JP2010197302A - プリント基板配線検査用冶具 - Google Patents

プリント基板配線検査用冶具 Download PDF

Info

Publication number
JP2010197302A
JP2010197302A JP2009044321A JP2009044321A JP2010197302A JP 2010197302 A JP2010197302 A JP 2010197302A JP 2009044321 A JP2009044321 A JP 2009044321A JP 2009044321 A JP2009044321 A JP 2009044321A JP 2010197302 A JP2010197302 A JP 2010197302A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
terminal
printed circuit
circuit board
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009044321A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Ota
章 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RIKA DENSHI CO Ltd
Original Assignee
RIKA DENSHI CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RIKA DENSHI CO Ltd filed Critical RIKA DENSHI CO Ltd
Priority to JP2009044321A priority Critical patent/JP2010197302A/ja
Publication of JP2010197302A publication Critical patent/JP2010197302A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

【課題】交換性を容易し、安価に製造できる検査プローブを有するプリント基板配線検査用冶具を提供すること。
【解決手段】
検査ボードに配設された検査プローブをプリント基板の端子部に接触させることにより、プリント基板に配設された配線の導通の有無を検査するプリント基板配線検査用冶具であって、上記検査プローブは、被覆リード線の先端部に配設された円筒状のターミナルと、同ターミナルの上部に設けられた接触載置面に接触載置されるスプリングと、同スプリングの上部に接触配置され、プリント基板の端子部に接触させる円筒状のプランジャーと、を備えたことを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、プリント基板の配線の導通を確認するプリント基板配線検査用冶具の検査プローブの構造に関する。
従来、プリント基板配線検査用冶具の一形態として、図6に示すように、エナメル線17(被覆配線)の先端のターミナル14にスプリング13を半田付けした接続した状態で、検査ボードに挿入して組立てたプリント基板の配線の導通を確認する検査プローブ30がある。かかる検査プローブ30は、エナメル線17の先端に連動連結したスプリング13により、そのスプリングの先端に設けたプランジャー12を揺動自在に設けて、プランジャー12とプリント基板の検査端子との接触性を高めている。
または、例えば、特許文献1に記載のように、エナメル線の先端部にフランジ部を形成して、そのフランジ部の上面に略円筒形状の両端可動プローブを設けたものがある。両端可動プローブの先端部及び基端部には、端子部を上下に揺動自在に構成している(例えば特許文献1に記載)。
特開2003−283100号公報
ところが、上記したスプリング13をターミナル14に半田29付けした検査プローブ30では、検査治具を組立て後に、スプリング13が折れ、ヘタリを起こしても、エナメル線17の先端に検査プローブ30が半田29で取り付いた状態であるので、それを取り外しすることができず、部品の交換ができない不都合を生じていた。
また、上記した特許文献1に記載の検査プローブでは、円筒形状の両端可動プローブには、端子を揺動自在とする構造であり、寿命・耐環境性・交換容易性において優れているが、それ自体が高価である。また、圧入端子に端子部の突き刺しが繰り返されることにより、圧入端子が傷んでしまう不都合が生じる。
この発明は、上記課題を解決するためになされたもので、交換性を容易にし、安価に製造ができる検査プローブを具備するプリント基板配線検査用冶具を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、検査ボードに配設された検査プローブをプリント基板の端子部に接触することにより、プリント基板に配設された配線の導通の有無を検査するプリント基板配線検査用冶具であって、上記検査プローブは、被覆配線の先端部に配設した円筒状のターミナルと、同ターミナルの上部に設けた接触載置面に接触載置するスプリングと、同スプリングの上部に接触配置し、プリント基板の端子部に接触する円筒状のプランジャーと、を具備することを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、上記ターミナルは、上記スプリングとの接触載置面の中央部に、端縁部より上側に突出したテーパー面又は球面を有することを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1又は請求項2に記載の発明において、上記スプリングは、その下端部の螺旋体の一周部分で上記ターミナルの接触載置面と接触させることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1において、上記プランジャーの中途部には円周方向に伸びるフランジを有することを特徴とする。
