JP2010113463A - 診断システム - Google Patents

診断システム Download PDF

Info

Publication number
JP2010113463A
JP2010113463A JP2008284416A JP2008284416A JP2010113463A JP 2010113463 A JP2010113463 A JP 2010113463A JP 2008284416 A JP2008284416 A JP 2008284416A JP 2008284416 A JP2008284416 A JP 2008284416A JP 2010113463 A JP2010113463 A JP 2010113463A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
led
failure
visible light
blinking cycle
blinking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008284416A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanari Yokota
雅成 横田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2008284416A priority Critical patent/JP2010113463A/ja
Publication of JP2010113463A publication Critical patent/JP2010113463A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

【課題】計算機を構成するモジュールについて、故障発生時に可視光LEDの表示情報から故障特定を容易にする診断システムを得る。
【解決手段】計算機101を構成する各モジュールに、モジュールの状態を示す可視光を特定の点滅周期で発光するLEDを設け、診断装置109は、LEDの発光する可視光を受光し、この受光した可視光の点滅周期をLED受光部181で読み取り、可視光の点滅周期が変化するつど、変化した時刻と点滅周期とを対応付けて状態記録リスト182に格納し、LEDの点滅周期及びこれに対応する診断情報及びその対処方法を予め定義した対処方法選択表183を用いて、状態記録リスト182の点滅周期と対処方法選択表183のLEDの点滅周期とを照合することによりモジュールの故障を診断する。
【選択図】図1

Description

この発明は、LED故障表示情報の取得による診断で、複数のモジュールから構成される計算機の故障特定を容易にする診断システムに関するものである。
ここで、モジュールとは、IOカード、ノード装置、電源ユニットなどを指す。
従来、複数のモジュールから構成される計算機においては、それぞれの部位で故障状態を表す可視光LEDを複数装備し、検知した警告や故障を表す可視光LEDを点灯あるいは消灯させることで、その部位の状態を示していた。これら可視光LEDが点灯することで、ユーザは計算機の正常、あるいは警告や異常などの状態を知ることができ、また警告や異常が発生した部位を知ることができる。
特許文献1では、故障状態を示すLEDを点灯するだけではなく、故障したモジュールを切り離した時点のLEDの状態を不揮発性レジスタに保存して、モジュールの持ち帰りテスト時に不揮発性レジスタを見ることで、故障箇所を容易に判断できるようにしている。
特開平7−311697号公報(第3〜5頁、図1)
従来、計算機の製品出荷前テストでは、試験専用装置を用いてテストを行い、可視光LEDが点灯することで正常、あるいは異常や警告などの状態遷移を目視で確認するため、試験結果の確認に時間がかかっていた。
また、製品出荷後に計算機の故障が発生した場合には、カードの物理的破壊や電源の供給停止、あるいは再起動などの状態遷移を行う操作が発生すると、故障状態を表す可視光LEDの状態はそのまま保持されない。
また、計算機から離れた場所にユーザがいる場合、正常あるいは異常や警告などの状態遷移から故障に至る過程を可視光LEDで知ることはできなかった。
