JP2011529256A - 誘電体スラブのエッジ部の誘電加熱 - Google Patents

誘電体スラブのエッジ部の誘電加熱 Download PDF

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Abstract

スラブがその間部分を通過するところの一対のコイルセクションを含む横断磁束誘導コイルを使用する、誘電性の非鉄材料を含むスラブのエッジ部の誘導加熱が達成される。各コイルセクションはスラブの各エッジ部を超えて横断方向に伸延される。各コイルセクションの、スラブの上下の各領域の周囲に磁束集中化装置が位置決めされる。スラブのエッジ部付近で、対向状態下に伸延する各コイルセクションの各端部間に磁束補償装置が送通される。あるいはスラブの各エッジ部の一方のみが誘導加熱され得る。

Description

本件出願は、ここに参照することによりその全体を本明細書の一部とする、2008年7月25日付提出の米国仮特許出願番号第61/083547号の利益を主張するものである。
本発明は誘電性の、非鉄材料から形成したスラブのエッジ部の誘電加熱に関する。
従来の横断磁束インダクタは、2つのセクションを持つ誘導コイルを有する。連続または個別長さの誘電性シート材を誘導コイルの前記2つのセクション間に配置し、誘導コイルにAC電流を印加し、前記シート材を誘導コイルの前記2つのセクション間で移動させることで該シート材がその断面に沿って誘導加熱され得る。例えば、図1では誘導コイルがコイルセクション101及びコイルセクション103を含み、これらセクションが、例えば、矢印で表す方向で誘導コイルを貫いて連続的に移動する金属ストリップ90であり得るシート材の上下に夫々位置付けられる。X、Y、Zの各方向軸が、図1に示す3次元直交空間を画定する。従って、ストリップはX軸方向に移動する。各コイルセクション間の間隙、gc、または開口は、図では明瞭化のために誇張されているがストリップの断面を横断するその長さは一定である。コイルセクション101の端子101a及び101bと、コイルセクション103の端子103a及び103bとは、図示される如き瞬時電流極性を持つ1つ以上の好適なAC電源(図示せず)に接続される。誘導コイルに電流を通すと代表的な磁束線105(点線で示す)で表す共通磁束が発生し、この共通磁束がストリップを直交方向に貫くとストリップの平面に渦電流が誘起される。例えば磁束集中化装置117(図ではコイルセクション101の周囲に一部を示す)あるいはその他の高透過性、低磁気抵抗性材料を用いて磁界をストリップに配向させ得る。誘導加熱有効化のための電流周波数(fヘルツ)は以下の式により得られる。
f=2×106(ρ・gc/τ2・ds
ここで、ρはΩ・mでのストリップの電気抵抗値、gcは各コイルセクション間のメートル単位の間隙(開口)、τは誘導コイルのメートル単位の極間隔(ステップ)、dsはストリップのメートル単位の厚さとする。
図2には図1の構成において、誘導コイルの極ピッチ間隔を比較的小さくし、前記式により得られる電流周波数が相当して低下した状態におけるストリップの代表的な横断方向加熱プロファイルを例示する。図2ではX軸はストリップの標準化断面座標を表し、ストリップの中心座標位置は0.0、ストリップの各エッジ部の座標位置は各+1.0及び−1.0に位置付けられている。Y軸はストリップの誘導加熱により達成される標準化温度を表し、標準化温度1.0では、ストリップの中央領域111の横断方向における加熱温度が全体に一様である状況が示される。ストリップのエッジ部付近の部分113(肩部とも称する)ではストリップの断面誘導温度は標準化温度値の1.0よりも低下し、ストリップのエッジ部115では標準化温度の1.0以上である。
