JP2011165879A - Method for connection between terminals - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for connection between opposite terminals, capable of obtaining good electrical connection between the terminals and high insulation reliability between adjacent terminals. <P>SOLUTION: The connection method includes: an arrangement step of disposing a conductive connection material 100 between the opposite terminals 11 and 21 by using the conductive connection material 100 having a laminate structure comprising a resin composition 120 and a metal foil 110 selected from a solder foil and a tin foil; an adjustment step of heating the conductive connection material 100 at a temperature lower than the melting point of the metal foil 110 and controlling the shortest separation x between the opposite terminals 11 and 21 within a predetermined range; a heating step of heating the conductive connection material 100 not to allow the resin composition 120 to be completely cured at a temperature of the melting point of the metal foil 110 or higher while keeping the shortest separation x within the predetermined range; and a curing step of curing the resin composition 120 at a temperature lower than the melting point of the metal foil 110. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気、電子部品において電子部材同士を電気的に接続する方法であって、対向する端子間を電気的に接続する方法に関する。   The present invention relates to a method for electrically connecting electronic members in electrical and electronic components, and to a method for electrically connecting opposing terminals.

近年、電子機器の高機能化及び小型化の要求に伴い、電子材料における接続端子間の狭ピッチ化がますます進む方向にある。これに伴い、微細な配線回路における端子間接続も高度化している。端子間の接続方法としては、例えば、ICチップを回路基板に電気的に接続する際に異方性導電接着剤又は異方性導電フィルムを用いて多数の端子間を一括で接続するフリップチップ接続技術が知られている。異方性導電接着剤又は異方性導電フィルムは、熱硬化性樹脂を主成分とする接着剤に導電性粒子を分散させたフィルム又はペーストである(例えば、特開昭61−276873号公報(特許文献1)及び特開2004−260131号公報(特許文献2)参照)。これを接続すべき電子部材の間に配置して熱圧着することにより、対向する多数の端子間を一括で接続することができ、接着剤中の樹脂により隣接する端子間の絶縁性を確保することを可能にする。   In recent years, with the demand for higher functionality and miniaturization of electronic devices, the pitch between connection terminals in electronic materials is becoming increasingly narrow. Along with this, the connection between terminals in a fine wiring circuit has also been advanced. As a connection method between terminals, for example, flip chip connection in which a large number of terminals are connected together using an anisotropic conductive adhesive or an anisotropic conductive film when an IC chip is electrically connected to a circuit board. Technology is known. An anisotropic conductive adhesive or anisotropic conductive film is a film or paste in which conductive particles are dispersed in an adhesive mainly composed of a thermosetting resin (for example, JP-A-61-276873). Patent Document 1) and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-260131 (Patent Document 2)). By arranging this between the electronic members to be connected and thermocompression bonding, a large number of opposing terminals can be connected together, and insulation between adjacent terminals is ensured by the resin in the adhesive. Make it possible.

しかし、導電性粒子の凝集を制御することは難しく、(1)導電性粒子と端子、或いは、導電性粒子同士が十分に接触せずに対向する端子間の一部が導通しない場合や、(2)対向する端子間(導通性領域)以外の樹脂中(絶縁性領域)に導電性粒子が残存してリーク電流が発生し、隣接端子間の絶縁性が十分に確保できない場合があった。このため、従来の異方性導電接着剤や異方性導電フィルムでは、端子間の更なる狭ピッチ化に対応することが困難な状況にある。   However, it is difficult to control the aggregation of the conductive particles. (1) The conductive particles and the terminals, or the conductive particles are not sufficiently in contact with each other, and a part between the facing terminals is not conductive, 2) In some cases, the conductive particles remain in the resin (insulating region) other than between the opposing terminals (conducting region) to generate a leakage current, and insulation between adjacent terminals cannot be sufficiently ensured. For this reason, it is difficult for conventional anisotropic conductive adhesives and anisotropic conductive films to cope with further narrow pitches between terminals.

特開昭61−276873号公報JP-A 61-276873 特開2004−260131号公報JP 2004-260131 A

このような状況の下、接続端子間において良好な電気的接続と隣接端子間において高い絶縁信頼性を得ることを可能にする端子間を電気的に接続する方法の提供が求められている。また、このような端子間の接続を簡便に行う方法の提供が求められている。   Under such circumstances, provision of a method for electrically connecting terminals that makes it possible to obtain good electrical connection between connecting terminals and high insulation reliability between adjacent terminals is demanded. There is also a need to provide a method for simply connecting such terminals.

上記の課題を解決するべく、本発明者は鋭意検討した結果、導電接続材料において導電性粒子に代えて半田箔又は錫箔を用いることで、半田又は錫の端子間への凝集が容易になり、樹脂中に半田又は錫が残存することを抑制できることを見出した。さらに、本発明者は、金属箔を溶融させる前に金属箔の融点未満の温度で該導電接続材料を加熱して樹脂組成物の粘度を低下させ、端子間のギャップをあらかじめ所定の範囲に調整してから金属箔を溶融させることで、樹脂及び溶融金属の挙動を制御することができ、端子間における電気的接続をより確実なものとすることができることを見出して本発明を完成させた。   In order to solve the above-mentioned problems, the present inventors diligently studied, and as a result of using solder foil or tin foil instead of conductive particles in the conductive connection material, aggregation between terminals of solder or tin is facilitated, It has been found that solder or tin can be suppressed from remaining in the resin. Furthermore, the inventor heats the conductive connecting material at a temperature lower than the melting point of the metal foil before melting the metal foil to reduce the viscosity of the resin composition, and adjusts the gap between the terminals in a predetermined range in advance. Then, by melting the metal foil, it was found that the behavior of the resin and the molten metal can be controlled, and the electrical connection between the terminals can be made more reliable, thereby completing the present invention.

すなわち、本発明は、以下に示した導電接続材料を用いた端子間の接続方法を提供するものである。
[1]樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される積層構造を有する導電接続材料を用いて対向する端子間を電気的に接続する方法であって、
前記導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、
前記導電接続材料を前記金属箔の融点未満の温度で加熱し、対向する端子間の最短離隔距離を所定の範囲に調整する調整工程と、
前記最短離隔距離を前記所定の範囲に保持しながら、前記金属箔の融点以上の温度で、前記樹脂組成物の硬化が完了しないように前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、
前記金属箔の融点未満の温度で前記樹脂組成物を硬化させる硬化工程と、を含む方法。
[2]前記調整工程において、前記対向する端子間の最短離隔距離を、金属箔の厚みより大きく、且つ、導電接続材料の厚みより小さい範囲に調整する、[1]記載の方法。
[3]前記調整工程において、前記対向する端子間の最短離隔距離を、金属箔の厚み以下であり、且つ、前記対向する端子間が互いに接触しない範囲に調整する、[1]記載の方法。
[4]前記加熱工程において、前記金属箔が溶融し、溶融金属が対向する端子間に凝集して対向する端子間を電気的に接続する、[1]〜[3]のいずれか1項に記載の方法。
[5]前記溶融金属と前記端子との金属結合により対向する端子間を電気的に接続する、[4]記載の方法。
[6]前記調整工程において、前記対向する端子間の最短離隔距離を、隣接する端子間の最短離隔距離よりも小さい範囲に調整する、[1]〜[5]のいずれか1項に記載の方法。
[7]前記調整工程における樹脂組成物の溶融粘度が0.1Pa・s〜10000Pa・sである、[1]〜[6]のいずれか1項記載の方法。
[8]前記加熱工程における樹脂組成物の溶融粘度が0.01Pa・s〜100Pa・sである、[1]〜[7]のいずれか1項に記載の方法。
[9]前記金属箔の融点が100℃〜330℃である、[1]〜[8]のいずれか1項に記載の方法。
[10]前記調整工程における導電接続材料の加熱温度が60℃〜200℃である、[1]〜[7]のいずれか1項に記載の方法。
[11]前記加熱工程における導電接続材料の加熱温度が、前記金属箔の融点より50℃高い温度未満である、[1]〜[10]のいずれか1項に記載の方法。
[12]前記加熱工程における導電接続材料の加熱温度が140℃〜340℃である、[1]〜[8]のいずれか1項に記載の方法。
[13]前記硬化工程における導電接続材料の加熱温度が80℃〜310℃である、[1]〜[12]のいずれか1項に記載の方法。
[14]前記導電接続材料が樹脂組成物層/金属箔層/樹脂組成物層からなる積層構造を含むものである、[1]〜[13]のいずれか1項に記載の方法。
[15]前記導電接続材料が樹脂組成物層/金属箔層からなる積層構造を含むものである、[1]〜[13]のいずれか1項に記載の方法。
[16]前記樹脂組成物が、エポキシ樹脂、硬化剤ならびにフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物を含むものである、[1]〜[15]のいずれか1項記載の方法。
[17]前記樹脂組成物が、フェノキシ樹脂、(メタ)アクリル系樹脂及びポリイミド樹脂からなる群より選ばれるフィルム形成性樹脂をさらに含む、[16]記載の方法。
[18]前記樹脂組成物が、樹脂組成物の全重量に対し、エポキシ樹脂10〜90重量%、硬化剤0.1〜50重量%、フィルム形成性樹脂5〜50重量%ならびにフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物1〜50重量%を含むものである、[1]〜[17]のいずれか1項記載の方法。
[19]前記フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物が、下記一般式(1)で示される化合物を含む、[16]〜[18]のいずれか1項に記載の方法。
HOOC−(CH2)n−COOH (1)
[式中、nは、1〜20の整数である。]
[20]前記フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物が、下記一般式(2)及び/又は(3)で示される化合物を含む、[16]〜[19]のいずれか1項に記載の方法。
[式中、R1〜R5は、それぞれ独立して、1価の有機基であり、但し、R1〜R5の少なくとも一つは水酸基である。]
[式中、R6〜R20は、それぞれ独立して、1価の有機基であり、但し、R6〜R20の少なくとも一つは水酸基又はカルボキシル基である。]
That is, this invention provides the connection method between the terminals using the conductive connection material shown below.
[1] A method of electrically connecting opposing terminals using a conductive connection material having a laminated structure composed of a resin composition and a metal foil selected from solder foil or tin foil,
An arrangement step of arranging the conductive connection material between opposing terminals;
An adjustment step of heating the conductive connection material at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and adjusting the shortest separation distance between opposing terminals to a predetermined range;
A heating step of heating the conductive connecting material so that the curing of the resin composition is not completed at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil while maintaining the shortest separation distance in the predetermined range;
Curing the resin composition at a temperature lower than the melting point of the metal foil.
[2] The method according to [1], wherein, in the adjusting step, the shortest separation distance between the opposing terminals is adjusted to a range larger than the thickness of the metal foil and smaller than the thickness of the conductive connection material.
[3] The method according to [1], wherein, in the adjustment step, the shortest separation distance between the opposing terminals is adjusted to a range that is equal to or less than a thickness of the metal foil and that the opposing terminals do not contact each other.
[4] In any one of [1] to [3], in the heating step, the metal foil is melted and the molten metal is aggregated between opposing terminals to electrically connect the opposing terminals. The method described.
[5] The method according to [4], wherein terminals facing each other are electrically connected by metal bonding between the molten metal and the terminals.
[6] The adjustment step according to any one of [1] to [5], wherein in the adjustment step, the shortest separation distance between the opposing terminals is adjusted to a range smaller than the shortest separation distance between adjacent terminals. Method.
[7] The method according to any one of [1] to [6], wherein the melt viscosity of the resin composition in the adjustment step is 0.1 Pa · s to 10,000 Pa · s.
[8] The method according to any one of [1] to [7], wherein the melt viscosity of the resin composition in the heating step is 0.01 Pa · s to 100 Pa · s.
[9] The method according to any one of [1] to [8], wherein the melting point of the metal foil is 100 ° C to 330 ° C.
[10] The method according to any one of [1] to [7], wherein the heating temperature of the conductive connecting material in the adjusting step is 60 ° C to 200 ° C.
[11] The method according to any one of [1] to [10], wherein the heating temperature of the conductive connecting material in the heating step is less than 50 ° C. higher than the melting point of the metal foil.
[12] The method according to any one of [1] to [8], wherein the heating temperature of the conductive connecting material in the heating step is 140 ° C to 340 ° C.
[13] The method according to any one of [1] to [12], wherein the heating temperature of the conductive connecting material in the curing step is 80 ° C to 310 ° C.
[14] The method according to any one of [1] to [13], wherein the conductive connection material includes a laminated structure including a resin composition layer / metal foil layer / resin composition layer.
[15] The method according to any one of [1] to [13], wherein the conductive connection material includes a laminated structure composed of a resin composition layer / metal foil layer.
[16] The method according to any one of [1] to [15], wherein the resin composition contains an epoxy resin, a curing agent, and a compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group.
[17] The method according to [16], wherein the resin composition further comprises a film-forming resin selected from the group consisting of a phenoxy resin, a (meth) acrylic resin, and a polyimide resin.
[18] The resin composition comprises 10 to 90% by weight of an epoxy resin, 0.1 to 50% by weight of a curing agent, 5 to 50% by weight of a film-forming resin, a phenolic hydroxyl group and The method according to any one of [1] to [17], which comprises 1 to 50% by weight of a compound having a carboxyl group.
[19] The method according to any one of [16] to [18], wherein the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group includes a compound represented by the following general formula (1).
HOOC- (CH 2) n-COOH (1)
[In formula, n is an integer of 1-20. ]
[20] The any one of [16] to [19], wherein the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group includes a compound represented by the following general formula (2) and / or (3). the method of.
[Wherein, R 1 to R 5 are each independently a monovalent organic group, provided that at least one of R 1 to R 5 is a hydroxyl group. ]
[Wherein, R 6 to R 20 are each independently a monovalent organic group, provided that at least one of R 6 to R 20 is a hydroxyl group or a carboxyl group. ]

本発明によれば、金属箔を用いることで、溶融した半田又は錫が凝集しやすくなり、樹脂中に金属が残存することを抑制できるので、良好な電気的接続及び高い絶縁信頼性を得ることができる。
また本発明によれば、導電接続材料を段階的に加熱することで、溶融した半田又は錫の樹脂組成物中における移動距離を最小限に抑えることができるので、所望の領域に樹脂及び溶融金属を凝集させることがより容易になる。本発明の好ましい態様によれば、より効率的に対向する端子間に導通性領域を形成することができるので、目的及び用途に応じて金属箔の使用量を決定することができる。
本発明によれば端子間の電気的接続をより確実に行うことができるので、半導体装置などの微細な配線回路における多数の端子間を一括で接続することができる。
According to the present invention, by using a metal foil, melted solder or tin is likely to aggregate, and it is possible to suppress the metal from remaining in the resin, thereby obtaining good electrical connection and high insulation reliability. Can do.
Further, according to the present invention, since the conductive connecting material is heated stepwise, the moving distance of the molten solder or tin in the resin composition can be minimized, so that the resin and the molten metal can be formed in a desired region. It becomes easier to agglomerate. According to the preferable aspect of the present invention, since the conductive region can be formed between the terminals facing each other more efficiently, the usage amount of the metal foil can be determined according to the purpose and application.
According to the present invention, since electrical connection between terminals can be more reliably performed, a large number of terminals in a fine wiring circuit such as a semiconductor device can be collectively connected.

本発明の好ましい実施態様を説明するための概略工程図である。It is a general | schematic process drawing for demonstrating the preferable embodiment of this invention. 本発明の好ましい実施態様を説明するための概略工程図である。It is a general | schematic process drawing for demonstrating the preferable embodiment of this invention. 本発明に用いる金属箔層の形状の一例を示す平面模式図である。It is a plane schematic diagram which shows an example of the shape of the metal foil layer used for this invention.

以下、本発明の端子間を電気的に接続する方法について具体的に説明する。   Hereinafter, the method for electrically connecting the terminals of the present invention will be specifically described.

本発明の端子間を電気的に接続する方法(以下「本発明の接続方法」ともいう。)は、樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される積層構造を有する導電接続材料を用いて対向する端子間を電気的に接続する方法であって、
前記導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、
前記導電接続材料を前記金属箔の融点未満の温度で加熱し、対向する端子間の最短離隔距離を所定の範囲に調整する調整工程と、
前記最短離隔距離を前記所定の範囲に保持しながら、前記金属箔の融点以上の温度で、前記樹脂組成物の硬化が完了しないように前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、
前記金属箔の融点未満の温度で前記樹脂組成物を硬化させる硬化工程を含む。
The method for electrically connecting the terminals of the present invention (hereinafter also referred to as “the connection method of the present invention”) is a conductive structure having a laminated structure composed of a resin composition and a metal foil selected from solder foil or tin foil. A method of electrically connecting opposing terminals using a connecting material,
An arrangement step of arranging the conductive connection material between opposing terminals;
An adjustment step of heating the conductive connection material at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and adjusting the shortest separation distance between opposing terminals to a predetermined range;
A heating step of heating the conductive connecting material so that the curing of the resin composition is not completed at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil while maintaining the shortest separation distance in the predetermined range;
A curing step of curing the resin composition at a temperature lower than the melting point of the metal foil.

本発明の接続方法では、導電接続材料における金属成分を金属箔の形態で用いる。これにより、金属箔が溶融したときに溶融金属が凝集しやすくなり、端子間の電気的接続をより確実に行うことができる。また、溶融金属が凝集しやすいために樹脂中に金属が残存し難くなり、隣接する端子間の絶縁性を確保してリーク電流の発生を抑制することができる。
さらに、本発明の接続方法では、調整工程及び加熱工程において加熱温度を制御しながら導電接続材料を段階的に加熱する。具体的に、本発明の接続方法では、まず、導電接続材料を金属箔の融点未満の温度で加熱することで、金属箔を溶解させずに樹脂組成物の粘度を低下させて端子間のギャップを所定の範囲に調整し、次いで、金属箔の融点以上の温度で、樹脂組成物の硬化が完了しないように導電接続材料を加熱することで金属箔を溶融させる。このように、あらかじめ端子間のギャップを所定の範囲に調整した後で金属箔を溶融させることで、樹脂組成物中における溶融金属の移動距離を最小限に抑えることができ、所望の領域に樹脂及び溶融金属が凝集することをより容易にすることができる。
In the connection method of the present invention, the metal component in the conductive connection material is used in the form of a metal foil. As a result, when the metal foil is melted, the molten metal is easily aggregated, and electrical connection between the terminals can be more reliably performed. In addition, since the molten metal is likely to aggregate, it is difficult for the metal to remain in the resin, and insulation between adjacent terminals can be ensured to prevent the occurrence of leakage current.
Furthermore, in the connection method of the present invention, the conductive connection material is heated stepwise while controlling the heating temperature in the adjustment step and the heating step. Specifically, in the connection method of the present invention, first, the conductive connection material is heated at a temperature lower than the melting point of the metal foil, thereby reducing the viscosity of the resin composition without dissolving the metal foil, and the gap between the terminals. Is adjusted to a predetermined range, and then the conductive foil is heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil so that the curing of the resin composition is not completed, thereby melting the metal foil. In this way, the metal foil is melted after adjusting the gap between the terminals in a predetermined range in advance, so that the moving distance of the molten metal in the resin composition can be minimized, and the resin can be placed in a desired region. In addition, the molten metal can be more easily aggregated.

