JP2012038915A - Solar battery and method of manufacturing the same - Google Patents

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Hidetaka Takato
秀尚 高遠
Isao Sakata
功 坂田
Yasuo Kikuchi
靖雄 菊地
Mose Win
モーソー ウィン
Toshiyuki Goshima
敏之 五島
Takahiro Sato
貴裕 佐藤
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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Abstract

【課題】裏面側に部分コンタクト構造をもつ高効率の結晶シリコン太陽電池をより簡易な作製工程で、かつ、より低コストで実現する技術を提供する。
【解決手段】本発明の太陽電池は、単結晶シリコンまたは多結晶シリコンからなる第一導電型の結晶シリコン基板と、該結晶シリコン基板の受光面側に形成された第二導電型の不純物拡散層と、該結晶シリコン基板の受光面側の不純物拡散層表面に形成された第一電極と、該結晶シリコン基板の裏面側に形成された第二電極と、該結晶シリコン基板の裏面側表面に形成された、複数の開口部を有するポリイミドまたはポリアミドイミドの裏面反射層と、を備える。そして、該第二電極は、該結晶シリコン基板の裏面側表面と該複数の開口部を通してコンタクトを形成する。
【選択図】図2
The present invention provides a technique for realizing a highly efficient crystalline silicon solar cell having a partial contact structure on the back surface side with a simpler manufacturing process and at a lower cost.
A solar cell of the present invention includes a first conductivity type crystalline silicon substrate made of single crystal silicon or polycrystalline silicon, and a second conductivity type impurity diffusion layer formed on the light receiving surface side of the crystal silicon substrate. A first electrode formed on the surface of the impurity diffusion layer on the light receiving surface side of the crystalline silicon substrate, a second electrode formed on the back surface side of the crystalline silicon substrate, and a back surface surface of the crystalline silicon substrate. And a back reflective layer of polyimide or polyamideimide having a plurality of openings. The second electrode forms a contact with the back surface of the crystalline silicon substrate and the plurality of openings.
[Selection] Figure 2

Description

本発明は、太陽電池の構造およびその製造方法に関し、特に単結晶シリコンまたは多結晶シリコンからなる結晶シリコン基板を用いた太陽電池の構造およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a structure of a solar cell and a manufacturing method thereof, and more particularly to a structure of a solar cell using a crystalline silicon substrate made of single crystal silicon or polycrystalline silicon and a manufacturing method thereof.

単結晶シリコン基板や多結晶シリコン基板を用いた結晶シリコン太陽電池において、その高効率化および低価格化は重要な課題となっている。   In a crystalline silicon solar cell using a single crystal silicon substrate or a polycrystalline silicon substrate, high efficiency and low cost are important issues.

図1は、現在主に用いられている結晶シリコン太陽電池の構造を示す図面である。現在主に用いられている結晶シリコン太陽電池は、結晶シリコン基板1、拡散層2、表面反射防止膜3、BSF(back surface field)層4、第一電極5(受光面側の電極)、第二電極
6(裏面側の電極)を備える。
FIG. 1 is a view showing the structure of a crystalline silicon solar cell mainly used at present. The crystalline silicon solar cell mainly used at present is composed of a crystalline silicon substrate 1, a diffusion layer 2, a surface antireflection film 3, a BSF (back surface field) layer 4, a first electrode 5 (electrode on the light receiving surface side), a first electrode. Two electrodes 6 (electrodes on the back side) are provided.

各電極の形成について、受光面側の電極(図1の第一電極5)は銀(Ag)ペーストを、裏面側の電極(図1の第二電極6)はアルミニウム(Al)ペーストを塗布し、焼成することにより形成される。   Regarding the formation of each electrode, the electrode on the light receiving surface side (first electrode 5 in FIG. 1) is coated with silver (Ag) paste, and the electrode on the back surface side (second electrode 6 in FIG. 1) is coated with aluminum (Al) paste. It is formed by firing.

しかしながら、現在主に用いられている結晶シリコン太陽電池は、特に裏面側において、シリコンとアルミニウムとの熱膨張係数の違いから、焼成後に基板が反ってしまうこと、キャリアの再結合が大きいこと、反射率が小さいことといった問題点を抱えている。これらの問題点は太陽電池の高効率化の障害となる。また、太陽電池の厚さを薄くしようとする場合、これらの問題点は太陽電池の高効率化のより顕著な障害となる。   However, the crystalline silicon solar cells mainly used at present are warped after firing due to the difference in thermal expansion coefficient between silicon and aluminum, especially on the back side, the recombination of carriers is large, the reflection There is a problem that the rate is small. These problems are obstacles to improving the efficiency of solar cells. Further, when trying to reduce the thickness of the solar cell, these problems become more significant obstacles to the increase in efficiency of the solar cell.

