JP2010511882A - 漏れ検知システム及び方法 - Google Patents

Abstract

第２の物質の物理的／化学的性質の変化を検出することで第１の物質の漏出（４０）を検出する漏れ検知器（１）。漏れ検知器は、量子カスケードレーザ（５）と検知器（３５）とを含む。

Description

本発明は、漏れを検知するシステムおよび方法に関する。詳しくは、漏出するガスに特異的でないガス漏れ検知に関する。

ガス状の物質を取り扱う多くの産業では、効率向上と健康と安全上への配慮から、ガス漏出検知技術に対する関心が高まっている。漏出の検知が決定的な意味を持つ例には、エアロゾルプラントでのブタン注入ラインや天然ガスパイプラインなどがあり、そこではガス漏れの安全上の意味は明白である。

従来技術のガス漏れ検知器によれば、光イオン化、フレームイオン化、光音響効果、または赤外線（IR）吸収などの多様な技術の何れかによって、ガス漏れの有無または濃度を直接検知または測定する。これらの技術は、使用ガスの各々について、専用検知器の製造および購入が必要という不都合が伴う。また、一部のガスは、赤外線放射をあまり吸収しないか、より吸収特性の高い別の材料に覆われた領域に吸収されるため、特定の検知技術に本質的に不向きである。

本発明の第１の態様によれば、第２の物質の物理的／化学的性質の変化を検出することで、第１の物質の漏出を検出する漏れ検知器が提供される。

物理的性質は、濃度及び／又は圧力及び／又はIR吸収またはIR吸収線形の変化など濃度または圧力に依存する性質であって構わない。

漏れ検知器は、第１の物質の漏出が引き起こす変位（displacement）によって生じる第２の物質の濃度減少を検知することで第１の物質の漏出を検出するように構成できる。

例えば、流体または別の気体を含有するパイプ周辺の気体濃度を監視し、周辺の気体の変位や置換を特定することにより、パイプからの漏出を検出できる。これにより、間接的で極めて有効な漏れ検知技術を提供できる。

漏れ材料の直接検出でなく、変位を間接的に検出することによる漏れ識別は、検出対象材料を問わず、特定の材料に係わりなく、検知器が、任意の漏れ材料を監視できるという利点をもたらす。これにより、検知器メーカが製造または仕入れる検知器の種類が少なくて済み、ユーザもそれぞれが特定の材料専用の複数の漏れ検知器を単一のユニバーサル漏れ検知器で代用できるため、コストを削減できる。

第２の物質の検出は、濃度測定または濃度に応じた特性の監視を含んでも構わない。第２の物質を、例えばパイプなどの容器の外側に配置しても構わない。第１の物質を、例えばパイプなどの容器の内側に配置しても構わない。

漏れが生じた場合、検知器は、第１の物質によって第２の物質の少なくとも部分的変位を検出するように構成できる。

第１の物質は、例えば、気体、蒸気、液体などの流体とすることができる。第１の物質は、酸素及び／又は窒素、及び／又はヘリウム、及び／又は天然ガス、及び／又はブタンを含んでも構わない。第２の物質は、例えば、二酸化炭素などの気体、あるいは、水蒸気などの蒸気とすることができる。

本発明の検知器を使用することで、検出に不向きな物質の漏出検知が可能となる。例えば、酸素、窒素及びヘリウムなどはＩＲ波長を吸収しないため、ＩＲ吸収に基づく従来型の漏れ検知器は、それらの漏出検出には不向きである。しかし、ＩＲ波長で強く吸収される二酸化炭素や水のような大気成分の濃度変化を検出することで、ＩＲ吸収が無いまたは乏しい物質の漏出測定に本発明の検知器は使用できる。

IR波長を吸収する物質の漏出検出にこの検知器を使用した場合でも、適当な第２の物質を選択することで、漏出物質よりもＩＲ吸収が高い物質の検出が可能になり、検知器の感度を高めることができる。また、低コストの検知器部品を使用できる波長吸収物質を選択することもできる。

本発明の漏れ検知器は、２つ以上の場所での漏れを検出することもできる。少なくとも１つの検出個所と、少なくとももう１つの検出個所とは、漏出部位または漏出の可能性のある部位から異なる距離であって差し支えない。検知器は、第１の場所（個所）における第２の物質濃度に依存する信号と、一個所以上の他の場所における第２の物質濃度に依存する対応信号とを比較することで漏れを検出するように構成させることができる。

漏れ検知器は、第２の物質の濃度変化を検出するために１個またはそれ以上のセンサを含むことができる。センサはＩＲ光源とＩＲ吸収を測定する手段とを包含する。漏れ検知器は、第２の物質のＩＲ吸収の変化を検出することで第１の物質の漏出を検出するように構成することができる。光源はレーザ、好ましくは、量子カスケード（ＱＣ）レーザ、最も好ましくは、パルス状のＱＣレーザである。

代替的または付加的に、漏れ検知器は、第２の物質と関連するＩＲ吸収線形を決定する手段を含むことができる。漏れ検知のために、吸収線形の変化を分析する手段をさらに含んでも構わない。

