JP2012026889A - Circuit board inspection apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子部品が実装された回路基板の良否を判定するための回路基板検査装置に関するものであり、特に、回路基板検査装置の本体側の保持板に対して着脱可能なピンボードの、保持板に対する位置規制機構(又は位置調整機構)に特徴を有する回路基板検査装置に関するものである。 The present invention relates to a circuit board inspection apparatus for determining the quality of a circuit board on which an electronic component is mounted, and in particular, a pin board detachable from a holding plate on the main body side of the circuit board inspection apparatus, The present invention relates to a circuit board inspection apparatus characterized by a position regulation mechanism (or position adjustment mechanism) for a holding plate.
従来、IC部品などの電子部品を、はんだ付けなどによりプリント配線基板に実装した後に、電子部品の破損やはんだ付け不良の有無をチェックするために、インサーキットテスタやボードテスタなどと呼ばれる回路基板検査装置が用いられている(特許文献1)。 Conventionally, after mounting electronic parts such as IC parts on a printed wiring board by soldering, etc., circuit board inspection called in-circuit tester or board tester to check for damage of electronic parts and poor soldering An apparatus is used (Patent Document 1).
図7は、従来の回路基板検査装置1の一例の要部の概略断面図である。回路基板検査装置1は、電子部品Eが実装された被検査回路基板9を下方から支持する基台5と、被検査回路基板9の主平面Pに対して進退(昇降)する保持板2と、被検査回路基板9の所定部位に接触するテストプローブ31が設けられており、保持板2によって保持されるピンボード(上ピンボード)3と、を有する。
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of a main part of an example of a conventional circuit board inspection apparatus 1. The circuit board inspection apparatus 1 includes a base 5 that supports a
保持板2は、回路基板検査装置1の本体に設けられ、同じく回路基板検査装置1の本体に設けられたエアシリンダ(押圧装置)などの移動装置(図示せず)によって、被検査回路基板9の主平面Pに向かう方向又はその主平面Pから遠ざかる方向に移動可能とされている。この移動装置によって保持板2を移動させて、上ピンボード3を被検査回路基板9に向けて下降させることで、上ピンボード3の表面から起立して設けられたテストプローブ31を被検査回路基板9の所定部位(電子部品Eのリードeなど)に接触させる。
The
被検査回路基板9の一方の面の検査のみを行う場合には、被検査回路基板9は、基台5の上の所定位置に載置される。両面に電子部品Eが実装された被検査回路基板9の両面の検査を行う場合には、基台5側にも、被検査回路基板9の所定部位に接触するテストプローブ41が設けられたピンボード(下ピンボード)4を設けることができる。下ピンボード4には、その表面から起立して載置台43が設けられており、テストプローブ41は、この載置台42に載置された被検査回路基板9の下方において、下ピンボード4の表面から起立して設けられる。上ピンボード3を下降させることで、上ピンボード3のテストプローブ31と下ピンボード4のテストプローブ41とによって被検査回路基板9を挟み込むようにして、被検査回路基板9の両面の所定部位(電子部品Eのリードeなど)に、上ピンボード3、下ピンボード4の各テストプローブ31、41を接触させる。
When only the inspection of one surface of the
図8は、従来の回路基板検査装置1の一例の要部の部分分解斜視図である。上ピンボード3、下ピンボード4は、回路基板検査装置1の本体10に対して着脱可能となっており、被検査回路基板9に応じて所望の位置にテストプローブ31、41が設けられたものに交換できる。回路基板検査装置1には、その本体10の内部を開放して、作業者が上ピンボード3、下ピンボード4を交換することを可能とする開口部11が設けられている。
FIG. 8 is a partial exploded perspective view of a main part of an example of a conventional circuit board inspection apparatus 1. The
上ピンボード3の着脱方法について説明する。保持板2は上ピンボード3をスライド可能に保持する保持部として2個の断面L字型のガイドレール21、21を有する。一方、上ピンボード3には、ガイドレール21、21の形状に対して相補形状を有する、2個の保持受け部33、33が形成されている。作業者は、開口部11の前から上ピンボード3を保持板2のガイドレール21、21に沿って奥側又は手前側に移動させて、上ピンボード3を保持板2に対して着脱することができる。又、保持板2と上ピンボード3とには、それぞれ上ピンボード3の保持板2に対する位置を規制するための規制穴22、34が貫通して設けられている。図示の例では、規制穴22、34は、保持板2、上ピンボード3にそれぞれ2個ずつ設けられている。
A method for attaching and detaching the
上ピンボード3を保持板2に装着する際には、上ピンボード3の規制穴33を作業者側にして、回路基板検査装置1の本体10の開口部11を介して上ピンボード3の保持受け部33、33を保持板2のガイドレール21、21に挿入し、図7の紙面に垂直な方向に沿って奥側へとスライドさせる。保持板2の規制穴22と上ピンボード3の規制穴33とが整列する位置まで上ピンボード3をスライドさせた後、対応する位置の両規制穴22、33を貫通するように、保持板2の規制穴22の上部から上ピンボード3の規制穴34まで規制ピン6を挿入して固定する。
When the
ここで、上ピンボード3は、保持板2に対して所定のクリアランスをもって支持されている。又、上ピンボード3には、被検査回路基板9に対する位置決め用のガイドピン32が設けられている。又、基台5及び/又は下ピンボード4には、ガイドピン32を逃がすための逃げ孔42、51が形成されている。そして、上ピンボード3が装着された保持板2が被検査回路基板9に向けて下降されると、上ピンボード3に設けられたガイドピン32が被検査回路基板9の所定位置に形成されたガイド孔91に嵌合する。これにより、上ピンボード3の被検査回路基板9に対する位置ずれがある場合にも、この位置ずれは、上ピンボード3が上記クリアランスの範囲で移動することで吸収される。
Here, the
このように、規制穴22、34、規制ピン6によって、上ピンボード3の被検査回路基板9に対する相対位置の微調整を可能とすると共に、上ピンボード3が保持板2に対して許容量以上移動すること或いは不意に上ピンボード3が保持板2から外れてしまうことを防止して、上ピンボード3などの破損を防止することができる。又、規制穴22、34、規制ピン6は、上ピンボード3の保持板2に対する装着方向を指示する役目も果たす。
In this way, the
しかしながら、上記従来の規制穴22、34、規制ピン6を用いたピンボード位置規制機構(又は位置調整機構)には、次のような問題があった。
However, the conventional board restriction mechanism (or position adjustment mechanism) using the
即ち、上記従来の機構は、簡易な構成で所期の目的を達成できるものではあるが、上ピンボード3を保持板2から取り外す時に規制ピン6を取り外す必要があるため、上ピンボード3を保持板2に取り付ける時に規制ピン6の取り付けを忘れてしまうことがある。そのため、上ピンボード3が保持板2から不意に外れるなどして、上ピンボード3などを破損してしまう可能性がある。
That is, although the above conventional mechanism can achieve the intended purpose with a simple configuration, it is necessary to remove the
尚、以上では、保持板に保持されるピンボードが被検査回路基板の上側に配置される、進退可能な上ピンボードであるものとして説明した。しかし、保持板に保持されるピンボードが被検査回路基板の下側に配置される場合であっても、或いはピンボードが被検査回路基板に対して進退せずに所定位置に配置される場合であっても、規制穴とこれに着脱可能に挿入される規制ピンとを用いてピンボードの保持板に対する位置を規制する場合には、上記同様の問題が生じる。 In the above description, it is assumed that the pin board held on the holding plate is an upper pin board that can be moved back and forth and is disposed on the upper side of the circuit board to be inspected. However, even when the pin board held by the holding plate is disposed below the circuit board to be inspected, or when the pin board is disposed at a predetermined position without moving back and forth with respect to the circuit board to be inspected. Even in the case where the position of the pin board with respect to the holding plate is regulated using the regulation hole and the regulation pin that is detachably inserted into the regulation hole, the same problem as described above occurs.
従って、本発明の目的は、ピンボードの保持板に対する位置を規制するための部材の取り付け忘れをなくして、確実にピンボードの保持板に対する位置を規制することのできる回路基板検査装置を提供することである。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a circuit board inspection apparatus capable of reliably regulating the position of a pin board with respect to the holding plate without forgetting to attach a member for regulating the position of the pin board with respect to the holding plate. That is.
