JP2011160540A - 制御盤の取替工法 - Google Patents

Abstract

【課題】保護継電器が接続されている場合も含め変流器の２次側回路に組み込まれた既設制御盤を新設制御盤に効率良く取り替える経済的な制御盤取替工法を提供する。
【解決手段】高圧配電線路を停電状態にして、変流器１６、１８の２次側の回路から既設制御盤２０を取り除いて新設制御盤３０を入れ替え接続する制御盤入替工程と、テストプラグ３６の接続用端子と既設制御盤２０を接続してテストプラグ３６の接触子の挿入準備を行うテストプラグ準備工程と、テストプラグ３６の接触子を新設制御盤３０の試験端子本体部に挿入して、２次側回路に既設制御盤２０と新設制御盤３０とを直列に接続した状態とする直列回路構成工程と、高圧配電線路の停電状態を解除して、新設制御盤３０と既設制御盤２０とを同時に作動状態とする制御盤同時運転工程と、テストプラグ３６の接触子を新設制御盤の試験端子本体部から抜き出す既設制御盤除去工程とを有する。
【選択図】図５

Description

本発明は、制御盤の取替工法、特に、電流計測回路内に組み込まれた制御盤の取り替え工法に関する。

発変電所の高圧配電線路に流れる電流（１次側電流）は、変流器（ＣＴ）により変流比で決められた所定の２次側電流に変換され、制御盤のトランスジューサ（ＴＲＤ）を用いてその電流値が計測、表示される。すなわち、変流器の２次側には電流計測回路が構成され、ＴＲＤを具備する制御盤が組み込まれている。制御盤は、遠方に設置された制御所と電気的に接続されており、計測した電流値等の計測情報が制御所に送られる。制御所では、送られた計測情報を基に、制御画面上で実機（高圧配電線路、遮断器、変圧器等の高圧機器）を一括で制御することが可能に構成されており、そのために実機及び制御盤の近傍には遠隔監視制御装置が設けられている。制御盤は、制御すべき実機毎に設けられており、各制御盤にはアドレス等が割り振られ、制御所には各制御盤により計測された計測情報が制御テーブルとして保有されている。

高圧配電線路に設置された変流器の２次側の電流計測回路には、保護継電器が接続される場合がある。このように、電流計測回路と保護継電器の電流回路とが共通になっている場合に、制御盤を交換する際に変流器の２次側を短絡させて行う工法は、保護継電器のリレーがロックされ高圧配電線路は無保護状態となり好ましくない。そのため、ＣＴの２次側を短絡することはせずに、高圧配電線路を長時間に亘り停電状態として、若しくは停電の回数を増やして制御盤の取り替え作業が行われている。

電流計測回路に保護継電器の電流回路を含まない場合の制御盤の取り替えは、以下に示す方法により行われている。

図１０は、変流器の２次側に保護継電器の電流回路を含まない電流計測回路の制御盤の回路構成図である。一例として、変流器の２次側に積算電力計７２が挿入された電流計測回路を示している。３相の高圧配電線路（１次側電線）６０、６２、６４に変流器（ＣＴ）６６、６８、７０が取り付けられており、変流器６６、６８、７０の２次側を流れる電流は積算電力計７２に入力され電力量が計測される。また、変流器６６、６８、７０の２次側の電流は、計測変換器盤７４のトランスジューサ（ＴＲＤ）７６を用いて計測、表示される。また、この電流は、制御盤７８のＴＲＤ８０でも計測、表示されるように、計測変換器盤７４のトランスジューサ７６と制御盤７８のトランジューサ８０は直列に接続されている。直列回路であるので、ＴＲＤ７６とＴＲＤ８０で計測、表示される電流値は同一である。なお、符号Ｔ１〜Ｔ１７で示したものは接続用の端子であり、符号Ｃ１〜Ｃ８で示したものはテストプラグ（図示していない）の接触子が挿入できる試験端子本体部を表している。ここで、図１０内の試験端子本体部Ｃ１〜Ｃ８は、テストプラグの接触子を差し込んでいない状態を表しており、この状態では、例えば、試験端子本体部Ｃ１のＣＴ側の端子ｔ１と盤内側の端子ｔ２は導通状態になっている。また、端子間、例えば、Ｔ１３とＴ１７は導線、又はケーブルで接続されている。なお、本明細書中では試験端子本体部に関して、端子ｔ１はＣＴ側を、端子ｔ２は盤内側の端子を表すこととする。

