JP2012044506A

JP2012044506A - 画像読取装置、および、欠陥画素検出方法

Info

Publication number: JP2012044506A
Application number: JP2010184760A
Authority: JP
Inventors: Atsushi Sasaki; 敦史佐々木
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2010-08-20
Filing date: 2010-08-20
Publication date: 2012-03-01

Abstract

【課題】リニアリティ不良の検出によって、従来よりも精度良く欠陥画素の検出を行う
技術を提供することを目的とする。
【解決手段】画像読取装置５０は、複数の光電変換素子が配列された撮像部を備え、光
電変換素子によって基準面を読み取ったデータに基づいてシェーディング補正を行うシェ
ーディング補正部と、シェーディング補正部によってシェーディング補正されたデータを
用いて、隣接する光電変換素子間の出力差を判定し、当該判定結果に基づいて欠陥画素を
検出する欠陥画素検出部と、を備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、画像読取装置、および、欠陥画素検出方法に関する。

スキャナー装置には、欠陥画素として検出された画素を使用せずに、その隣接もしくは
近隣の画素で代用する「欠陥画素補正」という処理を行う機能がある（例えば、特許文献
１）。

従来から、欠陥画素の検出には、リニアリティ不良を検出することが好ましいことが知
られている。ここで、リニアリティとは、光量に対して注目画素の出力が比例しているこ
とを指す。

リニアリティ不良を検出するためには、光量を正確に制御し、その光量に対して注目画
素の出力が比例しているか否か判定する必要がある。

特開２０００−９２３９７号

しかし、光源（例えば、ＬＥＤ）の点灯時間で光量を制御する場合には、正確に光量を
制御できる保障はないため、リニアリティ不良の検出は欠陥画素の検出には採用されてい
ない。

本発明は、リニアリティ不良の検出によって、従来よりも精度良く欠陥画素の検出を行
う技術を提供することを目的とする。

上記課題を解決するための本願発明は、複数の光電変換素子が配列された撮像部を備え
る画像読取装置であって、前記光電変換素子によって基準面を読み取ったデータに基づい
てシェーディング補正を行うシェーディング補正部と、前記シェーディング補正部によっ
てシェーディング補正されたデータを用いて、隣接する光電変換素子間の出力差を判定し
、当該判定結果に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出部と、を備える。

本発明の画像読取装置５０の概略構成の一例を示すブロック図である。（Ａ）シェーディング補正後の読取画像（各画素）の出力値を示す図である。（Ｂ）シェーディング補正後の読取画像（各画素）の出力値を示す図である。隣接する画素間の出力差を判定してリニアリティ不良の画素を検出する処理を説明するための図である。画像読取装置５０で実行される欠陥画素検出処理の一例を説明するためのフローチャートである。

以下、本発明の実施形態の一例を図面を参照して説明する。

図１は、本発明の一実施形態が適用された画像読取装置５０の概略構成の一例を示すブ
ロック図である。

画像読取装置５０は、筐体の上面に原稿台（不図示）を備えた、いわゆるフラットベッ
ド型画像読取装置である。画像読取装置５０は、イメージセンサー（固体撮像素子）２２
０を走査して、透明板の原稿台に載置された原稿の画像を読み取る。

また、画像読取装置５０は、シェーディング補正を行うために使用する白基準データを
生成するための機構を有している。本実施形態では、画像読取装置５０は、例えば、筐体
の上面に反射率の高い均一な反射面である白基準板（不図示）を備えている。画像読取装
置５０は、ＬＥＤ光源２１０を発光（点灯）させて、イメージセンサー２２０により白基
準板を読み取る。

また、一般的なシェーディング補正には黒基準データも使用されるが、画像読取装置５
０は、黒基準データを生成するための特別な機構を備えない。画像読取装置５０は、例え
ば、ＬＥＤ光源２１０を消灯させた状態で画像データを読み取ることにより、黒基準デー
タを生成する。

画像読取装置５０は、図示するように、ＬＥＤ光源２１０及びイメージセンサー２２０
を搭載したキャリッジ２００と、キャリッジ２００の移動を制御する駆動機構３００と、
画像読取装置５０の全体を制御し、画像を読み取るための種々の処理を行うコントローラ
ー１００と、を備えている。