上記目的は本発明に係る回路基板検査装置にて達成される。要約すれば、本発明の第1の態様は、その主平面が被検査回路基板の主平面と略平行になるように配置された保持板と、被検査回路基板の所定部位に接触するテストプローブが設けられており前記保持板に着脱可能に装着されるピンボードと、を有する回路基板検査装置において;前記保持板は、前記ピンボードの主平面が前記保持板の主平面と略平行な状態で前記ピンボードを前記保持板に対して相対移動させることを可能とすると共に前記ピンボードを前記保持板に対して保持する保持部と、前記ピンボードの前記保持板に対する位置を規制するための凹部と、を有し、;前記ピンボードは、前記保持板の前記保持部によって保持される保持受け部と、前記ピンボードの前記保持板に対する位置を規制するための、前記凹部と嵌合する凸部と、を有し;前記凸部は、前記ピンボードが前記保持板に装着された際に前記保持板側に突出して前記凹部と嵌合する第1の位置と、前記ピンボードの内側に退避して前記凹部から離脱する第2の位置との間を移動可能であり、付勢手段によって前記第1の位置に向けて付勢されていることを特徴とする回路基板検査装置である。 The above object is achieved by a circuit board inspection apparatus according to the present invention. In summary, according to the first aspect of the present invention, a holding plate arranged so that its main plane is substantially parallel to the main plane of the circuit board to be inspected, and a test probe that contacts a predetermined portion of the circuit board to be inspected. A circuit board inspection apparatus comprising: a pin board detachably mounted on the holding plate; wherein the holding plate has a main plane of the pin board substantially parallel to a main plane of the holding plate The pin board can be moved relative to the holding plate, and the holding portion that holds the pin board with respect to the holding plate, and the position of the pin board with respect to the holding plate are regulated. A concave portion; and the pin board is fitted with the concave portion for restricting a position of the pin board with respect to the holding plate and a holding receiving portion held by the holding portion of the holding plate. Convex And a convex portion that protrudes toward the holding plate when the pin board is mounted on the holding plate, and is retracted to the inside of the pin board. Thus, the circuit board inspection apparatus is capable of moving between the second position and the second position where it is separated from the recess, and is biased toward the first position by the biasing means.
又、本発明の第2の態様は、その主平面が被検査回路基板の主平面と略平行になるように配置された保持板と、被検査回路基板の所定部位に接触するテストプローブが取り付けられており前記保持板に着脱可能に装着されるピンボードと、を有する回路基板検査装置において;前記保持板は、前記ピンボードの主平面が前記保持板の主平面と略平行な状態で前記ピンボードを前記保持板に対して相対移動させることを可能とすると共に前記ピンボードを前記保持板に対して保持する保持部と、前記ピンボードの前記保持板に対する位置を規制するための凸部と、を有し;前記ピンボードは、前記保持板の前記保持部によって保持される保持受け部と、前記ピンボードの前記保持板に対する位置を規制するための、前記凸部が嵌合する凹部と、を有し;前記凸部は、前記ピンボードが前記保持板に装着された際に前記ピンボード側に突出して前記凹部と嵌合する第1の位置と、前記保持板の内側に退避して前記凹部から離脱する第2の位置との間を移動可能であり、付勢手段によって前記第1の位置に向けて付勢されていることを特徴とする回路基板検査装置である。 In the second aspect of the present invention, a holding plate arranged so that its main plane is substantially parallel to the main plane of the circuit board to be inspected, and a test probe that contacts a predetermined part of the circuit board to be inspected are attached. A circuit board inspection apparatus comprising: a pin board that is detachably mounted on the holding plate; and the holding plate has the main plane of the pin board substantially parallel to the main plane of the holding plate. A holding portion that allows the pin board to move relative to the holding plate and holds the pin board with respect to the holding plate, and a convex portion for regulating the position of the pin board with respect to the holding plate The pinboard has a holding receiving portion held by the holding portion of the holding plate, and a concave portion in which the convex portion for restricting the position of the pinboard with respect to the holding plate is fitted. When, And having a first position that protrudes toward the pinboard when the pinboard is mounted on the holding plate and fits into the concave portion, and retracts to the inside of the holding plate. A circuit board inspection apparatus, wherein the circuit board inspection apparatus is movable between a second position and a second position where it is separated from the recess, and is biased toward the first position by a biasing means.
