JP2010098031A - コンデンサ漏れ電流測定方法及びコンデンサ漏れ電流測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】コンデンサの漏れ電流測定時に、処理能力を低下させることなく高精度に漏れ電流を測定可能で、さらに搬送テーブルを大型化せずに、種々の容量のコンデンサで共用できるコンデンサ漏れ電流測定方法および測定装置を提供する。
【解決手段】コンデンサ漏れ電流測定装置は、リニアフィーダ１と、分離供給部２と、複数のワーク収納孔４が等間隔で形成された円形の搬送テーブル３と、充電ステージ６と、測定前充電ステージ７と、測定ステージ８と、排出ステージ９と、搬送ピッチ調整手段１０とを備えている。搬送テーブル３がワーク収納孔４の間隔の２倍を単位として間歇回転し、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までの移動距離を搬送テーブル３の１回転より長くするため、漏れ電流の測定精度を向上できる。
【選択図】図１

Description

本発明は、コンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定方法およびコンデンサ漏れ電流測定装置に関する。

コンデンサの漏れ電流測定方法は、日本工業規格であるJIS C 5101-1の４．９項の規定に従うのが一般的である。この規定は、「コンデンサに直流電圧を印加し、ほぼその電圧に到達したときから最大５分後に測定する。規定の漏れ電流値に短時間で達した場合は、５分間印加する必要はない」、というものである。

図２１は漏れ電流測定に関わる一般的なコンデンサＣ０の等価回路図である。図２１に示すようにコンデンサＣ０は等価的に、主容量Ｃと、絶縁抵抗Ｒ１と、誘電吸収因子Ｄとを並列接続して構成される。誘電吸収因子Ｄは、コンデンサＣ０に電圧を印加したときに内部に発生する電界により形成される誘電分極を、直列接続された内部抵抗ｒと容量（以下、誘電分極容量）とで表したものである。誘電分極は、非特許文献１に記載されているように、コンデンサＣ０の充電を開始してから一定時間経過後に安定するが、安定するまでの間は内部抵抗ｒを介して誘電分極容量への充電が行われる。以下では、誘電分極容量への充電を誘電吸収因子Ｄへの充電と呼ぶ。

誘電吸収因子Ｄは、図２１に示すように直列接続された内部抵抗ｒと誘電分極容量の一組だけで等価的に表されるとは限らず、直列接続された内部抵抗ｒと誘電分極容量の組を複数組並列に接続した等価回路で表される場合もありうる。このような場合でも、コンデンサＣ０の充電時にコンデンサＣ０に流れる電流の時間変化は誘電吸収因子Ｄの内部構成に依存しないため、図２１では、簡略化のために、内部抵抗ｒと誘電分極容量の一組だけで誘電吸収因子Ｄを等価的に表している。

誘電分極が安定した後にコンデンサＣ０に流れる電流は、実際には絶縁抵抗Ｒ１を流れる漏れ電流である。したがって、コンデンサＣ０の漏れ電流を精度よく測定するには、誘電分極が安定した後に漏れ電流を測定する必要があり、この漏れ電流を測定することにより、絶縁抵抗Ｒ１も求めることができる。

図２２はコンデンサＣ０に規定電圧を印加して充電を行った場合のコンデンサＣ０に流れる電流の時間変化を示す図であり、横軸は時間、縦軸はコンデンサＣ０に流れる電流である。図２２の領域（ア）は充電電流領域であり、主として主容量Ｃが充電される。領域（イ）は誘電吸収領域であり、誘電吸収因子Ｄが充電される。領域（ウ）は誘電吸収因子Ｄが十分に充電された後の漏れ電流領域であり、この領域で漏れ電流が測定される。

誘電吸収領域（イ）において誘電吸収因子Ｄを充電するのにはある程度長い時間を要するため、コンデンサＣ０に規定電圧を印加してから、漏れ電流領域（ウ）に到達するまでの時間も長くなってしまう。上述したJIS C 5101-1の「コンデンサに直流電圧を印加し、ほぼその電圧に到達したときから最大５分後に測定する」、という規定は、上記の誘電吸収因子Ｄを充電して、漏れ電流領域に達した後に漏れ電流を測定しないと、正確な電流値を測定できないことを意味する。

しかしながら、これでは、個々のコンデンサＣ０を充電するのに時間がかかるため、この規定の後半の「規定の漏れ電流値に短時間で達した場合は、５分間印加する必要はない」、に着目し、これに対応するために、漏れ電流領域に短時間で到達する方法がいくつか提案されている。

例えば、特許文献１は、複数回に分けて充電を行うことにより、１回当たりの充電期間を短縮し、かつ充電期間ごとに充電電圧を制御して、可能な範囲内で高い電圧をコンデンサに印加して急速充電を実現している。
電気工学ハンドブック（第６版）１１０頁、１８１頁 特開平１０−１１５６５１号公報

しかしながら、特許文献１の手法には以下の問題がある。

図２３は従来の漏れ電流測定装置の平面図である。被測定対象コンデンサＣ０からなるワークはリニアフィーダ１にて分離供給部２に搬送される。分離供給部２は、個々のワークを、円形の搬送テーブル３の周囲に等間隔で配置された複数のワーク収納孔４に１つずつ収納する。搬送テーブル３は、その中心軸５の周りを例えば図示のＲ方向に間歇的に回転可能とされ、搬送テーブル３の周縁部に沿って、複数の充電ステージ６および測定前充電ステージ７と測定ステージ８とが互いに間隔を隔てて配置されている。

複数の充電ステージ６の底面には２つのプローブ（図２３では不図示）がワークの両端に設けた電極に対し上下に移動可能に設けられている。搬送テーブル３の移動に伴って、ワーク収納孔４が充電ステージ６の位置に来ると、２つのプローブがワークの両端電極に当接してワークを初期充電する。

複数の充電ステージ６間、または充電ステージ６と測定前充電ステージ７間をワークが移動している最中は、プローブがワークの両端電極に当接しておらず、ワークに蓄積された電荷は自然放電される。この放電期間には、図２１の等価回路からわかるように、主容量Ｃに蓄えられた電荷が誘電吸収因子Ｄの容量分に内部抵抗ｒを通じて移動し、これにより誘電吸収因子Ｄが充電される。誘電吸収因子Ｄを充電するのに要する時間は、誘電吸収時間と呼ばれる。この誘電吸収時間は、ワークが充電ステージ６に停止した状態で充電される時間と、ワークが複数の充電ステージ６の間或いは充電ステージ６と測定前充電ステージ７との問を移動する時間とを合せた時間である。

その後、いくつかの充電ステージ６において漏れ電流領域まで充電されたワークが測定前充電ステージ７に到達すると、図示されないプローブがワーク収納孔４に収納されたワークの電極に当接して主容量Ｃがフル充電される。これにより、誘電吸収因子Ｄの充電に用いられて減少した主容量Ｃの電荷を補充する。その後、ワークは測定前充電ステージ７から測定ステージ８に到達し、図示されないプローブがワーク収納孔４に収納されたワークの電極に当接してワークの絶縁抵抗Ｒ１を流れる漏れ電流を測定する。

漏れ電流を測定した後、ワークに充電された電荷を放電して、ワークは排出ステージ９から図示されない収納箱に向けて排出される。ワークが排出されて空になったワーク収納孔４には、再び分離供給部２において次のワークが収納される。

この装置を用いてコンデンサの漏れ電流を測定する場合、次のような問題が発生する。この装置において、主容量Ｃの値が大きいワークを扱う場合、Ｃの値が大きくなるのに対応して誘電吸収因子Ｄの容量も大きくなり、誘電吸収因子Ｄを十分に充電してワークを漏れ電流領域まで到達させるまでの所要時間が長くなる。

これに対処するためには、誘電吸収時間を長くすること、すなわちワークがステージに停止する時間を長くするか、或いはワークがステージ間を移動する速度を遅くする必要がある。しかしながら、このようにすると、単位時間当りのワークの処理数量すなわち処理能力が低下するという問題がある。

ワークの処理能力を低下させることなく誘電吸収時間を長くするためには、搬送テーブル３のステージ間移動速度を変えずに搬送テーブル３の直径を大きくしてワークがステージ間を移動する距離を長くすることが考えられる。しかしながら、このようにすると装置が大きくなり、また、主容量Ｃの値が大きいワークを扱う搬送テーブルと、主容量Ｃの値が小さいワークを扱う搬送テーブルとを共用することができないなど、コストアップの要因になるという問題がある。

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、コンデンサの漏れ電流測定時に、処理能力を低下させることなく高精度に漏れ電流を測定可能で、さらに搬送テーブルを大型化せずに、種々の容量のコンデンサで共用できるコンデンサ漏れ電流測定方法および測定装置を提供するものである。

本発明の一態様によれば、周回可能な搬送体に等間隔で設けられた複数のワーク収納孔のそれぞれに、被測定対象であるコンデンサを収納し、前記搬送体を間歇的に周回させて前記コンデンサの漏れ電流を測定するコンデンサ漏れ電流測定方法において、前記搬送体の周囲に配置された収納ステージにて、前記複数のワーク収納孔に前記コンデンサを収納するステップと、前記搬送体の周囲に配置された充電ステージにて、前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサを順に充電するステップと、前記搬送体の周囲に配置された測定ステージにて、前記充電ステージにて前記コンデンサを充電した後、主容量および誘電吸収因子の双方を充電済みの前記コンデンサの漏れ電流を測定するステップと、前記搬送体の周囲に配置された排出ステージにて、前記測定ステージで測定を終了した前記コンデンサを排出するステップと、を備え、前記収納ステージから前記排出ステージまでに前記搬送体が１周分より多く周回することを特徴とするコンデンサ漏れ電流測定方法コンデンサ漏れ電流測定方法が提供される。

また、本発明の一態様によれば、周回可能な搬送体に等間隔で設けられた複数のワーク収納孔のそれぞれに、被測定対象であるコンデンサを収納し、前記搬送体を間歇的に周回させて前記コンデンサの漏れ電流を測定するコンデンサ漏れ電流測定装置において、前記搬送体の周囲に配置され、前記複数のワーク収納孔に前記コンデンサを収納する収納手段と、前記搬送体の周囲に配置され、前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサを順に充電する充電手段と、前記搬送体の周囲に配置され、前記充電手段にて前記コンデンサを充電した後、主容量および誘電吸収因子の双方を充電済みの前記コンデンサの漏れ電流を測定する測定手段と、 前記搬送体の周囲に配置され、前記測定手段で測定を終了した前記コンデンサを排出する排出手段と、を備え、前記収納手段から前記排出手段までに前記搬送体が１周分より多く周回することを特徴とするコンデンサ漏れ電流測定装置コンデンサ漏れ電流測定装置が提供される。

本発明によれば、コンデンサの漏れ電流測定時に、処理能力を低下させることなく高精度に漏れ電流を測定でき、さらに搬送テーブルを大型化せずに、種々の容量のコンデンサで共用できる。

まず、本発明の基本原理を簡単に説明する。本発明に係るコンデンサ漏れ電流測定装置では、コンデンサを収納し、充電し、漏れ電流測定を行い、排出する。収納から排出までを搬送テーブルの１周分より長くすることで、充電から漏れ電流測定までの時間を長く取って、主容量および誘電吸収因子の双方を充電した後に、コンデンサの漏れ電流を測定を行うものである。

以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。以下では、漏れ電流を測定する対象となる被測定対象コンデンサＣ０をワークと呼ぶ。

（第１の実施形態）
図１は本発明の第１の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。図１では、図２３と共通する構成部分には同一の符号を付しており、以下では相違点を中心に説明する。図１のコンデンサ漏れ電流測定装置は、リニアフィーダ１と、分離供給部２と、複数のワーク収納孔４が等間隔で形成された円形の搬送テーブル（搬送体）３と、充電ステージ６と、測定前充電ステージ７と、測定ステージ８と、排出ステージ９と、搬送ピッチ調整手段１０とを備えている。

本実施形態ではワーク収納孔４の総数を１１個とし、各ワーク収納孔４の位置を（１）〜（１１）で表している。

分離供給部２は位置（１）に配置されている。また、充電ステージ６は位置（３）に配置されている。さらに、測定前充電ステージ７と測定ステージ８の間隔は、それぞれ位置（６）と（８）に配置され、ワーク収納孔４の間隔の２倍だけ離れている。また、排出ステージ９は位置（１０）に配置されている。

ここで、「距離」を以下のように定義する。図１において、図1において搬送テーブル3が、例えば隣接するワーク収納孔間に相当する中心角αだけ回転したときに、ワーク収納孔内のワークの中央部分はそれに対応して破線の円弧Tのように回転する。この円弧Tに沿って計測した長さを距離と呼ぶことにする。

