JP2011249233A - Method for producing conductive particle, and conductive particle produced by the same - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an excellent conductive particle which holds an excellent compression characteristic belonging to a substrate polymer particle, has no deterioration in conductivity without any deterioration in the adhesion of a plated film even after being affected by compressive deformation, and has little load to environment and a human body, and a method for producing the conductive particle.SOLUTION: The method for producing the conductive particle includes: a primary dope step of doping iodine to a substrate polymer particle and adjusting a polymer/iodine compound; a secondary dope step of making metal species react on the polymer/iodine compound to adjust a metal iodide composite; a reduction step of reducing the metal iodide composite to a metal particle and scattering metal particles to be a core of a plating film on a substrate polymer surface; and an electroless deposition step of making the plating film grow with metals scattered on the substrate polymer particle surface obtained in the reduction step as a core.

Description

本発明は、導電性粒子の製造方法、及び該導電性粒子の製造方法により得られる導電性粒子に関する。 The present invention relates to a method for producing conductive particles and conductive particles obtained by the method for producing conductive particles.

導電性粒子は、一般に、導電スペーサとして、液晶ディスプレイのガラス基板の上下導通をとるために使用される。また、バインダー樹脂などに混合され、例えば、異方性導電ペースト(ACP: Anisotropic Conductive Paste)、異方性導電インク、異方性導電粘接着剤、異方性導電フィルム(ACF: Anisotropic Conductive Film)、異方性導電シートなどの異方性導電材料として、広く用いられている。 In general, the conductive particles are used as conductive spacers for conducting vertical conduction of a glass substrate of a liquid crystal display. Also, mixed with binder resin, etc., for example, anisotropic conductive paste (ACP: Anisotropic Conductive Paste), anisotropic conductive ink, anisotropic conductive adhesive, anisotropic conductive film (ACF: Anisotropic Conductive Film) ), And is widely used as an anisotropic conductive material such as an anisotropic conductive sheet.

これらの導電性粒子は、例えば、液晶テレビ、プラズマテレビ、パーソナルコンピュータ、携帯電話、家電製品などの電子機器において、配線回路基板同士を電気的に接続したり、半導体素子などの小型部品を配線同路基板に電気的に接続したりするために、配線回路基板や電極端子の間に挟み込んで使用しており、機器の微小化と軽量化、及びフラット化に伴い、今後も使用量は増加の一途をたどるものと予想されている。 These conductive particles are used to electrically connect wired circuit boards and to wire small parts such as semiconductor elements in electronic devices such as liquid crystal televisions, plasma televisions, personal computers, mobile phones, and home appliances. In order to electrically connect to the road board, it is used by sandwiching it between the printed circuit board and electrode terminals, and the amount of use will continue to increase with the miniaturization, weight reduction, and flattening of equipment. It is expected to continue.

従来、導電スペーサや異方性導電材料に対して好適な導電性粒子としては、粒子径の均一な樹脂微粒子やガラスビーズなどの非導電性微粒子を基材粒子として用い、基材微粒子の表面に、無電解メッキによってニッケルなどの金属メッキ膜を形成させた導電性微粒子が報告されている(特許文献1及び2参照)。 Conventionally, as conductive particles suitable for conductive spacers and anisotropic conductive materials, non-conductive fine particles such as resin fine particles and glass beads having a uniform particle diameter have been used as the base particle, Electroconductive fine particles in which a metal plating film such as nickel is formed by electroless plating have been reported (see Patent Documents 1 and 2).

特許文献2の[0010]及び[0011]に記載されているように、無電解メッキに際しては、まず、基材微粒子の表面を脱脂した後、クロム酸等でエッチングを施す。その後、クロム酸を塩酸等で除去し、次いでエッチングにより凸凹となった基材微粒子の表面にパラジウム等の触媒金属を析出させて、この触媒を核として無電解メッキによりメッキ層を形成する。 As described in [0010] and [0011] of Patent Document 2, in the electroless plating, first, the surface of the substrate fine particles is degreased and then etched with chromic acid or the like. Thereafter, chromic acid is removed with hydrochloric acid or the like, and then a catalytic metal such as palladium is deposited on the surface of the substrate fine particles which have become uneven by etching, and a plating layer is formed by electroless plating using this catalyst as a nucleus.

基材微粒子にメッキ膜を強く密着させてアンカーリング効果を得るには、エッチングが不可欠である。しかし、クロム酸は環境負荷が高く、また人体にも有害であることからエッチングに替わる表面処理の方法が求められていた。また、エッチング処理によって平滑性が損なわれてしまい、さらには、エッチング処理による表面の粗化により圧縮特性が低下することが問題であった。 Etching is indispensable for obtaining an anchoring effect by strongly adhering the plating film to the substrate fine particles. However, since chromic acid has a high environmental load and is harmful to the human body, a surface treatment method instead of etching has been demanded. In addition, the smoothness is impaired by the etching process, and further, the compression characteristics deteriorate due to the roughening of the surface by the etching process.

一方、本発明者らは、過去に特許文献3の導電性素材を開発したが、導電性能及び圧縮特性について必ずしも満足できるものではなかった。さらに、本発明者らは、先にポリマー/ヨウ素複合体に金属種を反応、還元して導電性粒子を製造する方法も提案したが(特願2009−083096号)、導電性及び圧縮特性について、さらなる改善の余地があった。 On the other hand, although the present inventors developed the electroconductive material of patent document 3 in the past, it was not necessarily satisfactory about electroconductive performance and a compression characteristic. Furthermore, the present inventors previously proposed a method for producing conductive particles by reacting and reducing metal species with a polymer / iodine complex (Japanese Patent Application No. 2009-083096). There was room for further improvement.

特開平09−306231号公報JP 09-306231 A 特開2003−064500号公報JP 2003-064500 A 再表2007−086392号公報Table 2007-086392

本発明は、基材ポリマー粒子の有する良好な圧縮特性を保持し、圧縮変形を受けた後もメッキ皮膜の密着力が低下せず導電性の低下がなく、しかも、環境と人体に負荷の少ない優れた導電性粒子、及び該導電性粒子の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention retains the good compressive properties of the base polymer particles, does not reduce the adhesion of the plating film even after being subjected to compressive deformation, does not lower the electrical conductivity, and has less load on the environment and the human body. An object is to provide excellent conductive particles and a method for producing the conductive particles.

本発明は、基材ポリマー粒子に対して、ヨウ素をドープしてポリマー/ヨウ素複合体を調整する1次ドープ工程と、該ポリマー/ヨウ素複合体に対して金属種を反応させて金属ヨウ化物コンポジットを調整する2次ドープ工程と、該金属ヨウ化物コンポジットを金属微粒子へと還元し、基材ポリマー表面にメッキ膜の核となる金属微粒子を点在させる還元工程と、還元工程で得られた基材ポリマー粒子表面に点在する金属を核としてメッキ膜を成長させる無電解メッキ工程と、からなることを特徴とする導電性粒子の製造方法により上記の課題を解決する。 The present invention relates to a primary dope process for adjusting a polymer / iodine complex by doping iodine with respect to base polymer particles, and a metal iodide composite by reacting a metal species with the polymer / iodine complex. A secondary dope process for adjusting the metal iodide composite, a reduction process for reducing the metal iodide composite to metal fine particles, and interspersing metal fine particles serving as the core of the plating film on the surface of the base polymer, and a group obtained by the reduction process The above-mentioned problems are solved by a method for producing conductive particles, characterized by comprising an electroless plating step in which a plating film is grown using the metal scattered on the surface of the polymer particles as a nucleus.

本発明者らは、上述の特許文献3で以下の知見を得た。すなわち、ポリマー基材(フィルム)を、ポリヨウ素イオン(In:nは3又は5)を含む溶液に浸漬することにより得られたポリヨウ素コンプレックス(ポリマー/ヨウ素複合体)は、未処理のポリマー基材よりもイオンや分子の拡散性及び透過性が高いため、2次ドープした金属イオンが容易に拡散し、拡散した前記金属イオンとポリヨウ素イオンとが反応することにより金属微粒子が前記ポリマー基材の内部で生成し([0008]記載)、大気中で加熱等することにより、ポリマー基材の表面に金属微粒子が析出することである。 The present inventors have obtained the following knowledge in Patent Document 3 described above. That is, a polyiodine complex (polymer / iodine complex) obtained by immersing a polymer substrate (film) in a solution containing polyiodine ions (In : n is 3 or 5) is an untreated polymer. Since the diffusibility and permeability of ions and molecules are higher than the base material, secondary-doped metal ions are easily diffused, and the metal ions and polyiodine ions react to cause the metal fine particles to become polymer groups. It is generated inside the material (described in [0008]), and is heated in the air, whereby metal fine particles are deposited on the surface of the polymer substrate.

本発明は上記の知見を基に開発した応用発明である。本発明では、まず、基材ポリマー粒子を所定濃度のポリヨウ素イオンを含む溶液に浸漬するなどして(1次ドープ工程)、ポリマー/ヨウ素複合体を形成する。次いで、該ポリマー/ヨウ素複合体を所定濃度の金属種を含む溶液(金属塩溶液)に浸漬するなどして、金属ヨウ化物コンポジットを微量形成する(2次ドープ工程)。そして、該金属ヨウ化物コンポジットを還元することで、金属微粒子をポリマー粒子の表面に点在させて、ポリマー粒子表面を凹凸形状とする(還元工程)。さらに、ポリマー粒子表面の金属を核としてメッキ膜を無電解メッキにより成長させる(無電解メッキ工程)。 The present invention is an applied invention developed based on the above findings. In the present invention, the polymer / iodine complex is first formed by immersing the base polymer particles in a solution containing polyiodine ions at a predetermined concentration (primary doping step). Next, the polymer / iodine complex is immersed in a solution (metal salt solution) containing a predetermined concentration of metal species to form a trace amount of metal iodide composite (secondary doping step). Then, by reducing the metal iodide composite, metal fine particles are interspersed on the surface of the polymer particles to make the surface of the polymer particles uneven (reduction process). Furthermore, a plating film is grown by electroless plating using the metal on the surface of the polymer particles as a nucleus (electroless plating step).

本発明と特許文献3及び特願2009−083096号を対比した場合の最大の特徴は、金属ヨウ化物コンポジットの形成量をごく微量とすることによりポリマー粒子表面に析出する金属微粒子を微量としたことである。すなわち、本発明は、1次ドープする単体ヨウ素を従来よりも希薄とする、又は、2次ドープする金属種を従来よりも希薄にすることで、生成する金属ヨウ化物コンポジットの量を少なくするのである。金属ヨウ化物コンポジットの絶対量が少ないために、これを還元すると、ポリマー粒子表面に金属微粒子が点在した状態となる。これにより粒子表面は、あたかもエッチングを行ったかのごとく、凸凹形状となるのである。本発明はこの凸凹形状によって良好なアンカーリング効果を得て、メッキ膜の定着をより強固なものとするものである。 The greatest feature when the present invention is compared with Patent Document 3 and Japanese Patent Application No. 2009-083096 is that the amount of metal iodide composite formed on the surface of the polymer particles is made very small by making the amount of metal iodide composite formed very small. It is. In other words, the present invention reduces the amount of metal iodide composite produced by diluting the simple elemental iodine for primary doping more than before, or by diluting the metal species for secondary doping than before. is there. Since the absolute amount of the metal iodide composite is small, when it is reduced, metal fine particles are scattered on the surface of the polymer particles. As a result, the surface of the particles becomes uneven as if etching was performed. The present invention obtains a good anchoring effect by this uneven shape, and makes the fixing of the plating film stronger.

1次ドープ工程は、基材ポリマー粒子対して、ヨウ素をドープして、ポリマー/ヨウ素複合体を調整する工程である。単体ヨウ素を希薄として、ポリマー粒子表面に微量の金属粒子を析出させる場合は、基材ポリマー粒子を5×10−6〜5×10−3Nの単体ヨウ素を含む溶液に浸漬することによって行えばよい。単体ヨウ素の濃度は、より好ましくは1×10−5〜5×10−3Nで、特に好ましくは1×10−4〜3×10−3Nある。続く2次ドープ工程にて、化学当量で等量以上(1×10−4〜8×10−2N、より好ましくは1×10−3〜5×10−2N)の金属種をドープすれば、微量の金属ヨウ化物コンポジットを形成することができる。単体ヨウ素の濃度が上記の範囲を上回ると、単体ヨウ素に対して過剰量の金属種を2次ドープ工程で添加する場合、基材ポリマー粒子に析出する金属微粒子の量が過多となる。これにより基材ポリマー粒子表面の凸凹化が不十分となり、アンカーリング効果が得られない。さらには、基材ポリマー粒子の表面が歪み、均一な導電性を持つ導電性粒子とすることができない。一方、単体ヨウ素の濃度が上記の範囲を下回ると、やはり、基材ポリマー粒子表面の凸凹化が不十分となり、アンカーリング効果が得られなくなってしまう。 The primary doping step is a step of adjusting the polymer / iodine complex by doping iodine with respect to the base polymer particles. In the case of diluting simple iodine and precipitating a minute amount of metal particles on the surface of the polymer particles, the base polymer particles are immersed in a solution containing 5 × 10 −6 to 5 × 10 −3 N simple iodine. Good. The concentration of simple iodine is more preferably 1 × 10 −5 to 5 × 10 −3 N, and particularly preferably 1 × 10 −4 to 3 × 10 −3 N. In a subsequent secondary doping step, a metal equivalent of a chemical equivalent amount or more (1 × 10 −4 to 8 × 10 −2 N, more preferably 1 × 10 −3 to 5 × 10 −2 N) is doped. Thus, a trace amount of metal iodide composite can be formed. If the concentration of simple iodine exceeds the above range, when adding an excessive amount of metal species to the simple iodine in the secondary doping step, the amount of metal fine particles deposited on the base polymer particles becomes excessive. Thereby, unevenness of the surface of the base polymer particles becomes insufficient, and the anchoring effect cannot be obtained. Furthermore, the surface of the base polymer particles is distorted and cannot be made conductive particles having uniform conductivity. On the other hand, when the concentration of the simple iodine is below the above range, the unevenness of the surface of the base polymer particles becomes insufficient, and the anchoring effect cannot be obtained.

ヨウ素は水にはあまり溶けないので、溶媒を水とする場合は、必要に応じてその他の成分を添加してもよい。その他の成分としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ヨウ素化合物、有機化合物などが挙げられる。 Since iodine is not very soluble in water, other components may be added as necessary when the solvent is water. There is no restriction | limiting in particular as another component, According to the objective, it can select suitably, For example, an iodine compound, an organic compound, etc. are mentioned.

