JP2011096925A - Removing device and removing method of convex portion in semiconductor wafer - Google Patents
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Description
本発明は、半導体ウェハの凸部除去装置および除去方法に関する。 The present invention relates to an apparatus and method for removing a convex portion of a semiconductor wafer.
従来、半導体製造工程において、半導体ウェハ(以下、単にウェハという場合がある)を所定の形状、所定のサイズに切断して半導体チップに個片化し(ダイシング工程)、個片化したチップ同士の間隔を拡大してから(エキスパンド工程)、各チップをピックアップして基板にボンディングする(ボンディング工程)ことが行われている。このような各工程のうち、ダイシングされたチップをエキスパンドするエキスパンド装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載されたエキスパンド装置は、接着シートを介してリングフレームと一体化されたウェハを接着シート側から支持するとともに、ウェハに対して接着シートを外側に引き伸ばしてチップ間隔を拡大するチャックステージを備えて構成されている。 Conventionally, in a semiconductor manufacturing process, a semiconductor wafer (hereinafter sometimes simply referred to as a wafer) is cut into a predetermined shape and a predetermined size and separated into semiconductor chips (dicing process). After expanding (expanding process), each chip is picked up and bonded to the substrate (bonding process). Among these processes, an expanding apparatus that expands a diced chip has been proposed (see, for example, Patent Document 1). The expanding apparatus described in Patent Document 1 supports a wafer integrated with a ring frame via an adhesive sheet from the adhesive sheet side, and extends the adhesive sheet to the outside of the wafer to increase the chip interval. It is configured with a stage.
一方、半導体製造工程における前記ダイシングの工程において、半導体チップを薄型化するためにウェハの裏面を研削することが行われており、この研削工程において、ウェハの内側を外縁部よりも深く研削することで、外縁部よりも内側が薄く形成され、つまり厚さ方向に突出した環状の凸部を外縁部に有するとともに当該凸部で囲まれた内側に凹部を有する半導体ウェハが知られている(例えば、特許文献2参照)。 On the other hand, in the dicing process in the semiconductor manufacturing process, the back surface of the wafer is ground to reduce the thickness of the semiconductor chip. In this grinding process, the inside of the wafer is ground deeper than the outer edge portion. Thus, a semiconductor wafer is known in which the inner side is formed thinner than the outer edge part, that is, the outer edge part has an annular convex part protruding in the thickness direction and the inner part surrounded by the convex part has a concave part (for example, , See Patent Document 2).
ところで、特許文献2に記載されたような外縁部に凸部を有するウェハでは、ダイシング工程において凹部の厚みに合わせて切断されるために、凸部に対しては厚み方向に一部しか切断されず、凸部が環状に連続した状態で残るため、エキスパンド工程において接着シートを外側に引き伸ばしても、凸部が邪魔をしてエキスパンドできないという不都合がある。また、エキスパンド工程において接着シートを外側に引き伸ばした際に、凸部が割れてエキスパンドできる場合もあるが、凸部が均等に割れることは期待できず、不均等な割れ方をしてしまうことから、エキスパンドされたチップの間隔がばらついてしまい、正確にピックアップできずにボンディングに支障をきたすという問題も生じる。
By the way, in the wafer which has a convex part in the outer edge part as described in
本発明の目的は、外縁部に凸部を有するウェハであっても、この凸部を除去することで、後に行われるエキスパンド工程等で支障を来たさないようにできる半導体ウェハの凸部除去装置および除去方法を提供することにある。 An object of the present invention is to remove a convex portion of a semiconductor wafer that can prevent a hindrance in an expanding process performed later by removing the convex portion even if the wafer has a convex portion on an outer edge portion. It is to provide an apparatus and a removal method.
前記目的を達成するため、本発明の半導体ウェハの凸部除去装置は、厚さ方向の一方に突出した環状の凸部を外縁部に有するとともに当該凸部で囲まれた内側に凹部を有する半導体ウェハから前記凸部を除去する半導体ウェハの凸部除去装置であって、前記半導体ウェハの一方側にて前記凸部および前記凹部全域に貼付された接着シートを介して当該半導体ウェハを保持する保持手段を含み、前記保持手段は、前記凸部を支持する凸部支持手段と、前記凹部底面を保持する凹部支持手段と、前記凸部支持手段と凹部支持手段とを前記半導体ウェハの面に直交する方向に相対移動させて当該半導体ウェハから前記凸部を分離する移動手段とを備える、という構成を採用している。 In order to achieve the above object, a semiconductor wafer convex portion removing apparatus according to the present invention has an annular convex portion protruding to one side in a thickness direction at an outer edge portion and a semiconductor having a concave portion inside surrounded by the convex portion. A device for removing a convex portion of a semiconductor wafer that removes the convex portion from a wafer, wherein the semiconductor wafer is held on one side of the semiconductor wafer via an adhesive sheet affixed to the entire region of the convex portion and the concave portion. The holding means includes a convex portion supporting means for supporting the convex portion, a concave portion supporting means for holding the concave bottom surface, and the convex portion supporting means and the concave portion supporting means orthogonal to the surface of the semiconductor wafer. And a moving means for separating the convex portion from the semiconductor wafer by relative movement in the direction to be adopted.
