JP2010146734A - Method of manufacturing copper film - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for sintering copper particulates in low temperatures and in a short time, and to manufacture the copper film on a base material by this method. <P>SOLUTION: This method of manufacturing the copper film includes a process to form a paint film by applying a composition containing the copper particulates onto the base material, and a process to sinter the copper particulates by disposing a shield having shape followability on the upper part of the paint film and applying hot press to the paint film to sinter the copper particulates. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は銅微粒子を含有する組成物を基材上に塗布する工程とこれを加熱プレスする工程とを含む、銅膜の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for producing a copper film, which includes a step of applying a composition containing copper fine particles on a substrate and a step of heat-pressing the composition.

近年のエレクトロニクス分野において利用される配線基板は集積度向上を目的として微細化が進んでいる。従来、配線パターンの作製にはスパッタ・真空蒸着などの真空プロセスが用いられることが主であり、これらのプロセスを利用して数十nmといった微細なパターンの作製が可能になってきている。しかし、真空プロセスは精度の良い薄膜ができるが、一方で成膜速度が遅くプロセスコストが高かった。   Wiring boards used in the electronics field in recent years have been miniaturized for the purpose of improving the degree of integration. Conventionally, vacuum processes such as sputtering and vacuum deposition have been mainly used for the production of wiring patterns, and it has become possible to produce a fine pattern of several tens of nanometers using these processes. However, the vacuum process can produce a thin film with high accuracy, but the deposition rate is slow and the process cost is high.

近年、これら真空プロセスに替わる手法として注目されているのがプリント配線技術である。この手法は、金属粒子を分散させたペーストを基材状に印刷し、加熱処理して基板上に配線する技術である。真空プロセスに比べて微細配線の点では劣るが、近年の印刷技術の発展に伴い数ミクロンレベルのパターン形成が可能になっており低コストプロセスの配線技術として期待されている。   In recent years, printed wiring technology has attracted attention as an alternative to these vacuum processes. This technique is a technique in which a paste in which metal particles are dispersed is printed on a base material, heat-treated, and wired on a substrate. Although it is inferior in terms of fine wiring as compared with a vacuum process, pattern formation on the order of several microns has become possible with the recent development of printing technology, and is expected as a low-cost process wiring technology.

しかし、プリント配線技術においては金属を焼結するために非常に高温で加熱処理する必要があるためにポリマー基板などは損傷されてしまう可能性がある。一方、安価なプリント配線基板を作るためにはポリエステルフィルムなどの汎用性の高いフィルム基板を用いることが望ましい。例えば、最も汎用性の高いポリエステルフィルムであるポリエチレンテレフタレートフィルムを使用する場合は、基板の耐久性から200℃以下の加熱処理で焼結できることが望ましい。   However, in the printed wiring technology, since it is necessary to perform heat treatment at a very high temperature in order to sinter the metal, the polymer substrate or the like may be damaged. On the other hand, in order to make an inexpensive printed wiring board, it is desirable to use a highly versatile film substrate such as a polyester film. For example, when a polyethylene terephthalate film, which is the most versatile polyester film, is used, it is desirable that the substrate can be sintered by a heat treatment at 200 ° C. or less because of the durability of the substrate.

一般に、金属粒子の粒径を微小にすることによって、金属ペーストの焼成温度を低減させるという技術は公知である。例えば、粒径100nm以下の金属微粒子を用いることで比較的低温で焼結できる技術が開示されている(特許文献1)。また、粒子が微小であることは微細な印刷配線をする上でもパターン精度が上がり有利になる。   In general, a technique for reducing the firing temperature of a metal paste by reducing the particle size of the metal particles is known. For example, a technique that can be sintered at a relatively low temperature by using metal fine particles having a particle diameter of 100 nm or less is disclosed (Patent Document 1). In addition, the fact that the particles are minute is advantageous in that the pattern accuracy is improved even in fine printed wiring.

金属微粒子を利用して微細な配線パターンを形成する手法に関しては、例えば銀微粒子では既に方法論が確立されていて、スクリーン印刷法で印刷可能な銀微粒子ペーストが商品化されている(藤倉化成社製:ドータイト、ハリマ化成社製:導電性銀ペースト、ナミックス社製:HIMEC)。しかし、銀微粒子を用いると材料の銀自体が高価であるため、ペーストの作製単価も高価になりプリント配線のメリットであるコストダウンには限界があり、汎用品として広く普及する上では大きな障害となっている。   Regarding the method of forming fine wiring patterns using metal fine particles, for example, silver fine particles have already established a methodology, and silver fine particle pastes that can be printed by the screen printing method have been commercialized (manufactured by Fujikura Kasei Co., Ltd.). : Dotite, manufactured by Harima Kasei Co., Ltd .: conductive silver paste, manufactured by Namics Co., Ltd .: HIMEC). However, if silver fine particles are used, the material silver itself is expensive, so the cost of producing the paste is also expensive, and there is a limit to the cost reduction that is the merit of printed wiring, which is a major obstacle to widespread use as a general-purpose product. It has become.

加えて、銀微粒子は配線幅及び配線間スペースが狭くなっていくにつれ、エレクトロマイグレーションに起因する断線が問題となる。エレクトロマイグレーション現象に起因する断線を回避する上では、金属微粒子として銅微粒子を用いることが有効であることが知られている。銅は、導電性が金や銀と同等である上にエレクトロマイグレーションが格段に少なく、さらに銀よりも材料単価が低いため、銅微粒子のプリント配線技術への応用は大いに期待されている。   In addition, as the fine silver particles become narrower in wiring width and inter-wiring space, disconnection due to electromigration becomes a problem. It is known that it is effective to use copper fine particles as the metal fine particles in order to avoid the disconnection due to the electromigration phenomenon. Copper has electrical conductivity equivalent to that of gold and silver, has much less electromigration, and has a lower material unit price than silver. Therefore, application of copper fine particles to printed wiring technology is highly expected.

貴金属である銀は、酸化を受けがたい特性を有しておりペースト状にして保存する上でも酸化されない状態で維持することが容易である。一方で卑金属である銅微粒子は酸化されやすい特性を有しており、特に焼結させるために加熱すると周囲の酸素と容易に反応し酸化される。銅微粒子が一旦酸化されると表面が安定化され焼結現象は起きにくくなる。そのため銅微粒子を焼結させるには、雰囲気制御をして還元性ガス雰囲気又は不活性ガス雰囲気下で行う必要があった。   Silver, which is a noble metal, has characteristics that make it difficult to undergo oxidation, and it is easy to maintain it in an unoxidized state even when stored in a paste form. On the other hand, copper fine particles, which are base metals, have a characteristic of being easily oxidized, and particularly when heated for sintering, they easily react with surrounding oxygen and are oxidized. Once the copper fine particles are oxidized, the surface is stabilized and the sintering phenomenon is less likely to occur. For this reason, in order to sinter the copper fine particles, it is necessary to perform the atmosphere control in a reducing gas atmosphere or an inert gas atmosphere.

公知の例では、350℃で1時間、窒素ガス雰囲気中で加熱することによって焼結し抵抗率5.0μΩ・cmを得ている例や(特許文献2)、250℃で有機還元ガス蒸気雰囲気中で40分以上加熱することによって焼結し抵抗率6.6μΩ・cmの薄膜を得ている例(特許文献3)、窒素ガス雰囲気において250℃で加熱焼成後、水素ガス雰囲気中において300℃で1時間加熱焼成し、3μΩ・cmを得ている例がある。これらの例では、プロセス中に雰囲気制御をしなければならないためにプロセスコストが高く、また加熱温度も高温であり使用できる基板が限られる。   In the known examples, sintering is performed by heating in a nitrogen gas atmosphere at 350 ° C. for 1 hour to obtain a resistivity of 5.0 μΩ · cm (Patent Document 2), or an organic reducing gas vapor atmosphere at 250 ° C. In which a thin film having a resistivity of 6.6 μΩ · cm is obtained by heating for 40 minutes or more (Patent Document 3), after being heated and fired at 250 ° C. in a nitrogen gas atmosphere, then 300 ° C. in a hydrogen gas atmosphere There is an example in which 3 μΩ · cm is obtained by heating and baking for 1 hour. In these examples, since the atmosphere must be controlled during the process, the process cost is high, the heating temperature is high, and the substrates that can be used are limited.

他にも、単に加熱するだけでなくプロセスの工夫によって焼結度を上げている例がある。アルゴン/水素混合気体中において150℃でプラズマ還元を行っている例(特許文献5)や、銀粒子焼結の実施例ではあるが電子線照射により焼結を進める例(特許文献6)や、レーザーを用いて焼成している例(特許文献7)、加熱時にプレスして焼成している例(非特許文献1、特許文献8)が公知の例として挙げられる。これらの例は単なる加熱による焼成とは異なる手法であり、ポリマー基板の使用を可能に出来る可能性があるが、プラズマ還元は水素ガスを使用するためコストが高くなり、電子線照射・レーザーも新たな装置を用いなければならない点でコストの問題が大きい。   There are other examples in which the degree of sintering is increased not only by heating but also by devising the process. An example in which plasma reduction is performed at 150 ° C. in an argon / hydrogen mixed gas (Patent Document 5), an example in which sintering is performed by electron beam irradiation although being an example of silver particle sintering (Patent Document 6), Examples of firing using a laser (Patent Literature 7) and examples of pressing and firing during heating (Non-Patent Literature 1 and Patent Literature 8) are known examples. These examples are different from calcination by simple heating and may enable the use of polymer substrates. However, plasma reduction uses hydrogen gas, resulting in higher costs and new electron beam irradiation and lasers. The problem of cost is great in that a simple apparatus must be used.

コストの問題で優位性がある加熱プレスによる焼結方法は、銀では容易に焼結が可能である。これは銀が加熱時に自然に還元反応が進み、酸化銀が銀となるからである。しかしながら銅粒子膜では、加熱プレス時に外部の酸素と反応して容易に酸化反応が進み、粒子表面の分厚い酸化膜が焼結を阻害して一様に導電性を有する膜は得られない。   The sintering method using a hot press, which is superior in terms of cost, can be easily sintered with silver. This is because when the silver is heated, the reduction reaction proceeds naturally, and the silver oxide becomes silver. However, in the copper particle film, the oxidation reaction proceeds easily by reacting with external oxygen during hot pressing, and the thick oxide film on the particle surface inhibits the sintering, so that a film having uniform conductivity cannot be obtained.

また、銀粒子からなる膜にレジスト剤をコーティングする例(特許文献8)もあり、酸化防止の可能性があるが、導電膜を他の配線とコンタクトする時には、再度コーティングした層を剥がす工程が必要となり、プロセスが複雑となりコストアップにつながる。   In addition, there is an example (Patent Document 8) in which a film made of silver particles is coated with a resist agent, which may prevent oxidation. However, when the conductive film is contacted with another wiring, a process of peeling the coated layer again is required. This is necessary and the process becomes complicated, leading to an increase in cost.

このように、従来の技術では銅微粒子を焼結するために雰囲気制御などの高コストなプロセスや高温加熱が必要であり、プロセスコスト・基板の汎用性の点で問題があるために銅微粒子ペーストをプリント配線基盤の配線材料として実用化することは困難であった。
特許第2561537号公報 国際公開第2004/050559号パンフレット 国際公開第2004/103043号パンフレット 特開2004−164876号公報 特開2004−247572号公報 特開2006−26602号公報 特開2006−38999号公報 特開2005−177710号公報 産総研 「TODAY」2006−01
In this way, the conventional technology requires high-cost processes such as atmosphere control and high-temperature heating in order to sinter the copper fine particles, and there are problems in terms of process cost and versatility of the board, so the copper fine particle paste It was difficult to put it into practical use as a wiring material for printed wiring boards.
Japanese Patent No. 2561537 International Publication No. 2004/050559 Pamphlet International Publication No. 2004/103043 Pamphlet Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-164876 JP 2004-247572 A JP 2006-26602 A JP 2006-38999 A JP 2005-177710 A AIST "TODAY" 2006-01

本発明は上述の課題を解決するためになされたものであり、銅微粒子を従来より低温かつ短時間で焼結できる方法を提供、その方法により基材上に銅膜を製造することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and provides a method capable of sintering copper fine particles at a lower temperature and in a shorter time than before, and an object of the present invention is to produce a copper film on a substrate. To do.

