JP2010080862A - Printed wiring board and manufacturing method therefor - Google Patents

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JP2010080862A JP2008250387A JP2008250387A JP2010080862A JP 2010080862 A JP2010080862 A JP 2010080862A JP 2008250387 A JP2008250387 A JP 2008250387A JP 2008250387 A JP2008250387 A JP 2008250387A JP 2010080862 A JP2010080862 A JP 2010080862A
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Tomoyuki Shibagaki
智幸 柴垣
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a printed wiring board which can form a fine conductor circuit which ensures that a conductor circuit has a higher density and computation processings are performed at a higher speed, even though the surface of the conductor circuit is superior in adhesive properties, despite the surface being smooth. <P>SOLUTION: The printed wiring board is formed by an additive process, such that: an interlayer insulating resin layer (A) is formed on an internal layer circuit substrate (F), and a conductor circuit (B) is formed on the surface of the interlayer insulating resin layer (A) by nonelectrolytic plating and/or electrolytic plating, wherein the interlayer insulating resin layer includes at least one layer of sensitive resin layer (a); the underside (Bb) of the conductor circuit (B) is located lower than the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A); and numerical relation 1: (d)≥3 μm, and relation 2:(h)-(d)≥3 μm are satisfied. In the numerical expressions, (d) represents the depth of the underside (Bb) of the conductor circuit (B) from the surface (At) of the interlayer insulation resin layer (A), while (h) represents the thickness of the interlayer insulation resin layer. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、プリント配線板及びプリント配線板の製造方法に関し、更に該製造方法に使用するのに好適なプリント配線板用層間絶縁樹脂及びプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルムに関する。   The present invention relates to a printed wiring board and a method for manufacturing a printed wiring board, and further relates to an interlayer insulating resin for a printed wiring board and an interlayer insulating resin film for a printed wiring board that are suitable for use in the manufacturing method.

近年、電子機器、通信機器等に用いられるプリント配線板には、導体回路の高密度化、演算処理速度の高速化の要求が強まっている。それに伴い多層プリント配線板の製造方法として、回路基板の導体層上に層間絶縁層を交互に積み上げていくビルドアップ方式の製造技術が注目されている。   In recent years, printed circuit boards used for electronic devices, communication devices, and the like have been increasingly demanded to increase the density of conductor circuits and increase the processing speed. Accordingly, as a method of manufacturing a multilayer printed wiring board, a build-up manufacturing technique in which interlayer insulating layers are alternately stacked on a conductor layer of a circuit board has attracted attention.

一般的にビルドアップ方式の導体回路形成方法としては、例えば、層間樹脂表面に無電解メッキ単独、または無電解メッキと電解メッキで導体回路を形成するアディティブ法および層間絶縁樹脂表面に予め形成された導体層をエッチングすることにより導体回路を形成するサブトラクティブ法等が知られている。通常、導体回路の高密度化は、サブトラクティブ法では導体層のエッチング精度が悪いため困難であり、アディティブ法が適している。   In general, as a method for forming a conductor circuit of a build-up method, for example, an additive method in which a conductive circuit is formed by electroless plating alone or electroless plating and electrolytic plating on an interlayer resin surface, and an interlayer insulating resin surface is formed in advance. A subtractive method for forming a conductor circuit by etching a conductor layer is known. Usually, it is difficult to increase the density of the conductor circuit by the subtractive method because the etching accuracy of the conductor layer is poor, and the additive method is suitable.

アディティブ法で使用されるプリント配線板の層間絶縁樹脂は、エポキシ樹脂にフィラーを分散させたものが用いられ、導体層との密着性を得るために、過マンガン酸溶液などによる粗化により基板表面にサブミクロンから数ミクロンオーダーの複雑な凸凹を形成し、この投錨効果によってピール強度(絶縁樹脂層から導体層を基板表面に対して垂直に引きはがすのに要する単位幅あたりの力)を向上させ、導体回路の密着性を得ている。
しかし、層間絶縁樹脂表面の凸凹が大きい場合、形成される導体回路の間の幅の制限も大きくなるため導体回路の微細化に限界がある。さらに演算処理速度の高速化に伴う高周波化により表皮効果が大きくなり、導体回路表面の凸凹による伝送損失が発生する。このため粗化は極力避け、可能であれば完全平滑面に導体回路形成する必要がある。
The interlayer insulation resin of the printed wiring board used in the additive method is made by dispersing filler in an epoxy resin. In order to obtain adhesion to the conductor layer, the substrate surface is roughened with a permanganic acid solution or the like. Forming complex irregularities on the order of sub-micron to several microns, this throwing effect improves peel strength (force per unit width required to peel the conductor layer from the insulating resin layer perpendicular to the substrate surface). The adhesion of the conductor circuit is obtained.
However, when the unevenness of the surface of the interlayer insulating resin is large, there is a limit to miniaturization of the conductor circuit because the restriction on the width between the formed conductor circuits is also large. Furthermore, the skin effect increases due to the higher frequency accompanying the higher processing speed, and transmission loss occurs due to unevenness on the surface of the conductor circuit. For this reason, it is necessary to avoid roughening as much as possible and to form a conductor circuit on a completely smooth surface if possible.

平滑な表面で導体層とのピール強度を得る方法としては、例えば、層間絶縁樹脂層表面に導体層との化学的密着力の高い官能基を持たせる方法やナノレベルの凹凸を形成する方法等が提案されている。(特許文献1)
しかし、層間樹脂層表面に導体回路を形成する方法では、導体回路幅が小さくなると密着性が低下し、またわずかな衝撃で導体回路が剥離する危険性が高くなっている。
Examples of a method for obtaining a peel strength with a conductor layer on a smooth surface include a method of imparting a functional group having high chemical adhesion to the conductor layer on the surface of the interlayer insulating resin layer, a method of forming nano-level unevenness, etc. Has been proposed. (Patent Document 1)
However, in the method of forming a conductor circuit on the surface of the interlayer resin layer, when the width of the conductor circuit is reduced, the adhesion is lowered, and the risk that the conductor circuit is peeled off with a slight impact is increased.

一方、平滑な表面で導体回路の十分な密着力を得る方法としては、導体回路を層間絶縁樹脂層に埋め込む方法が提案されている(特許文献2、特許文献3)。
しかし、上記の埋め込む方法は導体層をエッチングし導体回路を形成するサブトラクティブ法であり、導体回路の微細化は困難である。
従って、導体回路の高密度化、演算処理速度の高速化を実現するために、微細な導体回路で表面が平滑であるにもかかわらず導体回路の密着性に優れたプリント配線板が要求されている。
特開2008−50541 特開2005−243899 特開2007−221068
On the other hand, as a method for obtaining a sufficient adhesion of a conductor circuit on a smooth surface, a method of embedding the conductor circuit in an interlayer insulating resin layer has been proposed (Patent Documents 2 and 3).
However, the above-described embedding method is a subtractive method in which the conductor layer is etched to form a conductor circuit, and it is difficult to miniaturize the conductor circuit.
Therefore, in order to realize higher density of conductor circuits and higher processing speed, printed circuit boards with excellent adhesion of conductor circuits are required despite the fact that the surface is smooth with fine conductor circuits. Yes.
JP2008-50541 JP-A-2005-243899 JP2007-2221068

本発明は、導体回路の高密度化および演算処理速度の高速化されたプリント配線板を提供するために、微細な導体回路形成可能で、導体回路表面が平滑であるにもかかわらず導体回路の密着性に優れたプリント配線板の製造法および製造に適した層間絶縁樹脂フィルムを提供することを目的とする。   In order to provide a printed wiring board with a high density of the conductor circuit and a high processing speed, the present invention can form a fine conductor circuit, and the conductor circuit has a smooth surface despite the fact that the surface of the conductor circuit is smooth. It aims at providing the interlayer insulation resin film suitable for the manufacturing method and manufacture of a printed wiring board excellent in adhesiveness.

本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、本発明に到達した。
すなわち、本発明は、内層回路基板(F)の上に層間絶縁樹脂層(A)を形成し、該層間絶縁樹脂層(A)の表面に無電解メッキおよび/または電解メッキにより導体回路(B)を形成するアディティブ法によるプリント配線板であって、該層間絶縁樹脂層が少なくとも1層の感光性樹脂層(a)を含み、導体回路(B)の底面(Bb)が層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)より下に位置し、下記数式(1)と数式(2)を満たす構造を有することを特徴とするプリント配線板;並びに
アディティブ法によるプリント配線板の製造法において、該層間絶縁樹脂層(A)が少なくとも1層の感光性樹脂層(a)を含み、該層間絶縁樹脂層(A)に導体回路パターン形状に紫外線照射と現像する工程(I)を行って下記数式(3)と数式(4)を満たす溝(C)を形成した後に、該溝(C)に導体回路(B)を形成する工程(II)を行うことを特徴とするプリント配線板の製造方法である。
d≧3μm (1)
h−d≧3μm (2)
d’≧3μm (3)
h−d’≧3μm (4)
[dは導体回路(B)の底面(Bb)の層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)からの深さ;d’は溝(C)の底面(Cb)の層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)からの深さを表し、hは層間絶縁樹脂層の厚さを表す。]
The inventors of the present invention have arrived at the present invention as a result of intensive studies to solve the above problems.
That is, according to the present invention, an interlayer insulating resin layer (A) is formed on an inner layer circuit board (F), and a conductive circuit (B) is formed on the surface of the interlayer insulating resin layer (A) by electroless plating and / or electrolytic plating. ), And the interlayer insulating resin layer includes at least one photosensitive resin layer (a), and the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) is an interlayer insulating resin layer ( In the method for producing a printed wiring board by an additive method, wherein the printed wiring board is located below the surface (At) of A) and has a structure satisfying the following mathematical formulas (1) and (2): The interlayer insulating resin layer (A) includes at least one photosensitive resin layer (a), and the interlayer insulating resin layer (A) is subjected to a step (I) of developing and irradiating the conductive circuit pattern shape with ultraviolet rays, and (3) and formula (4) After forming the groove | channel (C) which satisfy | fills, it is a manufacturing method of the printed wiring board characterized by performing the process (II) which forms a conductor circuit (B) in this groove | channel (C).
d ≧ 3 μm (1)
hd ≧ 3 μm (2)
d ′ ≧ 3 μm (3)
hd ′ ≧ 3 μm (4)
[D is the depth of the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A); d ′ is the interlayer insulating resin layer (A of the bottom surface (Cb) of the groove (C) ) Represents the depth from the surface (At), and h represents the thickness of the interlayer insulating resin layer. ]

第1発明のプリント配線板、および第2発明の製造法で得られたプリント配線板は、微細な導体回路の形成が可能なアディティブ法で、導体回路(B)の底面(Bb)が層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)から下に位置する構造、すなわち導体回路(B)が層間絶縁樹脂層(A)に埋め込まれた構造を持つことにより、微細な導体回路で表面が平滑であるにもかかわらず導体回路の密着性に優れる。
また、その後のプロセスにより導体回路の剥れが発生しないことから、導体回路の高密度化、演算処理速度の高速化に適したプリント配線板が提供される。
The printed wiring board of the first invention and the printed wiring board obtained by the manufacturing method of the second invention are additive methods capable of forming a fine conductor circuit, and the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) is interlayer-insulated. By having a structure located below the surface (At) of the resin layer (A), that is, a structure in which the conductor circuit (B) is embedded in the interlayer insulating resin layer (A), the surface is smooth with fine conductor circuits. Despite being excellent in adhesion of conductor circuits.
Further, since the conductor circuit does not peel off in the subsequent process, a printed wiring board suitable for increasing the density of the conductor circuit and increasing the processing speed is provided.

