JP2011187276A - 導電膜パターンの製造方法、および有機el表示パネルの製造方法 - Google Patents

導電膜パターンの製造方法、および有機el表示パネルの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011187276A
JP2011187276A JP2010050424A JP2010050424A JP2011187276A JP 2011187276 A JP2011187276 A JP 2011187276A JP 2010050424 A JP2010050424 A JP 2010050424A JP 2010050424 A JP2010050424 A JP 2010050424A JP 2011187276 A JP2011187276 A JP 2011187276A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive film
film
transparent conductive
etchant
etching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2010050424A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisashi Sugano
恒 菅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2010050424A priority Critical patent/JP2011187276A/ja
Publication of JP2011187276A publication Critical patent/JP2011187276A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Manufacturing Of Electric Cables (AREA)

Abstract

【課題】アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜の上に、インジウムを含む金属酸化物からなる透明導電膜が積層された構造の導電膜パターンを良好に形成する。
【解決手段】弗酸を含む水溶液を用いて透明導電膜40をエッチングし、そのエッチング側面43をサイドエッチングしてレジスト膜50の下に後退させる。次に、第2エッチャント70でエッチングすると、レジスト膜50の下面52、エッチング側面43、エッチング側面33及び金属膜30のエッチング底面32で形成される領域に液溜まり71が形成され、ラインP1→P2→P3のように、エッチング底面32が下方向に後退しながら、透明導電膜40のエッチング側面43及び金属膜30のエッチング側面33も後退していくので、エッチング側面43とエッチング側面33とが連続した面一の面あるいはエッチング側面43の方が後退した形状に形成される。
【選択図】図4

Description

本発明は、導電膜パターンの製造方法に関し、特に、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜の上に、インジウムと亜鉛とを含む金属酸化物からなる透明導電膜を形成した積層構造の導電膜パターンを形成する方法に関する。
近年、発光型のディスプレイとして、基板上に行列方向に沿って有機EL素子を複数配列した有機EL表示パネルが、小型電子機器のディスプレイとして実用化されている。
各有機EL素子は、電流駆動型の発光素子であって、陽極と陰極の一対の電極対の間に有機発光材料を含む発光層が配設された基本構造を有し、陽極と有機発光層との間、並びに陰極と有機発光層との間には、必要に応じて電荷注入層、電荷輸送層などが介挿されている。そして、駆動時に、一対の電極対間に電圧を印加すると、陽極から発光層に注入されるホールと、陰極から発光層に注入される電子との再結合に伴って発光する。
このような有機EL表示パネルは、各有機EL素子が自己発光を行うので視認性が高く、完全固体素子であるため耐衝撃性に優れる。
有機EL素子には、TFT基板の下から取り出すボトムエミッション型とTFT基板上方に光を取り出すトップエミッション型とがあり、ボトムエミッション型の方が作製が容易であるが、トップエミッション型の方が開口率を高くしやすい。
トップエミッション型有機EL素子においては、陽極として、AlあるいはAl合金で金属膜で形成し、その金属膜の上に透明なITOなどの透明導電膜を形成した積層構造の反射陽極が好んで用いられている。
この金属膜及び透明導電膜からなる反射陽極は、各有機EL素子ごとに独立した電極であって、この透明導電膜の上を覆うように、ホール注入層や発光層などが形成される。
ところで、上記の積層構造の電極をパターニング形成する方法として、まず、金属膜及び透明導電膜を連続して形成した後、混酸を用いて透明導電膜及び金属膜を一括してウェットエッチングすることによってパターニングする方法が好まれている。
これは、金属膜をウェットエッチングでパターニングした後に、その上に透明導電膜を積層すると、金属膜の表面にアルミナ酸化膜が形成され、形成されたアルミナ酸化膜が電極中に残留するが、上記のように金属膜及び透明導電膜を連続して形成すれば、金属膜の表面にアルミナ酸化膜が形成されるのを防止できるからである。
特開2007−41374号公報
ホール注入層などの層を安定に形成して有機EL素子の性能を良好にする上で、反射陽極を滑らかな形状にパターニング形成することが望まれる。
しかしながら、一般に混酸の透明導電膜に対するエッチングレートは、AlやAl合金からなる金属膜に対するエッチングレートに比べて遅いので、上記のようにウェットエッチングで積層構造の反射陽極を一括してパターニング形成すると、金属膜が透明導電膜よりも早くエッチングされて、結果的に、金属膜の上に透明導電膜が庇形状(オーバーハング形状)で残存してしまう。
そして、このような庇形状を有する積層電極の上方に、ホール注入層などの層を形成すると、庇形状の部分で膜の段切れが発生したり、また、庇部分の下に空洞が残存してしまうこととなる。
そして、ホール注入層に段切れが発生すると、例えば、後の工程で使用する現像液が金属電極に接触することによって有機EL素子の特性が変わることがある。また、透明導電膜の庇部分の下に空洞が残存すると、その空洞部分にガス、水分などが溜まって、後の工程で膨張することによって有機EL素子の特性が変わることもある。
そこで、特許文献1には、積層電極において、透明導電膜の庇が形成されるのを防止すために、透明導電膜と金属膜を一括でエッチングした後に、形成された透明導電膜の庇を、フッ化水素を含む水溶液でエッチングして除去する技術が開示されているが、この方法で積層電極を滑らかな形状に形成することは難しい。
本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであって、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜の上に、インジウムを含む金属酸化物からなる透明導電膜が積層された積層構造の導電膜パターンを良好に形成できる方法を提供し、それによって、特性の良好な有機EL発光パネル及び発光装置を提供することを目的とする。
