JP2010129826A - Electronic apparatus and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the penetration of a solvent of a bonding assisting agent into a conductive bonding agent in an electronic apparatus in which a substrate and an electronic component connected via the conductive bonding agent are sealed with a molding resin via the bonding assisting agent. <P>SOLUTION: The electronic apparatus includes an electronic component 20 mounted to one surface of the substrate 10, a conductive bonding agent 30 provided between the electronic component 20 and the one surface of the substrate 10, a molding resin 40 for sealing one surface of the substrate 10, the electronic component 20 and the conductive bonding agent 30, and a bonding assisting agent 50 provided between the one surface of substrate 10 and the molding resin 40 for securing the bonding property of the molding resin 40. In the electronic apparatus, a protecting material 60 is provided on the surface in contact with the molding resin 40 in the conductive bonding agent 30 to cover and protect the relevant surface. Moreover, the relevant surface is in contact with the molding resin 40 via the protecting material 60, and the protecting material 60 and a solvent in the bonding assisting agent 50 are formed of materials whose differences of solubility parameters are three or larger. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、導電性接着剤を介して基板と電子部品とを接続したものをモールド樹脂で封止してなる電子装置、および、そのような電子装置の製造方法に関し、特に、モールド樹脂と基板との接着性を確保するために樹脂封止前に基板に塗布される接着補助剤に関する。   The present invention relates to an electronic device in which a substrate and an electronic component connected via a conductive adhesive are sealed with a mold resin, and a method for manufacturing such an electronic device, in particular, a mold resin and a substrate. In order to ensure adhesiveness to the substrate, the present invention relates to an adhesion aid applied to the substrate before resin sealing.

従来より、この種の電子装置としては、基板の一面上にエポキシ樹脂に導電性のフィラーを含んでなる導電性接着剤を塗布し、この導電性接着剤の上に電子部品を搭載し、次に導電性接着剤を硬化して、電子部品と基板とを電気的に接続した後、接着補助剤を基板の一面に塗布して硬化し、続いて、この接着補助剤が形成された基板の一面、電子部品および導電性接着剤をモールド樹脂で封止したものが提案されている(たとえば、特許文献1参照)。   Conventionally, as an electronic device of this type, a conductive adhesive comprising a conductive filler on an epoxy resin is applied on one surface of a substrate, and an electronic component is mounted on the conductive adhesive. After the conductive adhesive is cured to electrically connect the electronic component and the substrate, the adhesive auxiliary agent is applied to one surface of the substrate and cured, and then the substrate on which the adhesive auxiliary agent is formed is cured. On the other hand, what sealed an electronic component and a conductive adhesive with mold resin is proposed (for example, refer to patent documents 1).

このような電子装置においては、モールド樹脂はエポキシ樹脂などよりなり、接着補助剤はポリアミドなどの樹脂を溶剤にとかしてなるものであり、接着補助剤は、基板の一面とモールド樹脂との間に介在し、モールド樹脂の接着性を確保している。
特開平7−278301号公報
In such an electronic device, the mold resin is made of an epoxy resin, the adhesion aid is made by dissolving a resin such as polyamide in a solvent, and the adhesion aid is placed between one surface of the substrate and the mold resin. It interposes and secures the adhesiveness of the mold resin.
JP 7-278301 A

ところで、本発明者の検討によれば、導電性接着剤を介して電子部品が搭載されている基板の一面に、接着補助剤を塗布したとき、接着補助剤中の溶剤が導電性接着剤に浸透して、導電性接着剤が膨潤し、導電性接着剤における電気的な接続抵抗の上昇を引き起こすことがわかった。   By the way, according to the study of the present inventor, when the adhesion assistant is applied to one surface of the substrate on which the electronic component is mounted via the conductive adhesive, the solvent in the adhesion assistant becomes the conductive adhesive. It has been found that the conductive adhesive swells when permeated and causes an increase in electrical connection resistance in the conductive adhesive.

この場合、単純には、接着補助剤を無くした構成とすればよいが、そうすると、基板とモールド樹脂との接着性が低下し、モールド樹脂の剥離が生じ、さらには、基板の一面上でワイヤボンディングがなされている場合には、モールド樹脂の剥離による当該ワイヤの断線などの不具合が予想される。   In this case, it may be simply configured such that the adhesion auxiliary agent is eliminated. However, if this is done, the adhesion between the substrate and the mold resin is lowered, the mold resin is peeled off, and further, the wire is formed on one surface of the substrate. When bonding is performed, problems such as disconnection of the wire due to peeling of the mold resin are expected.

本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、導電性接着剤を介して基板と電子部品とを接続したものを、接着補助剤を介してモールド樹脂で封止してなる電子装置において、接着補助剤中の溶剤が導電性接着剤に浸透するのを防止することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and in an electronic device in which a substrate and an electronic component are connected via a conductive adhesive and sealed with a mold resin via an adhesive auxiliary agent. The object is to prevent the solvent in the adhesion aid from penetrating into the conductive adhesive.

上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明においては、導電性接着剤(30)のうちモールド樹脂(40)と接する面には、当該面を被覆して保護する保護材(60)が設けられ、当該面は保護材(60)を介してモールド樹脂(40)に接しており、保護材(60)と接着補助剤(50)中の溶剤とは、溶解度パラメータの差が3以上の材料よりなることを特徴としている。   In order to achieve the above object, in the first aspect of the present invention, the surface of the conductive adhesive (30) that contacts the mold resin (40) is covered with a protective material (60) that protects the surface. The surface is in contact with the mold resin (40) via the protective material (60), and the difference in solubility parameter between the protective material (60) and the solvent in the adhesion aid (50) is 3 or more. It is characterized by being made of material.