この際、本発明の半導体ウェハの凸部除去装置は、前記凸部支持手段との間に前記凹部の底面領域を挟み込み、前記移動手段と同期駆動可能な押え手段を備えることが好ましい。
また、本発明の半導体ウェハの凸部除去装置では、前記分離した凸部を回収する回収手段を備えることが好ましい。
さらに、本発明の半導体ウェハの凸部除去装置では、前記接着シートは、エネルギー線硬化型の接着シートであって、前記凸部表面に貼付された接着シートに対向して当該接着シートにエネルギー線を照射するエネルギー線照射手段を備えることが好ましい。
At this time, it is preferable that the convex removing device for a semiconductor wafer of the present invention includes a pressing unit that sandwiches a bottom region of the concave between the convex supporting unit and can be driven synchronously with the moving unit.
In the semiconductor wafer convex portion removing apparatus of the present invention, it is preferable that a recovery means for recovering the separated convex portions is provided.
Furthermore, in the convex part removal apparatus for a semiconductor wafer according to the present invention, the adhesive sheet is an energy ray curable adhesive sheet, and is opposed to the adhesive sheet affixed to the convex part surface, and energy rays are applied to the adhesive sheet. It is preferable to include an energy beam irradiation means for irradiating
また、本発明の半導体ウェハの凸部除去方法は、厚さ方向の一方に突出した環状の凸部を外縁部に有するとともに当該凸部で囲まれた内側に凹部を有する半導体ウェハから前記凸部を除去する半導体ウェハの凸部除去方法であって、前記半導体ウェハの一方側にて前記凸部および前記凹部全域に貼付された接着シートを介して当該凸部を凸部支持手段で保持するとともに、前記接着シートを介して前記凹部底面を凹部支持手段で保持し、前記部支持手段と凹部支持手段とを前記半導体ウェハの面に直交する方向に相対移動させて当該半導体ウェハから前記凸部を分離することを特徴とする。 Further, the method for removing a convex portion of a semiconductor wafer according to the present invention includes an annular convex portion protruding in one of the thickness directions at an outer edge portion and the convex portion from a semiconductor wafer having a concave portion inside surrounded by the convex portion. A method for removing a convex portion of a semiconductor wafer, wherein the convex portion is held by a convex portion supporting means via an adhesive sheet affixed to the entire region of the convex portion and the concave portion on one side of the semiconductor wafer. The concave bottom surface is held by the concave portion supporting means via the adhesive sheet, and the convex portion is moved from the semiconductor wafer by relatively moving the portion supporting means and the concave portion supporting means in a direction perpendicular to the surface of the semiconductor wafer. It is characterized by separating.
以上のような本発明によれば、エキスパンド工程等に先立って凸部を取り除くことができるので、当該エキスパンド工程等で接着シートを引き伸ばした際に、凸部が邪魔になるようなことがなくなり、チップを適正な間隔でエキスパンドすることができる。しかも、半導体ウェハを保持する保持手段を構成する凸部支持手段と凹部支持手段とが、半導体ウェハの面に直交する方向に相対移動するだけで凸部と凹部とを分離することができるので、装置の簡略化と小型化が行える。
さらに、凸部支持手段との間に凹部の底面領域を挟み込んで移動手段と同期駆動可能な押え手段を採用すれば、確実に凹部底面を凸部に対して相対移動させることが可能となる。
また、接着シートがエネルギー線硬化型のシートの場合に、エネルギー線照射手段によって凸部表面に貼付された接着シートにエネルギー線を照射することで、凸部表面の接着シートを硬化させて凸部が剥離しやすくでき、容易かつ確実に凸部を除去することができる。
According to the present invention as described above, since the convex portion can be removed prior to the expanding step or the like, when the adhesive sheet is stretched in the expanding step or the like, the convex portion is not disturbed, Chips can be expanded at appropriate intervals. Moreover, since the convex portion supporting means and the concave portion supporting means constituting the holding means for holding the semiconductor wafer can be separated from the convex portion and the concave portion only by relatively moving in the direction orthogonal to the surface of the semiconductor wafer, The device can be simplified and downsized.
Furthermore, if the pressing means that can be driven synchronously with the moving means by sandwiching the bottom surface area of the concave portion between the convex portion supporting means and the convex portion supporting means, the concave bottom surface can be reliably moved relative to the convex portion.
When the adhesive sheet is an energy ray curable sheet, the adhesive sheet on the surface of the convex portion is cured by irradiating the adhesive sheet affixed to the surface of the convex portion with the energy ray irradiating means, so that the convex portion is cured. Can be easily peeled off, and the convex portion can be easily and reliably removed.
以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。
本実施形態に係る半導体ウェハの凸部除去装置1は、ウェハW外縁部に形成された凸部WAを除去する装置である。なお、対象となるウェハWは、例えば、前記特許文献2に記載されたように、外縁部以外の内周部が薄く研削されることで、厚さ方向(裏面側)に突出した環状の凸部WAが外縁部に形成され、凸部WAで囲まれた内側に凹部底面WBを有した凹部WCが形成されるとともに、その表面(研削面の反対側であり、図1の上側の面)WDに回路が形成されている。また、ウェハWは、ダイシングによって所定形状のチップに個片化されたものや、レーザによってストリートが脆弱に改質されたものや、ダイシングもレーザによる改質も行われていないものであってよい。そして、このウェハWの裏面には、凸部WAおよび凹部底面WB全域に接着シートであるマウント用テープTが貼付され、このマウント用テープTを介してリングフレームRFと一体化されている。このマウント用テープTは、紫外線等のエネルギー線によって硬化し、接着力が低下するエネルギー線硬化型の接着シートである。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
The semiconductor wafer convex portion removing apparatus 1 according to the present embodiment is an apparatus that removes the convex portion WA formed on the outer edge portion of the wafer W. Note that the target wafer W is, for example, as described in
凸部除去装置1は、マウント用テープTを介してウェハWを保持する保持手段2と、ウェハWを保持手段2側へ押さえ付ける押え手段7と、ウェハWから分離された凸部WAを回収する回収手段8とを備えて構成されている。
The convex removing device 1 collects the
保持手段2は、凸部WAの下方に対向してマウント用テープTを介して凸部WAを保持する凸部支持手段3と、ウェハWの凹部底面WBの下方に対向してマウント用テープTを介して凹部底面WBを保持する凹部支持手段4と、凸部支持手段3と凹部支持手段4とをウェハWの面に直交する方向に相対移動させてウェハWから凸部WAを分離する移動手段5とを有して形成されている。
The
凸部支持手段3は、上方に開口した円筒状の側面部21Aおよび底面部21Bからなる中央凹部21と、中央凹部21の外周に沿って上方に開口した凹溝部41と、凸部WAよりも外側に位置してリングフレームRFまで延びるマウント用テープTを保持する外側支持部61とを有する支持手段本体22により構成されている。凹溝部41の開口には、支持手段本体22の上面とフラットとなる状態で凸部WAの下方に対向するとともに、エネルギー線を透過可能なガラス板等からなる透過部材42が設けられている。そして、凹溝部41内部には、エネルギー線照射手段としての紫外線ランプ6が内蔵されており、この紫外線ランプ6が発光した紫外線が透過部材42を透過することで、凸部WAに貼付されたマウント用テープTを硬化させてその接着力を低下させるように構成されている。外側支持部61は、支持手段本体22の上面によって構成され、この上面には、マウント用テープTを介してリングフレームRFを吸着保持する複数の吸引口51が形成され、これら複数の吸引口51は、支持手段本体22内部に形成されたチャンバー52を介して図示しない吸引装置に接続されている。なお、支持手段本体22の内部には、中央凹部21の外周に沿って加熱手段としてのヒータHが設けられている。
The convex portion support means 3 includes a central
凹部支持手段4は、凹部底面WBの全域と略同一平面形状に形成されるとともに、中央凹部21に上下スライド案内される内側支持手段23を備え、内側支持手段23は、移動手段5を介して底面部21Bに支持され、移動手段5の動作によって図中上下方向に進退駆動されるようになっている。内側支持手段23の上面には、マウント用テープTを介して凹部底面WBを吸着保持する複数の吸引口31が形成され、これら複数の吸引口31は、内側支持手段23内部に形成されたチャンバー32を介して図示しない吸引装置に接続されている。
The recess support means 4 is formed in substantially the same plane shape as the entire area of the recess bottom surface WB, and includes an inner support means 23 that is slid vertically guided by the
