JP2010145375A - コーナー部亀裂測定方法及び測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導電性の被検査体の亀裂を検査する電位差法において、電流入出力端子対と被検査体とが接触する接触点を結ぶ直線と、電位差測定端子対と被検査体とが接触する接触点を結ぶ直線とが、コーナー部のコーナー線に対して同一方向に傾斜して交差するように各接触点を配置する。
【選択図】図8
Description
亀裂測定装置の実機を製作するに先立ち、有限要素法によって端子配置を検討した。解析は有限要素解析ソフトMarcを用いて実施した。試験体はL字型および平面型のものを想定し、断面形状を図1に示す2種とした。L字型および平面型の試験体を用いたのは、実際のコーナー部には様々なRが存在しているため、R=∞である平面型の試験体S1と、R=0である直角のコーナー部が存在する試験体S4とを比較してコーナー部の形状の影響を受けにくいと判断できれば、全てのRに対して適用できると考えたためである(図2のS1〜S4参照)。
(端子配置A)
V1 ≒ 64.34 μV V0 ≒ 2.52 μV
V1' ≒ 59.32 μmV V0' ≒ 35.21 μV
となるため、(V1-V0)/V0≒24.5 (V1'- V0')/ V0'≒0.685となる。
これは、平面型におけるV0の値が0に近いため(V1-V0)/V0の値が(V1'- V0')/ V0'より非常に大きくなってしまうため不適切である。
(端子配置B)
V1 ≒ 8.08 μV V0 ≒ 8.08 μV
V1' ≒ 5.26 μV V0' ≒ 5.26 μV
となるため、(V1-V0)/V0≒0 (V1'- V0')/ V0'≒0となる。
(V1-V0)/V0, (V1'- V0')/ V0'共にほぼ0となっているため不適切である。
(端子配置C)
V1 ≒ 62.36 μV V0 ≒ 62.36 μV
V1' ≒ 45.11 μV V0' ≒ 45.11 μV
(端子配置D)
V1 ≒ 0.34 μV V0 ≒ 0.52 μV
V1' ≒ 0.18 μV V0' ≒ 1.29 μV
となるため、(V1-V0)/V0≒−0.34、(V1'- V0')/ V0'≒−0.86となり、
(V1-V0)/V0, (V1'- V0')/ V0'がかなり異なった値となっているため不適切である。
(端子配置E)
V1 ≒ 44.23 μV V0 ≒ 57.24 μV
V1' ≒ 33.21 μV V0' ≒ 58.98 μV
となり、(V1-V0)/V0≒−0.2273 (V1'- V0')/ V0'≒−0.4369となる。
(端子配置F)
V1 ≒17.12 μV V0 ≒9.09 μV
V1'≒16.97 μV V0' ≒9.36 μV
となり、(V1-V0)/V0≒0.883 (V1'- V0')/ V0'≒0.814となる。
<亀裂形状を考慮した検討>
なお、図10及び表1において、電位差変化はL字型及び平面型の双方について(V1-V0)/V0にて表現している。
<実施例>
各種の試験片Sample No.1〜No.5について行った深さの評価結果を次表に示す。
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
13…電流入出力端子
14…電位差測定端子
15…定電流源
16…デジタル電圧計(電位差測定手段)
17…電位差記憶手段
18…電位差変化量演算手段
19…校正式記憶手段
20…亀裂深さ算出手段
22…表示部
Claims (5)
- 導電性の被検査体のコーナー部に電流入出力端子対と電位差測定端子対とを宛がい、前記電流入出力端子対から前記被検査体に流す電流に基づく前記電位差測定端子対間の電位差を測定するコーナー部亀裂測定方法において、前記電流入出力端子対と前記被検査体とが接触する接触点を結ぶ直線と、前記電位差測定端子対と前記被検査体とが接触する接触点を結ぶ直線とが、前記コーナー部のコーナー線に対して同一方向に傾斜して交差するように前記各接触点を配置することを特徴とするコーナー部亀裂測定方法。
- 前記電位差測定端子対が前記被検査体に接触する接触点を結ぶ直線と前記コーナー線との傾斜角度は、前記電流入出力端子対が前記被検査体に接触する接触点を結ぶ直線と前記コーナー線との傾斜角度よりも大きいことを特徴とする請求項1記載のコーナー部亀裂測定方法。
- 導電性の被検査体のコーナー部に宛がわれ電流入出力端子対と電位差測定端子対とを備えたプローブと、前記電流入出力端子対を通して前記被検査体に電流を流す電流源と、前記電流入出力端子対間に流れる電流に基づいて前記電位差測定端子対間に生ずる電位差を測定する電位差測定手段とを備え、前記プローブは、前記電流入出力端子対と前記被検査体とが接触する接触点を結ぶ直線と、前記電位差測定端子対と前記被検査体とが接触する接触点を結ぶ直線とが前記コーナー部のコーナー線に対して同一方向に傾斜して交差する形態で前記接触点を配置可能となっていることを特徴とするコーナー部亀裂測定装置。
- 前記電位差測定端子対が前記被検査体に接触する接触点を結ぶ直線と前記コーナー線との傾斜角度は、前記電流入出力端子対が前記被検査体に接触する接触点を結ぶ直線と前記コーナー線との傾斜角度よりも大きいことを特徴とする請求項3記載のコーナー部亀裂測定装置。
- 前記電位差測定手段によって測定された電位差を記憶する電位差記憶手段と、前記被検査体の亀裂測定部位における前記電位差を測定した値と健全部における前記電位差を測定した値とに基づいて前記電位差の変化量を演算する電位差変化量演算手段と、前記電位差の変化量と亀裂深さとの関係を記憶する亀裂深さ算出手段と、前記電位差変化量演算手段によって演算されて前記電位差の変化量に対応して前記亀裂深さ算出手段により導かれた亀裂深さを表示する表示手段とをさらに備える請求項4記載のコーナー部亀裂測定装置。
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JP2008326339A JP2010145375A (ja) | 2008-12-22 | 2008-12-22 | コーナー部亀裂測定方法及び測定装置 |
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2008
- 2008-12-22 JP JP2008326339A patent/JP2010145375A/ja active Pending
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