パルス状のＱＣレーザの使用により、超高速測定が実現できる。検出対象材料を制限せずに変位材料を選択することにより、安価で好都合にレーザを利用できる波長の吸収特性を有する測定材料を選ぶことができる。

本発明の第２態様によれば、第２の物質の物理的特性の変化を検出することで第１の物質の漏出を特定することを含むガス漏れ検知法が提供される。

検出される物理的特性は、濃度及び／又は圧力であり、さらには、ＩＲ吸収線形でのＩＲ吸収またはＩＲ変化などのような、濃度または圧力に依存する性質の一つであっても構わない。

本発明の方法は、第１の物質および第２の物質がガスである場合のガス漏れ検知法であっても構わない。第１の物質は、パイプ、コンテナまたはタンクなどの容器内に位置し、第２の物質は、容器の外側に位置することができる。漏出の特定は、第１の物質による第２の物質の少なくとも部分的変位を検出することを含む。

前記方法は、２つ以上の個所における第２の物質の濃度測定を含むことができる。第１の個所での第２の物質の濃度を、１つまたはそれ以上の第２の個所での第２の物質の濃度と比較することで、漏れを検知することができる。少なくとも１つの検出個所と、少なくとももう１つの検出個所とは、漏出部位または漏出の可能性のある部位から各々異なる距離であって差し支えない。

第１の物質の漏出検知は、第２の物質による一つまたはそれ以上のＩＲ波長の放射線吸収を測定することで行うことができる。前記の測定は、レーザ、好ましくは量子カスケード（ＱＣ）レーザ、最も好ましくはパルス状のチャープＱＣレーザの出力吸収を測定することで実行できる。

適用される各パルスの持続時間は、１５０ｎｓより長い、とりわけ、２００ｎｓより長い。この持続時間は、１５０から３００ｎｓの範囲内であって、好ましくは２００から３００ｎｓの範囲内である。これにより、約６０ＧＨｚの同調レンジを提供できる。

各検出パルスの持続時間は、１５０ｎｓより長く、とりわけ、２００ｎｓより長い。各検出パルスの持続時間は、１５０から３００ｎｓの範囲内であって、好ましくは２００から３００ｎｓの範囲内である。

代替的または付加的に、第２の物質と関連するＩＲ吸収線形を監視することで漏れ検知を行っても構わない。

漏れ検知システムの略図。

図面を参照しながら、本発明を実施例の形で説明する。図１は、レーザ５を備えるガス漏れ検知システム１を示す。ビームスプリッタ２０がレーザ５の出力を２つのビーム１０，１５に分割する。レーザ５はパルス量子カスケード（ＱＣ）レーザである。これらのビームは、各々、測定ゾーン２５と３０を介して、オープンパス構成で光を検知器３５に伝送する。各測定ゾーンと漏出部位との距離は相違しなければならない。検知器は、CCD、MCT、CMOSなど周知の適当な検知器であって構わない。

任意の適当なレーザ５を使用できる。本発明の好ましい実施例では、WO０３/０８７７８７号に記載のチャープＱＣレーザを使用し、その内容を参照用に本明細書に援用する。パルス状のＱＣレーザが備える波長アップチャープ使って波長走査を実行する。波長アップチャープは、適用された電流／電圧の駆動パルスの持続時間全体にわたって発生する加熱効果により誘発される。

ＱＣレーザおいては、波長アップチャープが連続的であることが示されている。波長アップチャープは、時間に関してほぼ直線的に変化させることができので、個々のパルスまたは単一パルスの内に、全スペクトル領域を記録することができる。これは、単一パルスから様々なスペクトル要素を得るための検出パルス全長にわたるサンプリングを含む。これにより、個々のパルスについてスペクトル全体または重要な部分を測定できるため、迅速な測定が可能になる。パルス毎に１個のスペクトル要素のみを測定可能なレーザを使って反復測定を行うことで、実行する測定に応じた一定の測定時間にわたり、ノイズ比に増加信号（increased signal）を送る。ＱＣレーザを使って実現可能な超高速測定により、測定ゾーン２５，３０のそれぞれについてほぼ同時に測定を行うことができる。これにより、膨大な測定大気にわたって発生する均一変化（homogeneous changes）による誤差を最小限にできる。

測定ゾーン２５，３０に存在する水または二酸化炭素などの大気成分が、すばやく吸収する波長を出力するように、レーザ５は選択される。２つのビーム１５，２０と、それぞれの測定ゾーン２５，３０を、互いに置き換えて、漏出の可能性がある部位４０について異なる領域をサンプリングする。測定ゾーン２５と３０を漏出の可能性ある部位に対して非対称的に配置し、漏出の可能性ある部位と各測定ゾーン間の距離を相違させる。検知器３５でそれぞれの測定ゾーン２５，３０から収集した透過スペクトルを測定し、一方のスペクトルを他方のスペクトルから差し引くか、あるいは、分割する。