本願発明者らは、上記課題を解決するため、本発明の一態様に係る導電膜パターンの製造方法では、基板上に、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜を形成する第1工程と、金属膜の上面の上に、インジウムを含む金属酸化物からなる透明導電膜を形成する第2工程と、透明導電膜の上面に感光性レジスト膜を形成する第3工程と、所定のパターンを介して感光性レジスト膜を露光し、透明導電膜の一部を感光性レジスト膜から露出させる第4工程と、透明導電膜の露出された領域の膜厚が所定の膜厚になるまで、透明導電膜の露出された領域を、金属膜より透明導電膜に対してエッチングレートが高い第1エッチャントを用いてウェットエッチングする第5工程と、第1エッチャントを除去する第6の工程と、所定の膜厚となった透明導電膜の上面である第1面、及び、所定の膜厚となった透明導電膜の上面につらなり且つ感光性レジスト膜の下層にある透明導電膜の側面である第2面を、透明導電膜より金属膜に対してエッチングレートが高い若しくは同等である第2エッチャントを用いてウェットエッチングする第7工程と、を含み、第5工程において、透明導電膜は、第1エッチャントにより感光性レジスト膜の下方までサイドエッチングされ、第7工程において、感光性レジスト膜の下面、第1面及び第2面により形成される領域に第2エッチャントの液溜まりが形成されて、第1面と第2面とがエッチングされ、所定の膜厚となった透明導電膜が金属膜上から除去され、金属膜の上面が露出されると、感光性レジスト膜の下面、第2面、及び金属膜の露出された上面である第3面により形成される領域に第2エッチャントの液溜まりが形成され、第2面と第3面とがエッチングされ、第7工程において、金属膜の露出された領域が基板上から除去され、基板が露出されると、基板、第2面、及び基板につらなる金属膜の側面である第4面が形成され、第2面及び第4面がエッチングされ、第2面と第4面とを連続した面一の面、あるいは、第2面の方が第4面より感光性レジスト膜の下層に後退した側面形状に形成する、こととした。
また上記課題を解決するため、本発明の別の態様に係る導電膜パターンの製造方法では、基板上に、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜を形成する第1工程と、金属膜の上面の上に、インジウムを含む金属酸化物からなる透明導電膜を形成する第2工程と、透明導電膜の上面に感光性レジスト膜を形成する第3工程と、所定のパターンを介して感光性レジスト膜を露光し、透明導電膜を感光性レジスト膜から露出させる第4工程と、透明導電膜の露出された領域から金属膜が露出するまで、透明導電膜の露出された領域を、金属膜より透明導電膜に対してエッチングレートが高い第1エッチャントを用いてウェットエッチングする第5工程と、第1エッチャントを除去する第6の工程と、露出された金属膜の上面である第1面、及び、金属膜の上面につらなり且つ感光性レジスト膜の下層にある透明導電膜の側面である第2面を、透明導電膜より金属膜に対してエッチングレートが高い若しくは同等である第2エッチャントを用いてウェットエッチングする第7工程と、を含み、第5工程において、透明導電膜は、第1エッチャントにより感光性レジスト膜の下方までサイドエッチングされ、第7工程において、感光性レジスト膜の下面、第1面、及び第2面により形成される領域に第2エッチャントの液溜まりが形成されて、第1面と第2面とがエッチングされ、露出された金属膜が基板上から除去され、基板が露出されると、感光性レジスト膜の下面、基板、第2面、及び基板につらなる金属膜の側面である第3面が形成され、第2面及び第3面がエッチングされ、第2面と第3面とを連続した面一の面、あるいは、第2面の方が第3面より感光性レジスト膜の下層に後退した側面形状に形成する、こととした。
上記本発明の一態様に係る導電膜パターンの製造方法によれば、第5工程において、第1エッチャントで、透明導電膜の露出された領域の膜厚が所定の膜厚になるまで、透明導電膜の露出された領域をウェットエッチングし、別の態様に係る導電膜パターンの製造方法によれば、透明導電膜の露出された領域から金属膜が露出するまで、透明導電膜の露出された領域をウェットエッチングするが、いずれの態様においても、透明導電膜を、第1エッチャントにより感光性レジスト膜の下方までサイドエッチングするので、第7工程において、感光性レジスト膜の下面、第1面、及び第2面により形成される領域に第2エッチャントの液溜まりが形成される。
第7工程において、このような第2エッチャントの液溜まりが形成されることが、第2エッチャントの透明導電膜に対するエッチングレートを向上させて、金属膜と透明導電膜とが連動してエッチングされるように作用するので、第2エッチャントによって、第2面と第3面とを連続した面一の面、あるいは、第2面の方が第3面より感光性レジスト膜の下層に後退した側面形状に形成することができる。
その結果、形成された導電膜パターンには、透明導電膜の庇部が生成することがなく、且つ滑らかな電極形状に形成される。
よって、上記態様に係る導電膜パターンの製造方法で製造した導電膜パターンを覆うように薄膜を形成すると、薄膜が段切れすることがなく、カバレッジの良好な膜を形成することができる。
即ち、上記態様の電極膜パターンの製造方法によれば、有機EL素子の陽極を形成するのに最適な電極膜パターンを実現できることとなる。
実施の形態に係る表示パネル100の構成を模式的に示す断面図である。 実施の形態1に係る陽極作製プロセスの前半を示す図である。 (a)は、エッチング工程を行う装置の一例を示す概略図、(b)は、処理槽の一例を示す図である。 陽極作製プロセスの後半を示す図である。 実施の形態2にかかる陽極作製プロセスの前半を示す図である。 比較例にかかる陽極作製方法を示す図である。 比較例にかかる庇が形成された陽極を覆って、ホール注入層15などを形成したきに異常が発生した状態を示す図である。 実施例及び比較例の製法で作製した陽極の断面を示すSEM写真である。
<発明の態様>
本発明の一態様に係る製造方法によれば、本発明の一態様に係る導電膜パターンの製造方法では、基板上に、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜を形成する第1工程と、金属膜の上面の上に、インジウムを含む金属酸化物からなる透明導電膜を形成する第2工程と、透明導電膜の上面に感光性レジスト膜を形成する第3工程と、所定のパターンを介して感光性レジスト膜を露光し、透明導電膜の一部を感光性レジスト膜から露出させる第4工程と、透明導電膜の露出された領域の膜厚が所定の膜厚になるまで、透明導電膜の露出された領域を、金属膜より透明導電膜に対してエッチングレートが高い第1エッチャントを用いてウェットエッチングする第5工程と、第1エッチャントを除去する第6の工程と、所定の膜厚となった透明導電膜の上面である第1面、及び、所定の膜厚となった透明導電膜の上面につらなり且つ感光性レジスト膜の下層にある透明導電膜の側面である第2面を、透明導電膜より金属膜に対してエッチングレートが高い若しくは同等である第2エッチャントを用いてウェットエッチングする第7工程と、を含み、第5工程において、透明導電膜は、第1エッチャントにより感光性レジスト膜の下方までサイドエッチングされ、第7工程において、感光性レジスト膜の下面、第1面及び第2面により形成される領域に第2エッチャントの液溜まりが形成されて、第1面と第2面とがエッチングされ、所定の膜厚となった透明導電膜が金属膜上から除去され、金属膜の上面が露出されると、感光性レジスト膜の下面、第2面、及び金属膜の露出された上面である第3面により形成される領域に第2エッチャントの液溜まりが形成され、第2面と第3面とがエッチングされるとともに、金属膜の側面である第4面が形成され、さらに、第2面と第3面と第4面とが第2エッチャントでエッチングされて、金属膜の露出された領域が基板上から除去されて基板が露出されると、第2面と第4面とが連続した面一の面、あるいは、第2面の方が第4面より感光性レジスト膜の下層に後退した側面形状に形成する、こととした。それによって、形成された導電膜パターンには、透明導電膜の庇部が生成することがないので、形成した導電膜パターンを覆うように薄膜を形成すれば、薄膜が段切れすることがなく良好に形成することができる。
