JP2011505669A - 質量分析を行うための装置および方法 - Google Patents

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Abstract

本発明の実施形態は、質量分析を行うための装置および方法を特徴とする。装置の一実施形態は、低圧の領域と高圧の領域との間の第1の壁に取り付けるための流入ハウジングを備える。流入ハウジングは、試料のプルームに基づいて調整可能な、あるいは代替えの流入ハウジングと差し替えることによって変更可能な通路と絞りを有する。

Description

本出願は、2007年11月30日に出願された米国仮特許出願第60/991,232号(代理人整理番号W−452−01)の優先権の利益を主張する。本出願の内容は、参照によりその全てが本明細書に明示的に組み込まれる。
本発明は、質量分析を行うための装置および方法に関する。特に、イオンを相対的に高圧の領域から低圧の領域に導入する質量分析計用装置に関する。
本明細書中で使用される「質量分析部」または「質量検出器」または「質量分析計」という用語は、アナライトイオンの質量電荷比に基づいて信号または結果を生成する機器、装置または計器を意味する。質量分析部は、例として、限定なしに、四重極質量フィルタ、イオントラップ型質量分析部、扇形磁場型質量分析部、飛行時間型質量分析部、イオン−サイクロトロン共鳴型(FTMS)分析部、キングドントラップ分析部など、いくつかのよくある形をとることがある。
生体分子の分析のために使用される質量分析計は、通常、大気圧イオン化(API)ソースを使用する。溶液の分析に適切なAPIソースには、エレクトロスプレーイオン化(ESI)ソース、大気圧化学イオン化(APCI)ソース、大気圧光イオン化(APPI)ソース、気流および/または熱支援エレクトロスプレーソースが含まれる。また、APIは、マトリックス支援レーザ脱離法(MALDI)、脱離エレクトロスプレーイオン化法(DESI)、シリコン上脱離イオン化法(DIOS)、「DART」(リアルタイム直接分析)などの技術とも共に使用される。
イオンの質量分析は、通常、大気圧以下で実行されるため、全てのAPI技術は、イオンをソースから、通常1つ以上の排気されたチャンバを経由して、相対的に高真空の領域に移送するインタフェースを必要とする。交流電位が印加される細長いロッド群または開口円板群を一般に備えるイオン移送装置が、効果的になるように十分に圧力が低いチャンバ内に一般に設けられる。しかしながら、APIソースと質量分析部の間の大部分のインタフェースは、イオンが通過する必要があってもイオン移送装置のない真空チャンバも含む。次の説明は特にエレクトロスプレーAPIソースに関しているが、記述されるインタフェースが、上記に列挙されたAPIソースの他のタイプ、すなわち実際には、相対的に高圧すなわち大気圧の領域でイオンのプルームまたはスプレーを生成するいかなるイオン化ソースにも同様に適用可能であることは理解される。
エレクトロスプレーイオンソースは、対向電極と溶液(多くの場合、液体クロマトグラフからの溶離液)が流れるキャピラリ管との間に印加された電界によって、溶液から、帯電液滴を含むエアロゾルを生成する。帯電液滴は、溶液に溶解された試料に特有のイオンを含むことができる。これらの帯電液滴は、通常は大気圧に維持されるソースに存在するガス分子との接触を通して、少なくとも部分的に脱溶媒和される。脱溶媒和は、エレクトロスプレーされたエアロゾルに対して1本以上のガス流れを適切に向けることによって、および/またはガスおよび/またはキャピラリ管を加熱することによって支援される場合がある。キャピラリ管をニューマティックネブライザ(通常は同軸型ネブライザ)に差し替えて、脱溶媒和をさらに向上させたり、それに加えて、ソースの許容可能な最大溶液流量を上げたりする場合もある。ネブライザが使用される場合、ネブライザとキャピラリとの間の電界が不要になってもよいように、エレクトロスプレーイオン化法が、コロナ放電(APCI)または光子ビーム(APPI)によって置き換えられる(あるいは支援される)場合がある。
いかなるイオン化と脱溶媒和の方法が使用されても、ソースの大気圧部分で生成されるイオンが、ソースと分析計の真空系との間のインタフェースを通過する必要がある。インタフェースは、エアロゾル中に生成されたイオンのできる限り多くを移送し、(例えば、熱分解によって)損失を起こすことなく脱溶媒和を達成するとともに、質量分析部内の圧力がその適正な動作のために十分に低く維持されるように、不活性ガスと溶媒の大部分を同時に分離除去することが望ましい。これらの必要条件は容易には満たされず、多数の様々なソースとインタフェースのデザインが提案されている。
エアロゾルとインタフェースの入口開口との相対的な方向性に関するAPIソースの幾何学的配置が、質量検出器の感度に影響を与える場合がある。インタフェースの開口構造とタイプも性能に影響を及ぼすことが分かった。
インタフェースは、試料の流れにさらされ、小さなオリフィスと通路のせいで、付着物を堆積させる可能性がある。取り外し、洗浄、または代替えインタフェースとの交換が容易にできるインタフェースを有することが望ましい。
本明細書中で使用される「高圧」という用語は、真空条件に近い低圧で動作する質量分析部の部分と比較した相対的な圧力を意味する。その用語には、「大気圧」が含まれるが、それに限定されるものではない。本明細書中で使用される「大気圧」には、かなりの量のガスの存在下での、おそらく大気圧自体のプラスマイナス数百トルの圧力での装置の動作が含まれる。この用語は、大気圧または大気圧周辺における装置とイオン化ソースのタイプを、高真空または中真空で動作するタイプ、例えば、電子衝撃イオン化ソースや化学イオン化ソースと区別するために、当該技術分野で一般に使用されている。
「帯電粒子」および「イオン」という用語は、一価イオン、多価イオン、溶媒和および/または脱溶媒和されたイオン、付加イオン、クラスタイオンなどを含むことが意図されている。イオンおよび/または帯電粒子は、一般に、(上記に定義されたような)大気圧で動作するイオン化ソースで試料から形成され、潜在的に1つ以上の対象アナライト、他の担体または試料分子、溶媒、ガス、溶媒の帯電液滴などを担持することができる。
本発明の実施形態は、質量分析を行うための装置および方法を特徴とする。本発明の一実施形態は、高圧の領域内をプルーム状に移動する1個以上のイオンを受け入れ、低圧の領域にイオンを渡す装置を対象とする。高圧の領域は、第1の壁によって低圧の領域から分離される。プルームは第1の軸線を有し、低圧の領域内を移動するイオンが第2の軸線を有する。装置は、低圧の領域と高圧の領域との間の第1の壁上に取り付けるための流入ハウジングを備える。流入ハウジングは、分岐点と第1の通路とを有し、流入ハウジングおよび壁のうちの少なくとも一方は、第2の通路を有する。第1の通路は、第1の通路軸線、入口および終端を有する。入口は高圧の領域と流体連通しており、終端は分岐点と連通している。分岐点は第2の通路と流体連通している。第2の通路は、第2の通路軸線と出口とを有する。第1の通路は、高圧の領域からのイオンを受け入れるためであり、出口は、イオンを低圧の領域に放出するためである。第1の通路軸線は、第1の軸線または第1の軸線と平行に延びる直線と1点で交差して、第1の角度を画定する。第1の通路軸線と前記第2の通路軸線は、1点で交差して、第2の角度を画定する。第2の通路軸線は、第2の軸線を画定するか、または第2の軸線と平行な直線に沿って延びている。これにより、流入ハウジングは、高圧でイオンを受け入れて、低圧でそのようなイオンを渡す。
本発明の一実施形態は、流入ハウジングが、壁上の第1の位置と壁上の第2の位置をとることが可能な装置を特徴とする。第1の位置では、第1の通路軸線が約75度以下の第1の角度を有し、第2の位置では、第1の通路軸線が105度以上の第1の角度を有する。これにより、本発明の実施形態は、流入ハウジングをプルームに合わせて、すなわち、他のソースによるそれぞれ異なるプルームに合わせて調整することを可能にする。