本発明者らは前記課題を解決すべく鋭意検討した結果、銅微粒子を含有する塗膜の直上に遮蔽物を配置して加熱プレス処理することによって従来より低温で焼結して銅膜を製造することが可能であることを見出した。   As a result of diligent studies to solve the above problems, the inventors of the present invention manufactured a copper film by sintering at a lower temperature than before by placing a shielding object immediately above the coating film containing copper fine particles and performing a heat press treatment. Found that it is possible to do.

すなわち本発明は、次の(1)〜(8)の構成を特徴とするものである。
(1)銅微粒子を含有する組成物を基材上に塗布して塗膜を形成する工程と、該塗膜の上方に形状追随性を有する遮蔽物を配置して、該塗膜を加熱プレスして該銅微粒子を焼結する工程とを含む銅膜の製造方法。
(2)前記銅微粒子として銅ナノ粒子を含有し、該銅ナノ粒子の個数平均粒子径が1nm以上200nm以下である、(1)に記載の銅膜の製造方法。
(3)前記塗膜を加熱プレスする工程において、加熱温度が50℃以上300℃以下である、(1)又は(2)に記載の銅膜の製造方法。
(4)前記塗膜を加熱プレスする工程において、プレス圧力が1MPa以上である(1)〜(3)のいずれかに記載の銅膜の製造方法。
(5)前記遮蔽物の曲げ強度が100GPa・mm以下である(1)〜(4)のいずれかに記載の銅膜の製造方法。
(6)前記遮蔽物がフッ素系樹脂、金属箔、熱可塑性樹脂、シリコーン系樹脂からなる群より選ばれた少なくとも一つで構成される(1)〜(5)いずれかに記載の製造方法。
(7)前記塗膜を形成する工程と前記塗膜を加熱プレスして銅微粒子を焼結する工程の間に、加熱及び/またはプラズマにより銅微粒子を焼結する工程を含む(1)〜(6)いずれかに記載の銅膜の製造方法。
That is, the present invention is characterized by the following configurations (1) to (8).
(1) A step of applying a composition containing copper fine particles on a substrate to form a coating film, and a shielding object having a shape following property above the coating film, and heating the coating film And a step of sintering the copper fine particles.
(2) The manufacturing method of the copper film as described in (1) which contains a copper nanoparticle as said copper microparticle, and the number average particle diameter of this copper nanoparticle is 1 nm or more and 200 nm or less.
(3) The manufacturing method of the copper film as described in (1) or (2) whose heating temperature is 50 degreeC or more and 300 degrees C or less in the process of heat-pressing the said coating film.
(4) The method for producing a copper film according to any one of (1) to (3), wherein the press pressure is 1 MPa or more in the step of heat-pressing the coating film.
(5) The manufacturing method of the copper film in any one of (1)-(4) whose bending strength of the said shield is 100 GPa * mm < 2 > or less.
(6) The manufacturing method according to any one of (1) to (5), wherein the shielding object includes at least one selected from the group consisting of a fluorine resin, a metal foil, a thermoplastic resin, and a silicone resin.
(7) Between the step of forming the coating film and the step of heating and pressing the coating film to sinter the copper fine particles, including the step of sintering the copper fine particles by heating and / or plasma (1) to ( 6) The manufacturing method of the copper film in any one.

本発明によれば、銅微粒子を低温で加熱プレスすることにより、銅微粒子を短時間で焼結して、銅膜を製造することが出来る。   According to the present invention, a copper film can be manufactured by sintering copper fine particles in a short time by heat-pressing the copper fine particles at a low temperature.

本発明の銅膜の製造方法は、銅微粒子を含有する組成物を基材上に塗布して塗膜を形成する工程と、形状追随性を有する遮蔽物を該組成物の直上に配置して塗膜を加熱プレスする工程とを含む、銅膜の製造方法である。   The method for producing a copper film of the present invention comprises a step of applying a composition containing copper fine particles on a substrate to form a coating film, and a shielding object having shape following property is disposed immediately above the composition. A method for producing a copper film, comprising a step of heat-pressing a coating film.

銅微粒子:
本発明に用いられる銅微粒子には、粒子径が1μmより小さい粒子である銅ナノ粒子が含まれることが好ましいが、1μm以上10μm以下の銅マイクロ粒子が含まれていても良い。本発明に用いられる銅微粒子のうち、銅ナノ粒子の重量分率をMa、銅マイクロ粒子の重量分率をMbとしたときに、Ma/(Ma+Mb)の値が0.7以上であることが好ましく、0.8以上1以下であることがより好ましい。銅マイクロ粒子は銅ナノ粒子に比べて焼結しにくいが、銅微粒子の中に少量存在していることで、導電パスとして利用でき、導電しやすくなる場合がある。但し、Ma/(Ma+Mb)の値が0.7より小さい場合は膜全体が焼結するのに悪影響を与え、問題が生じる。
本発明に用いられる銅微粒子に含まれる銅ナノ粒子の平均粒子径は200nm以下であることが好ましく、より好ましくは100nm以下、さらに好ましくは50nm以下である。200nm以下であれば表面エネルギーが大きくなり、融点が低下して、金属粒子間が低温で融着して銅薄膜が形成しやすくなるので好ましい。また、印刷配線をする上でも粒子径が小さいことは好ましく、数ミクロン幅・間隔の印刷をするためには、銅ナノ粒子の粒子径は100nm以下であることがより好ましい。なお、銅ナノ粒子の粒子径の下限は1nmであることが好ましい。銅ナノ粒子の表面酸化膜との関係から1nm未満ではナノ粒子全てが酸化銅となるからである。
Copper fine particles:
The copper fine particles used in the present invention preferably contain copper nanoparticles having a particle diameter of less than 1 μm, but may contain copper microparticles of 1 μm or more and 10 μm or less. Of the copper fine particles used in the present invention, when the weight fraction of the copper nanoparticles is Ma and the weight fraction of the copper microparticles is Mb, the value of Ma / (Ma + Mb) may be 0.7 or more. Preferably, it is 0.8 or more and 1 or less. Copper microparticles are harder to sinter than copper nanoparticles, but are present in a small amount in the copper fine particles, so that they can be used as a conductive path and may become more conductive. However, when the value of Ma / (Ma + Mb) is smaller than 0.7, the entire film is adversely affected to sinter, which causes a problem.
It is preferable that the average particle diameter of the copper nanoparticle contained in the copper fine particle used for this invention is 200 nm or less, More preferably, it is 100 nm or less, More preferably, it is 50 nm or less. If it is 200 nm or less, the surface energy is increased, the melting point is lowered, the metal particles are fused at a low temperature, and a copper thin film is easily formed, which is preferable. Moreover, it is preferable that the particle diameter is small also for printed wiring, and in order to perform printing with a width of several microns and intervals, the particle diameter of the copper nanoparticles is more preferably 100 nm or less. In addition, it is preferable that the minimum of the particle diameter of a copper nanoparticle is 1 nm. This is because from the relationship with the surface oxide film of the copper nanoparticles, if the thickness is less than 1 nm, all the nanoparticles become copper oxide.

ここで、粒子径とは、一次粒径を指し、電子顕微鏡による形態観察によって測定できる。また、平均粒子径の算出は、個数平均に基づいており、電子顕微鏡で観察できる範囲の粒子の内、任意の100個の粒子の選び出し、それらの粒子径を粒子の個数で平均することにより求められる。   Here, the particle diameter refers to the primary particle diameter and can be measured by morphological observation with an electron microscope. The calculation of the average particle diameter is based on the number average, and is obtained by selecting arbitrary 100 particles from the range of particles that can be observed with an electron microscope, and averaging the particle diameter by the number of particles. It is done.

銅微粒子の様態は酸化されていないことが好ましいが、塗膜に還元性物質を含有させるため、必ずしも酸化されていないことが必須であるわけではなく、粒子が一部又は全部酸化されていても良い。酸化銅としては酸化第一銅及び酸化第二銅があり、銅の酸化状態に制限はないが、金属銅への還元の容易性から、酸化第一銅が好ましい。   It is preferable that the copper fine particles are not oxidized. However, in order to contain a reducing substance in the coating film, it is not always essential that the particles are not oxidized. good. There are cuprous oxide and cupric oxide as copper oxide, and there is no limitation on the oxidation state of copper, but cuprous oxide is preferred from the viewpoint of easy reduction to metallic copper.

銅微粒子の表面は有機成分や粒子の酸化物で覆われているものも含む。上記の銅微粒子表面の酸化反応を抑制する効果に加えて、後述する電子写真印刷に代表される粒子の帯電効果を利用した塗布法に対して効果を有する。   The surface of the copper fine particles includes those covered with organic components and particle oxides. In addition to the effect of suppressing the oxidation reaction on the surface of the copper fine particles, the present invention has an effect on a coating method utilizing the charging effect of particles represented by electrophotographic printing described later.

本発明で用いる銅微粒子は、例えばアルドリッチ社から粒子径50nm、100nmの銅ナノ粒子をそれぞれ含むものを、Alfa Aesar社から粒子径200nmの銅ナノ粒子を含むものを入手することが可能である。また、表面が有機物質で覆われている粒子としては例えば石原産業からゼラチンで覆われた銅微粒子を入手することが可能である。また、特開平1−259108などに記述されているような公知の手法で合成することができる。本発明で用いる銅マイクロ粒子は、例えばキシダ化学から粒子径1μmのものを、アルドリッチ社から、粒子径10μmのものを入手することが可能である。また、金属粉末作製で一般的な製法であるアトマイズ法を用いて銅マイクロ粒子を作製することができる。   The copper fine particles used in the present invention can be obtained, for example, from Aldrich, which contains copper nanoparticles having a particle size of 50 nm and 100 nm, respectively, and from Alfa Aesar, which contains copper nanoparticles having a particle size of 200 nm. Further, as the particles whose surface is covered with an organic substance, for example, copper fine particles covered with gelatin can be obtained from Ishihara Sangyo. Moreover, it can synthesize | combine by the well-known method as described in Unexamined-Japanese-Patent No. 1-259108. The copper microparticles used in the present invention can be obtained, for example, from Kishida Chemical Co., Ltd. with a particle size of 1 μm, and from Aldrich, with a particle size of 10 μm. Moreover, copper microparticles can be produced using an atomizing method, which is a common production method for producing metal powder.

銅微粒子を含む組成物:
本発明において、基材上に塗布される組成物の形態は、粉状、ペースト状などが挙げられる。
Compositions containing copper particulates:
In the present invention, examples of the form of the composition applied onto the substrate include powder and paste.

粉状の場合は、組成物には必要に応じて、後述するバインダー、還元剤、その他添加剤を含有していてもよい。銅ナノ粒子の重量は、粉体の総重量に対して50重量%以上であり、好ましくは80重量%以上である。50重量%より低い場合は、銅微粒子以外の成分が銅微粒子の基材への接触を妨げ焼結が困難になる。   In the case of powder, the composition may contain a binder, a reducing agent, and other additives, which will be described later, as necessary. The weight of the copper nanoparticles is 50% by weight or more, preferably 80% by weight or more, based on the total weight of the powder. When it is lower than 50% by weight, the components other than the copper fine particles prevent the copper fine particles from contacting the base material, and sintering becomes difficult.