また、本態様の製造方法では、金属膜上に形成した透明導電膜を、第1エッチャントで所定の膜厚が残るように透明導電膜をエッチングした後、第6工程で第1エッチャントを除去し、第7工程で第2エッチャントによるエッチングを行うので、第5工程〜第7工程の間、金属膜の表面は第1エッチャントにも空気にも触れることがなく、金属膜表面の酸化が抑えられる。
第7工程では、第2のウェットエッチングで、所定の膜厚を残した透明導電膜の表面をウェットエッチングで完全に除去し、引き続き、金属膜がウェットエッチングされる。
また、本発明の別の態様に係る導電膜パターンの製造方法では、基板上に、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜を形成する第1工程と、金属膜の上面の上に、インジウムを含む金属酸化物からなる透明導電膜を形成する第2工程と、透明導電膜の上面に感光性レジスト膜を形成する第3工程と、所定のパターンを介して感光性レジスト膜を露光し、透明導電膜を感光性レジスト膜から露出させる第4工程と、透明導電膜の露出された領域から金属膜が露出するまで、透明導電膜の露出された領域を、金属膜より透明導電膜に対してエッチングレートが高い第1エッチャントを用いてウェットエッチングする第5工程と、第1エッチャントを除去する第6の工程と、露出された金属膜の上面である第1面、及び、金属膜の上面につらなり且つ感光性レジスト膜の下層にある透明導電膜の側面である第2面を、透明導電膜より金属膜に対してエッチングレートが高い若しくは同等である第2エッチャントを用いてウェットエッチングする第7工程と、を含み、第5工程において、透明導電膜は、第1エッチャントにより感光性レジスト膜の下方までサイドエッチングされ、第7工程において、感光性レジスト膜の下面、第1面、及び第2面により形成される領域に第2エッチャントの液溜まりが形成されて、第1面と第2面とがエッチングされ、露出された金属膜が基板上から除去され、基板が露出されると、感光性レジスト膜の下面、基板、第2面、及び基板につらなる金属膜の側面である第3面が形成され、第2面及び第3面がエッチングされ、第2面と第3面とを連続した面一の面、あるいは、第2面の方が第3面より感光性レジスト膜の下層に後退した側面形状に形成する、こととした。
この態様の製造方法によっても、形成された導電膜パターンには、透明導電膜の庇部が生成することがないので、形成した導電膜パターンを覆うように薄膜を形成すれば、薄膜が段切れすることがなく良好に形成することができる。
また、この製造方法では、第5工程において第1エッチャントで透明導電膜を金属膜が露出するまでエッチングするので、透明導電膜のエッチング時間管理を省略でき、工程管理を簡素化できる。
一方、第1エッチングによって金属膜の表面が露出するので、金属膜の表面に酸化膜が形成されやすいが、第2エッチャントで酸化膜が除去されるので特に問題とはならない。
上記態様の製造方法において、透明導電膜は、さらに亜鉛を含む金属酸化物で形成することが好ましい。すなわち、金属膜上にインジウムと亜鉛との合金の酸化物からなるIZOで透明導電膜を形成すれば、有機EL表示装置の有機発光層から発光した光を、高効率で外部に取り出すためのキャビティーを構成するのに好適である。また、IZO膜は、従来から使用されているITO膜と比べて結晶化しにくいため、金属酸化物の中でもエッチングされやすく、第2エッチャントのITO膜に対するエッチングレートを金属膜に対するエッチングレートと同等にしやすい。
第1エッチャントとして、弗酸を含む水溶液を用いることが好ましい。
第1エッチャントとして、特にフッ化アンモニウム水溶液を用いることが好ましい。
その場合、フッ化アンモニウム水溶液の中のフッ酸の濃度は、0.3〜0.5パーセントであることが好ましい。
第2エッチャントとして、硝酸と、酢酸と、リン酸との混合水溶液を用いることが好ましい。この混酸は、透明導電膜に対するエッチングレートと金属膜に対するエッチングレートがほぼ等しいので、透明導電膜の側面と、金属膜の表面及び側面とを、ほぼ同等の速度でエッチングすることができる。
ここで、第2エッチャントにおける、硝酸と、酢酸と、リン酸と、水との成分比率は、硝酸が5−10%、酢酸が10%未満、リン酸が60−70%、残部が水であることが好ましい。
第5工程のエッチングで残す透明導電膜の膜厚は3nm以上7nm以下であることが好ましい。
本発明の一態様にかかる有機EL表示パネルの製造方法においては、上記態様の導電膜パターンの製造方法により、下部導電膜パターンを形成し、さらに、下部導電膜パターンから、感光性樹脂層を除去し、感光性樹脂層の下部の領域の透明導電膜の表面を露出させる第8工程と、露出させた透明導電膜の表面と、透明導電膜の側面と、金属膜の側面と、及び基板上であって金属膜がウェットエッチングにより除去されて露出した基板上に、中間層を連続して形成する第9工程と、中間層上の所定の画素領域に有機発光層を形成する第10工程と、有機発光層の上方に上部導電膜を形成する第11工程と、を含むこととした。
<実施の形態>
以下、本発明の構成および作用・効果を分かりやすく説明するために実施の形態を説明するが、本発明は、その本質的な特徴部分以外に何ら以下の形態に限定を受けるものではない。
[実施の形態1]
図1は、実施の形態1に係る表示パネル100の構成を模式的に示す断面図である。本実施形態にかかる表示装置は、有機材料の電界発光現象を利用して画像を表示する表示パネル100と、これに接続された駆動制御部(不図示)とから構成されている。
(表示パネル100の構成)
表示パネル100の構成について、図1を参照しながら説明する。
表示パネル100は、画素(ピクセル)が、基板1の上面に沿ってマトリック状に配列されており、各画素は、隣接するRGB3色のサブピクセルによって形成されている。図1に示す有機EL素子20a,20b,20cは、TFT基板上に配列されたトップエミッション型のEL素子であって、有機EL素子20a青色のサブピクセル、有機EL素子20bは緑色のサブピクセル、有機EL素子20cは赤色のサブピクセルに相当する。
TFT基板は、基板1の上面に、パネル全体の各有機EL素子20a〜20cをアクティブマトリクス方式で駆動するためのTFT層(不図示)が形成され、その上を平坦化膜2で被覆された構成されている。
基板1は、パネルのベース部分となる基板であって、無アルカリガラス、ソーダガラス、無蛍光ガラス、燐酸系ガラス、硼酸系ガラス、石英、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリエチレン、ポリエステル、シリコーン系樹脂、又はアルミナ等の絶縁性材料で形成されている。
平坦化膜2は、絶縁性に優れる有機材料、例えばポリイミド、ポリアミド、アクリル系樹脂材料からなる。
次に、有機EL素子20a〜20cの素子の構成について説明する。
平坦化膜2上に、金属電極3と透明電極4を積層した積層構造の陽極を有し、当該陽極の上に、ホール注入層5が形成されている。
金属電極3は、アルミニウム又はアルミニウム合金で形成されている。このアルミニウムやアルミニウム合金は、高反射性であって比較的安価である。
アルミニウム合金の例としては、アルミニウム−ネオジウム(Al−Nd)合金、アルミニウム−ジルコニウム(Al−Zr)合金、アルミニウム−銅(Al−Cu)合金、アルミニウム−シリコン(Al−Si)合金、アルミニウム−シリコン−銅(Al−Si−Cu)合金などが挙げられる。
透明電極4は、IZO(酸化インジウム亜鉛)からなり、金属電極3の上面を被覆している。
金属電極3及び透明電極4からなる陽極は、各サブピクセルごと(有機EL素子20a,20b,20cごと)に分離された形状にパターニングされている。
図1に示すように、陽極を覆うように、ホール注入層5がパネル全体に拡がって設けられている。
このホール輸送層5の上には、隣り合うサブピクセルどうしの間を仕切るように、絶縁材料からなるバンク6が設けられている。また、ホール輸送層5の上には、バンク6で仕切られた領域内に、ホール輸送層7、有機発光層8が積層形成されている。
