JP2011521459A - 熱電素子 - Google Patents
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Abstract
Description
Q=kAΔT/t
であり、kは熱伝導率、Aは面積、ΔTは温度差、そしてtは厚さである。当該方程式は、厚さtが1/10に減少された場合、面積Aが同様に1/10に低下すれば、すなわち、装置の10%のみが実際に熱電材料であればQは維持されることを示している。しかし、これは高温側から低温側への隔たりを経る熱の分路による損失をもたらす。この問題を解決する一つの方法は、スペーサによって両側を隔てることである(図1参照)。絶縁材料を熱電材料の間に加えることもできる。しかし、この問題に対するより優れた解決法を提供することは有益である。
厚さ130μm以下のセルロースアセテートのフィルター膜材料がフロースルーALDを用いて1%のAlドープZnOで被覆された。Al2O3の核生成被覆が材料上に最初に堆積された。目的の被覆厚は12nm以下であった。次に行われた重量の測定結果から、被覆の体積分率は6%以下であると見積もられた。図7は被覆された材料の断面(破断面)の走査型電子顕微鏡写真である。透過型電子顕微鏡写真から、被覆の厚さは目的の厚さに非常に近いことが推測された。
実施例1のセルロースアセテート材料が、フロースルーALDを用いて1%のAlドープZnOとAl2O3との交互に重ねられたナノメートル層で被覆された。Al2O3の核生成被覆が最初に材料上に堆積された。目的の被覆厚は12nm以下であった。最後の表面層はAl2O3であった。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は6%以下であると算出された。図8は被覆された材料の断面(破断面)の走査型電子顕微鏡写真である。図9は被覆の透過型電子顕微鏡写真であり、被覆厚が12nm以下であることを示している。また、ナノメートル層も視認できる。AlドープAnO層の厚みは3nm以下であり、Al2O3層の厚みは1nm未満である。図10は被覆の暗視野透過型電子顕微鏡写真であり、ナノメートルサイズの粒子(明部)を示している。被覆が光線に対して傾いているため、この写真における被覆の見かけの厚みは12nmより厚い。
実施例1のセルロースアセテート材料が、目的の被覆厚を40nm以下としてフロースルーALDを用いて2%のAlドープZnOで被覆された。Al2O3の核生成被覆が材料上に最初に堆積された。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は17.1%であると算出された。試料上に接触材が配置され、一方の側が加熱され、高温側と低温側の間の電圧差を測定することによって熱電挙動が観察された。結果を表1に示す。
実施例1のセルロースアセテート材料は、フロースルーALDによって2%のAlドープAnO及びAl2O3の交互に積み重ねられたナノメートル層で被覆された。目的の被覆厚は40nm以下であった。最後の表面層はAl2O3であった。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は17.9%であると算出された。試料上に接触材が配置され、一方の側が加熱され、高温側と低温側の電圧差を測定することによって熱電挙動を観察した。結果を表2に示す。表1と表2の結果を比較すると、ナノメートル層材料は、均一な被覆を有する材料よりも非常に高いゼーベック係数(V/K)を有することが明らかである。
実施例1のセルロースアセテート材料が、目的の被覆厚を20nm以下としてフロースルーALDにより2%のAlドープAzOによって被覆された。Al2O3の核生成被覆が材料上に最初に堆積された。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は9.4%であると算出された。接触材が試料上に配置され、一方の側が加熱され、高温側と低温側の電圧差を測定することによって熱電挙動が観察された。結果を表4に示す。
厚さが130μmであるニトロセルロースのフィルター膜がフロースルーALDによって1%のAlドープZnOで被覆された。目的の厚みは12nm以下であった。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は6%以下であると算出された。図11は被覆された材料の断面(破断面)の走査型電子顕微鏡写真である。エネルギー分散分光法(EDS)の測定結果は、Zn及びAlの濃度はフィルムの厚み方向にわたって類似していたことを示し(図12)、堆積が成功していることを示した。図12において、組成の変化は主に破断面における形態の変化に起因すると考えられる。ALD被覆の間のわずかな前駆体の浸透は関連する成分の一定の減少を引き起こすであろうが、これは観察されなかった。
