JP2011102205A - METHOD FOR CONTROLLING PARTICLE SIZE OF alpha-SILICON CARBIDE POWDER AND SILICON CARBIDE SINGLE CRYSTAL - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for controlling the particle size of α-silicon carbide powder for efficiently obtaining silicon carbide powder of the objective particle size, and to provide a homogeneous silicon carbide single crystal including few impurities by using the α-silicon carbide powder whose particle size is controlled by the method. <P>SOLUTION: In the method for controlling the particle size of the α-silicon carbide powder produced by heating β-silicon carbide or a silicon carbide precursor in a non-oxidizing atmosphere and subjecting the β-silicon carbide or β-silicon carbide produced from the silicon carbide precursor to phase transition to α-silicon carbide, the temperature of phase transition from the β-silicon carbide to the α-silicon carbide is controlled by changing the pressure of the atmosphere, so that the α-silicon carbide powder having an average particle size of ≥10 μm is produced. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、α型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法及び炭化ケイ素単結晶に関し、さらに詳しくは、改良レーリー法にて炭化ケイ素単結晶を成長させる際に用いられるα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法、及び、この粒径制御方法により粒径が制御されたα型炭化ケイ素粉体を基に合成される炭化ケイ素単結晶に関するものである。   The present invention relates to a method for controlling the particle size of an α-type silicon carbide powder and a silicon carbide single crystal, and more specifically, the particles of α-type silicon carbide powder used for growing a silicon carbide single crystal by an improved Rayleigh method. The present invention relates to a diameter control method and a silicon carbide single crystal synthesized based on an α-type silicon carbide powder whose particle size is controlled by this particle size control method.

従来、炭化ケイ素単結晶を作製する方法としては、改良レーリー法がよく知られている。この改良レーリー法は、炭化ケイ素単結晶の製造装置内に温度勾配を設け、高温部にて昇華させた炭化ケイ素からなる単結晶原料を、種結晶を設置した低温部にて該種結晶に供給し、この種結晶を核として炭化ケイ素単結晶を成長させる方法である。単結晶原料を昇華させるためには、2200℃以上の温度が必要である(特許文献1〜4)。   Conventionally, an improved Rayleigh method is well known as a method for producing a silicon carbide single crystal. In this improved Rayleigh method, a temperature gradient is provided in a silicon carbide single crystal production apparatus, and a single crystal raw material made of silicon carbide sublimated in a high temperature part is supplied to the seed crystal in a low temperature part where the seed crystal is installed. In this method, a silicon carbide single crystal is grown using this seed crystal as a nucleus. In order to sublimate the single crystal raw material, a temperature of 2200 ° C. or higher is required (Patent Documents 1 to 4).

また、単結晶原料が安定した昇華速度を得るためには、粒子径が100μm以上かつ300μm以下であり不純物が混じらない高純度の炭化ケイ素粉体を使用する必要がある。
このような単結晶原料は、粗い粒子やブロック状の塊を粉砕して作製すると、不純物が混入する虞があるので好ましくない。
そこで、炭化ケイ素単結晶の原料として適している高純度かつ粒子径が100〜300μmの炭化ケイ素粉体を得るために、炭化ケイ素前駆体を焼成して炭化ケイ素粉体を合成する際に、2000℃以下の温度にて一旦保持し、その後、2000℃以上の粒成長を生じさせる相転移温度まで昇温させる方法が提案されている(特許文献5、6)。
Further, in order to obtain a stable sublimation rate of the single crystal raw material, it is necessary to use a high-purity silicon carbide powder having a particle diameter of 100 μm or more and 300 μm or less and not mixed with impurities.
Such a single crystal raw material is not preferable if it is produced by pulverizing coarse particles or block-like lumps because impurities may be mixed therein.
Therefore, in order to obtain a silicon carbide powder having a high purity and a particle size of 100 to 300 μm that is suitable as a raw material for a silicon carbide single crystal, when a silicon carbide precursor is fired to synthesize a silicon carbide powder, 2000 A method has been proposed in which the temperature is temporarily maintained at a temperature of ℃ or lower and then raised to a phase transition temperature that causes grain growth of 2,000 ℃ or higher (Patent Documents 5 and 6).

特開2008−74653号公報JP 2008-74653 A 特開2008−74662号公報JP 2008-74662 A 特許第3898278号公報Japanese Patent No. 3898278 特開2009−46367号公報JP 2009-46367 A 特開2009−173501号公報JP 2009-173501 A 特許第3934695号公報Japanese Patent No. 3934695

ところで、従来の炭化ケイ素単結晶の製造方法においては、製造装置の構造等により、炭化ケイ素粉体の昇華条件等が様々に変化するので、この炭化ケイ素粉体の昇華条件を制御するためには、原料となる炭化ケイ素粉体の粒子径を制御する必要がある。
従来の粉体の粒径制御方法としては、加熱による粒子表面の拡散を利用して粒成長させる方法が一般的であるが、炭化ケイ素粉体の場合、共有結合性が強いために、加熱する温度を変化させても粒子表面における拡散が弱く、したがって、粒子径はあまり変化しない。このように、加熱時の温度条件の制御だけでは、任意の粒子径の炭化ケイ素粉体を得ることができないという問題点があった。
By the way, in the conventional method for producing a silicon carbide single crystal, the sublimation conditions and the like of the silicon carbide powder vary depending on the structure of the production apparatus and the like. In order to control the sublimation conditions of the silicon carbide powder, It is necessary to control the particle size of the silicon carbide powder as a raw material.
As a conventional method for controlling the particle size of a powder, a method of grain growth utilizing diffusion of the particle surface by heating is common. However, in the case of silicon carbide powder, heating is performed because of strong covalent bonding. Even if the temperature is changed, the diffusion on the particle surface is weak, and therefore the particle diameter does not change much. As described above, there is a problem that silicon carbide powder having an arbitrary particle size cannot be obtained only by controlling the temperature condition during heating.

本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、目的の粒子径の炭化ケイ素粉体を効率よく得ることができるα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法、及び、この粒径制御方法により粒径が制御されたα型炭化ケイ素粉体を用いることで不純物が少なくかつ均質な炭化ケイ素単結晶を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and a method for controlling the particle size of an α-type silicon carbide powder capable of efficiently obtaining a silicon carbide powder having a target particle size, and this An object of the present invention is to provide a homogeneous silicon carbide single crystal with few impurities by using an α-type silicon carbide powder whose particle size is controlled by a particle size control method.

本発明者等は、上記の課題を解決するべく鋭意検討を行った結果、β型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を非酸化性の雰囲気中にて加熱してβ型炭化ケイ素をα型炭化ケイ素に相転移させる際に、雰囲気の圧力を変化させてβ型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素への相転移温度を制御すれば、炭化ケイ素単結晶の原料に適した粒子径の大きな炭化ケイ素粉体の粒径制御ができることを知見し、さらに、β型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素に相転移する際の雰囲気圧力を制御すれば、効率よく不純物を除去することができることを知見し、本発明を完成するに到った。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have heated β-type silicon carbide or silicon carbide precursor in a non-oxidizing atmosphere to convert β-type silicon carbide into α-type silicon carbide. When changing the pressure of the atmosphere to control the phase transition temperature from β-type silicon carbide to α-type silicon carbide, the silicon carbide powder with a large particle size suitable for the raw material of silicon carbide single crystal In addition, it has been found that impurities can be efficiently removed by controlling the atmospheric pressure at the time of phase transition from β-type silicon carbide to α-type silicon carbide. It came to completion.

すなわち、本発明のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法は、β型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を非酸化性の雰囲気中にて加熱し、前記β型炭化ケイ素、または前記炭化ケイ素前駆体から生成するβ型炭化ケイ素をα型炭化ケイ素に相転移させて生成するα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法であって、前記雰囲気の圧力を変化させてβ型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素への相転移温度を制御し、平均粒子径が10μm以上のα型炭化ケイ素粉体を生成することを特徴とする。   That is, in the method for controlling the particle size of the α-type silicon carbide powder of the present invention, the β-type silicon carbide or the silicon carbide precursor is heated in a non-oxidizing atmosphere, and the β-type silicon carbide or the silicon carbide precursor is heated. A method for controlling the particle size of an α-type silicon carbide powder produced by phase transition of β-type silicon carbide generated from a body to α-type silicon carbide, wherein the pressure of the atmosphere is changed to change α-type from β-type silicon carbide A phase transition temperature to silicon carbide is controlled to produce an α-type silicon carbide powder having an average particle size of 10 μm or more.

前記雰囲気の圧力を2×10Pa以上かつ10Pa以下の範囲で変化させることにより、前記相転移温度を2000℃以上かつ2400℃以下の範囲で制御することが好ましい。
前記加熱により2000℃以上かつ2400℃以下の温度まで昇温させ、次いで、この温度を保持したまま雰囲気の圧力を低下させてβ型炭化ケイ素をα型炭化ケイ素に相転移させることが好ましい。
生成する前記α型炭化ケイ素粉体の平均粒子径は100μm以上かつ300μm以下、かつ金属不純物の含有率は1ppm以下であることが好ましい。
It is preferable to control the phase transition temperature in the range of 2000 ° C. to 2400 ° C. by changing the pressure of the atmosphere in the range of 2 × 10 5 Pa to 10 7 Pa.
It is preferable to raise the temperature to 2000 ° C. or more and 2400 ° C. or less by the heating, and then reduce the pressure of the atmosphere while maintaining this temperature to cause the β-type silicon carbide to undergo phase transition to the α-type silicon carbide.
The α-type silicon carbide powder to be produced preferably has an average particle size of 100 μm or more and 300 μm or less, and a metal impurity content of 1 ppm or less.

本発明の炭化ケイ素単結晶は、本発明のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法により粒径が制御されたα型炭化ケイ素粉体を用いて結晶成長してなることを特徴とする。   The silicon carbide single crystal of the present invention is characterized by crystal growth using an α-type silicon carbide powder whose particle size is controlled by the particle size control method of the α-type silicon carbide powder of the present invention.

本発明のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法によれば、β型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を非酸化性の雰囲気中にて加熱し、前記β型炭化ケイ素、または前記炭化ケイ素前駆体から生成するβ型炭化ケイ素をα型炭化ケイ素に相転移させる際に、前記雰囲気の圧力を変化させてβ型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素への相転移温度を制御するので、生成するα型炭化ケイ素粉体の粒子径を炭化ケイ素単結晶の原料に適した所望の粒子径に制御することができる。
また、β型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素に相転移する際の雰囲気の圧力を変化させるので、生成するα型炭化ケイ素粉体から不純物を除去することができる。
さらに、雰囲気の圧力を減圧すれば、効率よく不純物を除去することができる。
According to the particle size control method for α-type silicon carbide powder of the present invention, β-type silicon carbide or silicon carbide precursor is heated in a non-oxidizing atmosphere, and the β-type silicon carbide or silicon carbide precursor is heated. When the β-type silicon carbide produced from the body is phase-transformed to α-type silicon carbide, the pressure of the atmosphere is changed to control the phase transition temperature from the β-type silicon carbide to the α-type silicon carbide. The particle size of the silicon carbide powder can be controlled to a desired particle size suitable for the raw material of the silicon carbide single crystal.
Moreover, since the pressure of the atmosphere at the time of phase transition from β-type silicon carbide to α-type silicon carbide is changed, impurities can be removed from the generated α-type silicon carbide powder.
Furthermore, if the atmospheric pressure is reduced, impurities can be efficiently removed.

本発明の炭化ケイ素単結晶によれば、本発明のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法により粒径が制御されたα型炭化ケイ素粉体を用いて結晶成長したので、不純物及び欠陥が少なくかつ均質である。   According to the silicon carbide single crystal of the present invention, since the crystal growth is performed using the α-type silicon carbide powder whose particle size is controlled by the particle size control method of the α-type silicon carbide powder of the present invention, impurities and defects are eliminated. Less and homogeneous.

本発明のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法及び炭化ケイ素単結晶を実施するための形態について説明する。
なお、この形態は、発明の趣旨をより良く理解させるために具体的に説明するものであり、特に指定のない限り、本発明を限定するものではない。
The form for implementing the particle size control method and silicon carbide single crystal of the α-type silicon carbide powder of the present invention will be described.
This embodiment is specifically described for better understanding of the gist of the invention, and does not limit the present invention unless otherwise specified.

[α型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法]
本実施形態のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法は、β型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を非酸化性の雰囲気中にて加熱し、前記β型炭化ケイ素、または前記炭化ケイ素前駆体から生成するβ型炭化ケイ素をα型炭化ケイ素に相転移させて生成するα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法であり、前記雰囲気の圧力を変化させてβ型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素への相転移温度を制御し、平均粒子径が10μm以上のα型炭化ケイ素粉体を生成する方法である。
[Method of controlling particle size of α-type silicon carbide powder]
The particle size control method of the α-type silicon carbide powder according to the present embodiment includes heating the β-type silicon carbide or the silicon carbide precursor in a non-oxidizing atmosphere, and the β-type silicon carbide or the silicon carbide precursor. Is a particle size control method of an α-type silicon carbide powder produced by phase transition of β-type silicon carbide produced from α-type silicon carbide, and the α-type silicon carbide is changed from β-type silicon carbide by changing the pressure of the atmosphere. This is a method for producing an α-type silicon carbide powder having an average particle diameter of 10 μm or more by controlling the phase transition temperature.

次に、本実施形態のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法について、詳細に説明する。
まず、原料となるβ型炭化ケイ素、またはβ型炭化ケイ素を生成するためのケイ素元素と炭素元素を含有する炭化ケイ素前駆体を用意する。
ここで、β型炭化ケイ素としては、合成反応を経て得られたβ型炭化ケイ素微粉体が好ましく、このβ型炭化ケイ素微粉体としては、粒径が10μm以下のβ型炭化ケイ素微粉体が好ましい。
Next, the particle diameter control method for the α-type silicon carbide powder of the present embodiment will be described in detail.
First, β-type silicon carbide as a raw material, or a silicon carbide precursor containing a silicon element and a carbon element for producing β-type silicon carbide is prepared.
Here, the β-type silicon carbide is preferably a β-type silicon carbide fine powder obtained through a synthesis reaction, and the β-type silicon carbide fine powder is preferably a β-type silicon carbide fine powder having a particle size of 10 μm or less. .

また、炭化ケイ素前駆体としては、ケイ素元素を含むケイ素源及び炭素元素を含む炭素源の双方を含有する混合物または化合物であればよく、炭化ケイ素の製造に用いられる公知のケイ素源及び炭素源を適宜用いることができる。   The silicon carbide precursor may be a mixture or compound containing both a silicon source containing silicon element and a carbon source containing carbon element, and known silicon sources and carbon sources used for the production of silicon carbide may be used. It can be used as appropriate.

このようなケイ素源としては、固体状または液状のものが用いられる。
固体状のケイ素源としては、例えば、シリカゾル(コロイド状超微細シリカ含有液、内部に水酸基(−OH)やアルコキシル基を含む)、二酸化ケイ素(シリカゲル、微細シリカ、石英粉体)等が挙げられる。これらの固体状のケイ素源を炭素源と均一に混合させるためには、微細な粒子径の粉体を使用することが好ましい。
As such a silicon source, a solid or liquid source is used.
Examples of the solid silicon source include silica sol (a colloidal ultrafine silica-containing liquid containing a hydroxyl group (—OH) and an alkoxyl group inside), silicon dioxide (silica gel, fine silica, quartz powder), and the like. . In order to uniformly mix these solid silicon sources with the carbon source, it is preferable to use a fine particle size powder.

また、液状のケイ素源としては、例えば、ケイ酸アルカリ水溶液を酸分解あるいは脱アルカリすることにより得られたもの、例えば、水ガラスの脱アルカリにより得られたケイ酸ポリマー;水酸基(−OH)を有する有機化合物とケイ酸とのエステル;テトラエトキシシラン(Si(OC)、テトラメトキシシラン(Si(OCH)等のアルコキシド;等からなる加水分解性ケイ酸化合物と、有機化合物または有機金属化合物とのエステル等が挙げられる。 Examples of the liquid silicon source include those obtained by acid decomposition or dealkalization of an alkali silicate aqueous solution, for example, a silicate polymer obtained by dealkalization of water glass; a hydroxyl group (—OH). An ester of an organic compound having silicic acid; an alkoxide such as tetraethoxysilane (Si (OC 2 H 5 ) 4 ) and tetramethoxysilane (Si (OCH 3 ) 4 ); Examples thereof include esters with organic compounds or organometallic compounds.

一方、上記の炭素源としては、カーボンブラック、カーボンナノチューブ、フラーレン等の固体の炭素、あるいは、液状でしかも加熱した際の残炭率が高い有機化合物、例えば、フェノール樹脂、フラン樹脂、キシレン樹脂、ポリイミド、ポリウレタン、ポリアクリロニトル、ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニル等の樹脂のモノマーやプレポリマー等が好適に用いられる。
その他、セルロース、しょ糖、ピッチ、タール等も好適に用いられる。
On the other hand, as the carbon source, solid carbon such as carbon black, carbon nanotube, fullerene, or an organic compound that is liquid and has a high residual carbon ratio when heated, for example, phenol resin, furan resin, xylene resin, Resin monomers and prepolymers such as polyimide, polyurethane, polyacrylonitrile, polyvinyl alcohol, and polyvinyl acetate are preferably used.
In addition, cellulose, sucrose, pitch, tar and the like are also preferably used.

このようなβ型炭化ケイ素微粉体、あるいは炭化ケイ素前駆体は、得られる炭化ケイ素単結晶が必要な機能を有するためには、金属不純物が1ppm以下の高純度のものを使用することが好ましい。   As such β-type silicon carbide fine powder or silicon carbide precursor, it is preferable to use a high-purity metal impurity of 1 ppm or less so that the obtained silicon carbide single crystal has a necessary function.

このβ型炭化ケイ素微粉体における遊離炭素の含有率は、0.1質量%以下であることが好ましい。また、このβ型炭化ケイ素微粉体における遊離炭素の含有率が0.1質量%を超える場合には、予め大気中にて熱処理を行って微粉体中の遊離炭素を燃焼除去し、遊離炭素の含有率を0.1質量%以下とすることが好ましい。   The free carbon content in the β-type silicon carbide fine powder is preferably 0.1% by mass or less. Further, when the content of free carbon in the β-type silicon carbide fine powder exceeds 0.1% by mass, the free carbon in the fine powder is burned and removed by performing a heat treatment in the air in advance. The content is preferably 0.1% by mass or less.

一方、上記の炭化ケイ素前駆体に含まれる炭素原子(C)とケイ素原子(Si)のモル比(C/Si比)は、2.0以上かつ3.0以下が好ましく、より好ましくは2.2以上かつ2.7以下である。
ここで、C/Si比を2.0以上かつ3.0以下とした理由は、C/Si比が2.0未満では、炭化ケイ素にならないSi源の量が多くなり、したがって、Si源が無駄になってしまうからであり、一方、C/Si比が3.0を超えると、β型炭化ケイ素微粉体を生成した段階で遊離炭素が残ってしまい、このβ型炭化ケイ素微粉体の粒成長を阻害するからである。
On the other hand, the molar ratio (C / Si ratio) of carbon atoms (C) and silicon atoms (Si) contained in the silicon carbide precursor is preferably 2.0 or more and 3.0 or less, more preferably 2. 2 or more and 2.7 or less.
Here, the reason why the C / Si ratio is set to 2.0 or more and 3.0 or less is that when the C / Si ratio is less than 2.0, the amount of Si source that does not become silicon carbide increases. On the other hand, if the C / Si ratio exceeds 3.0, free carbon remains at the stage when the β-type silicon carbide fine powder is produced, and particles of the β-type silicon carbide fine powder are left behind. This is because it inhibits growth.

次いで、このβ型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を、非酸化性の雰囲気中にて加熱する。
加熱する装置としては、非酸化性の雰囲気中にて、このβ型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体からα型炭化ケイ素を生成することのできる熱処理炉が好適である。この非酸化性の雰囲気における圧力の制御範囲や最高使用温度は、使用する条件に合わせて適宜選択できることが好ましい。
Next, the β-type silicon carbide or silicon carbide precursor is heated in a non-oxidizing atmosphere.
As an apparatus for heating, a heat treatment furnace capable of generating α-type silicon carbide from this β-type silicon carbide or silicon carbide precursor in a non-oxidizing atmosphere is suitable. It is preferable that the pressure control range and the maximum operating temperature in this non-oxidizing atmosphere can be appropriately selected according to the conditions of use.

具体的には、このβ型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を、熱処理炉の容器、例えば黒鉛製のルツボに投入し、次いで、この熱処理炉内をアルゴン等の不活性ガス、あるいは窒素ガス中に水素を僅かに含む還元性ガス等の非酸化性ガスにて置換して非酸化性の雰囲気とし、次いで、所定の温度まで昇温させ、この所定の温度にて焼成する。   Specifically, this β-type silicon carbide or silicon carbide precursor is put into a heat treatment furnace vessel such as a graphite crucible, and then the heat treatment furnace is filled with an inert gas such as argon or nitrogen gas. A non-oxidizing gas such as a reducing gas containing a slight amount of hydrogen is substituted to form a non-oxidizing atmosphere, and then the temperature is raised to a predetermined temperature and firing is performed at the predetermined temperature.

ここで、β型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体の投入に際しては、このβ型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体から効率よくα型炭化ケイ素粉体を得るためには、充填密度を高くすることが好ましい。
例えば、β型炭化ケイ素微粉体を用いる場合には、投入前に、このβ型炭化ケイ素微粉体を加圧成形することにより、圧縮されて所定の形状とされた成形体とすることが好ましい。
Here, when the β-type silicon carbide or silicon carbide precursor is introduced, in order to efficiently obtain the α-type silicon carbide powder from the β-type silicon carbide or silicon carbide precursor, it is preferable to increase the packing density. .
For example, when β-type silicon carbide fine powder is used, it is preferable to compress the β-type silicon carbide fine powder into a predetermined shape by pressing the β-type silicon carbide fine powder before being charged.

このβ型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体の充填密度、あるいは成形体の密度は、1g/cm以上が好ましい。
ここで、充填密度または成形体密度を1g/cm以上とした理由は、密度を上記の範囲とすることで、粒子同士が十分に接触することができ、したがって、均一かつ効率的な粒成長を行うことができるからである。
なお、充填密度または成形体密度は、高いほど良いが、一般的には、理論密度の70%程度が上限である。
The filling density of the β-type silicon carbide or silicon carbide precursor or the density of the molded body is preferably 1 g / cm 3 or more.
Here, the reason why the packing density or the green body density is set to 1 g / cm 3 or more is that the particles can be sufficiently in contact with each other by setting the density within the above range, and thus uniform and efficient grain growth. It is because it can be performed.
The higher the packing density or the compact density, the better, but generally the upper limit is about 70% of the theoretical density.

次いで、このβ型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を、所定の昇温速度にて加熱し、所定の温度、例えば、2000℃以上かつ2400℃以下の範囲の温度にて、1分以上かつ24時間以下保持し、焼成する。   Next, the β-type silicon carbide or silicon carbide precursor is heated at a predetermined temperature increase rate, and at a predetermined temperature, for example, a temperature in the range of 2000 ° C. or higher and 2400 ° C. or lower for 1 minute or longer and 24 hours. The following is held and fired.

ここで、昇温速度としては、特に制限は無いが、例えば、炭化ケイ素前駆体を用いる場合、炭化ケイ素前駆体が化学反応を起こして炭化ケイ素が生成する温度範囲(1600℃〜1800℃)では、0.1℃/分以上かつ10℃/分以下とすることが好ましい。
また、1000℃以下の温度領域にて炭化ケイ素前駆体からの揮発成分の量が多い場合には、1000℃以下の温度にて一旦予備焼成を行って揮発成分を取り除くことが好ましい。
Here, the rate of temperature rise is not particularly limited. For example, when a silicon carbide precursor is used, in the temperature range (1600 ° C. to 1800 ° C.) where the silicon carbide precursor undergoes a chemical reaction to produce silicon carbide. Preferably, the temperature is 0.1 ° C./min or more and 10 ° C./min or less.
Moreover, when there is much quantity of the volatile component from a silicon carbide precursor in a 1000 degrees C or less temperature range, it is preferable to perform preliminary baking once at the temperature of 1000 degrees C or less, and to remove a volatile component.

この焼成時の雰囲気は、炭化ケイ素が酸化されない雰囲気であることが必要であり、不活性雰囲気または還元性雰囲気である非酸化性雰囲気が好ましく、特にアルゴンガスまたは窒素ガスとすることが好ましい。
特に、炭化ケイ素前駆体を用いる場合、この炭化ケイ素前駆体からβ型炭化ケイ素微粒子が生成する際に発生する一酸化炭素を炉外へ排出して燃焼させ、無害化することが好ましい。
The atmosphere at the time of firing needs to be an atmosphere in which silicon carbide is not oxidized, and an inert atmosphere or a non-oxidizing atmosphere that is a reducing atmosphere is preferable, and argon gas or nitrogen gas is particularly preferable.
In particular, when a silicon carbide precursor is used, it is preferable to detoxify the carbon monoxide generated when the β-type silicon carbide fine particles are produced from the silicon carbide precursor by discharging it to the outside of the furnace.

この雰囲気における圧力の制御は、室温(25℃)から行ってもよく、β型からα型への相転移が始まる1800℃以上で行ってもよい。
例えば、炭化ケイ素前駆体を用いる場合、この炭化ケイ素前駆体が反応してβ型炭化ケイ素を生じさせる1800℃以上の温度から雰囲気圧力の制御を行うことが好ましい。
雰囲気圧力の制御は、少なくとも1800℃以上から始め、保持温度に達した後、この保持温度を保持し終わるまで行うことが好ましい。
なお、圧力は、昇温中および保持中共に、適宜変化させることができる。
Control of the pressure in this atmosphere may be performed from room temperature (25 ° C.), or may be performed at 1800 ° C. or higher at which the phase transition from β-type to α-type begins.
For example, when a silicon carbide precursor is used, it is preferable to control the atmospheric pressure from a temperature of 1800 ° C. or higher at which the silicon carbide precursor reacts to form β-type silicon carbide.
It is preferable to control the atmospheric pressure from at least 1800 ° C. or higher, after reaching the holding temperature, until the holding temperature is finished.
It should be noted that the pressure can be appropriately changed both during the temperature rise and during the holding.

この雰囲気の圧力については、大気圧よりも高い圧力、大気圧よりも低い圧力、のいずれかにより保持温度まで昇温してもよいが、雰囲気圧力を高くすると相転移温度が高くなるので、大きな粒子のα型炭化ケイ素粉体を得るためには、雰囲気圧力を高くすることが好ましい。
また、大気圧下にて相転移させるよりも小さな粒子のα型炭化ケイ素粉体を得る場合には、雰囲気圧力を大気圧よりも低くし、相転移温度を下げることが好ましい。
As for the pressure of this atmosphere, the temperature may be raised to the holding temperature by either a pressure higher than atmospheric pressure or a pressure lower than atmospheric pressure. However, if the atmospheric pressure is increased, the phase transition temperature becomes higher. In order to obtain α-type silicon carbide powder of particles, it is preferable to increase the atmospheric pressure.
In addition, when obtaining α-type silicon carbide powder having particles smaller than those undergoing phase transition under atmospheric pressure, it is preferable to lower the atmospheric pressure and lower the phase transition temperature.

保持温度については、上述した2000℃以上かつ2400℃以下の範囲の温度にて、適宜設定することができる。
β型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素へ相転移が生じる温度以上を保持温度としても良いが、保持温度を相転移温度以下とし、この保持温度に到達した時点では相転移が生じず、この保持温度を保ったまま雰囲気圧力を下げることで、相転移を開始させることが好ましい。
About holding | maintenance temperature, it can set suitably in the temperature of the range of 2000 degreeC or more and 2400 degrees C or less mentioned above.
The holding temperature may be higher than the temperature at which phase transition from β-type silicon carbide to α-type silicon carbide occurs, but when the holding temperature is made lower than the phase transition temperature and this holding temperature is reached, no phase transition occurs, and this holding temperature. It is preferable to start the phase transition by lowering the atmospheric pressure while maintaining.

この保持温度における雰囲気圧力は、温度と異なり、容器内全体にほぼ同時に加わるので、容器内のβ型炭化ケイ素全体を同時に相転移させることができ、より均一で大きな粒子系のα型炭化ケイ素粉体が得易くなる。
この相転移時の雰囲気圧力は、保持温度の保持開始時の圧力よりも低ければよく、特に制限は無いが、例えば、保持温度と同じ温度にて相転移する場合には、低い圧力ほど大きな粒子が得易くなり、炭化ケイ素に含まれる不純物を効率よく除去することができる。
Unlike the temperature, the atmospheric pressure at this holding temperature is applied almost simultaneously to the entire container, so that the entire β-type silicon carbide in the container can be phase-shifted at the same time. The body is easy to obtain.
The atmospheric pressure at the time of this phase transition is not particularly limited as long as it is lower than the pressure at the start of holding the holding temperature. For example, in the case of phase transition at the same temperature as the holding temperature, the smaller the pressure, the larger the particles Can be easily obtained, and impurities contained in silicon carbide can be efficiently removed.

この雰囲気圧力の制御に特に制限は無いが、保持温度の間、大気圧よりも高い圧力を保持する場合には、大気圧以上かつ10Pa以下とすることが好ましく、また、大気圧よりも低い圧力を保持する場合には、10Pa以上かつ大気圧以下とすることが好ましい。
ここで、雰囲気圧力の下限値を10Paとしたのは、雰囲気圧力が10Pa未満では、相転移時に装置外へ揮発する炭化ケイ素が増え、単結晶原料を得る収率が悪くなるからである。
There is no particular limitation on the control of the atmospheric pressure, but when the pressure higher than the atmospheric pressure is maintained during the holding temperature, the pressure is preferably set to be equal to or higher than atmospheric pressure and equal to or lower than 10 7 Pa. In the case where a low pressure is maintained, the pressure is preferably 10 2 Pa or more and atmospheric pressure or less.
Here, the lower limit value of the atmospheric pressure is set to 10 2 Pa because, if the atmospheric pressure is less than 10 2 Pa, silicon carbide that volatilizes outside the apparatus at the time of phase transition increases, and the yield for obtaining a single crystal raw material deteriorates. It is.

この相転移温度にてβ型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素へ相転移する際に、急激に粒成長する。さらに雰囲気圧力を制御することにより、相転移が生じる温度を制御し、炭化ケイ素単結晶の原料に適した粒子径の大きなα型炭化ケイ素粉体の粒径制御を行うことができる。
さらに、相転移する際の雰囲気圧力を制御することにより、効率よく不純物を除去することができる。
When the phase transition from β-type silicon carbide to α-type silicon carbide occurs at this phase transition temperature, grains grow rapidly. Furthermore, by controlling the atmospheric pressure, the temperature at which phase transition occurs can be controlled, and the particle size of the α-type silicon carbide powder having a large particle size suitable for the raw material of the silicon carbide single crystal can be controlled.
Furthermore, impurities can be efficiently removed by controlling the atmospheric pressure at the time of phase transition.

[炭化ケイ素単結晶]
本実施形態の炭化ケイ素単結晶は、本実施形態のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法により粒径が制御されたα型炭化ケイ素粉体を用いて結晶成長してなる炭化ケイ素単結晶である。
この炭化ケイ素単結晶は、不純物及び欠陥が少なくかつ均質である。
[Silicon carbide single crystal]
The silicon carbide single crystal of the present embodiment is a silicon carbide single crystal obtained by crystal growth using the α-type silicon carbide powder whose particle size is controlled by the particle size control method of the α-type silicon carbide powder of the present embodiment. It is.
This silicon carbide single crystal has few impurities and defects and is homogeneous.

以上説明したように、本実施形態のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法によれば、β型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を非酸化性の雰囲気中にて加熱してβ型炭化ケイ素をα型炭化ケイ素に相転移させる際に、この雰囲気の圧力を変化させてβ型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素への相転移温度を制御するので、生成するα型炭化ケイ素粉体の粒子径を炭化ケイ素単結晶の原料に適した100μm以上かつ300μm以下の粒子径に制御することができ、効率よく目的の粒子径を有するα型炭化ケイ素粉体を得ることができる。
また、β型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素に相転移する際の雰囲気の圧力を変化させるので、生成するα型炭化ケイ素粉体から不純物を除去することができる。
さらに、雰囲気の圧力を減圧すれば、効率よく不純物を除去することができる。
As described above, according to the particle size control method for α-type silicon carbide powder of the present embodiment, β-type silicon carbide is heated by heating β-type silicon carbide or a silicon carbide precursor in a non-oxidizing atmosphere. When the phase transition to α-type silicon carbide is performed, the pressure of this atmosphere is changed to control the phase transition temperature from β-type silicon carbide to α-type silicon carbide. Can be controlled to a particle size of 100 μm or more and 300 μm or less suitable for a raw material of silicon carbide single crystal, and α-type silicon carbide powder having a target particle size can be obtained efficiently.
Moreover, since the pressure of the atmosphere at the time of phase transition from β-type silicon carbide to α-type silicon carbide is changed, impurities can be removed from the generated α-type silicon carbide powder.
Furthermore, if the atmospheric pressure is reduced, impurities can be efficiently removed.

本実施形態の炭化ケイ素単結晶によれば、本実施形態のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法により粒径が制御されたα型炭化ケイ素粉体を用いて結晶成長したので、不純物及び欠陥が少なくかつ均質である。   According to the silicon carbide single crystal of this embodiment, since the crystal growth was performed using the α-type silicon carbide powder whose particle size was controlled by the particle size control method of the α-type silicon carbide powder of this embodiment, impurities and There are few defects and it is homogeneous.

以下、実施例及び比較例により本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例によって限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example and a comparative example demonstrate this invention concretely, this invention is not limited by these Examples.

「実施例1」
炭化ケイ素原料として、平均粒子径が1μm、金属不純物が1ppm以下のβ型の炭化ケイ素微粉体を用いた。
この炭化ケイ素微粉体を加圧成形して、成形体密度を1.3g/cmとした後、黒鉛製のルツボに充填した。
次いで、アルゴン雰囲気中にて熱処理を行える熱処理炉を用い、雰囲気圧力を10Paとして2100℃まで昇温して2時間保持した後、雰囲気圧力を10Paとして2時間保持し、実施例1の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は140μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
"Example 1"
As the silicon carbide raw material, β-type silicon carbide fine powder having an average particle diameter of 1 μm and metal impurities of 1 ppm or less was used.
The silicon carbide fine powder was pressure-molded to a compact density of 1.3 g / cm 3 and then filled into a graphite crucible.
Next, using a heat treatment furnace capable of performing heat treatment in an argon atmosphere, the temperature was raised to 2100 ° C. with an atmospheric pressure of 10 6 Pa and held for 2 hours, and then held for 2 hours with an atmospheric pressure of 10 4 Pa. Example 1 The silicon carbide powder was obtained.
The crystal phase of the silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 140 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「実施例2」
実施例1の保持温度を2100℃から2400℃に変更した以外は、実施例1に準じて実施例2の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は280μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
"Example 2"
A silicon carbide powder of Example 2 was obtained according to Example 1 except that the holding temperature of Example 1 was changed from 2100 ° C. to 2400 ° C.
The crystal phase of the silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 280 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「実施例3」
実施例1の保持温度を2100℃から2300℃に変更した以外は、実施例1に準じて実施例3の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は480μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
"Example 3"
A silicon carbide powder of Example 3 was obtained according to Example 1 except that the holding temperature of Example 1 was changed from 2100 ° C. to 2300 ° C.
The crystalline phase of the silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 480 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「実施例4」
実施例3にて2300℃にて2時間保持した後の雰囲気圧力を大気圧とした以外は、実施例3に準じて実施例4の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は278μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
Example 4
A silicon carbide powder of Example 4 was obtained according to Example 3 except that the atmospheric pressure after maintaining at 2300 ° C. for 2 hours in Example 3 was changed to atmospheric pressure.
The crystal phase of the silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 278 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「実施例5」
実施例1の雰囲気圧力を2×10Paとして2100℃まで昇温して2時間保持した後、雰囲気圧力を10Paとして2時間保持した以外は、実施例1に準じて実施例5の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は233μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
"Example 5"
The temperature of Example 1 was set to 2 × 10 5 Pa, raised to 2100 ° C. and held for 2 hours, and then maintained for 2 hours with the atmospheric pressure set to 10 3 Pa. A silicon carbide powder was obtained.
The crystal phase of this silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 233 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「実施例6」
実施例1の雰囲気圧力を大気圧のまま2000℃まで昇温して2時間保持した後、雰囲気圧力を10Paとして2時間保持した以外は、実施例1に準じて実施例6の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は147μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
"Example 6"
The silicon carbide of Example 6 according to Example 1 except that the atmospheric pressure in Example 1 was raised to 2000 ° C. while maintaining atmospheric pressure and maintained for 2 hours, and then maintained for 2 hours at 10 3 Pa. A powder was obtained.
The crystal phase of the silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 147 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「実施例7」
実施例1の雰囲気圧力を10Paとして2400℃まで昇温して2時間保持した後、雰囲気圧力を大気圧に戻して2時間保持した以外は、実施例1に準じて実施例7の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は560μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
"Example 7"
Carbonization of Example 7 according to Example 1 except that the atmospheric pressure in Example 1 was 10 7 Pa, the temperature was raised to 2400 ° C. and held for 2 hours, and then the atmospheric pressure was returned to atmospheric pressure and held for 2 hours. Silicon powder was obtained.
The crystal phase of the silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 560 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「比較例1」
実施例1にて雰囲気圧力の制御を行わず、雰囲気圧力を大気圧として2100℃にて4時間保持した以外は、実施例1に準じて比較例1の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型とβ型が混在していた。また、平均粒子径は41μmであり、粒子径の粒度分布曲線を見ると、80μmと7μmに2つのピークが認められた。
"Comparative Example 1"
The silicon carbide powder of Comparative Example 1 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the atmospheric pressure was not controlled in Example 1 and the atmospheric pressure was kept at atmospheric pressure at 2100 ° C. for 4 hours.
The crystal phase of this silicon carbide powder was a mixture of α type and β type. The average particle diameter was 41 μm, and when the particle size distribution curve of the particle diameter was observed, two peaks were observed at 80 μm and 7 μm.

「比較例2」
実施例3にて雰囲気圧力の制御を行わず、大気圧下、2300℃にて4時間保持した以外は、実施例3に準じて比較例2の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は80μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
"Comparative Example 2"
The silicon carbide powder of Comparative Example 2 was obtained in the same manner as in Example 3 except that the atmospheric pressure was not controlled in Example 3 and the atmospheric pressure was maintained at 2300 ° C. for 4 hours.
The crystal phase of this silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 80 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「比較例3」
実施例3にて雰囲気圧力の制御を行わず、大気圧下、2450℃にて4時間保持した以外は、実施例3に準じて比較例3の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は83μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
“Comparative Example 3”
A silicon carbide powder of Comparative Example 3 was obtained in the same manner as in Example 3 except that the atmospheric pressure was not controlled in Example 3 and maintained at 2450 ° C. under atmospheric pressure for 4 hours.
The crystal phase of the silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 83 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「比較例4」
実施例1にて雰囲気圧力を室温から5×10Paとし、2200℃にて4時間保持した以外は、実施例1に準じて比較例4の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はα型であり、平均粒子径は90μm、金属不純物は0.1ppm以下であった。
“Comparative Example 4”
A silicon carbide powder of Comparative Example 4 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the atmospheric pressure was changed from room temperature to 5 × 10 4 Pa in Example 1 and maintained at 2200 ° C. for 4 hours.
The crystal phase of this silicon carbide powder was α-type, the average particle size was 90 μm, and the metal impurities were 0.1 ppm or less.

「比較例5」
実施例1にて雰囲気圧力を室温から10Paとし、2200℃にて4時間保持した以外は、実施例1に準じて比較例5の炭化ケイ素粉体を得た。
この炭化ケイ素粉体の結晶相はβ型であり、平均粒子径は10μmであった。
“Comparative Example 5”
A silicon carbide powder of Comparative Example 5 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the atmospheric pressure was changed from room temperature to 10 6 Pa in Example 1 and maintained at 2200 ° C. for 4 hours.
The crystal phase of this silicon carbide powder was β-type, and the average particle size was 10 μm.

Claims (5)

β型炭化ケイ素または炭化ケイ素前駆体を非酸化性の雰囲気中にて加熱し、前記β型炭化ケイ素、または前記炭化ケイ素前駆体から生成するβ型炭化ケイ素をα型炭化ケイ素に相転移させて生成するα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法であって、
前記雰囲気の圧力を変化させてβ型炭化ケイ素からα型炭化ケイ素への相転移温度を制御し、平均粒子径が10μm以上のα型炭化ケイ素粉体を生成することを特徴とするα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法。
β-type silicon carbide or a silicon carbide precursor is heated in a non-oxidizing atmosphere, and the β-type silicon carbide or β-type silicon carbide produced from the silicon carbide precursor is phase-shifted to α-type silicon carbide. A method for controlling the particle size of α-type silicon carbide powder to be produced,
Α-type carbonization characterized in that the pressure of the atmosphere is changed to control the phase transition temperature from β-type silicon carbide to α-type silicon carbide to produce α-type silicon carbide powder having an average particle size of 10 μm or more. A method for controlling the particle size of silicon powder.
前記雰囲気の圧力を2×10Pa以上かつ10Pa以下の範囲で変化させることにより、前記相転移温度を2000℃以上かつ2400℃以下の範囲で制御することを特徴とする請求項1記載のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法。 2. The phase transition temperature is controlled in a range of 2000 ° C. to 2400 ° C. by changing the pressure of the atmosphere in a range of 2 × 10 5 Pa to 10 7 Pa. Particle diameter control method for α-type silicon carbide powder. 前記加熱により2000℃以上かつ2400℃以下の温度まで昇温させ、次いで、この温度を保持したまま雰囲気の圧力を低下させてβ型炭化ケイ素をα型炭化ケイ素に相転移させることを特徴とする請求項1または2記載のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法。   The temperature is raised to a temperature of 2000 ° C. or higher and 2400 ° C. or lower by the heating, and then the pressure of the atmosphere is lowered while maintaining this temperature to cause β-type silicon carbide to undergo phase transition to α-type silicon carbide. The method for controlling the particle size of the α-type silicon carbide powder according to claim 1 or 2. 生成する前記α型炭化ケイ素粉体の平均粒子径は100μm以上かつ300μm以下、かつ金属不純物の含有率は1ppm以下であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項記載のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法。   4. The α-type according to claim 1, wherein the α-type silicon carbide powder to be produced has an average particle size of 100 μm to 300 μm and a metal impurity content of 1 ppm or less. A method for controlling the particle size of silicon carbide powder. 請求項1ないし4のいずれか1項記載のα型炭化ケイ素粉体の粒径制御方法により粒径が制御されたα型炭化ケイ素粉体を用いて結晶成長してなることを特徴とする炭化ケイ素単結晶。   Carbonization characterized by crystal growth using α-type silicon carbide powder whose particle size is controlled by the particle size control method for α-type silicon carbide powder according to any one of claims 1 to 4. Silicon single crystal.
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102491333A (en) * 2011-12-08 2012-06-13 武汉科技大学 Silicon carbide powder and preparation method thereof
KR20140118459A (en) * 2013-03-29 2014-10-08 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder
KR20150000316A (en) * 2013-06-24 2015-01-02 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder
KR101525694B1 (en) * 2013-11-08 2015-06-03 오씨아이 주식회사 Silicon carbaide powder and method of producing silicon carbaide
KR20150095316A (en) * 2014-02-13 2015-08-21 엘지이노텍 주식회사 Method for manufacturing silicon carbide power
KR20150142245A (en) * 2014-06-11 2015-12-22 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
KR20150142246A (en) * 2014-06-11 2015-12-22 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
JP2016056088A (en) * 2014-09-09 2016-04-21 エスアイクリスタル アクチエンゲゼルシャフト SiC MASSIVE SINGLE CRYSTAL DOPED WITH VANADIUM AND SiC SUBSTRATE DOPED WITH VANADIUM
KR20160088606A (en) * 2015-01-16 2016-07-26 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder
KR20170017424A (en) * 2015-08-06 2017-02-15 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
KR20170068333A (en) * 2015-12-09 2017-06-19 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder and method of fabrication the same
US10059631B2 (en) 2016-11-15 2018-08-28 Industrial Technology Research Institute Micropowder and method for manufacturing the same
CN112744816A (en) * 2021-01-29 2021-05-04 芯璨半导体科技(山东)有限公司 Preparation method of silicon carbide powder for silicon carbide single crystal growth
CN113322509A (en) * 2021-05-27 2021-08-31 西安博尔新材料有限责任公司 Method for growing silicon carbide powder particles
KR102407043B1 (en) * 2022-03-04 2022-06-10 주식회사 에스티아이 Synthesis method of high-purity silicon carbide power
CN114908420A (en) * 2022-05-16 2022-08-16 哈尔滨晶彩材料科技有限公司 Preparation method of high-purity silicon carbide polycrystalline powder

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102491333A (en) * 2011-12-08 2012-06-13 武汉科技大学 Silicon carbide powder and preparation method thereof
KR20140118459A (en) * 2013-03-29 2014-10-08 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder
KR102154060B1 (en) * 2013-03-29 2020-09-09 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder
KR102082935B1 (en) * 2013-06-24 2020-02-28 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder
KR20150000316A (en) * 2013-06-24 2015-01-02 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder
KR101525694B1 (en) * 2013-11-08 2015-06-03 오씨아이 주식회사 Silicon carbaide powder and method of producing silicon carbaide
KR20150095316A (en) * 2014-02-13 2015-08-21 엘지이노텍 주식회사 Method for manufacturing silicon carbide power
KR102189128B1 (en) * 2014-02-13 2020-12-09 엘지이노텍 주식회사 Method for manufacturing silicon carbide power
KR20150142245A (en) * 2014-06-11 2015-12-22 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
KR20150142246A (en) * 2014-06-11 2015-12-22 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
KR102272432B1 (en) * 2014-06-11 2021-07-05 (주)에스테크 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
KR102272431B1 (en) * 2014-06-11 2021-07-02 (주)에스테크 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
JP2016056088A (en) * 2014-09-09 2016-04-21 エスアイクリスタル アクチエンゲゼルシャフト SiC MASSIVE SINGLE CRYSTAL DOPED WITH VANADIUM AND SiC SUBSTRATE DOPED WITH VANADIUM
KR20160088606A (en) * 2015-01-16 2016-07-26 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder
KR102318521B1 (en) * 2015-01-16 2021-10-28 (주)에스테크 Silicon carbide powder
KR102413929B1 (en) * 2015-08-06 2022-06-28 (주)에스테크 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
KR20170017424A (en) * 2015-08-06 2017-02-15 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder, method of fabrication the same and silicon carbide single crystal
KR20170068333A (en) * 2015-12-09 2017-06-19 엘지이노텍 주식회사 Silicon carbide powder and method of fabrication the same
KR102491236B1 (en) 2015-12-09 2023-01-25 (주)에스테크 Silicon carbide powder and method of fabrication the same
US10059631B2 (en) 2016-11-15 2018-08-28 Industrial Technology Research Institute Micropowder and method for manufacturing the same
US10214454B2 (en) 2016-11-15 2019-02-26 Industrial Technology Research Institute Structure of micropowder
CN112744816A (en) * 2021-01-29 2021-05-04 芯璨半导体科技(山东)有限公司 Preparation method of silicon carbide powder for silicon carbide single crystal growth
CN112744816B (en) * 2021-01-29 2023-02-28 北京利宝生科技有限公司 Preparation method of silicon carbide powder for silicon carbide single crystal growth
CN113322509A (en) * 2021-05-27 2021-08-31 西安博尔新材料有限责任公司 Method for growing silicon carbide powder particles
KR102407043B1 (en) * 2022-03-04 2022-06-10 주식회사 에스티아이 Synthesis method of high-purity silicon carbide power
WO2023167387A1 (en) * 2022-03-04 2023-09-07 주식회사 에스티아이 Method for synthesizing silicon carbide powder
CN114908420A (en) * 2022-05-16 2022-08-16 哈尔滨晶彩材料科技有限公司 Preparation method of high-purity silicon carbide polycrystalline powder
CN114908420B (en) * 2022-05-16 2023-08-22 哈尔滨晶彩材料科技有限公司 Preparation method of high-purity silicon carbide polycrystalline powder

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