搬送ピッチ調整手段１０は、搬送テーブル３が、その中心軸５のまわりを反時計回り（図示のＲ方向）にワーク収納孔４の間隔の２倍を単位として間歇的に回転（以下、間歇回転）するよう、搬送ピッチを調整する。このとき、あるワーク収納孔４に収納されたワークが１回の間歇回転で移動する距離は、位置２つ分に相当する。例えば、搬送テーブル３が停止状態のときに、あるワーク収納孔４が位置（１）にあったとすると、搬送テーブル３が１回間歇回転して停止したときに、このワーク収納孔４は位置（３）に移動する。

次に、第１の実施形態の処理動作について説明する。図１において、ワーク収納孔４のすべてが空の場合を初期状態とする。初期状態において、あるワーク収納孔４が分離供給部２の位置（１）にあって、ワークが収納されたとする。搬送テーブル３が間歇回転すると、ワークが収納されたワーク収納孔４は位置（３）、（５）、（７）のように、位置（１）を基準として２ずつ増える位置で停止する。また、位置（１１）の次は位置（２）に停止し、その後位置（４）、（６）、（８）のように２ずつ異なる位置で間歇的に停止する。

ここで、ワーク収納孔４の総数が１１であり、搬送テーブル３が間歇回転する単位がワーク収納孔４の間隔の２倍であるため、位置（１）でワークが収納されたワーク収納孔４は、搬送テーブル３が２回転したときに再び位置（１）に戻る。すなわち、ワーク収納孔４に収納されたワークは、充電ステージ６（位置（３））で充電された後、搬送テーブル３で１周より多く回転された後に、測定前充電ステージ７（位置（６））で再充電され、引き続いて測定ステージ８（位置（８））で漏れ電流が測定され、その後、排出ステージ９（位置（１０））から排出される。

これにより、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までのワークの移動距離を、搬送テーブル３の１周分より大きくすることができる。従って、漏れ電流領域に到達するまで誘電吸収因子を充電する誘電吸収時間を長く確保でき、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流も精度よく測定できる。

図２は、図１のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図２は、ワーク収納孔の位置（１）〜（１１）のそれぞれにおいて、搬送テーブル３の１周目に収納されるワークの種類、２周目に収納されるワークの種類、および処理を行うステージ名を表している。図２では、搬送テーブル３が、ワーク収納孔位置（１）〜（１１）の順に１周目から２周目まで間歇回転する例を示している。すなわち、１周目の収納孔位置（１）〜１周目の収納孔位置（１１）、２周目の収納孔位置（１）〜２周目の収納孔位置（１１）の順に時間が経過し、２周目の収納孔位置（１１）の次は１周目の収納孔位置（１）に戻る。

まず、すべてのワーク収納孔４が空である初期状態の搬送テーブル３に対して収納孔位置（１）でワーク収納孔４にワークが供給される。これを図２において１周目の収納孔位置（１）における「Ｘ」で示す。図２では、収納孔位置（１）に対応するステージ名を「収納」としている。これは、収納孔位置（１）に図１の分離供給部２が存在することを示している。

搬送テーブル３が１回間歇回転すると、図２においてこのワークは収納孔位置（３）に到達する。図２では、収納孔位置（３）に対応するステージ名を「充電」としている。これは、収納孔位置（３）に図１の充電ステージ６が存在することを示している。この充電ステージ６でワークは充電される。このとき、収納孔位置（１）にあるワーク収納孔４には次のワークが収納される。収納孔位置（２）にあるワーク収納孔４は図２において「空」であるが、これはまだワークが収納されていないことを示す。後述のように、このワーク収納孔４には２周目の収納孔位置（１）で最初のワークが収納される。

充電ステージ６から測定前充電ステージ７までの距離は、搬送テーブル３を１周分より多く回転させた距離だけ離れている。すなわち、図２において充電ステージ６に対応する１周目の収納孔位置（３）の次にワークが停止する位置は１周目の収納孔位置（５）であり、その位置から搬送テーブル３をさらに１周分より多く回転させた位置に測定前充電ステージ７が設けられる。その位置は２周目の収納孔位置（６）であり、図２において対応するステージ名を「測定前充電」としている。すなわち、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までのワークの移動距離は１周目の収納孔位置（３）から２周目の収納孔位置（６）までであり、この間に搬送テーブル３は１周分より多く回転している。充電ステージ６から測定前充電ステージ７へ移動する間に、コンデンサ内部の誘電吸収因子が充電される。

図２１を用いて説明したように、コンデンサの誘電吸収因子を充電するのには時間がかかるが、本実施形態では、充電ステージ６でコンデンサの充電を行った後に、搬送テーブル３を１周分より多く回転させてから、測定前充電ステージ７に到達するようにしたため、測定前充電ステージ７に到達する時点で、ワーク（コンデンサ）の誘電吸収因子を十分に充電させることができる。

測定前充電ステージ７では、ワ一クの主容量をフル充電する。その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（８）に到達する。図２では、収納孔位置（８）に対応するステージ名を「測定」としている。これは、収納孔位置（８）に図１における測定ステージ８が存在することを示している。測定ステージ８で漏れ電流の測定が行われ、測定後にワークに充電された電荷は放電される。

その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（１０）に到達する。図２では、収納孔位置（１０）に対応するステージ名を「排出」としている。これは、収納孔位置（１０）に図１における排出ステ一ジ９が存在することを示している。排出ステージ９でワークは排出され、空になったワーク収納孔４は再び１周目と同様の収納孔位置（１）に到達して、分離供給部２により新しいワークが収納される。

このように、搬送テーブル３が２周するとワーク収納孔４は元の位置に戻る。なお、図２中の「Ｙ」は１周目でワークが収納されなかった収納孔位置に２周目でワークが収納されることを示す。この「Ｙ」に対応するワークの処理内容は、図２には記載されないが、３周目の収納孔位置（１０）においてワーク収納孔４から排出され、空になったワーク収納孔４には、やはり図２には記載されないが、４周目の収納孔位置（１）において新しいワークが収納される。

また図２において影を付けた部分は、ワークと各ステージ名との対応位置を示すものである。ステージ名は上から下へ、すなわち時間経過に従って工程順に並んでいる。このため、コンデンサの主容量が小さく、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までに時間を要さない場合、すなわち搬送テーブル３が１周する間に全工程を終了できる場合には、搬送テーブル３の間歇回転の単位を、隣接するワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、搬送テーブル３や、分離供給部２（収納ステージ）、充電ステージ６、測定前充電ステージ７、測定ステージ８および排出ステージ９などの設備を共用することができる。

ただし、コンデンサの主容量が小さい場合、測定前充電ステージ７から測定ステージ８までの距離を、搬送テーブル３の間歇回転１回分の距離にする。具体的にはコンデンサの主容量が大きく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔の２倍のときと、コンデンサの主容量が小さく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔と同一のときとでは、測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離を変える。

そこで、測定ステージ８とその直前に配置される測定前充電ステージ７が一体になった装置を２種類用意し、そのうちの一方は他方よりも、測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離を広げておく。これにより、コンデンサの主容量が大きいか否かにより、この装置を差し替えるだけで、主容量が大きいコンデンサと小さいコンデンサの両方の漏れ電流を精度よく測定できる。

具体例として、図１及び図２に示す本実施形態を、コンデンサの主容量が小さい場合、すなわち搬送テーブル３の間歇回転の単位が隣接するワーク収納孔４の間隔と同一であり、搬送テーブル３が１周する間に測定を行う手法を以下に示す。

図３は、図１の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。搬送ピッチ調整手段１０は、コンデンサの容量に応じて、後述する充電測定手段１００または１０１のうち１つを選択し、かつ搬送テーブル３を間歇回転させる搬送ピッチをワーク収納孔４の間隔を単位として調整する。図４は、図３のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図４は搬送テーブル３が１周する間に漏れ電流を測定する例を示し、搬送テーブル３の間歇回転の単位はワーク収納孔４の間隔に一致する。従って、ワーク収納孔４のすべてが空である初期状態から動作を開始すると、「Ｘ」で示したように、搬送テーブル３が１周する間にワークは全ワーク収納孔４に収納される。

ここで、測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離は、搬送テーブル３の間歇回転１回分の距離、すなわち、隣接するワ一ク収納孔４間の距離に一致する。そこで、図１では、測定前充電ステージ７と測定ステージ８を一体にした充電測定手段１００を用いていたが、図３では、測定前充電ステージ７と測定ステージ８を一体にした別の充電測定手段１０１に差し替えている。充電測定手段１０１における測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離は、充電測定手段１００における測定前ステージ７と測定ステージ８との距離の１／２である。より具体的には、充電測定手段１０１における測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離は、コンデンサの主容量が小さい場合の間歇回転の距離、すなわち隣接するワーク収納孔４間の距離である。

このように、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合は充電測定手段１００を用いるが、この充電測定手段１００を充電測定手段１０１に差し替えて、かつ搬送テーブル３の間歇回転の単位をワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流の測定を、図４のように搬送テーブル３の１周分で終了させることができる。

ここで、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図２）と主容量が小さいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図４）における誘電吸収時間と処理能力の比較を行う。数値例として、搬送テーブル３の停止時間を１０ｍｓ、１回の間歇回転に要するワ一クの移動時間を１５ｍｓとする。

図２の場合、充電ステージ６（収納孔位置（３））から測定ステージ８（収納孔位置（８））までの停止位置は９箇所、間歇回転は８回なので、充電ステージ６から測定ステージ８までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ１は、
ｔ１＝１０ｍｓ×９＋１５ｍｓ×８
＝２１０ｍｓ
となる。また、各ステージ６〜８をワークが通過するのに要する時間は、ワークの停止時間と移動時間の和であるので、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ１は、
ａ１＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

これに対して、図４の場合、充電ステージ６（収納孔位置（３））から測定ステージ８（収納孔位置（８））までの停止位置は６箇所、間歇回転は５回なので、充電ステージ６から測定ステージ８までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ２は、
ｔ２＝１０ｍｓ×６＋１５ｍｓ×５
＝１３５ｍｓ
となる。また、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ２は、
ａ２＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

以上より、図２と図４を比較すると、処理能力は同じであるが、誘電吸収時間は図２の方が長くなっており、図２はコンデンサの容量が大きくて誘電吸収時間が長い場合に適しており、図４はコンデンサの容量が小さくて誘電吸収時間が短い場合に適していることがわかる。

このように、第１の実施形態では、搬送テーブル３がワーク収納孔４の間隔の２倍を単位として間歇回転し、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までの移動距離を搬送テーブル３の１周より長くするため、主容量が大きいコンデンサであっても、コンデンサ内部の誘電吸収因子を十分に充電でき、ワークを漏れ電流領域まで到達させた後に、漏れ電流を測定することになり、漏れ電流の測定精度を向上できる。また、搬送テーブル３を間歇回転させている間に、順にワーク収納孔４にワークを収納して、各ワークを順に充電ステージ６、測定前充電ステージ７および測定ステージ８まで順に搬送するため、各ワークの漏れ電流測定処理の処理能力を低下させるおそれはない。

また、本実施形態の変形例として、充電ステージ６、測定前充電ステージ７、測定ステージ８、排出ステージ９を工程順に配置し、測定前充電ステージ７と測定ステージ８を一体にして、測定前充電ステージ７と測定ステージ８の距離がそれぞれ異なる充電測定手段１００，１０１を設けて、被測定対象のコンデンサの主容量が大きい場合は充電測定手段１００を、主容量が小さい場合は充電測定手段１０１を選択することが考えられる。ワークの容量に応じて、充電測定手段１００と充電測定手段１０１のいずれかを選択し、かつ搬送テーブル３の間歇回転の単位を調整することで、分離供給部２や搬送テーブル３などを共用してコンデンサの漏れ電流を測定できる。これにより、装置全体のコストアップを防止できる。

（第２の実施形態）
第２の実施形態は、第１の実施形態における充電ステージ６、測定前充電ステージ７および測定ステージ８からなる組合せを２組直列に配置し、搬送テーブル３を３回転させてコンデンサ漏れ電流測定を行うものである。

図５は本発明の第２の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。図１と共通する構成部分には同一の符号を付しており、以下では相違点を中心に説明する。