本発明によれば、ピンボードの保持板に対する位置を規制するための部材の取り付け忘れをなくして、確実にピンボードの保持板に対する位置を規制することができる。 According to the present invention, it is possible to reliably regulate the position of the pin board with respect to the holding plate without forgetting to attach the member for regulating the position of the pin board with respect to the holding plate.
以下、本発明に係る回路基板検査装置を図面に則して更に詳しく説明する。 Hereinafter, the circuit board inspection apparatus according to the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
実施例1
本実施例の回路基板検査装置の基本的な構成及び動作は、図7及び図8を参照して説明した従来のものと同じである。従来の回路基板検査装置のものと同一又はそれに相当する機能、構成を有する要素には同一符号を付して詳しい説明は省略し、以下、主に本実施例において特徴的な部分について説明する。
Example 1
The basic configuration and operation of the circuit board inspection apparatus according to this embodiment are the same as those of the conventional apparatus described with reference to FIGS. Elements having functions and configurations that are the same as or equivalent to those of a conventional circuit board inspection apparatus are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. Hereinafter, characteristic portions in this embodiment will be mainly described.
本実施例の回路基板検査装置1は、図7及び図8に示す回路基板検査装置1と同様に、保持板2と、上ピンボード3と、下ピンボード4と、基台5と、を有する。保持板2は、その主平面が被検査回路基板9の主平面Pに対して略平行になるように配置されており、エアシリンダ(押圧装置)などの移動手段によって被検査回路基板9の主平面Pに対して進退(本実施例では略垂直方向に沿って昇降)する。上ピンボード3は、被検査回路基板9の所定部位に接触するテストプローブ31が設けられており、保持板2に着脱可能に装着される。下ピンボード4も、回路基板検査装置1の本体10に対して着脱可能とされているが、本実施例の特徴部に係るものではないので、これ以上の説明は省略する。尚、回路基板検査装置1には、本体10の内部を開放して、作業者が上ピンボード3、下ピンボード4を交換することを可能とする開口部11が設けられている。
As in the circuit board inspection apparatus 1 shown in FIGS. 7 and 8, the circuit board inspection apparatus 1 of the present embodiment includes the holding
図1及び図2は、本実施例の回路基板検査装置1が備える保持板2及び上ピンボード3の概略断面であって、保持板2に上ピンボード1が装着された状態を示す。図1及び図2においては、上ピンボード3に設けられているテストプローブ31やガイドピン32(図7参照)の図示は省略されている。又、図3は、保持板2に上ピンボード3を装着する様子を示す保持板2及び上ピンボード3概略斜視図である。
1 and 2 are schematic cross sections of the holding
本実施例では、保持板2は、上ピンボード3を保持するための保持部として、2個の断面L字型のガイドレール21、21を有する。この保持部たるガイドレール21、21は、上ピンボード3の主平面が保持板2の主平面と略平行な状態で上ピンボード3を保持板2に対して相対移動させることを可能とすると共に、上ピンボード3を保持板2に対して保持するものである。ガイドレール21、21は、平面視矩形の保持板2の対向する2辺の被検査回路基板9側の面(下面)に設けられている。一方、上ピンボード3には、ガイドレール21、21の形状に対して相補形状を有する、2個の保持受け部33、33が形成されている。保持受け部33、33は、平面視矩形の上ピンボード3の対向する2辺に形成されている。
In the present embodiment, the holding
ガイドレール21、21は、上ピンボード3の保持受け部33、33をスライド可能に受け入れると共に、この保持受け部33、33を介して上ピンボード3を保持板2に対して保持する。保持板2は、ガイドレール21、21による上ピンボード3のスライド方向が、回路基板検査装置1の本体10の開口部11を含む平面と交差するように、本体10の内部に取り付けられている。これにより、作業者は、開口部11の前から上ピンボード3を保持板2のガイドレール21、21に沿って奥側又は手前側に移動させて、上ピンボード3を保持板2に対して着脱することができる。
The guide rails 21 and 21 slidably receive the
本実施例では、保持板2には、上ピンボード3の保持板2に対する位置を規制するための凹部としての規制穴71が、保持板2を貫通して設けられている。又、上ピンボード3には、上ピンボード3の保持板2に対する位置を規制するための、上記規制穴71と嵌合する凸部としての可動ピン72が取り付けられている。
In the present embodiment, the holding
規制穴71、可動ピン72は、保持板2、上ピンボード3にそれぞれ2個ずつ設けられている。本実施例では、各規制穴71、71は、ガイドレール21、21が設けられた保持板2の対向する2辺の近傍に設けられており、又各可動ピン72、72は、保持受け部33、33が形成された上ピンボード3の対向する2辺の近傍に取り付けられている。又、詳しくは後述するように、作業者が容易にアクセスできるように、各規制穴71、71、各可動ピン72、72は、上ピンボード3を保持板2に装着する際の上ピンボード3の保持板2に対する移動方向の後端側の保持板2、ピンボード3の端部の近傍であって、上ピンボード3が保持板2に装着された状態で開口部11の外側からアクセス可能な位置にそれぞれ配置されている(図3参照)。
Two restriction holes 71 and two
そして、可動ピン72は、上ピンボード3が保持板2に装着された際に保持板2側に突出して規制穴71と嵌合する第1の位置(嵌合位置)と、上ピンボード3の内側に退避して規制穴71から離脱する第2の位置(退避位置)との間を移動可能とされている。又、可動ピン72は、付勢手段としてのバネ73によって上記嵌合位置に向けて付勢されている。図1は可動ピン72が上記嵌合位置にある状態を示し、図2は可動ピン72が上記退避位置にある状態を示す。
The
更に説明すると、本実施例では、可動ピン72は、略円柱形状の軸部72aと、軸部72aの一端部に一体的に形成された円板状のフランジ部72bとを有する。又、上ピンボード3には、可動ピン72を収容する略円柱形状の空間であるピン収容部74が形成されている。ピン収容部74は、上記退避位置にある可動ピン72の軸部72aが上ピンボード3の保持板2側の表面から突出しないように十分な高さ(深さ)を有する。ピン収容部74の底面74aと可動ピン72のフランジ部72bの底面72b1との間に、バネ73が圧縮された状態で配置されている。又、ピン収容部74の底面74aとは反対側の面には、可動ピン72の軸部72aの外径と略同一の内径を有するピン突出穴74bが形成されている。このピン突出穴74bの周囲の段状の係止部74cが、バネ73によって付勢された可動ピン72のフランジ部72bと係合することによって、可動ピン72がピン収容部74から飛び出るのが防止されている。軸部72aの頂部は、平坦であってもよいが、規制穴71へのよりスムーズな嵌合を可能とするように、半径方向外側に行くに従って高さが徐々に低くなるテーパー形状や半球状(ドーム状)とされていてもよい。又、本実施例では、規制穴71の内径は、規制穴71の内側に指を入れて、その中に配置された可動ピン72を指で押し込むことができるように設定されている。
More specifically, in this embodiment, the
本実施例では、規制穴71、可動ピン72、バネ73、ピン収容部74などによって、ピンボード位置規制機構(又は位置調整機構)7が構成される。
In this embodiment, the pinboard position restriction mechanism (or position adjustment mechanism) 7 is configured by the
図4(a)、(b)、(c)は、上ピンボード3への可動ピン72の取り付け方法の一例を示す。即ち、ピン収容部74のピン突出穴74bの周囲の係止部74cを、上ピンボード3の本体とは別部材にして、可動ピン72及びバネ73をピン収容部74に収容する際には、可動ピン72のフランジ部72bを通過させ得るように、ピン収容部74の一端部を開放する。別部材とされた係止部74cは、図4(a)に示すように上ピンボード3の本体側と係止部74c側のそれぞれに形成したネジ部74d、74eを螺合したり、図4(b)に示すように接着剤gで接着(又は溶着)したり、図4(c)に示すように別個のネジ74fなどの締結具で固定したりする任意の適当な固定手段により、上ピンボード3の本体に固定することができる。
4A, 4 </ b> B, and 4 </ b> C show an example of a method for attaching the
