JP2010160102A - センサデータ伝送システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プロセス現場に配置された少なくとも一つのセンサ(A1)と、このセンサ(A1)にアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B1)と、校正設備の整った試験室に配置された前記センサ(A1)と同等の仕様を備えたセンサ(A2)と、このセンサにアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B2)と、前記センサ(A1)とセンサ(A2)を接続するディジタル信号伝送線を備えた。
【選択図】図1
Description
これらの計測機器の測定性能は、一般的には時間の経過に伴なって所定の設計仕様範囲から外れる方向に低下していく。
ここで図4(a)で示すものはセンサ1からのアナログ信号をそのまま伝送器3に送っており、図4(b)で示すものはセンサ1からのアナログ信号をセンサ1内に組込まれたA/D変換器でディジタル信号に変換し、そのデータを伝送器3にディジタル信号として転送している。また、メモリを併せ持っており、そのメモリには各種の情報を保存することが可能である。
(イ)交換すべきセンサ(a1)と同等のセンサ(a2)を校正設備の整った試験室で校正する。
(ロ)校正して得られたデータをセンサ(a2)内のメモリに書き込む。
(ハ)校正済みセンサ(a2)を現場の保守対象のセンサ(a1)と交換する。
(ニ)コネクタ接続後、センサ(a2)のメモリ内のデータを伝送器(b1)に自動で書き込む。
この場合、現場の伝送器(b1)と試験室内の伝送器(b2)は制御レベルのネットワークで接続されておらず、独立した状態にある。
図4(b)のセンサを用いたシステムは、設置環境条件の悪い場所において、保守作業時間を短縮できる利点がある。一方、以下の問題点がある。
イ)センサとメモリおよびA/D変換器は一体であるため、センサ全体のコストが高くなる。
ロ)センサ寿命でセンサを破棄する場合は、メモリおよびA/D変換器も破棄しなければならない。そのため、不経済である。
ハ)メモリなどいくつかの機能は、センサ側と伝送器側に重複して搭載されている。
イ)センサ内のメモリおよびA/D変換器は、プロセスに非常に近いため、設置環境の影響を受けやすい。特に、熱環境の影響を受けやすく、精度や寿命の悪化が顕著となる。
イ)図4(a)に示すセンサでは、たとえばpHセンサと伝送器は異なるメーカ間でも接続が可能である。一方、図4(b)に示すセンサは、ディジタル伝送が独自規格であるため、異なるメーカ間の接続が不可能である。この点で、図4(b)に示すセンサはユーザの利便性が悪い。
イ)情報がセンサ内のメモリにあるため、一見しただけではセンサの持つ情報がわからない。種類が多く、多様な履歴を持つpHセンサを扱っている場合は、誤ったセンサに交換する危険性がある。
プロセス現場に配置された少なくとも一つのセンサ(A1)と、このセンサ(A1)にアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B1)と、校正設備の整った試験室に配置された前記センサ(A1)と同等の仕様を備えたセンサ(A2)と、このセンサにアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B2)と、前記伝送器(B1)と伝送器(B2)を接続するディジタル信号伝送線を備えたことを特徴とする。
プロセス現場に配置された少なくとも一つのセンサ(A1)と、このセンサ(A1)にアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B1)と、校正設備の整った試験室に配置された前記センサ(A1)と同等の仕様を備えたセンサ(A2)と、このセンサにアナログ伝送線を介して接続されたA/D変換器と、このA/Dに接続されたPC(演算装置)と、このPCと前記伝送器(B1)を接続したことを特徴とする。
請求項3においては、
プロセス現場に配置された少なくとも一つのセンサ(A1)と、このセンサ(A1)にアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B1)と、校正設備の整った試験室に配置された前記センサ(A1)と同等の仕様を備えたセンサ(A2)と、このセンサにアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B2)と、この伝送器(B2)に記憶された校正データを含む情報を書込む書込み手段と、を備え、この書込み手段に書込まれたデータを前記伝送器(B1)に入力するように構成したことを特徴とする。
現場と試験室に伝送器を設置して、校正データを含む情報をディジタル伝送により現場の伝送器に送信するようにしたので、センサ自身に校正を含む情報を持つ回路が不要なので、コストを低減することができる。
回路が不要なので、耐環境性能、特に熱環境による寿命への影響がない。
たとえばpHセンサと伝送器は異なるメーカ間でも接続が可能である。したがって、汎用性、利便性が高い。
請求項3によれば、校正を含む情報を書込んだラベルプリンタ等を用いて出力し情報を持ち運びするので、伝送線が不要となり、書込み手段に文字情報としてタグNoを付加すれば複数の保守対象センサを取り違えることなく扱うことができる。
上述の構成において、はじめ(イ)において、校正設備の整った試験室に配置されたセンサ(A2)の校正が行われる。この校正データはアナログ伝送により伝送器(B2)に送信され(ロ)において、この伝送器のメモリに記憶される。
このようにシステムを設計することにより、従来の汎用センサと伝送器を用いて校正データなどを任意の伝送器に転送することができる。
なお、プロセス現場に複数のセンサがある場合は校正対象のセンサのタグNoを用いてセンサを特定するものとする。
なお、一点差線で囲った部分はセンサ(A2)の校正データをPC6aを介して伝送器(B1)に取込んでいる例を示すもので各種のPCが利用できることを示している。
即ち、センサ(A1)と同等の仕様を備えたセンサ(A2)は試験室で(イ)において校正されその校正データは、伝送器(B2)のメモリに記憶される。
次に(ロ)において記憶されたデータはラベルプリンタ7によって出力される。
このようにシステムを設計することにより、従来の汎用センサと伝送器を用いて校正データなどをプロセス現場に配置された伝送器(B1)に入力すれば、伝送線が不要となり、ラベルプリンタに文字情報としてタグNoを付加すれば複数の保守対象センサを取り違えることなく扱うことができる。
従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。
2 コネクタ
3 伝送器
4 A/D変換器
5 制御装置
6 PC(パソコン)
7 ラベルプリンタ
8 ディジタル伝送線
Claims (3)
- プロセス現場に配置された少なくとも一つのセンサ(A1)と、このセンサ(A1)にアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B1)と、校正設備の整った試験室に配置された前記センサ(A1)と同等の仕様を備えたセンサ(A2)と、このセンサにアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B2)と、前記伝送器(B1)と伝送器(B2)を接続するディジタル信号伝送線を備えたことを特徴とするセンサデータ伝送システム。
- プロセス現場に配置された少なくとも一つのセンサ(A1)と、このセンサ(A1)にアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B1)と、校正設備の整った試験室に配置された前記センサ(A1)と同等の仕様を備えたセンサ(A2)と、このセンサにアナログ伝送線を介して接続されたA/D変換器と、このA/D変換器に接続されたPC(演算装置)と、このPCと前記伝送器(B1)を接続したことを特徴とするセンサデータ伝送システム。
- プロセス現場に配置された少なくとも一つのセンサ(A1)と、このセンサ(A1)にアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B1)と、校正設備の整った試験室に配置された前記センサ(A1)と同等の仕様を備えたセンサ(A2)と、このセンサにアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器(B2)と、この伝送器(B2)に記憶された校正データを含む情報を書込む書込み手段と、を備え、この書込み手段に書込まれたデータを前記伝送器(B1)に入力するように構成したことを特徴とするセンサデータ伝送システム。
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