JP2010276579A

JP2010276579A - Electric contact and inspection fixture provided with the same

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Publication number: JP2010276579A
Application number: JP2009132182A
Authority: JP
Inventors: Kenji Dobashi; 賢治土橋; Shigeaki Koizumi; 茂昭小泉; Mitsuhiko Ito; 光彦伊藤; Kazuhiko Morozumi; 和彦両角
Original assignee: KOYO TECHNOS KK
Current assignee: KOYO TECHNOS KK
Priority date: 2009-06-01
Filing date: 2009-06-01
Publication date: 2010-12-09
Also published as: CN101900750A; TW201044698A; KR20100129678A; CN101900750B; KR101160996B1

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electric contact for hardly generating trouble of contact inferiority and suppressing a production cost, and to provide an inspection fixture provided with the electric contact. SOLUTION: Concerning the electric contact 2 used for the inspection fixture 1 for inspecting electric characteristics of a circuit board P and arranged in the inside of a storing hole 3 of the inspection fixture 1, the electric contact 2 is constituted of a wire material 13, and includes: an inspection side end 10 arranged on one end side of a length direction of the electric contact 2 and brought into contact with the circuit board P; a fixture side end 5 arranged on the other end side for the one end side and brought into contact with a contact of the inspection fixture 1; and a body part 12 for connecting the inspection side end 10 and the fixture side end 5 and stored in the storing hole 3. The body part 12 includes a spring winding part 22 wound so as to spirally have spring property with the wire material 13. COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、回路基板や電子部品等の電気的特性を検査するための電気接触子およびこの電気接触子を備える検査治具に関する。 The present invention relates to an electrical contact for inspecting electrical characteristics of a circuit board, an electronic component, and the like, and an inspection jig including the electrical contact.

一般に、回路基板の配線パターンあるいはＩＣ等の集積回路の短絡や断線等の異常を発見するための電気的検査には、検査対象物に接触する複数の電気接触子を備える検査治具が使用されている。電気接触子としては、たとえば、特許文献１または２に開示されるように、ピン状のプランジャをコイルばねで支持した構成のものが多く使用されている。かかる構成の電気接触子では、プランジャがコイルばねの弾性変形により検査対象物に対して弾性的に進退することができる。そのため、プランジャを検査対象物に対して適切な押圧力で接触させることができる。 In general, an inspection jig having a plurality of electrical contacts that come into contact with an object to be inspected is used for electrical inspection to detect an abnormality such as a short circuit or disconnection of a circuit board wiring pattern or an integrated circuit such as an IC. ing. As an electrical contact, for example, as disclosed in Patent Document 1 or 2, a structure in which a pin-shaped plunger is supported by a coil spring is often used. In the electric contact configured as described above, the plunger can elastically advance and retract with respect to the inspection object by the elastic deformation of the coil spring. Therefore, the plunger can be brought into contact with the inspection object with an appropriate pressing force.

特開２００８−２７５４２１号公報JP 2008-275421 A 特開２００８−５４６１６４号公報JP 2008-546164 A

しかしながら、特許文献１および２に記載の電気接触子では、電気接触子が、プランジャとコイルばね等の複数の部品から構成されている。そのため、各部品間での接触不良のトラブルが発生し易く、また、部品点数と組み立て工数が多いため、生産コストが嵩むという問題を有している。 However, in the electrical contacts described in Patent Documents 1 and 2, the electrical contact is composed of a plurality of parts such as a plunger and a coil spring. For this reason, there is a problem that a problem of poor contact between the components is likely to occur, and the number of components and the number of assembly steps are large, resulting in increased production costs.

そこで、本発明は、接触不良のトラブルが発生し難く、また、生産コストを抑えることが可能な電気接触子およびこの電気接触子を備える検査治具を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide an electrical contact that is less likely to cause trouble of contact failure and that can reduce the production cost, and an inspection jig including the electrical contact.

上記の課題を解決するため、本発明は、検査対象物の電気的特性を検査する検査治具に用いられ、検査治具の収容孔の内部に配置される電気接触子であって、電気接触子は、線材から構成されると共に、電気接触子の長さ方向の一端側に配置され検査対象物に接触する検査側端部と、該一端側に対して他端側に配置され検査治具の接点に接触する治具側端部と、検査側端部と治具側端部とを繋ぎ、収容孔に収容される本体部とを有し、本体部は、線材が螺旋状にばね性を有するように巻かれたばね部を有することとする。 In order to solve the above-described problems, the present invention is an electric contactor used in an inspection jig for inspecting electrical characteristics of an inspection object, and is disposed inside an accommodation hole of the inspection jig, and includes an electric contact The child is composed of a wire, and is arranged on one end side in the length direction of the electric contact and is in contact with the inspection object. The inspection jig is arranged on the other end side with respect to the one end side. A jig side end that contacts the contact point of the wire, an inspection side end and the jig side end, and a main body portion that is accommodated in the accommodation hole. The spring portion is wound so as to have

本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方は、線材が巻かればね状に構成されていることとしてもよい。 In the electric contact according to the present invention, at least one of the inspection side end and the jig side end may be formed in a spring shape by winding a wire.

また、本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方は、先端に向かって巻き径が小さくなるように線材が巻かれていることとしてもよい。 In the electrical contact according to the present invention, at least one of the inspection side end and the jig side end may be wound with a wire so that the winding diameter decreases toward the tip.

また、本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方の先端部には、巻かれている線材の巻き軸に沿って伸びる柱状部が形成されていることとしてもよい。 In the electrical contact according to the present invention, a columnar portion extending along the winding axis of the wound wire is formed at at least one tip of the inspection side end or the jig side end. Also good.

また、本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方の先端部には、球状部が設けられていることとしてもよい。 In the electrical contact according to the present invention, a spherical portion may be provided at at least one tip of the inspection side end or the jig side end.

また、本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方は、電気接触子の端部側から本体部側に折り返される折り返し部にて形成されていることとしてもよい。 Further, in the electrical contact according to the present invention, at least one of the inspection side end or the jig side end may be formed by a folded portion that is folded back from the end side of the electrical contact to the main body side. Good.

また、本発明の電気接触子において、本体部には、ばね部と検査側端部との間に、線材同士が密着するように巻かれた密着巻き部を有することとしてもよい。 In the electrical contact according to the present invention, the main body portion may have a tightly wound portion wound between the spring portion and the inspection-side end portion so that the wires are in close contact with each other.

また、本発明の電気接触子において、本体部のばね部の一部は、収容部に対して圧入されるように、ばね部の他の部分の巻き径よりも大きな巻き径の大径部を有することとしてもよい。 Further, in the electric contact according to the present invention, a large diameter portion having a winding diameter larger than the winding diameter of the other portion of the spring portion is provided so that a part of the spring portion of the main body portion is press-fitted into the housing portion. It is good also as having.

また、本発明の電気接触子において、電気接触子は、金メッキが被覆されていることとしてもよい。 In the electric contact according to the present invention, the electric contact may be coated with gold plating.

上記の課題を解決するため、本発明は、検査対象物に電気接触子を接触させて、検査対象物の電気的特性を検査する検査治具において、電気接触子を収容する収容部を有する収容体を備え、電気接触子として上述の電気接触子を備えることとする。 In order to solve the above-described problems, the present invention provides a housing having a housing portion for housing an electrical contact in an inspection jig for inspecting an electrical property of the inspection object by bringing the electrical contact into contact with the inspection object. A body is provided, and the above-described electrical contact is provided as an electrical contact.

上記の課題を解決するため、本発明は、検査対象物に電気接触子を接触させて、検査対象物の電気的特性を検査する検査治具において、電気接触子を収容する収容部を有する収容体を備え、電気接触子は、上述の電気接触子であり、収容部は、電気接触子の大径部が収容される大径収容部とばね部の大径部以外の部分である小径部が収容される小径収容部とを有し、大径収容部と小径収容部との境部には、大径部が当接する段部が形成されていることとしてもよい。 In order to solve the above-described problems, the present invention provides a housing having a housing portion for housing an electrical contact in an inspection jig for inspecting an electrical property of the inspection object by bringing the electrical contact into contact with the inspection object. The electrical contact is the above-described electrical contact, and the accommodating portion is a small diameter portion that is a portion other than the large diameter accommodating portion in which the large diameter portion of the electrical contact is accommodated and the large diameter portion of the spring portion. It is good also as the step part which a large diameter part contact | abuts is formed in the boundary part of a large diameter accommodating part and a small diameter accommodating part.

以上のように、本発明の電気接触子および検査治具によれば、接触不良のトラブルの発生を防止でき、また、生産コストを抑えることが可能となる。 As described above, according to the electrical contact and the inspection jig of the present invention, it is possible to prevent troubles due to poor contact and to reduce production costs.

本発明の実施の形態１に係る検査治具を示す正面図である。It is a front view which shows the inspection jig which concerns on Embodiment 1 of this invention. 図１のＥ−Ｅ方向から検査治具を示す図である。It is a figure which shows an inspection jig from the EE direction of FIG. 図１に示す検査治具の内部構造を説明するための拡大断面図である。It is an expanded sectional view for demonstrating the internal structure of the inspection jig shown in FIG. 図３に示す接触子の正面図である。It is a front view of the contact shown in FIG. 図３に示す接触子の平面図である。It is a top view of the contact shown in FIG. 図３に示す接触子の底面図である。It is a bottom view of the contact shown in FIG. 収容体の収容孔内に、接触子を配置した後、電極保持体を収容体に取り付ける前の状態を示す拡大断面図である。It is an expanded sectional view showing a state before attaching an electrode holder to a container after arranging a contact in a container hole of a container. 検査治具の拡大断面図であり、回路基板に接触子を接触させる前の状態を示す図である。It is an expanded sectional view of an inspection jig, and is a figure showing the state before making a contact child contact a circuit board. 検査治具の拡大断面図であり、回路基板に接触子を接触させた後の状態を示す図である。It is an expanded sectional view of an inspection jig, and is a figure showing the state after making a contact child contact a circuit board. 検査側端部の先端部が、回路電極に対して斜めに接触した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which the front-end | tip part of the test | inspection side edge part contacted diagonally with respect to the circuit electrode. 本発明の実施の形態２にかかる接触子の構成を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the contactor concerning Embodiment 2 of this invention. 図１１に示す接触子の構成を示す底面図である。It is a bottom view which shows the structure of the contactor shown in FIG. 本発明の実施の形態３に係る接触子の構成を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the contactor which concerns on Embodiment 3 of this invention. 図１３に示す接触子の球状部が、レジストに当接した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which the spherical part of the contactor shown in FIG. 13 contact | abutted to the resist. 図１４に示す接触子の球状部が、凹部内に入り回路電極に接触した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which the spherical part of the contactor shown in FIG. 14 entered the recessed part, and contacted the circuit electrode. 図１３に示す接触子の球状部を形成する方法を説明する図である。It is a figure explaining the method of forming the spherical part of the contact shown in FIG. 本発明の実施の形態４に係る接触子の構成を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the contactor which concerns on Embodiment 4 of this invention. 図１７に示す接触子の折り返し部が、レジストに当接した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which the folding | returning part of the contactor shown in FIG. 17 contact | abutted to the resist. 図１７に示す接触子の折り返し部が、凹部内に入り回路電極に接触した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which the folding | turning part of the contactor shown in FIG. 17 entered the recessed part, and contacted the circuit electrode. 図１７に示す接触子を小径孔の側から取り付けることを説明する図である。It is a figure explaining attaching the contact shown in FIG. 17 from the small diameter hole side.

以下、本発明の第１の実施の形態を図面に基づいて説明する。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the invention will be described with reference to the drawings.

（検査治具の構成）
先ず、図１から図３を参照しながら検査治具１の全体的な構成について説明する。図１は、本発明の実施の形態にかかる検査治具１を示す正面図である。図２は、図１のＥ−Ｅ方向から見た検査治具１を示す図である。図３は、図１および図２に示す検査治具１の内部構造を説明するための拡大断面図である。なお、図２では、一部の電気接触子２および収容孔３にのみ符号を付している。以下の説明において、図中矢印Ｘ１方向を左方向、Ｘ２方向を右方向、Ｙ１方向を上方、Ｙ２方向を下方、そして、Ｚ１方向を前方、Ｚ２方向を後方として説明を行う。 (Configuration of inspection jig)
First, the overall configuration of the inspection jig 1 will be described with reference to FIGS. 1 to 3. FIG. 1 is a front view showing an inspection jig 1 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a view showing the inspection jig 1 viewed from the EE direction of FIG. FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view for explaining the internal structure of the inspection jig 1 shown in FIGS. 1 and 2. In FIG. 2, only some of the electrical contacts 2 and the accommodation holes 3 are denoted by reference numerals. In the following description, the arrow X1 direction is the left direction, the X2 direction is the right direction, the Y1 direction is the upper direction, the Y2 direction is the lower direction, the Z1 direction is the front, and the Z2 direction is the rear.

本実施の形態の検査治具１は、回路基板やＩＣ等の検査対象物である回路基板Ｐ（図８，９等参照）の電気的特性を検査して、回路基板Ｐの短絡や断線等の異常を発見するための電気的検査に用いられるものである。 The inspection jig 1 of the present embodiment inspects the electrical characteristics of a circuit board P (see FIGS. 8 and 9, etc.) that is an inspection object such as a circuit board or IC, and the circuit board P is short-circuited or disconnected. It is used for electrical inspection to detect abnormalities.

この検査治具１は、図１〜図３に示すように、複数の電気接触子２（以下、「接触子２」と記載する。）と、接触子２が一つずつ配置される複数の収容孔３が形成される収容体４と、収容孔３に収容された接触子２の治具側端部５にそれぞれ接触する複数の電極６と、これら複数の電極６を保持する電極保持体７と、検査治具１が備えられる検査装置（図示省略）の本体部と検査治具１とを電気的に接続する配線部８等、を有している。配線部８は、電極６毎に備えられる複数の導線９（図３参照）によって構成されている。 As shown in FIGS. 1 to 3, the inspection jig 1 includes a plurality of electric contacts 2 (hereinafter referred to as “contact 2”) and a plurality of contacts 2 arranged one by one. A housing 4 in which the housing hole 3 is formed, a plurality of electrodes 6 that respectively contact the jig-side end 5 of the contact 2 housed in the housing hole 3, and an electrode holder that holds the plurality of electrodes 6 7 and a wiring portion 8 for electrically connecting a main body portion of an inspection apparatus (not shown) provided with the inspection jig 1 and the inspection jig 1. The wiring portion 8 is constituted by a plurality of conducting wires 9 (see FIG. 3) provided for each electrode 6.

接触子２は、電極６に接触する治具側端部５と、回路基板Ｐの被検査端子として回路電極Ｐ１（図８、図９等参照）に接触する検査側端部１０と、治具側端部５と検査側端部１０とを繋ぎ、収容孔３の内部に収容される部分を有する本体部１２等を有している。 The contact 2 includes a jig-side end 5 that contacts the electrode 6, a test-side end 10 that contacts the circuit electrode P1 (see FIGS. 8 and 9, etc.) as a terminal to be inspected of the circuit board P, and a jig. The side end portion 5 and the inspection side end portion 10 are connected to each other, and a main body portion 12 having a portion accommodated in the accommodation hole 3 is provided.

接触子２は、治具側端部５から検査側端部１０までが、導電性を有する線材１３によって一体に形成されている。この線材１３は、たとえば、螺旋状に巻き回されたときに螺旋部がばね性を有することができる材質のものが使用されている。線材１３としては、たとえば、ニッケル合金、ピアノ線、タングステン合金等を使用することができる。接触子２を形成する線材１３は、たとえば、直径が０.０５ｍｍ程度であり、また、電極６に接触する治具側端部５の先端部１４から、検査側端部１０の先端部１５での長さが、４．８ｍｍ程度の構成となっている。 In the contact 2, the jig side end 5 to the inspection side end 10 are integrally formed by a conductive wire 13. The wire 13 is made of, for example, a material whose spiral portion can have a spring property when wound in a spiral shape. For example, a nickel alloy, a piano wire, a tungsten alloy, or the like can be used as the wire 13. The wire 13 forming the contact 2 has, for example, a diameter of about 0.05 mm, and extends from the tip 14 of the jig-side end 5 that contacts the electrode 6 to the tip 15 of the inspection-side end 10. Has a length of about 4.8 mm.

収容体４は、絶縁性材料によってブロック状に形成されている。この収容体４には、上述のように、複数の収容孔３が形成されている。具体的には、収容体４には、図２、図３に示すように上下方向に貫通する収容孔３が複数形成されている。なお、図２では、説明の便宜上、前後方向および左右方向に所定ピッチで均等に収容孔３が形成された収容体４を図示しているが、実際には、収容孔３は、回路基板Ｐの回路電極Ｐ１の配置に対応した配置となっている。 The container 4 is formed in a block shape from an insulating material. The housing 4 is formed with a plurality of housing holes 3 as described above. Specifically, the housing 4 is formed with a plurality of housing holes 3 penetrating in the vertical direction as shown in FIGS. In FIG. 2, for convenience of explanation, the accommodation body 4 in which the accommodation holes 3 are uniformly formed at a predetermined pitch in the front-rear direction and the left-right direction is illustrated. The arrangement corresponds to the arrangement of the circuit electrode P1.

収容孔３は、略円柱状に形成されている。具体的には、収容孔３は、上端側に形成される大径収容部としての大径孔１６と、この大径孔１６から下方に続き、大径孔１６の直径よりやや直径が小さい小径収容部としての小径孔１７とから構成されている。大径孔１６と小径孔１７との境界部分には、段部２５が形成されている。 The accommodation hole 3 is formed in a substantially cylindrical shape. Specifically, the accommodation hole 3 includes a large-diameter hole 16 as a large-diameter accommodation portion formed on the upper end side, and a small diameter that continues downward from the large-diameter hole 16 and is slightly smaller in diameter than the large-diameter hole 16. It is comprised from the small diameter hole 17 as an accommodating part. A step portion 25 is formed at a boundary portion between the large diameter hole 16 and the small diameter hole 17.

電極保持体７は、収容体４と同様に、絶縁性材料によってブロック状に形成されている。この電極保持体７は、ネジ等の固定手段によって収容体４に固定されている。 Similarly to the container 4, the electrode holder 7 is formed in a block shape from an insulating material. The electrode holder 7 is fixed to the container 4 by fixing means such as screws.

本実施の形態では、配線部８を構成する複数の導線９のそれぞれの先端部分９Ａが電極６となっている。具体的には、図３に示すように、導線９の先端部分９Ａが電極保持体７に接着固定されており、電極保持体７に接着固定された部分が電極６となっている。電極６は、収容孔３の径方向の中心位置と電極６の径方向の中心位置とが略一致するように、電極保持体７に保持されている。１つの電極６には、１つの接触子２の治具側端部５が対応し接触している。 In the present embodiment, the tip portions 9 A of the plurality of conductive wires 9 constituting the wiring portion 8 are the electrodes 6. Specifically, as shown in FIG. 3, the tip end portion 9 A of the conducting wire 9 is bonded and fixed to the electrode holder 7, and the portion bonded and fixed to the electrode holder 7 is the electrode 6. The electrode 6 is held by the electrode holder 7 so that the center position in the radial direction of the accommodation hole 3 and the center position in the radial direction of the electrode 6 substantially coincide. One electrode 6 is in contact with and corresponding to the jig-side end 5 of one contactor 2.

導線９は、たとえば、銅線の回りに絶縁層となる絶縁被膜（図示省略）が形成されたエナメル線である。この導線９の先端（図３における電極６の下端面、すなわち、接触子２の治具側端部５との接触面）には、所定のメッキ層が形成されている。 The conducting wire 9 is, for example, an enameled wire in which an insulating film (not shown) serving as an insulating layer is formed around a copper wire. A predetermined plating layer is formed on the leading end of the conductive wire 9 (the lower end surface of the electrode 6 in FIG. 3, that is, the contact surface with the jig side end portion 5 of the contact 2).

（電気接触子の構成）
次に、接触子２の詳細な構成について、図４、図５、図６等を参照しながら説明する。図４は、図３に示す接触子２を前方から見た正面図である。図５は、図４に示す接触子２を上方から見た平面図である。図６は、図４に示す接触子２を下方から見た底面図である。図７は、収容体４の収容孔３内に、接触子２を配置した後、電極保持体７を収容体４に取り付ける前の状態を示す拡大断面図である。 (Configuration of electrical contact)
Next, a detailed configuration of the contact 2 will be described with reference to FIGS. 4, 5, 6 and the like. FIG. 4 is a front view of the contact 2 shown in FIG. 3 as viewed from the front. FIG. 5 is a plan view of the contact 2 shown in FIG. 4 as viewed from above. FIG. 6 is a bottom view of the contact 2 shown in FIG. 4 as viewed from below. FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view showing a state before the electrode holder 7 is attached to the container 4 after the contact 2 is disposed in the container hole 3 of the container 4.

接触子２は、図４等に示すように、治具側端部５と、本体部１２と、検査側端部１０等とを有している。接触子２は、本体部１２を挟んで、一方の側（図４では上方）に治具側端部５が配置され、本体部１２の他方の側（図４では下方）に検査側端部１０が配置されている。また、接触子２は、１本の線材１３を巻き軸Ｌの周りに螺旋状に巻き回され、治具側端部５と本体部１２と検査側端部１０とが一本の線材１３により一体に構成されている。線材１３として、たとえば、ニッケル合金等の導線が使用されているため、接触子２は、検査側端部１０から治具側端部５に亘って電気的に導通が確保されている。 As shown in FIG. 4 and the like, the contact 2 has a jig side end portion 5, a main body portion 12, an inspection side end portion 10 and the like. The contact 2 has a jig-side end 5 disposed on one side (upper in FIG. 4) with the main body 12 sandwiched therebetween, and an inspection-side end on the other side (lower in FIG. 4) of the main body 12. 10 is arranged. In addition, the contact 2 is formed by spirally winding a single wire 13 around the winding axis L, and the jig-side end portion 5, the main body portion 12, and the inspection-side end portion 10 are formed by a single wire rod 13. It is constructed integrally. For example, since a conducting wire such as a nickel alloy is used as the wire 13, the contact 2 is electrically secured from the inspection side end 10 to the jig side end 5.

治具側端部５は、本体部１２の側から先端部１４（上方）に向かって巻き径が小さくなるように巻き回され、巻径縮小部１８として構成されている。本実施の形態では、巻径縮小部１８は、約１巻き半に亘って線材１３が巻かれた構成となっている。そして、先端部１４を形成する線材１３は、先端部１４が平らになるように巻き回のピッチ角が概ね０度とされている。また、図５に示すように、先端部１４に巻かれる線材１３の先端部分１９は、線材１３が巻かれる円弧部分から巻き軸Ｌの側に折り曲げられ巻き軸Ｌを通るように形成されている。さらに、巻径縮小部１８は、線材１３が間隔を開けて巻き回されている。したがって、巻径縮小部１８は、圧縮ばねの性状を有し、巻き軸Ｌの軸方向に沿う方向（上下方向）に弾性を有して変形可能に構成されている。 The jig side end portion 5 is wound so that the winding diameter decreases from the main body portion 12 side toward the distal end portion 14 (upward), and is configured as a winding diameter reducing portion 18. In the present embodiment, the winding diameter reducing portion 18 has a configuration in which the wire 13 is wound over about one and a half turns. The wire rod 13 forming the tip portion 14 has a winding pitch angle of approximately 0 degrees so that the tip portion 14 becomes flat. As shown in FIG. 5, the tip end portion 19 of the wire rod 13 wound around the tip portion 14 is formed so as to be bent from the arc portion around which the wire rod 13 is wound toward the winding axis L and pass through the winding axis L. . Further, the wire diameter reducing portion 18 is wound with the wire 13 spaced apart. Therefore, the winding diameter reduction part 18 has the property of a compression spring, and has elasticity in a direction (vertical direction) along the axial direction of the winding axis L so as to be deformable.

本体部１２は、密着巻き部２１と、ばね部としてのばね巻き部２２とを有する。密着巻き部２１では、線材１３が密着して巻き回されている。ばね巻き部２２では、線材１３が間隔を開けて巻き回されている。したがって、ばね巻き部２２は、圧縮ばねの性状を有し、巻き軸Ｌに沿って上下方向に弾性を有しながら変形することができる。一方、密着巻き部２１は、線材１３が互いに密着しているため縮み方向に変化し難く、また、巻き軸Ｌと直交する方向についても、剛性が高く変形し難い構成となっている。本体部１２は、ばね巻き部２２の上端部に設けられる大径部２３を除いて、密着巻き部２１およびばね巻き部２２の巻き径は同一に構成されている。大径部２３は、約１巻き分形成され、本体部１２の他の部分よりも大きな巻き径に形成されている。 The main body 12 includes a tightly wound portion 21 and a spring wound portion 22 as a spring portion. In the tightly wound part 21, the wire 13 is wound in close contact. In the spring winding part 22, the wire 13 is wound at an interval. Therefore, the spring winding portion 22 has the properties of a compression spring and can be deformed while having elasticity in the vertical direction along the winding axis L. On the other hand, the tightly wound portion 21 does not easily change in the shrinking direction because the wires 13 are in close contact with each other, and also has a configuration that is highly rigid and difficult to deform in the direction orthogonal to the winding axis L. The main body 12 has the same winding diameter of the tightly wound portion 21 and the spring wound portion 22 except for the large diameter portion 23 provided at the upper end portion of the spring wound portion 22. The large-diameter portion 23 is formed for about one turn, and has a larger winding diameter than the other portions of the main body portion 12.

検査側端部１０は、本体部１２から先端部１５（下方）に向かって巻き径が小さくなるように巻き回され、巻径縮小部２４として構成されている。本実施の形態では、巻径縮小部２４は、約４巻き半に亘って線材１３が巻かれた構成となっている。そして、先端部１５を形成する線材１３は、先端部１５が平らになるように巻き回しのピッチ角が概ね０度とされている。また、図６に示すように、先端部１５に巻かれる線材１３の先端部分２６は、線材１３が巻かれる円弧部分から巻き軸Ｌの側に折り曲げられ巻き軸Ｌを通るように形成されている。さらに、巻径縮小部２４は、線材１３が間隔を開けて巻き回されている。したがって、巻径縮小部２４は、圧縮ばねの性状を有し、上下方向に弾性を有して変形可能に構成されている。 The inspection-side end portion 10 is wound as the winding diameter decreases from the main body portion 12 toward the distal end portion 15 (downward), and is configured as a winding diameter reduction portion 24. In the present embodiment, the winding diameter reducing portion 24 has a configuration in which the wire 13 is wound over approximately four and a half turns. The wire rod 13 forming the tip portion 15 has a winding pitch angle of approximately 0 degrees so that the tip portion 15 becomes flat. As shown in FIG. 6, the tip portion 26 of the wire 13 wound around the tip portion 15 is formed to be bent from the arc portion around which the wire 13 is wound toward the winding axis L and pass through the winding shaft L. . Furthermore, the wire diameter reduction part 24 is wound with the wire 13 spaced apart. Therefore, the winding diameter reduction part 24 has the property of a compression spring, has elasticity in the vertical direction, and is configured to be deformable.

接触子２は、上述したように、たとえば、線材１３の直径が０．０５ｍｍ、治具側端部５の先端部１４から検査側端部１０の先端部１５までの長さＮ１が４．８ｍｍ程度に構成される。この場合、接触子２の各部の寸法は、たとえば、図４に示すように設定される。つまり、密着巻き部２１の長さＮ２が１．８ｍｍ、大径部２３を含むばね巻き部２２の長さＮ３が２．４ｍｍ、巻径縮小部１８の長さＮ４が０．２６ｍｍ、そして巻径縮小部２４の長さＮ５が０．３４ｍｍに形成される。また、本体部１２は、たとえば、大径部２３の直径Ｒ１が０．４ｍｍ、大径部２３以外の部分の直径Ｒ２が０．３４ｍｍに形成される。そして、巻径縮小部１８，２４の先端部１４，１５の直径Ｒ３は、たとえば、０．２１ｍｍに形成される。 As described above, in the contact 2, for example, the diameter of the wire 13 is 0.05 mm, and the length N1 from the distal end portion 14 of the jig side end portion 5 to the distal end portion 15 of the inspection side end portion 10 is 4.8 mm. Configured to the extent. In this case, the dimension of each part of the contact 2 is set as shown in FIG. 4, for example. That is, the length N2 of the tight winding portion 21 is 1.8 mm, the length N3 of the spring winding portion 22 including the large diameter portion 23 is 2.4 mm, the length N4 of the winding diameter reduction portion 18 is 0.26 mm, and the winding The length N5 of the diameter reducing portion 24 is formed to be 0.34 mm. Further, the main body 12 is formed, for example, such that the diameter R1 of the large diameter portion 23 is 0.4 mm and the diameter R2 of portions other than the large diameter portion 23 is 0.34 mm. And the diameter R3 of the front-end | tip parts 14 and 15 of the winding diameter reduction parts 18 and 24 is formed in 0.21 mm, for example.

