圧が印加される。一方の電極は、ガスに曝される。他方の電極は誘電体で覆われ、ガスに曝されない。一対の電極に交流電圧を印加すると、一対の電極間で局所的にプラズマが発生し、電極に垂直な方向(図4の上方向)をz方向とすると、一対の電極付近に−z方向の圧力が生じる。一対の電極がプラズマアクチュエータとして動作することにより、一対の電極付近に上記の圧力が生じる。
図3に示されるように、本実施形態では、原料ガス供給口112から成膜容器110に供給された原料ガスは、第1開口部135を通って第1電極130と第2電極140との間に流れ込む。第1電極130と第2電極140との間に流れ込んだ原料ガスは、誘電体バリア放電によってイオン化される。また、第1電極130と第2電極140との間では、プラズマアクチュエータによって、第1電極130から第2電極140へ向かう方向の圧力が生じる。そのため、第1電極130と第2電極140との間でイオン化された原料ガスは、第2開口部145に向かって加速され、第2電極140の下部に配置された基板Sに向かう。
以上説明したように、本実施形態では、第1電極130と、誘電体142で覆われた第2電極140との間に、高周波電源150が交流電圧を印加することにより、誘電体バリア放電が発生する。そのため、成膜容器110の内部の圧力を高めた状態でプラズマが発生するため、プラズマの密度が高くなり、成膜速度も高くなる。また、第1電極130と第2電極140とがプラズマアクチュエータとして動作し、イオン化された原料ガスが基板Sに向かって加速されることにより、成膜速度が高くなる。
また、本実施形態では、第1電極130と第2電極140との間で誘電体バリア放電が発生するため、成膜容器110の内部の圧力を高めた状態においても、発生するプラズマの均一性を維持することができる。
なお、図3を参照して説明したように、上述した実施形態では、基板Sと平行な面内において、第1開口部135と第2開口部145との位置が基板Sから見て同じとなるように、第1電極130、第2電極140にそれぞれ第1開口部135と第2開口部145が形成される例について説明したが、第1開口部135と第2開口部145との位置関係はこれに限定されるものではない。
図5は、第1電極130と第2電極140との位置関係の他の例を示す断面図である。図5に示される例では、基板Sと平行な面内において、第1開口部135と第2開口部145との位置が基板Sから見て異なるように、第1電極130、第2電極140にそれぞれ第1開口部135、第2開口部145が形成される。
上述した実施形態と同様、図5に示される例においても、第1電極130と、誘電体142で覆われた第2電極140との間に、高周波電源150が交流電圧を印加することにより、誘電体バリア放電が発生する。また、第1電極130と第2電極140とがプラズマアクチュエータとして動作する。
以上、本発明のプラズマ成膜装置、及び、プラズマ成膜方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。また、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
S 基板
100 プラズマ成膜装置
110 成膜容器
112 原料ガス供給口
114 排気口
120 基板支持部
130 第1電極
135 第1開口部
140 第2電極
142 誘電体
145 第2開口部
150 高周波電源

Claims (8)

  1. 内部に原料ガスを供給する原料ガス供給口と、前記原料ガスを排気する排気口と、を備える成膜容器と、
    前記成膜容器内に設けられ、基板を支持する基板支持部と、
    前記成膜容器内に設けられ、前記原料ガスに曝され、複数の第1開口部を備える第1電極と、
    前記成膜容器内に設けられ、誘電体で覆われ、複数の第2開口部を備える第2電極と、
    プラズマを発生させるため、第1電極と第2電極とに高周波電力を印加する高周波電源と、を備え、
    第2電極は第1電極に対して、前記原料ガス供給口から供給される原料ガスの下流側に設けられることを特徴とするプラズマ成膜装置。
  2. 第1電極と第2電極との距離は、1mm以上5mm以下である、請求項1に記載のプラズマ成膜装置。
  3. 前記成膜容器の内部の圧力は、100Pa以上1013hPa以下である、請求項1又は2に記載のプラズマ成膜装置。
  4. 第1電極と第2電極とは、互いに平行に配置される、請求項1乃至3のいずれかに記載のプラズマ成膜装置。
  5. 前記基板から見て、前記基板と平行な面内における第1開口部と第2開口部との位置が同じである、請求項4に記載のプラズマ成膜装置。
  6. 前記基板から見て、前記基板と平行な面内における第1開口部と第2開口部との位置が異なる、請求項4に記載のプラズマ成膜装置。
  7. 成膜容器の内部に配置された基板に成膜するプラズマ成膜方法であって、
    前記成膜容器に設けられた原料ガス供給口から原料ガスを供給する工程と、
    前記原料ガスに曝され、複数の第1開口部を備える第1電極と、誘電体で覆われ、複数の第2開口部を備える第2電極とに高周波電力を印加し、プラズマを発生させる工程と、
    前記プラズマを用いて、前記基板に成膜する工程と、
    前記原料ガスを排気する工程と、を有し、
    第2電極は第1電極に対して、前記原料ガス供給口から供給される原料ガスの下流側に設けられることを特徴とするプラズマ成膜方法。
  8. 前記プラズマを発生させる工程において、前記成膜容器内の圧力は、100Pa以上1013hPa以下である、請求項7に記載のプラズマ成膜方法。
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