JP2011033510A - 渦電流探傷プローブ - Google Patents

渦電流探傷プローブ Download PDF

Info

Publication number
JP2011033510A
JP2011033510A JP2009181179A JP2009181179A JP2011033510A JP 2011033510 A JP2011033510 A JP 2011033510A JP 2009181179 A JP2009181179 A JP 2009181179A JP 2009181179 A JP2009181179 A JP 2009181179A JP 2011033510 A JP2011033510 A JP 2011033510A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive plates
eddy current
laminated
laminated conductive
conductive plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009181179A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoki Saito
直樹 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Marktec Corp
Original Assignee
Marktec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Marktec Corp filed Critical Marktec Corp
Priority to JP2009181179A priority Critical patent/JP2011033510A/ja
Publication of JP2011033510A publication Critical patent/JP2011033510A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

【課題】N個の導電板を積層した導電板(積層導電板)からなる励磁素子と磁束検出素子を備えた渦電流探傷プローブにおいて、導電板が1個のときのN倍の励磁磁束を発生すること。
【解決手段】図1(a1),(a2)の長さL、幅W、厚みtの導電板Dと同じ導電板D1,D2,D3を、絶縁材Sを介して図1(b)のように積層して積層導電板DSを形成する。導電板D1,D2,D3は、励磁電流i1,i2,i3の方向が同じになるように直列に接続してある。積層導電板DSは、図1(c)のように、長尺の導電板DL1を積層して積層導体板DLSを形成し、その積層導体板DLS上に検出コイル21を複数個一列に配置してもよい。
【選択図】図1

Description

本願発明は、励磁素子と磁束検出素子を備えた渦電流探傷プローブに関し、特に励磁素子に導電板を用いた渦電流探傷プローブに関する。
従来渦電流探傷プローブの一つとして励磁素子に導電板を用いた渦電流探傷プローブが提案されている(例えば特許文献1参照)。
図3により従来の渦電流探傷プローブを説明する。
図3(a1)は、渦電流探傷プローブの平面図、図3(a2)は、図3(a1)のX1方向の正面図である。
渦電流探傷プローブは、励磁素子用の平板状の導電板Dと磁束検出素子用のパンケーキ状の検出コイル21からなり、検出コイル21は、導電板Dの幅広面の中央に配置してある。導電板Dは、長さL,幅W,厚みtの四角形(平行四辺形)の板状体で、幅広面は、被検査体TPの探傷面(キズFのある面)に対向している。
導電板Dに高周波の励磁電源22を接続し、渦電流探傷プローブをキズFに向かって反X1方向へ移動すると、励磁電流iが導電板Dを流れ、被検査体TPに渦電流が発生する。被検査体TPにキズFがあるときは、渦電流探傷プローブがキズFを通過するとき渦電流に乱れが生じて、検出コイル21に検出信号(誘起電圧)が発生する。
図3(b)は、3個の導電板を積層した積層導電板を用いている渦電流探傷プローブで、図3(a2)に対応する正面図である。
図3(b)の積層導電板は、図3(a1)の導電板Dと同じ導電板D1、D2、D3を所定の間隔で厚みt方向に積層して、それらの導電板を並列に接続してある。
特開2006−184123号公報
図3(b)の渦電流探傷プローブの場合、励磁電源22から供給される励磁電流iは、導電板D1,D2,D3に分流して流れるから、各導電板の励磁電流i1,i2、i3は、i1=i2=i3=i/3となり、i1+i2+i3=iとなる。したがって各導電板の励磁電流i1,i2、i3により発生する全体の励磁磁束は、励磁電流iにより発生する励磁磁束と同じになる。即ちN個の導電板を図3(b)のように並列接続すると、インピーダンスが小さくなるから励磁電流iは大きくなるが、N個の導電板により発生する励磁磁束は、励磁電流iにより発生する励磁磁束と同じになる。したがって導電板の個数を増やしても、導電板によって発生する全励磁磁束は、励磁電流iによって発生する励磁磁束以上にはならない。
本願発明は、その点に鑑み、N個の導電板を積層した積層導電板を励磁素子に用いた渦電流探傷プローブにおいて、励磁電流iのN倍の励磁電流(i×N)により発生する励磁磁束と同程度の励磁磁束を発生できる渦電流探傷プローブを提供することを目的とする。
本願発明は、その目的を達成するため、請求項1に記載の渦電流探傷プローブは、複数の導電板を絶縁材を介して厚み方向に積層し、その複数の導電板を励磁電流の方向が同じになるように直列接続した積層導電板の幅広面に磁束検出素子を配置してあることを特徴とする。
請求項2に記載の渦電流探傷プローブは、請求項1に記載の渦電流探傷プローブにおいて、複数の積層導電板を、積層導電板の厚み端面が励磁電流の方向に平行になるように配置し、磁束検出素子を千鳥状に配置してあることを特徴とする。
請求項3に記載の渦電流探傷プローブは、請求項2に記載の渦電流探傷プローブにおいて、複数の積層導電板は、横方向の複数の積層導電板と縦方向の複数の積層導電板からなり、横方向と縦方向の積層導電板は、励磁電流の方向が直交するように配置してあることを特徴とする。
請求項4に記載の渦電流探傷プローブは、請求項3に記載の渦電流探傷プローブにおいて、横方向の積層導電板と縦方向の積層導電板は絶縁材を介して積層し、磁束検出素子毎に独立していることを特徴とする。
請求項5に記載の渦電流探傷プローブは、請求項3に記載の渦電流探傷プローブにおいて、横方向の複数の積層導電板と縦方向の複数の積層導電板は交互に配置してあることを特徴とする。
請求項6に記載の渦電流探傷プローブは、請求項3、請求項4叉は請求項5に記載の渦電流探傷プローブにおいて、横方向の積層導電板と縦方向の積層導電板に周波数の異なる励磁電流を印加し、磁束検出素子の検出信号を励磁電流と同じ周波数の搬送波で同期検波することを特徴とする。
本願発明は、N個の導電板を積層して積層導電板を形成し、各導電板の励磁電流の方向が同じになるように直列接続することにより、積層導電板によって発生する励磁磁束は、導電板が1個の場合のN倍になる。したがって本願発明の積層導電板を用いた渦電流探傷プローブは、大きな検出信号を取り出すことができ、検出感度が高くなる。
本願発明は、検出感度の高いアレイ状渦電流探傷プローブを形成することができ、かつ横方向の積層導電板と縦方向の積層導電板を配置することにより、全方向のキズを確実に検出できるアレイ状渦電流探傷プローブを形成することができる。
図1は、本願発明の実施例に係る渦電流探傷プローブの構成を示す。 図2は、本願発明の実施例に係るアレイ状の渦電流探傷プローブの構成を示す。 図3は、従来の渦電流探傷プローブの構成を示す。
図1〜図3により本願発明の実施例に係る渦電流探傷プローブを説明する。
まず図1について説明する。
図1(a1),(a2),(b)は、図3(a1),(a2),(b)に対応するが、従来の渦電流探傷プローブと本願発明の実施例との関係を説明するため再掲してある(被検査体は、記載を省略してある)。図1(a1)は、渦電流探傷プローブの平面図、図1(a2)は、図1(a1)のX2方向の正面図、図1(b)は、図1(a1)(a2)の導電板を3個積層した積層導電板からなる渦電流探傷プローブの正面図である。図1(c)は、検出コイルを複数個配置した渦電流探傷プローブの平面図で、被検査体側から見た図である。
図1(a1),(a2)において、励磁素子用の導電板Dは、長さL、幅W、厚みtの四角形(平行四辺形)の平らな板状体で、例えば厚み0.1mmの銅等の導体からなる。磁束検出用のパンケーキ状の検出コイル21は、コイル面が導電板Dの幅広面Dm1と平行になるように(コイル軸は直交するように)、幅広面Dm1の略中央に配置してある。なお幅広面Dm1は、被検査体(図しせず)の探傷面に対向する面である。
ここで導電板の「幅広面」(Dm1)は、厚みより寸法(幅)が大きく、厚み方向と直交する面(長さL、幅Wの面)と定義し、また幅広面に直交し励磁電流の方向(励磁電流を流す方向)と平行な端部の面(長さL、厚みtの面)を「厚み端面」(Dm2)と呼ぶ。
