JP2012058105A - Optical analyzer - Google Patents
Optical analyzer Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012058105A JP2012058105A JP2010202215A JP2010202215A JP2012058105A JP 2012058105 A JP2012058105 A JP 2012058105A JP 2010202215 A JP2010202215 A JP 2010202215A JP 2010202215 A JP2010202215 A JP 2010202215A JP 2012058105 A JP2012058105 A JP 2012058105A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- amount
- light source
- source
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、測定セル内の試料液に光源から光を照射し、試料液を透過した光を測定センサにより検出して試料液の分析を行う光学式分析計に関し、さらに詳述すると、光学系の検査を短時間で簡易かつ正確に行うことができる光学式分析計に関する。 The present invention relates to an optical analyzer that analyzes sample liquid by irradiating light from a light source to a sample liquid in a measurement cell and detecting light transmitted through the sample liquid by a measurement sensor. The present invention relates to an optical analyzer that can easily and accurately perform the inspection in a short time.
従来、図2に示すように、測定セル50内の試料液52に光源(水銀ランプ)54から光(波長約254nmの紫外光)56を照射し、試料液52を透過した光58を測定センサ(受光素子)60で検出するとともに、測定センサ60と電気的に接続された演算部62において、測定セル50からの信号に基づいて試料液52中の有機汚濁物質濃度を求める光学式分析計が提案されている(例えば、特許文献1、2参照)。
Conventionally, as shown in FIG. 2, a
上述した光学式分析計においては、定期的あるいは必要に応じて、光源、測定セル、測定センサを含む光学系の検査を行う必要がある。この場合、上記光学系の検査方法としては、測定セル内に標準液を注入して、上記標準液の測定を行う方法がある。この場合、標準液としては、蒸留水などのゼロ液や、フタル酸水素カリウム標準液などのスパン液を用いる。 In the optical analyzer described above, it is necessary to inspect an optical system including a light source, a measurement cell, and a measurement sensor periodically or as necessary. In this case, as an inspection method for the optical system, there is a method in which a standard solution is injected into a measurement cell and the standard solution is measured. In this case, a zero solution such as distilled water or a span solution such as a potassium hydrogen phthalate standard solution is used as the standard solution.
また、上記光学系の簡易な検査方法として、光源から測定センサに至る光路に特定の吸光度を有する光学フィルタを配置し、光学フィルタを配置しないときの測定センサの信号と、光学フィルタを配置したときの測定センサの信号とを比較して検査を行う方法がある。 In addition, as a simple inspection method for the optical system, when an optical filter having a specific absorbance is arranged in the optical path from the light source to the measurement sensor, and the measurement sensor signal when the optical filter is not arranged, and the optical filter are arranged There is a method of performing an inspection by comparing the signal of the measurement sensor.
しかし、前述した光学フィルタを用いて光学系の検査を行う方法は、次のような問題を有するものであった。
(1)前記光学フィルタを用いる検査方法では、光学フィルタを光路に配置しないときの透過率を100%とするとともに、光学フィルタを光路に配置したときに光源の光量を変化させて透過率を適当に変化させることで(例えば50%)、吸光度のデータを得ている。しかし、図2の光学式分析計では、定電圧安定化電源で水銀ランプを点灯させているので、ランプに印加される電圧あるいは電流が常に一定になるように駆動され、そのため出力される光量は上記電圧あるいは電流と必ずしも比例しない。さらに、定電圧安定化電源による水銀ランプの駆動初期にはランプ光量が不安定であるため、ランプ点灯後の光量安定に時間がかかり、そのため検査に長時間を要し、検査を簡易に行うことが難しかった。
(2)前記光学フィルタを用いる検査方法では、紫外光の照射や湿度によって、光学フィルタの光学ガラス、金属膜、誘電体多層膜などの劣化が起こることにより、光学フィルタの吸光度が経時変化することがあり、そのため検査を正確に行うことができない可能性があった。
However, the method of inspecting an optical system using the optical filter described above has the following problems.