上述のように構成される接触子２は、図７に示すように、収容孔３の内部に配置される。各部の寸法が上述のように設定される接触子２に対して、収容孔３の各部の寸法は、たとえば、図７に示すように設定される。つまり、収容孔３の小径孔１７の内径Ｍ１は、接触子２の本体部１２の直径Ｒ２よりもやや太く設定され、たとえば、直径Ｒ２＝０．３４ｍｍの本体部１２に対して、小径孔１７は内径Ｍ１＝０．３５ｍｍに設定されている。また、収容孔３の上部に形成される大径部２３の内径Ｍ２は、接触子２の大径部２３の直径Ｒ１と同一に設定され、たとえば、上述のように直径Ｒ１＝０．４ｍｍの大径部２３に対して、大径孔１６は内径Ｍ２＝０．４ｍｍに設定されている。また、収容体４の厚さＨは、４ｍｍに設定されている。したがって、収容孔３の長さも４ｍｍに設定されている。そして、収容孔３の大径孔１６の上下方向長さＴ１は、０．１６ｍｍに、小径孔１７の上下方向長さＴ２は、３．８４ｍｍにそれぞれ設定されている。 The contact 2 configured as described above is arranged inside the accommodation hole 3 as shown in FIG. For the contact 2 in which the dimensions of the respective parts are set as described above, the dimensions of the respective parts of the accommodation hole 3 are set, for example, as shown in FIG. That is, the inner diameter M1 of the small-diameter hole 17 of the accommodation hole 3 is set to be slightly thicker than the diameter R2 of the main body 12 of the contact 2, for example, the small-diameter hole 17 with respect to the main body 12 having a diameter R2 = 0.34 mm. Is set to an inner diameter M1 = 0.35 mm. Further, the inner diameter M2 of the large diameter portion 23 formed in the upper portion of the accommodation hole 3 is set to be the same as the diameter R1 of the large diameter portion 23 of the contact 2, and for example, as described above, the diameter R1 = 0.4 mm. For the large diameter portion 23, the large diameter hole 16 is set to have an inner diameter M2 = 0.4 mm. Further, the thickness H of the container 4 is set to 4 mm. Therefore, the length of the accommodation hole 3 is also set to 4 mm. The vertical length T1 of the large-diameter hole 16 of the accommodation hole 3 is set to 0.16 mm, and the vertical length T2 of the small-diameter hole 17 is set to 3.84 mm.

接触子２は、大径孔１６の側から検査側端部１０を挿入方向に向けて収容孔３内に挿入される。そして、図７に示すにように、大径部２３が段部２５に当接するまで挿入される。検査側端部１０および本体部１２は、小径孔１７よりもわずかに細い直径に設定されている。そのため、検査用端部１０および本体部１２は、小径孔１７内にスムーズに挿入することができる。そして、大径部２３が段部２５に当接することで、接触子２は、上下方向の位置決めが行われる。なお、大径部２３の直径Ｒ１と、大径孔１６の内径Ｍ２とは同一である。そのため、大径部２３を大径孔１６に挿入する際には、大径部２３を大径孔１６に押し込む力をわずかに掛けて、大径部２３を大径孔１６に圧入することになる。 The contact 2 is inserted into the accommodation hole 3 from the large-diameter hole 16 side with the inspection-side end 10 facing the insertion direction. And as shown in FIG. 7, it inserts until the large diameter part 23 contact | abuts to the step part 25. FIG. The inspection-side end portion 10 and the main body portion 12 are set to have a slightly smaller diameter than the small-diameter hole 17. Therefore, the inspection end portion 10 and the main body portion 12 can be smoothly inserted into the small diameter hole 17. And the large diameter part 23 contact | abuts to the step part 25, and the contactor 2 is positioned in the up-down direction. The diameter R1 of the large diameter portion 23 and the inner diameter M2 of the large diameter hole 16 are the same. Therefore, when the large diameter portion 23 is inserted into the large diameter hole 16, a force that pushes the large diameter portion 23 into the large diameter hole 16 is slightly applied to press the large diameter portion 23 into the large diameter hole 16. Become.

大径部２３が段部２５に当接した状態で、密着巻き部２１の一部および検査側端部１０が、収容体４の下面から下方に突出し、また、治具側端部５の一部は、収容体４の上面から上方に突出する。具体的には、接触子２および収容孔３が上述の寸法設定となっているので、接触子２が収容体４の下面から突出する突出長ｔ１は、０．７ｍｍとなっている。また治具側端部５が収容体４の上面から突出する突出長ｔ２は、０．１ｍｍとなっている。 In a state where the large-diameter portion 23 is in contact with the step portion 25, a part of the tightly wound portion 21 and the inspection-side end portion 10 protrude downward from the lower surface of the container 4, and one of the jig-side end portions 5 The portion protrudes upward from the upper surface of the container 4. Specifically, since the contact 2 and the accommodation hole 3 are set as described above, the protruding length t1 at which the contact 2 protrudes from the lower surface of the accommodation body 4 is 0.7 mm. Further, the protruding length t2 at which the jig-side end portion 5 protrudes from the upper surface of the container 4 is 0.1 mm.

接触子２が図７に示すにように各収容孔３に挿入された後、電極６が向けられた電極保持体７が、収容体４に対して取り付けられる。接触子２の治具側端部５の先端部１４は、収容体４の上面から突出している。したがって、電極保持体７が収容体４の上面に取り付けられると、接触子２の治具側端部５が電極６に対して付勢された状態で接触する。治具側端部５が電極６に対して付勢されていることで、電極６との電気的接触を確実なものとすることができる。 After the contact 2 is inserted into each accommodation hole 3 as shown in FIG. 7, the electrode holder 7 to which the electrode 6 is directed is attached to the accommodation body 4. The tip end portion 14 of the jig-side end portion 5 of the contact 2 protrudes from the upper surface of the container 4. Therefore, when the electrode holder 7 is attached to the upper surface of the container 4, the jig-side end 5 of the contact 2 comes into contact with the electrode 6 while being urged. The jig side end portion 5 is biased with respect to the electrode 6, so that electrical contact with the electrode 6 can be ensured.

（検査治具１の使用時の動作）
次に、検査治具１を用いて検査対象物である回路基板Ｐの検査を行う際の検査治具１の動作を、図８、図９を参照しながら説明する。図８は、検査治具１の拡大断面図であり、回路基板Ｐに接触子２を接触させる前の状態を示す。図９も、検査治具１の拡大断面図であり、図９については、回路基板Ｐに接触子２を接触させた後の状態を示している。 (Operation when using the inspection jig 1)
Next, the operation of the inspection jig 1 when inspecting the circuit board P, which is an inspection object, using the inspection jig 1 will be described with reference to FIGS. FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view of the inspection jig 1 and shows a state before the contact 2 is brought into contact with the circuit board P. FIG. FIG. 9 is also an enlarged cross-sectional view of the inspection jig 1. FIG. 9 shows a state after the contact 2 is brought into contact with the circuit board P.

先ず、図８に示すように、検査治具１の各検査側端部１０と、回路基板Ｐの検査が行われる所定の回路電極Ｐ１とが上下方向で対向するように、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置を合わせる。なお、図８および図９では、説明の便宜のため、１つの検査側端部１０と回路基板Ｐの所定の回路電極Ｐ１とが表わされている。各検査側端部１０と所定の回路電極Ｐ１とが上下方向で対向している状態で、検査治具１を回路基板Ｐ側に移動する。そうすると、図９に示すように、各検査側端部１０が所定の回路電極Ｐ１に当接し、検査治具１の移動量に応じて、接触子２のばね巻き部２２が縮み、検査側端部１０が回路電極Ｐ１に対して付勢された状態で接触する。この際、密着巻き部２１の上下方向の長さはほとんど変化しない。各検査側端部１０が所定の回路電極Ｐ１に接触することで、回路基板Ｐの回路電極Ｐ１と電極６とが接触子２を介して導通され、回路基板Ｐの検査が可能な状態となる。 First, as shown in FIG. 8, the inspection jig 1 is arranged so that each inspection-side end portion 10 of the inspection jig 1 and a predetermined circuit electrode P 1 to be inspected of the circuit board P face each other in the vertical direction. The relative position with the circuit board P is adjusted. 8 and 9, one inspection-side end 10 and a predetermined circuit electrode P1 of the circuit board P are shown for convenience of explanation. The inspection jig 1 is moved to the circuit board P side in a state where each inspection-side end portion 10 and the predetermined circuit electrode P1 face each other in the vertical direction. Then, as shown in FIG. 9, each inspection-side end portion 10 abuts on a predetermined circuit electrode P 1, and the spring winding portion 22 of the contact 2 contracts according to the amount of movement of the inspection jig 1, and the inspection-side end The part 10 comes into contact with the circuit electrode P1 while being biased. At this time, the length in the vertical direction of the tightly wound portion 21 hardly changes. When each inspection-side end 10 comes into contact with a predetermined circuit electrode P1, the circuit electrode P1 and the electrode 6 of the circuit board P are brought into conduction through the contact 2 and the circuit board P can be inspected. .

（本実施の形態の主な効果）
以上のように、検査治具１および接触子２を構成することにより、以下に説明する効果を有する。 (Main effects of this embodiment)
As described above, configuring the inspection jig 1 and the contact 2 has the effects described below.

先ず、本実施の形態に係る形態では、接触子２は、１本の線材１３によって構成されている。つまり、接触子２は１つの部材から構成されている。したがって、構成が極めて簡単であり、また、単一の部材であるため、部品間での接触不良という問題がない。また、接触子２は全長が数ミリ程度の部材である。そのため、仮に接触子２が複数の部材から構成される場合には、組み立てに際して、極めて細かい作業が要求される。しかしながら、本実施の形態のように、接触子２を１つの部材から構成することにより、接触子２の組み立て作業が不要になり、組み立て工数を少なくすることができる。さらに、部品点数が減り、部品コストを削減することが可能となる。また、接触子２は、ほぼ全体が線材１３を螺旋状に巻かれて構成されている。そのため、線材１３を線状に構成する場合に比べて剛性と弾性を有する構成とすることができる。たとえば、上述したように線材１３は、直径０．０５ｍｍ程度であり、接触子２の全体を線状に構成した場合には、塑性変形し易い。これに対し、線材１３が螺旋状に巻かれることで、接触子２を剛性を有しながら弾性変形可能な構成とすることができる。 First, in the form according to the present embodiment, the contact 2 is constituted by a single wire 13. That is, the contact 2 is composed of one member. Therefore, the configuration is extremely simple, and since it is a single member, there is no problem of poor contact between components. The contact 2 is a member having a total length of several millimeters. Therefore, if the contact 2 is composed of a plurality of members, extremely fine work is required for assembly. However, as in the present embodiment, the contactor 2 is composed of one member, so that the assembly work of the contactor 2 becomes unnecessary, and the number of assembly steps can be reduced. Furthermore, the number of parts can be reduced, and the part cost can be reduced. In addition, the contact 2 is substantially entirely configured by winding a wire 13 in a spiral shape. Therefore, it can be set as the structure which has rigidity and elasticity compared with the case where the wire 13 is comprised in linear form. For example, as described above, the wire 13 has a diameter of about 0.05 mm, and is easily plastically deformed when the entire contactor 2 is formed in a linear shape. On the other hand, when the wire 13 is wound spirally, the contactor 2 can be configured to be elastically deformable while having rigidity.

