JP2012051092A - Cutting blade detecting mechanism for cutting device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cutting blade detecting mechanism for a cutting device capable of surely detecting that a circular cutting edge forming a cutting blade is totally damaged by separating from an outer peripheral edge of a base.SOLUTION: The cutting blade detecting mechanism for a cutting device includes a light-emitting means arranged at one side of the cutting blade having the circular cutting edge for cutting a workpiece held on a chuck table, a light-receiving means arranged so as to face to the light-emitting means at the other side of a rotary direction of the cutting blade and receiving the light irradiated with the light-emitting means, and a control means for determining conditions of the circular cutting edge on the basis of the amount of light received with the light-receiving means. The cutting blade is composed of the circular base and the circular cutting edge mounted on a side face of an outer peripheral section of the circular base and formed so as to protrude from the outer peripheral edge of the circular base, and a light-emitting face of the light-emitting means and a light-receiving face of the light-receiving means are arranged at a location where a part of the light-emitting face and the light-receiving face is shielded with the outer peripheral section of the circular base.

Description

本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物を切削する切削装置に装備される切削ブレードを構成する環状の切れ刃の破損を検出するための切削ブレード検出機構に関する。   The present invention relates to a cutting blade detection mechanism for detecting breakage of an annular cutting edge constituting a cutting blade provided in a cutting apparatus for cutting a workpiece such as a semiconductor wafer.

半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。このように複数のデバイスが形成された半導体ウエーハをストリートに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々の半導体チップを製造している。また、サファイヤ基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体等が積層された光デバイスウエーハもストリートに沿って切断することにより個々の発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイスに分割され、個々の光デバイスを製造している。   In the semiconductor device manufacturing process, a plurality of regions are partitioned by dividing lines called streets arranged in a lattice pattern on the surface of a substantially wafer-shaped semiconductor wafer, and devices such as ICs, LSIs, etc. are partitioned in the partitioned regions. Form. The semiconductor wafer in which a plurality of devices are formed in this way is cut along the streets to divide the region in which the devices are formed to manufacture individual semiconductor chips. In addition, optical device wafers with gallium nitride compound semiconductors laminated on the surface of sapphire substrates are cut along the streets into individual light devices such as light-emitting diodes and laser diodes to produce individual optical devices. is doing.

上述した半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等のストリートに沿った切断は、通常、ダイサーと呼ばれる切削ブレードを備えた切削装置によって行われている。切削ブレードは円形状の基台と該円形状の基台の外周部側面に装着され基台の外周縁から突出して形成された環状の切れ刃とによって構成されている。このように構成された切削ブレードは、環状の切れ刃が所定量磨耗した場合には交換する必要がある。このため、切削装置は、磨耗して直径が減少した切削ブレードの環状の切れ刃の交換時期および環状の切れ刃の欠けを検出するための切削ブレード検出機構を備えている。   Cutting along the streets of the above-described semiconductor wafers, optical device wafers, and the like is usually performed by a cutting apparatus having a cutting blade called a dicer. The cutting blade is composed of a circular base and an annular cutting blade that is mounted on the outer peripheral side surface of the circular base and protrudes from the outer peripheral edge of the base. The cutting blade configured as described above needs to be replaced when a predetermined amount of the annular cutting edge is worn. For this reason, the cutting device includes a cutting blade detection mechanism for detecting the replacement time of the annular cutting edge of the cutting blade whose diameter has been reduced due to wear and the chipping of the annular cutting edge.

切削装置に装備される切削ブレードの検出機構は、切削ブレードの環状の切れ刃が侵入するブレード侵入部と、該ブレード侵入部に対向して配設される発光手段および受光手段とを備えている。この切削ブレード検出機構は、発光手段が発する光を受光手段が受光し、受光手段が受光した光の光量に対応した電圧に変換することにより、発光手段と受光手段の間のブレード侵入部に位置する切削ブレードの環状の切れ刃の状態を検出する。(例えば、特許文献1参照。)   A cutting blade detection mechanism equipped in a cutting apparatus includes a blade intrusion portion into which an annular cutting blade of the cutting blade enters, and a light emitting means and a light receiving means arranged to face the blade intrusion portion. . The cutting blade detection mechanism is configured such that the light emitted from the light emitting means is received by the light receiving means and converted into a voltage corresponding to the amount of light received by the light receiving means, thereby being positioned at the blade entry portion between the light emitting means and the light receiving means. The state of the annular cutting edge of the cutting blade to be detected is detected. (For example, refer to Patent Document 1.)

特開昭62−53803号公報JP-A-62-53803

而して、上記発光手段および受光手段は、細い光ファイバーを複数束ねて構成されている。このように細い光ファイバーが複数束ねて構成された発光手段は、直径が略1mmの円形の光を発光する。そして、発光手段が発する光を受光手段が受光する受光量が例えば10%になるようにセットし、切削ブレードを構成する環状の切れ刃が磨耗することにより受光手段による受光量が例えば60%に達すると発光手段と受光手段とからなる検出機構を調整して発光手段が発する光を受光手段が受光する受光量が例えば10%になるようにセットし直す。このため、切削ブレードを構成する環状の切れ刃が所定量磨耗する都度、発光手段と受光手段とからなる検出機構を調整しなければならず、その調整作業に多大な時間を要し生産性が悪いという問題がある。   Thus, the light emitting means and the light receiving means are configured by bundling a plurality of thin optical fibers. The light emitting means configured by bundling a plurality of such thin optical fibers emits circular light having a diameter of about 1 mm. Then, the light received by the light receiving means is set so that the amount of light received by the light receiving means is 10%, for example, and the amount of light received by the light receiving means is reduced to, for example, 60% by wear of the annular cutting blade constituting the cutting blade. When it reaches, the detection mechanism composed of the light emitting means and the light receiving means is adjusted, and the light emitted by the light emitting means is reset so that the amount of light received by the light receiving means becomes, for example, 10%. For this reason, every time the annular cutting edge constituting the cutting blade is worn by a predetermined amount, the detection mechanism composed of the light emitting means and the light receiving means must be adjusted, and the adjustment work takes a lot of time and productivity is increased. There is a problem of being bad.