(1) In the inspection method using the optical filter, the transmittance when the optical filter is not disposed in the optical path is set to 100%, and when the optical filter is disposed in the optical path, the light amount of the light source is changed to appropriately adjust the transmittance. By changing to (for example, 50%), absorbance data is obtained. However, in the optical analyzer of FIG. 2, since the mercury lamp is lit by a constant voltage stabilizing power source, it is driven so that the voltage or current applied to the lamp is always constant. It is not necessarily proportional to the voltage or current. Furthermore, since the light quantity of the lamp is unstable when the mercury lamp is driven by the constant voltage stabilized power supply, it takes time for the light quantity to stabilize after the lamp is lit. It was difficult.
(2) In the inspection method using the optical filter, the absorbance of the optical filter changes over time due to deterioration of the optical glass, metal film, dielectric multilayer film, etc. of the optical filter due to ultraviolet light irradiation and humidity. Therefore, there was a possibility that the inspection could not be performed accurately.
本発明は、前述した事情に鑑みてなされたもので、光学系の検査を短時間で簡易かつ正確に行うことができる光学式分析計を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and an object thereof is to provide an optical analyzer capable of simply and accurately performing an inspection of an optical system in a short time.
本発明者は、前記目的を達成するために種々検討を行った結果、光源からの直接光(測定セルを透過しない光)を参照センサで検出し、その信号を電圧制御回路に送るとともに、上記電圧制御回路において、光源の電源電圧値と参照センサからの信号値とを比較し、光源の出射光の光量が常時一定になるように光源の電源電圧値をコントロールした場合、光学系の検査時に光源に加える電圧を変化させると、光源の出射光の光量を直ちに変化させることができ、そのため光学系の検査を短時間で簡易かつ正確に行うことができることを見出した。 As a result of various studies to achieve the above object, the inventor detects direct light from the light source (light that does not pass through the measurement cell) with a reference sensor, sends the signal to the voltage control circuit, and In the voltage control circuit, when the power supply voltage value of the light source is compared with the signal value from the reference sensor and the power supply voltage value of the light source is controlled so that the amount of light emitted from the light source is always constant, It has been found that when the voltage applied to the light source is changed, the amount of light emitted from the light source can be changed immediately, so that the optical system can be inspected easily and accurately in a short time.
本発明は、上記知見に基づいてなされたもので、
測定セル内の試料液に光源から光を照射し、試料液を透過した光を測定センサにより検出して試料液の分析を行う光学式分析計において、
前記光源の出射光の光量が予め設定した所定の設定光量となるように前記光源に電圧を加える電源と、
前記光源からの直接光を検出する参照センサと、
前記電源及び前記参照センサと電気的に接続され、前記設定光量と前記参照センサにより検出した光の光量とが等しくなるように、前記電源から前記光源に加える電圧を制御する電圧制御回路とを具備し、
前記光源、測定セル及び測定センサを含む光学系の検査を行うに当たり、前記電圧制御回路により、光源の出射光の光量が前記設定光量より所定量変化するように、前記電源から光源に加える電圧を変化させるとともに、測定セルを透過した光を前記測定センサにより検出し、電源から光源に加える電圧を変化させることにより変化させようとした光量の変化量と、前記測定センサにより検出した光量の変化量とを比較し、両変化量が等しければ光学系は正常であると判定し、両変化量が等しくなければ光学系に異常があると判定することを特徴とする光学式分析計を提供する。
The present invention has been made based on the above findings,
In an optical analyzer that analyzes the sample liquid by irradiating the sample liquid in the measurement cell with light from the light source and detecting the light transmitted through the sample liquid with a measurement sensor.
A power source for applying a voltage to the light source so that the light amount of the light emitted from the light source is a predetermined light amount set in advance;
A reference sensor for detecting direct light from the light source;
A voltage control circuit that is electrically connected to the power source and the reference sensor, and controls a voltage applied from the power source to the light source so that the set light amount is equal to the light amount detected by the reference sensor. And
When inspecting the optical system including the light source, measurement cell, and measurement sensor, the voltage control circuit applies a voltage applied from the power source to the light source so that the amount of light emitted from the light source changes by a predetermined amount from the set light amount. The amount of change in the amount of light detected by the measurement sensor, the amount of change in the amount of light detected by the measurement sensor, and the amount of change in the amount of light detected by the measurement sensor The optical analyzer is characterized in that it is determined that the optical system is normal if the two variations are equal, and that the optical system is abnormal if the two variations are not equal.