また、接触子２は、接触子２の長さ方向の一端側に配置され回路基板Ｐに接触する検査側端部１０と、この検査側端部１０に対して他端側に配置され検査治具１の電極６に接触する治具側端部５と、検査側端部１０と治具側端部５とを繋ぎ、収容孔３に収容される部分を有する本体部１２とを有している。そして、この本体部１２は、線材１３が螺旋状に圧縮ばねの性状を有するように巻かれたばね部としてのばね巻き部２２を有している。 Further, the contact 2 is arranged on one end side in the length direction of the contact 2 and is in contact with the circuit board P, and the inspection side end 10 is arranged on the other end side with respect to the inspection side end 10. A jig-side end portion 5 that comes into contact with the electrode 6 of the tool 1, an inspection-side end portion 10 and the jig-side end portion 5, and a body portion 12 having a portion that is accommodated in the accommodation hole 3. Yes. And this main-body part 12 has the spring winding part 22 as a spring part wound so that the wire 13 might have the property of a compression spring helically.

このように構成される接触子２は、ばね巻き部２２が弾性を有して伸縮することができ、検査側端部１０を回路基板Ｐの回路電極Ｐ１に当接させる際に、検査側端部１０を回路電極Ｐ１に対して付勢された状態で当接させることができる。このため、検査側端部１０と回路電極Ｐ１との電気的接触を確実なものとすることができる。 The contact 2 configured in this manner can be expanded and contracted with the spring winding portion 22 having elasticity. When the inspection-side end 10 is brought into contact with the circuit electrode P1 of the circuit board P, the inspection-side end The portion 10 can be brought into contact with the circuit electrode P1 while being urged. For this reason, electrical contact between the inspection-side end 10 and the circuit electrode P1 can be ensured.

また、接触子２は、検査側端部１０が、線材１３が圧縮ばねの性状を有するように巻かれているため、巻き軸Ｌに沿う方向に弾性を有する。このため、検査側端部１０は、図１０に示すように巻き軸Ｌに対して左右前後方向に撓むことができる。その結果、先端部１５を、回路電極Ｐ１に対して斜めに接触させることができる。 Moreover, since the test | inspection side edge part 10 is wound so that the wire 13 may have a compression spring property, the contact 2 has elasticity in the direction along the winding axis L. For this reason, the test | inspection side edge part 10 can bend in the left-right front-back direction with respect to the winding axis L, as shown in FIG. As a result, the tip 15 can be brought into contact with the circuit electrode P1 at an angle.

回路電極Ｐ１の周囲には、レジストＰ２が盛られ、回路電極Ｐ１は、レジストＰ２の凹部Ｐ３の内側に配置されている。このため、たとえば、先端がピン状の接触子Ｓを用いた場合には、接触子Ｓの先端が回路電極Ｐ１から僅かに外れレジストＰ２の表面に当接してしまうと、もはや、接触子Ｓを回路電極Ｐ１に接触させることができない。 A resist P2 is deposited around the circuit electrode P1, and the circuit electrode P1 is disposed inside the recess P3 of the resist P2. For this reason, for example, when the contact S having a pin-like shape is used, if the tip of the contact S is slightly detached from the circuit electrode P1 and comes into contact with the surface of the resist P2, the contact S is no longer used. It cannot be brought into contact with the circuit electrode P1.

これに対し、検査側端部１０は、ばね状に巻かれているため、巻き軸Ｌに対して左右前後方向に撓むことができる。また、検査側端部１０の先端部１５が平らになっている。そのため、検査側端部１０の先端部１５が、レジストＰ２の凹部Ｐ３側の縁部Ｐ４に当接してしまう場合であっても、検査側端部１０が撓むことで、縁部Ｐ４から回路電極Ｐ１側にはみ出た先端部１５が、回路電極Ｐ１に接触する方向に傾斜し、先端部１５を回路電極Ｐ１に接触させることができる。つまり、検査にあたっては、巻き軸Ｌが回路電極Ｐ１（凹部Ｐ３）の中心に位置するように、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置を位置合わせすることが理想であるが、この位置合わせにずれが生じ、先端部１５が縁部Ｐ４に当たるような状態であっても、接触子２の先端部１５と回路電極Ｐ１との接触を確実に行うことができる。 On the other hand, since the inspection-side end portion 10 is wound in a spring shape, it can be bent with respect to the winding axis L in the left-right and front-rear directions. Further, the tip 15 of the inspection side end 10 is flat. For this reason, even if the tip 15 of the inspection-side end 10 comes into contact with the edge P4 on the recess P3 side of the resist P2, the inspection-side end 10 bends to cause a circuit from the edge P4. The tip portion 15 protruding to the electrode P1 side is inclined in a direction in contact with the circuit electrode P1, and the tip portion 15 can be brought into contact with the circuit electrode P1. That is, in the inspection, it is ideal to align the relative position of the inspection jig 1 and the circuit board P so that the winding axis L is positioned at the center of the circuit electrode P1 (recess P3). Even in a state where the alignment is displaced and the tip portion 15 hits the edge portion P4, the tip portion 15 of the contactor 2 and the circuit electrode P1 can be reliably contacted.

また、治具側端部５も、線材１３がばね状に巻かれているため、巻き軸Ｌに沿う方向に弾性を有する。このため、治具側端部５も、巻き軸Ｌに対して左右前後方向に撓むことができる。その結果、電極６と電極保持体７との間に段部があり、先端部１４がこの段部にかかるように当接する場合であっても、接触子２の先端部１４と電極６との接触を確実に行うことができる。 Further, the jig-side end portion 5 also has elasticity in the direction along the winding axis L because the wire 13 is wound in a spring shape. For this reason, the jig side end portion 5 can also bend in the left-right front-rear direction with respect to the winding axis L. As a result, there is a step portion between the electrode 6 and the electrode holder 7, and even when the tip portion 14 is in contact with the step portion, the tip portion 14 of the contact 2 and the electrode 6 Contact can be made reliably.

接触子２は、上述したように、ばね巻き部２２が弾性を有して伸縮することができる。そのため、検査側端部１０を回路基板Ｐの回路電極Ｐ１に当接させた状態で検査治具１を回路基板Ｐ側に移動すると、ばね巻き部２２が縮み、検査側端部１０が上方に移動し、図９に示すように小径孔１７内に入り込む。本実施の形態においては、接触子２は、検査側端部１０において、先端に向かって巻き径が小さくなるように線材１３が巻き回されている。そのため、検査側端部１０が、小径孔１７の開口縁部１７Ａに引っ掛かり、検査側端部１０の上方への移動が阻止されてしまうことが防止される。たとえば、上述の図１０に示すように、検査側端部１０の先端部１５がレジストＰ２の凹部Ｐ３側の縁部Ｐ４に当接し、検査側端部１０が左右前後方向に撓んだ状態で、上方に移動するようなことが発生する場合がある。このような場合であっても、検査側端部１０が先端に向かって巻き径が小さくなるように、線材１３が巻かれていることで、検査側端部１０が小径孔１７の開口縁部１７Ａに引っ掛かってしまうことを防止できる。 As described above, the contact 2 can be expanded and contracted with the spring winding portion 22 having elasticity. Therefore, when the inspection jig 1 is moved to the circuit board P side with the inspection-side end portion 10 in contact with the circuit electrode P1 of the circuit board P, the spring winding portion 22 is contracted and the inspection-side end portion 10 is moved upward. It moves into the small diameter hole 17 as shown in FIG. In the present embodiment, in the contact 2, the wire 13 is wound around the inspection-side end portion 10 so that the winding diameter decreases toward the tip. Therefore, it is prevented that the inspection side end portion 10 is caught by the opening edge portion 17A of the small diameter hole 17 and the upward movement of the inspection side end portion 10 is prevented. For example, as shown in FIG. 10 described above, the front end portion 15 of the inspection side end portion 10 abuts on the edge portion P4 on the concave portion P3 side of the resist P2, and the inspection side end portion 10 is bent in the left-right front-rear direction. In some cases, it may move upward. Even in such a case, the inspection-side end 10 is opened at the edge of the small-diameter hole 17 by winding the wire 13 so that the winding diameter of the inspection-side end 10 decreases toward the tip. It can prevent being caught by 17A.

電極保持体７を収容体４に取り付ける際には、収容体４の上面から一部が突出している治具側端部５を、大径孔１６内に圧縮して収容させる。したがって、治具側端部５が大径孔１６の開口縁部１６Ａに引っ掛かると、電極保持体７と収容体４との合わせ部に治具側端部５の一部が挟み込まれることになり、治具側端部５と電極６との接続が不良になる虞がある。しかしながら、接触子２は、治具側端部５も、先端に向かって巻き径が小さくなるように線材１３が巻かれている。そのため、電極保持体７を収容体４に取り付ける際、治具側端部５が、大径孔１６の開口縁部１６Ａに引っ掛かってしまうことを防止できる。 When the electrode holder 7 is attached to the container 4, the jig side end portion 5, part of which protrudes from the upper surface of the container 4, is compressed and accommodated in the large-diameter hole 16. Accordingly, when the jig-side end 5 is caught by the opening edge 16A of the large-diameter hole 16, a part of the jig-side end 5 is sandwiched between the joining portion of the electrode holder 7 and the container 4. The connection between the jig side end 5 and the electrode 6 may be poor. However, in the contact 2, the wire 13 is wound around the jig-side end 5 so that the winding diameter decreases toward the tip. Therefore, it is possible to prevent the jig side end portion 5 from being caught by the opening edge portion 16 A of the large-diameter hole 16 when the electrode holder 7 is attached to the container 4.