一方、切削ブレードを構成する環状の切れ刃の磨耗量は、切削ブレードの環状の切れ刃を被加工物を保持するチャックテーブルの保持面にコンタクトすることによって基準位置を設定する所謂セットアップ動作を切削作業を実施する際に行うことにより実質的に検出することができる。また、切削ブレードを構成する環状の切れ刃に発生する欠けが被加工物に実質的に悪影響を及ぼすのは環状の切れ刃が基台の外周縁から離脱する全破損する場合である。   On the other hand, the wear amount of the annular cutting edge constituting the cutting blade is determined by a so-called setup operation in which the reference position is set by contacting the annular cutting edge of the cutting blade with the holding surface of the chuck table holding the workpiece. It can be substantially detected by carrying out the work. In addition, the chip generated in the annular cutting edge constituting the cutting blade substantially adversely affects the work piece when the annular cutting edge separates from the outer peripheral edge of the base and is completely damaged.

本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、切削ブレードを構成する環状の切れ刃が基台の外周縁から離脱して全欠損したことを確実に検出することができる切削ブレード検出機構を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-described facts, and provides a cutting blade detection mechanism capable of reliably detecting that the annular cutting edge constituting the cutting blade has detached from the outer peripheral edge of the base and has completely lost. It is to provide.

上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、チャックテーブルに保持された被加工物を切削する環状の切れ刃を備えた切削ブレードの回転軸方向の一方の側に配設された発光手段と、切削ブレードの回転軸方向の他方の側に該発光手段と対向して配設され該発光手段によって照射された光を受光する受光手段と、該受光手段によって受光された光の受光量に基づいて該環状の切れ刃の状態を判定する制御手段と、を具備する切削装置の切削ブレード検出機構において、
該切削ブレードは、円形状の基台と、該円形状の基台の外周部側面に装着され該基台の外周縁から突出して形成された環状の切れ刃とからなり、
該発光手段の発光面および該受光手段の受光面は、該円形状の基台の外周部によって一部が遮光される位置に配設されている、
ことを特徴とする切削装置の切削ブレード検出機構が提供される。
In order to solve the above-mentioned main technical problem, according to the present invention, light emission disposed on one side in the rotational axis direction of a cutting blade having an annular cutting edge for cutting a workpiece held on a chuck table. Means, a light receiving means disposed on the other side in the rotational axis direction of the cutting blade so as to face the light emitting means, and receiving light emitted by the light emitting means, and an amount of light received by the light receiving means A control means for determining the state of the annular cutting edge based on the cutting blade detection mechanism of the cutting device,
The cutting blade is composed of a circular base and an annular cutting blade formed on the outer peripheral side surface of the circular base and protruding from the outer peripheral edge of the base.
The light-emitting surface of the light-emitting means and the light-receiving surface of the light-receiving means are disposed at positions where part of the light is shielded by the outer periphery of the circular base.
A cutting blade detection mechanism for a cutting apparatus is provided.

本発明による切削ブレード検出機構は、発光手段の発光面および該受光手段の受光面が切削ブレードを構成する円形状の基台の外周部によって一部が遮光される位置に配設されているので、発光手段の発光面から発光された光を受光手段の受光面によって受光されることで切削ブレードを構成する環状の切れ刃が円形状の基台の外周縁から離脱し全破損したことを検出することができる。このように本発明による切削ブレード検出機構においては、発光手段の発光面から発光された光を受光手段の受光面によって受光されたか否かだけを検出するので、発光手段および受光手段の位置調整が不要となり、生産性が向上するとともに、致命的な円環状の切れ刃の全破損を確実に検出することができる。   In the cutting blade detection mechanism according to the present invention, the light-emitting surface of the light-emitting means and the light-receiving surface of the light-receiving means are disposed at a position where a part is shielded by the outer periphery of the circular base constituting the cutting blade. The light emitted from the light emitting surface of the light emitting means is received by the light receiving surface of the light receiving means to detect that the annular cutting edge constituting the cutting blade has detached from the outer peripheral edge of the circular base and has been completely damaged. can do. As described above, the cutting blade detection mechanism according to the present invention detects only whether or not the light emitted from the light emitting surface of the light emitting means is received by the light receiving surface of the light receiving means. This eliminates the need for improvement in productivity, and allows for the complete detection of a fatal annular cutting edge.

本発明に本発明に従って構成された切削ブレード検出機構が装備された切削装置の斜視図。The perspective view of the cutting device equipped with the cutting blade detection mechanism comprised according to this invention in this invention. 図1に示す切削装置に装備されるスピンドルユニットの要部斜視図。The principal part perspective view of the spindle unit with which the cutting apparatus shown in FIG. 1 is equipped. 図1に示す切削装置に装備される切削ブレードと本発明に従って構成された切削ブレード検出機構との関係を示す説明図。Explanatory drawing which shows the relationship between the cutting blade with which the cutting apparatus shown in FIG. 1 is equipped, and the cutting blade detection mechanism comprised according to this invention. 図3に示す切削ブレード検出機構を構成する発光手段の発光体および受光手段の受光体と切削ブレードを構成する円環状の切れ刃との関係を示す説明図。Explanatory drawing which shows the relationship between the light-emitting body of the light emission means which comprises the cutting blade detection mechanism shown in FIG. 3, the light-receiving body of a light-receiving means, and the annular | circular shaped cutting blade which comprises a cutting blade.

