JP2011181117A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
光ディスクの市場においては、２層よりも多くの記録層を一枚のディスクに有する多層タイプの光ディスクが検討されている。
多層ディスクでは複数の記録層からの反射を考慮する必要があり、また隣接する記録層との間隔も狭まると予想される。
他記録層からの迷光は、光ディスクの記録層数の増加や、記録層間の物理的な距離が短くなると、実際のディスク上のトラック溝と無関係にトラッキング誤差信号がより大きく変動し、光ディスク装置のサーボ制御への外乱が大きくなる。
【解決手段】
トラッキング誤差信号の品質と対物レンズ位置の関係を学習し、トラッキング誤差信号の品質が好適となる対物レンズ位置で動作を行う。
【選択図】 図１

Description

本発明は光ディスク装置に関するものである。

背景技術としては、以下の特許文献が開示されている。

例えば、特許文献１には、第０００６段落に、「再生時におけるサーボ信号の品質が十分に評価されていないために、安定したサーボ制御によって情報を読み出すことができないこと」を課題としてあげている。また、第００１３段落以降、「対物レンジをトラック方向に移動することによって、ＲＦ（Rａdio Frequency）信号レベル、ＲＦ信号ジッター値、フォーカスエラー信号の対称性、またはトラッキングエラー信号の対称性を最適に調整する動作」について記載がある。

また、例えば、特許文献２には、その要約に、「多層光ディスクの記録再生においてフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号ともに他層からの迷光の影響を受けず、安定したサーボ信号を得ることが出来る光学ピックアップ装置を提供することを目的とする。」と記載されている。また、特許文献２では、回折格子を用いてディスクから反射されたレーザー光束を分割し、図２（ａ）（ｂ）に図示するように焦点を合わせていない記録層からの反射光を受光しない受光器の構成が提案されている。

また、特許文献３には、迷光によるトラッキング誤差信号への影響の計測方法と、トラッキング誤差信号の乱れが大きい場合に記録再生時のディスク回転速度を減少する動作についての記載がある。

ＷＯ２００６／１０６６５１ 特開２００９-１７００６０ 特開２００９-１５７９７９

現在、規格化されているブルーレイディスク（Ｂｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｃ 以下、ＢＤという）において片面２層ディスクは、ディスク表面から０.１ｍｍ近傍に二つの記録層を有し、片面から複数の記録層へのアクセスを可能とする。

二つの記録層はディスクの厚み方向に２５μmのカバー層を挟んで配置されている。このため、一方の記録層に焦点を合わせた場合に、もう一方の記録層からの反射光（迷光）が意図せず受光されることによって、装置の記録再生性能に影響を及ぼすことが懸念される。

特許文献１に記載されている方法を、２層以上の光ディスクに対して適用とした場合には、迷光の影響を抑制できない可能性がある。

また、光ディスクの市場においては、２層よりも多くの記録層を一枚のディスクに有する多層タイプの光ディスクが検討されている。

多層ディスクでは複数の記録層からの反射を考慮する必要があり、また隣接する記録層との間隔も狭まると予想される。

また、特許文献２のように、他記録層からの迷光を回折によって受光器上の受光部から照射位置をずらす方法では、光ディスク装置の対物レンズのみが光ディスクのトラックを横断する方向、に変位すると、図２（ｃ）に示すように、受光器に対してレーザー光が照射される位置が変わる。このため、迷光の一部が受光器に入射したり、迷光の光量が対物レンズの位置によって変わることが考えられる。このような迷光回避方法のみでは、光ディスクの記録層数の増加や、記録層間の物理的な距離が短くなると、より困難になる。

また、光束を分割して迷光を避ける構成でなくても、対物レンズの変位による迷光の受光量の変動が起こる。

受光される迷光は、受光されたレーザー光から生成される各種信号に影響を与える。トラッキング誤差信号は図３（ａ）に示すように、ディスク上のトラックと光スポットの位置関係を示す信号であるが、他記録層からの迷光が受光されると図３（ｂ）のように、トラッキング誤差信号に本来の信号とは異なる成分が観測される。受光部に入射する迷光は、焦点を合わせている記録層からの反射光と干渉するため、装置の動作によって変動する信号成分として観測される。

