JP2010258230A - Semiconductor light-emitting device and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor light-emitting device capable of improving the efficiency of light extraction and facilitating the production of a thin package, and to provide a method of manufacturing the same. <P>SOLUTION: The semiconductor light-emitting device 1 includes a substrate 10, an epitaxial growth layer 8 arranged on the substrate, a surface electrode layer 20 arranged on the epitaxial growth layer 8, a back electrode layer 22 arranged on the backside of the substrate 10, a first insulating layer 24a formed along the side 42a of the substrate 10 and arranged so as to extend on a first sidewall surface composed of the substrate 10 and the epitaxial growth layer 8, and surfaces of the surface electrode 20 and the back electrode 22, and a first electrode layer 26a arranged on the first insulating layer 24a and part of the surface electrode layer 20. The method of manufacturing the device is also covered. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体発光素子およびその製造方法に関し、特に、光の取り出し効率の改善された半導体発光素子およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a semiconductor light emitting device and a manufacturing method thereof, and more particularly to a semiconductor light emitting device with improved light extraction efficiency and a manufacturing method thereof.

従来の発光ダイオード(LED:Light Emitting Diode)は、その構造上、基板上にエピタキシャル成長を行い、エピタキシャル成長層上に電極を形成している。このため、LED素子上部からの光の取り出し効率が悪い。   A conventional light emitting diode (LED) has a structure in which epitaxial growth is performed on a substrate and electrodes are formed on the epitaxial growth layer. For this reason, the light extraction efficiency from the LED element upper part is bad.

また、LED素子の組み立て時には、エピタキシャル成長層上に配置された電極に対してワイヤボンディングを実施する必要があり、このため薄型パッケージを実現する上で、妨げとなっている(例えば、特許文献1および特許文献2参照。)。   Moreover, when assembling the LED element, it is necessary to perform wire bonding on the electrode disposed on the epitaxial growth layer, which is an obstacle to realizing a thin package (for example, Patent Document 1 and (See Patent Document 2).

実開平5−4529号公報Japanese Utility Model Publication No. 5-4529 特開2000−77726号公報JP 2000-77726 A

本発明の目的は、光の取り出し効率の改善され、かつ薄型パッケージ化の容易な半導体発光素子およびその製造方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a semiconductor light-emitting device with improved light extraction efficiency and easy thin packaging and a method for manufacturing the same.

本発明の一態様によれば、基板と、前記基板上に配置されたエピタキシャル成長層と、前記エピタキシャル成長層上に配置された表面電極層と、前記基板の裏面に配置された裏面電極層と、前記基板の側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第1側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して配置された第1絶縁層と、前記第1絶縁層上および前記表面電極層上の一部に配置された第1電極層とを備える半導体発光素子が提供される。   According to one aspect of the present invention, a substrate, an epitaxial growth layer disposed on the substrate, a surface electrode layer disposed on the epitaxial growth layer, a back electrode layer disposed on a back surface of the substrate, A first insulating layer formed along a side surface of the substrate and extending on the surface of the substrate, the first sidewall surface comprising the epitaxially grown layer, the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer; There is provided a semiconductor light emitting device comprising a first electrode layer disposed on a part of the first insulating layer and on the surface electrode layer.

本発明の他の態様によれば、基板と、前記基板上に配置されたエピタキシャル成長層と、前記エピタキシャル成長層上に配置された表面電極層と、前記基板の裏面に配置された裏面電極層と、前記基板の側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第1側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して配置された第1絶縁層と、前記基板の前記側面に対向して並行に形成された側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第2側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して配置された第2絶縁層と、前記第1絶縁層上および前記第2絶縁層上および前記表面電極層上に配置された第1電極層とを備える半導体発光素子が提供される。   According to another aspect of the present invention, a substrate, an epitaxial growth layer disposed on the substrate, a surface electrode layer disposed on the epitaxial growth layer, a back electrode layer disposed on the back surface of the substrate, A first insulating layer formed along the side surface of the substrate and extending on the surface of the substrate, the first sidewall surface comprising the epitaxially grown layer, the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer And the substrate, the second side wall surface comprising the epitaxially grown layer, the surface of the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer, formed along the side surface formed in parallel to the side surface of the substrate Provided is a semiconductor light emitting device comprising: a second insulating layer disposed on the first insulating layer; and a first electrode layer disposed on the first insulating layer, the second insulating layer, and the surface electrode layer. It is.

本発明の他の態様によれば、基板上にエピタキシャル成長層を形成する工程と、前記エピタキシャル成長層上に表面電極層を形成する工程と、前記基板の裏面に裏面電極層を形成する工程と、前記基板の側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第1側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して第1絶縁層を形成する工程と、前記基板の前記側面に対向して並行に形成された側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第2側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して第2絶縁層を形成する工程と、前記第1絶縁層上および前記表面電極層上の一部に第1電極層を形成する工程と、前記第2絶縁層上および前記表面電極層上の一部に第2電極層を形成する工程とを有する半導体発光素子の製造方法が提供される。   According to another aspect of the present invention, a step of forming an epitaxial growth layer on a substrate, a step of forming a surface electrode layer on the epitaxial growth layer, a step of forming a back electrode layer on the back surface of the substrate, Forming a first insulating layer formed along a side surface of the substrate and extending on the surface of the substrate, the first sidewall surface made of the epitaxially grown layer, the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer; And the substrate, the second side wall surface comprising the epitaxially grown layer, the surface of the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer, formed along the side surface formed in parallel to the side surface of the substrate Forming a second insulating layer extending above, forming a first electrode layer on the first insulating layer and part of the surface electrode layer, on the second insulating layer, and surface The method of manufacturing a semiconductor light emitting device and a step of forming a second electrode layer is provided on a part of the electrode layer.

本発明の他の態様によれば、基板上にエピタキシャル成長層を形成する工程と、前記エピタキシャル成長層上に表面電極層を形成する工程と、前記基板の裏面に裏面電極層を形成する工程と、前記基板の側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第1側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して第1絶縁層を形成する工程と、前記基板の前記側面に対向して並行に形成された側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第2側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して第2絶縁層を形成する工程と、前記第1絶縁層上および前記第2絶縁層上および前記表面電極層上に第1電極層を形成する工程とを備える半導体発光素子の製造方法が提供される。   According to another aspect of the present invention, a step of forming an epitaxial growth layer on a substrate, a step of forming a surface electrode layer on the epitaxial growth layer, a step of forming a back electrode layer on the back surface of the substrate, Forming a first insulating layer formed along a side surface of the substrate and extending on the surface of the substrate, the first sidewall surface made of the epitaxially grown layer, the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer; And the substrate, the second side wall surface comprising the epitaxially grown layer, the surface of the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer, formed along the side surface formed in parallel to the side surface of the substrate Forming a second insulating layer extending thereon, and forming a first electrode layer on the first insulating layer, the second insulating layer, and the surface electrode layer. Method for manufacturing a device is provided.

本発明によれば、光の取り出し効率の改善され、かつ薄型パッケージ化の容易な半導体発光素子およびその製造方法を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a semiconductor light emitting device with improved light extraction efficiency and easy thin packaging and a method for manufacturing the same.