図1(b)の渦電流探傷プローブは、図1(a1),(a2)の導電板Dと同じ導電板D1,D2,D3を、各導電板の幅広面が平行になるように、絶縁材Sを介して厚みt方向に積層した導電板(積層導電板)DSを用いている。そして導電板D1,D2,D3は、夫々の励磁電流が同じ方向へ流れるように直列に接続してある。即ち図1(b)において、導電板D1の左端を導電板D2の右端に、導電板D2の左端を導電板D3の右端に接続してある。また検出コイル21は、図1(a1)と同様に、コイル面が導電板D3の幅広面と平行になるように(コイル軸は直交するように)、幅広面の略中央に配置してある。なお検出コイル21は、導電板D1の幅広面に配置してもよい。
積層導電板DSの導電板D1,D2,D3を流れる励磁電流i1,i2,i3は、i1=i2=i3=iとなるから、励磁磁束の発生に寄与する励磁電流は、i1+i2+i3=3iになる。即ち3個の導電板を積層して直列接続したときの励磁磁束は、導電板が1個のときの3倍になり、導電板がN個(Nは2以上)のときは、N倍になる。
なお従来の励磁素子にコイルを用いた渦電流探傷プローブは、コイルの巻数を多くすると励磁磁束は大きくなるが、反面巻数が多くなるとインピーダンスが大きくなって励磁電流が小さくなる。しかし本実施例は、導電板の個数を多くしてもインピーダンスは、それ程大きくならないから、略個数倍の励磁磁束を発生できる。即ち本実施例は、積層した導電板を直列接続するだけで、励磁磁束を大きくすることができる。
図1(c)の渦電流探傷プローブは、励磁電流の方向に長い導電板(長尺の導電板)DL1を、図1(b)と同様に積層して直列接続した導電板(積層導電板)DLSを用いて、導電板DL1の幅広面に複数の検出コイル21を励磁電流の方向(導電板DL1の長手方向)へ一列に配置してある。図1(c)において、渦電流探傷プローブを導電板DL1の長手方向と直交する方向へ走査すると、複数の検出コイル21がカバーする広い範囲を一度の走査で探傷できる。
なお図1(c)の渦電流探傷プローブは、隣接する検出コイル21の間隔が大きくなると、検出コイルがカバーできない範囲(探傷できない範囲)が生じる場合もあるが、その場合には、後述するように積層導電板DLSを2個以上用いて、検出コイル21を千鳥状に配置すればよい。千鳥状に配置した場合には、隣接する検出コイル21の間隔を大きくすることでき、渦電流探傷プローブの作製が容易になる。
図2は、検出コイルをアレイ状に配置した渦電流探傷プローブの例である。
図2(a)の渦電流探傷プローブは、図1(c)の積層導電板DLSと同じように積層した導電板(積層導電板)Dx1〜Dx4を、隣接する積層導電板の各導電板の厚み端面が励磁電流の方向に平行になるように配置し、積層導電板Dx1〜Dx4の幅広面に複数の検出コイルを励磁電流の方向へ一列に配置してある。積層導電板Dx1〜Dx4の検出コイルは、図2(a)において、積層導電板Dx1,Dx2,Dx3,Dx4の順に右方向(励磁電流の方向)へ位置をずらして千鳥状に配置してある。そして積層導電板Dx1〜Dx4上の検出コイルは、隣接する積層導電板上の検出コイル、例えば、積層導電板Dx1上の検出コイルと積層導電板Dx2上の検出コイルは、一部が重なるように配置し、探傷漏れの範囲が生じないように配置してある。
図2(a)の渦電流探傷プローブは、一度の走査で広い範囲のキズを確実に探傷できる。
図2(b1),(b2)の渦電流探傷プローブは、積層導電板Dx1,Dx2(横方向の積層導電板)と積層導電板Dy11〜Dy17,Dy21〜Dy27(縦方向の積層導電板)からなり、横方向の積層導電板と縦方向の積層導電板は、交互に配置してある。そして横方向の積層導電板Dx1,Dx2と縦方向の積層導電板Dy11〜Dy27は、夫々後述する励磁電流の方向に平行に配置してある。
なお横方向の積層導電板と縦方向の積層導電板の呼び方は、相対的で、積層導電板Dx1,Dx2、積層導電板Dy11〜Dy27のいずれか一方が横方向の積層導電板で、他方が縦方向の積層導電板になる。
検出コイル(二重丸)は、横方向の積層導電板Dx1,Dx2上に複数個一列に配置し、縦方向の積層導電板Dy11〜Dy27上に1個ずつ配置してある。そして積層導電板Dx1上の検出コイルと積層導電板Dx2上の検出コイルは、千鳥状に配置し、積層導電板Dy11〜Dy17上の検出コイルと積層導電板Dy21〜Dy27上の検出コイルも、千鳥状に配置してある。
横方向の積層導電板Dx1,Dx2と縦方向の積層導電板Dy11〜Dy27には、図2(b2)のように、励磁電流の方向(矢印)が直交するように励磁電流を印加する。また横方向の積層導電板Dx1,Dx2と縦方向の積層導電板Dy11〜Dy27には、周波数の異なる励磁電流を印加する。即ち積層導電板Dx1,Dx2に周波数F1の励磁電流を印加し、縦方向の積層導電板Dy11〜Dy27に周波数F2(F1≠F2)の励磁電流を印加する。各検出コイルの検出信号は、励磁電流の周波数と同じ周波数の搬送波で同期検波して、キズ信号(被検査体のキズに起因して発生する誘起電圧)を抽出する。
なお図2(b1)の横方向の積層導電板Dx1,Dx2は、長尺のものを用いているが、縦方向の積層導電板Dy11〜Dy17,Dy21〜Dy27と同様に、検出コイル毎に独立したものを用いて、両方向の積層導電板を絶縁材を介して積層し、その上に検出コイルを1個ずつ配置してもよい。その場合には、同じ検出コイルの検出信号を周波数の異なる搬送波で別々に同期検波してキズ信号を別々に抽出する。両方向の積層導電板を積層する場合には、検出コイルの個数が少なくなり、積層導電板の設置面積も小さくなる。
図2(a)の渦電流探傷プローブは、積層導電板Dx1〜Dx4の長手方向と直交する方向へ走査すると、その走査方向のキズ、走査方向と直交する方向のキズは、検出できるが、キズの中心を通過したときにその走査方向と45度、135度のキズは検出できない。一方図2(b1),(b2)の渦電流探傷プローブは、積層導電板x1,Dx2と積層導電板Dy11〜Dy27に直交する方向の励磁電流を印加することにより、積層導電板Dy11〜Dy27の励磁磁束を用いて45度、135度のキズを検出できる。即ち1度の走査で全方向のキズを検出できる。
図2において、積層導電板の個数は、例示した個数に限らない。また積層導電板Dx1,Dx2は、直列に接続し、導電板Dy11〜Dy27も、直列に接続する。
前記実施例は、磁束検出素子としてパンケーキ状のコイルを例に説明したが、他の形状のコイルであってもよいし、GMR(巨大磁気抵抗素子)であってもよい。
D,D1,D2,D3 導電板
DL1 長尺の導電板
Dx1〜Dx4 積層導電板
Dy11〜Dy17,Dy21〜Dy27 積層導電板
DS 積層導電板
21 検出コイル
22 励磁電源

