JP5042322B2 - 制御盤の取替工法 - Google Patents
制御盤の取替工法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5042322B2 JP5042322B2 JP2010019293A JP2010019293A JP5042322B2 JP 5042322 B2 JP5042322 B2 JP 5042322B2 JP 2010019293 A JP2010019293 A JP 2010019293A JP 2010019293 A JP2010019293 A JP 2010019293A JP 5042322 B2 JP5042322 B2 JP 5042322B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- control panel
- test
- existing
- test plug
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 69
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 124
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 29
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 18
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 12
- 238000011900 installation process Methods 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Supply And Distribution Of Alternating Current (AREA)
Description
発変電所の高圧配電線路に設置された変流器の2次側回路に接続され、テストプラグの接触子を挿入可能な試験端子本体部が組み込まれ、前記高圧配電線路を流れる電流値を計測可能に構成されると共に、制御テーブルを有し該制御テーブルを参照しながら前記高圧配電線路を制御する制御所に対して前記電流値のデータを送信する既設制御盤を、新設制御盤に取り替える制御盤取替工法において、前記高圧配電線路を停電状態にして、前記既設制御盤の前記変流器の2次側回路との接続を解除して前記新設制御盤を入れ替え接続する制御盤入替工程と、前記テストプラグの接続用端子と接続解除された前記既設制御盤とを電気的に接続して前記テストプラグの接触子の挿入準備を行うテストプラグ準備工程と、該準準備されたテストプラグの接触子を前記新設制御盤の試験端子本体部に挿入して、前記変流器の2次側回路に前記既設制御盤と前記新設制御盤とを直列に接続した状態とする直列回路構成工程と、前記高圧配電線路の停電状態を解除して通電状態とし、前記新設制御盤と前記既設制御盤とを同時に作動状態とする制御盤同時運転工程と、前記テストプラグの接触子を前記新設制御盤の前記試験端子本体部から抜き出す既設制御盤除去工程と、を有することを特徴とする。
前記変流器の2次側回路に保護継電器が接続されている構成に対して、前記制御盤入替工程、前記テストプラグ準備、前記直列回路構成工程、前記制御盤同時運転工程、前記既設制御盤除去工程を適用することを特徴とする。
前記テストプラグ準備工程において、前記テストプラグの接続用端子と前記既設制御盤との接続は、一方が前記テストプラグの接続用端子と接続され、他方が前記既設制御盤に接続された予備端子台を介して行われることを特徴とする。したがって、テストプラグの接続用端子と既設制御盤をスムーズかつ安全に接続することができ、テストプラグの接触子の新設制御盤の試験端子本体部への抜き差しも容易である。
図2は、制御盤入替工程の説明図である。まず、高圧配電線路10、12、14を停電状態とし、既設制御盤20を回路から切り離す。そして、新設制御盤30を、既設制御盤20が接続されていた端子S4、S5に接続する。この接続は、新設制御盤30の端子S8、S9と、CT16、18の2次側の回路内の端子S4、S5をケーブル等で接続して行う。
図3は、新設制御盤32の試験端子本体部D6、D7に挿入される接触子を有するテストプラグ36の接続用端子と既設制御盤20を接続するテストプラグ準備工程の説明図である。テストプラグ36の接触子は、新設制御盤30の試験端子本体部D6、D7に挿入され、テストプラグ36の接触子が、試験端子本体部の有する接点に接触することで所定の回路が構成されるようになっている。具体的に以下に説明する。
次に、直列回路構成工程にて、上記のテストプラグ36の接触子114、116を新設制御盤30の試験端子本体部D6、D7に挿入して既設制御盤20と新設制御盤30とを直列に接続した状態とする。図4は、直列回路を構成したときの回路構成図である。既設制御盤20と新設制御盤30がテストプラグ36を用いて直列に接続されている。
図5は、制御盤同時運転工程の説明図である。直列回路を構成した後、高圧配電線路10、12、14の停電状態を解除する。この状態では、例えば、高圧配電線路10、12、14に電流が流れると、変流器16、18の2次側には矢印で示したように変流器16、18の変流比で決められた電流が流れる。既設制御盤20と新設制御盤30に電流が流れるので、この状態においては制御所の制御テーブルは変更又は交換する必要はない。また、この状態において変流器16、18の2次側の試験及び実負荷試験については、必要に応じて、クランプ式ベクトルマルチメータで、容易に電流値、位相等を測定することができる。
既設制御盤除去工程は、新設制御盤30に挿入したテストプラグ36の接触子を抜くだけである。図6は、テストプラグ36の接触子を抜いた後の回路構成図である。変流器16、18の2次側には新設制御盤30だけが接続され、既設制御盤20は回路から取り除かれている。ここで、テストプラグ36の接触子を試験端子本体部D6、D7から抜く場合に、変流器16、18の2次側は開放されることがないので、従来のように高圧配電線路10、12、14を停電状態にする必要はない。
次に、本発明の制御盤取替工法の第2の実施の形態について説明する。本実施の形態では、背景技術で示したのと同じ変流器の2次側回路に保護継電器を含まない回路において、制御盤を取り替える工法について説明する。変流器の2次側回路は、背景技術で示した回路(図10)と同様である。前述のように、背景技術に示した方法では、既設制御盤と新設制御盤を直列に接続して取り替えを行うものの、既設制御盤除去時に停電を伴い、2次側の回路の試験が必要等の種々の問題があった。以下、変流器の2次側回路に保護継電器を含まない回路に本発明の工法を適用する。なお、第1の実施形態と同じ部分については説明を簡略化し図面も省略している。
高圧配電線路を停電状態とし、既設制御盤78を変流器の2次側回路から取り除く。そして、新設制御盤82を既設制御盤78が接続されていた端子T13、T15に接続する。この接続は、新設制御盤82の端子T19、T20と、計測変換器盤74内にある端子T15、T13をケーブル等で接続して行う。
新設制御盤82の試験端子本体部C9、C10に挿入される接触子を有するテストプラグ70の接続用端子と既設制御盤78を接続する。テストプラグ70の試験端子本体部C10に係る前部接続用端子及び後部接続用端子と既設制御盤78を接続する際には、予備端子台100を用いる。テストプラグ70の試験端子本体部C9に係る前部接続用端子と後部接続用端子はケーブルで接続し導通状態とする。ケーブルの端部にはリング状の圧着端子を用いている。
次に、直列回路構成工程にて、上記のテストプラグ70の接触子を新設制御盤82の試験端子本体部C9、C10に挿入して、既設制御盤78と新設制御盤82とを直列に接続した状態とする。図8は、そのようにして既設制御盤78と新設制御盤82を直列に接続したときの回路構成図である。ここで、従来、新たに設けることが必要であった端子T18は、本実施の形態では不要であり、用いられることはない。
図8のように直列回路を構成した後、高圧配電線路の停電状態を解除し、既設制御盤78と新設制御盤82を同時に作動状態とする。既設制御盤78と新設制御盤82に直列に電流が流れるので、制御所の制御テーブルは変更又は交換する必要はない。また、変流器の2次側の試験及び実負荷試験については、必要に応じて、この状態においてクランプ式ベクトルマルチメータを用い、容易に電流値、位相等を測定することができる。
既設制御盤除去工程は、新設制御盤82に挿入したテストプラグ70の接触子を抜くだけである。図9は、テストプラグ70の接触子を抜いた後の回路構成図である。変流器の2次側には計測変換基盤74と新設制御盤82が接続され、既設制御盤78は回路から取り除かれている。テストプラグ70の接触子を試験端子本体部C9、C10から抜く場合は、従来のように高圧配電線路を停電状態にする必要はない。また、変流器の2次側の回路で接続変更はないので、変流器の2次側の試験を行う必要もない。
16、18、66、68、70 変流器(CT)
20、78 既設制御盤
22、32、76、80、84 トランスジューサ(TRD)
24、26 保護継電器
28 電流計
30、82 新設制御盤
34、100 予備端子台
36、70 テストプラグ
38、40、42、44、46 ケーブル
50 制御所の制御画面
52 変電所
54、56 遠隔監視制御装置
55、57 制御盤
72 積算電力計
74 計測変換器盤
86 ショートバー
88、90、92 ケーブル
120、122 実機
124、126 CT(PT)
C1〜C10 試験端子本体部
D1〜D7 試験端子本体部
S1〜S11 接続用端子
T1〜T17 接続用端子
T18 新設の接続用端子
Q1〜Q4 接続用端子
t1 試験端子本体部の変流器側端子
t2 試験端子本体部の盤内側端子
Claims (4)
- 発変電所の高圧配電線路に設置された変流器の2次側回路に接続され、テストプラグの接触子を挿入可能な試験端子本体部が組み込まれ、前記高圧配電線路を流れる電流値を計測可能に構成されると共に、制御テーブルを有し該制御テーブルを参照しながら前記高圧配電線路を制御する制御所に対して前記電流値のデータを送信する既設制御盤を、新設制御盤に取り替える制御盤取替工法において、
前記高圧配電線路を停電状態にして、前記既設制御盤の前記変流器の2次側回路との接続を解除して前記新設制御盤を入れ替え接続する制御盤入替工程と、
前記テストプラグの接続用端子と接続解除された前記既設制御盤とを電気的に接続して前記テストプラグの接触子の挿入準備を行うテストプラグ準備工程と、
該準準備されたテストプラグの接触子を前記新設制御盤の試験端子本体部に挿入して、前記変流器の2次側回路に前記既設制御盤と前記新設制御盤とを直列に接続した状態とする直列回路構成工程と、
前記高圧配電線路の停電状態を解除して通電状態とし、前記新設制御盤と前記既設制御盤とを同時に作動状態とする制御盤同時運転工程と、
前記テストプラグの接触子を前記新設制御盤の前記試験端子本体部から抜き出す既設制御盤除去工程と、
を有することを特徴とする制御盤取替工法。 - 前記変流器の2次側回路に保護継電器が接続されている構成に対して、前記制御盤入替工程、前記テストプラグ準備、前記直列回路構成工程、前記制御盤同時運転工程、前記既設制御盤除去工程を適用することを特徴とする請求項1に記載の制御盤取替工法。
- 前記制御所の前記制御テーブルの前記新設制御盤への取り替えに伴う変更又は交換は、前記既設制御盤除去工程と同時に前記発変電所単位で纏めて行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の制御盤取替工法。
- 前記テストプラグ準備工程において、前記テストプラグの接続用端子と前記既設制御盤との接続は、一方が前記テストプラグの接続用端子と接続され、他方が前記既設制御盤に接続された予備端子台を介して行われることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の制御盤取替工法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010019293A JP5042322B2 (ja) | 2010-01-29 | 2010-01-29 | 制御盤の取替工法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010019293A JP5042322B2 (ja) | 2010-01-29 | 2010-01-29 | 制御盤の取替工法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011160540A JP2011160540A (ja) | 2011-08-18 |
JP5042322B2 true JP5042322B2 (ja) | 2012-10-03 |
Family
ID=44591999
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010019293A Expired - Fee Related JP5042322B2 (ja) | 2010-01-29 | 2010-01-29 | 制御盤の取替工法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5042322B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103558423B (zh) * | 2013-11-21 | 2015-10-28 | 国家电网公司 | 用于流变二次回路的试验端子 |
CN103996983B (zh) * | 2014-06-10 | 2016-06-29 | 国家电网公司 | 路灯控制箱内电气元件的更换方法 |
-
2010
- 2010-01-29 JP JP2010019293A patent/JP5042322B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011160540A (ja) | 2011-08-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1848582B (zh) | 用于自动相位校正的具有开关输出的电网监控继电器 | |
CN108680772B (zh) | 一种高压断路器二次试验接口装置及其测试方法 | |
KR20080091771A (ko) | 개별적으로 차단가능한 기능영역을 갖는 배전 시스템 | |
CN107544001B (zh) | 航天器热试验电缆用的绝缘测试设备 | |
JP5072699B2 (ja) | 制御盤更新に伴う制御切り替え方法 | |
KR20130010619A (ko) | 가스절연 개폐장치 | |
KR20170069247A (ko) | 스위칭 시스템을 시험하기 위한 시험 장치 및 방법 | |
JP5042322B2 (ja) | 制御盤の取替工法 | |
CN106885959B (zh) | 发电厂电气总启动试验接地刀闸代替短路铜排的试验方法 | |
KR101315437B1 (ko) | 가스절연 개폐 장치 | |
CN110622469B (zh) | 用于访问工业通信网络的方法和访问单元 | |
US10027103B2 (en) | Protection device for electrical network | |
JP5323112B2 (ja) | 機器の切替方法 | |
JP2012050182A (ja) | 変流器二次側開放保護回路、電気盤及びテストプラグ | |
JP4679218B2 (ja) | 機器測定試験リード線および機器測定試験方法 | |
KR20200037980A (ko) | 변류기의 시험용 단자 분리대 | |
CN101661090A (zh) | 变压器中性点电流互感器通流试验仪 | |
CN111060759B (zh) | 一种配电柜测试系统及测试方法 | |
JP4953694B2 (ja) | リレー接続構造およびリレー接続切り替え方法 | |
JP2011174780A (ja) | 電圧試験プラグ | |
CN209748180U (zh) | 一种电力系统后备电源母线保护改造系统 | |
KR101873005B1 (ko) | 3상 4선식 활선 절연 저항 측정용 영상 변류 장치 | |
CN107579471A (zh) | 一种手车式开关柜ct升流试验用短接装置 | |
JP4954121B2 (ja) | ブッシング変流器 | |
CN101449172A (zh) | 用于带有输入端子模块的开关柜的检验装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120618 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120626 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120710 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5042322 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150720 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150720 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |