JP2011248102A - Lot configuration method and lot configuration system of defective substrate - Google Patents

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Yoshihiro Ueda
義広 植田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a lot configuration method of a defective substrate capable of efficiently performing reproduction processing.SOLUTION: In order to reuse a defective substrate generated in a color filter production process by reproduction processing, a method for configuring the lot of a defective glass substrate classifies the lot for introducing the defective substrate into a reproduction process, using at least information on the glass material of the defective glass substrate, information on the reproduction frequencies of the defective glass substrate carried out until now, information on the final processing process in which the final production processing of the defective glass substrate is carried out and information on the product name of the glass substrate.

Description

本発明は、カラー液晶表示装置に用いるカラーフィルタ製造工程で発生する品質基準に満たないカラーフィルタ用ガラス基板を再生する場合に適応されるもので、複数ある再生処理条件の内、該再生される基板を適応する再生条件毎にロット構成する方法に関するものである。   The present invention is applied to the case of regenerating a glass substrate for a color filter that does not meet the quality standards generated in the color filter manufacturing process used in the color liquid crystal display device, and is regenerated among a plurality of regeneration processing conditions. The present invention relates to a method of forming a lot for each reproduction condition to which a substrate is adapted.

カラー液晶表示装置は、カラーフィルタ基板と素子基板との間に液晶を封入して構成され、画素毎にカラーフィルタ基板と素子基板との間に電圧を印加して光の透過または不透過を制御して、透過した光を表示光として画面表示するものである。   A color liquid crystal display device is configured by enclosing a liquid crystal between a color filter substrate and an element substrate, and controls transmission or non-transmission of light by applying a voltage between the color filter substrate and the element substrate for each pixel. Then, the transmitted light is displayed on the screen as display light.

図1はカラー液晶表示装置に用いられるカラーフィルタの一例を断面で示した図である。カラーフィルタ1は、ガラス基板2上にブラックマトリックス(以下、BM)3、レッドRの着色画素(以下、R画素)4−1、グリーンGの着色画素(以下、G画素)4−2、ブルーBの着色画素(以下、B画素)4−3、透明電極5、及びフォトスペーサー(Photo Spacer)(以下、PS)6、バーテイカルアライメント(Vertical Alignment)(以下、VA)7が順次形成されたものである。   FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a color filter used in a color liquid crystal display device. The color filter 1 includes a black matrix (hereinafter referred to as BM) 3, a red R colored pixel (hereinafter referred to as R pixel) 4-1, a green G colored pixel (hereinafter referred to as G pixel) 4-2, blue on a glass substrate 2. B colored pixels (hereinafter referred to as B pixels) 4-3, a transparent electrode 5, a photo spacer (hereinafter referred to as PS) 6, and a vertical alignment (hereinafter referred to as VA) 7 were sequentially formed. Is.

上記構造のカラーフィルタの製造方法は、フォトリソグラフィー法、印刷法、インクジェット法が知られているが、図2は一般的に用いられているフォトリソグラフィー法の工程の一例を示すフロー図である。カラーフィルタは、先ず、ガラス基板上にBMを形成処理する工程(C1)、ガラス基板を洗浄処理する工程(C2)、着色フォトレジストを塗布および予備乾燥処理する工程(C3)、着色フォトレジストを乾燥、硬化処理するプリベーク工程(C4)、露光処理する工程(C5)、現像処理する工程(C6)、着色フォトレジストを硬化処理する工程(C7)、透明電極を成膜処理する工程(C8)、PS、VAを形成処理する工程(C9)がこの順に行われ製造される。   As a method for manufacturing a color filter having the above structure, a photolithography method, a printing method, and an ink jet method are known. FIG. 2 is a flowchart showing an example of a process of a commonly used photolithography method. The color filter includes a step of forming BM on a glass substrate (C1), a step of cleaning the glass substrate (C2), a step of applying and pre-drying a colored photoresist (C3), and a colored photoresist. A pre-baking step (C4) for drying and curing, a step (C5) for exposing, a step (C6) for developing, a step (C7) for curing a colored photoresist, and a step (C8) for depositing a transparent electrode. , PS and VA are formed and processed in this order (C9).

例えば、R画素、G画素、B画素の順に着色画素が形成される場合には、カラーフィルタ用ガラス基板を洗浄処理する工程(C2)から、着色フォトレジストを硬化処理する工程間(C7)ではレッドR、グリーンG、ブルーBの順に着色レジストを変更して3回繰り返されてR画素、G画素、B画素が形成される。なお、ステップ(C7)と(C8)の間で研磨処理する工程を経る場合もある。   For example, when colored pixels are formed in the order of R pixel, G pixel, and B pixel, from the step (C2) of cleaning the glass substrate for color filter to the step (C7) of curing the colored photoresist. The color resist is changed in the order of red R, green G, and blue B, and the process is repeated three times to form R pixels, G pixels, and B pixels. Note that a polishing process may be performed between steps (C7) and (C8).

ガラス基板2上へのBM3の形成は、例えば、ガラス基板2上に金属薄膜を形成し、この金属薄膜にフォトレジストを塗布した後、フォトリソグラフィー法によってBM形状を有したパターンを露光、現像、エッチングをして形成するといった方法や、または、ガラス基板2上に黒色のフォトレジスト樹脂を塗布し、この樹脂塗膜をフォトリソグラフィー法によってBM形状を有したパターンを露光、現像して、いわゆる樹脂BMと称するパターンを形成する方法がとられている。   The BM 3 is formed on the glass substrate 2 by, for example, forming a metal thin film on the glass substrate 2, applying a photoresist to the metal thin film, and then exposing, developing, and developing a pattern having a BM shape by a photolithography method. A method of forming by etching, or a black photoresist resin is applied on the glass substrate 2, and a pattern having a BM shape is exposed and developed by a photolithographic method to develop a so-called resin. A method of forming a pattern called BM is used.