Claims (6)

  1. 複数の導電板を絶縁材を介して厚み方向に積層し、その複数の導電板を励磁電流の方向が同じになるように直列接続した積層導電板の幅広面に磁束検出素子を配置してあることを特徴とする渦電流探傷プローブ。
  2. 請求項1に記載の渦電流探傷プローブにおいて、複数の積層導電板を、積層導電板の厚み端面が励磁電流の方向に平行になるように配置し、磁束検出素子を千鳥状に配置してあることを特徴とする渦電流探傷プローブ。
  3. 請求項2に記載の渦電流探傷プローブにおいて、複数の積層導電板は、横方向の複数の積層導電板と縦方向の複数の積層導電板からなり、横方向と縦方向の積層導電板は、励磁電流の方向が直交するように配置してあることを特徴とする渦電流探傷プローブ。
  4. 請求項3に記載の渦電流探傷プローブにおいて、横方向の積層導電板と縦方向の積層導電板は絶縁材を介して積層し、磁束検出素子毎に独立していることを特徴とする渦電流探傷プローブ。
  5. 請求項3に記載の渦電流探傷プローブにおいて、横方向の複数の積層導電板と縦方向の複数の積層導電板は交互に配置してあることを特徴とする渦電流探傷プローブ。
  6. 請求項3、請求項4叉は請求項5に記載の渦電流探傷プローブにおいて、横方向の積層導電板と縦方向の積層導電板に周波数の異なる励磁電流を印加し、磁束検出素子の検出信号を励磁電流と同じ周波数の搬送波で同期検波することを特徴とする渦電流探傷プローブ。
JP2009181179A 2009-08-04 2009-08-04 渦電流探傷プローブ Pending JP2011033510A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009181179A JP2011033510A (ja) 2009-08-04 2009-08-04 渦電流探傷プローブ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009181179A JP2011033510A (ja) 2009-08-04 2009-08-04 渦電流探傷プローブ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011033510A true JP2011033510A (ja) 2011-02-17

