JP2011059009A - 位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラム - Google Patents
位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011059009A JP2011059009A JP2009210730A JP2009210730A JP2011059009A JP 2011059009 A JP2011059009 A JP 2011059009A JP 2009210730 A JP2009210730 A JP 2009210730A JP 2009210730 A JP2009210730 A JP 2009210730A JP 2011059009 A JP2011059009 A JP 2011059009A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- position measurement
- measurement object
- reference point
- reference points
- dimensional
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
- G06T7/73—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
- G06T7/74—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods involving reference images or patches
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30204—Marker
Abstract
【課題】 位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラムを提供する。
【解決手段】 本位置計測システムは、4つの基準点a1,b1,c1,d1の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部を備えた位置計測対象物1と、位置計測対象物1を撮像する2次元撮像素子2を有する撮像装置3と、撮像装置3により撮像した位置計測対象物1の画像に基づいて4つの基準点a1,b1,c1,d1を算出し、算出した基準点に基づいて位置計測対象物1の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う演算装置4とを備える。
【選択図】図1
【解決手段】 本位置計測システムは、4つの基準点a1,b1,c1,d1の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部を備えた位置計測対象物1と、位置計測対象物1を撮像する2次元撮像素子2を有する撮像装置3と、撮像装置3により撮像した位置計測対象物1の画像に基づいて4つの基準点a1,b1,c1,d1を算出し、算出した基準点に基づいて位置計測対象物1の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う演算装置4とを備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラムに関する。
従来から物体の3次元位置を計測する手段として種々の技術が提案されている。例えば特許文献1には、3次元空間で物体の位置及び方向を決定するための技術が開示されている。この技術は、互いに距離及び幾何の既知な基準点が探され、基準点に関してその位置及び方向が知られている任意の点の位置または任意の線の方向が決定される。基準点にマーカーを配置し、コンピュータ装置を使って、マーカーの位置及びマーカーが固定された装置の方向を計算する。マーカーの位置を決定するための方法は、少なくとも一つのカメラでマーカーを写す工程と、マーカーのイメージを生成する工程と、マーカーの画素座標を探す工程と、画素座標からマーカーの位置を計算するべく基準データを使用する工程とから成る。また特許文献2には、対象物の平面上に互いの位置が特定されている3つの第1の基準点と、さらにその平面から一定距離だけ離れ、第1の基準点からの位置が特定されている第2の基準点を設け、これらの4つの基準点を撮影した2次元画像から、第1の基準点と第2の基準点の画像位置関係に基づいて対象物の3次元位置と3軸角度を演算する技術が開示されている。さらに特許文献3には、輝度レベルがX軸方向及びY軸方向へ次第に変化するようにグラデーション化された複数の領域からなる特殊マーカー画像を生成し、特殊マーカー画像の位置検出領域におけるX軸方向及びY軸方向の輝度レベル変化を検出し、その輝度レベル変化を用いて位置検出を行う技術が記載されている。
本発明の目的は、位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラムを提供することにある。
本発明は、上記目的を達成するために、以下の位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラムを提供する。