カラーフィルタ用ガラス基板の大型化に伴い、ガラス基板上へのBMの形成は、BMの材料としては、クロムなどの金属を用いて真空装置によって金属薄膜を形成するよりも、黒色の樹脂フォトレジストを用いてフォトリソグラフィー法によって形成する樹脂BMの方が、価格的、環境的にも有利なため、金属薄膜のBMを回避する傾向にある。   With the increase in the size of glass substrates for color filters, the formation of BM on a glass substrate is a black resin photoresist rather than forming a metal thin film with a vacuum device using a metal such as chromium as the material for BM. Since the resin BM formed by photolithography using a metal is more advantageous in terms of cost and environment, there is a tendency to avoid the BM of the metal thin film.

製造されるカラーフィルタには高い信頼性が必要であるが、前記のようにカラーフィルタの製造工程には多くの工程があり、その途中でゴミや樹脂カスなどの異物の付着や混入
、ピンホール、パターン欠け等による欠陥が生じ、品質基準に満たない不良基板となって、歩留まりが低下している現状がある。また、近年の大画面液晶テレビの普及に伴うカラーフィルタ用ガラス基板の大型化により、例えば1mm以下の薄く、かつ一辺が1〜2m以上に達するカラーフィルタ用ガラス基板では、廃棄そのものに危険が伴う。
The color filter to be manufactured requires high reliability, but as described above, there are many steps in the manufacturing process of the color filter. There is a current situation in which a defect due to chipping or the like occurs, resulting in a defective substrate that does not meet the quality standard, and the yield is reduced. In addition, due to the increase in size of glass substrates for color filters with the recent spread of large-screen LCD televisions, for example, glass substrates for color filters that are as thin as 1 mm or less and have one side of 1 to 2 m or more are associated with a risk of disposal itself. .

一般的にカラーフィルタ用ガラス基板の不良検査は、前記製造工程の最終工程であるPS,VA形成処理する工程(C9)の後に行われる他に、中間工程であるBMを形成処理する工程(C1)の後、着色フォトレジストを乾燥、硬化処理するプリベーク工程(C4)の後、着色フォトレジストを硬化処理する工程(C7)の後、透明電極を成膜処理する工程(C8)の後においても行われ、品質基準に満たないカラーフィルタ用ガラス基板が検査されている。   In general, the defect inspection of the glass substrate for the color filter is performed after the PS (VA forming process) (C9) which is the final process of the manufacturing process, and the process (C1) for forming BM as an intermediate process. ), After the pre-baking step (C4) for drying and curing the colored photoresist, after the step (C7) for curing the colored photoresist, and after the step (C8) for forming the transparent electrode. In practice, glass substrates for color filters that do not meet quality standards are inspected.

そこで、カラーフィルタの製造工程で品質基準を満足しないガラス基板が発生した場合は、明らかな割れ基板、再生回数の制限を越えた基板、検査機で再生NGとなった基板以外は、ガラス基板の再生装置によって再生し、製造工程に再投入し再使用している。   Therefore, when a glass substrate that does not satisfy the quality standards is generated in the color filter manufacturing process, the glass substrate other than the obvious cracked substrate, the substrate that exceeds the limit of the number of times of reproduction, and the substrate that has become NG in the inspection machine is used. Recycled by a regenerator, re-introduced into the manufacturing process and reused.

カラーフィルタ用ガラス基板の再生工程のフローと工程内容の一例を図3に示す。   FIG. 3 shows an example of the flow and process contents of the color filter glass substrate regeneration process.

カラーフィルタ用ガラス基板の不良検査で検出されたガラス基板は、その後再生処理が行われる。すなわち、カラーフィルタ用ガラス基板の再生はBMを形成した後や、R画素、G画素、B画素のためのレジストを形成した後や、BM、R画素、G画素、B画素を形成した後や、または透明電極(例えばITO(Indium Tin Oxide))膜成膜後や、PS、VA形成後のいずれの場合においても行われるが、品質基準を満足しないカラーフィルタ用ガラス基板は次に示す工程を経て再生される。図3に示すカラーフィルタ用ガラス基板の再生工程のフローと工程内容は、PS/VA膜形成後の場合を例示したものである。   The glass substrate detected by the defect inspection of the color filter glass substrate is then subjected to a regeneration process. In other words, the color filter glass substrate is regenerated after BM is formed, after resists for R pixels, G pixels, and B pixels are formed, after BM, R pixels, G pixels, and B pixels are formed. Or a transparent electrode (e.g., ITO (Indium Tin Oxide)) film formation, PS, or VA formation. It will be played back. The flow and process contents of the color filter glass substrate shown in FIG. 3 illustrate the case after the PS / VA film is formed.