Family

ID=43762717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009181179A Pending JP2011033510A (ja) 2009-08-04 2009-08-04 渦電流探傷プローブ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011033510A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012110470A (ja) * 2010-11-24 2012-06-14 Kobe Univ 磁場分布取得装置
JP2015508897A (ja) * 2012-02-23 2015-03-23 インスティトゥート ドクトル フェルスター ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディトゲゼルシャフト 貫通コイル構成、貫通コイル構成を有する試験装置、及び試験方法
EP3101417A1 (en) * 2015-06-03 2016-12-07 Hitachi-GE Nuclear Energy, Ltd. Multi coil eddy current inspection device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012110470A (ja) * 2010-11-24 2012-06-14 Kobe Univ 磁場分布取得装置
JP2015508897A (ja) * 2012-02-23 2015-03-23 インスティトゥート ドクトル フェルスター ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディトゲゼルシャフト 貫通コイル構成、貫通コイル構成を有する試験装置、及び試験方法
EP3101417A1 (en) * 2015-06-03 2016-12-07 Hitachi-GE Nuclear Energy, Ltd. Multi coil eddy current inspection device
US10132779B2 (en) 2015-06-03 2018-11-20 Hitachi-Ge Nuclear Energy, Ltd. Eddy current inspection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5922633B2 (ja) 渦電流探傷プローブ、及び、渦電流探傷方法
JP5390383B2 (ja) 導電部に対する渦電流試験を行うための放出/受信機能を別々に備えた装置
US7952348B2 (en) Flexible eddy current array probe and methods of assembling the same
EP1600769A1 (en) Omni-directional eddy current probe
US20100199767A1 (en) In-line inspection tool for pipeline integrity testing
RU2561007C2 (ru) Узел проходной катушки, устройство для проверки длинномерных изделий, снабженное таким узлом, и способ проверки длинномерных изделий
JP2005043206A (ja) 非破壊検査用渦電流センサ
US10502714B2 (en) Electro-magnetic acoustic transducer (EMAT) for both lamb and shear horizontal wave transduction
JP4039578B2 (ja) 磁気プローブ
JP2012242358A (ja) 渦流探傷装置
US8159217B2 (en) Method and device with separate emission/reception functions for making eddy current tests on an electrically conducting part
CN103837606A (zh) 多相位结构的电磁超声换能器及超声波高效激发的方法
JP2011033510A (ja) 渦電流探傷プローブ
KR101941354B1 (ko) 송수신부가 절연된 배열 와전류 탐촉자 및 이를 이용한 와전류 탐상 검사 방법
JP2014025704A (ja) 渦電流探傷装置
JP5750208B2 (ja) 渦電流探傷プローブ、渦電流探傷装置及び渦電流探傷方法
JP5959306B2 (ja) 渦電流探傷装置及び方法
JP2011027603A (ja) 渦電流探傷プローブ
KR102140170B1 (ko) 교차 경사형 유도전류를 이용한 비파괴 검사장치용 프로브 및 비파괴 검사장치용 유도코일 제조방법
JPH1114600A (ja) 渦流探傷装置
RU2476871C1 (ru) Многоэлементный вихретоковый преобразователь
JP2006220630A (ja) 渦電流探傷用プローブ
JP2016080596A (ja) 渦電流探傷プローブ
US9696281B2 (en) Inspection head of an eddy current non-destructive testing sensor and sensor comprising such an inspection head
JP2002221514A (ja) 渦電流探傷プローブ