JP2011044111A - ソフトウェアのテスト方法及びプログラム - Google Patents
ソフトウェアのテスト方法及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011044111A JP2011044111A JP2009193500A JP2009193500A JP2011044111A JP 2011044111 A JP2011044111 A JP 2011044111A JP 2009193500 A JP2009193500 A JP 2009193500A JP 2009193500 A JP2009193500 A JP 2009193500A JP 2011044111 A JP2011044111 A JP 2011044111A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- category
- weighting
- software
- test
- verification
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
【解決手段】テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル25を設けた。CPUは、各カテゴリにおいて、基準重み付け比率の上限値から下限値の範囲に統計重み付け比率が入っている否かに応じて、基準重み付け比率又は統計重み付け比率のいずれかをカテゴリ重み付け比率として設定するようにした。次に、CPUは、カテゴリ重み付け比率の最も高いカテゴリ重み付け比率のカテゴリを検証実行カテゴリとして設定した。続いて、CPUは、検証実行カテゴリとなったカテゴリに分類されたテストケースについてソースコード21の論理検証を行うようにした。
【選択図】図2
Description
図1は、ハードウェア記述言語で記述された集積回路のソースコードの論理検証を実施するためのコンピュータシステムの概略構成図である。
要因分析表22は、ソースコード21の論理検証を行う際のパラメータとなる因子と、その因子の値である水準の2次元の表のデータである。本実施形態では、図3に示すように、要因分析表22は、仕様書20から抽出された因子F1〜Fnと、水準L1〜Lnから構成されている。
詳述すると、各カテゴリC1〜Cnにおいて、統計重み付け比率RS1〜RSnが上限値U1〜Un(<基準重み付け比率RS1〜RSn)より低い場合、CPU12は、統計重み付け比率RS1〜RSnをカテゴリ重み付け比率として選択する。また、各カテゴリC1〜Cnにおいて、統計重み付け比率RS1〜RSnが上限値U1〜Un(<基準重み付け比率RS1〜RSn)以上、且つ、下限値LO1〜LOn(>基準重み付け比率RS1〜RSn)以下の場合、CPU12は、基準重み付け比率RS1〜RSnをカテゴリ重み付け比率として選択する。さらに、各カテゴリC1〜Cnにおいて、統計重み付け比率RS1〜RSnが下限値LO1〜LOn(>基準重み付け比率RS1〜RSn)より高い場合、CPU12は、統計重み付け比率RS1〜RSnをカテゴリ重み付け比率として選択する。
つまり、要因分析表22の因子F1〜Fn及び水準L1〜Lnの全ての組合せについて入力データを作成すると莫大な数になってしまう。このため、作成した莫大な数の入力データについてソースコード21の論理検証を行うと、ソースコード21の論理検証の検証時間は増大してしまう。そこで、直交表23を用いて因子F1〜Fn及び水準L1〜Lnの組合せを絞り込み、ソースコード21の論理検証を行う入力データの数を削減している。そして、検証作業者は、作成した直交表23を記憶装置14に格納する。
本実施形態では、CPU12が検証カテゴリとなったカテゴリC1〜Cnに分類されるテストケースTa1〜Taj,……,Tn1〜Tnjについてソースコード21の論理検証を行う毎に、カテゴリ重み付けテーブル25のカテゴリC1〜Cnに対するカテゴリ重み付け比率に基づいて、カテゴリC1〜Cnの中から検証カテゴリを設定している。
(1)テストケースTa1〜Taj,……,Tn1〜Tnjを分類したカテゴリC1〜Cnに対して、統計重み付け比率RS1〜RSn、基準重み付け比率RK1〜RKn、上限値U1〜Un、下限値LO1〜LOnが設定されたカテゴリ重み付けテーブル25を設けた。CPU12は、各カテゴリC1〜Cnにおいて、基準重み付け比率RK1〜RKnの上限値U1〜Unから下限値LO1〜LOnの範囲に統計重み付け比率RS1〜RSnが入っている否かに応じて、基準重み付け比率RK1〜RKn又は統計重み付け比率RS1〜RSnのいずれかをカテゴリ重み付け比率として設定するようにした。次に、CPU12は、カテゴリ重み付け比率の最も高いカテゴリ重み付け比率のカテゴリC1〜Cnを検証実行カテゴリとして設定した。続いて、CPU12は、検証実行カテゴリとなったカテゴリC1〜Cnに分類されたテストケースTa1〜Taj,……,Tn1〜Tnjについてソースコード21の論理検証を行うようにした。
従って、CPU12は、検証実行カテゴリとなったカテゴリC1〜Cnに分類されたテストケースTa1〜Taj,……,Tn1〜Tnjについてソースコード21の論理検証を行う毎に、その検証結果が反映されたカテゴリ重み付けテーブル25に基づいて検証実行カテゴリを設定することができる。この結果、CPU12は、さらに少ない検証回数で不良と判定されるテストケースTa1〜Taj,……,Tn1〜Tnjを検出することができる。これに伴い、ソースコード21の論理検証の検証時間をさらに短縮することができる。