本発明は実験的に見出されたものであり、導電性接着剤(30)のうちモールド樹脂(40)と接する面を、接着補助剤(50)中の溶剤とは溶解度パラメータの差が3以上の材料よりなる保護材(60)によって被覆して保護すれば、保護膜(60)が接着補助剤(50)を弾くため、接着補助剤(50)中の溶剤が導電性接着剤(30)に浸透するのを防止することができる。   The present invention has been found experimentally, and the surface of the conductive adhesive (30) that is in contact with the mold resin (40) has a solubility parameter difference of 3 from the solvent in the adhesive aid (50). If the protective material (60) made of the above material is covered and protected, the protective film (60) repels the adhesion assistant (50), so that the solvent in the adhesion assistant (50) is a conductive adhesive (30). ) Can be prevented.

ここで、請求項2に記載の発明のように、モールド樹脂(40)はエポキシ樹脂であり、導電性接着剤(30)はエポキシ樹脂に導電性のフィラーを含んでなるものであり、接着補助剤(50)はポリアミドを溶剤としてのN−メチルピロリドンで希釈してなるものにできる。   Here, as in the invention described in claim 2, the mold resin (40) is an epoxy resin, and the conductive adhesive (30) comprises a conductive filler in the epoxy resin, and is an adhesion assistant. The agent (50) can be prepared by diluting polyamide with N-methylpyrrolidone as a solvent.

請求項3に記載の発明は、基板(10)の一面に導電性接着剤(30)を塗布し、この導電性接着剤(30)の上に電子部品(20)を搭載し、次に、導電性接着剤(30)を硬化して電子部品(20)と基板(10)とを電気的に接続し、次に、基板(10)の一面に、モールド樹脂(40)の接着性を確保する接着補助剤(50)を塗布・硬化により形成し、続いて、接着補助剤(50)が形成された基板(10)の一面、電子部品(20)および導電性接着剤(30)をモールド樹脂(40)で封止する電子装置の製造方法において、次のような特徴を有するものである。   The invention according to claim 3 applies a conductive adhesive (30) to one surface of the substrate (10), and mounts an electronic component (20) on the conductive adhesive (30). The conductive adhesive (30) is cured to electrically connect the electronic component (20) and the substrate (10). Next, the adhesive property of the mold resin (40) is secured on one surface of the substrate (10). The adhesive auxiliary agent (50) to be formed is formed by coating and curing, and then the one surface of the substrate (10) on which the adhesive auxiliary agent (50) is formed, the electronic component (20), and the conductive adhesive (30) are molded. In the manufacturing method of the electronic device sealed with resin (40), it has the following characteristics.

すなわち、硬化した導電性接着剤(30)のうちモールド樹脂(40)と接する面に、接着補助剤(50)中の溶剤との溶解度パラメータの差が3以上の材料よりなる保護材(60)を塗布・硬化により形成することにより、当該面を保護材(60)によって被覆した後、接着補助剤(50)を塗布することを特徴としている。   That is, the protective material (60) made of a material having a solubility parameter difference of 3 or more with respect to the solvent in the adhesion assistant (50) on the surface of the cured conductive adhesive (30) in contact with the mold resin (40). By coating and curing, the surface is covered with a protective material (60), and then the adhesion auxiliary agent (50) is applied.

本発明は実験的に見出されたものであり、導電性接着剤(30)のうちモールド樹脂(40)と接する面を、接着補助剤(50)中の溶剤とは溶解度パラメータの差が3以上の材料よりなる保護材(60)によって被覆して保護すれば、その後、接着補助剤(50)を塗布しても、保護膜(60)が接着補助剤(50)を弾くため、接着補助剤(50)中の溶剤が導電性接着剤(30)に浸透するのを防止することができる。   The present invention has been found experimentally, and the surface of the conductive adhesive (30) that is in contact with the mold resin (40) has a solubility parameter difference of 3 from the solvent in the adhesive aid (50). If it protects by covering with the protective material (60) which consists of the above material, even if it apply | coats an adhesion adjuvant (50) after that, since a protective film (60) will play an adhesion adjuvant (50), adhesion assistance It is possible to prevent the solvent in the agent (50) from penetrating into the conductive adhesive (30).

そして、この製造方法においても、請求項4に記載の発明のように、モールド樹脂(40)はエポキシ樹脂であり、導電性接着剤(30)はエポキシ樹脂に導電性のフィラーを含んでなるものであり、接着補助剤(50)はポリアミドを溶剤としてのN−メチルピロリドンで希釈してなるものにできる。   And also in this manufacturing method, like invention of Claim 4, a mold resin (40) is an epoxy resin, and a conductive adhesive (30) contains a conductive filler in an epoxy resin. The adhesion assistant (50) can be obtained by diluting polyamide with N-methylpyrrolidone as a solvent.

なお、特許請求の範囲およびこの欄で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。   In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each means described in the claim and this column is an example which shows a corresponding relationship with the specific means as described in embodiment mentioned later.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各図相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following drawings, parts that are the same or equivalent to each other are given the same reference numerals in the drawings for the sake of simplicity.

図1は、本発明の実施形態に係る電子装置の概略断面構成を示す図である。本実施形態の電子装置は、たとえば自動車のECUなどに用いられるものであり、大きくは、基板10と、基板10の一面に搭載された電子部品20と、電子部品20と基板10とを電気的に接続する導電性接着剤30と、これら部材10〜30を封止するモールド樹脂40と、基板10とモールド樹脂40との接着性を確保する接着補助剤50とを備えて構成されている。   FIG. 1 is a diagram showing a schematic cross-sectional configuration of an electronic device according to an embodiment of the present invention. The electronic device according to the present embodiment is used for, for example, an ECU of an automobile. In general, the substrate 10, the electronic component 20 mounted on one surface of the substrate 10, and the electronic component 20 and the substrate 10 are electrically connected. The conductive adhesive 30 connected to the substrate 10, the mold resin 40 that seals the members 10 to 30, and the adhesion assistant 50 that ensures the adhesion between the substrate 10 and the mold resin 40 are provided.

基板10としては、特に限定されるものではないが、セラミック基板や、プリント基板などの各種の回路基板、配線基板が挙げられる。また、基板10としては、リードフレームなどであってもよい。   Although it does not specifically limit as the board | substrate 10, Various circuit boards, such as a ceramic board | substrate and a printed circuit board, and a wiring board are mentioned. Further, the substrate 10 may be a lead frame or the like.

電子部品20は、この基板10の一面(図1中の上面)に導電性接着剤30によって表面実装されるものであれば、何でもよいが、たとえば、電子部品20としては、ICチップ、ダイオード、コンデンサ、抵抗などが挙げられる。   The electronic component 20 may be anything as long as it is surface-mounted by the conductive adhesive 30 on one surface (the upper surface in FIG. 1) of the substrate 10. For example, as the electronic component 20, an IC chip, a diode, Examples include capacitors and resistors.

導電性接着剤30は、一般的なエポキシ系導電性接着剤であり、具体的には、エポキシ樹脂とこのエポキシ樹脂に含有・分散されたAgやCuなどの導電性フィラーとからなる組成物である。   The conductive adhesive 30 is a general epoxy-based conductive adhesive, specifically, a composition comprising an epoxy resin and a conductive filler such as Ag or Cu contained and dispersed in the epoxy resin. is there.

モールド樹脂40は、ナフタレン型エポキシ樹脂など、この種の一般的なエポキシ樹脂よりなるものであり、ディスペンス法やトランスファーモールド法などにより、成型されたものである。   The mold resin 40 is made of this kind of general epoxy resin such as a naphthalene type epoxy resin, and is molded by a dispensing method, a transfer molding method, or the like.

また、接着補助剤50はモールド樹脂40のプライマとして用いられるものであり、ここでは、基板10の一面および電子部品20とモールド樹脂40との間に介在して設けられている。この接着補助剤50の機能は、基板10の一面および電子部品20とモールド樹脂40との接着性の向上、および、内部応力の緩和などである。   Further, the adhesion assistant 50 is used as a primer for the mold resin 40, and is provided here between one surface of the substrate 10 and between the electronic component 20 and the mold resin 40. The function of the adhesion assistant 50 is to improve the adhesion between one surface of the substrate 10 and the electronic component 20 and the mold resin 40, and to relieve internal stress.

たとえば、接着補助剤50としては、ポリエーテルアミドイミド(PAI)、ポリアミド(PA)、ポリイミド(PI)などの樹脂を、NMP(N−メチルピロリドン)やアセトンなどの溶剤で希釈した一般的な材料を用いて形成されている。そして、この接着補助剤50は、液状のものをポッティングや印刷などにより、塗布し、これを硬化させることで配置されている。   For example, as the adhesion assistant 50, a general material obtained by diluting a resin such as polyetheramide imide (PAI), polyamide (PA), polyimide (PI) with a solvent such as NMP (N-methylpyrrolidone) or acetone. It is formed using. And this adhesion adjuvant 50 is arrange | positioned by apply | coating a liquid thing by potting, printing, etc., and hardening this.

また、図1に示されるように、接着補助剤50は、導電性接着剤30のうちモールド樹脂40と接する面とモールド樹脂40との間には介在されていない。導電性接着剤30のうちモールド樹脂40と接する面とは、電子部品20の外周端部からはみ出している導電性接着剤30の表面であり、この面には従来では接着補助剤が塗布される。   As shown in FIG. 1, the adhesion assistant 50 is not interposed between the surface of the conductive adhesive 30 that contacts the mold resin 40 and the mold resin 40. The surface of the conductive adhesive 30 that is in contact with the mold resin 40 is the surface of the conductive adhesive 30 that protrudes from the outer peripheral edge of the electronic component 20, and conventionally, an adhesion assistant is applied to this surface. .

しかし、本実施形態では、この導電性接着剤30のうち電子部品20の外周端部からはみ出している表面には、接着補助剤50は存在せず、代わりに当該表面を被覆して保護する保護材60が設けられている。そして、導電性接着剤30の当該表面は保護材60を介してモールド樹脂40に接している。   However, in the present embodiment, the adhesive auxiliary agent 50 does not exist on the surface of the conductive adhesive 30 that protrudes from the outer peripheral end portion of the electronic component 20, and instead the protection that covers and protects the surface. A material 60 is provided. The surface of the conductive adhesive 30 is in contact with the mold resin 40 through the protective material 60.