以下、本発明に従って構成された切削装置の切削ブレード検出機構の好適な実施形態について、添付図面を参照して、更に詳細に説明する。   Hereinafter, a preferred embodiment of a cutting blade detection mechanism of a cutting device configured according to the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

図1には、本発明に従って構成された切削ブレード検出機構を装備した切削装置の斜視図が示されている。図1に示す切削装置1は、略直方体状の装置ハウジング2を具備している。この装置ハウジング2内には、被加工物を保持するチャックテーブル3が切削送り方向である矢印Xで示す方向に移動可能に配設されている。チャックテーブル3は、吸着チャック支持台31と、該吸着チャック支持台31上に配設された吸着チャック32を具備しており、該吸着チャック32の上面である保持面上に被加工物を図示しない吸引手段を作動することによって吸引保持するようになっている。また、チャックテーブル3は、図示しない回転機構によって回転可能に構成されている。なお、チャックテーブル3には、被加工物として後述するウエーハをダイシングテープを介して支持する環状のフレームを固定するためのクランプ33が配設されている。このように構成されたチャックテーブル3は、図示しない切削送り手段によって、矢印Xで示す切削送り方向に移動せしめられるようになっている。   FIG. 1 is a perspective view of a cutting apparatus equipped with a cutting blade detection mechanism constructed according to the present invention. A cutting device 1 shown in FIG. 1 includes a device housing 2 having a substantially rectangular parallelepiped shape. In the apparatus housing 2, a chuck table 3 for holding a workpiece is disposed so as to be movable in a direction indicated by an arrow X that is a cutting feed direction. The chuck table 3 includes a suction chuck support 31 and a suction chuck 32 disposed on the suction chuck support 31. A workpiece is illustrated on a holding surface which is the upper surface of the suction chuck 32. Suction holding is performed by operating a suction means that does not. The chuck table 3 is configured to be rotatable by a rotation mechanism (not shown). The chuck table 3 is provided with a clamp 33 for fixing an annular frame that supports a wafer, which will be described later, as a work piece via a dicing tape. The chuck table 3 configured as described above can be moved in a cutting feed direction indicated by an arrow X by a cutting feed means (not shown).

図1に示す切削装置1は、切削手段としてのスピンドルユニット4を具備している。スピンドルユニット4は、図示しない割り出し送り手段によって図1において矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられるとともに、図示しない切り込み送り手段によって図1において矢印Zで示す切り込み送り方向に移動せしめられるようになっている。このスピンドルユニット4は、図示しない移動基台に装着され割り出し方向である矢印Yで示す方向および切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整されるスピンドルハウジング41と、該スピンドルハウジング41に回転自在に支持された回転スピンドル42と、該回転スピンドル42の前端部に装着された切削ブレード43とを具備している。切削ブレード43は、例えば図2に示すようにアルミニウムによって形成された円形状の基台431と、該基台431の外周部側面にダイヤモンド砥粒をニッケルメッキで固めて厚さが15〜30μmに形成された円環状の切れ刃432からなっている。この円環状の切れ刃432は、基台431の外周縁から0.5〜1.5mm程度突出して設けられている。   A cutting apparatus 1 shown in FIG. 1 includes a spindle unit 4 as cutting means. The spindle unit 4 is moved in an index feed direction indicated by an arrow Y in FIG. 1 by an index feed means (not shown), and is moved in a cut feed direction indicated by an arrow Z in FIG. 1 by a notch feed means (not shown). ing. The spindle unit 4 is mounted on a moving base (not shown) and is adjusted to move in a direction indicated by an arrow Y that is an indexing direction and a direction indicated by an arrow Z that is a cutting direction, and the spindle housing 41 is freely rotatable. And a cutting blade 43 attached to the front end of the rotating spindle 42. The cutting blade 43 has a circular base 431 formed of aluminum, for example, as shown in FIG. 2, and diamond abrasive grains are solidified by nickel plating on the outer peripheral side surface of the base 431 to a thickness of 15 to 30 μm. It consists of a formed annular cutting edge 432. The annular cutting edge 432 is provided so as to protrude from the outer peripheral edge of the base 431 by about 0.5 to 1.5 mm.

図2を参照して説明を続けると、上記スピンドルハウジング41の前端部には、切削ブレード43の上半部を覆うブレードカバー44が取り付けられている。ブレードカバー44は、図示の実施形態においてはスピンドルハウジング41に装着された第1のカバー部材441と、該第1のカバー部材441に装着される第2のカバー部材442とからなっている。第1のカバー部材441の側面には雌ネジ穴441aと2個の位置決めピン441bが設けられており、第2のカバー部材442には上記雌ネジ穴441aと対応する位置に挿通穴442aが設けられている。また、第2のカバー部材442の第1のカバー部材441と対向する面には、上記2個の位置決めピン441bが嵌合する図示しない2個の凹部が形成されている。このように構成された第1のカバー部材441と第2のカバー部材442は、第2のカバー部材442に形成された図示しない2個の凹部を第1のカバー部材441に設けられた2個の位置決めピン441bに嵌合することによって位置決めする。そして、締結ボルト443を第2のカバー部材442の挿通穴442aに挿通し、第1のカバー部材441に設けられた雌ネジ穴441aと螺合することにより、第2のカバー部材442を第1のカバー部材441に装着する。   Continuing with reference to FIG. 2, a blade cover 44 covering the upper half of the cutting blade 43 is attached to the front end of the spindle housing 41. The blade cover 44 includes a first cover member 441 mounted on the spindle housing 41 and a second cover member 442 mounted on the first cover member 441 in the illustrated embodiment. A female screw hole 441a and two positioning pins 441b are provided in the side surface of the first cover member 441, and an insertion hole 442a is provided in a position corresponding to the female screw hole 441a in the second cover member 442. It has been. Further, on the surface of the second cover member 442 facing the first cover member 441, two recesses (not shown) into which the two positioning pins 441b are fitted are formed. The first cover member 441 and the second cover member 442 configured in this way are provided with two recesses (not shown) formed in the second cover member 442 provided in the first cover member 441. The positioning is performed by fitting to the positioning pin 441b. Then, the fastening bolt 443 is inserted into the insertion hole 442a of the second cover member 442, and is screwed into the female screw hole 441a provided in the first cover member 441, whereby the second cover member 442 is engaged with the first cover member 442. The cover member 441 is attached.

上記ブレードカバー44を構成する第1のカバー部材441と第2のカバー部材442には、それぞれ切削水供給管451、452が配設されている。この切削水供給管451、452の下端には、それぞれ切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432の両側にそれぞれ配設され円環状の切れ刃432の両側面に向けて切削水を噴射する切削水供給ノズル461、462が接続されている。なお、上記切削水供給管451、452は、図示しない切削水供給手段に接続されている。   Cutting water supply pipes 451 and 452 are disposed on the first cover member 441 and the second cover member 442 constituting the blade cover 44, respectively. The cutting water supply pipes 451 and 452 are respectively disposed on both sides of an annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43 and sprayed with cutting water toward both side surfaces of the annular cutting edge 432. Cutting water supply nozzles 461 and 462 are connected. The cutting water supply pipes 451 and 452 are connected to a cutting water supply means (not shown).

図示の実施形態におけるスピンドルユニット4のブレードカバー44を構成する第1のカバー部材441には、上記切削ブレード43の円環状の切れ刃432の破損を検出するための切削ブレード検出機構5が配設されている。この切削ブレード検出機構5について図2乃至図4を参照して説明する。   The first cover member 441 constituting the blade cover 44 of the spindle unit 4 in the illustrated embodiment is provided with a cutting blade detection mechanism 5 for detecting breakage of the annular cutting edge 432 of the cutting blade 43. Has been. The cutting blade detection mechanism 5 will be described with reference to FIGS.

図示の実施形態における切削ブレード検出機構5は、図2に示すように上記第1のカバー部材441に締結ボルト51によって取り付けられる取付け部材52と、図3に示すように該取付け部材52に上下方向摺動可能に配設される支持部材53と、該支持部材53の一方側に配設された発光手段6および支持部材53の他方側に配設された受光手段7を具備している。取付け部材52には、第3図に示すように上記支持部材53の厚みに対応する溝幅を有し下方が開放され上下方向に形成された案内溝521が形成されている。この案内溝521に支持部材53が上下方向に摺動可能に配設される。   The cutting blade detection mechanism 5 in the illustrated embodiment includes a mounting member 52 attached to the first cover member 441 by a fastening bolt 51 as shown in FIG. 2, and a vertical direction to the mounting member 52 as shown in FIG. The support member 53 is slidably disposed, the light emitting means 6 is disposed on one side of the support member 53, and the light receiving means 7 is disposed on the other side of the support member 53. As shown in FIG. 3, the mounting member 52 is formed with a guide groove 521 having a groove width corresponding to the thickness of the support member 53 and having a lower opening and a vertical direction. A support member 53 is slidably disposed in the guide groove 521 in the vertical direction.

上記支持部材53は、ステンレス鋼やアルミニウム等の金属材によって上記案内溝521の溝幅と対応する厚みを有する板状に形成され、その下部には上記切削ブレード43を構成する円形状の基台431の外周部および環状の切れ刃432が侵入する切削ブレード侵入凹部531が形成されており、この切削ブレード侵入凹部531の両側に発光体取り付け部532と受光体取り付け部533が設けられている。このように構成された支持部材53は、取付け部材52に形成された案内溝521の上下方向に摺動可能に配設され、取付け部材52に装着された調整ネジ54によって上下方向に移動調節されるようになっている。   The support member 53 is formed of a metal material such as stainless steel or aluminum into a plate shape having a thickness corresponding to the groove width of the guide groove 521, and a circular base that constitutes the cutting blade 43 is formed below the support member 53. A cutting blade entry recess 531 into which the outer peripheral portion of 431 and the annular cutting edge 432 enter is formed, and a light emitter attachment portion 532 and a photoreceptor attachment portion 533 are provided on both sides of the cutting blade entry recess 531. The support member 53 configured in this manner is disposed so as to be slidable in the vertical direction of the guide groove 521 formed in the mounting member 52, and is moved and adjusted in the vertical direction by an adjustment screw 54 mounted on the mounting member 52. It has become so.

上記発光手段6は、図4に示すように支持部材53の発光体取り付け部532に発光面601を上記ブレード侵入凹部531に向けて配設された発光体60と、該発光体60に光を発する光源61とからなっている。発光体60は、断面が円形の複数の光ファイバーを束ねて直径が1mm程度の円形に形成されている。このように構成された発光体60は、図3に示すように支持部材53の発光体取り付け部532に装着される。上記光源61は、例えばレーザー発光ダイオード(LED)からなり、制御手段8によって制御される。   As shown in FIG. 4, the light emitting means 6 includes a light emitter 60 disposed on a light emitter attachment portion 532 of a support member 53 with a light emission surface 601 facing the blade entry recess 531, and light emitted to the light emitter 60. And a light source 61 that emits light. The light emitter 60 is formed in a circular shape having a diameter of about 1 mm by bundling a plurality of optical fibers having a circular cross section. The light emitter 60 configured in this manner is attached to the light emitter attachment portion 532 of the support member 53 as shown in FIG. The light source 61 is composed of a laser light emitting diode (LED), for example, and is controlled by the control means 8.