実施例5のニトロセルロースは、フロースルーALDにより1%のAlドープZnOとAl2O3の交互に重ねられたナノメートル層によって被覆された。被覆の合計の厚みは12nmを目標にされた。最後の表層はAl2O3であった。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は6%以下であると算出された。図13は被覆された材料の断面(破断面)の走査型電子顕微鏡写真である。エネルギー分散分光法(EDS)の測定結果は、Zn:Alの比率がフィルムの厚み方向にわたって類似していたことを示し(図14)、堆積が成功していることを示した。図14において、組成の変化は主に破断面における形態の変化に起因すると考えられる。ALD被覆の間における前駆体のわずかな浸透は関連する成分の一定の減少を引き起こすであろうが、これは観察されなかった。
実施例5のニトロセルロースのフィルター膜は、フロースルーALDによって2%のAlドープZnOで被覆された。目的の被覆厚は40nmであった。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は19.1%であると算出された。
実施例5のニトロセルロース材料はフロースルーALDにより2%のAlドープZnOとAl2O3の交互に重ねられたナノメートル層で被覆された。目的の被覆厚は40nmであった。最後の表層はAl2O3であった。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は20%であると算出された。接触材が試料上に配置され、一方の側が加熱され、高温側と低温側の電圧差が測定されることによって熱電挙動が観察された。結果を表5に示す。実施例4の結果と同様に、ナノメートル層の試料は高いゼーベック係数を示す。
厚さが85μm以下のセルロースのフィルター膜材料は、フロースルーALDにより1%のAlドープZnOで被覆された。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は6%以下であると算出された。被覆の厚みは12nm以下を目標とされた。図15は被覆された材料の断面(破断面)の走査型電子顕微鏡写真である。
実施例10のセルロース材料は1%のAlドープZnO及びAl2O3の交互に積み重ねられたナノメートル層で被覆された。最後の表層はAl2O3であった。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は6%以下であると算出された。被覆の合計の厚みは12nm以下を目標とされた。
シリカエアロゲルの自己支持フィルムが作成され、エアロゲル中の固体の体積分率は2%以下であった。フィルムの厚みは250μm以下であった。エアロゲルはガラス繊維で補強され、ガラス繊維の補強材の体積分率は4%以下であった。繊維の径は13μm以下であった。
実施例12のシリカエアロゲルのフィルムは、2%のAlドープZnOとAl2O3の交互に積み重ねられたナノメートル層で被覆された。最後の表層はAl2O3であった。材料の表面は1μm以下の深さにプラズマエッチングされた。次に行われた重量測定の結果から、被覆の体積分率は6%以下であると算出された。接触材が試料上に配置され、一方の側が加熱され、高温側と低温側の電圧差を測定することによって熱電挙動が観察された。結果を表6に示す。
Claims (58)
- 熱電装置に用いられる熱電素子であって、
一つ以上の材料で被覆された多孔質基材を有し、
前記材料の少なくとも一つが熱電材料であることを特徴とする熱電素子。 - 被覆が多孔質基材の表面を完全に覆っていることを特徴とする請求項1に記載の熱電素子。
- 被覆が多孔質基材の表面を部分的に覆っていることを特徴とする請求項1に記載の熱電素子。
- 多孔質基材が無秩序な多孔質基材を含むことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材が、多孔質基材の一面から多孔質基材の他面への視線の通路を提供する孔を基本的に有していない多孔質構造を有することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材が熱電材料で被覆された後も多孔性であることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 孔サイズの分布及び種類が構造を介する熱伝導率を最小にするように設計されていることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材が、エアロゲル、セルロース製の紙、キセロゲル又はL3の材料もしくはハイインターナルフェイズエマルジョンポリマから選択されることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材が7nmから250nmであるメソ孔の範囲の孔を多数有することを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材が20nmから数μmの範囲の孔を多数有することを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質フィルム又は基材が好適な孔隙率に形成された基材を含むことを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質フィルムが自己支持フィルムであることを特徴とする請求項1から11のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質フィルム又は多孔質基材が、多孔質膜又は多孔質層を中実の基材又は多孔質基材の上に形成することによって作成されることを特徴とする請求項1から11のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質層又は多孔質基材が、1m2/gより大きい、任意で10m2/gより大きい、任意で100m2/gより大きい、又は任意で少なくとも数百m2/gの表面積を有することを特徴とする請求項1から13のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材が、小さな体積分率の固体を含む多孔質基材を有することを特徴とする請求項1から14のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材が20%未満の固体、任意で10%未満の固体、又は任意で5%未満の固体を含むことを特徴とする請求項15に記載の熱電素子。
- 多孔質骨格の少なくとも一部が補強材を有することを特徴とする請求項1から16のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 補強材が一つ以上の繊維、ひげ結晶、粒子、繊維マット又は組織を含むことを特徴とする請求項17に記載の熱電素子。
- 補強材が面内に配向されていることによって、補強相を通って装置を横断する面交差熱伝導が減少されており、
高温側と低温側の間の補強材に沿った直接の熱経路を回避するためには補強材の径が熱電材料の厚みより小さいことが好ましいことを特徴とする請求項17又は18に記載の熱電素子。 - 多孔質基材は、エアロゲル、キセロゲル、L3相材料、ハイインターナルフェイズエマルジョンポリマ、三次元に配向された孔を有する三次元孔構造、制御された範囲の孔サイズ(「階層」構造)を有する多孔質基材又は多孔質被覆、被覆が外部から骨組み又は骨格に付与されている骨組み又は骨格を有する多孔質基材又は多孔質被覆、被覆が内部から付与されている貫通穴を有する固体を含む多孔質基材又は多孔質被覆、内部被覆及び外部被覆の両方が可能な中実構造を有する多孔質基材又は多孔質被覆、連続する表面又は膜を実質的に有する中実構造を含む多孔質基材又は多孔質被覆、被覆の後に除去されることによって最終物が元の多孔質基材材料をほとんど含んでいない多孔質基材、ナノメートルスケールにおいて非常に起伏に富んでいる多孔質基材、を含む群から選択されることを特徴とする請求項1から19のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材は、後で燃焼されることによって除去可能なカーボンエアロゲル、又は紙、ろ紙若しくは膜などのポリマー製品、セルロース製の紙、ろ紙若しくは膜、又は燃焼、溶解若しくは蒸発によって除去される他の基材を含むことを特徴とする請求項20に記載の熱電素子。
- 多孔質基材上に被覆された材料は、量子閉じ込め効果をもたらすナノメートルサイズの特徴を有することを特徴とする請求項1から21のいずれか一項に記載の熱電素子。
- ナノメートルサイズの特徴は、ゼーベック係数の上昇と、熱伝導率、エネルギーフィルター処理、又はナノメートルスケールの特徴に関連するフォノンブロック機構の低下をもたらすことを特徴とする請求項1から22のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材上に被覆された材料はナノメートル台の厚みであることを特徴とする請求項1から23のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材上に被覆された材料は複数の材料の層を有することを特徴とする請求項1から24のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 複数の層はナノメートル台の厚みを有する複数の層を含むことを特徴とする請求項25に記載の熱電素子。
- 複数の層は異なる材料の複数の層を含むことを特徴とする請求項25又は26に記載の熱電素子。
- 複数の層は異なる材料の交互に積み重ねられた層を含み、一つ以上の材料が熱電材料を含むことを特徴とする請求項27に記載の熱電素子。
- 熱電材料は半導体材料を含むことを特徴とする請求項28に記載の熱電素子。
- 量子閉じ込めが一つの層内で実現される、すなわち、量子閉じ込めの寸法が層の厚みであることを特徴とする請求項29に記載の熱電素子。
- 熱電素子を通る小さな熱伝導率が、多孔質基材に蛇行する経路を設けることによって向上されていることを特徴とする請求項25に記載の熱電素子。
- 複数の層が、Si及びSiGeの交互に積み重ねられた層、異なる組成であるB−Cの交互に重ねられた層、Si及びSiCの交互に重ねられた層、又は多孔質基材上に被覆されたテルル化鉛若しくはテルル化ビスマスの熱電材料などの熱電材料を含み、