本実施形態では、この保護材60を形成する材料と接着補助剤50中の溶剤とは、その溶解度パラメータの差が3以上とされている。ここで、岩波書店、理化学辞典第5版(1406頁)によれば、「溶解度パラメータとは、液体のモル蒸発熱をΔH、モル体積をVとするとき、δ=(ΔH/V)1/2により定義される量δをいう。ヒルデブランド(Hildebrand,J.H)の正則溶液の理論で出てくる量で、たとえば2成分系での各成分の活量は、2成分の溶解度パラメータの差に直接依存し、溶解度は両者の溶解度パラメータの差が小さいほど大きくなる」とされている。 In the present embodiment, the difference in solubility parameter between the material forming the protective material 60 and the solvent in the adhesion aid 50 is 3 or more. Here, according to Iwanami Shoten, RIKEN Dictionary 5th edition (page 1406), “the solubility parameter is δ = (ΔH / V) 1 /, where ΔH is the molar evaporation heat of the liquid and V is the molar volume. refers to the amount δ defined by 2. Hildebrand (Hildebrand, J. H.) in amounts that appear in the theory of regular solution, such activity of each component of a two component system, a two-component solubility parameter It depends directly on the difference, and the solubility increases as the difference between the solubility parameters of the two decreases. "

この溶解度パラメータ(Solubility Parameter、以下、SP値という)は、固有物性値であり、経験的にSP値が近い物質は混ざりやすい傾向を持つことが知られている。   This solubility parameter (Solubility Parameter, hereinafter referred to as SP value) is an intrinsic property value, and it is known from experience that a substance having a close SP value tends to be mixed.

そして、本実施形態では、保護材60を形成する材料のSP値を、上記接着補助剤50中の溶剤のSP値に対して3以上の差を有するものとしている。ここで、SP値の差とは絶対値であり、当該SP値の差が3以上であれば、保護材60のSP値が接着補助剤50中の溶剤のSP値よりも大きくても小さくてもよい。   In the present embodiment, the SP value of the material forming the protective material 60 has a difference of 3 or more with respect to the SP value of the solvent in the adhesion aid 50. Here, the difference in SP value is an absolute value, and if the difference in SP value is 3 or more, the SP value of the protective material 60 is smaller or larger than the SP value of the solvent in the adhesion aid 50. Also good.

具体的に、モールド樹脂40を形成する材料のSP値、たとえばナフタレン型エポキシ樹脂のSP値は11.6、導電性接着剤30を形成する材料のSP値、たとえば導電性フィラーを含むエポキシ樹脂のSP値は11.2、接着補助剤50中の溶剤であるN−メチルピロリドンのSP値は11.0である。   Specifically, the SP value of the material forming the mold resin 40, for example, the SP value of naphthalene type epoxy resin is 11.6, the SP value of the material forming the conductive adhesive 30, for example, an epoxy resin containing a conductive filler The SP value is 11.2, and the SP value of N-methylpyrrolidone which is a solvent in the adhesion assistant 50 is 11.0.

そして、具体的に、このような接着補助剤50中の溶剤に対して上記SP値の差が3以上であるような保護材60の形成材料としては、たとえばフッ素樹脂(SP値:3.6)やシリコーンゴム(SP値:8.0)などが挙げられる。   Specifically, as a material for forming the protective material 60 in which the difference in SP value is 3 or more with respect to the solvent in the adhesion aid 50, for example, a fluororesin (SP value: 3.6) is used. ) And silicone rubber (SP value: 8.0).

また、接着補助剤50中の溶剤とモールド樹脂40とについては、互いにSP値の差が小さいものを用いることにより、基板10とモールド樹脂40との密着性を維持し、モールド樹脂40を剥離しにくくしている。   Moreover, about the solvent in the adhesion adjuvant 50, and the mold resin 40, the thing with a mutually small SP value difference is used, the adhesiveness of the board | substrate 10 and the mold resin 40 is maintained, and the mold resin 40 is peeled. It is difficult.

かかる電子装置は、基板10の一面に、導電性接着剤30を塗布し、その上に電子部品20を搭載し、次に導電性接着剤30を硬化して電子部品20と基板10とを電気的に接続した後、導電性接着剤30の表面に保護材60を塗布・硬化して配置し、その後、基板10の一面および電子部品20に接着補助剤50を塗布・硬化して配置し、その後、モールド樹脂40による封止を行うことにより製造される。   In such an electronic device, the conductive adhesive 30 is applied to one surface of the substrate 10, the electronic component 20 is mounted thereon, and then the conductive adhesive 30 is cured to electrically connect the electronic component 20 and the substrate 10. After the connection, the protective material 60 is applied and cured on the surface of the conductive adhesive 30, and then the adhesive auxiliary agent 50 is applied and cured on one surface of the substrate 10 and the electronic component 20. Then, it manufactures by sealing with the mold resin 40. FIG.

つまり、本実施形態の製造方法では、導電性接着剤30を硬化した後、硬化した導電性接着剤30のうちモールド樹脂40と接する面に、接着補助剤50中の溶剤とのSP値の差が3以上の材料よりなる保護材60を塗布・硬化して形成することにより、導電性接着剤30の当該面を保護材60によって被覆し、その後、接着補助剤50の塗布を行い、これを硬化するのである。   That is, in the manufacturing method of the present embodiment, after the conductive adhesive 30 is cured, the SP value difference between the cured conductive adhesive 30 and the solvent in the adhesion aid 50 on the surface in contact with the mold resin 40. Is formed by applying and curing a protective material 60 made of three or more materials, so that the surface of the conductive adhesive 30 is covered with the protective material 60, and thereafter, the adhesion auxiliary agent 50 is applied. It cures.

このように、本実施形態では、導電性接着剤30のうちモールド樹脂40と接する面を、接着補助剤50中の溶剤とはSP値の差が3以上の材料よりなる保護材60によって被覆して保護するようにしているため、その後、接着補助剤50を塗布しても、保護膜60が接着補助剤50を弾き、接着補助剤50の溶剤が導電性接着剤30に浸透するのを防止することができる。   As described above, in this embodiment, the surface of the conductive adhesive 30 that contacts the mold resin 40 is covered with the protective material 60 made of a material having a SP value difference of 3 or more from the solvent in the adhesion aid 50. After that, even if the adhesion assistant 50 is applied, the protective film 60 repels the adhesion assistant 50 and prevents the solvent of the adhesion assistant 50 from penetrating into the conductive adhesive 30. can do.

これは、保護材60を形成する材料と接着補助剤50中の溶剤とで、互いのSP値の差を3以上に大きくしてやれば、保護材60と接着補助剤50とが、実質的に混ざらないものとなるためである。このことは、本発明者が行った実験を根拠とするものであり、この検討について、次に述べる。   This is because the protective material 60 and the adhesion assistant 50 are substantially mixed if the difference in SP value between the material forming the protection material 60 and the solvent in the adhesion assistant 50 is increased to 3 or more. This is because there will be nothing. This is based on an experiment conducted by the present inventor, and this examination will be described next.

図2は、本発明者が行った実験検討に用いたサンプルを示す概略断面図であり、1回目の接続抵抗値の測定の様子を示している。ここでは、基板10としてセラミック基板10を用いた。   FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a sample used in the experimental study conducted by the present inventor, and shows a state of the first connection resistance value measurement. Here, the ceramic substrate 10 was used as the substrate 10.

セラミック基板10は、サイズが1インチ□で厚さ1mm、材質はアルミナであり、電子部品20が搭載される一面にAuメッキ11が施されている。電子部品20は積層セラミックコンデンサであり、サイズは3.2×1.6×1.25mmで、電極材質はAg/Pdである。   The ceramic substrate 10 has a size of 1 inch □, a thickness of 1 mm, a material of alumina, and an Au plating 11 is applied to one surface on which the electronic component 20 is mounted. The electronic component 20 is a multilayer ceramic capacitor, the size is 3.2 × 1.6 × 1.25 mm, and the electrode material is Ag / Pd.

導電性接着剤30としては、導電性フィラーを含むエポキシ樹脂(SP値:11.2)を用い、モールド樹脂40としては、ナフタレン型エポキシ樹脂(SP値:11.6)を用い、接着補助剤50としては、ポリアミドをN−メチルピロリドン(SP値:11.0)で希釈したものを用いた。   An epoxy resin (SP value: 11.2) containing a conductive filler is used as the conductive adhesive 30, and a naphthalene type epoxy resin (SP value: 11.6) is used as the mold resin 40. As 50, polyamide diluted with N-methylpyrrolidone (SP value: 11.0) was used.

また、保護材60を形成する材料としては、フッ素樹脂(SP値:3.6)、シリコーンゴム(SP値:8.0)、ポリスチレン(SP値:9.0)、塩化ビニリデン樹脂(SP値:12.2)、エポキシ樹脂(SP値:11.0)を用い、これら各種の材料について、サンプルを作製し、検討を行った。   Moreover, as a material which forms the protective material 60, fluororesin (SP value: 3.6), silicone rubber (SP value: 8.0), polystyrene (SP value: 9.0), vinylidene chloride resin (SP value) : 12.2) and epoxy resin (SP value: 11.0), samples were prepared and examined for these various materials.

<接着剤硬化>:印刷パターンを開口した図示しないメタルマスクを用いて、基板10に導電性接着剤30を印刷し、電子部品20を無荷重で搭載した後、恒温槽にて導電性接着剤30を硬化させた。導電性接着剤30の印刷膜厚は60umであり、硬化条件は150℃×30分硬化とした。こうして、セラミック基板10と電子部品20とが導電性接着剤30で接続されるが、この状態が図2に示される。   <Adhesive curing>: A conductive adhesive 30 is printed on the substrate 10 using a metal mask (not shown) having a printed pattern opened, and the electronic component 20 is mounted with no load, and then the conductive adhesive in a thermostatic chamber. 30 was cured. The printed film thickness of the conductive adhesive 30 was 60 μm, and the curing condition was 150 ° C. × 30 minutes. Thus, the ceramic substrate 10 and the electronic component 20 are connected by the conductive adhesive 30, and this state is shown in FIG.

<接続抵抗測定1回目>:この導電性接着剤30の硬化後であって保護材60の塗布前に、接続抵抗測定の1回目を行った。この接続抵抗値は、導電性接着剤30を介した電子部品20と基板10との電気的な接続抵抗値である。   <First Connection Resistance Measurement>: The first connection resistance measurement was performed after the conductive adhesive 30 was cured and before the protective material 60 was applied. This connection resistance value is an electrical connection resistance value between the electronic component 20 and the substrate 10 via the conductive adhesive 30.

図2に示されるように、接続抵抗値は、定電流源K1とデジタルマルチメータK2を用い、4端子法で測定した。電流は10mAを流して電圧を測定し、R=V/Iの関係から抵抗値を求めた。この方法によって、作製したサンプルについて、1回目の接続抵抗値を測定した。   As shown in FIG. 2, the connection resistance value was measured by a four-terminal method using a constant current source K1 and a digital multimeter K2. The current was 10 mA, the voltage was measured, and the resistance value was determined from the relationship of R = V / I. With this method, the first connection resistance value was measured for the manufactured sample.

<保護材塗布>:次に、図2に示されるサンプルに対して、硬化した導電性接着剤30のうちモールド樹脂40と接する面に、ディスペンス法により、保護材60を塗布・硬化により形成した。これによって上記図1に示されるように、導電性接着剤30の当該面を保護材60によって被覆した。   <Protective Material Application>: Next, a protective material 60 was formed on the surface of the cured conductive adhesive 30 in contact with the mold resin 40 by applying and curing the sample shown in FIG. 2 by a dispensing method. . As a result, as shown in FIG. 1, the surface of the conductive adhesive 30 was covered with the protective material 60.

<接着補助剤塗布>:次に、基板10の一面および電子部品20の表面に、ディスペンス法を用いて接着補助剤50を塗布し、加熱して硬化させた。   <Adhesion auxiliary agent application>: Next, the adhesion auxiliary agent 50 was applied to one surface of the substrate 10 and the surface of the electronic component 20 using the dispensing method, and was cured by heating.

<接続抵抗測定2回目>:この後、基板10の金メッキ11のうち接着補助剤50の付いていないところにプローブを当て、上記同様の4端子法によって、2回目の接続抵抗値を測定した。   <Second measurement of connection resistance>: Thereafter, a probe was applied to the gold plating 11 of the substrate 10 where the adhesion assistant 50 was not attached, and the second connection resistance value was measured by the same four-terminal method as described above.

<モールド樹脂封止>:その後、基板10の一面上にディスペンス法によって、モールド樹脂40を塗布し、基板10の一面および電子部品20をモールド樹脂40で封止し、モールド樹脂40を硬化させた。これにより、サンプルとして、上記図1に示されるものと同様の形状を有する電子装置を作製した。   <Mold resin sealing>: Thereafter, the mold resin 40 was applied onto one surface of the substrate 10 by a dispensing method, and the one surface of the substrate 10 and the electronic component 20 were sealed with the mold resin 40, and the mold resin 40 was cured. . Thus, an electronic device having the same shape as that shown in FIG. 1 was produced as a sample.

図3は、比較例と本実施形態の各サンプルについて上記した1回目および2回目の接続抵抗値を調査した結果を示す図である。ここで、比較例のサンプルは、従来構造に相当するものであり、上記した実験検討のサンプルの製造工程のうち保護材塗布を省略した工程により、本発明者が作製したものである。   FIG. 3 is a diagram showing the results of investigating the first and second connection resistance values for each sample of the comparative example and this embodiment. Here, the sample of the comparative example corresponds to a conventional structure, and is produced by the present inventor through a process in which the coating of the protective material is omitted in the manufacturing process of the sample for the above-described experimental study.

また、図3における本実施形態のサンプルは、保護材60にシリコーンゴムを用いた構造のものであり、この場合、接着補助剤50中の溶剤とのSP値の差は3である。そして、図3には、これら比較例および実施形態の各サンプルについて、n数:10にて測定した値が示されている。   Further, the sample of this embodiment in FIG. 3 has a structure using silicone rubber as the protective material 60, and in this case, the difference in SP value from the solvent in the adhesion aid 50 is 3. FIG. 3 shows values measured at n number: 10 for each sample of these comparative examples and embodiments.

図3に示されるように、比較例と本実施形態とで、1回目の接続抵抗値に差は見られなかった。しかし、2回目の接続抵抗値については、保護材を持たない比較例のサンプルでは、1回目の接続抵抗値から平均値で約15倍、上昇した。一方、本実施形態のサンプルの接続抵抗値は、1回目と2回目とで実質的に変化がなかった。   As shown in FIG. 3, there was no difference in the first connection resistance value between the comparative example and this embodiment. However, the second connection resistance value increased by about 15 times on average from the first connection resistance value in the sample of the comparative example having no protective material. On the other hand, the connection resistance value of the sample of this embodiment was not substantially changed between the first time and the second time.

また、図4は、上記実験検討において、保護材60の種類を変えたサンプルを作製し、保護材60と接着補助剤50中の溶剤とのSP値の差を振った場合における2回目の接続抵抗値の結果を示す図である。図4には、当該SP値の差を変えた各サンプルについて、n数:10にて測定した値が示されている。   FIG. 4 shows a second connection in the case where a sample in which the type of the protective material 60 is changed and the difference in SP value between the protective material 60 and the solvent in the adhesion aid 50 is varied in the above experimental study. It is a figure which shows the result of resistance value. FIG. 4 shows the values measured with n number: 10 for each sample in which the difference in SP value is changed.