前記バインダーとは、粒子間同士や粒子と基板との間を接着させる樹脂のことであって、添加することにより、緻密な膜を形成しやすくなる。大きく硬化性樹脂と可塑性樹脂に大別できる。バインダーとして使用できる熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、レゾール樹脂、ポリイミド、ポリウレタン、メラミン樹脂、ウレア樹脂、ポリイミド樹脂等を例示でき、これら樹脂モノマーまたはオリゴマー、誘導体も含む。エポキシ樹脂としては、例えばビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、(クレゾール)ノボラック型エポキシ樹脂、ハロゲン化ビスフェノール樹脂、レゾ、グリセリントリエーテル、ポリオレフィン、エポキシ化大豆油、シクロペンタジエンジオキシド、ビニルシクロヘキセンジオキシドなどが挙げられる。液状のエポキシ樹脂は粘度が低いので好ましく、具体的にはフェノキシアルキルモノグリシジルエーテル、ビスフェノールAジグリシジルエーテル、プロピレングリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル、ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、水添ビスフェノールAジグリシジルエーテル、ネオペンチルグルコールジグリシジルエーテル、グリセリンジグリシジルエーテル、N,N−ジグリシジルアニリン、N,N−ジグリシジルトルイジン、トリメチロールプロパントリグリシジルエーテル、グリセリントグリシジルエーテルおよび液状の各種ポリシロキサンジグリシジルエーテルなどが例示される。熱可塑性樹脂としては、ポリビニルピロリドン、ポリビニルアルコール、ポリエチレングリコール、ポリグリルアミド樹脂、ポリアミド樹脂などが挙げられる。   The binder is a resin that adheres between particles or between particles and a substrate, and when added, it becomes easy to form a dense film. It can be roughly divided into curable resins and plastic resins. Examples of the thermosetting resin that can be used as the binder include epoxy resins, phenol resins, resol resins, polyimides, polyurethanes, melamine resins, urea resins, polyimide resins, and the like, and these resin monomers, oligomers, and derivatives are also included. Examples of the epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, (cresol) novolac type epoxy resin, halogenated bisphenol resin, reso, glycerin triether, polyolefin, epoxidized soybean oil, cyclopentadiene dioxide, vinyl. And cyclohexene dioxide. Liquid epoxy resins are preferred because of their low viscosity. Specifically, phenoxyalkyl monoglycidyl ether, bisphenol A diglycidyl ether, propylene glycol diglycidyl ether, polypropylene glycol diglycidyl ether, hexanediol diglycidyl ether, hydrogenated bisphenol A di Glycidyl ether, neopentyl glycol diglycidyl ether, glycerin diglycidyl ether, N, N-diglycidyl aniline, N, N-diglycidyl toluidine, trimethylolpropane triglycidyl ether, glycerin toglycidyl ether and various liquid polysiloxane di Examples thereof include glycidyl ether. Examples of the thermoplastic resin include polyvinyl pyrrolidone, polyvinyl alcohol, polyethylene glycol, polygrillamide resin, and polyamide resin.

前記還元剤としては、常温において銅微粒子の酸化を妨げる作用、すなわち抗酸化作用を有する物質、銅微粒子を焼結する工程で加熱したときに抗酸化作用および銅微粒子中の酸化物を還元する作用を発揮する物質、またはその両方の性質を有する物質のいずれも用いることができる。還元剤の形態は液状、固形状いずれも用いることができる。粉状の組成物に液状の還元剤を添加する方法としては、粉状の組成物に還元剤を滴下し撹拌して還元剤の沸点より低い温度で室内または真空中で乾燥させる方法が例示できる。沸点より低い温度で乾燥させると銅微粒子表面に還元剤が吸着した状態になる。使用可能な還元剤に特に制限はなく、無機還元剤であっても有機還元剤であっても良い。無機還元剤としては、水素化ホウ素ナトリウム、水素化ホウ素リチウム等水素化合物、二酸化イオウ等のイオウ化合物、亜硫酸塩などの低級酸化物の塩、ヨウ化水素、炭素、などを例示できる。
有機還元剤としては多価アルコール、糖類、アルデヒド類、ヒドラジン及びその誘導体、ジイミド類、シュウ酸、フェノール類、アスコルビン酸などを例示できる。多価アルコールとしては エチレングリコール、ジエチレングリコール、1,2−プロパンジオール、1,3 − プロパンジオール、1,2−ブタンジオール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、2−ブテン−1,4−ジオール、2,3−ブタンジオール、ペンタンジオール、ヘキサンジオール、オクタンジオール、1,1,1−トリスヒドロキシメチルエタン、2−エチル−2−ヒドロキシメチル−1,3 − プロパンジオール、1,2,6−ヘキサントリオール、1,2,3−ヘキサントリオール、1,2,4−ブタントリオール等を例示できる。また、グリセロール、トレイトール、エリスリトール、ペンタエリスリトール、ペンチトール、ヘキシトール等の糖アルコール類も使用可能であり、ペンチトールにはキシリトール、リビトール、アラビトールが含まれる。また、ヘキシトールには、マンニトール、ソルビトール、ズルシトール等が含まれる。糖類としては、グリセリンアルデヒド、ジオキシアセトン、トレオース、エリトルロース、エリトロース、アラビノース、リボース、リブロース、キシロース、キシルロース、リキソース、グルコース、フルクトース、マンノース、イドース、ソルボース、グロース、タロース、タガトース、ガラクトース、アロース、アルトロース、ラクトース、キシロース、トレハロース、が例示である。アルデヒド類としては、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒド、ブチルアルデヒド、イソビチルアルデヒド、パレルアルデヒド、イソバレルアルデヒド、ピバリンアルデヒド、カプロンアルデヒド、ヘプトアルデヒド、カプリルアルデヒド、ペラゴンアルデヒド、ウンデシルアルデヒド、ラウリンアルデヒド、トリデシルアルデヒド、ミリスチンアルデヒド、ペンタデシルアルデヒド、パルミチンアルデヒド、マルガリンアルデヒド、ステアリンアルデヒド等の脂肪族飽和アルデヒド、グリオキサール、スクシンジアルデヒド等の脂肪族ジアルデヒド、アクロレイン、クロトンアルデヒド、プロピオールアルデヒド等の脂肪族不飽和アルデヒド、ベンズアルデヒド、o−トルアルデヒオ、m−トルアルデヒド、p−トルアルデヒド、サリチルアルデヒド、シンナムアルデヒド、α−ナフトアルデヒド、β−ナフトアルデヒド等の芳香族アルデヒド、フルフラール等の複素環式アルデヒド等を例示できる。フェノール類は、フェノール、カテコール、ピロガロール、t−ブチルカテコール、レゾルシノール等を例示できる。ヒドラジン誘導体としては、N−アミノモルホリン、オキサロヒドラジド、4,4,−ジメチル−1−フェニル−3−ピラゾリジノン等を例示できる。ジイミド類は、例えば、アゾジカルボン酸塩、ヒドロキシルアミン−O−スルホン酸、N−アレンスルホニルヒドラジドまたはN − アシルスルホニルヒドラジドを熱分解することで得られる。N−アレンスルホニルヒドラジドまたはN − アシルスルホニルヒドラジドとしては、p−トルエンスルホニルヒドラジド、ベンゼンスルホニルヒドラジド、2,4,6−トリスイソプロピルベンゼンスルホニルヒドラジド、クロロアセチルヒドラジド、o−ニトロベンゼンスルホニルヒドラジド、m−ニトロベンゼンスルホニルヒドラジド、p−ニトロベンゼンスルホニルヒドラジド等を例示することができる。
As the reducing agent, an action that prevents oxidation of copper fine particles at room temperature, that is, a substance having an anti-oxidation action, an anti-oxidation action when heated in a step of sintering copper fine particles, and an action of reducing oxides in copper fine particles Either a substance exhibiting the above or a substance having both properties can be used. The form of the reducing agent can be either liquid or solid. Examples of the method of adding a liquid reducing agent to the powdery composition include a method in which the reducing agent is dropped into the powdery composition and stirred, and dried in a room or vacuum at a temperature lower than the boiling point of the reducing agent. . When dried at a temperature lower than the boiling point, the reducing agent is adsorbed on the surface of the copper fine particles. The reducing agent that can be used is not particularly limited, and may be an inorganic reducing agent or an organic reducing agent. Examples of the inorganic reducing agent include hydrogen compounds such as sodium borohydride and lithium borohydride, sulfur compounds such as sulfur dioxide, salts of lower oxides such as sulfites, hydrogen iodide, and carbon.
Examples of the organic reducing agent include polyhydric alcohols, saccharides, aldehydes, hydrazine and derivatives thereof, diimides, oxalic acid, phenols, and ascorbic acid. Examples of the polyhydric alcohol include ethylene glycol, diethylene glycol, 1,2-propanediol, 1,3-propanediol, 1,2-butanediol, 1,3-butanediol, 1,4-butanediol, and 2-butene-1. , 4-diol, 2,3-butanediol, pentanediol, hexanediol, octanediol, 1,1,1-trishydroxymethylethane, 2-ethyl-2-hydroxymethyl-1,3-propanediol, 1, Examples include 2,6-hexanetriol, 1,2,3-hexanetriol, 1,2,4-butanetriol, and the like. Sugar alcohols such as glycerol, threitol, erythritol, pentaerythritol, pentitol, hexitol can also be used, and pentitol includes xylitol, ribitol, and arabitol. Hexitol includes mannitol, sorbitol, dulcitol and the like. Sugars include glyceraldehyde, dioxyacetone, threose, erythrulose, erythrose, arabinose, ribose, ribulose, xylose, xylulose, lyxose, glucose, fructose, mannose, idose, sorbose, gulose, talose, tagatose, galactose, allose, alt Examples are loose, lactose, xylose and trehalose. Aldehydes include formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde, butyraldehyde, isobitylaldehyde, pareraldehyde, isovaleraldehyde, pivalinaldehyde, capronaldehyde, heptaldehyde, caprylaldehyde, peragonaldehyde, undecylaldehyde, laurinaldehyde , Aliphatic saturated aldehydes such as tridecyl aldehyde, myristic aldehyde, pentadecyl aldehyde, palmitic aldehyde, margarine aldehyde, stearaldehyde, aliphatic dialdehydes such as glyoxal, succinaldehyde, acrolein, crotonaldehyde, propiol aldehyde, etc. Aliphatic unsaturated aldehyde, benzaldehyde, o-tolualdehyde, m-tolualdehyde, p-to Aldehyde, salicylaldehyde, cinnamaldehyde, alpha-naphthaldehyde can be exemplified β- naphthaldehyde aromatic aldehydes such as, a heterocyclic aldehyde such as furfural and the like. Examples of phenols include phenol, catechol, pyrogallol, t-butylcatechol, resorcinol and the like. Examples of hydrazine derivatives include N-aminomorpholine, oxalohydrazide, 4,4, -dimethyl-1-phenyl-3-pyrazolidinone and the like. Diimides can be obtained, for example, by thermally decomposing azodicarboxylate, hydroxylamine-O-sulfonic acid, N-arenesulfonyl hydrazide or N-acylsulfonyl hydrazide. Examples of N-arenesulfonyl hydrazide or N-acylsulfonyl hydrazide include p-toluenesulfonyl hydrazide, benzenesulfonyl hydrazide, 2,4,6-trisisopropylbenzenesulfonyl hydrazide, chloroacetyl hydrazide, o-nitrobenzenesulfonyl hydrazide, m-nitrobenzenesulfonyl Examples thereof include hydrazide and p-nitrobenzenesulfonyl hydrazide.