上ピンボード3を保持板2に装着する際には、上ピンボード3の可動ピン72が設けられた側を作業者側にして、回路基板検査装置1の本体10の開口部11を介して上ピンボード3の保持受け部33、33を保持板2のガイドレール21、21に挿入し、図1の紙面に垂直な方向に沿って奥側へとスライドさせる。そして、少なくとも可動ピン72が保持板2の作業者側の端部に当接する位置を通過する際には、作業者が可動ピン72を指で押圧して上記退避位置へと移動させる。可動ピン72が保持板2の作業者側の端部を通過して、保持板2の下方に移動したら、作業者は可動ピン72の押圧を止めて、上ピンボード3を更に奥側へとスライドさせる。保持板2の規制穴71と上ピンボード3の可動ピン72とが整列する位置まで上ピンボード3をスライドさせると、可動ピン72はバネ73によって付勢されて、上記嵌合位置へと移動するため、可動ピン72は規制穴71内へと嵌入する。この状態で、上ピンボード3の保持板2に対する位置が規制される。
When the
上ピンボード3を保持板2から取り外す際には、作業者は、上記嵌合位置にあって規制穴71と嵌合している可動ピン72を、規制穴71の上側から押圧して、上記退避位置へと移動させる。そして、上ピンボード3を図7の紙面に垂直な方向に沿って手前側にスライドさせる。可動ピン72が規制穴71の位置からずれて保持板2の下方に移動したら、作業者は可動ピン72の押圧を止めて、上ピンボードを更に手前側へとスライドさせて、上ピンボード3を保持板2から取り外す。
When removing the
図7に示す回路基板検査装置1と同様に、本実施例においても、上ピンボード3は、保持板2に対して所定のクリアランスをもって支持されている。又、上ピンボード3には、被検査回路基板9に対する位置決め用のガイドピン32が設けられている。又、基台5及び/又は下ピンボード4には、ガイドピン32を逃がすための逃げ孔42、51が形成されている。更に説明すると、上ピンボード3の規制穴71は、可動ピン72の軸部72aと所定のクリアランスをもって嵌合するように形成されている。即ち、可動ピン72の軸部72aの外径は、規制穴71の内径よりも小さい。又、上ピンボード3の保持受け部33、33は、保持板2のガイドレール21、21と所定のクリアランスをもって係合するように形成されている。即ち、上ピンボード3のスライド方向と略直交する方向における、上ピンボード3の保持受け部33の外面間の距離は、同方向における対応する位置の保持板2のガイドレール21、21の内面間の距離よりも小さい。これにより、上ピンボード3と保持板2との間で、保持板2及び上ピンボード3の主平面に沿う全方向(本実施例では水平方向)に自由度(クリアランス、故意のガタツキ)を持たせることができる。従って、上ピンボード3を保持板2及び上ピンボード3の主平面に沿う全方向に移動させて、上ピンボード3の被検査回路基板9に対する相対位置を微調整することができる。
Similar to the circuit board inspection apparatus 1 shown in FIG. 7, also in this embodiment, the
そして、上ピンボード3が装着された保持板2が被検査回路基板9に向けて下降されると、上ピンボード3に設けられたガイドピン32が被検査回路基板9の所定位置に形成されたガイド孔91に嵌合する。これにより、上ピンボード3の被検査回路基板9に対する位置ずれがある場合にも、この位置ずれは、保持板2と上ピンボード3との間のクリアランスにより吸収される。
When the holding
このように、本実施例によれば、規制穴71、可動ピン72によって、上ピンボード3の被検査回路基板9に対する相対位置の微調整を可能とすると共に、上ピンボード3が保持板2に対して許容量以上移動すること或いは不意に上ピンボード3が保持板2から外れてしまうことを防止して、上ピンボード3などの破損を防止することができる。又、規制穴71、可動ピン72は、上ピンボード3の保持板2に対する装着方向を指示する役目も果たす。そして、本実施例によれば、可動ピン72は、上ピンボード3に取り付けられたまま、規制穴71に対して上記嵌合位置と上記退避位置との間で移動可能であるので、可動ピン72を取り付け忘れることはない。又、本実施例によれば、可動ピン72は、作業者が指で押圧することで上記嵌合位置と上記退避位置との間で移動させることができるので、可動ピン72の規制穴71に対する嵌合、解除を容易に行うことができる。
As described above, according to the present embodiment, the relative position of the
以上のように、本実施例によれば、上ピンボード3の保持板2に対する位置を規制するための部材である可動ピン72は、常に上ピンボード3に取り付けられているので、上ピンボード3の保持板2に対する位置を規制するための部材の取り付け忘れをなくして、確実に上ピンボード3の保持板2に対する位置を規制することができる。
As described above, according to the present embodiment, the
実施例2
次に、本発明の他の実施例について説明する。本実施例の回路基板検査装置1の基本的な構成及び動作は実施例1と同じである。従って、実施例1のものと同一又はそれに相当する機能、構成を有する要素には同一符号を付して、詳しい説明は省略する。
Example 2