図4において、各サンプルの1回目の接続抵抗値は、上記図3に示される1回目の接続抵抗値であり、図4に示される2回目の接続抵抗値が上昇してしまうサンプルは、本実施形態の効果を奏しない不適当なものである。図4に示されるように、当該SP値の差が3以上になると、1回目の接続抵抗値と比較して抵抗値の上昇が見られなかった。   In FIG. 4, the first connection resistance value of each sample is the first connection resistance value shown in FIG. 3, and the sample in which the second connection resistance value shown in FIG. This is an inappropriate one that does not exhibit the effects of the embodiment. As shown in FIG. 4, when the difference between the SP values was 3 or more, no increase in the resistance value was observed compared to the first connection resistance value.

具体的には、上記実験検討のところに挙げた具体的な保護材60のうちフッ素樹脂(SP値:3.6)およびシリコーンゴム(SP値:8.0)については、SP値が11.0である接着補助剤50中の溶剤(NMP)に対して当該SP値の差が3以上となり、それによる効果については図4からも確認される。しかし、本実施形態では、ポリスチレン(SP値:9.0)、塩化ビニリデン樹脂(SP値:12.2)、エポキシ樹脂(SP値:11.0)は、保護材60として不適当であることは図4から明らかである。   Specifically, among the specific protective materials 60 listed in the above experimental study, the fluorine resin (SP value: 3.6) and the silicone rubber (SP value: 8.0) have an SP value of 11. The difference of the SP value is 3 or more with respect to the solvent (NMP) in the adhesion assistant 50 which is 0, and the effect by this is also confirmed from FIG. However, in this embodiment, polystyrene (SP value: 9.0), vinylidene chloride resin (SP value: 12.2), and epoxy resin (SP value: 11.0) are inappropriate as the protective material 60. Is apparent from FIG.

また、この現象について考察すると、上記図3に示した比較例では、保護材が無いため、エポキシ系導電性接着剤30にSP値が近い50のNMPが、当該導電性接着剤30に浸透して膨潤し、抵抗が上昇したと考えられる。   In consideration of this phenomenon, in the comparative example shown in FIG. 3, since there is no protective material, 50 NMP having an SP value close to that of the epoxy conductive adhesive 30 penetrates into the conductive adhesive 30. It is thought that the resistance increased.

一方で、本実施形態の電子装置においては、保護材60と接着補助剤50中の溶剤とでSP値の差が3以上の場合、接着補助剤50と保護材60との間で双方が弾き、導電性接着剤30に接着補助剤50の付着が無く、接着補助剤50中の溶剤の浸透がないため、導電性接着剤30が膨潤せず、抵抗上昇が抑制された。   On the other hand, in the electronic device of this embodiment, when the difference in SP value between the protective material 60 and the solvent in the adhesion assistant 50 is 3 or more, the both play between the adhesion assistant 50 and the protection material 60. The conductive adhesive 30 was not attached to the conductive adhesive 30 and the solvent did not penetrate into the adhesive auxiliary 50, so that the conductive adhesive 30 did not swell and the increase in resistance was suppressed.

このように、本発明者が行った実験検討の結果から、本実施形態においては、保護材60を形成する材料と接着補助剤50中の溶剤とで、互いのSP値の差を3以上にしているのである。   Thus, based on the results of the experimental study conducted by the inventor, in this embodiment, the difference in SP value between the material forming the protective material 60 and the solvent in the adhesion aid 50 is set to 3 or more. -ing

(他の実施形態)
図5は、他の実施形態としての電子装置の概略断面構成を示す図である。上記実施形態では、保護材60は、導電性接着剤30のうちモールド樹脂40と接する面に設けられており、電子部品20のうちモールド樹脂40と接する表面には設けられていないが、図5に示されるように、保護材60は、さらに電子部品20の当該表面を覆うように塗布・硬化されて設けられてもよい。
(Other embodiments)
FIG. 5 is a diagram illustrating a schematic cross-sectional configuration of an electronic device according to another embodiment. In the above embodiment, the protective material 60 is provided on the surface of the conductive adhesive 30 in contact with the mold resin 40 and is not provided on the surface of the electronic component 20 in contact with the mold resin 40. As shown in FIG. 4, the protective material 60 may be further applied and cured so as to cover the surface of the electronic component 20.

この場合、電子部品20の表面に接着補助剤50が存在する場合に比べて、電子部品20とモールド樹脂40との接着性が低下することになるが、ワイヤボンディングを要する電子部品等のモールド樹脂40との密着力が必要でない場合には、むしろ剥離した方が、接続部に周辺環境の冷熱ストレスを受け難くなり、寿命は向上する。電子部品20の表面に接着補助剤50を塗布しない場合は、部品自体もモールド樹脂40との密着力が高まり、より安定な構造体が得られる。   In this case, the adhesiveness between the electronic component 20 and the mold resin 40 is reduced as compared with the case where the adhesion assistant 50 is present on the surface of the electronic component 20, but the mold resin such as an electronic component that requires wire bonding is used. When the adhesive strength with 40 is not required, the peeled portion is rather less susceptible to the thermal stress of the surrounding environment on the connecting portion, and the life is improved. When the adhesion assistant 50 is not applied to the surface of the electronic component 20, the adhesion of the component itself to the mold resin 40 is increased, and a more stable structure can be obtained.

