JP2010145145A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010145145A5 JP2010145145A5 JP2008320471A JP2008320471A JP2010145145A5 JP 2010145145 A5 JP2010145145 A5 JP 2010145145A5 JP 2008320471 A JP2008320471 A JP 2008320471A JP 2008320471 A JP2008320471 A JP 2008320471A JP 2010145145 A5 JP2010145145 A5 JP 2010145145A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- master
- distance
- pixels
- pixel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 20
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 238000012217 deletion Methods 0.000 claims 1
- 230000037430 deletion Effects 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 238000013138 pruning Methods 0.000 claims 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims 1
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008320471A JP2010145145A (ja) | 2008-12-17 | 2008-12-17 | 回路パターン検査装置および検査方法およびテストパターン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008320471A JP2010145145A (ja) | 2008-12-17 | 2008-12-17 | 回路パターン検査装置および検査方法およびテストパターン |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010145145A JP2010145145A (ja) | 2010-07-01 |
| JP2010145145A5 true JP2010145145A5 (enExample) | 2011-12-08 |
Family
ID=42565747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008320471A Pending JP2010145145A (ja) | 2008-12-17 | 2008-12-17 | 回路パターン検査装置および検査方法およびテストパターン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2010145145A (enExample) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9025850B2 (en) | 2010-06-25 | 2015-05-05 | Cireca Theranostics, Llc | Method for analyzing biological specimens by spectral imaging |
| CN102721695B (zh) * | 2012-05-18 | 2015-01-07 | 深圳大学 | 一种检测印刷电路板缺陷的方法 |
| JP6253440B2 (ja) | 2014-02-18 | 2017-12-27 | 株式会社Screenホールディングス | ベクトルデータ処理装置、画像記録システム、ベクトルデータ処理方法およびプログラム |
| US10460439B1 (en) | 2015-08-12 | 2019-10-29 | Cireca Theranostics, Llc | Methods and systems for identifying cellular subtypes in an image of a biological specimen |
| CN107966448A (zh) * | 2017-11-17 | 2018-04-27 | 福建工程学院 | 一种用于pcb锡膏印刷质量的2维检测方法 |
| JP7369054B2 (ja) * | 2020-02-06 | 2023-10-25 | 株式会社指月電機製作所 | 金属化フィルムの検査方法及び検査装置 |
-
2008
- 2008-12-17 JP JP2008320471A patent/JP2010145145A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4006007B2 (ja) | ひび割れ検出方法 | |
| JP2010145145A5 (enExample) | ||
| JP2008277730A5 (enExample) | ||
| WO2019059011A1 (ja) | 教師データ作成方法及び装置並びに欠陥検査方法及び装置 | |
| CN107870181A (zh) | 一种复合材料脱粘缺陷的后期识别方法 | |
| JP2017129560A5 (enExample) | ||
| CN102789640A (zh) | 一种将可见光全色图像与红外遥感图像进行融合的方法 | |
| JP2010535343A5 (enExample) | ||
| WO2010104800A3 (en) | Methods and systems for generating an inspection process for a wafer | |
| CN105717163A (zh) | 红外热像检测缺陷的方法 | |
| CN105807335A (zh) | 车辆底盘检查方法和系统 | |
| CN109872303A (zh) | 表面缺陷视觉检测方法、装置和电子设备 | |
| JP7081196B2 (ja) | 超音波スキャン・データを使った欠陥検出 | |
| JP6114539B2 (ja) | オブジェクトの検査のために画像を処理するための方法およびシステム | |
| Ziabari et al. | Simurgh: A framework for cad-driven deep learning based x-ray ct reconstruction | |
| JP5705711B2 (ja) | ひび割れ検出方法 | |
| CN103093449A (zh) | 一种多分辨率融合的射线图像增强方法 | |
| CN111178392A (zh) | 基于深度神经网络的航空发动机孔探图像损伤分割方法 | |
| CN114166850B (zh) | 一种基于差分张量分解的光激励红外热成像缺陷检测方法 | |
| CN104424383A (zh) | 基于红外图像的硬件处理算法效果评价装置及其评价方法 | |
| JP2008267943A (ja) | ひび割れ検出方法 | |
| JP3253724B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JP5876139B2 (ja) | タイヤの内面のディジタル画像の分析及び偽測定箇所の処理 | |
| JP2017062178A (ja) | 製品の欠陥検出方法 | |
| JP2005061929A (ja) | 欠陥検査方法 |