Next, another embodiment of the present invention will be described. The basic configuration and operation of the circuit board inspection apparatus 1 of the present embodiment are the same as those of the first embodiment. Accordingly, elements having the same functions or configurations as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
実施例1では、ピンボード位置規制機構7を構成する規制穴71は保持板2に設けられ、又ピンボード位置規制機構7を構成する可動ピン72は上ピンボード3に取り付けられていた。しかし、本発明は、斯かる配置態様に限定されるものではなく、規制穴71が上ピンボード3に設けられ、可動ピン72が保持板2に取り付けられていてもよい。
In the first embodiment, the restriction holes 71 constituting the pinboard
図5及び図6は、本実施例の回路基板検査装置1が備える保持板2及び上ピンボード1の概略断面であって、保持板2に上ピンボード1が装着された状態を示す。図1及び図2と同様、図5及び図6においては、上ピンボード3に設けられているテストプローブ31やガイドピン32(図7参照)の図示は省略されている。
5 and 6 are schematic cross sections of the holding
図5及び図6に示すように、本実施例では、保持板2には、上ピンボード3の保持板2に対する位置を規制するための凸部としての可動ピン72が取り付けられている。又、上ピンボード3には、上ピンボード3の保持板2に対する位置を規制するための、上記可動ピン72が嵌合する凹部としての規制穴72が、上ピンボードを貫通して設けられている。可動ピン72は、上ピンボード3が保持板2に装着された際に上ピンボード3側に突出して規制穴71と嵌合する第1の位置(嵌合位置)と、保持板2の内側に退避して規制穴71から離脱する第2の位置(退避位置)との間を移動可能である。又、可動ピン72は、付勢手段としてのバネ73によって第1の位置(嵌合位置)に向けて付勢されている。
As shown in FIGS. 5 and 6, in this embodiment, the holding
ピンボード位置規制機構7を構成する規制穴71、可動ピン72、バネ73、ピン収容部74などの構成や動作方法は、これらの各要素の配置態様が異なることを除いて実施例1のものと同じである。
The configuration and operation method of the
以上のように、本実施例のように、規制穴71が上ピンボード3に設けられており、可動ピン72が保持板2に設けられている場合にも、実施例1と同様の効果が得られる。
As described above, when the
他の実施例
以上、本発明を具体的な実施例に則して説明したが、本発明は上述の実施例に限定されるものではない。例えば、上述の実施例では、保持板に保持されるピンボードは、被検査回路基板の上側に配置される、進退可能な上ピンボードであるものとして説明した。しかし、保持板に保持されるピンボードが被検査回路基板の下側に配置される場合であっても、或いはピンボードが被検査回路基板に対して進退せずに所定位置に配置される場合であっても、本発明を等しく適用することができ、上述の実施例と同様の効果が得られる。
Other Embodiments Although the present invention has been described based on the specific embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments. For example, in the above-described embodiments, the pin board held by the holding plate is described as being an upper pin board that can be moved back and forth and disposed on the upper side of the circuit board to be inspected. However, even when the pin board held by the holding plate is disposed below the circuit board to be inspected, or when the pin board is disposed at a predetermined position without moving back and forth with respect to the circuit board to be inspected. Even so, the present invention can be equally applied, and the same effect as the above-described embodiment can be obtained.