本実施形態ではワーク収納孔４の総数を２８個とし、各ワーク収納孔４の位置を（１）〜（２８）で表している。

分離供給部２は位置（１）に配置されている。また、図１と異なり、図５は２つずつの充電ステージ６１，６２、測定前充電ステージ７１，７２、測定ステージ８１，８２を備えている。充電ステージ６１，６２は、それぞれ位置（４），（１５）に配置されている。測定前充電ステージ７１，７２はそれぞれ位置（９），（２０）に配置されている。測定ステージ８１，８２はそれぞれ位置（１２），（２３）に配置されている。測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１の間隔、および測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２の間隔は、それぞれワーク収納孔４の間隔の３倍だけ離れている。また、排出ステージ９は位置（２６）に配置されている。

搬送ピッチ調整手段１０は、搬送テーブル３が、その中心軸５のまわりを反時計回り（図示のＲ方向）にワーク収納孔４の間隔の３倍を単位として間歇回転するよう、搬送ピッチを調整する。このとき、あるワーク収納孔４に収納されたワークが１回の間歇回転で移動する距離は、位置３つ分に相当する。例えば、搬送テーブル３が停止状態のときに、あるワーク収納孔４が位置（１）にあったとすると、搬送テーブル３が１回間歇回転して停止したときに、このワーク収納孔４は位置（４）に移動する。

次に、第２の実施形態の処理動作について説明する。図５において、ワーク収納孔４のすべてが空の場合を初期状態とする。初期状態において、あるワーク収納孔４が分離供給部２の位置（１）にあって、ワークが収納されたとする。搬送テーブル３が間歇回転すると、ワークが収納されたワーク収納孔４は位置（４）、（７）、（１０）のように、位置（１）を基準として３ずつ増える位置で停止する。また、位置（２８）の次は位置（３）に停止し、その後位置（６）、（９）、（１２）のように３ずつ異なる位置で間歇的に停止する。

ここで、ワーク収納孔４の総数が２８であり、搬送テーブル３が間歇回転する単位がワーク収納孔４の間隔の３倍であるため、位置（１）でワークが収納されたワーク収納孔４は、搬送テーブル３が３回転したときに再び位置（１）に戻る。すなわち、ワーク収納孔４に収納されたワークは、充電ステージ６１（位置（４））で充電された後、搬送テーブル３で１周より多く回転された後に、測定前充電ステージ７１（位置（９））で再充電され、引き続いて測定ステージ８１（位置（１２））で漏れ電流が測定される。その後、同様の手順で、充電ステージ６２（位置（１５））で充電された後、搬送テーブル３で１周より多く回転された後に、測定前充電ステージ７２（位置（２０））で再充電され、引き続いて測定ステージ８２（位置（２３））で漏れ電流が測定され、その後、排出ステージ９（位置（２６））から排出される。

これにより、充電ステージ６１から測定前充電ステージ７１までのワークの移動距離、および、充電ステージ６２から測定前充電ステージ７２までのワークの移動距離を、搬送テーブル３の１周分より大きくすることができる。従って、漏れ電流領域に到達するまで誘電吸収因子を充電する誘電吸収時間を長く確保でき、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流も精度よく測定できる。

図６は、図５のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図６は、ワーク収納孔の位置（１）〜（２８）のそれぞれにおいて、搬送テーブル３の１周目に収納されるワークの種類、２周目に収納されるワークの種類、３周目に収納されるワークの種類、および処理を行うステージ名を表している。図６では、搬送テーブル３が、ワーク収納孔位置（１）〜（２８）の順に１周目から３周目まで間歇回転する例を示している。すなわち、１周目の収納孔位置（１）〜１周目の収納孔位置（２８）、２周目の収納孔位置（１）〜２周目の収納孔位置（２８）、３周目の収納孔位置（１）〜３周目の収納孔位置（２８）の順に時間が経過し、３周目の収納孔位置（２８）の次は１周目の収納孔位置（１）に戻る。

まず、すべてのワーク収納孔４が空である初期状態の搬送テーブル３に対して収納孔位置（１）でワーク収納孔４にワークが供給される。これを図６において１周目の収納孔位置（１）における「Ｘ」で示す。図６では、収納孔位置（１）に対応するステージ名を「収納」としている。これは、収納孔位置（１）に図５の分離供給部２が存在することを示している。

搬送テーブル３が１回間歇回転すると、図６においてこのワークは収納孔位置（４）に到達する。図６では、収納孔位置（４）に対応するステージ名を「充電１」としている。これは、収納孔位置（４）に図５の充電ステージ６１が存在することを示している。この充電ステージ６１でワークは充電される。このとき、収納孔位置（１）にあるワーク収納孔４には次のワークが収納される。収納孔位置（２），（３）にあるワーク収納孔４は図６において「空」であるが、これはまだワークが収納されていないことを示す。後述のように、このワーク収納孔４には２周目、３周目の収納孔位置（１）で最初のワークが収納される。

充電ステージ６１から測定前充電ステージ７１までの距離は、搬送テーブル３を１周分より多く回転させた距離だけ離れている。すなわち、図６において充電ステージ６１に対応する１周目の収納孔位置（４）の次にワークが停止する位置は１周目の収納孔位置（７）であり、その位置から搬送テーブル３をさらに１周分より多く回転させた位置に測定前充電ステージ７１が設けられる。その位置は２周目の収納孔位置（９）であり、図６において対応するステージ名を「測定前充電１」としている。すなわち、充電ステージ６１から測定前充電ステージ７１までのワークの移動距離は１周目の収納孔位置（４）から２周目の収納孔位置（９）までであり、この間に搬送テーブル３は１周分より多く回転している。充電ステージ６１から測定前充電ステージ７１へ移動する間に、コンデンサ内部の誘電吸収因子が充電される。

測定前充電ステージ７１では、ワークの主容量をフル充電する。その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（１２）に到達する。図６では、収納孔位置（１２）に対応するステージ名を「測定１」としている。これは、収納孔位置（１２）に測定ステージ８１が存在することを示している。測定ステージ８１で１回目の漏れ電流の測定が行われ、測定後にワークに充電された電荷は放電される。

その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（１５）に到達する。図６では、収納孔位置（１５）に対応するステージ名を「充電２」としている。これは、収納孔位置（１５）に充電ステージ６２が存在することを示している。この充電ステージ６２で再びワークは充電される。

充電ステージ６２から測定前充電ステージ７２までの距離は、搬送テーブル３を１周分より多く回転させた距離だけ離れている。すなわち、図６において充電ステージ６２に対応する２周目の収納孔位置（１５）の次にワークが停止する位置は２周目の収納孔位置（１８）であり、その位置から搬送テーブル３をさらに１周分より多く回転させた位置に測定前充電ステージ７２が設けられる。その位置は３周目の収納孔位置（２０）であり、図６において対応するステージ名を「測定前充電２」としている。すなわち、充電ステージ６２から測定前充電ステージ７２までのワークの移動距離は２周目の収納孔位置（１５）から３周目の収納孔位置（２０）までであり、この間に搬送テーブル３は１周分より多く回転している。充電ステージ６２から測定前充電ステージ７２へ移動する間に、コンデンサ内部の誘電吸収因子が充電される。

測定前充電ステージ７２では、ワ一クの主容量をフル充電する。その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（２３）に到達する。図６では、収納孔位置（２３）に対応するステージ名を「測定２」としている。これは、収納孔位置（２３）に測定ステージ８２が存在することを示している。測定ステージ８２で２回目の漏れ電流の測定が行われ、測定後にワークに充電された電荷は放電される。

その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（２６）に到達する。図６では、収納孔位置（２６）に対応するステージ名を「排出」としている。これは、収納孔位置（２６）に、図５における排出ステ一ジ９が存在することを示している。排出ステージ９でワークは排出され、空になったワーク収納孔４は再び１周目と同様の収納孔位置（１）に到達して、分離供給部２により新しいワークが収納される。

このように、搬送テーブル３が３周するとワーク収納孔４は元の位置に戻る。なお、図６中の「Ｙ」および「Ｚ」は１周目でワークが収納されなかった収納孔位置に２周目および３周目でワークが収納されることを示す。この「Ｙ」および「Ｚ」に対応するワークの処理内容は、図６には記載されないが、それぞれ４周目および５周目の収納孔位置（２６）においてワーク収納孔４から排出され、空になったワーク収納孔４には、やはり図６には記載されないが、それぞれ５周目および６周目の収納孔位置（１）において新しいワークが収納される。

また図６において影を付けた部分は、ワークと各ステージ名との対応位置を示すものである。ステージ名は上から下へ、すなわち時間経過に従って工程順に並んでいる。このため、コンデンサの主容量が小さく、充電ステージ６１から測定前充電ステージ７１および充電ステージ６２から測定前充電ステージ７２までに時間を要さない場合、すなわち搬送テーブル３が１周する間に全工程を終了できる場合には、搬送テーブル３の間歇回転の単位を、隣接するワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、搬送テーブル３や、分離供給部２（収納ステージ）、充電ステージ６１，６２、測定前充電ステージ７１，７２、測定ステージ８１，８２および排出ステージ９などの設備を共用することができる。

ただし、コンデンサの主容量が小さい場合、測定前充電ステージ７１から測定ステージ８１までの距離と、測定前充電ステージ７２から測定ステージ８２までの距離を、搬送テーブル３の間歇回転１回分の距離にする。具体的にはコンデンサの主容量が大きく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔の３倍のときと、コンデンサの主容量が小さく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔と同一のときとでは、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１との距離、および、測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２との距離を変える。

そこで、第１の実施形態と同様に、測定ステージ８１とその直前に配置される測定前充電ステージ７１、および、測定ステージ８２とその直前に配置される測定前充電ステージ７２が一体になった装置をそれぞれ２種類用意し、そのうちの一方は他方よりも、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１、および、測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２との距離を広げておく。これにより、コンデンサの主容量が大きいか否かにより、この装置を差し替えるだけで、主容量が大きいコンデンサと小さいコンデンサの両方の漏れ電流を精度よく測定できる。

具体例として、図５及び図６に示す本実施形態を、コンデンサの主容量が小さい場合、すなわち搬送テーブル３の間歇回転の単位が隣接するワーク収納孔４の間隔と同一であり、搬送テーブル３が１周する間に測定を行う手法を以下に示す。

図７は、図５の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。搬送ピッチ調整手段１０は、コンデンサの容量に応じて、後述する充電測定手段１０２と充電測定手段１０３、または、充電測定手段１０４と充電測定手段１０５のうち１つを選択し、かつ搬送テーブル３を間歇回転させる搬送ピッチをワーク収納孔４の間隔を単位として調整する。

図８は、図７のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図８は搬送テーブル３が１周する間に漏れ電流を測定する例を示し、搬送テーブル３の間歇回転の単位はワーク収納孔４の間隔に一致する。従って、ワーク収納孔４のすべてが空である初期状態から動作を開始すると、「Ｘ」で示したように、搬送テーブル３が１周する間にワークは全ワーク収納孔４に収納される。以下では、図３および図４との相違点を中心に説明する。

図５で用いる充電測定手段１０２および充電測定手段１０３は、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１、および、測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２を一体にした装置で、それらの距離は隣接するワーク収納孔４間の距離の３倍である。これに対して、図７で用いる充電測定手段１０４および充電測定手段１０５は、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１、および、測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２を一体にした装置で、それらの距離は隣接するワーク収納孔４間の距離である。

このように、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合は充電測定手段１０２，１０３を用いるが、これらの充電測定手段１０２，１０３を充電測定手段１０４，１０５に差し替えて、かつ搬送テーブル３の間歇回転の単位をワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流の測定を、図８のように搬送テーブル３の１周分で測定を終了させることができる。

ここで、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図６）と主容量が小さいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図８）における誘電吸収時間と処理能力の比較を行う。数値例として、第１の実施形態と同様に、搬送テーブル３の停止時間を１０ｍｓ、１回の間歇回転に要するワ一クの移動時間を１５ｍｓとする。

図６の場合、充電ステージ６１（収納孔位置（４））から測定ステージ８２（収納孔位置（２３））までの停止位置は２６箇所、間歇回転は２５回なので、充電ステージ６１から測定ステージ８２までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ３は、
ｔ３＝１０ｍｓ×２６＋１５ｍｓ×２５
＝６３５ｍｓ
となる。また、各ステージ６〜８をワークが通過するのに要する時間は、ワークの停止時間と移動時間の和であるので、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ３は、
ａ３＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

これに対して、図８の場合、充電ステージ６１（収納孔位置（４））から測定ステージ８２（収納孔位置（２３））までの停止位置は２０箇所、間歇回転は１９回なので、充電ステージ６１から測定ステージ８２までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ４は、
ｔ４＝１０ｍｓ×２０＋１５ｍｓ×１９
＝４８５ｍｓ
となる。また、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ４は、
ａ４＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

