JP2012079826A - Transfer carrier and manufacturing method therefor - Google Patents

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和宏 沖
Hiroshi Sakuyama
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high quality transfer carrier where dust or grinding agent (oil) does not remain on a substrate when a hole or a recess is formed therein, and coating liquid does not adhere to the inside of the hole or recess, and to provide a method of manufacturing a transfer carrier efficiently.SOLUTION: The manufacturing method of a transfer carrier comprises: a hole or recess formation step of forming a hole or a recess at least in a part of a substrate; a coating film formation step of forming a coating film by screen printing a coating liquid containing polydimethylsiloxane composition, which contains at least polydimethylsiloxane, after coating the hole or recess with a mask provided on a screen plate; and a calcination step of calcining the coating.

Description

本発明は、フレキシブルプリント配線基板等の基板を搬送するための搬送キャリア及び搬送キャリアの製造方法に関する。   The present invention relates to a transport carrier for transporting a substrate such as a flexible printed circuit board and a method for manufacturing the transport carrier.

半導体等の電子部品が実装されるフレキシブルプリント配線基板(FPC)は、薄いフィルム状の基板であるため、単体ではねじれや反りなどが生じやすい。そのため、FPCに電子部品の実装、薬品洗浄、プラズマ処理等を行う場合には、一般的には、基板上に粘着層を有する搬送キャリアという治具を用いて行っている(例えば特許文献1〜3参照)。   A flexible printed circuit board (FPC) on which electronic components such as semiconductors are mounted is a thin film-like substrate, so that it tends to be twisted or warped by itself. Therefore, when mounting electronic components on the FPC, chemical cleaning, plasma processing, etc., it is generally performed using a jig called a transport carrier having an adhesive layer on a substrate (for example, Patent Documents 1 to 3). 3).

このような搬送キャリアにFPCをセットする際に、FPC上に既に実装された半導体等の電子部品がある場合、その部分が凸部となってFPCを搬送キャリアにセットするのに障害となる。このため、事前に搬送キャリアに穴部を形成して、凸部を逃がす必要がある。しかし、搬送キャリアは、基板と粘着層という材質及び硬さの異なる異種材料の積層構造となっているので、穴部を形成する際に、基板及び粘着層のいずれかにワレ及びシワなどが発生してしまうという問題がある。例えば、搬送キャリアの基板としてアルミニウム等の金属を用い、搬送キャリアの粘着層としてシリコーン樹脂等の柔らかい有機材料を用いた場合には、両者の物理特性が大きく異なるため、穴部を形成するのが困難である。更に、搬送キャリアの粘着層に、穴部形成時のゴミや研削薬剤(オイル)が一旦付着すると取れにくくなるため、搬送キャリアの製造の歩留まりが悪くなるという問題がある。   When an FPC is set on such a carrier, if there is an electronic component such as a semiconductor already mounted on the FPC, that portion becomes a convex portion and becomes an obstacle to setting the FPC on the carrier. For this reason, it is necessary to form a hole part in a conveyance carrier beforehand and to escape a convex part. However, the transport carrier has a laminated structure of different materials with different materials and hardness, that is, the substrate and the adhesive layer, so that when the hole is formed, cracks or wrinkles occur in either the substrate or the adhesive layer. There is a problem of end up. For example, when a metal such as aluminum is used as the substrate of the carrier and a soft organic material such as silicone resin is used as the adhesive layer of the carrier, the physical properties of the two are greatly different. Have difficulty. Furthermore, once dust and grinding chemicals (oil) at the time of forming the hole are attached to the adhesive layer of the transport carrier, it becomes difficult to remove, and there is a problem that the yield of manufacturing the transport carrier is deteriorated.

特開平7-22795号公報JP-A-7-22795 特開2004−71863号公報JP 2004-71863 A 特開2004−158477号公報JP 2004-158477 A

本発明は、従来における前記諸問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、基板に穴部乃至凹部を形成時のゴミや研削薬剤(オイル)が残存したり、塗布液が穴部乃至凹部の内部に付着することがない、高品質な搬送キャリア及び該搬送キャリアを効率よく製造することができる搬送キャリアの製造方法を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to solve the above-described problems and achieve the following objects. That is, the present invention provides a high-quality transport carrier that does not leave dust or grinding chemicals (oil) when forming holes or recesses in the substrate and does not adhere coating liquid to the inside of the holes or recesses. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a transport carrier capable of efficiently manufacturing the transport carrier.

前記課題を解決するため本発明者らが鋭意検討を重ねた結果、搬送キャリアに必要な穴部乃至凹部の形成を、基板に塗布層を形成した後ではなく、塗布液を塗布前に基板に穴部乃至凹部を形成し、ゴミや研削薬剤(オイル)を取り除いた後、基板の穴部乃至凹部以外にスクリーン印刷を行うことで、塗布液が穴部乃至凹部の内部(壁)に付着したり、穴部乃至凹部を形成時のゴミやオイルが残存することがない、高品質な搬送キャリアを効率よく製造できることを知見した。   As a result of intensive studies by the present inventors in order to solve the above-mentioned problems, the formation of the hole or recess necessary for the carrier is not performed after the coating layer is formed on the substrate but before the coating solution is applied to the substrate. After forming holes or recesses and removing dust and grinding chemicals (oil), screen printing is performed in addition to the holes or recesses of the substrate, so that the coating liquid adheres to the inside (wall) of the holes or recesses. In addition, it has been found that a high-quality transport carrier can be efficiently manufactured without dust or oil remaining when forming a hole or a recess.

本発明は、本発明者らによる前記知見に基づくものであり、前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。即ち、
<1> 基板の少なくとも一部に、穴部乃至凹部を形成する穴部乃至凹部形成工程と、
前記穴部乃至凹部をスクリーン版に設けたマスクで被覆した後、少なくともポリジメチルシロキサンを含むポリジメチルシロキサン組成物を含有する塗布液を、スクリーン印刷して塗膜を形成する塗膜形成工程と、
前記塗膜を焼成する焼成工程と、
を含むことを特徴とする搬送キャリアの製造方法である。
<2> 穴部乃至凹部の表面積Aと、該穴部乃至凹部を被覆するスクリーン版に設けたマスクの表面積Bとが、次式、B/A≧0.9〜1.1を満たす前記<1>に記載の搬送キャリアの製造方法である。
<3> 穴部乃至凹部の表面積Aと、該穴部乃至凹部を被覆するスクリーン版に設けたマスクの表面積Bとが、次式、B/A≧1〜1.05を満たす前記<2>に記載の搬送キャリアの製造方法である。
<4> 穴部乃至凹部の平面形状が、円形状及び四角形状のいずれかである前記<1>から<3>のいずれかに記載の搬送キャリアの製造方法である。
<5> 基板に穴部乃至凹部を形成した後、該基板を洗浄する基板洗浄工程を含む前記<1>から<4>のいずれかに記載の搬送キャリアの製造方法である。
<6> 前記<1>から<5>のいずれかに記載の搬送キャリアの製造方法により製造されたことを特徴とする搬送キャリアである。
The present invention is based on the above findings by the present inventors, and means for solving the above problems are as follows. That is,
<1> A hole or recess forming step for forming a hole or a recess in at least part of the substrate;
A coating film forming step of forming a coating film by screen-printing a coating solution containing a polydimethylsiloxane composition containing at least polydimethylsiloxane after coating the hole or recess with a mask provided on a screen plate; and
A firing step of firing the coating film;
The manufacturing method of the conveyance carrier characterized by including.
<2> The surface area A of the hole or recess and the surface area B of the mask provided on the screen plate covering the hole or recess satisfy the following formula, B / A ≧ 0.9 to 1.1 <1>. The method for manufacturing a carrier according to 1>.
<3> The surface area A of the hole or recess and the surface area B of the mask provided on the screen plate covering the hole or recess satisfy the following formula, B / A ≧ 1 to 1.05 <2> It is a manufacturing method of the conveyance carrier as described in above.
<4> The method for manufacturing a transport carrier according to any one of <1> to <3>, wherein the planar shape of the hole portion or the concave portion is any one of a circular shape and a rectangular shape.
<5> The transport carrier manufacturing method according to any one of <1> to <4>, further including a substrate cleaning step of cleaning the substrate after forming a hole or a recess in the substrate.
<6> A transport carrier manufactured by the transport carrier manufacturing method according to any one of <1> to <5>.

本発明によると、従来における問題を解決することができ、基板に穴部乃至凹部を形成時のゴミや研削薬剤(オイル)が残存したり、塗布液が穴部乃至凹部の内部に付着することがない、高品質な搬送キャリア及び該搬送キャリアを効率よく製造することができる搬送キャリアの製造方法を提供することができる。   According to the present invention, conventional problems can be solved, and dust and grinding chemical (oil) when forming holes or recesses in the substrate remain, or the coating liquid adheres to the inside of the holes or recesses. There can be provided a high-quality transport carrier and a transport carrier manufacturing method capable of efficiently manufacturing the transport carrier.

(搬送キャリア及び搬送キャリアの製造方法)
本発明の搬送キャリアの製造方法は、穴部乃至凹部形成工程と、塗膜形成工程と、焼成工程とを含み、基板洗浄工程、更に必要に応じてその他の工程を含んでなる。
本発明の搬送キャリアは、本発明の搬送キャリアの製造方法により製造される。
以下、本発明の搬送キャリアの製造方法の説明を通じて、本発明の搬送キャリアの詳細についても明らかにする。
(Transport carrier and transport carrier manufacturing method)
The manufacturing method of the conveyance carrier of this invention includes a hole part thru | or recessed part formation process, a coating-film formation process, and a baking process, and also includes a board | substrate washing | cleaning process and the other process as needed.
The transport carrier of the present invention is manufactured by the transport carrier manufacturing method of the present invention.
Hereinafter, the details of the transport carrier of the present invention will be clarified through the description of the transport carrier manufacturing method of the present invention.

<穴部乃至凹部形成工程>
前記穴部乃至凹部形成工程は、基板の少なくとも一部に、穴部乃至凹部を形成する工程である。
<Hole or recess formation process>
The hole or recess forming step is a step of forming a hole or recess in at least a part of the substrate.

<<基板>>
前記基板の形状、構造、大きさ等については特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記形状としては、膜状、シート状などが挙げられる。前記構造としては、単層構造、積層構造などが挙げられる。前記大きさとしては、用途等に応じて適宜選択することができる。
<< Board >>
There is no restriction | limiting in particular about the shape, structure, size, etc. of the said board | substrate, According to the objective, it can select suitably, For example, a film form, a sheet form, etc. are mentioned as said shape. Examples of the structure include a single layer structure and a laminated structure. The size can be appropriately selected according to the application.

前記基板としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ガラス基板、合成樹脂製フィルム(シート)、金属基板、セラミック基板などが挙げられる。前記基板には、所望により、シランカップリング剤等の薬品処理、プラズマ処理、イオンプレーティング法、スパッタリング法、気相反応法、真空蒸着法などの前処理を行うことができる。   There is no restriction | limiting in particular as said board | substrate, According to the objective, it can select suitably, For example, a glass substrate, a synthetic resin film (sheet), a metal substrate, a ceramic substrate etc. are mentioned. If necessary, the substrate can be subjected to pretreatment such as chemical treatment such as a silane coupling agent, plasma treatment, ion plating method, sputtering method, gas phase reaction method, vacuum deposition method and the like.

前記ガラス基板としては、例えば、白板ガラス、青板ガラス、シリカコート青板ガラスなどが挙げられる。
前記合成樹脂製フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム、ポリアリレートフィルム、ポリエーテルケトンフィルム、ポリエーテルイミド、ポリカーボネートフィルム、ポリエーテルスルホンフィルム、ポリエステルフィルム、アクリル樹脂フィルム、塩化ビニル樹脂フィルム、芳香族ポリアミド樹脂フィルム、ポリアミドイミドフィルム、ポリイミドフィルムなどが挙げられる。これらの中でも、ポリイミドフィルム等の耐熱性樹脂フィルムが特に好ましい。
前記セラミック基板としては、例えばアルミナ、サイアロン、ジルコニア、窒化アルミニウム、窒化ケイ素、炭化ケイ素、窒化チタンなどが挙げられる。
前記金属基板としては、例えば、アルミニウム基板、銅基板、ニッケル基板、鉄基板、ステンレス基板などが挙げられる。これらの中でも、軽量、安価で加工性がよい、腐食しにくい点でアルミニウム基板が特に好ましい。
Examples of the glass substrate include white plate glass, blue plate glass, and silica-coated blue plate glass.
As the synthetic resin film, for example, polyethylene terephthalate (PET) film, polyarylate film, polyether ketone film, polyether imide, polycarbonate film, polyether sulfone film, polyester film, acrylic resin film, vinyl chloride resin film, An aromatic polyamide resin film, a polyamideimide film, a polyimide film, etc. are mentioned. Among these, a heat resistant resin film such as a polyimide film is particularly preferable.
Examples of the ceramic substrate include alumina, sialon, zirconia, aluminum nitride, silicon nitride, silicon carbide, and titanium nitride.
Examples of the metal substrate include an aluminum substrate, a copper substrate, a nickel substrate, an iron substrate, and a stainless steel substrate. Among these, an aluminum substrate is particularly preferable in that it is lightweight, inexpensive, good workability, and hardly corrodes.

前記基板の厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、100μm〜5mmが好ましく、500μm〜3mmがより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as thickness of the said board | substrate, Although it can select suitably according to the objective, 100 micrometers-5 mm are preferable, and 500 micrometers-3 mm are more preferable.

前記穴部乃至凹部の形状、大きさ、数等については、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記穴部乃至凹部の平面形状としては、円形状、楕円形状、三角形状、四角形状、正方形状、長方形状、五角形状などが挙げられる。これらの中でも、加工の容易さ、加工精度の点で円形状、正方形状が特に好ましい。
前記穴部乃至凹部の大きさとしては、特に制限はなく、用途等に応じて適宜選択することができる。
前記穴部乃至凹部の数としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば1個〜10個であることが好ましい。
前記穴部とは、基板を貫通した貫通穴を意味する。
前記凹部とは、基板表面より窪んだ部分を意味する。
本発明においては、前記穴部と前記凹部とが混在していても構わない。
前記穴部乃至凹部の形成方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば旋盤等の機械加工、COレーザーなどによる加工などが挙げられる。
The shape, size, number, etc. of the hole or recess are not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose. For example, the planar shape of the hole or recess can be a circle or an ellipse. , Triangular shape, quadrangular shape, square shape, rectangular shape, pentagonal shape and the like. Among these, a circular shape and a square shape are particularly preferable in terms of ease of processing and processing accuracy.
There is no restriction | limiting in particular as a magnitude | size of the said hole part thru | or a recessed part, According to a use etc., it can select suitably.
There is no restriction | limiting in particular as the number of the said hole part thru | or a recessed part, Although it can select suitably according to the objective, For example, it is preferable that it is 1-10.
The hole means a through hole penetrating the substrate.
The said recessed part means the part depressed from the substrate surface.
In the present invention, the hole and the recess may be mixed.
The method for forming the hole through the recess is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose, for example mechanical processing such as a lathe, such as by machining CO 2 laser.

<基板洗浄工程>
前記基板洗浄工程は、基板に穴部乃至凹部を形成した後、該基板を洗浄する工程である。
前記洗浄としては、オイル等の加工助剤や発生したゴミを洗浄することができれば特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば基板を洗浄液中に浸漬する方法、基板に洗浄液をシャワーする方法、超音波を使った方法、ブラシ等で直接擦る方法などが挙げられる。
<Substrate cleaning process>
The substrate cleaning step is a step of cleaning the substrate after forming holes or recesses in the substrate.
The cleaning is not particularly limited as long as processing aid such as oil or generated dust can be cleaned, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, a method of immersing a substrate in a cleaning solution, a cleaning solution on a substrate The method of showering, the method using an ultrasonic wave, the method of rubbing directly with a brush etc. are mentioned.

<塗膜形成工程>
前記塗膜形成工程は、前記基板に形成した穴部乃至凹部をスクリーン版に設けたマスクで被覆した後、少なくともポリジメチルシロキサンを含むポリジメチルシロキサン組成物を含有する塗布液を、スクリーン印刷して塗膜を形成する工程である。
<Coating film formation process>
In the coating film forming step, holes or recesses formed in the substrate are covered with a mask provided on a screen plate, and then a coating liquid containing a polydimethylsiloxane composition containing at least polydimethylsiloxane is screen-printed. It is a process of forming a coating film.

<<塗布液>>
前記塗布液は、少なくともポリジメチルシロキサンを含むポリジメチルシロキサン組成物を含有し、更に必要に応じてその他の成分を含有してなる。
<< Coating liquid >>
The coating solution contains a polydimethylsiloxane composition containing at least polydimethylsiloxane, and further contains other components as necessary.

−ポリジメチルシロキサン組成物−
前記ポリジメチルシロキサン組成物は、シリケート化合物と、末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンとを、加水分解反応及び縮合反応することによって得られる。
-Polydimethylsiloxane composition-
The polydimethylsiloxane composition can be obtained by subjecting a silicate compound and a polydimethylsiloxane having a terminal silicate-modified to a hydrolysis reaction and a condensation reaction.

−−シリケート化合物−−
前記シリケート化合物とは、シリコン(Si)でできた金属アルコキシドのオリゴマーであり、主鎖にシロキサン(−Si−O−Si−)骨格を持ち、外鎖にアルコキシ基(RO)を導入した化合物のことである。ここで、アルコキシ基(RO)のアルキル部分である(R)は、メチル基、エチル基、プロピル基などが挙げられる。前記シリケート化合物は、水と容易に反応する特性を持っている。
--Silicate compound--
The silicate compound is an oligomer of a metal alkoxide made of silicon (Si), having a siloxane (-Si-O-Si-) skeleton in the main chain and an alkoxy group (RO) introduced in the outer chain. That is. Here, examples of (R) which is an alkyl part of the alkoxy group (RO) include a methyl group, an ethyl group, and a propyl group. The silicate compound has a property of easily reacting with water.

前記シリケート化合物は、金属アルコキシドのオリゴマーであるので、金属アルコキシドよりも分子量が大きいので、揮発しにくい。このため、前記シリケート化合物が加水分解した時に、前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンに含まれる揮発性の高い低分子シロキサンの揮発を、より一層、抑制することができる。また、前記シリケート化合物は、高い化学反応性を有しており、縮合反応を円滑に進めることができる。   Since the silicate compound is an oligomer of a metal alkoxide, it has a molecular weight higher than that of the metal alkoxide, so that it is difficult to volatilize. For this reason, when the silicate compound is hydrolyzed, it is possible to further suppress volatilization of the low-volatile siloxane having high volatility contained in the polydimethylsiloxane having the terminal silicate modified. Further, the silicate compound has high chemical reactivity and can smoothly proceed with the condensation reaction.

前記シリケート化合物の種類として、例えば、メチルシリケート、エチルシリケート、プロピルシリケート等が挙げられる。品質の安定性及び安全性の点からエチルシリケートが好ましい。反応性を上げることを目的にメチルシリケートの使用の場合、揮発されるメタノールの処理を確実に実施する必要がある。   Examples of the silicate compound include methyl silicate, ethyl silicate, propyl silicate, and the like. Ethyl silicate is preferred from the standpoints of quality stability and safety. In the case of using methyl silicate for the purpose of increasing the reactivity, it is necessary to reliably carry out the treatment of volatile methanol.

前記シリケート化合物は、〔化学式1〕:SinO(n−1)(RO)2(n+1)(R=アルキル基、n=4〜16)で表されるものであり、また、末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンは、〔化学式2〕:SinO(n−1)(RO)2(n+1)(OSi(CH(RO)2(n+1)Si(n−1)(R=アルキル基、n=4〜16、m>50)で表されるものであってもよい。 The silicate compound is represented by [Chemical Formula 1]: SinO (n-1) (RO) 2 (n + 1) (R = alkyl group, n = 4 to 16), and the terminal is silicate-modified. Polydimethylsiloxane is represented by [Chemical Formula 2]: SinO (n-1) (RO) 2 (n + 1) (OSi (CH 3 ) 2 ) m (RO) 2 (n + 1) Si n O (n-1) (R = Alkyl group, n = 4 to 16, m> 50).

前記シリケート化合物は、3量体〜12量体であることが好ましい。前記シリケート化合物が、3量体未満であると、シリケートが持つ特性の効果が少なくなることがあり、12量体を超えると、シリケート化合物の粘度が高くなることから合成時に扱いにくいことがある。   The silicate compound is preferably a trimer to a 12-mer. When the silicate compound is less than a trimer, the effect of the properties of the silicate may be reduced. When the silicate compound is more than a 12-mer, the viscosity of the silicate compound is increased, which may be difficult to handle during synthesis.

−−末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサン−−
前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンとは、前記シリケート化合物にてポリジメチルシロキサンの末端を変性処理したものであり、両末端にシラノール基を有するシリケート変性されたポリジメチルシロキサンと、主鎖の片側又は両側に加水分解可能な官能基であるアルコキシ基を有するアルコキシシラン部分縮合物とを反応させて得られるものをいう。
--Polydimethylsiloxane modified with silicate at the end--
The terminal silicate-modified polydimethylsiloxane is obtained by modifying the end of polydimethylsiloxane with the silicate compound, silicate-modified polydimethylsiloxane having silanol groups at both ends, and the main chain. One obtained by reacting with an alkoxysilane partial condensate having an alkoxy group which is a hydrolyzable functional group on one side or both sides.

前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンは、通常の末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンと比べると、格段に高い官能基濃度を有している。また、末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンは、前記シリケート化合物との縮合反応性が高いため、末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンに含まれるアルコキシシラン部分縮合物は、円滑に縮合反応が行われ、硬化してポリマー化することができる。   The terminal silicate-modified polydimethylsiloxane has a much higher functional group concentration than a normal terminal silicate-modified polydimethylsiloxane. In addition, since the terminal silicate-modified polydimethylsiloxane has high condensation reactivity with the silicate compound, the alkoxysilane partial condensate contained in the terminal silicate-modified polydimethylsiloxane smoothly undergoes the condensation reaction. It can be cured and polymerized.

前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンは、重量平均分子量が5,000以上100,000以下の範囲にあるものが使用される。   The terminal silicate-modified polydimethylsiloxane having a weight average molecular weight in the range of 5,000 to 100,000 is used.

本発明においては、前記シリケート化合物と、前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンとを有する混合物を加水分解及び縮合反応させる。   In the present invention, a mixture containing the silicate compound and the polydimethylsiloxane having the terminal silicate-modified is hydrolyzed and condensed.

前記シリケート化合物は、水の存在下にて容易に加水分解するため、シリケート化合物の分子内のアルコキシ基が、反応性の高いシラノール基(−OH基)となる。
一方、前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンも同様に、加水分解をすることにより、水の存在によってシラノール基(「シラノール変性」とも呼ぶ。)となる。
Since the silicate compound is easily hydrolyzed in the presence of water, the alkoxy group in the molecule of the silicate compound becomes a highly reactive silanol group (—OH group).
On the other hand, the polydimethylsiloxane whose terminal is silicate-modified is similarly hydrolyzed to form a silanol group (also referred to as “silanol-modified”) due to the presence of water.

これら双方のシラノール基は、高い反応性を有していると同時に、似通った反応性を有しているため、前記シリケート化合物と前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンとを有する混成物を加水分解することによって、シラノールの凝集が加速されることなく、前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンとの縮合反応が順調に進行する。これにより、前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサンに含まれる低分子シロキサンも、反応生成物(ポリジメチルシロキサン組成物)中に取り込まれる。   Both of these silanol groups have high reactivity and at the same time have similar reactivity, so that a mixture containing the silicate compound and the polydimethylsiloxane having the terminal silicate modified is hydrolyzed. By decomposing, the condensation reaction with the polydimethylsiloxane in which the terminal is silicate-modified proceeds smoothly without accelerating the aggregation of silanol. As a result, the low-molecular siloxane contained in the polydimethylsiloxane whose terminal is silicate-modified is also taken into the reaction product (polydimethylsiloxane composition).

つまり、加水分解反応及び縮合反応により、低分子シロキサンは、ポリジメチルシロキサン組成物を構成する物質の一部となり、単体として存在しなくなる、又は単体として存在する量が極めて微量となる。このため、ポリジメチルシロキサン組成物から低分子シロキサンが揮発することがないか、揮発量が極めて微量となる。   That is, the low molecular weight siloxane becomes a part of the substance constituting the polydimethylsiloxane composition by the hydrolysis reaction and the condensation reaction, and does not exist as a simple substance, or the amount existing as a simple substance becomes very small. For this reason, low molecular siloxane does not volatilize from a polydimethylsiloxane composition, or the amount of volatilization becomes very small.

前記シリケート化合物(A)と、前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサン(B)の配合の割合は、モル比(A/B)で、0.1以上10以下の範囲であることが好ましい。最適な配合の割合は、モル比(A/B)で、1前後である。   The blending ratio of the silicate compound (A) and the polydimethylsiloxane (B) having the terminal silicate-modified is preferably in the range of 0.1 to 10 in terms of molar ratio (A / B). The optimal blend ratio is around 1 in terms of molar ratio (A / B).

前記ポリジメチルシロキサン組成物は、この最適な配合の割合を基準にし、柔軟性を要求する場合には、前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサン(B)を増加し、反対に高硬度を要求する場合には、前記シリケート化合物(A)を増加させることが好ましい。   The polydimethylsiloxane composition is based on the optimum blend ratio, and when the flexibility is required, the polydimethylsiloxane (B) having the terminal silicate modified is increased and, on the contrary, high hardness is required. In that case, it is preferable to increase the silicate compound (A).

ただし、前記ポリジメチルシロキサン組成物は、前記シリケート化合物(A)を増加させる場合、モル比(A/B)が、10を超えると、低分子シロキサンの揮発成分が増加する。つまり低分子シロキサンが単体として存在する量が増加するため、硬化時の収縮や薄膜化、場合によってはクラックの発生などの問題が生じ、本発明の効果を奏しないことがある。一方、前記モル比(A/B)が、0.1未満であると、前記シリケート化合物(A)と前記末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサン(B)との加水分解反応及び縮合反応が円滑に行われず、結果として未硬化の状態となり、低分子シロキサンが残留してしまい、本発明の効果を奏しないことがある。   However, in the polydimethylsiloxane composition, when the silicate compound (A) is increased, if the molar ratio (A / B) exceeds 10, the volatile components of the low-molecular siloxane increase. That is, since the amount of the low-molecular siloxane as a simple substance increases, problems such as shrinkage and thinning during curing and occurrence of cracks in some cases may occur, and the effects of the present invention may not be achieved. On the other hand, when the molar ratio (A / B) is less than 0.1, the hydrolysis reaction and condensation reaction between the silicate compound (A) and the polydimethylsiloxane (B) having the terminal silicate-modified are smooth. In some cases, the resultant is uncured and low molecular siloxane remains, and the effects of the present invention may not be achieved.

−その他の成分−
前記その他の成分としては、例えば熱重合開始剤、溶剤、無機粒子、粒子分散剤などが挙げられる。
前記熱重合開始剤としては、例えば、各種有機過酸化物等が挙げられる。前記有機過酸化物としては、例えばケトンパーオキサイド類、ジアシルキルパーオキサイド類、ハイドロパーオキサイド類、ジアルキルパーオキサイド類、パーオキシケタール類、アルキルパーエステル類、パーカーボネート類などが挙げられる。これらの中でも、触媒活性の点から、ジアルキルパーオキサイドが特に好ましい。前記ジアルキルパーオキサイドとしては、例えばシクロヘキサノンパーオキサイド、1,1−ビス(t−ヘキサパーオキシ)シクロヘキサノン、クメンハイドロパーオキサイド、ジクミルパーオキサイド、ベンゾイルパーオキサイド、ジイソプロピルパーオキサイド、ジ−t−ブチルパーオキサイド、t−へキシルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエートなどが挙げられる。
前記無機粒子としては、例えば導電性無機粒子、絶縁性無機粒子などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
なお、前記溶剤は含まれていても構わないが、溶剤が含まれていないと塗布後の乾燥を省略できるので好ましい。
-Other ingredients-
Examples of the other components include a thermal polymerization initiator, a solvent, inorganic particles, and a particle dispersant.
Examples of the thermal polymerization initiator include various organic peroxides. Examples of the organic peroxides include ketone peroxides, diacylalkyl peroxides, hydroperoxides, dialkyl peroxides, peroxyketals, alkyl peresters, and carbonates. Among these, dialkyl peroxide is particularly preferable from the viewpoint of catalytic activity. Examples of the dialkyl peroxide include cyclohexanone peroxide, 1,1-bis (t-hexaperoxy) cyclohexanone, cumene hydroperoxide, dicumyl peroxide, benzoyl peroxide, diisopropyl peroxide, and di-t-butyl peroxide. Examples thereof include oxide, t-hexylperoxyisopropyl monocarbonate, and t-butylperoxy-2-ethylhexanoate.
Examples of the inorganic particles include conductive inorganic particles and insulating inorganic particles. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
In addition, although the said solvent may be contained, since the drying after application | coating can be skipped if a solvent is not contained, it is preferable.

前記塗布液の粘度は、25℃で、10Pa・s〜200Pa・sであることが好ましく、40Pa・s〜100Pa・sであることがより好ましい。前記粘度が、10Pa・s未満であると、形成した膜が重量や表面張力の影響による流れが発生し、特に塗布膜端部の濡れ広がりによる厚みの不均一な膜となることがあり、200Pa・sを超えると、塗布後のレベリングが起こりにくくなるため、スクリーン印刷時にスクリーンのメッシュの転写やスクリーンの版離れ時に発生する凹凸がそのまま残った不均一な膜となることがある。
前記塗布液の粘度は、例えばレオメータ、B型粘度計、振動式粘度計などにより測定することができる。
The viscosity of the coating solution is preferably 10 Pa · s to 200 Pa · s, more preferably 40 Pa · s to 100 Pa · s at 25 ° C. When the viscosity is less than 10 Pa · s, the formed film may flow due to the influence of weight and surface tension, and in particular, may have a non-uniform thickness due to wetting and spreading at the edge of the coating film. -If it exceeds s, leveling after coating is less likely to occur, and therefore, a non-uniform film may remain in which irregularities that occur when transferring screen mesh or separating the screen plate during screen printing remain.
The viscosity of the coating solution can be measured by, for example, a rheometer, a B-type viscometer, a vibration viscometer, or the like.

<<スクリーン印刷>>
前記スクリーン印刷としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、枠内に塗布液を入れ、スキージと呼ばれるヘラ状の板でスクリーン版の内面を加圧しながらスキージを移動させる。スキージの移動に伴い、塗布液はスキージにより加圧されて、スクリーン版に設けられたメッシュの開口部からドット状に押し出され、基板表面に塗膜を形成する。塗布液はある程度の流動性を有するため、ドット状の塗膜を放置すれば、塗膜は平準化(レベリング)する。このため、スクリーン印刷法では、通常、印刷後に一定時間塗膜(印刷パターン)を放置してレベリングする工程を設けている。
<< Screen printing >>
The screen printing is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose.For example, the coating liquid is put in a frame, and the squeegee is pressed while pressing the inner surface of the screen plate with a spatula-shaped plate called a squeegee. Move. Along with the movement of the squeegee, the coating liquid is pressurized by the squeegee and is pushed out in the form of dots from the openings of the mesh provided in the screen plate, thereby forming a coating film on the substrate surface. Since the coating liquid has a certain degree of fluidity, the coating film is leveled (leveled) if the dot-shaped coating film is allowed to stand. For this reason, the screen printing method usually includes a step of leaving the coating film (printing pattern) for a certain period of time after printing and leveling it.

前記スクリーン印刷に用いられるスクリーン版としては、通常、テトロン、ナイロン等の高分子やステンレス等の金属からなるワイヤメッシュを枠に張り、このワイヤメッシュのうち印刷パターン以外の部分を、レジスト等からなる版膜でマスキング(目止め)することにより形成される。
前記スクリーン版には、基板の穴部乃至凹部を被覆するマスクが設けられている。そして、前記スクリーン印刷は、前記穴部乃至凹部をスクリーン版に設けたマスクで被覆した後に行われる。
前記穴部乃至凹部の表面積Aと、前記穴部乃至凹部を被覆するスクリーン版に設けられたマスクの表面積Bとは、次式、B/A≧0.9〜1.1を満たすことが好ましく、塗布液が穴部の壁に付着すると、搬送キャリアを使用している間に磨耗や剥がれによってゴミを発生しやすくなるのを防止するため、B/A≧1〜1.05を満たすことがより好ましい。
スクリーン印刷により形成される塗膜の平均厚みは、例えばスクリーン版と基板との距離、スキージの角度を変えることなどにより調整することができる。
As the screen plate used for the screen printing, a wire mesh made of a polymer such as tetron or nylon or a metal such as stainless steel is usually attached to a frame, and a portion other than the printing pattern of the wire mesh is made of a resist or the like. It is formed by masking (sealing) with a plate film.
The screen plate is provided with a mask that covers the hole or recess of the substrate. And the said screen printing is performed after coat | covering the said hole part thru | or a recessed part with the mask provided in the screen plate.
The surface area A of the hole or recess and the surface area B of the mask provided on the screen plate covering the hole or recess preferably satisfy the following formula: B / A ≧ 0.9 to 1.1. When the coating liquid adheres to the hole wall, B / A ≧ 1 to 1.05 is satisfied in order to prevent dust from being easily generated due to wear or peeling while using the carrier. More preferred.
The average thickness of the coating film formed by screen printing can be adjusted, for example, by changing the distance between the screen plate and the substrate and the angle of the squeegee.

<<塗膜>>
本発明においては、前記穴部乃至凹部をスクリーン版に設けたマスクで被覆した後、少なくともポリジメチルシロキサンを含むポリジメチルシロキサン組成物を含有する塗布液を、スクリーン印刷して塗膜を形成する。
前記塗膜の平均厚みは、100μm以上が好ましく、100μm〜250μmであることがより好ましい。前記平均厚みが、100μm未満であると、基板の凹凸の影響を受けやすく、レベリングにより塗膜の平滑化が起こりにくくなるために、凹凸の発生した面状の塗膜ができたり、機能を発現する塗布膜の材料が少ないために塗布膜の性能が低下したりすることがある。
前記塗膜の平均厚みは、例えばマイクロゲージ、レーザー式変位計などを使う方法や、塗布前後のキャリアの総重量の変化と塗布面積から推算することにより測定することができる。
<< Coating film >>
In the present invention, the hole or recess is covered with a mask provided on a screen plate, and then a coating liquid containing at least a polydimethylsiloxane composition containing polydimethylsiloxane is screen-printed to form a coating film.
The average thickness of the coating film is preferably 100 μm or more, and more preferably 100 μm to 250 μm. If the average thickness is less than 100 μm, it is easily affected by unevenness of the substrate, and smoothing of the coating due to leveling is less likely to occur, so that a surface coating with unevenness can be formed and functions are exhibited. Since there are few materials of the coating film to perform, the performance of a coating film may fall.
The average thickness of the coating film can be measured, for example, by a method using a micro gauge, a laser displacement meter, or the like, or by estimating from a change in the total weight of the carrier before and after coating and a coating area.

<焼成工程>
前記焼成工程は、前記塗膜形成工程で形成された塗膜を焼成する工程である。
前記焼成の条件、方法等については、特に制限はなく、公知の方法の中から適宜選択することができるが、具体的には180℃〜300℃であることが好ましく、200℃〜260℃であることがより好ましく、120分間〜600分間が好ましく、150分間〜480分間がより好ましい。
また、前記焼成の前に塗布された塗布液を乾燥させることが好ましく、該乾燥の条件としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、50℃〜100℃程度で10分間〜60分間程度である。
<Baking process>
The baking step is a step of baking the coating film formed in the coating film forming step.
The firing conditions and method are not particularly limited and may be appropriately selected from known methods. Specifically, it is preferably 180 ° C to 300 ° C, and preferably 200 ° C to 260 ° C. More preferably, it is preferably 120 minutes to 600 minutes, more preferably 150 minutes to 480 minutes.
Moreover, it is preferable to dry the coating liquid applied before the baking, and the drying conditions are not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose, for example, about 50 ° C. to 100 ° C. 10 minutes to 60 minutes.

得られた焼成膜の平均厚みは、100μm以上であることが好ましく、100μm〜250μmであることがより好ましい。   The average thickness of the obtained fired film is preferably 100 μm or more, and more preferably 100 μm to 250 μm.

<用途>
本発明の搬送キャリアの製造方法により製造された搬送キャリアは、例えばフレキシブルプリント配線基板(FPC)に電子部品の実装、薬品洗浄、プラズマ処理等を行う際の仮固定、レーザー加工用の固定台、機械加工用の固定台などに幅広く使用することができる。
<Application>
The transport carrier manufactured by the transport carrier manufacturing method of the present invention is, for example, a temporary fixing when performing electronic component mounting, chemical cleaning, plasma processing, etc. on a flexible printed circuit board (FPC), a fixing base for laser processing, It can be widely used for fixed bases for machining.

以下、本発明の実施例を説明するが、本発明は、これらの実施例に何ら限定されるものではない。   Examples of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to these examples.

(実施例1)
<搬送キャリアの作製>
−塗布液の調製−
〔ポリジメチルシロキサン組成物の組成〕
・シリケート化合物(エチルシリケート40、多摩化学工業株式会社製)・・・1.5質量部
・末端をシリケート変性されたポリジメチルシロキサン(荒川化学工業株式会社製、重量平均分子量約30,000)・・・48.0質量部
上記組成のポリジメチルシロキサン組成物を加水分解工程及び縮合工程にて、必要量の水を滴下して加え、攪拌混合した。その後、攪拌しながら約30分間かけて室温まで冷却し、塗布液を得た。
Example 1
<Production of carrier>
-Preparation of coating solution-
[Composition of polydimethylsiloxane composition]
Silicate compound (ethyl silicate 40, manufactured by Tama Chemical Co., Ltd.) 1.5 parts by mass Polysilicate siloxane modified at the terminal (Arakawa Chemical Industries, Ltd., weight average molecular weight of about 30,000) .. 48.0 parts by mass A polydimethylsiloxane composition having the above composition was added dropwise with a necessary amount of water in the hydrolysis step and the condensation step, followed by stirring and mixing. Then, it cooled to room temperature over about 30 minutes, stirring, and obtained the coating liquid.

−アルミニウム基板の加工−
幅110mm、長さ110mm、厚み1.5mmのアルミニウム基板に、直径5mmの円形状の貫通穴を任意に5箇所設けたものを用意した。
-Aluminum substrate processing-
An aluminum substrate having a width of 110 mm, a length of 110 mm, and a thickness of 1.5 mm was prepared by arbitrarily providing five circular through holes with a diameter of 5 mm.