前記2次ドープ工程とは、1次ドープ工程で形成されたポリマー/ヨウ素複合体に対し、金属種を反応させて金属ヨウ化物コンポジットを調製する工程である。ここでいう、金属ヨウ化物コンポジットとは、前記ポリマー/ヨウ素複合体中に、前記金属種が拡散し、前記ポリマー/ヨウ素複合体の構成要素であるポリヨウ素から分離したヨウ素イオンと、前記金属種とが反応して金属ヨウ化物を形成してなるものである。 The secondary doping step is a step of preparing a metal iodide composite by reacting a metal species with the polymer / iodine complex formed in the primary doping step. Here, the metal iodide composite refers to iodine ions separated from polyiodine, which is a constituent element of the polymer / iodine complex, and the metal species diffused in the polymer / iodine complex. To form a metal iodide.

2次ドープ工程で添加する金属種を微量として、ポリマー粒子表面に微量の金属粒子を析出させる場合は、ポリマー/ヨウ素複合体を5×10−6〜5×10−3Nの金属種を含む溶液に浸漬することによって行えばよい。金属種の濃度は、より好ましくは1×10−5〜5×10−3Nで、特に好ましくは1×10−4〜3×10−3Nある。この場合、先立つ1次ドープ工程にて、化学当量で等量以上(1×10−4〜8×10−2N、より好ましくは1×10−3〜5×10−2N)のポリマー/ヨウ素複合体を形成しておけば、微量の金属ヨウ化物コンポジットを形成することができる。金属種の濃度が上記の範囲を上回ると、基材ポリマー粒子に析出する金属微粒子の量が過多となる。これにより基材ポリマー粒子表面の凸凹化が不十分となり、アンカーリング効果が得られない。さらには、基材ポリマー粒子の表面が歪み、均一な導電性を持つ導電性粒子とすることができない。一方、金属種の濃度が上記の範囲を下回ると、やはり、基材ポリマー粒子表面の凸凹化が不十分となり、アンカーリング効果が得られなくなってしまう。 When a small amount of metal species added in the secondary doping step is used to deposit a small amount of metal particles on the surface of the polymer particles, the polymer / iodine complex contains 5 × 10 −6 to 5 × 10 −3 N metal species. What is necessary is just to carry out by immersing in a solution. The concentration of the metal species is more preferably 1 × 10 −5 to 5 × 10 −3 N, and particularly preferably 1 × 10 −4 to 3 × 10 −3 N. In this case, in the preceding primary dope process, a polymer equivalent of a chemical equivalent or more (1 × 10 −4 to 8 × 10 −2 N, more preferably 1 × 10 −3 to 5 × 10 −2 N) / If an iodine complex is formed, a trace amount metal iodide composite can be formed. When the concentration of the metal species exceeds the above range, the amount of the metal fine particles deposited on the base polymer particles becomes excessive. Thereby, unevenness of the surface of the base polymer particles becomes insufficient, and the anchoring effect cannot be obtained. Furthermore, the surface of the base polymer particles is distorted and cannot be made conductive particles having uniform conductivity. On the other hand, if the concentration of the metal species is below the above range, the unevenness of the surface of the base polymer particles becomes insufficient, and the anchoring effect cannot be obtained.

本発明の製造方法によれば、表面抵抗値が5〜10Ω、5〜20Ω等の導電性に優れた導電性粒子を製造することができる。上述の通り、加圧変形後も高い導電性を維持できるので、導電スペーサや異方性導電ペーストなど、加圧下での用途に好ましく使用することができる。 According to the production method of the present invention, it is possible to produce conductive particles having a surface resistance value of 5 to 10 2 Ω, 5 to 20 Ω, and the like having excellent conductivity. As described above, since high conductivity can be maintained even after pressure deformation, it can be preferably used for applications such as conductive spacers and anisotropic conductive paste under pressure.

本発明の方法により形成したメッキ膜は優れた圧縮特性を有し、前記メッキの皮膜層容易にが割れたり、剥がれたりすることがない。そのため、圧縮時においても電気抵抗が増大することがなく、高い導通性を有する導電性粒子とすることができる。しかも、本発明の製造方法によれば、人体と環境の双方にとって負荷が高く問題であったエッチング工程を省くことができる。さらには基材ポリマー粒子に析出した微量の金属微粒子が触媒として機能し、メッキ膜の生成を促進するという効果をもたらす。 The plating film formed by the method of the present invention has excellent compression characteristics, and the coating film layer of the plating is not easily cracked or peeled off. Therefore, electrical resistance does not increase even during compression, and conductive particles having high electrical conductivity can be obtained. Moreover, according to the manufacturing method of the present invention, it is possible to omit the etching process, which is a problem for both the human body and the environment, which is a problem. Furthermore, a small amount of fine metal particles deposited on the base polymer particles function as a catalyst, which brings about the effect of promoting the formation of a plating film.

また、エッチング工程を省くことで、基材ポリマー粒子そのものの良好な圧縮特性を維持することができる。さらには、本発明の製造法によれば、導電性粒子の表面の平滑性を確保して、粒子間で導電性のばらつきを減じることができる。 Further, by omitting the etching step, it is possible to maintain good compression characteristics of the base polymer particles themselves. Furthermore, according to the production method of the present invention, it is possible to ensure the smoothness of the surface of the conductive particles and reduce the variation in conductivity among the particles.

本発明の製造方法によれば、表面抵抗値が5〜10Ωである導電性粒子を容易に製造することができる。 According to the production method of the present invention, conductive particles having a surface resistance value of 5 to 10 2 Ω can be easily produced.

導電性粒子の圧縮導電性を測定する方法の概念図である。It is a conceptual diagram of the method of measuring the compression conductivity of electroconductive particle. 実施例1のメッキ膜を付与した導電性粒子の圧縮変位時における圧縮変位(μm)と試験力(gf)との関係を示したグラフである。It is the graph which showed the relationship between the compression displacement (micrometer) at the time of the compression displacement of the electroconductive particle which provided the plating film of Example 1, and test force (gf). 実施例1のメッキ膜を付与した導電性粒子の圧縮変位時の圧縮変位(μm)と抵抗値(Ω)の関係を示したグラフである。It is the graph which showed the relationship between the compression displacement (micrometer) at the time of the compression displacement of the electroconductive particle which provided the plating film of Example 1, and resistance value (ohm). 実施例2の導電性粒子のTEM画像である。導電性粒子は還元工程後のものを使用し、メッキ膜を付与する前の状態である。3 is a TEM image of conductive particles of Example 2. The conductive particles are those after the reduction step, and are in a state before the plating film is applied. 実施例2の導電性粒子のSEM画像である。導電性粒子は還元工程後のものを使用し、メッキ膜を付与する前の状態である。4 is a SEM image of conductive particles of Example 2. The conductive particles are those after the reduction step, and are in a state before the plating film is applied. 実施例5の導電性粒子のTEM画像である。導電性粒子は還元工程後のものを使用し、メッキ膜を付与する前の状態である。6 is a TEM image of conductive particles of Example 5. The conductive particles are those after the reduction step, and are in a state before the plating film is applied. 実施例5の導電性粒子のSEM画像である。導電性粒子は還元工程後のものを使用し、メッキ膜を付与する前の状態である。6 is a SEM image of conductive particles of Example 5. The conductive particles are those after the reduction step, and are in a state before the plating film is applied.

(導電性粒子の製造方法)
基材ポリマー粒子に対して、ヨウ素をドープしてポリマー/ヨウ素複合体を調整する1次ドープ工程と、該ポリマー/ヨウ素複合体に対して金属種を反応させて金属ヨウ化物コンポジットを調整する2次ドープ工程と、該金属ヨウ化物コンポジットを金属微粒子へと還元し、基材ポリマー表面にメッキ膜の核となる金属微粒子を点在させる還元工程と、還元工程で得られた基材ポリマー粒子表面に点在する金属を核としてメッキ膜を成長させる無電解メッキ工程、を少なくとも含み、必要に応じて、更にその他の工程を含む。
(Method for producing conductive particles)
A primary dope step of adjusting the polymer / iodine complex by doping iodine with respect to the base polymer particles, and adjusting the metal iodide composite by reacting a metal species with the polymer / iodine complex 2 Subsequent doping step, reduction step of reducing the metal iodide composite to fine metal particles, and scattering of fine metal particles serving as the core of the plating film on the surface of the base polymer surface, and base material particle surface obtained in the reduction step At least an electroless plating process for growing a plating film using the metal scattered in the core as a nucleus, and further includes other processes as necessary.

<1次ドープ工程>
前記1次ドープ工程は、基材ポリマー粒子に対し、ヨウ素をドープ(添加)して、ポリマー/ヨウ素複合体を調製する工程である。本発明で言うポリマー/ヨウ素複合体とは、ポリマーにポリヨウ素が分散・吸着し、包含されてなるものである。特許文献3記載のように、例えば、ポリマーの分子間の水素結合によりポリヨウ素が包摂されている構造や、分子鎖又は側鎖上のアミド基等を配位座としてポリヨウ素が配位した構造や、結晶等の分子鎖の凝集によって分子鎖間に配位座が形成されるもの、単分子鎖であっても分子鎖上の極性基の配列やらせん構造のピッチ変化によって配位座が形成されるものが挙げられる。
<Primary dope process>
The primary dope step is a step of preparing a polymer / iodine complex by doping (adding) iodine to the base polymer particles. The polymer / iodine complex referred to in the present invention is a polymer in which polyiodine is dispersed and adsorbed. As described in Patent Document 3, for example, a structure in which polyiodine is included by hydrogen bonding between molecules of a polymer, or a structure in which polyiodine is coordinated with an amide group on a molecular chain or a side chain as a coordination site Coordination loci are formed between molecular chains due to aggregation of molecular chains such as crystals, and even in single molecular chains, coordination loci are formed by the arrangement of polar groups on the molecular chain and the pitch change of the helical structure. What is done.

―基材ポリマー粒子―
前記基材ポリマー粒子の高分子材料としては、ヨウ素を包含可能な高分子化合物である限り、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂などが挙げられる。
―Base polymer particles―
The polymer material of the base polymer particles is not particularly limited as long as it is a polymer compound that can include iodine, and can be appropriately selected depending on the purpose. For example, thermoplastic resin, thermosetting resin Etc.

前記熱可塑性樹脂としては、例えば、塩ビ樹脂、酢ビ樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、アクリル樹脂、ポリアミド樹脂、アセタール樹脂などが挙げられる。 Examples of the thermoplastic resin include vinyl chloride resin, vinyl acetate resin, polystyrene resin, polyester resin, polyethylene resin, polypropylene resin, acrylic resin, polyamide resin, and acetal resin.

前記熱硬化性樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ベンゾグアナミン樹脂、アルキド樹脂、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂、架橋アクリル樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ビニル重合体、ケイ素樹脂などが挙げられる。 Examples of the thermosetting resin include phenol resin, melamine resin, benzoguanamine resin, alkyd resin, polyurethane resin, epoxy resin, cross-linked acrylic resin, unsaturated polyester resin, vinyl polymer, silicon resin, and the like.

これらの中でも、架橋アクリル樹脂、ビニル重合体、ベンゾグアナミン樹脂が好ましい。前記高分子材料は、1種単独で使用されてもよく、2種以上を組み合わせて使用されてもよい。 Among these, a crosslinked acrylic resin, a vinyl polymer, and a benzoguanamine resin are preferable. The said polymeric material may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

前記アルカリ溶液としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、水酸化ナトリウム水溶液、水酸化カリウム水溶液、炭酸ナトリウム水溶液、水酸化カルシウム水溶液、アンモニア水、炭酸水素ナトリウム水溶液などが挙げられる。本明細書中において、前記高分子材料は、前記アルカリ溶液で、部分的に加水分解したものも含まれる。また、前記ヨウ素を包含可能な高分子化合物とは、前記ヨウ素成分が内部まで拡散し、かつ分子内に吸着、又は非共有結合で会合した構造をとりうる高分子化合物を意味する。 There is no restriction | limiting in particular as said alkaline solution, According to the objective, it can select suitably. For example, sodium hydroxide aqueous solution, potassium hydroxide aqueous solution, sodium carbonate aqueous solution, calcium hydroxide aqueous solution, ammonia water, sodium hydrogen carbonate aqueous solution, etc. are mentioned. In the present specification, the polymer material includes those partially hydrolyzed with the alkaline solution. The high molecular compound capable of including iodine means a high molecular compound capable of taking a structure in which the iodine component diffuses to the inside and is adsorbed or non-covalently associated in the molecule.

―製造方法―
前記基材ポリマー粒子の製造方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、懸濁重合、シード重合、ソープフリー重合、分散重合、乳化重合、静電噴霧法、インクジェット法、マイクロチャンネル法などが挙げられる。また、市販品を用いることもできる。
-Production method-
There is no restriction | limiting in particular as a manufacturing method of the said base polymer particle, According to the objective, it can select suitably. Examples thereof include suspension polymerization, seed polymerization, soap-free polymerization, dispersion polymerization, emulsion polymerization, electrostatic spraying method, ink jet method, and microchannel method. Commercial products can also be used.

前記懸濁重合とは、モノマーを、保護コロイドの添加された水溶液に滴下し、撹拌して、モノマー白身の表面張力により液滴を作り、加熱して、前記基材ポリマー粒子を得る方法である。 The suspension polymerization is a method in which a monomer is dropped into an aqueous solution to which a protective colloid is added, stirred, droplets are formed by the surface tension of the monomer white matter, and heated to obtain the base polymer particles. .

前記シード重合とは、ポリスチレン、PMMA(ポリメチルメタクリレート)などの種を、水中に析出して均一な微小粒子を作り、前記微小粒子にモノマーを吸収、肥大化させた後、加熱して、前記基材ポリマー粒子を得る方法である。 With the seed polymerization, seeds such as polystyrene and PMMA (polymethylmethacrylate) are deposited in water to form uniform microparticles, and the microparticles absorb and enlarge the monomer, and then heat, This is a method for obtaining base polymer particles.

前記ソープフリー重合とは、界面活性剤が存在しない条件で、主として過硫酸塩などの陰イオン性ラジカル重合開始剤を用いてシード粒子を形成し、このシード粒子にビニル系モノマーなどを吸収、重合し、前記基材ポリマー粒子を得る方法である。 The soap-free polymerization is the formation of seed particles mainly using an anionic radical polymerization initiator such as persulfate under the condition that no surfactant is present, and the seed particles absorb and polymerize vinyl monomers. And obtaining the base polymer particles.

前記分散重合とは、アルコールなどの有機溶媒中でシード粒子を形成し、このシード粒子にビニル系モノマーなどを吸収、重合し、前記基材ポリマー粒子を得る方法である。 The dispersion polymerization is a method in which seed particles are formed in an organic solvent such as alcohol, and vinyl monomer is absorbed and polymerized in the seed particles to obtain the base polymer particles.