キャリッジ２００は、イメージセンサー２２０を、ＬＥＤ光源２１０とともに副走査方
向に運搬する。キャリッジ２００は、原稿台の盤面に対し平行なガイド用のシャフト等に
スライド自在に係止されており、駆動機構３００のモーター（例えば、ＤＣモーター）に
より回転するベルトにより牽引される。キャリッジ２００の移動量は、駆動機構３００の
モーターの回転量に応じてパルスを出力するエンコーダーの出力値により制御される。

ＬＥＤ光源２１０は、赤色（Ｒ）ＬＥＤ、緑色（Ｇ）ＬＥＤ、青色（Ｂ）ＬＥＤからな
り、ＲＧＢの３色の光を所定の順序で発生する。本実施形態では、ＬＥＤ光源２１０は、
通常の原稿又は白基準板の１ライン分の読み取りを行う場合には、赤色ＬＥＤ、緑色ＬＥ
Ｄ、青色ＬＥＤの順に光を発生する。そして、原稿の画像データ又は白基準データの生成
に必要なライン数分の読み取りを行うために、同様の発光動作を繰り返す。各色のＬＥＤ
の発光時間は、色ごとに予め定められており、点灯してからその定められた時間が経過し
たときに、消灯する。なお、１ライン分の読み取りを行う場合の発光順序は、ＲＧＢの順
序に限られない。

イメージセンサー２２０は、原稿に反射した光を受光し、受光量に応じた電荷を蓄積し
、画像読取データ（電気信号）として、コントローラー１００に送る。

イメージセンサー２２０は、主走査方向に並んだ複数のセンサーチップからなる。各セ
ンサーチップは、通常のＣＩＳ（Contact Image Sensor）やＣＣＤ（Charge Coupled Dev
ice）イメージセンサーと同様の構成を備えている。すなわち、各センサーチップは、光
電変換素子（フォトダイオード）と、シフトゲートと、シフトレジスターと、を備える。
そして、光電変換素子に蓄積された電荷を、シフトゲートを開通させてシフトレジスター
へ転送し、シフトレジスターにより電荷を順次移動させながら出力する。

シフトゲートの開通（電荷の転送）は、シフトパルス（後述する読取制御部１２０から
の信号）の印加に応答して行われる。光電変換素子は、常時、光の受光量に応じて電荷を
蓄積しているため、電荷のシフトレジスターへの転送タイミングが、次の発光色の光につ
いての電荷を蓄積する開始タイミングとなる。シフトレジスターに転送された電荷は、シ
フトレジスターの末端の出力部より、電気信号（アナログデータ）に変換されて、後述す
るＡ／Ｄ変換部１１０に送られる。

シフトレジスターに格納された電荷の出力は、所定の読み出しクロック（後述する読取
制御部１２０からの信号）に応答して行われる。例えば、１クロック毎に１画素の電荷が
アナログデータとして出力される。

コントローラー１００は、アナログ処理を行う（例えば、イメージセンサー２２０から
出力されたアナログデータをデジタルデータに変換する）Ａ／Ｄ変換部１１０と、Ａ／Ｄ
変換部１１０から出力されたデジタルデータに対して各種補正を行うデータ補正処理部１
３０と、データ補正処理部１３０が各種補正を行うためのデジタルデータ（上述した白基
準データや黒基準データ）を記憶する記憶部１４０と、データ補正処理部１３０からのデ
ータをパーソナルコンピューターなどのホストに送るための出力部１５０と、コントロー
ラー１００内の各機能部を全体的に制御するとともに、キャリッジ２００内のＬＥＤ光源
２１０やイメージセンサー２２０、及び、駆動機構３００を制御する読取制御部１２０と
、を備えている。

読取制御部１２０は、駆動機構３００のモーターの回転を制御することにより、キャリ
ッジ２００の移動を制御する。

また、読取制御部１２０は、イメージセンサー２２０による、画像読み取り、白基準デ
ータの読み取り、黒基準データの読み取り、を制御する。

具体的には、読取制御部１２０は、イメージセンサー２２０に対してシフトパルスの提
供を行い、光電変換素子に蓄積された電荷のシフトレジスターへの転送タイミング（次の
電荷蓄積の開始タイミング）を制御する。また、読取制御部１２０は、イメージセンサー
２２０に対して読み出しクロックの供給を行い、シフトレジスターに格納されている電荷
のＡ／Ｄ変換部１１０への出力を制御する。

また、読取制御部１２０は、イメージセンサー２２０の読み取り動作に合わせて、ＬＥ
Ｄ光源２１０の点灯、消灯を制御する。

Ａ／Ｄ変換部１１０は、ＩＣ（いわゆる、アナログフロントエンドＩＣ）によって構成
される。Ａ／Ｄ変換部１１０は、入力されたアナログデータをデジタルデータに変換（量
子化）し、データ補正処理部１３０に出力する。

