JP2011204069A - テスト方法およびテスト仕様書テストデータ自動生成装置 - Google Patents
テスト方法およびテスト仕様書テストデータ自動生成装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011204069A JP2011204069A JP2010071584A JP2010071584A JP2011204069A JP 2011204069 A JP2011204069 A JP 2011204069A JP 2010071584 A JP2010071584 A JP 2010071584A JP 2010071584 A JP2010071584 A JP 2010071584A JP 2011204069 A JP2011204069 A JP 2011204069A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- data
- specifications
- design document
- test specification
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
【解決手段】複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書11、12を作成するステップと、設計書11、12に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書11、12に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。このようなテスト方法は、そのテスト仕様書とテストデータとを生成する工数をより低減することができ、そのテスト仕様書とテストデータとの生成時の人手によるミスを低減することができる。その結果、このようなテスト方法は、設計書11、12に基づいて作成されたプログラムをより適切にテストすることができ、そのプログラムの品質劣化をより低減することができる。
【選択図】図4
Description
設計書を所定のフォーマットで作成するステップと、
前記設計書に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、
前記設計書に基づいて作成されたプログラムを前記テスト仕様書と前記テストデータとに基づいてテストするステップ
とを具備するテスト方法。
設計書を所定のフォーマットで作成することによれば、そのテスト仕様書とテストデータとは、その設計書に基づいてコンピュータにより自動的に生成することができる。このため、このようなテスト方法は、そのテスト仕様書とテストデータとを生成する工数をより低減することができ、さらに、そのテスト仕様書とテストデータとの生成における人手によるミスを防止することができる。その結果、このようなテスト方法は、その設計書に基づいて作成されたプログラムをより適切にテストすることができ、そのプログラムの品質劣化をより低減することができる。
付記1において、
前記設計書は、
前記プログラムのために個別に作成された複数の個別仕様と、
前記複数の個別仕様と異なる複数の共通仕様とを判別可能に示し、
前記コンピュータは、前記複数の個別仕様に基づいてそれぞれ生成される複数のテスト仕様書部分を統合することにより前記テスト仕様書を生成する
テスト方法。
付記2において、
前記テスト仕様書は、前記複数の個別仕様に対応する複数のテスト項目が記述され、
前記コンピュータは、前記複数のテスト項目の各テスト項目が前記テスト仕様書に記述される順番が前記複数の個別仕様のうちの前記各テスト項目に対応する個別仕様が前記設計書に記述される順番と同じになるように、前記テスト仕様書を生成する
テスト方法。
付記2または付記3のいずれかにおいて、
前記複数の共通仕様に関する共通テスト項目を作成するステップをさらに具備し、
前記コンピュータは、前記共通テスト項目にさらに基づいて前記テスト仕様書を生成する
テスト方法。
付記2〜付記4のいずれかにおいて、
テストデータ生成パターンを作成するステップをさらに具備し、
前記コンピュータは、前記テストデータ生成パターンにさらに基づいて前記テストデータを生成する
テスト方法。
付記2〜付記5のいずれかにおいて、
前記プログラムに用いられるデータのデータ定義を作成するステップをさらに具備し、
前記コンピュータは、前記データ定義にさらに基づいて前記テストデータを生成する
テスト方法。
付記1〜付記6のいずれかに記載されるテスト方法と、
前記プログラムをテストしたテスト結果に基づいて前記プログラムをデバッグするステップ
とを具備するコンピュータプログラム作成方法。
入力装置を介して入力された設計書に記述される複数の仕様のうちから、前記設計書より作成されるプログラムのために個別に記述された複数の個別仕様を抽出する個別処理取得手段と、
前記複数の個別仕様に基づいて生成される複数のテスト仕様書部分を統合することによりテスト仕様書を生成するテスト仕様書生成手段と、
前記複数の個別仕様の一部に基づいてテストデータを生成するテストデータ生成手段とを具備し、
前記テスト仕様書と前記テストデータとは、前記プログラムをテストすることに利用される
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。
付記8において、
前記テスト仕様書は、前記複数の個別仕様に対応する複数のテスト項目が記述され、
前記テスト仕様書生成手段は、前記複数のテスト項目の各テスト項目が前記テスト仕様書に記述される順番が前記複数の個別仕様の前記各テスト項目に対応する処理が前記設計書に記述される順番と同じになるように、前記テスト仕様書を生成する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。
付記8または付記9のいずれかにおいて、
前記複数の個別処理取得手段は、前記複数の個別仕様のうちから条件分岐を示す条件分岐仕様を抽出する条件分岐取得手段を含み、
前記複数のテスト仕様書部分は、前記条件分岐仕様に基づいて生成される条件分岐テスト仕様書部分を含み、
前記テストデータ生成手段は、前記条件分岐仕様に基づいて前記テストデータを生成する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。
付記8〜付記10のいずれかにおいて、
前記複数のテスト仕様書部分は、入力装置を介して入力された共通テスト項目をさらに含み、
前記共通テスト項目は、前記複数の仕様のうちの前記複数の個別仕様と異なる複数の共通仕様に関する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。
付記8〜付記11のいずれかにおいて、
前記テストデータ生成手段は、入力装置を介して入力されたテストデータ生成パターンにさらに基づいて前記テストデータを生成する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。
付記8〜付記12のいずれかにおいて、
前記テストデータ生成手段は、前記プログラムに用いられるデータのデータ定義にさらに基づいて前記テストデータを生成する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。
付記8〜付記13のいずれかに記載されるテスト仕様書テストデータ自動生成装置をコンピュータに実現させる
コンピュータプログラム。
付記14に記載されるコンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
101:設計書
102:カーソル定義取得手段
103:ビジネスロジック取得手段
104:条件分岐取得手段
105:出力編集取得手段
106:カーソル定義テスト仕様書生成手段
107:ビジネスロジックテスト仕様書生成手段
108:条件分岐テスト仕様書生成手段
109:出力編集テスト仕様書生成手段
110:条件分岐テストデータ生成手段
111:出力編集テストデータ生成手段
112:テストパターン入力手段
113:共通テスト項目
114:テスト仕様書統合手段
115:テスト仕様書
116:テストデータ
117:データ定義
1 :処理概要設計書テンプレート
2 :処理詳細設計書テンプレート
3 :出力編集仕様設計書テンプレート
5 :共通部分
6 :カスタマイズ部分
7 :ユーザ追記部分
8 :処理名称部分
11:処理概要設計書
12:処理詳細設計書
14:ビジネスロジックテスト仕様書
15:カーソル定義テスト仕様書
16:部分
17:部分
18:部分
19:条件分岐テスト仕様書
20:出力編集設計書
21:出力編集テスト仕様書
25:データ生成パターン
402:部分
403:部分
404:部分
405:部分
701:部分
702:部分
703:部分
Claims (10)
- 設計書を所定のフォーマットで作成するステップと、
前記設計書に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、
前記設計書に基づいて作成されたプログラムを前記テスト仕様書と前記テストデータとに基づいてテストするステップ
とを具備するテスト方法。 - 請求項1において、
前記設計書は、
前記プログラムのために個別に作成された複数の個別仕様と、
前記複数の個別仕様と異なる複数の共通仕様とを判別可能に示し、
前記コンピュータは、前記複数の個別仕様に基づいてそれぞれ生成される複数のテスト仕様書部分を統合することにより前記テスト仕様書を生成する
テスト方法。 - 請求項2において、
前記テスト仕様書は、前記複数の個別仕様に対応する複数のテスト項目が記述され、
前記コンピュータは、前記複数のテスト項目の各テスト項目が前記テスト仕様書に記述される順番が前記複数の個別仕様のうちの前記各テスト項目に対応する個別仕様が前記設計書に記述される順番と同じになるように、前記テスト仕様書を生成する
テスト方法。 - 請求項2または請求項3のいずれかにおいて、
前記複数の共通仕様に関する共通テスト項目を作成するステップをさらに具備し、
前記コンピュータは、前記共通テスト項目にさらに基づいて前記テスト仕様書を生成する
テスト方法。 - 請求項2〜請求項4のいずれかにおいて、
テストデータ生成パターンを作成するステップをさらに具備し、
前記コンピュータは、前記テストデータ生成パターンにさらに基づいて前記テストデータを生成する
テスト方法。 - 入力装置を介して入力された設計書に記述される複数の仕様のうちから、前記設計書より作成されるプログラムのために個別に記述された複数の個別仕様を抽出する個別処理取得手段と、
前記複数の個別仕様に基づいて生成される複数のテスト仕様書部分を統合することによりテスト仕様書を生成するテスト仕様書生成手段と、
前記複数の個別仕様の一部に基づいてテストデータを生成するテストデータ生成手段とを具備し、
前記テスト仕様書と前記テストデータとは、前記プログラムをテストすることに利用される
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。 - 請求項6において、
前記テスト仕様書は、前記複数の個別仕様に対応する複数のテスト項目が記述され、
前記テスト仕様書生成手段は、前記複数のテスト項目の各テスト項目が前記テスト仕様書に記述される順番が前記複数の個別仕様の前記各テスト項目に対応する処理が前記設計書に記述される順番と同じになるように、前記テスト仕様書を生成する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。 - 請求項6または請求項7のいずれかにおいて、
前記複数の個別処理取得手段は、前記複数の個別仕様のうちから条件分岐を示す条件分岐仕様を抽出する条件分岐取得手段を含み、
前記複数のテスト仕様書部分は、前記条件分岐仕様に基づいて生成される条件分岐テスト仕様書部分を含み、
前記テストデータ生成手段は、前記条件分岐仕様に基づいて前記テストデータを生成する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。 - 請求項6〜請求項8のいずれかにおいて、
前記複数のテスト仕様書部分は、入力装置を介して入力された共通テスト項目をさらに含み、
前記共通テスト項目は、前記複数の仕様のうちの前記複数の個別仕様と異なる複数の共通仕様に関する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。 - 請求項6〜請求項9のいずれかにおいて、
前記テストデータ生成手段は、入力装置を介して入力されたテストデータ生成パターンにさらに基づいて前記テストデータを生成する
テスト仕様書テストデータ自動生成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010071584A JP2011204069A (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | テスト方法およびテスト仕様書テストデータ自動生成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010071584A JP2011204069A (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | テスト方法およびテスト仕様書テストデータ自動生成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011204069A true JP2011204069A (ja) | 2011-10-13 |
Family
ID=44880637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010071584A Pending JP2011204069A (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | テスト方法およびテスト仕様書テストデータ自動生成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011204069A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9098630B2 (en) | 2012-07-10 | 2015-08-04 | International Business Machines Corporation | Data selection |
JP2017500646A (ja) * | 2013-12-18 | 2017-01-05 | アビニシオ テクノロジー エルエルシー | データ生成 |
DE102021214519A1 (de) | 2021-03-12 | 2022-09-15 | Mitsubishi Electric Corporation | Elektronisches steuersystem, testvorrichtung für elektronisches steuersystem und testverfahren für elektronisches steuersystem |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09282197A (ja) * | 1996-04-19 | 1997-10-31 | Nec Corp | テストデータ生成装置 |
JPH10228396A (ja) * | 1997-02-17 | 1998-08-25 | Fujitsu Ltd | ソフトウェア検査用データ処理装置 |
JP2002259161A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | テストスクリプトの自動生成装置 |
JP2004220330A (ja) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Toshiba Solutions Corp | テスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、データベースの構築方法、テスト仕様作成プログラム |
JP2004265326A (ja) * | 2003-03-04 | 2004-09-24 | Fujitsu Ltd | テスト支援プログラムおよびテスト支援方法 |
JP2006260390A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Nomura Research Institute Ltd | テストケース生成プログラム及び方法 |
JP2007323371A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Hitachi Ltd | データマッピング方法、および、データマッピング装置 |
JP2009289162A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 制御プログラム及び試験方案自動作成装置 |
-
2010
- 2010-03-26 JP JP2010071584A patent/JP2011204069A/ja active Pending
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09282197A (ja) * | 1996-04-19 | 1997-10-31 | Nec Corp | テストデータ生成装置 |
JPH10228396A (ja) * | 1997-02-17 | 1998-08-25 | Fujitsu Ltd | ソフトウェア検査用データ処理装置 |
JP2002259161A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | テストスクリプトの自動生成装置 |
JP2004220330A (ja) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Toshiba Solutions Corp | テスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、データベースの構築方法、テスト仕様作成プログラム |
JP2004265326A (ja) * | 2003-03-04 | 2004-09-24 | Fujitsu Ltd | テスト支援プログラムおよびテスト支援方法 |
JP2006260390A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Nomura Research Institute Ltd | テストケース生成プログラム及び方法 |
JP2007323371A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Hitachi Ltd | データマッピング方法、および、データマッピング装置 |
JP2009289162A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 制御プログラム及び試験方案自動作成装置 |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
CSND200601278025; 渡部章: 'Webアプリの防衛 ポイントはパラメータのチェック 不正な要求を確実に見つける' 日経NETWORK 第75号, 20060622, pp.160-165, 日経BP社 * |