また、特許文献1に示されるような従来の計算機では、モジュールに装備された不揮発性メモリや外部記憶装置にログを記録していたが、不揮発性メモリや外部記憶装置が故障すると、記録が採取できないという問題があった。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、計算機を構成するモジュールについて、故障発生時に可視光LEDの表示情報から故障特定を容易にする診断システムを得ることを目的としている。
この発明に係わる診断システムにおいては、複数のモジュールにより構成された計算機、及びこの計算機の故障を診断する診断装置を備え、
計算機は、モジュールにそれぞれ設けられ、モジュールの状態を示す可視光をモジュールの状態に応じた特定の点滅周期で発光するLEDと、このLEDが発光する可視光の特定の点滅周期を設定する手段とを有し、
診断装置は、LEDの発光する可視光を受光し、この受光した可視光の点滅周期を読み取るLED受光部と、LEDの点滅周期が変化するつど、変化した時刻とLEDの点滅周期とを対応付けて格納した状態記録リストと、LEDの点滅周期及びこれに対応する診断情報及びその対処方法を予め定義した対処方法選択表とを有し、
状態記録リストのLEDの点滅周期と対処方法選択表のLEDの点滅周期とを照合することにより、モジュールの故障を診断するとともに、故障に対する対処方法を選定するものである。
この発明は、以上説明したように、、複数のモジュールにより構成された計算機、及びこの計算機の故障を診断する診断装置を備え、
計算機は、モジュールにそれぞれ設けられ、モジュールの状態を示す可視光をモジュールの状態に応じた特定の点滅周期で発光するLEDと、このLEDが発光する可視光の特定の点滅周期を設定する手段とを有し、
診断装置は、LEDの発光する可視光を受光し、この受光した可視光の点滅周期を読み取るLED受光部と、LEDの点滅周期が変化するつど、変化した時刻とLEDの点滅周期とを対応付けて格納した状態記録リストと、LEDの点滅周期及びこれに対応する診断情報及びその対処方法を予め定義した対処方法選択表とを有し、
状態記録リストのLEDの点滅周期と対処方法選択表のLEDの点滅周期とを照合することにより、モジュールの故障を診断するとともに、故障に対する対処方法を選定するので、短時間でLEDの状態を確認することができ、モジュールの故障発生時に可視光LEDの表示情報から故障特定を容易に行うことができる。
実施の形態1.
以下、この発明の実施の形態1を図に基づいて説明する。
図1は、この発明の実施の形態1による診断システムを示す構成図である。
図1において、計算機101は、複数のIOカード102〜105と、複数のノード装置107〜108と、電源ユニット106の各モジュールにより構成されている。IOカード102には、その状態を示すLED111〜115が装備され、IOカード103には、その状態を示すLED121〜125が装備され、IOカード104には、その状態を示すLED131〜135が装備され、IOカード105には、その状態を示すLED141〜145が装備されている。
電源ユニット106には、その状態を示すLED151〜153が装備されている。
ノード装置107には、その状態を示すLED161〜163が装備され、ノード装置108には、その状態を示すLED171〜173が装備されている。
計算機101を診断する診断装置109は、LED111〜173からの光情報を受信するためのLED受光部181を持ち、書き換え可能な対処方法選択データ185を有している。さらに、診断装置109は、LED111〜173の状態を状態変化したときに記録する状態記録リスト182と、LED111〜173からの光情報と、その意味を示す情報である診断情報と、診断情報に対する対処方法を記載した対処方法選択表183とを、メモリ184上に持っている。
図2は、この発明の実施の形態1による診断システムの故障箇所の特定を行う処理を示すフローチャートである。
図2(a)は計算機の処理、図2(b)は診断装置の初期化処理、図2(c)は診断装置の故障箇所の特定を行う処理である。
図3は、この発明の実施の形態1による診断装置の状態記録リストを示す図である。
図3において、LEDの点滅周期の変化による状態変化したときのLED状態変化時刻の値T1を有するLED状態変化時刻301と、状態変化したLEDの点滅周期数の値L1を有するLED点滅周期数302の欄を設けている。LED状態変化時刻301とLED点滅周期数302は、1行ごとに対応するデータである。