これらの問題点を解決する手法として、結晶シリコン太陽電池の裏面側の構造をAlペーストによる全面電極ではなく、裏面の一部分に電極を形成し、そのほかの部分をシリコン酸化膜やシリコン窒化膜(SiN膜)といった表面パッシベーション膜で裏面を覆うように
した構造の裏面ポイントコンタクトセルが提案されている(非特許文献1, 2)。しかし
ながら、非特許文献1および2において提案されている手法では、裏面にシリコン酸化膜
やSiN膜を形成した後、フォトリソグラフィとエッチングとを用いて膜に孔をあけること
で、コンタクトが形成されているため、コストの観点からは望ましくない。また、コンタクトを形成する方法に関して、特許文献1では、ダイシングソーを用いる方法や、レーザを用いる方法が提示されている。しかしながら、膜を全面に堆積してから、コンタクトの孔をあける方法では、作製行程が複雑となる問題があった。
As a technique to solve these problems, the structure on the back side of the crystalline silicon solar cell is formed not on the entire surface electrode with Al paste but on the back surface, and the other part is formed with a silicon oxide film or silicon nitride film (SiN). A back surface point contact cell having a structure in which the back surface is covered with a front surface passivation film (non-patent documents 1 and 2) has been proposed. However, in the methods proposed in Non-Patent Documents 1 and 2, after forming a silicon oxide film or SiN film on the back surface, a contact is formed by opening a hole in the film using photolithography and etching. Therefore, it is not desirable from the viewpoint of cost. In addition, regarding a method of forming a contact, Patent Document 1 proposes a method using a dicing saw and a method using a laser. However, the method of forming the contact hole after the film is deposited on the entire surface has a problem that the manufacturing process is complicated.

また、裏面側の反射率の向上は、表面パッシベーション膜とアルミニウムや銀で形成された電極からの反射を増加させることにより行われている。例えば、特許文献1では、裏面側に形成したSiN膜(特許文献1における「窒化シリコン膜」)の膜厚を限定すること
で裏面での反射を増加させている。しかしながら、裏面側に用いるSiN膜は、主に化学気
相堆積法(CVD法)で作製されるため、作製コストが高いという問題があった。
Further, the reflectance on the back surface side is improved by increasing the reflection from the surface passivation film and the electrode formed of aluminum or silver. For example, in Patent Document 1, reflection on the back surface is increased by limiting the film thickness of a SiN film formed on the back surface side (“silicon nitride film” in Patent Document 1). However, since the SiN film used on the back side is mainly produced by a chemical vapor deposition method (CVD method), there is a problem that the production cost is high.

特開2008−172279号公報JP 2008-172279 A

J. Zhao 他、”Twenty-four percent efficient silicon solar cells with double layer antireflection coating and reduced resistance loss” , Appl. Phys. Lett. , Vol. 66, p. 3636, 1995.J. Zhao et al., “Twenty-four percent efficient silicon solar cells with double layer antireflection coating and reduced resistance loss”, Appl. Phys. Lett., Vol. 66, p. 3636, 1995. R. Ozaki 他、”Fabrication of SiN rear passivated thin multi-crystalline silicon solar cell with 30 mm-wide screen-printed front electrode”, Proc. of 24th European Photovoltaic Solar Energy Conference, p. 1175, 2009.R. Ozaki et al., “Fabrication of SiN rear passivated thin multi-crystalline silicon solar cell with 30 mm-wide screen-printed front electrode”, Proc. Of 24th European Photovoltaic Solar Energy Conference, p. 1175, 2009.

以上の問題点を鑑み、本発明が解決しようとする課題は、裏面側に部分コンタクト構造をもつ高効率の結晶シリコン太陽電池をより簡易な作製工程で、かつ、より低コストで実現することにある。   In view of the above problems, the problem to be solved by the present invention is to realize a highly efficient crystalline silicon solar cell having a partial contact structure on the back side in a simpler manufacturing process and at a lower cost. is there.

本発明の太陽電池は、上記の課題を解決するために、以下の構成を採用する。   The solar cell of the present invention employs the following configuration in order to solve the above problems.

すなわち、本発明の太陽電池は、単結晶シリコンまたは多結晶シリコンからなる第一導電型の結晶シリコン基板と、該結晶シリコン基板の受光面側に形成された第二導電型の不純物拡散層と、該結晶シリコン基板の受光面側の不純物拡散層の表面に形成された第一電極と、該結晶シリコン基板の裏面側に形成された第二電極と、該結晶シリコン基板の裏面側表面に形成された、複数の開口部を有するポリイミドまたはポリアミドイミドの裏面反射層と、を備える。そして、該第二電極は、該結晶シリコン基板の裏面側表面と該複数の開口部を通してコンタクトを形成する。   That is, the solar cell of the present invention includes a first conductive type crystalline silicon substrate made of single crystal silicon or polycrystalline silicon, a second conductive type impurity diffusion layer formed on the light receiving surface side of the crystalline silicon substrate, A first electrode formed on the surface of the impurity diffusion layer on the light receiving surface side of the crystalline silicon substrate; a second electrode formed on the back surface side of the crystalline silicon substrate; and formed on the back surface side of the crystalline silicon substrate. And a back reflecting layer of polyimide or polyamideimide having a plurality of openings. The second electrode forms a contact with the back surface of the crystalline silicon substrate and the plurality of openings.