・本実施形態では、ハードウェア記述言語で記述された集積回路のソースコードの論理検証に具体化していたが、ソフトウェアであればそのテスト方法に違いはないため、具体化するソフトウェアは特に制限されない。
20 設計仕様(仕様書)
21 ソフトウェア(ソースコード)
25 重み付けテーブル(カテゴリ重み付けテーブル)
C1〜Cn カテゴリ
LO1〜LOn 下限値
RK1〜RKn 基準重み付け比率
RS1〜RSn 統計重み付け比率
Ta1〜Taj,……,Tn1〜Tnj テストケース
U1〜Un 上限値
Claims (5)
- 設計仕様に含まれる各機能について、ソフトウェアが入力データを前記設計仕様の通りに処理するか否かを判定するための前記入力データと、該入力データに対する出力期待値とを有するテストケースを複数作成し、複数の前記テストケースの中から1つの前記テストケースを選択し、前記ソフトウェアにより選択した前記テストケースの入力データを処理して出力された出力データが選択した前記テストケースの出力期待値と等しいか否かを判定するソフトウェアのテスト方法であって、
定量情報及び定性情報に基づいて前記テストケースを分類したカテゴリに対して、分類された前記テストケースが不良と判定される可能性を示す重み付け比率がそれぞれ設定された重み付けテーブルを有し、
前記重み付けテーブルの各カテゴリに対する前記重み付け比率に基づいて、前記ソフトウェアのテストを行う前記カテゴリを選択するカテゴリ選択工程と、
前記カテゴリ選択工程において選択された前記カテゴリに分類された前記テストケースについて前記ソフトウェアのテストを行うソフトウェアテスト工程と、
前記ソフトウェアテスト工程においてソフトウェアのテストを行った結果に基づいて、前記ソフトウェアのテストを行った前記カテゴリに対する前記重み付けテーブルの重み付け比率を算出し、その算出結果に基づいて前記重み付けテーブルを変更するテーブル変更工程と、
を有することを特徴とするソフトウェアのテスト方法。 - 請求項1に記載のソフトウェアのテスト方法において、
前記カテゴリ選択工程は、
前記重み付けテーブルの各カテゴリに対する前記重み付け比率のうち、最も高い前記重み付け比率のカテゴリを選択することを特徴とするソフトウェアのテスト方法。 - 請求項1又は2に記載のソフトウェアのテスト方法において、
前記重み付けテーブルは、
予め設定された基準重み付け比率と、その基準重み付け比率の上限値及び下限値と、前記ソフトウェアのテストを行った結果に基づいて算出される統計重み付け比率とを有し、
前記カテゴリ選択工程は、
前記統計重み付け比率が前記基準重み付け比率の上限値から下限値の範囲に入ると前記基準重み付け比率を前記重み付け比率として選択し、
前記統計重み付け比率が前記基準重み付け比率の上限値から下限値の範囲に入らないと前記統計重み付け比率を前記重み付け比率として選択することを特徴とするソフトウェアのテスト方法。 - 請求項1〜3のいずれか1つに記載のソフトウェアのテスト方法において、
前記ソフトウェアは、
プログラミング言語又はハードウェア記述言語で記述されたソースコードであることを特徴とするソフトウェアのテスト方法。 - コンピュータが、入力データと、該入力データに対する出力期待値とを有する複数のテストケースの中から1つの前記テストケースを選択し、ソフトウェアにより選択した前記テストケースの入力データを処理して出力された出力データが選択した前記テストケースの出力期待値と等しいか否かを判定する処理が記述されたプログラムであって、
定量情報及び定性情報に基づいて前記テストケースを分類したカテゴリに対して、分類された前記テストケースが不良と判定される可能性を示す重み付け比率がそれぞれ設定された重み付けテーブルを有し、
前記重み付けテーブルの各カテゴリに対する前記重み付け比率に基づいて、前記ソフトウェアのテストを行う前記カテゴリを選択するカテゴリ選択工程と、
前記カテゴリ選択工程において選択された前記カテゴリに分類された前記テストケースについて前記ソフトウェアのテストを行うソフトウェアテスト工程と、
前記ソフトウェアテスト工程において前記ソフトウェアのテストを行った結果に基づいて、前記ソフトウェアのテストを行った前記カテゴリに対する前記重み付けテーブルの重み付け比率を算出し、その算出結果に基づいて前記重み付けテーブルを変更するテーブル変更工程と、
を有することを特徴とするプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009193500A JP5444939B2 (ja) | 2009-08-24 | 2009-08-24 | ソフトウェアのテスト方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009193500A JP5444939B2 (ja) | 2009-08-24 | 2009-08-24 | ソフトウェアのテスト方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011044111A true JP2011044111A (ja) | 2011-03-03 |
JP5444939B2 JP5444939B2 (ja) | 2014-03-19 |
Family
ID=43831480
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009193500A Expired - Fee Related JP5444939B2 (ja) | 2009-08-24 | 2009-08-24 | ソフトウェアのテスト方法及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5444939B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014109966A (ja) * | 2012-12-04 | 2014-06-12 | Hitachi Ltd | テストケース生成システムおよび方法 |