本発明の一実施形態は、流入ハウジングが、解除可能な取り付け手段によって前記壁に取り付けられている装置を特徴とする。流入ハウジングは、取り外し可能であり、第1の位置および第2の位置のうちの少なくとも一方で前記壁に再び取り付け可能である。これにより、流入ハウジングは、容易に点検手入れ、交換または調整され得る。解除可能な取り付け手段は、クリップ、真空保持、カム、急速解除カム、噛み合いフランジ、またはねじを備える。
本発明の一実施形態は、流入ハウジングが、前記第1の位置と前記第2の位置との間で回転可能である装置を特徴とする。一実施形態は、前記流入ハウジングを回転させる動力手段を特徴とする。このような動力手段には、流入ハウジングの動きを発生させるのに適切な歯車装置を備えたステッパモータなどのモータが含まれる。一実施形態は、動力手段と信号伝達する制御手段をさらに備える。制御手段は、操作者の命令または動作条件に応答して、流入ハウジングを第1の位置または第2の位置に設定する。本明細書で使用される制御手段という用語は、コンピュータ演算処理装置(CPU)と、コンピュータ、サーバ、パーソナルコンピュータなど、CPUを含む機器と、質量分析部自体など、そのような分析機器とを意味する。
好ましくは装置は、流入ハウジングを第1の位置または第2の位置に設定させるように壁上の印と協力する印を有する。例えば、限定されるものではないが、一実施形態は、壁上の目盛りと協力するマークを有する、あるいはその逆を有する装置を特徴とする。
装置の一実施形態は、低圧の領域より高い圧力で第1の通路および第2の通路のうちの少なくとも一方の領域を画定する少なくとも1つの絞り区間を有する第2の通路を特徴とする。好ましくは絞り区間が絞り直径を有し、第1の通路が第1の通路直径を有し、第2の通路が第2の通路直径を有する。絞り直径は、第1の通路直径および第2の通路直径のうちの少なくとも一方より小さい直径を有する。
装置の一実施形態は、ハウジングシュラウドを特徴とする。ハウジングシュラウドは、隙間を画定するように間隔を置いた関係で流入ハウジングを取り囲む。ハウジングシュラウドは、第1の通路の入口の周りに、ガスを付与する開口を有する。ハウジングシュラウドは、好ましくは流入ハウジングの形状および寸法と協力する。流入ハウジングとハウジングシュラウドの両方に関して全体的に円錐形状であることが好ましい。
第1の通路軸線は、プルームとともに延びる、またはプルームと平行に延びる直線と交差するように設定可能である。第1の通路軸線と前記第2の通路軸線は、10度と90度との間の角度を有する。この角度は容易には調整可能ではないが、質量分析計が、第1の通路軸線と第2の通路軸線との間の様々な角度、様々な絞り直径、様々な第1の通路直径、様々な第2の通路直径および様々な入口をもつ代替えの流入ハウジングを容易に受け入れることができるように、装置を作製するのは簡単で安価である。
本発明の一実施形態は、高圧領域容器と低圧容器を備える質量分析部の一部として装置を備える。高圧容器は、プルームを含むように流入ハウジングを取り囲んでいる。好ましくは高圧容器と低圧容器とを分離する壁は、解除可能な取り付け手段と位置合わせ印とを有する。
好ましくは高圧の領域は、エレクトロスプレー、ネブライザなどの少なくとも1つのプルーム形成手段、または複数のプルーム形成手段をさらに備える。好ましくは流入ハウジングは、各プルーム形成手段のための1つ以上の位置を有する。
本発明のさらなる実施形態は、イオンの質量電荷比を測定する検出器を操作する方法を特徴とする。方法は、イオンを生成するための少なくとも1つの高圧容器と、イオンの質量と電荷に対応する信号を生成するための少なくとも1つの低圧容器とを設けるステップを含む。高圧容器および低圧容器は、少なくとも1つの第1の壁と、低圧容器と高圧容器との間を流体およびイオンの連通状態にする開口とを有する。高圧容器は、少なくとも1つのプルーム形成手段を有する。高圧容器は、開口によって低圧容器と流体およびイオンの連通状態にある。イオンは、プルームに沿って第1の軸線上を移動し、低圧容器内で第2の軸線上を移動する。高圧容器は、低圧の領域と高圧の領域との間の第1の壁上に取り付けるための流入ハウジングを有する。流入ハウジングは、分岐点と第1の通路とを有し、流入ハウジングおよび第1の壁のうちの少なくとも一方は、第2の通路を有する。第1の通路は、第1の通路軸線、入口および終端を有する。入口は高圧の領域と流体連通しており、終端は分岐点と連通している。分岐点は第2の通路と流体連通しており、第2の通路は、第2の通路軸線と出口とを有する。第1の通路はイオンを受け入れるためであり、出口はイオンを前記低圧の領域に放出するためである。第1の通路軸線は、第1の軸線または第1の軸線と平行に延びる直線と1点で交差して、第1の角度を画定する。第1の通路軸線と前記第2の通路軸線は、1点で交差して、第2の角度を画定する。第2の通路軸線は、第2の軸線を画定するか、または第2の軸線と平行な直線に沿って延びている。方法は、高圧状態で第1の通路の入口にイオンを受け入れ、低圧状態でイオンを出口に向けて前記低圧容器に渡すステップをさらに含む方法。
方法は、好ましくは前記壁上の第1の位置と前記壁上の第2の位置をとることが可能な流入ハウジングを提供する。さらに、方法は、前記流入ハウジングの前記第1の位置および第2の位置のうちの少なくとも一方を選択するステップを含む。好ましくは第1の位置では、第1の通路軸線が約75度以下の第1の角度を有し、第2の位置では、通路軸線が105度以上の第1の角度を有する。
方法は、好ましくは解除可能な取り付け手段によって第1の壁に取り付けられる流入ハウジングを提供する。さらに、方法は、解除可能な取り付け手段によって流入ハウジングを壁に固定することを含む。方法は、流入ハウジングを様々な位置に調整し、点検手入れし、保守し、交換することを提供する。好ましい解除可能な取り付け手段には、クリップ、真空保持、カム、急速解除カム、噛み合いフランジ、およびねじが含まれる。好ましくは流入ハウジングおよび壁は、流入ハウジングの所望の位置への設置を容易にする位置合わせ印を有する。
本発明の1つの方法は、第1の位置と第2の位置との間で回転可能な流入ハウジングを提供する。方法は、位置を選択するように前記流入ハウジングを回転させるステップを含む。
本発明の1つの方法は、前記流入ハウジングを回転させる動力手段を提供する。好ましくは方法は、前記動力手段と信号伝達する制御手段をさらに提供する。制御手段は、操作者の命令、動作条件またはプログラムに応答して、流入ハウジングを第1の位置または第2の位置に設定する。
本発明の1つの方法は、ハウジングシュラウドを提供する。ハウジングシュラウドは、隙間を画定するように間隔を置いた関係で流入ハウジングを取り囲む。ハウジングシュラウドは、第1の通路の入口の周りに、ガスを付与するシュラウド開口を有しており、方法は、シュラウド開口からガスを導入するステップを含む。
好ましい装置は、シュラウドハウジングと流入ハウジングを有し、互いに協力する寸法と形状を有する。好ましい形状は、円錐形であり、操作者が高圧容器内の装置を取り外して調節することができるように寸法設定される。
これらおよび他の特徴と利点は、以下に続く詳細な説明を読み、以下に簡単に説明される図面を見れば、当業者には明白になる。
図1は、本発明に係る装置を内蔵する、エレクトロスプレーイオン化によって帯電粒子を生成する機器の概略図である。 図2は、本発明に係る装置を内蔵する、大気圧化学イオン化によって帯電粒子を生成する機器の概略図である。 図3は、本発明に係る装置を内蔵する、大気圧光イオン化によって帯電粒子を生成する機器の概略図である。 図4は、本発明に係る装置を内蔵する、表面電離によって帯電粒子を生成する機器の概略図である。 図5は、本発明に係る装置の一部の図である。 図6は、図5に示す装置の構成部品の更なる詳細を示す図である。 図7は、図5に示す装置の別の構成部品の更なる詳細を示す図である。 図8は、本発明に係る装置を有する、イオン化ソースを内蔵する質量分析計の単純化された概略図である。 図9は、本発明に係る装置の別の実施形態を示す図である。