(1)平面上に規定される位置関係の分かっている4つ以上の基準点を有する物体と、前記基準点の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部とを備えた位置計測対象物。
(2)前記基準点が、前記幾何学的曲面と前記平面とで形成される各交線の交差する点に規定される上記(1)記載の位置計測対象物。
(3)前記濃淡模様部に隣接して、濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する別の濃淡模様部を備えるものであり、前記基準点が、前記両幾何学的曲面で形成される各交線の交差する点に規定される上記(1)記載の位置計測対象物。
(4)前記基準点が、前記幾何学的曲面の頂点に規定される上記(1)記載の位置計測対象物。
(5)前記濃淡模様部が、再帰反射部材を用いて構成される上記(1)〜(4)のいずれかに記載の位置計測対象物。
(6)前記濃淡模様部が、前記再帰反射部材を構成する複数の反射素子の大きさの大小によって形成される上記(5)記載の位置計測対象物。
(7)前記濃淡模様部が、前記再帰反射部材を構成する複数の反射素子の配置の疎密によって形成される上記(5)または(6)記載の位置計測対象物。
(8)上記(1)〜(7)のいずれかに記載の位置計測対象物と、前記位置計測対象物を撮像する2次元撮像素子を有する撮像装置と、前記撮像装置により撮像した前記位置計測対象物の画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出し、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う演算装置とを備えた位置計測システム。
(9)上記(1)〜(7)のいずれかに記載の位置計測対象物を2次元撮像素子を有する撮像装置により撮像した画像を入力する手段と、前記入力した画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出する手段と、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める手段とを備えた位置計測用演算装置。
(10)コンピュータに、上記(1)〜(7)のいずれかに記載の位置計測対象物を2次元撮像素子を有する撮像装置により撮像した画像を入力する手順、前記入力した画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出する手順、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める手順を実行させるためのプログラム。
(1)平面上に規定される位置関係の分かっている4つ以上の基準点を有する物体と、前記基準点の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部とを備えた位置計測対象物。
(2)前記基準点が、前記幾何学的曲面と前記平面とで形成される各交線の交差する点に規定される上記(1)記載の位置計測対象物。
(3)前記濃淡模様部に隣接して、濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する別の濃淡模様部を備えるものであり、前記基準点が、前記両幾何学的曲面で形成される各交線の交差する点に規定される上記(1)記載の位置計測対象物。
(4)前記基準点が、前記幾何学的曲面の頂点に規定される上記(1)記載の位置計測対象物。
(5)前記濃淡模様部が、再帰反射部材を用いて構成される上記(1)〜(4)のいずれかに記載の位置計測対象物。
(6)前記濃淡模様部が、前記再帰反射部材を構成する複数の反射素子の大きさの大小によって形成される上記(5)記載の位置計測対象物。
(7)前記濃淡模様部が、前記再帰反射部材を構成する複数の反射素子の配置の疎密によって形成される上記(5)または(6)記載の位置計測対象物。
(8)上記(1)〜(7)のいずれかに記載の位置計測対象物と、前記位置計測対象物を撮像する2次元撮像素子を有する撮像装置と、前記撮像装置により撮像した前記位置計測対象物の画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出し、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う演算装置とを備えた位置計測システム。
(9)上記(1)〜(7)のいずれかに記載の位置計測対象物を2次元撮像素子を有する撮像装置により撮像した画像を入力する手段と、前記入力した画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出する手段と、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める手段とを備えた位置計測用演算装置。
(10)コンピュータに、上記(1)〜(7)のいずれかに記載の位置計測対象物を2次元撮像素子を有する撮像装置により撮像した画像を入力する手順、前記入力した画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出する手順、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める手順を実行させるためのプログラム。