以上より、図６と図８を比較すると、処理能力は同じであるが、誘電吸収時間は図６の方が長くなっており、図６はコンデンサの容量が大きくて誘電吸収時間が長い場合に適しており、図８はコンデンサの容量が小さくて誘電吸収時間が短い場合に適していることがわかる。

このように、第２の実施形態では、第１の実施形態の効果に加え、搬送テーブル３を３周させてコンデンサ漏れ電流測定を行うようにしたため、第１の実施形態より誘電吸収時間を長くできる効果がある。

（第３の実施形態）
第３の実施形態は、第１の実施形態に対して、充電ステージ６を１つ追加してコンデンサ漏れ電流測定を行うものである。

図９は本発明の第３の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。図１と共通する構成部分には同一の符号を付しており、以下では図１との相違点を中心に説明する。

本実施形態ではワーク収納孔４の総数を１３個とし、各ワーク収納孔４の位置を（１）〜（１３）で表している。

分離供給部２は位置（１）に配置されている。また、図１と異なり、図９では２つの充電ステージ６１１，６１２を備えている。充電ステージ６１１，６１２は、それぞれ位置（３），（６）に配置されている。測定前充電ステージ７と測定ステージ８はそれぞれ位置（８）および（１０）に配置されている。測定前充電ステージ７と測定ステージ８の間隔は、ワーク収納孔４の間隔の２倍だけ離れている。また、排出ステージ９は位置（１２）に配置されている。

搬送ピッチ調整手段１０は、搬送テーブル３が、図１と同様に、その中心軸５のまわりを反時計回り（図示のＲ方向）にワーク収納孔４の間隔の２倍を単位として間歇回転するよう、搬送ピッチを調整する。

次に、第３の実施形態の処理動作について説明する。図９において、ワーク収納孔４のすべてが空の場合を初期状態とする。初期状態において、あるワーク収納孔４が分離供給部２の位置（１）にあって、ワークが収納されたとする。搬送テーブル３が間歇回転すると、ワークが収納されたワーク収納孔４は位置（３）、（５）、（７）のように、位置（１）を基準として２ずつ増える位置で停止する。また、位置（１３）の次は位置（２）に停止し、その後位置（４）、（６）、（８）のように２ずつ異なる位置で間歇的に停止する。

ここで、ワーク収納孔４の総数が１３であり、搬送テーブル３が間歇回転する単位がワーク収納孔４の間隔の２倍であるため、位置（１）でワークが収納されたワーク収納孔４は、搬送テーブル３が２回転したときに再び位置（１）に戻る。すなわち、ワーク収納孔４で収納されたワークは、充電ステージ６１１（位置（３））で充電された後、搬送テーブル３で１周より多く回転された後に、充電ステージ６１２（位置（６））で再充電され、その後、測定前充電ステージ７（位置（８））で再充電され、引き続いて測定ステージ８（位置（１０））で漏れ電流が測定され、その後、排出ステージ９（位置（１２））から排出される。

これにより、充電ステージ６１１から充電ステージ６１２までのワークの移動距離を、搬送テーブル３の１周分より大きくすることができる。従って、漏れ電流領域に到達するまで誘電吸収因子を充電する誘電吸収時間を長く確保でき、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流も精度よく測定できる。

図１０は、図９のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図１０は、ワーク収納孔の位置（１）〜（１３）のそれぞれにおいて、搬送テーブル３の１周目に収納されるワークの種類、２周目に収納されるワークの種類、および処理を行うステージ名を表している。図１０では、搬送テーブル３が、ワーク収納孔位置（１）〜（１３）の順に１周目から２周目まで間歇回転する例を示している。すなわち、１周目の収納孔位置（１）〜１周目の収納孔位置（１３）、２周目の収納孔位置（１）〜２周目の収納孔位置（１３）の順に時間が経過し、２周目の収納孔位置（１３）の次は１周目の収納孔位置（１）に戻る。

まず、すべてのワーク収納孔４が空である初期状態の搬送テーブル３に対して収納孔位置（１）でワーク収納孔４にワークが供給される。これを図１０において１周目の収納孔位置（１）における「Ｘ」で示す。図１０では、収納孔位置（１）に対応するステージ名を「収納」としている。これは、収納孔位置（１）に図９の分離供給部２が存在することを示している。

搬送テーブル３が１回間歇回転すると、図１０においてこのワークは収納孔位置（３）に到達する。図１０では、収納孔位置（３）に対応するステージ名を「充電１」としている、これは、収納孔位置（３）に図９における充電ステージ６１１が存在することを示している。この充電ステージ６１１でワークは充電される。このとき、収納孔位置（１）にあるワーク収納孔４には次のワークが収納される。収納孔位置（２）にあるワーク収納孔４は図１０において「空」であるが、これはまだワークが収納されていないことを示す。後述のように、このワーク収納孔４には２周目の収納孔位置（１）で最初のワークが収納される。

充電ステージ６１１から充電ステージ６１２までの距離は、搬送テーブル３を１周分より多く回転させた距離だけ離れている。すなわち、図１０において充電ステージ６１１に対応する１周目の収納孔位置（３）の次にワークが停止する位置は１周目の収納孔位置（５）であり、その位置から搬送テーブル３をさらに１周分より多く回転させた位置に充電ステージ６１２が設けられている。その位置は２周目の収納孔位置（６）であり、図１０において対応するステージ名を「充電２」としている。すなわち、充電ステージ６１１から充電ステージ６１２までのワークの移動距離は１周目の収納孔位置（３）から２周目の収納孔位置（６）までであり、この間に搬送テーブル３は１周分より多く回転している。充電ステージ６１１から充電ステージ６１２へ移動する間に、コンデンサ内部の誘電吸収因子が充電される。

充電ステージ６１２に到達したワ一クは再び充電された後、収納孔位置（８）に到達する。図１０では、収納孔位置（８）に対応するステージ名を「測定前充電」としている。これは、収納孔位置（８）に測定前充電ステージ７が存在することを示す。

測定前充電ステージ７では、ワークの主容量をフル充電する。その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワ一クは収納孔位置（１０）に到達する。図１０では、収納孔位置（１０）に対応するステージ名を「測定」としている。これは、収納孔位置（１０）に図９における測定ステージ８が存在することを示している。測定ステージ８で漏れ電流の測定が行われ、測定後にワークに充電された電荷は放電される。

その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（１２）に到達する。図１０では、収納孔位置（１２）に対応するステージ名を「排出」としている。これは、収納孔位置（１２）に図９における排出ステ一ジ９が存在することを示している。排出ステージ９でワークは排出され、空になったワーク収納孔４は再び１周目と同様の収納孔位置（１）に到達して、分離供給部２により新しいワークが収納される。

このように、搬送テーブル３が２周するとワーク収納孔４は元の位置に戻る。なお、図１０中の「Ｙ」は１周目でワークが収納されなかった収納孔位置に２周目でワークが収納されることを示す。この「Ｙ」に対応するワークの処理内容は、図１０には記載されないが、３周目の収納孔位置（１２）においてワーク収納孔４から排出され、空になったワーク収納孔４には、やはり図１０には記載されないが、４周目の収納孔位置（１）において新しいワークが収納される。

また図１０において影を付けた部分は、ワークと各ステージ名との対応位置を示すものである。ステージ名は上から下へ、すなわち時間経過に従って工程順に並んでいる。このため、コンデンサの主容量が小さく、充電ステージ６１１から充電ステージ６１２までに時間を要さない場合、すなわち搬送テーブル３が１周する間に全工程を終了できる場合には、搬送テーブル３の間歇回転の単位を隣接するワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、搬送テーブル３や、分離供給部２（収納ステージ）、充電ステージ６１１，６１２、測定前充電ステージ７、測定ステージ８および排出ステージ９などの設備を共用することができる。

ただし、コンデンサの主容量が小さい場合、測定前充電ステージ７から測定ステージ８までの距離を、搬送テーブル３の間歇回転１回分の距離にする。具体的には、コンデンサの主容量が大きく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔の２倍のときと、コンデンサの主容量が小さく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔と同一のときとでは、測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離を変える。

そこで、第１の実施形態と同様に、測定ステージ８とその直前に配置される測定前充電ステージ７が一体になった装置を２種類用意し、そのうちの一方は他方よりも、測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離を広げておく。これにより、コンデンサの主容量が大きいか否かにより、この装置を差し替えるだけで、主容量が大きいコンデンサと小さいコンデンサの両方の漏れ電流を精度よく測定できる。

具体例として、図９及び図１０に示す本実施形態を、コンデンサの主容量が小さい場合、すなわち搬送テーブル３の間歇回転の単位が隣接するワーク収納孔４の間隔と同一であり、搬送テーブル３が１周する間に測定を行う手法を以下に示す。

図１１は、図９の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。搬送ピッチ調整手段１０は、コンデンサの容量に応じて、後述する充電測定手段１０６または充電測定手段１０７のうち１つを選択し、かつ搬送テーブル３を間歇回転させる搬送ピッチをワーク収納孔４の間隔を単位として調整する。

図１２は、図１１のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図１２は搬送テーブル３が１周する間に漏れ電流を測定する例を示し、搬送テーブル３の間歇回転の単位はワーク収納孔４の間隔に一致する。従って、ワーク収納孔４のすべてが空である初期状態から動作を開始すると、「Ｘ」で示したように、搬送テーブル３が１周する間にワークは全ワーク収納孔４に収納される。以下では、図３および図４との相違点を中心に説明する。

図９で用いる充電測定手段１０６は、測定前充電ステージ７と測定ステージ８を一体にした装置で、それらの距離は隣接するワーク収納孔４間の距離の２倍である。これに対して、図１１で用いる充電測定手段１０７は、測定前充電ステージ７と測定ステージ８を一体にした装置で、それらの距離は隣接するワーク収納孔４間の距離である。

このように、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合は充電測定手段１０６を用いるが、この充電測定手段１０６を充電測定手段１０７に差し替えて、かつ搬送テーブル３の間歇回転の単位をワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流の測定を、図１２のように搬送テーブル３の１周分で終了させることができる。

ここで、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図１０）と主容量が小さいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図１２）における誘電吸収時間と処理能力の比較を行う。数値例として、第１の実施形態と同様に、搬送テーブル３の停止時間を１０ｍｓ、１回の間歇回転に要するワ一クの移動時間を１５ｍｓとする。

図１０の場合、充電ステージ６１１（収納孔位置（３））から測定ステージ８（収納孔位置（１０））までの停止位置は１１箇所、間歇回転は１０回なので、充電ステージ６１１から測定ステージ８までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ５は、
ｔ５＝１０ｍｓ×１１＋１５ｍｓ×１０
＝２６０ｍｓ
となる。また、各ステージ６〜８をワークが通過するのに要する時間は、ワークの停止時間と移動時間の和であるので、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ５は、
ａ５＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

これに対して、図１２の場合、充電ステージ６１１（収納孔位置（３））から測定ステージ８（収納孔位置（１０））までの停止位置は８箇所、間歇回転は７回なので、充電ステージ６１１から測定ステージ８までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ６は、
ｔ６＝１０ｍｓ×８＋１５ｍｓ×７
＝１８５ｍｓ
となる。また、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ６は、
ａ６＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

以上より、図１０と図１２を比較すると、処理能力は同じであるが、誘電吸収時間は図１０の方が長くなっており、図１０はコンデンサの容量が大きくて誘電吸収時間が長い場合に適しており、図１２はコンデンサの容量が小さくて誘電吸収時間が短い場合に適していることがわかる。

このように、第３の実施形態では、第１の実施形態の効果に加え、充電ステージを２つ用いて充電を行うようにしたため、コンデンサの主容量および誘電吸収因子をより確実に充電することができる効果がある。

（第４の実施形態）
第４の実施形態は、第３の実施形態における充電ステージ６１１，６１２、測定前充電ステージ７および測定ステージ８からなる組合せを２組直列に配置し、搬送テーブル３を３回転させてコンデンサ漏れ電流測定を行うものである。

図１３は本発明の第４の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。第３の実施形態の図９と共通する構成部分には同一の符号を付しており、以下では図９との相違点を中心に説明する。