または、本発明の太陽電池は、単結晶シリコンまたは多結晶シリコンからなる第一導電型の結晶シリコン基板と、該結晶シリコン基板の受光面側に形成された第二導電型の不純物拡散層と、該結晶シリコン基板の受光面側の不純物拡散層の表面に形成された第一電極と、該結晶シリコン基板の裏面側に形成された第二電極と、該結晶シリコン基板の裏面側の一部または全部に該結晶シリコン基板より高濃度に不純物が添加された第一導電型の不純物拡散層と、該第一導電型の不純物拡散層を含む該結晶シリコン基板の裏面側表面に形成された、複数の開口部を有するポリイミドまたはポリアミドイミドの裏面反射層と、を備える。そして、該第二電極は、該結晶シリコン基板の裏面側の不純物拡散層表面と該複数の開口部を通してコンタクトを形成する。   Alternatively, the solar cell of the present invention includes a first conductive type crystalline silicon substrate made of single crystal silicon or polycrystalline silicon, and a second conductive type impurity diffusion layer formed on the light receiving surface side of the crystalline silicon substrate, A first electrode formed on the surface of the impurity diffusion layer on the light-receiving surface side of the crystalline silicon substrate; a second electrode formed on the back side of the crystalline silicon substrate; A plurality of first-conductivity-type impurity diffusion layers doped with impurities at a higher concentration than the crystalline-silicon substrate, and a plurality of the first-conductivity-type impurity diffusion layers formed on the back-side surface of the crystalline-silicon substrate. And a back-surface reflective layer of polyimide or polyamide-imide having the openings. The second electrode forms a contact with the surface of the impurity diffusion layer on the back side of the crystalline silicon substrate and the plurality of openings.

上記構成によれば、裏面反射層がポリイミドまたはポリアミドイミドを用いた作製コストの低い方法で作製されるため、裏面側に部分コンタクト構造をもつ高効率の結晶シリコン太陽電池を従来よりも低コストで実現することができる。   According to the above configuration, since the back surface reflection layer is manufactured by a method with low manufacturing cost using polyimide or polyamideimide, a highly efficient crystalline silicon solar cell having a partial contact structure on the back surface side can be manufactured at a lower cost than before. Can be realized.

また、上記構成によれば、裏面側表面全面に第二電極を形成していないため、つまり、裏面側表面(または不純物拡散層表面)の一部と第二電極とがコンタクトしているため、第二電極をAlペーストにより形成し、基板を薄型化しても、電極焼成時の基板の反りを低減することができ、基板の割れを少なくすることができる。   Further, according to the above configuration, the second electrode is not formed on the entire back surface, that is, a part of the back surface (or impurity diffusion layer surface) and the second electrode are in contact with each other. Even if the second electrode is formed of an Al paste and the substrate is thinned, warpage of the substrate during electrode firing can be reduced and cracking of the substrate can be reduced.

なお、上記裏面反射層のポリイミドまたはポリアミドイミドは、光を反射させる効果を持つ白色顔料を含むポリイミドまたはポリアミドイミドであることが望ましい。   The polyimide or polyamideimide of the back reflective layer is preferably a polyimide or polyamideimide containing a white pigment having an effect of reflecting light.

上記構成によれば、裏面反射層のポリイミドまたはポリアミドイミドの反射率を高めることができるため、裏面反射率が向上した高効率の太陽電池を実現することができる。   According to the said structure, since the reflectance of the polyimide or polyamideimide of a back surface reflection layer can be raised, the highly efficient solar cell which the back surface reflectance improved can be implement | achieved.

また、これらの太陽電池の製造方法において、ポリイミドまたはポリアミドイミドの裏面反射層がスクリーン印刷、オフセット印刷、インクジェット印刷、あるいは、ディスペ
ンサーによる塗布によって任意のパターンに形成される工程が含まれることが望ましい。
In addition, these solar cell manufacturing methods preferably include a step in which a back surface reflection layer of polyimide or polyamideimide is formed into an arbitrary pattern by screen printing, offset printing, ink jet printing, or application by a dispenser.

上記工程によれば、印刷法により、裏面反射層の形成とコンタクト用のパターンの形成が同時に行われるため、太陽電池の作製工程を簡略化することができる。   According to the above process, since the back surface reflection layer and the contact pattern are simultaneously formed by the printing method, the manufacturing process of the solar cell can be simplified.

本発明によれば、裏面側に部分コンタクト構造をもつ高効率の結晶シリコン太陽電池をより簡易な作製工程で、かつ、より低コストで実現することができる。   According to the present invention, a highly efficient crystalline silicon solar cell having a partial contact structure on the back surface side can be realized with a simpler manufacturing process and at a lower cost.

従来の太陽電池の構造。Conventional solar cell structure. 本発明の太陽電池の断面構造の一例を示す図面。The drawing which shows an example of the cross-sectional structure of the solar cell of this invention. 本発明の太陽電池の断面構造の一例を示す図面。The drawing which shows an example of the cross-sectional structure of the solar cell of this invention.

