JP2010519526A - 質量分析計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】サンプリングコーン3とコーン−ガスコーン4とを含み、サンプリングコーン3を通過し、質量分析計の後続ステージに入り、当該ステージを通過する分子質量が高いイオンの移送を向上させるために、使用時に、六フッ化硫黄(「SF6」)をコーンガス5としてコーン−ガスコーン4とサンプリングコーン3との間の環状部へ供給する質量分析計が開示される。
【選択図】 図1
Description
サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンを含む質量分析計を準備する工程と、
第1のガスを、コーンガスまたはカーテンガスとしてサンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給する工程、あるいは、第1のガスを、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給する工程であって、第1のガスが、六フッ化硫黄(「SF6」)を含む工程とを含む方法が提供される。
サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンを含む質量分析計を準備する工程と、
第1のガスを、コーンガスまたはカーテンガスとしてサンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給する工程、あるいは、第1のガスを、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給する工程であって、第1のガスが、(i)キセノン、(ii)六フッ化ウラン(「UF6」)、(iii)イソブタン(「C4H10」)、(iv)アルゴン、(v)クリプトン、(vi)ペルフルオロプロパン(「C3F8」)、(vii)ヘキサフルオロエタン(「C2F6」)、(viii)ヘキサン(「C6H14」)、(ix)ベンゼン(「C6H6」)、(x)四塩化炭素(「CCl4」)、(xi)ヨードメタン(「CH3I」)、(xii)ジヨードメタン(「CH2I2」)、(xiii)二酸化炭素(「CO2」)、(xiv)二酸化窒素(「NO2」)、(xv)二酸化硫黄(「SO2」)、(xvi)三フッ化リン(「PF3」)、および(xvii)十フッ化二硫黄(「S2F10」)からなる群から選択される工程とを含む方法が提供される。
(a)第1のガスを、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給する工程の前に加熱する工程、ならびに/あるいは、
(b)サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンを加熱する工程をさらに含む。
当該方法が、第1のガスの少なくとも一部が、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンを通過して第1の真空室へ入る検体イオンと相互作用するように、第1のガスをサンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給する工程をさらに含む。
(i)第1の真空室を、(i)<1mbar、(ii)1〜2mbar、(iii)2〜3mbar、(iv)3〜4mbar、(v)4〜5mbar、(vi)5〜6mbar、(vii)6〜7mbar、(viii)7〜8mbar、(ix)8〜9mbar、(x)9〜10mbar、および(xi)>10mbarからなる群から選択される圧力に維持する工程、ならびに/または、
(ii)第2の真空室を、(i)<1×10-3mbar、(ii)1〜2×10-3mbar、(iii)2〜3×10-3mbar、(iv)3〜4×10-3mbar、(v)4〜5×10-3mbar、(vi)5〜6×10-3mbar、(vii)6〜7×10-3mbar、(viii)7〜8×10-3mbar、(ix)8〜9×10-3mbar、(x)9〜10×10-3mbar、(xi)1〜2×10-2mbar、(xii)2〜3×10-2mbar、(xiii)3〜4×10-2mbar、(xiv)4〜5×10-2mbar、(xv)5〜6×10-2mbar、(xvi)6〜7×10-2mbar、(xvii)7〜8×10-2mbar、(xviii)8〜9×10-2mbar、(xix)9〜10×10-2mbar、(xx)0.1〜0.2mbar、(xxi)0.2〜0.3mbar、(xxii)0.3〜0.4mbar、(xxiii)0.4〜0.5mbar、(xxiv)0.5〜0.6mbar、(xxv)0.6〜0.7mbar、(xxvi)0.7〜0.8mbar、(xxvii)0.8〜0.9mbar、(xxxviii)0.9〜1mbar、および(xxix)>1mbarからなる群から選択される圧力に維持する工程をさらに含む。
使用時に、第1のガスを、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスとして、あるいは、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給するように配置および適合される供給デバイスであって、第1のガスが六フッ化硫黄(「SF6」)を含む供給デバイスとを含む質量分析計が提供される。