前記乳化重合とは、均一な孔から均一なモノマー液滴を形成した後、加熱して粒子を得る、いわゆるメンブレン乳化分散や、SPG(シラスポーラスガラス)乳化により、液滴を形成した後、加熱硬化して、前記基材ポリマー粒子を得る方法である。 The emulsion polymerization is the formation of uniform monomer droplets from uniform pores, followed by heating to obtain particles, so-called membrane emulsification dispersion or SPG (shirasu porous glass) emulsification to form droplets and then heating It is a method of obtaining the base polymer particles by curing.

前記静電噴霧法とは、ポリマー溶液をシリンジに入れ、高電圧、及び圧力を加えて均一な液滴を作るとともに、溶媒を蒸発させ、前記基材ポリマー粒子を得る方法である。 The electrostatic spraying method is a method in which a polymer solution is placed in a syringe and a high voltage and pressure are applied to form uniform droplets and the solvent is evaporated to obtain the base polymer particles.

前記インクジェット法とは、インクジェトでポリマー溶液を均一に液滴にすると同時に、溶媒を蒸発させて、前記基材ポリマー粒子を得る方法である。 The inkjet method is a method in which the polymer solution is uniformly formed into droplets with an inkjet and at the same time the solvent is evaporated to obtain the base polymer particles.

前記マイクロチャンネル法とは、微小な特殊形状の孔からモノマーを出し、均一液滴を形成した後、加熱硬化して前記基材ポリマー粒子を得る方法である。これらの中でも、シード重合や、その他の重合方法で得た粒子を更に分級する方法が、均一な粒子径を得ることができる点で好ましい。 The microchannel method is a method of obtaining the base polymer particles by taking out a monomer from fine holes having a special shape, forming uniform droplets, and then curing by heating. Among these, seed polymerization and a method of further classifying particles obtained by other polymerization methods are preferable in that a uniform particle diameter can be obtained.

前記基材ポリマー粒子の製造方法のうち、熱を加えてモノマーを硬化させる場合、モノマーを重合するための重合開始剤が必要である。 Among the methods for producing the base polymer particles, when a monomer is cured by applying heat, a polymerization initiator for polymerizing the monomer is necessary.

―モノマー―
前記モノマーとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、スチレン誘導体、ビニルエステル類、不飽和ニトリル類、(メタ)アクリル酸エステル誘導体、共役ジエン類、多官能性単量体などが挙げられる。
-monomer-
The monomer is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. For example, styrene derivatives, vinyl esters, unsaturated nitriles, (meth) acrylic acid ester derivatives, conjugated dienes, polyfunctionality And monomers.

前記スチレン誘導体としては、例えば、スチレン、α−メチルスチレン、p−メチルスチレン、p−クロロスチレン、クロロメチルスチレンなどが挙げられる。前記ビニルエステル類としては、例えば、塩化ビニル、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニルなどが挙げられる。 Examples of the styrene derivative include styrene, α-methylstyrene, p-methylstyrene, p-chlorostyrene, chloromethylstyrene, and the like. Examples of the vinyl esters include vinyl chloride, vinyl acetate, and vinyl propionate.

前記不飽和ニトリル類としては、例えば、アクリロニトリルなどが挙げられる。前記(メタ)アクリル酸エステル誘導体としては、例えば、アクリル酸メチル、メタクリル酸メチル、アクリル酸エチル、メタクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、メタクリル酸ブチル、アクリル酸2−エチルヘキシル、メタクリル酸2−エチルヘキシル、アクリル酸ステアリル、メタクリル酸ステアリル、アクリル酸トリフルオロエチル、メタクリル酸トリフルオロエチルなどが挙げられる。 Examples of the unsaturated nitriles include acrylonitrile. Examples of the (meth) acrylic acid ester derivatives include methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, butyl acrylate, butyl methacrylate, 2-ethylhexyl acrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, and acrylic. Examples include stearyl acid, stearyl methacrylate, trifluoroethyl acrylate, and trifluoroethyl methacrylate.

前記共役ジエン類としては、例えば、ブタジエン、イソプレンなどが挙げられる。前記多官能性単量体としては、例えば、2官能の、1・4ブタンジオールジアクリレート、1・6ヘキサンジオールジアクリレート、1・9ノナンジオールジアクリレート、ブチレングリコールジアクリレート、ジシクロペンタニルジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、ジビニルベンゼン、2官能以上の、トリメチロールプロパントリアクリレート、トリメチロールプロパントリメタクリレート、テトラメチロールプロパンテトラアクリレート、テトラメチロールプロパンテトラメタクリレートなどが挙げられる。これらの中でも、スペーサなどの圧縮強度を要求される場合には、2官能以上の単量体が、圧縮弾性を有しギャップを好適に維持できる点で好ましい。一方、異方性導電材料のように圧縮変形させて導通を維持する場合には、2官能性単量体単独、若しくは2官能性単量体と単官能単量体との共車合が、粒子を柔軟にできる点で好ましい。 Examples of the conjugated dienes include butadiene and isoprene. Examples of the polyfunctional monomer include bifunctional 1,4 butanediol diacrylate, 1,6 hexanediol diacrylate, 1,9 nonanediol diacrylate, butylene glycol diacrylate, and dicyclopentanyl diacrylate. Examples thereof include acrylate, diethylene glycol diacrylate, divinylbenzene, bifunctional or more trimethylolpropane triacrylate, trimethylolpropane trimethacrylate, tetramethylolpropane tetraacrylate, and tetramethylolpropane tetramethacrylate. Among these, when a compressive strength such as a spacer is required, a bifunctional or higher functional monomer is preferable in that it has compressive elasticity and can suitably maintain the gap. On the other hand, when maintaining electrical conduction by compressing and deforming like an anisotropic conductive material, the bifunctional monomer alone, or the co-engagement of the bifunctional monomer and the monofunctional monomer, This is preferable in that the particles can be made flexible.

―重合開始剤―
前記重合開始剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、有機過酸化物、アゾ系化合物などが挙げられる。前記有機過酸化物としては、例えば、過酸化ベンゾイル、過酸化ラウロイル、オルソクロロ過酸化ベンゾイル、オルソメトキシ過酸化ベンゾイル、8,5,5−トリメチルヘキサノイルパーオキサイド、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、ジ−t−ブチルパーオキサイドなどが挙げられる。前記アゾ系化合物としては、例えば、アゾビスイソブチロニトリル、アゾビスシクロヘキサカルボニトリル、2,2'−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)などが挙げられる。
―Polymerization initiator―
There is no restriction | limiting in particular as said polymerization initiator, According to the objective, it can select suitably. Examples thereof include organic peroxides and azo compounds. Examples of the organic peroxide include benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, orthochlorobenzoyl peroxide, orthomethoxybenzoyl peroxide, 8,5,5-trimethylhexanoyl peroxide, and t-butylperoxy-2-ethyl. Examples include hexanoate and di-t-butyl peroxide. Examples of the azo compound include azobisisobutyronitrile, azobiscyclohexacarbonitrile, 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile), and the like.

―重合温度―
前記重合の温度としては、特に制限はなく、使用するモノマーの種類、重合開始剤などに応じて適宜選択することができるが、25℃〜100℃が好ましく、50℃〜90℃がより好ましい。
―Polymerization temperature―
There is no restriction | limiting in particular as temperature of the said polymerization, Although it can select suitably according to the kind of monomer to be used, a polymerization initiator, etc., 25 to 100 degreeC is preferable and 50 to 90 degreeC is more preferable.

―粒度分布の調整―
なお、前記懸濁重合のように、所望のCv値、すなわち、粒度分布の変動係数が得られない場合や、所望の粒子径が得られない場合、分級操作により、前記粒度分布を調整することが必要である。前記分級操作の方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、乾式分級法、湿式分級法などが挙げられる。前記乾式分級法としては、例えば、乾式サイクロンや風力を利用して分級を行う方法などが挙げられる。前記湿式分級法としては、例えば、水ひ分級、湿式サイクロン、静電分級などの水中で行う方法が挙げられる。前記製造方法により得られた基材ポリマー粒子が、本発明の導電惟粒子の製造に用いる基材ポリマー粒子として適当か否かは、得られた基材ポリマー粒子の粒子径、粒子径の変動係数、表面抵抗値、強度、圧縮同復率などにより決定される。
-Adjustment of particle size distribution-
When the desired Cv value, that is, the variation coefficient of the particle size distribution cannot be obtained as in the case of the suspension polymerization, or when the desired particle size cannot be obtained, the particle size distribution is adjusted by classification operation. is required. There is no restriction | limiting in particular as the method of the said classification operation, According to the objective, it can select suitably. Examples thereof include a dry classification method and a wet classification method. Examples of the dry classification method include a method of performing classification using a dry cyclone or wind power. Examples of the wet classification method include methods performed in water such as water classification, wet cyclone, electrostatic classification and the like. Whether or not the base polymer particles obtained by the production method are suitable as the base polymer particles used for the production of the conductive soot particles of the present invention depends on the particle diameter of the obtained base polymer particles and the coefficient of variation of the particle diameter. , Surface resistance value, strength, compression recovery rate, etc.

―粒子径―
前記基材ポリマー粒子の粒子径としては、特に制限はなく、目的応じて適宜選択することができるが、数平均粒子径が、0.5μm〜500μmが好ましく、1μm〜100μmがより好ましい。前記数平均粒子怪が、0.5μm未満であると、後述する無電解メッキ工程において、前記基材ポリマー粒子の凝集が生じやすく、凝集を生じた前記基材ポリマー粒子から得られる導電性粒子は、粒子怪の大きな巨大粒子になり、隣接電極間の短絡を引き起こす原因になる。また、粒子径精度より電極の精度のバラツキが相対的に大きく、導通信頼性が著しく低下する。前記数平均粒子径が、500μmを超える場合は、その用途が非常に限られる。本発明の導電性粒子の製造方法により得られる導電性粒子が、スペーサとして使用される場合には、前記基材ポリマー粒子の粒子径は、液晶セルのギャップに依存し、異方性導電材料として使用される場合には、隣接電極間距離に依存する。前記異方性導電材料は、一般に、電極の微小化、及び隣接電極間距離の低間隔化が進んでおり、粒子径も3μm以下の微小化の傾向にある。ただし、液晶以外のスペーサとして用いられる場合には、20μm〜50μm程度の大きな粒子を使用する場合もある。
-Particle size-
There is no restriction | limiting in particular as a particle diameter of the said base polymer particle, Although it can select suitably according to the objective, 0.5 micrometer-500 micrometers are preferable, and 1 micrometer-100 micrometers are more preferable. When the number average particle size is less than 0.5 μm, in the electroless plating step to be described later, the base polymer particles are likely to be aggregated, and the conductive particles obtained from the base polymer particles that have undergone aggregation are It becomes a large particle of particle monster and causes a short circuit between adjacent electrodes. Further, the variation in the accuracy of the electrode is relatively greater than the accuracy of the particle diameter, and the conduction reliability is significantly reduced. When the number average particle diameter exceeds 500 μm, its use is very limited. When the conductive particles obtained by the method for producing conductive particles of the present invention are used as spacers, the particle diameter of the base polymer particles depends on the gap of the liquid crystal cell and is used as an anisotropic conductive material. When used, it depends on the distance between adjacent electrodes. In general, the anisotropic conductive material has been miniaturized and the distance between adjacent electrodes has been reduced, and the particle diameter tends to be smaller than 3 μm. However, when used as a spacer other than the liquid crystal, large particles of about 20 μm to 50 μm may be used.

―測定方法―
前記粒子径を求める方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、光学顕微鏡により測定する方法、電子顕微鏡により測定する方法、光散乱式粒度分布計により測定する方法、コールターカウンターにより測定する方法などが挙げられる。前記数平均粒子径は、これらの方法で測定した粒子径を、統計的に処理して求めることができる。
-Measuring method-
There is no restriction | limiting in particular as a method of calculating | requiring the said particle diameter, According to the objective, it can select suitably. Examples include a method of measuring with an optical microscope, a method of measuring with an electron microscope, a method of measuring with a light scattering particle size distribution meter, and a method of measuring with a Coulter counter. The number average particle size can be obtained by statistically processing the particle size measured by these methods.

―Cv値(変動係数)―
前記基材ポリマー粒子の粒子径のCv値(変動係数)は、その値が低い程、粒子径の変動は小さくなるため、全ての粒子に均一に圧力が加わることになり、前記導電性粒子の製造方法により得られる導電性粒子は、著しく導通信頼性が高まる。前記Cv値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、10%以下が好ましく、5%以下がより好ましく、3%以下が特に好ましい。前記Cv値が10%を超えると、前記導電性微粒子が、相対向する電極間隔を任意に制御することが困難になる。前記CV値(変動係数)は、下記計算式により求めることができる。
Cv値(%)=(σ/Dn)×100%
前記計算式中、「σ」は粒子径の標準偏差(μm)を表し、「Dn」は数平均粒子径(μm)を表す。
―Cv value (coefficient of variation) ―
The Cv value (coefficient of variation) of the particle diameter of the base polymer particles is such that the lower the value, the smaller the variation of the particle diameter, so that pressure is uniformly applied to all particles, and the conductive particles The conductive particles obtained by the production method have significantly improved conduction reliability. There is no restriction | limiting in particular as said Cv value, Although it can select suitably according to the objective, 10% or less is preferable, 5% or less is more preferable, and 3% or less is especially preferable. When the Cv value exceeds 10%, it becomes difficult for the conductive fine particles to arbitrarily control the distance between the electrodes facing each other. The CV value (variation coefficient) can be obtained by the following calculation formula.
Cv value (%) = (σ / Dn) x 100%
In the above formula, “σ” represents the standard deviation (μm) of the particle diameter, and “Dn” represents the number average particle diameter (μm).

―表面抵抗値―
前記基材ポリマー粒子の表面抵抗値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。前記表面抵抗値を測定する方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、微小圧縮試験機(例えば、MCT-W200J:島津製作所(株)製)に、前記基材ポリマー粒子の表面抵抗値が測定できるように、直径50μmの金属製円錐からなる平滑な圧子、金属製試料台、及び抵抗測定器(デジタルマルチメータ)を取り付け、圧縮速度2.2mN/秒、最大試験荷重10gの条件下で、1個の基材ポリマー粒子の圧縮を行い、粒子が圧縮変位し破壊するまでの間に得られた抵抗値のうち最小の値を、基材ポリマー粒子の表面抵抗値とすることができる。
―Surface resistance value―
There is no restriction | limiting in particular as surface resistance value of the said base polymer particle, According to the objective, it can select suitably. The method for measuring the surface resistance value is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose. For example, the microcompression tester (for example, MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corp.) A smooth indenter consisting of a metal cone with a diameter of 50 μm, a metal sample table, and a resistance meter (digital multimeter) are attached so that the surface resistance value of the base polymer particles can be measured, and the compression speed is 2.2 mN / sec. , One base polymer particle is compressed under the condition of a maximum test load of 10 g, and the minimum value among the resistance values obtained until the particle is compressed and displaced and the value of the base polymer particle is reduced. It can be a surface resistance value.

