JP2012093764A - 仮想スライドの画質を評価するシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】仮想スライド画像が焦点外れのエリアを有し、よって手動検査の候補であるか否かを決定するために、仮想スライド画像の走査に使用される様々な合焦点を使用して仮想スライド画像の最良適合表面が計算される。次に、最良適合表面から各合焦点までの距離が計算され、最大距離が所定値と比較される。最良適合表面から合焦点までの最大距離が所定値より大きいとき、仮想スライド画像に手動検査及び可能な再走査が必要であることが指摘される。
【選択図】図3
Description
a+bX+xY=Z
a+bX+cY+dXX+eYY+fXY=Z
Di=Zi−a−bXi−cYi
Electrical and Electronics Engineers」)が普及している、IEEE488汎用インタフェースバス(「GPIB:General-Purpose Interface Bus」)、IEEE696/S−100及び等を含む規格に準拠するバスアーキテクチャ等である任意の標準又は非標準バスアーキテクチャを備えてもよい。
Access Memory」)等が含まれる。
Erasable Read-Only Memory」)又はフラッシュメモリ(EEPROMに類似するブロック指向のメモリ)等の半導体ベースのメモリが含まれてもよい。また、ソフトウェア及びデータをリムーバブルストレージユニット572からコンピュータシステム550へ転送できるようにする他の任意のリムーバブルストレージユニット572及びインタフェース570も含まれる。
Mode」)、統合デジタルサービス網(「ISDN:Integrated Digital Services Network」)、パーソナル通信サービス(「PCS:Personal Communications
Services」)、通信制御プロトコル/インターネットプロトコル(「TCP/IP:Transmission Control Protocol/Internet Protocol」)、シリアルラインインターネットプロトコル/ポイントツーポイントプロトコル(「SLIP/PPP」)等々のような業界が公布するプロトコル標準を実装するが、カスタマイズされた、若しくは非標準インタフェースプロトコルも同様に実装されてもよい。
1020 組織標本
1030 走査方向
1040 走査幅
1050 合焦点
Claims (20)
- 仮想顕微鏡スライド画像の画質を評価するためのコンピュータにより実行される方法であって、
仮想顕微鏡スライド画像を走査するために使用された複数の合焦点を識別することと、
上記複数の合焦点から最良適合表面を計算することと、
上記最良適合表面からの各合焦点の距離を決定することと、
任意の合焦点の上記最良適合表面からの最大距離を同定することと、
上記同定された任意の合焦点の最大距離を所定のしきい値距離と比較することによって上記仮想顕微鏡スライド画像の画質を評価することを含む方法。 - 上記同定された任意の合焦点の最大距離が上記所定のしきい値距離より大きいとき、手動検査のために上記仮想顕微鏡スライド画像を指定することをさらに含む請求項1記載の方法。
- 上記手動検査のために指定された仮想顕微鏡スライド画像を識別する複数の仮想スライド画像を表すグラフ表示を操作者に提供することをさらに含む請求項2記載の方法。
- 上記第1の仮想スライド画像の手動検査要求に応答して、第1の仮想スライド画像を表示することをさらに含む請求項3記載の方法。
- 上記同定された最大距離を有する合焦点に対応する上記第1の仮想スライド画像の部分を初めに提示することをさらに含む請求項4記載の方法。
- 上記所定のしきい値距離は約5ミクロンである請求項1記載の方法。
- 上記所定のしきい値距離は約10ミクロンである請求項1記載の方法。
- 上記最良適合表面は最小二乗法を使用して計算される請求項1記載の方法。
- 上記最良適合表面はL1ノルム絶対値誤差法を使用して計算される請求項1記載の方法。
- 上記最良適合表面はチェビシェフのミニマックスノルム法を使用して計算される請求項1記載の方法。
- 上記最良適合表面は実質的に平面である請求項1記載の方法。
- 仮想顕微鏡スライド画像の画質を評価するためのコンピュータにより実行されるシステムであって、
仮想顕微鏡スライド画像を走査する際に使用される複数の合焦点を識別するように構成される合焦点識別子モジュールと、
上記複数の合焦点から最良適合表面を計算するように構成される最良適合表面モジュールと、
任意の合焦点の上記最良適合表面からの最大距離を同定するように構成される距離モジュールと、
上記最良適合表面からの上記同定された任意の合焦点の最大距離を、所定のしきい値距離と比較することによって上記仮想顕微鏡スライド画像の画質を評価するように構成される比較モジュールとを備えるシステム。 - 上記比較モジュールはさらに、上記同定された任意の合焦点の最大距離が上記所定のしきい値距離より大きいとき、手動検査のために上記仮想顕微鏡スライド画像を指定するように構成される請求項12記載のシステム。
- 上記所定のしきい値距離は約5ミクロンである請求項12記載のシステム。
- 上記所定のしきい値距離は約10ミクロンである請求項12記載のシステム。
- 上記最良適合表面モジュールはさらに、最小二乗法を使用して上記最良適合表面を計算するように構成される請求項12記載のシステム。
- 上記最良適合表面モジュールはさらに、実質的に平面である最良適合表面を計算するように構成される請求項12記載のシステム。
- 仮想顕微鏡スライド画像の画質をリアルタイムで評価するためのコンピュータにより実行される方法であって、
顕微鏡スライド上の組織標本上の複数の合焦点を識別することと、
上記複数の合焦点から最良適合表面を計算することと、
上記最良適合表面からの各合焦点の距離を決定することと、
任意の合焦点の上記最良適合表面からの最大距離を同定することと、
上記同定された任意の合焦点の最大距離を所定のしきい値距離と比較することによって上記仮想顕微鏡スライド画像の画質を評価して1つ以上の外れ値合焦点を識別することと、
任意の外れ値合焦点を修正することと、
上記複数の合焦点及び修正された合焦点から焦点面を生成することと、
上記焦点面に従って、上記顕微鏡スライド上の組織標本を走査することを含む方法。 - 上記修正するステップは、全ての外れ値合焦点を排除することを含む請求項18記載の方法。
- 上記修正するステップは、
外れ値合焦点に近接する新しい合焦点を識別することと、
上記外れ値合焦点を排除することを含む請求項18記載の方法。
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