それらの少なくとも一つが熱電材料であるか、層は二つ以上の異なる材料を含むか、層は異なる結晶構造を有する層を含むか、層は炭化ケイ素と様々な組成を有し得る炭化ホウ素とを含むか、複数の層がドープ酸化亜鉛材料及び他の材料の交互に積み重ねられた層を含むか、層がAlドープ酸化亜鉛及びAl2O3の交互に積み重ねられた層を含むか、層がAlドープ酸化亜鉛及びドープされていてもされていなくても良いZnxMgyOzの交互に積み重ねられた層を含むか、層が酸化コバルト由来の材料と他の材料の交互に重ねられた層を含むことを特徴とする請求項28に記載の熱電素子。 - 被覆が量子ドットを取り込むことを特徴とする請求項1から32のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材上に被覆された材料は、量子ドット、ロッド、プレート、細線、若しくはそれらの組み合わせから選択される他のナノメートルサイズの特徴、又はこれらとナノメートルの厚みの交互に積み重ねられた層との組み合わせを有することを特徴とする請求項1から33のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材上に被覆された材料は表面キャッピング層を有することを特徴とする請求項1から34のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 多孔質基材は、次の被覆層の優れた核生成が可能な材料によって最初に被覆される、又は次の被覆の前に多孔質基材への及び/又は多孔質基材からの原子の拡散を最小にするための「拡散障壁」材料で被覆される請求項1から35のいずれか一項に記載の熱電素子。
- なし
- なし
- 多孔質基材を供給する段階と、
前記多孔質基材に熱電材料の被覆を付与する段階と、
を有する熱電素子の製造方法。 - 熱電材料の被覆は、基材の多孔質構造が熱電材料によって完全に埋められず、且つ形成される熱電素子が最終構造においてある程度の孔隙率を有するように施されることを特徴とする請求項39に記載の方法。
- 熱電材料の複数の層を前記多孔質基材上に形成する段階を有することを特徴とする請求項30又は40に記載の方法。
- 熱電材料の層は異なる材料の層を含むことを特徴とする請求項41に記載の方法。
- 異なる材料の層は異なる材料の交互に積み重ねられた層を含むことを特徴とする請求項42の方法。
- 多孔質基材を被覆する段階を有する熱電素子の製造方法であって、
前記熱電素子には被覆後にある程度の孔隙率が残り、
有する熱電材料が比較的少量であるにもかかわらず前記熱電素子が低い熱伝導示すことを特徴とする方法。 - 多孔質基材の体積分率が小さいために、多孔質基材に対する活性のある熱電材料の比率が増大されていることを特徴とする請求項44に記載の方法。
- 被覆された多孔質材料が対流及び赤外線の放射による熱伝導を阻害することを特徴とする請求項44又は45に記載の方法。
- 基材上に一つ以上の材料を堆積することによって熱電素子を製造する方法であって、
少なくとも一つの材料は熱電材料であり、一つ以上の材料は原子層蒸着により堆積されることを特徴とする方法。 - 基材は、小さな孔サイズを有する多孔質基材を含み、
前記多孔質基材は蛇行した孔通路を有する又はまっすぐな孔をほとんど有しないことを特徴とする請求項47に記載の方法。 - 原子層蒸着はフロースルー式で行われることを特徴とする請求項47又は48に記載の方法。
- 基材は、埋設された補強材を有する多孔質フィルムを含むことを特徴とする請求項47から49のいずれか一項に記載の方法。
- 熱電材料が、原子層蒸着によって少なくとも一つの層を付与することによって形成されることを特徴とする請求項1から36のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 熱電材料は、10μmから2mmの間、より好ましくは50μmから1mmの間の厚みを有する多孔質基材を含む請求項1から36及び51のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 熱電材料は、1nmから100nm、より好適には1nmから50nm、さらにより好適には1nmから20nm、さらにより好適には1nmから10nmの厚みで基材上に堆積されていることを特徴とする請求項1から36、51及び52のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 面交差効果及び面内効果の両方を利用するナノメートル層構造を含むことを特徴とする請求項1から36及び51から53のいずれか一項に記載の熱電素子。
- 面交差効果は、熱導電率、エネルギーフィルター処理効果、及び熱電子効果の減少を含むことを特徴とする請求項54に記載の熱電素子。
- 請求項55に記載の熱電素子であって、
ナノメートル層状の材料を含む被覆と、
前記ナノメートル層状の材料上に配置された接触材と
を有し、前記ナノメートル層状の材料は、前記ナノメートル層状の被覆が周囲を巻いている部分を有することを特徴とする熱電素子。 - 請求項55に記載の熱電素子であって、
ナノメートル層状の材料を含む被覆と、
前記ナノメートル層状の材料を除去した後に前記ナノメートル層状の材料上に配置された接触材と
を有し、前記ナノメートル層状の材料は前記ナノメートル層状の被覆が周囲を巻いている部分を有し、接触材は被覆の層に直接接触していることを特徴とする熱電素子。 - 被覆材料は、励起子ボーア半径の三倍、又は励起子ボーア半径の二倍、又は励起子ボーア半径と等しい、又は励起子ボーア半径より小さい厚みを有することを特徴とする請求項1から36及び51から57のいずれか一項に記載の熱電素子。
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