本発明の実施形態は、本発明の特徴が他の機器や分析部にも適用されるという理解の下で、質量分析部の流入口に関して説明される。以下の説明は、発明者の好ましい実施形態と、本発明を実行し、使用する最良の形態を対象とする。これらの実施形態は、変化が本発明の一部であると理解される変形および変更を受けることがある。
ここで図1および図5をみると、これらの図は、全体が数字17によって表された本発明に係る装置の実施形態を示す。装置は、隙間40が間に存在するように、図示のように設けられた流入ハウジング32およびシュラウドハウジング37を備える。図1に示すように、両ハウジングは、以下でより詳細に説明される要素34、38、41、42を備える壁取り付け手段によって壁14に取り付けられる。
壁14は、高ガス圧の領域1を囲んで、より低いガス圧の領域7から分離するとともに、壁開口69を備える。装置17は、第1の軸線4に沿って移動する1つ以上の帯電粒子を受け入れ、これら粒子を流入ハウジング32の第1の通路5に通すために使用され得る。第1の通路5は、第1の通路軸線18を有し、入口64および出口65を備える。装置17は、第2の通路軸線9を有する第2の通路66をさらに備える。第2の通路66は、出口68(図1)と、分岐点で第1の通路5の出口65に隣接する入口67(図5)とをさらに備える。第1の通路軸線18は、第2の通路軸線9に対して傾斜している。図1の実施形態では、第1および第2の通路の軸線間の角度12は20°である。その他の角度が、約10°から90°の範囲から選択されることも可能である。これらの他の角度は、交換可能な代替え装置17において形成されることが可能である。
使用時に、装置17は、壁開口69を介して高ガス圧の領域1とより低いガス圧の領域7との間を流体連通させることができる。これらの領域間で相当な圧力差を維持させるために、絞り区間6が、第2の通路軸線9と同一線上に、第2の通路66の入口67の位置に組み込まれている。しかしながら、絞り区間6が、第1の通路5内、例えば、その出口65の近くに同様にうまく組み込まれ得ることは理解される。本発明の一実施形態は、流入ハウジング32の出口面34の端ぐり35に嵌め込まれたインサート36に形成された絞り区間6を特徴とする。インサート36は、端ぐり35への圧入であっても、所定の位置に溶接されてもよい。あるいは、それぞれ異なる絞り区間6を有する様々なインサートを使用可能にするために、インサート36がすべり嵌めであってもよい。これらインサートは、領域1と領域7との間のガス流れを調整して、より低圧の領域7の圧力を制御するために選択され得る。代替え装置17は、好ましくは条件と試料によって装置17が選択されるように、それぞれ異なる絞り区間6を備える。
絞り区間6は、第1の通路5と第2の通路66のうちのいずれか一方または両方の一部または全体を構成することができる。しかしながら、絞り区間6は、それが含まれる通路より短いこと、少なくとも入口64に隣接している第1の通路5の部分が高ガス圧の領域1とほぼ同じ圧力になるように設けられることが好ましい。
図6に示すように、流入ハウジング32の一実施形態は、出口面34と入口面46を有するテーパ部材44を有する。テーパ部材44は、ほぼ矩形の断面を有するとともに、入口面46が形成される円形ボス63を有していてもよい。テーパ部材44内に形成された第1の通路5は、円形断面を有し、その入口64が入口面46に存在していてもよい。壁14上への取り付けを容易にするため、流入ハウジング32は、出口面34が形成されたフランジ部33をさらに備えていてもよい。入口面46は、出口面34より面積が小さい。出口面34は、壁開口69と係合する(図1)。第1の通路5は、第1の通路5の直径と絞り区間6のより小さい直径との間で滑らかに移行する内部テーパ部47を備えていてもよい。
装置17は、流入ハウジング32を囲んで、それとの間に隙間40を画定するように、シュラウドハウジング37を有する。図7に示すように、シュラウドハウジング37は、テーパ本体部39と、壁14上への取り付けに適したフランジ部38を備えていてもよい。フランジ部分38には、壁14の対応する孔に納まる2本の目釘(dowels)41が装着されており、フランジ部38は、孔42にねじによって壁に固定される。装置17が組み立てられる際に、流入ハウジング32を壁14上の所定の位置に保持するために、テーパ本体部上には、スペーサ43が設けられている。それと同時に、これら部品は、第1の通路5と第2の通路66とが協力して帯電粒子の少なくとも一部を壁開口69からより低ガス圧の領域7に渡すように、流入ハウジング32を壁14に保持する壁取り付け手段を備える。壁取り付け手段は、第1の通路軸線18が第1の軸線4に対して傾斜し、両者間に第1の角度11を画定することをさらに保証する。図示された実施形態では、第1の軸線4と第1の通路軸線18は同じ平面に存在するが、他の実施形態では、2本の軸線は、第1の通路軸線18が第1の軸線4と平行に延びる線に対して傾斜するように、異なる平面に存在している場合がある。
壁取り付け手段は、第1の角度11が75°未満か、または105°より大きいような場合に好都合である。この角度は、装置17を回動させることによって調整されることが可能である。図1に示すように、装置17は、所望の位置に装置を合わせるために、壁上の印101b、もしくは壁69と関連付けされた印と協力するマークまたはポインタ101aを有する。
テーパ本体部39は、流入ハウジング32との間の隙間40がほぼ一定の幅を有するように矩形の断面を有する。テーパ本体部39は、図5に示すようにシュラウドハウジング37と流入ハウジング32とが壁14上に組み立てられた際に、テーパ部材44の入口面46に隣接して配置される円形オリフィス49を備える入口面48を有する。以下により詳細に説明されるように、ガスを隙間40に導入させて第1の通路5の入口64の周りの円形オリフィス49から流出させるように、ガス流入管45が設けられている。
次に図1を参照するように、装置17は、全体が13で表される、帯電粒子を生成する機器に組み込まれ得る。一般に、機器13は、質量分析計での使用に適した大気圧イオン化ソース、例えばエレクトロスプレーイオン化ソースであり得る。このような機器では、分析される試料を含む流体(例えば、液体クロマトグラフからの溶離液)が流入導管3を通って高ガス圧の領域1に流入することができる。領域1は、一般に大気圧に維持されるが、上述されたように、他の圧力も本発明の範囲内である。高ガス圧の領域1は、領域1をより低ガス圧の領域7から分離する働きもする壁14によって囲まれている。2つの領域間には、上述されたように、壁開口69が設けられている。ガス流入口60が壁14に取り付けられており、加熱されたガス(一般に空気または窒素)の流れが領域1に流入され、排気口15を通って流出する。以前のタイプのエレクトロスプレーイオン化ソースと同様に、流入導管3から流入される試料の溶液からエアロゾルが生成され、帯電粒子のプルーム2が生成される。流入導管3は、対向電極16に対して高い電位に維持される。帯電粒子のプルーム2は、図1に示すように、第1の軸線4を有する。この実施形態では、第1の軸線4と第1の通路軸線18との間の角度11は75°未満(図1では60°として示されている)であるが、他の角度が使用されることも可能である。(下記の図2の実施形態の説明を参照)。流入口60を通して導入されるガスに加えてまたはその代わりに、場合により加熱され、噴霧化を支援するためにも使用され得るガスが、流入導管3と同軸に設けられた導管61を通って領域1に導入されてもよい。高ガス圧の領域1内を流れるガスは、流入導管3から形成されたエアロゾルに含まれる液滴の脱溶媒和を支援するが、常に必要であるとは限らない。以下に述べられるように、流入導管3をAPCIイオン化ソースで使用されるものと同様のネブライザと差し替えることによって、脱溶媒和効率のさらなる向上が、特に高流量時において、得られる。
(帯電粒子、中性分子および溶液の液滴を含む)材料は、プルーム2から装置17の第1通路5に採取され得る。第1の通路5と流体連通している第2の通路66は、少なくとも一部の帯電粒子を第1の通路5から壁開口69を介してより低いガス圧の領域7に送る。領域7は、真空ポンプ10によって領域1の圧力より低い圧力に維持される。上述されたように、第2の通路66の入口67に、絞り区間6が設けられている。絞り6は、第1の通路5より低い導電率を有しており、その結果、絞り6が領域1と第2の通路66との間のガス流れに与えるインピーダンスが、両者間の圧力差の大きな原因となる。このことは、第1の通路5の圧力が実質的に領域1の圧力であることを保証する。
図2は、図1に示すものと同様であるが図1に示すエレクトロスプレーイオン化ソースの代わりに大気圧化学イオン化ソース(APCI)を有する、本発明の別の実施形態を示す。APCIソースでは、外管22内に同軸に設けられた試料流入管21を備えるネブライザ20が、図1の実施形態の試料流入導管3に取って代わる。試料流入管21を流れる液体からエアロゾルを生成するために、噴霧化用ガスが外管22に導入される。他のタイプのネブライザ、例えば、クロスフローニューマティックネブライザも使用される場合がある。放電電極23(不導体25内に支持された)と壁14および/または装置17との間に維持される電位差によって、領域1に、コロナ放電が確立される。コロナ放電は、ネブライザ20によって生成されたエアロゾルから、第1の軸線4に沿って方向付けられた帯電粒子のプルーム2を生成する。エアロゾルの脱溶媒和を支援するために、追加の加熱手段(明確にするために図示せず)が使用されてもよい。
図1に示す実施形態と同様に、ガスが、ガス流入口60を通して領域1に導入され、排気口15から流出することができ、有利には加熱されることができる。加熱された脱溶媒和用ガスが、第2のガス流入口62を通して同軸にネブライザ20の周りに流されてもよい。この配置は、エアロゾルの脱溶媒和を向上させることができるが、常に必要であるとは限らない。
さらに、図1に示す実施形態と同様に、プルーム2内の帯電粒子の一部が、流入ハウジング32の第1の通路5に入り、絞り6を経て第2の通路66内を通過する。図2の実施形態では、第1の軸線4と第1の通路軸線18との間の角度24が105°より大きくなる(図2では120°として示されている)ように、第1の通路5が配置されている。この第1の通路5の第1の軸線4に対する配置が図1の実施形態の場合にも使用される場合があること、図1に示す配置が図2の実施形態で使用される場合があることは理解される。使用される角度の選択は、流入口3またはネブライザ20を流れる試料の流量に応じて行なわれ得る。第1の通路軸線18をプルーム2内の帯電粒子の移動方向に対して傾斜させる角度がより大きいほど(例えば、図2の角度24)、より高い流量に最適である。より小さい角度、例えば、図1の角度11が、より低い流量により適していることが判明した。
エレクトロスプレーイオンソースおよびAPCIイオンソースの図1および図2における図示と上述の説明が単純化されていることは理解される。このようなソースの詳細設計は十分に確立されており、さらなる詳述は不要である。以前のいかなるタイプのAPCIまたはエレクトロスプレーイオンソースも、本発明に係る機器での使用に適応される。
図3は、大気圧光イオン化(APPI)ソースを備える本発明の別の実施形態を示す。図2の実施形態の場合と同様に、ネブライザ20が、試料を含む液体から領域1でエアロゾルを生成する。領域1は、ガス、一般に(上記に定義されたような)高圧の空気または窒素を含む。一般に、大気圧が使用され得る。UVランプ26が、エアロゾルを横切る光子ビーム(概略的に27で示す)を生成する。それにより、図示しないが当該技術分野で知られている手段によるドーパントの導入など、APPIの知られているプロセスに関連する種々の化学プロセスにより、第1の軸線4に沿って方向付けられた帯電粒子のプルーム2が生成される。プルーム内の帯電粒子は、図1または図2に示す位置のいずれかに配置され得る第1の通路5に入ることができる。第1の軸線4と第1の通路軸線18との間の角度は、75°未満か、または105°より大きい。しかしながら、様々な装置17が様々な角度で代用されることも可能である。
帯電粒子の通路5内への移送を、例えばランプ電極28とシュラウドハウジング37との間への電位差の付与によって支援するために、領域1に、電界がさらに設けられてもよい。絞り6と第2の通路66が設けられており、図1および図2に示す実施形態に関して説明されたように作用する。
図1に示す実施形態と同様に、ガスが、ガス流入口60を通して領域1に導入され、排気口15から流出することができ、有利には加熱されることができる。加熱された脱溶媒和用ガスが、第2のガス流入口62を通して同軸にネブライザ20の周りに流されてもよい。この配置は、エアロゾルの脱溶媒和を向上させることができるが、常に必要であるとは限らない。
図4に、領域1に表面29が設けられた本発明の別の実施形態が示されている。分析される試料が表面29上に支持され、ソース31からの一次粒子のビーム30の衝撃によって、試料から、第1の軸線4に沿って方向付けられた帯電粒子のプルーム2が生成される。図4の実施形態は、(上記に定義されたような)大気圧と等しい第1の圧力で作用するマトリックス支援レーザ脱離(MALDI)ソースを備えていてもよい。このようなソースは当該技術分野では知られている。簡単に言えば、試料は、表面29上に付着される前に適切なマトリックスに溶解されるか、表面29上に予め付着されたマトリックスに溶解される。ソース31は、レーザから構成され、一次粒子のビーム30は、レーザ由来の光子から構成される。これらの光子は、表面29上に存在するマトリックスと試料に衝撃を加えて、そこから帯電粒子を放出させる。これらの帯電粒子は、第1の軸線4に沿って方向付けられたプルーム2を形成する。上述された実施形態と同様に、プルーム2からの帯電粒子が、流入ハウジング32の第1の通路5に入ることができる。図1から図3の実施形態に関して説明されたように、第1の通路5は、第1の軸線4に相対的に配置される。帯電粒子の第1の通路5への進入を支援するために、領域1に、電界(図4に示さず)が設けられてもよい。シュラウドハウジング37、第1の絞り6、および第2の通路66がさらに設けられ、上述されたように配置されてもよい。囲壁14にガス流入口60が設けられ、ガス流入口60を通じて、領域1を第1の圧力に維持するようにガスが導入されてもよい。このガスを加熱して、その流れの方向を制御することは有用である場合が多い。
本発明の特定の実施形態では、壁取り付け手段は、壁14上の第1の位置では第1の角度が90°未満で、第2の位置では第1の角度が90°より大きくなるように、流入ハウジング32が第1の位置または第2の位置をとることを可能にするものであってもよい。これらの実施形態では、壁取り付け手段は、ハウジング32、37をこれらの2つの位置のみに設置可能にさせるようにするものである。流入ハウジング32のフランジ部33が、図5に示すように成形された出口面34を有していてもよい。この成形された出口面は、同様の形状を有する壁14の壁開口69内に位置を定めることができる。この形状は、流入ハウジング32が図1および図2に示す2つの位置のいずれかに位置決めされることを可能にする。シュラウドハウジング37のフランジ38には、壁14の孔に納まる2本の目釘41が装着されている。これらの目釘は、流入ハウジング32の2つの位置に対応してシュラウドハウジング37が2つの異なる位置に位置できるように、互いに180°の位置に配置されている。
図6は、流入ハウジング32の一実施形態をより詳細に示す。この実施形態は、上述されたように、フランジ33と、ほぼ矩形の断面を有するテーパ部材44とを備える。第1の通路5は、入口面46と直交している。図1に示すように、ハウジング32が囲壁14の壁上の所定の位置にあるとき、その出口面34は、第1の軸線4が位置する平面とほぼ平行な平面に位置している。この配置は、上記に説明されたように、第1の軸線4と第1の通路軸線18との間の角度が、ハウジング32を位置決めし直すことによって変更されることを可能にする。第1の通路5は、テーパ部材44を貫通する円形くり穴を備え、図示されるように、入口面46を備える円形ボス63が、テーパ部材44の細い端部上に形成されている。絞り区間6は、インサート36に形成された円形断面の小さい管(例えば直径0.0135インチ、長さ0.016インチ)を備えてもよい。第1の通路5は、直径が0.062インチであっていてもよい。これらの寸法は、ポンプ10が小型回転真空ポンプ(例えば、20ftmin−1)である場合に、領域1がおよそ大気圧のガスを含むとき、第2の通路66の圧力が約1トルから3トルの圧力に維持されるようにする。