図4は、この発明の実施の形態1による診断装置の対処方法選択表を示す図である。
図4において、LED点滅周期数を有するLED点滅周期401と、このLED点滅周期数に対応する各LEDの状態(該当するモジュールの状態)を定義した診断情報402と、各LEDの状態に対する対処方法を定義した対処方法403の欄を設けている。LED点滅周期401と診断情報402と対処方法403とは、1行ごとに対応している。
次に、動作について、図2に示すフローチャートを用いて説明する。
まず、図2(a)で、計算機101のLED111〜173は、情報発信指示を受けて、点滅周期を、モジュールの状態に対応したそれぞれ特定値に設定し、発光することで、可視光通信により、正常、あるいは警告や故障などの情報を発信する(ステップS1:LEDの特定の点滅周期を設定する手段)。
一方、図2(b)で、診断装置109は、対処方法選択データ185のデータを読み込み(ステップS11)、メモリの初期化を行って、対処方法選択表183がメモリ184上に表形式で展開されるようにする(ステップS12)。
対処方法選択表183がメモリ184上に表形式で展開された後に、図2(c)で、診断装置109は、計算機101の近傍に設置され、LED受光部181により、LED111〜173の点滅周期を読み取ることで、情報を受信する(ステップS21)。
受信した情報からLED111〜173の状態に変化があった場合に、メモリ184上にある状態記録リスト182に対し、変化した時刻とLED点滅周期を記録する(ステップS22)。LED状態変化時刻301とLED点滅周期数302に、LED状態変化時刻の値T1と状態変化したLEDの点滅周期数の値L1を状態記録リスト182に書き込んだ例を図3に示す。
状態記録リスト182に記録されたLED点滅周期と、メモリ184上にある対処方法選択表183にあらかじめ用意されたLED点滅周期とを比較することで、LEDの状態(該当するモジュールの状態)が正常なのか、異常あるいは警告の状態なのかの故障診断を行う(ステップS23)。
図4に対処方法選択表183を例示する。図3の状態記録リスト182に記録された状態変化したLEDの点滅周期数の値L1が、図4のLED点滅周期401の列の値と一致するかどうかを比較し、一致した点滅周期に対応する診断情報402を選ぶことにより故障診断を行う。
次に故障診断を行った結果により、図4で、故障診断したときの診断情報402に対応する対処方法403を選んで、対処方法を決定する(ステップS24)。
実施の形態1によれば、これらの動作によって、計算機の製品出荷前のテストを行い、ユーザが計算機を構成するモジュールに装備されている多数のLEDの状態を確認しなければならない場合でも、短時間でLEDの状態を確認できるため、試験結果の確認時間が短縮できる。
また、LEDの点滅周期の意味を示す情報が記載された対処方法選択表と、計算機を構成するモジュールに装備されているLEDの点滅周期の状態を定期的に比較することで、計算機を構成するモジュールが正常に動作しているか、あるいは警告・故障の状態なのかを監視することができ、出荷された製品の故障発生時にLED故障表示情報から診断した故障特定と的確な対処を行うことができる。
実施の形態2.
以下、この発明の実施の形態2を図に基づいて説明する。
図5は、この発明の実施の形態2による診断システムを示す構成図である。
図5において、101〜109、111〜115、121〜125、131〜135、141〜145、151〜153、161〜163、171〜173、181〜185は図1におけるものと同一のものである。図5では、各IOカード102〜105、各ノード装置107〜108、電源ユニット106に、それぞれ可視光LEDを用いて通信を行うためのLED及びLED点滅周期を変えるための発光変調器を設けている。
すなわち、IOカード102に可視光LEDを用いて通信を行うためのLED116、IOカード103にLED126、IOカード104にLED136、IOカード105にLED146、電源ユニット106にLED154、ノード装置107にLED164、ノード装置108にLED174を装備している。また、LED点滅周期を変えるための発光変調器117、127、137、147、155、165、175を、それぞれIOカード102〜105、電源ユニット106、ノード装置107、108に設けている。