マルチステップを含む工業プロセスには、材料を先ず加熱し、次いで第2プロセスステップに移送するものがある。初期加熱後の第2プロセスステップへの移送に際し、材料のエッジ部温度は相当に低下する。結局、材料の初期加熱と第2プロセスステップとの間で材料のエッジ部を何らかの方法で加熱する必要がある。
誘導加熱に関し、ストリップは、材料の誘導渦電流の標準侵入深さが当該材料の肉厚未満であるプロセスにより誘導加熱されるシート材として定義し得る。逆にスラブは、材料の誘導渦電流の標準侵入深さが材料の肉厚以上であるプロセスにより誘導加熱されるシート材として定義し得る。シート材のエッジ部の誘導加熱技法は材料がストリップであるかスラブであるかにより相違し得る。
米国仮特許出願番号第61/083547号明細書
横断磁束誘導コイルの非従来様式的使用による誘電性スラブ材のエッジ部加熱装置及び方法であって、誘導加熱が、スラブ材の横幅を横断してより均一に配分されるのとは逆に、スラブ材のエッジ部に集中されるエッジ部加熱装置及び方法を提供することである。
本発明の1様相によれば、誘電性スラブのエッジ部を横断磁束誘導コイルで誘導加熱する装置及び方法であって、横断磁束誘導コイルの各横断方向端部をスラブの各エッジ部を超えて伸張させ、横断磁束誘導コイルの各伸張セクション間で前記各エッジ部に隣り合う位置に磁束補償装置を送通すること、を含む前記装置及び方法が提供される。
他の様相によれば、誘電性材料のスラブの少なくとも1つの横断方向エッジ部を誘導加熱する、スラブのエッジ部誘導加熱装置及び方法が提供される。一対の横断磁束誘導コイルセクションが提供される。一対の横断磁束誘導コイルセクションの各々は一対の横断方向コイルセグメントを有する。一対の横断磁束誘導コイルセクションの一方における一対の横断方向コイルセグメントの各々は、前記一対の横断磁束誘導コイルセクションの他方における一対の横断方向コイルセグメントから離間され、かくしてその間部分にスラブ誘導加熱部分を形成し、当該スラブ誘導加熱部分にスラブをその長手方向に沿って、前記一対の横断磁束誘導コイルセクションの各1つにおける一対の横断方向コイルセグメントと実質的に直交する方向において通過させ得る。一対の横断磁束コイルセクションの各々における横断方向コイルセグメントは同一平面内でコイルピッチ距離において相互に分離される。一対の横断磁束コイルセクションの各横断方向コイルセグメントは横断方向延長端を有し、当該横断方向延長端はスラブ誘導加熱領域内でスラブの少なくとも1つのエッジ部を超えて横断方向に伸延する。
各一対の横断磁束コイルセクションの各横断方向コイルセグメントの横断方向伸張端部が、スラブ誘導加熱領域内のスラブの長手方向に実質的に直交する別の横断方向コイルセグメントにより相互連結される。各一対の横断方向コイルセグメントの各横断方向伸張端と前記横断方向コイルセグメントとは、各横断方向伸張端と、各一対の横断磁束コイルセクションの横断方向コイルセグメントとの間におけるエッジ補償装置を形成する。少なくとも1つの磁束集中化装置が、スラブ誘導加熱領域と逆向きの実質的に全ての方向において、一対の横断磁束コイルセクションの少なくとも横断方向コイルセグメントを包囲する。少なくとも1つの交流電源が一対の横断磁束コイルセクションに接続され、瞬時電流が各一対の横断磁束コイルセクションを同一方向で流れる。少なくとも1つの交流電源は以下の式に従い決定する出力周波数fslabを有する。
式:fslab>0.5・107・(ρslab/d2 slab
ここで、ρslabはスラブの電気抵抗測定値、dslabはスラブ厚とする。
エッジ補償装置領域内には導伝性補償装置を配置する。