さらに、有機発光層8の上には、電子注入層9、陰極10および封止層11が、バンク6を乗り超えて、全体の有機EL素子20a,20b,20cで連続するように形成されている。
ホール注入層5は、モリブデンやタングステンの酸化物で形成されている。
ホール注入層5の膜厚は、0.1[nm]〜20[nm]の範囲内が好ましい。
バンク6は、樹脂等の有機材料で形成されており絶縁性を有する。バンク6の形成に用いる有機材料の例としては、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ノボラック型フェノール樹脂等が挙げられる。バンク6は、有機溶剤耐性を有することが好ましい。
バンク6は、エッチング処理、ベーク処理などが施されるので、それらの処理に対して耐性の高い材料で形成されることが好ましい。また、バンク6の表面に撥水性をもたせるために、フッ素処理してもよい。
ホール輸送層7は、ホールを輸送し有機発光層8に対して注入する材料からなる層であって、ウェット法で形成できる。その材料の具体例としては、4,4'−ビス[N−(ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル(α−NPBまたはα−NPD)、N,N'−ビス(3−メチルフェニル)−(1,1'−ビフェニル)−4,4'−ジアミン(TPD)などのトリアリールアミン系化合物を挙げることができる。
有機発光層8は、ホールと電子とが注入され再結合されることにより励起状態が生成され発光する機能を有する。有機発光層8もウェット法で形成できる。その材料は、例えば、特許公開公報(特開平5−163488号公報)に記載のオキシノイド化合物、ペリレン化合物、クマリン化合物、アザクマリン化合物、オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、ペリノン化合物、ピロロピロール化合物、ナフタレン化合物、アントラセン化合物、フルオレン化合物、フルオランテン化合物、テトラセン化合物、ピレン化合物、コロネン化合物、キノロン化合物及びアザキノロン化合物、ピラゾリン誘導体及びピラゾロン誘導体、ローダミン化合物、クリセン化合物、フェナントレン化合物、シクロペンタジエン化合物、スチルベン化合物、ジフェニルキノン化合物、スチリル化合物、ブタジエン化合物、ジシアノメチレンピラン化合物、ジシアノメチレンチオピラン化合物、フルオレセイン化合物、ピリリウム化合物、チアピリリウム化合物、セレナピリリウム化合物、テルロピリリウム化合物、芳香族アルダジエン化合物、オリゴフェニレン化合物、チオキサンテン化合物、アンスラセン化合物、シアニン化合物、アクリジン化合物、8−ヒドロキシキノリン化合物の金属鎖体、2−ビピリジン化合物の金属鎖体、シッフ塩とIII族金属との鎖体、オキシン金属鎖体、希土類鎖体などの蛍光物質で形成されることが好ましい。
電子注入層9は、陰極10から注入される電子を有機発光層8へ輸送する機能を有し、例えば、バリウム、フタロシアニン、フッ化リチウム、あるいはこれらの組み合わせで形成される。
陰極10は、上部電極であって、例えば、ITO、IZO(酸化インジウム亜鉛)などの光透過性の材料で形成される。この他に、例えば、アルカリ金属、アルカリ土類金属、またはそれらのハロゲン化物を含む層と銀を含む層とをこの順で積層した構造とすることもできる。
封止層11は、有機発光層8などが水分に晒されたり、空気に晒されたりすることを抑制する機能を有し、例えば、SiN(窒化シリコン)、SiON(酸窒化シリコン)などの光透過性の材料で形成することが好ましい。
(表示パネル100の製造方法)
上記表示パネル100の製造方法について一例を説明する。
基板1を準備し、反応性スパッタ法に基づき、TFT層を形成する。
上記TFT層を覆うように、基板1上に厚み約4μmで平坦化膜2を形成する。この平坦化膜2は、公知の感光性有機材料(例えばシロキサン共重合型感光性ポリイミド)をスピンコートすることによって形成できる。
平坦化膜2の上(TFT基板の上)に、金属材料(アルミニウムまたはアルミニウム合金)を薄膜成形し、この金属膜の表面上に、IZOからなる透明導電膜を製膜し、製膜した金属膜と透明導電膜の積層体をマトリクス状にパターニングすることによって陽極板を形成する。なお、この陽極作製プロセスについては、後で詳述する。
モリブデンやタングステン等の金属材料を反応性スパッタ法で成膜することによってホール注入層5を形成する。
バンク材料として、感光性のレジスト材料、もしくはフッ素系やアクリル系材料を含有するレジスト材料を、スピンコート法で塗布し、フォトレジスト法でパターニングして熱キュアすることによってバンク6を形成する。
次に、バンク6間の領域内に、例えば、インクジェット法によりホール輸送層材料を含むインクを滴下し、そのインクを乾燥させてホール輸送層7を形成する。
さらに、有機EL材料を含むインクを滴下し、そのインクを乾燥させて有機発光層8を形成する。なお、インクの塗布方法は、ディスペンサー法、ノズルコート法、スピンコート法、凹版印刷、凸版印刷等によって塗布しても良い。インクの乾燥は、真空乾燥を行い、引き続き、窒素雰囲気中においてベークを行う。有機発光層8の平均膜厚は、例えば70nmである。
次に、有機発光層8およびバンク6を覆うように、真空蒸着法により、バリウムを製膜し、引き続き、バリウムを混合した化合物Alqの膜を、共蒸着法により所定の膜厚(例えば20nm)で製膜することにより、電子注入層9を製膜する。
次に、電子注入層9の上に、例えば、プラズマコーティング法で陰極10となるIZO薄膜(膜厚は例えば100nm)を製膜し、その上に、封止層11を製膜する。
(陽極作製方法)
図2は、陽極作製プロセスの前半を示す図である。
積層膜製造工程:
図2(a)に示すように、基板1上の平坦化膜2の上に、金属材料(アルミニウムまたはアルミニウム合金)を、スパッタ法もしくは真空蒸着法を用いて薄膜成形することによって、金属膜30を形成する。続いて、この金属膜30の表面上に、IZOをスパッタリング法で薄膜成形して透明導電膜40を形成する。
金属膜30の膜厚は例えば200nm程度、透明導電膜40の膜厚は、例えば20nm〜50nmである。
レジスト膜形成工程:
製膜した金属膜30と透明導電膜40の積層体の上に、感光性レジストを塗布して被覆し、フォトリソグラフィ法でパターニングする。すなわち、パターンマスクを介して感光性レジスト膜を露光することによって、図2(b)に示すようにパター二ングされたレジスト膜50を形成する。このレジスト膜50によって透明導電膜40は部分的に被覆される。
エッチング工程:
図3(a)は、エッチング工程を行う装置の一例を示す概略図であって、この装置では矢印の方向に基板を搬送しながら、処理槽、水洗槽、乾燥機を通過するようになっている。
図3(b)は、処理槽の一例を示す図である。図3(b)に示す装置では、処理槽200の中にコンベアーベルト201を搬送する搬送ローラ202を備え、コンベアーベルト201上に基板を載せて処理槽200内を通過するようになっている。
また処理槽200は、シャワーライン203とバッファータンク204と送液ポンプ205を備え、バッファータンク204内のエッチャントをシャワーライン203から基板上に噴霧することができるようになっている。また処理槽200は、ディップ槽206とバッファータンク207と送液ポンプ208を備え、バッファータンク207内のエッチャントをディップ槽206に供給し、ディップ槽206内にエッチャントを貯めて基板を浸漬できるようにもなっている。なお、符合209,210は廃液ラインである。
このようなエッチング装置を用いて、以下のように(a)第1エッチャントによるエッチングを行い、続いて、(b)第2エッチャントによるエッチングを行う。各エッチング時間は、搬送ローラ202の速度を調整することによって調整できる。