先ず、アルカリ処理(1)(K1)、ブラシ洗浄(K2)及び水洗リンス(K3)によってガラス基板の最上層にあるPS/VA膜が剥離、リンスされる(N1)、(N2)、(N3)。次に中間層のITO膜が酸処理(K4)、水洗リンス(K5)によって剥離(N4)、リンス(N5)された後、最下層であるBM、RGB樹脂膜がアルカリ処理(2)(K6)、ブラシ洗浄(K7)、水洗リンス(K8)によってR/G/B、BM層が剥離、リンス(N6)、(N7)、(N8)され、最後にブラシ洗浄(K9)でカラーフィルタ用ガラス基板に微少量残っている洗浄残渣が取り除かれ(N9)、水切り(K10)によって乾燥される(N10)。   First, the PS / VA film on the uppermost layer of the glass substrate is peeled off and rinsed by alkali treatment (1) (K1), brush washing (K2), and water washing rinse (K3) (N1), (N2), (N3 ). Next, after the ITO film of the intermediate layer is peeled (N4) and rinsed (N5) by acid treatment (K4) and water rinse (K5), the BM and RGB resin films as the lowermost layer are treated with alkali (2) (K6). ), R / G / B and BM layers are peeled and rinsed (N6), (N7) and (N8) by brush washing (K7) and water rinse (K8), and finally for color filters by brush washing (K9) The cleaning residue remaining on the glass substrate is removed (N9) and dried by draining (K10) (N10).

特開2001−124913号公報JP 2001-124913 A 特開2010−15080号公報JP 2010-15080 A

前記図3における再生工程では、不良基板と判定されたガラス基板はガラス基板の状態、即ち、ガラスの材質、どの工程まで処理されたか、使用した製品の種類、新材か再生材か、に応じて、アルカリ処理(1)(ステップK1)や酸処理(ステップK4)やアルカリ処理(2)(ステップK6)における薬液温度や処理時間等の再生の処理条件を変更する必要がある。   In the recycling process in FIG. 3, the glass substrate determined to be a defective substrate depends on the state of the glass substrate, that is, the material of the glass, how far the glass substrate has been processed, the type of product used, and whether it is a new material or a recycled material. Therefore, it is necessary to change the processing conditions for regeneration such as the chemical temperature and the processing time in the alkali treatment (1) (step K1), the acid treatment (step K4), and the alkali treatment (2) (step K6).

本発明は係る問題点に鑑みてなされたものであり、再生処理を効率よく行うことを可能
とした不良基板のロット構成方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a method for forming a lot of defective substrates that enables efficient regeneration processing.

本発明の請求項1に係る発明は、カラーフィルタ製造工程で発生した不良ガラス基板を再生処理して再利用するために少なくとも、
前記不良ガラス基板のガラス材質情報と、
前記不良ガラス基板のこれまで行われた再生回数情報と、
前記不良ガラス基板の最後の製造処理が行われた最終処理工程情報と、
ガラス基板の製造品名情報と、を用いて前記不良基板を再生工程に投入するためのロットに区分することを特徴とする不良基板のロット構成方法である。
In order to recycle and reuse the defective glass substrate generated in the color filter manufacturing process, the invention according to claim 1 of the present invention,
Glass material information of the defective glass substrate;
Information on the number of times the defective glass substrate has been reproduced so far,
Final process information on the last manufacturing process of the defective glass substrate,
A defective substrate lot composition method characterized in that the defective substrate is divided into lots for use in a recycling process using the product name information of the glass substrate.

本発明の請求項2に係る発明は、前記再生工程に投入するためのロットは、ガラス材質と再生回数と最終処理工程と製造品名からなるロットマトリックスを用いて作成されることを特徴とする請求項1に記載の不良基板のロット構成方法である。   The invention according to claim 2 of the present invention is characterized in that a lot to be input into the regeneration process is created using a lot matrix composed of a glass material, the number of regeneration times, a final treatment process, and a product name. Item 2. A method for forming a lot of defective substrates according to Item 1.

本発明の請求項3に係る発明は、前記不良ガラス基板は前記ロットマトリックスの中から合致したロットに区分されることを特徴とする請求項1または2に記載の不良基板のロット構成方法である。   The invention according to claim 3 of the present invention is the defective substrate lot composition method according to claim 1 or 2, wherein the defective glass substrate is classified into a lot matched from the lot matrix. .

本発明の請求項4に係る発明は、前記ロットマトリックスの中から合致したロットに区分された不良基板の内、再生処理が不可能であるガラス不良品を破砕処理基板とすることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の不良基板のロット構成方法である。   The invention according to claim 4 of the present invention is characterized in that, among defective substrates divided into matching lots from the lot matrix, defective glass products that cannot be recycled are used as crushing substrates. 4. A method for forming a lot of defective substrates according to claim 1.

本発明の請求項5に係る発明は、請求項1から4に記載の不良基板のロット構成方法を用いて不良基板のロットを構成することを特徴とする不良基板のロット構成システムである。   According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a defective substrate lot configuration system, wherein a defective substrate lot is configured using the defective substrate lot configuration method according to any one of the first to fourth aspects.

本発明の請求項6に係る発明は、前記区分されたロット毎に不良基板をカセットに集積することを特徴とする請求項5に記載の不良基板のロット構成システムである。   The invention according to claim 6 of the present invention is the defective substrate lot configuration system according to claim 5, wherein defective substrates are accumulated in a cassette for each of the divided lots.

本発明の請求項7に係る発明は、前記カセットに集積された不良基板の収納状態を監視して、端数収納のカセットを優先して搬送することを特徴とする請求項5または6に記載の不良基板のロット構成システムである。   The invention according to claim 7 of the present invention is characterized in that the storage state of the defective substrates integrated in the cassette is monitored, and the fractional storage cassette is preferentially transported. This is a lot configuration system for defective substrates.