―強度―
前記基材ポリマー粒子の強度を測定する方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、圧縮変形強度を測定する方法、圧縮破壊荷重値を測定する方法などが挙げられる。
-Strength-
There is no restriction | limiting in particular as a method to measure the intensity | strength of the said base polymer particle, According to the objective, it can select suitably. For example, a method of measuring the compressive deformation strength, a method of measuring a compressive fracture load value, and the like can be mentioned.

―圧縮変形強度―
前記基材ポリマー粒子の圧縮変形とは、圧縮荷重下における材料の変形をいい、前記基材ポリマー粒子の1個の粒子に、10gの荷重を加えて、粒子径が10%変形(以下、「10%圧縮変形」と称することがある)した時の荷重値を、S10強度(10%圧縮強度)という。前記S10強度を測定する方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜、選択することができる。例えば、微小圧縮試験機(例えば、MCT-W200J:島津製作所(株)製)を用い、粒子を直径50μmのダイアモンド製円錐からなる平滑圧子端面で、圧縮速度2.6mN/秒、最大試験荷重10gの条件下で圧縮した場合の圧縮変位(mm)を測定し、下記平松式により求めることができる。
S10=2.8×l03P×1/πd2
前記平松式中、「S10」は、前記基材ポリマー粒子の10%圧縮変形における荷重値(N)、「P」は前記基材ポリマー粒子の10%圧縮変形における圧縮変位(mm)、「d」は、前記基材ポリマー粒子の半怪(mm)を表す。
―Compressive deformation strength―
The compressive deformation of the base polymer particles refers to deformation of the material under a compressive load. When a load of 10 g is applied to one particle of the base polymer particles, the particle diameter is deformed by 10% (hereinafter, “ The load value when it is sometimes referred to as “10% compression deformation” is referred to as S10 strength (10% compression strength). The method for measuring the S10 intensity is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. For example, using a micro-compression tester (for example, MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation), the particle is a smooth indenter end face made of a diamond cone having a diameter of 50 μm, a compression speed of 2.6 mN / sec, and a maximum test load of 10 g The compression displacement (mm) when compressed under the above conditions can be measured and determined by the following Hiramatsu equation.
S10 = 2.8 × l0 3 P × 1 / πd 2
In the Hiramatsu equation, “S10” is a load value (N) at 10% compression deformation of the base polymer particles, “P” is a compression displacement (mm) at 10% compression deformation of the base polymer particles, “d "" Represents a half phantom (mm) of the base polymer particle.

―圧縮破壊荷重値―
前記基材ポリマー粒子の圧縮破壊荷重値とは、圧縮荷重下において、前記基材ポリマー粒子の破壊が生じ始めた時の荷重値をいう。前記圧縮破壊荷重値としては、300MPa〜3,000MPaが好ましく、400MPa〜1,500MPaがより好ましい。前記圧縮破壊荷重値が上記の範囲を下回ると、圧縮変形したときに前記基材ポリマー粒子が破壊し、導電材料としての機能を果たさなくなる。前記圧縮破壊荷重値が上記範囲を上回ると、スペーサとして使用する場合、カラーフィルターを破壊したり、低温時にLCD中に真空状態が発生するいわゆる低温発泡が発生しやすくなったりするため好ましくない。
―Compressive fracture load value―
The compressive fracture load value of the base polymer particles refers to a load value when the base polymer particles begin to break under a compressive load. The compressive fracture load value is preferably 300 MPa to 3,000 MPa, more preferably 400 MPa to 1,500 MPa. When the compressive breaking load value is below the above range, the base polymer particles are broken when compressed and deformed, and the function as a conductive material is not achieved. When the compressive breaking load value exceeds the above range, when used as a spacer, it is not preferable because the color filter is broken or so-called low-temperature foaming is easily generated in the LCD at a low temperature.

前記圧縮破壊荷重値の測定方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、微小圧縮試験機(例えば、MCT-W200J:島津製作所(株)製)を用い、粒子を直径50μmのダイアモンド製円錐からなる平滑圧縮端面で、圧縮速度2.2mN/秒、最大試験荷重10gの条件下で、1個の前記基材ポリマー粒子の圧縮を行い、前記基材ポリマー粒子が破壊したときの荷重値を測定する方法などが挙げられる。 The method for measuring the compression fracture load value is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose. For example, a micro compression tester (for example, MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation) is used, One base polymer particle is compressed on a smooth compression end face made of a diamond cone having a diameter of 50 μm under the conditions of a compression rate of 2.2 mN / sec and a maximum test load of 10 g. For example, a method of measuring a load value at the time when the rupture breaks.

―圧縮回復率―
前記基材ポリマー粒子の圧縮回復率とは、前記基材ポリマー粒子を圧縮した後、荷重を減らしていく際の、荷重値と圧縮変形との関係をいう。前記基材ポリマー粒子の圧縮回復率としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、20%以上が好ましく、40%以上がより好ましい。前記圧縮同復率が20%未満であると、前記導電性粒子の製造方法により得られる導電性粒子を圧縮した場合、変形しても元に戻らないため、温度変化によるICや端子、硬化したバインターなどの膨張、及び収縮に追従できず、接続不良を起こすことがある。
―Compression recovery rate―
The compression recovery rate of the base polymer particles refers to the relationship between the load value and compression deformation when the load is reduced after the base polymer particles are compressed. There is no restriction | limiting in particular as a compression recovery rate of the said base polymer particle, Although it can select suitably according to the objective, 20% or more is preferable and 40% or more is more preferable. When the compression recovery rate is less than 20%, when conductive particles obtained by the method for producing conductive particles are compressed, they do not return to their original shape even when deformed. Failure to follow expansion and contraction of the binder and the like may cause a connection failure.

―測定方法―
前記圧縮回復率の測定方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、微小圧縮試験機(例えば、MCT-W200J:島津製作所(株)製)により測定することができる。具体的には、前記基材ポリマー粒子を反転荷重値9.8mNまで圧縮した後、荷重を除く際の終点を原点加重値0.98mNとし、負荷、及び負荷除去における庄縮速度を0.284mN/秒として測定したときに、反転の点までの変位(L1)と、反転の点から原点荷重値をとる点までの変位(L2)との差である復元量(L1−L2)と、反転の点までの変位である圧縮量(L1)との比(L1−L2)/(L1)に100を乗じて表した値を回復率(%)とすることができる。すなわち、下記計算式により求めることが出来る。
圧縮回復率(%)=復元率/圧縮率×100=100×(L1−L2)/L1
前記計算式中、「L1」は、反転までの変位(μm)、「L2」は、原点荷重値までの変位(μm)を表す。
-Measuring method-
There is no restriction | limiting in particular as a measuring method of the said compression recovery rate, According to the objective, it can select suitably. For example, it can be measured by a micro compression tester (for example, MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation). Specifically, after the base polymer particles are compressed to a reverse load value of 9.8 mN, the end point when removing the load is set to an origin weight value of 0.98 mN, and the contraction speed in load and load removal is 0.284 mN. When measured as / sec, the amount of restoration (L1-L2), which is the difference between the displacement (L1) to the reversal point (L1) and the displacement (L2) from the reversal point to the point where the origin load value is taken, and reversal A value expressed by multiplying the ratio (L1−L2) / (L1) to the compression amount (L1), which is the displacement up to the point, by 100, can be used as the recovery rate (%). That is, it can be obtained by the following formula.
Compression recovery rate (%) = Restoration rate / Compression rate × 100 = 100 × (L1-L2) / L1
In the above formula, “L1” represents the displacement (μm) until inversion, and “L2” represents the displacement (μm) up to the origin load value.

―ヨウ素―
前記ヨウ素は、少なくとも単体ヨウ素を含み、必要に応じて、更にその他の成分を含む。前記ヨウ素の状態としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、溶液の状態が好ましい。前記ヨウ素が溶液の状態(以下、「ヨウ素溶液」と称することがある。前記その他の成分としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ヨウ素化合物、有機化合物などが挙げられる。ヨウ素濃度は、上述のように従来よりも希薄にすることが好ましい。ヨウ素濃度を希薄にすることで、金属ヨウ化物コンポジットの形成を適度に抑えて、基材ポリマー粒子表面に析出する金属微粒子を少なくし、金属微粒子が点在した状態とすることができる。
-Iodine-
The iodine contains at least elemental iodine, and further contains other components as necessary. There is no restriction | limiting in particular as a state of the said iodine, Although it can select suitably according to the objective, The state of a solution is preferable. The iodine is in a solution state (hereinafter sometimes referred to as “iodine solution”. The other components are not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. For example, iodine compounds, organic compounds, etc. As described above, it is preferable that the iodine concentration is dilute as compared to the conventional case, and by forming the iodine concentration dilute, the formation of the metal iodide composite is moderately suppressed and deposited on the surface of the base polymer particles. The amount of metal fine particles to be reduced can be reduced, and the metal fine particles can be scattered.

―ヨウ素化合物―
前記ヨウ素溶液中に、前記ヨウ素化合物を添加すると、前記ヨウ素溶液中での前記単体ヨウ素の溶解性を調整でき、前記基材ポリマー粒子中にドープするヨウ素成分の量、及び状態を制御できる点で好ましい。前記ヨウ素化合物としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、金属ヨウ化物、無機ヨウ化物などが挙げられる。前記金属ヨウ化物としては、例えば、ヨウ化カリウム、ヨウ化ナトリウム、ヨウ化リチウム、ヨウ化ルビジウム、ヨウ化セシウム、ヨウ化ニッケルなどが挙げられる。前記無機ヨウ素化合物としては、例えば、ヨウ化アンモニウムなどが挙げられる。前記ヨウ素化合物は、1種単独で使用されてもよいし、2種以上を組み合わせて使用されてもよい。前記ヨウ素溶液中の、前記ヨウ素化合物の濃度としては、特に制限はなく、前記単体ヨウ素の量などに応じて適宜選択することができるが、モル比で、ヨウ素の30倍以下の濃度が好ましく、ヨウ素の20倍以下の濃度がより好ましい。前記ヨウ素化合物が、モル比で2倍以下の濃度であると、前記単体ヨウ素の溶解性を調整することが困難であり、モル比でヨウ素の30倍の濃度を超えると、水溶液へのヨウ素の溶解は容易となるが、ヨウ素の樹脂内部への拡散性能が極端に低下し、樹脂内部で金属ヨウ化物コンポジットがほとんど形成されなくなる。
―Iodine compounds―
When the iodine compound is added to the iodine solution, the solubility of the simple iodine in the iodine solution can be adjusted, and the amount and state of the iodine component doped into the base polymer particles can be controlled. preferable. There is no restriction | limiting in particular as said iodine compound, According to the objective, it can select suitably. For example, a metal iodide, an inorganic iodide, etc. are mentioned. Examples of the metal iodide include potassium iodide, sodium iodide, lithium iodide, rubidium iodide, cesium iodide, nickel iodide and the like. Examples of the inorganic iodine compound include ammonium iodide. The said iodine compound may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. The concentration of the iodine compound in the iodine solution is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the amount of the simple iodine, etc., but a molar ratio of 30 times or less of iodine is preferable, A concentration of 20 times or less that of iodine is more preferable. When the iodine compound has a molar ratio of 2 times or less, it is difficult to adjust the solubility of the simple iodine, and when the molar ratio exceeds 30 times the iodine concentration, iodine in the aqueous solution Although dissolution becomes easy, the diffusion performance of iodine into the resin is extremely lowered, and a metal iodide composite is hardly formed inside the resin.

―有機化合物―
前記ヨウ素が溶液である場合、前記ヨウ素溶液中に、前記有機化合物を添加することで、主に基材ポリマー粒子のヨウ素溶液に対する濡れ性の制御が可能である点で好ましい。前記有機化合物としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、一価アルコール、多価アルコール、アセトン、ジメチルスルホキシド、N,N−ジメチルホルムアミドなどの、水と任意に混合される有機溶媒などが挙げられる。前記一価アルコールとしては、例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノールなどが挙げられる。前記多価アルコールとしては、例えば、エチレングリコール、グリセリンなどが挙げられる。前記有機化合物は、1種単独で使用されてもよいし、2種以上を組み合わせて使用されてもよい。前記有機化合物の状態としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、水溶液の状態が好ましい。前記有機化合物の水に対する添加量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、5質量%〜90質量%が好ましく、20質量%〜80質量%がより好ましい。前記有機化合物が5質量%未満であると、前記基材ポリマー粒子に対する、ヨウ素の拡散性能が改善できず、90質量%を超えると、前記ヨウ素化合物の溶解度が低下する。
―Organic compounds―
When the iodine is a solution, it is preferable in that the wettability of the base polymer particles with respect to the iodine solution can be mainly controlled by adding the organic compound to the iodine solution. The organic compound is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose.For example, monohydric alcohol, polyhydric alcohol, acetone, dimethyl sulfoxide, N, N-dimethylformamide, etc. Examples include organic solvents to be mixed. Examples of the monohydric alcohol include methanol, ethanol, isopropanol and the like. Examples of the polyhydric alcohol include ethylene glycol and glycerin. The said organic compound may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. There is no restriction | limiting in particular as a state of the said organic compound, Although it can select suitably according to the objective, The state of aqueous solution is preferable. There is no restriction | limiting in particular as addition amount with respect to the water of the said organic compound, Although it can select suitably according to the objective, 5 mass%-90 mass% are preferable, and 20 mass%-80 mass% are more preferable. When the organic compound is less than 5% by mass, the diffusion performance of iodine with respect to the base polymer particles cannot be improved, and when it exceeds 90% by mass, the solubility of the iodine compound decreases.

―ヨウ素のドープ方法―
前記1次ドープ工程において、ヨウ素をドープする方法としては、前記基材ポリマー粒子がポリマー/ヨウ素複合体を形成可能な方法である限り、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、前記基材ポリマー粒子を、ヨウ素溶液中に浸漬する方法、ヨウ素溶液を噴霧する方法、ヨウ素蒸気に長時間曝露する方法、ヨウ素単体と混合して溶融・成型する方法などが挙げられるが、これらの中でも、前記基材ポリマー粒子を、ヨウ素溶液中に浸漬する方法が好ましい。
―Iodine doping method―
In the primary doping step, a method for doping iodine is not particularly limited as long as the base polymer particles can form a polymer / iodine complex, and can be appropriately selected according to the purpose. . For example, a method of immersing the base polymer particles in an iodine solution, a method of spraying an iodine solution, a method of exposing to iodine vapor for a long time, a method of mixing and melting and molding iodine alone, etc. Among these, a method of immersing the base polymer particles in an iodine solution is preferable.

