JP2010086597A - Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, and method for manufacturing magnetic disk - Google Patents

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祐治 山城
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve low roughness of a main surface and a required end shape in a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, and a method for manufacturing the magnetic disk. <P>SOLUTION: In the method for manufacturing the glass substrate for the magnetic disk by grinding the main surface of the glass substrate, when a grinding pad has a thickness of 0.55 to 0.9 mm and a pressing force of 66 to 130 g/cm<SP>2</SP>, a value obtained by subtracting a value of an amount of compression deformation of the pad from a pad modulus value is between 70 and 100. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、コンピュータ等の記録媒体として用いられる磁気ディスク用のガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk used as a recording medium for a computer or the like, and a method for manufacturing a magnetic disk.

近年、情報技術の高度化に伴い、情報記録技術、特に磁気記録技術は著しく進歩している。磁気記録媒体のひとつであるHDD(ハードディスクドライブ)等の磁気記録媒体用基板としては、アルミニウム基板が広く用いられてきた。しかし磁気ディスクの小型化、薄板化、及び高記録密度化に伴い、アルミニウム基板に比べ基板表面の平坦性及び基板強度に優れたガラス基板に徐々に置き換わりつつある。   In recent years, with the advancement of information technology, information recording technology, particularly magnetic recording technology, has made remarkable progress. An aluminum substrate has been widely used as a substrate for a magnetic recording medium such as an HDD (Hard Disk Drive) which is one of the magnetic recording media. However, with the miniaturization, thinning, and high recording density of magnetic disks, glass substrates that are superior in substrate surface flatness and substrate strength compared to aluminum substrates are gradually being replaced.

また、磁気ディスクの主表面を有効利用するために、従来のCSS(Contact Start Stop)方式に代えて、LUL(Load UnLoad)方式が用いられるようになってきた。CSS方式は、磁気ディスクの主表面上に設けたCSSゾーンに磁気ヘッドを接触させて退避させる方式であり、LUL方式は磁気ディスクの外部に設けたランプ(傾斜部)に磁気ヘッドを退避させる方式である。CSSゾーンは記録領域として使用できないばかりか、磁気ヘッドの吸着を防止するためにある程度の表面粗さとする必要があった。しかし、LUL方式を採用したことにより磁気ディスク全面を記録領域として利用可能となるとともに、その表面にあえて凹凸形状を設ける必要がなく、磁気ディスク表面を極めて平滑化することが可能となった。   In order to effectively use the main surface of the magnetic disk, an LUL (Load UnLoad) method has been used instead of the conventional CSS (Contact Start Stop) method. The CSS system is a system in which a magnetic head is brought into contact with a CSS zone provided on the main surface of the magnetic disk and retracted, and the LUL system is a system in which the magnetic head is retracted to a ramp (inclined portion) provided outside the magnetic disk. It is. The CSS zone cannot only be used as a recording area, but also has to have a certain surface roughness to prevent the magnetic head from being attracted. However, by adopting the LUL method, the entire surface of the magnetic disk can be used as a recording area, and it is not necessary to provide an uneven shape on the surface, and the surface of the magnetic disk can be extremely smoothed.

また、磁気記録技術の高密度化に伴い、磁気ヘッドの方も薄膜ヘッドから、磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)、大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)へと推移してきている。しかし、GMRヘッドは感度が高く、また高記録密度化もあいまって、ヘッドと基板が離れていては隣接する記録ビットの情報を拾ってしまうために、磁気ヘッドの浮上量を低く抑える必要がある。   Further, as the magnetic recording technology has been increased in density, the magnetic head has been changed from a thin film head to a magnetoresistive head (MR head) and a large magnetoresistive head (GMR head). However, the GMR head has high sensitivity and high recording density, and if the head and the substrate are separated from each other, information on adjacent recording bits is picked up. Therefore, it is necessary to keep the flying height of the magnetic head low. .

これらの事情から、磁気ヘッドの低浮上量化が求められており、磁気ヘッドの基板からの浮上量が8nm程度にまで狭くなってきている。   Under these circumstances, the flying height of the magnetic head is required to be reduced, and the flying height of the magnetic head from the substrate is narrowed to about 8 nm.

磁気ヘッドを低浮上量化した場合、ヘッドクラッシュ障害やサーマルアスペリティ障害を引き起こす場合がある。ヘッドクラッシュ障害は、磁気ヘッドが磁気ディスクの凸部に衝突して損傷する障害である。サーマルアスペリティ障害とは、磁気ディスク面上の微小な凸形状あるいは凹形状上を磁気ヘッドが浮上飛行しながら通過するときに、空気の断熱圧縮または接触により磁気抵抗効果型素子が加熱されることにより、読み出しエラーを生じる障害である。したがって磁気抵抗型素子を搭載した磁気ヘッドに対しては、磁気ディスク表面は極めて高度な平滑度及び平坦度、すなわち低粗さが求められる。   If the flying height of the magnetic head is reduced, a head crash failure or thermal asperity failure may occur. The head crash failure is a failure in which the magnetic head collides with the convex portion of the magnetic disk and is damaged. Thermal asperity failure means that the magnetoresistive element is heated by adiabatic compression or contact of air when the magnetic head passes over a minute convex or concave shape on the magnetic disk surface while flying. This is a failure that causes a read error. Therefore, for a magnetic head equipped with a magnetoresistive element, the magnetic disk surface is required to have extremely high smoothness and flatness, that is, low roughness.