本発明の請求項8に係る発明は、再生工程へ投入可能な状態となったカセットに対して、ロット単位で順番に番号を割り振り、割り振られた番号順に再生工程にカセットを投入することを特徴とする請求項5から7のいずれかに記載の不良基板のロット構成システムである。   The invention according to claim 8 of the present invention is characterized in that a number of cassettes that are ready to be input into the reproduction process are assigned numbers in order of lot units, and cassettes are input into the reproduction process in the order of the assigned numbers. A defective substrate lot configuration system according to any one of claims 5 to 7.

本発明のカラーフィルタ用ガラス基板の不良基板のロット構成方法によれば、同一の条件で再生処理可能な基板を再生工程投入用のロットとして区分された形で投入することが可能となり、再生処理条件の変更の回数を減少させることが出来、その結果、再生処理に伴う段取り時間が短縮され、再生処理装置の稼働率を向上させることが可能となる。   According to the defective substrate lot configuration method of the glass substrate for color filter of the present invention, it becomes possible to input a substrate that can be regenerated under the same conditions in a form that is classified as a lot for regenerating process input. The number of condition changes can be reduced. As a result, the setup time associated with the reproduction process is shortened, and the operation rate of the reproduction processing apparatus can be improved.

カラー液晶表示装置に用いられるカラーフィルタの一例を断面で示した図。The figure which showed an example of the color filter used for a color liquid crystal display device in a cross section. 一般的に用いられているフォトリソグラフィー法の工程のフロー図。The flowchart of the process of the photolithographic method generally used. カラーフィルタ用ガラス基板の再生工程のフローと工程内容の一例を示す図。The figure which shows an example of the flow of a reproduction | regeneration process of the glass substrate for color filters, and process content. 本発明に係る不良基板のロット構成方法が適用されるカラーフィルタ用ガラス基板製造ラインの概略構成図。1 is a schematic configuration diagram of a glass substrate production line for a color filter to which a defective substrate lot configuration method according to the present invention is applied. 本発明に係るカラーフィルタ用ガラス基板の不良基板のロット構成方法が適用されるシステム構成例を示す図。The figure which shows the system structural example to which the lot structural method of the defective board | substrate of the glass substrate for color filters which concerns on this invention is applied. 本発明に係る基板移載計画管理部における移載の判断処理のフロー図。The flowchart of the transfer judgment process in the board | substrate transfer plan management part which concerns on this invention.

以下、図面を参照して本発明に係る不良基板のロット構成方法を実施するための形態を説明する。   Hereinafter, an embodiment for carrying out a defective substrate lot configuration method according to the present invention will be described with reference to the drawings.

図4は本発明に係る不良基板のロット構成方法が適用されるカラーフィルタ用ガラス基板製造ラインの概略構成図である。図4に示されるカラーフィルタ用ガラス基板製造ライン10は、再生ライン11と基板集積用の基板移載ライン12を具備したラインを例示したものである。   FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a glass substrate production line for a color filter to which the defective substrate lot configuration method according to the present invention is applied. The color filter glass substrate production line 10 shown in FIG. 4 is an example of a line including a regeneration line 11 and a substrate transfer line 12 for substrate integration.

カラーフィルタ用ガラス基板製造ライン10は、工程内ストッカー13を有し、ガラス基板上にBMを形成処理する工程(BMライン14)、R画素を形成処理する工程(Rライン15)、G画素を形成処理する工程(Gライン16)、B画素を形成処理する工程(Bライン17)、透明電極を成膜処理する工程(ITOライン18)、PS/VAを形成処理する工程(PS/VAライン19)、最終検査ライン20、ガラス基板を再生処理する工程(再生ライン11)、及び基板移載ライン12、受入ライン21、出荷ライン22を有している。   The color filter glass substrate production line 10 has an in-process stocker 13, a step of forming BM on the glass substrate (BM line 14), a step of forming R pixels (R line 15), and a G pixel. Step of forming (G line 16), step of forming B pixel (B line 17), step of forming a transparent electrode (ITO line 18), step of forming PS / VA (PS / VA line) 19), a final inspection line 20, a step of regenerating the glass substrate (regeneration line 11), a substrate transfer line 12, a receiving line 21, and a shipping line 22.

ガラスメーカーから納入されたガラス基板は、先ず入出荷ストッカー23に搬入された後、受入ライン21によって工程内ストッカー13にストックされる。工程内ストッカー13にストックされたガラス基板は、BMライン14にLD(ローダ)24よって搬入された後BMが形成処理され、更にULD(アンローダ)25によって再び工程内ストッカー13にストックされる。この後同様に、Rライン15、Gライン16、Bライン17、ITOライン18、PS/VAライン19を経て、最終検査ライン20で最終検査が行われる。品質条件を満たしたガラス基板はLD26によって出荷ライン22に搬出された後、入出荷ストッカーにストックされる。尚、ガラス基板は最終検査ライン20で検査されるほかに、各処理ラインで処理された後に図示しない検査装置によって適宜検査される。   A glass substrate delivered from a glass maker is first carried into a receipt / shipment stocker 23 and then stocked in an in-process stocker 13 by a receiving line 21. The glass substrate stocked in the in-process stocker 13 is carried into the BM line 14 by the LD (loader) 24, and then the BM is formed, and is further stocked by the ULD (unloader) 25 in the in-process stocker 13 again. Thereafter, the final inspection is performed in the final inspection line 20 through the R line 15, the G line 16, the B line 17, the ITO line 18, and the PS / VA line 19. After the glass substrate satisfying the quality condition is carried out to the shipping line 22 by the LD 26, it is stocked in an incoming / outgoing stocker. The glass substrate is inspected as appropriate by an inspection apparatus (not shown) after being processed in each processing line, in addition to being inspected in the final inspection line 20.

