JP2010114108A - Non-contact carrying device and method for wiring board - Google Patents

Non-contact carrying device and method for wiring board Download PDF

Info

Publication number
JP2010114108A
JP2010114108A JP2008282729A JP2008282729A JP2010114108A JP 2010114108 A JP2010114108 A JP 2010114108A JP 2008282729 A JP2008282729 A JP 2008282729A JP 2008282729 A JP2008282729 A JP 2008282729A JP 2010114108 A JP2010114108 A JP 2010114108A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
suction
air
contact
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008282729A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yosuke Morita
陽介 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Spark Plug Co Ltd filed Critical NGK Spark Plug Co Ltd
Priority to JP2008282729A priority Critical patent/JP2010114108A/en
Publication of JP2010114108A publication Critical patent/JP2010114108A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a non-contact carrying device for a wiring board capable of reliably carrying the wiring board even at high speed. <P>SOLUTION: The non-contact carrying device has a suction section 20. In the suction section 20, a recess 73 is provided on a suction surface 21, and an air jet hole 81 open on the inner-periphery surface of the recess 73 is provided. The non-contact carrying device sucks on the suction surface 21 and holds a main surface 120 of a wiring board 110 for conveyance by negative pressure generated by air jetted out along the inner-periphery surface of the recess 73 from the air jet hole 81. The non-contact carrying device also has a substrate holding member 181 for holding and fixing the wiring board 110 without any positional misalignment by bringing the main surface 120 of the wiring board into contact with the outer-periphery edge of the wiring board 110 when sucking and holding the main surface 120 of the substrate on the suction surface 21. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、被搬送物である配線基板を、気流の作用を利用して搬送する配線基板の非接触搬送装置及び方法に関するものである。   The present invention relates to a non-contact transfer apparatus and method for a wiring board for transferring a wiring board as a transfer object using the action of an air current.

従来より、配線基板は、複数の製造工程を経て製造され、導通検査を行う検査工程を受けた後に出荷される。また、配線基板は、製造工程が終了する度に、次の工程を行うためのラインに搬送されるようになっている。なお、従来の搬送方法としては、エア吸着穴が開口された吸着ヘッドの下面に配線基板の表面を負圧で吸着し、この状態で、配線基板を吸着ヘッドとともに搬送する方法などが提案されている。しかし、吸着ヘッドで配線基板を搬送すると、吸着ヘッドの汚れや磨耗によって生じた異物(粉塵)が配線基板に付着するなどの問題がある。また、吸着ヘッドと配線基板との摩擦によって静電気が発生しやすいため、配線基板が帯電するなどの問題もある。このとき、配線基板の表面には周囲に浮遊している異物が付着しやすくなっており、一旦付着すると異物の除去が困難である。   Conventionally, a wiring board is manufactured through a plurality of manufacturing processes, and is shipped after undergoing an inspection process for conducting a continuity test. The wiring board is transported to a line for performing the next process every time the manufacturing process is completed. As a conventional transport method, a method has been proposed in which the surface of the wiring board is sucked with a negative pressure on the lower surface of the suction head having an air suction hole and the wiring board is transported together with the suction head in this state. Yes. However, when the wiring board is transported by the suction head, there is a problem that foreign matter (dust) generated by dirt or wear of the suction head adheres to the wiring board. Further, since static electricity is easily generated due to friction between the suction head and the wiring board, there is a problem that the wiring board is charged. At this time, foreign matters floating around the surface of the wiring board are likely to adhere to the surface of the wiring board. Once attached, it is difficult to remove the foreign matters.

そこで、配線基板などの被搬送物を非接触状態で吸引しながら搬送することにより、配線基板への異物の付着を少なくした搬送装置が提案されている(例えば特許文献1参照)。かかる搬送装置は、搬送ヘッド、搬送ヘッドの先端面(吸引面)にて開口する気体供給孔、及び、搬送ヘッドに装着されるとともに円板部を有するノズルなどを備えている。そして、搬送ヘッドの吸引面を配線基板に接近させ、気体供給孔から供給されたエアを吸引面と円板部との間に形成されたスリットを介して外部に導出すると、エアが搬送ヘッドの外側に放射状に放出される。これにより、ノズル付近と配線基板との空間が負圧となり、配線基板が搬送ヘッドに吸引保持される。この状態において、ロボットアームなどを用いて搬送ヘッドを搬送すれば、配線基板を非接触状態で搬送することができる。
特開2005−219922号公報(図1〜図5など)
In view of this, there has been proposed a transfer device that reduces the adhesion of foreign matter to the wiring board by transferring the object to be transferred such as the wiring board while sucking in a non-contact state (see, for example, Patent Document 1). Such a transport apparatus includes a transport head, a gas supply hole that opens at the front end surface (suction surface) of the transport head, and a nozzle that is attached to the transport head and has a disk portion. Then, when the suction surface of the transport head is brought close to the wiring board and the air supplied from the gas supply hole is led out to the outside through a slit formed between the suction surface and the disk portion, the air is transferred to the transport head. Radiated outwards. As a result, the space between the nozzle and the wiring board becomes negative pressure, and the wiring board is sucked and held by the transport head. In this state, if the transfer head is transferred using a robot arm or the like, the wiring board can be transferred in a non-contact state.
Japanese Patent Laying-Open No. 2005-219922 (FIGS. 1 to 5 etc.)

ところで、配線基板は、製造効率を上げるために高速搬送されるようになっている。しかし、上記した特許文献1に記載の従来技術では、配線基板を非接触状態で保持しているため、高速搬送すると、配線基板が横ずれしたり、配線基板の横ずれに起因して配線基板が落下したりするおそれがあり、配線基板の搬送が困難になる。   By the way, the wiring board is transported at a high speed in order to increase manufacturing efficiency. However, in the prior art described in Patent Document 1 described above, since the wiring board is held in a non-contact state, the wiring board may be laterally shifted or dropped due to the lateral displacement of the wiring board when transported at high speed. The wiring board becomes difficult to transport.

本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、高速搬送であっても、配線基板を確実に搬送することができる配線基板の非接触搬送装置及び方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a non-contact transfer device and method for a wiring board that can reliably transfer the wiring board even if it is high-speed transfer. is there.

そして上記課題を解決するための手段(手段1)としては、吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口するエア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材を設けたことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置がある。   And as means (means 1) for solving the above-mentioned problem, the air blowing is provided with a suction part provided with a recess on the suction surface and provided with an air blowing hole opened on the inner peripheral surface of the recess. In the non-contact transfer device that transfers the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transferred by sucking and holding the suction surface to the suction surface by the negative pressure generated by the air ejected from the hole along the inner peripheral surface of the recess. A non-wiring board is provided, wherein a board holding member is provided for holding and fixing the wiring board so that it cannot be displaced when the main surface of the board is sucked and held by the suction surface. There is a contact transport device.

従って、上記手段1の非接触搬送装置によると、エア吹出穴から噴出したエアにより発生する負圧によって配線基板を吸引保持できるばかりでなく、基板保持部材を配線基板の外周縁に接触させることによって、配線基板を位置ずれ不能に保持固定することができる。これにより、搬送中の配線基板の横ずれや、横ずれに起因する配線基板の落下が防止されるため、高速搬送であっても、配線基板を確実に搬送することができる。   Therefore, according to the non-contact conveyance device of the above means 1, not only the wiring board can be sucked and held by the negative pressure generated by the air blown out from the air blowing hole, but also by bringing the board holding member into contact with the outer peripheral edge of the wiring board. The wiring board can be held and fixed without being misaligned. Accordingly, the lateral displacement of the wiring board being transported and the falling of the wiring board due to the lateral displacement are prevented, so that the wiring board can be reliably transported even at high speed transportation.

なお、「配線基板」は、単一製品の配線基板だけでなく、配線基板となるべき基板形成領域が平面方向に沿って複数配置された多数個取り用配線基板も含むものとする。上記配線基板の形成材料としては、セラミック、金属、半導体などの無機材料や、樹脂などの有機材料を挙げることができ、コスト性、加工性、絶縁性、機械的強度などを考慮してそれらの中から適宜選択することができる。セラミック材料の好適例としては、例えばアルミナ、ガラスセラミック、結晶化ガラス等の低温焼成材料、窒化アルミニウム、炭化珪素、窒化珪素などがある。金属材料の好適例としては、銅、銅合金、鉄ニッケル合金などがある。半導体材料の好適例としては、例えばシリコンなどがある。そして、樹脂材料の好適例としては、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂などがある。そのほか、これらの樹脂とガラス繊維(ガラス織布やガラス不織布)やポリアミド繊維等の有機繊維との複合材料を使用してもよい。あるいは、連続多孔質PTFE等の三次元網目状フッ素系樹脂基材にエポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂を含浸させた樹脂−樹脂複合材料等を使用してもよい。特に、低コスト化などの観点からすれば、配線基板の形成材料として樹脂材料などの有機材料を選択することが好ましい。このような配線基板であれば、微細な導体層を比較的簡単にかつ正確に形成することができる。   The “wiring board” includes not only a single product wiring board but also a multi-cavity wiring board in which a plurality of substrate forming regions to be wiring boards are arranged along the plane direction. Examples of the material for forming the wiring board include inorganic materials such as ceramics, metals, and semiconductors, and organic materials such as resins. These materials are considered in consideration of cost, workability, insulation, mechanical strength, and the like. It can be suitably selected from the inside. Preferable examples of the ceramic material include low-temperature fired materials such as alumina, glass ceramic, and crystallized glass, aluminum nitride, silicon carbide, and silicon nitride. Suitable examples of the metal material include copper, a copper alloy, and an iron nickel alloy. A preferred example of the semiconductor material is silicon. Preferred examples of the resin material include polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide-triazine resin, polyphenylene ether resin, and the like. In addition, composite materials of these resins and glass fibers (glass woven fabric or glass nonwoven fabric) or organic fibers such as polyamide fibers may be used. Alternatively, a resin-resin composite material obtained by impregnating a thermosetting resin such as an epoxy resin with a three-dimensional network fluorine-based resin base material such as continuous porous PTFE may be used. In particular, from the viewpoint of cost reduction, it is preferable to select an organic material such as a resin material as a wiring board forming material. With such a wiring board, a fine conductor layer can be formed relatively easily and accurately.

また、配線基板の形成材料は樹脂材料などの有機材料であることが好ましいが、特に、前記配線基板は、複数の突起電極が配置された電極形成領域を前記基板主面上に有する樹脂製配線基板であることが好ましい。その理由は、配線基板を接触状態で搬送しようとする場合に、配線基板の基板主面に形成された突起電極が吸引部に押し潰されて変形するという問題が起こり、これを解決するうえで上記手段の非接触搬送装置を採用する意義が発生するからである。また、樹脂製配線基板には静電気が溜まりやすいという問題があるため、これを解決するうえで上記手段を採用する意義が大きいからである。   The wiring board forming material is preferably an organic material such as a resin material. In particular, the wiring board has a resin wiring having an electrode forming area in which a plurality of protruding electrodes are arranged on the main surface of the board. A substrate is preferred. The reason for this is that when the wiring board is to be transported in a contact state, there is a problem that the protruding electrode formed on the main surface of the wiring board is crushed by the suction portion and deformed. This is because the significance of adopting the non-contact conveyance device of the above means occurs. In addition, since the resin wiring board has a problem that static electricity tends to accumulate, it is significant to adopt the above-described means for solving this problem.

ここで、前記吸引部は、吸引面に設けられた凹部や、凹部の内周面にて開口するエア吹出穴などを有する。エア吹出穴の数は特に限定されないが、例えば2つであることが好ましい。仮に、吸引部がエア吹出穴を多数有している場合、吸引部の加工コストが高くなるという問題がある。一方、吸引部がエア吹出穴を1つしか有していない場合、エア吹出穴から凹部の内周面に沿ってエアを噴出したとしても、噴出したエアは真っ直ぐ流れる可能性が高いため、例えば旋回流などを形成することが困難になる。なお、前記吸引部の構造は特に限定されないが、例えば、金属材料からなる吸引部本体に樹脂製パッドを取り付けた構造であり、前記樹脂製パッドの正面が前記吸引面となっていることが好ましい。このようにすれば、配線基板の基板主面が吸引部の吸引面に接触したとしても、配線基板を傷付けなくても済む。   Here, the said suction part has the recessed part provided in the suction surface, the air blowing hole opened in the internal peripheral surface of a recessed part, etc. The number of air blowing holes is not particularly limited, but is preferably two, for example. If the suction part has many air blowing holes, there is a problem that the processing cost of the suction part becomes high. On the other hand, if the suction part has only one air blowing hole, even if the air is blown out from the air blowing hole along the inner peripheral surface of the recess, the blown air is likely to flow straight, for example, It becomes difficult to form a swirl flow or the like. The structure of the suction part is not particularly limited. For example, it is preferable that a resin pad is attached to a suction part body made of a metal material, and the front surface of the resin pad is the suction surface. . In this way, even if the board main surface of the wiring board comes into contact with the suction surface of the suction part, the wiring board does not need to be damaged.

なお、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する方法は、特に限定されないが、例えば、進退可能な可動部を有するアクチュエータを用い、その可動部に前記吸引部を支持させるとともに、前記吸引部の前記吸引面を包囲するように前記基板保持部材の接触部を配置し、基板保持固定時には前記可動部を後退させることで前記配線基板を前記基板保持部材に近づけて前記接触部を前記配線基板の外周縁に接触させる一方、基板釈放時には前記可動部を前進させることで前記配線基板を前記基板保持部材から遠ざけて前記接触部を前記配線基板と非接触の状態とすることが好ましい。このようにすれば、接触部が、基板保持固定時にはじめて配線基板の外周縁に接触するようになる。即ち、基板保持固定前の状態においては、配線基板に対する接触部の接触が避けられるため、基板主面上の構造物(例えば前記突起電極など)を傷付けなくて済むようになる。   The method for holding and fixing the wiring board so as not to be misaligned is not particularly limited.For example, an actuator having a movable part that can move forward and backward is used, and the movable part is supported by the movable part, and the suction part of the suction part is fixed. The contact portion of the substrate holding member is disposed so as to surround the suction surface, and when the substrate is held and fixed, the movable portion is moved backward to bring the wiring substrate closer to the substrate holding member so that the contact portion is placed on the wiring substrate. While contacting with the outer peripheral edge, it is preferable that when the substrate is released, the movable portion is advanced to move the wiring substrate away from the substrate holding member so that the contact portion is not in contact with the wiring substrate. In this way, the contact portion comes into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate only when the substrate is held and fixed. That is, in the state before holding and fixing the substrate, contact of the contact portion with the wiring substrate can be avoided, so that the structure on the main surface of the substrate (for example, the protruding electrode) can be prevented from being damaged.

ここで、進退可能な可動部を有するアクチュエータとしては、電気の供給により進退可能な可動部を有する電動アクチュエータや、流体の給排により進退可能な可動部を有する流体圧アクチュエータなどが挙げられる。電動アクチュエータとしては、例えば、モータと、モータの回転軸に取り付けられたピニオンと、ピニオンに噛み合うラック(可動部)とからなるものなどが挙げられる。また、流体圧アクチュエータとしては、エアシリンダや油圧シリンダなどが挙げられる。   Here, examples of the actuator having a movable part that can advance and retreat include an electric actuator having a movable part that can advance and retract by supplying electricity, and a fluid pressure actuator that has a movable part that can advance and retract by supplying and discharging fluid. Examples of the electric actuator include a motor, a pinion attached to a rotation shaft of the motor, and a rack (movable part) that meshes with the pinion. Examples of the fluid pressure actuator include an air cylinder and a hydraulic cylinder.