本発明のプリント配線板は、内層回路基板(F)上に層間絶縁樹脂層(A)を形成し、この層間絶縁樹脂層(A)の表面に無電解メッキ単独、または無電解メッキと電解メッキにより導体回路(B)を形成する微細な導体回路形成に適したアディティブ法によるもので、この層間絶縁樹脂層(A)が少なくとも1層の感光性樹脂層(a)を含む。   In the printed wiring board of the present invention, the interlayer insulating resin layer (A) is formed on the inner circuit board (F), and the surface of the interlayer insulating resin layer (A) is electroless plating alone, or electroless plating and electrolytic plating. By this additive method suitable for forming a fine conductor circuit for forming a conductor circuit (B), this interlayer insulating resin layer (A) includes at least one photosensitive resin layer (a).

さらに、導体回路(B)の底面(Bb)が層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)より下に位置する構造を持つことを特徴とし、導体回路(B)の底面(Bb)の層間絶縁樹脂(A)の表面(At)からの深さ(d)と層間絶縁樹脂層(A)の厚さ(h)が、d≧3μmかつh−d≧3μmとなるように設計することで導体回路の密着性を得ることができる。
すなわち、下記数式(1)と数式(2)を満たすことを特徴とする。
d≧3μm (1)
h−d≧3μm (2)
但し、dは導体回路(B)の底面(Bb)の層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)からの深さ(μm)、hは層間絶縁樹脂層の厚さ(μm)を表す。
Furthermore, the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) has a structure located below the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A), and the interlayer of the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) By designing the depth (d) of the insulating resin (A) from the surface (At) and the thickness (h) of the interlayer insulating resin layer (A) so that d ≧ 3 μm and hd ≧ 3 μm. Adhesion of the conductor circuit can be obtained.
That is, the following formula (1) and formula (2) are satisfied.
d ≧ 3 μm (1)
hd ≧ 3 μm (2)
Here, d represents the depth (μm) of the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A), and h represents the thickness (μm) of the interlayer insulating resin layer.

図1は本発明によるプリント配線板の断面図の一例であり、図2は従来技術によるプリント配線板の層間絶縁樹脂層(A)、導体回路(B)および内層回路基板(F)の位置関係を示す断面図の一例である。
従来のプリント配線板(図2参照)は、層間絶縁樹脂層の表面(At)に導体回路(B)が形成され、導体回路(B)の底面(Bb)と層間絶縁樹脂層の表面(At)が同じ高さであるのに対し、本発明のプリント配線板(図1参照)は、層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)よりも導体回路(B)の底面(Bb)が下に位置することを特徴とする。
FIG. 1 is an example of a cross-sectional view of a printed wiring board according to the present invention, and FIG. 2 is a positional relationship between an interlayer insulating resin layer (A), a conductor circuit (B), and an inner layer circuit board (F) of the printed wiring board according to the prior art. It is an example of sectional drawing which shows.
In the conventional printed wiring board (see FIG. 2), the conductor circuit (B) is formed on the surface (At) of the interlayer insulating resin layer, and the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) and the surface of the interlayer insulating resin layer (At) ) Have the same height, the printed wiring board of the present invention (see FIG. 1) has the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) lower than the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A). It is located in.

第2発明の製造方法において、層間絶縁樹脂層(A)に少なくとも1層の感光性樹脂層(a)を含むことにより、この層間絶縁樹脂層(A)に導体回路パターン形状に紫外線照射と現像する工程(I)を行って下記数式(3)と数式(4)を満たす深さの溝(C)を形成することができる。
d’≧3μm (3)
h−d’≧3μm (4)
[d’は溝(C)の底面(Cb)の層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)からの深さ(μm)を表し、hは層間絶縁樹脂層の厚さ(μm)を表す。]
In the manufacturing method of the second invention, the interlayer insulating resin layer (A) includes at least one photosensitive resin layer (a), and thus the interlayer insulating resin layer (A) is irradiated with ultraviolet rays and developed into a conductor circuit pattern shape. The groove (C) having a depth satisfying the following formulas (3) and (4) can be formed by performing the step (I).
d ′ ≧ 3 μm (3)
hd ′ ≧ 3 μm (4)
[D ′ represents the depth (μm) of the bottom surface (Cb) of the groove (C) from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A), and h represents the thickness (μm) of the interlayer insulating resin layer. . ]

この溝(C)に導体回路(B)を形成する工程(II)を行うことで、容易に導体回路(B)の底面(Bb)が層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)から下に位置し、下記数式(1)と数式(2)を満たすプリント配線板を形成することができる。
d≧3μm (1)
h−d≧3μm (2)
[dは導体回路(B)の底面(Bb)の層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)からの深さ(μm)を表し、hは層間絶縁樹脂層の厚さ(μm)を表す。]
By performing the step (II) of forming the conductor circuit (B) in the groove (C), the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) can be easily lowered from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A). It is possible to form a printed wiring board that is positioned at and satisfies the following mathematical formulas (1) and (2).
d ≧ 3 μm (1)
hd ≧ 3 μm (2)
[D represents the depth (μm) from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A) of the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B), and h represents the thickness (μm) of the interlayer insulating resin layer. . ]

図3は工程(I)と工程(II)による本発明のプリント配線板の製造法の説明図であり、層間絶縁樹脂層(A)、導体回路(B)、溝(C)および内層回路基板(F)の位置関係を示す断面図の一例である。
本発明のプリント配線板製造法は、工程(I)により層間絶縁樹脂層(A)に深さd’の溝(C)を形成し、工程(II)によりこの溝(C)に導体回路(B)を形成することを特徴とする。
FIG. 3 is an explanatory view of the method for producing a printed wiring board of the present invention according to the steps (I) and (II), and shows an interlayer insulating resin layer (A), a conductor circuit (B), a groove (C), and an inner layer circuit board. It is an example of sectional drawing which shows the positional relationship of (F).
In the printed wiring board manufacturing method of the present invention, a groove (C) having a depth d ′ is formed in the interlayer insulating resin layer (A) by the step (I), and the conductor circuit ( B) is formed.

また、層間絶縁樹脂層(A)は、感光性樹脂層(a)と熱硬化性樹脂層(b)より形成されてもよい。これら感光性樹脂層(a)及び熱硬化性樹脂層(b)は、それぞれ樹脂組成の異なる1種類以上の層からなる複合層でもよい。   The interlayer insulating resin layer (A) may be formed of a photosensitive resin layer (a) and a thermosetting resin layer (b). The photosensitive resin layer (a) and the thermosetting resin layer (b) may be a composite layer composed of one or more layers having different resin compositions.

例えば、感光性樹脂層(a)が樹脂組成の異なる感光性樹脂層(ax)と感光性樹脂層(ay)からなるもの、熱硬化性樹脂層(b)がそれぞれ樹脂組成の異なる熱硬化性樹脂層(bx)と熱硬化性樹脂層(by)とからなるもの等が挙げられる。
このような複合層の例を図4に示す。
内層回路基板(F)を最下層とした場合、上層に向かって、図4中の(2)熱硬化性樹脂層(b)−感光性樹脂層(a)、(3)熱硬化性樹脂層(b)−感光性樹脂層(ay)−感光性樹脂層(ax)、(4)熱硬化性樹脂層(by)−熱硬化性樹脂層(bx)−感光性樹脂層(ay)−感光性樹脂層(ax)の順に積層されてなる場合などが挙げられる。
層間絶縁樹脂層(A)の構成としては、層間絶縁樹脂層(A)の表面に位置する樹脂層が感光性樹脂層(a)であることが好ましく、さらに好ましくは内層回路基板(F)を最下層とした場合、上層に向かって熱硬化性樹脂層(b)−感光性樹脂層(a)の順になるよう積層されてなるものである。このようにすると、導体回路パターン形状の紫外線照射と現像する工程(I)により、配線を埋め込むための溝(C)の深さを調整することが容易となり、導体回路(B)が埋め込まれた構造を持つプリント配線板の製造に好適である。
For example, the photosensitive resin layer (a) is composed of a photosensitive resin layer (ax) and a photosensitive resin layer (ay) having different resin compositions, and the thermosetting resin layer (b) is a thermosetting resin having a different resin composition. Examples thereof include a resin layer (bx) and a thermosetting resin layer (by).
An example of such a composite layer is shown in FIG.
When the inner layer circuit board (F) is the lowermost layer, (2) thermosetting resin layer (b) -photosensitive resin layer (a), (3) thermosetting resin layer in FIG. 4 toward the upper layer. (B) -photosensitive resin layer (ay) -photosensitive resin layer (ax), (4) thermosetting resin layer (by) -thermosetting resin layer (bx) -photosensitive resin layer (ay) -photosensitive The case where it laminates | stacks in order of the conductive resin layer (ax) is mentioned.
As the structure of the interlayer insulating resin layer (A), the resin layer located on the surface of the interlayer insulating resin layer (A) is preferably a photosensitive resin layer (a), more preferably an inner layer circuit board (F). When the lowermost layer is formed, the layers are laminated in the order of thermosetting resin layer (b) -photosensitive resin layer (a) toward the upper layer. In this way, it becomes easy to adjust the depth of the groove (C) for embedding the wiring by the ultraviolet irradiation of the conductive circuit pattern shape and the developing step (I), and the conductive circuit (B) is embedded. It is suitable for manufacturing a printed wiring board having a structure.

導体回路の密着性を得るためには、本発明の導体回路(B)の底面(Bb)は、通常、層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)から3μm〜(h−3)μmの深さに位置する。好ましくは4〜(h−4)μm、特に好ましくは5〜(h−5)μmの深さに位置する。
すなわち層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)と導体回路(B)の底面(Bb)までの深さdは、通常3μm以上であり、好ましくは4μm以上、特に好ましくは5μm以上である。また、この深さdは、通常(h−3)μm以下であり、好ましくは(h−4)μm以下、特に好ましくは(h−5)μm以下である。
深さdが3μm未満であると十分な導体回路の密着性を得ることができず、(h−3)μmよりも大きいとプリント配線板の層間の絶縁性が悪くなるという問題がある。
In order to obtain the adhesion of the conductor circuit, the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) of the present invention is usually 3 μm to (h−3) μm from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A). Located at depth. It is preferably located at a depth of 4 to (h-4) μm, particularly preferably 5 to (h-5) μm.
That is, the depth d from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A) to the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) is usually 3 μm or more, preferably 4 μm or more, particularly preferably 5 μm or more. The depth d is usually (h-3) μm or less, preferably (h-4) μm or less, particularly preferably (h-5) μm or less.
If the depth d is less than 3 μm, sufficient conductor circuit adhesion cannot be obtained, and if it is greater than (h-3) μm, there is a problem that the insulation between the layers of the printed wiring board is deteriorated.

層間絶縁樹脂層(A)の厚さ(h)は、内層回路パターン、表面ビアホールを充填するためには、10〜200μmが好ましく、さらに好ましくは13〜180μm、特に好ましくは15〜150μmである。この範囲であると、プリント配線板を薄くできるとともに、層間の絶縁性に優れる。   The thickness (h) of the interlayer insulating resin layer (A) is preferably 10 to 200 μm, more preferably 13 to 180 μm, and particularly preferably 15 to 150 μm in order to fill the inner layer circuit pattern and the surface via hole. Within this range, the printed wiring board can be made thin and the insulation between the layers is excellent.

導体回路(B)を構成する金属としては公知のモノが使用でき、例えば、銅、銀、金、鉄、ニッケル、クロム、亜鉛、アルミニウム及びマグネシウム等が挙げられる。これらは単独または2つ以上を同時に使用することができる。これらのうち、電気伝導性の観点から、銅、銀、金及びアルミニウムがさらに好ましい。   Known metals can be used as the metal constituting the conductor circuit (B), and examples thereof include copper, silver, gold, iron, nickel, chromium, zinc, aluminum, and magnesium. These can be used alone or in combination of two or more. Of these, copper, silver, gold, and aluminum are more preferable from the viewpoint of electrical conductivity.

導体回路(B)の高さは、電気信号を通すためには、通常3〜50μm、好ましくは4〜40μm、特に好ましくは5〜30μmである。3μm未満であると電気抵抗が大きくなり、50μmよりも大きいとプリント配線板の生産性が低下する問題がある。   The height of the conductor circuit (B) is usually 3 to 50 μm, preferably 4 to 40 μm, particularly preferably 5 to 30 μm, in order to pass an electric signal. If it is less than 3 μm, the electric resistance increases, and if it is more than 50 μm, there is a problem that the productivity of the printed wiring board decreases.

感光性樹脂層(a)を構成する感光性樹脂は特に限定されないが、感光性アクリル樹脂 (a1)、感光性ポリイミド樹脂(a2)、感光性エポキシ樹脂(a3)、ジアゾナフトキノン誘導体含有樹脂(a4)等が挙げられる。これらは、単独または2つ以上を同時に使用することができる。
これらの感光性樹脂のうち、機械特性と誘電特性等の観点から、感光性アクリル樹脂(a1)及びポリイミド樹脂(a2)が好ましい。
Although the photosensitive resin which comprises the photosensitive resin layer (a) is not specifically limited, photosensitive acrylic resin (a1), photosensitive polyimide resin (a2), photosensitive epoxy resin (a3), diazonaphthoquinone derivative containing resin (a4) ) And the like. These may be used alone or in combination of two or more.
Among these photosensitive resins, the photosensitive acrylic resin (a1) and the polyimide resin (a2) are preferable from the viewpoints of mechanical characteristics and dielectric characteristics.

感光性アクリル樹脂(a1)としては公知のモノが使用でき、1分子中に2つ以上の(メタ)アクリル基を有する多官能(メタ)アクリル化合物と光重合開始剤の組合せが挙げられる。
例えば、バインダーポリマーと(メタ)アクリルモノマーおよび/又は(メタ)アクリルオリゴマーからなる感光性樹脂(例えば、特開平7−181676号公報を参照)、エポキシ樹脂の一部に(メタ)アクリル基を導入した感光性樹脂(例えば、特開昭61−59447号公報、特開平6−317904号公報、特開平11−43654号公報を参照)等が挙げられる。
なお、本発明において、「(メタ)アクリ・・・」とは、「アクリ・・・」及び「メタクリ・・・」を表す。
As the photosensitive acrylic resin (a1), a known product can be used, and examples thereof include a combination of a polyfunctional (meth) acrylic compound having two or more (meth) acrylic groups in one molecule and a photopolymerization initiator.
For example, a photosensitive resin composed of a binder polymer and a (meth) acryl monomer and / or a (meth) acryl oligomer (see, for example, JP-A-7-181676), a (meth) acryl group is introduced into a part of an epoxy resin And the like (see, for example, JP-A-61-59447, JP-A-6-317904, and JP-A-11-43654).
In the present invention, "(meth) acryl ..." represents "acryl ..." and "methacryl ...".

感光性ポリイミド樹脂(a2)としては公知のモノが使用でき、ジアミンとテトラカルボン酸二無水物を反応させて得られるポリアミック酸およびポリイミドに感光性基を付与した化合物が挙げられる。
例えば、ポリアミック酸に3級アミンと(メタ)アクロイル基を有する化合物を混合して感光性ポリイミドとしたイオン結合型感光性ポリイミド(例えば、特開昭54−145794号公報を参照)、ポリアミック酸のカルボキシル基にエステル結合を介してメタクロイル基を導入したエステル結合型感光性ポリイミド(例えば、特公昭55−030207号公報、特公昭55−041422号公報を参照)、メタクロイル基を有するイソシアネート化合物をポリアミック酸のカルボキシル基部位に導入した感光性ポリイミド(例えば、特開昭59−160140号公報、特開平03−170547号公報、特開平03−186847号公報、特開昭61−118424号公報を参照)、およびポリアミック酸と(メタ)アクリル化合物とを混合した感光性ポリイミド(例えば、特開平11−52569号公報を参照)、ポリアミック酸と光酸発生剤とを混合した感光性ポリイミド(例えば、特開平10−316751号公報を参照)、ポリアミック酸と光塩基発生剤を混合した感光性ポリイミド(例えば、特開平6−295063号公報を参照)、ポリアミック酸とジアゾナフトキノン誘導体とを混合した感光性ポリイミド、ベンゾフェノン骨格を有するポリイミドからなる感光性ポリイミド、ポリアミック酸とメチロール系架橋剤と光酸発生剤からなる感光性ポリイミド、フェノール性の水酸基を含有するポリイミドとジアゾナフトキノン誘導体とを混合した感光性ポリイミド(例えば、「ポリイミドの高機能化と応用技術」、サイエンス&テクノロジー社発行、115〜129頁を参照)等が挙げられる。
Known compounds can be used as the photosensitive polyimide resin (a2), and examples thereof include polyamic acid obtained by reacting diamine and tetracarboxylic dianhydride, and a compound obtained by adding a photosensitive group to polyimide.
For example, an ion-bonded photosensitive polyimide obtained by mixing a polyamic acid with a compound having a tertiary amine and a (meth) acryloyl group to form a photosensitive polyimide (see, for example, JP-A No. 54-145794), polyamic acid An ester bond type photosensitive polyimide having a methacryloyl group introduced into a carboxyl group via an ester bond (see, for example, Japanese Patent Publication Nos. 55-030207 and 55-041422), and an isocyanate compound having a methacryloyl group as a polyamic acid Photosensitive polyimide introduced into the carboxyl group site (see, for example, JP-A-59-160140, JP-A-03-170547, JP-A-03-186847, JP-A-61-118424), And polyamic acid and (meth) acrylic compound Combined photosensitive polyimide (for example, see JP-A-11-52569), photosensitive polyimide mixed with polyamic acid and photoacid generator (for example, see JP-A-10-316751), polyamic acid and Photosensitive polyimide mixed with a photobase generator (for example, see JP-A-6-295063), photosensitive polyimide mixed with polyamic acid and diazonaphthoquinone derivative, photosensitive polyimide made of polyimide having a benzophenone skeleton, polyamic Photosensitive polyimide composed of acid, methylol-based crosslinking agent and photoacid generator, photosensitive polyimide mixed with phenolic hydroxyl group-containing polyimide and diazonaphthoquinone derivative (for example, "high functionalization and applied technology of polyimide", Published by Science & Technology, 115-12 See), etc. page.

感光性エポキシ樹脂(a3)としては公知のモノが使用でき、1分子中に2つ以上のエポキシ基を有する多官能エポキシ樹脂と光カチオン重合開始剤の組合せが挙げられる。
例えば、多官能エポキシ樹脂とスルホニウム塩からなる樹脂組成物(例えば、特開平5−255240号公報を参照)、多官能エポキシ樹脂とフェノール樹脂からなる樹脂組成物(例えば、特開昭63−71840号公報を参照)および多官能エポキシ樹脂とフェノール樹脂と不飽和カルボン酸からなる樹脂組成物(例えば、特開平8−179506号公報を参照)等が挙げられる。
As the photosensitive epoxy resin (a3), a known product can be used, and examples thereof include a combination of a polyfunctional epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule and a photocationic polymerization initiator.
For example, a resin composition comprising a polyfunctional epoxy resin and a sulfonium salt (for example, see JP-A-5-255240), a resin composition comprising a polyfunctional epoxy resin and a phenol resin (for example, JP-A-63-71840). And a resin composition comprising a polyfunctional epoxy resin, a phenol resin, and an unsaturated carboxylic acid (for example, see JP-A-8-179506).