本発明の光学式分析計は、光源の点灯開始直後から測定を行うことができるように、常に光量が安定化されている。そのため、例えば、光源の設定電圧値を適宜に減少させて、光源の出射光の光量を適当に減衰させることにより、光学系の受光感度を検査することができる。このような機能が得られるのは、光源からの直接光を参照光としてフィードバック制御に用いることで、短時間で光源の光量を安定化させることができることと、電圧制御回路により光源の設定電圧値を変化させることで、前述した光学フィルタの挿入に相当するように光源の光量を電気的に減衰させることができることによる。 In the optical analyzer of the present invention, the amount of light is always stabilized so that measurement can be performed immediately after the light source is turned on. Therefore, for example, the light receiving sensitivity of the optical system can be inspected by appropriately reducing the set voltage value of the light source and appropriately attenuating the amount of light emitted from the light source. Such a function is obtained by using the direct light from the light source as reference light for feedback control, so that the light amount of the light source can be stabilized in a short time, and the set voltage value of the light source by the voltage control circuit. This is because the light quantity of the light source can be electrically attenuated so as to correspond to the insertion of the optical filter described above.
本発明の光学式分析計は、例えば、有機汚濁モニタ、多波長吸光度測定方式の水質分析計などとして構成することができる。また、本発明の光学式分析計は、測定セルを溶液中に浸漬して測定を行う光学式分析計として構成することもできる。 The optical analyzer of the present invention can be configured, for example, as an organic pollution monitor, a multi-wavelength absorbance measurement type water quality analyzer, or the like. The optical analyzer of the present invention can also be configured as an optical analyzer that performs measurement by immersing a measurement cell in a solution.
本発明の光学式分析計は、光源、測定セル及び測定センサを含む光学系の検査を短時間で簡易かつ正確に行うことが可能である。 The optical analyzer of the present invention can easily and accurately perform an inspection of an optical system including a light source, a measurement cell, and a measurement sensor in a short time.
以下、図面を参照して本発明をさらに詳しく説明する。図1は本発明に係る光学式分析計の一実施形態を示す概念図である。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a conceptual diagram showing an embodiment of an optical analyzer according to the present invention.
本例の光学式分析計は、図2に示した光学式分析計と同様に、測定セル10内の試料液12に光源(水銀ランプ)14から光(波長約254nmの紫外光)16を照射し、試料液12を透過した光18を測定センサ(受光素子)20で検出するとともに、測定センサ20と電気的に接続された演算部22において、測定セル20からの信号に基づいて試料液12中の有機汚濁物質濃度を求めるものである。
The optical analyzer of this example irradiates the
また、本例の光学式分析計は、光源14の出射光16の光量が予め設定した所定の設定光量となるように光源14に電圧を加える電源24と、光源14からの直接光(測定セル10を透過しない光)26を検出する参照センサ28と、電源24及び参照センサ28と電気的に接続された電圧制御回路30とを具備する。電圧制御回路30は、上記設定光量と参照センサ28により検出した光の光量とが等しくなるように、電源24から光源14に加える電圧を制御するものであり、比較器32を内在しており、さらに比較器32には可変基準電圧源34が接続されている。可変基準電圧源34は、上記設定光量になるように設定された電圧値を発生し、任意の電圧値が設定できるようになっている。より具体的には、比較器32で参照センサ28からの信号値(光量)と上記設定光量(設定光量に対応する可変基準電圧源34が発生する電圧値)とを比較して、その比較結果に基づいて電源24による電圧値を制御する。
Further, the optical analyzer of this example includes a
本例の光学式分析計において、光源14、測定セル10及び測定センサ20を含む光学系の検査は、例えば次のように行う。まず、電圧制御回路30の制御により、光源14の出射光の光量が前記設定光量より所定量減衰するように、電源24から光源14に加える電圧を減少させる。そして、試料液として純水を用い、測定セル10を透過した光18を測定センサ20により検出し、電源24から光源14に加える電圧を(可変基準電圧源34の設定電圧値を下げることによって)減少させることにより減衰させようとした光量の減衰量(従来の光学フィルタの挿入による減衰量に相当)と、測定センサ20により検出した光量の減衰量とを比較し、両減衰量が等しければ光学系は正常であると判定し、両減衰量が等しくなければ光学系に異常があると判定する。異常があると判定した場合は、どこに異常があるかを調べればよい。したがって、本例の光学式分析計によれば、光学系の検査を短時間で簡易かつ正確に行うことができる。
In the optical analyzer of this example, the optical system including the
本発明の光学式分析計は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更することが可能である。 The optical analyzer of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.