CSND200900297023; 村岡淳子: '技術屋のためのExcel効率化の処方箋' システム開発ジャーナル 第2巻, 20080129, pp.126-127, 株式会社毎日コミュニケーションズ * |
JPN6014012706; 村岡淳子: '技術屋のためのExcel効率化の処方箋' システム開発ジャーナル 第2巻, 20080129, pp.126-127, 株式会社毎日コミュニケーションズ * |
JPN6014012707; 渡部章: 'Webアプリの防衛 ポイントはパラメータのチェック 不正な要求を確実に見つける' 日経NETWORK 第75号, 20060622, pp.160-165, 日経BP社 * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9098630B2 (en) | 2012-07-10 | 2015-08-04 | International Business Machines Corporation | Data selection |
JP2017500646A (ja) * | 2013-12-18 | 2017-01-05 | アビニシオ テクノロジー エルエルシー | データ生成 |
US10185641B2 (en) | 2013-12-18 | 2019-01-22 | Ab Initio Technology Llc | Data generation |
US10437701B2 (en) | 2013-12-18 | 2019-10-08 | Ab Initio Technology Llc | Data generation |
DE102021214519A1 (de) | 2021-03-12 | 2022-09-15 | Mitsubishi Electric Corporation | Elektronisches steuersystem, testvorrichtung für elektronisches steuersystem und testverfahren für elektronisches steuersystem |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9104810B2 (en) | Creating a test case | |
JP4667386B2 (ja) | 業務モデル図作成支援プログラム、業務モデル図作成支援方法、および業務モデル図作成支援装置 | |
US8230370B2 (en) | Circuit design assisting apparatus, computer-readable medium storing circuit design assisting program, and circuit design assisting method | |
US7721253B2 (en) | Software development support system | |
US20120116561A1 (en) | Program testing apparatus, method of testing a program, and program testing program | |
CN109189479B (zh) | 一种用于处理器指令集的并行自动化验证方法 | |
JP2007304998A (ja) | ソースコード生成方法及び装置並びにプログラム | |
US9152539B2 (en) | Tag-based graphical user interface production systems and methods | |
US10169218B2 (en) | Method for automatically validating data against a predefined data specification | |
CN111158656B (zh) | 基于因果树法的测试代码生成方法及装置 | |
JP6440895B2 (ja) | ソフトウェア分析装置及びソフトウェア分析方法 | |
KR101772785B1 (ko) | 프로그램 그래프 표시 장치, 프로그램 그래프 표시 방법 및 프로그램 그래프 표시 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 | |
CN112231197A (zh) | 一种页面测试的方法、装置和存储介质 | |
JP5747698B2 (ja) | 要件管理支援装置 | |
JP2011204069A (ja) | テスト方法およびテスト仕様書テストデータ自動生成装置 | |
JP2008198103A (ja) | 状態遷移図作成装置および状態遷移図作成方法 | |
JP6433468B2 (ja) | プログラム作成支援方法 | |
CN113672509A (zh) | 自动化测试方法、装置、测试平台及存储介质 | |
JP5504212B2 (ja) | テストケース自動生成システム、テストケース自動生成方法、およびテストケース自動生成プログラム | |
JP6062735B2 (ja) | ソフトウェア開発支援装置、ソフトウェア開発支援方法、ソフトウェア開発支援プログラム | |
CN117369789B (zh) | 基于可视化配置工具生成代码的方法及可视化显示设备 | |
CN111427731B (zh) | 一种自动化拆分码流及验证码流的测试方法和系统 | |
JP2008002825A (ja) | テストデータ編集装置 | |
JP2010244439A (ja) | チェックリスト生成装置、チェックリスト生成方法及びチェックリスト生成プログラム | |
JP2008015879A (ja) | 自然文を含む仕様の記述支援方法、プログラムおよびシステム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130207 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131202 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131212 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140205 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140326 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140807 |