本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の模式的鳥瞰図。1 is a schematic bird's-eye view of a semiconductor light-emitting element according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子を実装基板上に搭載する様子を示す模式的鳥瞰図。The typical bird's-eye view which shows a mode that the semiconductor light-emitting device which concerns on the 1st Embodiment of this invention is mounted on a mounting substrate. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子を実装基板上に搭載した模式的断面構造図。1 is a schematic cross-sectional structure diagram in which a semiconductor light emitting element according to a first embodiment of the present invention is mounted on a mounting substrate. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法において、(a)ウェハプロセスの一工程を示す模式的断面構造図(その1)、(b)ウェハプロセスの一工程を示す模式的断面構造図(その2)、(c)ウェハプロセスの一工程を示す模式的断面構造図(その3)、(d)ウェハプロセスの一工程を示す模式的断面構造図(その4)。In the method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present invention, (a) a schematic cross-sectional structure diagram showing one step of a wafer process (part 1), (b) a schematic showing one step of a wafer process. Sectional Structural Diagram (Part 2), (c) Schematic Sectional Structure Diagram Showing One Step of Wafer Process (Part 3), (d) Schematic Sectional Structure Diagram Showing One Step Of Wafer Process (Part 4). 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法において、(a)LEDウェハを分割する様子を示す模式的鳥瞰図、(b)LEDウェハを分割して形成された複数のLEDバーの模式的鳥瞰図。In the method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present invention, (a) a schematic bird's-eye view showing a state of dividing an LED wafer, and (b) a plurality of LED bars formed by dividing the LED wafer. Schematic bird's-eye view. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法において、LEDバーとシリコンバーを積層し、LEDバー固定装置に挿入する一工程を示す模式的鳥瞰図。In the manufacturing method of the semiconductor light-emitting device concerning the 1st Embodiment of this invention, a typical bird's-eye view which shows one process of laminating | stacking an LED bar and a silicon bar, and inserting in an LED bar fixing device. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法において、LEDバーとシリコンバーを積層する一工程を示す模式的断面構造図。FIG. 3 is a schematic cross-sectional structure diagram showing one step of stacking LED bars and silicon bars in the method for manufacturing a semiconductor light emitting element according to the first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法に使用するシリコンバーの模式的鳥瞰図。The typical bird's-eye view of the silicon bar used for the manufacturing method of the semiconductor light-emitting device concerning the 1st embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法において、積層化されたLEDバーの側壁、表面電極層の一部および裏面電極層の一部に絶縁層を形成する工程を示す模式的断面構造図。The manufacturing method of the semiconductor light-emitting device concerning the 1st Embodiment of this invention WHEREIN: The process of forming an insulating layer in the side wall of laminated | stacked LED bar, a part of surface electrode layer, and a part of back electrode layer is shown. FIG. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法において、図9の工程後、LEDバーと反転されたシリコンバーを積層する一工程を示す模式的断面構造図。FIG. 10 is a schematic cross-sectional structure diagram showing a step of stacking an LED bar and an inverted silicon bar after the step of FIG. 9 in the method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法において、積層化されたLEDバーの絶縁層上および表面電極層の一部に電極層を形成する工程を示す模式的断面構造図。FIG. 2 is a schematic cross-sectional structure diagram showing a process of forming an electrode layer on an insulating layer of a stacked LED bar and a part of a surface electrode layer in the method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present invention. . (a)本発明の第1の実施の形態の変形例1に係る半導体発光素子を実装基板上に搭載した模式的断面構造図、(b)本発明の第1の実施の形態の変形例2に係る半導体発光素子を実装基板上に搭載した模式的断面構造図。(A) Schematic cross-sectional structure diagram in which a semiconductor light emitting element according to Modification 1 of the first embodiment of the present invention is mounted on a mounting substrate, (b) Modification 2 of the first embodiment of the present invention. The typical cross-section figure which mounted the semiconductor light emitting element which concerns on on a mounting board | substrate. 本発明の第2の実施の形態に係る半導体発光素子の模式的鳥瞰図。The typical bird's-eye view of the semiconductor light-emitting device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態に係る半導体発光素子を実装基板上に搭載する様子を示す模式的鳥瞰図。The typical bird's-eye view which shows a mode that the semiconductor light-emitting device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention is mounted on a mounting substrate. 本発明の第2の実施の形態に係る半導体発光素子を実装基板上に搭載した模式的断面構造図。The typical cross-section figure which mounted the semiconductor light-emitting device concerning the 2nd Embodiment of this invention on the mounting board | substrate.

次に、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法との関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な厚みや寸法は以下の説明を参酌して判断すべきものである。又、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。   Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description of the drawings, the same or similar parts are denoted by the same or similar reference numerals. However, it should be noted that the drawings are schematic, and the relationship between the thickness and the planar dimensions, the ratio of the thickness of each layer, and the like are different from the actual ones. Therefore, specific thicknesses and dimensions should be determined in consideration of the following description. Moreover, it is a matter of course that portions having different dimensional relationships and ratios are included between the drawings.

又、以下に示す第1〜第2の実施の形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の実施の形態は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。この発明の実施の形態は、特許請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。   The first to second embodiments described below exemplify apparatuses and methods for embodying the technical idea of the present invention, and the embodiments of the present invention include components. The material, shape, structure, arrangement, etc. are not specified below. Various modifications can be made to the embodiment of the present invention within the scope of the claims.

なお、以下の説明において、(AlxGa1-x)yIn1-yP(0<=x<1,0<y<=1)層を、簡単化してAlInGaP層と表示し、x=0に相当するGayIn1-yP(0<y<=1)層を、簡単化してInGaP層と表示する。 In the following description, the (Al x Ga 1-x ) y In 1-y P (0 <= x <1, 0 <y <= 1) layer is simplified and expressed as an AlInGaP layer, and x = A Ga y In 1-y P (0 <y <= 1) layer corresponding to 0 is simplified and displayed as an InGaP layer.

(第1の実施の形態)
本発明の第1の実施の形態に係る半導体発光素子1の模式的鳥瞰構造は、図1に示すように表される。また、第1の実施の形態に係る半導体発光素子1を実装基板32上に搭載する様子を示す模式的鳥瞰構造は、図2に示すように表される。また、第1の実施の形態に係る半導体発光素子1を実装基板32上に搭載した模式的断面構造は、図3に示すように表される。
(First embodiment)
A schematic bird's-eye view structure of the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment of the present invention is expressed as shown in FIG. Also, a schematic bird's-eye view showing a state in which the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment is mounted on the mounting substrate 32 is expressed as shown in FIG. Further, a schematic cross-sectional structure in which the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment is mounted on the mounting substrate 32 is expressed as shown in FIG.

第1の実施の形態に係る半導体発光素子1は、図1に示すように、基板10と、基板10上に配置されたエピタキシャル成長層8と、エピタキシャル成長層8上に配置された表面電極層20と、基板10の裏面に配置された裏面電極層22と、基板10の側面42aに沿って形成され、基板10、エピタキシャル成長層8からなる第1側壁面および表面電極層20の表面および裏面電極層22の表面上に延在して配置された第1絶縁層24aと、第1絶縁層24a上および表面電極層20上の一部に配置された第1電極層26aとを備える。   As shown in FIG. 1, the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment includes a substrate 10, an epitaxial growth layer 8 disposed on the substrate 10, and a surface electrode layer 20 disposed on the epitaxial growth layer 8. The back electrode layer 22 disposed on the back surface of the substrate 10, the first side wall surface formed of the substrate 10 and the epitaxial growth layer 8, and the surface of the surface electrode layer 20 and the back electrode layer 22 formed along the side surface 42 a of the substrate 10. A first insulating layer 24a disposed on the surface of the first insulating layer 24a, and a first electrode layer 26a disposed on the first insulating layer 24a and part of the surface electrode layer 20;

また、図1に示すように、基板10の側面42aに対向して並行に形成された側面42bに沿って形成され、基板10、エピタキシャル成長層8からなる第2側壁面および表面電極層20の表面および裏面電極層22の表面上に延在して配置された第2絶縁層24bと、第2絶縁層24b上および表面電極層20上の一部に配置された第2電極層26bとを備える。   Further, as shown in FIG. 1, the substrate 10 is formed along the side surface 42 b formed in parallel to the side surface 42 a of the substrate 10. And a second insulating layer 24b disposed on the surface of the back electrode layer 22 and a second electrode layer 26b disposed on the second insulating layer 24b and a part of the surface electrode layer 20. .

図1において、第1の実施の形態に係る半導体発光素子1からの発光は、図中のhνで示すように等方的に発光される。   In FIG. 1, light emitted from the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment is emitted isotropically as indicated by hv in the figure.

また、図2および図3に示すように、第1電極層26aおよび第2電極層26bは、それぞれアノード電極30aおよびアノード電極30bに接続され、裏面電極層22は、カソード電極28に接続される。   As shown in FIGS. 2 and 3, the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b are connected to the anode electrode 30a and the anode electrode 30b, respectively, and the back electrode layer 22 is connected to the cathode electrode 28. .

また、図2および図3に示すように、アノード電極30a、アノード電極30bおよびカソード電極28は、実装基板32上に配置されている。アノード電極30aおよびアノード電極30bは、電気的に共通に接続されている。   As shown in FIGS. 2 and 3, the anode electrode 30 a, the anode electrode 30 b, and the cathode electrode 28 are disposed on the mounting substrate 32. The anode electrode 30a and the anode electrode 30b are electrically connected in common.

第1電極層26aおよび第2電極層26bは、それぞれアノード電極30aおよびアノード電極30bにダイボンディングによって接続され、裏面電極層22は、カソード電極28にダイボンディングによって接続される。   The first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b are respectively connected to the anode electrode 30a and the anode electrode 30b by die bonding, and the back electrode layer 22 is connected to the cathode electrode 28 by die bonding.

第1電極層26a、第2電極層26bの一方若しくは両方は、例えば、Auなどの薄膜金属層若しくは透明電極層を備えていても良い。透明電極層としては、例えば、ITO、ITZO、ZnOなどを適用することができる。   One or both of the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b may include a thin film metal layer such as Au or a transparent electrode layer, for example. As the transparent electrode layer, for example, ITO, ITZO, ZnO or the like can be applied.

エピタキシャル成長層8は、基板10上に配置された第1クラッド層12と、第1クラッド層12上に配置された多重量子井戸(MQW:Multi-Quantum Well)層14と、MQW層14上に配置された第2クラッド層16とを備える。さらに、第2クラッド層16上には、ウィンドウ層18を備えていても良い。また、ウィンドウ層18の表面上は、光の取り出し効率を高めるために、フロスト処理を実施しても良い。   The epitaxial growth layer 8 is disposed on the first cladding layer 12 disposed on the substrate 10, the multi-quantum well (MQW) layer 14 disposed on the first cladding layer 12, and the MQW layer 14. The second cladding layer 16 is provided. Further, a window layer 18 may be provided on the second cladding layer 16. Further, a frost treatment may be performed on the surface of the window layer 18 in order to increase the light extraction efficiency.

ここで、例えば、基板10はGaAsで形成され、第1クラッド層12および第2クラッド層16は、AlInGaP層で形成され、MQW層14は、InGaP/AlInGaPのペアで形成されている。   Here, for example, the substrate 10 is formed of GaAs, the first cladding layer 12 and the second cladding layer 16 are formed of an AlInGaP layer, and the MQW layer 14 is formed of an InGaP / AlInGaP pair.

表面電極層20は透明電極であり、例えば、ITO、IZTO、ZnOで形成される。裏面電極層22は、例えばAu層で形成されている。   The surface electrode layer 20 is a transparent electrode and is made of, for example, ITO, IZTO, or ZnO. The back electrode layer 22 is formed of, for example, an Au layer.

第1絶縁層24a、第2絶縁層24bの一方若しくは両方は、シリコン絶縁膜、シリコン窒化膜などによって形成される。   One or both of the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b are formed of a silicon insulating film, a silicon nitride film, or the like.

また、第1絶縁層24a、第2絶縁層24bの一方若しくは両方は、分布ブラック反射(DBR:Distributed Bragg Reflector)層を備えていても良い。DBR層としては、ZrO2、Al23、SiO2 、TiO2、Ta25、Nb25、AlN、SiN、AlON、SiON、AlNx(0<x<1)いずれかを含む多層膜によって形成されていてもよい。ここで、AlNx(0<x<1)は、AlNのストイキオメトリ制御からずれている組成比の場合を示す。 One or both of the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b may include a distributed black reflection (DBR) layer. The DBR layer includes any one of ZrO 2 , Al 2 O 3 , SiO 2 , TiO 2 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 , AlN, SiN, AlON, SiON, and AlN x (0 <x <1). It may be formed of a multilayer film. Here, AlN x (0 <x <1) indicates a case where the composition ratio deviates from the stoichiometry control of AlN.

また、DBR層は、高光反射特性を有し、例えば、ZrO2膜とSiO2膜からなる積層構造を備えていてもよい。ZrO2膜の厚さd1およびSiO2膜の厚さd2は、d1=λ/4n1、d2=λ/4n2となるように形成する。ここで、n1はZrO2膜の屈折率2.18であり、n2はSiO2膜の屈折率1.46である。 Further, the DBR layer has a high light reflection characteristic, and may have a laminated structure including, for example, a ZrO 2 film and a SiO 2 film. The thickness d1 of the ZrO 2 film and the thickness d2 of the SiO 2 film are formed such that d1 = λ / 4n 1 and d2 = λ / 4n 2 . Here, n 1 is the refractive index 2.18 of the ZrO 2 film, and n 2 is the refractive index 1.46 of the SiO 2 film.

また、第1絶縁層24a、第2絶縁層24bの一方若しくは両方は、酸素吸収層を備えていても良い。酸素吸収層としては、ZrO2、Al23、SiO2 、TiO2、Ta25、Nb25、AlN、SiN、AlON、SiON、AlNx(0<x<1)いずれかを含む層が適用可能である。 One or both of the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b may include an oxygen absorption layer. As the oxygen absorbing layer, ZrO 2, Al 2 O 3 , SiO 2, TiO 2, Ta 2 O 5, Nb 2 O 5, AlN, SiN, AlON, SiON, AlN x (0 <x <1) either A containing layer is applicable.

(製造方法)
第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法は、基板10上にエピタキシャル成長層8を形成する工程と、エピタキシャル成長層8上に表面電極層20を形成する工程と、基板10の裏面に裏面電極層22を形成する工程と、基板10の側面42aに沿って形成され、基板10、エピタキシャル成長層8からなる第1側壁面および表面電極層20の表面上および裏面電極層22の表面上に延在して第1絶縁層24aを形成する工程と、基板10の側面42aに対向して並行に形成された側面42bに沿って形成され、基板10、エピタキシャル成長層8からなる第2側壁面および表面電極層20の表面および裏面電極層22の表面上に延在して第2絶縁層24bを形成する工程と、第1絶縁層24a上および表面電極層20上の一部に第1電極層26aを形成する工程と、第2絶縁層24b上および表面電極層20上の一部に第2電極層26bを形成する工程とを有する。
(Production method)
The method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment includes a step of forming an epitaxial growth layer 8 on the substrate 10, a step of forming a surface electrode layer 20 on the epitaxial growth layer 8, and a back surface on the back surface of the substrate 10. The step of forming the electrode layer 22, and the substrate 10 is formed along the side surface 42a of the substrate 10 and extends on the surface of the substrate 10, the first sidewall surface of the epitaxial growth layer 8, the surface electrode layer 20, and the surface of the back electrode layer 22. A second side wall surface and a surface formed of the substrate 10 and the epitaxially grown layer 8, formed along the side surface 42 b formed in parallel to the side surface 42 a of the substrate 10. A step of forming a second insulating layer 24b extending on the surface of the electrode layer 20 and the surface of the back electrode layer 22, and a part on the first insulating layer 24a and the surface electrode layer 20; And a step of forming one electrode layer 26a, and forming a second electrode layer 26b on a part of the second insulating layer 24b and on the surface electrode layer 20.

また、アノード電極30およびカソード電極28を実装基板32上に形成する工程と、第1電極層26aおよび第2電極層26bの一方若しくは両方をそれぞれアノード電極30aおよび30bに接続し、裏面電極層22をカソード電極28に接続する工程とを有する。   Further, the step of forming the anode electrode 30 and the cathode electrode 28 on the mounting substrate 32, and one or both of the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b are connected to the anode electrodes 30a and 30b, respectively, and the back electrode layer 22 Connecting to the cathode electrode 28.

第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法において、ウェハプロセスの一工程を示す模式的断面構造は、図4(a)〜図4(d)に示すように表される。また、LEDウェハ34を劈開面にそって劈開する様子を示す模式的鳥瞰構造、およびLEDウェハ34を劈開面にそって劈開して形成された複数のLEDバー36の模式的鳥瞰構造は、それぞれ図5(a)および図5(b)に示すように表される。   In the method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment, a schematic cross-sectional structure showing one step of the wafer process is expressed as shown in FIGS. 4 (a) to 4 (d). In addition, a schematic bird's-eye view structure showing how the LED wafer 34 is cleaved along the cleavage plane, and a schematic bird's-eye view structure of the plurality of LED bars 36 formed by cleaving the LED wafer 34 along the cleavage plane, respectively, It is expressed as shown in FIGS. 5 (a) and 5 (b).

また、LEDバー36とシリコンバー40を複数積層化した積層化構造50をLEDバー固定装置38に挿入する一工程を示す模式的鳥瞰構造は、図6に示すように表される。   Further, a schematic bird's-eye view structure showing one step of inserting the laminated structure 50 in which a plurality of LED bars 36 and silicon bars 40 are laminated into the LED bar fixing device 38 is expressed as shown in FIG.

また、LEDバー36とシリコンバー40を複数積層化した積層化構造50を形成する一工程を示す模式的断面構造は、図7に示すように表される。   Further, a schematic cross-sectional structure showing one step of forming a laminated structure 50 in which a plurality of LED bars 36 and silicon bars 40 are laminated is expressed as shown in FIG.

第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法に使用するシリコンバー40の模式的鳥瞰構造は、図8に示すように表される。   A schematic bird's-eye view structure of the silicon bar 40 used in the method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the first embodiment is expressed as shown in FIG.

積層化されたLEDバー36の側壁、表面電極層20の一部および裏面電極層22の一部に第1絶縁層24a、第2絶縁層24bを形成する工程を示す模式的断面構造は、図9に示すように表される。   The schematic cross-sectional structure showing the process of forming the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b on the side wall of the laminated LED bar 36, a part of the front electrode layer 20 and a part of the back electrode layer 22 is shown in FIG. As shown in FIG.

図9の工程後、LEDバー36と反転されたシリコンバー40を積層する一工程を示す模式的断面構造は、図10に示すように表される。   A schematic cross-sectional structure showing one step of laminating the LED bar 36 and the inverted silicon bar 40 after the step of FIG. 9 is expressed as shown in FIG.

積層化されたLEDバー36の第1絶縁層24a、第2絶縁層24b上および表面電極層20の一部に第1電極層26a、第2電極層26bを形成する工程を示す模式的断面構造は、図11に示すように表される。   Schematic sectional structure showing a step of forming the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b on the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b of the laminated LED bar 36 and a part of the surface electrode layer 20 Is expressed as shown in FIG.

第1の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法を以下に説明する。   A method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the first embodiment will be described below.

(a)まず、図4(a)に示すように、GaAs基板10上に、分子線エピタキシャル成長法(MBE:Molecular Beam Epitaxy)、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法などを用いて、第1クラッド層12、MQW層14、第2クラッド層16およびウィンドウ層18を順次形成する。 (A) First, as shown in FIG. 4A, a first cladding is formed on a GaAs substrate 10 by using molecular beam epitaxy (MBE), MOCVD (Metal Organic Chemical Vapor Deposition), or the like. The layer 12, the MQW layer 14, the second cladding layer 16, and the window layer 18 are sequentially formed.

(b)次に、図4(b)に示すように、ウィンドウ層18上に表面電極層20をスパッタリング法、真空蒸着法などを用いて形成する。表面電極層20の材料としては、透明導電膜であることが望ましい。例えば、薄いチタン層およびAu層などを用いて形成することができる。また、ITO、IZTO、ZnOなどを用いて形成することができる。 (B) Next, as shown in FIG. 4B, the surface electrode layer 20 is formed on the window layer 18 by using a sputtering method, a vacuum deposition method, or the like. The material of the surface electrode layer 20 is preferably a transparent conductive film. For example, a thin titanium layer and an Au layer can be used. Alternatively, it can be formed using ITO, IZTO, ZnO, or the like.

(c)次に、図4(c)に示すように、GaAs基板10を裏面から薄層化する。この薄層化の工程は、例えば、ラッピング、ポリッシング、化学的機械的研磨(CMP:Chemical Mechanical Polishing)技術、エッチング技術などによって実施することができる。結果として、例えば、基板10の厚さを約90μmに形成することができる。厚さはこれに限るものではなく、約30μm〜250μm程度のいずれかとする。 (C) Next, as shown in FIG. 4C, the GaAs substrate 10 is thinned from the back surface. This thinning step can be performed by, for example, lapping, polishing, chemical mechanical polishing (CMP) technology, etching technology, or the like. As a result, for example, the thickness of the substrate 10 can be formed to about 90 μm. The thickness is not limited to this, and is about 30 μm to 250 μm.

(d)次に、図4(d)に示すように、基板10上に、裏面電極層22をスパッタリング法、真空蒸着法などを用いて形成する。裏面電極層22の材料としては、例えば、Au層、或いはAu/AuGe−Ni合金/Auからなる積層構造を用いることができる。 (D) Next, as shown in FIG. 4D, the back electrode layer 22 is formed on the substrate 10 by sputtering, vacuum evaporation, or the like. As the material of the back electrode layer 22, for example, an Au layer or a laminated structure made of Au / AuGe-Ni alloy / Au can be used.

(e)次に、図5(a)に示すように、LEDウェハ34を劈開面に沿って劈開する。その結果、図5(b)に示すように、幅W、長さLを有する複数のLEDバー36を形成することができる。なお、劈開に限らず、ダイシング、スクライブでも可能である。 (E) Next, as shown in FIG. 5A, the LED wafer 34 is cleaved along the cleavage plane. As a result, as shown in FIG. 5B, a plurality of LED bars 36 having a width W and a length L can be formed. Not only cleavage but also dicing and scribing are possible.

(f)次に、図6に示すように、LEDバー36とシリコンバー40を複数積層化した積層化構造50をLEDバー固定装置38に挿入する。ここで、積層化構造50の詳細構造は、図7に示すように表される。シリコンバー40の構造は、図8に示すように、凸型形状を備えるため、積層化構造50において、表面電極層20の一部分と裏面電極層22の一部分は、シリコンバー40によって被覆されている。 (F) Next, as shown in FIG. 6, a laminated structure 50 in which a plurality of LED bars 36 and silicon bars 40 are laminated is inserted into the LED bar fixing device 38. Here, the detailed structure of the laminated structure 50 is expressed as shown in FIG. Since the structure of the silicon bar 40 has a convex shape as shown in FIG. 8, in the stacked structure 50, a part of the front electrode layer 20 and a part of the back electrode layer 22 are covered with the silicon bar 40. .

(g)次に、積層化構造50をLEDバー固定装置38に挿入した状態で、図9に示すように、スパッタリング法によって、第1絶縁層24aおよび第2絶縁層24bを形成する。すなわち、W3の幅だけ表面電極層20の表面上にそれぞれ第1絶縁層24a、第2絶縁層24bが形成される。また、W2+W3の幅だけ裏面電極層22の表面上にそれぞれ第1絶縁層24a、第2絶縁層24bが形成される。ここで、LEDバー36の幅Wに対して、W−(W1+2W2)=2W3の関係を有する。なお、図9において、シリコンバー40の側壁面上にも絶縁層が形成されるが、説明を簡単化するため、図示を省略している。 (G) Next, with the laminated structure 50 inserted into the LED bar fixing device 38, as shown in FIG. 9, the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b are formed by sputtering. That is, the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b are formed on the surface of the surface electrode layer 20 by the width of W3, respectively. Further, a first insulating layer 24a and a second insulating layer 24b are formed on the surface of the back electrode layer 22 by the width of W2 + W3, respectively. Here, the width W of the LED bar 36 has a relationship of W− (W1 + 2W2) = 2W3. In FIG. 9, although an insulating layer is also formed on the side wall surface of the silicon bar 40, the illustration is omitted for the sake of simplicity.

(h)次に、図10に示すように、LEDバー36と反転されたシリコンバー40を複数積層化して、積層化構造50aを形成する。なお、図10において使用するシリコンバー40は、必ずしも図9において使用したシリコンバー40を適用する必要はなく、電極層を形成する幅の寸法に応じて、別の寸法を有するシリコンバーを適宜選択可能である。また、シリコンバー40ではなく、LEDバー36を反転させるようにしても良い。 (H) Next, as shown in FIG. 10, a plurality of LED bars 36 and inverted silicon bars 40 are stacked to form a stacked structure 50a. Note that the silicon bar 40 used in FIG. 10 is not necessarily applied to the silicon bar 40 used in FIG. 9, and a silicon bar having another dimension is appropriately selected according to the width dimension for forming the electrode layer. Is possible. Further, instead of the silicon bar 40, the LED bar 36 may be reversed.