前記ドープする温度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、室温でも実施可能であるが、加熱して行うことが、ドープ時間を短縮できる点で好ましい。前記加熱の温度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、0℃〜90℃が好ましく、5℃〜30℃がより好ましい。前記ドープする時間としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。また、ヨウ素をドープする条件としても、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、超音波照射処理条件下で行うことが、前記ポリマー微粒子に、均一にヨウ素をドープすることができる点で好ましい。 The doping temperature is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose. The doping can be performed at room temperature, but heating is preferable because the doping time can be shortened. There is no restriction | limiting in particular as the temperature of the said heating, Although it can select suitably according to the objective, 0 to 90 degreeC is preferable and 5 to 30 degreeC is more preferable. There is no restriction | limiting in particular as time to dope, According to the objective, it can select suitably. In addition, the conditions for doping iodine are not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. However, it is possible to uniformly dope iodine into the polymer fine particles under the ultrasonic irradiation treatment conditions. It is preferable at the point which can do.

―金属種―
前記金属種としては、基材ポリマー粒子の表面に析出して、無電解メッキによるメッキ膜形成の核となる金属であることが好ましい。ここでいう「核」とは、メッキ膜の付着を促す核の意味である。具体的には基材ポリマー粒子表面に金属微粒子が点在する状態とすることで、表面を凹凸として、エッチングなしでも粒子表面に強固に固着したメッキ膜を得ることができる。これらドープする金属については無電解メッキの金属微粒子ドープ粒子を核として無電解メッキできる金属であれば特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、金、銀、銅、鉄、ニッケル、コバルト、パラジウムおよび白金族元素などが挙げられる。前記金属種は、金属イオンの状態であってもよい。
―Metal species―
The metal species is preferably a metal that deposits on the surface of the base polymer particles and serves as a nucleus for forming a plating film by electroless plating. Here, “nucleus” means a nucleus that promotes adhesion of the plating film. Specifically, by setting the surface of the base polymer particles to be scattered with metal fine particles, it is possible to obtain a plating film that is firmly fixed to the particle surface without etching, with the surface being uneven. The metal to be doped is not particularly limited as long as it is a metal that can be electrolessly plated using the electrolessly plated metal fine particle doped particles as a nucleus, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, gold, silver, copper, iron, nickel, cobalt, palladium, a platinum group element, etc. are mentioned. The metal species may be in a metal ion state.

前記金属種を、前記ポリマー/ヨウ素複合体に反応させる場合、前記金属種は、溶液の状態であることが好ましく、前記金属種を含む溶液は、金属塩の溶液であることが好ましい。前記金属塩としては、水溶性金属塩であれば特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、沈殿を生じないものが好ましく、例えば、金属硝酸塩、金属硫酸塩、金属酢酸塩、金属炭酸塩、金属塩化物塩、金属臭化物塩、金属ヨウ化物、並びに、それらの配位化合物などが挙げられる。前記溶液は、水と任意に混合される有機溶媒を含んでいてもよい。前記有機溶媒としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、エチレングリコール、グリセリン、アセトン、ジメチルスルホキシド、N,N−ジメチルホルムアミドなどが挙げられる。 When the metal species is reacted with the polymer / iodine complex, the metal species is preferably in a solution state, and the solution containing the metal species is preferably a metal salt solution. The metal salt is not particularly limited as long as it is a water-soluble metal salt, and can be appropriately selected according to the purpose. However, those that do not cause precipitation are preferable, for example, metal nitrate, metal sulfate, metal acetate Metal carbonates, metal chloride salts, metal bromide salts, metal iodides, and coordination compounds thereof. The solution may contain an organic solvent optionally mixed with water. The organic solvent is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. Examples thereof include methanol, ethanol, isopropanol, ethylene glycol, glycerin, acetone, dimethyl sulfoxide, N, N-dimethylformamide and the like. .

逆に、単体ヨウ素の濃度を希薄にすることに替えて、金属塩溶液の濃度を希薄にして、金属ヨウ化物コンポジットの形成量を抑えてもよいし、単体ヨウ素及び金属塩溶液の双方の濃度を低く抑えて、金属ヨウ化物コンポジットの形成量を抑える方法としてもよい。 Conversely, instead of diluting the concentration of simple iodine, the concentration of the metal iodide solution may be suppressed by diluting the concentration of the metal salt solution, or the concentration of both simple iodine and the metal salt solution. It is good also as a method of restraining formation amount and suppressing the formation amount of a metal iodide composite.

―金属種のドープ方法―
前記2次ドープ工程において、金属種を反応させる方法としては、前記ポリマー/ヨウ素複合体が、金属ヨウ化物のコンボジットを形成可能な方法である限り、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、前記ポリマー/ヨウ素複合体を、金属種を含む溶液に浸漬する方法、金属種を含む溶液を噴霧する方法などが挙げられるが、これらの中でも、前記ポリマー/ヨウ素複合体を、金属種を含む溶液に浸漬する方法が好ましい。
―Doping method of metal species―
The method of reacting the metal species in the secondary doping step is not particularly limited as long as the polymer / iodine complex is a method capable of forming a metal iodide composite, and is appropriately selected according to the purpose. can do. For example, a method of immersing the polymer / iodine complex in a solution containing a metal species, a method of spraying a solution containing a metal species, and the like can be mentioned. Among these, the polymer / iodine complex is changed to a metal species. The method of immersing in the solution to contain is preferable.

前記ドープする温度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。室温でも実施可能であるが、加熱して行うことが、ドープ時間を短縮できる点で好ましい。前記加熱の温度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、0℃〜90℃が好ましく、30℃〜60℃がより好ましい。前記ドープする時間としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。また、前記金属種を反応させる方法としても、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、超音波照射処埋条件下で行うことが、前記金属ヨウ化物をより均一に形成させることができる点で好ましい。 There is no restriction | limiting in particular as said doping temperature, According to the objective, it can select suitably. Although it can be carried out at room temperature, it is preferable to carry out the heating because the dope time can be shortened. There is no restriction | limiting in particular as the temperature of the said heating, Although it can select suitably according to the objective, 0 to 90 degreeC is preferable and 30 to 60 degreeC is more preferable. There is no restriction | limiting in particular as time to dope, According to the objective, it can select suitably. Further, the method of reacting the metal species is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. However, the metal iodide can be formed more uniformly by performing the treatment under ultrasonic irradiation treatment conditions. It is preferable at the point which can be made.

前記2次ドープ工程は、前記ポリマー/ヨウ素複合体を、金属種を含む溶液に浸漬後、又は、前記ポリマー/ヨウ素複合体に、前記金属種を含む溶液を噴霧後、前記金属ヨウ化物コンポジットを、前記ヨウ素や前記金属種を含まない溶液で洗浄することにより、停止することができる。 In the secondary doping step, the polymer / iodine complex is immersed in a solution containing a metal species, or the polymer / iodine complex is sprayed with a solution containing the metal species, and then the metal iodide composite is formed. It can be stopped by washing with a solution containing no iodine or metal species.

前記1次ドープ工程におけるヨウ素のドープ、前記2次ドープ工程における金属種の反応、及び前記洗浄時の試薬溶液の、それぞれの濃度、温度、及び処理時間により、前記ポリマー/ヨウ素複合体の内部に析出した金属塩を再溶出することや、浸入深さに応じた最適な析出をすることができる。これにより、前記金属ヨウ化物コンポジット表面の金属種の濃度を小さくしてもよい。 Depending on the concentration, temperature, and treatment time of the iodine doping in the primary doping process, the reaction of the metal species in the secondary doping process, and the reagent solution at the time of the cleaning, the polymer / iodine complex may be contained inside the polymer / iodine complex. It is possible to re-elute the deposited metal salt and to perform optimum precipitation according to the penetration depth. Thereby, the concentration of the metal species on the surface of the metal iodide composite may be reduced.

ポリマー粒子内部に残存した未反応のヨウ素成分は、後述する還元工程後あるいは無電解メッキ工程後の金属層に影響を及ぼす可能性があるが、未反応ヨウ素成分はアセトンなどの有機溶媒を用いた洗浄、あるいは高温熱処埋によって、ポリマー粒子内部から除去することが可能である。なお、熱処埋においては、減圧下で行うほうが、より低温で効率よくヨウ素を揮発させることができるため効果的である。 The unreacted iodine component remaining inside the polymer particles may affect the metal layer after the reduction step or the electroless plating step, which will be described later, but the unreacted iodine component used an organic solvent such as acetone. It can be removed from the interior of the polymer particles by washing or high temperature heat treatment. In heat treatment, it is more effective to perform under reduced pressure because iodine can be efficiently volatilized at a lower temperature.

<還元工程>
前記還元工程は、前記金属ヨウ化物コンポジットを金属微粒子へ還元し、金属微粒子ドープ粒子を調製する工程である。本発明においては、金属ヨウ化物コンポジットの絶対量が少ないので、表面に析出する金属微粒子の絶対量も少ない。前記基材ポリマー粒子の表面における金属の還元は、前記金属ヨウ化物コンポジットにおいて、還元剤による電子供与により、金属イオンが金属へと還元されること、これに伴いヨウ素イオンが水溶液中へ拡散してポリマー相から放出されることによって進行する。前記還元を行う方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。金属ヨウ化物は、通常、室温におけるイオン伝導性が極めて低く、高温条件下(例えば、ヨウ化銀の場合、約150℃以下)でなければイオン伝導が誘起されることはないが、前記金属ヨウ化物コンポジットを形成した場合は、転移点まで昇温することなく、室温においても比較的容易にイオンの伝導や拡散が生じる。このため、前記金属ヨウ化物コンポジットは、例えば、室温に近い温度においても(例えば、5℃〜30℃)に静置することにより、金属イオンが移動しやすいため、前記金属微粒子へと還元される。前記還元を行う時間としては、金属を還元することができれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<Reduction process>
The reduction step is a step of preparing the metal fine particle dope particles by reducing the metal iodide composite to metal fine particles. In the present invention, since the absolute amount of the metal iodide composite is small, the absolute amount of the metal fine particles deposited on the surface is also small. The reduction of the metal on the surface of the base polymer particle is performed in the metal iodide composite by reducing the metal ion to the metal by electron donation by the reducing agent, and accompanying this, the iodine ion diffuses into the aqueous solution. It proceeds by being released from the polymer phase. There is no restriction | limiting in particular as a method to perform the said reduction | restoration, According to the objective, it can select suitably. Metal iodide usually has a very low ionic conductivity at room temperature, and ionic conduction is not induced under high temperature conditions (for example, about 150 ° C. or lower in the case of silver iodide). When a compound composite is formed, ion conduction and diffusion occur relatively easily even at room temperature without raising the temperature to the transition point. For this reason, the metal iodide composite is reduced to the metal fine particles because, for example, the metal ions easily move when left at a temperature close to room temperature (for example, 5 ° C. to 30 ° C.). . The time for performing the reduction is not particularly limited as long as the metal can be reduced, and can be appropriately selected according to the purpose.

前記還元は、還元剤、錯イオン形成、加熱などの方法によって金属微粒子への還元を促進することができる。前記還元剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、酸性過酸化水素水、水素化ホウ素ナトリウム、チオ硫酸ナトリウムなどが挙げられる。前記加熱の温度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、80℃〜200℃が好ましく、20℃〜80℃がより好ましい。前記錯イオンを形成させる方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、アンモニア性化合物、アミン類などの錯化剤を添加した水溶液に浸漬する方法などが挙げられる。なお、前記金属ヨウ化物コンポジットは、触媒としての適正量の金属種が反応していることが好ましい。 The reduction can promote reduction to fine metal particles by a method such as reducing agent, complex ion formation, and heating. There is no restriction | limiting in particular as said reducing agent, According to the objective, it can select suitably, For example, acidic hydrogen peroxide solution, sodium borohydride, sodium thiosulfate etc. are mentioned. There is no restriction | limiting in particular as the temperature of the said heating, Although it can select suitably according to the objective, 80 to 200 degreeC is preferable and 20 to 80 degreeC is more preferable. There is no restriction | limiting in particular as a method to form the said complex ion, According to the objective, it can select suitably. For example, the method of immersing in the aqueous solution which added complexing agents, such as an ammoniacal compound and amines, etc. are mentioned. The metal iodide composite is preferably reacted with an appropriate amount of metal species as a catalyst.

<無電解メッキ工程>
無電解メッキ工程は、ポリマー基材粒子表面に析出、点在する金属微粒子を核として無電解メッキする工程である。点在する金属微粒子によるアンカーリング効果によってメッキ膜が強固に密着した、非常に電気抵抗の低い導電性導電性粒子を形成する。無電解メッキ工程においては、1層目のメッキ膜の上に、2層目のメッキ膜を形成してもよい。2層目のメッキ膜は、1層目のメッキ膜とは異なる種類の金属でメッキを施すことにより、1層のメッキでは達成できなかった機能、例えば、酸化防止効果や、長時間の導通により金属イオンが移動し絶縁が必要な部分にまで汚染して絶縁不良を起こす、いわゆるマイグレーション防止効果を与えることが出来る。
<Electroless plating process>
The electroless plating process is a process in which electroless plating is performed using metal fine particles deposited and scattered on the surface of the polymer substrate particles as nuclei. Conductive conductive particles having a very low electrical resistance, in which the plating film is firmly adhered, are formed by the anchoring effect of the scattered metal fine particles. In the electroless plating step, a second plating film may be formed on the first plating film. By plating with a different type of metal from the first layer plating film, the second layer plating film has functions that cannot be achieved by the first layer plating, such as an antioxidant effect and long-term conduction. It is possible to provide a so-called migration preventing effect in which metal ions move and contaminate even a portion where insulation is necessary to cause insulation failure.

<その他の工程>
前記その他の工程としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、2層目の無電解メッキ工程、成形工程、結晶化度制御、分子量制御、ブレンドによる異性化、架橋反応による粘性制御、熱処埋、熱処哩時の環境雰囲気、溶媒などによる膨澗処埋などが挙げられる。
<Other processes>
There is no restriction | limiting in particular as said other process, According to the objective, it can select suitably. For example, second layer electroless plating process, molding process, crystallinity control, molecular weight control, isomerization by blending, viscosity control by crosslinking reaction, thermal treatment, environmental atmosphere during heat treatment, swelling by solvent, etc. For example, disposal.

―メッキ剤―
前記無電解メッキ工程に用いられるメッキ剤の金属としては、ポリマー粒子基材の表面に析出、点在してアンカーリング効果を高めるものであれば特に限定されない。例えば、金、銀、銅、白金、ニッケル、パラジウム、スズ、アルミニウム、鉄などを使用することができる。前記メッキ剤の状態としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、溶液の状態が好ましい。前記溶液としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、水とエタノールとの混合溶液が好ましい。前記水とエタノールとの混合比率としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、水:エタノールが、1:4〜4:1(V/V)が好ましい。前記水溶液中の前記メッキ剤の濃度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
―Plating agent―
The metal of the plating agent used in the electroless plating step is not particularly limited as long as it is deposited and scattered on the surface of the polymer particle base material to enhance the anchoring effect. For example, gold, silver, copper, platinum, nickel, palladium, tin, aluminum, iron, or the like can be used. There is no restriction | limiting in particular as a state of the said plating agent, Although it can select suitably according to the objective, The state of a solution is preferable. There is no restriction | limiting in particular as said solution, Although it can select suitably according to the objective, The mixed solution of water and ethanol is preferable. The mixing ratio of water and ethanol is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. Water: ethanol is preferably 1: 4 to 4: 1 (V / V). There is no restriction | limiting in particular as a density | concentration of the said plating agent in the said aqueous solution, According to the objective, it can select suitably.