前記その他添加剤としては、金属塩化合物が例示できる。金属塩化合物は還元されると金属が析出するので、析出した金属が焼結銅微粒子間をつなぐ役割をしてより緻密な焼結が出来る可能性がある。具体的には、ギ酸銅、酢酸銅、トリフルオロ酢酸銅、硝酸銅、銅メトキシド、ネオデカン酸銅、銅ケトイミン、2−エチルヘキサン酸銅、チオ硫酸銅、ペンタフルオロプロピオン酸銅、オクタン酸銅等が挙げられる。   Examples of the other additives include metal salt compounds. Since the metal precipitates when the metal salt compound is reduced, the precipitated metal may serve to connect the sintered copper fine particles, and may be able to be sintered more densely. Specifically, copper formate, copper acetate, copper trifluoroacetate, copper nitrate, copper methoxide, copper neodecanoate, copper ketimine, copper 2-ethylhexanoate, copper thiosulfate, copper pentafluoropropionate, copper octoate, etc. Is mentioned.

ペースト状の場合は、組成物には必要に応じて、前述したバインダー、還元剤、その他添加剤および後述する分散媒を含有してもよい。   In the case of a paste, the composition may contain the above-described binder, reducing agent, other additives, and a dispersion medium described later, if necessary.

銅ナノ粒子の重量は、塗膜の総重量に対して3重量%以上95重量%以下であり、好ましくは10重量%以上90重量%以下である。3重量%未満の場合には、1回の焼成によって得られる銅焼結体の量が少なくなり、導電性の薄膜として機能することが困難になる。また、95重量% を超えると、塗膜がペースト状にならず粉状になってしまい、基材への塗布が困難になる。   The weight of the copper nanoparticles is 3% to 95% by weight, preferably 10% to 90% by weight, based on the total weight of the coating film. When it is less than 3% by weight, the amount of the copper sintered body obtained by one firing is reduced, and it becomes difficult to function as a conductive thin film. On the other hand, if it exceeds 95% by weight, the coating film does not become a paste but becomes a powder, making application to a substrate difficult.

基材上に塗布する組成物には、基材上に形成する塗膜中で銅微粒子を分散させるために、
適量の液体が分散媒として含まれていることが好ましい。本発明において使用できる分散媒としては、有機溶媒及び/または水が挙げられる。分散媒として用いる有機溶媒の例としては、液体であるアルコール系溶媒、ケトン系溶媒、アミド系溶媒、エステル系溶媒およびエーテル系溶媒を例示できる。また、上記の還元性物質が液体である場合には、これを分散媒として兼ねて使用してもよい。
In order to disperse the copper fine particles in the coating film formed on the base material,
It is preferable that an appropriate amount of liquid is contained as a dispersion medium. Examples of the dispersion medium that can be used in the present invention include an organic solvent and / or water. Examples of the organic solvent used as the dispersion medium include liquid alcohol solvents, ketone solvents, amide solvents, ester solvents, and ether solvents. Further, when the reducing substance is a liquid, it may be used as a dispersion medium.

分散媒として用いるアルコール系溶媒としては、メタノール、エタノール、n−プロパノール、イソプロパノール、n−ブタノール、イソブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール、n−ペンタノール、イソペンタノール、2−メチルブタノール、sec−ペンタノール、t−ペンタノール、3−メトキシブタノール、n−ヘキサノール、2−メチルペンタノール、sec−ヘキサノール、2−エチルブタノール、sec−ヘプタノール、3−ヘプタノール、n−オクタノール、2−エチルヘキサノール、sec−オクタノール、n−ノニルアルコール、2,6−ジメチル−4−ヘプタノール、n−デカノールなどのモノアルコール系溶媒、エチレングリコール、1,2−プロピレングリコール、1,3−ブチレングリコール、1,2−ペンタンジオール、2−メチルペンタン−2,4−ジオール、2,5−ヘキサンジオール、2,4−ヘプタンジオール、2−エチルヘキサン−1,3−ジオール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、1,2−ヘキサンジオール、1,2−オクタンジオール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコール、グリセロールなどの多価アルコール系溶媒、およびエチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールモノヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノプロピルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノプロピルエーテルなどの多価アルコール部分エーテル系溶媒などを挙げることができる。これらのアルコール系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。   Alcohol solvents used as a dispersion medium include methanol, ethanol, n-propanol, isopropanol, n-butanol, isobutanol, sec-butanol, t-butanol, n-pentanol, isopentanol, 2-methylbutanol, sec -Pentanol, t-pentanol, 3-methoxybutanol, n-hexanol, 2-methylpentanol, sec-hexanol, 2-ethylbutanol, sec-heptanol, 3-heptanol, n-octanol, 2-ethylhexanol, monoalcohol solvents such as sec-octanol, n-nonyl alcohol, 2,6-dimethyl-4-heptanol, n-decanol, ethylene glycol, 1,2-propylene glycol, 1,3-butylene glycol, 1, -Pentanediol, 2-methylpentane-2,4-diol, 2,5-hexanediol, 2,4-heptanediol, 2-ethylhexane-1,3-diol, diethylene glycol, dipropylene glycol, 1,2- Polyhydric alcohol solvents such as hexanediol, 1,2-octanediol, triethylene glycol, tripropylene glycol, glycerol, and ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monopropyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, Ethylene glycol monohexyl ether, ethylene glycol monophenyl ether, ethylene glycol mono-2-ethylbutyl ether, diethylene glycol monomethyl ether Diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monopropyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monohexyl ether, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, propylene glycol monopropyl ether, propylene glycol monobutyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol Examples thereof include polyhydric alcohol partial ether solvents such as monoethyl ether and dipropylene glycol monopropyl ether. These alcohol solvents may be used alone or in combination of two or more.

分散媒として用いるケトン系溶媒としては、アセトン、メチルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチルイソブチルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジイソブチルケトン、シクロヘキサノン、2−ヘキサノン、2−メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、アセトフェノンなどのほか、アセチルアセトン、2,4−ヘキサンジオン、2,4−ヘプタンジオン、3,5−ヘプタンジオン、2,4−オクタンジオン、3,5−オクタンジオン、2,4−ノナンジオン、3,5−ノナンジオン、5−メチル−2,4−ヘキサンジオン、2,2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオン、1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロ−2,4−ヘプタンジオンなどのβ−ジケトン類などが挙げられる。   Examples of the ketone solvent used as the dispersion medium include acetone, methyl ethyl ketone, methyl-n-propyl ketone, methyl-n-butyl ketone, diethyl ketone, methyl isobutyl ketone, methyl-n-pentyl ketone, ethyl-n-butyl ketone, and methyl-n. -Hexyl ketone, diisobutyl ketone, cyclohexanone, 2-hexanone, 2-methylcyclohexanone, 2,4-pentanedione, acetonylacetone, acetophenone, acetylacetone, 2,4-hexanedione, 2,4-heptanedione, 3,5-heptanedione, 2,4-octanedione, 3,5-octanedione, 2,4-nonanedione, 3,5-nonanedione, 5-methyl-2,4-hexanedione, 2,2,6, 6-tetramethyl-3,5-heptanedio , Like β- diketones such as 1,1,1,5,5,5-hexafluoro-2,4-heptanedione.

分散媒として用いるアミド系溶媒としては、ホルムアミド、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−エチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−エチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N−メチルプロピオンアミド、N−メチルピロリドン、N−ホルミルモルホリン、N−ホルミルピペリジン、N−ホルミルピロリジン、N−アセチルモルホリン、N−アセチルピペリジン、N−アセチルピロリジンなどが挙げられる。エステル系溶媒としては、ジエチルカーボネート、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、炭酸ジエチル、酢酸メチル、酢酸エチル、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、酢酸n−プロピル、酢酸イソプロピル、酢酸n−ブチル、酢酸イソブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸n−ペンチル、酢酸sec−ペンチル、酢酸3−メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2−エチルブチル、酢酸2−エチルヘキシル、酢酸ベンジル、酢酸シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸イソアミル、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ−n−ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−ブチルなどが挙げられる。これらエステル系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。   Examples of the amide solvent used as a dispersion medium include formamide, N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N-ethylformamide, N, N-diethylformamide, acetamide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N-ethylacetamide, N, N-diethylacetamide, N-methylpropionamide, N-methylpyrrolidone, N-formylmorpholine, N-formylpiperidine, N-formylpyrrolidine, N-acetylmorpholine, N-acetylpiperidine, N- Examples include acetylpyrrolidine. As ester solvents, diethyl carbonate, ethylene carbonate, propylene carbonate, diethyl carbonate, methyl acetate, ethyl acetate, γ-butyrolactone, γ-valerolactone, n-propyl acetate, isopropyl acetate, n-butyl acetate, isobutyl acetate, acetic acid sec-butyl, n-pentyl acetate, sec-pentyl acetate, 3-methoxybutyl acetate, methylpentyl acetate, 2-ethylbutyl acetate, 2-ethylhexyl acetate, benzyl acetate, cyclohexyl acetate, methyl cyclohexyl acetate, ethyl propionate, propionic acid Examples include n-butyl, isoamyl propionate, diethyl oxalate, di-n-butyl oxalate, methyl lactate, ethyl lactate, and n-butyl lactate. These ester solvents may be used alone or in combination of two or more.

分散媒として用いるエーテル系溶媒としては、ジプロピルエーテル、ジイソプロピルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、テトラヒドロピラン、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールジプロピルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジプロピルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジプロピルエーテルなどが挙げられる。   Ether solvents used as dispersion media include dipropyl ether, diisopropyl ether, dioxane, tetrahydrofuran, tetrahydropyran, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol dipropyl ether, propylene glycol dimethyl ether, propylene glycol diethyl ether, propylene glycol Examples include dipropyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, and diethylene glycol dipropyl ether.

これらの分散媒は、単独で用いても、2種以上の分散媒を混合して用いても良い。   These dispersion media may be used alone or as a mixture of two or more dispersion media.

銅微粒子を焼結する上で、焼結後の膜状態の緻密性や印刷プロセスにおける取扱いを考慮すると、銅微粒子は組成物中または基材に塗布後の塗膜中に良好に分散していることが好ましい。良好に分散している状態とは、塗膜中の銅微粒子凝集体が少なく、塗膜内の銅微粒子の流動性が高い状態をいう。銅微粒子を組成物中に良好に分散させるには、分散剤を添加することにより化学的に分散状態を補助する方法と、物理的に分散させる方法、及びこれらを組み合わせる方法が挙げられる。   In sintering copper fine particles, considering the denseness of the film state after sintering and handling in the printing process, the copper fine particles are well dispersed in the composition or in the coating film after application to the substrate. It is preferable. The state of being well dispersed means a state in which the copper fine particle aggregates in the coating film are few and the fluidity of the copper fine particles in the coating film is high. In order to satisfactorily disperse the copper fine particles in the composition, there are a method of assisting the dispersion state chemically by adding a dispersant, a method of physically dispersing, and a method of combining them.