移動手段5は、直動モータ34を備え、そのモータ本体34Aが底面部21Bに固定されるとともに、出力軸34Bが内側支持手段23の図1中下面に連結されている。これにより、支持手段本体22と内側支持手段23とをウェハWの凹部底面WBに直交する方向に相対移動させてウェハWから凸部WAを分離可能となっている。
The moving
押え手段7は、ウェハWの凹部底面WBの平面形状に合わせて円盤状に形成された支持体71と、この支持体71の図1中下面外周縁に沿って環状に形成されてウェハWの表面WDに当接可能な当接部材の72と、図示しないフレームに支持されて支持体71を図1中上下方向に昇降させる直動モータ73とを備えている。当接部材72は、特に限定されることはないが、ゴムや樹脂等の弾性部材によって構成され、凸部WAと凹部底面WBとの境界領域であって、凹部底面WBの反対側(表面WD)側に位置して内側支持手段23との間に凹部底面WB領域を挟み込み可能に設けられている。なお、当接部材72は、環状以外に凹部底面WBの平面形状に合わせて円盤状に形成してもよい。
The
回収手段8は、図1中下面側に接着剤層を有した除去用テープPTを凸部WAに貼付した後、この除去用テープPTを巻き取ることで凸部WAを除去するものであって、保持手段2の上方に図示しないフレームを介して支持されている。この回収手段8は、除去用テープPTをロール状に巻回した状態で支持するとともに、モータ81Aによって回転駆動可能な支持ローラ81と、保持手段2の上方の所定高さに除去用テープPTを案内する2つのガイドローラ82A,82Bと、図示しない駆動手段を介して保持手段2の上面に沿って図1中左右方向に転動可能な押圧ローラ83と、モータ84Aによって回転駆動されるとともに、押圧ローラ83から除去用テープPTを巻き取って回収する回収ローラ84とを有して構成されている。そして、回収手段8は、転動ローラ83が図1中右方向に転動するときに、除去用テープPTを凸部WAに押圧して貼付し、押圧ローラ83図1中左方向に転動するときに、除去用テープPTとともに当該除去用テープPTに接着した凸部WAをマウント用テープTから剥離し、回収するようになっている。
The recovery means 8 removes the convex portion WA by winding the removal tape PT after the removal tape PT having an adhesive layer on the lower surface side in FIG. It is supported above the holding means 2 via a frame (not shown). The collection means 8 supports the removal tape PT in a rolled state, and supports the removal tape PT at a predetermined height above the holding
以上の凸部除去装置1において、ウェハWの凸部WAを除去する手順としては、先ず、マウント用テープTを介してリングフレームRFと一体化されたウェハWを図示しない搬送手段によって搬送し、凹部支持手段4上に凹部WCを位置させるとともに、透過部材42上に凸部WAを位置させ、かつ外側支持部61上にリングフレームRFを位置させた状態で保持手段2上に載置する。次に、保持手段2は、図示しない吸引装置を駆動して複数の吸引口31,51から空気を吸引し、マウント用テープTを介して凹部支持手段4で凹部底面WBを吸着保持するとともに、外側支持部61で凸部WAよりも外側のマウント用テープTおよびリングフレームRFを吸着保持する。そして、紫外線ランプ6からの紫外線を凸部WA部分のマウント用テープTに照射して硬化させる。
In the above-described convex portion removing apparatus 1, as a procedure for removing the convex portion WA of the wafer W, first, the wafer W integrated with the ring frame RF is conveyed by a conveying means (not shown) via the mounting tape T, The concave portion WC is positioned on the concave portion support means 4, the convex portion WA is positioned on the
次に、図2に示すように、直動モータ73が駆動して当接部材72をウェハWの表面WDに当接させる。その後、複数の吸引口31,51で凹部底面WBおよびリングフレームRFを吸着保持したままで、直動モータ34と直動モータ73とを同期駆動して内側支持手段23を支持手段本体22に対して下降させる。すなわち、凹部支持手段4と凸部支持手段3とを上下に相対移動させることで、ウェハWから凸部WAが分離する。ウェハWから凸部WAを分離したら、図3に示すように、直動モータ73が駆動して当接部材72をウェハWの表面WDから離間させる。次いで、図3中二点鎖線で示すように、モータ84Aを駆動して回収ローラ84から除去用テープPTを繰り出しつつ、転動ローラ83を図中右方向に転動させて、当該除去用テープPTを凸部WAに押圧して貼付する。凸部WAの上面全体に除去用テープPTを貼付したら、モータ84Aを駆動して回収ローラ84で除去用テープPTを巻き取りつつ、押圧ローラ83を図中左方向に転動させて、凸部WAをマウント用テープTから剥離し、回収ローラ84に巻き取って回収する。凸部WAがマウント用テープTから剥離されると、ヒータHで加熱することによって、凸部WAが除去されたことによって段差のついたマウント用テープTをフラットにする。なお、凸部WAの回収が完了すると、モータ81Aと84Aとが共動して、次の凸部WAの回収に使用する未使用の除去用テープPTを支持ローラ81側から回収ローラ84側へ繰り出しておく動作が行われる。
Next, as shown in FIG. 2, the
一方、マウント用テープTおよびリングフレームRFとともに凹部支持手段4に残されたウェハW’は、リングフレームRFとともに図示しない搬送手段によってボンディング装置等に搬送されることとなる。 On the other hand, the wafer W ′ left in the recess supporting means 4 together with the mounting tape T and the ring frame RF is transferred to the bonding apparatus or the like by the transfer means (not shown) together with the ring frame RF.