―無電解メッキ方法―
前記メッキ剤により、前記金属微粒子ドープ粒子を核としてメッキする方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記金属微粒子ドープ粒子を、前記メッキ剤を含む混合溶液に浸漬する方法、前記メッキ剤を含む混合溶液を噴霧する方法などが挙げられるが、これらの中でも、前記金属微粒子ドープ粒子を、前記メッキ剤を含む混合溶液に浸漬する方法が好ましい。
―Electroless plating method―
A method for plating with the metal fine particle doped particles as nuclei by the plating agent is not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose. For example, the metal fine particle doped particles are mixed with the plating agent. Examples include a method of immersing in a solution and a method of spraying a mixed solution containing the plating agent. Among these, a method of immersing the metal fine particle dope particles in a mixed solution containing the plating agent is preferable.

前記メッキを行う温度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、5℃〜80℃が好ましく、20℃〜60℃がより好ましい。前記メッキを行う時間としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、0.1時間〜120時間が好ましく、メッキの均一性と生産性とを考慮すると、1時間〜24時間がより好ましい。 There is no restriction | limiting in particular as temperature which performs the said plating, Although it can select suitably according to the objective, 5 to 80 degreeC is preferable and 20 to 60 degreeC is more preferable. There is no restriction | limiting in particular as time to perform the said plating, Although it can select suitably according to the objective, 0.1 hours-120 hours are preferable, and it considers the uniformity and productivity of plating, and 1 hour- More preferred is 24 hours.

―無電解メッキ皮膜層の構造―
前記無電解メッキ皮膜層の構造としては、第1層目のメッキ層が、基材ポリマー粒子の表面に析出、点在した金属微粒子を核として成長するものであれば、それ以外には特に限定されない。目的に応じて適宜選択することができ、前記材料の中から選択した1種単独の層からなる一層構造(例えば、単一金属構造)であってもよいし、複数の材料(例えば、複数の金属層)からなる積層構造であってもよい。
―Structure of electroless plating film layer―
As the structure of the electroless plating film layer, the first plating layer is not particularly limited as long as the first plating layer grows on the surface of the base polymer particles deposited and scattered metal fine particles. Not. It can be appropriately selected according to the purpose, and may be a single layer structure (for example, a single metal structure) composed of a single layer selected from the above materials, or a plurality of materials (for example, a plurality of materials) A laminated structure composed of a metal layer) may be used.

前記皮膜層の厚みとしても、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが1nm以上が好ましく、2nm〜1,000nmがより好ましく、3nm〜200nmが特に好ましい。前記皮膜層の厚みが1nm未満であると、メッキ皮膜層が欠如する部分が発生する可能があるため導通信頼性を低下させる危険がある。前記皮膜層の厚みが100nmを超えても導電性の向上に取り立てて効果が無く、また基材ポリマーの圧縮特性が低下するので好ましくない。 The thickness of the coating layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose, but is preferably 1 nm or more, more preferably 2 nm to 1,000 nm, and particularly preferably 3 nm to 200 nm. When the thickness of the coating layer is less than 1 nm, there is a possibility that a portion lacking the plating coating layer may be generated, so that there is a risk of lowering the conduction reliability. Even if the thickness of the coating layer exceeds 100 nm, it is not preferable because it has no effect in improving the conductivity and the compression characteristics of the base polymer are lowered.

<メッキ層付き金属ドープ粒子>
前記メッキ層付き導電性粒子の表面抵抗値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、10Ω以下が好ましく、10Ω以下がより好ましい。前記表面抵抗値を測定する方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、導電圧縮試験により確認する方法などが挙げられる。
<Metal doped particles with plating layer>
There is no restriction | limiting in particular as a surface resistance value of the said electroconductive particle with a plating layer, Although it can select suitably according to the objective, 10 2 ohms or less are preferable and 10 ohms or less are more preferable. There is no restriction | limiting in particular as a method of measuring the said surface resistance value, According to the objective, it can select suitably, For example, the method etc. which confirm by a conductive compression test are mentioned.

<導電圧縮試験>
前記導電圧縮試験の概略を、図1を用いて説明する。微小圧縮試験機(例えば、MCT-W200J:島津製作所(株)製)に、前記導電性粒子の表面抵抗値が測定できるように、直怪50μmの金属製円錐からなる平滑な圧子1、金属製試料台3、及び抵抗測定器4(RS-232C)を取り付け、圧縮速度2.2mN/秒、最大試験荷重10gの条件下で、1個の導電性粒子2の圧縮を行い、粒子が圧縮変位し破壊するまでの間に得られた抵抗値のうち最小の値を、導電性の評価として用いることができる。
<Conductive compression test>
An outline of the conductive compression test will be described with reference to FIG. A smooth indenter 1 made of a metal cone of 50 μm straight, made of metal, so that the surface resistance value of the conductive particles can be measured on a micro compression tester (for example, MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation) A sample stage 3 and a resistance measuring instrument 4 (RS-232C) are installed, and one conductive particle 2 is compressed under the conditions of a compression speed of 2.2 mN / sec and a maximum test load of 10 g. Then, the minimum value among the resistance values obtained before the breakage can be used as the conductivity evaluation.

<用途>
メッキ層付き金属ドープ粒子は、前記基材ポリマー粒子、前記金属ヨウ化物コンポジットの調製に用いられる前記金属種、及び第2層目の前記無電解メッキに用いられる金属などの組合せや、前記基材ポリマー粒子の粒子径などに応じ、各種機能性材料として用いることができる。例えば、導電スペーサ、ACF用導電材料、ACP用導電材料、電子ペーパー用導通材、ハンダボールなどに用いることができる。
<Application>
The metal-doped particles with a plating layer are a combination of the base polymer particles, the metal species used for the preparation of the metal iodide composite, the metal used for the electroless plating of the second layer, and the base material. It can be used as various functional materials according to the particle diameter of the polymer particles. For example, it can be used for conductive spacers, conductive materials for ACF, conductive materials for ACP, conductive materials for electronic paper, solder balls, and the like.

以下、実施例を挙げて本発明をより具体的に説明するが、本発明は、これらの実施例に何ら制限されるものではない。 EXAMPLES Hereinafter, although an Example is given and this invention is demonstrated more concretely, this invention is not restrict | limited to these Examples at all.

[実施例1:導電スペーサ用導電性粒子]
<1次ドープ工程>
―基材ポリマー粒子―
導電スペーサの基材ポリマー粒子は、ハヤビーズL-11(早川ゴム(株)製)(粒子形状:球状)を用いた。
[Example 1: Conductive particles for conductive spacer]
<Primary dope process>
―Base polymer particles―
Haya beads L-11 (manufactured by Hayakawa Rubber Co., Ltd.) (particle shape: spherical) was used as the base polymer particles of the conductive spacer.

―粒子怪―
アクリル樹脂球の粒子径を、コールターマルチサイザーIII(ベックマンコールター社製)により30,000個測定した後、付属のソフトを用いコンピューターで統計的に処埋して数平均粒子径を求めたところ、6.60μmであった。求めた数平均粒子径(μm)を「Dn」とし、粒子径の標準偏差(μm)を「σ」として、上記計算式より、粒子のCv値(変動係数)を求めた。
Cv値(%)=(σ/Dn)×100%
アクリル樹脂球の粒子のCv値(変動係数)は、4.5%であった。
―Particle Monster―
After measuring 30,000 particles of acrylic resin spheres with Coulter Multisizer III (manufactured by Beckman Coulter, Inc.), the number average particle size was obtained by statistically embedding with a computer using the attached software. It was 6.60 μm. The calculated number average particle diameter (μm) was “Dn”, the standard deviation (μm) of the particle diameter was “σ”, and the Cv value (variation coefficient) of the particles was determined from the above formula.
Cv value (%) = (σ / Dn) x 100%
The Cv value (coefficient of variation) of the acrylic resin sphere particles was 4.5%.

―表面抵抗値―
微小圧縮試験機(MCT-W200J:島津製作所(株)製)に、前記アクリル樹脂の表面抵抗値が測定できるように、直径50μmの金属製円錐からなる平滑な圧子、金属製試料台、及び抵抗測定器(デジタルマルチメータ7351E ADCコーポレーション製)を取り付け、圧縮速度2.2mN/秒、試験荷重10gの条件下で、1個のアクリル樹脂の圧縮を行い、アクリル樹脂が圧縮変位し破壊するまでの間に得られた抵抗値のうち最小の値を測定したところ、アクリル樹脂の表面抵抗値は、4.8×1015Ωであった。
―Surface resistance value―
A smooth indenter made of a metal cone with a diameter of 50 μm, a metal sample stage, and a resistance so that the surface resistance value of the acrylic resin can be measured on a micro compression tester (MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation) Attach a measuring instrument (digital multimeter 7351E made by ADC Corporation), compress one acrylic resin under the conditions of compression speed of 2.2 mN / sec and test load of 10 g. When the minimum value among the resistance values obtained in the meantime was measured, the surface resistance value of the acrylic resin was 4.8 × 10 15 Ω.

―圧縮破壊荷重値―
微小圧縮試験機(MCT-W200J:島津製作所(株)製)を用い、粒子を直径50μmのダイアモンド製円錐からなる平滑圧縮端面で、圧縮速度2.2mN/秒、最大試験荷重10gの条件下で、1個のアクリル樹脂球の圧縮を行い、前記アクリル樹脂球が破壊したときの荷重値を測定したところ、アクリル樹脂球の圧縮破壊荷重値は、1,100MPaであった。
―Compressive fracture load value―
Using a micro compression tester (MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation), the particles are smooth compression end faces made of a diamond cone having a diameter of 50 μm, under conditions of a compression speed of 2.2 mN / sec and a maximum test load of 10 g. When one acrylic resin sphere was compressed and the load value when the acrylic resin sphere was broken was measured, the compression failure load value of the acrylic resin sphere was 1,100 MPa.

―10%圧縮強度―
アクリル樹脂球の10%圧縮強度は、微小圧縮試験機(MCT-W200J:島津製作所(株)製)を用い、アクリル樹脂球を直怪50μmのダイアモンド製円錐からなる平滑圧子端面で、圧縮速度2.6mN/秒、最大試験荷重10gの条件下で圧縮した場合の圧縮変位(mm)を測定し、下記平松式により求めた。
10=2.8×10P×1/πd2
アクリル樹脂球の10%圧縮強度は、680MPaであった。
―圧縮回復率―
アクリル樹脂球の圧縮回復率は、微小圧縮試験機(MCT-W200J:島津製作所(株)製)を用い、アクリル樹脂球を反転荷重値9.8mNまで圧縮した後、荷重を除き、その終点を原点荷重値0.98mNとして、負荷、及び負荷除去における圧縮速度を0.284mN/秒として測定した。反転の点までの変位を「L1」とし、反転の点から原点荷重値をとる点までの変位を「L2」として、下記計算式により求めた。
圧縮回復率(%)=復元率/圧縮率×l00=100×(L1-L2)/L1
アクリル樹脂球の圧縮回復率は、90%であった。
―10% compressive strength―
The 10% compressive strength of the acrylic resin sphere was measured using a micro-compression tester (MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation). The acrylic resin sphere had a smooth indenter end face made of a diamond cone having a straight diameter of 50 μm and a compression speed of 2 The compression displacement (mm) when compressed under the conditions of 0.6 mN / sec and a maximum test load of 10 g was measured and determined by the following Hiramatsu equation.
10 = 2.8 × 10 3 P × 1 / πd 2
The 10% compressive strength of the acrylic resin sphere was 680 MPa.
―Compression recovery rate―
The compression recovery rate of the acrylic resin sphere is determined by compressing the acrylic resin sphere to a reverse load value of 9.8 mN using a micro compression tester (MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation), then removing the load and determining its end point. The origin load value was 0.98 mN, and the compression rate at load and load removal was 0.284 mN / sec. The displacement from the reversal point to the point where the origin load value was obtained was defined as “L2”, and the displacement from the reversal point to “L1” was obtained by the following formula.
Compression recovery rate (%) = Restoration rate / Compression rate x l00 = 100 x (L1-L2) / L1
The compression recovery rate of the acrylic resin sphere was 90%.

―ヨウ素のドープ―
前記アクリル樹脂球3gを、0.01mMヨウ素、及び0.2mMヨウ化アンモニウムを溶解させた20mLの50質量%エタノール水溶液(以下、「ヨウ素−ヨウ化アンモニウム溶液」と称することがある)に投入した。このとき、大きな樹脂微粒子の凝集体はあらかじめ解砕しておいた。10℃に保った前記ヨウ素−ヨウ化アンモニウム溶液に、10分間〜20分間浸漬し、アクリル樹脂球ヨウ素複合体を得た。
―Iodine doping―
3 g of the acrylic resin sphere was charged into 20 mL of a 50% by mass ethanol aqueous solution (hereinafter sometimes referred to as “iodine-ammonium iodide solution”) in which 0.01 mM iodine and 0.2 mM ammonium iodide were dissolved. . At this time, the aggregates of the large resin fine particles were previously crushed. It was immersed in the iodine-ammonium iodide solution kept at 10 ° C. for 10 to 20 minutes to obtain an acrylic resin ball iodine complex.

<2次ドープ工程>
1次ドープ工程で得られた、アクリル樹脂球ヨウ素複合体を、濾過しながら、50質量%エタノール水溶液で洗浄した。アクリル樹脂球の内部や表面に生成したヨウ素複合体を50mM硝酸銀―50質量%エタノール水溶液に4日間浸漬することで金属種と反応させ、ヨウ化銀コンポジットを得た。
<Secondary dope process>
The acrylic resin spherical iodine complex obtained in the primary dope process was washed with a 50% by mass aqueous ethanol solution while filtering. The iodine complex formed inside or on the surface of the acrylic resin sphere was immersed in a 50 mM silver nitrate-50 mass% ethanol aqueous solution for 4 days to react with the metal species to obtain a silver iodide composite.

<還元工程>
前記2次ドープ工程で得られた、ヨウ化銀コンボジットを、50質量%エタノールで洗浄した後、更に、大気中で180℃にて72時間〜150時間加熱することにより、金属銀に還元し、銀微粒子を基材ポリマー粒子の表面に析出させた。
<Reduction process>
After the silver iodide composite obtained in the secondary doping step is washed with 50% by mass ethanol, it is further reduced to metallic silver by heating in air at 180 ° C. for 72 hours to 150 hours. Then, silver fine particles were deposited on the surface of the base polymer particles.