データ補正処理部１３０は、Ａ／Ｄ変換部１１０から出力されたデジタルデータに対し
て、シェーディング補正、ガンマ補正、欠陥画素補正などの各種補正を施して、出力部１
５０に出力する。

例えば、データ補正処理部１３０は、図示するように、シェーディング補正を行うシェ
ーディング補正部１３１と、ガンマ補正を行うガンマ補正部１３３と、欠陥画素の補正を
行う欠陥画素補正部１３２と、を有する。

シェーディング補正部１３１は、Ａ／Ｄ変換部１１０から出力された白基準データおよ
び黒基準データを、それぞれ記憶部１４０に格納する。

ここで、記憶部１４０は、データ補正処理部１３０が各種補正処理を行うためのデータ
を記憶するメモリーなどによって実現される。具体的には、記憶部１４０は、白基準デー
タを記憶する白基準データＤＢ１４１と、黒基準データを記憶する黒基準データＤＢ１４
２と、を有する。

また、シェーディング補正部１３１は、記憶部１４０に格納された白基準データと黒基
準データを用いて、Ａ／Ｄ変換部１１０から出力された読取画像（画像データ）に対して
、対応する画素ごとに、所定の補正式に従ったシェーディング補正を行う。

ところで、図２（Ａ）は、シェーディング補正前の読取画像（各画素）の出力値を示す
図である。図示する例のように、シェーディング補正前の読取画像（各画素）には、画素
毎の出力値にバラツキがみられる。例えば、図示する「画素１」や「画素３」は、特に、
暗部出力に異常がある（光量に対して過度に大きい出力値となる）ため、暗部出力を参照
すれば、リニアリティ不良の画素を特定できる。しかし、実際には、暗部出力が異常であ
ってもリニアリティは良好である画素や、暗部出力が正常であってもリニアリティ不良の
画素が存在することがあるため、暗部出力のみを参照してもリニアリティ不良を精度良く
特定することはできない。

これに対して、図２（Ｂ）は、シェーディング補正後の読取画像（各画素）の出力値を
示す図である。図示する例のように、シェーディング補正後の読取画像（各画素）には、
画素毎の出力値にバラツキはみられず、暗部出力に異常もみられない。そのため、シェー
ディング補正前の読取画像よりも、シェーディング補正後の読取画像のほうが、リニアリ
ティ不良の検出に適している。

そこで、本実施形態の欠陥画素補正部１３２は、シェーディング補正前にリニアリィ不
良の検出をせずに、シェーディング補正後の読取画像（画像データ）を用いて、リニアリ
ティ不良の検出を行う。

図３は、リニアリティ不良の画素を検出する処理を説明するための図である。

上述した通り、ＬＥＤ光源２１０の点灯時間でイメージセンサー２２０に入射する光量
を正確に制御することは難しい。そのため、１つの画素について光量を変化させ、その変
化に応じて変化する出力値をみても、リニアリティ不良の画素を正確に検出できる保障は
ない。

そこで、本実施形態の欠陥画素補正部１３２は、図示するように、シェーディング補正
後の読取画像（画像データ）の隣接する画素（光電変換素子）間の出力差を判定すること
によって、リニアリティ不良の画素を検出する。

なお、リニアリティ不良の画素であるかどうかの判定は、所定の判定値を用いて行う。
例えば、欠陥画素補正部１３２は、注目画素とその両隣接画素との間の出力差がともに所
定の判定値を超えている場合に、その注目画素をリニアリティ不良の画素として特定する
。

図示する例では、「画素２」は、隣接する「画素１」との間の出力差が所定の判定値を
超えており、反対側に隣接する「画素３」との間の出力差も所定の判定値も超えているた
め、リニアリティ不良の画素と判定される。

欠陥画素補正部１３２は、読取画像（画像データ）を構成する全ての画素について、上
記のようにリニアリティ不良か否か判定して、リニアリティ不良の画素を検出する。

そして、欠陥画素補正部１３２は、リニアリティ不良として検出された画素を、欠陥画
素とする。

それから、欠陥画素補正部１３２は、欠陥画素が存在している場合には、検出した欠陥
画素については、隣接する画素、或いは、近隣の画素の出力値で代用する。もちろん、隣
接する画素、或いは、近隣の画素の出力値そのもので代用せずに、所定の演算を加えた値
で代用してもよい。