以上のような本実施形態によれば、次のような効果がある。
すなわち、エキスパンド工程の前の段階で凸部WAを除去することができるので、このエキスパンド工程において凸部WAが邪魔になることがなく、各チップを適正な間隔でエキスパンドすることができ、所定位置にエキスパンドされたチップを確実にピックアップして効率よくボンディングを実施することができる。
According to this embodiment as described above, the following effects are obtained.
That is, since the convex portion WA can be removed at the stage before the expanding step, the convex portion WA does not get in the way in the expanding step, and each chip can be expanded at an appropriate interval, and the predetermined position It is possible to reliably pick up the expanded chip and perform bonding efficiently.
以上のように、本発明を実施するための最良の構成、方法等は、前記記載で開示されているが、本発明は、これに限定されるものではない。すなわち、本発明は、主に特定の実施形態に関して特に図示され、かつ説明されているが、本発明の技術的思想および目的の範囲から逸脱することなく、以上述べた実施形態に対し、形状、材質、数量、その他の詳細な構成において、当業者が様々な変形を加えることができるものである。また、上記に開示した形状、材質などを限定した記載は、本発明の理解を容易にするために例示的に記載したものであり、本発明を限定するものではないから、それらの形状、材質などの限定の一部もしくは全部の限定を外した部材の名称での記載は、本発明に含まれるものである。 As described above, the best configuration, method and the like for carrying out the present invention have been disclosed in the above description, but the present invention is not limited to this. That is, the invention has been illustrated and described with particular reference to certain specific embodiments, but without departing from the spirit and scope of the invention, Various modifications can be made by those skilled in the art in terms of material, quantity, and other detailed configurations. In addition, the description of the shape, material, and the like disclosed above is exemplary for ease of understanding of the present invention, and does not limit the present invention. The description by the name of the member which remove | excluded the limitation of one part or all of such restrictions is included in this invention.
例えば、前記実施形態では、凸部支持手段3に対して凹部支持手段4を下降させることで、これらを相対移動させてウェハWから凸部WAを分離するように構成したが、凹部支持手段4に対して凸部支持手段3を上昇させるようにしてもよい。さらに、凹部支持手段4を下降させるとともに凸部支持手段3を上昇させてもよい。すなわち、本発明では、凸部支持手段3と凹部支持手段4とをウェハWの面に直交する方向(実施形態では上下方向)に相対移動させるように移動手段が構成されていればよく、その条件を満足する範囲において、移動対象や移動方向は特に限定されず、移動手段として任意の構成が採用可能である。
For example, in the above-described embodiment, the concave
また、前記実施形態におけるエネルギー線照射手段としての紫外線ランプ6や押さえ手段7、回収手段8は、本発明の必須要件ではなく、省略することができる。また、回収手段8としては、前記実施形態のように除去用テープPTを用いて凸部WAを除去するものに限らず、吸着パッド等を用いて凸部WAを吸着保持して除去するものでもよいし、その他適宜な除去方法で除去して回収するものが利用可能である。また、エネルギー線照射手段を保持手段2に設けずに、別体として設けておき、ウェハWを保持手段2に載置する以前に凸部WAに対応したマウント用テープTにエネルギー線を照射するように構成してもよい。
さらに、前記実施形態では、保持手段2において、外側支持部61でマウント用テープTおよびリングフレームRFを吸着保持し、凸部支持手段3では吸着保持せずに下方から凸部WAを支持するのみとしたが、これに限らず、凸部支持手段3においても吸着保持するようにしてもよい。
また、ウェハWは、シリコンウエハや化合物ウェハであってもよい。
また、エネルギー線照射手段は、紫外線を照射するものに限らず、電子線など適宜なエネルギー線を照射して接着シートを硬化させるものであればよい。
Moreover, the
Further, in the above-described embodiment, the holding means 2 sucks and holds the mounting tape T and the ring frame RF with the
The wafer W may be a silicon wafer or a compound wafer.