図１０の制御盤（既設制御盤）７８を新しい制御盤（新設制御盤）に取り替える場合には、図１１に示すように、高圧配電線路を停電状態とし、新たに端子Ｔ１８を設けて、既設制御盤７８のＴＲＤ８０と新設制御盤８２のＴＲＤ８４が直列接続となるように回路を構成する。計測変換器盤７４のＴＲＤ７６と新設制御盤８２のＴＲＤ８４と既設制御盤７８のＴＲＤ８０の３台が直列に接続され、この順番に電流が流れることとなる。図１１では電流の流れを矢印で示している。この直列接続状態では、新設制御盤８２のＴＲＤ８４と既設制御盤７８のＴＲＤ８０が同時に作動しているので、制御所において制御テーブルを変更又は交換する必要はない。

次に、図１２示すように、高圧配電線路の停電状態を解除し、試験端子本体部Ｃ１〜Ｃ３にテストプラグ（図示していない）の接触子を挿入し、試験端子本体部Ｃ１〜Ｃ３のＣＴ側端子ｔ１を相互に短絡状態とする。なお、この状態では、試験端子本体部Ｃ１〜Ｃ３の盤内側端子ｔ２はそれぞれ開放状態となる。試験端子本体部Ｃ１〜Ｃ３のＣＴ側端子ｔ１を短絡状態とするためには、挿入するテストプラグのＣＴ側端子に対応する後部接続用端子をショートバー８６で相互に接続することにより行う。なお、短絡はケーブル等で行っても良い。

このように変流器の２次側を短絡した状態で、既設制御盤７８のケーブル８８、９０を撤去する。具体的には、計測変換器盤７４の端子１３と既設制御盤７８の端子１７とを接続しているケーブル８８と、新たに追加した端子Ｔ１８と既設制御盤７８の端子Ｔ１６とを接続しているケーブル９０を取り外す。なお、既設制御盤７８の端子Ｔ１６とその内部の試験端子本体部Ｃ７の端子ｔ１とを接続しているケーブルと、既設制御盤７８の端子Ｔ１７とその内部の試験端子本体部Ｃ８の端子ｔ１とを接続しているケーブルは、盤内配線であり、通常取り外すことはない。

図１３は、それらのケーブルを除去した状態を表す。ケーブルを除去した状態では、既設制御盤７８はＣＴの２次側の回路から取り除かれているが、ＣＴの２次側の回路が開放（端子Ｔ１３と端子Ｔ１８との間が開放）されている。そこで、新設制御盤８２の端子Ｔ２０と計測変換器盤７４に新たに設けた端子Ｔ１８とを接続しているケーブル９２の接続先を変更する。具体的には、一端が既設制御盤８２の端子Ｔ２０に接続されたケーブル９２の他端を、計測変換器盤７４の端子Ｔ１８から端子Ｔ１３に繋ぎ替える。図１４は、そのようにして繋ぎ替えた後のＣＴの２次側の回路図である。その後、ＣＴの２次側の配線を変更したことに伴うＣＴの２次側の試験の実施を行う。試験は、例えば、計測変換器盤７４内の試験端子本体部Ｃ１〜Ｃ３の盤内側端子ｔ２を用いて電流を印加して、新設制御盤８２で位相を測定し、所定の値であることを確認する。この試験後に、計測変換器盤７４の試験端子本体部Ｃ１〜Ｃ３に挿入していたテストプラグの接触子を取り外して、試験端子本体部Ｃ１〜Ｃ３のＣＴ側端子ｔ１の相互短絡状態を解除し、既設制御盤７８の新設制御盤８２への取り替えが完了する。なお、現場でこのような制御盤の取り替え作業を行った場合は、制御盤のアドレス等の変更に合わせて、制御所の制御テーブルを変更又は交換する必要がある。制御所での制御テーブルの変更又は交換作業は、制御所監視システムの停止を伴うので、制御盤の取り替えが複数ある場合には、なるべく一度に制御テーブルの変更又は交換を行うことが望ましい。一度にできない場合には、その都度、制御所監視システムを停止状態にする必要がある。

なお、既設制御盤と新設制御盤を並列に接続して取り替える方法が特許文献１、２に開示されている。特許文献１、２共、既設制御盤と新設制御盤が並列に接続されて、両方が同時に作動できる状況が存在することが特徴であり、具体的に特許文献１によれば、設備の停止時間を最短に抑えることができ、設備の更新作業も最小にできる効果がある。

また、特許文献２に開示されている工法によれば、制御盤の取り替えに伴い廃棄される配線及び使用される新規な配線が少量で済み、作業を迅速に行うことができ、機器制御システムの運転停止時間を極端に短縮することができる効果がある。また、新設制御盤取り付け工程の終了後に接続用端子部に新設制御盤側配線と既設制御盤及び既設制御盤側配線との両方が接続されているため、全ての制御配線における新設制御盤取り付け工程が終了するまで既設制御盤により機器を制御することが可能であり、したがって、全ての制御配線における新設制御盤取り付け工程が終了するまで監視制御装置の制御テーブルを切り替える必要がなく、経済的に極めて有効である。