ジアゾキノン誘導体含有樹脂(a4)としては公知のモノが使用でき、ジアゾキノン誘導体と熱可塑性樹脂の組合せの組合せが挙げられる。
ジアゾキノン誘導体としては、1,2−ベンゾキノンジアジドあるいは1,2−ナフトキノンジアジド構造を有する化合物であり、米国特許明細書第2,772,972号、第2,797,213号、第3,669,658号により公知の物質である。
As the diazoquinone derivative-containing resin (a4), a known product can be used, and a combination of a diazoquinone derivative and a thermoplastic resin can be used.
The diazoquinone derivative is a compound having a 1,2-benzoquinonediazide or 1,2-naphthoquinonediazide structure. US Pat. Nos. 2,772,972, 2,797,213, 3,669, It is a known substance from No. 658.

熱可塑性樹脂としては公知のモノが使用でき、ポリイミド樹脂、ポリアミド酸樹脂、フェノール樹脂、ポリメタクリル酸メチル、ポリスチレン樹脂、スチレン−無水マレイン酸共重合体、フェノキシ樹脂、ポリカーボネート樹脂等が挙げられる。   As the thermoplastic resin, known products can be used, and examples thereof include polyimide resin, polyamic acid resin, phenol resin, polymethyl methacrylate, polystyrene resin, styrene-maleic anhydride copolymer, phenoxy resin, and polycarbonate resin.

熱硬化性樹脂層(b)を構成する熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂(b1)、ポリイミド樹脂(b2)、シアネート樹脂(b3)及びその他の反応性基を有する樹脂等が使用できる。
これらの硬化性樹脂のうち、機械特性と誘電特性等の観点から、エポキシ樹脂(b1)及びポリイミド樹脂(b2)がさらに好ましい。
As the thermosetting resin constituting the thermosetting resin layer (b), epoxy resin (b1), polyimide resin (b2), cyanate resin (b3), resins having other reactive groups, and the like can be used.
Of these curable resins, epoxy resin (b1) and polyimide resin (b2) are more preferable from the viewpoints of mechanical properties and dielectric properties.

エポキシ樹脂(b1)は、エポキシ樹脂と硬化剤とからなる。
エポキシ樹脂と硬化剤としては、エポキシ樹脂及び硬化剤として通常使用される公知のもの(例えば、「実用プラスチック辞典」、株式会社産業調査会、1993年5月1日発行、211〜225頁に記載のもの)が使用できる。
例えば、エポキシ樹脂とアミン化合物からなる樹脂組成物、エポキシ樹脂と酸無水物からなる樹脂組成物、エポキシ樹脂とフェノール樹脂からなる樹脂組成物およびエポキシ樹脂とカルボン酸からなる樹脂組成物(例えば、「入門エポキシ樹脂」、株式会社高分子刊行会発行)、69〜105頁を参照)等が挙げられる。
The epoxy resin (b1) is composed of an epoxy resin and a curing agent.
As an epoxy resin and a hardening | curing agent, the well-known thing normally used as an epoxy resin and a hardening | curing agent (For example, a "practical plastic dictionary", an industrial research meeting, Inc., May 1, 1993 publication, and described in pages 211-225. Can be used.
For example, a resin composition comprising an epoxy resin and an amine compound, a resin composition comprising an epoxy resin and an acid anhydride, a resin composition comprising an epoxy resin and a phenol resin, and a resin composition comprising an epoxy resin and a carboxylic acid (for example, “ Introductory Epoxy Resin ”, published by Kobunshi Publishing Co., Ltd.), see pages 69 to 105).

ポリイミド樹脂(b2)は、ジアミンとテトラカルボン酸二無水物とからなるポリイミド樹脂及び前駆体であるポリアミック酸(例えば、特開昭63−175024号公報、特開昭63−314240号公報、特開平1−131241号公報、特開平1−131242号公報、特開平1−131243号公報、特開平1−131244号公報、特開平2−53827号公報を参照)等が挙げられる。   The polyimide resin (b2) is composed of a polyimide resin composed of diamine and tetracarboxylic dianhydride and a precursor polyamic acid (for example, JP-A 63-175024, JP-A 63-314240, JP-A 1-131241, JP-A-1-131242, JP-A-1-131243, JP-A-1-131244, and JP-A-2-53827).

シアネート樹脂(b3)としては公知のモノが使用できる(例えば、独国特許2533122号公報、国際特許88/05443号公報、特許公開平8−269325号公報を参照)。   As the cyanate resin (b3), known products can be used (see, for example, German Patent No. 2533122, International Patent No. 88/05443, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-269325).

熱硬化性樹脂としてのその他の反応性基を有する樹脂は、重合性二重結合を有する公知の化合物等が使用できる(例えば、特開2001−279110号公報を参照)。   As the resin having another reactive group as the thermosetting resin, a known compound having a polymerizable double bond can be used (for example, see JP-A-2001-279110).

本発明における感光性樹脂組成物、及び硬化性樹脂組成物には、必要に応じてさらに添加剤を添加することが出来る。この添加剤として、例えば、無機フィラー、レベリング剤等が含まれる。   Additives can be further added to the photosensitive resin composition and the curable resin composition in the present invention as necessary. Examples of the additive include an inorganic filler and a leveling agent.

無機フィラーとしては、無機酸化物と無機塩が使用できる。
無機酸化物としては、公知のものが利用でき、具体的には、例えば、酸化チタン、酸化ケイ素、酸化アルミニウム等が挙げられる。無機塩としては、公知のものが利用でき、具体的には例えば、炭酸カルシウム、硫酸バリウム等が挙げられる。
これらの中で、電気特性(湿熱信頼性・誘電特性)、耐熱性及び耐薬品性の観点から、無機酸化物が好ましく、より好ましいものとしては、酸化ケイ素及び酸化チタンが挙げられる。特に好ましいものとして酸化ケイ素が挙げられる。
As the inorganic filler, inorganic oxides and inorganic salts can be used.
Known inorganic oxides can be used, and specific examples include titanium oxide, silicon oxide, and aluminum oxide. Known inorganic salts can be used, and specific examples include calcium carbonate and barium sulfate.
Among these, from the viewpoints of electrical characteristics (wet heat reliability / dielectric characteristics), heat resistance and chemical resistance, inorganic oxides are preferable, and silicon oxide and titanium oxide are more preferable. Particularly preferred is silicon oxide.

レベリング剤としては、シリコーンレベリング剤、ポリエーテルレベリング剤及びアルコールレベリング剤等が使用できる。   As a leveling agent, a silicone leveling agent, a polyether leveling agent, an alcohol leveling agent, etc. can be used.

本発明の紫外線照射する前の層間絶縁樹脂層(A)の形成方法としては、
(i)層間絶縁樹脂層(A)を構成する樹脂組成物を所定の有機溶剤に溶解/分散した樹脂ワニスを内層回路基板(F)に塗布後、加熱及び/又は熱風吹き付けにより溶剤を乾燥させて層間絶縁樹脂層(A)を形成する方法、
(ii)前記樹脂ワニスを支持ベースフィルム(D)に塗布、乾燥させ層間絶縁樹脂層(A)を設けてなるプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)を、内層回路基板(F)に加熱条件下、加圧ラミネートする工程を行うことにより層間絶縁樹脂層(A)を形成する方法などが挙げられる。
As a method of forming the interlayer insulating resin layer (A) before the ultraviolet irradiation of the present invention,
(I) A resin varnish obtained by dissolving / dispersing the resin composition constituting the interlayer insulating resin layer (A) in a predetermined organic solvent is applied to the inner circuit board (F), and then the solvent is dried by heating and / or hot air blowing. Forming the interlayer insulating resin layer (A),
(Ii) Applying the resin varnish to the support base film (D) and drying it, heating the interlayer insulating resin film (E) for printed wiring board provided with the interlayer insulating resin layer (A) to the inner circuit board (F) The method of forming an interlayer insulation resin layer (A) by performing the process of carrying out pressure lamination under conditions etc. is mentioned.

プリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)の層間絶縁樹脂層(A)は、樹脂ワニスの塗布、乾燥の工程を2回以上行うことで複合層を形成することができる。
例えば図5に示すように、支持ベースフィルム(D)を最下層とした場合、上層に向かって、図5中の(2)感光性樹脂層(a)−熱硬化性樹脂層(b)、(3)感光性樹脂層(ax)−感光性樹脂層(ay)−熱硬化性樹脂層(b)、(4)感光性樹脂層(ax)−感光性樹脂層(ay)−熱硬化性樹脂層(bx)−熱硬化性樹脂層(by)の順に積層されてなるプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)等が挙げられる。
これらの(i)と(ii)の方法は単独または2つ以上を複数回行うことができる。好ましいものは、プリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)を加熱条件下で加圧ラミネートする方法であり、特に好ましいものは、層間絶縁樹脂層(A)が感光性樹脂層(a)と熱硬化性樹脂層(b)からなるプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)を加熱条件下で加圧ラミネートする方法である。このようにするとプリント配線板の生産性が大幅に向上し好適である。
The interlayer insulating resin layer (A) of the interlayer insulating resin film for printed wiring board (E) can form a composite layer by performing a resin varnish application and drying process twice or more.
For example, as shown in FIG. 5, when the support base film (D) is the lowermost layer, (2) photosensitive resin layer (a) -thermosetting resin layer (b) in FIG. (3) photosensitive resin layer (ax) -photosensitive resin layer (ay) -thermosetting resin layer (b), (4) photosensitive resin layer (ax) -photosensitive resin layer (ay) -thermosetting Examples thereof include an interlayer insulating resin film (E) for printed wiring boards, which is laminated in the order of resin layer (bx) -thermosetting resin layer (by).
These methods (i) and (ii) can be performed singly or two or more times. Preferred is a method of pressure laminating an interlayer insulating resin film (E) for printed wiring boards under heating conditions, and particularly preferred is that the interlayer insulating resin layer (A) is heated with the photosensitive resin layer (a). In this method, the interlayer insulating resin film for printed wiring board (E) composed of the curable resin layer (b) is pressure-laminated under heating conditions. This is preferable because the productivity of the printed wiring board is greatly improved.

樹脂ワニスの塗布はカーテンコート、ロールコート、スプレーコート、スクリーン印刷等公知の方法を用いて行うことができる。
乾燥条件は、使用する溶剤により異なるが、好ましくは50〜200℃で2〜30分の範囲で実施され、乾燥後の層間絶縁樹脂の複素粘度や残留溶剤量(重量%)等で適宜決定する。
The application of the resin varnish can be performed using a known method such as curtain coating, roll coating, spray coating, or screen printing.
The drying conditions vary depending on the solvent to be used, but the drying is preferably performed at 50 to 200 ° C. for 2 to 30 minutes, and is appropriately determined depending on the complex viscosity of the interlayer insulating resin after drying, the residual solvent amount (% by weight), and the like. .