本実施形態ではワーク収納孔４の総数を３４個とし、各ワーク収納孔４の位置を（１）〜（３４）で表している。

分離供給部２は位置（１）に配置されている。また、図９と異なり、図１３では４つの充電ステージ６１１，６１２，６２１，６２２および２つずつの測定前充電ステージ７１，７２、測定ステージ８１，８２を備えている。充電ステージ６１１，６１２，６２１，６２２は、それぞれ位置（４），（９），（１８），（２３）に配置されている。測定前充電ステージ７１，７２はそれぞれ位置（１２），（２６）に配置されている。測定ステージ８１，８２はそれぞれ位置（１５），（２９）に配置されている。測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１の間隔、および測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２の間隔は、それぞれワーク収納孔４の間隔の３倍だけ離れている。また、排出ステージ９は位置（３２）に配置されている。

搬送ピッチ調整手段１０は、搬送テーブル３が、その中心軸５のまわりを反時計回り（図示のＲ方向）にワーク収納孔４の間隔の３倍を単位として間歇回転するよう、搬送ピッチを調整する。

次に、第４の実施形態の処理動作について説明する。図１３において、ワーク収納孔４のすべてが空の場合を初期状態とする。初期状態において、あるワーク収納孔４が分離供給部２の位置（１）にあって、ワークが収納されたとする。搬送テーブル３が間歇回転すると、ワークが収納されたワーク収納孔４は位置（４）、（７）、（１０）のように、位置（１）を基準として３ずつ増える位置で停止する。また、位置（３４）の次は位置（３）に停止し、その後位置（６）、（９）、（１２）のように３ずつ異なる位置で間歇的に停止する。

ここで、ワーク収納孔４の総数が３４であり、搬送テーブル３が間歇回転する単位がワーク収納孔４の間隔の３倍であるため、位置（１）でワークが収納されたワーク収納孔４は、搬送テーブル３が３回転したときに再び位置（１）に戻る。すなわち、ワーク収納孔４に収納されたワークは、充電ステージ６１１（位置（４））で充電された後、搬送テーブル３で１周より多く回転された後に、充電ステージ６１２（位置（９））で再充電され、その後、測定前充電ステージ７１（位置（１２））で再充電され、引き続いて測定ステージ８１（位置（１５））で漏れ電流が測定される。その後、同様の手順で、充電ステージ６２１（位置（１８））で充電された後、搬送テーブル３で１周より多く回転された後に、充電ステージ６２２（位置（２３））で再充電され、その後、測定前充電ステージ７２（位置（２６））で再充電され、引き続いて測定ステージ８２（位置（２９））で漏れ電流が測定され、その後、排出ステージ９（位置（３２））から排出される。

これにより、充電ステージ６１１から充電ステージ６１２までのワークの移動距離、および、充電ステージ６２１から充電ステージ６２２までのワークの移動距離を、搬送テーブル３の１周分より大きくすることができる。従って、漏れ電流領域に到達するまで誘電吸収因子を充電する誘電吸収時間を長く確保でき、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流も精度よく測定できる。

図１４は、図１３のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図１４は、ワーク収納孔の位置（１）〜（３４）のそれぞれにおいて、搬送テーブル３の１周目に収納されるワークの種類、２周目に収納されるワークの種類、３周目に収納されるワークの種類、および処理を行うステージ名を表している。図１４では、搬送テーブル３が、ワーク収納孔位置（１）〜（３４）の順に１周目から３周目まで間歇回転する例を示している。すなわち、１周目の収納孔位置（１）〜１周目の収納孔位置（３４）、２周目の収納孔位置（１）〜２周目の収納孔位置（３４）、３周目の収納孔位置（１）〜（３４）の順に時間が経過し、３周目の収納孔位置（３４）の次は１周目の収納孔位置（１）に戻る。

まず、すべてのワーク収納孔４が空である初期状態の搬送テーブル３に対して収納孔位置（１）でワーク収納孔４にワークが供給される。これを図１４において１周目の収納孔位置（１）における「Ｘ」で示す。図１４では、収納孔位置（１）に対応するステージ名を「収納」としている。これは収納孔位置（１）に図１３の分離供給部２が存在することを示している。

搬送テーブル３が１回間歇回転すると、図１４においてこのワークは収納孔位置（４）に到達する。図１４では、収納孔位置（４）に対応するステージ名を「充電１１」としている。これは、収納孔位置（４）に図１３における充電ステージ６１１が存在することを示している。この充電ステージ６１１でワークは充電される。このとき、収納孔位置（１）にあるワーク収納孔４には次のワークが収納される。収納孔位置（２），（３）にあるワーク収納孔４は図１４において「空」であるが、これはまだワークが収納されていないことを示す。後述のように、このワーク収納孔４には２周目、３周目の収納孔位置（１）で最初のワークが収納される。

充電ステージ６１１から充電ステージ６１２までの距離は、搬送テーブル３を１周分より多く回転させた距離だけ離れている。すなわち、図１４において充電ステージ６１１に対応する１周目の収納孔位置（４）の次にワークが停止する位置は１周目の収納孔位置（７）であり、その位置から搬送テーブル３をさらに１周分より多く回転させた位置に充電ステージ６１２が設けられる。その位置は２周目の収納孔位置（９）であり、図１４において対応するステージ名を「充電１２」としている。すなわち、充電ステージ６１１から充電ステージ６１２までのワークの移動距離は１周目の収納孔位置（４）から２周目の収納孔位置（９）までであり、この間に搬送テーブル３は１周分より多く回転している。充電ステージ６１１から充電ステージ６１２へ移動する間に、コンデンサ内部の誘電吸収因子が充電される。

充電ステージ６１２に到達したワ一クは再び充電された後、収納孔位置（１２）に到達する。図１４では、収納孔位置（１２）に対応するステージ名を「測定前充電１」としている。これは、収納孔位置（１２）に図１３における測定前充電ステージ７１が存在することを示す。

測定前充電ステージ７１では、ワークの主容量をフル充電する。その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（１５）に到達する。図１４では、収納孔位置（１５）に対応するステージ名を「測定１」としている。これは、収納孔位置（１５）に図１３における測定ステージ８１が存在することを示している。測定ステージ８１で漏れ電流の測定が行われ、測定後にワークに充電された電荷は放電される。

その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（１８）に到達する。図１４では、収納孔位置（１８）に対応するステージ名を「充電２１」としている。これは、収納孔位置（１８）に図１３における充電ステージ６２１が存在することを示している。この充電ステージ６２１で再びワークは充電される。

充電ステージ６２１から充電ステージ６２２までの距離は、搬送テーブル３を１周分より多く回転させた距離だけ離れている。すなわち、図１４において充電ステージ６２１に対応する２周目の収納孔位置（１８）の次にワークが停止する位置は２周目の収納孔位置（２１）であり、その位置から搬送テーブル３をさらに１周分より多く回転させた位置に充電ステージ６２２が設けられる。その位置は３周目の収納孔位置（２３）であり、図１４において対応するステージ名を「充電２２」としている。すなわち、充電ステージ６２１から充電ステージ６２２までのワークの移動距離は２周目の収納孔位置（１８）から３周目の収納孔位置（２３）までであり、この間に搬送テーブル３は１周分より多く回転している。充電ステージ６２１から充電ステージ６２２へ移動する間に、コンデンサ内部の誘電吸収因子が充電される。

充電ステージ６２２に到達したワ一クは再び充電された後、収納孔位置（２６）に到達する。図１４では、収納孔位置（２６）に対応するステージ名を「測定前充電２」としている。これは、収納孔位置（２６）に図１３における測定前充電ステージ７２が存在することを示している。

測定前充電ステージ７２では、ワ一クの主容量をフル充電する。その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（２９）に到達する。図１４では、収納孔位置（２９）に対応するステージ名を「測定２」としている。これは、収納孔位置（２９）に図１３における測定ステージ８２が存在することを示している。測定ステージ８２で２回目の漏れ電流の測定が行われ、測定後にワークに充電された電荷は放電される。

その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（３２）に到達する。図１４では、収納孔位置（３２）に対応するステージ名を「排出」としている。これは、収納孔位置（３２）に図１３における排出ステ一ジ９が存在することを示している。排出ステージ９でワークは排出され、空になったワーク収納孔４は再び１周目と同様の収納孔位置（１）に到達して、分離供給部２により新しいワークが収納される。

このように、搬送テーブル３が３回転するとワーク収納孔４は元の位置に戻る。なお、図１４中の「Ｙ」および「Ｚ」は１周目でワークが収納されない（１周目で収納孔位置（１）に停止しない）ワーク収納孔４には、２周目および３周目の収納孔位置（１）でワークが収納されることを示す。この「Ｙ」および「Ｚ」に対応するワークは、図１４には記載されないが、それぞれ４周目および５周目の収納孔位置（３２）においてワーク収納孔４から排出され、空になったワーク収納孔４には、やはり図１４には記載されないが、それぞれ５周目および６周目の収納孔位置（１）において新しいワークが収納される。

また図１４において影を付けた部分は、ワークと各ステージ名との対応位置を示すものである。ステージ名は上から下へ、すなわち時間経過に従って工程順に並んでいる。このため、コンデンサの主容量が小さく、充電ステージ６１１から充電ステージ６１２、および、充電ステージ６２１から充電ステージ６２２までに時間を要さない場合、すなわち搬送テーブル３が１回転する間に全工程を終了できる場合には、搬送テーブル３の間歇回転の単位を隣接するワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、搬送テーブル３や、分離供給部２（収納ステージ）、充電ステージ６１１，６１２，６２１，６２２、測定前充電ステージ７１，７２、測定ステージ８１，８２および排出ステージ９などの設備を共用することができる。

ただし、コンデンサの主容量が小さい場合、測定前充電ステージ７１から測定ステージ８１までの距離と、測定前充電ステージ７２から測定ステージ８２までの距離を、搬送テーブル３の間歇回転１回分の距離にする。具体的には、コンデンサの主容量が大きく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔の３倍のときと、コンデンサの主容量が小さく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔と同一のときとでは、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１との距離、および、測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２との距離を変える。

そこで、第３の実施形態と同様に、測定ステージ８１とその直前に配置される測定前充電ステージ７１、および、測定ステージ８２とその直前に配置される測定前充電ステージ７２が一体になった装置をそれぞれ２種類用意し、そのうちの一方は他方よりも、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１、および、測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２との距離を広げておく。これにより、コンデンサの主容量が大きいか否かにより、この装置を差し替えるだけで、主容量が大きいコンデンサと小さいコンデンサの両方の漏れ電流を測定できる。

具体例として、図１３及び図１４に示す本実施形態を、コンデンサの主容量が小さい場合、すなわち搬送テーブル３の間歇回転の単位が隣接するワーク収納孔４の間隔と同一であり、搬送テーブル３が１周する間に測定を行う手法を以下に示す。

図１５は、図１３の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。搬送ピッチ調整手段１０は、コンデンサの容量に応じて、後述する充電測定手段１０８と充電測定手段１０９、または、充電測定手段１１０と１１１のうち１つを選択し、かつ搬送テーブル３を間歇回転させる搬送ピッチをワーク収納孔４の間隔を単位として調整する。

図１６は、図１５のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図１６は搬送テーブル３が１周する間に漏れ電流を測定する例を示し、搬送テーブル３の間歇回転の単位はワーク収納孔４の間隔に一致する。従って、ワーク収納孔４のすべてが空である初期状態から動作を開始すると、「Ｘ」で示したように、搬送テーブル３が１周する間にワークは全ワーク収納孔４に収納される。以下では、第３の実施形態との相違点を中心に説明する。

図１３で用いる充電測定手段１０８，１０９は、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１、および、測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２を一体にした装置で、それらの距離は隣接するワーク収納孔４間の距離の３倍である。これに対して、図１５で用いる充電測定手段１１０，１１１は、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１、および、測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２を一体にした装置で、それらの距離は隣接するワーク収納孔４間の距離である。

このように、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合は充電測定手段１０８，１０９を用いるが、これらの充電測定手段１０８，１０９を充電測定手段１１０，１１１に差し替えて、かつ搬送テーブル３の間歇回転の単位をワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流の測定を、図１６のように搬送テーブル３の１周分で測定を終了させることができる。

ここで、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図１４）と主容量が小さいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図１６）における誘電吸収時間と処理能力の比較を行う。数値例として、第１の実施形態と同様に、搬送テーブル３の停止時間を１０ｍｓ、１回の間歇回転に要するワ一クの移動時間を１５ｍｓとする。

図１４の場合、充電ステージ６１１（収納孔位置（４））から測定ステージ８２（収納孔位置（２９））までの停止位置は３２箇所、間歇回転は３１回なので、充電ステージ６１１から測定ステージ８２までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ７は、
ｔ７＝１０ｍｓ×３２＋１５ｍｓ×３１
＝７８５ｍｓ
となる。また、各ステージ６〜８をワークが通過するのに要する時間は、ワークの停止時間と移動時間の和であるので、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ７は、
ａ７＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