銅微粒子を分散させるのに適した分散剤としては、水酸基、アミノ基、カルボキシル基等の極性基を有する低分子化合物、オリゴマー、ポリマーを例示できる。極性基を有する低分子化合物としては、アルコール系化合物、アミン化合物、アミド化合物、アンモニウム化合物、燐系化合物等を例示できる。極性基を有するポリマーとしては、ポリビニルピロリドン、ポリビニルアルコール、ポリメチルビニルエーテル、ポリエチレングリコール等を例示できる。また、分散剤として界面活性剤を用いてもよい。界面活性剤としては、カチオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、非極性界面活性剤等を例示できる。極性基を有するポリマーとしては、ポリビニルピロリドン、ポリビニルアルコール、ポリメチルビニルエーテル、ポリエチレングリコール等を例示できる。   Examples of the dispersant suitable for dispersing the copper fine particles include low molecular compounds, oligomers, and polymers having a polar group such as a hydroxyl group, an amino group, and a carboxyl group. Examples of the low molecular weight compound having a polar group include alcohol compounds, amine compounds, amide compounds, ammonium compounds, and phosphorus compounds. Examples of the polymer having a polar group include polyvinyl pyrrolidone, polyvinyl alcohol, polymethyl vinyl ether, and polyethylene glycol. Further, a surfactant may be used as a dispersant. Examples of the surfactant include a cationic surfactant, an anionic surfactant, and a nonpolar surfactant. Examples of the polymer having a polar group include polyvinyl pyrrolidone, polyvinyl alcohol, polymethyl vinyl ether, and polyethylene glycol.

分散剤を用いて銅微粒子を分散させる方法としては、銅微粒子を合成する際に分散剤の存在下で合成して銅微粒子の表面に配位させる方法や、銅微粒子の分散処理を行う際に分散剤の存在下で行うことで銅微粒子の表面に配位させる方法などが考えられる。分散処理の手法については後述する。   As a method of dispersing copper fine particles using a dispersing agent, when synthesizing copper fine particles, a method of synthesizing in the presence of a dispersant and coordinating on the surface of the copper fine particles, or a time of dispersing copper fine particles A method of coordinating on the surface of the copper fine particles by performing in the presence of a dispersant may be considered. A distributed processing method will be described later.

本発明で用いる銅微粒子を含有する組成物またはこれを塗布した塗膜中には、銅微粒子以外の金属の粒子が含まれていても良い。具体的には金、銀、プラチナ、亜鉛、錫の粒子が挙げられる。金、銀、プラチナは、銅よりも酸化されにくく導電性も非常に高いので、組成物またはこれを塗布した塗膜中に一部混合していることで、より導電性の高い焼結体が得られる効果がある。また、亜鉛、錫は銅よりも融点が低いため、容易に融解して焼結を補助する効果が得られる。これら銅微粒子以外の金属の組成物中の含有率は、銅微粒子に対する割合が好ましくは20重量%以下、より好ましくは10重量%以下、さらに好ましくは5重量%以下である。   The composition containing the copper fine particles used in the present invention or the coating film coated with the composition may contain metal particles other than the copper fine particles. Specific examples include gold, silver, platinum, zinc, and tin particles. Gold, silver, and platinum are less oxidized and have a higher electrical conductivity than copper, so a partially conductive sintered body can be obtained by mixing it partially in the composition or the coating film on which it is applied. There is an effect to be obtained. In addition, since zinc and tin have a lower melting point than copper, an effect of easily melting and assisting in sintering can be obtained. The content of the metal other than the copper fine particles in the composition is preferably 20% by weight or less, more preferably 10% by weight or less, and still more preferably 5% by weight or less, with respect to the copper fine particles.

銅微粒子を含有する組成物(ペースト)の調製方法:
本発明で用いる組成物は、上記の銅微粒子、分散媒、必要に応じて分散剤、バインダー、還元性物質、その他の添加剤等の塗膜構成物を適切に混合することによりペーストとして形成することが好ましい(以下、ペースト状の該組成物を「ペースト」と記載することがある。)。各構成物が良好に混練されているペーストが好ましく、特に銅微粒子がペースト内で良好に分散され、凝集が少なく流動性の高い状態になっていることが好ましい。
Method for preparing composition (paste) containing copper fine particles:
The composition used in the present invention is formed as a paste by appropriately mixing the above-mentioned copper fine particles, a dispersion medium, and, if necessary, a coating composition such as a dispersant, a binder, a reducing substance, and other additives. It is preferable (hereinafter, the paste-like composition may be referred to as “paste”). A paste in which each component is well kneaded is preferable. In particular, it is preferable that the copper fine particles are well dispersed in the paste and are in a state of high agglomeration with little aggregation.

銅微粒子をペースト中に分散させる方法としては、粉体を液体に分散する公知の方法を用いることができる。例えば、超音波法、ミキサー法、3本ロール法、2本ロール法、プラネタリーミキサー、ニーダー、ホモジナイザー、ボールミル、サンドミル、ジェットミル、乳鉢による破砕等を挙げることができる。通常は、これらの分散手段の複数を組み合わせて分散を行う。これらの分散処理は室温で行ってもよく、溶媒の粘度を下げるために、加熱して行ってもよい。これらの手法の中でも、ペースト中の銅微粒子の凝集を再分散させるためには、3本ロール法、乳鉢による破砕が特に好ましい。   As a method of dispersing the copper fine particles in the paste, a known method of dispersing powder in a liquid can be used. Examples thereof include an ultrasonic method, a mixer method, a three-roll method, a two-roll method, a planetary mixer, a kneader, a homogenizer, a ball mill, a sand mill, a jet mill, and crushing with a mortar. Usually, dispersion is performed by combining a plurality of these dispersion means. These dispersion treatments may be performed at room temperature, or may be performed by heating in order to reduce the viscosity of the solvent. Among these methods, in order to redisperse the aggregation of the copper fine particles in the paste, the three-roll method and crushing with a mortar are particularly preferable.

これらの処理を、上記の分散剤の存在下で行うとさらに分散状態が良くなる事がある。   When these treatments are performed in the presence of the above-described dispersant, the dispersion state may be further improved.

基材:
本発明において用いられる基材は、基板状のもの又はフィルム状基材が好ましい。基板としては、無機物質を素材とする無機基板及び有機物質を素材とする有機基板のいずれも使用可能である。無機基板としては、シリコン・ゲルマニウム・SiCなどの半導体基板、ガラス基板、セラミック基板を用いることが出来る。有機基板としては、焼成過程において損傷を受けない素材からなる基板であればよく、ポリイミド基板、ポリエステル基板、エポキシ基板、アラミド基板、フッ素樹脂基板などの基板を使用可能である。具体的には、ポリイミド(カプトン)、ポリエーテルエーテルイミド(ウルテム)、ポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリカーボネート(PC)などが挙げられる。基材が多孔質状のものを用いることもできる。例えば、紙、グリーンシートなどである。また、製造過程においてロールトゥロールで処理することが可能であるフィルム状の基材も好ましく用いることができる。200℃以上の高温で処理する場合には耐熱性の高いカプトンフィルム、150℃以下の低温で処理する場合にはPETフィルムが、入手が容易であり品質も安定しており、好ましい。
Base material:
The substrate used in the present invention is preferably a substrate or a film substrate. As the substrate, either an inorganic substrate made of an inorganic substance or an organic substrate made of an organic substance can be used. As the inorganic substrate, a semiconductor substrate such as silicon, germanium, or SiC, a glass substrate, or a ceramic substrate can be used. The organic substrate may be a substrate made of a material that is not damaged during the baking process, and a substrate such as a polyimide substrate, a polyester substrate, an epoxy substrate, an aramid substrate, or a fluororesin substrate can be used. Specific examples include polyimide (Kapton), polyetheretherimide (Ultem), polyphenylene sulfide (PPS), polyethersulfone (PES), polyethylene terephthalate (PET), and polycarbonate (PC). A porous substrate can also be used. For example, paper, green sheet, and the like. Moreover, the film-form base material which can be processed with a roll toe roll in a manufacture process can also be used preferably. When processing at a high temperature of 200 ° C. or higher, a Kapton film having high heat resistance is preferable, and when processing at a low temperature of 150 ° C. or lower, a PET film is preferable because it is easily available and the quality is stable.

組成物を基材上に塗布して塗膜を形成する工程:
基材への銅微粒子を含有する組成物の塗布は、組成物が粉状の場合と、ペースト状の場合で異なる。
The process of applying a composition on a substrate to form a coating film:
The application of the composition containing copper fine particles to the substrate is different depending on whether the composition is powdery or paste-like.

粉状の場合は、粉状物を基材に塗布する公知の方法を用いることができ、例えば粉の帯電性を利用した電子写真印刷法などが挙げられる。   In the case of powder, a known method of applying a powder to a substrate can be used, and examples thereof include an electrophotographic printing method using the chargeability of powder.

ペースト状の場合は、ペースト状物を基材に塗布する場合に用いられる公知の方法を用いることができ、例えばコーティング法、印刷法を適用することができる。コーティング法としては、例えばバーコート法、ディップコーティング方法、スプレー塗布方法、スピンコーティング方法などが挙げられる。印刷方法としては、スクリーン印刷、グラビア印刷、フレキソ印刷、オフセット印刷、マイクロコンタクトプリント法、インクジェット法などが挙げられる。また、ペースト状のものを基板に塗布した場合は、後の加熱プレス前にペースト内の液体成分を乾燥させておくことが好ましい。加熱プレス時は外気を遮断するため気密状態を形成させる。そのため塗布物に液体成分が多く含まれると、液体から気体へ大幅な体積変化が起こり、爆発を起こす危険がある。乾燥温度は、30℃以上200℃以下、好ましくは50℃以上120℃以下である。乾燥中、銅微粒子の酸化が進行させないためである。   In the case of a paste, a known method used when applying a paste to a substrate can be used, and for example, a coating method or a printing method can be applied. Examples of the coating method include a bar coating method, a dip coating method, a spray coating method, and a spin coating method. Examples of the printing method include screen printing, gravure printing, flexographic printing, offset printing, microcontact printing method, and inkjet method. Moreover, when the paste-like thing is apply | coated to the board | substrate, it is preferable to dry the liquid component in a paste before a subsequent heat press. An airtight state is formed at the time of hot pressing in order to block outside air. For this reason, if the coating contains a large amount of liquid components, a large volume change from liquid to gas occurs and there is a risk of explosion. The drying temperature is 30 ° C. or higher and 200 ° C. or lower, preferably 50 ° C. or higher and 120 ° C. or lower. This is because the copper fine particles are not oxidized during drying.

形状追随性を有する遮蔽物:
本発明は、形状追随性を有する遮蔽物を、銅微粒子と還元剤を含有する組成物の上方に配置して、プレス時に該組成物と外気中の酸素接触を遮断し、塗膜を加熱して銅微粒子を焼結する工程を含む。遮蔽物を配置した状態で組成物を加熱することで、特に外気中の酸素との反応を防ぎながら銅微粒子を焼結させて銅膜を得ることができる。ここで形状追随性とは、図1に示すように、例えば、遮蔽物を銅粒子膜が塗布された基材などの不定形な表面形状に沿わせて覆い、圧力を印加した際に、遮蔽物が塑性変形して対象物の形状に追随する性質をいい、形状に沿わせる力を解放した後もその形状を保持しうる性質をいう。具体的には、柔軟性に富む材料からなる遮蔽物を用いることで達成することができる。
Shield with shape following:
In the present invention, a shielding object having a shape following property is disposed above a composition containing copper fine particles and a reducing agent to block oxygen contact in the outside air with the composition during pressing, and heat the coating film. And a step of sintering the copper fine particles. By heating the composition in a state in which the shield is disposed, it is possible to obtain a copper film by sintering the copper fine particles while preventing reaction with oxygen in the outside air. As shown in FIG. 1, the shape following property refers to, for example, covering a shielding object along an irregular surface shape such as a base material coated with a copper particle film, and shielding when applying pressure. It means the property that an object plastically deforms and follows the shape of the object, and the property that the shape can be maintained even after releasing the force that follows the shape. Specifically, it can be achieved by using a shield made of a material having a high flexibility.

形状追随性を有する遮蔽物としては、金属製、セラミックス製、樹脂製等、塗膜の加熱温度より低い温度で融解や変性などを起こさないものであれば特に限定されない。但し形状追随性の観点から金属製のものは例えば、アルミ箔、セラミックス製のものは例えばグリーンシートのような、箔状のものに限定される。樹脂製の場合、遮蔽物の形態は特に限定されない。遮蔽物の素材としては、熱可塑性樹脂、フッ素系樹脂、シリコーン系樹脂が好ましい。熱可塑性樹脂としては、ポリエチレンテレフタレート(PET)などのポリエステル、ポリスチレン(PS)、アクリル樹脂(PMMA)、ポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリアミド(PA)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリカーボネート(PC)、熱可塑性ポリイミド(PI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリエーテルイミド(PEI)樹脂、ABS樹脂が好ましい。   The shielding object having shape following property is not particularly limited as long as it does not cause melting or modification at a temperature lower than the heating temperature of the coating film, such as metal, ceramics, or resin. However, from the viewpoint of shape followability, a metal one is limited to a foil-like one such as an aluminum foil and a ceramic one such as a green sheet. In the case of resin, the form of the shielding object is not particularly limited. As the material for the shield, a thermoplastic resin, a fluorine resin, and a silicone resin are preferable. Thermoplastic resins include polyesters such as polyethylene terephthalate (PET), polystyrene (PS), acrylic resin (PMMA), polyphenylene sulfide (PPS), polyamide (PA), polyethersulfone (PES), polycarbonate (PC), heat Plastic polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), polyetherimide (PEI) resin, and ABS resin are preferable.

また遮蔽物は、プレス後に銅膜と剥離が必須とは限らない。プレス処理後に銅膜が上部の樹脂にラミネートされ封止された形態も好適である。この場合は、フィルム状のポリエステル、ポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリカーボネート(PC)、ポリイミド(PI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリエーテルイミド(PEI)樹脂が好ましい。さらに好ましくは、ポリエステル、なかでもポリエチレンテレフタレート(PET)が最適である。
プレス後に銅膜を露出する場合は、融解温度が高い熱可塑性樹脂、フッ素系樹脂、剥離性が良いように表面処理を施したシリコーン系樹脂が好ましい。融解温度が高い熱可塑性樹脂としては、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリアミド(PA)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリカーボネート(PC)、熱可塑性ポリイミド(PI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリエーテルイミド(PEI)樹脂、ポリアミドイミド(PAI)樹脂がある。さらに好ましくは、フッ素系樹脂である。融解温度が比較的高い上に化学的変性に強いため、遮蔽物として優れているからである。
形状追随性の点から、曲げ強度が10−6GPa・mm以上10GPa・mm以下が好ましい。さらに好ましくは10−5GPa・mm以上5GPa・mm以下が好ましい。ここで曲げ強度とは遮蔽物材料のヤング率をA(GPa)、遮蔽物の厚みをBmmとすると、A×B(GPa・mm)として表すことができる。
例えば、アルミ箔のヤング率が約65GPa、厚みが0.25mmとしたとき、曲げ強度は約4GPa・mmになる。遮蔽物の曲げ強度が大きすぎると同じ圧力下の条件では形状追随性が悪くなる。また加熱面から銅膜への伝熱に時間がかかり、結果として焼結時間の短縮化が望めなくなる。遮蔽物の曲げ強度が小さすぎるとフィルムは破裂してしまうため、一定の厚みが必要である。
Further, the shield is not necessarily required to be peeled off from the copper film after pressing. A form in which the copper film is laminated on the upper resin and sealed after the press treatment is also suitable. In this case, film-like polyester, polyphenylene sulfide (PPS), polyethersulfone (PES), polycarbonate (PC), polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), and polyetherimide (PEI) resin are preferable. More preferred is polyester, especially polyethylene terephthalate (PET).
When the copper film is exposed after pressing, a thermoplastic resin having a high melting temperature, a fluorine resin, or a silicone resin that has been surface-treated so as to have good peelability is preferable. As thermoplastic resins having a high melting temperature, polyethylene terephthalate (PET), polyphenylene sulfide (PPS), polyamide (PA), polyethersulfone (PES), polycarbonate (PC), thermoplastic polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), polyetherimide (PEI) resin, and polyamideimide (PAI) resin. More preferred is a fluororesin. This is because it has a relatively high melting temperature and is resistant to chemical modification, and is therefore excellent as a shielding material.
The bending strength is preferably 10 −6 GPa · mm 2 or more and 10 GPa · mm 2 or less from the viewpoint of shape followability. More preferably, it is 10 −5 GPa · mm 2 or more and 5 GPa · mm 2 or less. Here, the bending strength can be expressed as A × B 2 (GPa · mm 2 ) where the Young's modulus of the shielding material is A (GPa) and the thickness of the shielding material is B mm.
For example, when the Young's modulus of the aluminum foil is about 65 GPa and the thickness is 0.25 mm, the bending strength is about 4 GPa · mm 2 . If the bending strength of the shield is too high, the shape following property is deteriorated under the same pressure condition. In addition, it takes time to transfer heat from the heating surface to the copper film, and as a result, shortening of the sintering time cannot be expected. If the bending strength of the shield is too small, the film will burst, so a certain thickness is required.

またプレス時は遮蔽物が銅膜及び基材と隙間無く密着している状態が好ましいが、銅膜縁周辺に微量の酸素が残っていてもよい。微量の酸素であれば粒子表面の酸化膜は焼結を阻害するには至らない。   In addition, it is preferable that the shield is in close contact with the copper film and the base material at the time of pressing, but a trace amount of oxygen may remain around the edge of the copper film. If it is a very small amount of oxygen, the oxide film on the particle surface will not inhibit the sintering.

本発明の製造方法によれば、遮蔽物を用いることにより外気と組成物との接触が遮断されるので、外気(外部雰囲気)の条件は特に制限されず、これを制御する必要はない。従って、プレス機周辺の環境を、酸素を含まない窒素雰囲気下にするための大型設備等を必要とせず、設備コストの大幅カットが期待できる。 また、遮蔽物と塗膜が接触することで、気体や蒸気による加熱に比べて伝熱速度が極めて高く、短時間の焼成で銅微粒子を焼結することが可能になる。   According to the production method of the present invention, since the contact between the outside air and the composition is blocked by using the shielding object, the condition of the outside air (outside atmosphere) is not particularly limited, and it is not necessary to control this. Therefore, a large-scale facility or the like for bringing the environment around the press machine into a nitrogen atmosphere not containing oxygen is not necessary, and a significant cut in facility cost can be expected. In addition, the contact between the shield and the coating film has an extremely high heat transfer rate as compared with heating by gas or steam, and it becomes possible to sinter the copper fine particles by firing in a short time.

塗膜の加熱プレス工程:
本発明において、塗膜の加熱プレスは、組成物を安定に加熱プレスして銅微粒子を焼結することが出来れば特に制限されない。加熱とプレスの工程は必ずしも同時である必要はない。加熱工程直前直後にプレス処理する別々の工程であっても良いし、あるいは予め加熱した膜を加熱しながらプレス処理するものであっても良い。工程処理前と比べて膜の断面を比較すると処理前の膜中の粒子(図2)が粗大化したり(図3)、緻密化する(図4)ことによって導電性膜を得ることができる。
Heat press process of coating film:
In the present invention, the heating press of the coating film is not particularly limited as long as the composition can be stably heated and pressed to sinter the copper fine particles. The heating and pressing steps are not necessarily simultaneous. It may be a separate process in which pressing is performed immediately before or after the heating process, or may be a process in which a preheated film is pressed while being heated. When the cross section of the film is compared with that before the process treatment, the conductive film can be obtained by coarsening (FIG. 3) or densifying (FIG. 4) the particles (FIG. 2) in the film before the treatment.

プレス方法としては、静水圧を用いたプレス方法、ロールプレスが挙げられる。また、超音波プレスなど他のエネルギーを伴ったプレス方法によっても良い。加熱プレス方法は、これらのプレス方法に加熱機構が伴ったものである。好ましい加熱温度は、50℃以上300℃以下、より好ましくは100℃以上250℃以下、さらに好ましくは130℃以上200℃以下である。加熱温度が高すぎると銅微粒子が酸化しやすくなり、特にポリマー製基材を用いる場合には基材の耐熱性に問題が出てくる可能性がある。加熱温度が低すぎると銅微粒子の表面不安定性に起因する焼結現象を起こすに至らない、または数時間以上を要する。好ましいプレス圧力は0.1〜1000MPa、さらに好ましくは1〜100MPaである。圧力が高すぎると基材に硬度変化など変性が起き、低すぎると銅微粒子の接触面積増大に起因する焼結現象を起こすに至らない。また、好ましいプレス時間は1〜10分であり、より好ましくは2〜5分である。プレス時間が短すぎると焼結が十分でなく、プレス時間が長すぎると生産速度が低下して高コストとなるため好ましくない。加熱プレス条件の具体例としては、例えば処理対象が銅微粒子を塗布して乾燥した膜の場合、50〜100MPa/150℃〜250℃/2〜10分、25MPa/150〜250℃/10分などが挙げられ、処理対象が銅微粒子を塗布し還元処理した膜の場合、2.5〜7.5MPa/150℃〜250℃/5〜10分などが挙げられる。   Examples of the pressing method include a pressing method using a hydrostatic pressure and a roll press. Further, a pressing method with other energy such as an ultrasonic press may be used. The heating press method is one in which a heating mechanism is associated with these pressing methods. A preferable heating temperature is 50 ° C. or higher and 300 ° C. or lower, more preferably 100 ° C. or higher and 250 ° C. or lower, and further preferably 130 ° C. or higher and 200 ° C. or lower. If the heating temperature is too high, the copper fine particles are likely to be oxidized, and particularly when a polymer base material is used, there may be a problem in the heat resistance of the base material. If the heating temperature is too low, the sintering phenomenon due to the surface instability of the copper fine particles will not occur, or several hours or more will be required. A preferable pressing pressure is 0.1 to 1000 MPa, and more preferably 1 to 100 MPa. If the pressure is too high, the base material undergoes modification such as hardness change, and if it is too low, the sintering phenomenon due to the increased contact area of the copper fine particles does not occur. Moreover, preferable press time is 1 to 10 minutes, More preferably, it is 2 to 5 minutes. If the pressing time is too short, the sintering is not sufficient, and if the pressing time is too long, the production speed is lowered and the cost is increased. Specific examples of the heating press conditions include, for example, when the treatment target is a film coated with copper fine particles and dried, 50 to 100 MPa / 150 ° C. to 250 ° C./2 to 10 minutes, 25 MPa / 150 to 250 ° C./10 minutes, etc. In the case where the treatment target is a film obtained by applying copper fine particles and performing a reduction treatment, 2.5 to 7.5 MPa / 150 ° C. to 250 ° C./5 to 10 minutes may be used.

また、プレスを伴わない加熱方法としては、オーブン、ホットプレート、加熱炉等を用いて加熱する方法が挙げられる。また、レーザーなどの電磁波による加熱や、プラズマなどの活性化された気体を用いた加熱方法などによっても良い。   Moreover, as a heating method not accompanied by a press, a method of heating using an oven, a hot plate, a heating furnace, or the like can be given. Further, heating by an electromagnetic wave such as a laser or a heating method using an activated gas such as plasma may be used.

