JP2011203111A - Current detection circuit - Google Patents

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Kenichi Hirashiki
敷 健 一 平
Minoru Nagata
田 稔 永
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a current detection circuit which can cancel detection of a current change due to charging of parasitic capacity.SOLUTION: The current detection circuit 100 includes: transistors 101 and 102 constituting a CMOS inverter to which a signal S11 is given; a transistor 103 having a drain electrode connected to a source electrode of the transistor 102 and a source electrode to which a power supply voltage VDD is given; resistors 123 and 124 connected in series between the drain electrode of the transistor 103 and a ground line GND; an operational amplifier to which a voltage at a connection point between the resistor 123 and the resistor 124 and a power supply voltage Vref are input and whose output terminal is connected to a gate electrode of the transistor 103; a current monitor circuit monitoring a current flowing through the transistor 103, comparing a monitor current with a reference current, and detecting a current change in an input/output terminal; and capacitor 127 connected to the current monitor circuit and charged by the monitor current.

Description

本発明は、電流検出回路に関するものである。   The present invention relates to a current detection circuit.

接続された他回路へ所定電圧を出力すると共に、入出力端子(他回路との接続端子)を流れる電流の変化を検出する電流検出回路を備えた回路が知られている(例えば特許文献1参照)。   A circuit having a current detection circuit that outputs a predetermined voltage to another connected circuit and detects a change in current flowing through an input / output terminal (a connection terminal with another circuit) is known (see, for example, Patent Document 1). ).

入出力端子には寄生容量が発生し、出力電圧がハイになった時、寄生容量の充電のために電流が引き抜かれる。従来の回路では、この電流の引き抜きが、他回路によるものか、又は寄生容量の充電電流によるものか判別できないという問題があった。   When a parasitic capacitance is generated at the input / output terminal and the output voltage becomes high, a current is drawn for charging the parasitic capacitance. The conventional circuit has a problem that it cannot be determined whether this current extraction is due to another circuit or due to the charging current of the parasitic capacitance.

特開2009−253986号公報JP 2009-253986 A

本発明は、寄生容量の充電に伴う電流変化の検出をキャンセルできる電流検出回路を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a current detection circuit capable of canceling detection of a current change accompanying charging of a parasitic capacitance.

本発明の一態様による電流検出回路は、ゲート電極に制御信号が与えられ、ソース電極がグランドラインに接続され、ドレイン電極が入出力端子に接続された第1NMOSトランジスタと、ゲート電極に前記制御信号が与えられ、ドレイン電極が前記入出力端子及び前記NMOSトランジスタのドレイン電極に接続された第1PMOSトランジスタと、ドレイン電極が前記第1PMOSトランジスタのソース電極に接続され、ソース電極に第1電源電圧が与えられる第2PMOSトランジスタと、前記第2PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間に設けられ、ゲート電極が第1電流源に接続された第2NMOSトランジスタと、前記第2PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間で直列に接続された第1及び第2の抵抗と、前記第1の抵抗と前記第2の抵抗との接続点における電圧及び第2電源電圧が入力され、出力端子が前記第2PMOSトランジスタのゲート電極に接続されたオペアンプと、前記第2PMOSトランジスタを流れる電流をモニタし、モニタ電流と参照電流との比較を行い、前記入出力端子における電流変化の有無を検出する電流モニタ回路と、前記電流モニタ回路に接続され、前記モニタ電流により充電されるキャパシタと、を備えるものである。   A current detection circuit according to one embodiment of the present invention includes a first NMOS transistor in which a control signal is applied to a gate electrode, a source electrode is connected to a ground line, a drain electrode is connected to an input / output terminal, and the control signal is applied to a gate electrode. A first PMOS transistor having a drain electrode connected to the input / output terminal and the drain electrode of the NMOS transistor, a drain electrode connected to the source electrode of the first PMOS transistor, and applying a first power supply voltage to the source electrode. A second PMOS transistor, a second NMOS transistor provided between a drain electrode of the second PMOS transistor and the ground line and having a gate electrode connected to a first current source, a drain electrode of the second PMOS transistor, and the ground Connected in series with the line The first and second resistors, the voltage at the connection point between the first resistor and the second resistor, and the second power supply voltage are input, and the output terminal is connected to the gate electrode of the second PMOS transistor. A current monitor circuit that monitors a current flowing through the operational amplifier and the second PMOS transistor, compares the monitor current with a reference current, and detects whether there is a current change at the input / output terminal; and is connected to the current monitor circuit. And a capacitor charged by the monitor current.