漏出が無い場合、自然な大気混合並びにパルス状の量子カスケードレーザで可能なを備えた超高速測定と組み合わせて、測定ゾーン２５，３０を適当な位置に設定することで、測定ゾーン２５，３０それぞれについて、実質的に同一または類似の透過スペクトルが得られる。その結果、２個のスペクトル間の差異はゼロまたはゼロに近い。漏出が起こると、漏出ガスは、少なくとも部分的に大気要素と置き換わる。これが自然混合のバランスを乱し、漏出部位に近い測定ゾーン３０の大気要素の置き換えは、漏出部位から離れた測定ゾーン２５の大気要素の置き換えより、早く起こる。従って、２個のスペクトル差で反応がある場合、漏出があることが検知できる。

漏出の特定に加え、本発明の検知器は、漏出速度を測定できる。これは、差異の大きさ（magnitude of the differential）を使って実現できる。実際、差異の大きさを予め記憶した較正データと参照し、漏出速度を決定できる。このシステムは、漏出材料ではなく構成要素（a material）を検出するため、各漏出材料の再較正や再調整は不要で、検出する大気要素に関する１組の較正データだけを使用できる。

発明の範囲から逸脱することなく、開示した構成に多様な変更が可能なことは当業者であれば理解されよう。例えば、実施例によるシステムは、２つのビーム１０，１５と２つの測定ゾーン２５，３０を備えるが、３個以上のビームや測定ゾーンを使用しても構わない。さらに、本システムは、１個のレーザ５と１個の検知器３５を備えるが、複数のレーザ及び／又は検知器を用いても構わない。変更例として、第２の物質の濃度変化を検出または監視する代わりに、圧力など別の性質を検出または監視しても構わない。圧力上昇がもたらすＩＲ吸収線形の変化を監視して、漏出に伴う圧力上昇を検出することができる。従って、本書に記載する特定の実施例は、あくまで参考例であって、本発明を限定するものではない。開示内容に有意な変更を加えることなく、若干の応用が可能なことは当業者であれば理解されよう。

Claims (25)

1. 第２の物質の物理的／化学的性質の変化を検出することで第１の物質の漏出を検出する漏れ検知器。
2. 物理的性質が、濃度及び／又は圧力であるか、これらの一方または両方に依存する性質である請求項１に記載の漏れ検知器。
3. 第１の物質の漏出に起因する第２の物質の濃度減少を検知することで第１の物質の漏出が検出される請求項１または２に記載の漏れ検知器。
4. 第２の物質が容器外にあり、その容器内からの第１の物質の漏出が検出できるように検知器を配置した前記請求項の何れかに記載の漏れ検知器。
5. 第１の物質及び／又は第２の物質が、気体または蒸気である前記請求項の何れかに記載の漏れ検知器。
6. 第２の物質が、水または二酸化炭素である前請求項の何れかに記載の漏れ検知器。
7. 第１の物質が、酸素、窒素、ヘリウム、及天然ガスおよびブタンの１種または２種以上である前記請求項の何れかに記載の漏れ検知器。
8. ２つ以上の場所で漏出が検出できる前記請求項の何れかに記載の漏れ検知器。
9. 第１の場所における第２の物質の物理的性質に依存する信号と、一個所以上の他の場所における第２の物質の物理的性質に依存する対応信号とを比較して、漏出を検出するようにした前記請求項の何れかに記載の漏れ検知器。
10. 第２の物質の物理的性質の変化を検出する１個またはそれ以上のセンサを備えた前記請求項の何れかに記載の漏れ検知器。
11. センサが、好ましくはIR源である放射源と、放射線の吸収を検出する手段とを包含する請求項１０に記載の漏れ検知器。
12. 放射源が量子カスケード（ＱＣ）レーザである請求項１１に記載の漏れ検知器。
13. レーザがパルス状のチャープＱＣレーザである請求項１２に記載の漏れ検知器。
14. 第２の物質の物理的性質変化を検出することで第１の物質の漏出を検出する方法。
15. 検出する物理的性質が、濃度もしくは圧力または濃度及び／又は圧力に依存する性質である請求項１４に記載の方法。
16. 第２の物質が気体及び／又は蒸気である請求項１４または１５に記載の方法。
17. 第１の物質が容器の内側に位置する請求項１４〜１６の何れかに記載の方法。
18. 第２の物質が容器の外側に位置する請求項１７に記載の方法。
19. 第１の物質に由来する第２の物質の少なくとも部分的な変位を検出することを含む請求項１４〜１８の何れかに記載の方法。
20. 第２の物質の物理的性質を２つ以上の場所で測定することを含む請求項１４〜１９の何れかに記載の方法。
21. 第１の場所における第２の物質の物理的性質を、一箇所以上の第２の場所における第２の物質の物理的性質と比較することで漏出を検知する請求項２０に記載の方法。
22. 第１の物質の検出が、第２の物質の吸収線形における吸収特性または吸収変化を監視または測定することを含む請求項１４〜２１の何れかに記載の方法。
23. 吸収特性または吸収変化が一つまたはそれ以上のIR波長で測定される請求項２２に記載の方法。
24. 量子カスケード（ＱＣ）レーザの出力の吸収を測定することを含む請求項２２または２３に記載の方法。
25. レーザがパルス状の量子カスケードレーザである請求項２４に記載の方法。
    

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