特開２０００−１３９３６号公報 特許第４２５６８７６号公報

特許文献１、２に開示されている工法は、何れも既設制御盤と新設制御盤を並列に接続して取り替える工法であり、システム等の運転停止時間を短縮できるが、この方法は基本的に電流計測回路には適用することはできない。すなわち、電流計測回路では交換する既設制御盤と新設制御盤は直列に接続されなければならない。これまで、電流計測回路において、既設制御盤と新設制御盤を直列に接続して取り替える工法の特許文献は見当たらないが、現場サイドでは背景技術で示したように変流器の２次側回路に保護継電器が入っていない電流計測回路については、既設制御盤と新設制御盤を直列に接続して取り替えていた。しかし、この工法には以下に示す問題点があった。

すなわち、背景技術で示した工法では、変流器の２次側回路に保護継電器が接続された構成には適用することが難しい。新設制御盤接続時と既設制御盤撤去時の２度に亘りに高圧配電線路を停電状態にすることが必要であり、既設制御盤撤去時に停電状態としないために変流器の２次側を短絡させる方法を用いることもできるが、そうした場合は高圧配電線路が無保護となり、高圧配電線路事故時、停電範囲が広範囲となるからである。また、制御所の制御テーブルの切り替えのために、制御所監視システムを停止状態にしなければならない回数が多い。更に、変流器の２次側の接続変更を伴うため、変流器の２次側の試験を実施しなければならず、交換作業が煩雑である。したがって、制御盤の取り替えに要する時間が長く、その費用が膨大であった。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、保護継電器が接続されている場合も含め変流器の２次側回路に組み込まれた既設制御盤を新設制御盤に効率良く交換できる経済的な制御盤の取替工法を提供することにある。

上記目的を達成するため、請求項１に記載の制御盤取替工法は、
発変電所の高圧配電線路に設置された変流器の２次側回路に接続され、テストプラグの接触子を挿入可能な試験端子本体部が組み込まれ、前記高圧配電線路を流れる電流値を計測可能に構成されると共に、制御テーブルを有し該制御テーブルを参照しながら前記高圧配電線路を制御する制御所に対して前記電流値のデータを送信する既設制御盤を、新設制御盤に取り替える制御盤取替工法において、前記高圧配電線路を停電状態にして、前記既設制御盤の前記変流器の２次側回路との接続を解除して前記新設制御盤を入れ替え接続する制御盤入替工程と、前記テストプラグの接続用端子と接続解除された前記既設制御盤とを電気的に接続して前記テストプラグの接触子の挿入準備を行うテストプラグ準備工程と、該準準備されたテストプラグの接触子を前記新設制御盤の試験端子本体部に挿入して、前記変流器の２次側回路に前記既設制御盤と前記新設制御盤とを直列に接続した状態とする直列回路構成工程と、前記高圧配電線路の停電状態を解除して通電状態とし、前記新設制御盤と前記既設制御盤とを同時に作動状態とする制御盤同時運転工程と、前記テストプラグの接触子を前記新設制御盤の前記試験端子本体部から抜き出す既設制御盤除去工程と、を有することを特徴とする。

この構成によれば、既設制御盤を新設制御盤に取り替える場合、高圧配電線路を停電状態にして、既設制御盤と新設制御盤とが変流器の２次側に直列に接続され、その後、停電状態が解かれて既設制御盤と新設制御盤とが同時に作動される状態となる。既設制御盤と新設制御盤の直列回路は、新設制御盤の試験端子本体部にテストプラグの接触子を挿入して構成される。したがって、既設制御盤と新設制御盤が同時に作動する状態が得られ、この時点では制御所の制御テーブルを変更又は交換する必要がない。また、これまで、最終的に既設制御盤を取り外すために、再度高圧配電線路を停電状態にしていたが、テストプラグの接触子を試験端子本体部から抜くだけで既設制御盤を電気的に遮断することができるので、再度停電状態にする必要がない。また、変流器の２次側の配線変更は行う必要がないので、変流器の２次側の試験は省略することができる。したがって、制御テーブルの変更又は交換に係る費用の削減、高圧配電線路の停電状態の回数、時間の削減を図ることが可能となり、制御盤取り替えの作業時間、費用の大幅削減が図られる。