本発明の一態様による電流検出回路は、ゲート電極に制御信号が与えられ、ソース電極がグランドラインに接続され、ドレイン電極が入出力端子に接続された第1NMOSトランジスタと、ゲート電極に前記制御信号が与えられ、ドレイン電極が前記入出力端子及び前記NMOSトランジスタのドレイン電極に接続された第1PMOSトランジスタと、ドレイン電極が前記第1PMOSトランジスタのソース電極に接続され、ソース電極に第1電源電圧が与えられる第2PMOSトランジスタと、前記第2PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間に設けられ、ゲート電極が第1電流源に接続された第2NMOSトランジスタと、前記第2PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間で直列に接続された第1及び第2の抵抗と、前記第1の抵抗と前記第2の抵抗との接続点における電圧及び第2電源電圧が入力され、出力端子が前記第2PMOSトランジスタのゲート電極に接続されたオペアンプと、前記第2PMOSトランジスタを流れる電流をモニタし、モニタ電流と参照電流との比較を行い、前記入出力端子における電流変化の有無を検出する電流モニタ回路と、前記第2PMOSトランジスタを流れる電流の変化を検出する微分回路を含む電流変化検出部と、前記電流変化検出部の検出結果がゲート電極に与えられ、オン時は前記モニタ電流を前記グランドラインに導くトランジスタと、を備えるものである。   A current detection circuit according to one embodiment of the present invention includes a first NMOS transistor in which a control signal is applied to a gate electrode, a source electrode is connected to a ground line, a drain electrode is connected to an input / output terminal, and the control signal is applied to a gate electrode. A first PMOS transistor having a drain electrode connected to the input / output terminal and the drain electrode of the NMOS transistor, a drain electrode connected to the source electrode of the first PMOS transistor, and applying a first power supply voltage to the source electrode. A second PMOS transistor, a second NMOS transistor provided between a drain electrode of the second PMOS transistor and the ground line and having a gate electrode connected to a first current source, a drain electrode of the second PMOS transistor, and the ground Connected in series with the line The first and second resistors, the voltage at the connection point between the first resistor and the second resistor, and the second power supply voltage are input, and the output terminal is connected to the gate electrode of the second PMOS transistor. A current monitor circuit that monitors the current flowing through the second operational amplifier and the second PMOS transistor, compares the monitor current with a reference current, and detects the presence or absence of a current change at the input / output terminal; and the current flowing through the second PMOS transistor A current change detection unit including a differentiating circuit for detecting a change in voltage, and a transistor that provides a detection result of the current change detection unit to a gate electrode and guides the monitor current to the ground line when turned on. .

本発明によれば、寄生容量の充電に伴う電流変化の検出をキャンセルできる。   According to the present invention, it is possible to cancel detection of a current change accompanying charging of a parasitic capacitance.

本発明の第1の実施形態に係る電流検出回路の概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of a current detection circuit according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第2の実施形態に係る電流検出回路の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the current detection circuit which concerns on the 2nd Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第1の実施形態)図1に本発明の第1の実施形態に係る電流検出回路100の概略構成を示す。電流検出回路100は、1本の入出力ラインL1及びグランドラインGNDを介して、デバイス200に対して電圧を出力すると共に、入出力端子(デバイス200との接続端子)における電流変化を検出する。   (First Embodiment) FIG. 1 shows a schematic configuration of a current detection circuit 100 according to a first embodiment of the present invention. The current detection circuit 100 outputs a voltage to the device 200 via one input / output line L1 and the ground line GND, and detects a current change at the input / output terminal (connection terminal to the device 200).

電流検出回路100は、入出力ラインL1を介して出力する電圧のハイ/ローを切り替える。デバイス200が入出力ラインL1を流れる電流を引き抜くか否かで、デバイス100の入出力端子における電流が変化する。デバイス200は、電流検出回路100からの出力電圧の電圧値がハイの期間に、所望のタイミングで入出力ラインL1を流れる電流を引き抜くことができる。   The current detection circuit 100 switches the voltage output through the input / output line L1 between high and low. The current at the input / output terminal of the device 100 changes depending on whether or not the device 200 draws the current flowing through the input / output line L1. The device 200 can draw the current flowing through the input / output line L1 at a desired timing during the period when the voltage value of the output voltage from the current detection circuit 100 is high.

