JP2010520628A - マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明システム - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
D1=2*a*cosα (2)
ここで、aは、マイクロレンズアレイ20の周期性を表し、αは、x軸に対するマイクロレンズアレイの回転角を表す(例示している実施形態ではα=15°である)。
γ=arctan((λ/Δn)/DP) (3)
DP=(2*a*cosα)/3N、(N=0、1、2、...) (5)
ここで、対応する楔角γは、式(3)から確認される。このようにして確認されることになる楔角γに関して、5パーセントまで、好ましくは、2パーセントまで、より好ましくは、1パーセントまでの偏差は、本発明では許容範囲内であると考えられるか又は受け入れられる。
Claims (28)
- マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明システムであって、
光伝播方向の下流に配置された光混合システムと共に偏光解消素子(10、500〜900)上に入射する偏光光の有効な偏光解消を少なくとも部分的に引き起こす偏光解消素子(10、500〜900)と、
前記光伝播方向に前記光混合システムの上流に配置され、かつ複数のマイクロレンズ(20a、20b、...)が周期性を有して配置されたマイクロレンズアレイ(20)と、
を含み、
前記偏光解消素子(10、500〜900)は、前記光伝播方向に前記マイクロレンズアレイ(20)の下流に配置された瞳平面(PP)に発生する残存偏光分布に対する、一方で該偏光解消素子(10、500〜900)と他方で該マイクロレンズアレイ(20)の前記周期性との相互作用によってもたらされる寄与が5%を上回らない最大偏光度を有するようなものである、
ことを特徴とする照明システム。 - 前記光伝播方向に前記マイクロレンズアレイ(20)の下流に配置された瞳平面(PP)に発生する前記残存偏光分布に対する前記寄与は、2%を上回らない、更により好ましくは、1%を上回らない最大偏光度を有することを特徴とする請求項1に記載の照明システム。
- マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明システムであって、
光伝播方向の下流に配置された光混合システムと共に偏光解消素子(10、500〜900)上に入射する偏光光の有効な偏光解消を少なくとも部分的に引き起こす偏光解消素子(10、500〜900)と、
前記光伝播方向に前記光混合システムの上流に配置され、かつ複数のマイクロレンズ(20a、20b、...)が周期性を有して配置されたマイクロレンズアレイ(20)と、
を含み、
前記偏光解消素子(10、500〜900)は、前記光伝播方向に前記マイクロレンズアレイ(20)の下流に配置された瞳平面(PP)に発生する残存偏光分布に対する、一方で該偏光解消素子(10、500〜900)と他方で該マイクロレンズアレイ(20)の前記周期性との相互作用によってもたらされる寄与が該瞳平面(PP)にわたって実質的に均一であるようなものである、
ことを特徴とする照明システム。 - 前記偏光解消素子(10)は、その断面にわたって周期的であって偏光解消周期によって記述することができる、互いに直交する偏光状態の連続を生成することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消周期は、前記マイクロレンズアレイ(20)の前記周期性に対応する相互の間隔を有する位置で該マイクロレンズアレイ(20)内の互いに隣接するマイクロレンズを通過する少なくとも2つ、好ましくは、全ての光ビームが互いに直交する偏光状態を有するように、該マイクロレンズアレイ(20)の該周期性に適応されることを特徴とする請求項4に記載の照明システム。
- 前記偏光解消周期(DP)は、前記瞳平面(PP)において前記マイクロレンズアレイ(20)の互いに隣接するマイクロレンズを通過した後に相互に重ね合わせた関係にある少なくとも2つ、好ましくは、全ての光ビームが互いに直交する偏光状態を有するように、該マイクロレンズアレイ(20)の前記周期性に適応されることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の照明システム。
- 前記偏光解消周期(DP)は、条件:
DP=(2*a*cosα)/3N
を満たし、ここで、aは、前記マイクロレンズアレイ(20)の前記周期性を表し、αは、該マイクロレンズアレイ(20)と照明システムの光学システム軸(OA)に垂直な平面との間の角度を表し(α≧0)、DPは、該偏光解消周期を表し、Nは、ゼロよりも大きいか又はゼロに等しい整数を表すことを特徴とする請求項4から請求項6のいずれか1項に記載の照明システム。 - 前記偏光解消素子(10、500〜900)は、複屈折材料から製造され、かつ照明システムの光学システム軸(OA)に対して垂直なその断面にわたって変化する厚みプロフィールを有することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(10)は、複屈折材料の少なくとも1つの楔形部分を有し、光出射表面が、その光入射表面に対して楔角で延びていることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(10)は、前記楔方向と垂直な方向に、互いに直交する偏光状態の交替シーケンスを生成するように設計されることを特徴とする請求項9に記載の照明システム。
- 前記互いに直交する偏光状態の交替シーケンスは、前記楔方向に垂直な方向の前記偏光解消素子(10)の前記厚みプロフィールの変化によって達成されることを特徴とする請求項10に記載の照明システム。
- 前記互いに直交する偏光状態の交替シーケンスは、照明システムの光学システム軸(OA)の方向に変化する厚みプロフィールを有する光学活物質の領域によって達成されることを特徴とする請求項10に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(500〜900)は、照明システムの光学システム軸(OA)と垂直な平面において、光学的に有効な領域内にいかなる周期性も伴わない分布を有する互いに直交する偏光状態を生成するように適応されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(500〜900)は、照明システムの光学システム軸(OA)と垂直な平面において、非線形曲線上に延びる位置で互いに直交する偏光状態を生成するように適応されることを特徴とする請求項1、請求項2、請求項3、及び請求項13のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(500〜900)は、照明システムの光学システム軸(OA)に対して半径方向である方向に非線形に変化する厚みプロフィールを伴っていることを特徴とする請求項1から請求項3、請求項13、及び請求項14のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(500〜900)は、少なくとも1つの非平面光学的有効表面を有することを特徴とする請求項1から請求項3、及び請求項13から請求項15のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(500〜900)の少なくとも1つの光学的有効表面が、自由曲面であることを特徴とする請求項1から請求項3、及び請求項13から請求項16のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(600)は、少なくとも領域に関する様式において平凸形状のものであることを特徴とする請求項1から請求項3、及び請求項13から請求項17のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(500)は、少なくとも領域に関する様式において円柱形状のものであることを特徴とする請求項1から請求項3、及び請求項13から請求項18のいずれか1項に記載の照明システム。
- マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明システムであって、
光伝播方向の下流に配置された光混合システムと共に偏光解消素子(10、500〜900)上に入射する偏光光の有効な偏光解消を少なくとも部分的に引き起こす偏光解消素子(10、500〜900)と、
前記光伝播方向に前記光混合システムの上流に配置され、かつ複数のマイクロレンズ(20a、20b、...)が周期性を有して配置されたマイクロレンズアレイ(20)と、
を含み、
前記偏光解消素子(10)は、その断面にわたって周期的であって偏光解消周期によって記述することができる互いに直交する偏光状態の連続を生成し、該偏光解消周期は、前記マイクロレンズアレイ(20)内の互いに隣接するマイクロレンズを該マイクロレンズアレイ(20)の前記周期性に対応する相互の間隔を有する位置で通過する少なくとも2つ、好ましくは、全ての光ビームが互いに直交する偏光状態を有するように、該マイクロレンズアレイ(20)の該周期性に適応される、
ことを特徴とする照明システム。 - マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明システムであって、
光伝播方向の下流に配置された光混合システムと共に偏光解消素子(10、500〜900)上に入射する偏光光の有効な偏光解消を少なくとも部分的に引き起こす偏光解消素子(10、500〜900)と、
前記光伝播方向に前記光混合システムの上流に配置され、かつ複数のマイクロレンズ(20a、20b、...)が周期性を有して配置されたマイクロレンズアレイ(20)と、
を含み、
前記偏光解消素子(10)は、その断面にわたって周期的であって偏光解消周期によって記述することができる互いに直交する偏光状態の連続を生成し、該偏光解消周期は、前記瞳平面(PP)において前記マイクロレンズアレイ(20)の互いに隣接するマイクロレンズを通過した後に相互に重ね合わせた関係にある少なくとも2つ、好ましくは、全ての光ビームが互いに直交する偏光状態を有するように、該マイクロレンズアレイ(20)の前記周期性に適応される、
ことを特徴とする照明システム。 - マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明システムであって、
光伝播方向の下流に配置された光混合システムと共に偏光解消素子(10、500〜900)上に入射する偏光光の有効な偏光解消を少なくとも部分的に引き起こす偏光解消素子(10、500〜900)と、
前記光伝播方向に前記光混合システムの上流に配置されたマイクロレンズアレイ(20)と、
を含み、
前記偏光解消素子(500〜900)は、照明システムの光学システム軸(OA)と垂直な平面において、光学的に有効な領域内にいかなる周期性も伴わない分布を有する互いに直交する偏光状態を生成するように適応される、
ことを特徴とする照明システム。 - 前記マイクロレンズアレイ(20)は、フレネル帯域DOEであることを特徴とする請求項1から請求項22のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記マイクロレンズアレイ(20)は、前記偏光解消素子(10)の下流の前記光伝播方向内に配置されることを特徴とする請求項1から請求項23のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記偏光解消素子(10、500〜900)上に入射する前記偏光光は、直線偏光光であることを特徴とする請求項1から請求項24のいずれか1項に記載の照明システム。
- 照明システムと、
投影対物系と、
を含み、
前記照明システムは、請求項1から請求項25のいずれか1項に従って設計される、
ことを特徴とするマイクロリソグラフィ投影露光装置。 - 微細構造素子のマイクロリソグラフィ製造の方法であって、
感光材料の層が少なくとも部分的に付加された基板を準備する段階と、
再現される構造を有するマスクを準備する段階と、
請求項26に記載のマイクロリソグラフィ投影露光装置を準備する段階と、
前記投影露光装置を用いて前記マスクの少なくとも一部を前記層のある一定の領域上に投影する段階と、
を含むことを特徴とする方法。 - 請求項27に記載の方法によって製造された微細構造素子。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007010650A DE102007010650A1 (de) | 2007-03-02 | 2007-03-02 | Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102007010650.7 | 2007-03-02 | ||
PCT/EP2007/060360 WO2008107025A1 (en) | 2007-03-02 | 2007-10-01 | Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010520628A true JP2010520628A (ja) | 2010-06-10 |
JP5112455B2 JP5112455B2 (ja) | 2013-01-09 |
Family
ID=38920928
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009552076A Active JP5112455B2 (ja) | 2007-03-02 | 2007-10-01 | マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明システム |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8264668B2 (ja) |
EP (2) | EP2458425B1 (ja) |
JP (1) | JP5112455B2 (ja) |
KR (3) | KR101474038B1 (ja) |
AT (1) | ATE554420T1 (ja) |
DE (1) | DE102007010650A1 (ja) |
WO (1) | WO2008107025A1 (ja) |
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-
2007
- 2007-03-02 DE DE102007010650A patent/DE102007010650A1/de not_active Withdrawn
- 2007-10-01 AT AT07820745T patent/ATE554420T1/de active
- 2007-10-01 KR KR1020097015962A patent/KR101474038B1/ko active IP Right Grant
- 2007-10-01 WO PCT/EP2007/060360 patent/WO2008107025A1/en active Application Filing
- 2007-10-01 EP EP12156900.8A patent/EP2458425B1/en not_active Not-in-force
- 2007-10-01 JP JP2009552076A patent/JP5112455B2/ja active Active
- 2007-10-01 EP EP07820745A patent/EP2115522B1/en not_active Not-in-force
- 2007-10-01 KR KR20127022528A patent/KR101511827B1/ko active IP Right Grant
- 2007-10-01 KR KR1020127022527A patent/KR101460423B1/ko active IP Right Grant
-
2009
- 2009-07-02 US US12/496,762 patent/US8264668B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-08-01 US US13/564,419 patent/US8928859B2/en active Active
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2014
- 2014-12-08 US US14/563,087 patent/US9170499B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0316114A (ja) * | 1988-12-22 | 1991-01-24 | Nikon Corp | 照明装置及びそれを備えた露光装置並びに露光方法 |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9170499B2 (en) | 2015-10-27 |
KR101474038B1 (ko) | 2014-12-17 |
DE102007010650A1 (de) | 2008-09-04 |
ATE554420T1 (de) | 2012-05-15 |
KR20120101738A (ko) | 2012-09-14 |
KR20120101739A (ko) | 2012-09-14 |
KR101511827B1 (ko) | 2015-04-15 |
EP2115522A1 (en) | 2009-11-11 |
US8928859B2 (en) | 2015-01-06 |
US20100002217A1 (en) | 2010-01-07 |
EP2458425A1 (en) | 2012-05-30 |
JP5112455B2 (ja) | 2013-01-09 |
US20150153654A1 (en) | 2015-06-04 |
EP2458425B1 (en) | 2013-09-11 |
KR101460423B1 (ko) | 2014-11-12 |
WO2008107025A1 (en) | 2008-09-12 |
EP2115522B1 (en) | 2012-04-18 |
KR20090115932A (ko) | 2009-11-10 |
US20120293786A1 (en) | 2012-11-22 |
US8264668B2 (en) | 2012-09-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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