また、前記基板保持部材の接触部の形成材料としては、セラミック、金属、樹脂などを挙げることができるが、特には、機械的強度が比較的高いセラミックや金属によって形成されることが好ましい。このようにすれば、接触部を配線基板の外周縁に接触させた際に、配線基板を確実に保持固定することができる。さらに、接触部は、帯電防止材料を用いて構成されることが好ましい。このようにすれば、接触部の帯電を防止することができ、ひいては接触部に接触する配線基板の帯電を防止することができる。なお、帯電防止材料としては、金属材料や、プラスチック(ポリアミド、ポリウレタンなど)に導電性付与剤を混入させることにより導電性を付与した導電性プラスチックなどが挙げられる。ここで、導電性付与剤としては、カーボン系材料からなるもの、金属系材料からなるもの、その他の材料からなるものが挙げられる。カーボン系材料からなる導電性付与剤としては、カーボンブラック(アセチレンブラック、オイルファーネスブラック、サーマルブラックなど)、炭素繊維(PAN系、ピッチ系)、黒鉛などが挙げられる。金属系材料からなる導電性付与剤としては、金属微粉末(銀、銅、ニッケルなど)、金属酸化物(酸化亜鉛、酸化錫、酸化インジウムなど)、金属繊維(アルミ、ステンレスなど)、ウィスカー(アルミ、ステンレスなど)が挙げられる。その他の材料からなる導電性付与剤としては、ガラスビーズや合成繊維などが挙げられる。   Examples of the material for forming the contact portion of the substrate holding member include ceramic, metal, and resin. In particular, it is preferably formed of ceramic or metal having relatively high mechanical strength. In this way, the wiring board can be securely held and fixed when the contact portion is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board. Furthermore, the contact portion is preferably configured using an antistatic material. If it does in this way, electrification of a contact part can be prevented and, as a result, electrification of a wiring board which contacts a contact part can be prevented. In addition, as an antistatic material, the conductive plastic etc. which provided the electroconductivity by mixing a metal material or a plasticity (polyamide, polyurethane, etc.) with the electroconductivity imparting agent are mentioned. Here, examples of the conductivity imparting agent include those made of carbon materials, those made of metal materials, and those made of other materials. Examples of the conductivity imparting agent made of a carbon-based material include carbon black (acetylene black, oil furnace black, thermal black, etc.), carbon fiber (PAN-based, pitch-based), graphite, and the like. Conductivity-imparting agents made of metallic materials include fine metal powders (silver, copper, nickel, etc.), metal oxides (zinc oxide, tin oxide, indium oxide, etc.), metal fibers (aluminum, stainless steel, etc.), whiskers ( Aluminum, stainless steel, etc.). Examples of the conductivity imparting agent made of other materials include glass beads and synthetic fibers.

なお、接触部の数は特に限定されない。しかしながら、基板保持部材が接触部を多数有している場合、基板保持部材の製作コストが高くなるという問題がある。一方、基板保持部材が接触部を少数しか有していない場合、基板保持部材と配線基板との接触部分が少なすぎるため、配線基板を確実に保持固定できなくなる。また、各接触部は、吸引面の中心を基準として等角度間隔で配置されていることが好ましい。仮に、各接触部が吸引面の中心を基準として等角度間隔に配置されていないと、配線基板において接触部が接触する領域が偏ってしまうため、配線基板を確実に保持固定できなくなる。   The number of contact portions is not particularly limited. However, when the substrate holding member has a large number of contact portions, there is a problem that the manufacturing cost of the substrate holding member increases. On the other hand, when the substrate holding member has only a small number of contact portions, the contact portion between the substrate holding member and the wiring substrate is too small, so that the wiring substrate cannot be reliably held and fixed. Moreover, it is preferable that each contact part is arrange | positioned at equal angle intervals on the basis of the center of a suction surface. If the contact portions are not arranged at equiangular intervals with respect to the center of the suction surface, the contact area of the contact portion in the wiring substrate is biased, and the wiring substrate cannot be reliably held and fixed.

また、配線基板を搬送する搬送手段は特に限定されないが、例えば、吸引部を装着した搬送用多関節ロボットや、吸引部を装着したコンベアなどが挙げられる。なお、搬送手段として搬送用多関節ロボットを用いる場合の具体例としては、前記吸引部は搬送用多関節ロボットのアームの先端に支持されており、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定した状態で前記アームを駆動することなどが挙げられる。   Further, the transport means for transporting the wiring board is not particularly limited, and examples thereof include a transport articulated robot equipped with a suction unit and a conveyor equipped with a suction unit. As a specific example in the case of using a transfer articulated robot as a transfer means, the suction unit is supported at the tip of an arm of the transfer articulated robot, and the wiring board is held and fixed so as not to be misaligned. And driving the arm.

また、上記課題を解決するための別の手段(手段2)としては、吸引部の吸引面に設けられた凹部の内周面にて開口するエア吹出穴を設け、前記エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する方法において、前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に基板保持部材を前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定するようにしたことを特徴とする配線基板の非接触搬送方法がある。   Moreover, as another means (means 2) for solving the said subject, the air blowing hole opened in the internal peripheral surface of the recessed part provided in the suction surface of a suction part is provided, and the said recessed part is provided from the said air blowing hole. In the method of transporting the substrate main surface of the wiring substrate, which is an object to be transported, by suction holding the suction surface by the negative pressure generated by the air jetted along the inner peripheral surface of the substrate, the substrate main surface is moved to the suction surface. There is a non-contact transfer method for a wiring board, wherein a substrate holding member is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board when the board is sucked and held, so that the wiring board is held and fixed so as not to be misaligned.

従って、上記手段2の非接触搬送方法によると、エア吹出穴から噴出したエアにより発生する負圧によって配線基板が吸引保持されるばかりでなく、基板保持部材を配線基板の外周縁に接触させることによって、配線基板が位置ずれ不能に保持固定される。これにより、搬送中の配線基板の横ずれや、横ずれに起因する配線基板の落下が防止されるため、高速搬送であっても、配線基板を確実に搬送することができる。   Therefore, according to the non-contact conveying method of the means 2, not only the wiring board is sucked and held by the negative pressure generated by the air blown out from the air blowing hole, but also the board holding member is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board. As a result, the wiring board is held and fixed so that it cannot be displaced. Accordingly, the lateral displacement of the wiring board being transported and the falling of the wiring board due to the lateral displacement are prevented, so that the wiring board can be reliably transported even at high speed transportation.

以下、本発明を具体化した一実施形態を図面に基づき詳細に説明する。   Hereinafter, an embodiment embodying the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1に示されるように、非接触搬送装置1は、搬送用多関節ロボット2及び搬送ヘッド11を備え、被搬送物である配線基板110を気流の作用を利用して搬送するものである。   As shown in FIG. 1, the non-contact transfer device 1 includes a transfer multi-joint robot 2 and a transfer head 11, and transfers a wiring board 110 that is a transfer object using the action of an air current.

図2に示されるように、本実施形態の配線基板110は、ICチップ搭載用のオーガニック・パッケージ(樹脂製配線基板)であり、複数の製造工程後であって検査工程前の状態を示している。配線基板110は、略矩形板状のコア基板111と、コア基板111のコア主面112(図2では上面)上に形成される第1ビルドアップ層114と、コア基板111のコア裏面113(図2では下面)上に形成される第2ビルドアップ層115とからなる。ビルドアップ層114,115は、熱硬化性樹脂(エポキシ樹脂)からなる樹脂絶縁層と、銅からなる導体層とを交互に積層した構造を有している。また、配線基板110の基板主面120上(第1ビルドアップ層114の上面上)における複数箇所には、端子パッド116(突起電極)がアレイ状に形成され、配線基板110の基板裏面121上(第2ビルドアップ層115の下面上)における複数箇所には、BGA用パッド117がアレイ状に形成されている。さらに、端子パッド116の表面上には、複数のはんだバンプ118(突起電極)が配設されている。各はんだバンプ118には、矩形平板状をなすICチップの端子が接続されるようになっている。なお、各端子パッド116及び各はんだバンプ118からなる領域は、ICチップを搭載可能な電極形成領域119である。   As shown in FIG. 2, the wiring board 110 of this embodiment is an organic package (resin wiring board) for mounting an IC chip, and shows a state after a plurality of manufacturing steps and before an inspection step. Yes. The wiring substrate 110 includes a substantially rectangular plate-shaped core substrate 111, a first buildup layer 114 formed on a core main surface 112 (upper surface in FIG. 2) of the core substrate 111, and a core back surface 113 ( The second buildup layer 115 is formed on the lower surface in FIG. The build-up layers 114 and 115 have a structure in which a resin insulating layer made of a thermosetting resin (epoxy resin) and a conductor layer made of copper are alternately laminated. In addition, terminal pads 116 (projection electrodes) are formed in an array at a plurality of locations on the substrate main surface 120 (on the upper surface of the first buildup layer 114) of the wiring substrate 110, and on the substrate back surface 121 of the wiring substrate 110. BGA pads 117 are formed in an array at a plurality of locations (on the lower surface of the second buildup layer 115). Further, a plurality of solder bumps 118 (protruding electrodes) are disposed on the surface of the terminal pad 116. Each solder bump 118 is connected to a terminal of an IC chip having a rectangular flat plate shape. Note that an area formed by each terminal pad 116 and each solder bump 118 is an electrode forming area 119 on which an IC chip can be mounted.

図1,図3,図4に示されるように、前記搬送ヘッド11は、前記搬送用多関節ロボット2のアーム3の先端に装着されている。搬送ヘッド11は、アーム3の先端に接続される接続板12と、4本の連結棒13を介して接続板12に連結される支持板14と、支持板14に支持される流体圧アクチュエータであるエアシリンダ15と、上端部において支持板14に連結されるとともに互いに離間した状態で下方に延びる一対の腕部16とを備えている。エアシリンダ15は、箱状をなすシリンダ本体17と、シリンダ本体17内に上下動可能に収容されたピストン(図示略)と、ピストンに連結された可動部であるロッド(図示略)とを有している。ロッドは、シリンダ本体17内にエアが供給されてピストンが下方に移動したときにシリンダ本体17の下端部から突出し、シリンダ本体17内からエアが排出されてピストンが上方に移動したときにシリンダ本体17内に後退するようになっている。また、ロッドの先端には、配線基板110を吸引する吸引部20が取り付けられている。吸引部20は、ロッドによって支持されており、吸引面21を配線基板110に向けた状態で配線基板110に対して接近及び離間するようになっている。なお本実施形態では、エアシリンダ15の構成部品(シリンダ本体17、ピストン及びロッド)が、搬送ヘッド11の中央(即ち吸引面21の中心軸線上)に配置されている。   As shown in FIGS. 1, 3, and 4, the transfer head 11 is attached to the tip of the arm 3 of the transfer articulated robot 2. The transport head 11 is a connection plate 12 connected to the tip of the arm 3, a support plate 14 connected to the connection plate 12 via four connection rods 13, and a fluid pressure actuator supported by the support plate 14. There is provided an air cylinder 15 and a pair of arm portions 16 which are connected to the support plate 14 at the upper end portion and extend downward while being separated from each other. The air cylinder 15 has a box-shaped cylinder body 17, a piston (not shown) accommodated in the cylinder body 17 so as to be movable up and down, and a rod (not shown) that is a movable part connected to the piston. is doing. The rod protrudes from the lower end of the cylinder body 17 when air is supplied into the cylinder body 17 and the piston moves downward. When the air is discharged from the cylinder body 17 and the piston moves upward, the cylinder body. 17 is configured to retreat inside. A suction part 20 for sucking the wiring board 110 is attached to the tip of the rod. The suction unit 20 is supported by a rod, and approaches and separates from the wiring board 110 with the suction surface 21 facing the wiring board 110. In this embodiment, the components of the air cylinder 15 (cylinder main body 17, piston and rod) are arranged at the center of the transport head 11 (that is, on the central axis of the suction surface 21).

また図1,図3,図4に示されるように、搬送ヘッド11は、配線基板110を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材181を備えている。基板保持部材181は、2本のネジ182を介して各腕部16に固定される部材本体183と、上端部において部材本体183に接続されるとともに互いに離間した状態で下方に延びる4つの接触部184とを備えている。各接触部184は、吸引部20とは別体に設けられるとともに、吸引面21を構成する四辺の外側から吸引部20の吸引面21を包囲するように配置されている。また、各接触部184は、吸引面21の中心を基準として等角度(90°)間隔で配置されている。そして、各接触部184の内側面は、エアシリンダ15のロッドを後退させることで配線基板110を基板保持部材181に近づけた基板保持固定時に、吸引部20の外周面に接触するようになっている(図3,図24参照)。なお、各接触部184は、帯電防止材料(本実施形態ではアルミニウム)によって形成され、高さ12mm×幅6mm×厚さ3mmの略矩形板状をなしている。また、各接触部184は、下端部内側にそれぞれ面取り部185を有している。各面取り部185は、基板保持固定時に配線基板110の外周縁に接触するようになっている(図3,図24参照)。   As shown in FIGS. 1, 3, and 4, the transport head 11 includes a substrate holding member 181 that holds and fixes the wiring substrate 110 so as not to be misaligned. The substrate holding member 181 includes a member main body 183 that is fixed to each arm portion 16 via two screws 182 and four contact portions that are connected to the member main body 183 at the upper end portion and extend downward while being separated from each other. 184. Each contact portion 184 is provided separately from the suction portion 20 and is disposed so as to surround the suction surface 21 of the suction portion 20 from the outside of the four sides constituting the suction surface 21. Further, the contact portions 184 are arranged at equiangular (90 °) intervals with the center of the suction surface 21 as a reference. The inner surface of each contact portion 184 comes into contact with the outer peripheral surface of the suction portion 20 when the substrate of the wiring board 110 is brought close to the substrate holding member 181 by retracting the rod of the air cylinder 15. (See FIGS. 3 and 24). Each contact portion 184 is formed of an antistatic material (aluminum in the present embodiment) and has a substantially rectangular plate shape with a height of 12 mm, a width of 6 mm, and a thickness of 3 mm. Each contact portion 184 has a chamfered portion 185 inside the lower end portion. Each chamfered portion 185 comes into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate 110 when the substrate is held and fixed (see FIGS. 3 and 24).

図5〜図8に示されるように、前記吸引部20は、上蓋部31、吸引部本体22、ノズル支持体51、ノズル本体61及び樹脂製パッド40を備えている。図9に示されるように、上蓋部31は、金属材料(本実施形態では、プラチナを含有するアルミニウム合金)によって形成され、縦35mm×横35mm×高さ6mmの略矩形板状をなしている。上蓋部31の4つの角部のうち3つの角部にはネジ挿通孔32が設けられ、残り1つの角部には第1ポート取付孔33が設けられている。また、上蓋部31の中央部には、直径7mmの第1ノズル挿通孔34が設けられている。そして、3つのネジ挿通孔32のうち2つのネジ挿通孔32と第1ノズル挿通孔34との間にはシャフト取付孔35が設けられ、残り1つのネジ挿通孔32と第1ノズル挿通孔34との間には第3ポート取付孔36が設けられている。   As shown in FIGS. 5 to 8, the suction part 20 includes an upper lid part 31, a suction part body 22, a nozzle support 51, a nozzle body 61, and a resin pad 40. As shown in FIG. 9, the upper lid portion 31 is made of a metal material (in this embodiment, an aluminum alloy containing platinum) and has a substantially rectangular plate shape of 35 mm long × 35 mm wide × 6 mm high. . Screw insertion holes 32 are provided at three corners of the four corners of the upper lid portion 31, and first port mounting holes 33 are provided at the remaining one corner. In addition, a first nozzle insertion hole 34 having a diameter of 7 mm is provided at the center of the upper lid portion 31. A shaft mounting hole 35 is provided between two of the three screw insertion holes 32 and the first nozzle insertion hole 34, and the remaining one screw insertion hole 32 and the first nozzle insertion hole 34. A third port mounting hole 36 is provided between the first and second ports.

図5,図6,図8に示されるように、第1ポート取付孔33には第1ポート91が取り付けられ、第3ポート取付孔36には第3ポート93が取り付けられている。また、上蓋部31の中央部には、金属材料(本実施形態ではSUJ2)によって形成されたシャフト94が取り付けられている。シャフト94は、棒状の円管部95と、円管部95の下端部に一体形成された略矩形板状の支持板96とを有している。円管部95には、第1ノズル挿通孔34に連通する貫通孔97が設けられ、円管部95の上端部には、貫通孔97に連通する第2ポート取付孔98が設けられている。さらに、第2ポート取付孔98には第2ポート92が取り付けられている。なお、各ポート91〜93は、ポリウレタンに導電性金属を混入させた導電性プラスチックによって形成され、各ポート91〜93には帯電防止チューブ99が接続されている。また、支持板96の両端部には一対のネジ孔(図示略)が設けられている。従って、両ネジ孔にネジ100を挿通し、挿通したネジ100をシャフト取付孔35に螺着させることにより、シャフト94が上蓋部31に固定される。   As shown in FIGS. 5, 6, and 8, the first port 91 is attached to the first port attachment hole 33, and the third port 93 is attached to the third port attachment hole 36. A shaft 94 made of a metal material (SUJ2 in the present embodiment) is attached to the central portion of the upper lid portion 31. The shaft 94 includes a rod-shaped circular pipe portion 95 and a substantially rectangular plate-shaped support plate 96 integrally formed at the lower end portion of the circular pipe portion 95. The circular pipe part 95 is provided with a through hole 97 that communicates with the first nozzle insertion hole 34, and a second port attachment hole 98 that communicates with the through hole 97 is provided at the upper end part of the circular pipe part 95. . Further, the second port 92 is attached to the second port attachment hole 98. Each of the ports 91 to 93 is formed of a conductive plastic obtained by mixing a conductive metal into polyurethane, and an antistatic tube 99 is connected to each of the ports 91 to 93. In addition, a pair of screw holes (not shown) are provided at both ends of the support plate 96. Therefore, the shaft 94 is fixed to the upper lid portion 31 by inserting the screw 100 into both screw holes and screwing the inserted screw 100 into the shaft mounting hole 35.

図10〜図12に示されるように、前記吸引部本体22は、金属材料(本実施形態ではアルミニウム)によって形成され、縦35mm×横35mm×高さ18.5mmの略直方体状をなしている。吸引部本体22には、同吸引部本体22の下面24にて開口する収容凹部25が設けられている。本実施形態の収容凹部25は、内径18mm、深さ12.5mmに設定されている。また、吸引部本体22の中央部には、直径7mmの第2ノズル挿通孔26が設けられている。第2ノズル挿通孔26は、上蓋部31の第1ノズル挿通孔34に連通するとともに、吸引部本体22の上面23及び収容凹部25の底面を貫通している。さらに、吸引部本体22において第2ノズル挿通孔26の両側には、上面23及び収容凹部25の底面を貫通する支持体取付孔27が設けられている。   As shown in FIGS. 10 to 12, the suction part main body 22 is formed of a metal material (aluminum in the present embodiment) and has a substantially rectangular parallelepiped shape with a length of 35 mm × width of 35 mm × height of 18.5 mm. . The suction part main body 22 is provided with an accommodation recess 25 that opens at the lower surface 24 of the suction part main body 22. The housing recess 25 of this embodiment is set to have an inner diameter of 18 mm and a depth of 12.5 mm. In addition, a second nozzle insertion hole 26 having a diameter of 7 mm is provided in the central portion of the suction unit body 22. The second nozzle insertion hole 26 communicates with the first nozzle insertion hole 34 of the upper lid part 31 and penetrates the upper surface 23 of the suction part main body 22 and the bottom surface of the housing recess 25. Further, on the both sides of the second nozzle insertion hole 26 in the suction part main body 22, support body mounting holes 27 penetrating the upper surface 23 and the bottom surface of the accommodating recess 25 are provided.

また、吸引部本体22には、上面23及び下面24を貫通する12個の集塵流路191が設けられている。各集塵流路191は、吸引部本体22における収容凹部25の外側領域に配置されるとともに、第2ノズル挿通孔26の中心軸線を基準として等角度(30°)間隔で配置されている。さらに、吸引部本体22の上面23には、エアが流通可能な共通集塵流路192が円形状に形成されている。共通集塵流路192には、吸引部本体22の内部にて個々の集塵流路191が合流するようになっている。そして、共通集塵流路192は、上蓋部31の前記第3ポート取付孔36に連通し、真空引き手段である集塵ユニット151(図22参照)に接続されている。   The suction body 22 is provided with twelve dust collecting channels 191 that penetrate the upper surface 23 and the lower surface 24. The dust collecting channels 191 are arranged in an outer region of the housing recess 25 in the suction unit main body 22 and are arranged at equiangular (30 °) intervals with reference to the central axis of the second nozzle insertion hole 26. Furthermore, a common dust collection channel 192 through which air can flow is formed in a circular shape on the upper surface 23 of the suction unit body 22. The individual dust collection channels 191 join the common dust collection channel 192 inside the suction unit main body 22. The common dust collecting flow path 192 communicates with the third port mounting hole 36 of the upper lid portion 31 and is connected to a dust collecting unit 151 (see FIG. 22) that is a vacuum evacuation means.

図10に示されるように、吸引部本体22の4つの角部のうち3つの角部には蓋部取付穴28が設けられている。よって、前記ネジ挿通孔32にネジ29(図8参照)を挿通し、挿通したネジ29を蓋部取付穴28に螺着させることにより、上蓋部31が吸引部本体22に固定される。また、上記4つの角部のうち残り1つの角部には、前記第1ポート取付孔33に連通し、上面23及び下面24を貫通する吸着流路195が設けられている。図11,図12に示されるように、吸引部本体22の下面24には、エアが流通可能な共通吸着流路196が略正方形状に形成されている。そして、共通吸着流路196は、上蓋部31の前記第1ポート取付孔33に連通し、真空引き手段である吸着ユニット161(図22参照)に接続されている。   As shown in FIG. 10, lid mounting holes 28 are provided in three of the four corners of the suction unit body 22. Therefore, by inserting the screw 29 (see FIG. 8) through the screw insertion hole 32 and screwing the inserted screw 29 into the lid mounting hole 28, the upper lid portion 31 is fixed to the suction portion main body 22. In addition, an adsorption channel 195 that communicates with the first port mounting hole 33 and penetrates the upper surface 23 and the lower surface 24 is provided in the remaining one of the four corners. As shown in FIGS. 11 and 12, a common adsorption channel 196 through which air can flow is formed in a substantially square shape on the lower surface 24 of the suction portion main body 22. The common adsorption flow path 196 communicates with the first port mounting hole 33 of the upper lid portion 31 and is connected to an adsorption unit 161 (see FIG. 22) that is a vacuum evacuation means.

図13,図14に示されるように、前記ノズル支持体51は、吸引部本体22の前記収容凹部25に収容されている。ノズル支持体51は、金属材料(本実施形態ではアルミニウム)によって形成され、直径18mm×高さ14mmの略円柱状をなしている。ノズル支持体51には、同ノズル支持体51の下面53にて開口する収容部54が設けられている。本実施形態の収容部54は、内径16mm、深さ7.5mmに設定されている。また、ノズル支持体51の中央部には、直径7mmの第3ノズル挿通孔55が設けられている。第3ノズル挿通孔55は、吸引部本体22の前記第2ノズル挿通孔26に連通するとともに、ノズル支持体51の上面52及び収容部54の底面を貫通している。さらに、ノズル支持体51において第3ノズル挿通孔55の両側には、上面52及び収容部54の底面を貫通するノズル取付孔57が設けられている。また、ノズル支持体51において第3ノズル挿通孔55の両側には、上面52にて開口するネジ取付穴56が設けられている。よって、前記支持体取付孔27にネジ30(図8参照)を挿通し、挿通したネジ30をネジ取付穴56に螺着させることにより、ノズル支持体51が吸引部本体22に固定される。   As shown in FIGS. 13 and 14, the nozzle support 51 is housed in the housing recess 25 of the suction body 22. The nozzle support 51 is made of a metal material (aluminum in this embodiment) and has a substantially cylindrical shape with a diameter of 18 mm and a height of 14 mm. The nozzle support 51 is provided with an accommodating portion 54 that opens at the lower surface 53 of the nozzle support 51. The accommodating part 54 of this embodiment is set to an inner diameter of 16 mm and a depth of 7.5 mm. Further, a third nozzle insertion hole 55 having a diameter of 7 mm is provided at the center of the nozzle support 51. The third nozzle insertion hole 55 communicates with the second nozzle insertion hole 26 of the suction portion main body 22 and penetrates the upper surface 52 of the nozzle support 51 and the bottom surface of the accommodating portion 54. Furthermore, nozzle attachment holes 57 penetrating the upper surface 52 and the bottom surface of the accommodating portion 54 are provided on both sides of the third nozzle insertion hole 55 in the nozzle support 51. In addition, screw attachment holes 56 that open on the upper surface 52 are provided on both sides of the third nozzle insertion hole 55 in the nozzle support 51. Therefore, the nozzle support 51 is fixed to the suction portion main body 22 by inserting the screw 30 (see FIG. 8) through the support attachment hole 27 and screwing the inserted screw 30 into the screw attachment hole 56.

図15〜図18に示されるように、前記ノズル本体61は、金属材料(本実施形態ではアルミニウム)によって形成され、前記吸引面21の一部を構成する下端面62を有している。また、ノズル本体61は、棒状の軸部63と、軸部63の下端部に形成された本体部64とを有している。軸部63は、直径7mm×高さ15.2mmの略円柱状をなし、第3ノズル挿通孔55、第2ノズル挿通孔26及び前記第1ノズル挿通孔34に挿入されている。なお、第1ノズル挿通孔34には、第1ノズル挿通孔34と軸部63との隙間を塞ぐOリング60(図8参照)が軸部63の上端面に接触した状態で取り付けられている。   As shown in FIGS. 15 to 18, the nozzle body 61 is made of a metal material (aluminum in this embodiment) and has a lower end surface 62 that constitutes a part of the suction surface 21. The nozzle body 61 includes a rod-shaped shaft portion 63 and a body portion 64 formed at the lower end portion of the shaft portion 63. The shaft portion 63 has a substantially cylindrical shape with a diameter of 7 mm and a height of 15.2 mm, and is inserted into the third nozzle insertion hole 55, the second nozzle insertion hole 26, and the first nozzle insertion hole 34. Note that an O-ring 60 (see FIG. 8) that closes the gap between the first nozzle insertion hole 34 and the shaft portion 63 is attached to the first nozzle insertion hole 34 in contact with the upper end surface of the shaft portion 63. .

一方、本体部64は、直径15mm×高さ8.6mmの略円柱状をなし、ノズル支持体51の収容部54に収容されている。本体部64において軸部63の両側には、本体部64の上面にて開口するネジ取付穴65が設けられている。よって、前記ノズル取付孔57にネジ58(図8参照)を挿通し、挿通したネジ58をネジ取付穴65に螺着させることにより、ノズル本体61がノズル支持体51に固定される。また、本体部64の上端部における外周面には、高さ0.5mmの上側張出部66が突設されている。これにより、本体部64の上端部の直径が16mmとなるため、本体部64の上端部は収容部54の内側面に接触するようになる(図8参照)。一方、本体部64の下端部における外周面には、高さ1.5mmの下側張出部67が突設されている。これにより、本体部64の下端部の直径が18mmとなり、下側張出部67はノズル支持体51の前記下面53に接触するようになる(図8参照)。その結果、本体部64の外周面と収容部54の内側面との間には、空間S(図8参照)が生じるようになる。   On the other hand, the main body 64 has a substantially cylindrical shape with a diameter of 15 mm and a height of 8.6 mm, and is accommodated in the accommodating portion 54 of the nozzle support 51. On the both sides of the shaft portion 63 in the main body portion 64, screw mounting holes 65 that open on the upper surface of the main body portion 64 are provided. Therefore, the nozzle body 61 is fixed to the nozzle support 51 by inserting the screw 58 (see FIG. 8) through the nozzle mounting hole 57 and screwing the inserted screw 58 into the screw mounting hole 65. Further, an upper projecting portion 66 having a height of 0.5 mm is projected from the outer peripheral surface of the upper end portion of the main body portion 64. Thereby, since the diameter of the upper end part of the main-body part 64 will be 16 mm, the upper-end part of the main-body part 64 comes to contact the inner surface of the accommodating part 54 (refer FIG. 8). On the other hand, a lower projecting portion 67 having a height of 1.5 mm protrudes from the outer peripheral surface of the lower end portion of the main body portion 64. Thereby, the diameter of the lower end part of the main-body part 64 becomes 18 mm, and the lower side overhang | projection part 67 comes to contact the said lower surface 53 of the nozzle support body 51 (refer FIG. 8). As a result, a space S (see FIG. 8) is generated between the outer peripheral surface of the main body portion 64 and the inner side surface of the accommodating portion 54.

図15,図16,図18に示されるように、ノズル本体61の内部には、イオンエアを供給するエア流路71が設けられている。また、ノズル本体61には、エア流路71の内壁面及びノズル本体61の外周面を貫通する迂回流路72が設けられている。なお、迂回流路72を通過したイオンエアは、上記の空間Sに導かれる。   As shown in FIGS. 15, 16, and 18, an air flow path 71 that supplies ion air is provided inside the nozzle body 61. The nozzle body 61 is provided with a bypass flow path 72 that penetrates the inner wall surface of the air flow path 71 and the outer peripheral surface of the nozzle body 61. The ion air that has passed through the bypass flow path 72 is guided to the space S described above.

図15,図17,図18に示されるように、ノズル本体61の下端面62には下方から見て円形状をなす凹部73が設けられている。凹部73の開口部分には、凹部73内で発生した旋回流F1(図23,図24参照)を効率良く凹部73の外部に放出するための面取り部74が設けられている。また、凹部73の中心には、断面略台形状の除塵用ノズル75が突設されている。さらに、ノズル本体61には、凹部73の内壁面76(内周面)及び前記本体部64の外周面にて開口する第1エア吹出穴81が2箇所に設けられている。各第1エア吹出穴81は、除塵用ノズル75の中心軸線を基準としたときに点対称となるように配置されており、内壁面76において凹部73の周方向に沿って開口している。各第1エア吹出穴81は、空間Sに導かれたイオンエアを凹部73内に噴出するようになっている。そして、それぞれの第1エア吹出穴81から噴出されるイオンエアは、凹部73の周方向に沿って導かれ、旋回流F1を形成するようになっている。即ち、本実施形態の吸引部20は、吸引部本体22と配線基板110との間に発生する空気流によって生じるベルヌーイ効果を利用して配線基板110を保持するようにしたベルヌーイチャックである。   As shown in FIGS. 15, 17, and 18, the lower end surface 62 of the nozzle body 61 is provided with a concave portion 73 having a circular shape when viewed from below. A chamfered portion 74 for efficiently discharging the swirl flow F <b> 1 (see FIGS. 23 and 24) generated in the concave portion 73 is provided at the opening portion of the concave portion 73. Further, a dust removal nozzle 75 having a substantially trapezoidal cross section is provided at the center of the recess 73. Further, the nozzle main body 61 is provided with two first air blowing holes 81 that open on the inner wall surface 76 (inner peripheral surface) of the recess 73 and the outer peripheral surface of the main body portion 64. The first air blowing holes 81 are arranged so as to be point-symmetrical with respect to the central axis of the dust removal nozzle 75 and open along the circumferential direction of the recess 73 on the inner wall surface 76. Each first air blowing hole 81 is configured to jet ion air guided to the space S into the recess 73. And the ion air ejected from each 1st air blowing hole 81 is guide | induced along the circumferential direction of the recessed part 73, and forms the swirl | vortex flow F1. In other words, the suction unit 20 of the present embodiment is a Bernoulli chuck that holds the wiring board 110 by using the Bernoulli effect generated by the air flow generated between the suction part main body 22 and the wiring board 110.

図15〜図18に示されるように、凹部73内において第1エア吹出穴81とは異なる位置には、前記エア流路71に連通する第2エア吹出穴82が設けられている。即ち、エア流路71は、第1エア吹出穴81及び第2エア吹出穴82のそれぞれにイオンエアを供給する共通の流路である。また、第2エア吹出穴82は、第1エア吹出穴81よりも凹部73の中心に近接して配置されている。具体的に言うと、第2エア吹出穴82は、除塵用ノズル75の先端にて開口するように配置されている。そして、第2エア吹出穴82は、エア流路71を流れるイオンエアを前記配線基板110の基板主面120に向けて垂直に吹き付けるようになっている。なお、第2エア吹出穴82の内径は、噴出するイオンエアによって基板主面120上の異物を除去でき、かつ配線基板110を持ち上げる力を相殺しない程度の大きさに設定されることが好ましい。仮に、第2エア吹出穴82の内径が小さ過ぎると、第2エア吹出穴82から噴出するイオンエアの勢いが小さくなり過ぎるため、イオンエアが配線基板110の基板主面120に届きにくくなる。一方、第2エア吹出穴82の内径が大き過ぎると、第2エア吹出穴82から噴出するイオンエアの勢いが大きくなり過ぎて配線基板110を持ち上げる力を相殺してしまうため、配線基板110が持ち上がらなくなる。   As shown in FIGS. 15 to 18, a second air blowing hole 82 communicating with the air flow path 71 is provided in a position different from the first air blowing hole 81 in the recess 73. That is, the air flow path 71 is a common flow path for supplying ion air to each of the first air blowing hole 81 and the second air blowing hole 82. Further, the second air blowing hole 82 is arranged closer to the center of the recess 73 than the first air blowing hole 81. Specifically, the second air blowing hole 82 is disposed so as to open at the tip of the dust removal nozzle 75. The second air blowing hole 82 is configured to blow ion air flowing through the air flow path 71 vertically toward the board main surface 120 of the wiring board 110. In addition, it is preferable that the inner diameter of the second air blowing hole 82 is set to such a size that foreign matter on the substrate main surface 120 can be removed by the blown ion air and the force for lifting the wiring substrate 110 is not offset. If the inner diameter of the second air blowing hole 82 is too small, the momentum of the ion air ejected from the second air blowing hole 82 becomes too small, so that the ion air is difficult to reach the substrate main surface 120 of the wiring board 110. On the other hand, if the inner diameter of the second air blowing hole 82 is too large, the momentum of the ion air ejected from the second air blowing hole 82 becomes too large to cancel the force for lifting the wiring board 110, so that the wiring board 110 is lifted. Disappear.

図19〜図21に示されるように、前記樹脂製パッド40は、前記吸引部本体22に取り付けられ、正面(下面)が前記吸引面21となっている。樹脂製パッド40は、樹脂材料(本実施形態ではエーテル系ウレタン)によって形成され、縦35mm×横35mm×高さ2.5mmの略矩形板状をなしている。また、樹脂製パッド40の中央部には、直径18.3mmの貫通孔41が設けられている。貫通孔41は、前記本体部64の凹部73等を露出させるようになっている(図7参照)。さらに、樹脂製パッド40には、前記集塵流路191に連通する12個の集塵穴42が設けられている。各集塵穴42は、貫通孔41及び凹部73の外側領域にて開口するように配設され、凹部73を包囲するように凹部外周縁に沿って複数箇所に配設されている(図7参照)。具体的に言うと、各集塵穴42は、貫通孔41の中心軸線を基準として等角度(30°)間隔で配置されている。また、吸引面21において各集塵穴42の外側領域には、各集塵穴42を包囲する集塵防壁43が突設されている。集塵防壁43は、内径が26mmであって外径が29mmの円環状をなし、高さが1.2mmに設定されている。   As shown in FIGS. 19 to 21, the resin pad 40 is attached to the suction unit body 22, and the front surface (lower surface) is the suction surface 21. The resin pad 40 is made of a resin material (ether urethane in this embodiment) and has a substantially rectangular plate shape of 35 mm long × 35 mm wide × 2.5 mm high. Further, a through hole 41 having a diameter of 18.3 mm is provided at the center of the resin pad 40. The through hole 41 exposes the recess 73 and the like of the main body 64 (see FIG. 7). Further, the resin pad 40 is provided with twelve dust collecting holes 42 communicating with the dust collecting channel 191. Each dust collection hole 42 is disposed so as to open in the outer region of the through hole 41 and the recess 73, and is disposed at a plurality of locations along the outer periphery of the recess so as to surround the recess 73 (FIG. 7). reference). More specifically, the dust collecting holes 42 are arranged at equiangular (30 °) intervals with the central axis of the through hole 41 as a reference. In addition, a dust collection barrier 43 that surrounds each dust collection hole 42 protrudes from an outer region of each dust collection hole 42 on the suction surface 21. The dust collecting barrier 43 has an annular shape with an inner diameter of 26 mm and an outer diameter of 29 mm, and the height is set to 1.2 mm.

図19,図21に示されるように、吸引面21の最外周部、即ち、樹脂製パッド40の4つの角部には、吸引面21より1.5mmだけ突出した凸部44が形成されている。さらに、樹脂製パッド40には、4個の真空吸着穴45がそれぞれの凸部44にて開口するように配設されている。即ち、各真空吸着穴45は、貫通孔41及び凹部73の外側領域にて開口するように配設されている。そして、各真空吸着穴45は、樹脂製パッド40を貫通する吸着流路46に連通しており、個々の吸着流路46は、吸引部本体22の前記共通吸着流路196に合流している(図8参照)。   As shown in FIGS. 19 and 21, the outermost peripheral portion of the suction surface 21, that is, the four corners of the resin pad 40, are formed with convex portions 44 that protrude by 1.5 mm from the suction surface 21. Yes. Further, four vacuum suction holes 45 are arranged in the resin pad 40 so as to open at the respective convex portions 44. That is, each vacuum suction hole 45 is disposed so as to open in the outer region of the through hole 41 and the recess 73. Each vacuum suction hole 45 communicates with a suction flow path 46 that penetrates the resin pad 40, and each suction flow path 46 joins the common suction flow path 196 of the suction unit body 22. (See FIG. 8).

なお、前記基板保持部材181の接触部184には、静電電位センサ105(図22,図23参照)が設置されている。静電電位センサ105は、接触部184内に埋設されており、接触部184の面取り部185から露出するように配置されている。つまり、静電電位センサ105は、前記配線基板110の外周縁に接触する位置に設けられている。静電電位センサ105は、配線基板110に帯電した静電気を測定して、静電気測定信号を出力するようになっている。   An electrostatic potential sensor 105 (see FIGS. 22 and 23) is installed on the contact portion 184 of the substrate holding member 181. The electrostatic potential sensor 105 is embedded in the contact portion 184 and is disposed so as to be exposed from the chamfered portion 185 of the contact portion 184. That is, the electrostatic potential sensor 105 is provided at a position in contact with the outer peripheral edge of the wiring board 110. The electrostatic potential sensor 105 measures static electricity charged on the wiring board 110 and outputs a static electricity measurement signal.

次に、非接触搬送装置1のシステム構成について説明する。   Next, the system configuration of the non-contact conveyance device 1 will be described.

図22に示されるように、非接触搬送装置1は、加圧エアを送り出すエア供給源131を備えている。また、非接触搬送装置1は、エア供給源131と吸引部20との間を連通しうるエア供給経路を構成するエア供給流路130を備えている。エア供給流路130は、下流側において、旋回流形成経路を構成する第1エア流路140と、集塵経路を構成する第2エア流路150と、真空引き経路を構成する第3エア流路160とに分岐している。第1エア流路140は、帯電防止チューブ99(図6参照)及び第2ポート92(図5,図22のb参照)を介して吸引部20のエア流路71に連通している。第2エア流路150は、帯電防止チューブ99及び第3ポート93(図5,図22のc参照)を介して吸引部20の集塵流路191に連通している。第3エア流路160は、帯電防止チューブ99及び第1ポート91(図5,図22のa参照)を介して吸引部20の吸着流路195に連通している。   As shown in FIG. 22, the non-contact conveyance device 1 includes an air supply source 131 that sends out pressurized air. Further, the non-contact conveyance device 1 includes an air supply flow path 130 that constitutes an air supply path capable of communicating between the air supply source 131 and the suction unit 20. On the downstream side, the air supply flow path 130 includes a first air flow path 140 that forms a swirl flow forming path, a second air flow path 150 that forms a dust collection path, and a third air flow that forms a vacuum suction path. Branches to the road 160. The first air flow path 140 communicates with the air flow path 71 of the suction unit 20 via the antistatic tube 99 (see FIG. 6) and the second port 92 (see b in FIGS. 5 and 22). The second air flow path 150 communicates with the dust collection flow path 191 of the suction unit 20 via the antistatic tube 99 and the third port 93 (see c in FIGS. 5 and 22). The third air flow path 160 communicates with the suction flow path 195 of the suction unit 20 via the antistatic tube 99 and the first port 91 (see a in FIGS. 5 and 22).

図22に示されるように、エア供給流路130上にはエア供給バルブ132が設置されている。エア供給バルブ132は、エア供給源131の下流側に配置されており、エア供給流路130を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。エア供給バルブ132は、開状態に切り替えられた際に、下流側にエアを供給可能とするようになっている。なお、本実施形態のエア供給バルブ132は、図示しないソレノイドにより作動する電磁弁である。   As shown in FIG. 22, an air supply valve 132 is installed on the air supply channel 130. The air supply valve 132 is disposed on the downstream side of the air supply source 131, and switches the air supply flow path 130 between an open state and a closed state. The air supply valve 132 is configured to be able to supply air to the downstream side when switched to the open state. Note that the air supply valve 132 of the present embodiment is an electromagnetic valve that is operated by a solenoid (not shown).

また、エア供給流路130上には、エア供給流路130内のエア圧力を一定値に調整する空気圧調整ユニット133が設置されている。即ち、空気圧調整ユニット133は、エア供給流路130を介してエア供給バルブ132及びエア供給源131と流路的に接続されている。空気圧調整ユニット133は、エアフィルタ134、圧力計135及び減圧弁136を備えている。エアフィルタ134は、エア供給バルブ132の下流側に配置されており、エア供給流路130内を通過するエアに含まれる異物を除去するようになっている。また、圧力計135は、エアフィルタ134の下流側に配置されており、エア供給流路130内を通過するエアの圧力を計測するようになっている。さらに、減圧弁136は、圧力計135の下流側に配置されており、エア供給流路130内を通過するエアの減圧を行い、減圧したエアを下流側に供給するようになっている。   An air pressure adjusting unit 133 that adjusts the air pressure in the air supply channel 130 to a constant value is installed on the air supply channel 130. That is, the air pressure adjustment unit 133 is connected to the air supply valve 132 and the air supply source 131 through the air supply flow path 130 in a flow path. The air pressure adjustment unit 133 includes an air filter 134, a pressure gauge 135, and a pressure reducing valve 136. The air filter 134 is disposed on the downstream side of the air supply valve 132, and removes foreign matters contained in the air passing through the air supply flow path 130. The pressure gauge 135 is disposed downstream of the air filter 134 and measures the pressure of air passing through the air supply flow path 130. Further, the pressure reducing valve 136 is disposed on the downstream side of the pressure gauge 135, performs pressure reduction of the air passing through the air supply flow path 130, and supplies the reduced air to the downstream side.

図22に示されるように、前記第1エア流路140上には、DC方式のイオナイザ141が設置されている。イオナイザ141は、空気圧調整ユニット133の下流側に配置されており、第1エア流路140と連通するイオナイザ本体142と、イオナイザ本体142内に突出する2本の放電針(正極側及び負極側の放電針)と、各放電針に直流電圧を印加する高圧電源とを備えている。各放電針は、直流電圧が印加された際にコロナ放電を行うことにより、先端部分の周囲にイオンを発生させるようになっている。詳述すると、正極側の放電針は、印加する直流電圧の極性が正(+)である場合に陽イオンを発生させ、負極側の放電針は、印加する直流電圧の極性が負(−)である場合に陰イオンを発生させるようになっている。そして、イオナイザ141は、イオナイザ本体142内に導かれてきたエアに発生させたイオンを混合させることにより、イオンエアを生成するようになっている。さらに、イオナイザ141は、生成したイオンエアを第1エア流路140の下流側に放出するようになっている。   As shown in FIG. 22, a DC ionizer 141 is installed on the first air flow path 140. The ionizer 141 is disposed on the downstream side of the air pressure adjustment unit 133, and includes an ionizer body 142 that communicates with the first air flow path 140, and two discharge needles (a positive electrode side and a negative electrode side) that protrude into the ionizer body 142. Discharge needle) and a high-voltage power source for applying a DC voltage to each discharge needle. Each discharge needle generates ions around the tip by performing corona discharge when a DC voltage is applied. More specifically, the positive electrode discharge needle generates positive ions when the polarity of the applied DC voltage is positive (+), and the negative electrode discharge needle has a negative (-) polarity of the applied DC voltage. In this case, anions are generated. The ionizer 141 generates ion air by mixing the generated ions with the air guided into the ionizer body 142. Further, the ionizer 141 discharges the generated ion air to the downstream side of the first air flow path 140.