従来の横断磁束インダクタ構成の例示図である。 図1の横断磁束インダクタ構成の代表的断面誘導加熱を例示するグラフである。 本発明のスラブエッジ誘導加熱装置の1例の、横断磁束誘導コイルの上部セクションのみを可視化して示す平面図である。 図4(a)は図3のスラブエッジ部誘導加熱装置の、図3を線A−Aに沿って切断した断面図である。 図4(b)は、電源との接続の1例を含む図3のスラブエッジ誘導加熱装置を図3の線B−Bに沿って切断した断面図である。 図4(c)は図3のスラブエッジ誘導加熱装置で使用する磁束補償装置の1例の斜視図である。 図4(d)は図3のスラブエッジ誘導加熱装置を線C−Cに沿って切断した断面図である。 図3、図4(a)、(b)、(c)、(d)に示す横断磁束インダクタ構成における代表的な断面誘導加熱特性を例示するグラフである。 (a)は、(b)に示す如くその横断方向の各端部をシート材の各エッジ部付近に位置付けた横断磁束コイルセクション上で、スラブの各端部を超えて横断方向に伸張する端部を有する横断磁束インダクタを使用する場合の利益を示す例示図である。 (a)は、(b)に示す如き従来技術において達成し得る代表的磁束場を上回る、本発明において達成し得る代表的な磁束場の例示図である。
同じ参照番号は同様の要素を表す図3、図4(a)、(b)、(c)、(d)を参照するに、本発明のスラブエッジ部誘導加熱装置の1例が示される。
スラブ91は、当該スラブの各側面の上下に各配置されて横断磁束インダクタ(誘導コイル)12を構成するところの横断磁束コイルセクション(以下、コイルセクションとも称する)12a及び12bの横断方向コイルセグメント(以下、コイルセグメントとも称する)12a1及び12b1間でX軸方向に移動する。2つのコイルセクションはZ方向において相互に平行であることが好ましい。銅配合物等の高導伝材から形成した導電性補償装置20を、以下に説明する如くエッジ補償装置領域内でスラブの各エッジ部の隣に配置する。コイルセクション12a及び12bは、瞬時電流が矢印で表す方向に流れるよう、例えば図4(b)に示す如く単一の電源92に接続するのが好ましい。図4(b)では電源は前記2つのコイルセクションの各コイルの一端に接続されるが、本発明の他の実施例ではその他好適な電源接続ポイントを使用できる。例えば、電源をコイルセグメントの各コイルセクションに接続し得る。電源は、各コイルセクション用に個別化するよりはむしろ、上下の各コイルセクション間の磁束対称化が容易化され得るよう単一であるのが好ましい。
各コイルセクションの周囲を伸延する磁気分路94(図3ではコイルセクション12aのコイルセグメント12a1のみにおいて例示される)が、一対のコイルセクション12a及び12bを構成する。各コイルセクションは、極ピッチ距離(Xc)において分離された一対の横断方向コイルセグメントを有する。各横断方向コイルセグメントは、例えば、横断方向コイルセグメント12a1に関し、図3に示す如くスラブの横断方向エッジ部を超えて横断方向に伸延する。隣り合う横断方向コイルセグメントの伸張端は、スラブの長手方向に実質的に平行方向であり得る横断方向コイルセグメントにより相互連結される。横断方向コイルセグメント12a1の隣り合う一対の各端部は、例えば、図3に示す如く横断方向コイルセグメント12a2により相互連結される。図3に示す本発明の実施例では、横断方向コイルセグメント12a1の各伸張端は、結局は横断磁束コイルセクションを交流電源に接続するところのコイルセグメント12a’及び12a”を組み合わせて形成した横断方向コイルセグメントにより相互連結される。各磁気分路は、各コイルセクションで電流により生ずる磁束をスラブ91の表面に配向させるべく、各コイルセクション間を移動するスラブの少なくとも全幅に渡り各横断方向コイルセグメントを超えて伸延するのが好ましい。
本発明では、非強磁性配合物から形成したスラブ用のエッジヒーターとして使用する場合、電源92の出力周波数fslabを以下の式で決定する値より大きくなるように選択すべき点が重要となる。
slab>0.5・107・(ρslab/d2 slab)--------------(式1)