第1のガスを、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスとして、あるいは、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給するように配置および適合される供給デバイスであって、第1のガスが、(i)キセノン、(ii)六フッ化ウラン(「UF6」)、(iii)イソブタン(「C4H10」)、(iv)アルゴン、(v)クリプトン、(vi)ペルフルオロプロパン(「C3F8」)、(vii)ヘキサフルオロエタン(「C2F6」)、(viii)ヘキサン(「C6H14」)、(ix)ベンゼン(「C6H6」)、(x)四塩化炭素(「CCl4」)、(xi)ヨードメタン(「CH3I」)、(xii)ジヨードメタン(「CH2I2」)、(xiii)二酸化炭素(「CO2」)、(xiv)二酸化窒素(「NO2」)、(xv)二酸化硫黄(「SO2」)、(xvi)三フッ化リン(「PF3」)、および(xvii)十フッ化二硫黄(「S2F10」)からなる群から選択される供給デバイスとを含む質量分析計が提供される。
(a)第1のガスを、サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンへ供給する工程の前に加熱するデバイス、ならびに/あるいは、
(b)サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンを加熱するデバイスをさらに含む。
(a)第2の真空室または第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置されるイオンガイド、ならびに/あるいは、
(b)第2の真空室または第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置される質量フィルタまたは質量分析部、ならびに/あるいは、
(c)第2の真空室または第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置されるイオントラップまたはイオントラップ領域、ならびに/あるいは
(d)第2の真空室または第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置されるイオン移動度分光計もしくはセパレータおよび/またはフィールド非対称イオン移動度分光計、ならびに/あるいは、
(e)(i)衝突誘起解離(「CID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(iii)電子移動解離フラグメンテーションデバイス、(iv)電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、(v)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(vi)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vii)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(viii)赤外放射誘起解離デバイス、(ix)紫外放射誘起解離デバイス、(x)ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、(xi)インソースフラグメンテーションデバイス、(xii)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xiii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiv)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)磁場誘起フラグメンテーションデバイス、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−準安定分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオン−準安定原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−イオン反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−分子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−原子反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定イオン反応デバイス、(xxvii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定分子反応デバイス、および(xxviii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定原子反応デバイスからなる群から選択される衝突、フラグメンテーション、または反応デバイス、ならびに/あるいは、
(f)第2の真空室または第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置される質量分析部であって、(i)四重極質量分析部、(ii)二次元または線形四重極質量分析部、(iii)ポールまたは三次元四重極質量分析部、(iv)ペニングトラップ質量分析部、(v)イオントラップ質量分析部、(vi)磁場型質量分析部、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析部、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析部、(ix)静電またはオービトラップ質量分析部、(x)フーリエ変換静電またはオービトラップ質量分析部、(xi)フーリエ変換質量分析部、(xii)飛行時間質量分析部、(xiii)直交加速式飛行時間質量分析部、および(xiv)直線加速式飛行時間質量分析部からなる群から選択される質量分析部をさらに含む。
大気圧イオン源と、
大気圧ステージと第1の真空ステージとの間に配置される第1の差動ポンピング開口部と、
第1の真空ステージと第2の真空ステージとの間に配置される第2の差動ポンピング開口部と、