また図22に示されるように、第1エア流路140上には、電磁弁143及びエアフィルタ144が設置されている。電磁弁143は、イオナイザ141の下流側に配置されており、第1エア流路140を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。電磁弁143は、開状態に切り替えられた際に、下流側にイオンエアを供給可能とするとともに、イオンエアを適宜排気してエア圧力を減圧調整するようになっている。なお、本実施形態の電磁弁143は、単動ソレノイドによって作動する2位置、直動ノーマルクローズの電磁弁であり、後述する制御装置101から出力される制御信号に基づいて開状態に切り替えられる。また、エアフィルタ144は、電磁弁143の下流側に配置されており、第1エア流路140内を通過するイオンエアに含まれる異物を除去するようになっている。   As shown in FIG. 22, an electromagnetic valve 143 and an air filter 144 are installed on the first air flow path 140. The electromagnetic valve 143 is disposed on the downstream side of the ionizer 141, and switches the first air flow path 140 to an open state or a closed state. When the solenoid valve 143 is switched to the open state, the ion air can be supplied to the downstream side, and the ion pressure is appropriately discharged to adjust the air pressure to a reduced pressure. The electromagnetic valve 143 of the present embodiment is a two-position, direct-acting normally closed electromagnetic valve that is operated by a single-action solenoid, and is switched to an open state based on a control signal output from the control device 101 described later. The air filter 144 is disposed on the downstream side of the electromagnetic valve 143, and removes foreign matters contained in ion air passing through the first air flow path 140.

なお、エアフィルタ144を通過したイオンエアは、前記帯電防止チューブ99及び前記第2ポート92を介して吸引部20のエア流路71に導かれる。ここで、イオナイザ141から吸引部20に至るまでの機器は、導電性を付与した帯電防止材料を用いて構成されている。具体的に言うと、電磁弁143及びエアフィルタ144は、ポリウレタンに導電性金属を混入させた導電性プラスチックによって形成されている。また、イオナイザ141と電磁弁143とをつなぐ流路、電磁弁143とエアフィルタ144とをつなぐ流路、及び、エアフィルタ144と吸引部20とをつなぐ流路は、ポリウレタンにカーボンブラックを混入させた材料からなる帯電防止チューブ99を用いて形成されている。   The ion air that has passed through the air filter 144 is guided to the air flow path 71 of the suction unit 20 through the antistatic tube 99 and the second port 92. Here, the equipment from the ionizer 141 to the suction unit 20 is configured using an antistatic material imparted with conductivity. Specifically, the electromagnetic valve 143 and the air filter 144 are formed of conductive plastic obtained by mixing conductive metal in polyurethane. In addition, the flow path connecting the ionizer 141 and the electromagnetic valve 143, the flow path connecting the electromagnetic valve 143 and the air filter 144, and the flow path connecting the air filter 144 and the suction unit 20 are mixed with carbon black in polyurethane. It is formed using an antistatic tube 99 made of the same material.

図22に示されるように、前記第2エア流路150上には集塵ユニット151が設置されている。集塵ユニット151は、電磁弁152、エジェクタ153,154、サイレンサ155、逆止弁156及びエアフィルタ157を備えている。電磁弁152は、前記空気圧調整ユニット133の下流側に配置されており、第2エア流路150を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。電磁弁152は、開状態に切り替えられた際に、エジェクタ153にエアを供給可能とするとともに、エアを適宜排気してエア圧力を減圧調整するようになっている。なお、本実施形態の電磁弁152は、単動ソレノイドによって作動する2位置、直動ノーマルクローズの電磁弁であり、制御装置101から出力される制御信号に基づいて開状態に切り替えられる。エジェクタ153は、電磁弁152及びエアフィルタ157の下流側に配置されている。エジェクタ153は、吸引部20の集塵穴42近傍にあるエアを、集塵流路191、第3ポート93及びエアフィルタ157等を介して吸引するようになっている。そして、エジェクタ153に吸引されたエアは、エジェクタ154に流れるようになっている。また、エジェクタ154は、エジェクタ153、エアフィルタ157及び逆止弁156の下流側に配置されている。エジェクタ154は、集塵穴42近傍にあるエアを、集塵流路191、第3ポート93、エアフィルタ157及び逆止弁156等を介して吸引するようになっている。そして、エジェクタ154の下流側にはサイレンサ155が配置され、サイレンサ155は、エジェクタ154から流れてきたエアを排気するとともに、エアの排気音を小さくするようになっている。また、逆止弁156は、エジェクタ154とエアフィルタ157との間に配置されており、エアがエアフィルタ157からエジェクタ154に流れるようにする一方、エアがエジェクタ154からエアフィルタ157に流れるのを防止するようになっている。   As shown in FIG. 22, a dust collection unit 151 is installed on the second air flow path 150. The dust collection unit 151 includes an electromagnetic valve 152, ejectors 153 and 154, a silencer 155, a check valve 156, and an air filter 157. The electromagnetic valve 152 is disposed on the downstream side of the air pressure adjustment unit 133, and switches the second air flow path 150 between an open state and a closed state. When the solenoid valve 152 is switched to the open state, the air can be supplied to the ejector 153 and the air pressure is appropriately discharged to adjust the air pressure to a reduced pressure. The electromagnetic valve 152 of this embodiment is a two-position, direct-acting normally closed electromagnetic valve that is operated by a single-action solenoid, and is switched to an open state based on a control signal output from the control device 101. The ejector 153 is disposed on the downstream side of the electromagnetic valve 152 and the air filter 157. The ejector 153 sucks air in the vicinity of the dust collection hole 42 of the suction unit 20 through the dust collection channel 191, the third port 93, the air filter 157, and the like. The air sucked into the ejector 153 flows into the ejector 154. The ejector 154 is disposed on the downstream side of the ejector 153, the air filter 157, and the check valve 156. The ejector 154 sucks air in the vicinity of the dust collection hole 42 through the dust collection flow path 191, the third port 93, the air filter 157, the check valve 156, and the like. A silencer 155 is disposed on the downstream side of the ejector 154, and the silencer 155 exhausts air flowing from the ejector 154 and reduces the exhaust sound of the air. The check valve 156 is disposed between the ejector 154 and the air filter 157 so that air flows from the air filter 157 to the ejector 154, while the air flows from the ejector 154 to the air filter 157. It comes to prevent.

図22に示されるように、前記第3エア流路160上には吸着ユニット161が設置されている。また、第3エア流路160は、基板吸着流路158と真空破壊流路159とに分岐している。   As shown in FIG. 22, an adsorption unit 161 is installed on the third air flow path 160. The third air flow path 160 branches into a substrate adsorption flow path 158 and a vacuum break flow path 159.

基板吸着流路158上には、第1電磁弁162、エジェクタ163,164、サイレンサ165、逆止弁166及びエアフィルタ167が設置されている。第1電磁弁162は、空気圧調整ユニット133の下流側に配置されており、基板吸着流路158を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。第1電磁弁162は、開状態に切り替えられた際に、エジェクタ163にエアを供給可能とするとともに、エアを適宜排気してエア圧力を減圧調整するようになっている。なお、本実施形態の第1電磁弁162は、単動ソレノイドによって作動する2位置、直動ノーマルクローズの電磁弁であり、制御装置101から出力される制御信号に基づいて開状態に切り替えられる。エジェクタ163は、第1電磁弁162及びエアフィルタ167の下流側に配置されている。エジェクタ163は、吸引部20の真空吸着穴45近傍にあるエアを、吸着流路195、第1ポート91及びエアフィルタ167等を介して真空引きするようになっている。そして、エジェクタ163に吸引されたエアは、エジェクタ164に流れるようになっている。また、エジェクタ164は、エジェクタ163、エアフィルタ167及び逆止弁166の下流側に配置されている。エジェクタ164は、真空吸着穴45近傍にあるエアを、吸着流路195、第1ポート91、エアフィルタ167及び逆止弁166等を介して真空引きするようになっている。そして、エジェクタ164の下流側にはサイレンサ165が配置され、サイレンサ165は、エジェクタ164から流れてきたエアを排気するとともに、エアの排気音を小さくするようになっている。また、逆止弁166は、エジェクタ164とエアフィルタ167との間に配置されており、エアがエアフィルタ167からエジェクタ164に流れるようにする一方、エアがエジェクタ164からエアフィルタ167に流れるのを防止するようになっている。   On the substrate adsorption flow path 158, a first electromagnetic valve 162, ejectors 163 and 164, a silencer 165, a check valve 166, and an air filter 167 are installed. The first electromagnetic valve 162 is arranged on the downstream side of the air pressure adjustment unit 133, and switches the substrate adsorption flow path 158 to an open state or a closed state. When the first solenoid valve 162 is switched to the open state, the air can be supplied to the ejector 163, and the air pressure is appropriately discharged to adjust the air pressure to a reduced pressure. The first electromagnetic valve 162 of the present embodiment is a two-position, direct-acting normally closed electromagnetic valve that is operated by a single-action solenoid, and is switched to an open state based on a control signal output from the control device 101. The ejector 163 is disposed on the downstream side of the first electromagnetic valve 162 and the air filter 167. The ejector 163 evacuates the air in the vicinity of the vacuum suction hole 45 of the suction unit 20 through the suction flow path 195, the first port 91, the air filter 167, and the like. The air sucked into the ejector 163 flows into the ejector 164. Further, the ejector 164 is disposed on the downstream side of the ejector 163, the air filter 167, and the check valve 166. The ejector 164 evacuates air in the vicinity of the vacuum suction hole 45 through the suction flow path 195, the first port 91, the air filter 167, the check valve 166, and the like. A silencer 165 is disposed on the downstream side of the ejector 164. The silencer 165 exhausts air flowing from the ejector 164 and reduces the exhaust sound of the air. The check valve 166 is disposed between the ejector 164 and the air filter 167 so that air flows from the air filter 167 to the ejector 164, while the air flows from the ejector 164 to the air filter 167. It comes to prevent.

図22に示されるように、前記真空破壊流路159上には、第2電磁弁168、流量調整弁169及び圧力スイッチ170が設置されている。第2電磁弁168は、空気圧調整ユニット133の下流側に配置されており、真空破壊流路159を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。第2電磁弁168は、開状態に切り替えられた際に、エアフィルタ167と吸引部20とをつなぐ接続流路にエアを供給して、その接続流路の真空度を弱めるようになっている。それとともに、第2電磁弁168は、開状態に切り替えられた際に、真空破壊流路159を流れるエアを適宜排気して減圧調整するようになっている。なお、本実施形態の第2電磁弁168は、単動ソレノイドによって作動する2位置、直動ノーマルクローズの電磁弁であり、制御装置101から出力される制御信号に基づいて開状態に切り替えられる。また、流量調整弁169は、第2電磁弁168と圧力スイッチ170とをつなぐ流路の途中に配置されており、真空破壊流路159を流れるエアを定量的に排気してそのエアの圧力が一定値となるよう減圧調整する絞り弁である。圧力スイッチ170は、流量調整弁169及びエアフィルタ167の下流側に配置されている。圧力スイッチ170は、真空破壊流路159内の圧力が所定値を超えたこと(即ち、真空破壊されていること)を契機としてオン状態となり、真空破壊信号を制御装置101のCPU102に対して出力するようになっている。   As shown in FIG. 22, a second electromagnetic valve 168, a flow rate adjustment valve 169, and a pressure switch 170 are installed on the vacuum breaking channel 159. The second electromagnetic valve 168 is disposed on the downstream side of the air pressure adjustment unit 133, and switches the vacuum break channel 159 to an open state or a closed state. When the second electromagnetic valve 168 is switched to the open state, the second electromagnetic valve 168 supplies air to the connection flow path connecting the air filter 167 and the suction unit 20 to weaken the degree of vacuum of the connection flow path. . At the same time, when the second electromagnetic valve 168 is switched to the open state, the air flowing through the vacuum breaking flow path 159 is appropriately discharged to adjust the pressure reduction. Note that the second electromagnetic valve 168 of the present embodiment is a two-position, direct-acting normally closed electromagnetic valve that is operated by a single-action solenoid, and is switched to an open state based on a control signal output from the control device 101. The flow rate adjusting valve 169 is disposed in the middle of the flow path connecting the second electromagnetic valve 168 and the pressure switch 170, and the air flowing through the vacuum breaking flow path 159 is quantitatively exhausted to reduce the pressure of the air. This is a throttle valve that adjusts the pressure to a constant value. The pressure switch 170 is disposed on the downstream side of the flow rate adjustment valve 169 and the air filter 167. The pressure switch 170 is turned on when the pressure in the vacuum break channel 159 exceeds a predetermined value (that is, vacuum break), and outputs a vacuum break signal to the CPU 102 of the control device 101. It is supposed to be.

次に、非接触搬送装置1の電気的構成について説明する。   Next, the electrical configuration of the non-contact transport apparatus 1 will be described.

図22に示されるように、非接触搬送装置1は、装置全体を制御する制御装置101を備えている。制御装置101は、CPU102、ROM103、RAM104及び入出力回路等により構成されている。CPU102は、エア供給バルブ132、イオナイザ141、電磁弁143,152、第1電磁弁162及び第2電磁弁168に電気的に接続されており、各種の駆動信号によってそれらを制御する。   As shown in FIG. 22, the non-contact conveyance device 1 includes a control device 101 that controls the entire device. The control device 101 includes a CPU 102, a ROM 103, a RAM 104, an input / output circuit, and the like. The CPU 102 is electrically connected to the air supply valve 132, the ionizer 141, the electromagnetic valves 143 and 152, the first electromagnetic valve 162, and the second electromagnetic valve 168, and controls them by various driving signals.

また、CPU102には、前記静電電位センサ105から出力された静電気測定信号が入力されるようになっている。そして、CPU102は、静電気測定信号が示す静電気の電荷の極性に基づいて、前記吸引部20によって吸引される配線基板110が正(+)に帯電しているか負(−)に帯電しているかを判定するようになっている。配線基板110が正に帯電していると判定された場合、CPU102は、イオナイザ141に駆動信号を出力し、直流電圧を印加して負極側の放電針に陰イオンを発生させる制御を行うようになっている。一方、配線基板110が負に帯電していると判定された場合、CPU102は、イオナイザ141に駆動信号を出力し、直流電圧を印加して正極側の放電針に陽イオンを発生させる制御を行うようになっている。このような制御によれば、配線基板110に帯電した静電気を確実に中和させることができる。   Further, the CPU 102 is inputted with an electrostatic measurement signal outputted from the electrostatic potential sensor 105. Then, the CPU 102 determines whether the wiring board 110 sucked by the suction unit 20 is positively (+) or negatively (−) based on the polarity of the electrostatic charge indicated by the electrostatic measurement signal. It comes to judge. When it is determined that the wiring board 110 is positively charged, the CPU 102 outputs a drive signal to the ionizer 141 and applies a DC voltage to perform control to generate negative ions on the discharge needle on the negative electrode side. It has become. On the other hand, when it is determined that the wiring board 110 is negatively charged, the CPU 102 outputs a drive signal to the ionizer 141 and applies a DC voltage to generate positive ions in the positive discharge needle. It is like that. According to such control, static electricity charged on the wiring board 110 can be reliably neutralized.