(1)請求項1記載の本発明では、検査ボードに配設された検査プローブをプリント基板の端子部に接触することにより、プリント基板に配設された配線の導通の有無を検査するプリント基板配線検査用冶具であって、上記検査プローブは、被覆配線の先端部に配設した円筒状のターミナルと、同ターミナルの上部に設けた接触載置面に接触載置するスプリングと、同スプリングの上部に接触配置し、プリント基板の端子部に接触する円筒状のプランジャーと、を具備している。
このように、組立てた検査ボード内においては、プランジャーの上、スプリング、ターミナルの上にスプリングを接触載置し、スプリングの上にプランジャーを接触載置して一体構造になった検査プローブとして機能させることができる。これにより、従来のターミナルとスプリングとを半田で取り付ける手間も無くなり、プリント基板配線検査用冶具の製作作業性を向上させることができ、従来に比べて製造コストを削減することができる。
また、検査ボードを分解した状態では、各構成部品ごとに分解して取り出すことができ、一部の部品が劣化しても各構成部品ごとに容易に交換することができ、これにより、メンテナンス性を向上することができる。
(2)請求項2記載の本発明では、上記ターミナルは、上記スプリングとの接触載置面の中央部が、上側に突出したテーパー面又は球面を有するので、検査ボード内においてスプリングを、ターミナル上部の接触載置面上に載置することができ、接触不良になる可能性を低くすることができる。
(3)請求項3記載の本発明では、上記スプリングは、その下端部の螺旋体の一周部分で上記ターミナルの接触載置面と接触させるので、螺旋体の一周部分で接触面積を大きくとれるので、スプリングとターミナル端子との接触性を高めることができる。
(4)請求項4記載の本発明では、上記プランジャーの中途部には円周方向に伸びるフランジを有するので、検査ボード内において、スプリングの付勢により、検査ボードから飛び出すのを防止すると共に、スプリングの弾性力の劣化を防止したりすることができる。
この発明の実施例におけるプリント基板配線検査用冶具の全体構成を示した側面図である。 この発明の実施例におけるプリント基板配線検査用冶具の下治具の全体構成を示した側面図である。 この発明の実施例における検査プローブの全体構成を示した側面図である。 図2とは別の検査プローブの全体構成を示した側面図である。 この発明の実施例におけるプリント基板配線検査用冶具の検査ボードを分解した構成を示した断面図である。 従来の検査プローブの全体構成を示した側面図である。
本発明に係る最良形態としてのプリント基板配線検査用冶具は、検査ボードに配設された検査プローブをプリント基板の端子部に接触させることにより、プリント基板に配設された配線の導通の有無を検査するプリントものである。
そして、特徴的構造として、検査ボードに配設された検査プローブをプリント基板の端子部に接触することにより、プリント基板に配設された配線の導通の有無を検査するプリント基板配線検査用冶具であって、上記検査プローブは、被覆配線の先端部に配設した円筒状のターミナルと、同ターミナルの上部に設けた接触載置面に接触載置するスプリングと、同スプリングの上部に接触配置し、プリント基板の端子部に接触する円筒状のプランジャーと、を具備している。
以下に、本発明の実施例1を、図面を参照しながら説明する。
図1に示すAは、本発明に係るプリント基板配線検査用冶具10であり、テスタ本体21と、上治具22と下治具23とを有する。すなわち、プリント基板配線検査用冶具10は、被検査基板としてのプリント基板Pを、上治具22と下治具23とで挟み込み、テスタ本体21から電気的信号を送り込んでプリント基板Pの導通を確認する装置である。
テスタ本体21は、電源やパソコンなどを用いて信号発生器、信号測定器を有するものである。すなわち、テスタ本体21は、検査者がPCを用いて、信号発生器で信号を発生し、発生した信号をプリント基板Pに送信すると共に、その送信結果を信号測定器で測定することにより、プリント基板Pの導通の有無を確認するためのものである。
上治具22は、被検査基板としてのプリント基板Pを、後で述べる下治具23と共に、上から押さえて固定させるものである。また、上治具22には、下治具23に配設することができない配線などを配設することもできる。
下治具23は、図2に示すように、検査ボード20を備え、検査ボード20内に複数個の検査プローブ11を有している。各検査プローブ11とテスタ本体21とは、多数のリード線を束にした配線27で接続している。さらに、下治具23には、プリント基板Pを検査ボード20上に載置する位置合わせピン26を有している。
そのような構成において、本実施形態におけるプリント基板配線検査用冶具10は、検査プローブ11は、検査ボード20内においてターミナル14、スプリング13、及びプランジャー12を接触載置することで、交換性を容易にし、安価に製造ができる検査プローブ11を具備したことにある。以下、検査プローブ11の構造について図面を参照して詳細に説明する。
検査プローブ11は、図3に示すように、被覆配線の先端部に配設された円筒状のターミナル14と、同ターミナル14の上部に設けられた接触載置面に接触載置されるスプリング13と、同スプリング13の上部に接触配置され、プリント基板Pの端子部に接触させる円筒状のプランジャー12と、を具備している。
ターミナル14は、エナメル線又は被覆電線の先端部に形成される円筒形状を有するものである。ターミナル14は、被覆配線としてのエナメル線17又は被覆電線の芯線の先端をレーザで溶融して、球面に形成したものである。
または、ターミナル14は、図4に示すように、上記スプリング13との接触載置面の中央部が、上側に突出したテーパー面又は球面を有する。外面Auメッキのパイプの縁を旋盤加工により絞ったものを利用している。
このように、ターミナル14は、上記スプリング13との接触載置面の中央部が、上側に突出したテーパー面又は球面を有するので、検査ボード20内において、載置したスプリング13がターミナル14から分離しににくくなり、接触不良になる可能性が低くなる。