図１に戻り、ガンマ補正部１３３は、Ａ／Ｄ変換部１１０から出力された読取画像（或
いは、シェーディング補正後の読取画像）に対して、出力画像がより自然に近い表示を行
うためのガンマ補正を行う。具体的には、ガンマ補正部１３３は、Ｄ＝Ｅ^γの補正式に従
ってガンマ補正を行う。ただし、Ｄは補正後の画素の出力値を表し、Ｅは補正前の画素の
出力値を表し、γはガンマ値を表す。

出力部１５０は、ネットワーク接続やＵＳＢ接続を行うためのインターフェイスを備え
、データ補正処理部１３０から出力されたデジタルデータを、ホストコンピューターに送
信する。

上記のコントローラー１００の主な構成要素は、演算装置であるＣＰＵと、プログラム
等が記録されたＲＯＭと、メインメモリーとしてデータ等を一時的に格納するＲＡＭと、
ホスト等との入出力を制御するインターフェイスと、各構成要素間の通信通路となるシス
テムバスと、を備えた一般的なコンピューターにより達成することができる。特定の処理
を専用に行うように設計されたＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）
を含んで、又は、ＡＳＩＣにより構成されていてもよい。

本実施形態が適用された画像読取装置５０は、以上のような構成からなる。ただし、こ
の構成は、本願発明の特徴を説明するにあたって主要構成を説明したのであって、上記の
構成に限られない。また、一般的な画像読取装置が備える他の構成を排除するものではな
い。また、画像読取装置５０は、さらにプリント機能や、ファクシミリ機能を有する複合
機であってもよい。また、Ａ／Ｄ変換部１１０は、キャリッジ２００内の基板に搭載され
ていてもよい。

また、上記した各構成要素は、画像読取装置５０の構成を理解容易にするために、主な
処理内容に応じて分類したものである。構成要素の分類の仕方や名称によって、本願発明
が制限されることはない。画像読取装置５０の構成は、処理内容に応じて、さらに多くの
構成要素に分類することもできる。また、１つの構成要素がさらに多くの処理を実行する
ように分類することもできる。また、各構成要素の処理は、１つのハードウェアで実行さ
れてもよいし、複数のハードウェアで実行されてもよい。

次に、上記構成からなる画像読取装置５０の特徴的な動作について説明する。

＜欠陥画素検出処理＞
図４は、本実施形態の画像読取装置５０で実行される欠陥画素検出処理の一例を説明す
るためのフローチャートである。

画像読取装置５０のシェーディング補正部１３１は、Ａ／Ｄ変換部１１０から読取画像
が供給されると、本フローを開始する。なお、本フローを開始前に、シェーディング補正
部１３１は、シェーディング補正に用いるデータ（白基準データ、黒基準データ）を作成
し、記憶部１４０に格納しておく。

本フローを開始すると、シェーディング補正部１３１は、Ａ／Ｄ変換部１１０から供給
された読取画像に対して、シェーディング補正を行う（ステップＳ１０１）。

シェーディング補正後の読取画像の出力は、図２（Ｂ）に示すように、画素毎の出力値
にバラツキはみられず、暗部出力に異常もみられない。

また、ガンマ補正部１３３は、シェーディング補正された読取画像に対して、ガンマ補
正を行う。

それから、欠陥画素補正部１３２は、読取画像を構成する各画素がリニアリティ不良の
画素であるかどうかの判定するための判定値を決定する（ステップＳ１０２）。

なお、ここでのリニアリティ不良の検出に用いる判定値は、種々の方法によって決定す
ることができる。

（判定値１）
例えば、ステップＳ１０２では、欠陥画素補正部１３２は、予め記憶部１４０に格納さ
れている判定値を読み出し、読み出した判定値をリニアリティ不良の検出に用いる判定値
として決定する。

（判定値２）
また、ステップＳ１０２において、欠陥画素補正部１３２は、読取画像のライン毎に、
１ライン分の出力値の平均値を求め、求めた平均値に基づいて判定値を算出してもよい。
このとき、例えば、求めた平均値をそのまま判定値としてもよいし、求めた平均値に所定
の演算を施して得られる値を判定値としてもよい。

