JP2010197252A - Appearance inspection apparatus and appearance inspection method of soldered region - Google Patents

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JP2010197252A JP2009043238A JP2009043238A JP2010197252A JP 2010197252 A JP2010197252 A JP 2010197252A JP 2009043238 A JP2009043238 A JP 2009043238A JP 2009043238 A JP2009043238 A JP 2009043238A JP 2010197252 A JP2010197252 A JP 2010197252A
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Keiji Kanehara
圭司 金原
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately determine the quality of a solder fillet formed in an abutting section between printed boards and having a L-shaped inspected region by using a conventional method. <P>SOLUTION: An appearance inspection apparatus includes: a line light source 11 for irradiating the abutting section between the printed boards with a linear light; a camera 12, inclined with respect to a line for connecting the line light source and the abutting section between the printed boards at an angle, and disposed on a bisector having a start point as an intersection between one side and the other side in the L-shaped soldered region as the object to be inspected, and is equiangular to the sides; an image input means; image processing means 212, 213 for processing an image as a section image of a land portion by a light-section method; an inspection parameter extracting means 214 for extracting the inspection parameters, including a shape feature parameter and a location parameter for implementing a soldered region quality inspection based on the section image; a soldered region quality determining means 221 for determining the soldered region quality based on the inspection parameters; and an output means 222 for outputting the determined result. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、ライン光源を用いた半田付け部位の外観検査装置及び外観検査方法に関する。   The present invention relates to an appearance inspection apparatus and an appearance inspection method for a soldered part using a line light source.

従来から一般的に行われているプリント板の半田付け部位の外観検査は、線状のスリット光を対象物に投光し、このスリット光により対象物の表面に描かれた光切断像を検出し、検出された光切断像から線状の光切断線を抽出するようになっている。そして、この光切断線よりノイズを除去したり部分切断された断線部に対して光切断線の接続処理を行う前処理を行ったりした後、この前処理された光切断線の形状的特長を計数し、予め設定された判定閾値と比較し、形状の良否の判定を行うようにしている。   Conventionally, the appearance inspection of the soldering part of the printed board, which is generally performed in the past, projects a linear slit light onto the object and detects the light cut image drawn on the surface of the object by this slit light. In addition, a linear light cutting line is extracted from the detected light cutting image. And after removing the noise from this optical cutting line or performing pre-processing to connect the optical cutting line to the partially cut disconnection part, the shape features of this pre-processed optical cutting line The number is counted and compared with a predetermined determination threshold value, and the quality of the shape is determined.

特公昭63−9602号公報Japanese Patent Publication No. 63-9602

従来の検査方法によると、例えば、プリント基板同士の縁部を側面視略L字状をなすように突き当てて各プリント基板の各縁部のランドを電気的に接続する半田付け部位のように検査部位が略L字形状になっている場合、検査対象物が平面状の基板に載った半田の場合と比較すると、照射したスリット光の反射光が基板などを照らしてノイズとなってしまうことが多い。そのため、光切断線を抽出しても前処理を行う際に求めたい光切断線が判断できず、形状の良否判定が行えないという問題がある。   According to the conventional inspection method, for example, like a soldering portion where the edges of the printed circuit boards are abutted so as to form a substantially L shape in a side view and the lands on the respective printed circuit boards are electrically connected. When the inspection site is substantially L-shaped, the reflected light of the irradiated slit light illuminates the substrate and becomes noise compared to the case where the inspection object is solder placed on a flat substrate. There are many. For this reason, there is a problem that even if a light section line is extracted, the light section line that is desired to be obtained when performing preprocessing cannot be determined, and the shape quality cannot be determined.

また、半田付け部の表面に鏡面部と非鏡面部とが混在しており、照射したスリット光が反射してしまい、連続した光切断線を作成することができず、部分切断された状態で良否判定を行わざるを得ない。そのため、判定に必要なパラメータを複数用意しておくことになり、処理が複雑で煩雑となってしまうという問題がある。これは近年の半田の鉛フリー化に伴い、顕著となっている。   In addition, the surface of the soldering part is mixed with a mirror surface part and a non-mirror surface part, and the irradiated slit light is reflected, and a continuous light cutting line cannot be created, and in a partially cut state A pass / fail judgment must be made. Therefore, a plurality of parameters necessary for the determination are prepared, and there is a problem that the processing becomes complicated and complicated. This has become remarkable with the recent lead-free solder.

本発明の目的は、プリント基板の突き当て部に形成され、各プリント基板の突き当て部のランドを互いに電気的に接続するような検査部位が略L字形状になった半田付け部位(半田フィレット)の良否判定を簡便な方法で精度良く行うことにある。   An object of the present invention is to provide a soldering portion (solder fillet) formed at a butting portion of a printed circuit board and having a substantially L-shaped inspection region that electrically connects the lands of the abutting portion of each printed circuit board. ) Is accurately determined by a simple method.

上述した課題を解決するために、本発明の請求項1に記載の半田付け部位の外観検査装置は、
プリント基板同士を突き当てた突き当て部に形成され前記各プリント基板のランドを電気的に接続する略L字形状の半田付け部位の外観検査を行う半田付け部位の外観検査装置であって、
検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され前記プリント基板同士の突き当て部に向かって線状の光を照射するライン光源と、
前記ライン光源と前記プリント基板同士の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、前記ライン光源が前記半田付け部位を照光する角度と異なる角度から当該半田付け部位を撮影するカメラと、
前記ライン光源の照光時に前記カメラで検査対象となるランド部を撮影し、撮影した画像を入力する画像入力手段と、
前記入力した画像を、光切断法により検査対象の切断画像として処理する画像処理手段と、
前記画像処理を行った切断画像に基づき、半田付け部位良否検査を行う形状特徴パラメータ及び位置パラメータからなる検査パラメータを抽出する検査パラメータ抽出手段と、
前記抽出した検査パラメータに基づき、半田付け部位良否を判定する半田付け部位良否判定手段と、
前記判定した結果を出力する出力手段と、を備えたことを特徴としている。
In order to solve the above-described problem, an appearance inspection apparatus for a soldering part according to claim 1 of the present invention provides:
An appearance inspection apparatus for a soldering part that performs an appearance inspection of a substantially L-shaped soldering part that is formed in abutting portions where the printed boards are abutted to each other and electrically connects the lands of each printed circuit board,
It is arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering site to be inspected, and is linear toward the abutting part between the printed circuit boards. A line light source that emits light;
Each side having an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portion between the printed circuit boards, and starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected And a camera for photographing the soldering part from an angle different from the angle at which the line light source illuminates the soldering part,
An image input means for capturing a land portion to be inspected by the camera when the line light source is illuminated, and inputting the captured image;
Image processing means for processing the input image as a cut image to be inspected by a light cutting method;
Based on the cut image that has been subjected to the image processing, inspection parameter extraction means for extracting an inspection parameter composed of a shape feature parameter and a position parameter for performing a soldering site quality inspection;
Based on the extracted inspection parameters, a soldering part pass / fail judgment means for judging soldering part pass / fail,
Output means for outputting the result of the determination.

また、本発明の請求項5に記載の半田付け部位の外観検査方法は、
プリント基板同士を突き当てた突き当て部に形成され前記各プリント基板のランドを電気的に接続する略L字状の半田付け部位の外観検査方法であって、
検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され前記プリント基板同士の突き当て部に向かって線状の光を照射するライン光源と、
前記ライン光源と前記プリント基板同士の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、前記ライン光源が前記半田付け部位を照光する角度と異なる角度から当該半田付け部位を撮影するカメラを用意し、
前記ライン光源の照光時に前記カメラで検査対象となるランド部を撮影し、撮影した画像を入力し、
前記入力した画像を、光切断法により検査対象の切断画像として画像処理し、
前記画像処理を行った切断画像に基づき、半田付け部位良否検査を行う形状特徴パラメータ及び位置パラメータからなる検査パラメータを抽出し、
前記抽出した検査パラメータに基づき、半田付け部位良否を判定し、
前記判定した結果を出力することを特徴としている。
Moreover, the visual inspection method of the soldering part according to claim 5 of the present invention is:
A method for inspecting the appearance of a substantially L-shaped soldering part that is formed in abutting portions where the printed circuit boards are abutted to each other and electrically connects the lands of each printed circuit board,
It is arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering site to be inspected, and is linear toward the abutting part between the printed circuit boards. A line light source that emits light;
Each side having an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portion between the printed circuit boards, and starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected And a camera for photographing the soldering part from an angle different from the angle at which the line light source illuminates the soldering part,
Shoot the land part to be inspected with the camera at the time of illumination of the line light source, input the captured image,
The input image is subjected to image processing as a cut image to be inspected by a light cutting method,
Based on the cut image that has been subjected to the image processing, to extract inspection parameters consisting of shape feature parameters and position parameters to perform soldering site quality inspection,
Based on the extracted inspection parameters, determine whether the soldering site is good,
The determination result is output.

本発明の請求項1に記載の半田付け部位の外観検査装置及び請求項5に記載の半田付け部位の外観検査方法によると、略L字形状の半田付け部位の外観検査を行う際に、複雑で多数の判定パラメータを用意することなく、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の外観検査を簡便で精度良く行うことができる。   According to the appearance inspection apparatus for a soldering part according to claim 1 of the present invention and the appearance inspection method for a soldering part according to claim 5, it is difficult to perform an appearance inspection of a substantially L-shaped soldering part. Thus, without preparing a large number of determination parameters, the appearance inspection of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected can be performed easily and accurately.

また、本発明の請求項2に記載の半田付け部位の外観検査装置は、請求項1に記載の半田付け部位の外観検査装置において、
前記検査パラメータ抽出手段は、前記ライン光源が前記各プリント基板を照光して光切断法によって得られた2本の光切断線から、画像処理後の2本の基準線とこれら2本の基準線が交わる基準線交点を求め、前記基準線交点と光切断法によって得られたランド部の切断画像に基づいて、半田良否判定の位置パラメータとしての半田領域の3次元上の実際の高さを算出すると共に、前記半田領域を示すランド部の切断画像、前記基準線交点、及び前記基準線とから半田良否判定の形状特徴パラメータを抽出することを特徴としている。
Further, an appearance inspection apparatus for a soldering part according to claim 2 of the present invention is the appearance inspection apparatus for a soldering part according to claim 1,
The inspection parameter extracting means includes two reference lines after image processing and these two reference lines from two light cutting lines obtained by a light cutting method by the line light source illuminating each printed circuit board. The intersection of the reference line intersects and calculates the actual three-dimensional height of the solder area as a positional parameter for determining the solder quality based on the reference line intersection and the cut image of the land portion obtained by the light cutting method. In addition, a shape feature parameter for determining whether the solder is good or bad is extracted from the cut image of the land portion indicating the solder area, the reference line intersection, and the reference line.

また、本発明の請求項6に記載の半田付け部位の外観検査方法は、請求項5に記載の半田付け部位の外観検査方法において、
前記検査パラメータ抽出手段は、前記ライン光源が前記各プリント基板を照射して光切断法によって得られた2本の光切断線から基準線交点を求め、前記基準線交点と光切断法によって得られたランド部の切断画像に基づいて、半田良否判定の位置パラメータとしての半田領域の3次元上の実際の高さを算出すると共に、前記半田領域を示すランド部の切断画像の形状特徴、位置、前記基準線交点とから半田良否判定のパラメータを抽出することを特徴としている。
Moreover, the visual inspection method of the soldering part according to claim 6 of the present invention is the visual inspection method of the soldering part according to claim 5,
The inspection parameter extraction means obtains a reference line intersection from two light cutting lines obtained by the light cutting method when the line light source irradiates each printed circuit board, and is obtained by the reference line intersection and the light cutting method. Based on the cut image of the land portion, the three-dimensional actual height of the solder area as a positional parameter for determining solder quality is calculated, and the shape feature, position, It is characterized in that a solder quality determination parameter is extracted from the reference line intersection.

本発明の請求項2に記載の半田付け部位の外観検査装置及び請求項6に記載の半田付け部位の外観検査方法によると、ノイズ処理や部分断線に対する接続処理といった前処理を行うことなく、半田付け部位の外観検査を精度良く行うことができる。   According to the appearance inspection apparatus for a soldering part according to claim 2 and the soldering part appearance inspection method according to claim 6 of the present invention, soldering can be performed without performing preprocessing such as noise processing or connection processing for partial disconnection. The appearance inspection of the attachment site can be performed with high accuracy.

また、本発明の請求項3に記載の半田付け部位の外観検査装置は、
プリント基板同士突き当てた突き当て部に形成され前記各プリント基板のランドを電気的に接続する略L字形状の半田付け部位間のブリッジ有無の外観検査を行う半田付け部位の外観検査装置であって、
検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され前記プリント基板同士の突き当て部に向かって照射する線状のライン光源と、
前記ライン光源と前記プリント基板同士の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、前記ライン光源が前記半田付け部位を照光する角度と異なる角度から当該半田付け部位を撮影するカメラと、
前記ライン光源が照射して前記カメラで検査対象となる隣り合うランド間を前記カメラで撮影し、撮影した画像を入力する画像入力手段と、
前記入力した画像を、光切断法により検査対象の切断画像として処理する画像処理手段と、
前記画像処理を行った切断画像に基づき、半田付け部位間良否検査を行う検査パラメータを抽出する検査パラメータ抽出手段と、
前記抽出した検査パラメータに基づき、半田付け部位間良否を判定する半田付け部位間良否判定手段と、
前記判定した結果を出力する出力手段と、を備えたことを特徴としている。
Further, an appearance inspection apparatus for a soldering part according to claim 3 of the present invention is provided.
It is an appearance inspection device for a soldering part that performs an appearance inspection for the presence or absence of a bridge between substantially L-shaped soldering parts that are formed in abutting portions where the printed circuit boards are brought into contact with each other and electrically connect the lands of the printed circuit boards. And
A line that is arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering site to be inspected, and irradiates toward the abutting portion of the printed circuit boards Line light source,
Each side having an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portion between the printed circuit boards, and starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected And a camera for photographing the soldering part from an angle different from the angle at which the line light source illuminates the soldering part,
Image input means for capturing images between adjacent lands that are irradiated by the line light source and to be inspected by the camera with the camera, and for inputting the captured image;
Image processing means for processing the input image as a cut image to be inspected by a light cutting method;
Based on the cut image that has been subjected to the image processing, inspection parameter extraction means for extracting inspection parameters for performing a pass / fail inspection between soldered sites;
Based on the extracted inspection parameters, the quality determination means between the soldering sites for determining the quality between the soldering sites,
Output means for outputting the result of the determination.

また、本発明の請求項7に記載の半田付け部位の外観検査方法は、
プリント基板同士を突き当てた突き当て部に形成され前記各プリント基板のランドを電気的に接続する略L字形状の半田付け部位間のブリッジ有無の外観検査を行う半田付け部位の外観検査方法であって、
検査対象となる略L字形状の半田付け部位をなす一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され前記プリント基板同士の突き当て部に向かって線状の光を照射するライン光源と、
前記ライン光源と前記プリント基板同士の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、前記ライン光源が前記半田付け部位を照光する角度と異なる角度から当該半田付け部位を撮影するカメラを用意し、
前記ライン光源の照光時に前記カメラで検査対象となる隣り合うランド間を撮影し、撮影した画像を入力し、
前記入力した画像を、光切断法により検査対象の切断画像として画像処理し、
前記画像処理を行った切断画像に基づき、半田ランド間良否の検査パラメータを抽出し、
前記抽出した検査パラメータに基づき、半田ランド間の良否を判定し、
前記判定した結果を出力することを特徴としている。
In addition, the method for inspecting the appearance of a soldering part according to claim 7 of the present invention includes:
A soldering part appearance inspection method for performing an appearance inspection for the presence or absence of a bridge between substantially L-shaped soldering parts that are formed in abutting portions where the printed circuit boards are brought into contact with each other and electrically connect the lands of each printed circuit board. There,
Arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side that form a substantially L-shaped soldering site to be inspected, and linear toward the abutting portion between the printed boards A line light source that emits
Each side having an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portion between the printed circuit boards, and starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected And a camera for photographing the soldering part from an angle different from the angle at which the line light source illuminates the soldering part,
Shoot between adjacent lands to be inspected with the camera when the line light source is illuminated, and input the captured image,
The input image is subjected to image processing as a cut image to be inspected by a light cutting method,
Based on the cut image that has been subjected to the image processing, to extract the inspection parameters of the quality between the solder lands,
Based on the extracted inspection parameters, determine the quality between solder lands,
The determination result is output.

本発明の請求項3に記載の半田付け部位の外観検査装置及び請求項7に記載の半田付け部位の外観検査方法によると、略L字形状の半田付け部位間のブリッジ有無の検査を行う際に、複雑で多数の判定パラメータを用意することなく、検査対象となる略L字形状の半田付け部位間のブリッジ有無の外観検査を簡便で精度良く行うことができる。   According to the soldering part appearance inspection apparatus according to claim 3 of the present invention and the soldering part appearance inspection method according to claim 7, when the presence or absence of a bridge between the substantially L-shaped soldering parts is inspected. In addition, it is possible to easily and accurately perform an appearance inspection for the presence or absence of a bridge between the substantially L-shaped soldering parts to be inspected without preparing complicated and many determination parameters.

また、本発明の請求項4に記載の半田付け部位の外観検査装置は、請求項3に記載の半田付け部位の外観検査装置において、
前記検査パラメータ抽出手段は、前記ライン光源が前記各プリント基板を照光して光切断法によって得られた2本の光切断線から、画像処理後の2本の基準線とこれら2本の基準線が交わる基準線交点を求めると共に、前記基準線交点と2本の基準線のそれぞれから前記ランド間のブリッジ有無判定のパラメータを抽出することを特徴としている。
Further, an appearance inspection apparatus for a soldering part according to claim 4 of the present invention is the appearance inspection apparatus for a soldering part according to claim 3,
The inspection parameter extracting means includes two reference lines after image processing and these two reference lines from two light cutting lines obtained by a light cutting method by the line light source illuminating each printed circuit board. Is obtained, and a parameter for determining whether or not there is a bridge between the lands is extracted from each of the reference line intersection and two reference lines.