請求項1に記載の位置計測対象物によれば、位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる。
請求項2に記載の位置計測対象物によれば、濃淡模様部の濃淡度を利用して位置計測用の基準点を求めることができる。
請求項3に記載の位置計測対象物によれば、濃淡模様部の濃淡度を利用して位置計測用の基準点を求めることができる。
請求項4に記載の位置計測対象物によれば、濃淡模様部の濃淡度を利用して位置計測用の基準点を求めることができる。
請求項5に記載の位置計測対象物によれば、光が弱い場合でも基準点の求めることができる。
請求項6に記載の位置計測対象物によれば、再帰反射部材を用いて濃淡模様部を形成することができる。
請求項7に記載の位置計測対象物によれば、再帰反射部材を用いて濃淡模様部の形成することができる。
請求項8に記載の位置計測システムによれば、位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる。
請求項9に記載の位置計測用演算装置によれば、位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる。
請求項10に記載のプログラムによれば、位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる。
請求項2に記載の位置計測対象物によれば、濃淡模様部の濃淡度を利用して位置計測用の基準点を求めることができる。
請求項3に記載の位置計測対象物によれば、濃淡模様部の濃淡度を利用して位置計測用の基準点を求めることができる。
請求項4に記載の位置計測対象物によれば、濃淡模様部の濃淡度を利用して位置計測用の基準点を求めることができる。
請求項5に記載の位置計測対象物によれば、光が弱い場合でも基準点の求めることができる。
請求項6に記載の位置計測対象物によれば、再帰反射部材を用いて濃淡模様部を形成することができる。
請求項7に記載の位置計測対象物によれば、再帰反射部材を用いて濃淡模様部の形成することができる。
請求項8に記載の位置計測システムによれば、位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる。
請求項9に記載の位置計測用演算装置によれば、位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる。
請求項10に記載のプログラムによれば、位置計測用の基準点を、本構成を有しないものに比べ高精度に求めることができる。
図1は、本発明に係る位置計測システムの一実施例を示す図である。本システムは、図示のように、4つの基準点a1,b1,c1,d1の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部を備えた位置計測対象物1と、位置計測対象物1を撮像する2次元撮像素子2を有する撮像装置3と、撮像装置3により撮像した位置計測対象物1の画像に基づいて4つの基準点a1,b1,c1,d1を算出し、算出した基準点に基づいて位置計測対象物1の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う演算装置4とを備える。基準点a1,b1,c1,d1は、位置計測対象物1の3次元位置を計測するための計測用マーカーの役目を有する。
ここで、撮像装置3は、例えばCCDやCMOSセンサ等の2次元撮像素子2を搭載したデジタルカメラが用いられるが、これに限定されない。演算装置4は、撮像装置3の図示しない通信手段と有線あるいは無線で接続され、撮像装置3と通信できるように構成される。演算装置4は、例えばパーソナルコンピュータ(PC)等のコンピュータが用いられるが、これに限定されない。なお、図1の例では、基準点は4つとしたが5つ以上でもよい。以下の例でも同様である。位置計測対象物1の構成について以下詳述する。撮像画像による基準点の算出方法、および対象物の3次元位置や角度の演算方法については後述する。
図2(a)は、本発明に係る位置計測対象物の一実施例を示す図、(b)は(a)のX−Yで示す経路の濃淡度を示す図、(c)は撮像画像の画像位置と濃淡度を示す図である。図2(a)に示すように、位置計測対象物1は、平面上に規定される位置関係の分かっている4つ以上の基準点a1,b1,c1,d1を有する物体5と、基準点の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部21〜24とを備える。物体5としてはカードや基板等の板状のものを用いることができるが、これに限定されない。ここで、幾何学的曲面は、曲面の特殊な場合として平面を含む。本例では、図2(b)に示すように、各濃淡模様部21〜24では濃淡度に関し平面25を形成する。これにより、各濃淡模様部の平面25と物体5の平面26とで複数の交線27が形成される。ここで交線はその延長線も含む。以下の例でも同様である。各交線27の交差する点に位置計測用の基準点a1,b1,c1,d1が規定される。このようする理由を以下説明する。