(i)次に、積層化構造50aをLEDバー固定装置38に挿入した状態で、図11に示すように、第1電極層26aおよび第2電極層26bをスパッタリング法、真空蒸着法などを用いて形成する。すなわち、W2+W3の幅だけ表面電極層20の表面上にそれぞれ第1電極層26a、第2電極層26bが形成される。W2の幅で、第1電極層26a、第2電極層26bは、表面電極層20と接続されている。また、W3の幅だけ裏面電極層22の表面上にそれぞれ第1電極層26a、第2電極層26bが形成される。ここで、図8に示されるシリコンバー40の厚さD1、D2は、スパッタリング法、真空蒸着法などを用いて形成する第1電極層26aおよび第2電極層26bの回り込みを充分に確保できる程度の厚さを備えていれば良い。また、図11において、シリコンバー40の側壁面上にも電極層が形成されるが、説明を簡単化するため、図示を省略している。 (I) Next, in a state where the laminated structure 50a is inserted into the LED bar fixing device 38, as shown in FIG. 11, the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b are formed using a sputtering method, a vacuum evaporation method, or the like. Form. That is, the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b are formed on the surface of the surface electrode layer 20 by the width of W2 + W3, respectively. The first electrode layer 26 a and the second electrode layer 26 b are connected to the surface electrode layer 20 with a width of W2. Further, the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b are formed on the surface of the back electrode layer 22 by the width of W3, respectively. Here, the thicknesses D1 and D2 of the silicon bar 40 shown in FIG. 8 are such that the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b formed by using a sputtering method, a vacuum deposition method, or the like can be sufficiently secured. As long as it has a thickness of. In FIG. 11, an electrode layer is also formed on the side wall surface of the silicon bar 40, but the illustration is omitted to simplify the description.

(j)次に、積層化構造50aをLEDバー固定装置38から取り外し、シリコンバー40を取り外す。LEDバー36を分割して、結果として、図1に示される第1の実施の形態に係る半導体発光素子1を得る。 (J) Next, the laminated structure 50a is removed from the LED bar fixing device 38, and the silicon bar 40 is removed. The LED bar 36 is divided, and as a result, the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1 is obtained.

(k)次に、図2に示すように、実装基板32上にアノード電極30aおよびアノード電極30b、およびカソード電極28を真空蒸着法、スパッタリング法などを用いて形成し、所定のストライプ形状などにパターニングする。 (K) Next, as shown in FIG. 2, the anode electrode 30a, the anode electrode 30b, and the cathode electrode 28 are formed on the mounting substrate 32 by using a vacuum vapor deposition method, a sputtering method, or the like to obtain a predetermined stripe shape or the like. Pattern.

(l)次に、図3に示すように、実装基板32上に半導体発光素子1を載置し、アノード電極30aおよびアノード電極30bをそれぞれ第1電極層26aおよび第2電極層26b、カソード電極28を裏面電極層22にダイボンディングによって接続する。 (L) Next, as shown in FIG. 3, the semiconductor light emitting device 1 is mounted on the mounting substrate 32, and the anode electrode 30a and the anode electrode 30b are respectively connected to the first electrode layer 26a, the second electrode layer 26b, and the cathode electrode. 28 is connected to the back electrode layer 22 by die bonding.

第1の実施の形態によれば、エピタキシャル成長層8上には、光を透過させない金属電極が存在しないため、光のロスを低減することができ、光の取り出し効率を改善することができる。   According to the first embodiment, since there is no metal electrode that does not transmit light on the epitaxial growth layer 8, light loss can be reduced, and light extraction efficiency can be improved.

第1の実施の形態によれば、半導体発光素子の組み立て時にワイヤボンディングが不要となるため、パッケージを薄くすることができる。   According to the first embodiment, since the wire bonding is not required when assembling the semiconductor light emitting device, the package can be thinned.

第1の実施の形態によれば、半導体発光素子の製造方法が簡略化されるため、チップ化までの製造工程に要する時間を短縮することができる。   According to the first embodiment, since the method for manufacturing a semiconductor light emitting device is simplified, the time required for the manufacturing process up to chip formation can be shortened.

第1の実施の形態によれば、第1絶縁層24a、第1電極層26aおよび第2絶縁層24b、第2電極層26bの膜厚を変化させて、反射率を変化させることによって、発光の指向性を変化させることもできる。   According to the first embodiment, light is emitted by changing the film thickness of the first insulating layer 24a, the first electrode layer 26a, the second insulating layer 24b, and the second electrode layer 26b to change the reflectance. The directivity of can also be changed.

第1の実施の形態によれば、第1電極層26aおよび第2電極層26bを光を透過させない金属電極層として形成することによって、側壁面への光の出射を抑制することもできる。   According to the first embodiment, by forming the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b as metal electrode layers that do not transmit light, emission of light to the side wall surface can be suppressed.

第1の実施の形態によれば、光の取り出し効率が改善され、かつ薄型パッケージ化の容易な半導体発光素子およびその製造方法を提供することができる。   According to the first embodiment, it is possible to provide a semiconductor light emitting device with improved light extraction efficiency and easy thin packaging and a method for manufacturing the same.

(変形例)
第1の実施の形態の変形例1に係る半導体発光素子を実装基板上に搭載した模式的断面構造は、図12(a)に示すように表され、変形例2に係る半導体発光素子を実装基板上に搭載した模式的断面構造は、図12(b)に示すように表される。
(Modification)
A schematic cross-sectional structure in which the semiconductor light emitting element according to the first modification of the first embodiment is mounted on a mounting substrate is represented as shown in FIG. 12A, and the semiconductor light emitting element according to the second modification is mounted. A schematic cross-sectional structure mounted on the substrate is expressed as shown in FIG.

第1の実施の形態の変形例1に係る半導体発光素子1aは、第1絶縁層24a上および表面電極層20の表面上の一部に配置された第1電極層26aのみを備え、第2絶縁層24bおよび第2電極層26bを備えていない。一方、第1の実施の形態の変形例2に係る半導体発光素子1aは、第1絶縁層24a上および表面電極層20の表面上の一部に配置された第1電極層26aおよび第2絶縁層24bのみを備え、第2絶縁層24b上には第2電極層26bを備えていない。   The semiconductor light emitting device 1a according to the first modification of the first embodiment includes only the first electrode layer 26a disposed on the first insulating layer 24a and part of the surface of the surface electrode layer 20, and the second The insulating layer 24b and the second electrode layer 26b are not provided. On the other hand, the semiconductor light emitting device 1a according to the second modification of the first embodiment includes a first electrode layer 26a and a second insulation layer disposed on the first insulation layer 24a and a part of the surface electrode layer 20 on the surface. Only the layer 24b is provided, and the second electrode layer 26b is not provided on the second insulating layer 24b.

第1の実施の形態の変形例1および変形例2に係る半導体発光素子1aは、電極層を対向する側面の片側にのみ設けることによって、第1の実施の形態に係る半導体発光素子1に比べて、光の取り出し効率が改善される。   The semiconductor light emitting element 1a according to the first modification and the second modification of the first embodiment is provided with the electrode layer only on one side of the opposing side surface, and thus compared with the semiconductor light emitting element 1 according to the first embodiment. Thus, the light extraction efficiency is improved.

また、第1の実施の形態の変形例2に係る半導体発光素子1aは、第2絶縁層24bを誘電体多層膜として形成することによって、反射率を調整しても良い。   Further, in the semiconductor light emitting element 1a according to the second modification of the first embodiment, the reflectance may be adjusted by forming the second insulating layer 24b as a dielectric multilayer film.

第1の実施の形態の変形例1および変形例2においては、アノード電極30aと第1電極層26a間は、半田層44によって、半田付けされている。   In the first and second modifications of the first embodiment, the anode electrode 30a and the first electrode layer 26a are soldered by the solder layer 44.

第1の実施の形態の変形例1および変形例2によれば、光の取り出し効率が改善され、かつ薄型パッケージ化の容易な半導体発光素子およびその製造方法を提供することができる。   According to Modification 1 and Modification 2 of the first embodiment, it is possible to provide a semiconductor light-emitting element that can improve light extraction efficiency and can be easily formed into a thin package, and a method for manufacturing the same.