請求項２に記載の制御盤取替工法は、請求項１に記載の制御盤取替工法において、
前記変流器の２次側回路に保護継電器が接続されている構成に対して、前記制御盤入替工程、前記テストプラグ準備、前記直列回路構成工程、前記制御盤同時運転工程、前記既設制御盤除去工程を適用することを特徴とする。

したがって、保護継電器が接続されている２次側の回路において、既設制御盤と新設制御盤を直列に接続し、高圧配電線の停電状態を解除した後、最終的に既設制御盤を除去する際に変流器の２次側を短絡する必要がないので、高圧配電線路が無保護状態となることが防止される。したがって、変流器の２次側回路に保護継電器が接続された構成に対して、高圧配電線路を無保護状態にすることなく制御盤の取り替え作業時間及び費用の大幅削減が達成できる。

請求項３に記載の制御盤取替工法は、請求項１又は２に記載の制御盤取替工法において、前記制御所の前記制御テーブルの前記新設制御盤への取り替えに伴う変更又は交換は、前記既設制御盤除去工程と同時に前記発変電所単位で纏めて行うことを特徴とする。制御盤を取り替えた場合は、必ず制御所の制御テーブルを変更又は交換しなければならない。ただし、本発明の工法のように既設制御盤と新設制御盤が同時に作動している状態では、制御テーブルは交換しなくても良い。既設制御盤が作動しているからである。したがって、制御テーブルの変更又は交換を既設制御盤除去工程と同時に、しかも発変電所単位で纏めて行うと、制御所の制御テーブルの変更又は交換作業に必要な制御所監視システムの停止を１回で済ますことができるので、制御テーブルの変更又は交換の作業の効率が良く、変更又は交換の費用を大幅に削減することができる。

請求項４に記載の制御盤取替工法は、請求項１から３の何れか１項に記載の制御盤取替工法において、
前記テストプラグ準備工程において、前記テストプラグの接続用端子と前記既設制御盤との接続は、一方が前記テストプラグの接続用端子と接続され、他方が前記既設制御盤に接続された予備端子台を介して行われることを特徴とする。したがって、テストプラグの接続用端子と既設制御盤をスムーズかつ安全に接続することができ、テストプラグの接触子の新設制御盤の試験端子本体部への抜き差しも容易である。

本発明の制御盤取替工法によれば、変流器の２次側に組み込まれた既設制御盤を新設制御盤へ取り替える際に、テストプラグを用いて既設制御盤と新設制御盤を直列に接続する方法を用いたので、制御盤の取り替え作業に伴う高圧配電線路の停電回数、時間を減らし、取り替え作業の費用を抑えることができる。また、制御所の制御テーブルの変更又は交換も既設制御盤と新設制御盤が同時に作動する状態とすることができるため、制御所の制御テーブルの変更又は交換の費用を削減することが可能である。したがって、制御盤の取り替えが容易になることがら、制御所の高圧配電線路等の高圧機器の制御を一層安全かつ効率的に行うことが可能となる。

本発明の制御盤取替工法の第１の実施の形態に係る回路構成図である。 本発明の制御盤取替工法の第１の実施の形態に係り、制御盤入替工程の説明図である。 本発明の制御盤取替工法の第１の実施の形態に係り、テストプラグ準備工程の説明図である。 本発明の制御盤取替工法の第１の実施の形態に係り、直列回路構成工程により構成した回路構成図である。 本発明の制御盤取替工法の第１の実施の形態に係り、制御盤同時運転工程の説明図である。 本発明の制御盤取替工法の第１の実施の形態に係り、制御盤除去工程の説明図である。 本発明の制御盤取替工法の第１の実施の形態に係り、制御所の制御画面の説明図である。 本発明の制御盤取替工法の第２の実施の形態に係り、直列回路構成工程により構成した回路構成図である。 本発明の制御盤取替工法の第２の実施の形態に係り、制御盤除去工程の説明図である。 従来の制御盤の取替工法に係る回路構成図である。 従来の制御盤の取替工法に係る回路構成図である。 従来の制御盤の取替工法に係る回路構成図である。 従来の制御盤の取替工法に係る回路構成図である。 従来の制御盤の取替工法に係る回路構成図である。

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１〜６は、本発明の第１の実施の形態に係り、変流器の２次側に保護継電器が組み込まれた構成において、既設制御盤を新設制御盤に取り替える工法についての回路構成図又は説明図である。