さらに、エナメル線17の先端部には、ゴム製の円筒形状を有するストッパ18を巻設している。このストッパ18の外径は、検査ボード20に配設されてターミナル14を挿入する貫通孔よりも大きくしている。これにより、ターミナル14がエナメル線17本体と共にプランジャー12側に侵入するのを防止している。
スプリング13は、プランジャー12とターミナル14との間に介設したものであり、プランジャー12を揺動自在に設けるものである。すなわち、プランジャー12を揺動自在にして、プリント基板Pを検査ボード20上に形成された載置面Sに配置しやすくすると共に、スプリング13の付勢によりプリント基板Pの端子部との接触性を高めている。
また、スプリング13は、一本の線状の導体を螺旋状に構成した螺旋体16を有する。これにより、プランジャー12とターミナル14との間に介設することで、プランジャー12とターミナル14とを導通可能としている。
そして、その下端部の螺旋体16の一周部分で上記ターミナル14の接触載置面に接触させている。すなわち、そのスプリング13の螺旋体16を一周部分で接触させることにより、接触面積を大きくとれるので、スプリング13とターミナル14端子との接触性を高めることができる。
プランジャー12は、その先端はプリント基板Pの端子部に当接部Xと、円周方向に突出したフランジ15を備えた中途部Yと、その基端はスプリング13と接触させる接触部Zとを有する。
当接部Xはその先端に向かって先細り形状に形成されており、これによりプランジャー12とプリント基板Pとの接触性を高めている。また。プランジャー12下部にある接触部Zには、スプリング13の螺旋体16の中に嵌め込む凸部を形成し、これにより、スプリング13との接触性を高めている。
さらに、プランジャー12の中途部Yには円周方向に伸びるフランジ15を有するので、検査ボード20内において、スプリング13の付勢により、検査ボード20から飛び出すのを防止すると共に、スプリング13の弾性力の劣化を防止したりすることができる。詳細については後に述べる。
検査プローブ11を挿入する検査ボード20は、複数枚の層(6層)により構成している。各層には、各検査プローブ11を挿入できる挿入孔を複数個有する。
次に、検査ボード20への検査プローブ11の挿入方法について説明する。まず、検査ボード20の下層部にターミナル14を挿入する。すなわち、図5に示すように、検査ボード20の下層部となる第5ボード層20eにはターミナル14を挿通できる第5貫通孔24eを有している。また、第6ボード層20fにはエナメル線17を挿通でき、上記ターミナル14の第5貫通孔24eよりも小径の第6貫通孔24fを有する。
そして、第6ボード層20fの上に第5ボード層20eを積層し、第5貫通孔24e及び第6貫通孔24fにターミナル14を挿通する。これにより、ターミナル14は、第6ボード層20fに貫通させた状態で挿入することができる。
また、プランジャー12とスプリング13とを積層する第1ボード層20a〜第4ボード層20dを準備する。第1ボード層20aは、ブランジャーの先端が突出する第1貫通孔24aを設けている。また、第2ボード層20bは、プランジャー12の円周方向に突出したフランジ15が揺動自在な空間を有するような第2貫通孔24bを設けている。
これにより、プランジャー12に設けたフランジ15は、第2ボード層20bに設けた第2貫通孔24b内において揺動自在にすると共に、スプリング13の付勢によりフランジ15の上端部が第1ボード層20aの第1貫通孔24aの縁部により係止するように構成している。このようにして、プランジャー12が検査ボード20から飛び出すのを防ぐと共に、スプリング13の付勢の劣化を防止している。
第3ボード層20cは、プランジャー12の下部を挿通する第3貫通孔24cを有し、また、第4ボード層20dは、スプリング13を挿通する第4貫通孔24dを有している。第3ボード層20cの第3貫通孔24cと第4ボード層20dの第4貫通孔24dとは同じ大きさを有している。
そして、第1ボード層20aから第4ボード層20dまでを積層して上側ボード部25aを構成し、プランジャー12とスプリング13とを組み合わせた状態で上側ボード部25aに挿入する。
この後、上側ボード部25aと下側ボード部25bとを重ね合わせて、検査プローブ11を挿入した6層の検査ボード20を構成している。
このように、組立てられた検査ボード20内においては、プランジャー12、スプリング13、ターミナル14が一体になって検査プローブ11として機能させることができる。
上記組立方法により作製したプリント基板配線検査用治具において、検査プローブ11は、テスタ本体21から信号発生させて、検査プローブ11を介して、プリント基板Pに接続させて導通の有無を確認するようにしている。
また、プリント基板配線検査用治具をメンテナンスするときには、検査ボード20を取り外しして、各構成ごとに交換が可能である。例えば、スプリング13の付勢が弱まったときには、新しいスプリング13に交換することが可能である。または、プランジャー12の先端が破損した場合には新しいプランジャー12に交換することができる。
検査ボード20を分解した状態では、各構成部品ごとに分解することができ、一部の部品が劣化しても容易に交換することができる。これにより、プリント基板配線検査用冶具10の製作作業性を向上させることができ、メンテナンス性を容易にしているので、従来に比べてコストを削減することができる。
以上述べたように、実施例1におけるプリント基板配線検査用冶具10は、プランジャー12、スプリング13、ターミナル14の各部品ごとでの交換性を容易し、各部品を検査ボード20内において載置接触による組み合わせにより安価に製造できる検査プローブ11とすることができる。
M 接触載置面
10 プリント基板配線検査用冶具
11 検査プローブ
12 プランジャー
13 スプリング
14 ターミナル
15 フランジ部
16 螺旋体