なお本実施形態では、DC方式のイオナイザ141を用いているが、それに代えてAC方式のイオナイザを用いてもよい。AC方式のイオナイザは、イオナイザ本体と、イオナイザ本体内に突出する1本の放電針と、放電針に交流電圧を印加する高圧電源とを備えている。放電針は、交流電圧が印加された際に、印加する交流電圧の極性に応じて陽イオンまたは陰イオンを発生させるようになっている。この場合、CPU102は、静電電位センサ105から出力された静電気測定信号が入力されると、静電気測定信号が示す静電気の電荷量に基づいて配線基板110が帯電しているか否かを判定する。配線基板110が帯電していると判定された場合、CPU102は、イオナイザ141に駆動信号を出力し、イオナイザ141の出力を強くする制御を行う。一方、配線基板110が帯電していないと判定された場合、CPU102は、イオナイザ141に駆動信号を出力し、イオナイザ141の出力を弱くする制御を行う。このような制御によれば、配線基板110の帯電を確実に防止することができる。また、イオナイザ141が必要以上に作動することを防止することができる。   In this embodiment, although the DC ionizer 141 is used, an AC ionizer may be used instead. The AC type ionizer includes an ionizer body, one discharge needle protruding into the ionizer body, and a high-voltage power source that applies an AC voltage to the discharge needle. When an alternating voltage is applied, the discharge needle generates a cation or an anion according to the polarity of the applied alternating voltage. In this case, when the electrostatic measurement signal output from the electrostatic potential sensor 105 is input, the CPU 102 determines whether or not the wiring board 110 is charged based on the electrostatic charge amount indicated by the electrostatic measurement signal. When it is determined that the wiring board 110 is charged, the CPU 102 outputs a drive signal to the ionizer 141 and performs control to increase the output of the ionizer 141. On the other hand, when it is determined that the wiring board 110 is not charged, the CPU 102 outputs a drive signal to the ionizer 141 and performs control to weaken the output of the ionizer 141. Such control can reliably prevent the wiring board 110 from being charged. Further, it is possible to prevent the ionizer 141 from operating more than necessary.

次に、配線基板110の非接触搬送方法を説明する。   Next, a non-contact conveyance method for the wiring board 110 will be described.

本実施形態の配線基板110は、複数の製造工程を経て製造され、導通検査を行う検査工程を受けた後に出荷される。なお、配線基板110は、製造工程が終了する度に基板支持台171上に配置される(図23参照)。この状態において、非接触搬送装置1を用いて配線基板110を搬送する搬送工程を行う。詳述すると、搬送用多関節ロボット2のアーム3を駆動して搬送ヘッド11を下降させる。さらに、エアシリンダ15を駆動してロッドを突出させ、配線基板110の基板主面120に吸引部20の吸引面21を接近させる。   The wiring board 110 of the present embodiment is manufactured through a plurality of manufacturing processes, and is shipped after undergoing an inspection process for conducting a continuity test. The wiring board 110 is arranged on the board support 171 every time the manufacturing process is completed (see FIG. 23). In this state, the conveyance process which conveys the wiring board 110 using the non-contact conveyance apparatus 1 is performed. More specifically, the arm 3 of the transfer articulated robot 2 is driven to lower the transfer head 11. Further, the air cylinder 15 is driven to project the rod, and the suction surface 21 of the suction unit 20 is brought close to the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110.

この状態において、CPU102は、エア供給バルブ132、イオナイザ141及び電磁弁143,152に駆動信号を出力する。これにより、エア供給バルブ132及び電磁弁143,152が開状態に切り替わるとともに、イオナイザ141が作動する。その結果、エア供給源131から送り出された加圧エアが、エア供給流路130を通過して第1エア流路140上のイオナイザ141に流入する。イオナイザ141は、イオナイザ本体142内に導かれてきたエアにイオンを混合させることにより、イオンエアを生成する。そして、イオナイザ141は、生成したイオンエアをイオナイザ141の下流側に放出する。さらに、イオナイザ141から放出されたイオンエアが、第1エア流路140及び第2ポート92(図5,図22のb参照)を介して吸引部20内に流入し、ノズル本体61のエア流路71に導かれる。   In this state, the CPU 102 outputs drive signals to the air supply valve 132, the ionizer 141, and the electromagnetic valves 143 and 152. As a result, the air supply valve 132 and the electromagnetic valves 143 and 152 are switched to the open state, and the ionizer 141 is activated. As a result, the pressurized air sent out from the air supply source 131 passes through the air supply passage 130 and flows into the ionizer 141 on the first air passage 140. The ionizer 141 generates ion air by mixing ions with the air introduced into the ionizer body 142. The ionizer 141 releases the generated ion air to the downstream side of the ionizer 141. Further, the ion air discharged from the ionizer 141 flows into the suction unit 20 via the first air flow path 140 and the second port 92 (see b in FIGS. 5 and 22), and the air flow path of the nozzle body 61. 71.

そして、エア流路71に導かれたイオンエアは、迂回流路72、空間S及び第1エア吹出穴81を順番に通過し、第1エア吹出穴81から凹部73の内周面に沿って噴出する。さらに、第1エア吹出穴81から噴出されたイオンエアは、凹部73の周方向に沿って流れて旋回流F1を形成する。その後、旋回流F1の流速が遠心力で高められることにより、旋回流F1が高速流となる。さらに、旋回流F1を形成したイオンエアの一部は、凹部73外に流出して吸引面21と基板主面120との隙間を通過し、この際に高速流となって吸引部20の外側に放出される(図23の矢印F2参照)。その結果、吸引面21と基板主面120との間に生じた空間が負圧となり、配線基板110の基板主面120が吸引面21に吸引保持される。   The ion air guided to the air flow path 71 sequentially passes through the bypass flow path 72, the space S, and the first air blowing hole 81, and is ejected from the first air blowing hole 81 along the inner peripheral surface of the recess 73. To do. Further, the ion air ejected from the first air blowing hole 81 flows along the circumferential direction of the recess 73 to form a swirling flow F1. Thereafter, the flow velocity of the swirl flow F1 is increased by centrifugal force, so that the swirl flow F1 becomes a high-speed flow. Further, a part of the ion air that forms the swirl flow F1 flows out of the recess 73 and passes through the gap between the suction surface 21 and the substrate main surface 120. At this time, a high-speed flow is generated outside the suction unit 20. Released (see arrow F2 in FIG. 23). As a result, the space generated between the suction surface 21 and the substrate main surface 120 becomes negative pressure, and the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110 is sucked and held by the suction surface 21.

また、エア流路71に導かれたイオンエアは、第2エア吹出穴82に流入し、第2エア吹出穴82から配線基板110の基板主面120に向けて垂直に吹き付けられる。これにより、基板主面120上の異物が、吹き飛ばされて除去される。   The ion air guided to the air flow path 71 flows into the second air blowing hole 82 and is blown vertically from the second air blowing hole 82 toward the substrate main surface 120 of the wiring board 110. As a result, the foreign matter on the substrate main surface 120 is blown off and removed.

さらに、エア供給源131から送り出された加圧エアは、エア供給流路130を通過して第2エア流路150上のエジェクタ153,154に流入する。なお、エジェクタ153,154は、吸引部20の集塵穴42近傍にあるイオンエア(即ち、旋回流F1を形成したイオンエアの大部分)を、集塵流路191、第3ポート93(図5,図22のc参照)を介して吸引する。これにより、配線基板110の基板主面120上に付着している異物がイオンエアとともに回収される。なお、集塵穴42から吸引されるイオンエアの総流量は、第1エア吹出穴81から噴出されるイオンエアの総流量よりも大きくなるように設定されている。   Further, the pressurized air sent from the air supply source 131 passes through the air supply flow path 130 and flows into the ejectors 153 and 154 on the second air flow path 150. The ejectors 153 and 154 send ion air (that is, most of the ion air that forms the swirl flow F1) in the vicinity of the dust collection hole 42 of the suction unit 20 to the dust collection passage 191 and the third port 93 (FIG. 5). (See FIG. 22c). Thereby, the foreign material adhering on the board | substrate main surface 120 of the wiring board 110 is collect | recovered with ion air. Note that the total flow rate of ion air sucked from the dust collection holes 42 is set to be larger than the total flow rate of ion air ejected from the first air blowing holes 81.

次に、エアシリンダ15を駆動してロッドを後退させ、吸引部20を配線基板110と共に上昇させる。なお、吸引部20を上昇させる前の段階では、ロッドが下方に突出しているため、基板保持部材181の接触部184の先端面が吸引部20の吸引面21よりも上方に位置している。このとき、配線基板110に接触部184が接触しないため、配線基板110を傷付ける心配がない。そして、配線基板110を、基板支持台171から離間させるとともに、基板保持部材181の接触部184に近づける。その結果、各接触部184の先端面が、吸引面21よりも下方に位置するようになる。そして、各接触部184の面取り部185が配線基板110の外周縁(四辺)に接触し、配線基板110が位置ずれ不能に保持固定される(図24参照)。このとき、吸引面21に基板主面120が接触しないため、吸引面21にて開口する集塵穴42や真空吸着穴45が塞がれることはない。なお図24では、説明の便宜上、吸引面21と基板主面120との隙間を大きくしているが、実際はもっと狭く(例えば1mm以下)になっている。   Next, the air cylinder 15 is driven to retract the rod, and the suction unit 20 is raised together with the wiring board 110. In the stage before raising the suction part 20, the rod projects downward, so that the tip surface of the contact part 184 of the substrate holding member 181 is located above the suction surface 21 of the suction part 20. At this time, since the contact portion 184 does not contact the wiring board 110, there is no fear of damaging the wiring board 110. Then, the wiring substrate 110 is separated from the substrate support 171 and brought close to the contact portion 184 of the substrate holding member 181. As a result, the front end surface of each contact portion 184 is positioned below the suction surface 21. Then, the chamfered portion 185 of each contact portion 184 comes into contact with the outer peripheral edge (four sides) of the wiring board 110, and the wiring board 110 is held and fixed so as not to be displaced (see FIG. 24). At this time, since the substrate main surface 120 does not contact the suction surface 21, the dust collection holes 42 and the vacuum suction holes 45 that open on the suction surface 21 are not blocked. In FIG. 24, for the sake of convenience of explanation, the gap between the suction surface 21 and the substrate main surface 120 is increased, but actually it is narrower (for example, 1 mm or less).

この状態において、CPU102は、第1電磁弁162に駆動信号を出力する。これにより、第1電磁弁162が開状態に切り替わり、エア供給源131から送り出された加圧エアが、エア供給流路130及び第3エア流路160を通過して基板吸着流路158上のエジェクタ163,164に流入する。なお、エジェクタ163,164は、吸引部20の真空吸着穴45近傍にあるイオンエアを、吸着流路195、第1ポート91(図5,図22のa参照)を介して真空引きする。その結果、ベルヌーイ効果による吸引力と真空引きによる吸着力とによって、配線基板110の基板主面120が吸引面21により安定的に吸引保持される。なお本実施形態では、ベルヌーイ効果を利用して配線基板110を吸引する力よりも、真空引きによって配線基板110を吸着する力のほうが大きくなっている。   In this state, the CPU 102 outputs a drive signal to the first electromagnetic valve 162. As a result, the first electromagnetic valve 162 is switched to the open state, and the pressurized air sent from the air supply source 131 passes through the air supply channel 130 and the third air channel 160 on the substrate adsorption channel 158. It flows into the ejectors 163 and 164. The ejectors 163 and 164 evacuate the ion air in the vicinity of the vacuum suction hole 45 of the suction unit 20 through the suction flow path 195 and the first port 91 (see a in FIGS. 5 and 22). As a result, the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110 is stably held by the suction surface 21 by the suction force by the Bernoulli effect and the suction force by vacuuming. In the present embodiment, the force for attracting the wiring board 110 by vacuuming is greater than the force for attracting the wiring board 110 using the Bernoulli effect.

次に、搬送用多関節ロボット2のアーム3を駆動し、検査工程用のラインに配線基板110を搬送する。そして、検査工程用のラインにおいて配線基板110の釈放を行い、検査工程用のラインの基板支持台上に配線基板110を配置する。具体的に言うと、CPU102は、第2電磁弁168に駆動信号を出力する。これにより、第2電磁弁168が開状態に切り替わり、エア供給源131から送り出された加圧エアが、エア供給流路130及び第3エア流路160を通過して真空破壊流路159に導かれ、エアフィルタ167と吸引部20とをつなぐ接続流路に供給される。その結果、接続流路の真空破壊が行われ、接続流路の真空度が弱められ、配線基板110を吸引する力が弱くなる。   Next, the arm 3 of the transfer articulated robot 2 is driven to transfer the wiring board 110 to the inspection process line. Then, the wiring substrate 110 is released in the inspection process line, and the wiring substrate 110 is placed on the substrate support of the inspection process line. Specifically, the CPU 102 outputs a drive signal to the second electromagnetic valve 168. As a result, the second electromagnetic valve 168 is switched to the open state, and the pressurized air sent from the air supply source 131 passes through the air supply flow path 130 and the third air flow path 160 and is guided to the vacuum break flow path 159. Then, the air is supplied to the connection flow path connecting the air filter 167 and the suction unit 20. As a result, the vacuum of the connection channel is performed, the degree of vacuum of the connection channel is weakened, and the force for sucking the wiring board 110 is weakened.

次に、エアシリンダ15を駆動してロッドを突出させることにより、吸引部20を下降させる。これにより、配線基板110の基板主面120に吸引部20の吸引面21が接近するとともに、配線基板110が基板保持部材181から遠ざけられて各接触部184と非接触の状態となる。そして、CPU102は、電磁弁143を閉状態に切り替える制御を行い、第1エア流路140を遮断する。それと同時に、CPU102は、電磁弁152を閉状態に切り替える制御を行って第2エア流路150を遮断するとともに、第1電磁弁162及び第2電磁弁168を閉状態に切り替える制御を行って第3エア流路160を遮断する。これにより、吸引部20へのイオンエアの供給が停止され、第1エア吹出穴81及び第2エア吹出穴82からのイオンエアの噴出が終了する。また、集塵穴42からのイオンエアの吸引が終了するとともに、真空吸着穴45からのイオンエアの真空引きが終了する。その結果、搬送工程が終了し、配線基板110が検査工程用のラインの基板支持台上に配置される。   Next, the suction portion 20 is lowered by driving the air cylinder 15 to project the rod. As a result, the suction surface 21 of the suction portion 20 approaches the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110, and the wiring substrate 110 is moved away from the substrate holding member 181 and is not in contact with each contact portion 184. And CPU102 performs control which switches the solenoid valve 143 to a closed state, and interrupts | blocks the 1st air flow path 140. FIG. At the same time, the CPU 102 performs control for switching the electromagnetic valve 152 to the closed state to shut off the second air flow path 150 and performs control to switch the first electromagnetic valve 162 and the second electromagnetic valve 168 to the closed state. 3 Shut off the air flow path 160. Thereby, the supply of ion air to the suction unit 20 is stopped, and the ejection of ion air from the first air blowing hole 81 and the second air blowing hole 82 is completed. Further, the suction of ion air from the dust collection hole 42 is completed, and the evacuation of ion air from the vacuum suction hole 45 is completed. As a result, the transfer process is completed, and the wiring board 110 is placed on the board support base of the inspection process line.

従って、本実施形態によれば以下の効果を得ることができる。   Therefore, according to the present embodiment, the following effects can be obtained.

(1)本実施形態の非接触搬送装置1では、旋回流F1により発生する負圧によって配線基板110を吸引保持できるばかりでなく、基板保持部材181を配線基板110の外周縁に接触させることによって、配線基板110を位置ずれ不能に保持固定することができる。これにより、搬送中の配線基板110の横ずれや、横ずれに起因する配線基板110の落下が防止されるため、高速搬送であっても、配線基板110を確実に搬送することができる。さらに、本実施形態の非接触搬送装置1では、真空吸着穴45からの真空引きによっても、配線基板110を吸引保持しているため、配線基板110をより確実に搬送することができる。   (1) In the non-contact conveyance device 1 of the present embodiment, not only can the wiring board 110 be sucked and held by the negative pressure generated by the swirling flow F1, but also the substrate holding member 181 is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board 110. The wiring board 110 can be held and fixed without being misaligned. Thus, the lateral displacement of the wiring board 110 being transported and the falling of the wiring board 110 due to the lateral displacement are prevented, so that the wiring board 110 can be transported reliably even at high-speed transport. Furthermore, in the non-contact transport apparatus 1 of the present embodiment, the wiring board 110 is sucked and held even by evacuation from the vacuum suction hole 45, so that the wiring board 110 can be transported more reliably.