CN113127331A (zh) * | 2019-12-31 | 2021-07-16 | 航天信息股份有限公司 | 一种基于故障注入的测试方法、装置及计算机设备 |
CN114265767A (zh) * | 2021-12-09 | 2022-04-01 | 瀚云科技有限公司 | 测试用例复用方法、装置、电子设备及存储介质 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6365542A (ja) * | 1986-09-05 | 1988-03-24 | Nec Corp | デバツグ方式 |
JPH1139363A (ja) * | 1997-07-18 | 1999-02-12 | Fujitsu Ltd | データ検証方式 |
JP2000112784A (ja) * | 1998-09-30 | 2000-04-21 | Hitachi Software Eng Co Ltd | プログラムテスト支援装置及びプログラムテスト支援プログラムを記録した記録媒体 |
JP2003099283A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-04 | Toshiba Corp | ソフトウェアシステムのテスト優先度導出支援方法、テストケース設計支援方法、およびその支援プログラム |
JP2005032098A (ja) * | 2003-07-09 | 2005-02-03 | Canon Inc | 帳票作成方法、帳票作成プログラム、帳票作成装置 |
JP2005250937A (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マイクロコンピュータソフトウェアのプログラム検証装置 |
JP2009181536A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ソフトウェアの障害管理装置、テスト管理装置、ならびにそれらのプログラム |
-
2009
- 2009-08-24 JP JP2009193500A patent/JP5444939B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6365542A (ja) * | 1986-09-05 | 1988-03-24 | Nec Corp | デバツグ方式 |
JPH1139363A (ja) * | 1997-07-18 | 1999-02-12 | Fujitsu Ltd | データ検証方式 |
JP2000112784A (ja) * | 1998-09-30 | 2000-04-21 | Hitachi Software Eng Co Ltd | プログラムテスト支援装置及びプログラムテスト支援プログラムを記録した記録媒体 |
JP2003099283A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-04 | Toshiba Corp | ソフトウェアシステムのテスト優先度導出支援方法、テストケース設計支援方法、およびその支援プログラム |
JP2005032098A (ja) * | 2003-07-09 | 2005-02-03 | Canon Inc | 帳票作成方法、帳票作成プログラム、帳票作成装置 |
JP2005250937A (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マイクロコンピュータソフトウェアのプログラム検証装置 |
JP2009181536A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ソフトウェアの障害管理装置、テスト管理装置、ならびにそれらのプログラム |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014109966A (ja) * | 2012-12-04 | 2014-06-12 | Hitachi Ltd | テストケース生成システムおよび方法 |
CN113127331A (zh) * | 2019-12-31 | 2021-07-16 | 航天信息股份有限公司 | 一种基于故障注入的测试方法、装置及计算机设备 |
CN113127331B (zh) * | 2019-12-31 | 2024-01-05 | 航天信息股份有限公司 | 一种基于故障注入的测试方法、装置及计算机设备 |
CN114265767A (zh) * | 2021-12-09 | 2022-04-01 | 瀚云科技有限公司 | 测试用例复用方法、装置、电子设备及存储介质 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5444939B2 (ja) | 2014-03-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8943423B2 (en) | User interface indicators for changed user interface elements | |
US7093238B2 (en) | Automated software testing and validation system | |