電流検出回路100の入出力端子(入出力ラインL1)には寄生容量C1が発生し、電流検出回路100の出力電圧がハイになった時、寄生容量C1の充電のために電流が引き抜かれる。本実施形態に係る電流検出回路100は、寄生容量C1の充電に伴う電流の引き抜きを、デバイス200による電流の引き抜きであると誤検出することを防止するものである。   A parasitic capacitance C1 is generated at the input / output terminal (input / output line L1) of the current detection circuit 100, and when the output voltage of the current detection circuit 100 becomes high, a current is drawn for charging the parasitic capacitance C1. The current detection circuit 100 according to the present embodiment prevents erroneous detection that current is extracted due to charging of the parasitic capacitance C1 as being current extraction by the device 200.

まず、デバイス200について説明する。デバイス200は、PMOSトランジスタ201、NMOSトランジスタ202〜205、及び電流源206を有する。NMOSトランジスタ202はソース電極がグランドラインGNDに接続され、ドレイン電極がPMOSトランジスタ201のドレイン電極に接続される。NMOSトランジスタ202のゲート電極はPMOSトランジスタ201のゲート電極及び入出力ラインL1に接続される。NMOSトランジスタ202及びPMOSトランジスタ201のドレイン電圧は信号S21となる。   First, the device 200 will be described. The device 200 includes a PMOS transistor 201, NMOS transistors 202 to 205, and a current source 206. The NMOS transistor 202 has a source electrode connected to the ground line GND and a drain electrode connected to the drain electrode of the PMOS transistor 201. The gate electrode of the NMOS transistor 202 is connected to the gate electrode of the PMOS transistor 201 and the input / output line L1. The drain voltages of the NMOS transistor 202 and the PMOS transistor 201 are the signal S21.

NMOSトランジスタ205のドレイン電極と電圧ラインVとの間に電流源206が設けられる。NMOSトランジスタ205のゲート電極にはデバイス200の信号S22が与えられ、ソース電極はNMOSトランジスタ204のドレイン電極、ゲート電極、及びNMOSトランジスタ203のゲート電極に接続される。NMOSトランジスタ204のソース電極はグランドラインGNDに接続される。NMOSトランジスタ203のドレイン電極は入出力ラインL1に接続され、ソース電極はグランドラインGNDに接続される。NMOSトランジスタ203はNMOSトランジスタ204よりサイズの大きいトランジスタであり、サイズ比は例えば75:1である。   A current source 206 is provided between the drain electrode of the NMOS transistor 205 and the voltage line V. The signal S22 of the device 200 is supplied to the gate electrode of the NMOS transistor 205, and the source electrode is connected to the drain electrode and gate electrode of the NMOS transistor 204 and the gate electrode of the NMOS transistor 203. The source electrode of the NMOS transistor 204 is connected to the ground line GND. The drain electrode of the NMOS transistor 203 is connected to the input / output line L1, and the source electrode is connected to the ground line GND. The NMOS transistor 203 is a transistor having a size larger than that of the NMOS transistor 204, and the size ratio is, for example, 75: 1.

デバイス200の信号S22がハイレベルの時、NMOSトランジスタ205がオンする。それにより、NMOSトランジスタ203がオンし、入出力ラインL1を流れる電流が引き抜かれる。入出力ラインL1の電流の引き抜きは、電流検出回路100の出力電圧がハイレベルの時のみ行うことができる。   When the signal S22 of the device 200 is at a high level, the NMOS transistor 205 is turned on. Thereby, the NMOS transistor 203 is turned on, and the current flowing through the input / output line L1 is drawn. The current drawing of the input / output line L1 can be performed only when the output voltage of the current detection circuit 100 is at a high level.

入出力ラインL1から引き抜かれる電流は、電流源206により流される電流Isと、NMOSトランジスタ203、204のサイズ比によって決まる。例えば、NMOSトランジスタ203、204のサイズ比が75:1の場合、入出力ラインL1から引き抜かれる電流は、電流Isの75倍となる。   The current drawn from the input / output line L1 is determined by the current Is supplied from the current source 206 and the size ratio of the NMOS transistors 203 and 204. For example, when the size ratio of the NMOS transistors 203 and 204 is 75: 1, the current drawn from the input / output line L1 is 75 times the current Is.

一方、信号S22がローレベルの時、入出力ラインL1を流れる電流は引き抜かれない。デバイス200は、このようにして入出力ラインL1の電流値を変化させることができる。   On the other hand, when the signal S22 is at a low level, the current flowing through the input / output line L1 is not drawn. In this way, the device 200 can change the current value of the input / output line L1.

次に、電流検出回路100について説明する。NMOSトランジスタ101はソース電極がグランドラインGNDに接続され、ドレイン電極がPMOSトランジスタ102のドレイン電極及び入出力ラインL1に接続される。すなわち、NMOSトランジスタ101のドレイン電極及びPMOSトランジスタ102のドレイン電極が電流検出回路100の入出力端子に接続される。   Next, the current detection circuit 100 will be described. The NMOS transistor 101 has a source electrode connected to the ground line GND, and a drain electrode connected to the drain electrode of the PMOS transistor 102 and the input / output line L1. That is, the drain electrode of the NMOS transistor 101 and the drain electrode of the PMOS transistor 102 are connected to the input / output terminal of the current detection circuit 100.

NMOSトランジスタ101のゲート電極はPMOSトランジスタ102のゲート電極に接続され、信号(制御信号)S11が与えられる。   The gate electrode of the NMOS transistor 101 is connected to the gate electrode of the PMOS transistor 102 and is given a signal (control signal) S11.

PMOSトランジスタ102のソース電極は、PMOSトランジスタ103のドレイン電極と、NMOSトランジスタ110のドレイン電極と、キャパシタ121、122、抵抗123及び抵抗125の一端に接続される。キャパシタ121の他端はグランドラインGNDに接続される。PMOSトランジスタ103により、PMOSトランジスタ102のソース電圧は一定に保たれる。   The source electrode of the PMOS transistor 102 is connected to the drain electrode of the PMOS transistor 103, the drain electrode of the NMOS transistor 110, and one end of the capacitors 121 and 122, the resistor 123, and the resistor 125. The other end of the capacitor 121 is connected to the ground line GND. The source voltage of the PMOS transistor 102 is kept constant by the PMOS transistor 103.

キャパシタ122及び抵抗123の他端は、NMOSトランジスタ105のゲート電極及び抵抗124の一端に接続される。抵抗124の他端はグランドラインGNDに接続される。   The other ends of the capacitor 122 and the resistor 123 are connected to the gate electrode of the NMOS transistor 105 and one end of the resistor 124. The other end of the resistor 124 is connected to the ground line GND.

NMOSトランジスタ104、105、PMOSトランジスタ106、107はオペアンプの差動入力段を構成し、NMOSトランジスタ108はその電流源となる。NMOSトランジスタ104のゲート電極には、電源131により電圧Vrefが与えられる。従って、抵抗123と123との接続点における電圧と電圧Vrefがオペアンプの入力となる。このオペアンプ(差動入力段)の出力信号はPMOSトランジスタ103のゲート電極及びPMOSトランジスタ111のゲート電極に与えられる。また、この出力信号はキャパシタ126を介して抵抗125の他端に与えられる。   The NMOS transistors 104 and 105 and the PMOS transistors 106 and 107 constitute a differential input stage of an operational amplifier, and the NMOS transistor 108 serves as a current source. A voltage Vref is applied to the gate electrode of the NMOS transistor 104 by the power supply 131. Therefore, the voltage at the connection point between the resistors 123 and 123 and the voltage Vref are input to the operational amplifier. The output signal of the operational amplifier (differential input stage) is applied to the gate electrode of the PMOS transistor 103 and the gate electrode of the PMOS transistor 111. Further, this output signal is given to the other end of the resistor 125 via the capacitor 126.

電流源141は、NMOSトランジスタ108〜110のゲート電極、及びNMOSトランジスタ109のドレイン電極に接続される。NMOSトランジスタ108〜110のソース電極はグランドラインGNDに接続される。   The current source 141 is connected to the gate electrodes of the NMOS transistors 108 to 110 and the drain electrode of the NMOS transistor 109. The source electrodes of the NMOS transistors 108 to 110 are connected to the ground line GND.

PMOSトランジスタ103、106、107、111のソース電極には、電源132により電圧VDDが与えられる。   A voltage VDD is applied from the power supply 132 to the source electrodes of the PMOS transistors 103, 106, 107, and 111.

PMOSトランジスタ111のドレイン電極は、NMOSトランジスタ112のドレイン電極、ゲート電極、及びNMOSトランジスタ113のゲート電極に接続される。NMOSトランジスタ112、113のソース電極はグランドラインGNDに接続され、NMOSトランジスタ113のドレイン電極は電流源142及びインバータ150の入力端子に接続される。PMOSトランジスタ111、NMOSトランジスタ112、113、及び電流源142によりPMOSトランジスタ103を流れる電流Im1をモニタする電流モニタ回路が構成される。   The drain electrode of the PMOS transistor 111 is connected to the drain electrode and gate electrode of the NMOS transistor 112 and the gate electrode of the NMOS transistor 113. The source electrodes of the NMOS transistors 112 and 113 are connected to the ground line GND, and the drain electrode of the NMOS transistor 113 is connected to the current source 142 and the input terminal of the inverter 150. The PMOS transistor 111, the NMOS transistors 112 and 113, and the current source 142 constitute a current monitor circuit that monitors the current Im1 flowing through the PMOS transistor 103.

また、PMOSトランジスタ111のドレイン電極とグランドラインGNDとの間にレプリカ容量127が設けられている。   A replica capacitor 127 is provided between the drain electrode of the PMOS transistor 111 and the ground line GND.

続いて、電流検出回路100の動作を説明する。   Next, the operation of the current detection circuit 100 will be described.

電流検出回路100の信号(制御信号)S11がハイレベルの時、PMOSトランジスタ102がオフ、NMOSトランジスタ101がオンし、入出力ラインL1の電圧値はローレベルとなる。一方、信号S11がローレベルの時、PMOSトランジスタ102がオン、NMOSトランジスタ101がオフし、入出力ラインL1の電圧値はハイレベルとなる。電流検出回路100は、このようにして、入出力ラインL1を介して出力する電圧のハイ/ローの2値を切り替える。   When the signal (control signal) S11 of the current detection circuit 100 is at a high level, the PMOS transistor 102 is turned off, the NMOS transistor 101 is turned on, and the voltage value of the input / output line L1 is at a low level. On the other hand, when the signal S11 is at low level, the PMOS transistor 102 is turned on, the NMOS transistor 101 is turned off, and the voltage value of the input / output line L1 becomes high level. In this way, the current detection circuit 100 switches between high and low values of the voltage output via the input / output line L1.

入出力ラインL1の電流が引き抜かれると、PMOSトランジスタ103を流れる電流Im1の電流値が変化し、PMOSトランジスタ111を流れる電流(モニタ電流)Im2が増加する。電流Im2が増加すると、レプリカ容量127が充電される。レプリカ容量127の充電が完了するとNMOSトランジスタ113のドレイン電極に電流が流れ、モニタ電流と電流源142により流される参照電流との電流比較が行われる。   When the current of the input / output line L1 is drawn, the current value of the current Im1 flowing through the PMOS transistor 103 changes, and the current (monitor current) Im2 flowing through the PMOS transistor 111 increases. When the current Im2 increases, the replica capacitor 127 is charged. When the charging of the replica capacitor 127 is completed, a current flows through the drain electrode of the NMOS transistor 113, and a current comparison between the monitor current and the reference current supplied by the current source 142 is performed.

このモニタ電流が、参照電流より大きい場合と小さい場合とで、NMOSトランジスタ113のドレイン電圧は変化する。このドレイン電圧の変化をインバータ150の出力から検出して、信号S12が求められる。このようにして、入出力ラインL1の電流引き抜きの有無を示す信号S12が求められる。   The drain voltage of the NMOS transistor 113 changes depending on whether the monitor current is larger or smaller than the reference current. A change in the drain voltage is detected from the output of the inverter 150, and a signal S12 is obtained. In this way, the signal S12 indicating whether or not the current of the input / output line L1 is drawn is obtained.

入出力ラインL1の電流引き抜きが寄生容量C1の充電によるものであった場合、電流が引き抜かれている時間は極めて短いため、モニタ電流Im2が大きい値をとる時間も極めて短い。従って、レプリカ容量127を充電している間に寄生容量C1の充電に伴う電流引き抜きは終了し、電流検出回路100は、デバイス200により電流が引き抜かれたと誤検出することを防止できる。   When the current drawing of the input / output line L1 is due to the charging of the parasitic capacitance C1, the time during which the current is drawn is very short, so the time that the monitor current Im2 takes a large value is also very short. Therefore, the current extraction accompanying the charging of the parasitic capacitor C1 is completed while the replica capacitor 127 is being charged, and the current detection circuit 100 can prevent erroneous detection that the current is extracted by the device 200.

このように本実施形態に係る電流検出回路によれば、モニタ電流と参照電流とを比較する電流モニタ回路にレプリカ容量127を設け、モニタ電流によりレプリカ容量127の充電が完了するまでは、電流比較を行わせないことにより、寄生容量の充電電流による電流変化(電流引き抜き)の検出をキャンセルできる。   As described above, according to the current detection circuit according to the present embodiment, the replica capacitor 127 is provided in the current monitor circuit that compares the monitor current and the reference current, and the current comparison is performed until the replica capacitor 127 is completely charged by the monitor current. By not performing the detection, the detection of the current change (current extraction) due to the charging current of the parasitic capacitance can be canceled.