トラッキング誤差信号が実際のディスク上のトラック溝と無関係に変動することで、光ディスク装置のサーボ制御への外乱となる。

本発明の目的は、他の記録層からの反射光による影響を低減する光ディスク装置を提供することである。

上記の目的は、特許請求の範囲に記載の構成により達成される。また、その概要の例としては、以下の通りである。すなわち、トラッキング誤差信号の品質と対物レンズ位置の関係を学習し、トラッキング誤差信号の品質が好適となる対物レンズ位置で動作を行う。

本発明によると、他の記録層からの反射光による影響を低減する光ディスク装置を提供することが可能となる。

光ディスク装置の構成例を示す図 フォーカス中の記録層から反射されたレーザー光の受光器上の分布示す図 フォーカス中の記録層以外の記録層から反射されたレーザー光の受光器上の分布示す図 対物レンズがディスクの略接線方向に変位したときのフォーカス中の記録層以外の記録層から反射されたレーザー光の受光器上の分布示す図 トラッキング誤差信号の品質を示す図 トラッキング誤差信号の品質を示す図 トラッキング誤差信号の品質指標の一例を示す図 トラッキング誤差信号の品質の学習のフローチャート トラッキング誤差信号の品質の学習の学習結果を示す図 トラッキング誤差信号の品質の学習の学習結果を示す図 光ディスク装置の構成例を示す図 選択手段の構成例１ 選択手段の構成例２ 光ディスク装置の構成例を示す図 トラッキング誤差信号の学習のフローチャート トラッキング誤差信号の学習の学習結果を示す図 光ディスク装置の構成例を示すブロック図 記録面と各種信号の関係を示す図

図１は、本光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。

図１において、１０１は片面からアクセス可能な複数の記録層を有する光ディスクである。また、１０２はレーザー光をディスクの記録層に集光するための対物レンズである。また、１０３は対物レンズ１０２を駆動するための駆動手段である。また、１０４はレーザーである。なお、駆動手段１０３は、対物レンズ１０２を、レーザーの光軸から半径方向にずれるよう駆動する。また、１０５は光ディスクから反射されるレーザー光である反射光を受光する受光器である。また、１０６は受光器１０５により受光されたレーザー光からディスク上のトラックと光スポットのずれを示すトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段である。また、１０７は駆動手段１０３を駆動するための駆動信号を生成するトラッキング駆動信号生成手段である。また、１０８は駆動信号に応じて駆動手段１０３に駆動電圧を供給する駆動電圧供給手段である。また、１０９は受光器１０５により受光されたレーザー光から再生信号を生成する再生信号生成手段である。また、１１０は信号品質計測手段、１１１は制御手段、１１２は固定的な電気信号を駆動電圧供給手段１０８に加えて対物レンズ１０２を変位させる変位信号印加手段、１１４は学習結果を記録する記憶手段、１２１はレーザー光の光路を分岐する光学素子である。

図１において、１０２から１０５と１２１を含んで光ピックアップ１１３を構成する。

図１の装置は、対物レンズ１０２がレーザー１０４から出射されるレーザー光を光ディスク１０１上に集光し、光スポットを生じる。

図１の装置は、光ディスク１０１が有する複数の記録層のうち、いずれかを選択し、前記光スポットが選択した記録層上で合焦するように対物レンズ１０２を記録層に対して略垂直方向に駆動する。記録層上に光スポットを生じ、該記録層からの反射光を受光器１０５で受光する。受光器１０５で受光されたレーザー光より、該記録面上に形成されたトラック溝と光スポットとのディスクの半径方向の位置ずれ、トラッキング誤差信号（トラッキングエラー信号）をトラッキング誤差信号生成手段１０６によって生成する。