<無電解メッキ工程>
前記還元工程で得られた、銀微粒子を析出させた粒子を、0.05Mの硝酸銀を溶解させた水/エタノール(水:エタノール=1:1(V/V))の混合溶液に投入し、60℃、24時間〜120時間の反応条件で銀メッキ皮膜層を形成させた。これらの粒子の中から、透過光による高倍率の光学顕微鏡下で観察することにより、黒く写った粒子をメッキ処理されていた微粒子として選択し、導電スペーサ用導電粒子を得た。
<Electroless plating process>
The particles obtained by precipitating silver fine particles obtained in the reduction step were put into a mixed solution of water / ethanol (water: ethanol = 1: 1 (V / V)) in which 0.05 M silver nitrate was dissolved, A silver plating film layer was formed under reaction conditions of 60 ° C. and 24 hours to 120 hours. By observing from these particles under a high-magnification optical microscope using transmitted light, the particles appearing black were selected as fine particles that had been plated, and conductive particles for conductive spacers were obtained.

<導電圧縮試験>
―方法―
前記導電スペーサ用導電性粒子の表面抵抗値を、図1に示す導電圧縮試験により測定した。すなわち、微小圧縮試験機(MCT-W200J:島津製作所(株)製)に、前記導電スペーサ用導電性粒子の表面抵抗値を測定するため、直径50μmの金属製円錐からなる平滑な圧子1、金属製試料台3、及び抵抗測定器4(デジタルマルチメータ7351E ADCコーポレーション製)を取り付け、圧縮速度2.2mN/秒、最大試験荷重10gの条作下で、1個の導電スペーサ用導電性粒子2の圧縮を行い、導電スペーサ用導電性粒子が圧縮変位し破壊するまでの間に得られた抵抗値のうち最小の値を、導電性の評価として用いた。
<Conductive compression test>
-Method-
The surface resistance value of the conductive particles for the conductive spacer was measured by a conductive compression test shown in FIG. That is, a smooth indenter 1 made of a metal cone having a diameter of 50 μm is used to measure the surface resistance value of the conductive particles for the conductive spacer on a micro compression tester (MCT-W200J: manufactured by Shimadzu Corporation). A sample stage 3 and a resistance measuring instrument 4 (digital multimeter 7351E manufactured by ADC Corporation) are attached, and one conductive particle 2 for a conductive spacer under the condition of a compression speed of 2.2 mN / sec and a maximum test load of 10 g. The minimum value among the resistance values obtained until the conductive particles for the conductive spacer were compressed and displaced and destroyed was used as the evaluation of conductivity.

―結果―
図3に、上記の方法で測定した最小抵抗値を示した。図3から明らかなように実施例1のメッキ膜を付与した導電性粒子においては、15.0Ωであった。また、図2に示したように、実施例1の導電性粒子が破壊された時の荷重は5.0gfであった。この結果より、実施例1で得られた導電スペーサ用導電性粒子は、基材ポリマー粒子であるアクリル樹脂の良好な圧縮特性を保持しており、なおかつ、粒子表面に形成された銀メッキ皮膜により、優れた導電性を有することが認められた。
-result-
FIG. 3 shows the minimum resistance value measured by the above method. As is clear from FIG. 3, it was 15.0Ω in the conductive particles provided with the plating film of Example 1. Further, as shown in FIG. 2, the load when the conductive particles of Example 1 were broken was 5.0 gf. From this result, the conductive particles for conductive spacers obtained in Example 1 retain the good compression characteristics of the acrylic resin which is the base polymer particle, and the silver plating film formed on the particle surface. It was observed that it has excellent conductivity.

さらに、実施例1で得られた導電性粒子を電子顕微鏡で観察したところ非常に滑らかな表面が観察できた。上記の最小抵抗値の測定及び破壊点の測定は、実施例1にかかる導電性粒子を10点用意して行ったが、全ての導電性粒子で最小抵抗値、破壊点の数値にばらつきは見られなかった。 Furthermore, when the conductive particles obtained in Example 1 were observed with an electron microscope, a very smooth surface could be observed. The measurement of the minimum resistance value and the measurement of the breakdown point were performed by preparing 10 conductive particles according to Example 1. However, all the conductive particles showed variations in the minimum resistance value and the numerical value of the breakdown point. I couldn't.

実施例1の導電性粒子を導電スペーサとして使用したところ、長期間に亘って良好な導電性を維持し、高い圧縮信頼性を発揮した。 When the electroconductive particle of Example 1 was used as an electroconductive spacer, it maintained favorable electroconductivity over a long period of time, and exhibited high compression reliability.

[実施例2:ACF用導電性粒子]
<1次ドープ工程>
―基材ポリマー粒子―
ACF用導電性粒子の基材ポリマー粒子は、以下の方法により製造したアクリル樹脂球状粉末を用いた。すなわち、分散重合において、エタノール180gにPVP(ポリビニルピロリドン)K-30((株)日本触媒製)9gを溶解した後、スチレンモノマー(東ソー(株)製)5gにアゾビスイソブチロニトリル(和光純薬工業(株)製)0.05gを溶解した液を加え、窒素を吹き込みながら50rpm、80℃にて16時間撹拌することにより反応させ、ポリスチレン400nmの均一粒子分散液(ポリスチレン分散液)を得た。
[Example 2: ACF conductive particles]
<Primary dope process>
―Base polymer particles―
Acrylic resin spherical powder produced by the following method was used as the base polymer particles of the conductive particles for ACF. That is, in dispersion polymerization, 9 g of PVP (polyvinylpyrrolidone) K-30 (manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd.) was dissolved in 180 g of ethanol, and then azobisisobutyronitrile (Japanese A solution obtained by dissolving 0.05 g (manufactured by Koyo Pharmaceutical Co., Ltd.) was added and reacted by stirring at 50 rpm and 80 ° C. for 16 hours while blowing nitrogen, and a uniform particle dispersion (polystyrene dispersion) of polystyrene 400 nm was obtained. Obtained.

次いで、1質量%SDS(ドデシル硫酸ナトリウム)を溶解した水50gに1―クロロドデカン10gを加え、超音波ホモジナイザで1時間分散処理することにより、分散液1を得た。前記分散液1を前記ポリスチレン分散液に加え、50rpmで16時間常温撹拌して、ポリスチレン粒子に1―クロロドデカンを吸収させ、1―クロロドデカン吸収ポリスチレン粒子分散液を得た。 Next, 10 g of 1-chlorododecane was added to 50 g of water in which 1% by mass SDS (sodium dodecyl sulfate) was dissolved, and dispersion treatment 1 was obtained by dispersing with an ultrasonic homogenizer for 1 hour. The dispersion 1 was added to the polystyrene dispersion and stirred at room temperature for 16 hours at 50 rpm to absorb 1-chlorododecane into polystyrene particles to obtain a 1-chlorododecane-absorbing polystyrene particle dispersion.

BPO:過酸化ベンゾイル(日本油脂(株)製)1.5gを、ポリエチレングリコールジメタクリレート(日立化成工業(株)製)100gに溶解させ、1質量%SDSを溶解した水2,000gに加えて、高速ホモジナイザで30分間分散することにより、分散液2を得た。 BPO: 1.5 g of benzoyl peroxide (manufactured by NOF Corporation) is dissolved in 100 g of polyethylene glycol dimethacrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) and added to 2,000 g of water in which 1% by mass SDS is dissolved. Dispersion 2 was obtained by dispersing for 30 minutes with a high-speed homogenizer.

前記分散液2に、前記1―クロロドデカン吸収ポリスチレン粒子分散液を加え、50rpm、常温にて16時間撹絆することにより、ポリエチレングリコールジメタクリレートをポリスチレン粒子に吸収させた分散液3を得た。 The 1-chlorododecane-absorbing polystyrene particle dispersion was added to the dispersion 2, and the mixture was stirred for 16 hours at 50 rpm and room temperature to obtain a dispersion 3 in which polyethylene glycol dimethacrylate was absorbed into the polystyrene particles.

前記分散液3を、50rpm、80℃にて24時間撹拌することにより反応させ、均一粒子径のアクリル樹脂球分散液を調製した。前記アクリル樹脂球分散液を濾過し、純水で洗浄して更に濾過した後、乾燥させることにより、アクリル樹脂球粉末を得た。 The dispersion 3 was reacted by stirring at 50 rpm and 80 ° C. for 24 hours to prepare an acrylic resin sphere dispersion having a uniform particle size. The acrylic resin sphere dispersion was filtered, washed with pure water, further filtered, and dried to obtain an acrylic resin sphere powder.

―粒子径―
アクリル樹脂球の数平均粒子径を実施例1と同様の方法で求めたところ、3.2μmであった。また、粒子のCV値(変動係数)は、2.6%であった。
-Particle size-
When the number average particle size of the acrylic resin spheres was determined in the same manner as in Example 1, it was 3.2 μm. The CV value (variation coefficient) of the particles was 2.6%.

―圧縮破壊荷重値―
アクリル樹脂球の圧縮破壊荷重値を実施例1と同様の方法で測定したところ、1gの圧縮で破壊しなかった。
―Compressive fracture load value―
When the compression failure load value of the acrylic resin sphere was measured in the same manner as in Example 1, it was not broken by compression of 1 g.

―10%圧縮強度―
アクリル樹脂球の10%圧縮変形強度は、試験荷重10gを加え、実施例1と同様の方法で測定したところ、600MPaであった。
―10% compressive strength―
The 10% compressive deformation strength of the acrylic resin sphere was 600 MPa when measured by the same method as in Example 1 with a test load of 10 g.

―圧縮回復率―
アクリル樹脂球の圧縮回復率を実施例1と同様の方法で測定したところ、アクリル樹脂球の圧縮回復率は、45%であった。
―Compression recovery rate―
When the compression recovery rate of the acrylic resin spheres was measured in the same manner as in Example 1, the compression recovery rate of the acrylic resin spheres was 45%.

―ヨウ素のドープ―
前記アクリル樹脂球2gを、ヨウ素2mM、ヨウ化カリウム4mMを溶解させた50m1の水/エタノール(水:エタノール=1:1(V/V))混合溶液に投入した。このとき、大きな樹脂微粒子の凝集体はあらかじめ解砕しておいた。50℃に保った溶液を、1時間超音波照射しながら、微粒子中ヘヨウ素の導入を行い、アクリル樹脂球ヨウ素複合体を得た。
―Iodine doping―
2 g of the acrylic resin spheres were charged into a 50 ml water / ethanol (water: ethanol = 1: 1 (V / V)) mixed solution in which 2 mM iodine and 4 mM potassium iodide were dissolved. At this time, the aggregates of the large resin fine particles were previously crushed. While the solution kept at 50 ° C. was irradiated with ultrasonic waves for 1 hour, iodine was introduced into the fine particles to obtain an acrylic resin spherical iodine complex.

<2次ドープ工程>
1次ドープ工程で得られた、アクリル樹脂球ヨウ素複合体を、0.2質量%のチオ硫酸ナトリウム水溶液で洗浄した。アクリル樹脂球ヨウ素複合体の表面に付着したヨウ素溶液を、1mMの塩化パラジウムを含む0.15質量%塩化アンモニウム水溶液100mLに投入して、80℃、1時間の条件で、ヨウ素とパラジウムイオンを反応させて、ヨウ化パラジウムコンポジットを得た。
<Secondary dope process>
The acrylic resin spherical iodine complex obtained in the primary dope process was washed with a 0.2% by mass aqueous sodium thiosulfate solution. The iodine solution adhering to the surface of the acrylic resin sphere iodine complex is put into 100 mL of 0.15 mass% ammonium chloride aqueous solution containing 1 mM palladium chloride, and the iodine and palladium ions are reacted at 80 ° C. for 1 hour. To obtain a palladium iodide composite.

<還元工程>
前記2次ドープ工程で得られた、ヨウ化パラジウムコンポジットを、0.025質量%の水素化ホウ素ナトリウム水溶液で金属パラジウムに還元し、パラジウムを表面に析出させたアクリル酸樹脂球を得た。
<Reduction process>
The palladium iodide composite obtained in the secondary doping step was reduced to metallic palladium with a 0.025% by mass aqueous sodium borohydride solution to obtain acrylic acid resin spheres with palladium deposited on the surface.

<無電解メッキ工程>
前記還元工程で得られた、パラジウムを表面に析出させたアクリル酸樹脂球を、0.05mo1/Lの硝酸ニッケルを溶解させた水/エタノール(水:エタノール=1:1(V/V))の混合溶液に投入し、60℃、24時間〜120時間の反応条件でニッケルメッキ皮膜層を形成させた。これらの粒子の中から、透過光による高倍率の光学顕微鏡下で観察することにより、黒く写った粒子をメッキ処理されていた微粒了として選択し、ACF用導電性粒子を得た。
<Electroless plating process>
Acrylic resin spheres with palladium deposited on the surface obtained in the reduction step were dissolved in 0.05 mol / L nickel nitrate in water / ethanol (water: ethanol = 1: 1 (V / V)). The nickel plating film layer was formed under the reaction conditions of 60 ° C. and 24 hours to 120 hours. By observing from these particles under a high-magnification optical microscope using transmitted light, the particles appearing black were selected as fine particles that had been plated, and conductive particles for ACF were obtained.

<圧縮導電試験>
―方法―
前記ACF用導電性粒子について、実施例1と同様の条件で図1に示す圧縮導電試験により表面抵抗値の測定を行った。
<Compressive conductivity test>
-Method-
With respect to the conductive particles for ACF, the surface resistance value was measured by the compression conductivity test shown in FIG.

―結果―
実施例2で得られた無電解メッキ後の導電性粒子は、変形率70%においてもメッキ皮膜層の破壊は生じなかった。基材ポリマー粒子も良好な圧縮特性を保持しており、メッキ皮膜層もまた良好な圧縮特性を有しているため、変形率70%においても15Ωの低い電気抵抗値を維持していることが分かった。これは、金属微粒子(パラジウム)を基材ポリマー粒子の表面に点在させてアンカーリング効果を向上させたことにより、ニッケルメッキ膜が強固に基材ポリマー粒子に固着したためであると考えられる。
-result-
The electroconductive particles after electroless plating obtained in Example 2 did not break the plating film layer even at a deformation rate of 70%. Since the base polymer particles also have good compression characteristics, and the plating film layer also has good compression characteristics, it is possible to maintain a low electric resistance value of 15Ω even at a deformation rate of 70%. I understood. This is considered to be because the nickel plating film was firmly fixed to the base polymer particles by improving the anchoring effect by interspersing the metal fine particles (palladium) on the surface of the base polymer particles.