(第2の実施形態)図2に本発明の第2の実施形態に係る電流検出回路の概略構成を示す。本実施形態は、図1に示す上記第1の実施形態と比較して、レプリカ容量127を省略し、電流変化検出部160及びNMOSトランジスタ161を設けた点が異なる。図2において、図1に示す第1の実施形態と同一部分には同一符号を付して説明を省略する。   (Second Embodiment) FIG. 2 shows a schematic configuration of a current detection circuit according to a second embodiment of the present invention. This embodiment is different from the first embodiment shown in FIG. 1 in that the replica capacitor 127 is omitted and a current change detection unit 160 and an NMOS transistor 161 are provided. In FIG. 2, the same parts as those of the first embodiment shown in FIG.

電流変化検出部160は、微分回路を含み、電流Im1の変化を微分回路で検出し、検出結果をNMOSトランジスタ161に出力する。   The current change detection unit 160 includes a differentiation circuit, detects a change in the current Im1 with the differentiation circuit, and outputs the detection result to the NMOS transistor 161.

NMOSトランジスタ161はドレイン電極がPMOSトランジスタ111のドレイン電極に接続され、ソース電極がグランドラインGNDに接続され、ゲート電極に電流変化検出部160の検出結果が与えられる。NMOSトランジスタ161は、電流変化検出部160が電流変化を検出するとオンする。NMOSトランジスタ161がオンしている間は、モニタ電流Im2から、NMOSトランジスタ161を流れる電流が差し引かれる。そのため、参照電流と電流比較されるモニタ電流の値が小さくなり、NMOSトランジスタ161がオンしている間は、電流変化の検出をキャンセルできる。   In the NMOS transistor 161, the drain electrode is connected to the drain electrode of the PMOS transistor 111, the source electrode is connected to the ground line GND, and the detection result of the current change detector 160 is given to the gate electrode. The NMOS transistor 161 is turned on when the current change detector 160 detects a current change. While the NMOS transistor 161 is on, the current flowing through the NMOS transistor 161 is subtracted from the monitor current Im2. Therefore, the value of the monitor current that is compared with the reference current becomes small, and detection of the current change can be canceled while the NMOS transistor 161 is on.

寄生容量C1の充電によりモニタ電流Im2が大きい値をとる時間は極めて短い。従って、電流変化検出部160が寄生容量C1の充電による電流変化を検出してNMOSトランジスタ161をオンさせることで、モニタ電流Im2が差し引かれ(モニタ電流Im2の一部がグランドラインGNDに導かれ)、インバータ150の出力値は変化しない。そのため、電流検出回路100は、デバイス200により電流が引き抜かれたと誤検出することを防止できる。   The time for which the monitor current Im2 takes a large value by charging the parasitic capacitance C1 is extremely short. Therefore, the current change detection unit 160 detects the current change due to the charging of the parasitic capacitance C1 and turns on the NMOS transistor 161, whereby the monitor current Im2 is subtracted (a part of the monitor current Im2 is guided to the ground line GND). The output value of the inverter 150 does not change. Therefore, the current detection circuit 100 can prevent erroneous detection that the current is drawn by the device 200.

このように本実施形態に係る電流検出回路は、寄生容量C1の充電電流が時間軸に対して大きな傾きを持つことに着目し、PMOSトランジスタ111、NMOSトランジスタ112、113、及び電流源142により構成される電流モニタ回路の前段に、微分回路を設けて電流変化を検出し、NMOSトランジスタ161をオンさせてモニタ電流Im2を差し引くことで、寄生容量の充電電流による電流変化(電流引き抜き)の検出をキャンセルできる。   As described above, the current detection circuit according to the present embodiment is configured by the PMOS transistor 111, the NMOS transistors 112 and 113, and the current source 142, paying attention to the fact that the charging current of the parasitic capacitance C1 has a large inclination with respect to the time axis. In the preceding stage of the current monitor circuit, a differential circuit is provided to detect a current change, and the NMOS transistor 161 is turned on and the monitor current Im2 is subtracted to detect a current change (current extraction) due to the charging current of the parasitic capacitance. Can be canceled.

なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.

100 電流検出回路
127 レプリカ容量
160 電流変化検出部
100 current detection circuit 127 replica capacity 160 current change detection unit

Claims (5)