特に、最近では、特許文献1に記載されているように、記録密度をより一層向上させるために、垂直磁気記録方式が主式方式となりつつある。この垂直磁気記録媒体の場合には、面内磁気記録方式の場合と比べて、記録密度が高いため、ガラス基板の粗さの影響がより顕著に表れやすい。このため、ガラス基板には、より一層の低粗さが求められる。   In particular, recently, as described in Patent Document 1, in order to further improve the recording density, the perpendicular magnetic recording method is becoming the main method. In the case of this perpendicular magnetic recording medium, since the recording density is higher than in the case of the in-plane magnetic recording method, the influence of the roughness of the glass substrate is more likely to appear. For this reason, the glass substrate is required to have even lower roughness.

上記のような状況において、ガラス基板の表面粗さを決定する因子に研磨パッドが挙げられ、より低粗さを実現するためには軟質パッドを用いることが一般的である。   In the above situation, a polishing pad is given as a factor that determines the surface roughness of the glass substrate. In order to achieve a lower roughness, it is common to use a soft pad.

特開2005−44464公報JP 2005-44464 A

ところで、たとえ磁気ディスク表面の平均粗さが低くても、実際にハードディスクとして稼働させた場合に、ヘッドのクラッシュ及びヘッドの墜落が起きる場合がある。これは、磁気ディスクの基板端部の形状がジャンプ形状及び急激なダレ形状となっている場合に起きることがある。基板端部がジャンプ形状である場合、ヘッドがジャンプ部に接触し、ヘッドクラッシュを発生させる場合がある。また、基板端部が急激なダレ形状である場合、端部でヘッドの浮上力が失われ、ヘッドの墜落を発生させる場合がある。したがって、磁気ディスクの基板端部の形状は、最外周部までフラットもしくは緩やかなダレ形状であることが求められる。   By the way, even if the average roughness of the magnetic disk surface is low, a head crash and a head crash may occur when the disk is actually operated as a hard disk. This may occur when the shape of the substrate end of the magnetic disk is a jump shape or a sharp sag shape. When the end portion of the substrate has a jump shape, the head may come into contact with the jump portion and cause a head crash. In addition, when the substrate end has a sharp sagging shape, the flying force of the head is lost at the end, which may cause the head to fall. Therefore, the shape of the substrate end of the magnetic disk is required to be flat or gently sag until the outermost periphery.

しかしながら、軟質パッドを用いて磁気ディスク用ガラス基板の研磨を行った場合、基板端部の形状は、急激なダレ形状となることがわかっている。よって、従来の技術では、低粗さとフラットもしくは緩やかなダレ形状とを、同時に成立させることができない。端部形状をフラットもしくは緩やかなダレ形状に形成するためには、硬質パッドを用いる必要があり、その場合、必要な低粗さを得ることができない。   However, it has been found that when a magnetic disk glass substrate is polished using a soft pad, the shape of the end portion of the substrate becomes a sharp sagging shape. Therefore, in the conventional technique, low roughness and flat or gentle sagging shape cannot be established simultaneously. In order to form the end shape into a flat or gentle sagging shape, it is necessary to use a hard pad, and in that case, the required low roughness cannot be obtained.

すなわち、磁気ディスク用ガラス基板の表面の低粗さと良質な端部形状とは、基本的にトレードオフの関係にあり、両者は同時に成り立たないこととなる。   That is, the low roughness of the surface of the glass substrate for magnetic disks and the high-quality end shape are basically in a trade-off relationship, and both do not hold at the same time.

そこで、本発明は、低粗さを実現しつつも必要な端部形状を同時に満たすことが可能な磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk and a method for manufacturing a magnetic disk that can simultaneously satisfy a necessary end shape while realizing low roughness.

本発明者は、上述の問題について検討した結果、表面粗さに効果的な物性は、研磨パッドのモジュラス値(kg/cm)であり、端部形状に効果的な物性は、パッドの圧縮変形量であることをつきとめた。さらに、両者の値を特定の範囲とすることにより、従来のトレードオフの関係を打ち消し、低粗さと良質な端部形状とを有する磁気ディスク用ガラス基板を作製できる研磨パッドの発明に至った。 As a result of examining the above problems, the present inventor has found that the physical property effective for the surface roughness is the modulus value (kg / cm 2 ) of the polishing pad, and the physical property effective for the end shape is the compression of the pad. I found out the amount of deformation. Furthermore, by setting both values within a specific range, the present invention has led to the invention of a polishing pad that can cancel the conventional trade-off relationship and produce a glass substrate for a magnetic disk having low roughness and good edge shape.

表面粗さに効果的な物性であるモジュラス値(kg/cm)は、パッドの軟硬質性を表すものであり、値が小さくなるほど軟らかいパッドになる。 The modulus value (kg / cm 2 ), which is an effective physical property for the surface roughness, represents the softness and softness of the pad. The smaller the value, the softer the pad.

端部形状に効果的な物性である圧縮変形量は、規定の値を加えた際にパッドがどれだけ沈み込むかを表したものであり、値が小さいほど硬質パッドになる。   The amount of compressive deformation, which is an effective physical property for the end shape, represents how much the pad sinks when a specified value is applied. The smaller the value, the harder the pad.

低粗さで良質な端部形状を得るためにはモジュラス値は低く、圧縮変形量も低いパッドを用いるのが最も効果的であるが、低モジュラス値の樹脂を使用した場合には、圧縮変形量は高くなるのが一般的である。   In order to obtain a good edge shape with low roughness, it is most effective to use a pad with a low modulus value and a low amount of compressive deformation, but when a resin with a low modulus value is used, compressive deformation The amount is generally higher.

そこで、低モジュラス値の樹脂を使用しても圧縮変形量を低く抑制できる処置を施すことにより、低粗さで良質な端部形状を得ることができる。ただし、圧縮変形量を低く抑制できる限界は決まっているため、モジュラス値の低減値は規定の範囲内である必要がある。   Therefore, even when a resin having a low modulus value is used, a good end shape with low roughness can be obtained by performing a treatment that can suppress the amount of compressive deformation low. However, since the limit at which the amount of compressive deformation can be suppressed is determined, the reduction value of the modulus value needs to be within a specified range.

すなわち、本発明は、以下の構成のいずれか一を有するものである。   That is, the present invention has any one of the following configurations.

〔構成1〕
円盤状のガラス基板の両主表面に研磨パッドを押圧させ、これらガラス基板及び研磨パッドとの間に研磨材を含む研磨液を供給しながら、ガラス基板と研磨パッドとを相対的に移動させて、ガラス基板の主表面を研磨して、磁気ディスク用ガラス基板を製造する製造方法において、研磨パッドは、厚みが0.55mm〜0.9mm、押圧力が66g/cm〜130g/cmである場合に、パッドモジュラス値からパッドの圧縮変形量値を引いた値が70乃至100であることを特徴とするものである。
[Configuration 1]
The polishing pad is pressed against both main surfaces of the disk-shaped glass substrate, and the glass substrate and the polishing pad are relatively moved while supplying a polishing liquid containing an abrasive between the glass substrate and the polishing pad. , by polishing the major surface of the glass substrate, in the manufacturing method for manufacturing a magnetic disk glass substrate, the polishing pad has a thickness 0.55Mm~0.9Mm, pressing force at 66g / cm 2 ~130g / cm 2 In some cases, the value obtained by subtracting the compression deformation value of the pad from the pad modulus value is 70 to 100.

〔構成2〕
構成1を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、研磨パッドは、少なくとも表層が、発泡樹脂からなることを特徴とするものである。
[Configuration 2]
In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having Configuration 1, the polishing pad is characterized in that at least the surface layer is made of a foamed resin.

〔構成3〕
構成2を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、研磨パッドの少なくとも表層をなす発泡樹脂は、Ester/Etherの混合樹脂であることを特徴とするものである。
[Configuration 3]
In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having Configuration 2, the foamed resin that forms at least the surface layer of the polishing pad is a mixed resin of Ester / Ether.

〔構成4〕
構成1を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、研磨材は、粒径30nm以下のシリカ砥粒であることを特徴とするものである。
[Configuration 4]
In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having Configuration 1, the abrasive is silica abrasive having a particle size of 30 nm or less.

〔構成5〕
構成1を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、研磨パッドを用いた研磨は、押圧力66g/cm〜130g/cm、研磨機回転速度12rpm〜26rpm、研磨材流量300ml/min〜1500ml/min、パッド研磨時間8min〜60minの条件で行うことを特徴とするものである。
[Configuration 5]
In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having the configuration 1, polishing using a polishing pad is performed by pressing force 66 g / cm 2 to 130 g / cm 2 , polishing machine rotational speed 12 rpm to 26 rpm, abrasive flow rate 300 ml / min to 1500 ml. / Min and the pad polishing time is 8 min to 60 min.

〔構成6〕
構成1を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、研磨パッドを用いて研磨を行う前に、プレ研磨材及びプレ研磨パッドを用いてガラス基板の主表面を研磨するプレ研磨工程を有し、プレ研磨材は、セリウム砥粒であることを特徴とするものである。
[Configuration 6]
In the manufacturing method of the glass substrate for magnetic disks which has composition 1, it has a prepolishing process which grinds the main surface of a glass substrate using a prepolishing material and a prepolishing pad, before polishing using a polishing pad, The pre-abrasive is cerium abrasive grains.

〔構成7〕
磁気ディスクの製造方法であって、構成1乃至構成6のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により得られたガラス基板の表面に、少なくとも磁性層を形成することを特徴とするものである。
[Configuration 7]
A method for manufacturing a magnetic disk, wherein at least a magnetic layer is formed on a surface of a glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having any one of configurations 1 to 6. It is.

〔構成8〕
構成7を有する磁気ディスクの製造方法において、磁気ディスクは、垂直磁気記録方式用磁気ディスクであって、磁性層は、複数の層からなり、少なくとも1層は、軟磁性層であることを特徴とするものである。
[Configuration 8]
In the method of manufacturing a magnetic disk having Configuration 7, the magnetic disk is a magnetic disk for perpendicular magnetic recording system, the magnetic layer is composed of a plurality of layers, and at least one layer is a soft magnetic layer. To do.

本発明によれば、モジュラス値から圧縮変形量を引いた値が範囲内に収まっているパッドを使用することにより、低モジュラス値による粗さの低減効果と低圧縮変形量による端部形状の良化効果とを得ることができる。すなわち、本発明によれば、粗さと端部形状品質を同時に満たした磁気ディスク用ガラス基板を作製することができる。   According to the present invention, by using a pad in which the value obtained by subtracting the amount of compressive deformation from the modulus value is within the range, the effect of reducing the roughness due to the low modulus value and the good end shape due to the low amount of compressive deformation. Effect can be obtained. That is, according to the present invention, it is possible to produce a glass substrate for a magnetic disk that satisfies both roughness and edge shape quality at the same time.

すなわち、本発明は、低粗さを実現しつつも必要な端部形状を同時に満たすことが可能な磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法を提供することができるものである。   That is, the present invention can provide a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk and a method for manufacturing a magnetic disk that can simultaneously satisfy a necessary end shape while realizing low roughness.

以下、本発明を実施するための最良の実施の形態について説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below.

本発明においては、磁気ディスク用ガラス基板の主表面を研磨する研磨パッドをなす材料について、モジュラス値(kg/cm)及び圧縮変形量の最適値を検証した結果、モジュラス値から圧縮変形量値を引いた値が特定の範囲に収まる場合に、磁気ディスク用ガラス基板の表面粗さと端部形状との両立ができることを見出した。その範囲外では、粗さもしくは端部形状のいずれかの品質を満たすことができるものの、両立させて品質を満たすことはできない。 In the present invention, as a result of verifying the modulus value (kg / cm 2 ) and the optimum value of the amount of compressive deformation with respect to the material forming the polishing pad for polishing the main surface of the glass substrate for magnetic disk, the value of compressive deformation from the modulus value It was found that both the surface roughness and the edge shape of the glass substrate for a magnetic disk can be achieved when the value obtained by subtracting is within a specific range. Outside that range, the quality of either the roughness or the end shape can be satisfied, but the quality cannot be satisfied at the same time.