Further, the energy beam irradiation means is not limited to the device that irradiates ultraviolet rays, and any device that irradiates an appropriate energy beam such as an electron beam to cure the adhesive sheet may be used.
1 凸部除去装置
2 保持手段
3 凸部支持手段
4 凹部支持手段
5 移動手段
6 紫外線ランプ(エネルギー線照射手段)
8 回収手段
T マウント用テープ(接着シート)
RF リングフレーム
W,W’ ウェハ(半導体ウェハ)
WA 凸部
WB 凹部底面
WC 凹部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Convex
8 Collecting means T Mounting tape (adhesive sheet)
RF ring frame W, W 'wafer (semiconductor wafer)
WA Convex WB Concave bottom WC Concave
Claims (5)
前記半導体ウェハの一方側にて前記凸部および前記凹部全域に貼付された接着シートを介して当該半導体ウェハを保持する保持手段を含み、
前記保持手段は、前記凸部を支持する凸部支持手段と、前記凹部底面を保持する凹部支持手段と、前記凸部支持手段と凹部支持手段とを前記半導体ウェハの面に直交する方向に相対移動させて当該半導体ウェハから前記凸部を分離する移動手段とを備えることを特徴とする半導体ウェハの凸部除去装置。 An apparatus for removing a convex portion of a semiconductor wafer having an annular convex portion protruding in one of the thickness directions at an outer edge portion and removing the convex portion from a semiconductor wafer having a concave portion on the inner side surrounded by the convex portion,
Including holding means for holding the semiconductor wafer via an adhesive sheet affixed to the entire convex portion and the concave portion on one side of the semiconductor wafer;
The holding means has a convex portion supporting means for supporting the convex portion, a concave portion supporting means for holding the concave bottom surface, and the convex portion supporting means and the concave portion supporting means in a direction perpendicular to the surface of the semiconductor wafer. A projection removing device for a semiconductor wafer, comprising: moving means for separating the projection from the semiconductor wafer.
前記凸部表面に貼付された接着シートに対向して当該接着シートにエネルギー線を照射するエネルギー線照射手段を備えることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の半導体ウェハの凸部除去装置。 The adhesive sheet is an energy ray curable adhesive sheet,
The semiconductor wafer according to any one of claims 1 to 3, further comprising energy beam irradiation means for irradiating the adhesive sheet with energy rays facing the adhesive sheet attached to the surface of the convex portion. Convex removal device.
前記半導体ウェハの一方側にて前記凸部および前記凹部全域に貼付された接着シートを介して当該凸部を凸部支持手段で保持するとともに、前記接着シートを介して前記凹部底面を凹部支持手段で保持し、
前記凸部支持手段と凹部支持手段とを前記半導体ウェハの面に直交する方向に相対移動させて当該半導体ウェハから前記凸部を分離することを特徴とする半導体ウェハの凸部除去方法。 A method for removing a convex portion of a semiconductor wafer having an annular convex portion protruding in one of the thickness directions at an outer edge portion and removing the convex portion from a semiconductor wafer having a concave portion inside surrounded by the convex portion,
The convex portion is held by the convex portion support means via the adhesive sheet affixed to the entire area of the convex portion and the concave portion on one side of the semiconductor wafer, and the concave portion bottom surface is supported by the concave portion via the adhesive sheet. Hold on,
A method for removing a convex portion of a semiconductor wafer, wherein the convex portion supporting means and the concave portion supporting means are relatively moved in a direction orthogonal to the surface of the semiconductor wafer to separate the convex portion from the semiconductor wafer.
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