図1から図4に示すように取り付けられるとき、第2の通路軸線9は、絞り区間6から第2の通路自体に沿って延びる。図示されるように、第2の通路軸線9が流入ハウジング32の出口面34と直交していると好都合である。
図7に、シュラウドハウジング37の一実施形態がより詳細に示されている。この実施形態は、フランジ部38と、矩形断面のテーパ本体部39とを備える。本体部39は、テーパ本体部39の最も細い端部を閉じるとともに円形オリフィス49を備える入口面48を有する。テーパ本体部39は、図示されるように、出口面70をさらに備える。入口面48の面積は、出口面70の面積より小さい。
既に説明されたように、フランジ部38は、流入ハウジング32の第1および第2の位置に対応して、第1の位置または第2の位置で孔42にねじによって壁14に固定されてもよく、スペーサ43によって流入ハウジング32を所定の位置に保持してもよい。あるいは、機械加工された構造要素(例えば「急速掛止」継手)を使用して、ハウジング37およびハウジング32の両方を壁14に固定し、両者間に間隔を設けてもよい。
脱溶媒和用ガス(一般に、加熱された窒素または他の不活性ガスの流れ)が、ハウジング32のテーパ部材44の周囲から円形ボス46の第1の通路5入口の周囲へ、オリフィス49から領域1内に流入するように、流入口45から隙間40に導入されてもよい。このようなガス流は、第1の通路5に進入する際に帯電粒子の脱溶媒和をさらに支援するとともに、高ガス圧の領域1に存在し得る汚染物質の不要な流入を減少させるのに役立つ。
流入ハウジング32およびシュラウドハウジング37は、ステンレス鋼、黄銅、チタン、セラミックスなどの金属から製造されてもよい。
図1から図7は、特定の例示の角度11、12、24で描かれているが、指定の範囲内に入る所望の角度であれば、装置17が構成され得ることは理解される。さらに、図示された実施形態は、囲壁14の壁上に流入ハウジング32用の2つの位置を提供しているが、(それぞれ異なる角度11、12、24に対応する)2つ以上の位置を提供することや、1つの位置のみを提供することも本発明の範囲内である。本発明は、いかなる特定の分析の必要条件にも応じて取り付け可能な、それぞれ異なる角度11、12、24を有する複数の異なるハウジングを提供することができる。
図9は、壁取り付け手段が流入ハウジング32とシュラウドハウジング37を少なくとも第1と第2の位置との間で回転させる実施形態の図である。ハウジング32、37は、差込74を有する移動板73に固定されている。壁14の壁開口69には、差込74用の軸受72が配置されており、移動板73と壁14との間には、移動板73を回転軸81を中心に自由に回転させるように、スラスト軸受71が設けられている。壁開口69の差込の周囲には、Oリングシール(図示せず)が設けられている。移動板73には、その周縁に沿って、シャフト77に取り付けられたウォーム歯車75と噛み合う歯79が設けられている。第1と第2の位置との間で移動板73(およびそれと共にハウジング32、37)を回転させるための動力手段は、シャフト77を駆動するモータ76を備える。制御手段78は、電気接続80を介してモータ76を備える動力手段と信号伝達し、操作者の命令に応答して、ハウジングを所望の位置に設定することができる。第1および第2の位置は、図1および図2に示す位置に対応していてもよいが、他の位置も本発明の範囲内である。制御手段78は、図9に示す機器を備えた質量分析計を制御するために使用されるコンピュータ上で実行するように適応されたソフトウェアで実施されてもよい。制御手段78は、動作条件または所定の分析のために得られる結果に応答して、実行される分析に最も適正な位置にハウジングを設定してもよい。
図8は、本発明に係る例示の質量分析計の図である。図1に示すように、第2の通路軸線9に沿ってより低ガス圧の領域7に入った帯電粒子は、ポンプ10に向かって移動する。第2の絞り19は、領域7を、ターボ分子ポンプ53によって領域7の圧力より低い圧力に維持されるさらに低圧の領域52(図8)と接続する。第2の絞り19に入る帯電粒子は、第2の通路軸線9に対して傾斜している第2の軸線51に沿って通過する。第2の軸線51が第2の通路軸線9に直交して配置されていると好都合である。
質量分析部およびインタフェース8(図1から図4および図8)は、第2の軸線51に沿って移動する帯電粒子を受け入れるように配置されている。質量分析部およびインタフェース8は、帯電粒子またはそれに由来する化学種に関する質量スペクトル情報を生成することができる。
第2の絞り19(図1から図4および図8)は、第2の軸線51と同一直線上に配置された中空円錐形部材50を備えていてもよい。さらに低圧の領域52は、約10−2トル未満の圧力に維持されてもよい。質量分析部およびインタフェース8は、適切な交流電圧が印加される環状電極の積層体を備えるイオンガイド54を備えていてもよく、イオンガイド54は、オリフィス55を通じた帯電粒子の分析部真空チャンバ56への移送を支援するように領域52に設けられ得る。チャンバ56は、ターボ分子真空ポンプ57によって約10−5トル未満の圧力に維持されてもよい。質量分析部およびインタフェース8は、イオンガイド54によってオリフィス55を通じて移送される帯電粒子の少なくとも一部を受け入れる4つの電極(図8には、そのうちの3つが58で示されている)を備えた従来の四重極質量フィルタをさらに備えていてもよい。帯電粒子検出器59は、質量フィルタから流出する帯電粒子を受け入れる。
上述され、図8に示された質量分析部およびインタフェース8は、ただの例示である。質量フィルタ、イオンガイドおよび真空チャンバの別の構成を使用することも本発明の範囲内である。例えば、図8に示す1個の四重極質量フィルタは、2個の四重極質量フィルタと1個以上のガス衝突セルを備える従来の三連四重極質量フィルタ、飛行時間型質量分析部、扇型磁場型質量分析部、イオントラップ型質量分析部、フーリエ変換型質量分析部、またはこのような質量分析部および/または衝突セルのあらゆる組合せによって置き換えられてもよい。使用され得るイオントラップ型質量分析部には、以下に限定されるものではないが、三次元四重極イオントラップ(「Quistor」)、円筒型イオントラップ、「キングドン」軌道トラップ装置(「オービトラップ」としても知られる)などが含まれる。質量分析部と衝突セルとの組合せは、実行される分析の種類によって決定され得る。
同様に、領域52のイオンガイド54は、例えば四重極、六重極または八重極のロッド群や、2つ以上の環状電極積層体など、他のいかなるタイプのイオン移送装置によって置き換えられてもよい。あるいは、イオンガイドは、直流電位のみが供給される収束電極によって置き換えられてもよいし、全く省略されてもよい。第2の通路66と分析部真空チャンバ56との間に2つ以上の中間真空チャンバを設けることや、第2の通路66が分析部真空チャンバ56と直接連通するように領域52を省略することも本発明の範囲内である。
図8には、第2の絞り19の下流の機器が、高性能質量分析部の適正な動作に必要となる場合のある多くの特徴を省略して、大いに単純化された形で示されている。しかしながら、このような分析部は、当該技術分野では知られているため、より詳細な説明は必要とされない。
図8には、第2の軸線51が第2の通路軸線9に直交した配置で示されているが、これは必須の特徴ではない。第2の軸線51が第2の通路軸線9の延長部分であるような直線配置を含め、これら2軸線間にいかなる角度を提供することも本発明の範囲内である。