しかも、配線基板110は、基板保持部材181によって位置ずれ不能に保持固定した状態で搬送されるため、搬送先が狭い場所(例えば、搬送先にある非常に狭いトレー内)であったとしても、配線基板110を確実に載置することができる。   Moreover, since the wiring board 110 is transported in a state where it is held and fixed so that it cannot be displaced by the substrate holding member 181, even if the transport destination is a narrow place (for example, in a very narrow tray at the transport destination) The wiring board 110 can be reliably placed.

(2)本実施形態では、基板保持固定時にエアシリンダ15のロッドを後退させることで、基板保持部材181の接触部184を配線基板110の外周縁に接触させている。よって、接触部184は、基板保持固定時にはじめて配線基板110の外周縁に接触するようになる。即ち、基板保持固定前の状態(本実施形態では、旋回流F1により発生する負圧によって基板主面120を吸引面21に吸引保持した時点)においては、配線基板110に対する接触部184の接触が避けられるため、例えば基板主面120上の突起電極(端子パッド116及びはんだバンプ118)などを傷付けなくて済むようになる。   (2) In the present embodiment, the contact portion 184 of the substrate holding member 181 is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate 110 by retracting the rod of the air cylinder 15 during substrate holding and fixing. Therefore, the contact portion 184 comes into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate 110 only when the substrate is held and fixed. That is, in the state before the substrate holding and fixing (in this embodiment, when the substrate main surface 120 is sucked and held by the suction surface 21 by the negative pressure generated by the swirling flow F1), the contact portion 184 contacts the wiring substrate 110. Therefore, for example, the protruding electrodes (terminal pads 116 and solder bumps 118) on the substrate main surface 120 need not be damaged.

(3)従来の搬送方法として、エア吸着穴が開口された吸着ヘッドの下面に配線基板110の基板主面120を負圧で吸着し、この状態で、配線基板110を吸着ヘッドとともに搬送する技術が提案されている。しかし、吸着ヘッドで配線基板110を搬送すると、基板主面120上に配置された突起電極(端子パッド116及びはんだバンプ118)が吸着ヘッドに押し潰されて変形してしまう可能性がある。   (3) As a conventional transfer method, the main surface 120 of the wiring board 110 is sucked with a negative pressure on the lower surface of the suction head having an air suction hole, and the wiring board 110 is transported together with the suction head in this state. Has been proposed. However, when the wiring substrate 110 is transported by the suction head, the protruding electrodes (terminal pads 116 and solder bumps 118) arranged on the substrate main surface 120 may be crushed by the suction head and deformed.

そこで本実施形態では、基板保持固定時に、基板保持部材181の接触部184に設けられた面取り部185を配線基板110の外周縁に接触させている。これにより、基板主面120の吸引面21への接触が避けられるため、基板主面120上の突起電極を傷付けなくて済むようになる。また、面取り部185が配線基板110の外周縁に接触することで、配線基板110と接触部184との接触面積が小さくなるため、配線基板110が傷付くことを確実に防止できる。   Therefore, in the present embodiment, the chamfered portion 185 provided on the contact portion 184 of the substrate holding member 181 is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate 110 when the substrate is held and fixed. As a result, contact of the substrate main surface 120 with the suction surface 21 can be avoided, so that the protruding electrodes on the substrate main surface 120 need not be damaged. Further, since the contact area between the wiring substrate 110 and the contact portion 184 is reduced by the chamfered portion 185 coming into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate 110, the wiring substrate 110 can be reliably prevented from being damaged.

(4)例えば、退避位置と保持位置との間で揺動する支持部材を設け、支持部材が保持位置にある際に、支持部材の支持爪によって配線基板110を下側から支持することが考えられる。しかしながら、上記の技術では、支持部材を駆動するためのアクチュエータが必要であり、しかも支持部材が揺動する部材であるため、構造が複雑になる。ゆえに、支持部材は、揺動させるために多くの摺動部分(支持軸など)を有するため、摺動部分の磨耗によって生じた異物(粉塵)が配線基板に付着しやすくなる。しかも、支持部材が、例えば直線運動などに比べて複雑な運動(揺動)をする部材であることから、支持部材が揺動するとずれが生じやすくなっている。このため、支持部材によって配線基板110を支持した際に、配線基板110を精度良く位置決めすることが困難である。   (4) For example, a support member that swings between a retracted position and a holding position is provided, and when the support member is in the holding position, the wiring board 110 is supported from below by the support claws of the support member. It is done. However, the above technique requires an actuator for driving the support member, and the support member is a swinging member, so that the structure is complicated. Therefore, since the support member has many sliding portions (support shafts, etc.) for swinging, foreign matter (dust) generated by wear of the sliding portions is likely to adhere to the wiring board. In addition, since the support member is a member that performs a complicated motion (swing) compared to, for example, a linear motion, a shift tends to occur when the support member swings. For this reason, it is difficult to accurately position the wiring board 110 when the wiring board 110 is supported by the support member.

そこで本実施形態では、揺動する支持部材の代わりに、動かない基板保持部材181を設け、基板保持部材181の接触部184によって配線基板110を保持している。これにより、接触部184を駆動するアクチュエータが不要となり、しかも接触部184自体の構造が単純なものになる。また、基板保持部材181が動かない部材であることから、接触部184の形状が不変であるため、接触部184によって配線基板110を精度良く位置決めすることができる。   Therefore, in this embodiment, a substrate holding member 181 that does not move is provided in place of the swinging support member, and the wiring substrate 110 is held by the contact portion 184 of the substrate holding member 181. This eliminates the need for an actuator that drives the contact portion 184 and simplifies the structure of the contact portion 184 itself. Further, since the substrate holding member 181 is a member that does not move, the shape of the contact portion 184 is not changed, so that the wiring substrate 110 can be accurately positioned by the contact portion 184.

(5)本実施形態では、エアシリンダ15の構成部品(シリンダ本体17、ピストン及びロッド)が、搬送ヘッド11の中央(即ち吸引面21の中心軸線上)に配置されている。このため、エアシリンダ15が搬送ヘッド11の外周側に突出するなどして邪魔になることはない。また、搬送ヘッド11の重量バランスが良くなるため、搬送用多関節ロボット2のアーム3を駆動して搬送ヘッド11を容易に移動させることができる。   (5) In this embodiment, the components (cylinder body 17, piston and rod) of the air cylinder 15 are arranged at the center of the transport head 11 (that is, on the central axis of the suction surface 21). For this reason, the air cylinder 15 does not get in the way because it protrudes to the outer peripheral side of the transport head 11. Further, since the weight balance of the transfer head 11 is improved, the transfer head 11 can be easily moved by driving the arm 3 of the transfer articulated robot 2.

(6)例えば、基板保持部材181の各接触部184を吸引部20から離間して配置することが考えられるが、搬送ヘッド11の大型化につながってしまう。そこで本実施形態では、各接触部184を吸引部20に接近させて配置している。具体的には、基板保持固定時に各接触部184の内側面が吸引部20の外周面に接触するように、各接触部184を配置している。これにより、吸引部20の外周側への各接触部184の突出が抑えられるため、搬送ヘッド11の小型化を図ることができる。しかも本実施形態では、各接触部184が吸引部20とは別体に設けられているため、接触部184を吸引部20に設ける場合に比べて、吸引部20の小型化及び軽量化を図ることができる。   (6) For example, it is conceivable to arrange the contact portions 184 of the substrate holding member 181 apart from the suction portion 20, but this leads to an increase in the size of the transport head 11. Therefore, in the present embodiment, each contact portion 184 is disposed close to the suction portion 20. Specifically, each contact portion 184 is disposed so that the inner surface of each contact portion 184 contacts the outer peripheral surface of the suction portion 20 when the substrate is held and fixed. Thereby, since the protrusion of each contact part 184 to the outer peripheral side of the suction part 20 is suppressed, the conveyance head 11 can be reduced in size. Moreover, in this embodiment, since each contact portion 184 is provided separately from the suction portion 20, the suction portion 20 can be reduced in size and weight compared to the case where the contact portion 184 is provided in the suction portion 20. be able to.

なお、本実施形態を以下のように変更してもよい。   In addition, you may change this embodiment as follows.

・上記実施形態では、配線基板110の基板主面120を吸引面21に吸引保持した後、ロッドを後退させて吸引部20を配線基板110と共に上昇させることにより、基板保持部材181の接触部184を配線基板110の外周縁に接触させて、配線基板110を位置ずれ不能に保持固定していた。しかし、ロッドが後退した状態の搬送ヘッド11を下降させて吸引部20を配線基板110に接近させると同時に、接触部184を配線基板110の外周縁に接触させ、その後に吸引部20によって配線基板110を吸引保持してもよい。   In the above embodiment, the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110 is sucked and held by the suction surface 21, and then the rod is moved backward to raise the suction portion 20 together with the wiring substrate 110, whereby the contact portion 184 of the substrate holding member 181. Is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board 110, and the wiring board 110 is held and fixed so that it cannot be displaced. However, the transport head 11 with the rod retracted is lowered to bring the suction part 20 closer to the wiring board 110, and at the same time, the contact part 184 is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board 110. 110 may be sucked and held.

・上記実施形態では、基板保持部材181の接触部184に静電電位センサ105が設置されていたが、静電電位センサ105は、基板支持台171などの他の場所に設置されていてもよい。   In the above embodiment, the electrostatic potential sensor 105 is installed at the contact portion 184 of the substrate holding member 181, but the electrostatic potential sensor 105 may be installed at another location such as the substrate support 171. .

・上記実施形態では、吸引部20を装着した搬送用多関節ロボット2を用いて配線基板110を搬送していたが、吸引部20を装着したコンベアなどの搬送手段を用いて配線基板110を搬送してもよい。   In the above embodiment, the wiring board 110 is transported using the transporting articulated robot 2 equipped with the suction unit 20, but the wiring board 110 is transported using transporting means such as a conveyor equipped with the suction unit 20. May be.

・上記実施形態の非接触搬送装置1は、単一製品の配線基板110を搬送するようになっていたが、例えば、配線基板110となるべき基板形成領域が平面方向に沿って複数配置された多数個取り用配線基板を搬送するようにしてもよい。   -Although the non-contact conveyance apparatus 1 of the said embodiment was designed to convey the wiring board 110 of a single product, for example, a plurality of board formation regions which should become the wiring board 110 were arranged along the plane direction. A multi-piece wiring board may be transported.

・上記実施形態では、第1エア吹出穴81及び第2エア吹出穴82から噴出されるエアとして、イオナイザ141から放出されるイオンエアが用いられていた。しかし、エア吹出穴81,82から噴出されるエアは、イオンエアに限定される訳ではなく、イオンが混合されていない通常のエアであってもよい。   In the above-described embodiment, ion air discharged from the ionizer 141 is used as the air discharged from the first air blowing hole 81 and the second air blowing hole 82. However, the air ejected from the air blowing holes 81 and 82 is not limited to ion air, and may be normal air in which ions are not mixed.

・上記実施形態において、イオナイザ141、集塵ユニット151及び吸着ユニット161の少なくともいずれか1つを省略してもよい。また、吸着ユニット161を省略しない場合、吸着ユニット161の真空破壊流路159上に設置された機器(第2電磁弁168、流量調整弁169及び圧力スイッチ170)を省略してもよい。   In the above embodiment, at least one of the ionizer 141, the dust collection unit 151, and the adsorption unit 161 may be omitted. Further, when the adsorption unit 161 is not omitted, the devices (second electromagnetic valve 168, flow rate adjustment valve 169, and pressure switch 170) installed on the vacuum breaking channel 159 of the adsorption unit 161 may be omitted.

・上記実施形態では、エア供給バルブ132、イオナイザ141、電磁弁143、電磁弁152、第1電磁弁162及び第2電磁弁168の制御を1つのCPU102で制御するようにしたが、各制御を別々のCPUで行うように構成してもよい。   In the above embodiment, the control of the air supply valve 132, the ionizer 141, the electromagnetic valve 143, the electromagnetic valve 152, the first electromagnetic valve 162, and the second electromagnetic valve 168 is controlled by one CPU 102. You may comprise so that it may be performed by a separate CPU.

次に、前述した実施形態によって把握される技術的思想を以下に列挙する。   Next, the technical ideas grasped by the embodiment described above are listed below.

(1)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口するエア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材を設け、前記吸引部とは別体にイオナイザを設け、前記イオナイザから放出されるイオンエアを前記エア吹出穴から噴出するエアとして用いることを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (1) The suction surface is provided with a concave portion, and is provided with a suction portion provided with an air blowing hole that opens at the inner peripheral surface of the concave portion, and is ejected from the air blowing hole along the inner peripheral surface of the concave portion. When the substrate main surface is sucked and held by the suction surface in a non-contact transfer device that sucks and holds the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transferred to the suction surface by the negative pressure generated by the air. A substrate holding member is provided in contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate to hold and fix the wiring substrate so that the wiring substrate cannot be displaced. An ionizer is provided separately from the suction portion, and ion air discharged from the ionizer is supplied to the air. A non-contact transfer device for a wiring board, wherein the non-contact transfer device is used as air blown from a blowout hole.

(2)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口するエア吹出穴である第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記凹部内において前記第1エア吹出穴とは異なる位置に設け、前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材を設けたことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (2) A suction part provided with a first air blowing hole which is provided with a concave portion on the suction surface and is provided with an air blowing hole opened on an inner peripheral surface of the concave portion, and the concave portion extends from the first air blowing hole. In the non-contact transfer apparatus that holds the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transferred to the suction surface by the negative pressure generated by the air jetted along the inner peripheral surface of the substrate, the substrate main surface A second air blowing hole for blowing air is provided in the recess at a position different from the first air blowing hole, and contacts the outer peripheral edge of the wiring board when the substrate main surface is sucked and held by the suction surface. A non-contact transfer device for a wiring board, comprising: a board holding member that holds and fixes the wiring board so that it cannot be displaced.

(3)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口するエア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面上の異物を回収する集塵穴を前記吸引面における前記凹部の外側領域にて開口するように配設し、前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材を設けたことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (3) The suction surface is provided with a recess, and is provided with a suction portion provided with an air blowing hole that opens at the inner peripheral surface of the recess, and is ejected from the air blowing hole along the inner peripheral surface of the recess. In a non-contact conveyance device that conveys the substrate main surface of the wiring board that is the object to be conveyed while sucking and holding the substrate main surface to the suction surface by a negative pressure generated by air, a dust collection hole for collecting foreign matter on the substrate main surface is provided. The wiring board is disposed so as to open in the outer region of the recess on the suction surface, and the wiring board is displaced by contacting the outer peripheral edge of the wiring board when the main surface of the board is sucked and held by the suction surface. A non-contact transfer device for a wiring board, characterized in that a board holding member for holding and fixing is impossible.