トラッキング駆動信号生成手段１０７は前記トラッキング誤差信号により、該記録面上のトラック溝と光スポットとの位置ずれを減少するように、対物レンズ１０２をディスクの略半径方向に駆動するためのトラッキング駆動信号を生成する。

駆動電圧供給手段１０８は前記駆動信号に応じ、駆動手段１０３に駆動電圧を印加し、対物レンズ１０２を所望の方向に駆動する。

このようにして、所望のトラック溝に対して光スポットを位置づけする。

しかしながら図２のように、複数の記録層を有するディスクでは、選択した記録層からの反射光のみではなく、そのほかの記録層からの反射光が受光器１０５によって受光される。

信号品質計測手段１１０は、トラッキング誤差信号生成手段１０６により生成されるトラッキング誤差信号を計測することで、トラッキング誤差信号の品質を計測する。

ここで、信号品質の指標としては例えば特開２００９-１５７９７９に記載の方法でよい。つまり、例えば、対物レンズ１０２を、あるレンズシフト量に固定した上で、光スポットが記録層上のトラックを数十本ないし数千本横断するようにする。光スポットがトラックを横断するようにするために、例えばディスク１０１を回転させ、回転モータの回転軸とディスクの渦巻きの中心とのずれによって光スポットがトラックを横断しても良い。また、例えばあるレンズシフト量を中心とした十分に小さい範囲内で対物レンズ１０２をディスク１０１のトラックを横断する方向に変動させても良い。そして、一定時間トラッキング誤差信号を測定し、エンベロープ回路によってトラッキング誤差信号のゆれと、トラッキング誤差信号の振幅とを観測し、その比を指標とすることによって品質指標とする。すなわち図４に示すようなトラッキング誤差信号の振幅（図中ＴＥａｍｐ）と、トラッキング誤差信号のエンベロープの変動量（図中ΔＥＮＶ）を測定し、下式によって信号品質を得るものである。

（式１） （信号品質） ＝ ΔＥＮＶ／ＴＥａｍｐ
光ディスク装置に光ディスクを装着した際、ディスクのトラックの渦巻きの中心と、センターホールの位置やスピンドルモータの回転中心とのずれ、いわゆる偏芯によって、対物レンズ位置を固定したままディスクを回転させるだけで光スポットは複数本のトラックを横切る。この偏芯を利用してトラッキング誤差信号の計測を行うことができる。

また、信号品質の指標はこれに限ったものではなく、たとえばＤｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌＰｕｓｈＰｕｌｌ（ＤＰＰ）方式のトラッキング誤差信号におけるＳｕｂＰｕｓｈＰｕｌｌ（ＳＰＰ）信号を対物レンズ１０２を静止した状態で一定時間計測し、ＳＰＰ信号のゆれによって品質を評価してもよい。なお、迷光が無いと仮定した場合、ＳＰＰ信号の中央値は、対物レンズ１０２の中立位置からのレンズシフト量と略比例関係を有する。そして、迷光によって、あるレンズシフト量に対するＳＰＰ信号がゆれるため、レンズシフト量をある値に固定した場合に観測されるＳＰＰ信号の中央値の変動量によって品質を評価することができる。

また、同様の方法で再生信号生成手段１０９によって作られる再生信号の所定時間のゆれを計測してもよい。また、信号品質計測手段１１０は、特定のトラッキング誤差信号に含まれているオフセットの微分値を取得するものとする。また、信号品質計測手段１１０は、トラッキング誤差信号に含まれ、かつ、光ディスク１０１の回転に伴って変動するオフセットの変動量を取得するものとしてもよい。なお、他層からの迷光成分と合焦している記録層からの反射光成分の光の位相関係は、例えば、光ディスク１０１の回転に伴って逐次変動するため、例えば迷光によるトラッキング誤差信号も逐次変動するものである。このため、例えば、アシンメトリのようなトラッキング誤差信号に含まれているオフセットの定常的な成分を利用したとしても、迷光対策としては十分でない可能性がある。一方、本実施例の光ディスク装置は、迷光による干渉の影響が信号中に発生する場合でも、トラッキング制御の安定性を向上することができる。