本発明の実施形態に係る電子装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the electronic device which concerns on embodiment of this invention. 本発明者が行った実験検討に用いたサンプルを示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the sample used for the experiment examination which this inventor performed. 比較例と本実施形態について接続抵抗値を調査した結果を示す図である。It is a figure which shows the result of having investigated the connection resistance value about the comparative example and this embodiment. 保護材と接着補助剤中の溶剤とのSP値の差と、接続抵抗値との関係を調査した結果を示す図である。It is a figure which shows the result of having investigated the relationship between the difference of SP value of a protective material and the solvent in an adhesion adjuvant, and connection resistance value. 本発明の他の実施形態に係る電子装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the electronic device which concerns on other embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 基板
20 電子部品
30 導電性接着剤
40 モールド樹脂
50 接着補助剤
60 保護材
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Board | substrate 20 Electronic component 30 Conductive adhesive 40 Mold resin 50 Adhesion adjuvant 60 Protective material

Claims (4)

基板(10)と、
前記基板(10)の一面に搭載された電子部品(20)と、
前記電子部品(20)と前記基板(10)の一面との間に介在し、これら両部材(10、20)を電気的に接続する導電性接着剤(30)と、
前記基板(10)の一面、前記電子部品(20)および前記導電性接着剤(30)を封止するモールド樹脂(40)と、
前記基板(10)の一面と前記モールド樹脂(40)との間に介在し、前記モールド樹脂(40)の接着性を確保する接着補助剤(50)とを備える電子装置において、
前記導電性接着剤(30)のうち前記モールド樹脂(40)と接する面には、当該面を被覆して保護する保護材(60)が設けられ、当該面は前記保護材(60)を介して前記モールド樹脂(40)に接しており、
前記保護材(60)と前記接着補助剤(50)中の溶剤とは、溶解度パラメータの差が3以上の材料よりなることを特徴とすることを特徴とする電子装置。
A substrate (10);
An electronic component (20) mounted on one surface of the substrate (10);
A conductive adhesive (30) interposed between the electronic component (20) and one surface of the substrate (10) to electrically connect these members (10, 20);
A mold resin (40) for sealing one surface of the substrate (10), the electronic component (20) and the conductive adhesive (30);
In an electronic device comprising an adhesion aid (50) interposed between one surface of the substrate (10) and the mold resin (40) and ensuring adhesion of the mold resin (40),
A protective material (60) that covers and protects the surface of the conductive adhesive (30) in contact with the mold resin (40) is provided, and the surface is provided via the protective material (60). In contact with the mold resin (40)
The electronic device according to claim 1, wherein the protective material (60) and the solvent in the adhesion aid (50) are made of a material having a solubility parameter difference of 3 or more.
前記モールド樹脂(40)はエポキシ樹脂であり、前記導電性接着剤(30)はエポキシ樹脂に導電性のフィラーを含んでなるものであり、前記接着補助剤(50)はポリアミドを前記溶剤としてのN−メチルピロリドンで希釈してなるものであることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。   The mold resin (40) is an epoxy resin, the conductive adhesive (30) comprises a conductive filler in an epoxy resin, and the adhesion auxiliary agent (50) uses polyamide as the solvent. The electronic device according to claim 1, wherein the electronic device is diluted with N-methylpyrrolidone. 基板(10)の一面に導電性接着剤(30)を塗布し、この導電性接着剤(30)の上に電子部品(20)を搭載し、
次に、前記導電性接着剤(30)を硬化して前記電子部品(20)と前記基板(10)とを電気的に接続し、
次に、前記基板(10)の一面に、モールド樹脂(40)の接着性を確保する接着補助剤(50)を塗布・硬化により形成し、
続いて、前記接着補助剤(50)が形成された前記基板(10)の一面、前記電子部品(20)および前記導電性接着剤(30)をモールド樹脂(40)で封止する電子装置の製造方法において、
硬化した前記導電性接着剤(30)のうち前記モールド樹脂(40)と接する面に、前記接着補助剤(50)中の溶剤との溶解度パラメータの差が3以上の材料よりなる保護材(60)を塗布・硬化により形成することにより、当該面を前記保護材(60)によって被覆した後、前記接着補助剤(50)を塗布することを特徴とする電子装置の製造方法。
A conductive adhesive (30) is applied to one surface of the substrate (10), and an electronic component (20) is mounted on the conductive adhesive (30).
Next, the conductive adhesive (30) is cured to electrically connect the electronic component (20) and the substrate (10),
Next, on one surface of the substrate (10), an adhesion auxiliary agent (50) for ensuring the adhesion of the mold resin (40) is formed by application and curing,
Subsequently, one surface of the substrate (10) on which the adhesion assistant (50) is formed, the electronic component (20), and the conductive adhesive (30) are sealed with a mold resin (40). In the manufacturing method,
A protective material (60) made of a material having a solubility parameter difference of 3 or more with respect to the solvent in the adhesion assistant (50) on the surface of the cured conductive adhesive (30) in contact with the mold resin (40). ) Is applied and cured to coat the surface with the protective material (60), and then the adhesion assistant (50) is applied.
前記モールド樹脂(40)はエポキシ樹脂であり、前記導電性接着剤(30)はエポキシ樹脂に導電性のフィラーを含んでなるものであり、前記接着補助剤(50)はポリアミドを前記溶剤としてのN−メチルピロリドンで希釈してなるものであることを特徴とする請求項3に記載の電子装置の製造方法。   The mold resin (40) is an epoxy resin, the conductive adhesive (30) comprises a conductive filler in an epoxy resin, and the adhesion auxiliary agent (50) uses polyamide as the solvent. The method for manufacturing an electronic device according to claim 3, wherein the method is diluted with N-methylpyrrolidone.
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