(第2の実施の形態)
第2の実施の形態に係る半導体発光素子1bの模式的鳥瞰構造は、図13に示すように表される。また、第2の実施の形態に係る半導体発光素子1bを実装基板32上に搭載する様子を示す模式的鳥瞰構造は、図14に示すように表される。また、第2の実施の形態に係る半導体発光素子1bを実装基板32上に搭載した模式的断面構造は、図15に示すように表される。
(Second Embodiment)
A schematic bird's-eye view structure of the semiconductor light emitting device 1b according to the second embodiment is expressed as shown in FIG. Further, a schematic bird's-eye view showing a state in which the semiconductor light emitting element 1b according to the second embodiment is mounted on the mounting substrate 32 is expressed as shown in FIG. Further, a schematic cross-sectional structure in which the semiconductor light emitting element 1b according to the second embodiment is mounted on the mounting substrate 32 is expressed as shown in FIG.

第2の実施の形態に係る半導体発光素子は、図13に示すように、基板10と、基板10上に配置されたエピタキシャル成長層8と、エピタキシャル成長層8上に配置された表面電極層20と、基板10の裏面に配置された裏面電極層22と、基板10の側面42aに沿って形成され、基板10、エピタキシャル成長層8からなる第1側壁面および表面電極層20の表面上および裏面電極層22の表面上に延在して配置された第1絶縁層24aと、基板10の側面42aに対向して並行に形成された側面42bに沿って形成され、基板10、エピタキシャル成長層8からなる第2側壁面および表面電極層20の表面上および裏面電極層22の表面上に延在して配置された第2絶縁層24bと、第1絶縁層24aおよび第2絶縁層24b上および表面電極層20上に配置された第1電極層26とを備える。なお、図13において、第1電極層26は、LEDバー36の配置によっては、若干下面に回り込みが生ずることもある。また、回り込みがないように作成することもできる。   As shown in FIG. 13, the semiconductor light emitting device according to the second embodiment includes a substrate 10, an epitaxial growth layer 8 disposed on the substrate 10, a surface electrode layer 20 disposed on the epitaxial growth layer 8, The back electrode layer 22 disposed on the back surface of the substrate 10, and the first side wall surface formed of the substrate 10, the epitaxial growth layer 8, the surface of the surface electrode layer 20, and the back electrode layer 22 are formed along the side surface 42 a of the substrate 10. A second insulating layer 24a formed on the surface of the substrate 10 and a side surface 42b formed in parallel with the side surface 42a of the substrate 10 so as to face the side surface 42a. A second insulating layer 24b extending on the side wall surface and the surface of the front electrode layer 20 and the surface of the back electrode layer 22, and the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b; And a first electrode layer 26 disposed on the surface electrode layer 20. In FIG. 13, the first electrode layer 26 may slightly wrap around the lower surface depending on the arrangement of the LED bar 36. It can also be created so that there is no wraparound.

図13において、第2の実施の形態に係る半導体発光素子1bからの発光は、図中のhνで示すように等方的に発光される。   In FIG. 13, the light emitted from the semiconductor light emitting device 1b according to the second embodiment is emitted isotropically as indicated by hv in the figure.

図14および図15に示すように、第1電極層26は、アノード電極30に接続され、裏面電極層22は、カソード電極28に接続される。   As shown in FIGS. 14 and 15, the first electrode layer 26 is connected to the anode electrode 30, and the back electrode layer 22 is connected to the cathode electrode 28.

図14および図15に示すように、アノード電極30およびカソード電極28は、実装基板32上に配置され、アノード電極30と第1電極層26は半田層44によって半田付けされていても良い。   As shown in FIGS. 14 and 15, the anode electrode 30 and the cathode electrode 28 may be disposed on the mounting substrate 32, and the anode electrode 30 and the first electrode layer 26 may be soldered by a solder layer 44.

エピタキシャル成長層8は、基板10上に配置された第1クラッド層12と、第1クラッド層12上に配置されたMQW層14と、MQW層14上に配置された第2クラッド層16を備える。さらに、第2クラッド層16上にウィンドウ層18を備えていても良い。   The epitaxial growth layer 8 includes a first cladding layer 12 disposed on the substrate 10, an MQW layer 14 disposed on the first cladding layer 12, and a second cladding layer 16 disposed on the MQW layer 14. Further, a window layer 18 may be provided on the second cladding layer 16.

ここで、例えば、基板10はGaAsで形成され、第1クラッド層12および第2クラッド層16は、AlInGaP層で形成され、MQW層14は、InGaP/AlInGaPのペアで形成されている。   Here, for example, the substrate 10 is formed of GaAs, the first cladding layer 12 and the second cladding layer 16 are formed of an AlInGaP layer, and the MQW layer 14 is formed of an InGaP / AlInGaP pair.

基板10の裏面には、裏面電極層22が配置され、ウィンドウ層18の表面には、表面電極層20が配置されている。表面電極層20は透明電極であり、例えば、ITO、IZTO、ZnOで形成される。裏面電極層22は、例えばAu層で形成されている。   A back electrode layer 22 is disposed on the back surface of the substrate 10, and a surface electrode layer 20 is disposed on the surface of the window layer 18. The surface electrode layer 20 is a transparent electrode and is made of, for example, ITO, IZTO, or ZnO. The back electrode layer 22 is formed of, for example, an Au layer.

第1絶縁層24a、第2絶縁層24bの一方若しくは両方は、シリコン絶縁膜、シリコン窒化膜などによって形成される。   One or both of the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b are formed of a silicon insulating film, a silicon nitride film, or the like.

また、第1絶縁層24a、第2絶縁層24bの一方若しくは両方は、DBR層を備えていても良い。DBR層の例は第1の実施の形態と同様である。   One or both of the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b may include a DBR layer. An example of the DBR layer is the same as that in the first embodiment.

また、第1電極層26は透明電極層を備える。透明電極層の例は第1の実施の形態と同様である。   The first electrode layer 26 includes a transparent electrode layer. An example of the transparent electrode layer is the same as that in the first embodiment.

第1の実施の形態においては、第1絶縁層24aおよび第2絶縁層24bの成膜時と、第1電極層26aおよび第2電極層26bの成膜時の2回、LEDバー36の積み上げ工程が必要であったが、第2の実施の形態においては、第1絶縁層24aおよび第2絶縁層24bの成膜時のみLEDバー36の積み上げ工程が必要であり、第1電極層26aおよび第2電極層26bは、共通の電極層26として形成されるため、LEDバー36の積み上げ工程は不要である。   In the first embodiment, the LED bar 36 is stacked twice during the formation of the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b and during the formation of the first electrode layer 26a and the second electrode layer 26b. Although the process is necessary, in the second embodiment, the LED bar 36 needs to be stacked only when the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b are formed. Since the second electrode layer 26b is formed as the common electrode layer 26, the step of stacking the LED bars 36 is not necessary.

(製造方法)
第2の実施の形態に係る半導体発光素子の製造方法は、基板10上にエピタキシャル成長層8を形成する工程と、エピタキシャル成長層8上に表面電極層20を形成する工程と、基板10の裏面に裏面電極層22を形成する工程と、基板10の側面42aに沿って形成され、基板10、エピタキシャル成長層8からなる第1側壁面および表面電極層20の表面上および裏面電極層22の表面上に延在して第1絶縁層24aを形成する工程と、基板10の側面42aに対向して並行に形成された側面42bに沿って形成され、基板10、エピタキシャル成長層8からなる第2側壁面および表面電極層20の表面上および裏面電極層22の表面上に延在して第2絶縁層24bを形成する工程と、第1絶縁層24aおよび第2絶縁層24b上および表面電極層20の上に第1電極層26を形成する工程とを備える。
(Production method)
The method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the second embodiment includes a step of forming the epitaxial growth layer 8 on the substrate 10, a step of forming the surface electrode layer 20 on the epitaxial growth layer 8, and a back surface on the back surface of the substrate 10. The step of forming the electrode layer 22, and the substrate 10 is formed along the side surface 42a of the substrate 10 and extends on the surface of the substrate 10, the first sidewall surface of the epitaxial growth layer 8, the surface electrode layer 20, and the surface of the back electrode layer 22. A second side wall surface and a surface formed of the substrate 10 and the epitaxially grown layer 8, formed along the side surface 42 b formed in parallel to the side surface 42 a of the substrate 10. Extending on the surface of the electrode layer 20 and on the surface of the back electrode layer 22 to form the second insulating layer 24b; on the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b; And forming a first electrode layer 26 on the surface electrode layer 20.