表面粗さに効果的な物性であるモジュラス値は、パッドの軟硬質性を表すものであり、値が小さくなるほど軟らかいパッドになる。   The modulus value, which is a physical property effective for the surface roughness, represents the softness and softness of the pad. The smaller the value, the softer the pad.

端部形状に効果的な物性である圧縮変形量は、規定の値を加えた際にパッドがどれだけ沈み込むかを表したものであり、値が小さいほど硬質パッドになる。   The amount of compressive deformation, which is an effective physical property for the end shape, represents how much the pad sinks when a specified value is applied. The smaller the value, the harder the pad.

研磨パッドは、厚みが0.55mm〜0.9mm、押圧力が66g/cm〜130g/cmである場合に、パッドモジュラス値からパッドの圧縮変形量値を引いた値が70乃至100であることが好ましい。 The polishing pad thickness 0.55Mm~0.9Mm, when the pressing force is 66g / cm 2 ~130g / cm 2 , a value obtained by subtracting the deformation amount value of the pad from the pad modulus value at 70 to 100 Preferably there is.

図1は、モジュラス値から圧縮変形量を引いた値と粗さ、端部形状品質の関係を示す図である。   FIG. 1 is a diagram showing a relationship between a value obtained by subtracting the amount of compressive deformation from a modulus value, roughness, and end shape quality.

図1に示すように、その範囲は以下の通りである。
〔モジュラス値〕−〔圧縮変形量〕=70以下:端部形状品質NG
〔モジュラス値〕−〔圧縮変形量〕=70以上:端部形状品質OK
〔モジュラス値〕−〔圧縮変形量〕=100以下:粗さ品質OK
〔モジュラス値〕−〔圧縮変形量〕=100以上:粗さ品質NG
〔モジュラス値〕−〔圧縮変形量〕=70〜100:粗さ及び端部形状品質OK
As shown in FIG. 1, the range is as follows.
[Modulus value]-[Compression deformation amount] = 70 or less: End shape quality NG
[Modulus value]-[Compression deformation amount] = 70 or more: End shape quality OK
[Modulus value]-[Compression deformation amount] = 100 or less: Roughness quality OK
[Modulus value]-[Compression deformation amount] = 100 or more: Roughness quality NG
[Modulus value]-[Compression deformation amount] = 70-100: Roughness and end shape quality OK

このように、モジュラス値−圧縮変形量=70〜100になる場合、粗さと端部形状を両立して満たすことができる。   Thus, when the modulus value−compression deformation amount = 70 to 100, the roughness and the end shape can be satisfied at the same time.

また、研磨パッドは、少なくとも表層が、発泡樹脂からなることが好ましい。さらに、研磨パッドの少なくとも表層をなす発泡樹脂は、Ester/Etherの混合樹脂であることが好ましい。   Further, it is preferable that at least the surface layer of the polishing pad is made of a foamed resin. Further, the foamed resin that forms at least the surface layer of the polishing pad is preferably a mixed resin of Ester / Ether.

研磨材は、粒径30nm以下のシリカ砥粒を用いることが好ましい。   The abrasive is preferably silica abrasive having a particle size of 30 nm or less.

そして、研磨パッドを用いた研磨は、押圧力66g/cm〜130g/cm、研磨機回転速度12rpm〜26rpm、研磨材流量300ml/min〜1500ml/min、パッド研磨時間8min〜60minの条件で行うことが好ましい。 The polishing using the polishing pad is performed under the conditions of a pressing force of 66 g / cm 2 to 130 g / cm 2 , a polishing machine rotational speed of 12 rpm to 26 rpm, an abrasive flow rate of 300 ml / min to 1500 ml / min, and a pad polishing time of 8 min to 60 min. Preferably it is done.

なお、研磨パッドを用いて研磨を行う前に、プレ研磨材及びプレ研磨パッドを用いてガラス基板の主表面を研磨するプレ研磨工程を有し、プレ研磨材は、セリウム砥粒であることが好ましい。   In addition, before performing polishing using the polishing pad, it has a pre-polishing step of polishing the main surface of the glass substrate using the pre-polishing material and the pre-polishing pad, and the pre-polishing material may be cerium abrasive grains. preferable.

以下、本発明を適用した磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクの製造方法について実施例を説明する。この磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクは、0.8インチ型ディスク(内径6mm、外径21.6mm、板厚0.381mm)、1.0インチ型ディスク(内径7mm、外径27.4mm、板厚0.381mm)、1.8インチ型磁気ディスク(内径12mm、外径48mm、板厚0.508mm)などの所定の形状を有する磁気ディスクとして製造される。また、2.5インチ型ディスクや3.5インチ型ディスクとして製造してもよい。   Embodiments of a magnetic disk glass substrate and a magnetic disk manufacturing method to which the present invention is applied will be described below. This glass substrate for magnetic disk and magnetic disk are 0.8 inch type disk (inner diameter 6 mm, outer diameter 21.6 mm, plate thickness 0.381 mm), 1.0 inch type disk (inner diameter 7 mm, outer diameter 27.4 mm, It is manufactured as a magnetic disk having a predetermined shape such as a plate thickness of 0.381 mm) and a 1.8 inch type magnetic disk (inner diameter of 12 mm, outer diameter of 48 mm, plate thickness of 0.508 mm). Further, it may be manufactured as a 2.5 inch type disc or a 3.5 inch type disc.

(1)形状加工工程及び第1ラッピング工程
まず、溶融させたアルミノシリケートガラスを上型、下型、胴型を用いたダイレクトプレスによりディスク形状に成型し、アモルファスの板状ガラスを得た。なお、アルミノシリケートガラスはSiOからなる網目状のガラス骨格と、修飾イオンとしてアルミニウムを含む構造を有し、アルカリ金属元素を含むガラスである。ダイレクトプレス以外に、ダウンドロー法やフロート法で形成したシートガラスから研削砥石で切り出して円盤状の磁気ディスク用ガラス基板を得てもよい。なお、アルミノシリケートガラスとしては、SiO:58〜75重量%、Al:5〜23重量%、LiO:3〜10重量%、NaO:4〜13重量%を主成分として含有する化学強化ガラスを使用した。
(1) Shape processing step and first lapping step First, the melted aluminosilicate glass was molded into a disk shape by direct pressing using an upper die, a lower die, and a barrel die to obtain an amorphous plate glass. The aluminosilicate glass is a glass containing an alkali metal element having a network-like glass skeleton made of SiO and a structure containing aluminum as a modifying ion. In addition to direct pressing, a disk-shaped glass substrate for a magnetic disk may be obtained by cutting a sheet glass formed by a downdraw method or a float method with a grinding wheel. As the aluminosilicate glass, SiO 2: 58 to 75 wt%, Al 2 O 3: 5~23 wt%, Li 2 O: 3 to 10 wt%, Na 2 O: 4 to 13 principal component weight% Chemically strengthened glass contained as

次に、この板状ガラスの両主表面をラッピング加工し、ディスク状のガラス母材とした。ラッピング加工は、板状ガラスの主表面にラップ定盤を押圧し、荒削りする研削加工である。   Next, both main surfaces of the plate glass were lapped to form a disk-shaped glass base material. The lapping process is a grinding process in which a lapping platen is pressed against the main surface of the sheet glass and roughed.

(2)切り出し工程(コアリング、フォーミング)
次に、円筒状のダイヤモンドドリルを用いて中心部に内孔を形成した(コアリング)。そして内周端面及び外周端面をダイヤモンド砥石によって研削し、所定の面取り加工を施した(フォーミング)。
(2) Cutting process (coring, forming)
Next, an inner hole was formed in the center using a cylindrical diamond drill (coring). Then, the inner peripheral end face and the outer peripheral end face were ground with a diamond grindstone and subjected to predetermined chamfering (forming).

(3)端面研磨工程
次に、ガラス基板の端面について、ブラシ研磨方法により、鏡面研磨を行った。この端面研磨工程により、ガラス基板の端面は、パーティクル等の発塵を防止できる鏡面状態に加工された。
(3) End surface polishing process Next, the end surface of the glass substrate was mirror-polished by a brush polishing method. By this end surface polishing step, the end surface of the glass substrate was processed into a mirror surface state capable of preventing generation of particles and the like.

(4)第2ラッピング工程
次に、得られたガラス基板の両主表面について、第1ラッピング工程と同様に、第2ラッピング加工を行った。この第2ラッピング工程を行うことにより、前工程である切り出し工程や端面研磨工程において主表面に形成された微細な凹凸形状を予め除去しておくことができ、後続の主表面に対する研磨工程を短時間で完了させることができるようになる。
(4) Second Lapping Step Next, a second lapping process was performed on both main surfaces of the obtained glass substrate in the same manner as in the first lapping step. By performing this second lapping process, it is possible to remove in advance the fine irregularities formed on the main surface in the previous cutting process and end face polishing process, and shorten the subsequent polishing process on the main surface. Will be able to be completed in time.

第2ラッピング工程では、砥粒の粒度として#1000を選択し、主表面の平坦度を3μm、表面粗さRmaxが2μm程度、算術平均粗さRaを0.2μm程度とした(Rmax及びRaは日本工業規格(JIS)B0601に従う)。なお、Rmax、Raは原子間力顕微鏡(AFM)(デジタルインスツルメンツ社製ナノスコープ)にて測定した。平坦度は平坦度測定装置で測定したもので、基板表面の最も高い部分と、最も低い部分との上下方向(表面に垂直な方向)の距離(高低差)である。   In the second lapping step, # 1000 is selected as the grain size of the abrasive grains, the flatness of the main surface is 3 μm, the surface roughness Rmax is about 2 μm, and the arithmetic average roughness Ra is about 0.2 μm (Rmax and Ra are According to Japanese Industrial Standard (JIS) B0601). Rmax and Ra were measured with an atomic force microscope (AFM) (Digital Instruments Nanoscope). The flatness is measured by a flatness measuring device, and is the distance (height difference) between the highest part and the lowest part of the substrate surface in the vertical direction (direction perpendicular to the surface).

(5)主表面の第1研磨工程(プレ研磨工程)
主表面の研磨工程として、まず第1研磨工程を施した。この第1研磨工程は次工程である第2研磨工程(鏡面研磨工程)に先立って予め主表面を研磨し、前述のラッピング工程において主表面に残留したキズや歪みを除去することを主たる目的とするものである。
(5) First polishing step of the main surface (pre-polishing step)
As a main surface polishing step, first, a first polishing step was performed. The primary purpose of this first polishing step is to polish the main surface in advance prior to the second polishing step (mirror polishing step), which is the next step, and to remove scratches and distortions remaining on the main surface in the lapping step described above. To do.

この第1研磨工程においては、一度に100枚から200枚のガラス基板を研磨可能な両面研磨装置によって研磨した。この両面研磨装置は、上記多数枚のガラス基板を研磨布を介して上方定盤及び下方定盤によって挟持し、遊星歯車機構によって相対的に移動させることにより研磨を行う。第1研磨工程における研磨布としては、硬質樹脂ポリッシャを用いた。研磨材としては酸化セリウム砥粒を用い、粒径の最大値が3.5μm、平均値が1.1μm、D50値が1.1μmのものを水に混入させて用いた。   In the first polishing step, 100 to 200 glass substrates were polished at once by a double-side polishing apparatus capable of polishing. This double-side polishing apparatus performs polishing by sandwiching a large number of glass substrates with an upper surface plate and a lower surface plate through a polishing cloth and relatively moving them by a planetary gear mechanism. A hard resin polisher was used as the polishing cloth in the first polishing step. As the abrasive, cerium oxide abrasive grains were used, and those having a maximum particle size of 3.5 μm, an average value of 1.1 μm, and a D50 value of 1.1 μm were mixed in water.

この第1研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。   The glass substrate which finished this 1st grinding | polishing process was immersed in each washing tank of neutral detergent, a pure water, and IPA (isopropyl alcohol) one by one, and was wash | cleaned.

(6)主表面の第2研磨工程
次に、主表面の研磨工程として、第2研磨工程を施した。この第2研磨工程は、主表面を鏡面状に仕上げることを目的とする。この第2研磨工程においては、第1研磨工程と同様の両面研磨装置により、前出の範囲内の値である研磨布として軟質発泡樹脂ポリッシャ、具体的には発泡ポリウレタンを用いて、主表面の鏡面研磨を行った。
(6) Second polishing step for main surface Next, a second polishing step was performed as a polishing step for the main surface. The purpose of this second polishing step is to finish the main surface into a mirror surface. In this second polishing step, a double-side polishing apparatus similar to the first polishing step is used, and a soft foamed resin polisher, specifically, polyurethane foam, is used as a polishing cloth having a value within the above-described range. Mirror polishing was performed.

すなわち、研磨パッドは、厚みが0.55mm〜0.9mm、押圧力が66g/cm〜130g/cmである場合に、パッドモジュラス値からパッドの圧縮変形量値を引いた値が70乃至100である。 That is, when the polishing pad has a thickness of 0.55 mm to 0.9 mm and a pressing force of 66 g / cm 2 to 130 g / cm 2 , a value obtained by subtracting the pad deformation value from the pad modulus value is 70 to 70. 100.

研磨材としては、粒径30nmのコロイド状シリカ砥粒を準備し、水と、全解離性の無機酸として硫酸、緩衝作用のある薬液として、有機酸である酒石酸加えて研磨液を作製した。研磨液中のシリカの含有量は5〜40重量%とすることが好ましい。本実施例では10重量%とした。研磨液中の残部は超純水である。   As an abrasive, colloidal silica abrasive grains having a particle diameter of 30 nm were prepared, and a polishing liquid was prepared by adding water, sulfuric acid as a total dissociating inorganic acid, and tartaric acid as an organic acid as a chemical solution having a buffering action. The content of silica in the polishing liquid is preferably 5 to 40% by weight. In this example, it was 10% by weight. The balance in the polishing liquid is ultrapure water.

そして、研磨条件は、押圧力66g/cm〜130g/cm、研磨機回転速度12rpm〜26rpm、研磨材流量300ml/min〜1500ml/min、パッド研磨時間8min〜60minとした。 The polishing conditions, the pressing force 66g / cm 2 ~130g / cm 2 , the polishing machine rotating speed 12Rpm~26rpm, abrasive flow rate 300ml / min~1500ml / min, and a pad polishing time 8Min~60min.

(7)鏡面研磨処理後の洗浄工程
第2研磨工程を終えたガラス基板を、濃度3〜5wt%のNaOH水溶液に浸漬してアルカリ洗浄を行った。尚、洗浄は超音波を印加して行った。さらに、中性洗剤、純水、純水、IPA、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して洗浄した。なお、各洗浄槽には、超音波を印加した。
(7) Cleaning step after mirror polishing The glass substrate after the second polishing step was immersed in an aqueous NaOH solution having a concentration of 3 to 5 wt% to perform alkali cleaning. The cleaning was performed by applying ultrasonic waves. Furthermore, it wash | cleaned by immersing in each washing tank of neutral detergent, a pure water, a pure water, IPA, and IPA (steam drying) sequentially. Note that ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

(8)化学強化工程
次に、前述のラッピング工程及び第1研磨工程、第2研磨工程を終えたガラス基板に、化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を375℃に加熱しておくとともに、洗浄済みのガラス基板を300℃に予熱し、化学強化溶液中に約3時間浸漬することによって行った。この浸漬の際には、ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラス基板が端面で保持されるように、ホルダに収納した状態で行った。
(8) Chemical strengthening process Next, the glass substrate which finished the above-mentioned lapping process, the 1st grinding | polishing process, and the 2nd grinding | polishing process was chemically strengthened. For chemical strengthening, a chemical strengthening solution prepared by mixing potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) is prepared, and the chemically strengthened solution is heated to 375 ° C., and the cleaned glass substrate is preheated to 300 ° C. And was immersed in the chemical strengthening solution for about 3 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, it was performed in a state of being housed in a holder so that a plurality of glass substrates were held at the end surfaces.

このように、化学強化溶液に浸漬処理することによって、ガラス基板の表層のリチウムイオン及びナトリウムイオンが、化学強化溶液中のナトリウムイオン及びカリウムイオンにそれぞれ置換され、ガラス基板が強化される。ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層の厚さは、約100μmから200μmであった。   Thus, by immersing in a chemical strengthening solution, the lithium ion and sodium ion of the surface layer of a glass substrate are each substituted by the sodium ion and potassium ion in a chemical strengthening solution, and a glass substrate is strengthened. The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate was about 100 μm to 200 μm.