ここで、ρslabはスラブのΩ・mでの電気抵抗測定値、dslabはメートルでのスラブ厚とする。
スラブの横断方向幅の範囲は、補償装置をY軸(横)方向に移動させてスラブの幅変化を収受させる手段96(図3)を設けることを前提として本発明の1構成により収受され得る。例えば、補償装置用の移動装置は、当該補償装置に構造上連結し且つ1つ以上の線形アクチュエータ(または代替法としての手動操作)の出力部に装着した直線レールまたは直線ロッドであり得る。
本発明の1特定実施例において、横幅が1000〜2150mmの間、肉厚が30〜60mmの間であるスラブが、本発明の以下に説明するスラブエッジ誘導加熱装置において収受され得る。各横断磁束コイルセクションにおける一対の横断方向コイルセグメントの間隙(xc)は約900mm、各コイルセクションは幅(yc)約2400mm、各横断磁束コイルセクションを構成するコイルの幅は、当該コイルセクションを図4(d)に例示する如く水等の冷却用媒体を流す最適の中空内側通路を持つ矩形導伝体として形成した場合は約240mm(wcoil)である。スラブ幅に対するコイル間隙の比が増大するに従い、スラブの残余の横断面に誘起される電力に対するスラブエッジ部の誘導電力の比も増大する。各補償装置20は銅配合物等の導電性材料から形成され、長さxcomp約1300mm、幅ycomp約900mm、そして高さzcompは、補償装置と、隣り合うコイルセクションとの間の短絡を防止する必要上、間隙zgapより若干小さくなる。上方のコイルセクション12aと下方のコイルセクション12bとの間の距離(間隙)zgapは約250mmである。スラブ幅が変化した場合は補償装置をY軸方向に移動させ、スラブのエッジ部分と隣の補償装置のエッジ部との間に最小離間距離ygapを持たせる。例えば、各補償装置間でのスラブのY軸方向の振れを許容するには最小離間距離ygapを40mm取れば十分である。図3に示す距離d1はスラブ幅の最大2150mmから1000mmへの変化に従い、約ゼロから575mmに変化し、各補償装置がY軸方向に移動して前記幅変動を収受する。本発明の当該実施例で使用する磁束補償装置の寸法形状は、各磁束補償装置が、横断方向コイルセグメントの各横断方向伸張端と、対向する各コイルセクション12a及び12bの隣り合う長手方向セグメントとの間で且つスラブの各エッジ部に隣り合う補償装置のエッジ領域に位置付けられるよう選択される。
スラブ、各コイル及び補償装置に関する上述した寸法形状は本発明の横断磁束コイル構成を使用して先に説明した範囲のスラブのエッジ部加熱を達成する上で最も好ましいものであることが分かった。上述した構成は本発明のその他実施例ではその他構成に拡張される。図5には本発明を使用して達成し得るエッジ部加熱の2つの実施例が例示され、スラブのエッジ部間の幅が2150mmまたは1000mmである場合、スラブのエッジ部は50℃温度に誘導加熱され得、他方、スラブの中央断面領域の公称温度上昇は5℃である。本発明のスラブエッジ部誘導加熱装置を使用すると、幅1000mmのスラブの横断方向エッジ部の温度を図5に例示される如くスラブの横幅の内側約65%(ws1)部分の温度(5℃)の10倍(50℃)に誘導加熱させ得る。本発明のスラブエッジ部誘導加熱装置を使用すると、幅2150mmのスラブのスラブの横断方向エッジ部の温度を、スラブの横幅の内側約80%(ws2)部分の温度(5℃)の10倍(50℃)に誘導加熱させ得る。
本発明で使用する横断磁束誘導コイルの横断方向の各端部を伸ばすことで、ストリップのエッジ部における誘導電流が最大限において集中される。コイルの横断方向の各端部をスラブのエッジ部付近に位置決めした図6(b)の構成では、スラブの各エッジ部での瞬時誘導渦電流(番号93bで示す矢印方向での)と、当該電流による誘導加熱とは最適化されないが、本発明の如くコイルの横断方向各端部を伸張させ且つ磁束集中装置を使用する図6(a)の構成では、スラブの各エッジ部に誘起される渦電流(番号93bで示す矢印方向での)が最大化される。