（判定値３）
また、欠陥画素補正部１３２は、本フローの開始前に、１ライン分の出力値の平均値が
所定範囲内になるように、ＬＥＤ光源２１０からイメージセンサー２２０へ入射する光量
を調整する指示を読取制御部１２０へ通知しておいてもよい。このとき、読取制御部１２
０は、欠陥画素補正部１３２から通知された指示に基づいて、画像読取の制御を行う。こ
うして、欠陥画素補正部１３２は、１ライン分の出力値の平均値が所定範囲内である読取
画像を得ることができる。それから、欠陥画素補正部１３２は、予め記憶部１４０に格納
されている判定値を読み出し、読み出した判定値をリニアリティ不良の検出に用いる判定
値として決定する。

（判定値４）
また、ステップＳ１０２において、欠陥画素補正部１３２は、読取画像のライン毎に、
ＬＥＤ光源２１０からイメージセンサー２２０へ入射された光量に応じて、判定値を算出
してもよい。具体的には、欠陥画素補正部１３２は、イメージセンサー２２０へ入射され
る光量毎に、異なる判定値を予め設定しておく（例えば、記憶部１４０に記憶しておく）
。そして、欠陥画素補正部１３２は、ＬＥＤ光源２１０からイメージセンサー２２０へ入
射される光量を特定し、特定した光量に対応する判定値を、リニアリティ不良の検出する
判定値として決定する。ここで、ＬＥＤ光源２１０からイメージセンサー２２０へ入射さ
れる光量を特定する方法としては、例えば、欠陥画素補正部１３２が読取制御部１２０（
或いはＬＥＤ光源２１０）から取得するようにすればよい。

こうすることにより、イメージセンサー２２０へ入射される光量が少ない場合には、判
定値を小さい値に設定することができ、イメージセンサー２２０へ入射される光量が少な
い場合に特に目立つ画像の劣化を防ぐことができる。

（判定値５）
また、欠陥画素補正部１３２は、ＬＥＤ光源２１０からイメージセンサー２２０へ入射
された光量と、ガンマ補正に用いたガンマ値と、に応じて、判定値を算出するようにして
もよい。この場合にも、欠陥画素補正部１３２は、イメージセンサー２２０へ入射される
光量と、ガンマ値と、の組み合わせ毎に、異なる判定値を予め設定しておく。そして、欠
陥画素補正部１３２は、ＬＥＤ光源２１０からイメージセンサー２２０へ入射される光量
を特定し、さらに、ステップＳ１０１で実施したガンマ補正に用いたガンマ値を特定して
、特定した光量及びガンマ値の組み合わせに対応する判定値を、リニアリティ不良の検出
する判定値として決定する。

欠陥画素補正部１３２は、ステップＳ１０２で判定値を決定すると、処理をステップＳ
１０３に移行する。

そして、欠陥画素補正部１３２は、ステップＳ１０２で決定した判定値を用いて、欠陥
画素の検出を行う（ステップＳ１０３）。

具体的には、欠陥画素補正部１３２は、上述したように、リニアリティ不良の検出を行
う。すなわち、欠陥画素補正部１３２は、シェーディング補正後の読取画像について、図
３に示すように、注目画素とその両隣接画素との間の出力差がともにステップＳ１０２で
決定した判定値を超えている場合に、その注目画素をリニアリティ不良の画素として特定
する。

そして、欠陥画素補正部１３２は、特定したリニアリティ不良の画素を欠陥画素として
、欠陥画素補正を行う。ここで、欠陥画素補正の方法については、特に限定するものでは
ないが、例えば、欠陥画素補正部１３２は、欠陥画素の出力値を、当該欠陥画素に隣接す
る画素、或いは、近隣の画素の出力値で代用する。

欠陥画素として特定した全ての画素に対して欠陥画素補正を終えると、欠陥画素補正部
１３２は、欠陥画素補正後の読取画像を、出力部１５０へ転送して本フローを終了する。
これに応じて、出力部１５０は、欠陥画素補正部１３２から転送された読取画像をホスト
等へ出力する。

以上の欠陥画素検出処理を行うことにより、本実施形態の画像読取装置５０は、リニア
リティ不良の検出によって、従来よりも精度良く欠陥画素の検出を行うことができる。

なお、上記した各フローの各処理単位は、画像読取装置５０を理解容易にするために、
主な処理内容に応じて分割したものである。処理ステップの分類の仕方やその名称によっ
て、本願発明が制限されることはない。画像読取装置５０が行う処理は、さらに多くの処
理ステップに分割することもできる。また、１つの処理ステップが、さらに多くの処理を
実行してもよい。