以下に、本発明の実施形態(以下、「本実施形態」と表記する。)を詳細に説明する。まず、本発明による太陽電池の構造について図2、3を元に説明する。図2は、本実施形態における太陽電池の断面構造の一例を示す図面である。   Hereinafter, an embodiment of the present invention (hereinafter referred to as “the present embodiment”) will be described in detail. First, the structure of the solar cell according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a drawing showing an example of a cross-sectional structure of the solar cell in the present embodiment.

本発明で用いる結晶シリコン基板1は、単結晶シリコン、多結晶シリコンのどちらを用いてもよい。また、本発明で用いる結晶シリコン基板1は、導電型がp型の結晶シリコン
、または、導電型がn型の結晶シリコンのどちらを用いてもよい。以下、本実施形態にお
ける結晶シリコン基板1は、p型単結晶シリコンを用いた例について説明する。なお、当
該結晶シリコン基板1に用いる単結晶シリコンまたは多結晶シリコンは、任意のものでよいが、抵抗率が0.5-10Ω・cmである単結晶シリコンまたは多結晶シリコンが望ましい。
The crystalline silicon substrate 1 used in the present invention may be either single crystal silicon or polycrystalline silicon. The crystalline silicon substrate 1 used in the present invention may use either p-type crystalline silicon or n-type crystalline silicon. Hereinafter, an example in which p-type single crystal silicon is used for the crystalline silicon substrate 1 in the present embodiment will be described. The single crystal silicon or polycrystalline silicon used for the crystalline silicon substrate 1 may be any one, but single crystal silicon or polycrystalline silicon having a resistivity of 0.5-10 Ω · cm is desirable.

p型の結晶シリコン基板1の受光面側に、リンなどのV族の元素をドーピングしたn型の拡散層2が形成される。そして、結晶シリコン基板1と拡散層2との間でpn接合が形成される。拡散層2の表面には、SiN膜などの表面反射防止膜3(表面パッシベーション膜の
効果を兼ねてもよい。SiN膜は、表面反射防止膜と表面パッシベーション膜の効果を両方
兼ね備えることができる。)および、Agなどを用いた第一電極5(受光面側の電極)が形成される。
On the light-receiving surface side of the p-type crystalline silicon substrate 1, an n-type diffusion layer 2 doped with a group V element such as phosphorus is formed. A pn junction is formed between the crystalline silicon substrate 1 and the diffusion layer 2. The surface of the diffusion layer 2 may have a surface antireflection film 3 such as a SiN film (also serves as a surface passivation film. The SiN film can have both a surface antireflection film and a surface passivation film. ) And Ag or the like, the first electrode 5 (light receiving surface side electrode) is formed.

なお、本発明は、表面反射防止膜3の有無にかかわらず適用することが可能である。また、太陽電池の受光面は、表面での反射率を低減するため、凹凸構造(テクスチャー構造)が形成されることが望ましいが、本発明は、テクスチャー構造の有無にかかわらず適用することが可能である。   The present invention can be applied regardless of the presence or absence of the surface antireflection film 3. In addition, the light receiving surface of the solar cell is preferably formed with a concavo-convex structure (texture structure) in order to reduce the reflectance on the surface, but the present invention can be applied regardless of the presence or absence of the texture structure. It is.

一方、結晶シリコン基板1の裏面側には、アルミニウムやボロンなどのIII族の元素を
ドーピングした層であるBSF層4が形成される。ただし、本発明は、BSF層4の有無にかかわらず適用することができる。
On the other hand, a BSF layer 4 which is a layer doped with a group III element such as aluminum or boron is formed on the back side of the crystalline silicon substrate 1. However, the present invention can be applied regardless of the presence or absence of the BSF layer 4.

この結晶シリコン基板1の裏面側には、BSF層4(BSF層が無い場合は結晶シリコン基板1の裏面側表面)とコンタクトをとるために、アルミニウムなどからなる第二電極6(裏面側の電極)が形成されている。   In order to make contact with the BSF layer 4 (the back side surface of the crystal silicon substrate 1 when there is no BSF layer) on the back side of the crystalline silicon substrate 1, a second electrode 6 (back side electrode) made of aluminum or the like is used. ) Is formed.

さらに本実施形態では、BSF層4(BSF層が無い場合は結晶シリコン基板1の裏面側表面)と第二電極6とのコンタクト領域をのぞいた部分に、ポリイミドまたはポリアミドイミ
ドの裏面反射層7が形成されている。受光面側から入射した光は、この裏面反射層7で反射されるため、図1のセルに比べ、より多くの少数キャリアを基板内に閉じ込めることが
できる。このため、短絡電流が増加し、効率が向上することが期待される。
Further, in the present embodiment, a back surface reflection layer 7 made of polyimide or polyamideimide is provided in a portion excluding a contact region between the BSF layer 4 (the back surface side surface of the crystalline silicon substrate 1 when there is no BSF layer) and the second electrode 6. Is formed. Since the light incident from the light receiving surface side is reflected by the back surface reflection layer 7, more minority carriers can be confined in the substrate than in the cell of FIG. For this reason, a short circuit current increases and it is anticipated that efficiency will improve.