このように、本発明の好ましい実施形態が、本説明の特徴が教示から逸脱することなく修正および変更可能であるという理解の下で、詳細に説明された。したがって、本発明は、正確な詳細に限定されるべきではなく、特許請求の範囲とその等価物の主題を包含するべきである。
例えば、要素103が十分に大きい場合には、ハウジング32、37が、通路7を含む要素101に直接取り付けられてもよい。その場合、壁14は、要素101の外側部分に取り付けることができる。

Claims (44)

  1. 高圧の領域内をプルーム状に移動する1個以上のイオンを受け入れ、低圧の領域に前記イオンを渡し、前記高圧の領域が第1の壁によって前記低圧の領域から分離されており、前記プルームが第1の軸線を有し、前記低圧の領域内を移動する前記イオンが第2の軸線を有する装置であって、
    前記低圧の領域と前記高圧の領域との間の前記第1の壁に取り付けるための、流入ハウジングを備え、前記流入ハウジングが、分岐点と、第1の通路を有しており、前記流入ハウジングおよび前記壁のうちの少なくとも一方が第2の通路とを有しており、前記第1の通路が、第1の通路軸線、入口および終端を有しており、前記入口が前記高圧の領域と流体連通しており、終端が前記分岐点と連通しており、前記分岐点が前記第2の通路と流体連通しており、前記第2の通路が、第2の通路軸線と、出口とを有しており、前記第1の通路がイオンを受け入れ、前記出口がイオンを前記低圧の領域に放出し、前記第1の通路軸線が、前記第1の軸線または前記第1の軸線に平行に延びる直線と1点で交差して、第1の角度を画定しており、前記第1の通路軸線と前記第2の通路軸線が、1点で交差して、第2の角度を画定しており、前記第2の通路軸線が、前記第2の軸線を画定するか、または第2の軸線と平行な直線に沿って延びており、前記流入ハウジングが高圧でイオンを受け入れ、低圧でイオンを渡す、装置。
  2. 前記流入ハウジングが、前記壁上の第1の位置と前記壁上の第2の位置をとることが可能であり、前記第1の位置では、前記第1の通路軸線が約75度以下の第1の角度を有し、前記第2の位置では、前記通路軸線が105度以上の第1の角度を有する、請求項1に記載の装置。
  3. 前記第2の通路が、前記低圧の領域より高い圧力で前記第1の通路および第2の通路のうちの少なくとも一方の領域を画定する少なくとも1つの絞り区間を有する、請求項2に記載の装置。
  4. 前記絞り区間が絞り直径を有し、第1の通路が第1の通路直径を有し、第2の通路が第2の通路直径を有し、前記絞り直径が、前記第1の通路直径および第2の通路直径のうちの少なくとも一方より小さい直径を有する、請求項3に記載の装置。
  5. 前記流入ハウジングが、解除可能な取り付け手段によって前記壁に取り付けられている、請求項1に記載の装置。
  6. 前記流入ハウジングが、取り外し可能であり、第1の位置および第2の位置のうちの少なくとも一方で前記壁に再び取り付け可能である、請求項5に記載の装置。
  7. 前記解除可能な取り付け手段が、クリップ、真空保持、カム、急速解除カム、噛み合いフランジ、またはねじを備える、請求項5に記載の装置。
  8. 前記流入ハウジングが、前記第1の位置と前記第2の位置との間で回転可能である、請求項2に記載の装置。
  9. 前記流入ハウジングを回転させる動力手段をさらに備える、請求項8に記載の装置。
  10. 前記動力手段と信号伝達し、操作者の命令または運転条件に応答して、前記流入ハウジングを前記第1の位置または前記第2の位置に設定する制御手段をさらに備える、請求項9に記載の装置。
  11. 隙間を画定するように間隔を置いた関係で前記流入ハウジングを取り囲み、前記第1の通路の入口の周りに、ガスを付与する開口を有するハウジングシュラウドをさらに備える、請求項1に記載の装置。
  12. 前記ハウジングシュラウドが円錐形状を有する、請求項11に記載の装置。
  13. 前記第1の通路軸線が、前記プルームと平行に延びる直線と交差する、請求項1に記載の装置。
  14. 前記第1の通路軸線と前記第2の通路軸線が、10度と90度との間の角度を有する、請求項1に記載の装置。
  15. 前記流入ハウジングを取り囲む高圧領域容器をさらに備える、請求項1に記載の装置。
  16. 前記流入ハウジングおよび低圧容器が、解除可能な取り付け手段を有する、請求項15に記載の装置。
  17. 前記流入ハウジングおよび低圧容器が、位置あわせ印を有する、請求項16に記載の装置。
  18. 前記高圧容器に保持された少なくとも1つのプルーム形成手段をさらに備える、請求項12に記載の装置。
  19. 前記プルーム形成手段がエレクトロスプレーまたはネブライザである、請求項1に記載の装置。
  20. 高圧容器が、複数のプルーム形成手段を保持する手段を含んでおり、前記流入ハウジングが、前記各プルーム形成手段のための1つ以上の位置を有する、請求項19に記載の装置。
  21. イオンの質量電荷比を測定する検出器であって、イオンを生成するための少なくとも1つの高圧容器と、イオンの質量と電荷に対応する信号を生成するための少なくとも1つの低圧容器とを備え、前記高圧容器および低圧容器が、少なくとも1つの第1の壁と、前記低圧容器と前記高圧容器との間を流体およびイオンの連通状態にする開口とを有しており、前記高圧容器が少なくとも1つのプルーム形成手段を有しており、前記高圧容器が、第1の軸線を有する手段によって前記低圧容器と流体およびイオンの連通状態にあり、前記低圧容器が第2の軸線を有しており、前記高圧容器が、前記低圧の領域と前記高圧の領域との間の前記第1の壁上への取り付け用の、流入ハウジングを有しており、前記流入ハウジングが、分岐点と、第1の通路とを有しており、前記流入ハウジングおよび前記壁のうちの少なくとも一方が第2の通路を有しており、前記第1の通路が、第1の通路軸線、入口および終端を有しており、前記入口が前記高圧の領域と流体連通しており、終端が前記分岐点と連通しており、前記分岐点が前記第2の通路と流体連通しており、前記第2の通路が、第2の通路軸線と、出口とを有しており、前記第1の通路がイオンを受け入れ、前記出口がイオンを前記低圧の領域に放出し、前記第1の通路軸線が、前記第1の軸線または前記第1の軸線と平行に延びる直線と1点で交差して、第1の角度を画定しており、前記第1の通路軸線と前記第2の通路軸線が、1点で交差して、第2の角度を画定しており、前記第2の通路軸線が、前記第2の軸線を画定するか、または前記第2の軸線と平行な直線に沿って延びており、前記流入ハウジングが高圧でイオンを受け入れて、低圧でイオンを前記低圧容器に渡す、検出器。
  22. 前記流入ハウジングが、前記壁上の第1の位置と前記壁上の第2の位置をとることが可能であり、前記第1の位置では、前記第1の通路軸線が約75度以下の第1の角度を有し、前記第2の位置では、前記通路軸線が105度以上の第1の角度を有する、請求項21に記載の検出器。
  23. 前記第2の通路が、前記低圧の領域より高い圧力で前記第1の通路および第2の通路のうちの少なくとも一方の領域を画定する少なくとも1つの絞り区間を有する、請求項21に記載の検出器。
  24. 前記絞り区間が絞り直径を有し、第1の通路が第1の通路直径を有し、第2の通路が第2の通路直径を有し、前記絞り直径が、前記第1の通路直径および第2の通路直径のうちの少なくとも一方より小さい直径を有する、請求項23に記載の検出器。
  25. 前記流入ハウジングが、解除可能な取り付け手段によって前記壁に取り付けられている、請求項21に記載の検出器。
  26. 前記流入ハウジングが、取り外し可能であり、第1の位置および第2の位置のうちの少なくとも一方で前記壁に再び取り付け可能である、請求項25に記載の検出器。
  27. 前記解除可能な取り付け手段が、クリップ、真空保持、カム、急速解除カム、噛み合いフランジ、またはねじを備える、請求項25に記載の検出器。
  28. 前記流入ハウジングが、前記第1の位置と前記第2の位置との間で回転可能である、請求項21に記載の検出器。
  29. 前記流入ハウジングを回転させる動力手段をさらに備える、請求項28に記載の検出器。
  30. 前記動力手段と信号伝達し、操作者の命令または運転条件に応答して、前記流入ハウジングを前記第1の位置または前記第2の位置に設定する制御手段をさらに備える、請求項28に記載の装置。
  31. 隙間を画定するように間隔を置いた関係で前記流入ハウジングを取り囲み、前記第1の通路の入口の周りに、ガスを付与する開口を有するハウジングシュラウドをさらに備える、請求項21に記載の装置。
  32. 前記ハウジングシュラウドが円錐形状を有する、請求項31に記載の装置。
  33. 前記第1の通路軸線が、前記プルームと平行に延びる直線と交差する、請求項21に記載の装置。
  34. イオンの質量電荷比を測定する検出器を操作する方法であって、イオンを生成するための少なくとも1つの高圧容器と、イオンの質量と電荷に対応する信号を生成するための少なくとも1つの低圧容器とを設けるステップを含み、前記高圧容器および低圧容器が、少なくとも1つの第1の壁と、前記低圧容器と前記高圧容器との間を流体およびイオンの連通状態にする開口とを有しており、前記高圧容器が少なくとも1つのプルーム形成手段を有しており、前記高圧容器が、第1の軸線を有する手段によって前記低圧容器と流体およびイオンの連通状態にあり、前記低圧容器が第2の軸線を有しており、前記高圧容器が、前記低圧の領域と前記高圧の領域との間の前記第1の壁上に取り付けるための、流入ハウジングを有しており、前記流入ハウジングが、分岐点と、第1の通路とを有しており、前記流入ハウジングおよび前記壁のうちの少なくとも一方が第2の通路を有しており、前記第1の通路が、第1の通路軸線、入口および終端を有しており、前記入口が前記高圧の領域と流体連通しており、終端が前記分岐点と連通しており、前記分岐点が前記第2の通路と流体連通しており、前記第2の通路が、第2の通路軸線と、出口とを有しており、前記第1の通路がイオンを受け入れ、前記出口がイオンを前記低圧の領域に放出し、前記第1の通路軸線が、前記第1の軸線または前記第1の軸線と平行に延びる直線と1点で交差して、第1の角度を画定しており、前記第1の通路軸線と前記第2の通路軸線が、1点で交差して、第2の角度を画定しており、前記第2の通路軸線が、前記第2の軸線を画定するか、または前記第2の軸線と平行な直線に沿って延びており、前記流入ハウジングが高圧でイオンを受け入れて、低圧でイオンを前記低圧容器に渡す、方法。
  35. 前記流入ハウジングが、前記壁上の第1の位置と前記壁上の第2の位置をとることが可能であり、前記第1の位置では、前記第1の通路軸線が約75度以下の第1の角度を有し、前記第2の位置では、前記通路軸線が105度以上の第1の角度を有しており、前記流入ハウジングの前記第1の位置および第2の位置のうちの少なくとも一方を選択するステップを含む、請求項34に記載の方法。
  36. 前記流入ハウジングが、解除可能な取り付け手段によって前記壁に取り付けられており、前記解除可能な取り付け手段によって流入ハウジングを前記壁に固定するステップを含む、請求項34に記載の方法。
  37. 前記流入ハウジングが、取り外し可能であり、第1の位置および第2の位置のうちの少なくとも一方で前記壁に再び取り付け可能であって、前記第1または第2の位置への固定の前に、前記流入ハウジングを点検手入れするステップを含む、請求項36に記載の方法。
  38. 前記解除可能な取り付け手段が、クリップ、真空保持、カム、急速解除カム、噛み合いフランジ、およびねじを備える、請求項37に記載の方法。
  39. 前記流入ハウジングが、前記第1の位置と前記第2の位置との間で回転可能であって、前記位置を選択するように前記流入ハウジングを回転させるステップを含む、請求項35に記載の方法。
  40. 前記流入ハウジングを回転させる動力手段をさらに備える、請求項35に記載の方法。
  41. 前記動力手段と信号伝達し、操作者の命令または動作条件に応答して、前記流入ハウジングを前記第1の位置または前記第2の位置に設定する制御手段をさらに備える、請求項40に記載の方法。
  42. 隙間を画定するように間隔を置いた関係で前記流入ハウジングを取り囲み、前記第1の通路の入口の周りに、ガスを付与する開口を有するハウジングシュラウドをさらに備える、請求項34に記載の方法。
  43. 前記流入ハウジングが、印と位置合わせされる、請求項42に記載の方法。
  44. 流入口と流出口を有し、質量分析計の圧力の異なる領域間の壁に受け入れられ、エレクトロスプレーソースからのプルームを受け入れる、質量分析計の流入ハウジングのためのシュラウドハウジングであって、前記プルームがプルーム軸線を有しており、前記シュラウドハウジングが、頂上面とガス用開口とを有する円錐形状の少なくとも1つの壁を有しており、前記ガス用開口が、前記流入ハウジングの前記流入口を取り囲んでおり、前記頂上面が、前記ガス用開口を取り囲むとともに、プルーム軸線に従うように位置決めされた前記少なくとも1つの壁の上に平らな面を画定しており、前記少なくとも1つの壁が、ガスを受け入れて前記ガス用開口に配送するように前記流入ハウジングと間隔を置いた関係で位置決めされており、イオンが前記流入口内へ方向付けられる、シュラウドハウジング。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013149539A (ja) * 2012-01-23 2013-08-01 Hitachi High-Technologies Corp 質量分析装置
JP2018036282A (ja) * 2011-12-28 2018-03-08 マイクロマス・ユーケー・リミテッド 液相試料の急速蒸発イオン化を行うためのシステムおよび方法

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2760027A1 (en) * 2009-06-03 2010-12-09 Wayne State University Mass spectrometry using laserspray ionization
US8502162B2 (en) * 2011-06-20 2013-08-06 Agilent Technologies, Inc. Atmospheric pressure ionization apparatus and method
US9048079B2 (en) * 2013-02-01 2015-06-02 The Rockefeller University Method and apparatus for improving ion transmission into a mass spectrometer
EP3047509B1 (en) 2013-09-20 2023-02-22 Micromass UK Limited Ion inlet assembly
CN110706996B (zh) 2015-03-06 2023-08-11 英国质谱公司 用于改进电离的碰撞表面
EP3570315B1 (en) 2015-03-06 2024-01-31 Micromass UK Limited Rapid evaporative ionisation mass spectrometry ("reims") and desorption electrospray ionisation mass spectrometry ("desi-ms") analysis of biopsy samples
CN107533032A (zh) 2015-03-06 2018-01-02 英国质谱公司 用于从块状组织直接映射的原位电离质谱测定成像平台
CN112964625B (zh) 2015-03-06 2024-06-07 英国质谱公司 细胞群体分析
WO2016142681A1 (en) 2015-03-06 2016-09-15 Micromass Uk Limited Spectrometric analysis of microbes
CA2981085A1 (en) 2015-03-06 2016-09-15 Micromass Uk Limited Spectrometric analysis