US20050204241A1 (en) | Method and device for analyzing software error | |
US20110131551A1 (en) | Graphical user interface input element identification | |
US20090204924A1 (en) | Method, system and computer program product for failure analysis implementing automated comparison of multiple reference models | |
CN110674047B (zh) | 软件测试方法、装置及电子设备 | |
US20050229045A1 (en) | Method and device for managing software error | |
US8560988B2 (en) | Apparatus and method thereof for hybrid timing exception verification of an integrated circuit design | |
WO2013154448A1 (en) | Method and system for automatically establishing a hierarchical parameterized cell (pcell) debugging environment | |
JP3822044B2 (ja) | 設計検証システム、設計検証方法および設計検証プログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体 | |
US8560991B1 (en) | Automatic debugging using automatic input data mutation | |
JP5444939B2 (ja) | ソフトウェアのテスト方法及びプログラム | |
US8806401B1 (en) | System and methods for reasonable functional verification of an integrated circuit design | |
US8850407B2 (en) | Test script generation | |
US8413102B2 (en) | Vectorless IVD analysis prior to tapeout to prevent scan test failure due to voltage drop | |
US8739091B1 (en) | Techniques for segmenting of hardware trace and verification of individual trace segments | |
US8281277B2 (en) | Signal selecting apparatus, circuit amending apparatus, circuit simulator, circuit emulator, method of signal selection and program | |
KR101510752B1 (ko) | 반도체 프로세스 레시피들의 자동화된 검증을 위한 방법 및 장치 | |
US8903700B2 (en) | Concretization of abstracted traces | |
JP2015111326A (ja) | 電力見積方法、電力見積装置及びプログラム | |
US20030025490A1 (en) | Method for verifying hardware circuits through simulation | |
CN112631852B (zh) | 宏检查方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 | |
TWI750849B (zh) | 測試待測裝置的應用程式的自動測試系統和方法 | |
US8332204B2 (en) | Instruction check program, instruction check apparatus, and I/O simulator | |
US7962796B2 (en) | State testing device and methods thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120510 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130828 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130903 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131101 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131126 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131209 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5444939 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |