JP2012063220A - 校正基準点取得システム及び校正基準点取得方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】校正対象の撮像装置20に対してレーザ光のような広がりのない光を照射する発光装置10、撮像装置10の向きを調節する角度調節装置30、該角度調節装置30に角度指令を与える角度制御装置40、撮像装置20より得られる撮像画像から集光点位置を検出し、校正基準点を算出する画像処理装置50を有する。
【選択図】図1
Description
20 校正対象撮像装置
30 角度調整装置
40 角度制御装置
50 画像処理装置
60 画像出力装置
Claims (8)
- 撮像装置のキャリブレーションに用いる校正基準点を取得する校正基準点取得システムであって、
校正対象の撮像装置に対して広がりのない光を照射する発光装置と、
校正対象の前記撮像装置の向きを調節する角度調節装置と、
校正対象の撮像装置より得られる撮像画像から校正基準点を算出する画像処理装置と、を有することを特徴とする校正基準点取得システム。 - 前記発光装置により照射された広がりのない光を前記撮像装置により検出することで、校正基準点を取得することを特徴とする請求項1記載の校正基準点取得システム。
- 前記発光装置により1つ以上の広がりのない光を前記撮像装置に照射することを特徴とする請求項1又は2に記載の校正基準点取得システム。
- 前記画像処理装置は、前記撮像装置により得られた撮像画像から集光点位置を検出し、校正基準点を算出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の校正基準点取得システム。
- 前記角度調節装置により前記撮像装置の向きを変更することで、2つ以上の校正基準点を取得することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の校正基準点取得システム。
- 前記角度調節装置は、設定角度を可変的に変更可能であることを特徴とする請求項5に記載の校正基準点取得システム。
- 角度調節装置により前記撮像装置の向きを可変的に調節することで、異なるパターンの校正基準点を取得することを特徴とする請求項6に記載の校正基準点取得システム。
- 撮像装置のキャリブレーションに用いる校正基準点を取得する校正基準点取得方法であって、
校正対象の撮像装置に対して広がりのない光を照射し、前記撮像装置の向きを調節しながら、前記撮像装置より得られる撮像画像から集光点位置を検出し、校正基準点として取得することを特徴とする校正基準点取得方法。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014029316A (ja) * | 2012-06-29 | 2014-02-13 | Ricoh Co Ltd | レーザレーダ調整装置及びレーザレーダの調整方法 |
WO2019069693A1 (ja) * | 2017-10-04 | 2019-04-11 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 検査装置、および検査方法、並びに、プログラム |
CN115134567A (zh) * | 2022-05-19 | 2022-09-30 | 深圳市康帕斯科技发展有限公司 | 投影画面融合区校正方法、系统、投影系统和介质 |
CN116087216A (zh) * | 2022-12-14 | 2023-05-09 | 广东九纵智能科技有限公司 | 一种多轴联动视觉检测设备、方法及应用 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03503680A (ja) * | 1988-04-12 | 1991-08-15 | メトロノール・エイ・エス | 光電子工学式角度測定システム |
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03503680A (ja) * | 1988-04-12 | 1991-08-15 | メトロノール・エイ・エス | 光電子工学式角度測定システム |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014029316A (ja) * | 2012-06-29 | 2014-02-13 | Ricoh Co Ltd | レーザレーダ調整装置及びレーザレーダの調整方法 |
WO2019069693A1 (ja) * | 2017-10-04 | 2019-04-11 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 検査装置、および検査方法、並びに、プログラム |
CN111164405A (zh) * | 2017-10-04 | 2020-05-15 | 索尼半导体解决方案公司 | 检查装置和检查方法以及程序 |
US11215526B2 (en) | 2017-10-04 | 2022-01-04 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Inspection apparatus and inspection method |
CN115134567A (zh) * | 2022-05-19 | 2022-09-30 | 深圳市康帕斯科技发展有限公司 | 投影画面融合区校正方法、系统、投影系统和介质 |
CN115134567B (zh) * | 2022-05-19 | 2023-07-25 | 深圳市康帕斯科技发展有限公司 | 投影画面融合区校正方法、系统、投影系统和介质 |
CN116087216A (zh) * | 2022-12-14 | 2023-05-09 | 广东九纵智能科技有限公司 | 一种多轴联动视觉检测设备、方法及应用 |
CN116087216B (zh) * | 2022-12-14 | 2024-02-20 | 广东九纵智能科技有限公司 | 一种多轴联动视觉检测设备、方法及应用 |
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