ゲート電極に制御信号が与えられ、ソース電極がグランドラインに接続され、ドレイン電極が入出力端子に接続された第1NMOSトランジスタと、
ゲート電極に前記制御信号が与えられ、ドレイン電極が前記入出力端子及び前記NMOSトランジスタのドレイン電極に接続された第1PMOSトランジスタと、
ドレイン電極が前記第1PMOSトランジスタのソース電極に接続され、ソース電極に第1電源電圧が与えられる第2PMOSトランジスタと、
前記第2PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間に設けられ、ゲート電極が第1電流源に接続された第2NMOSトランジスタと、
前記第2PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間で直列に接続された第1及び第2の抵抗と、
前記第1の抵抗と前記第2の抵抗との接続点における電圧及び第2電源電圧が入力され、出力端子が前記第2PMOSトランジスタのゲート電極に接続されたオペアンプと、
前記第2PMOSトランジスタを流れる電流をモニタし、モニタ電流と参照電流との比較を行い、前記入出力端子における電流変化の有無を検出する電流モニタ回路と、
前記電流モニタ回路に接続され、前記モニタ電流により充電されるキャパシタと、
を備える電流検出回路。
A first NMOS transistor having a control signal applied to the gate electrode, a source electrode connected to the ground line, and a drain electrode connected to the input / output terminal;
A first PMOS transistor having the gate electrode provided with the control signal and a drain electrode connected to the input / output terminal and the drain electrode of the NMOS transistor;
A second PMOS transistor having a drain electrode connected to a source electrode of the first PMOS transistor and a source voltage applied to the source electrode;
A second NMOS transistor provided between the drain electrode of the second PMOS transistor and the ground line and having a gate electrode connected to the first current source;
First and second resistors connected in series between the drain electrode of the second PMOS transistor and the ground line;
An operational amplifier in which a voltage at a connection point between the first resistor and the second resistor and a second power supply voltage are input and an output terminal is connected to a gate electrode of the second PMOS transistor;
A current monitor circuit that monitors the current flowing through the second PMOS transistor, compares the monitor current with a reference current, and detects the presence or absence of a current change at the input / output terminal;
A capacitor connected to the current monitor circuit and charged by the monitor current;
A current detection circuit comprising:
前記電流モニタ回路は、
ソース電極に前記第1電源電圧が与えられ、ゲート電極が前記第2PMOSトランジスタのゲート電極に接続された第3PMOSトランジスタと、
ドレイン電極及びゲート電極が前記第3PMOSトランジスタのドレイン電極に接続され、ソース電極が前記グランドラインに接続された第3NMOSトランジスタと、
ゲート電極が前記第3NMOSトランジスタのゲート電極及びドレイン電極に接続され、ソース電極が前記グランドラインに接続された第4NMOSトランジスタと、
前記4NMOSトランジスタのドレイン電極に接続された第2電流源と、
を有し、
前記キャパシタは、前記第3PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間に設けられることを特徴とする請求項1に記載の電流検出回路。
The current monitor circuit includes:
A third PMOS transistor having a source electrode supplied with the first power supply voltage and a gate electrode connected to the gate electrode of the second PMOS transistor;
A third NMOS transistor having a drain electrode and a gate electrode connected to the drain electrode of the third PMOS transistor and a source electrode connected to the ground line;
A fourth NMOS transistor having a gate electrode connected to a gate electrode and a drain electrode of the third NMOS transistor and a source electrode connected to the ground line;
A second current source connected to the drain electrode of the 4NMOS transistor;
Have
The current detection circuit according to claim 1, wherein the capacitor is provided between a drain electrode of the third PMOS transistor and the ground line.
ゲート電極に制御信号が与えられ、ソース電極がグランドラインに接続され、ドレイン電極が入出力端子に接続された第1NMOSトランジスタと、
ゲート電極に前記制御信号が与えられ、ドレイン電極が前記入出力端子及び前記NMOSトランジスタのドレイン電極に接続された第1PMOSトランジスタと、
ドレイン電極が前記第1PMOSトランジスタのソース電極に接続され、ソース電極に第1電源電圧が与えられる第2PMOSトランジスタと、
前記第2PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間に設けられ、ゲート電極が第1電流源に接続された第2NMOSトランジスタと、
前記第2PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間で直列に接続された第1及び第2の抵抗と、
前記第1の抵抗と前記第2の抵抗との接続点における電圧及び第2電源電圧が入力され、出力端子が前記第2PMOSトランジスタのゲート電極に接続されたオペアンプと、
前記第2PMOSトランジスタを流れる電流をモニタし、モニタ電流と参照電流との比較を行い、前記入出力端子における電流変化の有無を検出する電流モニタ回路と、
前記第2PMOSトランジスタを流れる電流の変化を検出する微分回路を含む電流変化検出部と、
前記電流変化検出部の検出結果がゲート電極に与えられ、オン時は前記モニタ電流を前記グランドラインに導くトランジスタと、
を備える電流検出回路。
A first NMOS transistor having a control signal applied to the gate electrode, a source electrode connected to the ground line, and a drain electrode connected to the input / output terminal;
A first PMOS transistor having the gate electrode provided with the control signal and a drain electrode connected to the input / output terminal and the drain electrode of the NMOS transistor;