また、本発明の図2に示す太陽電池構造の別形態として、図3に示すようにBSF層4が第二電極6とのコンタクト領域を含む裏面側の一部のみに形成され、裏面全面に形成がなされていない太陽電池においても同様の効果が得られる。図3に示される太陽電池は、BSF
層4、つまり、アルミニウムやボロンなどのIII族の元素をドーピングすることで結晶シ
リコン基板1よりも不純物が高ドーピングされた領域が少ないため、図2に示される太陽電池より高い効率を得ることが可能である。
Further, as another form of the solar cell structure shown in FIG. 2 of the present invention, as shown in FIG. 3, the BSF layer 4 is formed only on a part of the back surface side including the contact region with the second electrode 6 and is formed on the entire back surface. Similar effects can be obtained even in solar cells that are not formed. The solar cell shown in FIG.
By doping the layer 4, that is, a group III element such as aluminum or boron, there are fewer regions highly doped with impurities than the crystalline silicon substrate 1, so that higher efficiency than the solar cell shown in FIG. 2 can be obtained. Is possible.

さらに、図2、3では、裏面電極6は、コンタクト領域と裏面反射層7上の全面に形成されているが、コンタクト領域のみあるいは、コンタクト領域とポリイミド層上の一部のみに裏面電極6が形成されている太陽電池構造であっても同様の効果を得ることができる。   2 and 3, the back electrode 6 is formed on the entire surface of the contact region and the back surface reflection layer 7, but the back electrode 6 is formed only on the contact region or only part of the contact region and the polyimide layer. The same effect can be obtained even if the solar cell structure is formed.

次に、上記構成をもつ本発明の太陽電池について、その作製方法の一例について述べる。ただし、本発明は、以下に述べる方法で作製した太陽電池に限るものではない。   Next, an example of a manufacturing method of the solar cell of the present invention having the above configuration will be described. However, the present invention is not limited to the solar cell manufactured by the method described below.

まず、結晶シリコン基板1(以下、「基板1」とも表記する。)の表面にテクスチャー構造を形成する。テクスチャー構造の形成は、基板1の両面に形成しても、片面(受光面側)のみに形成してもかまわない。テクスチャー構造を形成するため、まず、基板1を、加熱した水酸化カリウムあるいは、水酸化ナトリウム溶液に浸して、基板1のダメージ層を除去する。その後、水酸化カリウム/イソプロピルアルコールを主成分とする溶液に浸
すことで、基板1の両面または片面(受光面側)にテクスチャー構造を形成する。なお、上述したとおり、本発明は、当該テクスチャー構造の有無にかかわらず適用が可能であるため、本工程は省略してもよい。
First, a texture structure is formed on the surface of a crystalline silicon substrate 1 (hereinafter also referred to as “substrate 1”). The texture structure may be formed on both sides of the substrate 1 or only on one side (light receiving side). In order to form a texture structure, first, the substrate 1 is immersed in heated potassium hydroxide or sodium hydroxide solution to remove the damaged layer of the substrate 1. Then, a texture structure is formed on both surfaces or one surface (light receiving surface side) of the substrate 1 by dipping in a solution containing potassium hydroxide / isopropyl alcohol as a main component. Note that, as described above, the present invention can be applied regardless of the presence or absence of the texture structure, and thus this step may be omitted.

続いて、上記の基板1を塩酸・フッ酸などの溶液で洗浄後、結晶シリコン基板1にPOCl3などの熱拡散により、リン拡散層(n+層)(拡散層2)を形成する。リン拡散層は、リ
ンを含んだ溶液を塗布し、熱処理をすることによっても形成できる。周知の方法で任意にこのリン拡散層を形成してよいが、リン拡散層の深さを0.2-0.5μmの範囲に、シート抵抗を40-100Ω/□(ohm/square)の範囲に形成することが望ましい。
Subsequently, after the substrate 1 is washed with a solution such as hydrochloric acid or hydrofluoric acid, a phosphorus diffusion layer (n + layer) (diffusion layer 2) is formed on the crystalline silicon substrate 1 by thermal diffusion of POCl 3 or the like. The phosphorus diffusion layer can also be formed by applying a solution containing phosphorus and performing heat treatment. The phosphorus diffusion layer may be formed arbitrarily by a known method, but the depth of the phosphorus diffusion layer is formed in the range of 0.2-0.5 μm, and the sheet resistance is formed in the range of 40-100 Ω / □ (ohm / square). It is desirable.

なお、上述した、基板1の両面又は片面(受光面側)にテクスチャー構造を形成しない場合、本実施形態の太陽電池の作製は、当該基板1を、加熱した水酸化カリウムあるいは、水酸化ナトリウム溶液に浸して、基板1のダメージ層を除去した後、当該リン拡散層(n+層)(拡散層2)を形成することから開始する。 In addition, when the texture structure is not formed on both surfaces or one surface (light-receiving surface side) of the substrate 1 described above, the solar cell of this embodiment is manufactured by heating the substrate 1 with potassium hydroxide or a sodium hydroxide solution. Then, after removing the damaged layer of the substrate 1, the phosphorous diffusion layer (n + layer) (diffusion layer 2) is formed.