位置計測用の基準点を規定するには、例えばパターンカードなどの対象物をカメラで撮像して特徴点を抽出し、これを基準点とすることが考えられる。この特徴点の抽出においては、例えば対象物の角や円の中心、あるいは直線や曲線の交点などが利用される。図3(a)はこの場合の一例を示す図、(b)は(a)のX−Yで示す経路の濃淡度を示す図である。図3の例では、直線31〜34の交点に基準点a1,b1,c1,d1が規定される。この方法では画像のエッジ情報が利用される。エッジ情報は画像レベルの強度が急峻に変化する場所であり、画像ノイズの影響を受けやすい。また、エッジ情報は線分情報であるので、情報量が少ない。そこで、図2に示すように、対象物に濃淡情報をもたせ、画素位置x、y軸と濃淡度z軸の3次元座標軸において、濃淡度に関し曲面(平面を含む)を形成し、この画像全体の情報を利用して特徴点を抽出し、これを位置計測用の基準点とする。画像平面あるいは画像曲面全体では情報量が多いので、これを利用するものである。以下、撮像画像による基準点の算出方法の一例を説明する。
図2に戻って説明する。図2(c)において、複数の黒丸はそれぞれ撮像画像の画素28を示し、各画素28は画素位置x,yおよび濃淡度zの3次元座標で表わされる。撮像画像から得られる平面25は、各画素28の3次元位置情報から得られる。基準点a1,b1,c1,d1の算出は、例えば次のようにして行うことができるが、これに限定されず、他の方法を用いてもよい。いま平面25に注目する。平面の方程式は、a,b,cを係数とすると
ax+by+cz=1
となる。平面に属する画像において、各画素の画素位置(xi,yi)と濃淡度ziを用いて、上記の平面方程式の係数を決定する。
axi+byi+czi=1
i=1〜Nの画像データを用いた場合、
[a b c]・Mi=1
ax+by+cz=1
となる。平面に属する画像において、各画素の画素位置(xi,yi)と濃淡度ziを用いて、上記の平面方程式の係数を決定する。
axi+byi+czi=1
i=1〜Nの画像データを用いた場合、
[a b c]・Mi=1
[a b c] ・Mi・Mi-1 =1・Mi-1 (Mi-1 はMiの逆行列)
[a b c]=Mi-1
となり、最小二乗法的に係数a,b,cを求めることができる。ここで求めた平面25と物体5の平面26との交線27を求める。各交線27が交差する点を位置計測用の基準点a1,b1,c1,d1として算出する。これは平面の計算例であるが、球面等の曲面であっても同様に算出することができる。この算出した基準点に基づいて対象物の3次元位置や角度を演算する。この演算方法については後述する。
[a b c]=Mi-1
となり、最小二乗法的に係数a,b,cを求めることができる。ここで求めた平面25と物体5の平面26との交線27を求める。各交線27が交差する点を位置計測用の基準点a1,b1,c1,d1として算出する。これは平面の計算例であるが、球面等の曲面であっても同様に算出することができる。この算出した基準点に基づいて対象物の3次元位置や角度を演算する。この演算方法については後述する。
図4は、図1の演算装置の構成例を示すブロック図である。演算装置4は、位置計測対象物1を2次元撮像素子2を有する撮像装置3により撮像した画像を入力する入力部41と、入力した画像に基づいて位置計測用の4つ以上の基準点を算出し、算出した基準点に基づいて位置計測対象物1の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う演算部(CPU)42と、演算した位置計測対象物1の3次元位置および角度の少なくとも一方を例えばモニタ等の表示装置に出力する出力部43とを備える。
演算部42には記憶部44が接続され、両者間で情報の授受が行われる。記憶部44には、4つの基準点a1,b1,c1,d1の位置情報を格納したテーブルが用意されている。演算部42は、記憶部44から格納された基準点の位置情報を取得するとともに、撮像画像に基づいて算出した基準点に基づいて対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う。なお、記憶部44は演算部42で実行されるプログラムやそこで用いられる各種情報を格納するものであり、内部メモリとして構成することができるが、これに限定されず、外部に接続した記憶装置でもよい。
以上の手順は、コンピュータに次のプログラムを実行させることで実施することができる。図5はコンピュータにより実行される手順の一例を示すフロー図である。すなわち、このプログラムは、コンピュータに、位置計測対象物1を2次元撮像素子2を有する撮像装置3により撮像した画像を入力する手順(ステップ51)、入力した画像に基づいて位置計測用の4つ以上の基準点を算出する手順(ステップ52)、算出した基準点に基づいて位置計測対象物1の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める手順(ステップ53)を実行させるものである。本例では、プログラムを演算装置の記憶部に格納した実施形態として説明したが、このプログラムをCDROM等の記憶媒体に格納して又は通信手段によって提供することも可能である。以下、対象物の3次元位置の演算方法の一例について述べる。