A second PMOS transistor having a drain electrode connected to a source electrode of the first PMOS transistor and a source voltage applied to the source electrode;
A second NMOS transistor provided between the drain electrode of the second PMOS transistor and the ground line and having a gate electrode connected to the first current source;
First and second resistors connected in series between the drain electrode of the second PMOS transistor and the ground line;
An operational amplifier in which a voltage at a connection point between the first resistor and the second resistor and a second power supply voltage are input and an output terminal is connected to a gate electrode of the second PMOS transistor;
A current monitor circuit that monitors the current flowing through the second PMOS transistor, compares the monitor current with a reference current, and detects the presence or absence of a current change at the input / output terminal;
A current change detection unit including a differentiating circuit for detecting a change in current flowing through the second PMOS transistor;
A detection result of the current change detection unit is given to the gate electrode, and when on, a transistor that guides the monitor current to the ground line;
A current detection circuit comprising:
前記電流モニタ回路は、
ソース電極に前記第1電源電圧が与えられ、ゲート電極が前記第2PMOSトランジスタのゲート電極に接続された第3PMOSトランジスタと、
ドレイン電極及びゲート電極が前記第3PMOSトランジスタのドレイン電極に接続され、ソース電極が前記グランドラインに接続された第3NMOSトランジスタと、
ゲート電極が前記第3NMOSトランジスタのゲート電極及びドレイン電極に接続され、ソース電極が前記グランドラインに接続された第4NMOSトランジスタと、
前記4NMOSトランジスタのドレイン電極に接続された第2電流源と、
を有し、
前記トランジスタは、前記第3PMOSトランジスタのドレイン電極と前記グランドラインとの間に設けられることを特徴とする請求項3に記載の電流検出回路。
The current monitor circuit includes:
A third PMOS transistor having a source electrode supplied with the first power supply voltage and a gate electrode connected to the gate electrode of the second PMOS transistor;
A third NMOS transistor having a drain electrode and a gate electrode connected to the drain electrode of the third PMOS transistor and a source electrode connected to the ground line;
A fourth NMOS transistor having a gate electrode connected to a gate electrode and a drain electrode of the third NMOS transistor and a source electrode connected to the ground line;
A second current source connected to the drain electrode of the 4NMOS transistor;
Have
4. The current detection circuit according to claim 3, wherein the transistor is provided between a drain electrode of the third PMOS transistor and the ground line.
前記電流モニタ回路は、前記制御信号がローレベルの期間に、前記入出力端子における電流変化の有無を検出することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の電流検出回路。   5. The current detection circuit according to claim 1, wherein the current monitor circuit detects the presence or absence of a current change at the input / output terminal during a period in which the control signal is at a low level.
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0658962A (en) * 1992-08-04 1994-03-04 Fujitsu Ltd Current comparing circuit
JPH0669911A (en) * 1992-08-21 1994-03-11 Fuji Electric Co Ltd Data transmission circuit
JPH07135452A (en) * 1993-11-11 1995-05-23 Nec Corp Current comparator
JPH089649A (en) * 1994-06-20 1996-01-12 Toshiba Corp Uninterruptible power source
JP2002016487A (en) * 2000-06-28 2002-01-18 Toshiba Corp Two-way transmitter
JP2005031032A (en) * 2003-07-11 2005-02-03 Mitsutoyo Corp Current measuring circuit and constant-current circuit using it
JP2005321276A (en) * 2004-05-07 2005-11-17 Jmnet Inc Electric current detector
JP2008216270A (en) * 2002-10-17 2008-09-18 Seiko Epson Corp Current detection circuit

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0658962A (en) * 1992-08-04 1994-03-04 Fujitsu Ltd Current comparing circuit
JPH0669911A (en) * 1992-08-21 1994-03-11 Fuji Electric Co Ltd Data transmission circuit
JPH07135452A (en) * 1993-11-11 1995-05-23 Nec Corp Current comparator
JPH089649A (en) * 1994-06-20 1996-01-12 Toshiba Corp Uninterruptible power source
JP2002016487A (en) * 2000-06-28 2002-01-18 Toshiba Corp Two-way transmitter
JP2008216270A (en) * 2002-10-17 2008-09-18 Seiko Epson Corp Current detection circuit
JP2005031032A (en) * 2003-07-11 2005-02-03 Mitsutoyo Corp Current measuring circuit and constant-current circuit using it
JP2005321276A (en) * 2004-05-07 2005-11-17 Jmnet Inc Electric current detector

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