これに対して、図１６の場合、充電ステージ６１１（収納孔位置（４））から測定ステージ８（収納孔位置（２９））までの停止位置は２６箇所、間歇回転は２５回なので、充電ステージ６１１から測定ステージ８２までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ８は、
ｔ８＝１０ｍｓ×２６＋１５ｍｓ×２５
＝６３５ｍｓ
となる。また、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ８は、
ａ８＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

以上より、図１４と図１６を比較すると、処理能力は同じであるが、誘電吸収時間は図１４の方が長くなっており、図１４はコンデンサの容量が大きくて誘電吸収時間が長い場合に適しており、図１６はコンデンサの容量が小さくて誘電吸収時間が短い場合に適していることがわかる。

このように、第４の実施形態では、第３の実施形態の効果に加え、搬送テーブル３を３回転させてコンデンサ漏れ電流測定を行うようにしたため、さらに誘電吸収時間を長くできる効果がある。

（第５の実施形態）
第５の実施形態は、第１の実施形態において、搬送テーブル３を３回転させてコンデンサ漏れ電流測定を行うものである。

図１７は本発明の第５の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。図１と共通する構成部分には同一の符号を付しており、以下では図１との相違点を中心に説明する。

本実施形態ではワーク収納孔４の総数を１６個とし、各ワーク収納孔４の位置を（１）〜（１６）で表している。

分離供給部２は位置（１）に配置されている。充電ステージ６は位置（４）に配置されている。測定前充電ステージ７と測定ステージ８はそれぞれ位置（８）および（１１）に配置されている。測定前充電ステージ７と測定ステージ８の間隔は、ワーク収納孔４の間隔の３倍だけ離れている。また、排出ステージ９は位置（１４）に配置されている。

搬送ピッチ調整手段１０は、搬送テーブル３が、その中心軸５のまわりを反時計回り（図示のＲ方向）にワーク収納孔４の間隔の３倍を単位として間歇回転するよう、搬送ピッチを調整する。

次に、第５の実施形態の処理動作について説明する。図１７において、ワーク収納孔４のすべてが空の場合を初期状態とする。初期状態において、あるワーク収納孔４が分離供給部２の位置（１）にあって、ワークが収納されたとする。搬送テーブル３が間歇回転すると、ワークが収納されたワーク収納孔４は位置（４）、（７）、（１１）のように、位置（１）を基準として３ずつ増える位置で停止する。また、位置（１６）の次は位置（３）に停止し、その後位置（６）、（９）、（１２）のように３ずつ異なる位置で間歇的に停止する。

ここで、ワーク収納孔４の総数が１６であり、搬送テーブル３が間歇回転する単位がワーク収納孔４の間隔の３倍であるため、位置（１）でワークが収納されたワーク収納孔４は、搬送テーブル３が３回転したときに再び位置（１）に戻る。すなわち、ワーク収納孔４に収納されたワークは、充電ステージ６（位置（４））で充電された後、搬送テーブル３で２周より多く回転された後に、測定前充電ステージ７（位置（８））で再充電され、引き続いて測定ステージ８（位置（１１））で漏れ電流が測定され、その後、排出ステージ９（位置（１４））から排出される。

これにより、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までのワークの移動距離を、搬送テーブル３の１回転分より大きくすることができる。従って、漏れ電流領域に到達するまで誘電吸収因子を充電する誘電吸収時間を長く確保でき、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流も精度よく測定できる。

図１８は、図１７のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図１８は、ワーク収納孔の位置（１）〜（１６）のそれぞれにおいて、搬送テーブル３の１周目に収納されるワークの種類、２周目に収納されるワークの種類、３周目に収納されるワークの種類、および処理を行うステージ名を表している。図１８では、搬送テーブル３が、ワーク収納孔位置（１）〜（１６）の順に１周目から３周目まで間歇回転する例を示している。すなわち、１周目の収納孔位置（１）〜１周目の収納孔位置（１６）、２周目の収納孔位置（１）〜２周目の収納孔位置（１６）、３周目の収納孔位置（１）〜３周目の収納孔位置（１６）の順に時間が経過し、３周目の収納孔位置（１６）の次は１周目の収納孔位置（１）に戻る。

まず、すべてのワーク収納孔４が空である初期状態の搬送テーブル３に対して収納孔位置（１）でワーク収納孔４にワークが供給される。これを図１８において１周目の収納孔位置（１）における「Ｘ」で示す。図１８では、収納孔位置（１）に対応するステージ名を「収納」としている。これは、収納孔位置（１）に図１７の分離供給部２が存在することを示している。

搬送テーブル３が１回間歇回転すると、図１８においてこのワークは収納孔位置（４）に到達する。図１８では、収納孔位置（４）に対応するステージ名を「充電」としている。これは、収納孔位置（４）に図１７における充電ステージ６が存在することを示している。この充電ステージ６でワークは充電される。このとき、収納孔位置（１）にあるワーク収納孔４には次のワークが収納される。収納孔位置（２），（３）にあるワーク収納孔４は図１８において「空」であるが、これはまだワークが収納されていないことを示す。後述のように、このワーク収納孔４には２周目、３周目の収納孔位置（１）で最初のワークが収納される。

充電ステージ６から測定前充電ステージ７までの距離は、搬送テーブル３を２周分より多く回転させた距離だけ離れている。すなわち、図１８において充電ステージ６に対応する１周目の収納孔位置（４）の次にワークが停止する位置は１周目の収納孔位置（７）であり、その位置から搬送テーブル３をさらに２周分より多く回転させた位置に測定前充電ステージ７が設けられる。その位置は３周目の収納孔位置（８）であり、図１８において対応するステージ名を「測定前充電」としている。すなわち、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までのワークの移動距離は１周目の収納孔位置（４）から３周目の収納孔位置（８）までであり、この間に搬送テーブル３は２周分より多く回転している。充電ステージ６から測定前充電ステージ７へ移動する間に、コンデンサ内部の誘電吸収因子が充電される。

測定前充電ステージ７では、ワ一クの主容量をフル充電する。その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（１１）に到達する。図１８では、収納孔位置（１１）に対応するステージ名を「測定」としている。これは、収納孔位置（１１）に図１７における測定ステージ８が存在することを示している。測定ステージ８で漏れ電流の測定が行われ、測定後にワークに充電された電荷は放電される。

その後、搬送テーブル３を間歇回転させて、ワークは収納孔位置（１４）に到達する。図１８では、収納孔位置（１４）に対応するステージ名を「排出」としている。これは、収納孔位置（１４）に図１７における排出ステ一ジ９が存在することを示している。排出ステージ９でワークは排出され、空になったワーク収納孔４は再び１周目と同様の収納孔位置（１）に到達して、分離供給部２により新しいワークが収納される。

このように、搬送テーブル３が３回転するとワーク収納孔４は元の位置に戻る。なお、図１８中の「Ｙ」および「Ｚ」は１周目でワークが収納されなかった収納孔位置に２周目および３周目でワークが収納されることを示す。この「Ｙ」および「Ｚ」に対応するワークは、図１８には記載されないが、それぞれ４周目および５周目の収納孔位置（１４）においてワーク収納孔４から排出され、空になったワーク収納孔４には、やはり図１８には記載されないが、それぞれ５周目および６周目の収納孔位置（１）において新しいワークが収納される。

また図１８において影を付けた部分は、ワークと各ステージ名との対応位置を示すものである。ステージ名は上から下へ、すなわち時間経過に従って工程順に並んでいる。このため、コンデンサの主容量が小さく、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までに時間を要さない場合、すなわち搬送テーブル３が１周する間に全工程を終了できる場合には、搬送テーブル３の間歇回転の単位を、隣接するワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、搬送テーブル３や、分離供給部２（収納ステージ）、充電ステージ６、測定前充電ステージ７、測定ステージ８および排出ステージ９などの設備を共用することができる。

ただし、コンデンサの主容量が小さい場合、測定前充電ステージ７から測定ステージ８までの距離を、搬送テーブル３の間歇回転１回分の距離にする。具体的には、コンデンサの主容量が大きく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔の３倍のときと、コンデンサの主容量が小さく、間歇回転の単位がワーク収納孔４の間隔と同一のときとでは、測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離を変える。

そこで、第１の実施形態と同様に、測定ステージ８とその直前に配置される測定前充電ステージ７が一体になった装置を２種類用意し、そのうちの一方は他方よりも、測定前充電ステージ７と測定ステージ８との距離を広げておく。この装置を差し替えるだけで、主容量が大きいコンデンサと小さいコンデンサの両方の漏れ電流を精度よく測定できる。

具体例として、図１７及び図１８に示す本実施形態を、コンデンサの主容量が小さい場合、すなわち搬送テーブル３の間歇回転の単位が隣接するワーク収納孔４の間隔と同一であり、搬送テーブル３が１周する間に測定を行う手法を以下に示す。

図１９は、図１７の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図である。搬送ピッチ調整手段１０は、コンデンサの容量に応じて、後述する充電測定手段１１２または充電測定手段１１３のうち１つを選択し、かつ搬送テーブル３を間歇回転させる搬送ピッチをワーク収納孔４の間隔を単位として調整する。

図２０は、図１９のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図である。図２０は搬送テーブル３が１周する間に漏れ電流を測定する例を示し、搬送テーブル３の間歇回転の単位はワーク収納孔４の間隔に一致する。従って、ワーク収納孔４のすべてが空である初期状態から動作を開始すると、「Ｘ」で示したように、搬送テーブル３が１周する間にワークは全ワーク収納孔４に収納される。以下では、第１の実施形態との相違点を中心に説明する。

図１７で用いる充電測定手段１１２は、測定前充電ステージ７と測定ステージ８を一体にした装置で、それらの距離は隣接するワーク収納孔４間の距離の３倍である。これに対して、図１９で用いる充電測定手段１１３は、測定前充電ステージ７と測定ステージ８を一体にした装置で、それらの距離は隣接するワーク収納孔４間の距離である。

このように、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合は充電測定手段１１２を用いるが、この充電測定手段１１２を充電測定手段１１３に差し替えて、かつ搬送テーブル３の間歇回転の単位をワーク収納孔４の間隔と同一とすることで、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流の測定を図２０のように搬送テーブル３の１周分で終了させることができる。

ここで、主容量が大きいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図１８）と主容量が小さいコンデンサの漏れ電流を測定する場合（図２０）における誘電吸収時間と処理能力の比較を行う。数値例として、第１の実施形態と同様に、搬送テーブル３の停止時間を１０ｍｓ、１回の間歇回転に要するワ一クの移動時間を１５ｍｓとする。

図１８の場合、充電ステージ６（収納孔位置（４））から測定ステージ８（収納孔位置（１１））までの停止位置は１４箇所、間歇回転は１３回なので、充電ステージ６から測定ステージ８までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ９は、
ｔ９＝１０ｍｓ×１４＋１５ｍｓ×１３
＝３３５ｍｓ
となる。また、各ステージ６〜８をワークが通過するのに要する時間は、ワークの停止時間と移動時間の和であるので、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ９は、
ａ９＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

これに対して、図２０の場合、充電ステージ６（収納孔位置（４））から測定ステージ８（収納孔位置（１１））までの停止位置は８箇所、間歇回転は７回なので、充電ステージ６から測定ステージ８までの所要時間すなわち誘電吸収時間ｔ１０は、
ｔ１０＝１０ｍｓ×８＋１５ｍｓ×７
＝１８５ｍｓ
となる。また、１分当たりのワーク処理数すなわち処理能力ａ１０は、
ａ１０＝６００００ｍｓ÷（１０ｍｓ＋１５ｍｓ）
＝２４００個
となる。

以上より、図１８と図２０を比較すると、処理能力は同じであるが、誘電吸収時間は図１８の方が長くなっており、図１８はコンデンサの容量が大きくて誘電吸収時間が長い場合に適しており、図２０はコンデンサの容量が小さくて誘電吸収時間が短い場合に適していることがわかる。

このように、第５の実施形態では、第１の実施形態の効果に加え、搬送テーブル３を３回転させてコンデンサ漏れ電流測定を行うようにしたため、第１の実施形態よりさらに誘電吸収時間を長く確保できる効果がある。

以上の実施形態において、図２と図４、図６と図８、図１０と図１２、図１４と図１６、図１８と図２０をそれぞれ比較すればわかるように、コンデンサの主容量が大きく搬送テーブル３を２周分以上回転させて測定する場合における搬送テーブル３、ワーク収納孔４などの設備を、コンデンサの主容量が小さく搬送テーブルの１回転で測定が可能な場合の設備と共用できる。搬送テーブル３の周回数には一定の規則があるので、以下に詳述する。