化学強化処理を終えたガラス基板を、20℃の水槽に浸漬して急冷し、約10分間維持した。そして、急冷を終えたガラス基板を、約40℃に加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行った。さらに、硫酸洗浄を終えたガラス基板を純水、IPA(イソプロピルアルコール)の各洗浄槽に順次浸漬して洗浄した。   The glass substrate that had been subjected to the chemical strengthening treatment was immersed in a 20 ° C. water bath and rapidly cooled, and maintained for about 10 minutes. And the glass substrate which finished quenching was immersed in the concentrated sulfuric acid heated at about 40 degreeC, and was wash | cleaned. Further, the glass substrate after the sulfuric acid cleaning was cleaned by immersing in a cleaning bath of pure water and IPA (isopropyl alcohol) sequentially.

(9)磁気ディスク用ガラス基板の検査工程
以上のように製造された磁気ディスク用ガラス基板の検査を行った。ガラス基板の表面は清浄な鏡面状態であった。表面には、磁気ヘッドの浮上を妨げる異物や、サーマルアスペリティ障害の原因となる異物は存在しなかった。すなわち、平坦、かつ、平滑な、高剛性の磁気ディスク用ガラス基板を得た。
(9) Inspection step of glass substrate for magnetic disk The glass substrate for magnetic disk manufactured as described above was inspected. The surface of the glass substrate was a clean mirror surface. There were no foreign objects on the surface that could hinder the flying of the magnetic head or cause thermal asperity failure. That is, a flat and smooth high-rigidity glass substrate for a magnetic disk was obtained.

以上のように製造された磁気ディスク用のガラス基板を用いて垂直磁気記録方式の磁気ディスクを製造した。   Using the magnetic disk glass substrate manufactured as described above, a perpendicular magnetic recording type magnetic disk was manufactured.

(10)磁気ディスク製造工程
上述した工程を経て得られたガラス基板の両面に、ガラス基板の表面にCr合金からなる付着層、CoTaZr基合金からなる軟磁性層、Ruからなる下地層、CoCrPt基合金からなる垂直磁気記録層、水素化炭素からなる保護層、パーフルオロポリエーテルからなる潤滑層を順次成膜することにより、垂直磁気記録ディスクを製造した。なお、本構成は垂直磁気ディスクの構成の一例であるが、面内磁気ディスクとして磁性層等を構成してもよい。
(10) Magnetic disk manufacturing process On both surfaces of the glass substrate obtained through the above-described processes, an adhesion layer made of a Cr alloy, a soft magnetic layer made of a CoTaZr-based alloy, an underlayer made of Ru, and a CoCrPt group on the surface of the glass substrate A perpendicular magnetic recording disk was manufactured by sequentially forming a perpendicular magnetic recording layer made of an alloy, a protective layer made of hydrogenated carbon, and a lubricating layer made of perfluoropolyether. Although this configuration is an example of a configuration of a perpendicular magnetic disk, a magnetic layer or the like may be configured as an in-plane magnetic disk.

(11)磁気ディスクの検査工程
以上のように製造された磁気ディスクの検査を行った。浮上量が10nmである検査用ヘッドを用いて磁気ディスク上を浮上走行させるヘッドクラッシュ試験を行ったところ、磁気ヘッドが異物等に接触することがなく、クラッシュ障害は生じなかった。
(11) Magnetic disk inspection process The magnetic disk manufactured as described above was inspected. When a head crash test was carried out by flying over a magnetic disk using an inspection head having a flying height of 10 nm, the magnetic head did not come into contact with a foreign object or the like, and no crash failure occurred.

次に、実施例のガラス基板からなる磁気ディスクに対し、浮上量が8nmであって、再生素子部が磁気抵抗効果型素子、記録素子部が単磁極型素子を用いて、垂直記録方式による記録再生試験を行ったところ、正常に情報が記録、再生されることを確認した。再生信号にサーマルアスペリティ信号が検出されることも無かった。1平方インチ当り100ギガビットで記録再生を行うことができた。   Next, with respect to the magnetic disk formed of the glass substrate of the example, the flying height is 8 nm, the reproducing element portion is a magnetoresistive element, the recording element portion is a single magnetic pole element, and recording is performed by the perpendicular recording method. When a reproduction test was performed, it was confirmed that information was recorded and reproduced normally. The thermal asperity signal was not detected in the reproduction signal. Recording and reproduction could be performed at 100 gigabits per square inch.

次に、実施例のガラス基板からなる磁気ディスクに対し、グライドハイト試験を行った。この試験は、検査用ヘッドの浮上量を次第に低下させた場合に、どの浮上量で検査用ヘッドと磁気ディスクとの接触が生じるのかを確認する試験である。結果、本実施例の磁気ディスクでは、磁気ディスクの内縁部分から外縁部分に渡って、浮上量が4nmであっても接触が生じなかった。磁気ディスクの外縁部分においては、グライドハイトは3.7nmであった。   Next, a glide height test was performed on the magnetic disk made of the glass substrate of the example. In this test, when the flying height of the inspection head is gradually lowered, the flying height is checked to determine the contact between the testing head and the magnetic disk. As a result, in the magnetic disk of this example, no contact occurred even when the flying height was 4 nm from the inner edge portion to the outer edge portion of the magnetic disk. At the outer edge portion of the magnetic disk, the glide height was 3.7 nm.

以上、本発明の好適な実施例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   As mentioned above, although the suitable Example of this invention was described, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to the example which concerns. It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made within the scope of the claims, and these are naturally within the technical scope of the present invention. Understood.

モジュラス値−圧縮変形量の値と粗さ、端部形状品質の関係を表した図である。It is a figure showing the relationship between the value of a modulus value-compression deformation amount, roughness, and end shape quality.