図6は、この発明の実施の形態2による診断システムの故障箇所の特定を行う処理を示すフローチャートである。
図6(a)は、計算機の処理、図6(b)は、診断装置の故障箇所の特定を行う処理である。
図7は、この発明の実施の形態2による計算機のLED点滅周期を決定する方法を示す図である。
図7において、モジュールの状態501ごとに、対応するLED点滅周期502が示されている。
実施の形態1では、LED111〜173の全てが点滅周期をそれぞれ特定値に設定し発光していたが、実施の形態2では、IOカードのLED116、126、136、146、電源ユニットのLED154、ノード装置のLED164、174が点滅周期を変えて発光し、LEDの可視光通信を行うことにより診断装置109に情報を伝達するようにしている。
次に、動作について図6に示すフローチャートを用いて説明する。
まず、図6(a)で、計算機101を構成する故障していないモジュールは、他モジュールが故障した場合の故障情報を受信する(ステップS31:モジュールの故障が発生したとき、故障していないモジュールが故障情報を受信する手段)。故障情報に応じてLEDの点滅周期を決める(ステップS32:モジュールの故障に応じて、LEDが発光する可視光の点滅周期を設定する手段)。ここで、点滅周期を決定する例として、図7に示すモジュールの状態501から、対応するLED点滅周期502を得る。
次に、故障モジュールの情報を、変換されたLED点滅周期で、LED116、126、136、146、154、164、174のいずれかにより、可視光LEDで発信する(ステップS33)。このとき、点滅周期を変えて複数回に分けて情報を発信することで、多数の情報を一度に送付することができる。
図6(b)の処理は、図2(c)の処理と同じであり、その説明を省略する。
実施の形態2によれば、これらの動作によって、診断装置は、計算機を構成するモジュールの可視光LEDから多数の情報を得ることができ、それらの情報から診断を行い、故障特定と的確な対処を行うことができる。
実施の形態3.
以下、この発明の実施の形態3を図に基づいて説明する。
図8は、この発明の実施の形態3による診断システムを示す構成図である。
図8において、101〜109、181〜185は図1におけるものと同一のものである。計算機101及び計算機201は、ローカルネットワーク601で接続された冗長化構成を取っており、どちらか一方の計算機が運転し、もう一方の計算機は待機している。計算機201は、計算機101と同じ構成であり、IOカード202〜205、電源ユニット206、ノード装置207、208を装備している。
さらに、それぞれの計算機101、201は、点滅周期を変えて発光できるLED191、LED192を装備し、LED点滅周期を変えるための発光変調器193、194を設けている。
図9は、この発明の実施の形態3による診断システムの故障箇所の特定を行う処理を示すフローチャートである。
図9(a)は計算機の処理、図9(b)は診断装置の故障箇所の特定を行う処理である。
実施の形態1では、複数のLEDが点滅周期をそれぞれ特定値に設定し発光していたが、実施の形態3は、LED191とLED192のいずれかのLEDで、可視光通信を行うことにより診断装置109に情報を伝達するようにした。
次に、動作について図9に示すフローチャートを用いて説明する。
実施の形態3では、可視光通信を行うLEDは、LED191とLED192のみである。まず、図9(a)で、計算機を構成するモジュールの状態を取得する(ステップS41)。モジュールの状態から、LED点滅周期を決める(ステップS32:モジュールの状態に応じて、LEDが発光する可視光の点滅周期を設定する手段)。故障モジュールの情報を可視光LEDで発信する(ステップS33)。このとき、点滅周期を変えて複数回に分けて情報を発信することで、多数の情報を一度に送付することができる。
図9(b)の処理は、図6(b)の処理と同じであり、その説明を省略する。
実施の形態3によれば、これらの動作によって、計算機に唯一装備された可視光LEDから発信された可視光通信は、他のLEDの可視光通信の干渉を受けないため、診断装置は、多数の情報を正確に得ることができ、受信した情報から診断を行い、故障特定とこれに対応した的確な対処を行うことができる。
実施の形態4.