図１は、制御盤を取り替える前の回路構成図である。３相の高圧配電線路１０、１２、１４の内の２相に変流器（ＣＴ）１６、１８が取り付けられている。ＣＴ１６、１８の２次側には、保護継電器のリレー２４、２６が接続されており、高圧配電線１０、１２、１４が地絡又は短絡事故を起こした場合、ＣＴ１６、１８の２次側に流れる電流により、高圧配電線路１０、１２、１４を自動で遮断できるように構成されている。２台のリレー２４、２６の一端側が互いに接続されて、制御盤（既設制御盤）２０のトランスジューサ（ＴＲＤ）２２に入力され、ここで電流値を計測、表示するように構成されている。また、制御盤２０は制御所（図示していない）に接続されており、計測した電流値を送信するように構成されている。また、制御所には、制御テーブル（図示していない）が備えられており、送信されてきた各計測情報が格納されている。なお、符号Ｓ１〜Ｓ７は接続用の端子、符号Ｄ１〜Ｄ５はテストプラグ（図示していない）の接触子が挿入可能な試験端子本体部を表し、それらにはテストプラグの接触子が挿入されておらず、例えば試験端子本体部Ｄ１については、ＣＴ側端子ｔ１と盤内側端子ｔ２は導通状態になっている。その他の試験端子本体部Ｄ２〜Ｄ５についても同様である。また、ＣＴ１６、１８の２次側の回路には、簡易的に電流値を知るための電流計２８が挿入されている。以下、本発明の制御盤取替工法の各工程について説明する。

（制御盤入替工程）
図２は、制御盤入替工程の説明図である。まず、高圧配電線路１０、１２、１４を停電状態とし、既設制御盤２０を回路から切り離す。そして、新設制御盤３０を、既設制御盤２０が接続されていた端子Ｓ４、Ｓ５に接続する。この接続は、新設制御盤３０の端子Ｓ８、Ｓ９と、ＣＴ１６、１８の２次側の回路内の端子Ｓ４、Ｓ５をケーブル等で接続して行う。

（テストプラグ準備工程）
図３は、新設制御盤３２の試験端子本体部Ｄ６、Ｄ７に挿入される接触子を有するテストプラグ３６の接続用端子と既設制御盤２０を接続するテストプラグ準備工程の説明図である。テストプラグ３６の接触子は、新設制御盤３０の試験端子本体部Ｄ６、Ｄ７に挿入され、テストプラグ３６の接触子が、試験端子本体部の有する接点に接触することで所定の回路が構成されるようになっている。具体的に以下に説明する。

テストプラグ３６は、略長方体形状を有する基体１１０の裏面から、突出して設けられた絶縁板１１２の上下に、一対の接触子１１４、１１６が相互に絶縁されて設けられている。基体１１０の表面には、前部接続用端子Ｑ２、Ｑ４と後部接続用端子Ｑ１、Ｑ３が設けられており、これらの端子と一対の接触子１１４、１１６が内部導体によって電気的に接続されている。内部導体は、基体１１０内部に埋設されており、外部からは視認できない。テストプラグ３６の接触子１１４、１１６が、例えば、試験端子本体部Ｄ６に挿入されると、接触子１１４、１１６と、試験端子本体部の接点ｔ１、ｔ２がそれぞれ電気的に接続される。接触子１１４、１１６は、それぞれテストプラグ３６の後部接続用端子Ｑ１と前部接続用端子Ｑ２に接続されているので、試験端子本体部Ｄ６のＣＴ側端子ｔ１、盤内側端子ｔ２は、テストプラグ３６の後部接続用端子Ｑ１、前部接続用端子Ｑ２と電気的に繋がった状態になる。テストプラグ３６の接触子１１４、１１６を試験端子本体部から抜くと、試験端子本体部Ｄ６のＣＴ側端子ｔ１と盤内側端子ｔ２は導通状態となる。

本テストプラグ準備工程では、試験端子本体部Ｄ６に係るテストプラグ３６の後部接続用端子Ｑ１と前部接続用端子Ｑ２は、ケーブル３８で導通状態とされる。次に、試験端子本体部Ｄ７に係るテストプラグ３６の後部接続用端子Ｑ３と前部接続用端子Ｑ４とを、既設制御盤２０に接続する。この場合、予備端子台３４を用いている。すなわち、テストプラグ３６の前部接続用端子Ｑ４と後部接続用端子Ｑ３に、それぞれケーブル４０、４２を接続し、ケーブル４０は予備端子台３４の端子Ｓ１１に、ケーブル４２は予備端子台３４の端子Ｓ１０に接続する。そして、予備端子台３４の端子Ｓ１１と既設制御盤２０の端子Ｓ６をケーブル４４で接続し、端子Ｓ１０と既設制御盤２０の端子Ｓ７をケーブル４６で接続する。なお、ケーブルの、テストプラグ３６の接続用端子及び予備端子台３４の端子と接続される端部には、リング状の圧着端子が取り付けられており、それぞれの端子から容易に外れないようになっている。なお、圧着端子の先端形状として、丸形（リング形）を用いれば容易に外れることはないが、先端が開放しているもの（切り込みが設けられているもの）を用いる場合には、例えば、切り込みの箇所をケーブルが引っ張られる方向から外れた所に設けたものを好適に用いることができる。また、予備端子台３４は設けずに、テストプラグ３６の前部接続用端子Ｑ４、後部接続用端子Ｑ３と、既設制御盤２０の端子Ｓ６、Ｓ７を、それぞれケーブル４４、４６で直接接続しても良い。

（直列回路構成工程）
次に、直列回路構成工程にて、上記のテストプラグ３６の接触子１１４、１１６を新設制御盤３０の試験端子本体部Ｄ６、Ｄ７に挿入して既設制御盤２０と新設制御盤３０とを直列に接続した状態とする。図４は、直列回路を構成したときの回路構成図である。既設制御盤２０と新設制御盤３０がテストプラグ３６を用いて直列に接続されている。

（制御盤同時運転工程）
図５は、制御盤同時運転工程の説明図である。直列回路を構成した後、高圧配電線路１０、１２、１４の停電状態を解除する。この状態では、例えば、高圧配電線路１０、１２、１４に電流が流れると、変流器１６、１８の２次側には矢印で示したように変流器１６、１８の変流比で決められた電流が流れる。既設制御盤２０と新設制御盤３０に電流が流れるので、この状態においては制御所の制御テーブルは変更又は交換する必要はない。また、この状態において変流器１６、１８の２次側の試験及び実負荷試験については、必要に応じて、クランプ式ベクトルマルチメータで、容易に電流値、位相等を測定することができる。

（既設制御盤除去工程）
既設制御盤除去工程は、新設制御盤３０に挿入したテストプラグ３６の接触子を抜くだけである。図６は、テストプラグ３６の接触子を抜いた後の回路構成図である。変流器１６、１８の２次側には新設制御盤３０だけが接続され、既設制御盤２０は回路から取り除かれている。ここで、テストプラグ３６の接触子を試験端子本体部Ｄ６、Ｄ７から抜く場合に、変流器１６、１８の２次側は開放されることがないので、従来のように高圧配電線路１０、１２、１４を停電状態にする必要はない。

次に、制御所の制御テーブルの交換又は変更について説明する。図７は、変電所内の概略構成図と制御所の制御画面を示している。制御所には、制御テーブル（図示していない）が備えられており、制御盤から送信される計測情報等が格納され、この制御テーブルに基づいて制御画面５０が作製される。制御画面５０上には、高圧配電線路、遮断器、変圧器等の実機（高圧機器）が簡易的に図形で示され、相互に接続されている様子、すなわち各種高圧機器の配置が一目で解るようになっている。

変電所５２には、遠隔監視制御装置があり、遠隔監視制御装置は複数台の実機が接続され、制御所の制御画面５０で制御できるように構成されている。なお、この遠隔監視制御装置には制御盤が含まれており、各実機に関する各種計測情報は制御盤で計測、表示され、この情報が制御所に送られ制御所の制御テーブルに格納されるように構成されている。例えば、図７においては、２台の遠隔監視制御装置５４、５６がある場合を示しており、それぞれの遠隔監視制御装置５４、５６は、制御盤５５、５７が具備されている。これらの遠隔監視制御装置５４、５６は、実機１２０、１２２を制御画面上で制御できるように構成されている。実機１２０、１２２についての計測情報は制御盤５５、５７で取得されるように、変流器ＣＴ（変成器ＰＴ）１２４、１２６が実機には接続されている。そして、実機は制御所の制御画面５０上にて制御できるように構成されており、例えば、遠隔監視制御装置５４は、制御画面５０の領域Ａで示した実機について管理しており、遠隔監視制御装置５６は制御画面５０の領域Ｂで示した実機について管理している。制御テーブルには各実機についての計測情報が格納されているので、異常等があればこの制御画面上にて解るように構成されている。

したがって、既設の制御盤を新設の制御盤に取り替えた場合には、制御所の制御テーブルも変更又は交換しなければならない。通常、制御テーブルの変更又は交換は制御所監視システムを停止状態にして行われる。したがって、制御盤の取り替えが多ければ制御所監視システム停止回数も多くなり、運用に支障をきた場合がある。これまで、制御盤の取り替え毎に制御テーブルの変更又は交換を行っていたが、本発明の工法を用いると以下に示すように制御所監視システムの停止の回数又はその時間を大幅に削減することが可能である。