本発明の接続方法は、例えば、調整工程において、対向する端子間の最短離隔距離を、金属箔の厚みより大きく、且つ、導電接続材料の厚みより小さい範囲に調整する方法(第1実施態様)と、対向する端子間の最短離隔距離を、金属箔の厚み以下であり、且つ、前記対向する端子間が互いに接触しない範囲に調整する方法(第2実施態様)とが挙げられる。以下、図面を参照しながら、本発明の好ましい実施態様について具体的に説明するが、本発明はこれらの図面によって何ら制限されるものではない。   In the connection method of the present invention, for example, in the adjustment step, the shortest separation distance between opposing terminals is adjusted to a range larger than the thickness of the metal foil and smaller than the thickness of the conductive connection material (first embodiment). And a method (second embodiment) in which the shortest separation distance between the opposing terminals is adjusted to a range that is equal to or smaller than the thickness of the metal foil and that the opposing terminals do not contact each other. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings, but the present invention is not limited to these drawings.

1.第1実施態様
まず、本発明の第1実施態様について、図1を参照しながら説明する。本発明の第1実施態様は、導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記導電接続材料を前記金属箔の融点未満の温度で加熱し、対向する端子間の最短離隔距離を所定の範囲に調整する調整工程と、前記最短離隔距離を前記所定の範囲に保持しながら、前記金属箔の融点以上の温度で、前記樹脂組成物の硬化が完了しないように前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記金属箔の融点未満の温度で前記樹脂組成物を硬化させる硬化工程とを含む端子間の接続方法であって、調整工程において、対向する端子間の最短離隔距離を、金属箔の厚みより大きく、且つ、導電接続材料の厚みより小さい範囲に調整する方法である。以下、各工程について説明する。
1. First Embodiment First, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the first embodiment of the present invention, the disposing step of disposing the conductive connecting material between the opposing terminals, heating the conductive connecting material at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and reducing the shortest separation distance between the opposing terminals. An adjustment step for adjusting to a predetermined range, and the conductive connecting material so as not to complete the curing of the resin composition at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil while maintaining the shortest separation distance in the predetermined range. It is a connection method between terminals including a heating step of heating and a curing step of curing the resin composition at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and in the adjustment step, the shortest separation distance between opposing terminals is In this method, the thickness is adjusted to be larger than the thickness of the metal foil and smaller than the thickness of the conductive connection material. Hereinafter, each step will be described.

(a)配置工程
配置工程では、図1(a)に示すように、端子11が設けられた基板10と端子21が設けられた基板20とを、端子11と端子21とが対向するように位置あわせし、これらの端子間に、金属箔110と金属箔の両面に設けられた樹脂組成物120とを含む導電接続材料100を配置する。この時、導電接続材料100は、ロールラミネータ又はプレス等の装置を使用して、あらかじめ基板10又は基板20の片側、あるいは、基板10及び基板20の双方に熱圧着されていてもよい。また、前記端子11及び21の表面には、電気的な接続を良好にするために、必要により、洗浄、研磨、めっき及び表面活性化などの処理が施されていてもよい。
(A) Arrangement Step In the arrangement step, as shown in FIG. 1A, the substrate 10 provided with the terminal 11 and the substrate 20 provided with the terminal 21 are arranged so that the terminal 11 and the terminal 21 face each other. The conductive connecting material 100 including the metal foil 110 and the resin composition 120 provided on both surfaces of the metal foil is disposed between the terminals. At this time, the conductive connection material 100 may be thermocompression bonded in advance to the substrate 10 or one side of the substrate 20 or both of the substrate 10 and the substrate 20 using an apparatus such as a roll laminator or a press. Further, the surfaces of the terminals 11 and 21 may be subjected to treatments such as washing, polishing, plating, and surface activation as necessary in order to improve electrical connection.

(b)調整工程
調整工程では、導電接続材料を金属箔の融点未満の温度で加熱し、対向する端子間の最短離隔距離を所定の範囲に調整する。なお「対向する端子間の最短離隔距離」において、「最短」という用語を用いているのは、端子間の距離が一定でない場合に最も近接した離隔距離を表現する意図である。
(B) Adjustment step In the adjustment step, the conductive connection material is heated at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and the shortest separation distance between the opposing terminals is adjusted to a predetermined range. The term “shortest distance” is used in “the shortest separation distance between opposing terminals” to express the closest separation distance when the distance between the terminals is not constant.

調整工程では、導電接続材料100を金属箔110の融点未満の温度で加熱することで、樹脂組成物120を変形可能な程度にまで軟化させ、対向する端子間の最短離隔距離を所定の範囲に調整する。本発明の第1実施態様では、対向する端子間の最短離隔距離xを、金属箔110の厚みより大きく、且つ、導電接続材料100の厚みより小さい範囲に調整する(図1(b)参照)。   In the adjustment step, the conductive connecting material 100 is heated at a temperature lower than the melting point of the metal foil 110, so that the resin composition 120 is softened to a deformable level, and the shortest separation distance between the opposing terminals is within a predetermined range. adjust. In the first embodiment of the present invention, the shortest separation distance x between the opposing terminals is adjusted to a range larger than the thickness of the metal foil 110 and smaller than the thickness of the conductive connection material 100 (see FIG. 1B). .

本工程では、加熱温度を金属箔の融点未満に制御し、金属箔を溶融させずに樹脂組成物120を変形させて、対向する端子間の離隔距離xを調整することで、所望の領域に樹脂及び溶融金属を凝集させることが容易になる。本発明の好ましい態様によれば、より確実に溶融した金属を所望の領域に凝集させることができるので、対向する端子間の電気的接続に必要十分な金属箔の使用量をあらかじめ設計することができる。なお、対向する端子間の最短離隔距離は、隣接する端子間の最短離隔距離よりも小さい範囲に調整することが好ましい。対向する端子間の最短離隔距離を隣接する端子間の最短離隔距離よりも小さい範囲に調整することで、対向する端子間に溶融した金属がさらに凝集されやすくなる。なお、「隣接する端子間の最短離隔距離」において、「最短」という用語を用いているのは、端子間の距離が一定でない場合に最も近接した離隔距離を表現する意図である。   In this step, the heating temperature is controlled to be lower than the melting point of the metal foil, the resin composition 120 is deformed without melting the metal foil, and the separation distance x between the facing terminals is adjusted, so that the desired region is obtained. It becomes easy to aggregate the resin and the molten metal. According to the preferred embodiment of the present invention, the molten metal can be more reliably agglomerated in a desired region, so that it is possible to design in advance the amount of metal foil necessary and sufficient for electrical connection between opposing terminals. it can. In addition, it is preferable to adjust the shortest separation distance between the terminals which oppose in the range smaller than the shortest separation distance between adjacent terminals. By adjusting the shortest separation distance between the facing terminals to a range smaller than the shortest separation distance between the adjacent terminals, the molten metal is more easily aggregated between the facing terminals. In the “shortest separation distance between adjacent terminals”, the term “shortest” is used to express the closest separation distance when the distance between the terminals is not constant.

対向する端子間の最短離隔距離は、目的及び用途などに応じて適宜決定される。例えば、半導体チップと基板を接続する場合、対向する端子間の最短離隔距離は、金属箔の厚みから基板上の隣接端子間のピッチ(最短離隔距離)の範囲内が好ましく、金属箔の厚みから基板上の隣接端子間のピッチの3/4以下の範囲内がより好ましく、金属箔の厚みから基板の隣接端子間のピッチの2/3以下の範囲内がさらに好ましい。   The shortest separation distance between the terminals facing each other is appropriately determined according to the purpose and application. For example, when connecting a semiconductor chip and a substrate, the shortest separation distance between the facing terminals is preferably within the range of the pitch between the adjacent terminals on the substrate (the shortest separation distance) from the thickness of the metal foil. More preferably, it is within the range of 3/4 or less of the pitch between adjacent terminals on the substrate, and more preferably within the range of 2/3 or less of the pitch between adjacent terminals of the substrate from the thickness of the metal foil.

対向する端子間の最短離隔距離は、例えば、熱プレス又は圧着装置を用いて、熱盤間の間隔を制御することにより調整することができる。また、例えば、あらかじめ最終所望厚みとなるスペーサーを被着体の周囲に配置することにより調整してもよい。調整方法は、本発明の目的から逸脱しないものであれば特に制限されない。   The shortest separation distance between the terminals facing each other can be adjusted by controlling the distance between the hot plates using, for example, a hot press or a crimping device. Further, for example, a spacer having a final desired thickness may be adjusted in advance around the adherend. The adjustment method is not particularly limited as long as it does not depart from the object of the present invention.

本発明の好ましい態様において、樹脂組成物120がフラックス機能を有する化合物を含む場合、加熱によって該化合物が活性化し、金属箔及び端子の表面酸化膜を除去することができるので、次の加熱工程において溶融金属同士の金属結合による凝集及び溶融金属と端子との金属結合による電気的接続がさらに促進される。   In a preferred embodiment of the present invention, when the resin composition 120 includes a compound having a flux function, the compound is activated by heating, and the surface oxide film of the metal foil and the terminal can be removed. Aggregation due to metal bonding between molten metals and electrical connection due to metal bonding between the molten metal and the terminal are further promoted.

本発明に用いられる金属箔の融点は、100℃〜330℃が好ましく、140℃〜300℃がより好ましく、180℃〜250℃がさらに好ましい。したがって、調整工程において、加熱温度は、上記金属箔の融点未満であり、60℃〜200℃が好ましく、65℃〜180℃がより好ましく、70℃〜150℃がさらに好ましい。このときの樹脂組成物の溶融粘度は、0.1Pa・s〜10000Pa・sが好ましく、0.5〜5000Pa・sがより好ましく、1〜2000Pa・sがさらに好ましい。   100 degreeC-330 degreeC is preferable, as for melting | fusing point of the metal foil used for this invention, 140 degreeC-300 degreeC is more preferable, and 180 degreeC-250 degreeC is further more preferable. Therefore, in the adjustment step, the heating temperature is lower than the melting point of the metal foil, preferably 60 ° C to 200 ° C, more preferably 65 ° C to 180 ° C, and further preferably 70 ° C to 150 ° C. The melt viscosity of the resin composition at this time is preferably 0.1 Pa · s to 10000 Pa · s, more preferably 0.5 to 5000 Pa · s, and further preferably 1 to 2000 Pa · s.

(c)加熱工程
加熱工程では、前記調整工程で調整した対向する端子間の最短離隔距離xを前記所定の範囲に保持しながら、金属箔の融点以上の温度で、樹脂組成物の硬化が完了しないように導電接続材料を加熱する。第1実施態様では、対向する端子間の最短離隔距離xを、調整工程で調整したように対向する端子間の最短離隔距離を金属箔の厚みより大きく、且つ、導電接続材料の厚みより小さい範囲に保持しながら、金属箔の融点以上の温度で導電接続材料を加熱する。
(C) Heating step In the heating step, curing of the resin composition is completed at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil while keeping the shortest separation distance x between the facing terminals adjusted in the adjustment step within the predetermined range. The conductive connecting material is heated so that it does not. In the first embodiment, the shortest separation distance x between the terminals facing each other is adjusted so that the shortest separation distance between the terminals facing each other is larger than the thickness of the metal foil and smaller than the thickness of the conductive connection material. The conductive connection material is heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil.

図1(c)に示すように、金属箔の融点以上の温度で導電接続材料を加熱することで、金属箔が溶融し、対向する端子間に溶融金属が凝集して導通性領域110aが形成され、対向する端子間を電気的に接続することができる。また、樹脂組成物が導通性領域110aの周囲の間隙を埋めることにより絶縁性領域120aが形成され、隣接する端子間の絶縁性が確保される。金属箔の融点以上の温度で導電接続材料を加熱する前に対向する端子間の最短離隔距離が調整されていることで、加熱により溶融した樹脂及び金属が流れ出すことを抑制することができる。   As shown in FIG. 1C, by heating the conductive connecting material at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil, the metal foil is melted and the molten metal is aggregated between the opposing terminals to form a conductive region 110a. Thus, the opposing terminals can be electrically connected. Further, the insulating region 120a is formed by filling the gap around the conductive region 110a with the resin composition, and insulation between adjacent terminals is ensured. Before the conductive connecting material is heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil, the shortest separation distance between the terminals facing each other is adjusted, so that it is possible to prevent the molten resin and metal from flowing out.

好ましくは、加熱工程において金属箔が溶融し、溶融金属が対向する端子間に凝集し、溶融金属同士及び溶融金属と端子とが金属結合することにより、より良好な電気的接続を得ることができる。   Preferably, in the heating step, the metal foil is melted, the molten metal is agglomerated between the terminals facing each other, and the molten metal and the molten metal and the terminal are metal-bonded, whereby a better electrical connection can be obtained. .

本発明の好ましい態様において、導電接続材料に含まれる樹脂組成物がフラックス機能を有する化合物を含む場合、その還元作用により、半田又は錫の表面酸化膜が除去されて半田又は錫は濡れ性が高められた状態になり、金属結合が促されて対向する端子間に凝集しやすくなる。また、フラックス機能を有する化合物の還元作用により端子11及び21の表面酸化膜も除去されて濡れ性が高められているため、半田又は錫との金属結合が容易になる。   In a preferred embodiment of the present invention, when the resin composition contained in the conductive connection material contains a compound having a flux function, the solder or tin surface oxide film is removed by the reducing action, and the wettability of the solder or tin is increased. In this state, metal bonding is promoted and aggregation between the opposing terminals is facilitated. Further, since the surface oxide films of the terminals 11 and 21 are also removed by the reducing action of the compound having a flux function and the wettability is enhanced, metal bonding with solder or tin is facilitated.

本発明では、あらかじめ端子間の最短離隔距離が所定の範囲に調整されていることで、溶融した金属が樹脂中を流動する距離を最小限にすることができるので、より確実に所望の領域に溶融金属を凝集させて対向する端子間の電気的接続を行うことができる。また、樹脂中に金属が残存することを抑制することができる。   In the present invention, since the shortest separation distance between the terminals is adjusted to a predetermined range in advance, the distance that the molten metal flows in the resin can be minimized, so that the desired region can be more reliably obtained. The molten metal can be aggregated to make electrical connection between the opposing terminals. Moreover, it can suppress that a metal remains in resin.

加熱工程では、溶融した金属が樹脂中を流動できるように、樹脂組成物の硬化が完了しないように導電接続材料を加熱する。例えば、加熱時間を短くするなど、加熱時間を調整することによって、半田又は錫が硬化性樹脂中を移動できる範囲、すなわち「硬化性樹脂組成物の硬化が完了しない」ように調整する。   In the heating step, the conductive connecting material is heated so that the curing of the resin composition is not completed so that the molten metal can flow in the resin. For example, by adjusting the heating time, for example, by shortening the heating time, adjustment is made so that the solder or tin can move in the curable resin, that is, “curing of the curable resin composition is not completed”.

加熱温度は、金属箔及び樹脂組成物の組成などによっても異なるが、例えば、140℃以上が好ましく、150℃以上がより好ましく、200℃以上がさらに好ましい。また、接続しようとする基板などの熱劣化を防止するなどの理由により、金属箔の融点より50℃高い温度未満であることが好ましい。具体的には、加熱温度は340℃以下が好ましく、300℃以下がより好ましく、260℃以下が特に好ましい。   The heating temperature varies depending on the composition of the metal foil and the resin composition, but is preferably 140 ° C. or higher, more preferably 150 ° C. or higher, and further preferably 200 ° C. or higher. Moreover, it is preferable that it is less than 50 degreeC temperature higher than melting | fusing point of metal foil for the reason of preventing thermal degradation of the board | substrate etc. which are going to connect. Specifically, the heating temperature is preferably 340 ° C. or lower, more preferably 300 ° C. or lower, and particularly preferably 260 ° C. or lower.

また、樹脂成分が流れ出すことを防ぐとともに、溶融した金属が樹脂中を流動できるように、上記加熱温度において樹脂組成物の溶融粘度は一定の範囲内であることが好ましい。具体的に加熱工程における樹脂組成物の溶融粘度は0.01Pa・s以上が好ましく、0.05Pa・s以上がより好ましく、0.1Pa・s以上がさらに好ましい。また、溶融粘度は、100Pa・s以下が好ましく、90Pa・s以下がより好ましく、80Pa・s以下がさらに好ましい。   Moreover, it is preferable that the melt viscosity of the resin composition is within a certain range at the heating temperature so that the resin component is prevented from flowing out and the molten metal can flow in the resin. Specifically, the melt viscosity of the resin composition in the heating step is preferably 0.01 Pa · s or more, more preferably 0.05 Pa · s or more, and further preferably 0.1 Pa · s or more. The melt viscosity is preferably 100 Pa · s or less, more preferably 90 Pa · s or less, and still more preferably 80 Pa · s or less.

加熱の方法は、電気、電子部品の製造に通常用いられている加熱装置を用いて行うことができる。例えば、ダイボンダー、フリップチップボンダー、ウェハボンダー、位置制御が可能な熱プレス及び圧着機などを用いることができる。加熱する際に超音波や電場などを加えたり、レーザーや電磁誘導などの特殊加熱を適用してもよい。   The heating method can be performed by using a heating apparatus usually used for manufacturing electric and electronic parts. For example, a die bonder, a flip chip bonder, a wafer bonder, a heat press capable of controlling position, a pressure bonding machine, or the like can be used. When heating, an ultrasonic wave or an electric field may be applied, or special heating such as laser or electromagnetic induction may be applied.

(d)硬化工程
硬化工程では、図1(d)に示すように、金属箔の融点未満の温度で樹脂組成物を硬化させ、前記加熱工程で形成された絶縁性領域を固定する(図中、硬化絶縁性領域120b参照)。このように絶縁性領域を固定することで、その絶縁性領域に周囲を囲まれた導通性領域110aを固定することができ、対向する端子間の電気的接続の熱安定性が確保される。
(D) Curing Step In the curing step, as shown in FIG. 1 (d), the resin composition is cured at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and the insulating region formed in the heating step is fixed (in the drawing) , See cured insulating region 120b). By fixing the insulating region in this way, the conductive region 110a surrounded by the insulating region can be fixed, and the thermal stability of the electrical connection between the opposing terminals is ensured.

本発明では、金属箔の融点未満の温度で樹脂組成物を硬化させる。そうすることによって、加熱工程で形成された導通性領域が大きく変形することを抑制し、端子間の接続信頼性を高めることができる。   In the present invention, the resin composition is cured at a temperature lower than the melting point of the metal foil. By doing so, it can suppress that the electroconductive area | region formed at the heating process deform | transforms largely, and can improve the connection reliability between terminals.

硬化工程では、例えば導電接続材料を加熱することによって樹脂組成物を硬化させる。硬化工程における導電接続材料の加熱温度は、樹脂組成物を硬化できる範囲であれば特に制限されないが、通常、80℃以上が好ましく、120℃以上がより好ましく、150℃以上がさらに好ましい。また、通常、310℃以下が好ましく、250℃以下がより好ましく、200℃以下がさらに好ましい。   In the curing step, for example, the resin composition is cured by heating the conductive connection material. The heating temperature of the conductive connecting material in the curing step is not particularly limited as long as the resin composition can be cured, but is usually preferably 80 ° C or higher, more preferably 120 ° C or higher, and further preferably 150 ° C or higher. Moreover, generally 310 degrees C or less is preferable, 250 degrees C or less is more preferable, and 200 degrees C or less is further more preferable.