次に、上記受光手段7について、図4を参照して説明する。
受光手段7は、支持部材53の受光体取り付け部533に受光面701を上記ブレード侵入凹部531に向けて配設された受光体70と、該受光体70によって受光された光の光量に対応した電圧に変換する光電変換器71とからなっている。受光体70は、上記発光体60と同様に断面が円形の複数の光ファイバーを束ねて直径が1mm程度の円形に形成されている。このように構成された受光体70は、図3に示すように支持部材53の受光体取り付け部533に装着され、受光体70が上記発光手段6の発光体60の発光面601と対向して配設される。上記光電変換器71は、受光体70によって受光された光の光量に対応した電圧値に変換し、制御手段8に送る。
Next, the light receiving means 7 will be described with reference to FIG.
The light receiving means 7 corresponds to the light receiving body 70 disposed on the light receiving body mounting portion 533 of the support member 53 with the light receiving surface 701 facing the blade intrusion recess 531, and the amount of light received by the light receiving body 70. It consists of a photoelectric converter 71 that converts voltage. The light receiving body 70 is formed in a circular shape having a diameter of about 1 mm by bundling a plurality of optical fibers having a circular cross section like the light emitting body 60. As shown in FIG. 3, the light receiving body 70 configured in this way is mounted on the light receiving body mounting portion 533 of the support member 53, and the light receiving body 70 faces the light emitting surface 601 of the light emitting body 60 of the light emitting means 6. Arranged. The photoelectric converter 71 converts it into a voltage value corresponding to the amount of light received by the photoreceptor 70 and sends it to the control means 8.

ここで、上記発光手段6を構成する発光体60の発光面601および受光手段7を構成する受光体70の受光面701と切削ブレード43との関係について、図3および図4を参照して説明する。
発光体60の発光面601および受光体70の受光面701は、切削ブレード43を構成する円形状の基台431の外周部によって一部が遮光される位置に配設されている。図示の実施形態においては、発光体60の発光面601の中心P1および受光体70の受光面701の中心P2が切削ブレード43を構成する円形状の基台431の外周縁431aと対応する位置になるように位置付けられる。この発光体60の発光面601および受光体70の受光面701の位置調整は、上記取付け部材52に装着された調整ネジ54によって支持部材53を上下方向に移動調節することにより行われる。
Here, the relationship between the light emitting surface 601 of the light emitting body 60 constituting the light emitting means 6 and the light receiving surface 701 of the light receiving body 70 constituting the light receiving means 7 and the cutting blade 43 will be described with reference to FIG. 3 and FIG. To do.
The light-emitting surface 601 of the light-emitting body 60 and the light-receiving surface 701 of the light-receiving body 70 are disposed at positions where a part thereof is shielded from light by the outer peripheral portion of the circular base 431 constituting the cutting blade 43. In the illustrated embodiment, the center P1 of the light emitting surface 601 of the light emitter 60 and the center P2 of the light receiving surface 701 of the light receiver 70 are at positions corresponding to the outer peripheral edge 431a of the circular base 431 constituting the cutting blade 43. It is positioned to become. The position adjustment of the light emitting surface 601 of the light emitting body 60 and the light receiving surface 701 of the light receiving body 70 is performed by moving and adjusting the support member 53 in the vertical direction by the adjusting screw 54 attached to the mounting member 52.

図示の実施形態における切削ブレード検出機構5は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
切削ブレード43が回転している状態において制御手段8は、発光手段6の光源61を附勢(ON)する。この結果、発光手段6の光源61が発光され、発光された光が発光体60の発光面601から受光手段7を構成する受光体70の受光面701に向けて光が照射される。そして、受光体70の受光面701が受光した光が光電変換器71に伝送され、光電変換器71は受光体70の受光面701が受光した光の光量に対応した電圧信号を制御手段8に出力する。発光体60の発光面601および受光体70の受光面701は、上述したようにそれぞれの中心P1およびP2が切削ブレード43を構成する円形状の基台431の外周縁431aと対応する位置になるように位置付けられているので、切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432が破損して円形状の基台431の外周縁431aから離脱しない状態においては、発光体60の発光面601から照射された光は受光体70の受光面701によって受光されない、又は受光されても後述する閾値に達しない。一方、切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432が破損して円形状の基台431の外周縁431aから離脱すると、発光体60の発光面601の中心P1および受光体70の受光面701の中心P2が切削ブレード43を構成する円形状の基台431の外周縁431aと対応する位置になるように位置付けられているので、発光体60の発光面601から照射された光の50%以上が受光体70の受光面701によって受光される。即ち、制御手段8は、光電変換器71からの検出信号に基づいて、受光体70の受光面701によって受光され受光量が発光体60の発光面601から照射された光の50%(閾値)以上である場合には、切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432が全破損したものと判断し、円環状の切れ刃432が全破損した旨を後述する表示手段に表示する。この結果、オペレータは円環状の切れ刃432が全破損したことを確認することができる。
The cutting blade detection mechanism 5 in the illustrated embodiment is configured as described above, and the operation thereof will be described below.
In a state where the cutting blade 43 is rotating, the control means 8 energizes (ON) the light source 61 of the light emitting means 6. As a result, the light source 61 of the light emitting means 6 emits light, and the emitted light is irradiated from the light emitting surface 601 of the light emitting body 60 toward the light receiving surface 701 of the light receiving body 70 constituting the light receiving means 7. The light received by the light receiving surface 701 of the light receiving body 70 is transmitted to the photoelectric converter 71, and the photoelectric converter 71 sends a voltage signal corresponding to the amount of light received by the light receiving surface 701 of the light receiving body 70 to the control means 8. Output. As described above, the light emitting surface 601 of the light emitting body 60 and the light receiving surface 701 of the light receiving body 70 are positioned so that the respective centers P1 and P2 correspond to the outer peripheral edge 431a of the circular base 431 constituting the cutting blade 43. Therefore, when the annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43 is broken and does not leave the outer peripheral edge 431a of the circular base 431, the light is emitted from the light emitting surface 601 of the light emitter 60. The received light is not received by the light receiving surface 701 of the photoreceptor 70 or does not reach a threshold value described later even if received. On the other hand, when the annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43 is broken and detached from the outer peripheral edge 431 a of the circular base 431, the center P 1 of the light emitting surface 601 of the light emitting body 60 and the light receiving surface 701 of the light receiving body 70. Is positioned so as to correspond to the outer peripheral edge 431a of the circular base 431 constituting the cutting blade 43, so that 50% or more of the light emitted from the light emitting surface 601 of the light emitting body 60 Is received by the light receiving surface 701 of the photoreceptor 70. That is, the control means 8 receives 50% of light received by the light receiving surface 601 of the light emitter 60 and received by the light receiving surface 701 of the light emitter 60 based on the detection signal from the photoelectric converter 71 (threshold). In the case described above, it is determined that the annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43 has been completely damaged, and the fact that the annular cutting edge 432 has been completely damaged is displayed on the display means described later. As a result, the operator can confirm that the annular cutting edge 432 has been completely damaged.