GB2587288B (en) * 2015-03-06 2021-07-28 Micromass Ltd Detection of bacteria in swab samples using desorption ionisation and mass spectrometry
GB201516543D0 (en) 2015-09-18 2015-11-04 Micromass Ltd Ion source alignment
US10658166B2 (en) 2016-03-07 2020-05-19 Micromass Uk Limited Spectrometric analysis
US11454611B2 (en) 2016-04-14 2022-09-27 Micromass Uk Limited Spectrometric analysis of plants
GB2550199B (en) * 2016-05-13 2021-12-22 Micromass Ltd Enclosure for Ambient Ionisation Ion Source
GB2561372B (en) 2017-04-11 2022-04-20 Micromass Ltd Method of producing ions
GB2593620B (en) 2017-04-11 2021-12-22 Micromass Ltd Ambient ionisation source unit
GB202100096D0 (en) * 2021-01-05 2021-02-17 Micromass Ltd Sample Analysis

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002536811A (ja) * 1999-02-11 2002-10-29 マスラボ リミテッド 質量分析装置のためのイオン源

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5672868A (en) * 1996-02-16 1997-09-30 Varian Associates, Inc. Mass spectrometer system and method for transporting and analyzing ions
DE19629134C1 (de) * 1996-07-19 1997-12-11 Bruker Franzen Analytik Gmbh Vorrichtung zur Überführung von Ionen und mit dieser durchgeführtes Meßverfahren
GB2324906B (en) 1997-04-29 2002-01-09 Masslab Ltd Ion source for a mass analyser and method of providing a source of ions for analysis
EP0966022B1 (en) 1998-06-18 2007-05-30 Micromass UK Limited Multi-inlet mass spectrometer
US6248999B1 (en) * 1998-09-24 2001-06-19 Finnigan Corporation Assembly for coupling an ion source to a mass analyzer
US6784422B2 (en) 1999-12-15 2004-08-31 Mds Inc. Parallel sample introduction electrospray mass spectrometer with electronic indexing through multiple ion entrance orifices
EP1377822B1 (en) 2001-04-09 2012-06-20 MDS Inc., doing business as MDS Sciex A method of and apparatus for ionizing an analyte and ion source probe for use therewith
JP3422992B2 (ja) 2001-07-23 2003-07-07 株式会社日立製作所 質量分析計
US6991960B2 (en) * 2001-08-30 2006-01-31 Micron Technology, Inc. Method of semiconductor device package alignment and method of testing
US6649908B2 (en) * 2001-09-20 2003-11-18 Agilent Technologies, Inc. Multiplexing capillary array for atmospheric pressure ionization-mass spectrometry
US20060054805A1 (en) * 2004-09-13 2006-03-16 Flanagan Michael J Multi-inlet sampling device for mass spectrometer ion source
US7145136B2 (en) * 2004-12-17 2006-12-05 Varian, Inc. Atmospheric pressure ionization with optimized drying gas flow
WO2008048228A2 (en) 2005-08-12 2008-04-24 Department Of The Army Glycine stabilized lyophilized plasma
US7372042B2 (en) * 2005-08-31 2008-05-13 Agilent Technologies, Inc. Lens device for introducing a second ion beam into a primary ion path
CA2663698C (en) * 2006-09-25 2017-08-22 Applera Corporation Multiple sample sources for use with mass spectrometers, and apparatus, devices, and methods therefor
US8058611B2 (en) * 2009-09-23 2011-11-15 Thermo Finnigan Llc System for preventing backflow in an ion source

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002536811A (ja) * 1999-02-11 2002-10-29 マスラボ リミテッド 質量分析装置のためのイオン源

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018036282A (ja) * 2011-12-28 2018-03-08 マイクロマス・ユーケー・リミテッド 液相試料の急速蒸発イオン化を行うためのシステムおよび方法
JP2013149539A (ja) * 2012-01-23 2013-08-01 Hitachi High-Technologies Corp 質量分析装置
WO2013111485A1 (ja) * 2012-01-23 2013-08-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US9177775B2 (en) 2012-01-23 2015-11-03 Hitachi High-Technologies Corporation Mass spectrometer

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