動作周波数fslabをスラブ材の導電性及び肉厚に基づいて選択することで、上述した従来技術における図7(b)に示す磁束配分98(点線)とは逆に、エッジ部加熱に好都合な、図7(a)に例示する如き磁束配分99(点線)が生成される。一般に、本発明のエッジ部加熱を有効化するには、スラブの肉厚対渦電流の標準侵入深さの比を約3以上とするのが好ましい。この点は渦電流の標準侵入深さがストリップの肉厚未満とされる上述した従来のストリップ加熱法とは対照的である。
横断磁束コイルセクションの伸張端部間で磁束補償装置を(空気に代えて)使用することでコイルのインピーダンスが著しく低下し、かくしてスラブエッジ部の誘導加熱に十分な電力が電源から提供され得る。
横断磁束コイルセクションの横断方向コイルセグメントを通して移動する各スラブは任意長さを有し得る。
上述した各例では単一巻きコイルセクションを持つ横断磁束インダクタを使用するが、本発明の他の例では多重巻きコイルセクションが使用される。本発明の上述した各例のスラブエッジ部誘導加熱装置及び方法の各実施例はスラブの横断方向の両エッジ部を加熱するが、他の例ではスラブの横断方向の一方のエッジ部のみが誘導加熱される。
以上、本発明を実施例を参照して説明したが、本発明の内で種々の変更をなし得ることを理解されたい。
12a1、12a2 横断方向コイルセグメント
12a、12b コイルセクション
20 導電性補償装置
91 スラブ
92 電源
94 磁気分路
96 手段
98、99 磁束配分

Claims (8)

  1. 導伝性材料のスラブの横断方向エッジ部の少なくとも1つを誘導加熱するためのスラブエッジ部誘導加熱装置であって、
    一対の横断磁束コイルセクションにして、各横断磁束コイルセクションが一対の横断方向コイルセグメントを有し、前記一対の横断磁束コイルセクションの一方における一対の横断方向コイルセグメントが、他方の前記横断磁束コイルセクションの一対の横断方向コイルセグメントから離間され、かくしてスラブがその長手方向を前記一対の横断磁束コイルセクションの各一対の横断方向コイルセグメントと実質的に直交する状態下に通過するところのスラブ誘導加熱領域が形成され、前記一対の横断磁束コイルセクションの各々における前記横断方向コイルセグメントがコイルピッチ距離において同一平面内で相互離間され、前記一対の横断磁束コイルセクションの各々における前記横断方向コイルセグメントが、前記スラブ誘導加熱領域内でスラブの少なくとも1つのエッジ部を超えて横断方向に伸延する横断方向伸張端を有し、前記一対の横断磁束コイルセクションの各横断方向コイルセグメントの前記横断方向伸張端が、前記スラブ誘導加熱領域内でスラブの長手方向と実質的に平行配向した別個の長手方向コイルセグメントにより相互連結され、前記横断方向伸張端と前記長手方向コイルセグメントとが、前記横断方向伸張端と前記一対の横断磁束コイルセクションの各前記長手方向コイルセグメントとの間にエッジ補償装置領域を形成する前記一対の横断磁束コイルセクションを含み、
    少なくとも1つの前記磁束集中化装置が、前記一対の横断磁束コイルセクションの少なくとも1つの横断方向コイルセグメントを、前記スラブ誘導加熱領域とは逆向きの実質的に全ての方向において包囲し、
    少なくとも1つの交流電源が前記一対の横断磁束コイルセクションに接続され、かくして瞬時電流が前記一対の横断磁束コイルセクションの各々を通して同一方向に流れ、各前記少なくとも1つの交流電源が、ρslabをスラブの電気抵抗測定値、dslabをスラブ厚とする式:fslab>0.5・107・(ρslab/d2 slab