まず、第１の実施形態を例に取って説明する。第１の実施形態は、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までのワークの移動距離を、搬送テーブル３の１周分より多く回転するものである。すなわち搬送テーブル３の余分な周回数は１周である。そこで、搬送テーブル３の総周回数は、基本となる１周に余分の１周分を加えて２周に設定すればよい。搬送テーブル３の総周回数は図２等の列数に相当するので、図２の列数は２と決定される。

次に、搬送ピッチ（搬送テーブル３の１回の間歇回転でワークが移動する距離）を、隣接するワーク収納孔４間の距離の何倍に設定すればよいかを決定する必要がある。その決定方法は、搬送ピッチをＢ、隣接するワーク収納孔４間の距離をＡとすると、
Ｂ／Ａ＝図２等の列数
である。すなわち、第１の実施形態においては、搬送テーブル３の１回の間歇回転でワークが移動する距離を隣接するワーク収納孔４間の距離の２倍（この２は図２の列数２と一致させて設定する）にすればよい。これは、図２において、搬送テーブル３の１回の間歇回転における位置（ワーク収納孔４の位置を示し、図２の「収納孔位置」欄に記された数字のこと）の変化が２であることを意味する。

次に、図１において位置（１）にあったワーク収納孔４が、搬送テーブル３が総周回数だけ回転したとき、すなわち２周したときに再び位置（１）に戻るようにすればよい。ここで、上述のように搬送ピッチは隣接するワーク収納孔４間の距離の２倍であるため、搬送テーブル３の１回の間歇回転における位置の変化は２である。

よって、図２の行数が２の倍数でなければ、位置（１）にあったワーク収納孔４は、搬送テーブル３が２周したときに再び位置（１）に戻る。以上より、ワーク収納孔４の総数、すなわち図２の行数は「２の倍数でないこと」、すなわち奇数であることが条件となる。

次に、図２の行数（ワーク収納孔４の総数）を決定する。図２の「ステージ名」欄に記されているステージ間の位置（収納孔位置）の差を考える。ワークの移動距離が搬送テーブル３の１周以内であるステージ間においては、ステージ間の位置の差は１回の間歇回転で変化する位置に等しいので、上述のように２である。例えば、図２において、ステージ「収納」は位置（１）であり、ここから１回の間歇回転で次のステージ「充電」に移動すると、ステージ「充電」は位置（３）であるから、位置の差は３−１＝２である。同様にステージ「測定前充電」からステージ「測定」までと、ステージ「測定」からステージ「排出」までと、ステージ「排出」からステージ「収納」までとの３箇所についても、ステージ間の位置の差は２である。

また、ワークの移動距離が搬送テーブル３の１周分より多いステージ間の位置の差は、１回の間歇回転における位置の変化である２に、搬送テーブル３が１周分より多く回転することによる位置の変化である１以上の整数を加算した値である。図２においてステージ「充電」は位置（３）であり、ここから次のステージ「測定前充電」までは搬送テーブル３が１周分より多く回転する。すなわちステージ「充電」から１回の間歇回転で位置（５）になり、この段階で位置の差は５−３＝２（１回の間歇回転における位置の変化）である。そして、そこからさらに搬送テーブル３が１周分より多く回転してステージ「測定前充電」に移動すると、その段階で位置がさらに１だけ加算されて位置（６）になり、結局ステージ「測定前充電」とステージ「充電」の位置の差は６−３＝３になる。

以上より、図２において、位置の差が２であるステージ間は、ステージ「収納」からステージ「充電」までと、ステージ「測定前充電」からステージ「測定」までと、ステージ「測定」からステージ「排出」までと、ステージ「排出」からステージ「収納」までとの計４箇所であり、位置の差が３であるステージ間は、ステージ「充電」からステージ「測定前充電」までの１箇所であるから、図２の行数（ワーク収納孔４の総数）は、これらの位置の差とステージ間数を積算して、２×４＋３×１＝１１となる。これは「２の倍数でないこと」という条件を満足する。

次に、第２の実施形態を例に取り、第１の実施形態との相違点を中心に説明する。第２の実施形態では、第１の実施形態における充電ステージ６、測定前充電ステージ７および測定ステージ８からなる組み合わせを２組直列に配置している。従って、ワークの移動距離が搬送テーブル３の１周分より多く回転する箇所が２箇所となる。すなわち、搬送テーブル３の余分な周回数は２周である。そこで、搬送テーブル３の総回転数は、基本となる１周に余分の２周を加えて３回転に設定すればよい。搬送テーブル３の総回転数は図６の列数に相当するので、図６の列数は３と決定される。

次に、搬送ピッチを第１の実施形態と同様にして求める。第２の実施形態においては、搬送テーブル３の１回の間歇回転でワークが移動する距離を隣接するワーク収納孔４間の距離の３倍（この３は図６の列数３と一致させて設定する）にすればよい。これは、図６において、搬送テーブル３の１回の間歇回転における位置（ワーク収納孔４の位置を示し、図６の「収納孔位置」欄に記された数字のこと）の変化が３であることを意味する。

次に、図５において位置（１）にあったワーク収納孔４が、搬送テーブル３が総周回数だけ回転したとき、すなわち３周したときに再び位置（１）に戻るようにすればよい。ここで、上述のように搬送ピッチは隣接するワーク収納孔４間の距離の３倍であるため、搬送テーブル３の１回の間歇回転における位置の変化は３である。

よって、図６の行数が３の倍数でなければ、位置（１）にあったワーク収納孔４は、搬送テーブル３が３周したときに再び位置（１）に戻る。以上より、ワーク収納孔４の総数、すなわち図６の行数は「３の倍数でないこと」が条件となる。

次に、図６の行数（ワーク収納孔４の総数）を決定する。図６の「ステージ名」欄に記入されているステージ間の位置（収納孔位置）の差を考える。ワークの移動距離が搬送テーブル３の１周以内であるステージ間においては、ステージ間の位置の差は１回の間歇回転で変化する位置に等しいので、上述のように３である。例えば、図６において、ステージ「収納」の位置は位置（１）であり、ここから１回の間歇回転で次のステージ「充電１」に移動すると、位置（４）であるから、位置の差は４−１＝３である。同様にステージ「測定前充電１」からステージ「測定１」までと、ステージ「測定１」からステージ「充電２」までと、ステージ「測定前充電２」からステージ「測定２」までと、ステージ「測定２」からステージ「排出」までと、ステージ「排出」からステージ「収納」までとの５箇所についても、ステージ間の位置の差は３である。

また、ワークの移動距離が搬送テーブル３の１周分より多いステージ間の位置の差は、１回の間歇回転における位置の変化である３に、搬送テーブル３の１周分より多く回転することによる位置の変化である１以上の整数を加算した値である。図６においてステージ「充電１」は位置（４）であり、ここから次のステージ「測定前充電１」までは搬送テーブル３が１周分より多く回転する。すなわちステージ「充電１」から１回の間歇回転で位置（７）になり、この段階で位置の差は７−４＝３（１回の間歇回転における位置の変化）である。そして、そこからさらに搬送テーブル３が１周分より多く回転してステージ「測定前充電１」に移動すると、その段階で位置がさらに２だけ加算されて位置（９）になり、結局ステージ「測定前充電１」とステージ「充電１」の位置の差は９−４＝５になる。同様に、ステージ「測定前充電２」とステージ「充電２」の位置の差は２０−１５＝５になる。

以上より、図６において、位置の差が３であるステージ間は、ステージ「収納」からステージ「充電１」までと、ステージ「測定前充電１」からステージ「測定１」までと、ステージ「測定１」からステージ「充電２」までと、ステージ「測定前充電２」からステージ「測定２」までと、ステージ「測定２」からステージ「排出」までと、ステージ「排出」からステージ「収納」までとの計６箇所であり、位置の差が５であるステージ間は、ステージ「充電１」からステージ「測定前充電１」までと、ステージ「充電２」からステージ「測定前充電２」までとの計２箇所であるから、図６の行数（ワーク収納孔４の総数）は、これらの位置の差とステージ間数を積算して、３×６＋５×２＝２８となる。これは「３の倍数でないこと」という条件を満足する。

他の実施形態についても、同様の方法により、図１０、図１４、図１８等の列数及び行数を決定することができる。

これらの列数と行数を決定する規則を一般化すると、以下のようになる。

まず、列数、すなわち搬送ピッチをＢ、隣接するワーク収納孔４間の距離をＡとしたときのＢ／Ａの値（１回の間歇回転で変化する位置であり、搬送テーブルの総周回数）については、
Ｂ／Ａ＝１＋（充電から測定までの工程の組合わせ数）×（充電から測定までの工程の１組の中の充電工程間において搬送テーブル３を余分に周回させる回転数）
によって求める。ここで、充電には測定前充電を含む。

また行数、すなわち、搬送テーブル３に設けるワーク収納孔４の総数については、Ｎを自然数として、
Ｋ＝［（Ｂ／Ａ）×｛（測定工程までの充電工程の数）＋（測定工程の数）｝＋（搬送テーブル３を余分に周回させる充電工程間の数）×Ｎ］×（充電工程から測定工程までの一連の工程の組合わせ数）＋（Ｂ／Ａ）×（収納工程の数）＋（Ｂ／Ａ）×（排出工程の数）
かつ、Ｋは（Ｂ／Ａ）の倍数でないこと
によって求める。ここで、充電には測定前充電を含む。

なお、上述のＫの決定方法に、「Ｋは（Ｂ／Ａ）の倍数でないこと」の記載がある。例えば、第１の実施形態及び第２の実施形態における図２及び図６の作成方法の中で、行数を決定する際の条件として、「２の倍数でないこと」および「３の倍数でないこと」の記載である。

ここで、列数が４や６のように素数でない場合には、注意が必要である。列数が６の場合を取って説明する。列数が６になるのは搬送テーブルが５周余分に回転する場合であり、例えば第１の実施形態の変形として充電から測定までを５回行う場合がある。このとき、行数Ｋは、上記の式に数値例として、Ｂ／Ａ＝６、測定工程までの充電工程の数＝２、測定工程の数＝１、搬送テーブル３を余分に周回させる充電工程間の数＝１、Ｎ＝３、充電工程から測定工程までの一連の工程の組合わせ数＝５、収納工程の数＝１、排出工程の数＝１、を代入すると、
Ｋ＝｛６×（２＋１）＋１×３｝×５＋６×１＋６×１＝１１７
となる。１１７は６の倍数ではないので、行数Ｋとして１１７を選ぶと、２列分の行数の合計は１１７×２＝２３４であり、６の倍数になる。従って、搬送テーブル３が隣接するワーク収納孔４間の距離の６倍の搬送ピッチで間歇回転すると、搬送テーブル３が２周したところでワーク収納孔４が元の位置に戻ってしまい、ワークは１周目と３周目で同じ収納孔位置に停止することとなってしまう。

このような状況に陥らないように、行数を設定する際には、搬送テーブル３が隣接するワーク収納孔４間の距離の列数倍の搬送ピッチで間歇回転したときに、搬送テーブル３が列数周回して初めてワーク収納孔４が元の位置に戻るようにしておく必要がある。

具体的には、行数を列数で除したときの剰余が、列数と互いに素になるように行数を設定すればよい。例えば列数が６の場合には、上記の数値例で、Ｎ＝１とすると、
Ｋ＝｛６×（２＋１）＋１×１｝×５＋６×１＋６×１＝１０７
となる。ここで、求めた行数１０７を列数６で除すと、
１０７／６＝１７ 余り ５
であり、剰余の５は列数６と互いに素であるから、搬送テーブル３が６周したときにワーク収納孔４が初めて元の位置に戻る。

上述した実施形態では、図３、図４、図７、図８、図１１、図１２、図１５、図１６、図１９、図２０において、搬送テーブル３の間歇回転の単位が隣接するワーク収納孔４の間隔と同一で、搬送テーブル３が１周する間に測定を行うと説明したが、必ずしも、この間歇回転の単位は隣接するワーク収納孔４の間隔と同一である必要はなく、搬送テーブル３に設けられたワーク収納孔４の総数の約数となる整数をＭとして、隣接するワーク収納孔４の間隔のＭ倍を間歇回転の単位としてもよい。例えば、図７、図８において、搬送テーブル３に設けられたワーク収納孔４の総数は２８なので、その約数の１つである２をとり、隣接するワーク収納孔４の間隔の２倍を間歇回転の単位とし、搬送テーブル３が１周する間に測定を行ってもよい。その場合には、測定前充電ステージ７１と測定ステージ８１の間の距離および測定前充電ステージ７２と測定ステージ８２の間の距離は、隣接するワーク収納孔４の間の距離の２倍とすればよい。