(4)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口するエア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材を設け、真空引きするための真空吸着穴を、前記凹部の外側領域にて開口するように配設したことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (4) The suction surface is provided with a recess, and is provided with a suction portion provided with an air blowing hole that opens on the inner peripheral surface of the recess, and is ejected from the air blowing hole along the inner peripheral surface of the recess. When the substrate main surface is sucked and held by the suction surface in a non-contact transfer device that sucks and holds the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transferred to the suction surface by the negative pressure generated by the air. A substrate holding member is provided in contact with the outer peripheral edge of the wiring board so as to hold and fix the wiring board so that the wiring board cannot be displaced. A non-contact transfer device for a wiring board, characterized in that it is provided.

(5)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口するエア吹出穴である第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記吸引部は、金属材料からなる吸引部本体と、前記吸引部本体の下面にて開口する収容凹部に収容された筒状のノズル本体と、前記収容凹部の開口端面に取り付けられる樹脂製パッドとを備え、前記吸引面の一部を構成する前記ノズル本体の下端面に凹部を設け、前記凹部の中心に除塵用ノズルを突設し、前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記除塵用ノズルの先端にて開口するように設け、前記ノズル本体の内部に、前記第1エア吹出穴及び前記第2エア吹出穴の両方にエアを供給する共通のエア流路を設け、前記エア流路の内壁面及び前記ノズル本体の外周面にて開口する迂回流路を設け、前記迂回流路を通過して前記ノズル本体の外周面と前記収容凹部の内側面側との間に生じる空間に導かれたエアを、前記ノズル本体の外周面にて開口する前記第1エア吹出穴に導くようにし、前記基板主面上の異物を回収する集塵穴を、前記吸引面における前記凹部を包囲するように凹部外周縁に沿って複数箇所に配設し、真空引きするための真空吸着穴を、前記凹部の外側領域にて開口するように複数配設し、複数の前記真空吸着穴に連通する個々の吸着流路を前記吸引部本体の内部にて共通吸着流路に合流させ、複数の前記集塵穴に連通する個々の集塵流路を前記吸引部本体の内部にて共通集塵流路に合流させるとともに、前記共通吸着流路及び前記共通集塵流路を真空引き手段に接続し、前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材を設けたことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (5) The suction surface includes a suction portion provided with a first air blowing hole which is an air blowing hole which is provided on the inner peripheral surface of the concave portion, and the concave portion extends from the first air blowing hole. In the non-contact transport device that transports the substrate main surface of the wiring board that is a transported object by sucking and holding the suction surface by the negative pressure generated by the air jetted along the inner peripheral surface of the A suction part body made of a metal material; a cylindrical nozzle body housed in a housing recess opening on a lower surface of the suction part body; and a resin pad attached to an opening end surface of the housing recess part. A concave portion is provided on the lower end surface of the nozzle body constituting a part of the surface, a dust removing nozzle is provided in the center of the concave portion, and a second air blowing hole for blowing air to the substrate main surface is used for the dust removal. Open at the tip of the nozzle A common air flow path for supplying air to both the first air blowing hole and the second air blowing hole is provided inside the nozzle body, and an inner wall surface of the air flow path and an outer periphery of the nozzle body A bypass flow path that opens at a surface is provided, and air that has passed through the bypass flow path and is generated between the outer peripheral surface of the nozzle body and the inner side surface of the housing recess is provided in the nozzle body. A plurality of dust collection holes are arranged along the outer periphery of the recess so as to surround the recess on the suction surface so as to guide the first air blowing hole opened on the outer peripheral surface and collect foreign matter on the main surface of the substrate. A plurality of vacuum suction holes for vacuuming are disposed at the locations so as to open in the outer region of the recess, and individual suction flow paths communicating with the plurality of vacuum suction holes are arranged in the suction section. A plurality of the above collections are joined to the common adsorption flow path inside the main body. The individual dust collecting channels communicating with the holes are joined to the common dust collecting channel inside the suction unit body, and the common adsorption channel and the common dust collecting channel are connected to a vacuum drawing means, A non-wiring board is provided, wherein a board holding member is provided for holding and fixing the wiring board so that it cannot be displaced when the main surface of the board is sucked and held by the suction surface. Contact transfer device.

本発明を具体化した一実施形態の非接触搬送装置を示す概略図。Schematic which shows the non-contact conveying apparatus of one Embodiment which actualized this invention. 配線基板の概略構成を示す断面図。Sectional drawing which shows schematic structure of a wiring board. 搬送ヘッドの概略構成を示す断面図。Sectional drawing which shows schematic structure of a conveyance head. 搬送ヘッドの概略構成を示す側面図。The side view which shows schematic structure of a conveyance head. 吸引部を示す正面図。The front view which shows a suction part. 吸引部を示す上面図。The top view which shows a suction part. 吸引部を示す下面図。The bottom view which shows a suction part. 図6のA−A線断面図。AA line sectional view of Drawing 6. 上蓋部を示す上面図。The top view which shows an upper cover part. 吸引部本体を示す上面図。The top view which shows a suction part main body. 図10のB−B線断面図。BB sectional drawing of FIG. 吸引部本体を示す下面図。The bottom view which shows a suction part main body. ノズル支持体を示す上面図。The top view which shows a nozzle support body. 図13のC−C線断面図。CC sectional view taken on the line of FIG. ノズル本体を示す正面図。The front view which shows a nozzle main body. ノズル本体を示す上面図。The top view which shows a nozzle main body. ノズル本体を示す下面図。The bottom view which shows a nozzle main body. 図16のD−D線断面図。The DD sectional view taken on the line of FIG. 樹脂製パッドを示す上面図。The top view which shows resin-made pads. 図19のE−E線断面図。EE sectional view taken on the line of FIG. 図19のF−F線断面図。FF sectional view taken on the line of FIG. 非接触搬送装置を示す回路図。The circuit diagram which shows a non-contact conveying apparatus. 配線基板の非接触搬送方法を示す説明図。Explanatory drawing which shows the non-contact conveyance method of a wiring board. 配線基板の非接触搬送方法を示す説明図。Explanatory drawing which shows the non-contact conveyance method of a wiring board.

符号の説明Explanation of symbols

1…非接触搬送装置
2…搬送用多関節ロボット
3…アーム
15…流体圧アクチュエータとしてのエアシリンダ
20…吸引部
21…吸引面
73…凹部
81…エア吹出穴としての第1エア吹出穴
110…被搬送物としての配線基板
116…突起電極としての端子パッド
118…突起電極としてのはんだバンプ
119…電極形成領域
120…基板主面
181…基板保持部材
184…接触部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Non-contact conveyance apparatus 2 ... Articulated robot 3 for conveyance ... Arm 15 ... Air cylinder 20 as a fluid pressure actuator ... Suction part 21 ... Suction surface 73 ... Recess 81 ... 1st air blowing hole 110 as an air blowing hole ... Wiring substrate 116 as a transported object ... Terminal pad 118 as a protruding electrode ... Solder bump 119 as a protruding electrode ... Electrode forming region 120 ... Substrate main surface 181 ... Substrate holding member 184 ... Contact portion

Claims (5)

吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口するエア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、
前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材を設けたことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。
The suction surface is provided with a recess, and is provided with a suction portion provided with an air blowing hole that opens at the inner peripheral surface of the recess, and is generated by the air blown from the air blowing hole along the inner peripheral surface of the recess. In the non-contact transport device that transports the substrate main surface of the wiring substrate that is the object to be transported by sucking and holding the suction surface to the suction surface,
A wiring board having a board holding member for holding and fixing the wiring board so as not to be misaligned by contacting the outer peripheral edge of the wiring board when the board main surface is sucked and held by the suction surface. Non-contact transfer device.
流体の給排により進退可能な可動部を有する流体圧アクチュエータを用い、その可動部に前記吸引部を支持させるとともに、前記吸引部の前記吸引面を包囲するように前記基板保持部材の接触部を配置し、
基板保持固定時には前記可動部を後退させることで前記配線基板を前記基板保持部材に近づけて前記接触部を前記配線基板の外周縁に接触させる一方、基板釈放時には前記可動部を前進させることで前記配線基板を前記基板保持部材から遠ざけて前記接触部を前記配線基板と非接触の状態とする
ことを特徴とする請求項1に記載の配線基板の非接触搬送装置。
Using a fluid pressure actuator having a movable part that can be moved forward and backward by supplying and discharging fluid, the movable part supports the suction part, and the contact part of the substrate holding member is surrounded by the suction surface of the suction part. Place and
When the substrate is held and fixed, the movable portion is moved backward to bring the wiring board closer to the substrate holding member to bring the contact portion into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate, while when the substrate is released, the movable portion is moved forward. 2. The non-contact transfer device for a wiring board according to claim 1, wherein the wiring board is moved away from the board holding member to bring the contact portion into a non-contact state with the wiring board.
前記吸引部は搬送用多関節ロボットのアームの先端に支持されており、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定した状態で前記アームを駆動するようにしたことを特徴とする請求項1または2に記載の配線基板の非接触搬送装置。   3. The suction unit is supported by a tip of an arm of a transfer articulated robot, and the arm is driven in a state in which the wiring board is held and fixed so as not to be misaligned. The non-contact conveyance apparatus of the wiring board as described in 2. 前記配線基板は、複数の突起電極が配置された電極形成領域を前記基板主面上に有する樹脂製配線基板であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の配線基板の非接触搬送装置。   4. The wiring board according to claim 1, wherein the wiring board is a resin wiring board having an electrode formation region in which a plurality of protruding electrodes are arranged on the main surface of the board. 5. Non-contact transfer device. 吸引部の吸引面に設けられた凹部の内周面にて開口するエア吹出穴を設け、前記エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する方法において、
前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に基板保持部材を前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定するようにしたことを特徴とする配線基板の非接触搬送方法。
An air blowing hole that opens at the inner peripheral surface of the concave portion provided on the suction surface of the suction portion is provided, and is conveyed by the negative pressure generated by the air ejected from the air blowing hole along the inner peripheral surface of the concave portion. In the method of transporting the substrate main surface of the wiring board, which is an object, by suction holding the suction surface,
A wiring board characterized in that a substrate holding member is brought into contact with an outer peripheral edge of the wiring board when the main surface of the board is sucked and held on the suction surface, and the wiring board is held and fixed without being displaced. Non-contact transfer method.
JP2008282729A 2008-11-04 2008-11-04 Non-contact carrying device and method for wiring board Pending JP2010114108A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008282729A JP2010114108A (en) 2008-11-04 2008-11-04 Non-contact carrying device and method for wiring board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008282729A JP2010114108A (en) 2008-11-04 2008-11-04 Non-contact carrying device and method for wiring board

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010114108A true JP2010114108A (en) 2010-05-20

Family

ID=42302472

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008282729A Pending JP2010114108A (en) 2008-11-04 2008-11-04 Non-contact carrying device and method for wiring board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010114108A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012134402A (en) * 2010-12-23 2012-07-12 Ngk Spark Plug Co Ltd Non contact conveyor apparatus of wiring board and manufacturing method of the wiring board
JP2013049097A (en) * 2011-08-30 2013-03-14 Fuji Mach Mfg Co Ltd Component-mounting head
JP2020032476A (en) * 2018-08-28 2020-03-05 リンク・パワー株式会社 Non-contact holding device, non-contact holding system, non-contact conveying system and non-contact holding method
WO2021048069A1 (en) * 2019-09-10 2021-03-18 A O Ideas Gmbh Suction unit and suction device

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62157792A (en) * 1985-12-30 1987-07-13 明石 博 Air holder with positioning mechanism
JPH10181879A (en) * 1996-12-26 1998-07-07 Koganei Corp Carrier
JP2001179673A (en) * 1999-12-22 2001-07-03 Orc Mfg Co Ltd Substrate conveyance device
JP2002064130A (en) * 2000-06-09 2002-02-28 Harmotec Corp Non-contact transfer device
JP2004152877A (en) * 2002-10-29 2004-05-27 Hiroshi Akashi Plate body moving and placing device
JP2005340355A (en) * 2004-05-25 2005-12-08 Ngk Spark Plug Co Ltd Wiring board
JP2006032687A (en) * 2004-07-16 2006-02-02 Disco Abrasive Syst Ltd Workpiece transporting device
JP2006216714A (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Ibiden Co Ltd Multilayered printed wiring board

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62157792A (en) * 1985-12-30 1987-07-13 明石 博 Air holder with positioning mechanism
JPH10181879A (en) * 1996-12-26 1998-07-07 Koganei Corp Carrier
JP2001179673A (en) * 1999-12-22 2001-07-03 Orc Mfg Co Ltd Substrate conveyance device
JP2002064130A (en) * 2000-06-09 2002-02-28 Harmotec Corp Non-contact transfer device
JP2004152877A (en) * 2002-10-29 2004-05-27 Hiroshi Akashi Plate body moving and placing device
JP2005340355A (en) * 2004-05-25 2005-12-08 Ngk Spark Plug Co Ltd Wiring board
JP2006032687A (en) * 2004-07-16 2006-02-02 Disco Abrasive Syst Ltd Workpiece transporting device
JP2006216714A (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Ibiden Co Ltd Multilayered printed wiring board

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012134402A (en) * 2010-12-23 2012-07-12 Ngk Spark Plug Co Ltd Non contact conveyor apparatus of wiring board and manufacturing method of the wiring board
JP2013049097A (en) * 2011-08-30 2013-03-14 Fuji Mach Mfg Co Ltd Component-mounting head
JP2020032476A (en) * 2018-08-28 2020-03-05 リンク・パワー株式会社 Non-contact holding device, non-contact holding system, non-contact conveying system and non-contact holding method
WO2021048069A1 (en) * 2019-09-10 2021-03-18 A O Ideas Gmbh Suction unit and suction device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4629763B2 (en) Wiring board non-contact transfer device and method, and resin wiring board manufacturing method
JP4629764B2 (en) Wiring board non-contact transfer device and method, and resin wiring board manufacturing method
JP2010114108A (en) Non-contact carrying device and method for wiring board
JP5198551B2 (en) Wiring board non-contact transfer device and wiring board manufacturing method
JP4629766B2 (en) Wiring board non-contact transfer apparatus and method
JP4629765B2 (en) Wiring board non-contact transfer device and method, and resin wiring board manufacturing method
JP5198499B2 (en) Wiring board non-contact transfer device and wiring board manufacturing method
KR20140051052A (en) Blast processing equipment for processing substrate peripheral portion and blast processing method by using the equipment
KR20130034615A (en) Hand and substrate transfer apparatus
JP5198549B2 (en) Wiring board non-contact transfer device and wiring board manufacturing method
JP5198550B2 (en) Wiring board non-contact transfer device and wiring board manufacturing method
JP2925534B1 (en) Metal ball arrangement method and arrangement device
JP5951989B2 (en) Non-contact transfer device, method for manufacturing wiring board
JP6901379B2 (en) Coating device
JP2009125643A (en) Substrate treatment apparatus
KR102338237B1 (en) Transfer device and control method thereof
KR101958705B1 (en) Complex cleaning module for semiconductor component
JP2007136644A (en) Holding method for object to be treated, electrostatic attracting mechanism, electrostatic attraction probe, transporting method and device for object to be treated
US20210307577A1 (en) Cleaning nozzle and cleaning method
JPH088320A (en) Pneumatic carrier and foreign matter removing method therefor
KR20230129727A (en) Full cone type plasma ejection apparatus and plasma generating system comprising the same
JP2012152874A (en) Wiring board conveying implement and method for manufacturing wiring board
JP4789732B2 (en) Micro conductive ball mounting device
JP2005322782A (en) Thin-sheet rotation processing apparatus and its method
KR101290105B1 (en) Apparatus for loading substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111020

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121127

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130326