使用時に、六フッ化硫黄(「SF6」)または十フッ化二硫黄(「S2F10」)を、第1の差動ポンピング開口部の直ちに上流にある領域および/または直ちに下流にある領域、ならびに/あるいは第1の真空ステージへ供給するように配置および適合される供給デバイスとを含む質量分析計が提供される。
(i)第1の真空ステージが、回転ポンプまたはスクロールポンプによってポンプ吸引される、かつ/あるいは、
(ii)第2の真空ステージが、ターボ分子ポンプまたは拡散ポンプによってポンプ吸引される、かつ/あるいは、
(iii)第1の真空ステージが、1〜10mbarの範囲の圧力に維持される、かつ/あるいは、
(iv)第2の真空ステージが、10-3〜10-2mbar、0.01〜0.1mbar、0.1〜1mbar、または>1mbarの範囲の圧力に維持される、かつ/あるいは、
(v)第1の差動ポンピング開口部が、サンプリングコーンを含む、かつ/あるいは、
(vi)第2の差動ポンピング開口部が、取り出しレンズを含む、かつ/あるいは、
(vii)複数の長形電極および/または使用時にイオンが移送される開口を有する複数の電極を含むイオンガイドが、第2の真空ステージに備えられる、かつ/あるいは、
(viii)使用時に、検体イオンが、複数の長形電極および/または使用時にイオンが移送される開口を有する複数の電極を含むイオンガイドによって案内されることなしに、第1の差動ポンピング開口部から第2の差動ポンピング開口部へ通過する。
大気圧イオン源と、大気圧ステージと第1の真空ステージとの間に配置される第1の差動ポンピング開口部と、第1の真空ステージと第2の真空ステージとの間に配置される第2の差動ポンピング開口部とを準備する工程と、
六フッ化硫黄(「SF6」)または十フッ化二硫黄(「S2F10」)を、第1の差動ポンピング開口部の直ちに上流にある領域および/または直ちに下流にある領域、ならびに/あるいは第1の真空ステージへ供給する工程とを含む質量分析の方法が提供される。
(i)第1の真空ステージを、回転ポンプまたはスクロールポンプによってポンプ吸引する工程、および/あるいは、
(ii)第2の真空ステージを、ターボ分子ポンプまたは拡散ポンプによってポンプ吸引する工程、および/あるいは、
(iii)第1の真空ステージを、1〜10mbarの範囲の圧力に維持する工程、および/あるいは、
(iv)第2の真空ステージを、10-3〜10-2mbar、0.01〜0.1mbar、0.1〜1mbar、または>1mbarの範囲の圧力に維持する工程、および/あるいは、
(v)第1の差動ポンピング開口部が、サンプリングコーンを含み、および/あるいは、
(vi)第2の差動ポンピング開口部が、取り出しレンズを含み、および/あるいは、
(vii)複数の長形電極および/またはイオンが移送される開口を有する複数の電極を含むイオンガイドを、第2の真空ステージに準備する工程、および/あるいは、
(viii)検体イオンを、複数の長形電極および/またはイオンが移送される開口を有する複数の電極を含むイオンガイドによって案内されることなしに、第1の差動ポンピング開口部から第2の差動ポンピング開口部へ通過させる工程をさらに含む。
当該方法が、六フッ化硫黄(「SF6」)または十フッ化二硫黄(「S2F10」)を、第1の差動ポンピング開口部を実質的に内包および/または包囲する1つ以上のガス流出口または1つの環状ガス流出口へ供給する工程をさらに含み、第1の差動ポンピング開口部を通過する検体イオンが、六フッ化硫黄と相互作用する。
Claims (21)
- 質量分析の方法であって、
サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンを含む質量分析計を準備する工程と、
第1のガスを、コーンガスまたはカーテンガスとして前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給する工程、あるいは、第1のガスを、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給する工程であって、前記第1のガスが、六フッ化硫黄(「SF6」)を含む工程とを含む方法。 - 質量分析の方法であって、
サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンを含む質量分析計を準備する工程と、
第1のガスを、コーンガスまたはカーテンガスとして前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給する工程、あるいは、第1のガスを、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給する工程であって、前記第1のガスが、(i)キセノン、(ii)六フッ化ウラン(「UF6」)、(iii)イソブタン(「C4H10」)、(iv)アルゴン、(v)クリプトン、(vi)ペルフルオロプロパン(「C3F8」)、(vii)ヘキサフルオロエタン(「C2F6」)、(viii)ヘキサン(「C6H14」)、(ix)ベンゼン(「C6H6」)、(x)四塩化炭素(「CCl4」)、(xi)ヨードメタン(「CH3I」)、(xii)ジヨードメタン(「CH2I2」)、(xiii)二酸化炭素(「CO2」)、(xiv)二酸化窒素(「NO2」)、(xv)二酸化硫黄(「SO2」)、(xvi)三フッ化リン(「PF3」)、および(xvii)十フッ化二硫黄(「S2F10」)からなる群から選択される工程とを含む方法。 - 第1のガスを、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給する工程であって、前記コーンガスが、(i)窒素、(ii)アルゴン、(iii)キセノン、(iv)空気、(v)メタン、および(vi)二酸化炭素からなる群から選択される工程をさらに含む、請求項1または2に記載の方法。
- (a)前記第1のガスを、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給する工程の前に加熱する工程、ならびに/あるいは、