(a)第1エッチャントによるエッチング:
レジスト膜50で部分的に被覆した透明導電膜40に対して、図2(c)に示すように、透明導電膜40のレジスト膜50で被覆されていない上面41に第1エッチャント60を接触させて、透明導電膜40を、所定の膜厚(膜厚3nm以上7nm以下)になるまでエッチングする。エッチング後の膜厚は、予め所定の膜厚になるのに要する時間を測定しておいて、その時間だけエッチングを行うによってコントロールする。すなわち、予め透明導電膜40が所定の厚みになるまでの時間を測定しておくか、あるいは、エッチングレートを測定しておいて、所定の厚みになると予測される時間が経過したときに終了すればよい。
なお、この残部分44の膜厚が薄すぎると、ピンホールが発生して被覆膜としての効果が得られないので、3nm以上に設定することが好ましい。一方、残部分44が厚すぎると、後の第2エッチャントによるエッチングで除去するのに時間がかかるので、7nm以下とするのが好ましい。
第1エッチャントとしては、金属膜30よりも透明導電膜40に対してエッチングレートが高いものを用いる。具体的には、第1エッチャント60は、弗酸を含む水溶液であって、特に、フッ化アンモニウム(NH4F)水溶液を用いることが好ましいが、フッ硝酸を用いることもできる。
フッ化アンモニウム(NH4F)水溶液の場合、フッ酸(HF)の濃度は、0.3wt%〜0.5wt%であることが好ましい。
上記処理槽200において、第1エッチャント60を透明導電膜40に付着させる方法としては、レジスト膜50で部分的に被覆した基板を、ディップ槽206内の第1エッチャント60に浸漬してもよいし、レジスト膜50で透明導電膜40を部分的に被覆した基板に、シャワーライン203から第1エッチャント60を散布する方法でエッチング処理してもよい。
このように、第1エッチャント60で透明導電膜40をエッチングすることによって、透明導電膜40は、下方向にエッチングされると共にレジスト膜50の下方にもぐり込むようにサイドエッチングされる。
すなわち、透明導電膜40が第1エッチャント60でエッチングされると、透明導電膜40の上面41(第1面)が下方向にエッチングされて、エッチング底面42(第1面)が下方向に後退して、透明導電膜40の厚みは薄くなると共に、透明導電膜40のエッチング側面43(第2面)が形成される。そして、透明導電膜40の残部分44が所定の膜厚になるまでエッチングを行う。
そして、このようなエッチングに伴って形成されたエッチング側面43は、レジスト膜50の側面51と面一ではなく、当該側面51よりも図2(d)において左方向に後退している。すなわち、エッチング側面43はレジスト膜50の下方に入り込んでいる。そして、レジスト膜50の下面52とエッチング側面43との間には、第1エッチャント60による液溜まり61が形成されている。
透明導電膜40によるエッチングが終了すると、基板を水洗して、第1エッチャント60を洗い流し、乾燥する。
(b)第2エッチャントによるエッチング
図4は、陽極作製プロセスの後半を示す図である。
図4(a)に示すように、上記エッチング底面42及びエッチング側面43に第2エッチャント70を接触させてウェットエッチングする。
この第2エッチャントによるエッチング工程を処理槽200で行う場合も、ディップ槽206内に第2エッチャント70を貯めて基板を浸漬してもよいし、シャワーライン203から第2エッチャント60を散布する方法でエッチング処理してもよい。
第2エッチャント70としては、透明導電膜40に対するエッチングレートと金属膜30に対するエッチングレートが同等のもの、若しくは金属膜30に対するエッチングレートが高いものを用いるが、第2エッチャント70の透明導電膜40に対するエッチングレートと金属膜30に対するエッチングレートがほぼ等しいものを用いることが好ましい。
硝酸と、酢酸と、リン酸との混合水溶液は、透明導電膜40と金属膜30に対するエッチングレートをほぼ同等にすることが容易なので、第2エッチャント70として好ましい。
この混酸において、硝酸と、酢酸と、リン酸と、水との好ましい成分比率は、硝酸が5−10%、酢酸が10%未満、リン酸が60−70%、残部が水である。
なお、この組成範囲内あっても、成分比率によってエッチングレートはある程度変化し、エッチャントの温度、さらに攪拌速度などの条件によってもエッチングレートが変化するので、実験的に最適な組成比率、エッチング温度を求めておけばよい。
このような第2エッチャントを用いて、まず透明導電膜40の残部分44をエッチングするが、図4(a)に示すように、レジスト膜50の下面52、エッチング底面42及びエッチング側面43により形成される領域に第2エッチャントの液溜まり71が形成された状態で、エッチング底面42とエッチング43とがエッチングされ、透明導電膜40の残部分44が金属膜30上から除去されると、図4(b)に示すように金属膜30の表面31(第3面)が露出されて第2エッチャントに接触する。
続いて、金属膜30の表面31(第3面)がエッチングされてエッチング底面32(第3面)が下方向に後退し、それに伴って、エッチング側面33(第4面)も形成される。
この時も、図4(c)に示すように、レジスト膜50の下面52、エッチング側面43、エッチング側面33及び金属膜30のエッチング底面32により形成される領域に、第2エッチャント70の液溜まり71が形成される。
エッチング底面32は、図4(d)においてラインP1→P2→P3で示すように、下方向に後退しながら、透明導電膜40のエッチング側面43及び金属膜30のエッチング側面33もエッチングされて図面左方向に後退するが、ここで、エッチング側面43及びエッチング側面33は、ほぼ同じ速度で後退していくので、エッチング側面43とエッチング側面33とが連続した面一の面、あるいはエッチング側面43の方がエッチング側面33よりも後退した形状を形成しながら、エッチングが進んでいく。
従って、エッチング底面32が金属膜30の下面に達して図4(f)のように平坦化膜2の上面(TFT基板の上面)が露出するまでエッチングされた状態においても、エッチング側面43とエッチング側面33とが連続した面一の面、あるいは、エッチング側面43の方がエッチング側面33よりレジスト膜の下層に後退した形状に形成される。
以上のように、透明導電膜40と金属膜30の積層体をウェットエッチングした後、レジスト膜50を剥離することによって、マトリクス状にパターニングされた陽極板が作製される。
(本実施形態にかかる陽極作製方法による効果)
上記本実施の形態に係る陽極作製方法によれば、第2エッチャントによるエッチング工程において、エッチング側面43及びエッチング側面33が、ほぼ同等の速度でエッチングされることによって、エッチングが終了した時点において、にエッチング側面43とエッチング側面33とが連続した面一の面、あるいは、エッチング側面43の方がエッチング側面33よりレジスト膜の下層に後退した滑らかな形状に形成される。
ここで、上記のようにエッチング側面43及びエッチング側面33を、ほぼ同等の速度でエッチングする上で、第2エッチャントとして、金属膜30とに対するエッチングレートと透明導電膜40に対するエッチングレートとが近いもの(具体的には硝酸と酢酸とリン酸との混合水溶液)を用いることが基本的に大切であるが、レジスト膜50の下面52、エッチング側面43、エッチング側面33及びエッチング底面32により形成される領域に、第2エッチャント70の液溜まり71が形成されることも大きく寄与している。
すなわち、エッチング側面43とエッチング側面33は共に、第2エッチャントの液溜まり71に接しながらエッチング進行するが、透明導電膜40は、インジウムを含む金属酸化物で形成されており、この種の材料の場合、第2エッチャントによる液溜まり71が存在することによって、第2エッチャントによる透明導電膜40に対するエッチングレートが向上する。従って、この作用も加わることによって、透明導電膜40の庇が形成されることなく、エッチング側面43とエッチング側面33がほぼ同じ速度でエッチングされ、エッチング側面43とエッチング側面33が滑らかに連続する形状となる。