本発明の製造方法によれば、プレス処理によって、酸化膜の破壊が起きるので、銅の清浄面が露出し銅微粒子の焼結反応が起きる。また、塗膜内の銅微粒子が接触する面積も増大するため焼結反応速度が速くなり、また電流が通過する面積も増大する。以上から、実施例に示す通り、従来と比べて高速の焼結反応が可能である。実施例では面圧がかかる静水圧型ホットプレスを使用したが、ロールプレス法などの線圧がかかり処理圧力を局所的に増大可能な装置によればさらに短時間化の可能性が期待できる。   According to the manufacturing method of the present invention, the oxide film is destroyed by the press treatment, so that the clean surface of the copper is exposed and the copper fine particles are sintered. Moreover, since the area which the copper fine particle in a coating film contacts also increases, a sintering reaction rate becomes quick and the area which an electric current passes also increases. From the above, as shown in the examples, a higher-speed sintering reaction is possible compared to the conventional case. In the examples, the hydrostatic pressure hot press where the surface pressure is applied was used. However, a device capable of locally increasing the processing pressure by applying a linear pressure such as a roll press method can be expected to further shorten the time.

以下、本発明を実施例により、具体的に説明するが、本発明はこれらの例によって何ら限定される物ではない。 EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

(1)焼結体の構造
焼結体の構造は、日立ハイテクノロジー社製走査電子顕微鏡装置(S−4800)により10kV、20.0k倍の倍率で観察した。
(1) Structure of sintered body The structure of the sintered body was observed at a magnification of 10 kV and 20.0 k with a scanning electron microscope apparatus (S-4800) manufactured by Hitachi High-Technology Corporation.

(2)銅薄膜の抵抗率
銅薄膜の抵抗率は株式会社ダイアインスツルメンツ製ロレスターGPを用いて4端子4探針法により測定した。検出限界値は1.0×10Ω・cmである。
(2) Resistivity of copper thin film The resistivity of the copper thin film was measured by a 4-terminal 4-probe method using Lorester GP manufactured by Dia Instruments Co., Ltd. The detection limit value is 1.0 × 10 8 Ω · cm.

(3)銅膜の加熱プレス処理・加熱温度
銅膜の加熱プレス処理は、テスター産業株式会社製高精度ホットプレスSA401を用いて行った。加熱温度についてはホットプレス据え付けの測定温度表示を参照した。銅膜部の温度をK型熱電対を接触させて測定したところ、ホットプレス据え付けの温度と5℃未満の温度差となるまでの昇温に55秒から65秒程度の時間を要した。
(3) Copper film heat press treatment / heating temperature The copper film heat press treatment was performed using a high-precision hot press SA401 manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd. For the heating temperature, reference was made to the measured temperature display for hot press installation. When the temperature of the copper film part was measured by contacting a K-type thermocouple, it took about 55 to 65 seconds to raise the temperature until the temperature difference was less than 5 ° C. from the temperature of hot press installation.

(4)圧力、圧力分布の均一性
なお、圧力の値、圧力分布の均一性については富士フイルム社製圧力測定フィルムLW/MSタイプを用いて確認した。
(4) Uniformity of pressure and pressure distribution The pressure value and the uniformity of pressure distribution were confirmed using a pressure measurement film LW / MS type manufactured by Fujifilm.

(5)遮蔽物の厚み・ヤング(弾性)率
遮蔽物の厚みについては、ミツトヨ製アップライトゲージ(7−547シリーズ)を用いて測定した。また無作為に抽出した10個の試料については断面を走査電子顕微鏡(日立ハイテクノロジー製 S−4800)で観察した結果から値を確認した。ヤング(弾性)率については、ASTM D882−64Tに基づき求めた。
(5) Thickness / Young (elastic) modulus of shielding object The thickness of the shielding object was measured using an upright gauge (7-547 series) manufactured by Mitutoyo Corporation. Moreover, about 10 samples extracted at random, the value was confirmed from the result of having observed the cross section with the scanning electron microscope (Hitachi High Technology S-4800). The Young (elasticity) modulus was determined based on ASTM D882-64T.

(6)粒子の平均粒子径の測定法
走査電子顕微鏡(日立ハイテクノロジー製 S−4800)観察できる範囲の粒子の内、任意の100個の粒子の選び出し、それらの粒子径を粒子の個数で平均することにより求めた。
(6) Measuring method of average particle size of particles 100 particles out of the range that can be observed by scanning electron microscope (S-4800, manufactured by Hitachi High-Technology), and averaging the particle size by the number of particles Was determined by

(7)測定回数、サンプリング方法
測定回数は各条件において、各3回行い、その平均値を測定値とした。
(7) Number of measurements and sampling method The number of measurements was three times under each condition, and the average value was taken as the measured value.

[実施例1]圧力変化
N−メチル−2−ピロリドン(以下、NMPという)にポリビニルピロリドン(Mw=10000)を30重量%溶解させた(以下、PVP30%NMP溶液という)。銅ナノ粒子(Aldrich社製 粒子径:50nm)2.0g、PVP30%NMP溶液0.5gを、攪拌機(シンキー社製 ARV−100)を用いて3分間攪拌した後、三本ロール(エグザクト・テクノロジーズ社製 M−50)を用いて混練してペースト化した。このペーストをバーコーター(No.5)を用いて3cm角のカプトンフィルム(東レデュポン製 500V)に塗布し、フィルム上に銅微粒子ペースト膜を形成した。この銅微粒子膜がついたフィルムを真空オーブン内で70℃に加熱しながら2時間乾燥させた。(以下、銅NMP乾燥膜という)この時の膜の抵抗率は、1.0×10Ω・cm以上であった。
[Example 1] Pressure change
30% by weight of polyvinylpyrrolidone (Mw = 10000) was dissolved in N-methyl-2-pyrrolidone (hereinafter referred to as NMP) (hereinafter referred to as PVP 30% NMP solution). After stirring 2.0 g of copper nanoparticles (Aldrich particle size: 50 nm) and 0.5 g of PVP 30% NMP solution for 3 minutes using a stirrer (ARV-100, manufactured by Sinky), three rolls (Exact Technologies) K-50 was used to make a paste. This paste was applied to a 3 cm square Kapton film (500V manufactured by Toray DuPont) using a bar coater (No. 5) to form a copper fine particle paste film on the film. The film with the copper fine particle film was dried for 2 hours while heating to 70 ° C. in a vacuum oven. At this time, the resistivity of the film was 1.0 × 10 7 Ω · cm or more.

銅NMP乾燥膜がついたフィルムを上下から「テフロン」(登録商標)ゴムシート(厚さ1mm)で挟んで、200℃で上下から加熱しながら、かつ50、75、100MPaの圧力下で、それぞれ2分間プレス処理を行った。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。 A film with a copper NMP dry film was sandwiched between “Teflon” (registered trademark) rubber sheets (thickness 1 mm) from above and below, heated from above and below at 200 ° C., and under pressures of 50, 75, and 100 MPa, respectively. Press processing was performed for 2 minutes. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .

[実施例2]温度変化
実施例1と同等の乾燥膜を上下から「テフロン」(登録商標)ゴムシートで挟んで、150℃、200℃、250℃でそれぞれ上下から加熱しながら、かつ100MPaの圧力で2分間プレス処理を行った。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。
[実施例3]温度変化2
実施例1と同等の乾燥膜を上下から「テフロン」(登録商標)ゴムシートで挟んで、150℃、200℃、250℃でそれぞれ上下から加熱しながら、かつ25MPaの圧力で10分間プレス処理を行った。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。
[Example 2] Temperature change A dry film equivalent to Example 1 was sandwiched from above and below by a "Teflon" (registered trademark) rubber sheet, heated at 150 ° C, 200 ° C, and 250 ° C from above and below, and 100 MPa. Pressing was performed for 2 minutes under pressure. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .
[Example 3] Temperature change 2
A dry film equivalent to that in Example 1 is sandwiched between “Teflon” (registered trademark) rubber sheets from above and below, and heated at 150 ° C., 200 ° C., and 250 ° C. from above and below, and at a pressure of 25 MPa for 10 minutes. went. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .

[実施例4]時間変化
実施例1と同等の銅NMP乾燥膜を上下から「テフロン」(登録商標)ゴムシートで挟んで、250℃で上下から加熱しながら、かつ100MPaの圧力で1分、5分間プレス処理を行った。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。
[Example 4] Time change A copper NMP dry film equivalent to that in Example 1 was sandwiched between “Teflon” (registered trademark) rubber sheets from above and below, heated at 250 ° C. from above and below, and at a pressure of 100 MPa for 1 minute. Pressing was performed for 5 minutes. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .

[実施例5]溶媒変化
還元剤として知られているエチレングリコールにポリビニルピロリドン(Mw=10000)を30重量%溶解させた(以下、PVP30%エチレングリコール溶液という)。銅ナノ粒子(Aldrich社製 粒子径:50nm)2.0g、PVP30%エチレングリコール溶液0.5gを、攪拌機(シンキー社製 ARV−100)を用いて3分間攪拌した後、三本ロール(エグザクト・テクノロジーズ社製 M−50)を用いて混練してペースト化した。このペーストをバーコーター(No.5)を用いて3cm角のカプトンフィルムに塗布し、フィルム上に銅微粒子ペースト膜を形成した。この銅微粒子膜がついたフィルムを真空オーブン内で70℃に加熱しながら2時間乾燥させた。(以下、銅EG乾燥膜という)この時の膜の抵抗率は、検出限界以上であった。
[Example 5] Solvent change 30% by weight of polyvinylpyrrolidone (Mw = 10000) was dissolved in ethylene glycol known as a reducing agent (hereinafter referred to as PVP 30% ethylene glycol solution). After stirring 2.0 g of copper nanoparticles (Aldrich particle size: 50 nm) and 0.5 g of PVP 30% ethylene glycol solution for 3 minutes using a stirrer (ARV-100, manufactured by Sinky), three rolls (Exact. K-50 was used to make a paste. This paste was applied to a 3 cm square Kapton film using a bar coater (No. 5) to form a copper fine particle paste film on the film. The film with the copper fine particle film was dried for 2 hours while heating to 70 ° C. in a vacuum oven. The resistivity of the film at this time (hereinafter referred to as a copper EG dry film) was above the detection limit.

銅EG乾燥膜がついたフィルムを上下から「テフロン」(登録商標)ゴムシート(厚さ1mm)で挟んで、200℃で上下から加熱しながら、かつ50、75、100MPaの圧力下で、それぞれ2分間プレス処理を行った。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。 A film with a copper EG dry film is sandwiched from above and below by “Teflon” (registered trademark) rubber sheet (thickness 1 mm), heated at 200 ° C. from above and below, and under pressures of 50, 75, and 100 MPa, respectively. Press processing was performed for 2 minutes. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .

[実施例6]粒子のまま焼結
銅ナノ粒子(Aldrich社製 粒子径:50nm)をカプトンフィルム上に撒いてヘラを用いて粒子で出来た膜を押し当てて平坦化させたものを「テフロン」(登録商標)ゴムシート(厚さ1mm)で挟んで、200℃及び250℃で上下から加熱しながら100MPaの圧力で2分間加熱プレス処理を行った。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。
[Example 6] Sintering with particles Copper nanoparticles (Aldrich, particle size: 50 nm) were spread on a Kapton film and pressed with a film made of particles using a spatula to obtain a "Teflon" “(Registered trademark) rubber sheet (thickness: 1 mm) was sandwiched and heated at 200 ° C. and 250 ° C. from above and below for 2 minutes at a pressure of 100 MPa. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .

[実施例7]形状追随性の遮蔽物
銅NMP乾燥膜を覆う遮蔽物の材料をアルミホイル(厚み0.1mm、曲げ強度0.65GPa・mm)、「テフロン」(登録商標)(厚み0.2mm、曲げ強度0.02GPa・mm)、「テフロン」(登録商標)(厚み1mm、曲げ強度0.5GPa・mm)に変えて200℃の温度、100MPaの圧力で2分間加熱プレスした。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。
[Example 7] Shape follow-up shield The material of the shield covering the copper NMP dry film is aluminum foil (thickness 0.1 mm, bending strength 0.65 GPa · mm 2 ), “Teflon” (registered trademark) (thickness 0.2) mm, bending strength 0.02 GPa · mm 2 ), “Teflon” (registered trademark) (thickness 1 mm, bending strength 0.5 GPa · mm 2 ), and heated and pressed at 200 ° C. and 100 MPa for 2 minutes. The resistivity of the thin film is as follows.

[実施例8]導電膜の後処理1
還元剤として知られているエチレングリコールにエポキシ樹脂であるビスフェノールAジグリシジルエーテルを30重量%溶解させた(以下、エポキシ30%エチレングリコール溶液という)。銅ナノ粒子(Aldrich社製 粒子径:50nm)2.0g、エポキシ30%エチレングリコール溶液0.5gを、攪拌機(シンキー社製 ARV−100)を用いて3分間攪拌した後、三本ロール(エグザクト・テクノロジーズ社製 M−50)を用いて混練してペースト化した。次にエポキシ樹脂の硬化剤であるウンデシルイミダゾールを0.01g入れて攪拌機を用いて1分間撹拌した。このペーストをバーコーター(No.5)を用いて3cm角のカプトンフィルムに塗布し、フィルム上に銅微粒子ペースト膜を形成した。このペースト膜をエチレングリコールの蒸気下、200℃で還元焼成したところ、1.0×10−3Ω・cmであった(以下、銅還元処理膜)。銅還元処理膜に「テフロン」(登録商標)ゴムシート(厚さ1mm)で挟んで、150℃で加熱しながら2.5、5.0、7.5MPaの圧力を5分間加えた。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。
[Example 8] Post-treatment 1 of conductive film
30% by weight of bisphenol A diglycidyl ether, which is an epoxy resin, was dissolved in ethylene glycol known as a reducing agent (hereinafter referred to as an epoxy 30% ethylene glycol solution). After stirring 2.0 g of copper nanoparticles (Aldrich particle size: 50 nm) and 0.5 g of an epoxy 30% ethylene glycol solution for 3 minutes using a stirrer (ARV-100, manufactured by Sinky), three rolls (Exact) -It knead | mixed using Technologies, Inc. M-50), and was made into the paste. Next, 0.01 g of undecylimidazole, which is a curing agent for the epoxy resin, was added and stirred for 1 minute using a stirrer. This paste was applied to a 3 cm square Kapton film using a bar coater (No. 5) to form a copper fine particle paste film on the film. When this paste film was reduced and fired at 200 ° C. under the vapor of ethylene glycol, it was 1.0 × 10 −3 Ω · cm (hereinafter referred to as a copper reduction treatment film). A Teflon (registered trademark) rubber sheet (thickness: 1 mm) was sandwiched between the copper reduction treatment films and pressures of 2.5, 5.0 and 7.5 MPa were applied for 5 minutes while heating at 150 ° C. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .

[実施例9]導電膜の後処理2
銅還元処理膜を「テフロン」(登録商標)ゴムシート(厚さ1mm)で挟んで、200℃で加熱しながら2.5、5.0、7.5MPaの圧力を5分間加えた。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。
[Example 9] Post-treatment 2 of conductive film
The copper reduction treatment film was sandwiched between “Teflon” (registered trademark) rubber sheets (thickness 1 mm), and pressures of 2.5, 5.0 and 7.5 MPa were applied for 5 minutes while heating at 200 ° C. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .

[実施例10]導電膜の後処理3
銅還元処理膜を「テフロン」(登録商標)ゴムシート(厚さ1mm)で挟んで、250℃で加熱しながら2.5、5.0、7.5MPaの圧力を加えた。薄膜の抵抗率は、下記の通りである。この時の遮蔽物の曲げ強度は、0.5GPa・mmであった。
[Example 10] Post-treatment 3 of conductive film
The copper reduction-treated film was sandwiched between “Teflon” (registered trademark) rubber sheets (thickness 1 mm), and pressures of 2.5, 5.0, and 7.5 MPa were applied while heating at 250 ° C. The resistivity of the thin film is as follows. The bending strength of the shield at this time was 0.5 GPa · mm 2 .

[比較例1]
実施例1と同等の銅NMP乾燥膜を上下から厚さ1cmのSUS304の鉄板(曲げ強度20000GPa・mm)に挟んで、250℃で上下から加熱しながら、かつ75MPaおよび100MPaの圧力で2分間プレス処理を行った。この時の膜の抵抗率は、検出限界以上であり、膜は黒色に変色していた。
[Comparative Example 1]
A copper NMP dry film equivalent to that of Example 1 was sandwiched between SUS304 iron plates (bending strength 20000 GPa · mm 2 ) having a thickness of 1 cm from above and below, heated at 250 ° C. from above and below, and at a pressure of 75 MPa and 100 MPa for 2 minutes. Press processing was performed. At this time, the resistivity of the film was higher than the detection limit, and the film was changed to black.

[比較例2]
実施例1と同等の銅NMP乾燥膜を上下から厚さ1cmのSUS304の鉄板(曲げ強度20000GPa・mm)に挟んで、200℃で上下から加熱しながら、かつ100MPaの圧力で2分間および5分間プレス処理を行った。2分間の場合のみ、膜の中心微小部のみ1.5×10−3Ω・cm程度の導電性が見られたが、他部および他条件の膜の抵抗率は、検出限界以上であり、膜は黒色に変色していた。
[Comparative Example 2]
A copper NMP dry film equivalent to Example 1 was sandwiched between SUS304 iron plates (bending strength 20000 GPa · mm 2 ) having a thickness of 1 cm from above and below, heated at 200 ° C. from above and below, and at a pressure of 100 MPa for 2 minutes and 5 minutes. Press processing was performed for a minute. Only in the case of 2 minutes, the conductivity of about 1.5 × 10 −3 Ω · cm was observed only in the central minute part of the film, but the resistivity of the film in the other part and other conditions was above the detection limit, Had turned black.

[比較例3]
実施例8と同等の銅還元処理膜を上下から厚さ1cmのSUS304(曲げ強度20000GPa・mm)の鉄板に挟んで、250℃で上下から加熱しながら、かつ5.0MPaおよび7.5MPaの圧力で5分間プレス処理を行った。この時の膜の抵抗率は、検出限界以上であり、膜は黒色に変色していた。
[Comparative Example 3]
A copper reduction treatment film equivalent to that in Example 8 was sandwiched between SUS304 (bending strength 20000 GPa · mm 2 ) 1 cm thick SUS304 from above and below, heated at 250 ° C. from above and below, and 5.0 MPa and 7.5 MPa. Press processing was performed for 5 minutes under pressure. At this time, the resistivity of the film was higher than the detection limit, and the film was changed to black.

[比較例4]
実施例8と同等の銅還元処理膜を上下から厚さ1cmのSUS304(曲げ強度20000GPa・mm)の鉄板に挟んで、200℃で上下から加熱しながら、かつ5.0MPaおよび7.5MPaの圧力で5分間プレス処理を行った。この時の膜の抵抗率は、検出限界以上であり、膜は黒色に変色していた。
[Comparative Example 4]
A copper reduction treatment film equivalent to that in Example 8 was sandwiched between SUS304 (bending strength 20000 GPa · mm 2 ) steel plates having a thickness of 1 cm from above and below, heated at 200 ° C. from above and below, and 5.0 MPa and 7.5 MPa. Press processing was performed for 5 minutes under pressure. At this time, the resistivity of the film was higher than the detection limit, and the film was changed to black.

実施例1〜10、比較例1〜4で得られた裏面保護シートに対して、前記の方法により諸特性を測定し、表1および表2に各物性を示した。   With respect to the back surface protective sheets obtained in Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 4, various properties were measured by the methods described above, and Table 1 and Table 2 show the respective physical properties.

図1はプレス圧力印加時に遮蔽物が変形して気密構造を作っていることを表した図面である。FIG. 1 is a view showing that the shield is deformed to form an airtight structure when a press pressure is applied. 図2は遮蔽シートを用いて加熱プレス処理する前の膜の断面写真である。FIG. 2 is a cross-sectional photograph of the film before heat pressing using the shielding sheet. 図3は遮蔽シートを用いた加熱プレス処理した後の膜の断面写真である。図2に比べて、粒子の粗大化している。FIG. 3 is a cross-sectional photograph of the film after heat pressing using a shielding sheet. Compared to FIG. 2, the particles are coarsened. 図4は遮蔽シートを用いた加熱プレス処理した後の膜の断面写真である。図2に比べて、膜が緻密化している。FIG. 4 is a cross-sectional photograph of the film after heat pressing using a shielding sheet. Compared to FIG. 2, the film is densified.

符号の説明Explanation of symbols

1 遮蔽物
2 銅粒子膜
3 基材
1 Shield 2 Copper particle film 3 Base material

Claims (7)

銅微粒子を含有する組成物を基材上に塗布して塗膜を形成する工程と、該塗膜の上方に形状追随性を有する遮蔽物を配置して、該塗膜を加熱プレスして該銅微粒子を焼結する工程とを含む銅膜の製造方法。   A step of applying a composition containing copper fine particles on a substrate to form a coating film, and a shielding object having a shape following property is disposed above the coating film, and the coating film is heated and pressed. A method for producing a copper film, comprising a step of sintering copper fine particles. 前記銅微粒子として銅ナノ粒子を含有し、該銅ナノ粒子の個数平均粒子径が1nm以上200nm以下である、請求項1に記載の銅膜の製造方法。   2. The method for producing a copper film according to claim 1, comprising copper nanoparticles as the copper fine particles, wherein the number average particle diameter of the copper nanoparticles is 1 nm to 200 nm. 前記塗膜を加熱プレスする工程において、加熱温度が50℃以上300℃以下である、請求項1又は2に記載の銅膜の製造方法。   The manufacturing method of the copper film of Claim 1 or 2 whose heating temperature is 50 to 300 degreeC in the process of heat-pressing the said coating film. 前記塗膜を加熱プレスする工程において、プレス圧力が1MPa以上である請求項1〜3のいずれかに記載の銅膜の製造方法。   The method for producing a copper film according to any one of claims 1 to 3, wherein in the step of heat-pressing the coating film, the pressing pressure is 1 MPa or more. 前記遮蔽物の曲げ強度が100GPa・mm以下である請求項1〜4のいずれかに記載の銅膜の製造方法。 The method for producing a copper film according to any one of claims 1 to 4, wherein a bending strength of the shield is 100 GPa · mm 2 or less. 前記遮蔽物がフッ素系樹脂、金属箔、熱可塑性樹脂、シリコーン系樹脂からなる群より選ばれた少なくとも一つで構成される請求項1〜5いずれかに記載の製造方法。   The manufacturing method according to any one of claims 1 to 5, wherein the shield is composed of at least one selected from the group consisting of a fluororesin, a metal foil, a thermoplastic resin, and a silicone resin. 前記塗膜を形成する工程と前記塗膜を加熱プレスして銅微粒子を焼結する工程の間に、加熱及び/またはプラズマにより銅微粒子を焼結する工程を含む請求項1〜6いずれかに記載の銅膜の製造方法。   7. The method of sintering copper fine particles by heating and / or plasma between the step of forming the coating film and the step of heating and pressing the coating film to sinter the copper fine particles. The manufacturing method of the copper film of description.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015129327A (en) * 2014-01-08 2015-07-16 国立大学法人東北大学 Method for forming functional sintered dense film, functional sintered dense film, method for synthesizing nanoparticle, and nanoparticle

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