(b)前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンを加熱する工程をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。 - 前記第1のガスおよび/または前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンを、(i)>30℃、(ii)>40℃、(iii)>50℃、(iv)>60℃、(v)>70℃、(vi)>80℃、(vii)>90℃、(viii)>100℃、(ix)>110℃、(x)>120℃、(xi)>130℃、(xii)>140℃、(xiii)>150℃、(xiv)>160℃、(xv)>170℃、(xvi)>180℃、(xvii)>190℃、(xviii)>200℃、(xix)>250℃、(xx)>300℃、(xxi)>350℃、(xxii)>400℃、(xxiii)>450℃、および(xxiv)>500℃からなる群から選択される温度に加熱する工程をさらに含む、請求項4に記載の方法。
- 前記質量分析計が、イオン源と、サンプリングコーンを包囲するコーン−ガスコーンと、第1の真空室と、差動ポンピング開口部によって前記第1の真空室から分離される第2の真空室とを含み、
前記方法が、前記第1のガスの少なくとも一部が、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンを通過して前記第1の真空室へ入る検体イオンと相互作用するように、前記第1のガスを前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給する工程をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。 - 前記イオン源が、(i)大気圧イオン源、(ii)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(v)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(vi)大気圧マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源、および(vii)大気圧レーザ脱離イオン化イオン源からなる群から選択される、請求項6に記載の方法。
- (i)前記第1の真空室を、(i)<1mbar、(ii)1〜2mbar、(iii)2〜3mbar、(iv)3〜4mbar、(v)4〜5mbar、(vi)5〜6mbar、(vii)6〜7mbar、(viii)7〜8mbar、(ix)8〜9mbar、(x)9〜10mbar、および(xi)>10mbarからなる群から選択される圧力に維持する工程、ならびに/または、
(ii)前記第2の真空室を、(i)<1×10-3mbar、(ii)1〜2×10-3mbar、(iii)2〜3×10-3mbar、(iv)3〜4×10-3mbar、(v)4〜5×10-3mbar、(vi)5〜6×10-3mbar、(vii)6〜7×10-3mbar、(viii)7〜8×10-3mbar、(ix)8〜9×10-3mbar、(x)9〜10×10-3mbar、(xi)1〜2×10-2mbar、(xii)2〜3×10-2mbar、(xiii)3〜4×10-2mbar、(xiv)4〜5×10-2mbar、(xv)5〜6×10-2mbar、(xvi)6〜7×10-2mbar、(xvii)7〜8×10-2mbar、(xviii)8〜9×10-2mbar、(xix)9〜10×10-2mbar、(xx)0.1〜0.2mbar、(xxi)0.2〜0.3mbar、(xxii)0.3〜0.4mbar、(xxiii)0.4〜0.5mbar、(xxiv)0.5〜0.6mbar、(xxv)0.6〜0.7mbar、(xxvi)0.7〜0.8mbar、(xxvii)0.8〜0.9mbar、(xxxviii)0.9〜1mbar、および(xxix)>1mbarからなる群から選択される圧力に維持する工程をさらに含む、請求項6または7に記載の方法。 - 前記第1のガスを、(i)<10L/時間、(ii)10〜20L/時間、(iii)20〜30L/時間、(iv)30〜40L/時間、(v)40〜50L/時間、(vi)50〜60L/時間、(vii)60〜70L/時間、(viii)70〜80L/時間、(ix)80〜90L/時間、(x)90〜100L/時間、(xi)100〜110L/時間、(xii)110〜120L/時間、(xiii)120〜130L/時間、(xiv)130〜140L/時間、(xv)140〜150L/時間、および(xvi)>150L/時間からなる群から選択される流量で、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給する工程をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンと、
使用時に、第1のガスを、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスとして、あるいは、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給するように配置および適合される供給デバイスであって、前記第1のガスが六フッ化硫黄(「SF6」)を含む供給デバイスとを含む質量分析計。 - サンプリングコーンおよび/またはコーン−ガスコーンと、
第1のガスを、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスとして、あるいは、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給されるコーンガスまたはカーテンガスへの添加物として供給するように配置および適合される供給デバイスであって、前記第1のガスが、(i)キセノン、(ii)六フッ化ウラン(「UF6」)、(iii)イソブタン(「C4H10」)、(iv)アルゴン、(v)クリプトン、(vi)ペルフルオロプロパン(「C3F8」)、(vii)ヘキサフルオロエタン(「C2F6」)、(viii)ヘキサン(「C6H14」)、(ix)ベンゼン(「C6H6」)、(x)四塩化炭素(「CCl4」)、(xi)ヨードメタン(「CH3I」)、(xii)ジヨードメタン(「CH2I2」)、(xiii)二酸化炭素(「CO2」)、(xiv)二酸化窒素(「NO2」)、(xv)二酸化硫黄(「SO2」)、(xvi)三フッ化リン(「PF3」)、および(xvii)十フッ化二硫黄(「S2F10」)からなる群から選択される供給デバイスとを含む質量分析計。 - (a)前記第1のガスを、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給する工程の前に加熱するデバイス、ならびに/あるいは、
(b)前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンを加熱するデバイスをさらに含む、請求項10または11に記載の質量分析計。 - 前記質量分析計が、イオン源と、サンプリングコーンを包囲するコーン−ガスコーンと、第1の真空室と、差動ポンピング開口部によって前記第1の真空室から分離される第2の真空室とを含み、前記供給デバイスが、前記第1のガスの少なくとも一部が、前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンを通過して前記第1の真空室へ入る検体イオンと使用時に相互作用するように、使用時に、前記第1のガスを前記サンプリングコーンおよび/または前記コーン−ガスコーンへ供給するように配置および適合される、請求項10、11、または12に記載の質量分析計。
- 前記イオン源が、(i)大気圧イオン源、(ii)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(v)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(vi)大気圧マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源、および(vii)大気圧レーザ脱離イオン化イオン源からなる群から選択される、請求項13に記載の質量分析計。
- 前記質量分析計が、
(a)前記第2の真空室または前記第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置されるイオンガイド、ならびに/あるいは、
(b)前記第2の真空室または前記第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置される質量フィルタまたは質量分析部、ならびに/あるいは、
(c)前記第2の真空室または前記第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置されるイオントラップまたはイオントラップ領域、ならびに/あるいは
(d)前記第2の真空室または前記第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置されるイオン移動度分光計もしくはセパレータおよび/またはフィールド非対称イオン移動度分光計、ならびに/あるいは、
(e)(i)衝突誘起解離(「CID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(iii)電子移動解離フラグメンテーションデバイス、(iv)電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、(v)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(vi)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vii)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(viii)赤外放射誘起解離デバイス、(ix)紫外放射誘起解離デバイス、(x)ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、(xi)インソースフラグメンテーションデバイス、(xii)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xiii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiv)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)磁場誘起フラグメンテーションデバイス、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−準安定分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオン−準安定原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−イオン反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−分子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−原子反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定イオン反応デバイス、(xxvii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定分子反応デバイス、および(xxviii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定原子反応デバイスからなる群から選択される衝突、フラグメンテーション、または反応デバイス、ならびに/あるいは、
(f)前記第2の真空室または前記第2の真空室の下流にある後続の真空室に配置される質量分析部であって、(i)四重極質量分析部、(ii)二次元または線形四重極質量分析部、(iii)ポールまたは三次元四重極質量分析部、(iv)ペニングトラップ質量分析部、(v)イオントラップ質量分析部、(vi)磁場型質量分析部、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析部、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析部、(ix)静電またはオービトラップ質量分析部、(x)フーリエ変換静電またはオービトラップ質量分析部、(xi)フーリエ変換質量分析部、(xii)飛行時間質量分析部、(xiii)直交加速式飛行時間質量分析部、および(xiv)直線加速式飛行時間質量分析部からなる群から選択される質量分析部をさらに含む、請求項13または14に記載の質量分析計。 - 大気圧イオン源と、
大気圧ステージと第1の真空ステージとの間に配置される第1の差動ポンピング開口部と、
前記第1の真空ステージと第2の真空ステージとの間に配置される第2の差動ポンピング開口部と、
使用時に、六フッ化硫黄(「SF6」)または十フッ化二硫黄(「S2F10」)を、前記第1の差動ポンピング開口部の直ちに上流にある領域および/または直ちに下流にある領域、ならびに/あるいは前記第1の真空ステージへ供給するように配置および適合される供給デバイスとを含む質量分析計。 - (i)前記第1の真空ステージが、回転ポンプまたはスクロールポンプによってポンプ吸引される、かつ/あるいは、
(ii)前記第2の真空ステージが、ターボ分子ポンプまたは拡散ポンプによってポンプ吸引される、かつ/あるいは、
(iii)前記第1の真空ステージが、1〜10mbarの範囲の圧力に維持される、かつ/あるいは、
(iv)前記第2の真空ステージが、10-3〜10-2mbar、0.01〜0.1mbar、0.1〜1mbar、または>1mbarの範囲の圧力に維持される、かつ/あるいは、
(v)前記第1の差動ポンピング開口部が、サンプリングコーンを含む、かつ/あるいは、
(vi)前記第2の差動ポンピング開口部が、取り出しレンズを含む、かつ/あるいは、
(vii)複数の長形電極および/または使用時にイオンが移送される開口を有する複数の電極を含むイオンガイドが、前記第2の真空ステージに備えられる、かつ/あるいは、
(viii)使用時に、検体イオンが、複数の長形電極および/または使用時にイオンが移送される開口を有する複数の電極を含むイオンガイドによって案内されることなしに、前記第1の差動ポンピング開口部から前記第2の差動ポンピング開口部へ通過する、請求項16に記載の質量分析計。 - 前記第1の差動ポンピング開口部を包囲するコーン−ガスコーンをさらに含み、前記供給デバイスが、使用時に、六フッ化硫黄(「SF6」)または十フッ化二硫黄(「S2F10」)を、前記第1の差動ポンピング開口部を実質的に内包および/または包囲する1つ以上のガス流出口または1つの環状ガス流出口へ供給するように配置および適合され、前記第1の差動ポンピング開口部を通過する検体イオンが、前記六フッ化硫黄または十フッ化二硫黄と相互作用する、請求項16または17に記載の質量分析計。
- 大気圧イオン源と、大気圧ステージと第1の真空ステージとの間に配置される第1の差動ポンピング開口部と、前記第1の真空ステージと第2の真空ステージとの間に配置される第2の差動ポンピング開口部とを準備する工程と、
六フッ化硫黄(「SF6」)または十フッ化二硫黄(「S2F10」)を、前記第1の差動ポンピング開口部の直ちに上流にある領域および/または直ちに下流にある領域、ならびに/あるいは前記第1の真空ステージへ供給する工程とを含む質量分析の方法。 - (i)前記第1の真空ステージを、回転ポンプまたはスクロールポンプによってポンプ吸引する工程、および/あるいは、
(ii)前記第2の真空ステージを、ターボ分子ポンプまたは拡散ポンプによってポンプ吸引する工程、および/あるいは、
(iii)前記第1の真空ステージを、1〜10mbarの範囲の圧力に維持する工程、および/あるいは、
(iv)前記第2の真空ステージを、10-3〜10-2mbar、0.01〜0.1mbar、0.1〜1mbar、または>1mbarの範囲の圧力に維持する工程、および/あるいは、
(v)前記第1の差動ポンピング開口部が、サンプリングコーンを含み、および/あるいは、
(vi)前記第2の差動ポンピング開口部が、取り出しレンズを含み、および/あるいは、
(vii)複数の長形電極および/またはイオンが移送される開口を有する複数の電極を含むイオンガイドを、前記第2の真空ステージに準備する工程、および/あるいは、
(viii)検体イオンを、複数の長形電極および/またはイオンが移送される開口を有する複数の電極を含むイオンガイドによって案内されることなしに、前記第1の差動ポンピング開口部から前記第2の差動ポンピング開口部へ通過させる工程をさらに含む、請求項19に記載の方法。 - 前記第1の差動ポンピング開口部を包囲するコーン−ガスコーンを準備する工程をさらに含み、
前記方法が、前記六フッ化硫黄(「SF6」)または十フッ化二硫黄(「S2F10」)を、前記第1の差動ポンピング開口部を実質的に内包および/または包囲する1つ以上のガス流出口または1つの環状ガス流出口へ供給する工程をさらに含み、前記第1の差動ポンピング開口部を通過する検体イオンが、前記六フッ化硫黄または十フッ化二硫黄と相互作用する、請求項19または20に記載の方法。
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