図6は、4つの基準点を有する物体の3次元位置の演算方法の一例を説明するための図である。本例では、4つの基準点が例えば正方形の角に規定され、そのうちの3つの基準点の組み合わせを2つ考える。そして、各々の3点を用いて、以下の計算から2つの解を導出する。その2つの解の内一つは基準点が同じ値を示すので、それを正解とする。これにより、対象物の位置と角度を決定することができる。
まず、図6において、基準点a1,b1,c1の画像面(カメラの2次元撮像素子面)10上の画像位置k1,k2,k3とカメラの光学中心20との関係から、カメラ座標系における基準点位置の方向ベクトルDi(i=1,2,3)を算出する。Diは規格化した単位ベクトルとする。
基準点a1,b1,c1の空間の位置ベクトルをp1,p2,p3とすると、これらはDiの延長線上に存在するので、その係数をt1,t2,t3として、
p1=t1・D1
p2=t2・D2 式1
p3=t3・D3
で表すことができる。
p1=t1・D1
p2=t2・D2 式1
p3=t3・D3
で表すことができる。
三角形の形状は最初からわかっており、その長さを各々
p1p2=L1
p2p3=L2 式2
p3p1=L3
とすると次式が得られる。式中「^」は累乗を表す。
(t1x1-t2x2)^2+(t1y1-t2y2)^2+(t1z1-t2z2)^2=L1^2
(t2x2-t3x3)^2+(t2y2-t3y3)^2+(t2z2-t3z3)^2=L2^2 式3
(t3x3-t1x1)^2+(t3y3-t1y1)^2+(t3z3-t1z1)^2=L3^2
p1p2=L1
p2p3=L2 式2
p3p1=L3
とすると次式が得られる。式中「^」は累乗を表す。
(t1x1-t2x2)^2+(t1y1-t2y2)^2+(t1z1-t2z2)^2=L1^2
(t2x2-t3x3)^2+(t2y2-t3y3)^2+(t2z2-t3z3)^2=L2^2 式3
(t3x3-t1x1)^2+(t3y3-t1y1)^2+(t3z3-t1z1)^2=L3^2
整理すると
t1^2-2t1t2(x1x2+y1y2+z1z2)+t2^2-L1^2=0
t2^2-2t2t3(x2x3+y2y3+z2z3)+t3^2-L2^2=0 式4
t3^2-2t3t1(x3x1+y3y1+z3z1)+t1^2-L3^2=0
が得られ、次式となる。式中「sqrt」は平方根を表す。
t1=A1・t2±sqrt((A1^2-1)・t2^2+L1^2)
t2=A2・t3±sqrt((A2^2-1)・t3^2+L2^2) 式5
t3=A3・t1±sqrt((A3^2-1)・t1^2+L3^2)
ここで、A1,A2,A3は次式のとおりである。
A1=x1x2+y1y2+z1z2
A2=x2x3+y2y3+z2z3 式6
A3=x3x1+y3y1+z3z1
t1^2-2t1t2(x1x2+y1y2+z1z2)+t2^2-L1^2=0
t2^2-2t2t3(x2x3+y2y3+z2z3)+t3^2-L2^2=0 式4
t3^2-2t3t1(x3x1+y3y1+z3z1)+t1^2-L3^2=0
が得られ、次式となる。式中「sqrt」は平方根を表す。
t1=A1・t2±sqrt((A1^2-1)・t2^2+L1^2)
t2=A2・t3±sqrt((A2^2-1)・t3^2+L2^2) 式5
t3=A3・t1±sqrt((A3^2-1)・t1^2+L3^2)
ここで、A1,A2,A3は次式のとおりである。
A1=x1x2+y1y2+z1z2
A2=x2x3+y2y3+z2z3 式6
A3=x3x1+y3y1+z3z1
実数解を持つために、式5の平方根の中が正になる。
t1≦ sqrt(L3^2/(1-A3^2))
t2≦ sqrt(L1^2/(1-A1^2)) 式7
t3≦ sqrt(L2^2/(1-A2^2))
t1≦ sqrt(L3^2/(1-A3^2))
t2≦ sqrt(L1^2/(1-A1^2)) 式7
t3≦ sqrt(L2^2/(1-A2^2))
この条件を満たす実数t1、t2、t3を順次、式5に代入し、式5が成立するすべてのt1,t2,t3を算出する。次に上記の式1からp1,p2,p3を、すなわち、基準点の3次元位置を算出する。基準点が3つの場合には2つの解ができるが、本例の場合は基準点が4つあるので、他の3つの基準点、例えばa1,b1,d1について上記と同様の計算を行い別の2つの解を導出する。その2つの解の内一つは基準点位置が同じ値を示すので、それを正解とする。4つを超える基準点がある場合も同様である。このようにして対象物の3次元位置を決定することができる。対象物の角度は、その3次元位置から対象物の向く方向として求めることができる。対象物の3次元位置の算出方法は上記に限定されず、別の方法で行ってもよい。
図7(a)は、本発明に係る位置計測対象物の他の実施例を示す図、(b)は(a)のX−Yで示す経路の濃淡度を示す図である。図7(a)に示すように、本例の位置計測対象物1は、平面上に規定される位置関係の分かっている4つ以上の基準点a1,b1,c1,d1を有する物体5と、基準点の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部21〜24とを備える。さらに本例では、濃淡模様部21〜24に隣接して、濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する別の濃淡模様部71〜74を備える。これにより、幾何学的曲面21〜24とこれに隣接する幾何学的曲面71〜74とで複数の交線77が形成され、各交線77の交差する点に位置計測用の基準点a1,b1,c1,d1が規定される。位置計測対象物1の3次元位置や角度の演算は、この基準点をもとに行われる。