また、アノード電極30およびカソード電極28を実装基板32上に形成する工程と、第1電極層26をアノード電極30と半田付けによって接続し、裏面電極層22をカソード電極28に接続する工程とを有する。   Also, a step of forming the anode electrode 30 and the cathode electrode 28 on the mounting substrate 32, and a step of connecting the first electrode layer 26 to the anode electrode 30 by soldering and connecting the back electrode layer 22 to the cathode electrode 28 are performed. Have.

その他各部の詳細な製造工程は、第1の実施の形態と同様であるため、重複説明は省略する。   Since the detailed manufacturing process of each other part is the same as that of 1st Embodiment, duplication description is abbreviate | omitted.

第1電極層26を形成する工程は、第1絶縁層24aおよび第2絶縁層24bを形成したLEDバー36を平面台に並べて配置し、例えば、パルスレーザデポジション(PLD:Pulse Laser Deposition)法を用いて、例えばZnO電極を成膜することによって、形成することができる。したがって、シリコンバー40の配置が不要となり、製造工程は簡単化される。なお、ZnO電極は、LEDバー36の配置によっては、図13に示すように、若干下面に回りこむ。また、回り込みがないように作成することもできる。   In the step of forming the first electrode layer 26, the LED bars 36 on which the first insulating layer 24a and the second insulating layer 24b are formed are arranged side by side on a plane table, and, for example, a pulse laser deposition (PLD) method is used. For example, it can be formed by forming a ZnO electrode. Therefore, the arrangement of the silicon bar 40 becomes unnecessary, and the manufacturing process is simplified. Note that, depending on the arrangement of the LED bar 36, the ZnO electrode slightly wraps around the lower surface as shown in FIG. It can also be created so that there is no wraparound.

第2の実施の形態によれば、光の取り出し効率が改善され、かつ薄型パッケージ化の容易な半導体発光素子およびその製造方法を提供することができる。   According to the second embodiment, it is possible to provide a semiconductor light emitting device with improved light extraction efficiency and easy packaging, and a method for manufacturing the same.

(その他の実施の形態)
上記のように、本発明は第1〜第2の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述および図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。
(Other embodiments)
As described above, the present invention has been described according to the first to second embodiments. However, it should not be understood that the description and drawings constituting a part of this disclosure limit the present invention. From this disclosure, various alternative embodiments, examples and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.

第1〜第2の実施の形態においては、基板10および第1クラッド層12の導電型をn型とし、第2クラッド層16およびウィンドウ層18の導電型をp型とする例が開示されているが、これらの導電型を反対にしても良い。この場合、アノード電極とカソード電極は逆の構成となり、表面電極層20に接続される第1電極層、第2電極層がカソード電極に接続され、裏面電極層22は、アノード電極に接続される。   In the first to second embodiments, examples are disclosed in which the conductivity type of the substrate 10 and the first cladding layer 12 is n-type, and the conductivity type of the second cladding layer 16 and the window layer 18 is p-type. However, these conductivity types may be reversed. In this case, the anode electrode and the cathode electrode have opposite configurations, the first electrode layer and the second electrode layer connected to the surface electrode layer 20 are connected to the cathode electrode, and the back electrode layer 22 is connected to the anode electrode. .

第1〜第2の実施の形態においては、基板10とクラッド層12の間にDBR層を設けても良い。   In the first and second embodiments, a DBR layer may be provided between the substrate 10 and the cladding layer 12.

第1〜第2の実施の形態においては、基板10として、主として、GaAs基板を適用する例が開示されているが、Si基板、SiC基板、GaP基板、サファイア基板などを適用することも可能である。   In the first to second embodiments, an example in which a GaAs substrate is mainly applied as the substrate 10 is disclosed, but a Si substrate, a SiC substrate, a GaP substrate, a sapphire substrate, or the like can also be applied. is there.

第1クラッド層12および第2クラッド層16は、例えばAlGaAs層によって形成され、MQW層14は、例えばGaAs/GaAlAs層からなるヘテロ接合ペアを積層して形成しても良い。または、GaN系発光素子を形成しても良い。   The first cladding layer 12 and the second cladding layer 16 may be formed of, for example, an AlGaAs layer, and the MQW layer 14 may be formed by stacking heterojunction pairs made of, for example, a GaAs / GaAlAs layer. Alternatively, a GaN-based light emitting element may be formed.

シリコンバー40は、シリコンに限らず、他の材料を用いて形成したバーであっても良い。   The silicon bar 40 is not limited to silicon, and may be a bar formed using other materials.

このように、本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。   As described above, the present invention naturally includes various embodiments not described herein. Therefore, the technical scope of the present invention is defined only by the invention specifying matters according to the scope of claims reasonable from the above description.

本発明の半導体発光素子およびその製造方法は、GaAs基板、Si基板、SiC基板、GaP基板、サファイア基板等を有するLED素子等の半導体発光素子全般に利用可能である。   The semiconductor light emitting device and the manufacturing method thereof of the present invention can be used for all semiconductor light emitting devices such as LED devices having a GaAs substrate, Si substrate, SiC substrate, GaP substrate, sapphire substrate and the like.

1、1a、1b…半導体発光素子
8…エピタキシャル成長層
10…基板
12…n型クラッド層
14…多重量子井戸(MQW)層
16…p型クラッド層
18…ウィンドウ層
20…表面電極層
22…裏面電極層
24a、24b…絶縁層
26、26a、26b…電極層
28…カソード電極
30、30a、30b…アノード電極
32…実装基板
34…LEDウェハ
36…LEDバー
38…LEDバー固定装置
40…シリコンバー
42a、42b…側面
44…半田層
50、50a…積層化構造
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1a, 1b ... Semiconductor light-emitting device 8 ... Epitaxial growth layer 10 ... Substrate 12 ... N-type cladding layer 14 ... Multiple quantum well (MQW) layer 16 ... P-type cladding layer 18 ... Window layer 20 ... Front electrode layer 22 ... Back electrode Layers 24a, 24b ... Insulating layers 26, 26a, 26b ... Electrode layer 28 ... Cathode electrodes 30, 30a, 30b ... Anode electrode 32 ... Mounting substrate 34 ... LED wafer 36 ... LED bar 38 ... LED bar fixing device 40 ... Silicon bar 42a 42b ... side 44 ... solder layer 50, 50a ... laminated structure

Claims (17)