Claims (8)

円盤状のガラス基板の両主表面に、研磨パッドを押圧させ、これらガラス基板及び研磨パッドとの間に研磨材を含む研磨液を供給しながら、前記ガラス基板と前記研磨パッドとを相対的に移動させて、前記ガラス基板の主表面を研磨して、磁気ディスク用ガラス基板を製造する製造方法において、
前記研磨パッドは、厚みが0.55mm〜0.9mm、押圧力が66g/cm〜130g/cmである場合に、パッドモジュラス値からパッドの圧縮変形量値を引いた値が70乃至100である
ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
While pressing a polishing pad against both main surfaces of a disk-shaped glass substrate and supplying a polishing liquid containing an abrasive between the glass substrate and the polishing pad, the glass substrate and the polishing pad are relatively In the manufacturing method of moving and polishing the main surface of the glass substrate to manufacture a glass substrate for a magnetic disk,
The polishing pad has a thickness of 0.55Mm~0.9Mm, when the pressing force is 66g / cm 2 ~130g / cm 2 , a value obtained by subtracting the deformation amount value of the pad from the pad modulus value of 70 to 100 A method for producing a glass substrate for a magnetic disk, wherein:
前記研磨パッドは、少なくとも表層が、発泡樹脂からなる
ことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein at least a surface layer of the polishing pad is made of a foamed resin.
前記研磨パッドの少なくとも表層をなす発泡樹脂は、Ester/Etherの混合樹脂である
ことを特徴とする請求項2記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 2, wherein the foamed resin forming at least a surface layer of the polishing pad is a mixed resin of Ester / Ether.
前記研磨材は、粒径30nm以下のシリカ砥粒である
ことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein the abrasive is silica abrasive grains having a particle size of 30 nm or less.
前記研磨パッドを用いた研磨は、押圧力66g/cm〜130g/cm、研磨機回転速度12rpm〜26rpm、研磨材流量300ml/min〜1500ml/min、パッド研磨時間8min〜60minの条件で行う
ことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
Polishing using the polishing pad is performed pressing force 66g / cm 2 ~130g / cm 2 , the polishing machine rotating speed 12Rpm~26rpm, abrasive flow rate 300ml / min~1500ml / min, under conditions of pad polishing time 8min~60min The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1.
前記研磨パッドを用いて研磨を行う前に、プレ研磨材及びプレ研磨パッドを用いて前記ガラス基板の主表面を研磨するプレ研磨工程を有し、
前記プレ研磨材は、セリウム砥粒である
ことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
Before polishing using the polishing pad, a pre-polishing step of polishing the main surface of the glass substrate using a pre-polishing material and a pre-polishing pad;
The method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein the pre-abrasive material is cerium abrasive grains.
請求項1乃至請求項6のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により得られたガラス基板の表面に、少なくとも磁性層を形成する
ことを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
A method for manufacturing a magnetic disk, comprising forming at least a magnetic layer on a surface of a glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of claims 1 to 6.
前記磁気ディスクは、垂直磁気記録方式用磁気ディスクであって、
前記磁性層は、複数の層からなり、少なくとも1層は、軟磁性層である
ことを特徴とする請求項7記載の磁気ディスクの製造方法。
The magnetic disk is a magnetic disk for perpendicular magnetic recording system,
The method of manufacturing a magnetic disk according to claim 7, wherein the magnetic layer includes a plurality of layers, and at least one layer is a soft magnetic layer.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012101959A (en) * 2010-11-08 2012-05-31 Hoya Corp Method for producing substrate for mask blank, method for producing the mask blank, and method for producing mask for transfer

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004063062A (en) * 2002-06-05 2004-02-26 Nippon Sheet Glass Co Ltd Method for manufacturing glass substrate for information recording medium, and glass substrate for information recording medium manufactured by the manufacturing method
JP2004303280A (en) * 2003-03-28 2004-10-28 Hoya Corp Method for manufacturing glass substrate for information recording medium
JP2004303281A (en) * 2003-03-28 2004-10-28 Nippon Sheet Glass Co Ltd Polishing pad, manufacturing method of information recording medium glass substrate using above pad and information recording medium glass substrate obtained by above method
JP2005141852A (en) * 2003-11-07 2005-06-02 Hoya Corp Manufacturing method for glass substrate for magnetic disk, and manufacturing method for magnetic disk
JP2005161490A (en) * 2003-12-04 2005-06-23 Diatex Co Ltd Backing material for polishing pad
JP2007250166A (en) * 2006-02-14 2007-09-27 Hoya Corp Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk
JP2008013655A (en) * 2006-07-05 2008-01-24 Kao Corp Grinding liquid composition for glass substrate

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004063062A (en) * 2002-06-05 2004-02-26 Nippon Sheet Glass Co Ltd Method for manufacturing glass substrate for information recording medium, and glass substrate for information recording medium manufactured by the manufacturing method
JP2004303280A (en) * 2003-03-28 2004-10-28 Hoya Corp Method for manufacturing glass substrate for information recording medium
JP2004303281A (en) * 2003-03-28 2004-10-28 Nippon Sheet Glass Co Ltd Polishing pad, manufacturing method of information recording medium glass substrate using above pad and information recording medium glass substrate obtained by above method
JP2005141852A (en) * 2003-11-07 2005-06-02 Hoya Corp Manufacturing method for glass substrate for magnetic disk, and manufacturing method for magnetic disk
JP2005161490A (en) * 2003-12-04 2005-06-23 Diatex Co Ltd Backing material for polishing pad
JP2007250166A (en) * 2006-02-14 2007-09-27 Hoya Corp Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk
JP2008013655A (en) * 2006-07-05 2008-01-24 Kao Corp Grinding liquid composition for glass substrate

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012101959A (en) * 2010-11-08 2012-05-31 Hoya Corp Method for producing substrate for mask blank, method for producing the mask blank, and method for producing mask for transfer

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