内層回路基板(F)としては、ガラスエポキシや金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が使用することができ、回路表面はあらかじめ粗化処理されてあっても良い。   As the inner circuit board (F), a glass epoxy, metal board, polyester board, polyimide board, thermosetting polyphenylene ether board or the like can be used, and the circuit surface may be roughened in advance.

支持ベースフィルム(D)としては、ポリエチレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル、ポリカーボネート等が挙げられる。ベースフィルムの厚みは10〜150μmが好ましい。ベースフィルムの横幅は、装置に入るものであれば、特に指定はないが30〜300cmが好ましい。
なお、ベースフィルムにはマット処理、コロナ処理の他、離型処理を施してあってもよい。
またロールの両端あるいは片側に樹脂のない支持ベース部分を5mm以上もうけてあれば、ラミネート部の樹脂付着防止、支持ベースフィルムの剥離が容易になる等の利点がある。
Examples of the supporting base film (D) include polyolefins such as polyethylene and polyvinyl chloride, polyesters such as polyethylene terephthalate, and polycarbonate. The thickness of the base film is preferably 10 to 150 μm. The width of the base film is not particularly specified as long as it can enter the apparatus, but is preferably 30 to 300 cm.
The base film may be subjected to a mold release treatment in addition to a mat treatment and a corona treatment.
Further, if a support base portion having no resin is provided on both ends or one side of the roll at 5 mm or more, there are advantages such as prevention of resin adhesion to the laminate portion and easy peeling of the support base film.

有機溶剤としては、層間絶縁樹脂組成物を溶解及び/又は分散させることができ、樹脂溶液をフィルム製造装置に適用できる物性(粘度等)に調整できるものであれば特に限定なく、例えば、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、トルエン、エタノール、シクロヘキサノン、メタノール、メチルエチルケトン、酢酸エチル、アセトン及びキシレン等の公知の溶媒が使用できる。これらの溶媒のうち、フィルムの乾燥温度等の観点から、沸点が200℃以下のもの(トルエン、エタノール、シクロヘキサノン、メタノール、メチルエチルケトン、酢酸エチル、アセトン及びキシレン)が好ましく、単独又は2種類以上組み合わせで使用することもできる。   The organic solvent is not particularly limited as long as it can dissolve and / or disperse the interlayer insulating resin composition, and adjust the physical properties (viscosity, etc.) applicable to the film production apparatus. For example, N- Known solvents such as methyl pyrrolidone, N, N-dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, toluene, ethanol, cyclohexanone, methanol, methyl ethyl ketone, ethyl acetate, acetone and xylene can be used. Of these solvents, those having a boiling point of 200 ° C. or less (toluene, ethanol, cyclohexanone, methanol, methyl ethyl ketone, ethyl acetate, acetone and xylene) are preferable from the viewpoint of the drying temperature of the film, etc., alone or in combination of two or more. It can also be used.

プリント配線板用層間フィルム(E)を内層回路基板(F)に加熱条件下で加圧ラミネートする際には、支持ベースフィルム(D)側から加圧、加熱しながらラミネートする。生産の安定性の観点からラミネートは減圧条件下で行うことが好ましい。
加圧ラミネートはバッチ式であってもロール式での連続式で行ってもよく、両面同時に行うことが好ましい。
ラミネート温度は通常50〜180℃であって、好ましくは60〜170℃、さらに好ましくは70〜150℃である。50℃未満では内層回路基板(F)に転写しにくく、180℃より高いとプリント配線板の生産性が低下する問題がある。
ラミネートの圧力は通常0.1〜20MPaであって、好ましくは0.2MPa〜15MPaである。0.1MPa未満では内層回路基板(F)に転写しにくく、20MPaより高いと層間絶縁樹脂層の厚さが調整できない。減圧条件は通常10kPa以下で、好ましくは2.5kPa以下である。
When laminating the interlayer film for printed wiring board (E) on the inner layer circuit board (F) under pressure, it is laminated while being pressurized and heated from the support base film (D) side. Lamination is preferably carried out under reduced pressure from the viewpoint of production stability.
The pressure lamination may be performed by a batch method or a continuous method by a roll method, and is preferably performed simultaneously on both sides.
The laminating temperature is usually 50 to 180 ° C, preferably 60 to 170 ° C, more preferably 70 to 150 ° C. If the temperature is lower than 50 ° C., it is difficult to transfer to the inner layer circuit board (F).
The pressure of the laminate is usually 0.1 to 20 MPa, preferably 0.2 MPa to 15 MPa. If it is less than 0.1 MPa, transfer to the inner circuit board (F) is difficult, and if it is higher than 20 MPa, the thickness of the interlayer insulating resin layer cannot be adjusted. The decompression condition is usually 10 kPa or less, preferably 2.5 kPa or less.

プリント配線板に層間絶縁樹脂層(A)を形成した後、導体回路パターン形状の紫外線照射と現像する工程(I)を行うことにより導体回路パターン形状の溝(C)を形成する。
ついで必要に応じて層間絶縁樹脂層(A)の物性を向上させるために熱硬化させても良く、さらに導体回路の密着性を上げるために乾式及び/又は湿式法により粗化しても良い。
その後、溝(C)に導体回路(B)を形成する工程(II)を行うことによりプリント配線板を製造することができる。
After the interlayer insulating resin layer (A) is formed on the printed wiring board, the conductor circuit pattern-shaped groove (C) is formed by performing the ultraviolet irradiation and development (I) of the conductor circuit pattern shape.
Then, if necessary, the interlayer insulating resin layer (A) may be heat-cured to improve the physical properties, and further roughened by a dry method and / or a wet method in order to improve the adhesion of the conductor circuit.
Then, a printed wiring board can be manufactured by performing process (II) which forms a conductor circuit (B) in a groove | channel (C).

工程(I)の紫外線照射する方法としては、導体回路パターンを有するフォトマスクを介して活性光線により、層間絶縁樹脂層(A)の露光を行う方法が挙げられる。紫外線照射に用いる活性光線としては、本発明の感光性樹脂層(a)を反応させることができれば特に制限はない。必要に応じて、露光後に反応を進行させるための感光性樹脂層(a)の加熱処理を行ってもよい。
活性光線としては、低圧水銀灯、中圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、キセノンランプ、メタルハロゲンランプ、電子線照射装置、X線照射装置、レーザー(アルゴンレーザー、色素レーザー、窒素レーザー、ヘリウムカドミウムレーザー等)等がある。これらのうち、好ましくは高圧水銀灯及び超高圧水銀灯である。
Examples of the method of irradiating with ultraviolet rays in the step (I) include a method of exposing the interlayer insulating resin layer (A) with actinic rays through a photomask having a conductor circuit pattern. The actinic ray used for ultraviolet irradiation is not particularly limited as long as the photosensitive resin layer (a) of the present invention can be reacted. As needed, you may heat-process the photosensitive resin layer (a) for advancing reaction after exposure.
Actinic rays include low-pressure mercury lamp, medium-pressure mercury lamp, high-pressure mercury lamp, ultra-high-pressure mercury lamp, xenon lamp, metal halogen lamp, electron beam irradiation device, X-ray irradiation device, laser (argon laser, dye laser, nitrogen laser, helium cadmium laser) Etc.). Of these, high pressure mercury lamps and ultrahigh pressure mercury lamps are preferred.

工程(I)の現像する方法としては、現像液を用いて導体回路パターン形状に溶解除去する方法が挙げられる。現像液としては、感光性樹脂層(a)の紫外線照射部と非紫外線照射部で、一方が溶解し、もう一方が溶解しないようにさせることができれば特に制限はない。現像液としてはアルカリ水溶液、酸性水溶液、及び有機溶剤等がある。
現像方法としては、現像液を用いたディップ方式、シャワー方式、及びスプレー方式があるが、スプレー方式の方が好ましい。現像液の温度は、好ましくは25〜40℃で使用される。現像時間は、溶解除去する溝(C)の深さや感光性樹脂層の溶解性に応じて適宜決定される。
Examples of the developing method in the step (I) include a method of dissolving and removing the conductive circuit pattern shape using a developer. The developer is not particularly limited as long as one of the developer and the non-ultraviolet irradiated portion of the photosensitive resin layer (a) is dissolved and the other is not dissolved. Examples of the developer include an alkaline aqueous solution, an acidic aqueous solution, and an organic solvent.
Development methods include a dip method using a developer, a shower method, and a spray method, with the spray method being preferred. The temperature of the developer is preferably 25 to 40 ° C. The development time is appropriately determined according to the depth of the groove (C) to be dissolved and removed and the solubility of the photosensitive resin layer.

溝(C)の底面(Cb)の層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)からの深さ(d’)としては、通常3μm〜(h−3)μm、好ましくは4μm〜(h−4)μm、特に好ましくは5μm〜(h−5)μmの深さに位置する。この範囲であれば、導体回路(B)の底面(Bb)が層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)から3μm〜(h−3)μmの深さに位置するプリント配線板を作成することが容易である。   The depth (d ′) of the bottom surface (Cb) of the groove (C) from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A) is usually 3 μm to (h-3) μm, preferably 4 μm to (h− 4) Located at a depth of [mu] m, particularly preferably 5 [mu] m to (h-5) [mu] m. If it is this range, the printed wiring board which the bottom face (Bb) of a conductor circuit (B) will be located in the depth of 3 micrometers-(h-3) micrometers from the surface (At) of an interlayer insulation resin layer (A) is created. Is easy.

導体回路パターン形状の紫外線照射と現像する工程(I)の後に、必要により行う層間絶縁樹脂層の物性を向上させるための熱硬化の条件は130〜300℃で10〜300分の範囲で選択される。   After the step (I) of irradiating and developing the conductive circuit pattern shape, if necessary, the thermosetting conditions for improving the physical properties of the interlayer insulating resin layer are selected at 130 to 300 ° C. for 10 to 300 minutes. The

導体回路の密着性を上げるための樹脂組成物表面の乾式での粗化法としては、バフ、サンドブラスト等の機械的研磨やプラズマエッチング等が挙げられる。一方、湿式での粗化法としては過マンガン酸塩、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等の酸化剤などの化学薬品処理が挙げられる。   Examples of the dry roughening method of the resin composition surface for improving the adhesion of the conductor circuit include mechanical polishing such as buffing and sandblasting, plasma etching, and the like. On the other hand, the wet roughening method includes chemical treatment such as permanganate, dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, nitric acid and other oxidizing agents.