また、制御手段１１１は、この信号品質計測手段１１０による信号品質と対物レンズ位置の関係性を学習する。

ここで、図５（ａ）のフローチャートを用いて、学習の手順を説明する。

図中、まずＳ５０１で処理が開始される。

Ｓ５０２では、制御手段１１１は、変位信号印加手段１１２で駆動電圧供給手段１０８に印加する変位信号を変えて対物レンズ１０２を変位させる。次に、制御手段１１１は、Ｓ５０３で信号品質指標を検出する。Ｓ５０４では、制御手段１１１は、学習結果として、信号品質が好適となる対物レンズ位置が算出可能であるかを判定する。Ｓ５０４では、例えば信号品質指標を検出した回数が、信号品質の好適となる対物レンズ位置を求めるのに十分な回数に達すれば、計算可能であるとして、処理をＳ５０５に進める。一方、Ｓ５０４において、まだ算出可能な程度に信号が得られていない場合、処理は、再びＳ５０２に遷移する。つまり、制御手段１１１は、複数の対物レンズ位置において、信号品質を取得する。

Ｓ５０５では、制御手段１１１は、Ｓ５０２とＳ５０３の繰り返しで得られた、対物レンズ位置と信号品質との関係性から、信号品質が好適となる対物レンズ位置を導出する。

ここで、図５（ｂ）を用いて、トラッキング誤差信号の品質の学習の学習結果について説明する。図中、横軸が対物レンズの位置で、縦軸が品質を示す。そして、対物レンズの位置の計算には図５（ｂ）のように、対物レンズ位置とトラッキング誤差信号のゆれ量をプロットし、最小二乗法等によってトラッキング誤差信号のゆれ量が最小となる対物レンズ位置Ｘ_Ｑを、二次関数に近似して求め、二次関数の極小値として信号品質が好適となる対物レンズ位置を導出する。なお、Ｘ_Ｑの値は、例えば、固定値であり、トラッキング駆動信号に印加されるオフセット値となる。

Ｓ５０６では、制御手段１１１は、Ｓ５０５で求めた学習結果を記憶領域１１４に記録させる。なお、学習結果は、上記対物レンズ位置Ｘ_Ｑを含む情報であるが、迷光成分が所定量より大きくなった対物レンズ１０２の位置を示す情報も含んでいても良い。また、学習結果は、上記対物レンズ位置Ｘ_Ｑを、位置に対応する変位信号のレベルとして含んでいてもよい。

Ｓ５０７で処理は終了となる。

本実施の光ディスク装置は、対物レンズ位置にＸ_Ｑの変位を与えるように変位信号印加手段１１２を設定し、トラッキング誤差信号の品質を良好に保つ。

該学習結果と前記印加手段１１２によって、固定的な駆動電圧を印加するタイミングは装置の動作時の一部のタイミングでもよい。

例えば、トラッキング誤差信号を指標とした、前記学習処理以外の学習を行う場合、トラッキング誤差信号の品質が良好でないと学習処理が異常となる場合が考えられる。したがって、光ディスク装置は、トラッキング誤差信号を指標とする学習処理を実施する場合に、印加手段１１２に該学習結果を反映する構成としてもよい。

また、光ディスク上の任意の領域に光スポットを位置づけする検索処理時に該学習結果を変位信号印加手段１１２に設定してもよい。検索動作時にはトラッキング誤差信号を観測しながら任意の領域を探して位置づけを行う。このため、トラッキング誤差信号の品質が良好であると動作の安定性が増す。

なお、記録再生時にはトラッキングサーボが動作しているが、このときに固定的な駆動電圧を印加することで、トラッキングサーボがＸ_Ｑの位置を制御中心として動作することになり、記録生成性能の安定性も増す。