また、上記の実施形態は、本発明の要旨を例示することを意図し、本発明を限定するも
のではない。多くの代替物、修正、変形例は当業者にとって明らかである。

例えば、上記の実施形態では、リニアリティ不良の検出に用いる判定値を、読取画像の
ライン毎に決定している。しかし、本発明は、これに限定されず、例えば、１ページ毎に
決定するようにしてもよい。

また、上記の実施形態では、判定値の具体的な値については特に限定していないが、例
えば、上記の「判定値４」、「判定値５」は、注目画素と隣接画素との間の出力差が、ガ
ンマ補正後の８ビットデータ（画素）で±３ＬＳＢ（Least Significant Bit）となる値
にする。

また、「判定値５」は、光量が２％、ガンマ値が２．２である場合には、注目画素と隣
接画素との間の出力差が、例えば、ガンマ補正後の１６ビットデータ（画素）で―１８９
ＬＳＢから＋２０５ＬＳＢの範囲となる値にする。また、光量が１０％、ガンマ値が２．
２である場合には、注目画素と隣接画素との間の出力差が、例えば、ガンマ補正後の１６
ビットデータ（画素）で―４６５ＬＳＢから＋４８４ＬＳＢの範囲となる値にする。また
、光量が５０％、ガンマ値が２．２である場合には、注目画素と隣接画素との間の出力差
が、例えば、ガンマ補正後の１６ビットデータ（画素）で―１１４２ＬＳＢから＋１１６
４ＬＳＢの範囲となる値にする。また、光量が２％、ガンマ値が１．８である場合には、
注目画素と隣接画素との間の出力差が、例えば、ガンマ補正後の１６ビットデータ（画素
）で―２３０ＬＳＢから＋２５０ＬＳＢの範囲となる値にする。また、光量が１０％、ガ
ンマ値が１．８である場合には、注目画素と隣接画素との間の出力差が、例えば、ガンマ
補正後の１６ビットデータ（画素）で―４８３ＬＳＢから＋５００ＬＳＢの範囲となる値
にする。また、光量が５０％、ガンマ値が１．８である場合には、注目画素と隣接画素と
の間の出力差が、例えば、ガンマ補正後の１６ビットデータ（画素）で―１００５ＬＳＢ
から＋１０１９ＬＳＢの範囲となる値にする。

５０・・・画像読取装置、１００・・・コントローラー、１１０・・・Ａ／Ｄ変換部、１
２０・・・読取制御部、１３０・・・データ補正処理部、１３１・・・シェーディング補
正部、１３２・・・欠陥画素補正部、１３３・・・ガンマ補正部、１４０・・・記憶部、
１４１・・・白基準データＤＢ、１４２・・・黒基準データＤＢ、１５０・・・出力部、
２００・・・キャリッジ、２１０・・・ＬＥＤ光源、２２０・・・イメージセンサー、３
００・・・駆動機構

Claims

複数の光電変換素子が配列された撮像部を備える画像読取装置であって、
前記光電変換素子によって基準面を読み取ったデータに基づいてシェーディング補正を
行うシェーディング補正部と、
前記シェーディング補正部によってシェーディング補正されたデータを用いて、隣接す
る光電変換素子間の出力差を判定し、当該判定結果に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画
素検出部と、を備える、
ことを特徴とする画像読取装置。
請求項１に記載の画像読取装置であって、
前記欠陥画素検出部は、
両隣の光電変換素子との前記出力差がともに１ラインの平均値を超えている場合に、当
該光電変換素子を欠陥画素として検出する、
ことを特徴とする画像読取装置。
請求項２に記載の画像読取装置であって、
前記撮像部は、
前記平均値が所定範囲内になるように前記光電変換素子に入射する光量を調整する、
ことを特徴とする画像読取装置。
請求項１に記載の画像読取装置であって、
前記欠陥画素検出部は、
隣接する光電変換素子間の出力差が、当該光電変換素子に入射する光量に応じて定めら
れる閾値を超えている場合に、当該光電変換素子を欠陥画素として検出する、
ことを特徴とする画像読取装置。
複数の光電変換素子が配列された撮像部を備える画像読取装置における欠陥画素検出方
法であって、
前記光電変換素子によって基準面を読み取ったデータに基づいてシェーディング補正を
行うシェーディング補正ステップと、
前記シェーディング補正ステップでシェーディング補正されたデータを用いて、隣接す
る光電変換素子間の出力差を判定し、当該判定結果に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画
素検出ステップと、を行う、
ことを特徴とする欠陥画素検出方法。