以下、この発明の実施の形態4を図に基づいて説明する。
図10は、この発明の実施の形態4による診断システムを示す構成図である。
図10において、101〜109、181〜185、191〜194、201〜208、601は図8におけるものと同一のものである。図10では、冗長化構成の計算機を診断する診断装置109に、NIC(Network Interface Card)186を設け、さらに広域ネットワーク602で接続された遠隔地のPC187を設けたものである。
図11は、この発明の実施の形態4による診断システムの故障箇所の特定を行う処理を示すフローチャートである。
図11(a)は計算機の処理、図11(b)は診断装置の処理、図11(c)はPCの処理である。
実施の形態3では、LEDの可視光通信を行うことにより診断装置109に計算機の状態を示す情報を伝達し、診断装置109で対処方法を判断していたが、実施の形態4は、診断装置の外部に診断情報を発信するようにしたものである。
次に、動作について、図11のフローチャートを用いて説明する。
図11(a)の処理は、図9(a)の処理と同じであり、その説明を省略する。
図11(b)のステップS21〜S24の処理は、図9(b)の処理と同じである。図11(b)では、ステップS24に次いで、診断したモジュールの故障及びこの故障に対する対処方法に関するデータの暗号化処理を行い(ステップS25)、NIC186からこれらの診断情報を送信する(ステップS26)。
図11(c)では、診断装置109から送信された診断情報を、遠隔地のPC187で受信し(ステップS51)、復号化処理を行う(ステップS52)。
実施の形態4によれば、これらの動作によって、遠隔地でも計算機のモジュールの診断情報を得ることができる。
実施の形態5.
以下、この発明の実施の形態5を図に基づいて説明する。
図12は、この発明の実施の形態5による診断システムを示す構成図である。
図12において、101〜109、111〜115、121〜125、131〜135、141〜145、151〜153、161〜163、171〜173、181〜185は図1におけるものと同一のものである。図12では、図1の計算機構成の診断装置109に、過去の状態遷移の履歴を記録する状態履歴記録装置188を設けたものである。
図13は、この発明の実施の形態5による診断システムの故障箇所の履歴を保存する処理を示すフローチャートである。
図13(a)は計算機の処理、図13(b)は診断装置の処理である。
次に、動作について、図13を用いて説明する。
実施の形態1では、LED状態変化から状態記録リスト182に情報を記録していたが、実施の形態5は、状態履歴記録装置188を設け、過去の状態遷移の履歴を記録するようにしている。
図13(a)の処理は、図2(a)の処理と同じであり、その説明を省略する。
図13(b)のステップS21〜S24は、図2(b)のステップS21〜S24の処理と同じである。
図13(b)では、ステップS23で故障診断を行う前に、可視光の点滅周期が変化するつど、変化した時刻と点滅周期とを対応付けて、履歴として状態履歴記録装置188に記録する処理であるステップS61が加わっている。
実施の形態5によれば、過去の状態遷移の履歴情報を得ることができるため、LEDを順番に点ける等の定型的なテストの結果を容易に確認することができるようになり、計算機の製品出荷前のテストにおける試験結果の確認時間が短縮できる。
また、計算機が故障した際に、状態履歴記録装置を参照することで、どのような経緯で故障に至ったかを容易に判断することができる。
この発明の実施の形態1による診断システムを示す構成図である。 この発明の実施の形態1による診断システムの故障箇所の特定を行う処理を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態1による診断装置の状態記録リストを示す図である。 この発明の実施の形態1による診断装置の対処方法選択表を示す図である。 この発明の実施の形態2による診断システムを示す構成図である。 この発明の実施の形態2による診断システムの故障箇所の特定を行う処理を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態2による診断装置のLED点滅周期を決定する表を示す図である。 この発明の実施の形態3による診断システムを示す構成図である。 この発明の実施の形態3による診断システムの故障箇所の特定を行う処理を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態4による診断システムを示す構成図である。 この発明の実施の形態4による診断システムの故障箇所の特定を行う処理を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態5による診断システムを示す構成図である。 この発明の実施の形態5による診断システムの故障箇所の履歴を保存する処理を示すフローチャートである。
符号の説明
101 計算機
102〜105 IOカード
106 電源ユニット
107、108 ノード装置
109 診断装置
111〜116 LED
117 発光変調器
121〜126 LED
127 発光変調器
131〜136 LED
137 発光変調器
141〜146 LED
147 発光変調器
151〜154 LED
155 発光変調器
161〜164 LED
165 発光変調器
171〜174 LED
175 発光変調器
181 LED受光部
182 状態記録リスト
183 対処方法選択表
184 メモリ
185 対処方法選択データ
186 NIC
187 PC
188 状態履歴記録装置
191、192 LED
193、194 発光変調器
201 計算機
202〜205 IOカード
206 電源ユニット
207、208 ノード装置
601 ローカルネットワーク
602 広域ネットワーク

Claims (5)

  1. 複数のモジュールにより構成された計算機、及びこの計算機の故障を診断する診断装置を備え、
    上記計算機は、上記モジュールにそれぞれ設けられ、上記モジュールの状態を示す可視光を上記モジュールの状態に応じた特定の点滅周期で発光するLEDと、このLEDが発光する可視光の上記特定の点滅周期を設定する手段とを有し、
    上記診断装置は、上記LEDの発光する可視光を受光し、この受光した可視光の上記点滅周期を読み取るLED受光部と、上記LEDの点滅周期が変化するつど、上記変化した時刻と上記LEDの点滅周期とを対応付けて格納した状態記録リストと、上記LEDの点滅周期及びこれに対応する診断情報及びその対処方法を予め定義した対処方法選択表とを有し、
    上記状態記録リストの上記LEDの点滅周期と上記対処方法選択表の上記LEDの点滅周期とを照合することにより、上記モジュールの故障を診断するとともに、上記故障に対する対処方法を選定することを特徴とする診断システム。
  2. 複数のモジュールにより構成された計算機、及びこの計算機の故障を診断する診断装置を備え、
    上記計算機は、上記モジュールにそれぞれ設けられ、発光する可視光の点滅周期を変更できるように構成された複数のLEDと、上記モジュールの故障が発生したとき、故障していないモジュールが上記故障情報を受信する手段と、上記モジュールの故障に応じて、上記LEDが発光する可視光の点滅周期を設定する手段とを有し、
    上記故障していないモジュールのいずれかの上記LEDから上記設定された点滅周期の可視光を発光し、
    上記診断装置は、上記LEDの発光する可視光を受光し、この受光した可視光の上記点滅周期を読み取るLED受光部と、上記LEDの点滅周期が変化するつど、上記変化した時刻と上記LEDの点滅周期とを対応付けて格納した状態記録リストと、上記LEDの点滅周期及びこれに対応する診断情報及びその対処方法を予め定義した対処方法選択表とを有し、
    上記状態記録リストの上記LEDの点滅周期と上記対処方法選択表の上記LEDの点滅周期とを照合することにより、上記モジュールの故障を診断するとともに、上記故障に対する対処方法を選定することを特徴とする診断システム。
  3. それぞれ複数のモジュールにより構成され、冗長化された計算機、及びこの計算機の故障を診断する診断装置を備え、
    上記各計算機は、発光する可視光の点滅周期を変更できるように構成されたLEDと、上記モジュールの状態に応じて、上記LEDが発光する可視光の点滅周期を設定する手段とを有し、
    上記冗長化された計算機のいずれかのLEDから上記設定された点滅周期の可視光を発光し、
    上記診断装置は、上記LEDの発光する可視光を受光し、この受光した可視光の上記点滅周期を読み取るLED受光部と、上記LEDの点滅周期が変化するつど、上記変化した時刻と上記LEDの点滅周期とを対応付けて格納した状態記録リストと、上記LEDの点滅周期及びこれに対応する診断情報及びその対処方法を予め定義した対処方法選択表とを有し、
    上記状態記録リストの上記LEDの点滅周期と上記対処方法選択表の上記LEDの点滅周期とを照合することにより、上記モジュールの故障を診断するとともに、上記故障に対する対処方法を選定することを特徴とする診断システム。
  4. 上記診断装置は、広域ネットワークに、上記診断した上記モジュールの故障及びこの故障に対する対処方法に関する情報を発信するためのネットワークインタフェースカードを有することを特徴とする請求項3記載の診断システム。
  5. 上記診断装置は、上記LEDの点滅周期が変化するつど、上記変化した時刻と上記LEDの点滅周期とを対応付けて、履歴として記録する状態履歴記録装置を有することを特徴とする請求項1記載の診断システム。
JP2008284416A 2008-11-05 2008-11-05 診断システム Pending JP2010113463A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008284416A JP2010113463A (ja) 2008-11-05 2008-11-05 診断システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008284416A JP2010113463A (ja) 2008-11-05 2008-11-05 診断システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010113463A true JP2010113463A (ja) 2010-05-20