また、図５に示した学習処理は、複数の記録層を有する光ディスク１０１に対して、記録層ごとに処理が行われてもよいし、いくつかの記録層を選択して実施されてもよい。

なお、記録層を選択して実施する場合は、選択されなかった記録層では他の記録層における学習結果を用いる。

記録層の選択は、光ディスク１０１の記録層数、各記録層が隣接する記録層との物理的な間隔、各記録層の記録状態などによって決定する。

記録層を選択して学習する実施は、例えば、図１０に示す構成で実現できる。

図１０は、光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。

図中、１０１、１０２、１０３から１０７、１０９から１１３、１２１の構成要素は図１と同様であり、実施例１において説明した動作を行う。

１０３は、対物レンズ１０２を焦点方向と光ディスクの略半径方向の二方向に駆動可能な駆動手段である。また、１０１７は、受光器１０５に受講されたレーザー光からディスク上の記録面とレーザー焦点のずれを示すフォーカス誤差信号を生成するフォーカス誤差信号生成手段である。また、１０１８は、駆動手段１０３を焦点深度方向に駆動するための駆動信号を生成するフォーカス駆動信号生成手段である。また、１０１９は、記録層の位置を検出する記録層位置取得手段である。また、１０８、はフォーカス駆動信号およびトラッキング駆動信号に応じて駆動手段１０３に駆動電圧を供給する駆動電圧供給手段である。

図１０に示す光ディスク装置は、光ディスク１０１が有する複数の記録層のうち、選択されたいずれかの記録層上に光スポットが合焦するように後述するフォーカス制御を行う。

フォーカス制御は選択した光ディスク上の記録面とレーザー光の焦点の焦点深度方向の位置連れを示すフォーカス誤差信号（フォーカスエラー信号）をフォーカス誤差信号生成手段１０１７により生成する。フォーカス駆動信号生成手段１０１８は前記フォーカス誤差信号により、記録面と焦点の位置ずれを減少するように、対物レンズ１０２を焦点深度方向に駆動するためのフォーカス駆動信号を生成する。

記録層位置取得手段１０１９は前記フォーカス誤差信号を観測することによって記録層の位置を取得できる。

ここで、図１１を用いて、記録面と各種信号の関係について説明する。

たとえば、該図が示すように、四つの記録層を有する光ディスクに対して、レーザー光を照射しながら対物レンズを焦点方向に略一定速度ｖで駆動する。そのとき得られたフォーカス誤差信号から、記録層が検出される時間t_０、t_１、ｔ_２、ｔ_３、ｔ_４を計測する。例えば記録層２のディスク表面からの位置はｔ_２とvの積で求められる。

時間t_０、t_１、ｔ_２、ｔ_３、ｔ_４の計測については、例えばフォーカス誤差信号に対して閾値Ｖｔｈ１とＶｔｈ２を設け、信号レベルがＶｔｈ１を下回ったあと、Ｖｔｈ２を上回る変化を示したときに記録層を検出する方法がある。

なお、記録層位置取得手段１０１９が記録層位置を取得する方法はこれに限るものではない。例えば、総光量信号による検出を行ってもよいし、光ディスク上の管理情報を再生することで取得してもよい。

制御手段１１１は記録層位置取得手段１０１９により得られた記録層位置情報から、前記学習処理を実施する記録層を選択する。

学習処理を実施する記録層の選択方法は例えば次に上げる方法がある。Ｎ個（Ｎは正の整数）の記録層を有する光ディスクについて、Ｎ個の記録層に物理的な並び順に対応して１からＮ番の番号をつけ、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ、ｉは整数）と第j層（１≦ｊ≦Ｎ、ｊは整数）との間隔をｄ（ｉ，ｊ）であらわす。

例えばこのとき奥側に隣接する記録層との間隔ｄ（Ｎ，Ｎ＋１）が最も小さくなるような第Ｎ層（１≦Ｎ≦Ｎ−１、Ｎは整数）選択する。

選択方法はこれに限ったものではなく、手前側に隣接する記録層との間隔ｄ（ｍ，ｍ−１）が最も小さくなる第ｍ層（２≦ｍ≦Ｎ、ｍは整数）を選択してもよいし、手前側と奥側の記録層との間隔の平均値によって選択を行ってもよい。