そして、このように形成された陽極は、エッチング側面43とエッチング側面33が滑らかに連続する形状に形成されているので、当該陽極を覆うように、ホール注入層5を設けると、ホール注入層5と陽極との間に空隙が生じることがなく、ホール注入層5の薄膜が段切れすることもない。すなわち、カバレッジの良好なホール注入層5の薄膜が形成される。
また、カバレッジが良好なホール注入層5を形成できるので、このホール注入層5の上に、バンク6、ホール輸送層7、有機発光層8などを良好に形成することもできる。
以上のように、本実施の形態に係る製造方法を適用することによって、各有機EL素子a,20b,20cを良好に製造することができる。
また、このように製造された表示パネル100は、有機EL素子内に空洞による欠陥がないので、使用中に有機EL素子の性能が劣化することもない。
なお、本実施の形態の製法では、第1エッチャント60によるエッチングから第2エッチャント70によるエッチングに切り替えるときに、金属膜30の表面31は、残部分44で覆われているので、金属膜30の表面31が第1エッチャント60に接触することはなく、空気に接触することもない。従って、金属膜30の表面31が酸化されるのを防止できる。
(陽極作製方法の比較例)
図6は、比較例にかかる陽極作製方法を示す図である。
積層体製造工程及びレジスト膜形成工程は、上記実施の形態と同様に行うが、エッチング工程において、一種類のエッチャント80を用いて、透明導電膜40と金属膜30のエッチングを行う。
エッチャント80として、例えば、上記第2エッチャントと同様の混酸を用いることによって、透明導電膜40と金属膜30の両方をエッチングすることができる。
ただし、エッチャント80で透明導電膜40をエッチングするときには、透明導電膜40はサイドエッチングがほとんどなされない。すなわち、図6(a),(b)に示すように、透明導電膜40のエッチング側面143は、ほとんど図面左方向に後退することなく、レジスト膜50の下にエッチング側面143がもぐり込むことがないので、レジスト膜50の下面と透明導電膜40のエッチング側面143との間に、エッチャント80による液溜まりは形成されない。
従って、エッチャント80で金属膜30の上面が露出され、図6(c)〜(d)のように、エッチャント80で金属膜30がエッチングされるときにも、レジスト膜50の下面52、エッチング側面143、エッチング側面133及びエッチング底面132により形成される領域に、エッチャント80の液溜まりは形成されない。
よって、エッチャント80でエッチング側面143、エッチング側面133、エッチング底面132をエッチングするときに、上記実施の形態のようにエッチング側面143とエッチング側面133とは同等速度ではなく、エッチング側面143よりもエッチング側面133の方が高いエッチングレートでエッチングされ、エッチング側面133が透明導電膜40の下側に後退し、透明導電膜40による庇145が形成される。
図6(f)は、このようにして形成された陽極を示しており、透明導電膜14には庇145が形成され、庇145の下、すなわち金属電極13の側面133の横に、空洞90を有している。
図7は、庇145及び空洞90が形成された陽極を覆って、ホール注入層15を形成し、さらに、バンク16、ホール輸送層17、有機発光層18、電子注入層19などを形成したときに異常が発生した状態を示す図であって、図7に示す領域は、図1中、破線Aで囲んだ領域に相当する。当図に示すように、ホール注入層15において、庇145及び空洞90の箇所で段切れが生じやすく、良好なカバレッジは得られにくい。また、庇145の裏側部分145aにアルミ酸化物が残留する。
ホール注入層15のカバレッジが悪いと、バンク16などを形成する工程で使用する現像液(TMAH)が金属電極13に接触して金属電極13が腐食されることもある。
さらに、バンク16、ホール輸送層17、有機発光層18、電子注入層19などを形成すると空洞90にガスや水分などが閉じ込められ、さらに、バンク16、ホール輸送層17、有機発光層18、電子注入層19などを形成するときの加熱焼成工程に伴って、空洞90に閉じ込められたガスの圧力が高くなって膨張するので、図7に示すようにバンク16、ホール輸送層17、有機発光層18、電子注入層19などが変形することもあり、有機EL素子の性能が劣化する要因となる。
また、空洞90が有機EL素子中に残ると、製造工程中だけでなく、表示パネル100を使用しているときにも、空洞90に起因する有機EL素子の性能劣化が生じやすい。
[実施の形態2]
実施の形態2に係る表示パネルの製造方法は、陽極作製プロセス以外は上記実施の形態1の表示パネル100の製造方法と同様である。
本実施形態にかかる陽極作製方法について、図5を参照しながら説明する。
図5は、実施の形態2にかかる陽極作製プロセスの前半を示す図である。
陽極作製プロセスにおいて、図5(a)に示す積層体製造工程、図5(b)に示すレジスト膜形成工程は、実施の形態1の積層体製造工程,レジスト膜形成工程と同様である。
次に、図5(c)〜(e)に示すように、第1エッチャントによるエッチングを行う。この工程も、実施の形態1の第1エッチャントによるエッチングとほぼ同じであるが、実施の形態1では、透明導電膜40が所定の膜厚になった時点で第1エッチャント60によるエッチングを終了したのに対して、本実施形態では、金属膜30の表面31(第1面)が露出するまで第1エッチャント60によるエッチングを行う。
第1エッチャント60でエッチングされた透明導電膜40の側面43(第2面)は、サイドエッチングされることよりレジスト膜50の下で後退している。
第1エッチャントによるエッチングが終わると、基板を水洗して、第1エッチャント60を洗い流し、乾燥して、第2エッチャントによるエッチングを行う。
第2エッチャントによるエッチングは、実施の形態1で説明した第2エッチャントによるエッチングと同様に行う。
すなわち、図4(b)〜(e)に示されるように、金属膜30の表面31(第1面)がエッチングされてエッチング底面32(第1面)が下方向に後退し、それに伴って、エッチング側面33(第3面)も形成されるが、この時、図4(c)に示すように、レジスト膜50の下面52、エッチング側面43、エッチング側面33及び金属膜30のエッチング底面32により形成される領域に、第2エッチャント70の液溜まり71が形成される。
そして、図4(d)においてラインP1、P2、P3で示すように、エッチング底面32は、下方向に後退しながら、透明導電膜40のエッチング側面43及び金属膜30のエッチング側面33もエッチングされるが、エッチング側面43及びエッチング側面33は、ほぼ同じ速度で後退していくので、エッチング側面43とエッチング側面33とが連続した面一の面、あるいはエッチング側面43の方がエッチング側面33よりも後退した形状を形成しながら、エッチングが進んでいく。
従って、エッチング底面32が金属膜30の下面に達して図4(f)のように平坦化膜2の上面が露出するまでエッチングされた状態においても、エッチング側面43とエッチング側面33とが連続した面一の面、あるいは、エッチング側面43の方がエッチング側面33よりレジスト膜50の下に後退した形状に形成される。
本実施形態にかかる陽極作製方法による効果は、基本的に実施の形態1で説明した効果と同じであって、形成された陽極は、エッチング側面43とエッチング側面33が滑らかに連続する形状に形成されているので、当該陽極を覆うように、ホール注入層5を設けると、ホール注入層5と陽極との間に空隙が生じることがなく、ホール注入層5の薄膜が段切れすることもない。