工程(II)の溝(C)に導体回路(B)を形成する方法としては、無電解メッキ層形成後に、
(i)無電解メッキ層上にメッキレジスト層を形成した後に、溝(C)と同じ形状になるように導体回路パターン形状に紫外線照射と現像を行うことで溝(C)以外の部分を覆い、ついで電解メッキを行った後に、メッキレジストを剥離し、電解メッキされていない無電解メッキ層をエッチングすることにより導体回路(B)を形成する製造方法(図6参照)、
(ii)層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)に位置する溝(C)以外の無電解メッキ層を研磨除去した後に、電解メッキを行うことにより導体回路(B)を形成する製造方法(図7参照)、および
(iii)層間絶縁樹脂層(A)の全面に電解メッキを行った後に、層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)までメッキを研磨除去することにより導体回路(B)を形成する製造方法(図8参照)等が挙げられる。
このように導体回路(B)が形成された後、好ましくは130〜300℃で10〜300分の範囲で行われる熱処理(アニール処理)をすることにより、導体回路の密着性をさらに向上させることもできる。
As a method of forming the conductor circuit (B) in the groove (C) in the step (II), after forming the electroless plating layer,
(I) After forming the plating resist layer on the electroless plating layer, the portion other than the groove (C) is covered by performing ultraviolet irradiation and development on the conductor circuit pattern shape so as to have the same shape as the groove (C). Then, after performing electrolytic plating, the plating resist is peeled off, and a conductive circuit (B) is formed by etching an electroless plating layer that is not electrolytically plated (see FIG. 6).
(Ii) Manufacturing method for forming a conductor circuit (B) by performing electroplating after polishing and removing the electroless plating layer other than the groove (C) located on the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A) (See FIG. 7), and (iii) After electrolytic plating is performed on the entire surface of the interlayer insulating resin layer (A), the plating is polished and removed to the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A). A production method for forming B) (see FIG. 8) and the like can be mentioned.
After the conductor circuit (B) is formed in this way, preferably, the adhesion of the conductor circuit is further improved by performing a heat treatment (annealing treatment) performed at 130 to 300 ° C. for 10 to 300 minutes. You can also.

本発明のプリント配線板は、内層回路基板(F)へのプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)のラミネートから導体回路(B)の形成に至る工程を複数回繰り返し(ビルドアップし)、ビルドアップ層を多段に積層し多層プリント配線板を製造することができる。   The printed wiring board of the present invention repeats the process from the lamination of the interlayer insulating resin film for printed wiring board (E) to the inner circuit board (F) to the formation of the conductor circuit (B) a plurality of times (build-up), A multilayer printed wiring board can be manufactured by laminating build-up layers in multiple stages.

以下、実施例及び比較例により本発明をさらに説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。以下、特に定めない限り、%は重量%、部は重量部を示す。   Hereinafter, although an example and a comparative example explain the present invention further, the present invention is not limited to these. Hereinafter, unless otherwise specified, “%” represents “% by weight” and “parts” represents “parts by weight”.

<製造例1>
<感光性樹脂ワニス(aw)の合成>
温度計、撹拌機、滴下ロート、及び還流冷却器を備えた三口フラスコに、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(大日本インキ化学工業(株)製、エピクロンN−680、エポキシ当量=217)217部を、カルビトールアセテート196.5部に加熱溶解した。重合禁止剤としてハイドロキノン0.2部、触媒としてトリフェニルホスフィン1.0部を加え、アクリル酸72.0部(1.0当量)を徐々に加えながら、85〜105℃で16時間反応させた。更に、テトラヒドロ無水フタル酸76.0部(0.5当量)を加え、80〜90℃で8時間付加反応を行なった。室温まで冷却した後に、6官能アクリルモノマー(三洋化成工業(株)製、DA−600)36部、光重合開始剤(チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製、イルガキュア907)9部を加え溶解攪拌を行った。このようにして不揮発分67質量%の感光性樹脂ワニス(aw)を得た。
<Production Example 1>
<Synthesis of photosensitive resin varnish (aw)>
In a three-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, a dropping funnel, and a reflux condenser, 217 parts of a cresol novolac type epoxy resin (Dainippon Ink Chemical Co., Ltd., Epicron N-680, epoxy equivalent = 217) It was dissolved by heating in 196.5 parts of carbitol acetate. Hydroquinone 0.2 part as a polymerization inhibitor and 1.0 part of triphenylphosphine as a catalyst were added and reacted at 85 to 105 ° C. for 16 hours while gradually adding 72.0 parts (1.0 equivalent) of acrylic acid. . Furthermore, 76.0 parts (0.5 equivalent) of tetrahydrophthalic anhydride was added, and an addition reaction was performed at 80 to 90 ° C. for 8 hours. After cooling to room temperature, 36 parts of a hexafunctional acrylic monomer (manufactured by Sanyo Chemical Industries, Ltd., DA-600) and 9 parts of a photopolymerization initiator (manufactured by Ciba Specialty Chemicals, Inc., Irgacure 907) are added and dissolved and stirred. Went. Thus, a photosensitive resin varnish (aw) having a nonvolatile content of 67% by mass was obtained.

<製造例2>
<熱硬化性樹脂ワニス(bw)の合成>
温度計、撹拌機、滴下ロート、及び還流冷却器を備えた三口フラスコに、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(大日本インキ化学工業(株)製、エピクロンN−680、エポキシ当量=217)217部、フェノキシ型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン株式会社製、エピコート E1256、エポキシ当量7800)50部、およびアミン系硬化剤(日本化薬社製、カヤハードA−A、アミン当量=126)89部を、カルビトールアセテート180部に40℃で攪拌溶解した。室温まで冷却した後に、硬化触媒(サンアプロ(株)製、SA−102)2部を加え攪拌溶解を行った。このようにして不揮発分67質量%の熱硬化性樹脂ワニス(bw)を得た。
<Production Example 2>
<Synthesis of thermosetting resin varnish (bw)>
In a three-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, a dropping funnel, and a reflux condenser, 217 parts of cresol novolac type epoxy resin (Dainippon Ink and Chemicals, Epiklone N-680, epoxy equivalent = 217), phenoxy Type epoxy resin (Japan Epoxy Resin Co., Ltd., Epicoat E1256, epoxy equivalent 7800) 50 parts, and amine curing agent (Nippon Kayaku Co., Ltd., Kayahard A-A, amine equivalent = 126) 89 parts, carbitol acetate 180 parts were stirred and dissolved at 40 ° C. After cooling to room temperature, 2 parts of a curing catalyst (San-Apro Co., Ltd., SA-102) was added and dissolved by stirring. Thus, a thermosetting resin varnish (bw) having a nonvolatile content of 67% by mass was obtained.

<実施例1>
製造例1で得られた感光性樹脂ワニス(aw)をガラスエポキシ基板に塗工速度0.3m/分で乾燥後の感光性樹脂層の厚みが40μmとなるようにナイフコーターにて全面塗布した後、90℃で4分間乾燥することにより層間絶縁樹脂層を形成した。
ついで投影型露光装置で導体回路パターンを露光し、30℃の1%炭酸ナトリウム水溶液を15秒間スプレーで吹き付けて現像後、水洗し、順風乾燥機(PH−210、エスペック株式会社製)内で、150℃で60分間乾燥させた。以上のプロセスで層間絶縁樹脂層に溝を形成した。
<Example 1>
The photosensitive resin varnish (aw) obtained in Production Example 1 was applied to the entire surface of the glass epoxy substrate with a knife coater so that the thickness of the photosensitive resin layer after drying was 40 μm at a coating speed of 0.3 m / min. Thereafter, an interlayer insulating resin layer was formed by drying at 90 ° C. for 4 minutes.
Next, the conductor circuit pattern is exposed with a projection type exposure apparatus, sprayed with a 1% sodium carbonate aqueous solution at 30 ° C. for 15 seconds, developed, washed with water, and in a smooth air dryer (PH-210, manufactured by Espec Corporation), It was dried at 150 ° C. for 60 minutes. Grooves were formed in the interlayer insulating resin layer by the above process.

ついで基板全面に無電解銅メッキを行った後に、厚みが20μmのドライフィルムレジスト(旭化成(株)製、SUNFORT SPG−102)をロール温度105℃、圧力0.3MPa、ラミネート速度1.5m/分でラミネートした。
投影型露光装置で前記導体回路パターンと同じ位置に導体回路パターンを露光し、30℃の1%炭酸ナトリウム水溶液を30秒間スプレーで吹き付けて現像後、電解銅メッキにより厚さ20μmの導体層を形成した。
ついで50℃の3%水酸化ナトリウム溶液をスプレーで吹き付けてドライフィルムレジストを剥離した後に、40℃の硫酸−過酸化水素水溶液(硫酸1mol/l、過酸化水素1mol/l)をスプレーし非導体回路部の無電解銅メッキを溶解した。
さらに、導体回路の密着性を安定させるために170℃で60分アニール処理を行い、プリント配線板(Z1)を得た。(d=30μm)
Next, after electroless copper plating was performed on the entire surface of the substrate, a dry film resist having a thickness of 20 μm (manufactured by Asahi Kasei Co., Ltd., SUNFORT SPG-102) was rolled at a temperature of 105 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a laminating speed of 1.5 m / min. Laminated with.
The conductor circuit pattern is exposed at the same position as the conductor circuit pattern with a projection type exposure apparatus, a 1% sodium carbonate aqueous solution at 30 ° C. is sprayed for 30 seconds and developed, and then a conductor layer having a thickness of 20 μm is formed by electrolytic copper plating. did.
Next, after spraying a 3% sodium hydroxide solution at 50 ° C. with a spray to remove the dry film resist, a 40 ° C. sulfuric acid-hydrogen peroxide aqueous solution (sulfuric acid 1 mol / l, hydrogen peroxide 1 mol / l) is sprayed. The electroless copper plating of the circuit part was dissolved.
Furthermore, in order to stabilize the adhesion of the conductor circuit, an annealing treatment was performed at 170 ° C. for 60 minutes to obtain a printed wiring board (Z1). (D = 30 μm)