選択された記録層に対して、フォーカス制御を行い、前記学習処理を実施する。

また、本実施例の変形例について、図６を用いて説明する。

図６は、光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。

図中、１０１から１１３、１２１の構成要素は図１と同様であり、実施例１において説明した動作を行う。６１４は選択手段であり、駆動電圧供給手段に印加する信号を選択する。

ここで、図７（ａ）（ｂ）を用いて、選択手段６１４の構成例について説明する。

選択手段６１４は、図７（ａ）（ｂ）いずれにおいても、トラッキング駆動信号生成手段１０７の出力と、変位信号印加手段１１２の出力と、両者の和のうちから選択を行う。例えば、選択手段６１４は、図７（ａ）のように駆動電圧供給手段１０８に入力する信号を切り替える構成でもよい。また、選択手段６１４は、図７（ｂ）のようにトラッキング駆動信号生成手段側に配置した可変増幅器７１５と、変位信号を印加するための可変電圧印加手段７１６とを、選択手段６１４が任意に設定可能であってもよい。選択手段６１４は回路として構成されても、プログラムとして構成されてもよい。

制御手段１１１は、装置の動作状況に応じて選択手段６１４によって駆動電圧供給手段１０８に入力する信号を選択する。

また、制御手段１１１が実施する学習は、図５（ｃ）のように、計測信号品質が任意の閾値Ｑｔｈよりも良好となる対物レンズ位置の範囲を求てもよい。この場合最終的な学習値は、当該対物レンズ位置の範囲自体でもよいし、該範囲の中心となる位置でもよい。

図８に実施の一形態を示す。

図８は、光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。

図８中、１０１から１１３、１２１の構成要素は図１と同様であり、実施例１において説明した動作を行う。８１５は中央値計測手段であり、トラッキング誤差信号の中央値を計測する。

本実施例の制御手段１１１は、図５に示した学習に加えて、トラッキング誤差信号の中央値を計測し、該中央値に応じて対物レンズの位置また変位信号を取得する処理を行うものである。

ここで、図９（ａ）のフローチャートを用いて、学習の手順を説明する。

図９（ａ）中、Ｓ５０１、Ｓ５０２、Ｓ５０４、Ｓ５０６は図５（ａ）のフローチャートと同様であり、説明を省略する。

Ｓ９０３では中央値計測手段８１５により、トラッキング誤差信号生成手段１０６から入力されるトラッキング誤差信号の中央値を計測する。

Ｓ５０２で対物レンズ１０２を移動しながら、繰り返し中央値を計測することで、図９（ｂ）に示すような、トラッキング誤差信号のオフセット量とレンズシフト位置との関係性を得る。Ｓ９０５では図９（ｂ）の関係性から、中央値が基準電圧Ｖ_０と略一致する（オフセット量が略０となる）レンズシフト位置Ｘ_０を導出し学習結果とする。

制御手段１１１は、前記二つの学習により得られた学習結果のＸ_ＱとＸ_０と、任意の係数Ａ、Ｂ（０≦Ａ≦１、０≦Ｂ≦１、Ａ＋Ｂ＝１）を用いて以下の計算を行う。

（式２） Ｘ ＝ Ａ × Ｘ_Ｑ ＋ Ｂ × Ｘ_０
制御手段１１１はこのようにして得られた対物レンズ位置Ｘとなる固定電圧を変位信号印加手段１１２に設定する。

なお、（式２）におけるＡおよびＢの係数の値は、装置の動作状況によって変化されてもよい。

例えば、トラッキング誤差信号の振幅値を計測する場合には、Ａ＝０、Ｂ＝１として、信号品質が好適となる対物レンズ位置Ｘ_０に対物レンズを変位して振幅取得を行ってもよい。

なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。

また、上記の各構成は、それらの一部又は全部が、ハードウェアで構成されても、プロセッサでプログラムが実行されることにより実現されるように構成されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。

１０１ 光ディスク
１０２ 対物レンズ
１０３ 駆動手段
１０４ レーザー
１０５ 受光器
１０６ トラッキング誤差信号生成手段
１０７ トラッキング駆動信号生成手段
１０８ 駆動電圧供給手段
１０９ 再生信号生成手段
１１０ 信号品質計測手段
１１１ 制御手段
１１２ 変位信号印加手段
１１３ 光ピックアップ
１１４ 記憶手段
１２１ 光学素子
ａ１〜ｉ１、ｅ２〜ｈ２、ｒ〜ｖ 受光器上検出部
６１４ 選択手段
７１５ 増幅器
７１６ 電圧印加手段
８１５ 中央値計測手段
１１０７ フォーカス誤差信号生成手段
１１０８ フォーカス駆動信号生成手段
１１０９ 記録層位置取得手段

Claims (7)

1. 複数の記録層を有する光ディスクに記録または再生可能な光ディスク装置であって、
   レーザ光を発光する発光部と、
   前記レーザ光を集光し光スポットを形成させる対物レンズと、
   前記光ディスクからの反射光を検出する光検出部と、
   前記対物レンズを、前記レーザ光の光軸から半径方向にずれるよう駆動するレンズ駆動部と、
   前記反射光に基づいてトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成部と、
   前記トラッキング誤差信号に基づいてトラッキング駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
   前記反射光または前記トラッキング誤差信号から、前記トラッキング誤差信号のオフセットの、前記光ディスクの回転に伴う変動量を取得する変動量取得部と、
   前記トラッキング駆動信号に印加され、前記対物レンズに変位を与える変位信号を取得する変位信号取得部と、
   前記レンズ駆動部は、前記対物レンズを複数の半径位置に駆動し、
   前記変動量取得部は、前記複数の半径位置において前記変動量を取得し、
   前記変位信号取得部は、前記複数の半径位置において取得される前記変動量に基づいて前記変位信号を取得することを特徴とする光ディスク装置。
2. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記変位信号取得部が取得した変位信号を記憶する記憶部を備えることを特徴とする光ディスク装置。
3. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記変動量とは、前記トラッキング誤差信号に含まれる前記光ディスクのトラック構造と同期しない変動量であることを特徴とする光ディスク装置。
4. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記変動量は、前記複数の記録層のうち、前記光スポットが形成されている層とは異なる層からの迷光によって変動することを特徴とする光ディスク装置。
5. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記変位信号を前記トラッキング駆動信号に印加する変位信号印加部を備えることを特徴とする光ディスク装置。
6. 請求項１ないし５のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
   前記反射光からフォーカス誤差信号を生成するフォーカス誤差信号生成部と、
   前記対物レンズを焦点深度方向に駆動するフォーカス駆動部と、
   各記録層のディスク表面からの距離情報を取得する記録層位置取得部と、を備え、
   前記光ディスクがＮ個（Ｎ≧３）の記録層を有する場合に、
   前記変位信号取得部は、Ｎ個の記録層のうち隣接する記録層との間隔に基づいて選択される記録層から、前記変位信号を取得することを特徴とする光ディスク装置。
7. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記トラッキング誤差信号の中央値を取得する中央値取得部を有し、
   前記中央値取得部は、前記複数の半径位置において前記中央値を取得し、
   前記変位信号取得部は、
   前記変動量に基づいて得られる対物レンズの位置をＸ_Ｑとし、前記中央値に基づいて対物レンズの位置をＸ_０とし、任意の比率ＡおよびＢ（０≦Ａ≦１、０≦Ｂ≦１、Ａ＋Ｂ＝１）を用いて、
   Ｘ ＝ Ａ×Ｘ_Ｑ＋Ｂ×Ｘ_０
   の式に応じて、対物レンズ位置Ｘを与える変位信号を取得することを特徴とする光ディスク装置。

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