    に従い決定する出力周波数fslabを有し、前記エッジ部補償装置領域内に導伝性の磁束補償装置が配置されるスラブエッジ部誘導加熱装置。
  2. 磁束補償装置が全体に矩形形状を有し、その長さが極ピッチ距離以上であり、その高さが、前記一対の横断磁束コイルセクションの長手方向コイルセグメントの各前記横断方向伸張端間の距離に実質的に等しく、他方、前記一対の横断磁束コイルセクション間の電気的絶縁性を維持する高さであり、前記磁束補償装置の高さがスラブ肉厚以上である請求項1のスラブエッジ部誘導加熱装置。
  3. 前記少なくとも1つの横断方向エッジ部がスラブの横幅の内側65%部分における温度の少なくとも10倍もの高さの温度に誘導加熱される請求項1のスラブエッジ部誘導加熱装置。
  4. 誘導渦電流侵入深さに対するスラブ肉厚の比が3以上である請求項1のスラブエッジ部誘導加熱装置。
  5. スラブ誘導加熱領域内におけるスラブの横幅の変化に応じて導伝性補償装置を移動させる装置を更に含む請求項1のスラブエッジ部誘導加熱装置。
  6. 導伝性のスラブの少なくとも一方の横断方向エッジ部を誘導加熱する方法であって、
    各々が一対の横断方向コイルセグメントを有する一対の横断磁束コイルセクション間に導電性のスラブを通過させること、
    前記一対の横断磁束コイルセクションに交流電流を印加し、かくして瞬時電流を前記一対の横断磁束コイルセクションの各々を通して同一方向に流すこと、
    前記交流電流の周波数を、ρslabをスラブの電気抵抗測定値、dslabをスラブ厚とする式:fslab>0.5・107・(ρslab/d2 slab
    に従い決定するスラブエッジ部加熱周波数fslabに設定すること、及び、
    前記エッジ部補償装置領域内に導伝性の磁束補償装置を配置すること、
    を含み、
    前記一対の横断磁束コイルセクションの一方における一対の横断方向コイルセグメントが、他方の前記横断磁束コイルセクションの一対の横断方向コイルセグメントから離間され、かくしてスラブがその長手方向を前記一対の横断磁束コイルセクションの各一対の横断方向コイルセグメントと実質的に直交する状態下に通過するところのスラブ誘導加熱領域が形成され、前記一対の横断磁束コイルセクションの各々における前記横断方向コイルセグメントがコイルピッチ距離において相互に同一平面内で離間され、前記一対の横断磁束コイルセクションの各々における前記横断方向コイルセグメントが、前記スラブ誘導加熱領域内でスラブの少なくとも1つのエッジ部を超えて横断方向に伸延する横断方向伸張端を有し、前記一対の横断磁束コイルセクションの各横断方向コイルセグメントの前記横断方向伸張端が、前記スラブ誘導加熱領域内でスラブの長手方向に実質的に平行に配向した別個の長手方向コイルセグメントにより相互連結され、前記横断方向伸張端と前記長手方向コイルセグメントとが、前記横断方向伸張端と前記一対の横断磁束コイルセクションの各々の前記長手方向コイルセグメントとの間にエッジ補償装置領域を形成し、少なくとも1つの前記磁束集中化装置が、前記一対の横断磁束コイルセクションの少なくとも1つの横断方向コイルセグメントを、前記スラブ誘導加熱領域とは逆向きの実質的に全ての方向において包囲する前記方法。
  7. 導電性のスラブの少なくとも1つの横断方向エッジ部を、該スラブの横幅の内側65%部分の温度の少なくとも10倍もの高さに誘導加熱することを更に含む請求項6の方法。
  8. 前記スラブ誘導加熱領域内のスラブ横幅の変化に応じて前記導電性補償装置を移動させることを更に含む請求項6の方法。
JP2011520247A 2008-07-25 2009-07-25 誘電体スラブのエッジ部の誘電加熱 Active JP5536058B2 (ja)

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