この粒子について10点の導電圧縮試験を行ったが全ての粒子において破壊するまで低い抵抗値を維持していた。実施例2で得られた無電解メッキ後の導電性粒子10個について、導電圧縮試験を行った。いずれの粒子についても破壊するまで15Ωの低い抵抗値が維持されていることが確かめられた。また、導電性粒子が破壊された時の圧縮荷重は5.0gfであることが確かめられた。それぞれの粒子を電子顕微用で観察したところ、非常に滑らかなメッキ膜が形成されていることが確認された。この滑らかなメッキ膜によって、何れの粒子においても抵抗値にぶれがなく15Ωとすることができたとものと思われる。 This particle was subjected to a 10-point conductive compression test, but all the particles maintained a low resistance value until they were broken. A conductive compression test was conducted on 10 conductive particles after electroless plating obtained in Example 2. It was confirmed that a low resistance value of 15Ω was maintained until any particle was destroyed. It was also confirmed that the compressive load when the conductive particles were destroyed was 5.0 gf. When each particle was observed with an electron microscope, it was confirmed that a very smooth plating film was formed. This smooth plating film seems to have allowed the resistance value to be 15Ω without any fluctuation in any particle.

実施例2のメッキ層付き導電性粒子を、エポキシ樹脂と硬化剤に添加して押し出し成型でフィルムに成形して、異方性導電フィルムとした。この異方性導電フィルムは、長期間に亘って良好な導電性を維持し、高い圧縮信頼性を発揮した。上記から明らかなように、導電スペーサ用導電性粒子を製造するにあたってエッチング工程は行っていないが、導電性粒子の圧縮特性が損なわれることはなかった。 The conductive particles with plating layer of Example 2 were added to an epoxy resin and a curing agent and formed into a film by extrusion molding to obtain an anisotropic conductive film. This anisotropic conductive film maintained good conductivity over a long period of time and exhibited high compression reliability. As is apparent from the above, the etching process is not performed in the production of the conductive particles for the conductive spacer, but the compressive properties of the conductive particles are not impaired.

[実施例3:導電ペースト用導電性粒子]
市販の架橋高密度ポリエチレン粒子 住友精化(株)製フロービーズHE3040(平均粒子径11μm)を用いて以下の処理を行った。
―ヨウ素のドープ―
前記ポリエチレン樹脂球3gを、1mMヨウ素、及び10mMヨウ化アンモニウムを溶解させた20mLの50質量%エタノール水溶液(ヨウ素−ヨウ化アンモニウム溶液」に投入した。10℃に保った前記ヨウ素−ヨウ化アンモニウム溶液に、20分間浸漬し、ポリエチレン樹脂球ヨウ素複合体を得た。
[Example 3: conductive particles for conductive paste]
The following treatment was performed using commercially available crosslinked high-density polyethylene particles, flow beads HE3040 (average particle diameter 11 μm) manufactured by Sumitomo Seika Co., Ltd.
―Iodine doping―
3 g of the polyethylene resin spheres were charged into 20 mL of a 50% by mass ethanol aqueous solution (iodine-ammonium iodide solution) in which 1 mM iodine and 10 mM ammonium iodide were dissolved.The iodine-ammonium iodide solution maintained at 10 ° C. And immersed for 20 minutes to obtain a polyethylene resin spherical iodine composite.

<2次ドープ工程>
1次ドープ工程で得られた、ポリエチレン樹脂球ヨウ素複合体を、濾過しながら、50質量%エタノール水溶液で洗浄した。ポリエチレン樹脂球の内部や表面に生成したヨウ素複合体を10mM塩化金酸―50質量%エタノール水溶液に2日間浸漬することで金属種と反応させ、ヨウ化金コンポジットを得た。
<Secondary dope process>
The polyethylene resin spherical iodine complex obtained in the primary dope process was washed with a 50% by mass aqueous ethanol solution while filtering. The iodine complex formed inside or on the surface of the polyethylene resin sphere was immersed in a 10 mM chloroauric acid-50 mass% ethanol aqueous solution for 2 days to react with the metal species to obtain a gold iodide composite.

<還元工程>
前記2次ドープ工程で得られた、ヨウ化金コンボジットを、50質量%エタノールで洗浄した後、更に、大気中で160℃にて72時間加熱することにより、金属に還元し、金微粒子ドープ微粒子を得た。
<Reduction process>
The gold iodide composite obtained in the secondary doping step is washed with 50% by mass ethanol, and further heated to 160 ° C. in the atmosphere for 72 hours to be reduced to metal, thereby doping gold fine particles. Fine particles were obtained.

<無電解メッキ工程>
前記還元工程で得られた、金微粒子ドープ粒子を、0.05Mの硝酸銀を溶解させた水/エタノール(水:エタノール=1:1(V/V))の混合溶液に投入し、60℃、24時間の反応条件で銀メッキ皮膜層を形成させた。
<Electroless plating process>
The gold fine particle dope particles obtained in the reduction step were put into a mixed solution of water / ethanol (water: ethanol = 1: 1 (V / V)) in which 0.05M silver nitrate was dissolved, A silver plating film layer was formed under reaction conditions for 24 hours.

以上の工程で得られた異方性導電ペースト用粒子を実施例2と同様の条件にて圧縮試験を行った。 The particles for anisotropic conductive paste obtained in the above steps were subjected to a compression test under the same conditions as in Example 2.

変形率70%圧縮でもメッキ皮膜層は破壊せず、ポリマー粒子は良好な圧縮物性を示し、10点の導電圧縮試験において、全ての粒子が15Ωの低い抵抗値を維持した。 Even when the deformation rate was 70% compression, the plated film layer was not destroyed, and the polymer particles showed good compression properties. In a ten-point conductive compression test, all particles maintained a low resistance value of 15Ω.

本発明のメッキ層を付与した導電性粒子をキシレンに溶解したスチレンエチレンブチレンエラストマー(旭化成ケミカルズ(株)製 タフテックM−1913)に添加混合した後、スクリーン印刷して乾燥させ、導電接続した。この導電ペーストは長期間に亘って良好な導電性を維持し、高い圧縮信頼性を発揮した。 The conductive particles provided with the plating layer of the present invention were added to and mixed with a styrene ethylene butylene elastomer (Tuftec M-1913 manufactured by Asahi Kasei Chemicals Co., Ltd.) dissolved in xylene, then screen-printed and dried to conduct conductive connection. This conductive paste maintained good conductivity over a long period of time and exhibited high compression reliability.

[実施例4:導電スペーサ用導電性粒子]
1次ドープ工程のヨウ素を100mM、ヨウ化カリウムを200mM、2次ドープ工程の塩化パラジウムを硝酸ニッケル1mMに変更した以外は、実施例1と同じ条件で、導電スペーサ用導電性粒子を製造した。
[Example 4: conductive particles for conductive spacer]
Conductive particles for conductive spacers were produced under the same conditions as in Example 1, except that iodine in the primary doping step was 100 mM, potassium iodide was 200 mM, and palladium chloride in the secondary doping step was changed to 1 mM nickel nitrate.

実施例4で得られた導電スペーサ用導電性粒子は、基材ポリマー粒子であるアクリル樹脂の良好な圧縮特性を保持しており、なおかつ、粒子表面に形成された銀メッキ皮膜により、優れた導電性を有することが認められた。 The conductive particles for the conductive spacer obtained in Example 4 retain the good compression characteristics of the acrylic resin that is the base polymer particle, and also have excellent conductivity due to the silver plating film formed on the particle surface. It was found to have sex.

さらに、実施例4で得られた導電性粒子を電子顕微鏡で観察したところ非常に滑らかな表面が観察できた。上記の最小抵抗値の測定及び破壊点の測定は、実施例1にかかる導電性粒子を10点用意して行ったが、全ての導電性粒子で最小抵抗値、破壊点の数値にばらつきは見られなかった。 Furthermore, when the conductive particles obtained in Example 4 were observed with an electron microscope, a very smooth surface could be observed. The measurement of the minimum resistance value and the measurement of the breakdown point were performed by preparing 10 conductive particles according to Example 1. However, all the conductive particles showed variations in the minimum resistance value and the numerical value of the breakdown point. I couldn't.

実施例1の導電性粒子を導電スペーサとして使用したところ、長期間に亘って良好な導電性を維持し、高い圧縮信頼性を発揮した。 When the electroconductive particle of Example 1 was used as an electroconductive spacer, it maintained favorable electroconductivity over a long period of time, and exhibited high compression reliability.

[実施例5]
実施例2の導電性粒子の製造方法の1次ドープ工程において、「ヨウ素−ヨウ化アンモニウム溶液」の組成を、ヨウ素0.5M、ヨウ化カリウム2Mを溶解させた50ml水/エタノール(水:エタノール=1:1(V/V))混合溶液とし、塩化パラジウム溶液を6mMとした他は、実施例2と同様の条件にて、ヨウ化パラジウムコンポジットを製造し、還元処理を行った。
[Example 5]
In the primary dope step of the method for producing conductive particles of Example 2, the composition of “iodine-ammonium iodide solution” was 50 ml water / ethanol (water: ethanol) in which 0.5 M iodine and 2 M potassium iodide were dissolved. = 1: 1 (V / V)) A mixed solution was prepared, and a palladium iodide composite was produced under the same conditions as in Example 2 except that the palladium chloride solution was changed to 6 mM.

実施例2の還元処理を終えたヨウ化パラジウムコンポジット及び実施例5の還元処理を終えたヨウ化パラジウムコンポジットについて、実施例2と同様の方法で還元して、基材ポリマー粒子の表面に金属微粒子を析出させた。実施例2及び実施例5の基材ポリマー粒子について、透過型電子顕微鏡(TEM)及び走査型電子顕微鏡(SEM)によって、基材ポリマー粒子を観察した。撮影した写真を図4から図7に示す。 About the palladium iodide composite which finished the reduction process of Example 2, and the palladium iodide composite which finished the reduction process of Example 5, it reduced by the method similar to Example 2, and the metal fine particle on the surface of a base polymer particle Was precipitated. About the base polymer particle of Example 2 and Example 5, the base polymer particle was observed with the transmission electron microscope (TEM) and the scanning electron microscope (SEM). Photographs taken are shown in FIGS.

図4及び5から明らかなように、実施例2の製造方法によれば、基材ポリマー粒子の表面にごくわずかのパラジウム金属微粒子が析出し、点在していることがわかる。微量のパラジウム金属微粒子を析出させた基材ポリマー粒子に、メッキ膜を付与した導電性粒子の圧縮特性と導電性が従来よりも優れることは既述(実施例2)の通りある。これは、ごくわずかのパラジウム金属微粒子が基材ポリマー粒子の表面に析出していることに起因すると思われる。すなわち、本発明においては基材ポリマー粒子の表面に、金属微粒子が点在しそれによって凸凹形状が形成されアンカーリング効果が高められたものと推測される。 As apparent from FIGS. 4 and 5, according to the production method of Example 2, it can be seen that very few palladium metal fine particles are deposited and scattered on the surface of the base polymer particles. As described above (Example 2), the compression property and conductivity of the conductive particles provided with a plating film on the base polymer particles on which a small amount of palladium metal fine particles are deposited are superior to those of the conventional example. This seems to be due to the fact that very few palladium metal fine particles are deposited on the surface of the base polymer particles. That is, in the present invention, it is presumed that metal fine particles are scattered on the surface of the base polymer particles, thereby forming an uneven shape and enhancing the anchoring effect.

一方、図3及び図4から明らかなように、実施例5例の製造法では、基材ポリマー粒子の表面に多量のパラジウム金属微粒子が析出している。表面形状の歪みも観察される。この多量のパラジウム金属微粒子が析出したポリマー基材粒子について、実施例2と同様の方法で、メッキ膜を付与した。これについて表面抵抗値を計測したところ、平均で2.0×10Ωであった。表面形状が歪なためか、各粒子の抵抗値にばらつきがみられた。また、圧縮特性については、上記と同様の試験方法を行ったところ、変形率55%にてメッキ皮膜層が破壊された。 On the other hand, as apparent from FIGS. 3 and 4, in the production method of Example 5, a large amount of palladium metal fine particles are deposited on the surface of the base polymer particles. Surface shape distortion is also observed. A plating film was applied to the polymer substrate particles on which a large amount of palladium metal fine particles were deposited in the same manner as in Example 2. When the surface resistance value was measured, it was 2.0 × 10 2 Ω on average. Due to the distorted surface shape, the resistance value of each particle varied. As for compression characteristics, the same test method as described above was performed. As a result, the plating film layer was destroyed at a deformation rate of 55%.

1 圧子
2 導電性粒子
3 金属製試料台
4 抵抗測定器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Indenter 2 Conductive particle 3 Metal sample stand 4 Resistance measuring device

Claims (4)

基材ポリマー粒子に対して、ヨウ素をドープしてポリマー/ヨウ素複合体を調整する1次ドープ工程と、
該ポリマー/ヨウ素複合体に対して金属種を反応させて金属ヨウ化物コンポジットを調整する2次ドープ工程と、
該金属ヨウ化物コンポジットを金属微粒子へと還元し、基材ポリマー表面にメッキ膜の核となる金属微粒子を点在させる還元工程と、
還元工程で得られた基材ポリマー粒子表面に点在する金属を核としてメッキ膜を成長させる無電解メッキ工程と、からなることを特徴とする導電性粒子の製造方法。
A primary doping step of adjusting the polymer / iodine complex by doping iodine with respect to the base polymer particles;
A secondary doping step of preparing a metal iodide composite by reacting a metal species with the polymer / iodine composite;
A reduction step of reducing the metal iodide composite to metal fine particles, and interspersing metal fine particles serving as nuclei of the plating film on the surface of the base polymer;
A method for producing conductive particles, comprising: an electroless plating step in which a plating film is grown using the metal scattered on the surface of the base polymer particles obtained in the reduction step as a nucleus.
1次ドープ工程は、基材ポリマー粒子を5×10−6〜5×10−3Nの単体ヨウ素を含む溶液に浸漬する工程である請求項1に記載の導電性粒子の製造方法。 The method for producing conductive particles according to claim 1, wherein the primary doping step is a step of immersing the base polymer particles in a solution containing 5 × 10 −6 to 5 × 10 −3 N simple iodine. 2次ドープ工程は、ポリマー/ヨウ素複合体を5×10−6〜5×10−3Nの金属種を含む溶液に浸漬する工程である請求項1に記載の導電性粒子の製造方法。 The method for producing conductive particles according to claim 1, wherein the secondary doping step is a step of immersing the polymer / iodine complex in a solution containing a metal species of 5 × 10 −6 to 5 × 10 −3 N. 請求項1〜3のいずれかに記載の方法で製造された、表面抵抗値が5〜10Ωである導電性粒子。 The electroconductive particle which is manufactured by the method in any one of Claims 1-3 and whose surface resistance value is 5-10 < 2 > (omega | ohm).
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