工程内ストッカー13にストックされているガラス基板は、収納カセットに収納されているが、他の収納カセットにガラス基板を移載する場合には、基板移載ライン12に備えられたロボット(RB)27によって移載され、一時的にバッファ(BF)28に移載される。   The glass substrate stocked in the in-process stocker 13 is stored in the storage cassette, but when transferring the glass substrate to another storage cassette, the robot (RB) provided in the substrate transfer line 12. 27, and temporarily transferred to the buffer (BF) 28.

また、上記基板移載ライン12は、品質条件を満たしていないガラス基板(以下、NG基板と記す)の内、再生処理が不可能な基板を破砕用基板としてRB27によって破砕機29に移載する。   The substrate transfer line 12 transfers a substrate that cannot be regenerated among glass substrates that do not satisfy quality requirements (hereinafter referred to as NG substrate) to the crusher 29 by the RB 27 as a crushing substrate. .

上記破砕用基板以外のNG基板は工程内ストッカ13にストックされた後、再生ライン11に投入され再生される。   NG substrates other than the crushing substrate are stocked in the in-process stocker 13 and then loaded into the regeneration line 11 for regeneration.

図4に示すカラーフィルタ用ガラス基板製造ラインは、各ライン(BMライン〜PS/VA)の処理が終了した後にガラス基板は工程内ストッカにストックされ、その後、次の処理ラインに搬入される形態であって、いわゆる各ラインが独立している場合を例示したものであるが、例えば露光装置や現像装置といった装置をいわゆるJob−Shopと呼ばれる共通で用いたり、インクジェットによる画素形成装置によって構成しても良い。また、最終検査ライン20や再生ライン11をカラーフィルタ用ガラス基板製造ライン10
から分離しても良く、ラインの形態は適宜構成すれば良い。
In the color filter glass substrate production line shown in FIG. 4, after the processing of each line (BM line to PS / VA) is completed, the glass substrate is stocked in the in-process stocker and then carried into the next processing line. In this example, each line is independent. For example, a device such as an exposure device or a development device is commonly used as a so-called job-shop, or configured by an ink-jet pixel forming device. Also good. Further, the final inspection line 20 and the regeneration line 11 are replaced with the glass substrate production line 10 for the color filter.
The line shape may be appropriately configured.

図5に本発明に係るカラーフィルタ用ガラス基板の不良基板のロット構成方法が適用されるシステム構成例を示す。   FIG. 5 shows an example of a system configuration to which the lot configuration method for defective substrates of the color filter glass substrate according to the present invention is applied.

不良基板のロット構成方法が適用されるシステムは、各種マスター情報管理部31、再生用ロット情報管理部32、基板情報管理部33、基板回収情報受信部34、カセット情報管理部35、基板移載計画管理部36、基板移載指示送信部37を備えている。   The system to which the defective substrate lot configuration method is applied includes various master information management unit 31, reproduction lot information management unit 32, substrate information management unit 33, substrate collection information reception unit 34, cassette information management unit 35, and substrate transfer. A plan management unit 36 and a substrate transfer instruction transmission unit 37 are provided.

各種マスター情報管理部31は、ガラス材質情報マスターと製造品名情報マスターと製造工程情報マスターと再生処理可能時間設定情報の管理を行う。   The various master information management units 31 manage the glass material information master, the manufactured product name information master, the manufacturing process information master, and the reproduction processable time setting information.

ガラス材質情報マスターを表1に示す。   Table 1 shows the glass material information master.

Figure 2011248102
Figure 2011248102

ガラス材質情報マスターでは、ガラス製造メーカー情報とガラス材質情報をリスト管理する。   The glass material information master manages a list of glass manufacturer information and glass material information.

製造品名マスターを表2に示す。   The product name master is shown in Table 2.

Figure 2011248102
Figure 2011248102

製造品名マスターでは、製造品名名称情報と製造品名コード情報をリスト管理する。   The product name master manages a list of product name name information and product name code information.

製造工程マスターを表3に示す。   Table 3 shows the manufacturing process master.

Figure 2011248102
Figure 2011248102

製造工程マスターでは、製造工程名称情報と製造工程コード情報をリスト管理する。   The manufacturing process master manages a list of manufacturing process name information and manufacturing process code information.

再生用ロット情報管理部32では、同一の処理条件で再生処理が実施できる基板状態を、各種マスター情報を用いてマトリックス管理する。   The reproduction lot information management unit 32 performs matrix management of substrate states that can be reproduced under the same processing conditions using various master information.

再生用ロット情報管理部32で行われるマトリックス管理の一例を表4に示す。   An example of matrix management performed by the reproduction lot information management unit 32 is shown in Table 4.

Figure 2011248102
Figure 2011248102

再生用ロット情報管理部32で行われる表4に示されるマトリックス管理では、ガラス材質と再生回数と最終処理工程と製造品名の各情報から、当てはまるロット番号への変換の定義を行う。表4に示されるマトリックス管理では、ロット1からロット34までの再生工程投入用ロットがあり、例えばガラス材質がA1、再生回数が0回、最終処理工程がP1、製造品名がXXXに当てはまるガラス基板をロット1とし、更にロット1のガラス基板は破砕対象であることを示している。なお、再生処理が不可能なガラス不良(ガラス基板受入工程、再生工程でのNG品等)は、他の基板と混在しないように、別のロット番号に組み付くよう定義を行う。   In the matrix management shown in Table 4 performed by the reproduction lot information management unit 32, conversion to a corresponding lot number is defined from each information of the glass material, the number of reproductions, the final processing step, and the manufactured product name. In the matrix management shown in Table 4, there are lots for inputting the recycling process from lot 1 to lot 34. For example, a glass substrate in which the glass material is A1, the number of recycling is 0, the final processing process is P1, and the manufactured product name is XXX. Represents lot 1, and the glass substrate of lot 1 is to be crushed. It should be noted that a glass defect that cannot be reclaimed (glass substrate receiving process, NG product in the reclaiming process, etc.) is defined to be attached to another lot number so as not to be mixed with other substrates.

基板情報管理部33では、ガラス製造メーカーよりガラス基板新規受入時にはガラス材質情報を取得し、また製造品名への引当時には製造品名情報を取得して、基板単位で各情報を紐付けて管理する。なお、ガラス基板新規受入時には、再生回数は0回として管理を
行う。
The substrate information management unit 33 acquires glass material information when a new glass substrate is received from a glass manufacturer, and acquires the product name information when allocating the product name, and manages the information in association with each substrate. When a new glass substrate is received, the number of reproductions is set to 0.

基板回収情報受信部34では、例えばEthernet(登録商標)、CC Link(Control & Communication Link)、光ケーブル等により接続された各処理装置や搬送装置や検査装置等より取得した他システムからの基板回収情報(回収した工程情報、判定情報、回収カセット情報(カセット番号および収納段数)、回収日時)38を取得する。   In the substrate collection information receiving unit 34, for example, substrate collection information from other systems acquired from each processing device, transfer device, inspection device, etc. connected by Ethernet (registered trademark), CC Link (Control & Communication Link), optical cable, etc. (Recovered process information, determination information, recovery cassette information (cassette number and number of storage stages), recovery date and time) 38 is acquired.

基板情報管理部33では、基板回収情報受信部34で取得した前記基板回収情報を前記ガラス材質情報と前記製造品名情報とを合わせて管理を行う。尚、基板が回収された工程が再生工程であった場合には、再生回数をインクリメントするものとする。この時点で基板情報管理部33に、不良基板を再生用ロットへ自動変換するための情報が全て揃う。   The substrate information management unit 33 manages the substrate collection information acquired by the substrate collection information receiving unit 34 by combining the glass material information and the manufactured product name information. When the process of collecting the substrate is a regeneration process, the number of regenerations is incremented. At this point, the board information management unit 33 has all the information for automatically converting the defective board into a lot for reproduction.

基板情報管理部33では、回収された基板がNG基板であった場合には、再生用ロット情報管理部32に問合せを行い、自動変換する再生投入用ロット番号の取得を行う。   When the collected substrate is an NG substrate, the substrate information management unit 33 makes an inquiry to the reproduction lot information management unit 32 and acquires the reproduction input lot number to be automatically converted.

基板情報管理部33では、再生投入用ロット番号への自動変換が正常に完了した後に、基板単位で再生処理されるまでの経過時間(ガラス基板がNG基板とされた時点から再生処理に移行するまでの時間)を監視し、マスター設定している再生処理可能時間をオーバーした基板に関しては、自動破砕処理の対象基板とする。   In the substrate information management unit 33, after the automatic conversion to the recycle input lot number is normally completed, the elapsed time until the recycle processing is performed for each substrate (from the time when the glass substrate is changed to the NG substrate, the process proceeds to the recycle processing). Time), and a substrate that has exceeded the settable master processing time is set as a target substrate for automatic crushing processing.

カセット情報管理部35では、基板情報管理部33から前記基板回収情報と前記ガラス材質情報と前記製造品名情報を取得し、カセット単位の再生ロットの収納状況、および再生処理可能時間オーバーによる自動破砕対象基板の収納状況を管理する。   In the cassette information management unit 35, the substrate collection information, the glass material information, and the manufactured product name information are acquired from the substrate information management unit 33, and the automatic crushing target due to the storage status of the regenerated lot in units of cassettes and the recyclable processing time exceeded. Manage the storage status of the board.

基板移載計画管理部36では、カセット情報管理部35よりカセット毎に再生ロットの収納状況、および再生処理可能時間オーバーによる自動破砕対象基板の収納状況に関する情報を取得し、同一カセット内に再生工程投入用のロット番号が混在していないか、破砕すべき基板は収納されていないか(ロット番号および再生処理可能時間オーバー基板の有無)をチェックし、上記条件に合致する場合は、基板移載ラインでの処理計画を自動策定する。   In the substrate transfer plan management unit 36, the cassette information management unit 35 acquires information on the storage status of the regenerated lot for each cassette and the storage status of the substrate to be automatically crushed due to the excess of the recyclable processing time. Check if the lot number for input is mixed or if the substrate to be crushed is not stored (lot number and whether there is a substrate that has exceeded the recyclable time). Automatically formulate a processing plan for the line.