2.第2実施態様
次に、本発明の第2実施態様について、図2を参照しながら説明する。本発明の第2実施態様は、導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記導電接続材料を前記金属箔の融点未満の温度で加熱し、対向する端子間の最短離隔距離を所定の範囲に調整する調整工程と、前記最短離隔距離を前記所定の範囲に保持しながら、前記金属箔の融点以上の温度で、前記樹脂組成物の硬化が完了しないように前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記金属箔の融点未満の温度で前記樹脂組成物を硬化させる硬化工程とを含む方法であって、対向する端子間の最短離隔距離を、金属箔の厚み以下であり、且つ、前記対向する端子間が互いに接触しない範囲に調整する方法である。以下、各工程について説明する。
2. Second Embodiment Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. According to a second embodiment of the present invention, the disposing step of disposing the conductive connecting material between the opposing terminals, heating the conductive connecting material at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and setting the shortest separation distance between the opposing terminals. An adjustment step for adjusting to a predetermined range, and the conductive connecting material so as not to complete the curing of the resin composition at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil while maintaining the shortest separation distance in the predetermined range. A heating step of heating and a curing step of curing the resin composition at a temperature lower than the melting point of the metal foil, wherein the shortest separation distance between the facing terminals is equal to or less than the thickness of the metal foil, And it is the method of adjusting to the range which does not mutually contact between the said opposing terminals. Hereinafter, each step will be described.

(a)配置工程
第2実施態様の配置工程は、第1実施態様の配置工程と同様であり、図2(a)に示すように、端子11が設けられた基板10と端子21が設けられた基板20とを、端子11と端子21とが対向するように位置あわせし、これらの端子間に、金属箔110と金属箔の両面に設けられた樹脂組成物120とからなる導電接続材料100を配置する。
(A) Arrangement Step The arrangement step of the second embodiment is the same as the arrangement step of the first embodiment, and as shown in FIG. 2A, a substrate 10 provided with terminals 11 and a terminal 21 are provided. The substrate 20 is aligned so that the terminal 11 and the terminal 21 face each other, and a conductive connecting material 100 comprising a metal foil 110 and a resin composition 120 provided on both surfaces of the metal foil between these terminals. Place.

(b)調整工程
第2実施態様の調整工程では、図2(b)に示すように、対向する端子間の最短離隔距離yを、金属箔110の厚み以下であり、且つ、前記対向する端子間が互いに接触しない範囲に調整する。対向する端子間の最短離隔距離yを金属箔110の厚みと同じか、それよりも小さくすることで、溶融した金属の凝集力をさらに高めることができる。また、金属が樹脂中に残存することを抑制することができる。また、あらかじめ金属箔を上下端子と接触させておくことで、次の加熱工程で形成される導通性領域における金属と端子間表面との接触面積を増やすことができ、機械的強度及び接続信頼性をより高めることができる。
(B) Adjustment process In the adjustment process of the second embodiment, as shown in FIG. 2 (b), the shortest separation distance y between the opposing terminals is equal to or less than the thickness of the metal foil 110 and the opposing terminals. Adjust the distance so that they do not touch each other. By making the shortest separation distance y between the facing terminals the same as or smaller than the thickness of the metal foil 110, the cohesive force of the molten metal can be further increased. Moreover, it can suppress that a metal remains in resin. In addition, by bringing the metal foil into contact with the upper and lower terminals in advance, the contact area between the metal and the surface between the terminals in the conductive region formed in the next heating process can be increased, and the mechanical strength and connection reliability are increased. Can be further enhanced.

対向する端子間の最短離隔距離は、目的及び用途などに応じて適宜決定される。例えば、基板と基板とを接続する場合、対向する端子間の最短離隔距離は、金属箔の厚みから金属箔の厚みの1/4の範囲内が好ましく、金属箔の厚みから金属箔の厚みの1/3の範囲内がより好ましい。   The shortest separation distance between the terminals facing each other is appropriately determined according to the purpose and application. For example, when connecting a board | substrate and a board | substrate, the shortest separation distance between the terminals which oppose is in the range of 1/4 of the thickness of metal foil from the thickness of metal foil, and the thickness of metal foil from the thickness of metal foil is preferable. A range of 1/3 is more preferable.

対向する端子間の最短離隔距離は、例えば、熱プレスや圧着装置を用いて、熱盤間の間隔を制御することにより調整することができる。また、例えば、あらかじめ最終所望厚みとなるスペーサーを被着体の周囲に配置することにより調整することができる。調整方法は、本発明の目的から逸脱しないものであれば特に制限されない。   The shortest separation distance between the terminals facing each other can be adjusted, for example, by controlling the distance between the hot plates using a hot press or a crimping device. For example, it can adjust by arrange | positioning the spacer used as final final thickness around a to-be-adhered body beforehand. The adjustment method is not particularly limited as long as it does not depart from the object of the present invention.

本発明の好ましい態様において、樹脂組成物120がフラックス機能を有する化合物を含む場合、加熱によって該化合物が活性化し、金属箔及び端子の表面酸化膜を除去することができるので、次の加熱工程において溶融金属同士の金属結合による凝集及び溶融金属と端子との金属結合による電気的接続が促進される。   In a preferred embodiment of the present invention, when the resin composition 120 includes a compound having a flux function, the compound is activated by heating, and the surface oxide film of the metal foil and the terminal can be removed. Aggregation due to metal bonding between molten metals and electrical connection due to metal bonding between the molten metal and the terminal are promoted.

本発明に用いられる金属箔の融点、調整工程における加熱温度及びこのときの樹脂組成物の溶融粘度は、第1実施態様において述べたとおりである。   The melting point of the metal foil used in the present invention, the heating temperature in the adjusting step, and the melt viscosity of the resin composition at this time are as described in the first embodiment.

(c)加熱工程
第2実施態様の加熱工程では、調整工程で調整した対向する端子間の最短離隔距離yを前記所定の範囲に保持しながら、金属箔の融点以上の温度で、樹脂組成物の硬化が完了しないように導電接続材料を加熱する。第2実施態様では、対向する端子間の最短離隔距離yを、調整工程で調整したように、金属箔の厚み以下であり、且つ、前記対向する端子間が互いに接触しない範囲に保持しながら、金属箔の融点以上の温度で導電接続材料を加熱する。
(C) Heating step In the heating step of the second embodiment, the resin composition is maintained at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil while keeping the shortest separation distance y between the facing terminals adjusted in the adjustment step within the predetermined range. The conductive connecting material is heated so that the curing of is not completed. In the second embodiment, the shortest separation distance y between the facing terminals is equal to or less than the thickness of the metal foil as adjusted in the adjusting step, and the holding terminals are held in a range where they are not in contact with each other. The conductive connection material is heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil.

図2(c)に示すように、金属箔の融点以上の温度で導電接続材料を加熱することで、対向する端子間に溶融金属が凝集して導通性領域110aが形成され、対向する端子間を電気的に接続することができる。また、樹脂組成物が導通性領域110aの周囲の間隙を埋めることにより絶縁性領域120aが形成され、隣接する端子間の絶縁性が確保される。   As shown in FIG. 2 (c), by heating the conductive connecting material at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil, the molten metal aggregates between the opposing terminals to form a conductive region 110a. Can be electrically connected. Further, the insulating region 120a is formed by filling the gap around the conductive region 110a with the resin composition, and insulation between adjacent terminals is ensured.

好ましくは、加熱工程において金属箔が溶融し、溶融金属が対向する端子間に凝集し、溶融金属同士及び溶融金属と端子とが金属結合することにより、より良好な電気的接続を得ることができる。第2実施態様においても、導電接続材料に含まれる樹脂組成物がフラックス機能を有する化合物を含む場合、その還元作用により、半田又は錫の表面酸化膜が除去されて半田又は錫は濡れ性が高められた状態になり、金属結合が促されて対向する端子間に凝集しやすくなる。また、フラックス機能を有する化合物の還元作用により端子11及び21の表面酸化膜も除去されて濡れ性が高められているため、半田又は錫との金属結合が容易になる。   Preferably, in the heating step, the metal foil is melted, the molten metal is agglomerated between the terminals facing each other, and the molten metal and the molten metal and the terminal are metal-bonded, whereby a better electrical connection can be obtained. . Also in the second embodiment, when the resin composition contained in the conductive connecting material contains a compound having a flux function, the solder or tin surface oxide film is removed by the reduction action, and the wettability of the solder or tin is increased. In this state, metal bonding is promoted and aggregation between the opposing terminals is facilitated. Further, since the surface oxide films of the terminals 11 and 21 are also removed by the reducing action of the compound having a flux function and the wettability is enhanced, metal bonding with solder or tin is facilitated.

金属箔の融点以上の温度で導電接続材料を加熱する前に対向する端子間の最短離隔距離が調整されていることで、加熱により溶融した樹脂及び金属が流れ出すことを抑制することができる。   Before the conductive connecting material is heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil, the shortest separation distance between the terminals facing each other is adjusted, so that it is possible to prevent the molten resin and metal from flowing out.

第2実施態様では、あらかじめ導電性材料における金属箔と端子間表面とが接触しており、溶融した金属が樹脂中を流動する距離を第1実施態様よりも小さくすることができること、および、あらかじめ金属箔と端子が接しているため、金属箔の溶融と同時に溶融金属の端子表面への搭載が始まるので、より確実に所望の領域に溶融金属を凝集させて対向する端子間の電気的接続を行うことができる。また、樹脂中に金属が残存することを抑制することができる。   In the second embodiment, the metal foil in the conductive material is in contact with the surface between the terminals in advance, the distance that the molten metal flows in the resin can be made smaller than in the first embodiment, and in advance Since the metal foil is in contact with the terminal, loading of the molten metal onto the terminal surface starts simultaneously with the melting of the metal foil, so that the molten metal is more reliably aggregated in the desired area and the electrical connection between the opposing terminals is established. It can be carried out. Moreover, it can suppress that a metal remains in resin.

また、第2実施態様では、図2(c)に示すように、導通性領域と端子との接触面積を大きくすることができるため、機械的強度及び接続信頼性をより高めることができる。   Further, in the second embodiment, as shown in FIG. 2C, the contact area between the conductive region and the terminal can be increased, so that the mechanical strength and the connection reliability can be further increased.

第1実施態様で述べたとおり、加熱工程では、溶融した金属が樹脂中を流動できるように、樹脂組成物の硬化が完了しないように導電接続材料を加熱する。例えば、加熱時間を短くするなど、加熱時間を調整することによって、半田又は錫が硬化性樹脂中を移動できる範囲すなわち「硬化性樹脂組成物の硬化が完了しない」ように調整する。   As described in the first embodiment, in the heating step, the conductive connecting material is heated so that the curing of the resin composition is not completed so that the molten metal can flow in the resin. For example, by adjusting the heating time, for example, by shortening the heating time, adjustment is made so that the solder or tin can move in the curable resin, that is, “curing of the curable resin composition is not completed”.

加熱温度及び樹脂組成物の溶融粘度は、第1実施態様で説明したものと同様である。加熱の方法などについても第1実施態様と同様である。   The heating temperature and the melt viscosity of the resin composition are the same as those described in the first embodiment. The heating method is the same as in the first embodiment.

(d)硬化工程
硬化工程では、図2(d)に示すように、金属箔の融点未満の温度で樹脂組成物を硬化させ、前記加熱工程で形成された絶縁性領域を固定する(図中、硬化絶縁性領域120b参照)。このように絶縁性領域を固定することで、その絶縁性領域に周囲を囲まれた導通性領域110aを固定することができ、対向する端子間の電気的接続の耐熱安定性が確保される。金属箔の融点未満の温度で樹脂組成物を硬化させることで、加熱工程で形成された導通性領域が大きく変形または流動することを抑制し、端子間の接続信頼性を高めることができる。硬化工程における導電接続材料の加熱温度は、第1実施態様の説明で述べたとおりである。
(D) Curing step In the curing step, as shown in FIG. 2 (d), the resin composition is cured at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and the insulating region formed in the heating step is fixed (in the figure). , See cured insulating region 120b). By fixing the insulating region in this manner, the conductive region 110a surrounded by the insulating region can be fixed, and the heat resistance stability of the electrical connection between the opposing terminals is ensured. By curing the resin composition at a temperature lower than the melting point of the metal foil, the conductive region formed in the heating step can be prevented from being greatly deformed or flowed, and the connection reliability between the terminals can be improved. The heating temperature of the conductive connection material in the curing step is as described in the description of the first embodiment.

3.導電接続材料
本発明の接続方法に用いられる導電接続材料は、樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される。その形態は、樹脂組成物層と金属箔層とからなる多層構造を有する積層体であり、樹脂組成物層及び金属箔層は各々一層であっても複数層であってもよい。導電接続材料の積層構造は特に制限されなく、樹脂組成物層と金属箔層との二層構造(樹脂組成物層/金属箔層)でもよいし、樹脂組成物層あるいは金属箔層の何れか又は両方を複数含む三層構造又はそれ以上の多層構造でもよい。なお、樹脂組成物層又は金属箔層を複数用いる場合、各層の組成は同一でもよく、異なっていてもよい。
3. Conductive connection material The conductive connection material used in the connection method of the present invention is composed of a resin composition and a metal foil selected from solder foil or tin foil. The form is a laminate having a multilayer structure composed of a resin composition layer and a metal foil layer, and each of the resin composition layer and the metal foil layer may be a single layer or a plurality of layers. The laminated structure of the conductive connecting material is not particularly limited, and may be a two-layer structure (resin composition layer / metal foil layer) of the resin composition layer and the metal foil layer, or either the resin composition layer or the metal foil layer. Alternatively, it may be a three-layer structure including a plurality of both or a multilayer structure having more. In addition, when using two or more resin composition layers or metal foil layers, the composition of each layer may be the same or different.

本発明の一実施形態では、金属箔の表面酸化膜を、フラックス機能を有する化合物で還元する観点から、金属箔層の上下層は樹脂組成物層であることが好ましい。例えば、三層構造(樹脂組成物層/金属箔層/樹脂組成物層)が好ましい。この場合、金属箔層の両側にある樹脂組成物層の厚みは、同一でもよく、異なっていてもよい。樹脂組成物層の厚みは、接続しようとする端子の導体厚みなどによって適宜調整すればよい。例えば、金属箔層の両側にある樹脂組成物層の厚みが異なる導電接続材料を用いて接続端子を製造する場合、厚みが薄い方を接続端子側(電極側)に配置することが好ましい。金属箔と接続端子との距離を短くすることで、接続端子部分への半田又は錫の凝集を制御しやすくなる。   In one embodiment of the present invention, the upper and lower layers of the metal foil layer are preferably resin composition layers from the viewpoint of reducing the surface oxide film of the metal foil with a compound having a flux function. For example, a three-layer structure (resin composition layer / metal foil layer / resin composition layer) is preferable. In this case, the thickness of the resin composition layer on both sides of the metal foil layer may be the same or different. The thickness of the resin composition layer may be appropriately adjusted depending on the conductor thickness of the terminal to be connected. For example, when manufacturing a connection terminal using the conductive connection material in which the thickness of the resin composition layer on both sides of the metal foil layer is different, it is preferable to arrange the thinner one on the connection terminal side (electrode side). By shortening the distance between the metal foil and the connection terminal, it becomes easy to control the aggregation of solder or tin to the connection terminal portion.

次に、本発明に用いられる樹脂組成物及び金属箔についてそれぞれ説明する。   Next, the resin composition and metal foil used in the present invention will be described.

(1)樹脂組成物
まず、樹脂組成物について具体的に説明する。本発明において導電接続材料の樹脂組成物層を構成する樹脂組成物は、加熱または化学線を照射することにより硬化する硬化性樹脂組成物が好ましい。中でも、硬化後の線膨張率や弾性率等の機械特性に優れるという点で、熱硬化性樹脂組成物が好ましい。
(1) Resin Composition First, the resin composition will be specifically described. In the present invention, the resin composition constituting the resin composition layer of the conductive connecting material is preferably a curable resin composition that is cured by heating or irradiation with actinic radiation. Among these, a thermosetting resin composition is preferable in that it is excellent in mechanical properties such as linear expansion coefficient and elastic modulus after curing.

本発明に用いられる樹脂組成物は、常温で液状又は固形状のいずれの形態であってもよい。ここで「常温で液状」とは、常温(25℃)で一定の形態を持たない状態を意味する。ペースト状も液状に含まれる。   The resin composition used in the present invention may be in a liquid or solid form at room temperature. Here, “liquid at normal temperature” means a state where there is no fixed form at normal temperature (25 ° C.). Paste forms are also included in liquid form.

本発明で用いられる樹脂組成物には、硬化性樹脂のほか、必要に応じて、フィルム形成性樹脂、硬化剤、硬化促進剤、フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物、シランカップリング剤などが含まれる。以下、各成分について説明する。   The resin composition used in the present invention includes a curable resin, a film-forming resin, a curing agent, a curing accelerator, a compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group, and a silane coupling agent, as necessary. Etc. are included. Hereinafter, each component will be described.

(i)硬化性樹脂
本発明で用いられる硬化性樹脂は、通常、半導体装置製造用の接着剤成分として使用できるものであれば特に限定されない。例えば、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、シリコーン樹脂、オキセタン樹脂、フェノール樹脂、(メタ)アクリレート樹脂、ポリエステル樹脂(不飽和ポリエステル樹脂)、ジアリルフタレート樹脂、マレイミド樹脂、ポリイミド樹脂(ポリイミド前駆体樹脂)、ビスマレイミド−トリアジン樹脂などが挙げられる。特に、エポキシ樹脂、(メタ)アクリレート樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂、シリコーン樹脂、マレイミド樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種を含む熱硬化性樹脂を用いることが好ましい。中でも、硬化性と保存性、硬化物の耐熱性、耐湿性、耐薬品性に優れるという観点からエポキシ樹脂を用いることが好ましい。これらの硬化性樹脂は1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。
(I) Curable resin The curable resin used by this invention will not be specifically limited if normally used as an adhesive agent component for semiconductor device manufacture. For example, epoxy resin, phenoxy resin, silicone resin, oxetane resin, phenol resin, (meth) acrylate resin, polyester resin (unsaturated polyester resin), diallyl phthalate resin, maleimide resin, polyimide resin (polyimide precursor resin), bismaleimide -Triazine resin etc. are mentioned. In particular, the use of a thermosetting resin containing at least one selected from the group consisting of epoxy resins, (meth) acrylate resins, phenoxy resins, polyester resins, polyimide resins, silicone resins, maleimide resins, and bismaleimide-triazine resins. preferable. Especially, it is preferable to use an epoxy resin from a viewpoint that it is excellent in sclerosis | hardenability and preservability, the heat resistance of a hardened | cured material, moisture resistance, and chemical resistance. These curable resins may be used alone or in combination of two or more.

硬化性樹脂の含有量は樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
例えば、樹脂組成物が液状の場合、硬化性樹脂の含有量は、樹脂組成物の全重量に対して、10重量%以上が好ましく、15重量%以上がより好ましく、20重量%以上がさらに好ましく、25重量%以上がさらにより好ましく、30重量%以上がなお好ましく、35重量%以上が特に好ましい。また、100重量%未満が好ましく、95重量%以下がより好ましく、90重量%以下がさらに好ましく、75重量%以下がさらにより好ましく、65重量%以下がなお好ましく、55重量%以下が特に好ましい。
樹脂組成物が固形状の場合は、硬化性樹脂の含有量は、樹脂組成物の全重量に対して、5重量%以上が好ましく、10重量%以上がより好ましく、15重量%以上がさらに好ましく、20重量%以上が特に好ましい。また、90重量%以下が好ましく、85重量%以下がより好ましく、80重量%以下がさらに好ましく、75重量%以下がさらにより好ましく、65重量%以下がなお好ましく、55重量%以下が特に好ましい。
硬化性樹脂の含有量が前記範囲内にあると端子間の電気的接続強度及び機械的接着強度を十分に確保することができる。
Content of curable resin can be suitably set according to the form of a resin composition.
For example, when the resin composition is liquid, the content of the curable resin is preferably 10% by weight or more, more preferably 15% by weight or more, and still more preferably 20% by weight or more based on the total weight of the resin composition. 25% by weight or more is even more preferable, 30% by weight or more is still more preferable, and 35% by weight or more is particularly preferable. Further, it is preferably less than 100% by weight, more preferably 95% by weight or less, still more preferably 90% by weight or less, still more preferably 75% by weight or less, still more preferably 65% by weight or less, and particularly preferably 55% by weight or less.
When the resin composition is solid, the content of the curable resin is preferably 5% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and still more preferably 15% by weight or more based on the total weight of the resin composition. 20% by weight or more is particularly preferable. Moreover, 90 weight% or less is preferable, 85 weight% or less is more preferable, 80 weight% or less is further more preferable, 75 weight% or less is still more preferable, 65 weight% or less is still more preferable, 55 weight% or less is especially preferable.
When the content of the curable resin is within the above range, the electrical connection strength and the mechanical adhesive strength between the terminals can be sufficiently secured.