また、本発明の請求項8に記載の半田付け部位の外観検査方法は、請求項7に記載の半田付け部位の外観検査方法において、
前記検査パラメータ抽出手段は、前記ライン光源が前記各プリント基板を照光して光切断法によって得られた2本の光切断線から、画像処理後の2本の基準線とこれら2本の基準線が交わる基準線交点を求め、前記基準線交点と2本の基準線のそれぞれからランド間のブリッジ有無判定のパラメータとしての距離を抽出することを特徴としている。
Further, an appearance inspection method for a soldering part according to claim 8 of the present invention is the method for visual inspection of a soldering part according to claim 7,
The inspection parameter extracting means includes two reference lines after image processing and these two reference lines from two light cutting lines obtained by a light cutting method by the line light source illuminating each printed circuit board. A reference line intersection point is obtained, and a distance as a parameter for determining whether or not there is a bridge between lands is extracted from each of the reference line intersection point and two reference lines.

本発明の請求項4に記載の半田付け部位の外観検査装置及び請求項8に記載の半田付け部位の外観検査方法によると、ノイズ処理や部分断線に対する接続処理を行うといった前処理を行うことなく、半田付け部位の外観検査や半田付け部位間のブリッジ有無の外観検査を精度良く行うことができる。   According to the soldering part appearance inspection apparatus according to the fourth aspect of the present invention and the soldering part appearance inspection method according to the eighth aspect of the present invention, without performing preprocessing such as noise processing or connection processing for partial disconnection. In addition, it is possible to accurately perform the appearance inspection of the soldering parts and the appearance inspection of the presence or absence of a bridge between the soldering parts.

本発明によると、プリント基板の突き当て部に形成され、各プリント基板のランドを電気的に接続するような検査部位が略L字形状になっている半田フィレットの良否判定を簡便な方法で精度良く行うことができる。   According to the present invention, it is possible to accurately determine the quality of a solder fillet formed at the abutting portion of a printed circuit board and having a substantially L-shaped inspection site that electrically connects the lands of each printed circuit board with a simple method. Can be done well.

本発明の一実施形態に係る半田付け部位の外観検査装置及び外観検査方法を適用する略L字状半田部の良品及び不良品を様々な形態で示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows the non-defective product and the defective product of the substantially L-shaped solder part to which the appearance inspection device and the appearance inspection method of the soldering part according to one embodiment of the present invention are applied in various forms. 本発明の一実施形態に係る半田付け部位の外観検査装置の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the external appearance inspection apparatus of the soldering site | part which concerns on one Embodiment of this invention. 図1において、ライン光源及びカメラを設置した状態を示す斜視図である。In FIG. 1, it is a perspective view which shows the state which installed the line light source and the camera. 図3において互いに突き当てられたプリント基板をライン光源やカメラ等と共に示す正面図である。It is a front view which shows the printed circuit board which mutually faced in FIG. 3 with a line light source, a camera, etc. FIG. 図3において互いに突き当てられたプリント基板をライン光源やカメラ等と共に示す側面図である。It is a side view which shows the printed circuit board which faced each other in FIG. 3 with a line light source, a camera, etc. 図1に示した半田付け部位の外観検査装置を用いた外観検査方法を示す概略フローチャートである。It is a schematic flowchart which shows the external appearance inspection method using the external appearance inspection apparatus of the soldering site | part shown in FIG. 図1における良品の半田部(G)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。FIG. 3 is an image processing display example showing a good solder part (G) in FIG. 1 using a light cutting method. FIG. 図1における不良品の第1の態様である半田過多の半田部(F−1)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。FIG. 2 is an example of image processing display showing a solder-excess solder part (F-1) which is a first aspect of the defective product in FIG. 1 using a light cutting method. 図1における不良品の第2の態様である未半田の半田部(F−2)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。It is an example of image processing display which shows the unsoldered solder part (F-2) which is the 2nd aspect of the inferior goods in FIG. 1 using the optical cutting method. 図1における不良品の第3の態様であるプリント基板の一側にのみ半田がある場合の未接合の半田部(F−3)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。It is an example of image processing display which shows the unjoined solder part (F-3) when there is solder only on one side of the printed circuit board which is the third mode of the defective product in FIG. 半田ランド部良品判定ロジックを説明するパラメータと条件と論理式を示す一覧表である。It is a table | surface which shows the parameter, conditions, and logic formula explaining a solder land part non-defective product determination logic. 本発明の一実施形態に係る半田付け部位の外観検査装置及び外観検査方法を適用する略L字状半田部の形成されたランド間の良品(ブリッジなし)及び不良品(ブリッジあり)を示す概略斜視図である。Schematic showing non-defective product (without bridge) and defective product (with bridge) between lands formed with substantially L-shaped solder portions to which an appearance inspection device and an appearance inspection method for a soldering site according to an embodiment of the present invention are applied. It is a perspective view. 図12においてライン光源及びカメラを設置した状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state which installed the line light source and the camera in FIG. 図12に示したランド間良品(L−G)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。FIG. 13 is an example of image processing display showing the inter-land good product (LG) shown in FIG. 12 using a light cutting method. FIG. 図12に示したランド間不良品(L−B)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。FIG. 13 is an image processing display example showing the inter-land defective product (LB) shown in FIG. 12 using a light cutting method. FIG. 半田ランド間良品判定ロジックを説明するパラメータと条件と論理式を示す一覧表である。It is a table | surface which shows the parameter, conditions, and logical formula explaining the non-defective product determination logic between solder lands.

以下、本発明の一実施形態に係る半田付け部位の外観検査装置及び外観検査方法について図面に基づいて説明する。   Hereinafter, an appearance inspection apparatus and an appearance inspection method for a soldered part according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の一実施形態に係る半田付け部位の外観検査装置及び外観検査方法を適用する略L字状半田部の良品及び不良品を様々な形態で示す概略斜視図である。また、図2は、本発明の一実施形態に係る半田付け部位の外観検査装置の概略構成を示すブロック図である。また、図3は、図1において、ライン光源及びカメラを設置した状態を示す斜視図である。また、図4は、図3において互いに突き当てられたプリント基板をライン光源やカメラ等と共に示す正面図である。また、図5は、図3において互いに突き当てられたプリント基板をライン光源やカメラ等と共に示す側面図である。   FIG. 1 is a schematic perspective view showing various types of non-defective products and defective products of a substantially L-shaped solder portion to which an appearance inspection apparatus and an appearance inspection method for a soldering part according to an embodiment of the present invention are applied. FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of an appearance inspection apparatus for a soldered part according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a perspective view showing a state in which the line light source and the camera are installed in FIG. FIG. 4 is a front view showing the printed circuit boards abutted against each other in FIG. 3 together with a line light source and a camera. FIG. 5 is a side view showing the printed circuit boards abutted against each other in FIG. 3 together with a line light source and a camera.

図1においては、プリント基板同士の縁部を側面視略L字状をなすように突き当てた状態で各縁部のランドを電気的に接続する半田付け部位、即ち略L字形状の半田であって良品と不良品の混ざった検査部位がプリント基板51,52の突き当て部に沿って所定間隔隔てて形成されている。この場合、プリント基板51,52の突き当て部に沿って最も左側に良品の半田部(G)、その右側に3種類の異なる態様を有した不良品の半田部(F)を例示的に並べて示している。   In FIG. 1, soldering portions that electrically connect the lands on each edge in a state where the edges of the printed circuit boards abut each other so as to form a substantially L shape in a side view, that is, a substantially L-shaped solder. Thus, inspection parts where good and defective products are mixed are formed at predetermined intervals along the abutting portions of the printed circuit boards 51 and 52. In this case, a non-defective solder part (G) is arranged on the leftmost side along the abutting part of the printed circuit boards 51 and 52, and a defective solder part (F) having three different modes is arranged on the right side. Show.

互いに突き当てられるプリント基板51,52は、例えば製品が光電スイッチの場合、一方のプリント基板が電子部品実装用基板をなし、他方のプリント基板がLED表示素子実装用基板をなしている。そして、各プリント基板に実装された電子部品や電気部品のそれぞれの電気的接続を図るために、各プリント基板の縁部の突き当て部に一部が互いに接するランド部が形成され、このランド部に半田が固着されて両プリント基板の電気的導通を図っている。   For example, when the product is a photoelectric switch, one printed circuit board is an electronic component mounting board and the other printed circuit board is an LED display element mounting board. Then, in order to electrically connect each of the electronic components and electrical components mounted on each printed circuit board, land portions that are partially in contact with each other at the abutting portions of the edge portions of the respective printed circuit boards are formed. Solder is fixed to the printed circuit board to achieve electrical continuity between the two printed circuit boards.

図1における不良品の半田部(F)は、不良品の第1の態様である半田過多の半田部(F−1)と、不良品の第2の態様である未半田の半田部(F−2)と、不良品の第3の態様である基板の一側にのみ半田がある場合の未接合の半田部(F−3)とからなる。なお、未半田の半田部(F−2)は、プリント基板51側のみに予備半田がある状態となり、未接合の半田部(F−3)は、プリント基板51とプリント基板52とが半田で接合されていない状態となっている。   The solder part (F) of the defective product in FIG. 1 includes the solder-excessive solder part (F-1) which is the first aspect of the defective product and the unsoldered solder part (F) which is the second aspect of the defective product. -2) and an unjoined solder portion (F-3) in the case where solder is present only on one side of the substrate which is the third mode of the defective product. The unsoldered solder part (F-2) has a spare solder only on the printed circuit board 51 side, and the unbonded solder part (F-3) is soldered between the printed circuit board 51 and the printed circuit board 52. It is not joined.

半田付け部位の外観検査装置1は、図2乃至図4に示すように、前述した検査対象となる略L字形状の半田付け部の外観検査を行う装置であって、ライン光源11と、検査対象部位を撮影するカメラ12と、カメラ12からの画像を入力すると共に画像処理する画像処理装置21と、検査パラメータにより検査部位の半田良否を判定すると共に判定結果を表示する検査装置22を備えている。   As shown in FIGS. 2 to 4, the soldering site appearance inspection apparatus 1 is an apparatus for inspecting the appearance of the above-described substantially L-shaped soldering portion to be inspected. A camera 12 for photographing a target part, an image processing device 21 for inputting an image from the camera 12 and image processing, and an inspection device 22 for determining whether the inspection part is soldered according to inspection parameters and displaying a determination result. Yes.

なお、図2において画像処理装置21と検査装置22は一体として示されているが、これらは別体であっても良い。   In FIG. 2, the image processing device 21 and the inspection device 22 are shown as one body, but they may be separate.

ライン光源11は、検査対象をなす略L字形状の半田付け部位の略中心位置に垂直に配置し、カメラ12の撮影は斜めから行うようになっている。これらライン光源11とカメラ12と略L字形状の半田付け部位相互の配置関係については、図3乃至図5に基づいて明確化されている。より詳細には、ライン光源11は、図3及び図4に示すように、検査対象となる略L字形状の半田付け部位をなす一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置されている。そして、ライン光源11は、各プリント基板51,52と半田付け部位や半田付け部位間に線状のスリット光を照射するようになっている。なお、このスリット光は、各プリント基板51,52に対して垂直に照射され、ライン光は、略L字形状とほぼ直角をなすように照射される。   The line light source 11 is arranged perpendicularly to a substantially center position of a substantially L-shaped soldering portion that is an inspection object, and the camera 12 is photographed obliquely. The arrangement relationship among the line light source 11, the camera 12, and the substantially L-shaped soldering portion is clarified based on FIGS. 3 to 5. More specifically, as shown in FIGS. 3 and 4, the line light source 11 is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side forming the substantially L-shaped soldering site to be inspected. Arranged on a bisector. The line light source 11 irradiates linear slit light between the printed boards 51 and 52 and the soldering site or between the soldering sites. The slit light is irradiated perpendicularly to each of the printed circuit boards 51 and 52, and the line light is irradiated so as to be substantially perpendicular to the substantially L shape.

また、カメラ12は、例えばCCDカメラからなり、図5に示すように、ライン光源とプリント基板51,52の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、半田付け部位を斜めから撮影するようになっている。より詳細には、カメラ12は、ライン光源11が半田付け部位を照光する角度と異なる角度から半田付け部位を撮像するようになっている。   Further, the camera 12 is composed of a CCD camera, for example, and has an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portions of the printed circuit boards 51 and 52 as shown in FIG. It is arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side of the L-shaped soldering site, and the soldering site is photographed obliquely. More specifically, the camera 12 images the soldering site from an angle different from the angle at which the line light source 11 illuminates the soldering site.

なお、本実施形態においては、プリント基板51,52同士の突き当て部50からライン光源11までの延長線とプリント基板51,52同士の突き当て部50からカメラ12までの延長線のなす角度は、ライン光源11側から見て約30度となっている(図5参照)。また、ライン光源11及びカメラ12はプリント基板51,52同士の突き当て部に沿って平行に移動可能になっており、移動しながらライン光源11によって線状のスリット光が照射された各半田付け部位及び隣接する半田付け部位間をそれぞれ撮像するようになっている。なお、上述の角度は、本発明にとって好適な一例を挙げたものであり、当該角度はこの具体的な値に限定されるものではない。   In the present embodiment, the angle formed by the extension line from the abutting part 50 between the printed circuit boards 51 and 52 to the line light source 11 and the extension line from the abutting part 50 between the printed circuit boards 51 and 52 to the camera 12 is as follows. The angle is about 30 degrees when viewed from the line light source 11 side (see FIG. 5). Further, the line light source 11 and the camera 12 are movable in parallel along the abutting portion between the printed circuit boards 51 and 52, and each soldering irradiated with linear slit light by the line light source 11 while moving is performed. Each part and the adjacent soldering part are imaged. The above-described angle is an example suitable for the present invention, and the angle is not limited to this specific value.

画像入力手段211は、スリット光を照射した状態で検査対象をカメラ12で撮影し、撮影した画像を入力するようになっている。   The image input unit 211 captures the inspection object with the camera 12 in the state of irradiating the slit light, and inputs the captured image.

そして、ライン光源11及びカメラ12を例えばロボットのアーム先端に取り付けてプリント基板51,52の一方の端部から他方の端部に向かって平行移動させ、検査対象となる半田付け部位(図1参照)及び隣り合う半田付け部位間(図12参照)を逐次撮影し、画像入力手段211を通して画像処理装置21で検査画像を取得し、検査装置22で外観検査結果の合否を判定するようになっている。   Then, for example, the line light source 11 and the camera 12 are attached to the tip of the arm of the robot and moved parallel from one end of the printed circuit boards 51 and 52 toward the other end, and the soldered part to be inspected (see FIG. ) And between adjacent soldering parts (see FIG. 12) are sequentially photographed, an inspection image is acquired by the image processing device 21 through the image input means 211, and the pass / fail of the appearance inspection result is determined by the inspection device 22. Yes.

画像処理装置21と検査装置22は、図2に示すように上述した画像入力手段211に加えて、半田ランド部画像処理手段212と、半田ランド間画像処理手段213と、良否判定パラメータ抽出手段214と、良否判定手段221と、判定結果出力手段222を有し、撮影された画像に基づき、半田ランド部切断画像と半田ランド間切断画像を抽出する(図7〜図10、図14及び図15参照)。そして、取得した画像を元に、外観検査合否判定を行うために検査パラメータを抽出し、この検査パラメータに基づいて外観検査の合否の判定を行うようになっている。   As shown in FIG. 2, the image processing apparatus 21 and the inspection apparatus 22 include, in addition to the image input means 211 described above, a solder land portion image processing means 212, an inter-land land image processing means 213, and a pass / fail judgment parameter extraction means 214. And a pass / fail judgment means 221 and a judgment result output means 222, which extract a solder land section cut image and a solder land cut image based on the photographed images (FIGS. 7 to 10, FIG. 14 and FIG. 15). reference). Then, based on the acquired image, inspection parameters are extracted in order to perform a visual inspection pass / fail judgment, and a visual inspection pass / fail is determined based on the inspection parameters.

ここで、半田ランド部画像処理手段212は、画像入力手段によって入力された半田ランド部の画像を公知の光切断法によって画像処理する手段である。また、半田ランド間画像処理手段213は、画像入力手段によって入力された半田ランド間の画像を光切断法によって画像処理する手段である。また、良否判定パラメータ抽出手段214は、半田付け部位の良否(半田ランド部の良否)の判定を行うパラメータを処理画像から抽出すると共に、半田付け部位間の良否(ブリッジ有無)の判定を行うパラメータを処理画像から抽出する手段である。また、良否判定手段221は、良否判定パラメータ抽出手段によって抽出されたパラメータに基づいて半田付け部位の良否(半田ランド部の良否)や半田付け部位間の良否(ブリッジ有無)の判定を行う手段である。また、判定結果出力手段222は、良否判定手段221において判断された半田付け部位の良否(半田ランド部の良否)及び半田付け部位間の良否(ブリッジ有無)を出力する手段であるからである。   Here, the solder land portion image processing means 212 is a means for subjecting the solder land portion image input by the image input means to image processing by a known light cutting method. The solder land image processing unit 213 is a unit that performs image processing on the image between the solder lands input by the image input unit by a light cutting method. Further, the quality determination parameter extraction unit 214 extracts parameters for determining the quality of the soldered part (quality of the solder land portion) from the processing image, and the parameter for determining the quality between the soldered parts (bridge presence / absence). Is extracted from the processed image. The pass / fail judgment means 221 is a means for judging pass / fail of a soldered part (solder land part pass / fail) and pass / fail between soldered parts (bridge presence / absence) based on the parameters extracted by the pass / fail judgment parameter extracting means. is there. This is because the determination result output means 222 is a means for outputting the quality of the soldered part (the quality of the solder land portion) determined by the quality determination means 221 and the quality between the soldered parts (the presence or absence of a bridge).

以下、本発明の一実施形態に係る半田付け部位の外観検査装置を用いた外観検査方法の基本的な流れを、図6のフローチャートに基づいて説明する。   Hereinafter, a basic flow of an appearance inspection method using an appearance inspection apparatus for a soldered part according to an embodiment of the present invention will be described based on a flowchart of FIG.

最初に、略L字状の半田画像入力ありか否かを判断する(ステップS11)。ここで、略L字状の半田画像入力がない場合は、この半田画像が入力されるまでこのルーチンを繰り返す。ステップS11で略L字状の半田画像入力ありと判断した場合、半田ランド部か、半田ランド間かの何れかにより以降の処理を分岐する(ステップS12)。その際の判断方法の一例として、事前に登録されているロボットのティーチング位置から判断することが可能である。その後、半田ランド部であった場合は、半田ランド部の切断画像処理を行う(ステップS13)。この半田ランド部の切断画像処理は、従来技術で紹介した公知の技術を用いる。   First, it is determined whether or not there is a substantially L-shaped solder image input (step S11). If there is no substantially L-shaped solder image input, this routine is repeated until this solder image is input. If it is determined in step S11 that a substantially L-shaped solder image is input, the subsequent processing is branched depending on either the solder land portion or between the solder lands (step S12). As an example of the determination method at that time, it is possible to determine from the teaching position of the robot registered in advance. After that, if it is a solder land portion, the cut image processing of the solder land portion is performed (step S13). The solder land cut image processing uses a known technique introduced in the prior art.

図7乃至図10は、この切断画像処理で得られた画像処理内容を示している。ここで、実際の画像処理画面では、基準線51a,52a、基準線交点50a、半田領域g,fのみ明るく、その他は暗く表示されるが、説明の都合上、図7乃至図10では白黒逆転して示している。なお、他の画像処理内容を示す図14及び図15も同様とする。   7 to 10 show the contents of image processing obtained by this cut image processing. Here, on the actual image processing screen, only the reference lines 51a and 52a, the reference line intersection 50a, and the solder areas g and f are displayed brightly and the others are darkened. As shown. The same applies to FIGS. 14 and 15 showing other image processing contents.

図7における基準線1は、プリント基板51に照射された光の反射光をカメラ12で撮像して光切断法により基準線51aとして画像処理画面上に表示させたもので、基準線52aは、プリント基板52に照射された光の反射光をカメラで撮像して光切断法により基準線52aとして画像処理画面上に表示させたものである。また、基準線交点50aは、プリント基板51とプリント基板52の突き当て部の位置に対応している。なお、基準線51aと基準線52aが直角をなしていない理由は、ライン光源11から半田付け部位を照射する方向に対してカメラ12が半田付け部位を撮像する方向が斜めとなっているからである。   The reference line 1 in FIG. 7 is obtained by capturing the reflected light of the light irradiated on the printed circuit board 51 with the camera 12 and displaying it on the image processing screen as the reference line 51a by the light cutting method. The reflected light of the light irradiated onto the printed circuit board 52 is imaged by a camera and displayed on the image processing screen as a reference line 52a by a light cutting method. The reference line intersection 50 a corresponds to the position of the abutting portion between the printed circuit board 51 and the printed circuit board 52. The reason why the reference line 51a and the reference line 52a do not form a right angle is because the direction in which the camera 12 images the soldering part is oblique with respect to the direction in which the line light source 11 irradiates the soldering part. is there.

ここで、図7は、図1における良品の半田部(G)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。また、図8は、図1における不良品の第1の態様である半田過多の半田部(F−1)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。また、図9は、図1における不良品の第2の態様である未半田の半田部(F−2)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。また、図10は、図1における不良品の第3の態様であるプリント基板の一側にのみ半田がある場合の未接合の半田部(F−3)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。   Here, FIG. 7 is an image processing display example in which the good solder portion (G) in FIG. 1 is shown using a light cutting method. Further, FIG. 8 is an example of image processing display showing the excessive solder portion (F-1) which is the first mode of the defective product in FIG. 1 by using the optical cutting method. FIG. 9 is an example of image processing display showing the unsoldered solder portion (F-2) which is the second mode of the defective product in FIG. 1 by using the optical cutting method. Further, FIG. 10 shows image processing using an optical cutting method to show an unjoined solder portion (F-3) when there is solder only on one side of the printed circuit board which is the third mode of the defective product in FIG. It is a display example.

次いで、検査パラメータ(H,L1/L2、α)を抽出する(ステップS14)。なお、この検査パラメータの具体的内容については後に詳細に説明する。   Next, inspection parameters (H, L1 / L2, α) are extracted (step S14). The specific contents of the inspection parameter will be described later in detail.

次いで、抽出した検査パラメータにより良否判断(半田付け部位の良否判断)を行う(ステップS15)。なお、この検査パラメータによる良否判断の具体的内容については後述する。   Next, a quality determination (a quality determination of the soldering part) is performed based on the extracted inspection parameters (step S15). The specific contents of the pass / fail judgment based on the inspection parameters will be described later.

一方、図6のルーチンにおいてステップS12において、半田ランド部で無かった場合は、半田ランド間の切断画像処理を行う(ステップS16)。この半田ランド間の切断画像処理は、従来技術で紹介した公知の技術を用いる。ここで、図14は、図12に示したランド間良品(L−G)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。また、図15は、図12に示したランド間不良品(L−B)を光切断法を用いて示す画像処理表示例である。   On the other hand, in the routine of FIG. 6, if there is no solder land portion in step S12, a cut image process between the solder lands is performed (step S16). The image processing between the solder lands uses a known technique introduced in the prior art. Here, FIG. 14 is an image processing display example showing the inter-land non-defective product (LG) shown in FIG. 12 by using the light cutting method. FIG. 15 is an example of image processing display showing the inter-land defective product (LB) shown in FIG. 12 by using a light cutting method.

次いで、検査パラメータ(LL1、LL2)を抽出する(ステップS17)。なお、この検査パラメータの具体的内容については後に詳細に説明する。   Next, the inspection parameters (LL1, LL2) are extracted (step S17). The specific contents of the inspection parameter will be described later in detail.

次いで、抽出した検査パラメータにより良否判断(半田付け部位間のブリッジ有無の判断)を行う(ステップS18)。なお、この検査パラメータによる良否判断の具体的内容については後述する。   Next, a pass / fail judgment (determination of the presence or absence of a bridge between soldering parts) is performed based on the extracted inspection parameters (step S18). The specific contents of the pass / fail judgment based on the inspection parameters will be described later.

最後に、ステップS15及びステップS18で得られた良否判定の結果を出力する(ステップ16)。   Finally, the pass / fail judgment results obtained in steps S15 and S18 are output (step 16).

続いて、本発明特有の構成要素をなすステップS14及びステップS17の検査パラメータ抽出方法について説明する。まず、ステップS14である半田付け部位の外観検査に関するパラメータ抽出方法について説明する。ここで、2本の基準線51a,52aと基準線交点50aとは、位置パラメータを求める基礎となる。また、画像処理後に表示される半田領域g,fは、形状特徴パラメータを求める基礎となる。   Next, the inspection parameter extraction method in step S14 and step S17 that constitutes a component unique to the present invention will be described. First, the parameter extraction method relating to the appearance inspection of the soldered part, which is Step S14, will be described. Here, the two reference lines 51a and 52a and the reference line intersection 50a are the basis for obtaining the position parameter. Also, the solder regions g and f displayed after image processing are the basis for obtaining the shape feature parameters.

最初に、図7及び図8に示すように、半田の有無を確認するためのパラメータを求める。このパラメータは、光切断法により実際の半田領域の3次元高さデータに相当する値を位置パラメータとして算出する。この算出にあたっては光切断法によって求める基準点同士交点から半田領域までの距離を求め、図8に示すように高さHとする。   First, as shown in FIGS. 7 and 8, parameters for confirming the presence or absence of solder are obtained. For this parameter, a value corresponding to the three-dimensional height data of the actual solder region is calculated as a position parameter by the optical cutting method. In this calculation, the distance from the intersection of the reference points obtained by the light cutting method to the solder area is obtained, and the height H is set as shown in FIG.

この高さHを求めるにあたって、図8を例にとると、半田領域fの重心Gv1を求め、この重心Gv1と基準線交点50aとの水平方向の距離を実際の半田付け部の高さに対応する高さHとして算出する。   In obtaining the height H, taking FIG. 8 as an example, the center of gravity Gv1 of the solder region f is obtained, and the horizontal distance between the center of gravity Gv1 and the reference line intersection 50a corresponds to the actual height of the soldering portion. The height H is calculated.

次いで、未半田によるパターン剥離、即ち例えば一方のプリント基板にのみ予備半田がある場合を確認するための形状特徴パラメータを求める。このパラメータを求めるにあたって、図9の画像処理画面における半田領域f−2の両端から各基準線51a,52aへの画面上の垂直線を延ばし、その後、交点をそれぞれ求める。この際、半田領域の長手方向の各端部を求め、画面上を上側の端部から上方に垂線を延ばして上側の基準線51aとの交点とすると共に、画面上下側の端部から下方に垂線を延ばして下側の基準線52aとの交点とする。そして、これら交点と基準線交点50aとの距離をそれぞれL1,L2とし、これらの距離の比L1/L2を算出する。図9から明らかなように、一方のプリント基板のランドにのみ半田がある状態では、L1/L2の比が1とかなり異なってくる。   Next, a shape characteristic parameter for confirming pattern peeling due to unsoldering, that is, for example, a case where spare solder is present only on one printed circuit board is obtained. In obtaining this parameter, a vertical line on the screen is extended from both ends of the solder region f-2 on the image processing screen in FIG. 9 to the reference lines 51a and 52a, and then the intersection is obtained. At this time, each end in the longitudinal direction of the solder region is obtained, and a vertical line is extended upward from the upper end to make it an intersection with the upper reference line 51a, and downward from the upper and lower ends of the screen. The perpendicular is extended to be an intersection with the lower reference line 52a. Then, the distances between these intersections and the reference line intersection 50a are set as L1 and L2, respectively, and the ratio L1 / L2 of these distances is calculated. As is clear from FIG. 9, the L1 / L2 ratio is considerably different from 1 in a state where solder is present only on one printed circuit board land.

次いで、半田未接合によるパターン剥離を確認するための形状特徴パラメータを求める。このパラメータは、図10の画像処理画面において半田領域f−3の重心Gv2を求め、この重心Gv2と基準交点を結ぶ直線と、各基準線とのなす角α1,α2を求め、このなす角の比を算出し、αとする。具体的には、図10に示すように、この直線と一方の基板51から得られた基準線51aとのなす角度をα1とし、この直線と他方の基板52から得られた基準線52aとのなす角度をα2とすると、α=α1/α2とする。図10から明らかなように、半田未接合の状態では、α1とα2の大小関係が異なり、α(=α1/α2)が1とかなり異なってくる。   Next, a shape feature parameter for confirming pattern peeling due to unbonded solder is obtained. This parameter is obtained by obtaining the center of gravity Gv2 of the solder region f-3 on the image processing screen of FIG. 10, obtaining the angles α1 and α2 between the straight line connecting the center of gravity Gv2 and the reference intersection, and the respective reference lines. The ratio is calculated and set as α. Specifically, as shown in FIG. 10, an angle formed between this straight line and the reference line 51a obtained from one substrate 51 is α1, and the straight line and the reference line 52a obtained from the other substrate 52 are If the angle formed is α2, α = α1 / α2. As is apparent from FIG. 10, in the solder unbonded state, the magnitude relationship between α1 and α2 is different, and α (= α1 / α2) is considerably different from 1.

次いで、図6のルーチンのステップS15、即ち上述した各パラメータの値を予め設定した合格基準パラメータの値(閾値)とを比較して半田付け合否判定を行う。ここで、図11は、半田ランド部良品判定ロジックを説明するパラメータと条件と論理式を示す一覧表である。   Next, in step S15 of the routine of FIG. 6, that is, the value of each parameter described above is compared with the value (threshold value) of the acceptance criterion parameter set in advance to determine whether or not to solder. Here, FIG. 11 is a list showing parameters, conditions, and logical expressions for explaining the solder land portion non-defective product determination logic.

ここで、半田ランド部良品判定ロジックについて説明する。この際、以下の3要素の条件の論理積をとる(図11参照)。高さHが所定の範囲内であり、かつ、基準交点との長さの比L1/L2が所定の範囲内であり、かつ、基準線とのなす角比αが所定範囲であったときは、半田ランド部は良品と判断し(図3における良品(G)参照)、これら3つの条件の何れか1つが満たさない場合は半田不良品と判断する(図3における不良品(F−1)〜(F−3)参照)。   Here, the solder land portion non-defective product determination logic will be described. At this time, the logical product of the following three element conditions is calculated (see FIG. 11). When the height H is within a predetermined range, the ratio L1 / L2 of the length to the reference intersection is within the predetermined range, and the angle ratio α to the reference line is within the predetermined range The solder land portion is determined to be a non-defective product (refer to the non-defective product (G) in FIG. 3), and if any one of these three conditions is not satisfied, it is determined to be a defective solder product (defective product (F-1) in FIG. 3). To (F-3)).

続いて、上述した図6のルーチンのステップS17、即ち半田付け部位間のブリッジの有無を判断するパラメータの抽出方法について詳細に説明する。   Next, step S17 of the routine shown in FIG. 6, that is, a parameter extraction method for determining whether or not there is a bridge between the soldering portions will be described in detail.

ここで、図12は、本発明の一実施形態に係る半田付け部位の外観検査装置及び外観検査方法を適用する略L字状半田部の形成されたランド間の良品(ブリッジなし)及び不良品(ブリッジあり)を示す概略斜視図である。また、図13は、図12においてライン光源及びカメラを設置した状態を示す斜視図である。この際、半田付け部位間(ランド間)にブリッジが生じていないと、図14の画像処理画面に示すように、基準線51aと基準線52aとがそれぞれ途切れることなく表示される。一方、半田付け部位間(ランド間)にブリッジが生じると、図15の画像処理画面に示すように、基準線51a,52aの一部が不連続となる。そして、この画像処理された画面において、基準線交点50aと各基準線上での連続した基準線51a,52aが不連続となった点で基準線交点50aと最も近い点との距離を求め、それぞれLL1、LL2とする。   Here, FIG. 12 shows a non-defective product (no bridge) between the lands formed with substantially L-shaped solder portions to which the visual inspection apparatus and visual inspection method for a soldering part according to an embodiment of the present invention are applied. It is a schematic perspective view which shows (with a bridge). FIG. 13 is a perspective view showing a state in which the line light source and the camera are installed in FIG. At this time, if no bridge is generated between the soldering parts (between lands), the reference line 51a and the reference line 52a are displayed without interruption as shown in the image processing screen of FIG. On the other hand, when a bridge is generated between the soldering parts (between lands), as shown in the image processing screen of FIG. 15, a part of the reference lines 51a and 52a becomes discontinuous. Then, on the image-processed screen, the distance between the reference line intersection 50a and the point closest to the reference line intersection 50a at the point where the continuous reference lines 51a and 52a on each reference line become discontinuous, Let LL1 and LL2.

次いで、図6のルーチンのステップS18、即ち上述した各パラメータの値を予め設定した合格基準パラメータの値(閾値)とを比較して半田ランド間合否判定を行う。   Next, step S18 of the routine of FIG. 6, that is, the pass / fail judgment of the solder lands is performed by comparing the value of each parameter described above with the value (threshold value) of the acceptance criterion parameter set in advance.

図16は、半田ランド間良品判定ロジックを説明するパラメータと条件と論理式を示す一覧表である。ここで、ランド間良品判定ロジックについて説明する。この際、以下の2要素の条件の論理積をとる(図16参照)。   FIG. 16 is a list showing parameters, conditions, and logical expressions for explaining the solder land inter-defect determination logic. Here, the inter-land non-defective product determination logic will be described. At this time, the logical product of the following two element conditions is calculated (see FIG. 16).

一方のパラメータとしての距離LL1が最大距離以下で、かつ他方のパラメータとしての距離LL2が最大距離以下であったときは良品と判断し(図12における(L−G))参照、これら2つの条件の何れか1つが満たさない場合は半田不良品と判断する(図12における不良品(L−B)参照)。   When the distance LL1 as one parameter is equal to or less than the maximum distance and the distance LL2 as the other parameter is equal to or less than the maximum distance, it is determined as a non-defective product ((LG) in FIG. 12). If any one of them is not satisfied, it is determined that the solder is defective (refer to a defective product (LB) in FIG. 12).

そして、図6のルーチンのステップS15である半田ランド部良品判定ロジックに基づいて得られた各略L字型半田部の良品判定結果と、ステップS18であるランド間良品判定ロジックに基づいて得られた隣接するランド間のブリッジ有無(良品判定結果)を判定結果出力手段を介して表示する。   Then, it is obtained based on the non-defective product determination result of each substantially L-shaped solder portion obtained based on the solder land portion good product determination logic which is step S15 of the routine of FIG. 6 and the inter-land good product determination logic which is step S18. The presence / absence of a bridge between adjacent lands (non-defective product determination result) is displayed through the determination result output means.

そして、各半田付け部位と各半田付け部位間の全てが良品であると判断された検査対象については、全ての半田付け部位が良品で半田付け部位間にブリッジが生じていないとして検査合格品とする。一方、何れかの半田付け部位又は半田付け部位間に少なくとも1つの不良品があると検査不合格品とする。   For inspection objects that are judged to be non-defective items between each soldering part and each soldering part, all the soldering parts are non-defective and no bridges are formed between the soldering parts. To do. On the other hand, if there is at least one defective product between any of the soldering parts or between the soldering parts, the inspection is rejected.

以上説明したように、本発明によると、略L字状の半田付け部の検査につき、得られた画像を元に検査パラメータを抽出することにより、ノイズ除去又は光切断線の接続処理など前処理を行うことなく、入力された画像を元に光切断法による3次元情報、検査対象の略L字形状による特徴量、部分切断された光切断線を用いることで検査パラメータを設定し、これに基づき良否判定を行うようにしたので、これにより略L字状の半田付け部の検査を簡便に精度良く行うことが可能となった。   As described above, according to the present invention, for the inspection of the substantially L-shaped soldered portion, the pre-processing such as noise removal or optical cutting line connection processing is performed by extracting the inspection parameters based on the obtained image. The inspection parameters are set by using the three-dimensional information by the light cutting method based on the input image, the feature amount by the substantially L-shaped shape to be inspected, and the light cutting line that has been partially cut. Since the pass / fail judgment is made based on this, it becomes possible to easily and accurately inspect the substantially L-shaped soldered portion.

そのため、2枚のプリント基板のランド部を略L字状に突き当てて半田付けを行う略L字状の半田付け部の外観検査にライン光源を用いた半田のフィレット形状検査の従来技術として特許出願公告昭63−9602に記載されたような技術を適用した場合の問題点を全て解決できた。   Therefore, as a prior art of solder fillet shape inspection using a line light source for the appearance inspection of a substantially L-shaped soldering portion that performs soldering by abutting the land portions of two printed circuit boards in a substantially L-shape All the problems in the case of applying the technology as described in Japanese Patent Application No. 63-9602 have been solved.

具体的には、検査部位が略L字形状になっているため平面状のプリント基板に比べ、照射したライン光源の反射光が基板などを照らしノイズ成分となって求めたい半田フィレットの光切断線を示す高輝度検出部分と、半田フィレット部や基板上のランドなどで反射したノイズの高輝度検出部分が混在してしまい求めたい光切断線を判断できなくなるということがなくなった。そのため、光切断線により形成された面積だけでは判定パラメータとして十分ではなく良否判定ができないという問題を解決できた。   Specifically, since the inspection site is substantially L-shaped, the light cut line of the solder fillet that the reflected light of the irradiated line light source illuminates the substrate etc. and becomes a noise component compared to a flat printed board And a high-intensity detection part of noise reflected from a solder fillet part or a land on the substrate are not mixed, and it is no longer possible to determine the desired light section line. Therefore, the problem that the pass / fail judgment cannot be made because the area formed by the light cutting line is not sufficient as the judgment parameter.

また、近年の鉛フリー半田化において顕著となった半田付け部分の表面状態の鏡面部、非鏡面部が混在することに起因して照射したライン光源が全反射する部分があり連続した光切断線を得ることができないことによる接続処理、即ち略L字形状という特徴から得られる2枚の基板上の光切断線と、半田フィレット部の部分切断された光切断線において光切断線の接続処理を行う必要がなくなり、部分切断された光切断線から得られる判定用パラメータを利用することで、略L字形状の半田部の良否やこれらの半田部間のブリッジ有無を正確に判断できるようになった。   In addition, there is a part where the irradiated line light source is totally reflected due to the presence of mirror surface parts and non-mirror surface parts in the surface state of the soldered part, which has become prominent in recent lead-free soldering. In other words, the connection process of the optical cutting line between the optical cutting line on the two substrates obtained from the feature of the substantially L-shape and the optical cutting line partially cut of the solder fillet portion is obtained. There is no need to perform this, and by using the determination parameter obtained from the partially cut optical cutting line, it is possible to accurately determine the quality of the substantially L-shaped solder part and the presence or absence of a bridge between these solder parts. It was.

なお、上述の実施形態では、2枚のプリント基板を側面視L字状に突き当てて、この突き当て部の略L字形状の半田部位の外観検査を行った。しかしながら、本発明はこのような範囲に限定されず、例えば一方のプリント基板の基板面の中ほどに他方のプリント基板の縁部を突き当てたいわゆる側面視T字状の突き当て形態であっても、プリント基板同士を電気的に接続する半田付け部位が略L字状になっていれば適用可能である。   In the above-described embodiment, two printed circuit boards are abutted in an L shape in a side view, and an appearance inspection of a substantially L-shaped solder portion of the abutting portion is performed. However, the present invention is not limited to such a range, for example, a so-called T-shaped abutting form in which the edge of the other printed circuit board is abutted in the middle of the substrate surface of one printed circuit board. Also, it is applicable if the soldering part for electrically connecting the printed boards is substantially L-shaped.

また、プリント基板同士の突き当て角度は厳密な意味で直角でなく、互いにある程度の角度をなして突き当てて半田付け部位がほぼL字状となっていれば本発明が適用可能であることは言うまでもない。   In addition, the abutting angle between the printed circuit boards is not a right angle in a strict sense, but the present invention can be applied if the soldering portions are substantially L-shaped by abutting at a certain angle to each other. Needless to say.

また、隣接する半田付け部位間にこれらを短絡させる導電性の異物があっても、上述したブリッジと同様にその存在を検出可能なことは言うまでもない。   Needless to say, even if there is a conductive foreign substance that short-circuits between adjacent soldering sites, the presence can be detected in the same manner as the bridge described above.

1 半田付け部位の外観検査装置
11 ライン光源
12 カメラ
21 画像処理装置
22 検査装置
50 突き当て部
50a 基準線交点
51 プリント基板
51a 基準線
52 プリント基板
52a 基準線
211 画像入力手段
212 半田ランド部画像処理手段
213 半田ランド間画像処理手段
214 良否判定パラメータ抽出手段
221 良否判定手段
222 判定結果出力手段

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Appearance inspection apparatus of soldering part 11 Line light source 12 Camera 21 Image processing apparatus 22 Inspection apparatus 50 Abutting part 50a Reference line intersection 51 Printed circuit board 51a Reference line 52 Printed circuit board 52a Reference line 211 Image input means 212 Solder land part image processing Means 213 Image processing means between solder lands 214 Quality determination parameter extraction means 221 Quality determination means 222 Determination result output means

Claims (8)

プリント基板同士を突き当てた突き当て部に形成され前記各プリント基板のランドを電気的に接続する略L字形状の半田付け部位の外観検査を行う半田付け部位の外観検査装置であって、
検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され前記プリント基板同士の突き当て部に向かって線状の光を照射するライン光源と、
前記ライン光源と前記プリント基板同士の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、前記ライン光源が前記半田付け部位を照光する角度と異なる角度から当該半田付け部位を撮影するカメラと、
前記ライン光源の照光時に前記カメラで検査対象となるランド部を撮影し、撮影した画像を入力する画像入力手段と、
前記入力した画像を、光切断法により検査対象の切断画像として処理する画像処理手段と、
前記画像処理を行った切断画像に基づき、半田付け部位良否検査を行う形状特徴パラメータ及び位置パラメータからなる検査パラメータを抽出する検査パラメータ抽出手段と、
前記抽出した検査パラメータに基づき、半田付け部位良否を判定する半田付け部位良否判定手段と、
前記判定した結果を出力する出力手段と、を備えたことを特徴とする半田付け部位の外観検査装置。
An appearance inspection apparatus for a soldering part that performs an appearance inspection of a substantially L-shaped soldering part that is formed in abutting portions where the printed boards are abutted to each other and electrically connects the lands of each printed circuit board,
It is arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering site to be inspected, and is linear toward the abutting part between the printed circuit boards. A line light source that emits light;
Each side having an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portion between the printed circuit boards, and starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected And a camera for photographing the soldering part from an angle different from the angle at which the line light source illuminates the soldering part,
An image input means for capturing a land portion to be inspected by the camera when the line light source is illuminated, and inputting the captured image;
Image processing means for processing the input image as a cut image to be inspected by a light cutting method;
Based on the cut image that has been subjected to the image processing, inspection parameter extraction means for extracting an inspection parameter composed of a shape feature parameter and a position parameter for performing a soldering site quality inspection;
Based on the extracted inspection parameters, a soldering part pass / fail judgment means for judging soldering part pass / fail,
An appearance inspection apparatus for a soldering part, comprising: an output unit that outputs the determined result.
前記検査パラメータ抽出手段は、前記ライン光源が前記各プリント基板を照光して光切断法によって得られた2本の光切断線から、画像処理後の2本の基準線とこれら2本の基準線が交わる基準線交点を求め、前記基準線交点と光切断法によって得られたランド部の切断画像に基づいて、半田良否判定の位置パラメータとしての半田領域の3次元上の実際の高さを算出すると共に、前記半田領域を示すランド部の切断画像、前記基準線交点、及び前記基準線とから半田良否判定の形状特徴パラメータを抽出することを特徴とする、請求項1に記載の半田付け部位の外観検査装置。   The inspection parameter extracting means includes two reference lines after image processing and these two reference lines from two light cutting lines obtained by a light cutting method by the line light source illuminating each printed circuit board. The intersection of the reference line intersects and calculates the actual three-dimensional height of the solder area as a positional parameter for determining the solder quality based on the reference line intersection and the cut image of the land portion obtained by the light cutting method. And a shape feature parameter for determining whether the solder is good or bad is extracted from the cut image of the land portion indicating the solder area, the reference line intersection, and the reference line. Visual inspection equipment. プリント基板同士突き当てた突き当て部に形成され前記各プリント基板のランドを電気的に接続する略L字形状の半田付け部位間のブリッジ有無の外観検査を行う半田付け部位の外観検査装置であって、
検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され前記プリント基板同士の突き当て部に向かって線状の光を照射するライン光源と、
前記ライン光源と前記プリント基板同士の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、前記ライン光源が前記半田付け部位を照光する角度と異なる角度から当該半田付け部位を撮影するカメラと、
前記ライン光源の照光時に検査対象となる隣り合うランド間を前記カメラで撮影し、撮影した画像を入力する画像入力手段と、
前記入力した画像を、光切断法により検査対象の切断画像として処理する画像処理手段と、
前記画像処理を行った切断画像に基づき、半田付け部位間良否検査を行う検査パラメータを抽出する検査パラメータ抽出手段と、
前記抽出した検査パラメータに基づき、半田付け部位間良否を判定する半田付け部位間良否判定手段と、
前記判定した結果を出力する出力手段と、を備えたことを特徴とする半田付け部位の外観検査装置。
It is an appearance inspection device for a soldering part that performs an appearance inspection for the presence or absence of a bridge between substantially L-shaped soldering parts that are formed in abutting portions where the printed circuit boards are brought into contact with each other and electrically connect the lands of the printed circuit boards. And
It is arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering site to be inspected, and is linear toward the abutting part between the printed circuit boards. A line light source that emits light;
Each side having an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portion between the printed circuit boards, and starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected And a camera for photographing the soldering part from an angle different from the angle at which the line light source illuminates the soldering part,
An image input unit that captures an image between adjacent lands to be inspected at the time of illumination of the line light source with the camera, and inputs the captured image;
Image processing means for processing the input image as a cut image to be inspected by a light cutting method;
Based on the cut image that has been subjected to the image processing, inspection parameter extraction means for extracting inspection parameters for performing a pass / fail inspection between soldered sites;
Based on the extracted inspection parameters, the quality determination means between the soldering sites for determining the quality between the soldering sites,
An appearance inspection apparatus for a soldering part, comprising: an output unit that outputs the determined result.
前記検査パラメータ抽出手段は、前記ライン光源が前記各プリント基板を照光して光切断法によって得られた2本の光切断線から、画像処理後の2本の基準線とこれら2本の基準線が交わる基準線交点を求めると共に、前記基準線交点と2本の基準線のそれぞれから前記ランド間のブリッジ有無判定のパラメータを抽出することを特徴とする、請求項3に記載の半田付け部位の外観検査装置。   The inspection parameter extracting means includes two reference lines after image processing and these two reference lines from two light cutting lines obtained by a light cutting method by the line light source illuminating each printed circuit board. A cross-reference line intersection is obtained, and a parameter for determining whether or not there is a bridge between the lands is extracted from each of the reference line intersection and two reference lines. Appearance inspection device. プリント基板同士を突き当てた突き当て部に形成され前記各プリント基板のランドを電気的に接続する略L字状の半田付け部位の外観検査方法であって、
検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され前記プリント基板同士の突き当て部に向かって線状の光を照射するライン光源と、
前記ライン光源と前記プリント基板同士の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、前記ライン光源が前記半田付け部位を照光する角度と異なる角度から当該半田付け部位を撮影するカメラを用意し、
前記ライン光源の照光時に前記カメラで検査対象となるランド部を撮影し、撮影した画像を入力し、
前記入力した画像を、光切断法により検査対象の切断画像として画像処理し、
前記画像処理を行った切断画像に基づき、半田付け部位良否検査を行う形状特徴パラメータ及び位置パラメータからなる検査パラメータを抽出し、
前記抽出した検査パラメータに基づき、半田付け部位良否を判定し、
前記判定した結果を出力することを特徴とする半田付け部位の外観検査方法。
A method for inspecting the appearance of a substantially L-shaped soldering part that is formed in abutting portions where the printed circuit boards are abutted to each other and electrically connects the lands of each printed circuit board,
It is arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering site to be inspected, and is linear toward the abutting part between the printed circuit boards. A line light source that emits light;
Each side having an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portion between the printed circuit boards, and starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected And a camera for photographing the soldering part from an angle different from the angle at which the line light source illuminates the soldering part,
Shoot the land part to be inspected with the camera at the time of illumination of the line light source, input the captured image,
The input image is subjected to image processing as a cut image to be inspected by a light cutting method,
Based on the cut image that has been subjected to the image processing, to extract inspection parameters consisting of shape feature parameters and position parameters to perform soldering site quality inspection,
Based on the extracted inspection parameters, determine whether the soldering site is good,
A method for inspecting the appearance of a soldering site, wherein the result of the determination is output.
前記検査パラメータ抽出手段は、前記ライン光源が前記各プリント基板を照光して光切断法によって得られた2本の光切断線から基準線交点を求め、前記基準線交点と光切断法によって得られたランド部の切断画像に基づいて、半田良否判定の位置パラメータとしての半田領域の3次元上の実際の高さを算出すると共に、前記半田領域を示すランド部の切断画像の形状特徴、位置、前記基準線交点とから半田良否判定のパラメータを抽出することを特徴とする、請求項5に記載の半田付け部位の外観検査方法。   The inspection parameter extraction means obtains a reference line intersection from two light cutting lines obtained by a light cutting method when the line light source illuminates each printed circuit board, and is obtained by the reference line intersection and the light cutting method. Based on the cut image of the land portion, the three-dimensional actual height of the solder area as a positional parameter for determining solder quality is calculated, and the shape feature, position, 6. The method for inspecting the appearance of a soldering part according to claim 5, wherein a parameter for determining whether the solder is good or bad is extracted from the intersection of the reference lines. プリント基板同士を突き当てた突き当て部に形成され前記各プリント基板のランドを電気的に接続する略L字形状の半田付け部位間のブリッジ有無の外観検査を行う半田付け部位の外観検査方法であって、
検査対象となる略L字形状の半田付け部位をなす一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され前記プリント基板同士の突き当て部に向かって線状の光を照射するライン光源と、
前記ライン光源と前記プリント基板同士の突き当て部とを結んだ直線に対して角度を持ち、かつ、検査対象となる略L字形状の半田付け部位の一辺と他辺の交点を始点として各辺と等角度をなす2等分線上に配置され、前記ライン光源が前記半田付け部位を照光する角度と異なる角度から当該半田付け部位を撮影するカメラを用意し、
前記ライン光源の照光時に前記カメラで検査対象となる隣り合うランド間を撮影し、撮影した画像を入力し、
前記入力した画像を、光切断法により検査対象の切断画像として画像処理し、
前記画像処理を行った切断画像に基づき、半田ランド間良否の検査パラメータを抽出し、
前記抽出した検査パラメータに基づき、半田ランド間の良否を判定し、
前記判定した結果を出力することを特徴とする半田付け部位の外観検査方法。
A soldering part appearance inspection method for performing an appearance inspection for the presence or absence of a bridge between substantially L-shaped soldering parts that are formed in abutting portions where the printed circuit boards are brought into contact with each other and electrically connect the lands of each printed circuit board. There,
Arranged on a bisector that is equiangular with each side starting from the intersection of one side and the other side that form a substantially L-shaped soldering site to be inspected, and linear toward the abutting portion between the printed boards A line light source that emits
Each side having an angle with respect to a straight line connecting the line light source and the abutting portion between the printed circuit boards, and starting from the intersection of one side and the other side of the substantially L-shaped soldering portion to be inspected And a camera for photographing the soldering part from an angle different from the angle at which the line light source illuminates the soldering part,
Shoot between adjacent lands to be inspected with the camera when the line light source is illuminated, and input the captured image,
The input image is subjected to image processing as a cut image to be inspected by a light cutting method,
Based on the cut image that has been subjected to the image processing, to extract the inspection parameters of the quality between the solder lands,
Based on the extracted inspection parameters, determine the quality between solder lands,
A method for inspecting the appearance of a soldering site, wherein the result of the determination is output.
前記検査パラメータ抽出手段は、前記ライン光源が前記各プリント基板を照光して光切断法によって得られた2本の光切断線から、画像処理後の2本の基準線とこれら2本の基準線が交わる基準線交点を求め、前記基準線交点と2本の基準線のそれぞれからランド間のブリッジ有無判定のパラメータとしての距離を抽出することを特徴とする、請求項7に記載の半田付け部位の外観検査方法。

The inspection parameter extracting means includes two reference lines after image processing and these two reference lines from two light cutting lines obtained by a light cutting method by the line light source illuminating each printed circuit board. 8. A soldering part according to claim 7, wherein a reference line intersection at which the crossing points are obtained, and a distance as a parameter for determining whether or not there is a bridge between lands is extracted from each of the reference line intersection and the two reference lines. Visual inspection method.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US10803572B2 (en) * 2016-08-09 2020-10-13 Jtekt Corporation Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US10803572B2 (en) * 2016-08-09 2020-10-13 Jtekt Corporation Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

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