−スクリーン印刷−
実施例1の塗布液を用い、以下に示すスクリーン印刷条件により、貫通穴が設けられたアルミニウム基板上に、平均厚み120μmの塗膜を形成した。
〔スクリーン印刷条件〕
3D加工された#100μmメッシュのステンレス製スクリーン版を用いた。スクリーン印刷されるメッシュ部分の大きさは、幅100mm、長さ100mmの正方形である。
アルミニウム基板の貫通穴を形成した部分に塗布液が塗布されないように、基板の貫通穴に対応した位置に同じ直径5mmの平面形状が円形状のマスクをスクリーン版に設けた。
この実施例1において、穴部の表面積Aと、該穴部を被覆するマスクの表面積Bとの面積比(B/A)は、19.625/19.625=1であった。
使用した印刷機は、ニューロング精密工業株式会社製のLS−150TVA型を用いた。使用したスキージはウレタンゴム製で、角部に60°の角度のテーパーをつけた。スクリーン版とアルミニウム基板の距離は4mmとした。
印刷圧は0.2MPa、押込み量0.5mm、印刷速度150mm/sec、スクレッパとしては剣ゴム付スクレッパを用いた。
-Screen printing-
Using the coating liquid of Example 1, a coating film having an average thickness of 120 μm was formed on an aluminum substrate provided with through holes under the screen printing conditions shown below.
[Screen printing conditions]
A 3D-processed # 100 μm mesh stainless steel screen plate was used. The size of the mesh portion to be screen-printed is a square having a width of 100 mm and a length of 100 mm.
A mask having a circular planar shape with the same diameter of 5 mm was provided on the screen plate at a position corresponding to the through hole of the substrate so that the coating liquid was not applied to the portion of the aluminum substrate where the through hole was formed.
In Example 1, the area ratio (B / A) between the surface area A of the hole and the surface area B of the mask covering the hole was 19.625 / 19.625 = 1.
As the printing machine used, LS-150TVA type manufactured by Neurong Seimitsu Kogyo Co., Ltd. was used. The squeegee used was made of urethane rubber, and the corners were tapered at an angle of 60 °. The distance between the screen plate and the aluminum substrate was 4 mm.
The printing pressure was 0.2 MPa, the pressing amount was 0.5 mm, the printing speed was 150 mm / sec, and a scraper with a sword rubber was used as the scraper.

−焼成−
形成した塗布膜を、焼成炉(エスペック社製、恒温クリーンベンチPVH222)に入れて、220℃で4時間焼成した。以上により、実施例1の搬送キャリアを作製した。
-Baking-
The formed coating film was placed in a baking furnace (manufactured by Espec Corp., constant temperature clean bench PVH222) and baked at 220 ° C. for 4 hours. As described above, the carrier of Example 1 was produced.

(実施例2)
−搬送キャリアの作製−
実施例1において、直径5mmの円形状の貫通穴を被覆する平面形状が円形状のマスクの直径を5.2mmとした以外は、実施例1と同様にして、実施例2の搬送キャリアを作製した。
この実施例2において、穴部の表面積Aと、該穴部を被覆するマスクの表面積Bとの面積比(B/A)は、21.2264/19.625=1.08であった。
(Example 2)
-Fabrication of carrier-
In Example 1, the transport carrier of Example 2 is manufactured in the same manner as in Example 1 except that the diameter of the mask having a circular planar shape covering a circular through hole having a diameter of 5 mm is set to 5.2 mm. did.
In Example 2, the area ratio (B / A) between the surface area A of the hole and the surface area B of the mask covering the hole was 21.2264 / 19.625 = 1.08.

(実施例3)
−搬送キャリアの作製−
実施例1において、直径5mmの円形状の貫通穴を被覆する平面形状が円形状のマスクの直径を5.1mmとした以外は、実施例1と同様にして、実施例3の搬送キャリアを作製した。
この実施例3において、穴部の表面積Aと、該穴部を被覆するマスクの表面積Bとの面積比(B/A)は、20.41785/19.625=1.04であった。
(Example 3)
-Fabrication of carrier-
In Example 1, the conveyance carrier of Example 3 is manufactured in the same manner as Example 1 except that the diameter of the mask having a circular planar shape covering the circular through hole having a diameter of 5 mm is 5.1 mm. did.
In Example 3, the area ratio (B / A) between the surface area A of the hole and the surface area B of the mask covering the hole was 20.41785 / 19.625 = 1.04.

(実施例4)
−搬送キャリアの作製−
実施例1において、直径5mmの円形状の貫通穴を被覆する平面形状が円形状のマスクの直径を4.8mmとした以外は、実施例1と同様にして、実施例4の搬送キャリアを作製した。
この実施例4において、穴部の表面積Aと、該穴部を被覆するマスクの表面積Bとの面積比(B/A)は、18.0864/19.625=0.92であった。
Example 4
-Fabrication of carrier-
In Example 1, the conveyance carrier of Example 4 is manufactured in the same manner as Example 1 except that the diameter of the mask having a circular planar shape covering a circular through hole having a diameter of 5 mm is 4.8 mm. did.
In Example 4, the area ratio (B / A) between the surface area A of the hole and the surface area B of the mask covering the hole was 18.0864 / 19.625 = 0.92.

(実施例5)
−搬送キャリアの作製−
実施例1において、アルミニウム基板に平面形状が円形状の貫通穴を、深さ0.5mm、直径5mmの円形状の凹部をザグリ加工により形成した以外は、実施例1と同様にして、実施例5の搬送キャリアを作製した。
この実施例5において、凹部の表面積Aと、該凹部を被覆するマスクの表面積Bとの面積比(B/A)は、19.625/19.625=1であった。
(Example 5)
-Fabrication of carrier-
Example 1 Example 1 was performed in the same manner as Example 1 except that a through-hole having a circular planar shape was formed in the aluminum substrate by circular machining of a circular recess having a depth of 0.5 mm and a diameter of 5 mm. 5 carrier carriers were produced.
In Example 5, the area ratio (B / A) between the surface area A of the recess and the surface area B of the mask covering the recess was 19.625 / 19.625 = 1.

(実施例6)
−搬送キャリアの作製−
実施例1において、アルミニウム基板に一辺の長さが5mmの平面形状が正方形状の貫通穴を任意に5箇所設け、この正方形状の貫通穴を被覆する正方形状のマスクの一辺の長さを5mmとした以外は、実施例1と同様にして、実施例6の搬送キャリアを作製した。
この実施例6において、穴部の表面積Aと、該穴部を被覆するマスクの表面積Bとの面積比(B/A)は、25/25=1であった。
(Example 6)
-Fabrication of carrier-
In the first embodiment, an aluminum substrate is provided with arbitrarily five through holes having a square shape in a planar shape with a side length of 5 mm, and the length of one side of a square mask covering the square through hole is 5 mm. A transport carrier of Example 6 was produced in the same manner as Example 1 except that.
In Example 6, the area ratio (B / A) between the surface area A of the hole and the surface area B of the mask covering the hole was 25/25 = 1.