Claims (4)

  1. 検査ボードに配設された検査プローブをプリント基板の端子部に接触することにより、プリント基板に配設された配線の導通の有無を検査するプリント基板配線検査用冶具であって、
    上記検査プローブは、被覆配線の先端部に配設した円筒状のターミナルと、
    同ターミナルの上部に設けた接触載置面に接触載置するスプリングと、
    同スプリングの上部に接触配置し、プリント基板の端子部に接触する円筒状のプランジャーと、を具備することを特徴とするプリント基板配線検査用冶具。
  2. 上記ターミナルは、上記スプリングとの接触載置面の中央部に、端縁部より上側に突出したテーパー面又は球面を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のプリント基板配線検査用冶具。
  3. 上記スプリングは、その下端部の螺旋体の一周部分で上記ターミナルの接触載置面と接触させることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のプリント基板配線検査用冶具。
  4. 上記プランジャーの中途部には円周方向に伸びるフランジを有することを特徴とする請求項1に記載のプリント基板配線検査用冶具。
JP2009044321A 2009-02-26 2009-02-26 プリント基板配線検査用冶具 Pending JP2010197302A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009044321A JP2010197302A (ja) 2009-02-26 2009-02-26 プリント基板配線検査用冶具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009044321A JP2010197302A (ja) 2009-02-26 2009-02-26 プリント基板配線検査用冶具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010197302A true JP2010197302A (ja) 2010-09-09

Family

ID=42822158

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009044321A Pending JP2010197302A (ja) 2009-02-26 2009-02-26 プリント基板配線検査用冶具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010197302A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018136195A (ja) * 2017-02-22 2018-08-30 日置電機株式会社 プローブ装置および測定システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018136195A (ja) * 2017-02-22 2018-08-30 日置電機株式会社 プローブ装置および測定システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101415722B1 (ko) 콘택트 프로브 및 프로브 유닛
JP5607934B2 (ja) プローブユニット
JP2010085107A (ja) 検査治具、電極構造及び電極構造の製造方法
JP2007304008A (ja) 基板検査用接触子、基板検査用治具及び基板検査装置
JP5824290B2 (ja) 検査治具及び接触子
JP6283929B2 (ja) 検査用治具及び検査用治具の製造方法
JP5070956B2 (ja) 基板検査用接触子及び基板検査用治具
WO2011048890A1 (ja) コンタクトプローブ及びソケット
JP2024055974A (ja) コンタクトプローブ
JP2007178163A (ja) 検査ユニットおよびそれに用いる検査プローブ用外皮チューブ組立体
KR20110043480A (ko) 검사용 치구 및 접촉자
US20080218188A1 (en) Jig for printed substrate inspection and printed substrate inspection apparatus
JP4667253B2 (ja) 四探針測定用同軸プローブ及びこれを備えたプローブ治具
JP2012181119A (ja) 基板の検査装置及びその検査装置の製造方法
JP2010197302A (ja) プリント基板配線検査用冶具
JP5345598B2 (ja) 検査治具及び接触子
KR101476794B1 (ko) 테스트용 소켓 및 테스트용 소켓의 제조방법
JP2004333459A (ja) コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置
JP3806433B2 (ja) 異方導電性シート及びそれを用いた半導体検査装置
JP2005061851A (ja) プローブカード用基板
KR101323293B1 (ko) 반도체(ic)용 테스트 기기
JP2012073213A5 (ja)
JP2004138592A (ja) スプリングコンタクトおよびスプリングプローブ
KR101476793B1 (ko) 테스트용 소켓
JP3183676U (ja) 半導体検査用プローブピン