1 回路基板検査装置
2 保持板
3 上ピンボード(ピンボード)
7 ピンボード位置規制機構
71 規制穴(凹部)
72 可動ピン(凸部)
73 バネ(付勢手段)
74 ピン収容部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit
7 Pinboard
72 Movable pin (convex)
73 Spring (biasing means)
74 pin housing
Claims (5)
前記保持板は、前記ピンボードの主平面が前記保持板の主平面と略平行な状態で前記ピンボードを前記保持板に対して相対移動させることを可能とすると共に前記ピンボードを前記保持板に対して保持する保持部と、前記ピンボードの前記保持板に対する位置を規制するための凹部と、を有し、
前記ピンボードは、前記保持板の前記保持部によって保持される保持受け部と、前記ピンボードの前記保持板に対する位置を規制するための、前記凹部と嵌合する凸部と、を有し、
前記凸部は、前記ピンボードが前記保持板に装着された際に前記保持板側に突出して前記凹部と嵌合する第1の位置と、前記ピンボードの内側に退避して前記凹部から離脱する第2の位置との間を移動可能であり、付勢手段によって前記第1の位置に向けて付勢されていることを特徴とする回路基板検査装置。 A holding plate arranged so that its main plane is substantially parallel to the main plane of the circuit board to be inspected, and a test probe that comes into contact with a predetermined part of the circuit board to be inspected are provided. In a circuit board inspection device having a pin board,
The holding plate enables the pin board to move relative to the holding plate in a state where the main plane of the pin board is substantially parallel to the main plane of the holding plate, and the pin board is moved to the holding plate. A holding portion that holds the pinboard, and a recess for restricting the position of the pinboard relative to the holding plate,
The pin board has a holding receiving portion held by the holding portion of the holding plate, and a convex portion that fits the concave portion for regulating the position of the pin board with respect to the holding plate,
The convex portion protrudes toward the holding plate when the pin board is mounted on the holding plate, and is retracted to the inside of the pin board and detached from the concave portion. A circuit board inspection apparatus, wherein the circuit board inspection apparatus is movable toward and from the second position and is biased toward the first position by a biasing means.
前記保持板は、前記ピンボードの主平面が前記保持板の主平面と略平行な状態で前記ピンボードを前記保持板に対して相対移動させることを可能とすると共に前記ピンボードを前記保持板に対して保持する保持部と、前記ピンボードの前記保持板に対する位置を規制するための凸部と、を有し、
前記ピンボードは、前記保持板の前記保持部によって保持される保持受け部と、前記ピンボードの前記保持板に対する位置を規制するための、前記凸部が嵌合する凹部と、を有し、
前記凸部は、前記ピンボードが前記保持板に装着された際に前記ピンボード側に突出して前記凹部と嵌合する第1の位置と、前記保持板の内側に退避して前記凹部から離脱する第2の位置との間を移動可能であり、付勢手段によって前記第1の位置に向けて付勢されていることを特徴とする回路基板検査装置。 A holding plate arranged so that its main plane is substantially parallel to the main plane of the circuit board to be inspected, and a test probe that comes into contact with a predetermined part of the circuit board to be inspected are attached. In a circuit board inspection device having a pin board,
The holding plate enables the pin board to move relative to the holding plate in a state where the main plane of the pin board is substantially parallel to the main plane of the holding plate, and the pin board is moved to the holding plate. Holding part for holding, and a convex part for regulating the position of the pin board with respect to the holding plate,
The pin board has a holding receiving portion held by the holding portion of the holding plate, and a concave portion into which the convex portion is fitted for regulating a position of the pin board with respect to the holding plate,
The convex portion protrudes toward the pinboard when the pinboard is mounted on the holding plate and fits into the concave portion, and retracts to the inside of the holding plate and separates from the concave portion. A circuit board inspection apparatus, wherein the circuit board inspection apparatus is movable toward and from the second position and is biased toward the first position by a biasing means.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014219243A (en) * | 2013-05-07 | 2014-11-20 | 日置電機株式会社 | Circuit substrate inspection device |
JP2022176628A (en) * | 2021-05-17 | 2022-11-30 | 日東電工株式会社 | Method for manufacturing wiring circuit board assembly sheet |
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2010
- 2010-07-23 JP JP2010166348A patent/JP2012026889A/en active Pending
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