本発明では、室温で液状及び室温で固形状のいずれのエポキシ樹脂を使用してもよい。室温で液状のエポキシ樹脂と室温で固形状のエポキシ樹脂とを併用してもよい。樹脂組成物が液状の場合には、室温で液状のエポキシ樹脂を用いることが好ましく、樹脂組成物が固形状の場合には、液状及び固形状のいずれのエポキシ樹脂を使用してもよいが、固形状のエポキシ樹脂を使用する場合はフィルム形成性樹脂を適宜併用することが好ましい。   In the present invention, any epoxy resin that is liquid at room temperature and solid at room temperature may be used. An epoxy resin that is liquid at room temperature and an epoxy resin that is solid at room temperature may be used in combination. When the resin composition is liquid, it is preferable to use a liquid epoxy resin at room temperature, and when the resin composition is solid, any of liquid and solid epoxy resins may be used, When using a solid epoxy resin, it is preferable to use a film-forming resin in combination as appropriate.

室温(25℃)で液状のエポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂などが好ましく挙げられる。ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂とを併用してもよい。
室温で液状のエポキシ樹脂のエポキシ当量は、150〜300g/eqが好ましく、160〜250g/eqがより好ましく、170〜220g/eqが特に好ましい。前記エポキシ当量が上記下限未満になると硬化物の収縮率が大きくなる傾向があり、反りが生じることがある。他方、前記上限を超えると、フィルム形成性樹脂を併用した場合に、フィルム形成性樹脂、特にポリイミド樹脂との反応性が低下する傾向にある。
Preferred examples of the epoxy resin that is liquid at room temperature (25 ° C.) include bisphenol A type epoxy resins and bisphenol F type epoxy resins. A bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin may be used in combination.
The epoxy equivalent of the epoxy resin that is liquid at room temperature is preferably 150 to 300 g / eq, more preferably 160 to 250 g / eq, and particularly preferably 170 to 220 g / eq. If the epoxy equivalent is less than the above lower limit, the shrinkage of the cured product tends to increase, and warping may occur. On the other hand, when the upper limit is exceeded, when a film-forming resin is used in combination, the reactivity with a film-forming resin, particularly a polyimide resin, tends to decrease.

室温(25℃)で固形状のエポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、3官能エポキシ樹脂、4官能エポキシ樹脂などが挙げられる。中でも、固形3官能エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂などが好ましい。これらのエポキシ樹脂は1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。
室温で固形状のエポキシ樹脂のエポキシ当量は、150〜3000g/eqが好ましく、160〜2500g/eqがより好ましく、170〜2000g/eqが特に好ましい。
室温で固形状のエポキシ樹脂の軟化点は、40〜120℃が好ましく、50〜110℃がより好ましく、60〜100℃が特に好ましい。前記軟化点が前記範囲内にあると、タック性を抑えることができ、容易に取り扱うことが可能となる。
Examples of solid epoxy resins at room temperature (25 ° C.) include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol S type epoxy resins, phenol novolac type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, glycidyl amine type epoxy resins, and glycidyl ester type epoxies. Resin, trifunctional epoxy resin, tetrafunctional epoxy resin, etc. are mentioned. Among these, solid trifunctional epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin and the like are preferable. These epoxy resins may be used alone or in combination of two or more.
The epoxy equivalent of the epoxy resin solid at room temperature is preferably 150 to 3000 g / eq, more preferably 160 to 2500 g / eq, and particularly preferably 170 to 2000 g / eq.
The softening point of the epoxy resin solid at room temperature is preferably 40 to 120 ° C, more preferably 50 to 110 ° C, and particularly preferably 60 to 100 ° C. When the softening point is within the above range, tackiness can be suppressed and handling can be easily performed.

硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を使用する場合、その含有量は樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
例えば、エポキシ樹脂の含有量は、樹脂組成物の全重量に対して、10重量%以上が好ましく、15重量%以上がより好ましく、20重量%以上がさらに好ましく、25重量%以上がさらにより好ましく、30重量%以上がなお好ましく、35重量%以上が特に好ましい。また、90重量%以下が好ましく、85重量%以下がより好ましく、80重量%以下がさらに好ましく、75重量%以下がさらにより好ましく、65重量%以下がなお好ましく、55重量%以下が特に好ましい。
エポキシ樹脂の含有量が前記範囲内にあると端子間の電気的接続の信頼性及び機械的接着強度を十分に確保することができる。
When using an epoxy resin as curable resin, the content can be suitably set according to the form of the resin composition.
For example, the content of the epoxy resin is preferably 10% by weight or more, more preferably 15% by weight or more, still more preferably 20% by weight or more, and even more preferably 25% by weight or more based on the total weight of the resin composition. 30% by weight or more is more preferable, and 35% by weight or more is particularly preferable. Moreover, 90 weight% or less is preferable, 85 weight% or less is more preferable, 80 weight% or less is further more preferable, 75 weight% or less is still more preferable, 65 weight% or less is still more preferable, 55 weight% or less is especially preferable.
When the content of the epoxy resin is within the above range, the reliability of electrical connection between the terminals and the mechanical adhesive strength can be sufficiently ensured.

(ii)フィルム形成性樹脂
固形状の樹脂組成物を使用する場合、前記硬化性樹脂とフィルム形成性樹脂とを併用することが好ましい。本発明で用いられるフィルム形成性樹脂としては、有機溶媒に可溶であり、単独で製膜性を有するものであれば特に制限はない。熱可塑性樹脂又は熱硬化性樹脂のいずれのものも使用することができ、また、これらを併用することもできる。具体的に、フィルム形成性樹脂としては、(メタ)アクリル系樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂(飽和ポリエステル樹脂)、ポリウレタン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、シロキサン変性ポリイミド樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリプロピレン樹脂、スチレン−ブタジエン−スチレン共重合体、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレン共重合体、ポリアセタール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ブチルゴム、クロロプレンゴム、ポリアミド樹脂、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン−アクリル酸共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体、ポリ酢酸ビニル、ナイロンなどが挙げられる。中でも、(メタ)アクリル系樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂及びポリイミド樹脂が好ましい。フィルム形成性樹脂は1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。
(Ii) Film-forming resin When a solid resin composition is used, it is preferable to use the curable resin and the film-forming resin in combination. The film-forming resin used in the present invention is not particularly limited as long as it is soluble in an organic solvent and has film-forming properties alone. Either a thermoplastic resin or a thermosetting resin can be used, and these can be used in combination. Specifically, as the film-forming resin, (meth) acrylic resin, phenoxy resin, polyester resin (saturated polyester resin), polyurethane resin, polyimide resin, polyamideimide resin, siloxane-modified polyimide resin, polybutadiene resin, polypropylene resin, Styrene-butadiene-styrene copolymer, styrene-ethylene-butylene-styrene copolymer, polyacetal resin, polyvinyl butyral resin, polyvinyl acetal resin, butyl rubber, chloroprene rubber, polyamide resin, acrylonitrile-butadiene copolymer, acrylonitrile-butadiene- Acrylic acid copolymer, acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer, polyvinyl acetate, nylon and the like can be mentioned. Among these, (meth) acrylic resins, phenoxy resins, polyester resins, and polyimide resins are preferable. A film-forming resin may be used alone or in combination of two or more.

なお、本明細書において、「(メタ)アクリル系樹脂」とは、(メタ)アクリル酸及びその誘導体の重合体、又は(メタ)アクリル酸及びその誘導体と他の単量体との共重合体を意味する。「(メタ)アクリル酸」などと表記するときは、「アクリル酸又はメタクリル酸」などを意味する。   In this specification, “(meth) acrylic resin” refers to a polymer of (meth) acrylic acid and its derivatives, or a copolymer of (meth) acrylic acid and its derivatives and other monomers. Means. When expressed as “(meth) acrylic acid” or the like, it means “acrylic acid or methacrylic acid” or the like.

本発明で用いられる(メタ)アクリル系樹脂としては、例えば、ポリアクリル酸、ポリメタクリル酸、ポリアクリル酸メチル、ポリアクリル酸エチル、ポリアクリル酸ブチル、ポリアクリル酸−2−エチルヘキシルなどのポリアクリル酸エステル、ポリメタクリル酸メチル、ポリメタクリル酸エチル、ポリメタクリル酸ブチルなどのポリメタクリル酸エステル、ポリアクリロニトリル、ポリメタクリロニトリル、ポリアクリルアミド、アクリル酸ブチル−アクリル酸エチル−アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン−アクリル酸共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体、アクリロニトリル−スチレン共重合体、メタクリル酸メチル−スチレン共重合体、メタクリル酸メチル−アクリロニトリル共重合体、メタクリル酸メチル−α−メチルスチレン共重合体、アクリル酸ブチル−アクリル酸エチル−アクリロニトリル−2−ヒドロキシエチルメタクリレート−メタクリル酸共重合体、アクリル酸ブチル−アクリル酸エチル−アクリロニトリル−2−ヒドロキシエチルメタクリレート−アクリル酸共重合体、アクリル酸ブチル−アクリロニトリル−2−ヒドロキシエチルメタクリレート共重合体、アクリル酸ブチル−アクリロニトリル−アクリル酸共重合体、アクリル酸ブチル−アクリル酸エチル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エチル−アクリロニトリル−N,N−ジメチルアクリルアミド共重合体などが挙げられる。中でも、アクリル酸ブチル−アクリル酸エチル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エチル−アクリロニトリル−N,N−ジメチルアクリルアミドが好ましい。これらの(メタ)アクリル系樹脂は1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。   Examples of the (meth) acrylic resin used in the present invention include polyacrylic acid, polymethacrylic acid, polymethyl acrylate, polyethyl acrylate, polybutyl acrylate, and polyacrylic acid-2-ethylhexyl. Acid ester, polymethacrylate such as polymethyl methacrylate, polyethyl methacrylate, polybutyl methacrylate, polyacrylonitrile, polymethacrylonitrile, polyacrylamide, butyl acrylate-ethyl acrylate-acrylonitrile copolymer, acrylonitrile- Butadiene copolymer, acrylonitrile-butadiene-acrylic acid copolymer, acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer, acrylonitrile-styrene copolymer, methyl methacrylate-styrene copolymer, meta Methyl acrylate-acrylonitrile copolymer, methyl methacrylate-α-methylstyrene copolymer, butyl acrylate-ethyl acrylate-acrylonitrile-2-hydroxyethyl methacrylate-methacrylic acid copolymer, butyl acrylate-ethyl acrylate -Acrylonitrile-2-hydroxyethyl methacrylate-acrylic acid copolymer, butyl acrylate-acrylonitrile-2-hydroxyethyl methacrylate copolymer, butyl acrylate-acrylonitrile-acrylic acid copolymer, butyl acrylate-ethyl acrylate- Examples include acrylonitrile copolymer, ethyl acrylate-acrylonitrile-N, N-dimethylacrylamide copolymer, and the like. Of these, butyl acrylate-ethyl acrylate-acrylonitrile copolymer and ethyl acrylate-acrylonitrile-N, N-dimethylacrylamide are preferable. These (meth) acrylic resins may be used alone or in combination of two or more.

これらの(メタ)アクリル系樹脂の中でも、被着体への密着性及び他の樹脂成分との相溶性を向上させることができることから、ニトリル基、エポキシ基、水酸基、カルボキシル基などの官能基を有する単量体を共重合させて得られた(メタ)アクリル系樹脂が好ましい。このような(メタ)アクリル系樹脂において、前記官能基を有する単量体の含有量は特に限定されないが、(メタ)アクリル系樹脂合成時の全単量体100モル%に対して0.1〜50モル%が好ましく、0.5〜45モル%がより好ましく、1〜40モル%が特に好ましい。前記官能基を有する単量体の含有量が前記下限値未満になると密着性が十分に向上しない傾向にあり、他方、前記上限を超えると粘着力が強すぎて作業性が十分に向上しない傾向にある。   Among these (meth) acrylic resins, adhesion to the adherend and compatibility with other resin components can be improved, so functional groups such as nitrile group, epoxy group, hydroxyl group and carboxyl group can be added. A (meth) acrylic resin obtained by copolymerizing a monomer having the same is preferred. In such a (meth) acrylic resin, the content of the monomer having the functional group is not particularly limited, but is 0.1% with respect to 100 mol% of all monomers during the synthesis of the (meth) acrylic resin. -50 mol% is preferable, 0.5-45 mol% is more preferable, and 1-40 mol% is especially preferable. When the content of the monomer having the functional group is less than the lower limit, the adhesion tends not to be sufficiently improved, and when it exceeds the upper limit, the adhesive force is too strong and the workability is not sufficiently improved. It is in.

本発明で用いられるフェノキシ樹脂の骨格は、特に制限されないが、ビスフェノールAタイプ、ビスフェノールFタイプ、ビフェニルタイプなどが好ましく挙げられる。飽和吸水率が1%以下であるフェノキシ樹脂は、接着時や半田実装時の高温下において、発泡又は剥離などの発生を抑えることができるため好ましい。なお、飽和吸水率は、フェノキシ樹脂を25μm厚のフィルムに加工し、100℃雰囲気中で1時間乾燥(絶乾状態)し、さらに、そのフィルムを40℃、90%RH雰囲気の恒温恒湿槽に放置し、質量変化を24時間おきに測定し、質量変化が飽和した時点の質量を用いて、下記式により算出することができる。
飽和吸水率(%)={(飽和した時点の質量)−(絶乾時点の質量)}/(絶乾時点の質量)×100
The skeleton of the phenoxy resin used in the present invention is not particularly limited, but bisphenol A type, bisphenol F type, biphenyl type, and the like are preferable. A phenoxy resin having a saturated water absorption of 1% or less is preferable because it can suppress the occurrence of foaming or peeling at high temperatures during bonding or solder mounting. The saturated water absorption rate is obtained by processing a phenoxy resin into a film having a thickness of 25 μm, drying it in a 100 ° C. atmosphere for 1 hour (an absolutely dry state), and further heating the film at a constant temperature and humidity chamber at 40 ° C. and 90% RH The mass change is measured every 24 hours, and the mass at the time when the mass change is saturated can be calculated by the following formula.
Saturated water absorption (%) = {(mass when saturated) − (mass when absolutely dry)} / (mass when absolutely dry) × 100

本発明で用いられるポリイミド樹脂としては、繰り返し単位中にイミド結合を持つ樹脂であれば特に制限されない。例えば、ジアミンと酸二無水物を反応させ、得られたポリアミド酸を加熱、脱水閉環することにより得られるものが挙げられる。   The polyimide resin used in the present invention is not particularly limited as long as it is a resin having an imide bond in a repeating unit. For example, what is obtained by making diamine and acid dianhydride react, heating the obtained polyamic acid, and carrying out dehydration ring closure is mentioned.

前記ジアミンとしては、例えば、3,3'−ジメチル−4,4'ジアミノジフェニル、4,6−ジメチル−m−フェニレンジアミン、2,5−ジメチル−p−フェニレンジアミンなどの芳香族ジアミン、1,3−ビス(3−アミノプロピル)―1,1,3,3―テトラメチルジシロキサンなどのシロキサンジアミンが挙げられる。ジアミンは1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。   Examples of the diamine include aromatic diamines such as 3,3′-dimethyl-4,4′diaminodiphenyl, 4,6-dimethyl-m-phenylenediamine, and 2,5-dimethyl-p-phenylenediamine, Examples thereof include siloxane diamines such as 3-bis (3-aminopropyl) -1,1,3,3-tetramethyldisiloxane. A diamine may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

また、前記酸二無水物としては、3,3,4,4'−ビフェニルテトラカルボン酸、ピロメリット酸二無水物、4,4'−オキシジフタル酸二無水物などが挙げられる。酸二無水物は1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。   Examples of the acid dianhydride include 3,3,4,4′-biphenyltetracarboxylic acid, pyromellitic dianhydride, 4,4′-oxydiphthalic dianhydride, and the like. An acid dianhydride may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

ポリイミド樹脂は、溶剤に可溶なものでも、不溶なものでもよいが、他の成分と混合する際のワニス化が容易であり、取扱性に優れている点で溶剤可溶性のものが好ましい。特に、様々な有機溶媒に溶解できる点でシロキサン変性ポリイミド樹脂を用いることが好ましい。   The polyimide resin may be soluble or insoluble in a solvent, but is preferably a solvent-soluble one because it can be easily varnished when mixed with other components and has excellent handleability. In particular, a siloxane-modified polyimide resin is preferably used because it can be dissolved in various organic solvents.

本発明で用いられるフィルム形成性樹脂の重量平均分子量は8,000〜1,000,000が好ましく、8,500〜950,000がより好ましく、9,000〜900,000がさらに好ましい。フィルム形成性樹脂の重量平均分子量が上記の範囲であると、製膜性を向上させることが可能で、且つ、硬化前の導電接続材料の流動性を抑制することができる。なお、フィルム形成性樹脂の重量平均分子量は、GPC(ゲル浸透クロマトグラフィー)により測定することができる。   The weight average molecular weight of the film-forming resin used in the present invention is preferably 8,000 to 1,000,000, more preferably 8,500 to 950,000, and further preferably 9,000 to 900,000. When the weight average molecular weight of the film-forming resin is within the above range, the film-forming property can be improved, and the fluidity of the conductive connecting material before curing can be suppressed. The weight average molecular weight of the film-forming resin can be measured by GPC (gel permeation chromatography).

本発明においては、このようなフィルム形成性樹脂として市販品を使用することができる。さらに、本発明の効果を損ねない範囲で、フィルム形成性樹脂に、可塑剤、安定剤、無機フィラー、帯電防止剤、酸化防止剤及び顔料などの各種添加剤を配合したものを使用してもよい。   In the present invention, commercially available products can be used as such film-forming resins. Further, a film-forming resin blended with various additives such as a plasticizer, a stabilizer, an inorganic filler, an antistatic agent, an antioxidant, and a pigment may be used as long as the effects of the present invention are not impaired. Good.

本発明に用いられる導電接続材料において、前記フィルム形成性樹脂の含有量は、使用する硬化性樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
例えば、固形状の樹脂組成物の場合には、フィルム形成性樹脂の含有量は、樹脂組成物の全重量に対して、5重量%以上であることが好ましく、10重量%以上であることがより好ましく、15重量%以上であることが特に好ましい。また、50重量%以下であることが好ましく、45重量%以下であることがより好ましく、40重量%以下であることが特に好ましい。フィルム形成性樹脂の含有量が前記範囲内にあると溶融前の樹脂組成物の流動性を抑制することができ、導電接続材料を容易に取り扱うことが可能となる。
In the conductive connection material used in the present invention, the content of the film-forming resin can be appropriately set according to the form of the curable resin composition to be used.
For example, in the case of a solid resin composition, the content of the film-forming resin is preferably 5% by weight or more and preferably 10% by weight or more with respect to the total weight of the resin composition. More preferably, it is particularly preferably 15% by weight or more. Further, it is preferably 50% by weight or less, more preferably 45% by weight or less, and particularly preferably 40% by weight or less. When the content of the film-forming resin is within the above range, the fluidity of the resin composition before melting can be suppressed, and the conductive connecting material can be easily handled.

(iii)硬化剤
本発明で用いられる硬化剤としては、フェノール類、酸無水物及びアミン化合物が好ましく挙げられる。硬化剤は、硬化性樹脂の種類などに応じて適宜選択することができる。例えば、硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を使用する場合、エポキシ樹脂との良好な反応性、硬化時の低寸法変化及び硬化後の適切な物性(例えば、耐熱性、耐湿性など)が得られる点で硬化剤としてフェノール類を用いることが好ましく、硬化性樹脂の硬化後の物性が優れている点で2官能以上のフェノール類がより好ましい。また、このような硬化剤は1種単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
(Iii) Curing Agent Preferred examples of the curing agent used in the present invention include phenols, acid anhydrides, and amine compounds. A hardening | curing agent can be suitably selected according to the kind etc. of curable resin. For example, when an epoxy resin is used as the curable resin, good reactivity with the epoxy resin, low dimensional change during curing, and appropriate physical properties after curing (for example, heat resistance, moisture resistance, etc.) are obtained. Phenols are preferably used as the curing agent, and bifunctional or higher functional phenols are more preferable in terms of excellent physical properties after curing of the curable resin. Moreover, such a hardening | curing agent may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

フェノール類としては、例えば、ビスフェノールA、テトラメチルビスフェノールA、ジアリルビスフェノールA、ビフェノール、ビスフェノールF、ジアリルビスフェノールF、トリスフェノール、テトラキスフェノール、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂などが挙げられる。中でも、エポキシ樹脂との反応性が良好であり、硬化後の物性が優れている点でフェノールノボラック樹脂及びクレゾールノボラック樹脂が好ましい。   Examples of phenols include bisphenol A, tetramethyl bisphenol A, diallyl bisphenol A, biphenol, bisphenol F, diallyl bisphenol F, trisphenol, tetrakisphenol, phenol novolac resin, cresol novolac resin, and the like. Of these, phenol novolac resins and cresol novolac resins are preferable because they have good reactivity with epoxy resins and excellent physical properties after curing.

硬化剤の含有量は、使用する硬化性樹脂や硬化剤の種類及び後述するフラックス機能を有する化合物が硬化剤として機能する官能基を有する場合、その官能基の種類や使用量によって適宜選択することができる。
例えば、硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を用いた場合、硬化剤の含有量は樹脂組成物の全重量に対して、0.1〜50重量%が好ましく、0.2〜40重量%がより好ましく、0.5〜30重量%が特に好ましい。硬化剤の含有量が前記範囲内にあると端子間の電気的接続の信頼性及び機械的強度を十分に確保することができる。
When the content of the curing agent has a functional group that functions as a curing agent when the compound having a flux function described below and the type of the curable resin or the curing agent to be used have a functional group, the content should be selected as appropriate. Can do.
For example, when an epoxy resin is used as the curable resin, the content of the curing agent is preferably 0.1 to 50% by weight, more preferably 0.2 to 40% by weight, based on the total weight of the resin composition, 0.5 to 30% by weight is particularly preferred. When the content of the curing agent is within the above range, the reliability of the electrical connection between the terminals and the mechanical strength can be sufficiently ensured.

本発明では、硬化剤としてフェノールノボラック樹脂を使用することが好ましい。例えば、フェノールノボラック樹脂を使用する場合、その含有量は、樹脂組成物の全重量に対して、1重量%以上が好ましく、3重量%以上がより好ましく、5重量%以上が特に好ましく、また、50重量%以下が好ましく、40重量%以下がより好ましく、30重量%以下が特に好ましい。フェノールノボラック樹脂の含有量が前記下限未満になると硬化性樹脂が十分に硬化しない傾向にあり、他方、前記上限を超えると未反応のフェノールノボラック樹脂が残存してイオンマイグレーションが発生しやすい傾向にある。   In the present invention, it is preferable to use a phenol novolac resin as a curing agent. For example, when using a phenol novolac resin, the content thereof is preferably 1% by weight or more, more preferably 3% by weight or more, particularly preferably 5% by weight or more based on the total weight of the resin composition. 50 weight% or less is preferable, 40 weight% or less is more preferable, and 30 weight% or less is especially preferable. When the content of the phenol novolak resin is less than the lower limit, the curable resin tends to be not sufficiently cured, and when the content exceeds the upper limit, the unreacted phenol novolak resin tends to remain and ion migration tends to occur. .

硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を用いた場合、フェノールノボラック樹脂の含有量はエポキシ樹脂に対する当量比で規定してもよい。例えば、エポキシ樹脂に対するフェノールノボラック樹脂の当量比は0.5〜1.2であることが好ましく、0.6〜1.1であることがより好ましく、0.7〜0.98であることが特に好ましい。前記当量比が前記下限未満になると、エポキシ樹脂の硬化後の耐熱性、耐湿性が低下しやすい傾向にあり、他方、前記上限を超えると未反応のフェノールノボラック樹脂が残存し、イオンマイグレーションが発生しやすい傾向にある。   When an epoxy resin is used as the curable resin, the content of the phenol novolac resin may be defined by an equivalent ratio with respect to the epoxy resin. For example, the equivalent ratio of phenol novolac resin to epoxy resin is preferably 0.5 to 1.2, more preferably 0.6 to 1.1, and 0.7 to 0.98. Particularly preferred. When the equivalent ratio is less than the lower limit, the heat resistance and moisture resistance after curing of the epoxy resin tend to decrease, and when the upper limit is exceeded, unreacted phenol novolac resin remains and ion migration occurs. It tends to be easy to do.

(iv)硬化促進剤
本発明で用いられる硬化促進剤としては、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2'−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−ウンデシルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−エチル−4−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジンのイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、2−メチルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシジメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾールなどのイミダゾール化合物が挙げられる。
(Iv) Curing accelerator The curing accelerator used in the present invention is imidazole, 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methyl. Imidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl -4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate Tate, , 4-Diamino-6- [2'-methylimidazolyl (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl (1')]-ethyl-s- Triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4-methylimidazolyl (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl (1') ] Isocyanuric acid adduct of 2-ethyl-s-triazine, isocyanuric acid adduct of 2-phenylimidazole, isocyanuric acid adduct of 2-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxydimethylimidazole, 2-phenyl-4 -Imidazole compounds such as methyl-5-hydroxymethylimidazole.

これらの硬化促進剤の中でも、樹脂組成物の硬化が完了する前に半田又は錫が端子の表面に移動することができるという観点から、融点が150℃以上のイミダゾール化合物が好ましい。融点が150℃以上のイミダゾール化合物としては、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、2,4−ジアミノ−6−[2'−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−ウンデシルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−エチル−4−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジンのイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシジメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾールなどが挙げられる。硬化促進剤は1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。   Among these curing accelerators, an imidazole compound having a melting point of 150 ° C. or higher is preferable from the viewpoint that solder or tin can move to the surface of the terminal before the curing of the resin composition is completed. Examples of the imidazole compound having a melting point of 150 ° C. or higher include 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl (1 ')]-Ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl -4-methylimidazolyl (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl (1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2- Isocyanuric acid adduct of phenylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxydimethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymes Etc. Le imidazole. A hardening accelerator may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

硬化促進剤の含有量は、使用する硬化促進剤の種類に応じて適宜設定することができる。
例えば、イミダゾール化合物を使用する場合には、イミダゾール化合物の含有量は、樹脂組成物の全重量に対して、0.001重量%以上が好ましく、0.003重量%以上がより好ましく、0.005重量%以上が特に好ましい。また、1.0重量%以下が好ましく、0.7重量%以下がより好ましく、0.5重量%以下が特に好ましい。イミダゾール化合物の含有量が前記下限未満になると硬化促進剤としての作用が十分に発揮されず、硬化性樹脂組成物を十分に硬化できない場合がある。他方、イミダゾール化合物の含有量が前記上限を超えると、樹脂組成物の硬化が完了する前に半田又は錫が端子表面に十分に移動せず、絶縁性領域に半田又は錫が残り絶縁性が十分に確保できない場合がある。また、導電接続材料の保存安定性が低下する場合がある。
Content of a hardening accelerator can be suitably set according to the kind of hardening accelerator to be used.
For example, when an imidazole compound is used, the content of the imidazole compound is preferably 0.001% by weight or more, more preferably 0.003% by weight or more, more preferably 0.005% by weight based on the total weight of the resin composition. A weight percent or more is particularly preferred. Moreover, 1.0 weight% or less is preferable, 0.7 weight% or less is more preferable, and 0.5 weight% or less is especially preferable. When the content of the imidazole compound is less than the lower limit, the effect as a curing accelerator is not sufficiently exhibited, and the curable resin composition may not be sufficiently cured. On the other hand, when the content of the imidazole compound exceeds the above upper limit, the solder or tin does not sufficiently move to the terminal surface before the curing of the resin composition is completed, and the solder or tin remains in the insulating region and the insulating property is sufficient. May not be secured. In addition, the storage stability of the conductive connection material may be reduced.

(v)フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物
本発明で用いられるフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物は、端子及び金属箔の表面酸化膜など金属酸化膜を還元する作用を有するものである。フェノール性水酸基を有する化合物としては、例えば、フェノール、o−クレゾール、2,6−キシレノール、p−クレゾール、m−クレゾール、o−エチルフェノール、2,4−キシレノール、2,5−キシレノール、m−エチルフェノール、2,3−キシレノール、メジトール、3,5−キシレノール、p−tert−ブチルフェノール、カテコール、p−tert−アミルフェノール、レゾルシノール、p−オクチルフェノール、p−フェニルフェノール、ビスフェノールF、ビスフェノールAF、ビフェノール、ジアリルビスフェノールF、ジアリルビスフェノールA、トリスフェノール、テトラキスフェノールなどのフェノール性水酸基を含有するモノマー類、フェノールノボラック樹脂、o−クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールFノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂などのフェノール性水酸基を含有する樹脂が挙げられる。
(V) Compound having a phenolic hydroxyl group and / or carboxyl group The compound having a phenolic hydroxyl group and / or carboxyl group used in the present invention has an action of reducing a metal oxide film such as a terminal and a metal oxide surface oxide film. Is. Examples of the compound having a phenolic hydroxyl group include phenol, o-cresol, 2,6-xylenol, p-cresol, m-cresol, o-ethylphenol, 2,4-xylenol, 2,5-xylenol, m- Ethylphenol, 2,3-xylenol, meditol, 3,5-xylenol, p-tert-butylphenol, catechol, p-tert-amylphenol, resorcinol, p-octylphenol, p-phenylphenol, bisphenol F, bisphenol AF, biphenol Monomers containing phenolic hydroxyl groups such as diallyl bisphenol F, diallyl bisphenol A, trisphenol, tetrakisphenol, phenol novolac resins, o-cresol novolac resins, bisphenols Nord F novolak resins, resins containing a phenolic hydroxyl group such as bisphenol A novolac resin.

カルボキシル基を有する化合物としては、例えば、脂肪族酸無水物、脂環式酸無水物、芳香族酸無水物、脂肪族カルボン酸、芳香族カルボン酸などが挙げられる。前記脂肪族酸無水物としては、無水コハク酸、ポリアジピン酸無水物、ポリアゼライン酸無水物、ポリセバシン酸無水物などが挙げられる。前記脂環式酸無水物としては、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、無水メチルハイミック酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルシクロヘキセンジカルボン酸無水物などが挙げられる。前記芳香族酸無水物としては、無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ベンゾフェノンテトラカルボン酸無水物、エチレングリコールビストリメリテート、グリセロールトリストリメリテートなどが挙げられる。   Examples of the compound having a carboxyl group include an aliphatic acid anhydride, an alicyclic acid anhydride, an aromatic acid anhydride, an aliphatic carboxylic acid, and an aromatic carboxylic acid. Examples of the aliphatic acid anhydride include succinic anhydride, polyadipic acid anhydride, polyazeline acid anhydride, and polysebacic acid anhydride. Examples of the alicyclic acid anhydride include methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylhymic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, trialkyltetrahydrophthalic anhydride, methylcyclohexene dicarboxylic acid. An anhydride etc. are mentioned. Examples of the aromatic acid anhydride include phthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, benzophenone tetracarboxylic anhydride, ethylene glycol bistrimellitate, and glycerol tris trimellitate.

前記脂肪族カルボン酸としては、蟻酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、ピバル酸、カプロン酸、カプリル酸、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、オレイン酸、フマル酸、マレイン酸、シュウ酸、マロン酸、琥珀酸、グルタル酸、アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジオン酸、ピメリン酸などが挙げられる。中でも、下記式(1):
HOOC−(CH2n−COOH (1)
(式(1)中、nは1〜20の整数である。)
で表される脂肪族カルボン酸が好ましく、アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジオン酸がより好ましい。
Examples of the aliphatic carboxylic acid include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, pivalic acid, caproic acid, caprylic acid, lauric acid, myristic acid, palmitic acid, stearic acid, acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, Examples include oleic acid, fumaric acid, maleic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, sebacic acid, dodecanedioic acid, and pimelic acid. Among them, the following formula (1):
HOOC- (CH 2) n -COOH ( 1)
(In Formula (1), n is an integer of 1-20.)
Are preferable, and adipic acid, sebacic acid, and dodecanedioic acid are more preferable.

芳香族カルボン酸の構造は特に制限されないが、下記式(2)又は(3)で表される化合物が好ましい。
[式中、R1〜R5は、それぞれ独立して、1価の有機基であり、R1〜R5の少なくとも一つは水酸基である。]
[式中、R6〜R20は、それぞれ独立して、1価の有機基であり、R6〜R20の少なくとも一つは水酸基又はカルボキシル基である。]
The structure of the aromatic carboxylic acid is not particularly limited, but a compound represented by the following formula (2) or (3) is preferable.
[Wherein, R 1 to R 5 are each independently a monovalent organic group, and at least one of R 1 to R 5 is a hydroxyl group. ]
[Wherein, R 6 to R 20 are each independently a monovalent organic group, and at least one of R 6 to R 20 is a hydroxyl group or a carboxyl group. ]

芳香族カルボン酸としては、安息香酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ヘミメリット酸、トリメリット酸、トリメシン酸、メロファン酸、プレートニ酸、ピロメリット酸、メリット酸、キシリル酸、ヘメリト酸、メシチレン酸、プレーニチル酸、トルイル酸、ケイ皮酸、サリチル酸、2,3−ジヒドロキシ安息香酸、2,4−ジヒドロキシ安息香酸、ゲンチジン酸(2,5−ジヒドロキシ安息香酸)、2,6−ジヒドロキシ安息香酸、3,5−ジヒドロキシ安息香酸、浸食子酸(3,4,5−トリヒドロキシ安息香酸)、4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸、3,5−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸、3,5−2−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸などのナフトエ酸誘導体;フェノールフタリン;ジフェノール酸などが挙げられる。   Aromatic carboxylic acids include benzoic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, hemimellitic acid, trimellitic acid, trimesic acid, merophanic acid, platnic acid, pyromellitic acid, meritic acid, xylylic acid, hemelitonic acid, mesitylene Acid, prenylic acid, toluic acid, cinnamic acid, salicylic acid, 2,3-dihydroxybenzoic acid, 2,4-dihydroxybenzoic acid, gentisic acid (2,5-dihydroxybenzoic acid), 2,6-dihydroxybenzoic acid, 3,5-dihydroxybenzoic acid, gallic acid (3,4,5-trihydroxybenzoic acid), 4-dihydroxy-2-naphthoic acid, 3,5-dihydroxy-2-naphthoic acid, 3,5-2 Examples include naphthoic acid derivatives such as dihydroxy-2-naphthoic acid; phenolphthaline; diphenolic acid and the like.

これらの中でも、本発明では、フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物として、フラックス機能を有し、且つ、硬化性樹脂の硬化剤として作用する化合物であることが好ましい。すなわち、金属箔及び端子などの金属の表面酸化膜を還元する作用を示し、且つ、硬化性樹脂と反応可能な官能基を有する化合物を用いることが好ましい。該官能基は、硬化性樹脂の種類によって適宜選択する。例えば、硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を用いる場合、該官能基は、カルボキシル基、水酸基及びアミノ基などのエポキシ基と反応可能な官能基が好ましい。フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物が硬化剤として作用することで、金属箔及び端子などの金属の表面酸化膜を還元して金属表面の濡れ性を高め、導通性領域の形成を容易にすると共に、導通性領域を形成した後は、硬化性樹脂に付加して樹脂の弾性率又はTgを高めることができる。また、フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物が硬化剤として作用することで、フラックス洗浄が不要となり、フラックス成分が残存することによるイオンマイグレーションの発生を抑制することができるといった利点がある。   Among these, in the present invention, the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group is preferably a compound having a flux function and acting as a curing agent for a curable resin. That is, it is preferable to use a compound that has a function of reducing the surface oxide film of metal such as a metal foil and a terminal and has a functional group capable of reacting with a curable resin. The functional group is appropriately selected depending on the type of curable resin. For example, when an epoxy resin is used as the curable resin, the functional group is preferably a functional group capable of reacting with an epoxy group such as a carboxyl group, a hydroxyl group, and an amino group. A compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group acts as a curing agent, thereby reducing the surface oxide film of metal such as a metal foil and a terminal to increase the wettability of the metal surface and easily form a conductive region. In addition, after the conductive region is formed, the elastic modulus or Tg of the resin can be increased by adding to the curable resin. In addition, since the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group acts as a curing agent, there is an advantage that flux cleaning is unnecessary and the occurrence of ion migration due to the remaining flux component can be suppressed.

このようなフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物としては、カルボキシル基を少なくとも1つ有していることが好ましい。例えば、硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を用いる場合、該化合物としては、脂肪族ジカルボン酸又はカルボキシル基とフェノール性水酸基とを有する化合物などが挙げられる。
脂肪族ジカルボン酸としては、脂肪族炭化水素基にカルボキシル基が2個結合した化合物が好ましく挙げられる。脂肪族炭化水素基は、飽和又は不飽和の非環式であってもよいし、飽和又は不飽和の環式であってもよい。また、脂肪族炭化水素基が非環式の場合には直鎖状でも分岐状でもよい。
Such a compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group preferably has at least one carboxyl group. For example, when an epoxy resin is used as the curable resin, examples of the compound include aliphatic dicarboxylic acids or compounds having a carboxyl group and a phenolic hydroxyl group.
Preferred examples of the aliphatic dicarboxylic acid include compounds in which two carboxyl groups are bonded to an aliphatic hydrocarbon group. The aliphatic hydrocarbon group may be saturated or unsaturated acyclic, or may be saturated or unsaturated cyclic. Further, when the aliphatic hydrocarbon group is acyclic, it may be linear or branched.