その後、拡散層2の上に、表面反射防止膜3である窒化シリコン膜を形成する。周知の方法で任意に表面反射防止膜3を形成してよいが、厚さを60-100nmの範囲に、屈折率を1.9-2.2の範囲に形成することが望ましい。表面反射防止膜3は、窒化シリコン膜に限らず
、酸化シリコン、酸化アルミニウム、酸化チタンなどが用いられる。窒化シリコン膜は、プラズマCVD、熱CVDなどの方法で作製できるが、350-500℃の温度範囲で形成できるプラ
ズマCVDで作製することが望ましい。なお、上述したとおり、本発明は、表面反射防止膜
3の有無にかかわらず適用が可能であるため、本工程は省略してもよい。
Thereafter, a silicon nitride film which is the surface antireflection film 3 is formed on the diffusion layer 2. The surface antireflection film 3 may be optionally formed by a known method, but it is desirable to form the thickness in the range of 60-100 nm and the refractive index in the range of 1.9-2.2. The surface antireflection film 3 is not limited to a silicon nitride film, and silicon oxide, aluminum oxide, titanium oxide, or the like is used. The silicon nitride film can be formed by a method such as plasma CVD or thermal CVD, but is preferably formed by plasma CVD that can be formed in a temperature range of 350 to 500 ° C. Note that, as described above, the present invention can be applied regardless of the presence or absence of the surface antireflection film 3, and therefore this step may be omitted.

その後、基板1の裏面側にアルミニウムを主成分とするペーストなどの溶液を塗布し、熱処理を行うことで、裏面側のBSF層4を形成する。塗布には、スクリーン印刷、インク
ジェット、ディスペンス、スピンコートなどの方法を用いることができる。熱処理後、裏面に形成されたアルミニウム層を塩酸等によって除去することでBSF層4が形成される。
周知の方法で任意に当該BSF層4を形成してよいが、望ましくは、濃度の範囲が1018-1022
cm-3であるアルミニウムを用い、ドット状またはライン状にBSF層4を形成することが望
ましい。なお、上述したとおり、本発明は、BSF層4の有無にかかわらず適用することが
できるため、本工程は省略してもよい。
Thereafter, a BSF layer 4 on the back surface side is formed by applying a solution such as a paste mainly composed of aluminum on the back surface side of the substrate 1 and performing heat treatment. For the application, methods such as screen printing, ink jet, dispensing, spin coating and the like can be used. After the heat treatment, the BSF layer 4 is formed by removing the aluminum layer formed on the back surface with hydrochloric acid or the like.
The BSF layer 4 may be arbitrarily formed by a known method, but preferably the concentration range is 10 18 -10 22.
It is desirable to form the BSF layer 4 in the form of dots or lines using aluminum of cm −3 . Note that, as described above, the present invention can be applied regardless of the presence or absence of the BSF layer 4, so that this step may be omitted.

次に、受光面側の電極である第一電極5を形成する。第一電極5は、表面反射防止膜3上に銀を主成分とするペーストをスクリーン印刷により形成し、熱処理(ファイアースルー)を行うことで形成される。当該第一電極5の形状は、任意の形状でよく、例えば、フィンガー電極とバスバー電極とからなる周知の形状でよい。なお、BSF層4と第一電極5
の作製における熱処理を同時に行ってもよい。この場合、当該熱処理の後に、裏面に形成されたアルミニウム層を塩酸等によって除去する。
Next, the first electrode 5 which is an electrode on the light receiving surface side is formed. The first electrode 5 is formed by forming a paste mainly composed of silver on the surface antireflection film 3 by screen printing and performing a heat treatment (fire through). The shape of the first electrode 5 may be any shape, for example, a known shape made up of finger electrodes and bus bar electrodes. The BSF layer 4 and the first electrode 5
You may perform the heat processing in preparation of this simultaneously. In this case, after the heat treatment, the aluminum layer formed on the back surface is removed with hydrochloric acid or the like.

その後、裏面反射層7を形成する。裏面反射層7は、例えば、裏面に形成された酸化膜をフッ酸で除去後、ポリイミドあるいはポリアミドイミドをスクリーン印刷、オフセット印刷、インクジェットによる印刷、あるいは、ディスペンサーによる印刷などの印刷法により、コンタクト用の孔を含んだ所定のパターンに塗布することによって形成される。なお、ポリイミドあるいはポリアミドイミドを塗布後、100−400℃の範囲でアニールし、溶媒を蒸発させることが望ましい。また、ポリイミドあるいはポリアミドイミドは、任意のポリイミドまたはポリアミドイミドでよいが、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化ジルコニウム、酸化カルシウム、酸化ケイ素、硫酸バリウムなどの光を反射させる効果を持つ白色顔料を含むポリイミドまたはポリアミドイミドであることが望ましい。更に、コンタクト用の孔は、BSF層4上に、ドット状またはライン状に形成することが望ま
しい。
Then, the back surface reflection layer 7 is formed. The back surface reflection layer 7 is used for contact, for example, by removing the oxide film formed on the back surface with hydrofluoric acid, and then printing polyimide or polyamideimide by screen printing, offset printing, ink jet printing, or printing by a dispenser. It is formed by applying to a predetermined pattern including the holes. In addition, after apply | coating a polyimide or a polyamideimide, it is desirable to anneal in the range of 100-400 degreeC, and to evaporate a solvent. The polyimide or polyamideimide may be any polyimide or polyamideimide, but a white pigment having an effect of reflecting light such as titanium oxide, aluminum oxide, zinc oxide, zirconium oxide, calcium oxide, silicon oxide, and barium sulfate. It is desirable to be a polyimide or polyamideimide containing. Further, the contact holes are desirably formed in a dot shape or a line shape on the BSF layer 4.

最後に、裏面側の電極である第二電極6を形成する。第二電極6は、アルミニウム、銀などをスクリーン印刷、ディスペンス、蒸着することによって形成できるが、100−500℃の低温で焼成できるアルミニウムあるいは、銀を主成分としたペーストを用いることが望ましい。また、第二電極6の形状は、BSF層4の形状と同じであるか、裏面全面、櫛型状
、格子状であることが望ましい。
Finally, the second electrode 6 that is an electrode on the back surface side is formed. The second electrode 6 can be formed by screen printing, dispensing, or vapor-depositing aluminum, silver, or the like, but it is desirable to use aluminum that can be fired at a low temperature of 100 to 500 ° C. or a paste mainly composed of silver. The shape of the second electrode 6 is preferably the same as the shape of the BSF layer 4 or the entire back surface, comb shape, or lattice shape.

なお、上記説明では、結晶シリコン基板1にp型結晶シリコンを用いた構造例及び作製
例を示したが、結晶シリコン基板1にはn型結晶シリコン基板も用いることができる。こ
の場合は、拡散層2は、ボロンなどのIII族の元素をドーピングした層で形成され、BSF層4は、リンなどのV属をドーピングした層で形成される。
In the above description, a structural example and a manufacturing example in which p-type crystalline silicon is used for the crystalline silicon substrate 1 are shown, but an n-type crystalline silicon substrate can also be used for the crystalline silicon substrate 1. In this case, the diffusion layer 2 is formed of a layer doped with a group III element such as boron, and the BSF layer 4 is formed of a layer doped with group V such as phosphorus.

また、上記説明では、結晶シリコン基板1に単結晶シリコンを用いた構造例及び作製例を示したが、結晶シリコン基板1には多結晶シリコンを用いることができる。この場合には、テクスチャー構造の形成にフッ酸と硝酸とを主成分とする液を用いて、ダメージ層の除去とテクスチャー構造の形成とを同時に行ってもよい。また、フッ酸と硝酸とを主成分とする液でテクスチャー構造を形成せず、ダメージ層の除去のみを行ってもよい。その他の工程における変更点は特にない。   In the above description, a structural example and a manufacturing example in which single crystal silicon is used for the crystalline silicon substrate 1 are shown, but polycrystalline silicon can be used for the crystalline silicon substrate 1. In this case, the removal of the damaged layer and the formation of the texture structure may be simultaneously performed using a liquid mainly composed of hydrofluoric acid and nitric acid for the formation of the texture structure. Alternatively, the damage layer may be removed without forming the texture structure with a liquid mainly composed of hydrofluoric acid and nitric acid. There are no particular changes in other processes.

ボロンをドーパンとした多結晶シリコン基板(結晶シリコン基板1)を用いて、図2の構造の多結晶シリコン太陽電池を作製した。基板表面をテクスチャー処理した後、POCl3
を用いたリン拡散層(拡散層2)を形成した。次に、反射防止膜(表面反射防止膜3)として、プラズマCVDで作製したSiN膜を形成した。AgペーストによるパターンをSiN膜上に
、アルミニウムペーストによるパターンを裏面側にスクリーン印刷し、焼成を行い、受光面側の電極(第一電極5)を形成した。そして、裏面側の金属層を塩酸により除去し、裏面BSF層(BSF層4)のみを残した。その後、ポリイミドをスクリーン印刷により所定のパターンに塗布し、裏面反射層(裏面反射層7、表面パッシベーション膜の効果も兼ねる。
ポリイミドやポリアミドイミドにより作製された裏面反射層は、表面パッシベーション膜の効果を兼ね備えることができる。)を形成した。裏面側の電極(第二電極6)は、アルミニウムを蒸着することで形成した。
A polycrystalline silicon solar cell having the structure shown in FIG. 2 was fabricated using a polycrystalline silicon substrate (crystalline silicon substrate 1) containing boron as a dopant. After texturing the substrate surface, POCl 3
A phosphorus diffusion layer (diffusion layer 2) using was formed. Next, a SiN film produced by plasma CVD was formed as an antireflection film (surface antireflection film 3). A pattern made of Ag paste was screen-printed on the SiN film, and a pattern made of aluminum paste was screen printed on the back side and baked to form an electrode (first electrode 5) on the light receiving surface side. Then, the metal layer on the back side was removed with hydrochloric acid, leaving only the back BSF layer (BSF layer 4). Thereafter, polyimide is applied in a predetermined pattern by screen printing, which also serves as an effect of the back surface reflection layer (the back surface reflection layer 7 and the surface passivation film).
A back surface reflection layer made of polyimide or polyamideimide can have the effect of a surface passivation film. ) Was formed. The back side electrode (second electrode 6) was formed by evaporating aluminum.

比較のために、上記作製工程のうち、ポリイミドの印刷を行わず、裏面BSF層上にアル
ミニウムを全面に蒸着したサンプルを作製した。結果を表1に示す。
For comparison, a sample was prepared in which aluminum was vapor-deposited on the back BSF layer without performing polyimide printing in the above production steps. The results are shown in Table 1.

Figure 2012038915
裏面反射層の効果を示す短絡電流を比較すると、ポリイミド層があることにより0.5 mA/cm2 増加しており、本発明の効果が示されている。
Figure 2012038915
Comparing the short-circuit current showing the effect of the back reflective layer, the presence of the polyimide layer increased 0.5 mA / cm 2 , indicating the effect of the present invention.

1.結晶シリコン基板
2.拡散層
3.表面反射防止膜
4.BSF層
5.第一電極
6.第二電極
7.裏面反射層
1. 1. Crystalline silicon substrate 2. Diffusion layer 3. Surface antireflection film 4. BSF layer First electrode 6. Second electrode 7. Back reflective layer

Claims (4)

単結晶シリコンまたは多結晶シリコンからなる第一導電型の結晶シリコン基板と、
該結晶シリコン基板の受光面側に形成された第二導電型の不純物拡散層と、
該結晶シリコン基板の受光面側の不純物拡散層表面に形成された第一電極と、
該結晶シリコン基板の裏面側に形成された第二電極と、
該結晶シリコン基板の裏面側表面に形成された、複数の開口部を有するポリイミドまたはポリアミドイミドの裏面反射層と、を備え、
該第二電極が該結晶シリコン基板の裏面側表面と該複数の開口部を通してコンタクトを形成していることを特徴とする太陽電池。
A crystalline silicon substrate of the first conductivity type made of single crystal silicon or polycrystalline silicon;
An impurity diffusion layer of a second conductivity type formed on the light-receiving surface side of the crystalline silicon substrate;
A first electrode formed on the surface of the impurity diffusion layer on the light-receiving surface side of the crystalline silicon substrate;
A second electrode formed on the back side of the crystalline silicon substrate;
A backside reflective layer of polyimide or polyamideimide having a plurality of openings formed on the backside surface of the crystalline silicon substrate,
The solar cell, wherein the second electrode forms a contact with the back surface of the crystalline silicon substrate through the plurality of openings.
単結晶シリコンまたは多結晶シリコンからなる第一導電型の結晶シリコン基板と、
該結晶シリコン基板の受光面側に形成された第二導電型の不純物拡散層と、
該結晶シリコン基板の受光面側の不純物拡散層の表面に形成された第一電極と、
該結晶シリコン基板の裏面側に形成された第二電極と、
該結晶シリコン基板の裏面側の一部または全部に該結晶シリコン基板より高濃度に不純物が添加された第一導電型の不純物拡散層と、
該第一導電型の不純物拡散層を含む該結晶シリコン基板の裏面側表面に形成された、複数の開口部を有するポリイミドまたはポリアミドイミドの裏面反射層と、を備え、
該第二電極が該結晶シリコン基板の裏面側の不純物拡散層表面と該複数の開口部を通してコンタクトを形成していることを特徴とする太陽電池。
A crystalline silicon substrate of the first conductivity type made of single crystal silicon or polycrystalline silicon;
An impurity diffusion layer of a second conductivity type formed on the light-receiving surface side of the crystalline silicon substrate;
A first electrode formed on the surface of the impurity diffusion layer on the light-receiving surface side of the crystalline silicon substrate;
A second electrode formed on the back side of the crystalline silicon substrate;
An impurity diffusion layer of a first conductivity type in which an impurity is added to a part or all of the back side of the crystalline silicon substrate at a higher concentration than the crystalline silicon substrate;
A backside reflective layer of polyimide or polyamideimide having a plurality of openings formed on the backside surface of the crystalline silicon substrate including the impurity diffusion layer of the first conductivity type,
The solar cell, wherein the second electrode forms a contact with the surface of the impurity diffusion layer on the back side of the crystalline silicon substrate through the plurality of openings.
前記ポリイミドまたは前記ポリアミドイミドが、光を反射させる効果を持つ白色顔料を含むポリイミドまたはポリアミドイミドであることを特徴とする請求項1または2に記載の太陽電池。   The solar cell according to claim 1, wherein the polyimide or the polyamideimide is a polyimide or polyamideimide containing a white pigment having an effect of reflecting light. 前記ポリイミドまたは前記ポリアミドイミドの裏面反射層が、スクリーン印刷、オフセット印刷、インクジェットによる印刷、あるいは、ディスペンサーによる印刷によって形成されることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の太陽電池の製造方法。   4. The sun according to claim 1, wherein the back reflective layer of the polyimide or the polyamideimide is formed by screen printing, offset printing, ink jet printing, or printing by a dispenser. Battery manufacturing method.
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