基板と、
前記基板上に配置されたエピタキシャル成長層と、
前記エピタキシャル成長層上に配置された表面電極層と、
前記基板の裏面に配置された裏面電極層と、
前記基板の側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第1側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して配置された第1絶縁層と、
前記第1絶縁層上および前記表面電極層上の一部に配置された第1電極層と
を備えることを特徴とする半導体発光素子。
A substrate,
An epitaxially grown layer disposed on the substrate;
A surface electrode layer disposed on the epitaxial growth layer;
A back electrode layer disposed on the back surface of the substrate;
A first insulating layer formed along the side surface of the substrate and extending on the surface of the substrate, the first sidewall surface comprising the epitaxially grown layer, the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer When,
A semiconductor light emitting device comprising: a first electrode layer disposed on the first insulating layer and a part of the surface electrode layer.
前記基板の前記側面に対向して並行に形成された側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第2側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して配置された第2絶縁層と、
前記第2絶縁層上および前記表面電極層上の一部に配置された第2電極層と
を備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子。
Formed along the side surface formed in parallel to the side surface of the substrate, on the substrate, the second side wall surface comprising the epitaxial growth layer, the surface of the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer A second insulating layer disposed extending;
2. The semiconductor light emitting device according to claim 1, further comprising: a second electrode layer disposed on a part of the second insulating layer and on the surface electrode layer.
前記第1電極層、前記第2電極層の一方若しくは両方は、アノード電極に接続され、前記裏面電極層は、カソード電極に接続されたことを特徴とする請求項2に記載の半導体発光素子。   3. The semiconductor light emitting element according to claim 2, wherein one or both of the first electrode layer and the second electrode layer is connected to an anode electrode, and the back electrode layer is connected to a cathode electrode. 前記アノード電極および前記カソード電極は、実装基板上に配置されたことを特徴とする請求項3に記載の半導体発光素子。   The semiconductor light emitting device according to claim 3, wherein the anode electrode and the cathode electrode are disposed on a mounting substrate. 前記第1絶縁層、前記第2絶縁層の一方若しくは両方は、分布ブラック反射層を備えることを特徴とする請求項2に記載の半導体発光素子。   3. The semiconductor light emitting device according to claim 2, wherein one or both of the first insulating layer and the second insulating layer includes a distributed black reflective layer. 前記第1電極層、前記第2電極層の一方若しくは両方は、透明電極層を備えることを特徴とする請求項2に記載の半導体発光素子。   3. The semiconductor light emitting element according to claim 2, wherein one or both of the first electrode layer and the second electrode layer includes a transparent electrode layer. 前記エピタキシャル成長層は、前記基板上に配置された第1クラッド層と、前記第1クラッド層上に配置された多重量子井戸層と、前記多重量子井戸層上に配置された第2クラッド層とを備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子。   The epitaxial growth layer includes a first cladding layer disposed on the substrate, a multiple quantum well layer disposed on the first cladding layer, and a second cladding layer disposed on the multiple quantum well layer. The semiconductor light-emitting device according to claim 1, comprising: 基板と、
前記基板上に配置されたエピタキシャル成長層と、
前記エピタキシャル成長層上に配置された表面電極層と、
前記基板の裏面に配置された裏面電極層と、
前記基板の側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第1側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して配置された第1絶縁層と、
前記基板の前記側面に対向して並行に形成された側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第2側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して配置された第2絶縁層と、
前記第1絶縁層上および前記第2絶縁層上および前記表面電極層上に配置された第1電極層と
を備えることを特徴とする半導体発光素子。
A substrate,
An epitaxially grown layer disposed on the substrate;
A surface electrode layer disposed on the epitaxial growth layer;
A back electrode layer disposed on the back surface of the substrate;
A first insulating layer formed along the side surface of the substrate and extending on the surface of the substrate, the first sidewall surface comprising the epitaxially grown layer, the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer When,
Formed along the side surface formed in parallel to the side surface of the substrate, on the substrate, the second side wall surface comprising the epitaxial growth layer, the surface of the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer A second insulating layer disposed extending;
A semiconductor light emitting device comprising: a first electrode layer disposed on the first insulating layer, the second insulating layer, and the surface electrode layer.
前記第1電極層は、アノード電極に接続され、前記裏面電極層は、カソード電極に接続されたことを特徴とする請求項8に記載の半導体発光素子。   9. The semiconductor light emitting device according to claim 8, wherein the first electrode layer is connected to an anode electrode, and the back electrode layer is connected to a cathode electrode. 前記アノード電極および前記カソード電極は、実装基板上に配置され、前記アノード電極と前記第1電極層は半田付けされたことを特徴とする請求項9に記載の半導体発光素子。   The semiconductor light emitting device according to claim 9, wherein the anode electrode and the cathode electrode are disposed on a mounting substrate, and the anode electrode and the first electrode layer are soldered. 前記第1絶縁層、前記第2絶縁層の一方若しくは両方は、分布ブラック反射層を備えることを特徴とする請求項8に記載の半導体発光素子。   9. The semiconductor light emitting device according to claim 8, wherein one or both of the first insulating layer and the second insulating layer includes a distributed black reflective layer. 前記第1電極層は透明電極層を備えることを特徴とする請求項8に記載の半導体発光素子。   The semiconductor light emitting device according to claim 8, wherein the first electrode layer includes a transparent electrode layer. 前記エピタキシャル成長層は、前記基板上に配置された第1クラッド層と、前記第1クラッド層上に配置された多重量子井戸層と、前記多重量子井戸層上に配置された第2クラッド層を備えることを特徴とする請求項8に記載の半導体発光素子。   The epitaxial growth layer includes a first cladding layer disposed on the substrate, a multiple quantum well layer disposed on the first cladding layer, and a second cladding layer disposed on the multiple quantum well layer. The semiconductor light-emitting device according to claim 8. 基板上にエピタキシャル成長層を形成する工程と、
前記エピタキシャル成長層上に表面電極層を形成する工程と、
前記基板の裏面に裏面電極層を形成する工程と、
前記基板の側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第1側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して第1絶縁層を形成する工程と、
前記基板の前記側面に対向して並行に形成された側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第2側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して第2絶縁層を形成する工程と、
前記第1絶縁層上および前記表面電極層の一部に第1電極層を形成する工程と、
前記第2絶縁層上および前記表面電極層の一部に第2電極層を形成する工程と
を有することを特徴とする半導体発光素子の製造方法。
Forming an epitaxially grown layer on the substrate;
Forming a surface electrode layer on the epitaxial growth layer;
Forming a back electrode layer on the back surface of the substrate;
A first insulating layer is formed along a side surface of the substrate and extends on the substrate, the first sidewall surface made of the epitaxial growth layer, the surface of the front electrode layer, and the surface of the back electrode layer. Process,
Formed along the side surface formed in parallel to the side surface of the substrate, on the substrate, the second side wall surface comprising the epitaxial growth layer, the surface of the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer Extending a second insulating layer; and
Forming a first electrode layer on the first insulating layer and part of the surface electrode layer;
And a step of forming a second electrode layer on the second insulating layer and on a part of the surface electrode layer.
アノード電極およびカソード電極を実装基板上に形成する工程と、
前記第1電極層および前記第2電極層の一方若しくは両方を前記アノード電極に接続し、前記裏面電極層を前記カソード電極に接続する工程と
を有することを特徴とする請求項14に記載の半導体発光素子の製造方法。
Forming an anode electrode and a cathode electrode on a mounting substrate;
The method according to claim 14, further comprising: connecting one or both of the first electrode layer and the second electrode layer to the anode electrode and connecting the back electrode layer to the cathode electrode. Manufacturing method of light emitting element.
基板上にエピタキシャル成長層を形成する工程と、
前記エピタキシャル成長層上に表面電極層を形成する工程と、
前記基板の裏面に裏面電極層を形成する工程と、
前記基板の側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第1側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して第1絶縁層を形成する工程と、
前記基板の前記側面に対向して並行に形成された側面に沿って形成され、前記基板、前記エピタキシャル成長層からなる第2側壁面および前記表面電極層の表面上および前記裏面電極層の表面上に延在して第2絶縁層を形成する工程と、
前記第1絶縁層および前記第2絶縁層上および前記表面電極層上に第1電極層を形成する工程と
を備えることを特徴とする半導体発光素子の製造方法。
Forming an epitaxially grown layer on the substrate;
Forming a surface electrode layer on the epitaxial growth layer;
Forming a back electrode layer on the back surface of the substrate;
A first insulating layer is formed along a side surface of the substrate and extends on the substrate, the first sidewall surface made of the epitaxial growth layer, the surface of the front electrode layer, and the surface of the back electrode layer. Process,
Formed along the side surface formed in parallel to the side surface of the substrate, on the substrate, the second side wall surface comprising the epitaxial growth layer, the surface of the surface electrode layer, and the surface of the back electrode layer Extending a second insulating layer; and
Forming a first electrode layer on the first insulating layer, the second insulating layer, and the surface electrode layer. A method for manufacturing a semiconductor light emitting element.
アノード電極およびカソード電極を実装基板上に形成する工程と、
前記第1電極層を前記アノード電極と半田付けによって接続し、前記裏面電極層を前記カソード電極に接続する工程と
を有することを特徴とする請求項16に記載の半導体発光素子の製造方法。
Forming an anode electrode and a cathode electrode on a mounting substrate;
The method according to claim 16, further comprising: connecting the first electrode layer to the anode electrode by soldering and connecting the back electrode layer to the cathode electrode.
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