図8(a)は、本発明に係る位置計測対象物のさらに他の実施例を示す図、(b)は(a)のX−Yで示す経路の濃淡度を示す図である。図8(a)に示すように、本例の位置計測対象物1は、平面上に規定される位置関係の分かっている4つ以上の基準点a1,b1,c1,d1を有する物体5と、基準点の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部81〜84とを備える。本例では、濃淡模様部81〜84の形成する幾何学的曲面は、図8(b)に示すように、円錐面85である。基準点a1,b1,c1,d1は、円錐面85の頂点に規定される。位置計測対象物1の3次元位置や角度の演算は、この基準点をもとに行われる。
図9(a)は、本発明に係る位置計測対象物のさらに他の実施例を示す図、(b)は(a)のX−Yで示す経路の濃淡度を示す図である。図9(a)に示すように、本例の位置計測対象物1は、平面上に規定される位置関係の分かっている4つ以上の基準点a1,b1,c1,d1,e1を有する物体5と、基準点の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部91〜95とを備える。本例では、濃淡模様部91〜95の形成する幾何学的曲面は、図9(b)に示すように、回転楕円面96である。基準点a1,b1,c1,d1,e1は、回転楕円面96の頂点に規定される。位置計測対象物1の3次元位置や角度の演算は、この基準点をもとに行われる。本例の物体5の平面97は、図9(b)に示すように、濃淡度が回転楕円面96の頂点と同じである。本例では、濃淡模様部91〜95の幾何学的曲面を回転楕円面96としたが、これに限定されず、例えば球面等でもよい。
図10は、本発明に係る位置計測対象物のさらに他の実施例を示す図である。本例の位置計測対象物1は、基本構成としては図2(a)に示すものと同様であるが、濃淡模様部101〜104が再帰反射部材を用いて構成されたものである点で異なる。再帰反射部材は、入射した光が再び入射した方向へ反射される構造を有するものであり、例えば凹型コーナーキューブ等が挙げられるが、これに限定されない。本例では、濃淡模様部101〜104が、再帰反射部材を構成する複数の反射素子(図中白抜き四角形)の大きさの大小、およびその配置の疎密により形成されているが、これに限定されず、反射素子の大きさの大小およびその配置の疎密のうちのどちらか一方で構成してもよい。本例では、図2(b)に示すものと同様に、各濃淡模様部101〜104(反射素子は実際には図示のものより細かくかつ高密度に配置される)が濃淡度に関し平面を形成する。これにより、各濃淡模様部の平面と物体5の平面とで複数の交線が形成され、各交線の交差する点に位置計測用の基準点a1,b1,c1,d1が規定される。位置計測対象物1の3次元位置や角度の演算は、この基準点をもとに行われる。
図11は、本発明に係る位置計測対象物のさらに他の実施例を示す図である。本例の位置計測対象物1は、基本構成としては図9(a)に示すものと同様であるが、濃淡模様部111〜115が再帰反射部材を用いて構成されたものである点で異なる。本例では、濃淡模様部111〜115が、再帰反射部材を構成する複数の反射素子(図中白抜き四角形)の大きさの大小、およびその配置の疎密により形成されているが、これに限定されず、反射素子の大きさの大小およびその配置の疎密のうちのどちらか一方で構成してもよい。本例では、図9(b)に示すものと同様に、各濃淡模様部111〜115(反射素子は実際には図示のものより細かくかつ高密度に配置される)が濃淡度に関し回転楕円面を形成する。基準点a1,b1,c1,d1,e1は、この回転楕円面の頂点に規定される。位置計測対象物1の3次元位置や角度の演算は、この基準点をもとに行われる。
図12(a),(b)は、本発明に係る位置計測対象物のさらに他の実施例を示す図である。本例の位置計測対象物1は、カメラのレンズ歪み補正に使用するチェッカーボードとして用いるものである。図12(a)の例では、物体5上に複数の濃淡模様部121を有する。濃淡模様部121は、上述の図2(a)に示すような濃淡度に関し平面を形成する複数の濃淡模様部を備える。本例では、上述の図2(b)に示す場合と同様に、各濃淡模様部121の平面と物体5の平面とで複数の交線が形成され、各交線の交差する点に複数の基準点122が規定される。実際の基準点122の位置と撮像画像における基準点122の位置との対応をとることでレンズの歪み補正が可能となる。図12(b)の例では、物体5上に複数の濃淡模様部123を有する。濃淡模様部123の形成する幾何学的曲面は、上述の図9(a)に示すような回転楕円面である。基準点124は、各濃淡模様部123の回転楕円面の頂点に規定される。実際の基準点124の位置と撮像画像における基準点124の位置との対応をとることでレンズの歪み補正が可能となる。各濃淡模様部121,123の配置を図示のものより高密度にすることでレンズの歪み補正効果は向上する。
1 位置計測対象物
2 2次元撮像素子
3 撮像装置
4 演算装置
5 物体
21〜24 濃淡模様部
25,26 平面
27 交線