本発明の制御盤取替工法においては、既設制御盤と新設制御盤が同時に作動できる状態、すなわち制御盤同時運転工程がある。この工程中は既設制御盤が作動しているので、制御テーブルを交換する必要はない。また、既設制御盤を除去する既設制御盤除去工程と同時に制御テーブルを変更又は交換する必要があるが、この制御盤除去はテストプラグの接触子を抜くだけでよいので、例えば、変電所単位で、纏めて抜くようにすることができる。変電所単位で纏めて抜くときに制御所の制御テーブルの変更又は交換を行うようにすれば、これまで何度も停電状態にして交換作業をしていたものが、１回の停電作業で済むようになる。したがって、制御テーブルの変更又は交換のための作業時間を短縮すること及びその費用を大幅に削減することが可能となる。

本発明の工法を用いることにより、従来は新設制御盤の入れ替え時と既設制御盤の除去時の２回に亘り停電が必要であったが、１回の停電で行うことが可能になった。また、変流器の２次側を短絡する必要もないので、高圧配電線路を無保護状態とする危険を回避することができる。また、従来は変流器の２次側の配線接続変更を伴うため、ＣＴ２次試験等も必要であったが、本工法により不要となった。更に、制御テーブルの変更又は交換は変電所単位で一括して纏めて行うことが可能になったので、制御テーブルの変更又は交換の作業時間の短縮及びその費用を大幅に削減することが可能となった。

（第２の実施の形態）
次に、本発明の制御盤取替工法の第２の実施の形態について説明する。本実施の形態では、背景技術で示したのと同じ変流器の２次側回路に保護継電器を含まない回路において、制御盤を取り替える工法について説明する。変流器の２次側回路は、背景技術で示した回路（図１０）と同様である。前述のように、背景技術に示した方法では、既設制御盤と新設制御盤を直列に接続して取り替えを行うものの、既設制御盤除去時に停電を伴い、２次側の回路の試験が必要等の種々の問題があった。以下、変流器の２次側回路に保護継電器を含まない回路に本発明の工法を適用する。なお、第１の実施形態と同じ部分については説明を簡略化し図面も省略している。

（制御盤入替工程）
高圧配電線路を停電状態とし、既設制御盤７８を変流器の２次側回路から取り除く。そして、新設制御盤８２を既設制御盤７８が接続されていた端子Ｔ１３、Ｔ１５に接続する。この接続は、新設制御盤８２の端子Ｔ１９、Ｔ２０と、計測変換器盤７４内にある端子Ｔ１５、Ｔ１３をケーブル等で接続して行う。

（テストプラグ準備工程）
新設制御盤８２の試験端子本体部Ｃ９、Ｃ１０に挿入される接触子を有するテストプラグ７０の接続用端子と既設制御盤７８を接続する。テストプラグ７０の試験端子本体部Ｃ１０に係る前部接続用端子及び後部接続用端子と既設制御盤７８を接続する際には、予備端子台１００を用いる。テストプラグ７０の試験端子本体部Ｃ９に係る前部接続用端子と後部接続用端子はケーブルで接続し導通状態とする。ケーブルの端部にはリング状の圧着端子を用いている。

（直列回路構成工程）
次に、直列回路構成工程にて、上記のテストプラグ７０の接触子を新設制御盤８２の試験端子本体部Ｃ９、Ｃ１０に挿入して、既設制御盤７８と新設制御盤８２とを直列に接続した状態とする。図８は、そのようにして既設制御盤７８と新設制御盤８２を直列に接続したときの回路構成図である。ここで、従来、新たに設けることが必要であった端子Ｔ１８は、本実施の形態では不要であり、用いられることはない。

（制御盤同時運転工程）
図８のように直列回路を構成した後、高圧配電線路の停電状態を解除し、既設制御盤７８と新設制御盤８２を同時に作動状態とする。既設制御盤７８と新設制御盤８２に直列に電流が流れるので、制御所の制御テーブルは変更又は交換する必要はない。また、変流器の２次側の試験及び実負荷試験については、必要に応じて、この状態においてクランプ式ベクトルマルチメータを用い、容易に電流値、位相等を測定することができる。

（既設制御盤除去工程）
既設制御盤除去工程は、新設制御盤８２に挿入したテストプラグ７０の接触子を抜くだけである。図９は、テストプラグ７０の接触子を抜いた後の回路構成図である。変流器の２次側には計測変換基盤７４と新設制御盤８２が接続され、既設制御盤７８は回路から取り除かれている。テストプラグ７０の接触子を試験端子本体部Ｃ９、Ｃ１０から抜く場合は、従来のように高圧配電線路を停電状態にする必要はない。また、変流器の２次側の回路で接続変更はないので、変流器の２次側の試験を行う必要もない。

制御所の制御テーブルの変更又は交換は、第１の実施に形態と同様に、例えば、発変電所単位で、テストプラグを纏めて一斉に抜くときに、一度に行うことが可能である。これにより、制御テーブルの変更又は交換に掛かる費用や時間を大幅に削減することができる。

本発明の工法を用いることにより、従来は新設制御盤の入れ替え時と既設制御盤の除去時の２回に亘り停電が必要であったが、１回の停電で行うことが可能になった。また、従来は変流器の２次側の配線接続変更を伴うため、ＣＴ２次試験等も必要であったが、本工法により不要となった。また、制御テーブルの変更又は交換を変電所単位で一括して纏めて行うことが可能になったので、制御テーブルの変更又は交換のための作業時間を短縮すること及びその費用を大幅に削減することが可能となった。

なお、本発明は、上述の第１、第２の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。例えば、変流器の２次側回路に保護継電器又は積算電力計が接続され、これに制御盤が接続されている構成について示したが、この構成に限定されない。

１０、１２、１４、６０、６２、６４ 高圧配電線路
１６、１８、６６、６８、７０ 変流器（ＣＴ）
２０、７８ 既設制御盤
２２、３２、７６、８０、８４ トランスジューサ（ＴＲＤ）
２４、２６ 保護継電器
２８ 電流計
３０、８２ 新設制御盤
３４、１００ 予備端子台
３６、７０ テストプラグ
３８、４０、４２、４４、４６ ケーブル
５０ 制御所の制御画面
５２ 変電所
５４、５６ 遠隔監視制御装置
５５、５７ 制御盤
７２ 積算電力計
７４ 計測変換器盤
８６ ショートバー
８８、９０、９２ ケーブル
１２０、１２２ 実機
１２４、１２６ ＣＴ（ＰＴ）
Ｃ１〜Ｃ１０ 試験端子本体部
Ｄ１〜Ｄ７ 試験端子本体部
Ｓ１〜Ｓ１１ 接続用端子
Ｔ１〜Ｔ１７ 接続用端子
Ｔ１８ 新設の接続用端子
Ｑ１〜Ｑ４ 接続用端子
ｔ１ 試験端子本体部の変流器側端子
ｔ２ 試験端子本体部の盤内側端子

Claims (4)

1. 発変電所の高圧配電線路に設置された変流器の２次側回路に接続され、テストプラグの接触子を挿入可能な試験端子本体部が組み込まれ、前記高圧配電線路を流れる電流値を計測可能に構成されると共に、制御テーブルを有し該制御テーブルを参照しながら前記高圧配電線路を制御する制御所に対して前記電流値のデータを送信する既設制御盤を、新設制御盤に取り替える制御盤取替工法において、
   前記高圧配電線路を停電状態にして、前記既設制御盤の前記変流器の２次側回路との接続を解除して前記新設制御盤を入れ替え接続する制御盤入替工程と、
   前記テストプラグの接続用端子と接続解除された前記既設制御盤とを電気的に接続して前記テストプラグの接触子の挿入準備を行うテストプラグ準備工程と、
   該準準備されたテストプラグの接触子を前記新設制御盤の試験端子本体部に挿入して、前記変流器の２次側回路に前記既設制御盤と前記新設制御盤とを直列に接続した状態とする直列回路構成工程と、
   前記高圧配電線路の停電状態を解除して通電状態とし、前記新設制御盤と前記既設制御盤とを同時に作動状態とする制御盤同時運転工程と、
   前記テストプラグの接触子を前記新設制御盤の前記試験端子本体部から抜き出す既設制御盤除去工程と、
   を有することを特徴とする制御盤取替工法。
2. 前記変流器の２次側回路に保護継電器が接続されている構成に対して、前記制御盤入替工程、前記テストプラグ準備、前記直列回路構成工程、前記制御盤同時運転工程、前記既設制御盤除去工程を適用することを特徴とする請求項１に記載の制御盤取替工法。
3. 前記制御所の前記制御テーブルの前記新設制御盤への取り替えに伴う変更又は交換は、前記既設制御盤除去工程と同時に前記発変電所単位で纏めて行うことを特徴とする請求項１又は２に記載の制御盤取替工法。
4. 前記テストプラグ準備工程において、前記テストプラグの接続用端子と前記既設制御盤との接続は、一方が前記テストプラグの接続用端子と接続され、他方が前記既設制御盤に接続された予備端子台を介して行われることを特徴とする請求項１〜３の何れか１項に記載の制御盤取替工法。

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