図1に戻って説明を続けると、図示の実施形態における切削装置1は、上記チャックテーブル3上に保持された被加工物の表面を撮像し、上記切削ブレード43によって切削すべき領域を検出するための撮像手段11を具備している。この撮像手段11は、顕微鏡やCCDカメラ等の光学手段からなっている。また、切削装置1は、撮像手段11によって撮像された画像や上記切削ブレード検出機構5の制御手段8による判定結果等を表示する表示手段12を具備している。   Returning to FIG. 1, the description continues and the cutting apparatus 1 in the illustrated embodiment images the surface of the workpiece held on the chuck table 3 and detects an area to be cut by the cutting blade 43. An image pickup means 11 is provided. The imaging means 11 is composed of optical means such as a microscope and a CCD camera. Further, the cutting apparatus 1 includes a display unit 12 that displays an image captured by the imaging unit 11, a determination result by the control unit 8 of the cutting blade detection mechanism 5, and the like.

上記装置ハウジング2におけるカセット載置領域13aには、被加工物を収容するカセットを載置するカセット載置テーブル13が配設されている。このカセット載置テーブル13は、図示しない昇降手段によって上下方向に移動可能に構成されている。カセット載置テーブル13上には、被加工物としての半導体ウエーハ10を収容するカセット14が載置される。カセット14に収容される半導体ウエーハ10は、表面に格子状のストリートが形成されており、この格子状のストリートによって区画された複数の矩形領域にIC、LSI等のデバイスが形成されている。このように形成された半導体ウエーハ10は、環状の支持フレームFに装着されたダイシングテープTの表面に裏面が貼着された状態でカセット14に収容される。   In the cassette mounting area 13a of the apparatus housing 2, a cassette mounting table 13 for mounting a cassette for storing a workpiece is disposed. The cassette mounting table 13 is configured to be movable in the vertical direction by lifting means (not shown). On the cassette mounting table 13, a cassette 14 that houses the semiconductor wafer 10 as a workpiece is placed. The semiconductor wafer 10 accommodated in the cassette 14 has a grid-like street formed on the surface, and devices such as ICs and LSIs are formed in a plurality of rectangular regions partitioned by the grid-like street. The semiconductor wafer 10 thus formed is accommodated in the cassette 14 with the back surface adhered to the front surface of the dicing tape T mounted on the annular support frame F.

また、図示の実施形態における切削装置は、カセット載置テーブル13上に載置されたカセット14に収容されている半導体ウエーハ10(環状のフレームFにダイシングテープTを介して支持されている状態)を仮置きテーブル15に搬出するとともに仮置きテーブル15に戻された切削加工後の半導体ウエーハ10をカセット14に搬入する搬出・搬入手段16と、仮置きテーブル15に搬出された半導体ウエーハ10を上記チャックテーブル3上に搬送する第1の搬送手段17と、チャックテーブル3上で切削加工された半導体ウエーハ10を洗浄する洗浄手段18と、チャックテーブル3上で切削加工された半導体ウエーハ10を洗浄手段18へ搬送する第2の搬送手段19を具備している。   Further, the cutting device in the illustrated embodiment is a semiconductor wafer 10 accommodated in a cassette 14 placed on a cassette placement table 13 (a state in which the wafer is supported on an annular frame F via a dicing tape T). Is carried out to the temporary placement table 15 and the semiconductor wafer 10 after being cut back returned to the temporary placement table 15 is carried into the cassette 14 and the semiconductor wafer 10 carried out to the temporary placement table 15 is transferred to the temporary placement table 15. First transport means 17 for transporting onto the chuck table 3, cleaning means 18 for cleaning the semiconductor wafer 10 cut on the chuck table 3, and cleaning means for the semiconductor wafer 10 cut on the chuck table 3 Second conveying means 19 for conveying to 18 is provided.