28 画素
2 2次元撮像素子
3 撮像装置
4 演算装置
5 物体
21〜24 濃淡模様部
25,26 平面
27 交線
28 画素
Claims (10)
- 平面上に規定される位置関係の分かっている4つ以上の基準点を有する物体と、前記基準点の規定に用いる濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する複数の濃淡模様部とを備えた位置計測対象物。
- 前記基準点が、前記幾何学的曲面と前記平面とで形成される各交線の交差する点に規定される請求項1記載の位置計測対象物。
- 前記濃淡模様部に隣接して、濃淡度に関し幾何学的曲面を形成する別の濃淡模様部を備えるものであり、前記基準点が、前記両幾何学的曲面で形成される各交線の交差する点に規定される請求項1記載の位置計測対象物。
- 前記基準点が、前記幾何学的曲面の頂点に規定される請求項1記載の位置計測対象物。
- 前記濃淡模様部が、再帰反射部材を用いて構成される請求項1〜4のいずれかに記載の位置計測対象物。
- 前記濃淡模様部が、前記再帰反射部材を構成する複数の反射素子の大きさの大小によって形成される請求項5記載の位置計測対象物。
- 前記濃淡模様部が、前記再帰反射部材を構成する複数の反射素子の配置の疎密によって形成される請求項5または6記載の位置計測対象物。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の位置計測対象物と、前記位置計測対象物を撮像する2次元撮像素子を有する撮像装置と、前記撮像装置により撮像した前記位置計測対象物の画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出し、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う演算装置とを備えた位置計測システム。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の位置計測対象物を2次元撮像素子を有する撮像装置により撮像した画像を入力する手段と、前記入力した画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出する手段と、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める手段とを備えた位置計測用演算装置。
- コンピュータに、請求項1〜7のいずれかに記載の位置計測対象物を2次元撮像素子を有する撮像装置により撮像した画像を入力する手順、前記入力した画像に基づいて前記4つ以上の基準点を算出する手順、前記算出した基準点に基づいて前記位置計測対象物の3次元位置および角度の少なくとも一方を求める手順を実行させるためのプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009210730A JP2011059009A (ja) | 2009-09-11 | 2009-09-11 | 位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラム |
US12/749,813 US20110063435A1 (en) | 2009-09-11 | 2010-03-30 | Position measuring target, position measurement system, calculation device for position measurement and computer-readable medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009210730A JP2011059009A (ja) | 2009-09-11 | 2009-09-11 | 位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011059009A true JP2011059009A (ja) | 2011-03-24 |
Family
ID=43730153
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009210730A Pending JP2011059009A (ja) | 2009-09-11 | 2009-09-11 | 位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20110063435A1 (ja) |
JP (1) | JP2011059009A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5948731B2 (ja) * | 2011-04-19 | 2016-07-06 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像処理装置、画像処理システム及びプログラム |
US9160979B1 (en) * | 2011-05-27 | 2015-10-13 | Trimble Navigation Limited | Determining camera position for a photograph having a displaced center of projection |