このような脂肪族ジカルボン酸としては、前記式(1)においてnが1〜20の整数である化合物が好ましく挙げられる。前記式(1)中のnが上記範囲内であると、フラックス機能、接着時のアウトガス、導電接続材料が硬化した後の弾性率及びガラス転移温度のバランスが良好なものとなる。特に、導電接続材料の硬化後の弾性率の増加を抑制し、被接着物との接着性を向上させることができることから、nは3以上が好ましい。また、弾性率の低下を抑制し、接続信頼性をさらに向上させることができることから、nは10以下が好ましい。   As such aliphatic dicarboxylic acid, the compound whose n is an integer of 1-20 in the said Formula (1) is mentioned preferably. When n in the formula (1) is within the above range, the balance between the flux function, the outgas at the time of adhesion, the elastic modulus after the conductive connecting material is cured, and the glass transition temperature becomes good. In particular, n is preferably 3 or more because an increase in the elastic modulus after curing of the conductive connecting material can be suppressed and the adhesion to the adherend can be improved. In addition, n is preferably 10 or less because it is possible to suppress a decrease in elastic modulus and further improve connection reliability.

前記式(1)で示される脂肪族ジカルボン酸としては、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、スベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、ウンデカン二酸、ドデカン二酸、トリデカン二酸、テトラデカン二酸、ペンタデカン二酸、オクタデカン二酸、ノナデカン二酸、エイコサン二酸などが挙げられる。中でも、アジピン酸、スベリン酸、セバシン酸、ドデンカン二酸が好ましく、セバシン酸が特に好ましい。   Examples of the aliphatic dicarboxylic acid represented by the formula (1) include glutaric acid, adipic acid, pimelic acid, suberic acid, azelaic acid, sebacic acid, undecanedioic acid, dodecanedioic acid, tridecanedioic acid, tetradecanedioic acid, and pentadecane. Examples include diacid, octadecanedioic acid, nonadecanedioic acid, and eicosanedioic acid. Among these, adipic acid, suberic acid, sebacic acid and dodencandioic acid are preferable, and sebacic acid is particularly preferable.

前記カルボキシル基とフェノール性水酸基とを有する化合物としては、サリチル酸、2,3−ジヒドロキシ安息香酸、2,4−ジヒドロキシ安息香酸、ゲンチジン酸(2,5−ジヒドロキシ安息香酸)、2,6−ジヒドロキシ安息香酸、3,4−ジヒドロキシ安息香酸、浸食子酸(3,4,5−トリヒドロキシ安息香酸)などの安息香酸誘導体;1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸、3,5−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸などのナフトエ酸誘導体;フェノールフタリン;ジフェノール酸などが挙げられる。中でも、フェノールフタリン、ゲンチジン酸、2,4−ジヒドロキシ安息香酸、2,6−ジヒドロキシ安息香酸が好ましく、フェノールフタリン、ゲンチジン酸が特に好ましい。   Examples of the compound having a carboxyl group and a phenolic hydroxyl group include salicylic acid, 2,3-dihydroxybenzoic acid, 2,4-dihydroxybenzoic acid, gentisic acid (2,5-dihydroxybenzoic acid), and 2,6-dihydroxybenzoic acid. Benzoic acid derivatives such as acid, 3,4-dihydroxybenzoic acid, gallic acid (3,4,5-trihydroxybenzoic acid); 1,4-dihydroxy-2-naphthoic acid, 3,5-dihydroxy-2- Naphthoic acid derivatives such as naphthoic acid; phenolphthaline; diphenolic acid and the like. Of these, phenolphthaline, gentisic acid, 2,4-dihydroxybenzoic acid, and 2,6-dihydroxybenzoic acid are preferable, and phenolphthalin and gentisic acid are particularly preferable.

フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物は、1種単独で用いても2種以上を併用してもよい。また、いずれの化合物も吸湿しやすく、ボイド発生の原因となるため、フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物を使用前に予め乾燥させておくことが好ましい。   The compound which has a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together. In addition, since any compound easily absorbs moisture and causes voids, it is preferable to dry a compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group in advance before use.

フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物の含有量は、使用する樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
例えば、樹脂組成物が液状の場合、フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物の含有量は、樹脂組成物の全重量に対して、1重量%以上が好ましく、2重量部%以上がより好ましく、3重量%以上が特に好ましい。また、50重量%以下が好ましく、40重量%以下がより好ましく、30重量%以下がさらに好ましく、25重量%以下が特に好ましい。
固形状の樹脂組成物の場合には、フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物の含有量は、樹脂組成物の全重量に対して、1重量%以上が好ましく、2重量%以上がより好ましく、3重量%以上が特に好ましい。また、50重量%以下が好ましく、40重量%以下がより好ましく、30重量%以下がさらに好ましく、25重量%以下が特に好ましい。
フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物の含有量が上記範囲内であると、金属箔及び端子の表面酸化膜を電気的に接合できる程度に除去することができる。さらに、硬化時に樹脂に効率よく付加して樹脂の弾性率又はTgを高めることができる。また、未反応のフラックス機能を有する化合物に起因するイオンマイグレーションの発生を抑制することができる。
Content of the compound which has a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group can be suitably set according to the form of the resin composition to be used.
For example, when the resin composition is liquid, the content of the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group is preferably 1% by weight or more, more preferably 2% by weight or more based on the total weight of the resin composition. It is preferably 3% by weight or more. Moreover, 50 weight% or less is preferable, 40 weight% or less is more preferable, 30 weight% or less is further more preferable, and 25 weight% or less is especially preferable.
In the case of a solid resin composition, the content of the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group is preferably 1% by weight or more, more preferably 2% by weight or more based on the total weight of the resin composition. It is preferably 3% by weight or more. Moreover, 50 weight% or less is preferable, 40 weight% or less is more preferable, 30 weight% or less is further more preferable, and 25 weight% or less is especially preferable.
If the content of the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group is within the above range, the metal foil and the surface oxide film of the terminal can be removed to such an extent that they can be electrically joined. Furthermore, the elastic modulus or Tg of the resin can be increased by efficiently adding to the resin during curing. Moreover, generation | occurrence | production of the ion migration resulting from the compound which has an unreacted flux function can be suppressed.

(vi)シランカップリング剤
本発明で用いられるシランカップリング剤としては、エポキシシランカップリング剤、芳香族含有アミノシランカップリング剤などが挙げられる。シランカップリング剤を添加することにより、接合部材と導電接続材料との密着性を高めることができる。シランカップリング剤は1種単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
(Vi) Silane coupling agent Examples of the silane coupling agent used in the present invention include an epoxy silane coupling agent and an aromatic-containing aminosilane coupling agent. By adding the silane coupling agent, the adhesion between the bonding member and the conductive connecting material can be enhanced. A silane coupling agent may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

シランカップリング剤の含有量は、接合部材や硬化性樹脂などの種類に応じて適宜選択することができる。例えば、シランカップリング剤の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、0.01重量%以上が好ましく、0.05重量%以上がより好ましく、0.1重量%以上が特に好ましく、また、2重量%以下が好ましく、1.5重量%以下がより好ましく、1重量%以下が特に好ましい。   Content of a silane coupling agent can be suitably selected according to types, such as a joining member and curable resin. For example, the content of the silane coupling agent is preferably 0.01% by weight or more, more preferably 0.05% by weight or more, and particularly preferably 0.1% by weight or more with respect to the total weight of the curable resin composition. It is preferably 2% by weight or less, more preferably 1.5% by weight or less, and particularly preferably 1% by weight or less.

本発明で用いられる樹脂組成物には、本発明の効果を損ねない範囲で、可塑剤、安定剤、粘着付与剤、滑剤、酸化防止剤、無機フィラー等の充填材、帯電防止剤及び顔料などを配合してもよい。   The resin composition used in the present invention includes plasticizers, stabilizers, tackifiers, lubricants, antioxidants, fillers such as inorganic fillers, antistatic agents, pigments, etc., as long as the effects of the present invention are not impaired. May be blended.

本発明において、前記樹脂組成物は、上記各成分を混合・分散させることによって調製することができる。各成分の混合方法や分散方法は特に限定されず、従来公知の方法で混合、分散させることができる。   In the present invention, the resin composition can be prepared by mixing and dispersing the above components. The mixing method and dispersion method of each component are not specifically limited, It can mix and disperse | distribute by a conventionally well-known method.

また、本発明においては、前記各成分を溶媒中で又は無溶媒下で混合して液状の樹脂組成物を調製してもよい。このとき用いられる溶媒としては、各成分に対して不活性なものであれば特に限定はないが、例えば、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)、メチルイソブチルケトン(MIBK)、ジイソブチルケトン(DIBK)、シクロヘキサノン、ジアセトンアルコール(DAA)などのケトン類;ベンゼン、キシレン、トルエンなどの芳香族炭化水素類、メチルアルコール、エチルアルコール、イソプロピルアルコール、n−ブチルアルコールなどのアルコール類、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルセロソルブアセテート、エチルセロソルブアセテートなどのセロソルブ類、N−メチル−2−ピロリドン(NMP)、テトラヒドロフラン(THF)、ジメチルホルムアミド(DMF)、二塩基酸エステル(DBE)、3−エトキシプロピオン酸エチル(EEP)、ジメチルカーボネート(DMC)などが挙げられる。また、溶媒の使用量は、溶媒に混合した成分の固形分濃度が10〜60重量%となる量であることが好ましい。   Moreover, in this invention, you may mix the said each component in a solvent or under absence of solvent, and may prepare a liquid resin composition. The solvent used at this time is not particularly limited as long as it is inert to each component. For example, acetone, methyl ethyl ketone (MEK), methyl isobutyl ketone (MIBK), diisobutyl ketone (DIBK), cyclohexanone, Ketones such as diacetone alcohol (DAA); aromatic hydrocarbons such as benzene, xylene and toluene; alcohols such as methyl alcohol, ethyl alcohol, isopropyl alcohol and n-butyl alcohol; methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve; Cellosolves such as methyl cellosolve acetate and ethyl cellosolve acetate, N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), tetrahydrofuran (THF), dimethylformamide (DMF), dibasic acid ester (DB ), Ethyl 3-ethoxypropionate (EEP), and dimethyl carbonate (DMC). Moreover, it is preferable that the usage-amount of a solvent is an quantity from which the solid content concentration of the component mixed with the solvent will be 10 to 60 weight%.

本発明の好ましい形態では、樹脂組成物の全重量に対して、エポキシ樹脂10〜90重量%、硬化剤0.1〜50重量%、フィルム形成性樹脂5〜50重量%及びフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物1〜50重量%を含むものがより好ましい。また、樹脂組成物の全重量に対して、エポキシ樹脂20〜80重量%、硬化剤0.2〜40重量%、フィルム形成性樹脂10〜45重量%及びフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物2〜40重量%を含むものがさらに好ましい。また、樹脂組成物の全重量に対して、エポキシ樹脂35〜55重量%、硬化剤0.5〜30重量%、フィルム形成性樹脂15〜40重量%及びフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物3〜25重量%を含むものが特に好ましい。   In a preferred embodiment of the present invention, the epoxy resin is 10 to 90% by weight, the curing agent is 0.1 to 50% by weight, the film-forming resin is 5 to 50% by weight, the phenolic hydroxyl group and / or the total weight of the resin composition. Or what contains 1 to 50 weight% of compounds which have a carboxyl group is more preferable. Moreover, it has 20-80 weight% of epoxy resins, 0.2-40 weight% of hardening | curing agents, 10-45 weight% of film-forming resin, and a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group with respect to the total weight of a resin composition. More preferred are those containing 2 to 40% by weight of the compound. Moreover, it has 35-55 weight% of epoxy resins, 0.5-30 weight% of hardening | curing agents, 15-40 weight% of film-forming resin, and a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group with respect to the total weight of a resin composition. Those containing 3 to 25% by weight of the compound are particularly preferred.

本発明の導電接続材料における樹脂組成物の含有量は、樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
例えば、樹脂組成物が液状の場合、樹脂組成物の含有量は、導電接続材料の全重量に対して、10重量%以上が好ましく、20重量%以上がより好ましく、25重量%以上が特に好ましい。また、95重量%以下が好ましく、80重量%以下がより好ましく、75重量%以下が特に好ましい。
樹脂組成物が固形状の場合、樹脂組成物の含有量は、導電接続材料の全重量に対して、10重量%以上が好ましく、15重量%以上がより好ましく、20重量%以上が特に好ましい。また、95重量%以下が好ましく、80重量%以下がより好ましく、75重量%以下が特に好ましい。
The content of the resin composition in the conductive connecting material of the present invention can be appropriately set according to the form of the resin composition.
For example, when the resin composition is liquid, the content of the resin composition is preferably 10% by weight or more, more preferably 20% by weight or more, and particularly preferably 25% by weight or more based on the total weight of the conductive connecting material. . Moreover, 95 weight% or less is preferable, 80 weight% or less is more preferable, and 75 weight% or less is especially preferable.
When the resin composition is solid, the content of the resin composition is preferably 10% by weight or more, more preferably 15% by weight or more, and particularly preferably 20% by weight or more based on the total weight of the conductive connecting material. Moreover, 95 weight% or less is preferable, 80 weight% or less is more preferable, and 75 weight% or less is especially preferable.

本発明の導電接続材料において樹脂組成物層の各々の厚みは、特に制限されないが、1μm以上が好ましく、3μm以上がより好ましく、5μm以上が特に好ましい。また、樹脂組成物層の厚みは、200μm以下が好ましく、150μm以下がより好ましく、100μm以下が特に好ましい。樹脂組成物層の厚みが前記範囲内にあると、隣接する端子間の間隙に樹脂組成物を十分に充填することができ、樹脂組成物の硬化後、固化後の機械的接着強度及び対向する端子間の電気的接続を十分に確保することができ、接続端子の製造も可能にすることができる。   In the conductive connection material of the present invention, the thickness of each resin composition layer is not particularly limited, but is preferably 1 μm or more, more preferably 3 μm or more, and particularly preferably 5 μm or more. Further, the thickness of the resin composition layer is preferably 200 μm or less, more preferably 150 μm or less, and particularly preferably 100 μm or less. When the thickness of the resin composition layer is within the above range, the gap between adjacent terminals can be sufficiently filled with the resin composition, and after the resin composition is cured, the mechanical adhesive strength after solidification and the opposite are opposed. A sufficient electrical connection between the terminals can be ensured, and the connection terminals can be manufactured.

本発明の導電接続材料が樹脂組成物層を複数含む場合、各樹脂組成物層の組成は同一でもよいし、用いる樹脂成分の種類や配合処方の違いなどにより異なっていてもよい。樹脂組成物層の溶融粘度や軟化温度などの物性も同一でもよいし異なっていてもよい。例えば液状の樹脂組成物層と固形状の樹脂組成物層とを組み合わせて用いてもよい。   When the conductive connection material of the present invention includes a plurality of resin composition layers, the composition of each resin composition layer may be the same, or may differ depending on the type of resin component used, the difference in formulation, and the like. The physical properties such as melt viscosity and softening temperature of the resin composition layer may be the same or different. For example, a liquid resin composition layer and a solid resin composition layer may be used in combination.

(2)金属箔
本発明において金属箔層は、半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔で構成される層である。金属箔層は平面視で樹脂組成物層の少なくとも一部に形成されていればよく、樹脂組成物層の全面に形成されていてもよい。
(2) Metal foil In this invention, a metal foil layer is a layer comprised with the metal foil chosen from solder foil or tin foil. The metal foil layer should just be formed in at least one part of the resin composition layer by planar view, and may be formed in the whole surface of the resin composition layer.

金属箔層の形状は特に制限されなく、一定の形状が繰り返しパターン状に形成されていてもよいし、形状が不規則であってもよい。規則的な形状と不規則な形状とが混在していてもよい。図3は、金属箔層の形状の一例を示す平面模式図である。樹脂組成物層120の上に様々な形状をもつ金属箔層110が形成されている。金属箔層の形状としては、例えば、図3に示されるような点線の抜き模様状(a)、縞模様状(b)、水玉模様状(c)、矩形模様状(d)、チェッカー模様状(e)、額縁状(f)、格子模様状(g)又は多重の額縁状(h)などが挙げられる。これらの形状は一例であり、目的や用途に応じてこれらの形状を組み合わせたり、変形させて用いることができる。   The shape of the metal foil layer is not particularly limited, and a certain shape may be repeatedly formed in a pattern shape, or the shape may be irregular. Regular shapes and irregular shapes may be mixed. FIG. 3 is a schematic plan view showing an example of the shape of the metal foil layer. Metal foil layers 110 having various shapes are formed on the resin composition layer 120. As the shape of the metal foil layer, for example, a dotted pattern (a), a striped pattern (b), a polka dot pattern (c), a rectangular pattern (d), or a checkered pattern as shown in FIG. Examples include (e), a frame shape (f), a lattice pattern shape (g), and a multiple frame shape (h). These shapes are examples, and these shapes can be combined or deformed depending on the purpose and application.

本発明の一実施態様において、接続しようとする電極が被着体の接続面全体に配置されているようなフルグリッド型の被着体を接続する場合、樹脂組成物の全面にシート状の金属箔を形成することが好ましい。   In one embodiment of the present invention, when connecting a full grid type adherend in which the electrode to be connected is disposed on the entire connection surface of the adherend, a sheet-like metal is formed on the entire surface of the resin composition. It is preferable to form a foil.

また、接続しようとする電極が被着体の接続面の周辺部に配置されるようなペリフェラル型の被着体を接続する場合、金属箔を有効に利用する観点、及び、隣接する電極間に金属箔を残存させないという観点から、樹脂組成物の少なくとも一部に繰り返しパターン状の金属箔を形成することが好ましい。このとき、金属箔の形状は電極のピッチや形態等によって適宜選択することができる。   In addition, when connecting a peripheral type adherend in which the electrode to be connected is arranged in the periphery of the connection surface of the adherend, from the viewpoint of effectively using the metal foil, and between adjacent electrodes From the viewpoint of not leaving the metal foil, it is preferable to form a patterned metal foil repeatedly on at least a part of the resin composition. At this time, the shape of the metal foil can be appropriately selected depending on the pitch and form of the electrodes.

本発明に使用する金属箔は、フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物の還元作用により除去可能な表面酸化膜を有するものであれば特に制限はないが、錫(Sn)、鉛(Pb)、銀(Ag)、ビスマス(Bi)、インジウム(In)、亜鉛(Zn)、ニッケル(Ni)、アンチモン(Sb)、鉄(Fe)、アルミニウム(Al)、金(Au)、ゲルマニウム(Ge)及び銅(Cu)からなる群から選択される少なくとも2種以上の金属の合金、又は錫単体からなることが好ましい。   The metal foil used in the present invention is not particularly limited as long as it has a surface oxide film that can be removed by the reducing action of a compound having a phenolic hydroxyl group and / or carboxyl group, but tin (Sn), lead (Pb ), Silver (Ag), bismuth (Bi), indium (In), zinc (Zn), nickel (Ni), antimony (Sb), iron (Fe), aluminum (Al), gold (Au), germanium (Ge) ) And copper (Cu), or an alloy of at least two kinds of metals selected from the group consisting of copper (Cu), or tin alone.