10 測定セル
12 試料液
14 光源
16 出射光
18 透過光
20 測定センサ
22 演算部
24 電源
26 直接光
28 参照センサ
30 電圧制御回路
32 比較器
34 可変基準電圧源
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記光源の出射光の光量が予め設定した所定の設定光量となるように前記光源に電圧を加える電源と、
前記光源からの直接光を検出する参照センサと、
前記電源及び前記参照センサと電気的に接続され、前記設定光量と前記参照センサにより検出した光の光量とが等しくなるように、前記電源から前記光源に加える電圧を制御する電圧制御回路とを具備し、
前記光源、測定セル及び測定センサを含む光学系の検査を行うに当たり、前記電圧制御回路の制御により、光源の出射光の光量が前記設定光量より所定量変化するように、前記電源から光源に加える電圧を変化させるとともに、測定セルを透過した光を前記測定センサにより検出し、電源から光源に加える電圧を変化させることにより変化させようとした光量の変化量と、前記測定センサにより検出した光量の変化量とを比較し、両変化量が等しければ光学系は正常であると判定し、両変化量が等しくなければ光学系に異常があると判定することを特徴とする光学式分析計。 In an optical analyzer that analyzes the sample liquid by irradiating the sample liquid in the measurement cell with light from the light source and detecting the light transmitted through the sample liquid with a measurement sensor.
A power source for applying a voltage to the light source so that the light amount of the light emitted from the light source is a predetermined light amount set in advance;
A reference sensor for detecting direct light from the light source;
A voltage control circuit that is electrically connected to the power source and the reference sensor, and controls a voltage applied from the power source to the light source so that the set light amount is equal to the light amount detected by the reference sensor. And
When inspecting the optical system including the light source, the measurement cell, and the measurement sensor, the voltage control circuit controls the light source so that the amount of light emitted from the light source changes by a predetermined amount from the set light amount. While changing the voltage, the light transmitted through the measurement cell is detected by the measurement sensor, and the amount of change in the amount of light that is to be changed by changing the voltage applied to the light source from the power source and the amount of light detected by the measurement sensor An optical analyzer characterized by comparing the amount of change and determining that the optical system is normal if the two amounts of change are equal, and determining that the optical system is abnormal if the amounts of change are not equal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010202215A JP2012058105A (en) | 2010-09-09 | 2010-09-09 | Optical analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010202215A JP2012058105A (en) | 2010-09-09 | 2010-09-09 | Optical analyzer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012058105A true JP2012058105A (en) | 2012-03-22 |
Family
ID=46055374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010202215A Pending JP2012058105A (en) | 2010-09-09 | 2010-09-09 | Optical analyzer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2012058105A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014129774A1 (en) * | 2013-02-20 | 2014-08-28 | 한국화학연구원 | Multi-emission spectrochemical analysis method using dichroic mirror and emission spectrometer using same |
KR101744955B1 (en) * | 2016-11-28 | 2017-06-09 | 주식회사 프레시즘 | Sensor module in apparatus for producing sterilized water using chlorine dioxide |
KR101812783B1 (en) | 2017-07-20 | 2017-12-28 | 순천향대학교 산학협력단 | Apparatus for measuring black carbon |
WO2024018807A1 (en) * | 2022-07-19 | 2024-01-25 | 株式会社フジキン | Concentration measurement device and method for detecting abnormality in same |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60185141A (en) * | 1984-10-29 | 1985-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Smoke detecting apparatus |
JPH0755798A (en) * | 1993-08-14 | 1995-03-03 | Horiba Ltd | Organic contaminant substance measuring method using ultraviolet oxidation |
JP2003344267A (en) * | 2002-05-22 | 2003-12-03 | Aloka Co Ltd | Light source for analyzer |
JP2005127902A (en) * | 2003-10-24 | 2005-05-19 | Kyoto Electron Mfg Co Ltd | Refractive index measuring apparatus |
-
2010