US11244474B1 (en) * | 2020-10-01 | 2022-02-08 | Kla Corporation | Sample positioning system and method |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7302093B2 (en) * | 2002-03-26 | 2007-11-27 | Hunter Engineering Company | Color vision vehicle wheel alignment system |
US8300928B2 (en) * | 2008-01-25 | 2012-10-30 | Intermec Ip Corp. | System and method for locating a target region in an image |
-
2009
- 2009-09-11 JP JP2009210730A patent/JP2011059009A/ja active Pending
-
2010
- 2010-03-30 US US12/749,813 patent/US20110063435A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110063435A1 (en) | 2011-03-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6967715B2 (ja) | カメラ校正方法、カメラ校正プログラム及びカメラ校正装置 | |
JP6975929B2 (ja) | カメラ校正方法、カメラ校正プログラム及びカメラ校正装置 | |
JP5746477B2 (ja) | モデル生成装置、3次元計測装置、それらの制御方法及びプログラム | |
JP5548482B2 (ja) | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体 | |
US8170329B2 (en) | Position measuring system, position measuring method and computer readable medium | |
US9591280B2 (en) | Image processing apparatus, image processing method, and computer-readable recording medium | |
JP6067175B2 (ja) | 位置測定装置及び位置測定方法 | |
KR20160116075A (ko) | 카메라로부터 획득한 영상에 대한 자동보정기능을 구비한 영상처리장치 및 그 방법 | |
JP2008116373A (ja) | 位置姿勢計測方法及び装置 | |
JP5633058B1 (ja) | 3次元計測装置及び3次元計測方法 | |
US20150134303A1 (en) | Three-dimensional scanning system and method with hole-filling function for point cloud using contact probe | |
Kunz et al. | Hemispherical refraction and camera calibration in underwater vision | |
WO2010004466A1 (en) | Three dimensional mesh modeling | |
JP7218435B2 (ja) | キャリブレーション装置、キャリブレーション用チャート、およびキャリブレーション方法 | |
TWI647443B (zh) | 裂縫分析設備及方法 | |
JP5833507B2 (ja) | 画像処理装置 | |
JP2010276433A (ja) | 撮像装置、画像処理装置及び距離計測装置 | |
Sun et al. | A fast underwater calibration method based on vanishing point optimization of two orthogonal parallel lines | |
JP2011059009A (ja) | 位置計測対象物、位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラム | |
JP4548228B2 (ja) | 画像データ作成方法 | |
CN116402904A (zh) | 一种基于激光雷达间和单目相机的联合标定方法 | |
JP6906177B2 (ja) | 交点検出装置、カメラ校正システム、交点検出方法、カメラ校正方法、プログラムおよび記録媒体 | |
CN115701871A (zh) | 一种点云融合的方法、装置、三维扫描设备及存储介质 | |
JP2010216969A (ja) | 位置計測システム、プログラム、標識セットおよび位置計測用の対象物 | |
CN111179347B (zh) | 基于区域性特征的定位方法、定位设备及存储介质 |