次に、上述した切削装置1を用いて半導体ウエーハ10を所定のストリートに沿って切断する切削作業について説明する。
カセット載置テーブル13上に載置されたカセット14の所定位置に収容されている半導体ウエーハ10(環状のフレームFにダイシングテープTを介して支持されている状態)は、図示しない昇降手段によってカセット載置テーブル13が上下動することにより搬出位置に位置付けられる。次に、搬出・搬入手段16が進退作動して搬出位置に位置付けられた半導体ウエーハ10を仮置きテーブル15上に搬出する。仮置きテーブル15に搬出された半導体ウエーハ10は、第1の搬送手段17の旋回動作によって上記チャックテーブル3上に搬送される。
Next, a cutting operation for cutting the semiconductor wafer 10 along a predetermined street using the above-described cutting apparatus 1 will be described.
The semiconductor wafer 10 (supported by the annular frame F via the dicing tape T) accommodated in a predetermined position of the cassette 14 placed on the cassette placing table 13 is moved by the lifting means (not shown). The placement table 13 is positioned at the carry-out position by moving up and down. Next, the carry-out / carry-in means 16 moves forward and backward to carry the semiconductor wafer 10 positioned at the carry-out position onto the temporary placement table 15. The semiconductor wafer 10 transported to the temporary placement table 15 is transported onto the chuck table 3 by the turning motion of the first transport means 17.

チャックテーブル3上に半導体ウエーハ10が載置されたならば、図示しない吸引手段が作動して半導体ウエーハ10をチャックテーブル3上に吸引保持する。また、半導体ウエーハ10をダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFは、上記クランプ33によって固定される。このようにして半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル3は、撮像手段11の直下まで移動せしめられる。チャックテーブル3が撮像手段11の直下に位置付けられると、撮像手段11によって半導体ウエーハ10に形成されているストリートが検出され、スピンドルユニット4を割り出し方向である矢印Y方向に移動調節してストリートと切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432との精密位置合わせ作業が行われる。   When the semiconductor wafer 10 is placed on the chuck table 3, suction means (not shown) is operated to suck and hold the semiconductor wafer 10 on the chuck table 3. An annular frame F that supports the semiconductor wafer 10 via the dicing tape T is fixed by the clamp 33. In this way, the chuck table 3 holding the semiconductor wafer 10 is moved to a position directly below the imaging means 11. When the chuck table 3 is positioned immediately below the image pickup means 11, the street formed on the semiconductor wafer 10 is detected by the image pickup means 11, and the spindle unit 4 is moved and adjusted in the arrow Y direction as the indexing direction to cut the street and cut. A precision alignment operation with the annular cutting edge 432 constituting the blade 43 is performed.

その後、チャックテーブル3を切削ブレード43の下方である切削加工領域に移動し、切削ブレード43を所定方向に回転せしめるとともに、矢印Zで示す方向に所定量切り込み送りし、切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432の最下端がダイシングテープTに達する位置に位置付ける。そして、半導体ウエーハ10を吸引保持したチャックテーブル3を切削送り方向である矢印Xで示す方向に所定の切削送り速度で移動する。この結果、チャックテーブル3上に保持された半導体ウエーハ10は、切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432により所定のストリートに沿って切断される(切削工程)。この切削工程を実施する際には、切削水供給ノズル461、462から切削水が切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432の側面に向けて噴射される。   Thereafter, the chuck table 3 is moved to a cutting region below the cutting blade 43, the cutting blade 43 is rotated in a predetermined direction, and a predetermined amount is cut and fed in the direction indicated by the arrow Z, thereby forming a circle constituting the cutting blade 43. The lower end of the annular cutting edge 432 is positioned at a position where it reaches the dicing tape T. Then, the chuck table 3 holding the semiconductor wafer 10 by suction is moved at a predetermined cutting feed speed in a direction indicated by an arrow X which is a cutting feed direction. As a result, the semiconductor wafer 10 held on the chuck table 3 is cut along a predetermined street by the annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43 (cutting process). When performing this cutting process, cutting water is sprayed from the cutting water supply nozzles 461 and 462 toward the side surface of the annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43.

以上のようにして、半導体ウエーハ10を所定のストリートに沿って切断したら、スピンドルユニット4を図1において矢印Yで示す方向にストリートの間隔だけ割り出し送りし、上記切削工程を実施する。そして、半導体ウエーハ10の所定方向に延在するストリートの全てに沿って切削工程を実施したならば、チャックテーブル3を90度回転させて、半導体ウエーハ10の所定方向と直交する方向に延在するストリートに沿って切削工程を実行することにより、半導体ウエーハ10に格子状に形成された全てのストリートが切削されて個々のデバイスに分割される。なお、分割された個々のデバイスは、ダイシングテープTの作用によってバラバラにはならず、環状のフレームFに支持されたウエーハの状態が維持されている。   When the semiconductor wafer 10 is cut along a predetermined street as described above, the spindle unit 4 is indexed and fed in the direction indicated by the arrow Y in FIG. 1 to perform the cutting process. When the cutting process is performed along all the streets extending in the predetermined direction of the semiconductor wafer 10, the chuck table 3 is rotated 90 degrees to extend in a direction orthogonal to the predetermined direction of the semiconductor wafer 10. By performing the cutting process along the streets, all the streets formed in a lattice shape on the semiconductor wafer 10 are cut and divided into individual devices. The divided individual devices are not separated by the action of the dicing tape T, and the state of the wafer supported by the annular frame F is maintained.

上述したように半導体ウエーハ10のストリートに沿って切削工程が終了したら、半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル3は最初に半導体ウエーハ10を吸引保持した位置に戻される。そして、半導体ウエーハ10の吸引保持を解除する。次に、半導体ウエーハ10は第2の搬送手段19によって洗浄手段18に搬送される。洗浄手段18に搬送された半導体ウエーハ10は、ここで洗浄および乾燥される。このようにして洗浄および乾燥された半導体ウエーハ10は、乾燥後に第1の搬送手段17によって仮置きテーブル15に搬送される。そして、半導体ウエーハ10は、搬出・搬入手段16によってカセット14の所定位置に収納される。   As described above, when the cutting process is completed along the street of the semiconductor wafer 10, the chuck table 3 holding the semiconductor wafer 10 is first returned to the position where the semiconductor wafer 10 is sucked and held. Then, the suction holding of the semiconductor wafer 10 is released. Next, the semiconductor wafer 10 is transferred to the cleaning unit 18 by the second transfer unit 19. The semiconductor wafer 10 conveyed to the cleaning means 18 is cleaned and dried here. The semiconductor wafer 10 thus cleaned and dried is transported to the temporary placement table 15 by the first transport means 17 after drying. Then, the semiconductor wafer 10 is stored in a predetermined position of the cassette 14 by the unloading / loading means 16.