また、接触子２の本体部１２には、ばね巻き部２２と検査側端部１０との間に、密着巻き部２１が形成されている。ばね巻き部２２が伸縮し、接触子２が小径孔１７内を上下方向に移動する際に、密着巻き部２１が小径１７の内周面にガイドされる。密着巻き部２１は、線材１３が互いに密着しているため縮み方向に変化し難く、また、巻き軸Ｌと直交する方向についても、剛性が高く変形し難い構成となっている。そのため、密着巻き部２１が、小径孔１７の内周面に対して確実にガイドされ、検査側端部１０の左右前後方向へのぶれを抑えることができる。したがって、たとえば、検査側端部１０が左右前後方向にぶれることによる、回路電極Ｐ１との接触不良を防止することができる。 Further, a tightly wound portion 21 is formed on the main body portion 12 of the contact 2 between the spring wound portion 22 and the inspection side end portion 10. When the spring winding portion 22 expands and contracts and the contact 2 moves up and down in the small diameter hole 17, the tight winding portion 21 is guided to the inner peripheral surface of the small diameter 17. The tightly wound portion 21 does not easily change in the shrinking direction because the wires 13 are in close contact with each other, and has a configuration that is highly rigid and difficult to deform in the direction orthogonal to the winding axis L. Therefore, the tightly wound portion 21 is reliably guided with respect to the inner peripheral surface of the small-diameter hole 17, and the shaking of the inspection-side end portion 10 in the left-right front-rear direction can be suppressed. Therefore, for example, it is possible to prevent poor contact with the circuit electrode P 1 due to the inspection-side end portion 10 swaying in the left-right front-rear direction.

なお、密着巻き部２１の長さを長くとることで、接触子２は、小径１７に対してより安定的にガイドされることになるが、密着巻き部２１を長くすると、ばね巻き部２２の長さが短くなる。ばね巻き部２２の長さが短くなると、ばね巻き部２２が伸縮する際において、ばね巻き部２２の単位長さ当たりの伸縮量（変位量）が多くなり、ばね巻き部２２の劣化（へたり）の進行が早くなる。したがって、接触子２の小径孔１７によるガイドの安定面とばね巻き部２２の劣化面とから、密着巻き部２１およびばね巻き部２２の長さを適切に設定する必要がある。たとえば、本実施の形態における検査治具１における接触子２においては、検査側端部１０の先端部１５の上下方向の変位量に対して、密着巻き部２１の長さを概ね４倍程度とし、また、ばね巻き部２２の長さを概ね６倍とすることで、接触子２が収容孔３により安定してガイドされると共に、ばね巻き部２２の劣化を良好に抑えることができる。また、密着巻き部２１にこの程度の長さを持たせることで、接触子２を収容孔３に挿入する作業等を行う際に、ピンセットで密着巻き部２１を摘むことができ、接触子２の取り扱いを容易なものとすることができる。 The contact 2 is guided more stably with respect to the small diameter 17 by increasing the length of the tightly wound portion 21, but if the closely wound portion 21 is lengthened, the contact portion 2 of the spring wound portion 22 is increased. The length is shortened. When the length of the spring winding portion 22 is shortened, when the spring winding portion 22 expands and contracts, the amount of expansion / contraction (displacement amount) per unit length of the spring winding portion 22 increases and the spring winding portion 22 deteriorates (sagging). ) Progresses faster. Therefore, it is necessary to appropriately set the lengths of the tightly wound portion 21 and the spring winding portion 22 from the stable surface of the guide by the small diameter hole 17 of the contact 2 and the deteriorated surface of the spring winding portion 22. For example, in the contact 2 in the inspection jig 1 according to the present embodiment, the length of the tightly wound portion 21 is approximately four times the vertical displacement of the tip portion 15 of the inspection-side end portion 10. Moreover, by making the length of the spring winding part 22 approximately six times, the contact 2 can be stably guided by the accommodation hole 3, and deterioration of the spring winding part 22 can be satisfactorily suppressed. Further, by providing the contact winding part 21 with such a length, the contact winding part 21 can be picked up with tweezers when the contact 2 is inserted into the accommodation hole 3 or the like. Can be handled easily.

また、接触子２は、本体部１２のばね巻き部２２の上部には、収容孔３の大径孔１６内に圧入することができるように巻き径が設定された大径部２３が形成されている。そのため、収容体４から電極保持体７が取り外された状態で、収容体４の電極保持体７が取り付けられる面が下方に向いている場合にであっても、収容孔３から、接触子２が抜け落ちてしまうことがない。 Further, the contact 2 is formed with a large-diameter portion 23 having a winding diameter set at the upper portion of the spring winding portion 22 of the main body portion 12 so as to be press-fit into the large-diameter hole 16 of the accommodation hole 3. ing. For this reason, even when the electrode holder 7 is detached from the container 4 and the surface of the container 4 to which the electrode holder 7 is attached is directed downward, the contact 2 from the container hole 3. Will not fall out.

検査治具１は、回路基板Ｐの下面に配置される回路電極Ｐ１に対して接触子２を接触することができるように、回路基板Ｐの下側に配置されることがある。この場合には、検査側端部１０が上方に位置し、治具側端部５が下方に位置する。したがって、収容体４から電極保持体７を取り外すことで、接触子２を下方に取り出すことが可能となるが、大径部２３が大径孔１６に圧入されていることで、接触子２が不用意に収容孔３から抜け落ちてしまうことを防ぐことができる。 The inspection jig 1 may be disposed below the circuit board P so that the contact 2 can be brought into contact with the circuit electrode P1 disposed on the lower surface of the circuit board P. In this case, the inspection-side end portion 10 is positioned above, and the jig-side end portion 5 is positioned below. Therefore, by removing the electrode holder 7 from the container 4, it is possible to take out the contact 2 downward. However, since the large diameter portion 23 is press-fitted into the large diameter hole 16, the contact 2 is It is possible to prevent inadvertent dropping from the accommodation hole 3.

接触子２の治具側端部５の先端部分１９および検査側端部１０の先端部分２６は、巻き軸Ｌを通るように形成されている。そのため、接触子２が巻き軸Ｌを中心に自転しても、先端部分１９、先端部分２６は、巻き軸Ｌ上に配置されている。つまり、接触子２が収容孔３の中に収容されたときに、接触子２が巻き軸Ｌの周り対してどのように配置されても、先端部分１９および先端部分２６は、巻き軸Ｌ上を通るように配置されている。したがって、接触子２と、電極６および回路電極Ｐとの接触を確実なものとすることができる。 The tip portion 19 of the jig-side end portion 5 of the contact 2 and the tip portion 26 of the inspection-side end portion 10 are formed so as to pass through the winding shaft L. Therefore, even if the contact 2 rotates about the winding axis L, the tip portion 19 and the tip portion 26 are arranged on the winding shaft L. That is, when the contact 2 is accommodated in the accommodation hole 3, no matter how the contact 2 is arranged around the winding axis L, the distal end portion 19 and the distal end portion 26 are located on the winding axis L. It is arranged to pass through. Therefore, contact between the contact 2 and the electrode 6 and the circuit electrode P can be ensured.

（接触子の第２の実施の形態）
接触子は、図１１および図１２に示す接触子３０として構成することができる。図１１は、検査治具１の拡大断面図であり、接触子３０の正面図が示されている。また、図１２は、図１１に示す接触子３０を下方から見た接触子２の底面図である。図１１および図１２において、上述の第１の実施の形態と同様の構成部分については、同一の符号を付し、その説明を省略する。 (Second Embodiment of Contact)
The contact can be configured as a contact 30 shown in FIGS. 11 and 12. FIG. 11 is an enlarged cross-sectional view of the inspection jig 1 and shows a front view of the contact 30. FIG. 12 is a bottom view of the contact 2 when the contact 30 shown in FIG. 11 is viewed from below. In FIG. 11 and FIG. 12, the same components as those in the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

接触子３０は、図１１および図１２に示すように、接触子３０の検査側端部１０の先端部１５に、柱状部３１が設けられている。この柱状部３１は、先端部１５に巻かれる線材１３の先端部分３２を下方に向けて巻き軸Ｌに沿わせることで形成することができる。先端部１５に柱状部３１を設けることで、接触子３０と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。 As shown in FIGS. 11 and 12, the contact 30 is provided with a columnar portion 31 at the distal end portion 15 of the inspection-side end portion 10 of the contact 30. The columnar portion 31 can be formed by having the tip portion 32 of the wire 13 wound around the tip portion 15 face the winding axis L downward. By providing the columnar portion 31 at the distal end portion 15, the contact between the contact 30 and the circuit electrode P 1 of the circuit board P can be made more reliable.

また、接触子３０の治具側端部５の先端部１４に、先端部１５と同様の柱状部を設けてもよい。先端部１４に柱状部を設けることで、接触子３０と電極６との接触をより確実なものとすることができる。 Further, a columnar portion similar to the tip portion 15 may be provided at the tip portion 14 of the jig-side end portion 5 of the contact 30. By providing the columnar part at the tip part 14, the contact between the contact 30 and the electrode 6 can be made more reliable.

（接触子の第３の実施の形態）
また、接触子は、図１３に示す接触子４０として構成することができる。図１３は、検査治具１の拡大断面図であり、接触子４０の正面図が示されている。図１３において、上述の第１の実施の形態と同様の構成部分については、同一の符号を付し、その説明を省略する。 (Third embodiment of contact)
Moreover, a contactor can be comprised as the contactor 40 shown in FIG. FIG. 13 is an enlarged cross-sectional view of the inspection jig 1 and shows a front view of the contact 40. In FIG. 13, the same components as those in the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

接触子４０は、図１３に示すように、接触子４０の検査側端部１０の先端部１５に、球状部４１が設けられている。先端部１５に球状部４１を設けることで、接触子４０と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。接触子４０の回路電極Ｐ１への接触は、接触子４０の巻き軸Ｌが回路電極Ｐ１（凹部Ｐ３）の中心に位置するように、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置を位置合わせされた状態で行うことが好ましい。しかしながら、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置の位置合わせができていない場合には、図１４に示すように、球状部４１がレジストＰ２に当接してしまう場合がある。このような場合であっても、球状部４１が、レジストＰ２の凹部Ｐ３側の縁部Ｐ４に当接する場合には、図１５に示すように、球状部４１が縁部Ｐ４を滑って、凹部Ｐ３内に入り、回路電極Ｐ１に接触することができる。このように、先端部１５に球状部４１を設けることで、接触子４０と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。 As shown in FIG. 13, the contact 40 is provided with a spherical portion 41 at the tip 15 of the inspection side end 10 of the contact 40. By providing the spherical portion 41 at the distal end portion 15, the contact between the contact 40 and the circuit electrode P 1 of the circuit board P can be made more reliable. The contact of the contact 40 to the circuit electrode P1 is performed by aligning the relative positions of the inspection jig 1 and the circuit board P so that the winding axis L of the contact 40 is positioned at the center of the circuit electrode P1 (recess P3). It is preferable to carry out in the state. However, if the relative positions of the inspection jig 1 and the circuit board P are not aligned, the spherical portion 41 may come into contact with the resist P2 as shown in FIG. Even in such a case, when the spherical portion 41 abuts on the edge portion P4 on the concave portion P3 side of the resist P2, the spherical portion 41 slides on the edge portion P4 as shown in FIG. It can enter P3 and contact the circuit electrode P1. Thus, by providing the spherical portion 41 at the distal end portion 15, the contact between the contact 40 and the circuit electrode P 1 of the circuit board P can be made more reliable.

また、接触子４０の治具側端部５の先端部１４に、先端部１５と同様の球状部を設けてもよい。先端部１４に球状部を形成することで、電極６と電極保持体７との間に段部がある場合に、この段部に、先端部１４に設けられる球状部が当接したとしても、接触子４０と電極６との接触を確実に行うことができる。 Further, a spherical portion similar to the tip portion 15 may be provided at the tip portion 14 of the jig-side end portion 5 of the contact 40. By forming a spherical portion at the tip portion 14, when there is a step portion between the electrode 6 and the electrode holder 7, even if the spherical portion provided at the tip portion 14 abuts on this step portion, Contact between the contact 40 and the electrode 6 can be reliably performed.

検査側端部１０の先端部１５に設けられる球状部４１は、例えば、次のようにして形成することができる。球状部４１の形成に当たっては、先ず、図１６に示すように、先端部１５に巻かれる線材１３の先端部分４３を、巻き軸Ｌに沿って延設しておく。そして、この延設された先端部分４３にレーザーを照射し加熱することで、先端部分４３を熔解する。そうすると、熔解部分が表面張力により球状になり、球状となった熔解部分が冷却されることで球状部４１が形成される。 The spherical part 41 provided in the front-end | tip part 15 of the test | inspection side edge part 10 can be formed as follows, for example. In forming the spherical portion 41, first, as shown in FIG. 16, the tip portion 43 of the wire 13 wound around the tip portion 15 is extended along the winding axis L. Then, the tip portion 43 is melted by irradiating the heated tip portion 43 with a laser and heating it. If it does so, a melted part will become spherical by surface tension, and the spherical part 41 will be formed by cooling the melted part which became spherical.

なお、加熱は、レーザー照射の他に、バーナーや加熱された小手等を用いて行うことができる。また、治具側端部５の先端部１４に設けられる球状部についても、先端部１４に巻かれる線材１３の先端部分を、巻き軸Ｌに沿って延設しておき、上述した、球状部４１と同様の手段により形成することができる。 Note that heating can be performed using a burner, a heated hand, or the like in addition to laser irradiation. Moreover, also about the spherical part provided in the front-end | tip part 14 of the jig | tool side edge part 5, the front-end | tip part of the wire 13 wound around the front-end | tip part 14 is extended along the winding axis L, and the spherical part mentioned above is mentioned. It can be formed by means similar to 41.

（接触子の第４の実施の形態）
さらに、接触子は、図１７に示す接触子５０として構成することができる。図１７は、検査治具１の拡大断面図であり、接触子５０の正面図が示されている。図１７において、上述の第１の実施の形態と同様の構成部分については、同一の符号を付し、その説明を省略する。接触子５０は、図１７に示すように、接触子５０を形成する線材１３の回路基板Ｐ側の先端部分を、接触子５０の先端側から本体部１２の側にフック状に折り返した折り返し部５１を検査側端部として構成したものである。折り返し部５１は、巻き軸Ｌを挟んで配置される側部５２，５３、および側部５２と側部５３とを繋ぐ円弧部５４等を有する。 (Fourth embodiment of contact)
Furthermore, the contact can be configured as a contact 50 shown in FIG. FIG. 17 is an enlarged cross-sectional view of the inspection jig 1 and shows a front view of the contact 50. In FIG. 17, the same components as those in the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. As shown in FIG. 17, the contact 50 is a folded portion in which the tip of the wire 13 forming the contact 50 on the side of the circuit board P is folded in a hook shape from the tip of the contact 50 toward the main body 12. 51 is configured as an inspection side end. The folded portion 51 includes side portions 52 and 53 disposed with the winding shaft L interposed therebetween, and an arc portion 54 that connects the side portion 52 and the side portion 53.

回路電極Ｐ１に対しては円弧部５４が接触する。折り返し部５１の先端部分を円弧部５４にて形成することで、接触子５０と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。接触子５０の回路電極Ｐ１への接触は、接触子５０の巻き軸Ｌが回路電極Ｐ１（凹部Ｐ３）の中心に位置するように、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置を位置合わせされた状態で行うことが好ましい。しかしながら、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置の位置合わせができていない場合には、図１８に示すように、円弧部５４がレジストＰ２に当接してしまう場合がある。このような場合であっても、円弧部５４が、レジストＰ２の凹部Ｐ３側の縁部Ｐ４に当接する場合には、図１９に示すように、円弧部５４が縁部Ｐ４を滑って、凹部Ｐ３内に入り、回路電極Ｐ１に接触することができる。このように、折り返し部５１に円弧部５４を設けることで、接触子２と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。 The circular arc portion 54 is in contact with the circuit electrode P1. By forming the tip portion of the folded portion 51 by the arc portion 54, the contact between the contact 50 and the circuit electrode P1 of the circuit board P can be made more reliable. The contact of the contact 50 to the circuit electrode P1 is performed by aligning the relative positions of the inspection jig 1 and the circuit board P so that the winding axis L of the contact 50 is positioned at the center of the circuit electrode P1 (recess P3). It is preferable to carry out in the state. However, when the relative positions of the inspection jig 1 and the circuit board P are not aligned, the arc portion 54 may come into contact with the resist P2 as shown in FIG. Even in such a case, when the arc portion 54 contacts the edge portion P4 on the concave portion P3 side of the resist P2, the arc portion 54 slides on the edge portion P4 as shown in FIG. It can enter P3 and contact the circuit electrode P1. Thus, by providing the arc portion 54 in the folded portion 51, the contact between the contact 2 and the circuit electrode P1 of the circuit board P can be made more reliable.

なお、側部５２と側部５３の巻き軸Ｌを挟む方向の最大幅Ｗ１（図１７参照）は、小径孔１７の内径Ｍ１（図７参照）よりも狭く設定されている。折り返し部５１を回路電極Ｐ１に接触させた状態で検査治具１を回路基板Ｐ側に移動した場合には、ばね巻き部２２が圧縮され折り返し部５１が上方に変位する。上述のように、側部５２と側部５３の巻き軸Ｌを挟む方向の最大幅Ｗ１が、小径孔１７の内径Ｍ２よりも狭く設定されているため、折り返し部５１は収容孔３の中に入り込むことができる。そのため、折り返し部５１の上方への変位が妨げられることはない。 Note that the maximum width W1 (see FIG. 17) in the direction of sandwiching the winding axis L between the side portion 52 and the side portion 53 is set to be narrower than the inner diameter M1 (see FIG. 7) of the small-diameter hole 17. When the inspection jig 1 is moved to the circuit board P side with the folded portion 51 in contact with the circuit electrode P1, the spring winding portion 22 is compressed and the folded portion 51 is displaced upward. As described above, since the maximum width W1 in the direction of sandwiching the winding axis L between the side portion 52 and the side portion 53 is set to be narrower than the inner diameter M2 of the small diameter hole 17, the folded portion 51 is placed in the accommodation hole 3. I can get in. Therefore, the upward displacement of the folded portion 51 is not hindered.

また、接触子５０は、図１７に示すように、接触子５０を形成する線材１３の電極６側の先端部分を接触子５０の先端側から本体部１２の側にフック状に折り返した折り返し部５５が治具側端部として構成されている。折り返し部５５は、巻き軸Ｌを挟んで配置される側部５６，５７、および側部５６と側部５７とを繋ぐ円弧部５８、そして側部５７の先端に形成される曲げ部５９等を有する。 In addition, as shown in FIG. 17, the contact 50 is a folded portion in which the tip end portion on the electrode 6 side of the wire 13 forming the contact 50 is folded back in a hook shape from the tip end side of the contact 50 to the main body portion 12 side. 55 is configured as a jig side end. The folded portion 55 includes side portions 56 and 57 arranged with the winding axis L in between, an arc portion 58 connecting the side portion 56 and the side portion 57, a bent portion 59 formed at the tip of the side portion 57, and the like. Have.

電極６に対しては円弧部５８が接触する。折り返し部５５の先端部分を円弧部５８にて形成することで、接触子２と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。つまり、たとえば、電極６と電極保持体７との間に段部があり、折り返し部５５の円弧部５８がこの段部に当接する場合であっても、接触子２と電極６との接触を確実に行うことができる。 The arc portion 58 contacts the electrode 6. By forming the tip portion of the folded portion 55 at the arc portion 58, the contact between the contact 2 and the circuit electrode P1 of the circuit board P can be made more reliable. That is, for example, even when there is a step portion between the electrode 6 and the electrode holder 7 and the arc portion 58 of the folded portion 55 abuts on this step portion, the contact between the contact 2 and the electrode 6 is prevented. It can be done reliably.

側部５７の巻き軸Ｌからの最大幅Ｗ２は、折り返し部５５を大径孔１６内に配置する前の状態において、大径孔１６の内径Ｍ２（図７参照）の１／２と同一かそれよりやや広く設定されている。そのため、折り返し部５０を大径孔１６に挿入する際には、折り返し部５０を大径孔１６に押し込む力を僅かにかけて、折り返し部５０を大径孔に圧入することになる。そのため、収容体４から電極保持体７が取り外された状態で、収容体４の電極保持体７が取り付けられる面が下方に向いている場合であっても、収容孔３から、接触子５０が抜け落ちてしまうことがない。 Is the maximum width W2 from the winding axis L of the side portion 57 equal to ½ of the inner diameter M2 (see FIG. 7) of the large-diameter hole 16 before the folded portion 55 is arranged in the large-diameter hole 16? It is set a little wider than that. For this reason, when the folded portion 50 is inserted into the large diameter hole 16, a force that pushes the folded portion 50 into the large diameter hole 16 is slightly applied to press the folded portion 50 into the large diameter hole. For this reason, even when the electrode holder 7 is detached from the container 4 and the surface of the container 4 to which the electrode holder 7 is attached is directed downward, the contact 50 is inserted from the container hole 3. It will not fall out.

なお、曲げ部５９が段部２５に当接した状態において、本体部１２の密着巻き部２１の一部および折り返し部５１が、収容体４の下面から下方に突出し、また、折り返し部５５の円弧部５８の一部が、収容体４の上面から上方に突出するように、折り返し部５１、折り返し部５５等の上下方向の長さが設定されている。円弧部５８の一部が収容体４の上面から上方に突出することで、収容体４に電極保持体７が装着されたときに、円弧部５８が電極６に対して接触することができる。 In a state where the bent portion 59 is in contact with the step portion 25, a part of the tightly wound portion 21 of the main body portion 12 and the folded portion 51 protrude downward from the lower surface of the container 4, and the arc of the folded portion 55. The vertical lengths of the folded portion 51, the folded portion 55, etc. are set so that a part of the portion 58 protrudes upward from the upper surface of the container 4. A part of the arc portion 58 protrudes upward from the upper surface of the container 4 so that the arc portion 58 can come into contact with the electrode 6 when the electrode holder 7 is attached to the container 4.

折り返し部５５を大径孔１６に収容した状態で、曲げ部５９の先端部６０が、段部２５よりも巻き軸Ｌ側に位置するように、曲げ部５９は、巻き軸Ｌの側に折り曲げられている。したがって、接触子５０を折り返し部５１側に引っ張ると、曲げ部５９の斜面６１が段部２５を乗り越えることができ、接触子５０を、小径孔１７の側から取り出すことができる。 In a state in which the folded portion 55 is accommodated in the large-diameter hole 16, the bending portion 59 is bent toward the winding shaft L so that the distal end portion 60 of the bending portion 59 is positioned on the winding shaft L side with respect to the step portion 25. It has been. Therefore, when the contact 50 is pulled toward the folded portion 51, the inclined surface 61 of the bent portion 59 can get over the step portion 25, and the contact 50 can be taken out from the small diameter hole 17 side.

また、側部５７は、線材１３の有するばね性により巻き軸Ｌと直交する方向に弾性的に変位することができ、側部５６と側部５７との間の間隔Ｄを変えることができる。そのため、図２０に示すように、接触子５０を、折り返し部５５の側から、小径孔１７内に挿入することができる。つまり、折り返し部５５を小径孔１７内に挿入すると、側部５７が巻き軸Ｌ側に変位し、側部５６と側部５７との間の間隔Ｄが狭まる。そのため、接触子５０を小径孔１７の側から挿入することができる。そして、折り返し部５５が、小径孔１７を通って大径孔１６に至ると、側部５６と側部５７との間の間隔Ｄが広がり、曲げ部５９が段部２５に当接した状態となり、接触子５０の上下方向の位置決めが行われる。 Further, the side portion 57 can be elastically displaced in the direction orthogonal to the winding axis L due to the spring property of the wire rod 13, and the distance D between the side portion 56 and the side portion 57 can be changed. Therefore, as shown in FIG. 20, the contact 50 can be inserted into the small-diameter hole 17 from the folded-back portion 55 side. That is, when the folded portion 55 is inserted into the small diameter hole 17, the side portion 57 is displaced to the winding axis L side, and the distance D between the side portion 56 and the side portion 57 is narrowed. Therefore, the contact 50 can be inserted from the small diameter hole 17 side. When the folded portion 55 reaches the large-diameter hole 16 through the small-diameter hole 17, the space D between the side portion 56 and the side portion 57 is widened, and the bent portion 59 is in contact with the step portion 25. The positioning of the contact 50 in the vertical direction is performed.

このように、小径孔１７の側から、接触子５０を取り出したり、また、挿入することもできる。したがって、電極保持体７を収容体４から取り外すことなく、接触子５０の収容孔３への取り外し、取り付けを行うことができる。 In this manner, the contact 50 can be taken out or inserted from the small diameter hole 17 side. Therefore, it is possible to remove and attach the contact 50 to the housing hole 3 without removing the electrode holder 7 from the housing 4.

上述した接触子２，３０，４０，５０は、金メッキが施されることが好ましい。金メッキが施されることで、接触子２，３０，４０，５０の電気抵抗を低減させることができる。また、金メッキを施すことで、各接触子２，３０，４０，５０の密着巻き部２１において接触し合う線材１３同士が、金メッキで互いに固定され、密着巻き部２１を変形し難くすることができる。そのため、密着巻き部２１の収容孔３（小径孔１７）の内周面によるガイドがより確実に行われ、検査側端部１０の左右前後へのぶれを抑えることができる。したがって、たとえば、検査側端部１０が左右前後にぶれることによる、回路電極Ｐ１との接触不良を防止することができる。 The contacts 2, 30, 40 and 50 described above are preferably plated with gold. By applying the gold plating, the electrical resistance of the contacts 2, 30, 40, 50 can be reduced. Also, by applying gold plating, the wires 13 that are in contact with each other at the tightly wound portions 21 of the respective contacts 2, 30, 40, and 50 are fixed to each other by gold plating, so that the tightly wound portions 21 are hardly deformed. . Therefore, the guide by the inner peripheral surface of the accommodation hole 3 (small-diameter hole 17) of the tightly wound portion 21 is more reliably performed, and the inspection side end portion 10 can be prevented from being shaken back and forth. Therefore, for example, it is possible to prevent poor contact with the circuit electrode P 1 due to the inspection-side end portion 10 swaying back and forth.

１ … 検査治具
２，３０，４０，５０ … 電気接触子
３ … 収容孔
４ … 収容体
５ … 治具側端部
１０ … 検査側端部
１２ … 本体部
１３ … 線材
１６ … 大径孔（大径収容部）
１７ … 小径孔（小径収容部）
２１ … 密着巻き部
２２ … ばね巻き部（ばね部）
２３ … 大径部
２５ … 段部
３１ … 柱状部
４１ … 球状部
５１ … 折り返し部
Ｐ … 回路基板（検査対象物） DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Inspection jig 2, 30, 40, 50 ... Electric contact 3 ... Housing hole 4 ... Housing 5 ... Jig side edge part 10 ... Inspection side edge part 12 ... Main-body part 13 ... Wire material 16 ... Large diameter hole ( Large diameter housing)
17 ... Small diameter hole (small diameter accommodating part)
21 ... Close winding part 22 ... Spring winding part (spring part)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 23 ... Large diameter part 25 ... Step part 31 ... Columnar part 41 ... Spherical part 51 ... Folded part P ... Circuit board (inspection object)

Claims

An electrical contactor used in an inspection jig for inspecting the electrical characteristics of an inspection object, and disposed inside the accommodation hole of the inspection jig,
The electrical contact is composed of a wire,
An inspection-side end that is arranged on one end side in the length direction of the electrical contact and contacts the inspection object;
A jig side end which is arranged on the other end side with respect to the one end side and contacts the contact of the inspection jig;
Connecting the inspection side end and the jig side end, and having a main body portion accommodated in the accommodation hole,
The main body has a spring portion wound so that the wire has a spring property in a spiral shape,
An electrical contact characterized by that.

The electrical contact according to claim 1,
At least one of the inspection side end portion or the jig side end portion is formed in a spring shape by winding the wire.
An electrical contact characterized by that.

The electrical contact according to claim 2,
At least one of the inspection side end or the jig side end is wound with the wire so that the winding diameter decreases toward the tip.
An electrical contact characterized by that.

The electrical contact according to any one of claims 2 and 3,
A columnar portion extending along the winding axis of the wound wire is formed at at least one tip of the inspection side end or the jig side end.
An electrical contact characterized by that.

The electrical contact according to any one of claims 2 and 3,
At least one tip of the inspection side end or the jig side end is provided with a spherical portion.
An electrical contact characterized by that.

The electrical contact according to claim 1,
At least one of the inspection-side end portion or the jig-side end portion is formed by a folded portion that is folded from the end portion side of the electric contactor to the main body portion side.
An electrical contact characterized by that.

The electrical contact according to claim 1,
The main body portion has a tightly wound portion wound between the spring portion and the inspection-side end portion so that the wires are in close contact with each other.
An electrical contact characterized by that.

The electrical contact according to claim 1,
A part of the spring part of the main body part has a large diameter part having a winding diameter larger than the winding diameter of the other part of the spring part so as to be press-fitted into the housing part.
An electrical contact characterized by that.

The electrical contact according to any one of claims 1 to 8,
The electrical contact is coated with gold plating,
An electrical contact characterized by that.

In the inspection jig for inspecting the electrical characteristics of the inspection object by bringing an electrical contact into contact with the inspection object,
A housing having a housing for housing the electrical contact;
The electrical contact is the electrical contact according to any one of claims 1 to 9,
Inspection jig characterized by that.

In the inspection jig for inspecting the electrical characteristics of the inspection object by bringing an electrical contact into contact with the inspection object,
A housing having a housing for housing the electrical contact;
The electrical contact is the electrical contact according to claim 8,
The accommodating portion includes a large diameter accommodating portion that accommodates a large diameter portion of the electrical contact and a small diameter accommodating portion that accommodates a small diameter portion that is a portion other than the large diameter portion of the spring portion. At the boundary portion between the diameter accommodating portion and the small diameter accommodating portion, a step portion with which the large diameter portion abuts is formed.
Inspection jig characterized by that.