JP2011196694A - オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】時間と共に波長が変化する可変波長光を発生する可変波長光発生ユニットと、前記可変波長光を参照光と測定光に分岐し、前記測定光を測定対象に照射して後方散乱光を発生させ、前記後方散乱光と前記参照光を結合して干渉光を生成する干渉計ユニットと、前記干渉光の強度を測定し、測定した前記強度と前記波長の関係に基づいて前記測定対象の断層像を導出する断層像導出ユニットとを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、前記干渉計ユニットは、前記可変波長光の波長に基づいて前記参照光の位相を変調することで、前記干渉光の強度を、前記参照光の光路長を変化させた場合の前記干渉光の強度にする光位相変調ユニットを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。
【選択図】 図1
Description
光位相変調ユニット22は、図1に示すように、光位相変調器48とその制御ユニット50を有している。光位相変調器48は、制御ユニット50の出力信号52にしたがって入射光の位相を変調して出射する。光位相変調器48は、例えば、強誘電体結晶ニオブ酸リチウム(LiNbO3:LN)等の光学結晶からなる光導波路を有している。光位相変調器48は、このような光導波路に電圧を印加することでその屈折率を変化させ、出射光の位相を変調する。
次に、OCT装置2の動作を説明する。
時間と共に波長が連続的に変化する可変波長光6を発生する。波長の初期値は、例えば1530nmである。一方、波長の最終値は、例えば、1570nmである。
4・・・可変波長光発生ユニット
16・・・干渉計ユニット
20・・・断層像導出ユニット
22・・・光位相変調ユニット
Claims (3)
- 時間と共に波長が変化する可変波長光を発生する可変波長光発生ユニットと、
前記可変波長光を参照光と測定光に分岐し、前記測定光を測定対象に照射して後方散乱光を発生させ、前記後方散乱光と前記参照光を結合して干渉光を生成する干渉計ユニットと、
前記干渉光の強度を測定し、測定した前記強度と前記波長の関係に基づいて前記測定対象の断層像を導出する断層像導出ユニットとを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、
前記干渉計ユニットは、前記可変波長光の波長に基づいて前記参照光の位相を変調して、前記干渉光の強度を、前記参照光の光路長を変化させた場合の前記干渉光の強度にする光位相変調ユニットを有することを
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 - 請求項1に記載のオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、
前記光位相変調ユニットは、
変調前と変調後の前記参照光の位相差が、前記波長の波数の一次関数として変化し、2π(rad)又は−2π(rad)に達すると0(rad)に戻る値になるように、前記参照光を変調することを
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 - 請求項1又は2に記載のオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、
前記干渉計ユニットは、前記可変波長光を前記測定光と前記参照光に分岐する光分岐器と、前記測定光を測定対象に照射し且つ前記測定光が前記測定対象により後方散乱されて発生した後方散乱光を補足する光照射/補足ユニットと、前記参照光と前記後方散乱光を結合して前記干渉光を生成する光結合器とを有し、
前記光位相変調ユニットは、前記光分岐器と前記光結合光の間に配置されていることを、
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3067657A1 (en) | 2015-03-11 | 2016-09-14 | Hitachi-LG Data Storage, Inc. | Optical measurement apparatus and optical measurement method |
CN116849626A (zh) * | 2023-09-04 | 2023-10-10 | 北京理工大学 | 一种基于光计算的相位调制式光学相干层析成像系统 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3107914B2 (ja) * | 1992-07-20 | 2000-11-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | 散乱吸収体内部の吸収情報計測装置及び方法 |
JP2001091223A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-04-06 | Olympus Optical Co Ltd | 面間隔測定方法及び装置 |
JP3321468B2 (ja) * | 1998-03-09 | 2002-09-03 | オーティーエム テクノロジーズ リミテッド | 並進運動の光学式測定 |
JP2002286631A (ja) * | 2001-03-28 | 2002-10-03 | Japan Science & Technology Corp | 高速画像同期測定方法及びその装置 |
JP2003516531A (ja) * | 1999-12-09 | 2003-05-13 | オーティーアイ オフサルミック テクノロジーズ インク | 可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置 |
JP3474612B2 (ja) * | 1993-12-03 | 2003-12-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出装置 |
JP2006201087A (ja) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | オプティカル・コヒーレント・トモグラフィ装置 |
JP2007101262A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2009500856A (ja) * | 2005-07-08 | 2009-01-08 | ボード オブ トラスティーズ オブ ミシガン ステイト ユニバーシティ | 超高速レーザーのための制御システム及び装置 |
JP2009031156A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Kitasato Institute | 広ダイナミックレンジ・オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置 |
JPWO2008029506A1 (ja) * | 2006-09-04 | 2010-01-21 | 学校法人北里研究所 | オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置 |
JP2010025922A (ja) * | 2008-06-20 | 2010-02-04 | Nikon Corp | 干渉装置 |
-
2010
- 2010-03-17 JP JP2010060502A patent/JP5590523B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3107914B2 (ja) * | 1992-07-20 | 2000-11-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | 散乱吸収体内部の吸収情報計測装置及び方法 |
JP3474612B2 (ja) * | 1993-12-03 | 2003-12-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出装置 |
JP3321468B2 (ja) * | 1998-03-09 | 2002-09-03 | オーティーエム テクノロジーズ リミテッド | 並進運動の光学式測定 |
JP2001091223A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-04-06 | Olympus Optical Co Ltd | 面間隔測定方法及び装置 |
JP2003516531A (ja) * | 1999-12-09 | 2003-05-13 | オーティーアイ オフサルミック テクノロジーズ インク | 可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置 |
JP2002286631A (ja) * | 2001-03-28 | 2002-10-03 | Japan Science & Technology Corp | 高速画像同期測定方法及びその装置 |
JP2006201087A (ja) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | オプティカル・コヒーレント・トモグラフィ装置 |
JP2009500856A (ja) * | 2005-07-08 | 2009-01-08 | ボード オブ トラスティーズ オブ ミシガン ステイト ユニバーシティ | 超高速レーザーのための制御システム及び装置 |
JP2007101262A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JPWO2008029506A1 (ja) * | 2006-09-04 | 2010-01-21 | 学校法人北里研究所 | オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置 |
JP2009031156A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Kitasato Institute | 広ダイナミックレンジ・オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置 |
JP2010025922A (ja) * | 2008-06-20 | 2010-02-04 | Nikon Corp | 干渉装置 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
CSNJ200810005205; 牧野 弘治 Koji Makino: 電子情報通信学会2002年エレクトロニクスソサイエティ大会講演論文集1 PROCEEDINGS OF THE 2002 ELEC * |
JPN6014026909; 牧野 弘治 Koji Makino: 電子情報通信学会2002年エレクトロニクスソサイエティ大会講演論文集1 PROCEEDINGS OF THE 2002 ELEC * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3067657A1 (en) | 2015-03-11 | 2016-09-14 | Hitachi-LG Data Storage, Inc. | Optical measurement apparatus and optical measurement method |
CN105973845A (zh) * | 2015-03-11 | 2016-09-28 | 日立乐金光科技株式会社 | 光学测量装置和光学测量方法 |
US10006755B2 (en) | 2015-03-11 | 2018-06-26 | Hitachi-Lg Data Storage, Inc. | Optical measurement apparatus and optical measurement method |
CN116849626A (zh) * | 2023-09-04 | 2023-10-10 | 北京理工大学 | 一种基于光计算的相位调制式光学相干层析成像系统 |
CN116849626B (zh) * | 2023-09-04 | 2024-01-16 | 北京理工大学 | 一种基于光计算的相位调制式光学相干层析成像系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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