JP2010190626A - 部分放電劣化診断装置及び部分放電劣化診断方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 部分放電劣化診断装置100は、機器又はケーブルに生じる部分放電に起因する物理量を検知し、物理量を電気的信号に変換する部分放電検出手段1と、電気的信号における信号強度の時間特性に対して周波数解析を行ない、信号強度の周波数特性を算出する周波数解析手段13と、信号強度の周波数特性のうち、信号強度がピークとなる周波数成分を含む周波数帯域を特定する周波数帯域特定手段15と、信号強度の時間特性のうち、周波数帯域における信号強度の時間特性を算出するバンドパス処理手段16と、周波数帯域における信号強度の時間特性のうち、所定の閾値を超える信号強度の出現頻度に基づき、機器又はケーブルの固体絶縁物における部分放電劣化の進行状態を判定する進行状態判定手段18と、を備えている。
【選択図】 図1
Description
近年、電力系統の老朽化が進み、この老朽化に伴う電力系統に生じる障害や停電事故を未然に防止することが望まれている。
また、環境問題への関心の高まり、経済性の追求等、社会的動向の中で機器及びケーブルの効率的な保守に対する技術確立が必要とされている。
この部分放電劣化は、現象的には、まず、部分放電に曝された固体絶縁物の表面に浸食が起こり、そして、部分放電が局部に集中してピットを形成し、その穿孔速度を増していく。なお、肉薄の固体絶縁物では、有効厚さが薄くなり、絶縁破壊を起こすが、肉厚の固体絶縁物では、トリーが発生して、遂に全路破壊となる。
図1は第1の実施形態に係る部分放電劣化診断装置の主要な構成を示すブロック図である。図2(a)は加速劣化試験における擬似ボイドを説明するための説明図、図2(b)は図2(a)に示す針電極を説明するための側面図、図2(c)は図2(a)に示す針電極を説明するための平面図である。図3は加速劣化試験の試験回路を説明するための説明図である。また、図4(a)は計測データ(原波形)の一例を示す波形図、図4(b)は解析データ(FFT波形)の一例を示す波形図、図4(c)は処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図である。また、図5(a)は計測データ(原波形)の他の例を示す波形図、図5(b)は解析データ(FFT波形)の他の例を示す波形図、図5(c)は処理データ(バンドパス処理波形)の他の例を示す波形図である。さらに、図6(a)は試験開始から10分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図6(b)は試験開始10分経過後から20分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図6(c)は試験開始20分経過後から30分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図である。また、図7(a)は試験開始30分経過後から60分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図7(b)は試験開始60分経過後から70分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図7(c)は試験開始70分経過後から80分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図7(d)は試験開始80分経過後から90分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図である。また、図8(a)は試験開始90分経過後から100分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図8(b)は試験開始100分経過後から110分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図8(c)は試験開始110分経過後から120分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図8(d)は試験開始120分経過後から130分経過後までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図である。また、図9(a)は試験開始(0分)から試験終了(130分)までの処理データ(バンドパス処理波形)の一例を示す波形図、図9(b)は所定の時間間隔におけるAE信号強度が所定の閾値を超えた回数を示す表、図9(c)は所定の時間間隔におけるAE信号強度が所定の閾値を超えた回数を示すグラフである。
まず、本発明に係る部分放電劣化診断装置100の主要な構成について、図1を用いて説明する。
ここで、加速劣化試験に使用する試験回路を、図2及び図3を用いて説明する。
パソコン10は、オシロスコープを介して、計測データを収集する。
まず、商用電源205からの交流電圧が昇圧され、針電極202に13kVの対地電圧が印加されると、擬似ボイド203内に気体放電が発生して局所的に持続し、部分放電となる。
(本発明の第2の実施形態)
図10(a)は伝播特性検証試験の試験回路を説明するための説明図、図10(b)は図10(a)に示す発振器を横向きに配置した場合のCVケーブルの断面図、図10(c)は図10(a)に示す発振器を縦向きに配置した場合のCVケーブルの断面図である。また、図11(a)は発信周波数のみが観察される場合のEPゴムを伝播する弾性波の様子を示す概念図、図11(b)は発信周波数以外が観察される場合のEPゴムを伝播する弾性波の様子を示す概念図、図11(c)は弾性波の減衰による初期到達波形の誤差を説明するための説明図である。また、図12(a)は図10(b)に示す発振器の配置における発信周波数が30kHzの場合の検出波形を示す波形図、図12(b)は図12(a)に示す検出波形に対するFFT波形を示す波形図、図12(c)は図12(a)に示す検出波形に対する初期到達波形を示す波形図、図12(d)は図12(c)に示す初期到達波形に対するFFT波形を示す波形図である。さらに、図13(a)は図10(b)に示す発振器の配置における発信周波数が90kHzの場合の検出波形を示す波形図、図13(b)は図13(a)に示す検出波形に対するFFT波形を示す波形図、図13(c)は図13(a)に示す検出波形に対する初期到達波形を示す波形図、図13(d)は図13(c)に示す初期到達波形に対するFFT波形を示す波形図である。また、図14(a)は図10(b)に示す発振器の配置における発信周波数が400kHzの場合の検出波形を示す波形図、図14(b)は図14(a)に示す検出波形に対するFFT波形を示す波形図、図14(c)は図14(a)に示す検出波形に対する初期到達波形を示す波形図、図14(d)は図14(c)に示す初期到達波形に対するFFT波形を示す波形図である。また、図15(a)は図10(b)に示す各AEセンサにおける直線距離に対する初期到達波形のうちAE信号の最大値をプロットしたグラフ、図15(b)は図10(b)に示す各AEセンサにおける伝播距離に対する初期到達波形のうちAE信号の最大値をプロットしたグラフである。また、図16(a)は図10(c)に示す各AEセンサにおける直線距離に対する初期到達波形のうちAE信号の最大値をプロットしたグラフ、図16(b)は図10(c)に示す各AEセンサにおける伝播距離に対する初期到達波形のうちAE信号の最大値をプロットしたグラフである。また、図17(a)は図10(b)に示すAEセンサにおける各発振周波数の減衰係数をプロットしたグラフ、図17(b)は図10(c)に示すAEセンサにおける各発振周波数の減衰係数をプロットしたグラフである。また、図18は第2の実施形態に係る部分放電劣化診断装置の主要な構成を示すブロック図である。図19(a)は図18に示す部分放電劣化診断装置の一例を示す説明図、図19(b)は固定治具を説明するための説明図、図19(c)はAEセンサの配置を説明するための断面図である。図10〜図19において、図1〜図9と同じ符号は、同一又は相当部分を示し、その説明を省略する。
ここで、EPゴム301の伝播特性に関する検証試験(以下、伝播特性検証試験と称す)に使用する試験回路を、図10を用いて説明する。
まず、ファンクションジェネレータ209は、発振電圧が900mVであり、発振周波数Ofが30kHz、90kHz又は400kHzである、1周期分の正弦波を、発振器210から出力させる。
なお、AEセンサ1aの感度は、周波数により異なるため、以下の検証においては、AE信号強度ではなく、AE信号の周波数成分に着目する。特に、発振器210からの発振周波数Ofと異なる周波数成分が観測されることは、板波が発生していることを示すものである。
これに対し、図13(d)に示すFFT波形には、発振周波数Ofの90kHzとほぼ同様の周波数成分が観測でき、板波が発生していないことがわかる。
ここで、ある程度の厚い材質における、弾性波の減衰特性を表わす式を、次式(1)に示す。
〔式1〕
Ax=A0e-αx ・・・(1)
本来、AE信号の最大値は、式(1)に基づき、近似曲線である直線上に乗るはずであるが、図15及び図16に示すAE信号の最大値は、近似曲線である直線上に乗らなかった。これは、板波の影響が考えられる。すなわち、板波は、発振周波数Ofの超音波と比較して、EPゴム301における減衰が小さいため、直線上に乗っていない点があるものと考えられる。
また、図17に示すように、伝播距離に対応する減衰係数αが、直線距離に対応する減衰係数αに対して、比較的バラツキが少ないことがわかる。
発生源特定手段22は、入力手段12による起動信号に基づき、計測データ格納手段11に格納された計測データと、減衰率格納手段21に格納された固体絶縁物(EPゴム301)の減衰率とを抽出し、抽出した計測データ及び減衰率に基づき、部分放電の発生源の位置及び部分放電の規模を特定する。
各AEセンサ1aは、CVケーブル300に密接させるため、図19(b)に示すように、固定治具400により、CVケーブル300に装着させる。
また、図19(b)においては、ケーブル接続部300aに対する固定治具400の装着状態を分かり易くするために、1つのAEセンサ1aのみを図示しているが、実際には、3つのAEセンサ1aが、CVケーブル300の周方向に対して、120度間隔の等間隔に配置されることになる。
センサ把持部401は、アルミニウム製の筒状のホルダー401aとその外径に略同一の貫通孔を配設した鉄製の略矩形状の金属板401bとを接合して形成される。
1a AEセンサ
2 増幅手段
2a プリアンプ
2b メインアンプ
3 計測手段
3a オシロスコープ
4a 高電圧プローブ
4b CTセンサ
10 パソコン
11 計測データ格納手段
12 入力手段
13 周波数解析手段
14 解析データ格納手段
15 周波数帯域特定手段
16 バンドパス処理手段
17 処理データ格納手段
18 進行状態判定手段
19 出力手段
21 減衰率格納手段
22 発生源特定手段
23 信号強度補正手段
24 補正データ格納手段
100 部分放電劣化診断装置
200 変圧比
201 EPゴム
202 針電極
203 擬似ボイド
204 対向電極
205 商用電源
206 トランス
207 抵抗
208 カップリングキャパシタ
209 ファンクションジェネレータ
210 発振器
300 CVケーブル
300a ケーブル接続部
301 EPゴム
400 固定治具
401 センサ把持部
401a ホルダー
401b 金属板
402 挟持部
403 ボルト
404 ナット
Claims (6)
- 機器又はケーブルの固体絶縁物における部分放電劣化の進行状態を診断する部分放電劣化診断装置であって、
前記機器又はケーブルに密接され、当該機器又はケーブルに生じる部分放電に起因する物理量を検知し、当該物理量を電気的信号に変換する部分放電検出手段と、
前記電気的信号における信号強度の時間特性に対して周波数解析を行ない、当該信号強度の周波数特性を算出する周波数解析手段と、
前記信号強度の周波数特性のうち、当該信号強度がピークとなる周波数成分を含む周波数帯域を特定する周波数帯域特定手段と、
前記信号強度の時間特性のうち、前記周波数帯域における信号強度の時間特性を算出するバンドパス処理手段と、
前記周波数帯域における信号強度の時間特性のうち、所定の閾値を超える当該信号強度の出現頻度に基づき、前記機器又はケーブルの固体絶縁物における部分放電劣化の進行状態を判定する進行状態判定手段と、
を備えていることを特徴とする部分放電劣化診断装置。 - 前記請求項1に記載の部分放電劣化診断装置において、
前記進行状態判定手段が、所定の時間間隔における、前記信号強度が所定の閾値を超えた回数を算出し、当該回数が時間の経過と共に増加する場合に、前記機器又はケーブルの固体絶縁物における部分放電劣化の進行状態が悪化していると判定することを特徴とする部分放電劣化診断装置。 - 前記請求項1又は2に記載の部分放電劣化診断装置において、
前記信号強度の時間特性、及び前記機器又はケーブルにおける前記物理量の減衰率に基づき、部分放電の発生源の位置を特定する発生源特定手段と、
前記特定した部分放電の発生源の位置、及び前記機器又はケーブルにおける前記物理量の減衰率に基づき、前記信号強度の時間特性を補正する信号強度補正手段と、
を備え、
前記周波数解析手段が、前記補正された信号強度の時間特性を対象として、前記信号強度の周波数特性を算出することを特徴とする部分放電劣化診断装置。 - 前記請求項1乃至3のいずれかに記載の部分放電劣化診断装置において、
前記部分放電検出手段が複数のAEセンサからなり、当該複数のAEセンサが前記ケーブルの周方向に対して等間隔に一体に配設されると共に、前記ケーブルの周方向及び/又は長さ方向に対して一体に移動可能であることを特徴とする部分放電劣化診断装置。 - 前記請求項1乃至3のいずれかに記載の部分放電劣化診断装置において、
前記部分放電検出手段が複数のAEセンサからなり、当該複数のAEセンサが前記ケーブルの周方向及び長さ方向に複数配設されることを特徴とする部分放電劣化診断装置。 - 機器又はケーブルの固体絶縁物における部分放電劣化の進行状態を診断する部分放電劣化診断方法であって、
前記機器又はケーブルに密接させ、当該機器又はケーブルに生じる部分放電に起因する物理量を検知し、当該物理量を電気的信号に変換する部分放電検出ステップと、
前記電気的信号における信号強度の時間特性に対して周波数解析を行ない、当該信号強度の周波数特性を算出する周波数解析ステップと、
前記信号強度の周波数特性のうち、当該信号強度がピークとなる周波数成分を含む周波数帯域を特定する周波数帯域特定ステップと、
前記信号強度の時間特性のうち、前記周波数帯域における信号強度の時間特性を算出するバンドパス処理ステップと、
前記周波数帯域における信号強度の時間特性のうち、所定の閾値を超える当該信号強度の出現頻度に基づき、前記機器又はケーブルの固体絶縁物における部分放電劣化の進行状態を判定する進行状態判定ステップと、
を有することを特徴とする部分放電劣化診断方法。
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