これらのうち、溶融温度及び機械的物性を考慮すると、金属箔は、Sn−Pbの合金、鉛フリー半田であるSn−Biの合金、Sn−Ag−Cuの合金、Sn−Inの合金、Sn−Agの合金などのSnを含む合金からなる半田箔がより好ましい。Sn−Pbの合金を用いる場合、錫の含有率は、30重量%以上100重量%未満が好ましく、35重量%以上100重量%未満がより好ましく、40重量%以上が特に好ましい。また、100重量%未満が好ましい。また、鉛フリー半田の場合の錫の含有率は、15重量%以上100重量%未満が好ましく、20重量%以上100重量%未満がより好ましく、25重量%以上100重量%未満が特に好ましい。例えば、Sn−Pbの合金としては、Sn63−Pb(融点183℃)、Sn−3.0Ag−0.5Cu(融点217℃)、Sn−3.5Ag(融点221℃)、Sn−58Bi(融点139℃)、Sn−9.0Zn(融点199℃)、Sn−3.5Ag−0.5Bi−3.0In(融点193℃)、Au−20Sn(融点280℃)、等が好ましく挙げられる。   Among these, considering the melting temperature and mechanical properties, the metal foil is composed of Sn—Pb alloy, Sn—Bi alloy which is lead-free solder, Sn—Ag—Cu alloy, Sn—In alloy, Sn A solder foil made of an alloy containing Sn such as an alloy of -Ag is more preferable. When using an Sn—Pb alloy, the content of tin is preferably 30% by weight or more and less than 100% by weight, more preferably 35% by weight or more and less than 100% by weight, and particularly preferably 40% by weight or more. Moreover, less than 100 weight% is preferable. In the case of lead-free solder, the content of tin is preferably 15% by weight or more and less than 100% by weight, more preferably 20% by weight or more and less than 100% by weight, and particularly preferably 25% by weight or more and less than 100% by weight. For example, Sn-Pb alloys include Sn63-Pb (melting point 183 ° C), Sn-3.0Ag-0.5Cu (melting point 217 ° C), Sn-3.5Ag (melting point 221 ° C), Sn-58Bi (melting point). 139 ° C.), Sn-9.0Zn (melting point 199 ° C.), Sn-3.5Ag-0.5Bi-3.0In (melting point 193 ° C.), Au-20Sn (melting point 280 ° C.), and the like.

金属箔は、接続しようとする電子部材や半導体装置の耐熱性に応じて適宜選択すればよい。例えば、半導体装置における端子間接続においては、半導体装置の部材が熱履歴により損傷するのを防止するため、融点が330℃以下(より好ましくは300℃以下、特に好ましくは280℃以下、さらに好ましくは260℃以下)である金属箔を用いることが好ましい。また、端子間接続後の半導体装置の耐熱性を確保するためには、融点が100℃以上(より好ましくは110℃以上、特に好ましくは120℃以上)である金属箔を用いることが好ましい。なお、金属箔の融点は、示差走査熱量計(DSC)により測定することができる。   The metal foil may be appropriately selected according to the heat resistance of the electronic member or semiconductor device to be connected. For example, in the connection between terminals in a semiconductor device, the melting point is 330 ° C. or lower (more preferably 300 ° C. or lower, particularly preferably 280 ° C. or lower, more preferably, in order to prevent the members of the semiconductor device from being damaged by thermal history. It is preferable to use a metal foil that is 260 ° C. or lower. In order to ensure the heat resistance of the semiconductor device after the connection between terminals, it is preferable to use a metal foil having a melting point of 100 ° C. or higher (more preferably 110 ° C. or higher, particularly preferably 120 ° C. or higher). In addition, melting | fusing point of metal foil can be measured with a differential scanning calorimeter (DSC).

金属箔の厚みは、対向する端子間のギャップ、隣接する端子間の離隔距離などに応じて適宜選択することができる。例えば、半導体装置における半導体チップ、基板、半導体ウエハなどの各接続端子間の接続の場合、金属箔の厚みは、0.5μm以上が好ましく、1μm以上がより好ましく、2μm以上が特に好ましく、また、100μm以下が好ましく、50μm以下がより好ましく、20μm以下が特に好ましい。金属箔の厚みが前記下限未満になると半田又は錫不足により未接続の端子が増加する傾向にあり、他方、前記上限を超えると半田又は錫余剰により隣接端子間でブリッジを起こし、ショートしやすくなる傾向にある。   The thickness of the metal foil can be appropriately selected according to the gap between the opposing terminals, the separation distance between adjacent terminals, and the like. For example, in the case of connection between connection terminals such as a semiconductor chip, a substrate, and a semiconductor wafer in a semiconductor device, the thickness of the metal foil is preferably 0.5 μm or more, more preferably 1 μm or more, particularly preferably 2 μm or more, 100 micrometers or less are preferable, 50 micrometers or less are more preferable, and 20 micrometers or less are especially preferable. If the thickness of the metal foil is less than the lower limit, the number of unconnected terminals tends to increase due to insufficient solder or tin. On the other hand, if the thickness exceeds the upper limit, bridging occurs between adjacent terminals due to excessive solder or tin, and shorting easily occurs. There is a tendency.

金属箔の作製方法としては、例えば、インゴットなどの塊から圧延により作製する方法、樹脂組成物層へ直接蒸着、スパッタ、めっきなどにより金属箔層を形成する方法が挙げられる。また、繰り返しパターン状の金属箔の作製方法としては、例えば、金属箔を所定のパターンに打抜く方法、エッチングなどにより所定のパターンを形成する方法、また、遮蔽板やマスクなどを使用することにより蒸着、スパッタ、めっきなどで形成する方法が挙げられる。   Examples of the method for producing the metal foil include a method of producing from a lump such as an ingot by rolling, and a method of forming the metal foil layer directly on the resin composition layer by vapor deposition, sputtering, plating, or the like. In addition, as a method for producing a metal foil having a repetitive pattern, for example, a method of punching a metal foil into a predetermined pattern, a method of forming a predetermined pattern by etching, etc., or using a shielding plate or a mask Examples thereof include a method of forming by vapor deposition, sputtering, plating, and the like.

金属箔の含有量は、導電接続材料の全重量に対して、5重量%以上が好ましく、20重量%以上がより好ましく、30重量%以上が特に好ましい。また、100重量%未満が好ましく、80重量%以下がより好ましく、70重量%以下が特に好ましい。金属箔の含有量が上記下限未満になると半田又は錫不足により未接続の端子が増加する場合がある。他方、金属箔の含有量が上記上限を超えると半田又は錫余剰により隣接端子間でブリッジを起こしやすくなる。   The content of the metal foil is preferably 5% by weight or more, more preferably 20% by weight or more, and particularly preferably 30% by weight or more with respect to the total weight of the conductive connecting material. Moreover, less than 100 weight% is preferable, 80 weight% or less is more preferable, and 70 weight% or less is especially preferable. If the content of the metal foil is less than the above lower limit, unconnected terminals may increase due to insufficient solder or tin. On the other hand, if the content of the metal foil exceeds the above upper limit, bridging is likely to occur between adjacent terminals due to excessive solder or tin.

あるいは、金属箔の含有量を導電接続材料に対する体積比率で定義してもよい。例えば、金属箔の含有量は、導電接続材料に対して1体積%以上が好ましく、5体積%以上がより好ましく、10体積%以上が特に好ましい。また、90体積%以下が好ましく、80体積%以下がより好ましく、70体積%以下が特に好ましい。金属箔の含有量が上記下限未満になると半田又は錫不足により未接続の端子が増加する場合がある。他方、金属箔の含有量が上記上限を超えると半田又は錫余剰により隣接端子間でブリッジを起こしやすくなる。   Or you may define content of metal foil with the volume ratio with respect to a conductive connection material. For example, the content of the metal foil is preferably 1% by volume or more, more preferably 5% by volume or more, and particularly preferably 10% by volume or more with respect to the conductive connection material. Moreover, 90 volume% or less is preferable, 80 volume% or less is more preferable, and 70 volume% or less is especially preferable. If the content of the metal foil is less than the above lower limit, unconnected terminals may increase due to insufficient solder or tin. On the other hand, if the content of the metal foil exceeds the above upper limit, bridging is likely to occur between adjacent terminals due to excessive solder or tin.

本発明において導電接続材料の形態は、樹脂組成物の形態などに応じて適宜選択することができる。例えば、樹脂組成物が液状の場合は、金属箔の両面に樹脂組成物を塗布したもの、ポリエステルシート等の剥離基材上に樹脂組成物を塗布し、所定温度で半硬化(Bステージ化)等の目的で乾燥、製膜させた後に金属箔を張り合わせてフィルム状にしたもの等を導電接続材料として供することができる。樹脂組成物が固形状の場合は、有機溶剤に溶解した樹脂組成物のワニスをポリエステルシート等の剥離基材上に塗布し、所定の温度で乾燥させた後に金属箔を張り合わせ、又は、蒸着などの手法を使いフィルム状に形成したものを導電接続材料として供することができる。   In the present invention, the form of the conductive connection material can be appropriately selected according to the form of the resin composition. For example, when the resin composition is liquid, the resin composition is applied on both sides of a metal foil, or the resin composition is applied on a release substrate such as a polyester sheet, and semi-cured at a predetermined temperature (B-stage) For example, a film obtained by drying and forming a film and pasting metal foils together to form a film can be used as the conductive connection material. When the resin composition is solid, the resin composition varnish dissolved in an organic solvent is applied onto a release substrate such as a polyester sheet and dried at a predetermined temperature, and then bonded to a metal foil or vapor deposition, etc. A film formed using the above method can be used as a conductive connection material.

また、本発明の導電接続材料及びこれに用いられる金属箔は、端子との接触を高めるためにエンボス加工を施したものを用いることもできる。   Moreover, the conductive connection material of this invention and the metal foil used for this can also use what gave the embossing in order to improve a contact with a terminal.

本発明の導電接続材料の厚みは、特に制限されないが、1μm以上が好ましく、3μm以上がより好ましく、5μm以上が特に好ましく、また、200μm以下が好ましく、150μm以下がより好ましく、100μm以下が特に好ましい。導電接続材料の厚みが前記範囲内にあると隣接する端子間の間隙に樹脂組成物を十分に充填することができる。また、樹脂成分の硬化後又は固化後の機械的接着強度及び対向する端子間の電気的接続を十分に確保することができる。また、目的や用途に応じた接続端子の製造も可能にすることができる。   The thickness of the conductive connecting material of the present invention is not particularly limited, but is preferably 1 μm or more, more preferably 3 μm or more, particularly preferably 5 μm or more, preferably 200 μm or less, more preferably 150 μm or less, and particularly preferably 100 μm or less. . When the thickness of the conductive connecting material is within the above range, the resin composition can be sufficiently filled in the gap between adjacent terminals. In addition, the mechanical adhesive strength after the resin component is cured or solidified and the electrical connection between the opposing terminals can be sufficiently ensured. In addition, it is possible to manufacture a connection terminal according to the purpose and application.

本発明で用いられる樹脂組成物が25℃で液状の場合、例えば、金属箔を液状の樹脂組成物に浸漬させ、金属箔の両面に液状の樹脂組成物を付着させて、本発明の導電接続材料を製造することができる。樹脂組成物の厚み制御が必要な場合は、液状の樹脂組成物に浸漬させた金属箔を一定の間隙を有するバーコーターを通過させる方法や液状の樹脂組成物をスプレーコーター等により吹き付ける方法により作製することができる。   When the resin composition used in the present invention is liquid at 25 ° C., for example, the metal foil is dipped in the liquid resin composition, and the liquid resin composition is adhered to both surfaces of the metal foil, so that the conductive connection of the present invention is performed. The material can be manufactured. When the thickness of the resin composition needs to be controlled, it is prepared by a method in which a metal foil immersed in a liquid resin composition is passed through a bar coater having a certain gap or a method in which a liquid resin composition is sprayed with a spray coater or the like. can do.

また、本発明で用いられる樹脂組成物が25℃でフィルム状の場合は、例えば、次のようにして導電接続材料を製造することができる。まず、有機溶剤に溶解した樹脂組成物のワニスをポリエステルシート等の剥離基材上に塗布し、所定の温度で乾燥させ製膜させてフィルム状の樹脂組成物を作製する。次に、剥離基材上に製膜させた樹脂組成物を2枚準備し金属箔を挟んで熱ロールでラミネートすることで、金属箔の上下に樹脂組成物を配置した時樹脂組成物/金属箔/樹脂組成物からなる3層の導電接続材料を作製することができる。また、上述のラミネート方式により、金属箔の片面に樹脂組成物を配置することで樹脂組成物/金属箔からなる2層の導電接続材料を作製することができる。   Moreover, when the resin composition used by this invention is a film form at 25 degreeC, a conductive connection material can be manufactured as follows, for example. First, a varnish of a resin composition dissolved in an organic solvent is applied on a release substrate such as a polyester sheet, dried at a predetermined temperature to form a film, and a film-like resin composition is produced. Next, two resin compositions formed on the release substrate were prepared, and the resin composition was placed on top and bottom of the metal foil by laminating with a hot roll with the metal foil sandwiched between the resin composition / metal. A three-layer conductive connecting material made of a foil / resin composition can be produced. In addition, a two-layer conductive connecting material composed of a resin composition / metal foil can be produced by arranging the resin composition on one side of the metal foil by the above-described laminating method.

また、巻重状の金属箔を使用する場合は、金属箔をベース基材として、金属箔の上下又は片側に前記フィルム状の樹脂組成物を熱ロールでラミネートすることで、巻重状の導電接続材料を得ることもできる。さらに、巻重状の金属箔を使用する場合、金属箔の上下又は片側に、ワニス状の樹脂組成物を直接塗布し、溶剤を揮散させることにより巻重状の導電接続材料を作製することができる。   When using a wound metal foil, the film-shaped resin composition is laminated on the upper and lower sides or one side of the metal foil with a hot roll using the metal foil as a base substrate, so that a wound conductive film is used. A connection material can also be obtained. Furthermore, when using a wound metal foil, it is possible to produce a wound conductive connection material by directly applying a varnish-like resin composition to the upper or lower side or one side of the metal foil and volatilizing the solvent. it can.

パターン状の金属箔を使用して導電接続材料を作製する場合、剥離基材上に金属箔を配置し、金属箔側から金型で金属箔をハーフカットし、余分な金属箔を除去することによりパターン状の金属箔を作製し、前記フィルム状の樹脂組成物を熱ロールでラミネートすればよい。パターン状の金属箔の両面に樹脂組成物を設ける場合は、前記剥離基材を剥がし、樹脂組成物が形成された面とは反対側のパターン状の金属箔の面に、フィルム状の樹脂組成物をさらにラミネートすればよい。   When making conductive connection materials using patterned metal foil, place the metal foil on the peeling substrate, half-cut the metal foil with a mold from the metal foil side, and remove the excess metal foil Thus, a patterned metal foil is prepared, and the film-like resin composition may be laminated with a hot roll. When the resin composition is provided on both surfaces of the patterned metal foil, the release substrate is peeled off, and the film-shaped resin composition is formed on the surface of the patterned metal foil opposite to the surface on which the resin composition is formed. What is necessary is just to laminate the thing further.

本発明では、このようにして得られた導電接続材料を対向する端子間に配置し、これを調整工程及び加熱工程において段階的に温度を制御しながら加熱することで、所望の領域に導通性領域及び絶縁性領域を形成することができる。さらに、樹脂を硬化させて絶縁性領域を固定することで絶縁性領域に囲まれた導通性領域を固定することで、接続信頼性を確保すると共に、耐熱性に優れた電気的接続を実現することができる。本発明によれば、対向する端子間において導通性領域と絶縁性領域とを所望の領域に高精度に形成することができるので、微細な配線回路における多数の端子間を一括で接続することも可能である。   In the present invention, the conductive connection material obtained in this way is placed between the opposing terminals, and this is heated while controlling the temperature stepwise in the adjustment process and the heating process, thereby providing conductivity in a desired region. Regions and insulating regions can be formed. Furthermore, by fixing the conductive region surrounded by the insulating region by curing the resin and fixing the insulating region, connection reliability is secured and electrical connection with excellent heat resistance is realized. be able to. According to the present invention, since a conductive region and an insulating region can be formed in a desired region with high precision between opposing terminals, a large number of terminals in a fine wiring circuit can be connected together. Is possible.

本発明の接続方法は、例えば、半導体ウエハ、半導体チップ、リジッド基板、フレキシブル基板、その他の電気、電子部品に形成されている端子同士を接続する際などに用いることができる。   The connection method of the present invention can be used, for example, when connecting terminals formed on a semiconductor wafer, a semiconductor chip, a rigid substrate, a flexible substrate, and other electrical and electronic components.

以下、本発明を実施例に基づいて説明するが、本発明は、下記の実施例に制限されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated based on an Example, this invention is not restrict | limited to the following Example.

[実施例1]
(1)硬化性樹脂組成物の調製
表1に示した各成分を、メチルエチルケトン(MEK)に溶解して樹脂固形分40重量%の樹脂組成物のワニスを得た。得られたワニスを、コンマコーターを用いて、ポリエステルシートに塗布し、90℃で5分間乾燥させてフィルム状の30μm厚みの硬化性樹脂組成物を得た。
[Example 1]
(1) Preparation of Curable Resin Composition Each component shown in Table 1 was dissolved in methyl ethyl ketone (MEK) to obtain a resin composition varnish having a resin solid content of 40% by weight. The obtained varnish was applied to a polyester sheet using a comma coater and dried at 90 ° C. for 5 minutes to obtain a film-like curable resin composition having a thickness of 30 μm.

(2)硬化性樹脂組成物の溶融粘度
上記(1)で得られた硬化性樹脂組成物を3枚重ねて厚み90μmのサンプルを作製し、粘弾性測定装置(レオメトリック・サイエンティフィック・エフ・イー(株)製「アレス粘弾性測定システム」)を用い、パラレルプレート25mmφ、ギャップ60μm、周波数10rad/s、昇温速度20℃/分の条件で溶融粘度を測定した。ここでは、各実施例及び比較例の調整工程と加熱工程の温度における溶融粘度を測定値とした。
(2) Melt viscosity of curable resin composition Three samples of the curable resin composition obtained in (1) above were stacked to prepare a sample having a thickness of 90 μm, and a viscoelasticity measuring device (Rheometric Scientific F The melt viscosity was measured under the conditions of parallel plate 25 mmφ, gap 60 μm, frequency 10 rad / s, and heating rate 20 ° C./min. Here, the melt viscosity at the temperature of the adjusting process and the heating process of each example and comparative example was used as a measured value.

(3)導電接続材料の製造
上記(1)で得られたフィルム状の硬化性樹脂組成物を60℃、0.2MPa、0.3m/minの条件で、表1に示した組成の半田箔(5μm)の両面にラミネートし、厚み65μmの導電接続材料を製造した。
(3) Production of conductive connecting material Solder foil having the composition shown in Table 1 on the film-like curable resin composition obtained in (1) above under the conditions of 60 ° C., 0.2 MPa, and 0.3 m / min. (5 μm) was laminated on both sides to produce a conductive connection material having a thickness of 65 μm.

(4)基板−基板積層体の作製
a.配置工程
上記(1)得られた導電接続材料をFR−4基材(厚み0.1mm)と回路層(銅回路、厚み12μm)からなり、銅回路上にNi/Auメッキ(厚み3μm)を施して形成される接続端子(端子径(円柱状端子の直径)50μm、隣接する端子の中心間距離100μm、隣接する端子間の最短離隔距離50μm)を有する基板に100℃、5秒の条件で仮接着(配置)した。
次に、配置工程で使用した基板と同じ仕様の基板を準備し、導電接続材料が仮接着された基板の接続端子と準備した基板の接続端子を対向して位置合わせを行い、準備した基板を導電接続材料が仮接着された基板に搭載した。
b.調整工程
次いで、熱圧着装置((株)筑波メカニクス製「TMV1−200ASB」)を用い、表1に示すように最短離隔距離(対向する端子間距離)を調整した。この時の加熱温度は100℃、加熱時間は10秒であった。
c.加熱工程
次に、熱圧着装置((株)筑波メカニクス製「TMV1−200ASB」)を用い、調整工程と同じ最短離隔距離の状態で、230℃、20秒の条件で加熱を行い対向する基板の接続端子の接続を行い基板の積層体を得た。
d.硬化工程
次に、得られた積層体を180℃、1時間の条件で加熱することにより硬化性樹脂組成物を硬化させた。
(4) Production of substrate-substrate laminate a. Arrangement Step (1) The obtained conductive connection material is composed of an FR-4 base material (thickness 0.1 mm) and a circuit layer (copper circuit, thickness 12 μm), and Ni / Au plating (thickness 3 μm) is formed on the copper circuit. On a substrate having connection terminals (terminal diameter (diameter of cylindrical terminal) 50 μm, distance between centers of adjacent terminals 100 μm, shortest separation distance between adjacent terminals 50 μm) formed at 100 ° C. for 5 seconds. It was temporarily bonded (arranged).
Next, prepare a board with the same specifications as the board used in the placement step, align the connection terminals of the board to which the conductive connection material is temporarily bonded and the connection terminals of the prepared board so as to face each other. The conductive connecting material was mounted on a temporarily bonded substrate.
b. Adjustment Step Next, as shown in Table 1, the shortest separation distance (distance between opposing terminals) was adjusted using a thermocompression bonding apparatus (“TMV1-200ASB” manufactured by Tsukuba Mechanics Co., Ltd.). The heating temperature at this time was 100 ° C., and the heating time was 10 seconds.
c. Heating Step Next, using a thermocompression bonding apparatus (“TMV1-200ASB” manufactured by Tsukuba Mechanics Co., Ltd.), heating is performed at 230 ° C. for 20 seconds under the condition of the shortest separation distance as in the adjustment step. Connection terminals were connected to obtain a laminate of substrates.
d. Curing Step Next, the obtained laminate was heated at 180 ° C. for 1 hour to cure the curable resin composition.

(5)基板−基板積層体における対向する端子間の接続抵抗測定
接続抵抗は、上記(4)で得られた積層体において対向する端子間の接続抵抗を4端子法(抵抗計:岩崎通信機(株)製「デジタルマルチメータVOA7510」、測定プローブ:日置電機(株)製「ピン型リード9771」)により12点測定した。その平均値が30mΩ未満の場合を「A」、30mΩ以上100mΩ未満の場合を「B」、100mΩ以上の場合を「C」と判定した。
(5) Connection resistance measurement between terminals facing each other in the substrate-substrate laminate The connection resistance is determined by a four-terminal method (resistance meter: Iwasaki Tsushinki Co., Ltd.) between the opposing terminals in the laminate obtained in (4) above. 12 points were measured by “Digital Multimeter VOA7510” manufactured by Co., Ltd. and measurement probe: “Pin type lead 9771” manufactured by Hioki Electric Co., Ltd.). The case where the average value was less than 30 mΩ was determined as “A”, the case where it was 30 mΩ or more and less than 100 mΩ was determined as “B”, and the case where it was 100 mΩ or more was determined as “C”.

(6)基板−基板積層体における対向する端子間の導通路形成性
上記(4)で得られた積層体において対向する端子10組について、その端子間の断面を走査型電子顕微鏡(SEM)(日本電子(株)製「JSM−7401F」)で観察し、10組全てにおいて半田により円柱状、または楕円状の導通路が形成されている場合を「A」、1組でも導通路が形成されていない端子が存在する場合を「B」、隣接している端子とショート接触している場合を「C」と判定した。
(6) Conductivity path forming property between opposing terminals in substrate-substrate laminate The cross section between the terminals of the 10 pairs of opposing terminals in the laminate obtained in (4) above is scanned with an electron microscope (SEM) ( JEOL Co., Ltd. “JSM-7401F”) When all of the 10 sets have a cylindrical or elliptical conductive path formed by solder, “A” indicates that one set of conductive paths is formed. The case where there was a non-existing terminal was determined as “B”, and the case where it was in short contact with an adjacent terminal was determined as “C”.

(7)基板−基板積層体における対向する端子間の最短離隔距離測定
調整工程後及び加熱工程後の積層体の厚みをそれぞれマイクロメーターで測定し、その測定値から基板の厚み(基材100μm+銅回路12μm+Ni/Auメッキ3μm)を差し引き、調整工程後及び加熱工程後の最短離隔距離とし、硬化工程後の最短離隔距離の変化率({1−[硬化工程後の最短離隔距離]/[調整工程後の最短離隔距離]}×100)を算出した。変化率が10%未満の場合を「A」、10%以上20%未満の場合を「B」、変化率が20%以上、または半田箔が破損した場合を「C」とした。
(7) Measurement of the shortest separation distance between opposing terminals in the substrate-substrate laminate The thickness of the laminate after the adjustment step and the heating step is measured with a micrometer, respectively, and the substrate thickness (base material 100 μm + copper is determined from the measured values. Subtract the circuit 12 μm + Ni / Au plating 3 μm, and use it as the shortest separation distance after the adjustment process and after the heating process, and change rate of the shortest separation distance after the curing process ({1- [shortest separation distance after the curing process] / [adjustment process] Subsequent shortest separation distance]} × 100) was calculated. The case where the rate of change was less than 10% was “A”, the case where it was 10% or more and less than 20% was “B”, the case where the rate of change was 20% or more, or the solder foil was broken, “C”.

[実施例2]
調整工程及び加熱工程における最短離隔距離を4μmに調整した以外は、実施例1と同様にして導電接続材料の作製、基板−基板積層体の作製及び評価を行った。
[Example 2]
Except having adjusted the shortest separation distance in an adjustment process and a heating process to 4 micrometers, preparation of the conductive connection material and preparation and evaluation of the board | substrate laminated body were performed like Example 1. FIG.

[比較例1]
調整工程及び加熱工程において端子間の最短離隔距離の制御を行わず、導電接続材料が仮接着された基板の接続端子と、準備した基板の接続端子を対向させて位置合わせし、熱圧着装置((株)筑波メカニクス製「TMV1−200ASB」)を用いて100℃、0.2MPa、30秒間圧着し、さらにこれを同じ熱圧着装置((株)筑波メカニクス製「TMV1−200ASB」)を用いて230℃、0.5MPa、120秒間圧着したこと以外は実施例1と同様にして積層体を得た。その後、実施例1と同様にして、得られた積層体を180℃で1時間加熱して硬化性樹脂組成物を硬化させて基板−基板積層体を得た。
比較例1で作製した基板−基板積層体に対して、実施例1及び2と同様に接続抵抗及び硬化前の積層体における対向する端子間の最短離隔距離を評価した。硬化後の積層体における対向する端子間の最短離隔距離については評価しなかった。
[Comparative Example 1]
Without adjusting the shortest separation distance between the terminals in the adjustment step and the heating step, the connection terminal of the substrate on which the conductive connection material is temporarily bonded and the connection terminal of the prepared substrate are opposed to each other, and the thermocompression bonding apparatus ( (TMV1-200ASB, manufactured by Tsukuba Mechanics Co., Ltd.) was used for pressure bonding at 100 ° C., 0.2 MPa, for 30 seconds, and the same thermocompression bonding apparatus (“TMV1-200ASB, manufactured by Tsukuba Mechanics Co., Ltd.)) was used. A laminate was obtained in the same manner as in Example 1 except that pressure bonding was performed at 230 ° C. and 0.5 MPa for 120 seconds. Thereafter, in the same manner as in Example 1, the obtained laminate was heated at 180 ° C. for 1 hour to cure the curable resin composition to obtain a substrate-substrate laminate.
For the substrate-substrate laminate produced in Comparative Example 1, the connection resistance and the shortest separation distance between opposing terminals in the laminate before curing were evaluated in the same manner as in Examples 1 and 2. It did not evaluate about the shortest separation distance between the terminals which oppose in the laminated body after hardening.

結果を表1に示す。
The results are shown in Table 1.

表1における樹脂組成物の成分及び金属箔は以下に示したものを用いた。
(a)エポキシ樹脂:ビスフェノールA型エポキシ樹脂、大日本インキ化学工業(株)製「EPICLON−840S」、エポキシ当量185g/eq
(b)硬化剤:フェノールノボラック、住友ベークライト(株)製「PR−53647」
(c)フィルム形成性樹脂:変性ビフェノール型フェノキシ樹脂、ジャパンエポキシレジン(株)製「YX−6954」、重量平均分子量39,000
(d)フラックス機能を有する化合物:セバシン酸、東京化成工業(株)製「セバシン酸」
(e)シランカップリング剤:2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製「KBM−303」
(f)イミダゾール:2−フェニル−4−メチルイミダゾール、四国化成工業(株)製「キュアゾール2P4MZ」
(g)半田箔:Sn/Ag/Cu=96.5/3.0/0.5(融点:217℃)、厚み5μm
The resin composition components and metal foils in Table 1 were as shown below.
(A) Epoxy resin: bisphenol A type epoxy resin, “EPICLON-840S” manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, epoxy equivalent of 185 g / eq
(B) Curing agent: phenol novolac, “PR-53647” manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd.
(C) Film-forming resin: modified biphenol type phenoxy resin, “YX-6654” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., weight average molecular weight 39,000
(D) Compound having flux function: Sebacic acid, “Sebacic acid” manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.
(E) Silane coupling agent: 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, “KBM-303” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
(F) Imidazole: 2-phenyl-4-methylimidazole, “Cureazole 2P4MZ” manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.
(G) Solder foil: Sn / Ag / Cu = 96.5 / 3.0 / 0.5 (melting point: 217 ° C.), thickness 5 μm

表1に示されるように、本発明の方法に従って作製した実施例1及び2の基板−基板積層体では、対向する端子間の接続抵抗が小さく、10組全てにおいて円柱状または楕円状の導通路が形成されており、対向する端子間において良好な電気的接続が得られた。
これに対して、調整工程及び加熱工程において端子間の最短離隔距離を制御しない比較例1の場合では、接続抵抗の平均値が100mΩ以上となり、良好な電気的接続が得られなかった。なお、比較例1では、接続抵抗が大きく、ショート及び断線部があることが推察されるため、導通路形成性の評価に関しては、表1中「B」または「C」とした。
As shown in Table 1, in the substrate-substrate laminates of Examples 1 and 2 manufactured according to the method of the present invention, the connection resistance between the terminals facing each other is small, and a cylindrical or elliptical conduction path in all 10 sets. Thus, good electrical connection was obtained between the terminals facing each other.
On the other hand, in the case of Comparative Example 1 in which the shortest separation distance between the terminals is not controlled in the adjustment step and the heating step, the average value of the connection resistance is 100 mΩ or more, and good electrical connection cannot be obtained. In Comparative Example 1, it is assumed that the connection resistance is large, and there are short-circuits and disconnections. Therefore, the evaluation of the conductive path forming property is “B” or “C” in Table 1.

本発明の接続方法を用いることにより、電気、電子部品において電子部材間の電気的接続をより確実に行うことができる。本発明によれば、電子部材間の良好な電気的接続と高い絶縁信頼性とを両立させることができ、信頼性の高い電気的接続を実現することができる。本発明の接続方法を用いることで微細な配線回路における端子間接続を一括で行うこともできる。本発明の接続方法を用いることで、電子機器の高機能化及び小型化の要求にも対応することができる。   By using the connection method of the present invention, electrical connection between electronic members in electrical and electronic parts can be more reliably performed. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the favorable electrical connection between electronic members and high insulation reliability can be reconciled, and a highly reliable electrical connection can be implement | achieved. By using the connection method of the present invention, terminal-to-terminal connection in a fine wiring circuit can be performed at once. By using the connection method of the present invention, it is possible to meet the demand for higher functionality and smaller size of electronic devices.

10、20 …基板
11、21 …端子
110 …金属箔
120 …樹脂組成物
110a …導通性領域
120a …絶縁性領域
120b …硬化絶縁性領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10, 20 ... Board | substrate 11, 21 ... Terminal 110 ... Metal foil 120 ... Resin composition 110a ... Conductive area | region 120a ... Insulating area | region 120b ... Hardened insulating area | region

Claims (20)

樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される積層構造を有する導電接続材料を用いて対向する端子間を電気的に接続する方法であって、
前記導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、
前記導電接続材料を前記金属箔の融点未満の温度で加熱し、対向する端子間の最短離隔距離を所定の範囲に調整する調整工程と、
前記最短離隔距離を前記所定の範囲に保持しながら、前記金属箔の融点以上の温度で、前記樹脂組成物の硬化が完了しないように前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、
前記金属箔の融点未満の温度で前記樹脂組成物を硬化させる硬化工程と、を含む方法。
A method of electrically connecting opposing terminals using a conductive connection material having a laminated structure composed of a resin composition and a metal foil selected from solder foil or tin foil,
An arrangement step of arranging the conductive connection material between opposing terminals;
An adjustment step of heating the conductive connection material at a temperature lower than the melting point of the metal foil, and adjusting the shortest separation distance between opposing terminals to a predetermined range;
A heating step of heating the conductive connecting material so that the curing of the resin composition is not completed at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil while maintaining the shortest separation distance in the predetermined range;
Curing the resin composition at a temperature lower than the melting point of the metal foil.
前記調整工程において、前記対向する端子間の最短離隔距離を、金属箔の厚みより大きく、且つ、導電接続材料の厚みより小さい範囲に調整する、請求項1記載の方法。   The method according to claim 1, wherein in the adjusting step, the shortest separation distance between the opposing terminals is adjusted to a range larger than the thickness of the metal foil and smaller than the thickness of the conductive connection material. 前記調整工程において、前記対向する端子間の最短離隔距離を、金属箔の厚み以下であり、且つ、前記対向する端子間が互いに接触しない範囲に調整する、請求項1記載の方法。   The method according to claim 1, wherein in the adjusting step, the shortest separation distance between the opposing terminals is adjusted to a range that is equal to or less than a thickness of the metal foil and that the opposing terminals do not contact each other. 前記加熱工程において、前記金属箔が溶融し、溶融金属が対向する端子間に凝集して対向する端子間を電気的に接続する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。   The method according to any one of claims 1 to 3, wherein, in the heating step, the metal foil is melted and the molten metal aggregates between opposing terminals to electrically connect the opposing terminals. 前記溶融金属と前記端子との金属結合により対向する端子間を電気的に接続する、請求項4記載の方法。   The method of Claim 4 which electrically connects between the terminals which oppose by the metal coupling | bonding of the said molten metal and the said terminal. 前記調整工程において、前記対向する端子間の最短離隔距離を、隣接する端子間の最短離隔距離よりも小さい範囲に調整する、請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。   The method according to claim 1, wherein in the adjustment step, the shortest separation distance between the opposing terminals is adjusted to a range smaller than the shortest separation distance between adjacent terminals. 前記調整工程における樹脂組成物の溶融粘度が0.1Pa・s〜10000Pa・sである、請求項1〜6のいずれか1項記載の方法。   The method of any one of Claims 1-6 whose melt viscosity of the resin composition in the said adjustment process is 0.1 Pa.s-10000 Pa.s. 前記加熱工程における樹脂組成物の溶融粘度が0.01Pa・s〜100Pa・sである、請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。   The method of any one of Claims 1-7 whose melt viscosity of the resin composition in the said heating process is 0.01 Pa.s-100 Pa.s. 前記金属箔の融点が100℃〜330℃である、請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。   The method of any one of Claims 1-8 whose melting | fusing point of the said metal foil is 100 to 330 degreeC. 前記調整工程における導電接続材料の加熱温度が60℃〜200℃である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。   The method of any one of Claims 1-7 whose heating temperature of the conductive connection material in the said adjustment process is 60 to 200 degreeC. 前記加熱工程における導電接続材料の加熱温度が、前記金属箔の融点より50℃高い温度未満である、請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法。   The method according to any one of claims 1 to 10, wherein a heating temperature of the conductive connecting material in the heating step is less than a temperature higher by 50 ° C than a melting point of the metal foil. 前記加熱工程における導電接続材料の加熱温度が140℃〜340℃である、請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。   The method of any one of Claims 1-8 whose heating temperature of the electrically conductive connection material in the said heating process is 140 to 340 degreeC. 前記硬化工程における導電接続材料の加熱温度が80℃〜310℃である、請求項1〜12のいずれか1項に記載の方法。   The method of any one of Claims 1-12 whose heating temperature of the conductive connection material in the said hardening process is 80 to 310 degreeC. 前記導電接続材料が樹脂組成物層/金属箔層/樹脂組成物層からなる積層構造を含むものである、請求項1〜13のいずれか1項に記載の方法。   The method according to any one of claims 1 to 13, wherein the conductive connecting material includes a laminated structure composed of a resin composition layer / metal foil layer / resin composition layer. 前記導電接続材料が樹脂組成物層/金属箔層からなる積層構造を含むものである、請求項1〜13のいずれか1項に記載の方法。   The method according to claim 1, wherein the conductive connection material includes a laminated structure including a resin composition layer / metal foil layer. 前記樹脂組成物が、エポキシ樹脂、硬化剤ならびにフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物を含むものである、請求項1〜15のいずれか1項記載の方法。   The method according to any one of claims 1 to 15, wherein the resin composition comprises an epoxy resin, a curing agent, and a compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group. 前記樹脂組成物が、フェノキシ樹脂、(メタ)アクリル系樹脂及びポリイミド樹脂からなる群より選ばれるフィルム形成性樹脂をさらに含む、請求項16記載の方法。   The method according to claim 16, wherein the resin composition further comprises a film-forming resin selected from the group consisting of a phenoxy resin, a (meth) acrylic resin, and a polyimide resin. 前記樹脂組成物が、樹脂組成物の全重量に対し、エポキシ樹脂10〜90重量%、硬化剤0.1〜50重量%、フィルム形成性樹脂5〜50重量%ならびにフェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物1〜50重量%を含むものである、請求項1〜17のいずれか1項記載の方法。   The resin composition is 10 to 90% by weight of an epoxy resin, 0.1 to 50% by weight of a curing agent, 5 to 50% by weight of a film-forming resin, and a phenolic hydroxyl group and / or carboxyl with respect to the total weight of the resin composition. The method according to claim 1, comprising 1 to 50% by weight of a compound having a group. 前記フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物が、下記一般式(1)で示される化合物を含む、請求項16〜18のいずれか1項に記載の方法。
HOOC−(CH2)n−COOH (1)
[式中、nは、1〜20の整数である。]
The method according to any one of claims 16 to 18, wherein the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group includes a compound represented by the following general formula (1).
HOOC- (CH 2) n-COOH (1)
[In formula, n is an integer of 1-20. ]
前記フェノール性水酸基及び/又はカルボキシル基を有する化合物が、下記一般式(2)及び/又は(3)で示される化合物を含む、請求項16〜19のいずれか1項に記載の方法。
[式中、R1〜R5は、それぞれ独立して、1価の有機基であり、但し、R1〜R5の少なくとも一つは水酸基である。]
[式中、R6〜R20は、それぞれ独立して、1価の有機基であり、但し、R6〜R20の少なくとも一つは水酸基又はカルボキシル基である。]
The method according to any one of claims 16 to 19, wherein the compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group includes a compound represented by the following general formula (2) and / or (3).
[Wherein, R 1 to R 5 are each independently a monovalent organic group, provided that at least one of R 1 to R 5 is a hydroxyl group. ]
[Wherein, R 6 to R 20 are each independently a monovalent organic group, provided that at least one of R 6 to R 20 is a hydroxyl group or a carboxyl group. ]
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