Family

ID=42301989

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008284416A Pending JP2010113463A (ja) 2008-11-05 2008-11-05 診断システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010113463A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017151625A (ja) * 2016-02-23 2017-08-31 Necパーソナルコンピュータ株式会社 状態特定システム、および状態特定方法
WO2019092851A1 (ja) * 2017-11-10 2019-05-16 三菱電機株式会社 監視カメラ診断システム
JP2019082775A (ja) * 2017-10-30 2019-05-30 Necプラットフォームズ株式会社 電子機器、電子機器の自己診断方法、及び自己診断プログラム

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017151625A (ja) * 2016-02-23 2017-08-31 Necパーソナルコンピュータ株式会社 状態特定システム、および状態特定方法
JP2019082775A (ja) * 2017-10-30 2019-05-30 Necプラットフォームズ株式会社 電子機器、電子機器の自己診断方法、及び自己診断プログラム
WO2019092851A1 (ja) * 2017-11-10 2019-05-16 三菱電機株式会社 監視カメラ診断システム
JPWO2019092851A1 (ja) * 2017-11-10 2020-05-28 三菱電機株式会社 監視カメラ診断システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106055438B (zh) 一种快速定位主板上内存条异常的方法及系统
WO2006110140A1 (en) System and method of reporting error codes in an electronically controlled device
US7096387B2 (en) Method and apparatus for locating a faulty device in a computer system
US20070027981A1 (en) Computer diagnostic system
US7370806B2 (en) Label for an electronic product that provides failure information when the product fails
CN103250110A (zh) 工业用自动诊断装置
CN105549463A (zh) 无人机及其状态监控方法、状态监控系统、状态监控装置
JP2018139104A (ja) 物理ベース及びデータ駆動型モデルを使用した、ビークルからの妨害的異常表示の削減
EP1983438A1 (en) Failure information management method, detection method and apparatus, and storage medium
JP2010113463A (ja) 診断システム
JP4479959B2 (ja) 診断システムおよび診断方法
JP2010146072A (ja) コンピュータの異常監視装置、異常監視方法、異常監視プログラム
JP2007257581A (ja) 故障解析装置
JP2013025632A (ja) ディスク制御装置、ディスク装置異常検出方法、及びプログラム
CN109491876A (zh) 一种服务器及其cpu ierr错误提示系统
JP2005293345A (ja) Icタグを用いた故障診断システムおよび故障診断方法
CN114356460A (zh) 一种基于医疗设备健康实时采集监控方法和系统
JP5638045B2 (ja) 着脱可能なフィルタ回路を有する数値制御システム
CN112416723A (zh) 基于cpu故障检测的结果类型编号显示方法及板卡
JP6837769B2 (ja) 障害内容特定装置、障害内容特定方法、及び、障害内容特定プログラム
JP2008134691A (ja) 保守管理システム
JP4953859B2 (ja) 多光軸光電センサシステム、多光軸光電センサ、異常特定装置、異常特定方法及び記憶媒体
US9865143B2 (en) Status displaying device and method thereof for solid-state drive
JP2006285330A (ja) 入出力モジュール監視装置
WO2018168606A1 (ja) 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム記録媒体