- 2010-09-09 JP JP2010202215A patent/JP2012058105A/en active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60185141A (en) * | 1984-10-29 | 1985-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Smoke detecting apparatus |
JPH0755798A (en) * | 1993-08-14 | 1995-03-03 | Horiba Ltd | Organic contaminant substance measuring method using ultraviolet oxidation |
JP2003344267A (en) * | 2002-05-22 | 2003-12-03 | Aloka Co Ltd | Light source for analyzer |
JP2005127902A (en) * | 2003-10-24 | 2005-05-19 | Kyoto Electron Mfg Co Ltd | Refractive index measuring apparatus |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014129774A1 (en) * | 2013-02-20 | 2014-08-28 | 한국화학연구원 | Multi-emission spectrochemical analysis method using dichroic mirror and emission spectrometer using same |
KR20140104614A (en) * | 2013-02-20 | 2014-08-29 | 한국화학연구원 | Multi luminescence spectroscopic method using multi band dichroic mirror and luminescence spectrophotometer using the same |
KR101675258B1 (en) | 2013-02-20 | 2016-11-14 | 한국화학연구원 | Multi luminescence spectroscopic method using multi band dichroic mirror and luminescence spectrophotometer using the same |
KR101744955B1 (en) * | 2016-11-28 | 2017-06-09 | 주식회사 프레시즘 | Sensor module in apparatus for producing sterilized water using chlorine dioxide |
KR101812783B1 (en) | 2017-07-20 | 2017-12-28 | 순천향대학교 산학협력단 | Apparatus for measuring black carbon |
WO2024018807A1 (en) * | 2022-07-19 | 2024-01-25 | 株式会社フジキン | Concentration measurement device and method for detecting abnormality in same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Jiang et al. | TDLAS-based detection of dissolved methane in power transformer oil and field application | |
US9234905B2 (en) | Method of calibrating and calibration apparatus for a moisture concentration measurement apparatus | |
JP6699983B2 (en) | Method and system for detecting components in a fluid | |
CN108387527B (en) | Photoacoustic spectrum oil gas detection device capable of eliminating cross interference | |
JP2009145149A (en) | Spectrophotometer | |
JP6450539B2 (en) | Method and system for detecting components in a fluid | |
US7968854B2 (en) | Device for sterilizing a fluid | |
JP2012058105A (en) | Optical analyzer | |
KR20160137019A (en) | Water pollution measurement system using optical sensor and water pollution measurement apparatus | |
US20150189714A1 (en) | Sensors with LED Light Sources | |
JPWO2017029791A1 (en) | Concentration measuring device | |
US9285308B2 (en) | Interference-compensating NDIR gas sensor for measuring acetylene | |
JP2007212459A (en) | Radiation source and optical sensor apparatus | |
JP6254985B2 (en) | Laser processing system for monitoring impure gas in the laser beam path | |
JP6965502B2 (en) | Water quality analyzer | |
KR20190040278A (en) | Water quality detection | |
US9007592B2 (en) | Gas analyzer | |
JP2006313164A (en) | Gas sensor apparatus and gas measuring method | |
US9442064B1 (en) | Photometer with LED light source | |
JP2018059788A (en) | Water Quality Analyzer | |
TWI479142B (en) | Biochip detecting device and light source detection method thereof | |
RU2334216C1 (en) | Chemical substance content measuring system for gas medium | |
KR101571859B1 (en) | Apparatus and method of analying element concentration using atomic absorption spectrophotometry | |
JP5468344B2 (en) | Method for measuring concentration of water-soluble radical species in aqueous solution and apparatus for measuring concentration of water-soluble radical species | |
KR20110040851A (en) | Apparatus for measurement of silicon concentration |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130904 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140307 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140311 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140508 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140722 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140916 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20150106 |