(比較例1)
−搬送キャリアの作製−
実施例1において、貫通穴を設けていないアルミニウム基板を用い、マスクを有さないスクリーン版を用いて、スクリーン印刷を行った後、直径5mmの平面形状が円形状の貫通穴を任意に5箇所設けた以外は、実施例1と同様にして、比較例1の搬送キャリアを作製した。
(Comparative Example 1)
-Fabrication of carrier-
In Example 1, using an aluminum substrate not provided with a through-hole, using a screen plate without a mask, and performing screen printing, the plane shape having a diameter of 5 mm is arbitrarily provided with five circular through-holes. A transport carrier of Comparative Example 1 was produced in the same manner as Example 1 except that it was provided.

<穴部乃至凹部の目視評価及び結果>
実施例1〜6及び比較例1の搬送キャリアについて、穴部又は凹部及びその周辺を目視観察した。これらの結果を以下にまとめて示す。
実施例1〜3は、穴部の塗布層のはみ出しの大きな問題がなく、ゴミの発生もなかった。また、FPCセットの実装作業での繰り返し使用でも問題なかった。ただし、精密に比較すると、実施例1はスクリーン印刷の際におけるアライメント位置調整のズレによるはみ出しが若干あり、穴部の表面積が、該穴部を被覆するマスクの表面積よりも小さい実施例2及び3の方がより好ましいことが分かった。
また、実施例4は、穴部の内側への塗布層のはみ出しがやや観察され、FPCセットの実装作業での繰り返し使用によって剥がれが若干発生した。
また、実施例5は、凹部の塗布層のはみ出しの大きな問題がなく、ゴミの発生もなかった。FPCセットの実装作業での繰り返し使用でも問題なかった。
また、実施例6のように、穴部の平面形状が正方形状であっても、穴部の塗布層のはみ出しの大きな問題がなく、ゴミの発生もなかった。
これに対し、比較例1は、穴部の内側へのはみ出しは観察されなかったが、穴部形成時の応力の影響と思われる微小なシワが穴部の周囲に渡って発生し、弱い凹凸が観察された。FPCセットの実装作業で、凹凸起因と思われるFPCの浮きが発生した。また、加工時のゴミが塗布層に付着していた。
<Visual evaluation and results of holes or recesses>
About the conveyance carrier of Examples 1-6 and Comparative Example 1, the hole part or the recessed part and its periphery were observed visually. These results are summarized below.
In Examples 1 to 3, there was no major problem of protrusion of the coating layer in the hole, and no dust was generated. Moreover, there was no problem even when the FPC set was repeatedly used in the mounting work. However, when compared precisely, Example 1 has a slight protrusion due to misalignment of the alignment position during screen printing, and Examples 2 and 3 have a surface area of the hole smaller than the surface area of the mask covering the hole. It was found that is more preferable.
Moreover, in Example 4, the protrusion of the coating layer to the inside of the hole was slightly observed, and some peeling occurred due to repeated use in the mounting work of the FPC set.
Further, in Example 5, there was no major problem of the protrusion of the concave coating layer, and no dust was generated. There was no problem even when the FPC set was repeatedly used in the mounting work.
Further, as in Example 6, even when the planar shape of the hole portion was a square shape, there was no major problem of the protrusion of the coating layer in the hole portion, and no dust was generated.
On the other hand, in Comparative Example 1, no protrusion to the inside of the hole was observed, but minute wrinkles that seem to be the effect of stress at the time of hole formation occurred around the hole, resulting in weak unevenness. Was observed. During the FPC set mounting work, FPC floating that was thought to be due to irregularities occurred. Further, dust during processing adhered to the coating layer.

本発明の搬送キャリアの製造方法により製造された搬送キャリアは、例えばフレキシブルプリント配線基板(FPC)に電子部品の実装、薬品洗浄、プラズマ処理等を行う際の仮固定、レーザー加工用の固定台、機械加工用の固定台などに幅広く使用することができる。   The transport carrier manufactured by the transport carrier manufacturing method of the present invention is, for example, a temporary fixing when performing electronic component mounting, chemical cleaning, plasma processing, etc. on a flexible printed circuit board (FPC), a fixing base for laser processing, It can be widely used for fixed bases for machining.

Claims (6)

基板の少なくとも一部に、穴部乃至凹部を形成する穴部乃至凹部形成工程と、
前記穴部乃至凹部をスクリーン版に設けたマスクで被覆した後、少なくともポリジメチルシロキサンを含むポリジメチルシロキサン組成物を含有する塗布液を、スクリーン印刷して塗膜を形成する塗膜形成工程と、
前記塗膜を焼成する焼成工程と、
を含むことを特徴とする搬送キャリアの製造方法。
A hole or recess forming step for forming a hole or recess in at least a part of the substrate; and
A coating film forming step of forming a coating film by screen-printing a coating solution containing a polydimethylsiloxane composition containing at least polydimethylsiloxane after coating the hole or recess with a mask provided on a screen plate; and
A firing step of firing the coating film;
The manufacturing method of the conveyance carrier characterized by including.
穴部乃至凹部の表面積Aと、該穴部乃至凹部を被覆するスクリーン版に設けたマスクの表面積Bとが、次式、B/A≧0.9〜1.1を満たす請求項1に記載の搬送キャリアの製造方法。   2. The surface area A of the hole or recess and the surface area B of the mask provided on the screen plate covering the hole or recess satisfy the following formula: B / A ≧ 0.9 to 1.1. Manufacturing method for the carrier. 穴部乃至凹部の表面積Aと、該穴部乃至凹部を被覆するスクリーン版に設けたマスクの表面積Bとが、次式、B/A≧1〜1.05を満たす請求項2に記載の搬送キャリアの製造方法。   The conveyance according to claim 2, wherein the surface area A of the hole or recess and the surface area B of the mask provided on the screen plate covering the hole or recess satisfy the following formula: B / A ≧ 1-1.05. Carrier manufacturing method. 穴部乃至凹部の平面形状が、円形状及び四角形状のいずれかである請求項1から3のいずれかに記載の搬送キャリアの製造方法。   The method for manufacturing a transport carrier according to any one of claims 1 to 3, wherein the planar shape of the hole or recess is either a circular shape or a quadrangular shape. 基板に穴部乃至凹部を形成した後、該基板を洗浄する基板洗浄工程を含む請求項1から4のいずれかに記載の搬送キャリアの製造方法。   The manufacturing method of the conveyance carrier in any one of Claim 1 to 4 including the board | substrate washing | cleaning process which wash | cleans this board | substrate after forming a hole part or a recessed part in a board | substrate. 請求項1から5のいずれかに記載の搬送キャリアの製造方法により製造されたことを特徴とする搬送キャリア。   A transport carrier manufactured by the transport carrier manufacturing method according to claim 1.
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