上述した実施形態では、測定前充電ステージと測定ステージを別の場所に配置しているものとして説明したが、これらをまとめて同一の場所（例えば、図１における位置（６））に配置して、ワークが当該場所に停止している間に、充電用プローブを用いて測定前充電を行った後、測定用プローブを用いて測定を行ってもよい。

上述した実施形態では、充電から測定までに搬送テーブルを１周分以上間歇回転する例を示したが、必ずしも充電から測定までに搬送テーブルを１周分以上間歇回転しなくてもよい。例えば、図１において、充電ステージ６を位置（３）に、測定前充電ステージ７を位置（９）に、測定ステージ８を位置（１１）に、排出ステージを位置（２）にそれぞれ配置して、この順に搬送テーブルを１周分以上間歇回転させてもよい。

上述した実施形態では、搬送ピッチを一定にして、コンデンサが充電ステージ間（充電ステージと測定前充電ステージの間、または、異なる充電ステージ間）を移動する際の距離が搬送テーブルの１周分より大きくなるようにしているが、搬送ピッチを可変にして、充電ステージで充電されたコンデンサが搬送テーブルのちょうど１周分回転した後に、同一の充電ステージに到着して、再度充電されるようにしてもよい。

上述した実施形態では、円形の搬送テーブル３の外側に開口したワーク収納孔４にワークを収納して搬送する場合について説明したが、搬送テーブル３の厚さ方向に搬送テーブル３を貫通するワーク収納孔４にワークを収納して搬送してもよい。

上述した実施形態では、搬送テーブル３が水平に設置された場合について説明したが、搬送テーブル３が垂直に設置されていたり、あるいは、傾斜して設置されていたりしてもよい。

上述した実施形態では、搬送体として円形の搬送テーブル３を回転（周回）させてワークを搬送する場合について説明したが、無端ベルトのような帯状体を周回させてワークを搬送してもよい。

上述した実施形態では、搬送テーブル３にワーク収納孔４が等間隔で設けられる例を説明したが、ワーク収納孔４は必ずしも等間隔で設けられている必要はない。ただし、各ワーク収納孔４間の距離に合わせて搬送テーブル３を間歇回転させる必要がある。

上述した各実施形態において、充電ステージは充電手段に対応し、測定前充電ステージは測定前充電手段に対応し、測定ステージは測定手段に対応する。これら各ステージでは、必ずしも、物理的なステージを設けて充電や測定を行う必要はなく、例えば、搬送テーブル３の上下または左右方向からワークの電極にプローブを接触させて、充電または漏れ電流測定を行う。

上記の記載に基づいて、当業者であれば、本発明の追加の効果や種々の変形を想到できるかもしれないが、本発明の態様は、上述した個々の実施形態に限定されるものではない。特許請求の範囲に規定された内容およびその均等物から導き出される本発明の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更および部分的削除が可能である。

本発明の第１の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図１のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 図１の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図３のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 本発明の第２の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図５のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 図５の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図７のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 本発明の第３の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図９のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 図９の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図１１のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 本発明の第４の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図１３のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 図１３の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図１５のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 本発明の第５の実施形態に係るコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図１７のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 図１７の変形例であり、主容量が小さいコンデンサの漏れ電流測定を行うコンデンサ漏れ電流測定装置の平面図。 図１９のコンデンサ漏れ電流測定装置の処理動作を示した図。 漏れ電流測定に関わる一般的なコンデンサＣ０の等価回路図。 コンデンサＣ０に規定電圧を印加して充電を行った場合のコンデンサＣ０に流れる電流の時間変化を示す図。 従来の漏れ電流測定装置の平面図。

符号の説明

１ リニアフィーダ
２ 分離供給部
３ 搬送テーブル
４ ワーク収納孔
５ 中心軸
６，６１，６２，６１１，６１２，６２１，６２２ 充電ステージ
７，７１，７２ 測定前充電ステージ
８，８１，８２ 測定ステージ
９ 排出ステージ
１０ 搬送ピッチ調整手段
１００〜１１３ 装置

Claims (18)

1. 周回可能な搬送体に等間隔で設けられた複数のワーク収納孔のそれぞれに、被測定対象であるコンデンサを収納し、前記搬送体を間歇的に周回させて前記コンデンサの漏れ電流を測定するコンデンサ漏れ電流測定方法において、
   前記搬送体の周囲に配置された収納ステージにて、前記複数のワーク収納孔に前記コンデンサを収納するステップと、
   前記搬送体の周囲に配置された充電ステージにて、前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサを順に充電するステップと、
   前記搬送体の周囲に配置された測定ステージにて、前記充電ステージにて前記コンデンサを充電した後、主容量および誘電吸収因子の双方を充電済みの前記コンデンサの漏れ電流を測定するステップと、
   前記搬送体の周囲に配置された排出ステージにて、前記測定ステージで測定を終了した前記コンデンサを排出するステップと、を備え、
   前記収納ステージから前記排出ステージまでに前記搬送体が１周分より多く周回することを特徴とするコンデンサ漏れ電流測定方法。
2. 前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサの搬送ピッチが、隣接する前記ワーク収納孔間の距離の２以上の整数倍となるように、前記搬送体を間歇的に周回させることを特徴とする請求項１に記載のコンデンサ漏れ電流測定方法。
3. 前記複数のワーク収納孔は、前記搬送体が間歇的に周回しながら前記２以上の整数周周回した後に元の位置に戻ることを特徴とする請求項２に記載のコンデンサ漏れ電流測定方法。
4. 前記充電ステージは２以上あり、前記２以上の充電ステージでの前記コンデンサの充電が行われた後に、前記測定ステージでの前記コンデンサの漏れ電流の測定が行われることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載のコンデンサ漏れ電流測定方法。
5. 前記２以上の充電ステージ間のワークが移動する距離のうち少なくとも１つは、前記搬送体の１周分を超える距離であることを特徴とする請求項４に記載のコンデンサ漏れ電流測定方法。
6. 前記測定ステージの直前に配置される前記充電ステージと前記測定ステージとの距離が、前記コンデンサの容量に応じて選択されることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載のコンデンサ漏れ電流測定方法。
7. 前記コンデンサの容量に応じて、前記搬送体を間歇的に周回させる搬送ピッチをワーク収納孔の間隔を単位として調整することを特徴とする請求項６に記載のコンデンサ漏れ電流測定方法。
8. 周回する搬送体に等間隔で設けられた複数のワーク収納孔のそれぞれに、被測定対象であるコンデンサを収納し、前記搬送体を間歇的に周回させて前記コンデンサの漏れ電流を測定するコンデンサ漏れ電流測定方法において、
   前記搬送体の周囲に配置された充電ステージにて、前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサを順に充電するステップと、
   前記充電ステージにて前記コンデンサを充電した後に、前記搬送体を１周分より多く周回させた状態で、測定前充電ステージにて、前記コンデンサを再充電するステップと、
   前記測定前充電ステージにて前記コンデンサを再充電した後に、前記搬送体を間歇的に周回させて、再充電後の前記コンデンサの漏れ電流を測定するステップと、を備えることを特徴とするコンデンサ漏れ電流測定方法。
9. 周回する搬送体に等間隔で設けられた複数のワーク収納孔のそれぞれに、被測定対象であるコンデンサを収納し、前記搬送体を間歇的に周回させて前記コンデンサの漏れ電流を測定するコンデンサ漏れ電流測定方法において、
   測定ステージと測定前充電ステージとの距離を、前記コンデンサの容量に応じて選択して、かつ前記コンデンサの容量に応じて、前記搬送体を間歇的に周回させる搬送ピッチをワーク収納孔の間隔を単位として調整するステップと、
   前記搬送体を間歇的に周回させながら、充電ステージにて、前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサを順に充電するステップと、
   前記充電ステージにて前記コンデンサを充電した後に、前記搬送体を間歇的に周回させて、前記測定前充電ステージにて再充電するステップと、
   前記測定前充電ステージにて前記コンデンサを再充電した後に、前記搬送体を間歇的に周回させて、再充電後の前記コンデンサの漏れ電流を測定するステップと、を備えることを特徴とするコンデンサ漏れ電流測定方法。
10. 周回可能な搬送体に等間隔で設けられた複数のワーク収納孔のそれぞれに、被測定対象であるコンデンサを収納し、前記搬送体を間歇的に周回させて前記コンデンサの漏れ電流を測定するコンデンサ漏れ電流測定装置において、
    前記搬送体の周囲に配置され、前記複数のワーク収納孔に前記コンデンサを収納する収納手段と、
    前記搬送体の周囲に配置され、前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサを順に充電する充電手段と、
    前記搬送体の周囲に配置され、前記充電手段にて前記コンデンサを充電した後、主容量および誘電吸収因子の双方を充電済みの前記コンデンサの漏れ電流を測定する測定手段と、
    前記搬送体の周囲に配置され、前記測定手段で測定を終了した前記コンデンサを排出する排出手段と、を備え、
    前記収納手段から前記排出手段までに前記搬送体が１周分より多く周回することを特徴とするコンデンサ漏れ電流測定装置。
11. 前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサの搬送ピッチが、隣接する前記ワーク収納孔間の距離の２以上の整数倍となるように、前記搬送体を間歇的に周回させる搬送ピッチ調整手段をさらに備えることを特徴とする請求項１０に記載のコンデンサ漏れ電流測定装置。
12. 前記ワーク収納孔は、前記搬送体が間歇的に周回しながら前記２以上の整数周周回した後に元の位置に戻ることを特徴とする請求項１１に記載のコンデンサ漏れ電流測定装置。
13. ２以上の前記充電手段が設けられ、
    前記測定手段は、前記２以上の充電手段が前記コンデンサの充電を行った後に、前記コンデンサの漏れ電流の測定を行うことを特徴とする請求項１０乃至１２のいずれかに記載のコンデンサ漏れ電流測定装置。
14. 前記２以上の充電手段間のワークが移動する距離のうち少なくとも１つは、前記搬送体の１周分を超える距離であることを特徴とする請求項１３に記載のコンデンサ漏れ電流測定装置。
15. 前記測定手段の直前に配置される前記充電手段と前記測定手段との距離が、前記コンデンサの容量に応じて選択されることを特徴とする請求項１１乃至１４のいずれかに記載のコンデンサ漏れ電流測定装置。
16. 前記搬送ピッチ調整手段は、前記コンデンサの容量に応じて、前記搬送体を間歇的に周回させる搬送ピッチをワーク収納孔の間隔を単位として調整することを特徴とする請求項１５に記載のコンデンサ漏れ電流測定装置。
17. 周回する搬送体に等間隔で設けられた複数のワーク収納孔のそれぞれに、被測定対象であるコンデンサを収納し、前記搬送体を間歇的に周回させて前記コンデンサの漏れ電流を測定するコンデンサ漏れ電流測定装置において、
    前記搬送体の周囲に配置され、前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサを順に充電する充電手段と、
    前記充電手段にて前記コンデンサを充電した後に、前記搬送体を１周分より多く周回させた状態で、前記コンデンサを再充電する測定前充電手段と、
    前記測定前充電手段にて前記コンデンサを再充電した後に、前記搬送体を間歇的に周回させて、再充電後の前記コンデンサの漏れ電流を測定する測定手段と、を備えることを特徴とするコンデンサ漏れ電流測定装置。
18. 周回する搬送体に等間隔で設けられた複数のワーク収納孔のそれぞれに、被測定対象であるコンデンサを収納し、前記搬送体を間歇的に周回させて前記コンデンサの漏れ電流を測定するコンデンサ漏れ電流測定装置において、
    測定手段と測定前充電手段との距離を、前記コンデンサの容量に応じて選択した後、前記コンデンサの容量に応じて、前記搬送体を間歇的に周回させる搬送ピッチをワーク収納孔の間隔を単位として調整する搬送ピッチ調整手段と、
    前記搬送体を間歇的に周回させながら、前記複数のワーク収納孔に収納された前記コンデンサを順に充電する充電手段と、
    前記充電手段にて前記コンデンサを充電した後に、前記搬送体を間歇的に周回させて、前記コンデンサを再充電する測定前充電手段と、
    前記測定前充電手段にて前記コンデンサを再充電した後に、前記搬送体を間歇的に周回させて、再充電後の前記コンデンサの漏れ電流を測定する測定手段と、を備えることを特徴とするコンデンサ漏れ電流測定装置。

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