上記基板移載計画管理部36における移載の判断処理のフローを図6に示す。開始(S1)後、カセット内に再生用ロット番号が混載せず(S2のNO)、更にカセット内に破砕行き基板を収納していない場合(S3のNO)は、移載は必要なしと判断されずフローは終了(S5)する。一方、ステップ(S3)でカセット内に破砕行き基板を収納している場合(S3のYES)は、破砕行き基板の破砕処理が必要と判断(S6)される。   FIG. 6 shows a flow of transfer determination processing in the substrate transfer plan management unit 36. After the start (S1), if the lot number for recycling is not mixedly loaded in the cassette (NO in S2), and if the crushing substrate is not stored in the cassette (NO in S3), it is determined that transfer is not necessary. Otherwise, the flow ends (S5). On the other hand, if the crushing substrate is stored in the cassette in step (S3) (YES in S3), it is determined that crushing processing of the crushing substrate is necessary (S6).

ステップ(S2)において、カセット内に再生用ロット番号が混載しており(S2のYES)、更にカセット内に破砕行き基板を収納していない場合(S4のNO)は、基板の集積処理移載が必要(S7)と判断される。一方、ステップ(S4)でカセット内に破砕行き基板を収納している場合(S4のYES)は、基板の集積と破砕行き基板の破砕処理が必要と判断(S8)される。   In step (S2), when the lot number for reproduction is mixedly loaded in the cassette (YES in S2), and the crushing substrate is not stored in the cassette (NO in S4), the substrate accumulation processing is transferred. Is determined to be necessary (S7). On the other hand, if the crushing substrate is stored in the cassette in step (S4) (YES in S4), it is determined that the substrate accumulation and the crushing processing of the crushing substrate are necessary (S8).

基板移載指示送信部37では前記移載の判断処理フローに基づき、基板移載および破砕が必要と判断した場合には、他システムへ基板移載指示を発行する。なお、基板移載指示情報には、以下の内容が含まれるものとする。
(1)どのポートへどのカセットを搬送するかの情報。
ULDポートへは、集積するロットの格納カセットで端数のカセットがあれば、該当カセットを優先的に搬送するロジックを有することで、カセットの有効利用が可能となる。
(2)LDポートへ搬送したカセットの何段目から、ULDポートへ搬送したカセットの何段目に、もしくはBFへ移動をさせるかの情報。
(3)BFへ移動した基板を、ULDポートへ搬送したカセットの何段目に移動をさせるかの情報。
(4)LDポートへ搬送したカセットの何段目の基板を破砕機へ搬送するかの情報。
The substrate transfer instruction transmitting unit 37 issues a substrate transfer instruction to another system when it is determined that the substrate transfer and crushing are necessary based on the transfer determination process flow. The substrate transfer instruction information includes the following contents.
(1) Information about which cassette is transported to which port.
If there are fractional cassettes for storing lots to be accumulated in the ULD port, the cassette can be used effectively by having a logic for preferentially transporting the cassettes.
(2) Information on the level of the cassette conveyed to the LD port, the level of the cassette conveyed to the ULD port, or the movement to the BF.
(3) Information on which stage of the cassette that has moved the substrate moved to the BF to the ULD port is moved.
(4) Information on how many stages of the substrate conveyed to the LD port are conveyed to the crusher.

上記処理を行うことで、1つのカセットには1つの再生工程投入用ロット番号の基板のみが収納された状態となる。この結果、再生工程へ同一ロット番号(同じ条件で再生処理が可能)の基板をカセット単位でまとめて投入することが可能となる。   By performing the above processing, only one substrate having a lot number for inputting a reproduction process is stored in one cassette. As a result, substrates of the same lot number (recycling can be performed under the same conditions) can be put together into the recycling process in cassette units.

カセット情報管理部35では、再生ラインへ投入可能な状態となった時点で、再生ラインへの投入順番を割り当て、投入順番に従い搬送を行うことによって古い基板より順次再生処理を行うことが可能となる。   When the cassette information management unit 35 is ready to be put into the reproduction line, it is possible to perform reproduction processing sequentially from the old substrate by assigning the loading order to the reproduction line and carrying in accordance with the loading order. .

以上のように、本発明による不良基板のロット構成方法及びロット構成システムによれば、予め不良基板をロットに区分することによって、ロット毎に再生処理工程に投入することによって再生処理条件の変更の回数を減少させることが出来、その結果、再生処理に伴う段取り時間が短縮され、再生処理装置の稼働率を向上させることが可能となる。   As described above, according to the lot configuration method and the lot configuration system for defective substrates according to the present invention, the defective substrate is divided into lots in advance, and the regeneration processing conditions can be changed by inputting each lot into the regeneration processing step. The number of times can be reduced. As a result, the setup time associated with the reproduction process can be shortened, and the operation rate of the reproduction processing apparatus can be improved.

また、再生処理条件の変更回数を減少させることによって、変更時に発生する品質の変動に伴う不良ロスと条件出しに伴う薬液の消費を低減することが可能となる。   Further, by reducing the number of times of changing the regeneration processing conditions, it is possible to reduce the loss of defects due to the quality variation that occurs at the time of change and the consumption of the chemical solution that accompanies the conditions.

更に、再生処理が不可能な基板を破砕処理基板とすることで、再生工程への破砕処理基板の流出防止、および不要な収納カセットの棚の削減が可能となる。   Furthermore, by making a substrate that cannot be reclaimed into a crushing substrate, it is possible to prevent the crushing substrate from flowing out into the regeneration process and to reduce unnecessary storage cassette shelves.

1・・・カラーフィルタ
2・・・ガラス基板
3・・・ブラックマトリックス(BM)
4−1・・・レッドRの着色画素(R画素)
4−2・・・グリーンGの着色画素(G画素)
4−3・・・ブルーBの着色画素(B画素)
5・・・透明電極
6・・・フォトスペーサー(PS)
7・・・バーテイカルアライメント(VA)
10・・・カラーフィルタ用ガラス基板製造ライン
11・・・再生ライン
12・・・基板集積用の基板移載ライン
13・・・工程内ストッカー
14・・・BMライン
15・・・Rライン
16・・・Gライン
17・・・Bライン
18・・・ITOライン
19・・・PS/VAライン
20・・・最終検査ライン
21・・・受入ライン
22・・・出荷ライン
23・・・入出荷ストッカー
24・・・LD(ローダ)
25・・・ULD(アンローダ)
26・・・LD
27・・・ロボット(RB)
28・・・バッファ(BF)
29・・・破砕機
31・・・各種マスター情報管理部
32・・・再生用ロット情報管理部
33・・・基板情報管理部
34・・・基板回収情報受信部
35・・・カセット情報管理部
36・・・基板移載計画管理部
37・・・基板移載指示送信部
38・・・基板回収情報
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Color filter 2 ... Glass substrate 3 ... Black matrix (BM)
4-1 ... Red R colored pixels (R pixels)
4-2 ... Green G coloring pixel (G pixel)
4-3 ... Blue B colored pixels (B pixels)
5 ... Transparent electrode 6 ... Photospacer (PS)
7 ... Vertical alignment (VA)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Color filter glass substrate manufacturing line 11 ... Regeneration line 12 ... Substrate transfer line 13 for substrate integration ... In-process stocker 14 ... BM line 15 ... R line 16・ ・ G line 17 ... B line 18 ... ITO line 19 ... PS / VA line 20 ... Final inspection line 21 ... Reception line 22 ... Shipping line 23 ... Receiving / shipping stocker 24 ... LD (loader)
25 ... ULD (Unloader)
26 ... LD
27 ... Robot (RB)
28 ... Buffer (BF)
29 ... Crusher 31 ... Various master information management units 32 ... Reproduction lot information management unit 33 ... Substrate information management unit 34 ... Substrate collection information reception unit 35 ... Cassette information management unit 36 ... Substrate transfer plan management unit 37 ... Substrate transfer instruction transmission unit 38 ... Substrate recovery information

Claims (8)

カラーフィルタ製造工程で発生した不良ガラス基板を再生処理して再利用するために少なくとも、
前記不良ガラス基板のガラス材質情報と、
前記不良ガラス基板のこれまで行われた再生回数情報と、
前記不良ガラス基板の最後の製造処理が行われた最終処理工程情報と、
ガラス基板の製造品名情報と、を用いて前記不良基板を再生工程に投入するためのロットに区分することを特徴とする不良基板のロット構成方法。
In order to recycle and reuse the defective glass substrate generated in the color filter manufacturing process,
Glass material information of the defective glass substrate;
Information on the number of times the defective glass substrate has been reproduced so far,
Final process information on the last manufacturing process of the defective glass substrate,
A defective substrate lot composition method, characterized in that the defective substrate is divided into lots for use in a recycling process using product name information of a glass substrate.
前記再生工程に投入するためのロットは、ガラス材質と再生回数と最終処理工程と製造品名からなるロットマトリックスを用いて作成されることを特徴とする請求項1に記載の不良基板のロット構成方法。   2. The defective substrate lot composition method according to claim 1, wherein a lot to be input into the regeneration process is created by using a lot matrix comprising a glass material, the number of times of regeneration, a final processing process, and a product name. . 前記不良ガラス基板は前記ロットマトリックスの中から合致したロットに区分されることを特徴とする請求項1または2に記載の不良基板のロット構成方法。   3. The method of claim 1 or 2, wherein the defective glass substrate is divided into matching lots from the lot matrix. 前記ロットマトリックスの中から合致したロットに区分された不良基板の内、再生処理が不可能であるガラス不良品を破砕処理基板とすることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の不良基板のロット構成方法。   4. The defective glass substrate that cannot be regenerated among defective substrates divided into matching lots from the lot matrix is used as a crushing substrate. 5. Lot configuration method for defective substrates. 請求項1から4に記載の不良基板のロット構成方法を用いて不良基板のロットを構成することを特徴とする不良基板のロット構成システム。   5. A defective substrate lot configuration system, wherein a defective substrate lot is configured using the defective substrate lot configuration method according to claim 1. 前記区分されたロット毎に不良基板をカセットに集積することを特徴とする請求項5に記載の不良基板のロット構成システム。   6. The defective substrate lot configuration system according to claim 5, wherein defective substrates are accumulated in a cassette for each of the divided lots. 前記カセットに集積された不良基板の収納状態を監視して、端数収納のカセットを優先して搬送することを特徴とする請求項5または6に記載の不良基板のロット構成システム。   7. The defective substrate lot configuration system according to claim 5, wherein the storage state of the defective substrates integrated in the cassette is monitored, and the fractional storage cassette is preferentially transported. 再生工程へ投入可能な状態となったカセットに対して、ロット単位で順番に番号を割り振り、割り振られた番号順に再生工程にカセットを投入することを特徴とする請求項5から7のいずれかに記載の不良基板のロット構成システム。   8. A cassette according to any one of claims 5 to 7, characterized in that numbers are assigned in order to lots of cassettes that are ready to be input into the reproduction process, and cassettes are input into the reproduction process in the order of the assigned numbers. Lot configuration system for defective substrates as described.
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