<実施例2>
製造例1で得られた感光性樹脂ワニス(aw)を厚さ50μmのPETフィルムに乾燥後の感光性樹脂厚さが20μmになるようにロールコーターにて全面塗布した後、90℃で4分間乾燥することにより感光性樹脂層を形成した。
次いで、乾燥した樹脂の上に製造例2で得られた熱硬化性樹脂ワニス(bw)を乾燥後の樹脂厚さが30μmとなるようにロールコーターにて全面塗布した後、90℃で7分間乾燥することにより熱硬化性樹脂層を形成し、感光性樹脂層と熱硬化性樹脂層の2層からなるプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(Af)を得た。ついで、得られたプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(Af)を真空ラミネーターにより温度90℃、圧力0.15MPa、60秒プレスで気圧0.2kPaでガラスエポキシ基板に圧着転写し、PETフィルムを剥離することで層間絶縁樹脂層を形成した。
ついで実施例1と同様に紫外線照射・現像し溝を形成した後に、導体回路を形成しプリント配線板(Z2)を得た。(d=20μm)
<Example 2>
The photosensitive resin varnish (aw) obtained in Production Example 1 was coated on the entire surface of a PET film having a thickness of 50 μm with a roll coater so that the photosensitive resin thickness after drying was 20 μm, and then at 90 ° C. for 4 minutes. A photosensitive resin layer was formed by drying.
Subsequently, the thermosetting resin varnish (bw) obtained in Production Example 2 was applied on the entire surface of the dried resin with a roll coater so that the resin thickness after drying was 30 μm, and then at 90 ° C. for 7 minutes. By drying, a thermosetting resin layer was formed, and an interlayer insulating resin film (Af) for printed wiring boards composed of two layers of a photosensitive resin layer and a thermosetting resin layer was obtained. Next, the obtained interlayer insulating resin film (Af) for printed wiring boards was pressure-transferred to a glass epoxy substrate with a vacuum laminator at a temperature of 90 ° C., a pressure of 0.15 MPa and a pressure of 0.2 kPa at a pressure of 0.2 kPa, and the PET film was peeled off. Thus, an interlayer insulating resin layer was formed.
Subsequently, after irradiation with ultraviolet rays and development to form grooves as in Example 1, a conductor circuit was formed to obtain a printed wiring board (Z2). (D = 20 μm)

<実施例3>
熱硬化性樹脂ワニス(bw)を厚さ50μmのPETフィルムに乾燥後の熱硬化性樹脂厚さが45μmになるようにロールコーターにて全面塗布した後、90℃で4分間乾燥することにより熱硬化性樹脂層を形成し、熱硬化性樹脂層からなるプリント配線板用フィルム(bf)を得た。
ついで、得られたプリント配線板用フィルム(bf)を真空ラミネーターにより温度90℃、圧力0.15MPa、60秒プレスで気圧0.2kPaでガラスエポキシ基板に圧着転写し、PETフィルムを剥離することで熱硬化性樹脂層を形成した。ついで、感光性樹脂ワニス(aw)を、熱硬化性樹脂層を形成したガラスエポキシ基板に塗工速度0.3m/分で乾燥後の感光性樹脂層の厚みが5μmとなるようにナイフコーターにて全面塗布した後、90℃で4分間乾燥することにより感光性樹脂層と熱硬化性樹脂層の2層からなる層間絶縁樹脂層を形成した。
ついで実施例1と同様にしてプリント配線板(Z3)を得た。(d=5μm)
<Example 3>
A thermosetting resin varnish (bw) was applied to a PET film having a thickness of 50 μm by a roll coater so that the thermosetting resin thickness after drying was 45 μm, and then dried at 90 ° C. for 4 minutes. A curable resin layer was formed to obtain a printed wiring board film (bf) composed of a thermosetting resin layer.
Next, the obtained printed wiring board film (bf) was pressure-transferred to a glass epoxy substrate at a pressure of 90 kPa, a pressure of 0.15 MPa and a pressure of 0.2 kPa with a vacuum laminator at a pressure of 0.2 kPa, and the PET film was peeled off. A thermosetting resin layer was formed. Next, the photosensitive resin varnish (aw) is applied to a knife coater so that the thickness of the photosensitive resin layer after drying at a coating speed of 0.3 m / min is 5 μm on the glass epoxy substrate on which the thermosetting resin layer is formed. After coating the entire surface, the substrate was dried at 90 ° C. for 4 minutes to form an interlayer insulating resin layer composed of a photosensitive resin layer and a thermosetting resin layer.
Next, a printed wiring board (Z3) was obtained in the same manner as in Example 1. (D = 5μm)

<比較例1>
感光性樹脂ワニス(aw)の代わりに熱硬化性樹脂ワニス(bw)を使用した以外は実施例1と同様にしてプリント配線板(Z’1)を得た。(d=0μm)
<Comparative Example 1>
A printed wiring board (Z′1) was obtained in the same manner as in Example 1 except that a thermosetting resin varnish (bw) was used instead of the photosensitive resin varnish (aw). (D = 0μm)

<比較例2>
感光性樹脂ワニス(aw)の乾燥後の樹脂厚さが20μmの代わりに2μmを使用し、かつ熱硬化性樹脂ワニス(bw)の乾燥後の樹脂厚さが30μmの代わりに45μmを使用した以外は実施例2と同様にしてプリント配線板(Z’2)を得た。(d=2μm)
<Comparative example 2>
The resin thickness after drying of the photosensitive resin varnish (aw) was 2 μm instead of 20 μm, and the resin thickness after drying of the thermosetting resin varnish (bw) was 45 μm instead of 30 μm. Obtained a printed wiring board (Z′2) in the same manner as in Example 2. (D = 2μm)

<比較例3>
プリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(Af)の替わりに実施例3で得られたプリント配線板フィルム(bf)、紫外線照射・現像とその後の熱処理の代わりに、先に150℃で30分硬化させた後に過マンガン酸塩からなるアルカリ性酸化剤(「Concentrate Compact CP」、アトテック株式会社製)で層間絶縁樹脂層の表面を80℃で15分間粗化処理した以外は実施例2と同様にしてプリント配線板(Z’3)を得た。(d=0μm)
<Comparative Example 3>
Instead of the interlayer insulating resin film (Af) for printed wiring board, the printed wiring board film (bf) obtained in Example 3 was first cured at 150 ° C. for 30 minutes instead of ultraviolet irradiation / development and subsequent heat treatment. Thereafter, printing was performed in the same manner as in Example 2 except that the surface of the interlayer insulating resin layer was roughened at 80 ° C. for 15 minutes with an alkaline oxidant composed of permanganate (“Concentrate Compact CP”, manufactured by Atotech Co., Ltd.). A wiring board (Z′3) was obtained. (D = 0μm)

<性能評価>
プリント配線板の平滑性と密着性として、得られた(Z1)〜(Z3)、および(Z’1)〜(Z’3)の無電解メッキ前の表面粗さ、導体回路の密着力、および導体回路のパターン形成性について以下の方法で評価した。
<Performance evaluation>
As the smoothness and adhesion of the printed wiring board, the obtained (Z1) to (Z3) and (Z′1) to (Z′3) surface roughness before electroless plating, the adhesion of the conductor circuit, And the pattern formation property of the conductor circuit was evaluated by the following method.

<表面粗さ>
無電解メッキ直前の層間絶縁樹脂層の溝(C)部分の表面を、形状測定顕微鏡(超深度形状測定顕微鏡VK−8550、株式会社キーエンス製)を用いて、倍率1250倍の条件でJIS B0601:2001の付属書2に記載された中心線平均粗さ(Ra)を5箇所測定し、これらの平均値を指標とした。なお、数値は小さいほど表面粗さが小さいことを示している。
<Surface roughness>
The surface of the groove (C) portion of the interlayer insulating resin layer immediately before electroless plating is JIS B0601: under the condition of 1250 times magnification using a shape measurement microscope (VD-8550, manufactured by Keyence Corporation). Centerline average roughness (Ra) described in Appendix 2 of 2001 was measured at five locations, and these average values were used as indices. In addition, it has shown that surface roughness is so small that a numerical value is small.

<導体回路の密着力>
導体回路を形成したプリント配線板中の20μm幅の導体回路を端面からピールテスターで剥離させることにより、銅金属層の引き剥がし強さをJISC6481に記載された剥離強度の測定方法で測定した。
<パターン形成性>
導体回路を形成したプリント配線板中の、10μm幅の配線の剥れを顕微鏡の倍率200倍の条件より観察し、以下の基準により評価した。
○:配線の剥れが全くない
×:一部、配線の剥がれがある
<Adhesion of conductor circuit>
The peel strength of the copper metal layer was measured by the peel strength measurement method described in JIS C6481, by peeling the 20 μm-wide conductor circuit in the printed wiring board on which the conductor circuit was formed, from the end surface with a peel tester.
<Pattern formability>
The peeling of the 10 μm-wide wiring in the printed wiring board on which the conductor circuit was formed was observed under the condition of a microscope magnification of 200 times, and evaluated according to the following criteria.
○: There is no peeling of wiring. ×: There is some peeling of wiring.

実施例及び比較例で得た層間絶縁樹脂層、プリント配線板用及びプリント配線板について、特徴及び評価結果を表1に示す。   Table 1 shows the characteristics and evaluation results of the interlayer insulating resin layers, the printed wiring board and the printed wiring board obtained in the examples and comparative examples.

Figure 2010080862
Figure 2010080862

実施例1〜3の結果から、本発明の導体回路が層間絶縁樹脂層埋め込まれた構造のプリント配線板を用いると、表面粗さが小さいにもかかわらず、導体回路の密着力が高く、パターン形成性が良いことが分かる。したがって、本発明のプリント配線板を用いると、導体回路表面が平滑かつ導体回路が微細であるにもかかわらず導体回路の密着性に優れることから、導体回路の高密度化、演算処理速度の高速化に適したプリント配線板であることが分かる。
一方、比較例1と2の結果から、導体回路が層間絶縁樹脂層への埋め込みが不十分な場合、導体回路の密着力が不足しパターン形成性に問題があることが分かる。
また、比較例3の結果から、従来法の粗化処理を行った場合、表面粗さが大きく、またパターン形成性に問題があることが分かる。
From the results of Examples 1 to 3, when a printed wiring board having a structure in which the conductor circuit of the present invention is embedded in an interlayer insulating resin layer is used, the contact strength of the conductor circuit is high although the surface roughness is small. It can be seen that the formability is good. Therefore, when the printed wiring board of the present invention is used, the conductor circuit surface is smooth and the conductor circuit is fine but the adhesion of the conductor circuit is excellent, so that the density of the conductor circuit is increased and the processing speed is high. It can be seen that this is a printed wiring board suitable for manufacturing.
On the other hand, it can be seen from the results of Comparative Examples 1 and 2 that when the conductor circuit is insufficiently embedded in the interlayer insulating resin layer, the adhesion of the conductor circuit is insufficient and there is a problem with pattern formation.
Further, it can be seen from the results of Comparative Example 3 that when the conventional roughening treatment is performed, the surface roughness is large and there is a problem in pattern formability.