上述した切削工程を実施している際に上記切削ブレード検出機構5も作動し、切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432の状態を監視している。そして、切削ブレード検出機構5の制御手段8は、受光手段を構成する光電変換器71からの検出信号に基づいて、受光体70の受光面701によって受光され受光量が発光体60の発光面601から照射された光の50%以上である場合には、切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432が全破損したものと判断し、円環状の切れ刃432が全破損した旨を表示手段12に表示する。この結果、オペレータは円環状の切れ刃432が全破損したことを確認することができる。このように、図示の実施形態においては、切削ブレード43を構成する円環状の切れ刃432が破損して円形状の基台431の外周縁431aから離脱した状態、即ち受光体70の受光面701によって受光され受光量が発光体60の発光面601から照射された光の50%以上であるか否かだけを判断するので、発光体60の発光面601および受光体70の受光面701の位置調整が不要となり、生産性が向上するとともに、致命的な円環状の切れ刃432の全破損を確実に検出することができる。   When the cutting process described above is performed, the cutting blade detection mechanism 5 is also operated, and the state of the annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43 is monitored. Then, the control means 8 of the cutting blade detection mechanism 5 receives light by the light receiving surface 701 of the light receiving body 70 based on the detection signal from the photoelectric converter 71 constituting the light receiving means, and the amount of received light is the light emitting surface 601 of the light emitting body 60. If it is 50% or more of the light radiated from, it is determined that the annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43 is completely damaged, and an indication means that the annular cutting edge 432 is completely damaged is displayed. 12 is displayed. As a result, the operator can confirm that the annular cutting edge 432 has been completely damaged. Thus, in the illustrated embodiment, the annular cutting edge 432 constituting the cutting blade 43 is broken and detached from the outer peripheral edge 431a of the circular base 431, that is, the light receiving surface 701 of the light receiving body 70. Therefore, it is determined only whether or not the amount of received light is 50% or more of the light emitted from the light emitting surface 601 of the light emitter 60. Therefore, the positions of the light emitting surface 601 of the light emitter 60 and the light receiving surface 701 of the light receiver 70 Adjustment is unnecessary, productivity is improved, and all the damages of the fatal annular cutting edge 432 can be reliably detected.

1:切削装置
2:装置ハウジング
3:チャックテーブル
4:スピンドルユニット
42:回転スピンドル
43:切削ブレード
44:ブレードカバー
461,462:切削水供給ノズル
5:切削ブレード検出機構
52:取付け部材
53:支持部材
6:発光手段
60:発光体
601:発光面
61:光源
7:受光手段
70:受光体
701:受光面
71:光電変換器
8:制御手段
10:半導体ウエーハ
11:撮像手段
12:表示手段
13:カセット載置テーブル
14:カセット
15:仮置きテーブル
16:搬出・搬入手段
17:第1の搬送手段
18:洗浄手段
19:第2の搬送手段
1: Cutting device 2: Device housing 3: Chuck table 4: Spindle unit 42: Rotating spindle 43: Cutting blade 44: Blade cover 461, 462: Cutting water supply nozzle 5: Cutting blade detection mechanism 52: Mounting member 53: Support member 6: Light emitting means 60: Light emitting body 601: Light emitting surface 61: Light source 7: Light receiving means 70: Light receiving body 701: Light receiving surface 71: Photoelectric converter 8: Control means 10: Semiconductor wafer 11: Imaging means 12: Display means 13: Cassette placing table 14: Cassette 15: Temporary placing table 16: Unloading / carrying means 17: First conveying means 18: Cleaning means 19: Second conveying means

Claims (1)

チャックテーブルに保持された被加工物を切削する環状の切れ刃を備えた切削ブレードの回転軸方向の一方の側に配設された発光手段と、切削ブレードの回転軸方向の他方の側に該発光手段と対向して配設され該発光手段によって照射された光を受光する受光手段と、該受光手段によって受光された光の受光量に基づいて該環状の切れ刃の状態を判定する制御手段と、を具備する切削装置の切削ブレード検出機構において、
該切削ブレードは、円形状の基台と、該円形状の基台の外周部側面に装着され該基台の外周縁から突出して形成された環状の切れ刃とからなり、
該発光手段の発光面および該受光手段受光面は、該円形状の基台の外周部によって一部が遮光される位置に配設されている、
ことを特徴とする切削装置の切削ブレード検出機構。
A light emitting means disposed on one side in the rotational axis direction of the cutting blade having an annular cutting edge for cutting the workpiece held on the chuck table, and a light emitting means disposed on the other side in the rotational axis direction of the cutting blade. Light receiving means disposed opposite to the light emitting means for receiving light emitted by the light emitting means, and control means for determining the state of the annular cutting edge based on the amount of light received by the light receiving means In a cutting blade detection mechanism of a cutting apparatus comprising:
The cutting blade is composed of a circular base and an annular cutting blade formed on the outer peripheral side surface of the circular base and protruding from the outer peripheral edge of the base.
The light-emitting surface of the light-emitting means and the light-receiving means light-receiving surface are disposed at positions where a part thereof is shielded from light by the outer peripheral portion of the circular base.
A cutting blade detection mechanism for a cutting apparatus.
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