よって、本実施の形態の製法によって製造された有機ELパネルにおいても、実施の形態1の製法で製造された表示パネル100と同様に、優れた性能を得ることができる。
一方、本実施の形態の製法では、第1エッチャント60によるエッチングで、透明導電膜40を所定の膜厚だけ残すことなく、金属膜30の表面31を露出させるので、第1エッチャント60によるエッチング時間の管理をそれほど厳密に行う必要がなく、製造上の管理が容易である。
なお、第1エッチャント60が金属膜30の表面31に接触した状態で時間が経過すると、金属膜30の表面31において第1エッチャント60に接触した領域は酸化されてアルミナ酸化物の膜が形成されるが、ここで形成されたアルミナ膜は第2エッチャント70によるエッチングで除去されるので、有機EL素子中に残存することはない。
上記実施の形態で説明した陽極作製方法に基づいて、有機材料からなる平坦化膜の上に、アルミニウム合金からなる金属膜30を膜厚200μmで形成し、透明導電膜40を膜厚50μmで形成し、その上にレジスト膜50をパターニング形成してウェットエッチングした。ウェットエッチングでは、第1エッチャント60としてフッ化アンモニウム(フッ酸濃度0.5%)を用いて透明導電膜40をエッチングし、洗浄した後、第2エッチャント70として混酸(硝酸5〜10%、酢酸10%、リン酸60〜70%)を用いて金属膜30をエッチングした。エッチング温度は30℃で行った。
図8(a)は、実施例の製法で作製した陽極の断面を示すSEM写真である。
当図から、実施例の方法では、透明導電膜及び金属膜のエッチング側面が連続した面一の面に形成されていることがわかる。
一方、図8(b)は、有機材料からなる平坦化膜の上に、アルミニウム合金からなる金属膜を200μm、ITOからなる透明導電膜を50μmで形成し、上記比較例の製法に基づいて混酸でエッチングすることによって作製した陽極の断面を示すSEM写真である。
この比較例の方法では、混酸によるエッチングによって、金属膜の方が透明導電膜よりもエッチングが進むので、図8(b)に示されるように、透明導電膜の庇が形成され、庇の下に空隙が形成されている。
[その他の事項]
上記実施の形態1,2では、透明導電膜40の材料としてIZOを用い、上記のような組成の第1エッチャント及び第2エッチャントを用いることによって、良好なエッチングレートが得られ、庇形成を防止する効果も良好に得られたが、透明導電膜40の材料としてITOを用いる場合も、第1エッチャントのフッ酸濃度を高めにしてITOに適した組成に変更すれば、同様にして、アルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属電極とITOからなる透明電極とが積層された積層電極を、庇の形成を防止しながら滑らかな形状に形成することができる。
上記実施の形態1、2では、有機ELパネルの陽極を作製するのに適用する例を示したが、上述した陽極作製方法は、有機ELパネル用の陽極に限らず、アルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属電極とインジウムを含む透明電極とが積層された構造の電極を滑らかな形状にパターニング形成するのに広く適用できる。
本発明は、有機ELパネルの陽極をはじめとして、様々なデバイスの電極を作製するのに適用でき、良好な性能のデバイスを得るのに寄与する。
1 基板
2 平坦化膜
3 金属電極
4 透明電極
5 ホール注入層
8 有機発光層
10 陰極
11 封止層
20a,20b,20c 有機EL素子
30 金属膜
32 エッチング底面
33 エッチング側面
40 透明導電膜
41 上面
42 エッチング底面
43 エッチング側面
44 残部分
50 レジスト膜
51 側面
60 第1エッチャント
70 第2エッチャント

Claims (11)

  1. 基板上に、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜を形成する第1工程と、
    前記金属膜の上面の上に、インジウムを含む金属酸化物からなる透明導電膜を形成する第2工程と、
    前記透明導電膜の上面に感光性レジスト膜を形成する第3工程と、
    所定のパターンを介して前記感光性レジスト膜を露光し、前記透明導電膜の一部を前記感光性レジスト膜から露出させる第4工程と、
    前記透明導電膜の前記露出された領域の膜厚が所定の膜厚になるまで、前記透明導電膜の前記露出された領域を、前記金属膜より前記透明導電膜に対してエッチングレートが高い第1エッチャントを用いてウェットエッチングする第5工程と、
    前記第1エッチャントを除去する第6工程と、
    前記所定の膜厚となった前記透明導電膜の上面である第1面、及び、前記所定の膜厚となった前記透明導電膜の上面につらなり且つ前記感光性レジスト膜の下層にある前記透明導電膜の側面である第2面を、前記透明導電膜より前記金属膜に対してエッチングレートが高い若しくは同等である第2エッチャントを用いてウェットエッチングする第7工程と、を含み、
    前記第5工程において、前記透明導電膜は、前記第1エッチャントにより前記感光性レジスト膜の下方までサイドエッチングされ、
    前記第7工程において、
    前記感光性レジスト膜の下面、前記第1面及び前記第2面により形成される領域に前記第2エッチャントの液溜まりが形成されて、前記第1面と前記第2面とがエッチングされ、
    前記所定の膜厚となった前記透明導電膜が前記金属膜上から除去され、前記金属膜の上面が露出されると、前記感光性レジスト膜の下面、前記第2面、及び前記金属膜の露出された上面である第3面により形成される領域に前記第2エッチャントの液溜まりが形成され、前記第2面と前記第3面とがエッチングされるとともに、前記金属膜の側面である第4面が形成され、
    さらに、前記第2面と第3面と第4面とが前記第2エッチャントでエッチングされて、前記金属膜の露出された領域が前記基板上から除去されて前記基板が露出されると、前記第2面と前記第4面とが連続した面一の面、あるいは、前記第2面の方が前記第4面より前記感光性レジスト膜の下層に後退した側面形状となる、
    導電膜パターンの製造方法。
  2. 基板上に、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属膜を形成する第1工程と、
    前記金属膜の上面の上に、インジウムを含む金属酸化物からなる透明導電膜を形成する第2工程と、
    前記透明導電膜の上面に感光性レジスト膜を形成する第3工程と、
    所定のパターンを介して前記感光性レジスト膜を露光し、前記透明導電膜を前記感光性レジスト膜から露出させる第4工程と、
    前記透明導電膜の前記露出された領域から前記金属膜が露出するまで、前記透明導電膜の前記露出された領域を、前記金属膜より前記透明導電膜に対してエッチングレートが高い第1エッチャントを用いてウェットエッチングする第5工程と、
    前記第1エッチャントを除去する第6工程と、
    前記露出された金属膜の上面である第1面、及び、前記金属膜の上面につらなり且つ前記感光性レジスト膜の下層にある前記透明導電膜の側面である第2面を、前記透明導電膜より前記金属膜に対してエッチングレートが高い若しくは同等である第2エッチャントを用いてウェットエッチングする第7工程と、を含み、
    前記第5工程において、前記透明導電膜は、前記第1エッチャントにより前記感光性レジスト膜の下方までサイドエッチングされ、
    前記第7工程において、
    前記感光性レジスト膜の下面、前記第1面、及び前記第2面により形成される領域に前記第2エッチャントの液溜まりが形成されて、前記第1面と前記第2面とがエッチングされるとともに、前記金属膜の側面である第3面が形成され、
    さらに、前記第1面と第2面と第3面とが前記第2エッチャントでエッチングされて、前記金属膜の露出された領域が前記基板上から除去されて前記基板が露出されると、前記第2面と前記第3面とが連続した面一の面、あるいは、前記第2面の方が前記第3面より前記感光性レジスト膜の下層に後退した側面形状となる、
    導電膜パターンの製造方法。
  3. 前記透明導電膜は、さらに、亜鉛を含む金属酸化物からなる、
    請求項1または2に記載の導電膜パターンの製造方法。
  4. 前記第1エッチャントが、弗酸を含む水溶液である、
    請求項1または2に記載の導電膜パターンの製造方法。
  5. 前記第2エッチャントが、硝酸と、酢酸と、リン酸との混合水溶液である、
    請求項1または2に記載の導電膜パターンの製造方法。
  6. 前記第1エッチャントが、フッ化アンモニウム水溶液である、
    請求項4記載の導電膜パターンの製造方法。
  7. 前記フッ化アンモニウム水溶液の中のフッ酸の濃度は、0.3から0.5パーセントである、
    請求項5記載の導電膜パターンの製造方法。
  8. 前記第2エッチャントの、硝酸と、酢酸と、リン酸との混合水溶液の、前記硝酸と、酢酸と、リン酸と、水との成分比率は、
    硝酸が5−10%、酢酸が10%未満、リン酸が60−70%、残部が水である、
    請求項5記載の導電膜パターンの製造方法。
  9. 前記第5工程で残す前記透明導電膜の膜厚は3nm以上7nm以下である、
    請求項1に記載の導電膜パターンの製造方法。
  10. 請求項1記載の導電膜パターンの製造方法により、下部導電膜パターンを形成し、
    さらに、
    前記下部導電膜パターンから、前記感光性樹脂層を除去し、前記感光性樹脂層の下部の領域の前記透明導電膜の表面を露出させる第8工程と、
    前記露出させた透明導電膜の表面と、前記透明導電膜の前記側面と、前記金属膜の前記側面と、及び前記基板上であって前記金属膜が前記ウェットエッチングにより除去されて露出した前記基板上に、中間層を連続して形成する第9工程と、
    前記中間層上の所定の画素領域に有機発光層を形成する第10工程と、
    前記有機発光層の上方に上部電極を形成する第11工程と、
    を含む有機EL表示パネルの製造方法。
  11. 請求項2記載の導電膜パターンの製造方法により、下部導電膜パターンを形成し、
    さらに、
    前記導電膜パターンから、前記感光性樹脂層を除去し、前記感光性樹脂層の下部の領域の前記透明導電膜の表面を露出させる第8工程と、
    前記露出させた透明導電膜の表面と、前記透明導電膜の前記側面と、前記金属膜の前記側面と、及び前記基板上であって前記金属膜が前記ウェットエッチングにより除去されて露出した前記基板上に、中間層を連続して形成する第9工程と、
    前記中間層上の所定の画素領域に有機発光層を形成する第10工程と、
    前記有機発光層の上方に上部電極を形成する第11工程と、
    を含む有機EL表示パネルの製造方法。
JP2010050424A 2010-03-08 2010-03-08 導電膜パターンの製造方法、および有機el表示パネルの製造方法 Withdrawn JP2011187276A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010050424A JP2011187276A (ja) 2010-03-08 2010-03-08 導電膜パターンの製造方法、および有機el表示パネルの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010050424A JP2011187276A (ja) 2010-03-08 2010-03-08 導電膜パターンの製造方法、および有機el表示パネルの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011187276A true JP2011187276A (ja) 2011-09-22

Family

ID=44793334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010050424A Withdrawn JP2011187276A (ja) 2010-03-08 2010-03-08 導電膜パターンの製造方法、および有機el表示パネルの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011187276A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013143294A (ja) * 2012-01-11 2013-07-22 Panasonic Corp 有機el素子とその製造方法
JP2014232689A (ja) * 2013-05-30 2014-12-11 東京エレクトロン株式会社 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2019114514A (ja) * 2017-12-26 2019-07-11 住友化学株式会社 電子デバイスの製造方法及び電子デバイス

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013143294A (ja) * 2012-01-11 2013-07-22 Panasonic Corp 有機el素子とその製造方法
JP2014232689A (ja) * 2013-05-30 2014-12-11 東京エレクトロン株式会社 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2019114514A (ja) * 2017-12-26 2019-07-11 住友化学株式会社 電子デバイスの製造方法及び電子デバイス

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5426527B2 (ja) 発光素子とその製造方法、および発光装置
JP5357194B2 (ja) 発光素子、発光素子を備えた発光装置および発光素子の製造方法
US8921838B2 (en) Light emitting element, method for manufacturing same, and light emitting device
JP5574456B2 (ja) 発光素子とその製造方法、および発光装置
US9722006B2 (en) Organic light-emitting device and method for producing same
US8822246B2 (en) Method for manufacturing a light-emitting element including a protective film for a charge injection layer
JP5543600B2 (ja) 発光素子、発光素子を備えた発光装置および発光素子の製造方法
JP5330545B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP5620495B2 (ja) 発光素子、発光素子を備えた発光装置および発光素子の製造方法
JP2011187276A (ja) 導電膜パターンの製造方法、および有機el表示パネルの製造方法
JP5543599B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP2013008546A (ja) 導電膜パターンの製造方法、および有機el表示パネルの製造方法
JP2013127884A (ja) 薄膜付基板の製造方法
JP5857333B2 (ja) 有機el素子とその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20130604