本発明のプリント配線板は、本発明のプリント配線板を用いると、導体回路表面が平滑かつ導体回路が微細であるにもかかわらず導体回路の密着性に優れることから、導体回路の高密度化、演算処理速度の高速化に適したプリント配線板として好適である。
本発明のプリント配線板は、パソコン、カメラ一体型VTR、デジタルビデオカメラ、携帯電話、カーナビ及びデジタルカメラ等の電気製品に使用できる。
When the printed wiring board of the present invention is used, the printed wiring board of the present invention has excellent adhesion of the conductor circuit despite the fact that the surface of the conductor circuit is smooth and the conductor circuit is fine. It is suitable as a printed wiring board suitable for increasing the processing speed.
The printed wiring board of the present invention can be used in electrical products such as personal computers, camera-integrated VTRs, digital video cameras, mobile phones, car navigation systems, and digital cameras.

本発明によるプリント配線板の導体回路形成後の層間絶縁樹脂層(A)、導体回路(B)、内層回路基板(F)、導体回路の底面(Bb)及び層間絶縁樹脂層の表面(At)の位置関係を示す断面図の一例である。Interlayer insulation resin layer (A), conductor circuit (B), inner layer circuit board (F), bottom surface (Bb) of conductor circuit and surface of interlayer insulation resin layer (At) after formation of conductor circuit of printed wiring board according to the present invention It is an example of sectional drawing which shows these positional relationships.

従来技術によるプリント配線板の導体回路形成後の層間絶縁樹脂層(A)、導体回路(B)、内層回路基板(F)、導体回路の底面(Bb)および層間絶縁樹脂層の表面(At)の位置関係を示す断面図の一例である。Interlayer insulation resin layer (A), conductor circuit (B), inner layer circuit board (F), bottom surface (Bb) of conductor circuit and surface of interlayer insulation resin layer (At) after formation of conductor circuit of printed wiring board according to conventional technology It is an example of sectional drawing which shows these positional relationships.

本発明により、溝(C)を形成する工程(I)と、溝(C)に導体回路(B)を形成する工程(II)の製造方法、及び層間絶縁樹脂層(A)、導体回路(B)、内層回路基板(F)、溝(C)、導体回路の底面(Bb)、溝の底面(Cb)、層間絶縁樹脂層の表面(At)の位置関係を示す断面図の例である。According to the present invention, the manufacturing method of the step (I) for forming the groove (C) and the step (II) for forming the conductor circuit (B) in the groove (C), the interlayer insulating resin layer (A), the conductor circuit ( B) is an example of a cross-sectional view showing the positional relationship between the inner layer circuit board (F), the groove (C), the bottom surface (Bb) of the conductor circuit, the bottom surface (Cb) of the groove, and the surface (At) of the interlayer insulating resin layer. .

本発明による層間絶縁樹脂層(A)の樹脂層の構成について、感光性樹脂層(a)、熱硬化性樹脂層(b)および内層回路基板(F)の組合せと位置関係を示す断面図の例である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing the positional relationship between the combination of the photosensitive resin layer (a), the thermosetting resin layer (b), and the inner layer circuit board (F) with respect to the configuration of the resin layer of the interlayer insulating resin layer (A) according to the present invention It is an example.

本発明におけるプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)の例であって、層間絶縁樹脂層(A)の感光性樹脂層(a)および熱硬化性樹脂層(b)と、支持ベースフィルム(D)の組合せと位置関係を示す断面図の一例である。It is an example of the interlayer insulation resin film (E) for printed wiring boards in this invention, Comprising: The photosensitive resin layer (a) and thermosetting resin layer (b) of an interlayer insulation resin layer (A), and a support base film ( It is an example of sectional drawing which shows the combination and positional relationship of D).

本発明による溝(C)に導体回路(B)を形成する工程(II)の製造方法(i)の一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of manufacturing method (i) of the process (II) which forms a conductor circuit (B) in the groove | channel (C) by this invention.

本発明による溝(C)に導体回路(B)を形成する工程(II)の製造方法(ii)の一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of manufacturing method (ii) of the process (II) which forms a conductor circuit (B) in the groove | channel (C) by this invention.

本発明による溝(C)に導体回路(B)を形成する工程(II)の製造方法(iii)を示す説明図の一例である。It is an example of the explanatory view showing manufacturing method (iii) of process (II) which forms conductor circuit (B) in slot (C) by the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

(A):層間絶縁樹脂層
(B):導体回路
(At):層間絶縁樹脂層の表面
(Bb):導体回路の底面
(d):導体回路の底面(Bb)の層間絶縁樹脂層の表面(At)からの深さ
(h):層間絶縁樹脂層(A)の厚さ
(a):感光性樹脂層
(ax):感光性樹脂層1
(ay):感光性樹脂層2
(b):熱硬化性樹脂層
(bx):熱硬化性樹脂層1
(by):熱硬化性樹脂層2
(C):溝
(Cb):溝の底面
(d’):溝の底面(Cb)の層間絶縁樹脂層の表面(At)からの深さ
(D):支持ベースフィルム
(E):プリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム
(F):内層回路基板
(A): Interlayer insulating resin layer (B): Conductor circuit (At): Surface of interlayer insulating resin layer (Bb): Bottom surface of conductor circuit (d): Surface of interlayer insulating resin layer on bottom surface (Bb) of conductor circuit Depth from (At) (h): Thickness of interlayer insulating resin layer (A) (a): Photosensitive resin layer
(Ax): Photosensitive resin layer 1
(Ay): Photosensitive resin layer 2
(B): Thermosetting resin layer
(Bx): Thermosetting resin layer 1
(By): thermosetting resin layer 2
(C): Groove (Cb): Bottom surface of groove (d ′): Depth of groove bottom surface (Cb) from surface (At) of interlayer insulating resin layer (D): Support base film
(E): Interlayer insulating resin film for printed wiring board
(F): Inner layer circuit board

Claims (6)

内層回路基板(F)の上に層間絶縁樹脂層(A)を形成し、該層間絶縁樹脂層(A)の表面に無電解メッキおよび/または電解メッキにより導体回路(B)を形成するアディティブ法によるプリント配線板であって、該層間絶縁樹脂層が少なくとも1層の感光性樹脂層(a)を含み、導体回路(B)の底面(Bb)が層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)より下に位置し、下記数式(1)と数式(2)を満たす構造を有することを特徴とするプリント配線板。
d≧3μm (1)
h−d≧3μm (2)
[dは導体回路(B)の底面(Bb)の層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)からの深さを表し、hは層間絶縁樹脂層の厚さを表す。]
An additive method in which an interlayer insulating resin layer (A) is formed on an inner layer circuit board (F), and a conductor circuit (B) is formed on the surface of the interlayer insulating resin layer (A) by electroless plating and / or electrolytic plating. The interlayer insulating resin layer includes at least one photosensitive resin layer (a), and the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) is the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A). ) And a structure satisfying the following mathematical formulas (1) and (2).
d ≧ 3 μm (1)
hd ≧ 3 μm (2)
[D represents the depth of the bottom surface (Bb) of the conductor circuit (B) from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A), and h represents the thickness of the interlayer insulating resin layer. ]
アディティブ法によるプリント配線板の製造法において、該層間絶縁樹脂層(A)が少なくとも1層の感光性樹脂層(a)を含み、該層間絶縁樹脂層(A)に導体回路パターン形状に紫外線照射と現像する工程(I)を行って下記数式(3)と数式(4)を満たす溝(C)を形成した後に、該溝(C)に導体回路(B)を形成する工程(II)を行うことを特徴とするプリント配線板の製造方法。
d’≧3μm (3)
h−d’≧3μm (4)
[d’は溝(C)の底面(Cb)の層間絶縁樹脂層(A)の表面(At)からの深さを表し、hは層間絶縁樹脂層の厚さを表す。]
In the method of manufacturing a printed wiring board by the additive method, the interlayer insulating resin layer (A) includes at least one photosensitive resin layer (a), and the interlayer insulating resin layer (A) is irradiated with ultraviolet rays on the conductor circuit pattern shape. And developing step (I) to form a groove (C) satisfying the following mathematical formulas (3) and (4), and then forming a conductive circuit (B) in the groove (C) (II) A printed wiring board manufacturing method, comprising:
d ′ ≧ 3 μm (3)
hd ′ ≧ 3 μm (4)
[D ′ represents the depth of the bottom surface (Cb) of the groove (C) from the surface (At) of the interlayer insulating resin layer (A), and h represents the thickness of the interlayer insulating resin layer. ]
該層間絶縁樹脂層(A)が該感光性樹脂層(a)とさらに熱硬化性樹脂層(b)より形成され、該感光性樹脂層(a)が該層間絶縁樹脂層(A)の表面に位置する請求項2記載のプリント配線の製造方法。   The interlayer insulating resin layer (A) is formed of the photosensitive resin layer (a) and further a thermosetting resin layer (b), and the photosensitive resin layer (a) is a surface of the interlayer insulating resin layer (A). The method for manufacturing a printed wiring according to claim 2, which is located at さらに、該層間絶縁樹脂層(A)に紫外線照射する前に、層間絶縁樹脂層(A)を支持ベースフィルム(D)の上に設けてなるプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)を、内層回路基板(F)に加熱条件下で加圧ラミネートする工程を行うことを特徴とする請求項2または3記載のプリント配線板の製造方法。   Furthermore, before the interlayer insulating resin layer (A) is irradiated with ultraviolet rays, an interlayer insulating resin film (E) for a printed wiring board in which an interlayer insulating resin layer (A) is provided on a support base film (D), The method for producing a printed wiring board according to claim 2 or 3, wherein a step of pressure laminating the inner layer circuit board (F) under a heating condition is performed. 感光性樹脂層(a)と熱硬化性樹脂層(b)からなる層間絶縁樹脂層(A)、および支持フィルム(D)から構成されることを特徴とするプリント配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)。 An interlayer insulating resin film for printed wiring boards comprising an interlayer insulating resin layer (A) comprising a photosensitive resin layer (a) and a thermosetting resin layer (b), and a support film (D) ( E). 請求項5記載の配線板用層間絶縁樹脂フィルム(E)を用いて内層回路基板(F)に加熱条件下で加圧ラミネートする工程を行うことを特徴とするプリント配線板の製造方法。   6. A method for producing a printed wiring board, comprising the step of pressure laminating the inner layer circuit board (F) under heating conditions using the interlayer insulating resin film for wiring boards (E) according to claim 5.
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